特開 2023-173870 シール部材

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023173870

(43)【公開日】2023-12-07

(54)【発明の名称】シール部材

(51)【国際特許分類】

   F16J 15/10 20060101AFI20231130BHJP

   C09K 3/10 20060101ALI20231130BHJP

【ＦＩ】

F16J15/10 C

F16J15/10 L

F16J15/10 Z

C09K3/10 G

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022086389

(22)【出願日】2022-05-26

(71)【出願人】

【識別番号】390001487

【氏名又は名称】サンアロー株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100105315

【弁理士】

【氏名又は名称】伊藤 温

(74)【代理人】

【識別番号】100132137

【弁理士】

【氏名又は名称】佐々木 謙一郎

(72)【発明者】

【氏名】桑原 豊

(72)【発明者】

【氏名】小坂井 暁史

【テーマコード（参考）】

3J040

4H017

【Ｆターム（参考）】

3J040AA02

3J040AA17

3J040BA02

3J040BA04

3J040EA01

3J040EA15

3J040FA06

4H017AA03

4H017AB15

4H017AC16

4H017AD03

4H017AE04

(57)【要約】

【課題】 着脱時の不快音を低減できるシール部材を提供する。
【解決手段】 本発明のある態様は、第１部材と第２部材との間に介在させて使用するシール部材１０である。シール部材１０は、シリコーン樹脂により形成される。シール部材１０に関し、前記第１部材及び前記第２部材との当接箇所の少なくとも一部について、ＸＰＳ深さ方向分析で検出された元素のうち、ケイ素、酸素及び炭素を選択し、これらの各原子濃度の合計を１００原子％としたプロファイルにおいて、最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値を１００％としたときの、酸素原子濃度の比率が８０％以上となる改質層の厚さが５００ｎｍ以上であり、かつ、前記最大値と、最表面から深さ１０００ｎｍの地点における酸素原子濃度との差が、５原子％以上である。
【選択図】 図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１部材と第２部材との間に介在させて使用するシール部材であって、
シリコーン樹脂により形成され、
前記第１部材及び前記第２部材との当接箇所の少なくとも一部について、ＸＰＳ深さ方向分析で検出された元素のうち、ケイ素、酸素及び炭素を選択し、これらの各原子濃度の合計を１００原子％としたプロファイルにおいて、
最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値を１００％としたときの、酸素原子濃度の比率が８０％以上となる改質層の厚さが５００ｎｍ以上であり、かつ、
前記最大値と、最表面から深さ１０００ｎｍの地点における酸素原子濃度との差が、５原子％以上である、シール部材。

【請求項2】

前記シリコーン樹脂のタイプＡデュロメータにより測定されるショア硬度が、３０～８０である、請求項１に記載のシール部材。

【請求項3】

リング状である、請求項１に記載のシール部材。

【請求項4】

前記第１部材及び前記第２部材のうち、一方に設けられた溝に取り付けて使用される、請求項１に記載のシール部材。

【請求項5】

前記第１部材が蓋体であり、かつ、前記第２部材が有底筒体である、請求項１に記載のシール部材。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、シール部材に関する。

【背景技術】

【0002】

機械や装置、容器、配管等において、液体や気体の外部への漏れを防ぐため、又は外部からの異物の侵入を防ぐために、シール部材が用いられている。シール部材は、通常、接続したい２つの部材間に介在させて使用し、これにより、その接続部がシールされる。

【0003】

可動部分に使用されるシール部材では、接続部の着脱時に不快音が発生する場合がある。特許文献１には、回転機構の工夫により、蓋開閉時の不快音を解消できる飲食物用容器が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１６－１５９９７５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

上述した特許文献１は、特定の構造によって不快音の解消を図るものであるため、汎用性に乏しい。そこで、本発明の課題は、着脱時の不快音を低減できるシール部材を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明者らは、シール部材を特定の表面層を有するシリコーン樹脂とすることで、着脱時の不快音を低減できることを見出し、本発明を完成させた。

【0007】

すなわち、本発明の第一の態様によれば、
第１部材と第２部材との間に介在させて使用するシール部材であって、
シリコーン樹脂により形成され、
前記第１部材及び前記第２部材との当接箇所の少なくとも一部について、ＸＰＳ深さ方向分析で検出された元素のうち、ケイ素、酸素及び炭素を選択し、これらの各原子濃度の合計を１００原子％としたプロファイルにおいて、
最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値を１００％としたときの、酸素原子濃度の比率が８０％以上となる改質層の厚さが５００ｎｍ以上であり、かつ、
前記最大値と、最表面から深さ１０００ｎｍの地点における酸素原子濃度との差が、５原子％以上である、シール部材が提供される。

【0008】

前記第一の態様において、シリコーン樹脂は、タイプＡデュロメータにより測定されるショア硬度が、３０～８０であってもよい。

【0009】

前記第一の態様において、シール部材は、リング状であってもよい。

【0010】

前記第一の態様において、シール部材は、第１部材及び第２部材のうち、一方に設けられた溝に取り付けて使用されてもよい。

【0011】

前記第一の態様において、第１部材が蓋体であり、かつ、第２部材が有底筒体であってもよい。

【発明の効果】

【0012】

本発明によれば、着脱時の不快音を低減できるシール部材を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】図１（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、実施形態１に係るシール部材の概略を示す平面図、及び図１（ａ）に示したシール部材のＡ－Ａ’線に沿った断面図である。

【図2】図２（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、実施形態１に係る密閉容器の概略を示す、蓋体側から見た分解斜視図、及び蓋体の概略を示す、開口方向から見た斜視図である。

【図3】図３は、実施形態１に係る密閉容器の断面図である。

【図4】図４（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、実施形態２に係るシール部材の概略を示す平面図、及び図４（ａ）に示したシール部材のＢ－Ｂ’線に沿った断面図である。

【図5】図５（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、実施形態２に係る接続管体の概略を示す分解斜視図及び断面図である。

【図6】図６は、各サンプルにおける、ＸＰＳ深さ方向分析のプロファイルの結果を示す図である。

【図7】図７は、各サンプルにおける、接続部の着脱操作時の、最大音量の平均値を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、本発明について詳述する。

【0015】

以下、複数の上限値と複数の下限値とが別々に記載されている場合、これらの上限値と下限値とを自由に組み合わせて設定可能な全ての数値範囲が記載されているものとする。
以下において、特に断らない限り、各種測定は、環境温度を室温（例えば２５℃）として実施されたものとする。

【0016】

以下、本発明について図面を参照しながら詳述する。以下で参照する図面において、実質的に同じ機能を有する構成要素を同一の符号で示し、その説明を省略することがある。なお、以下の実施形態で引用する図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。また、以下の実施形態で引用する図面は、説明の都合上、構成の簡略化又は模式化して示したり、一部の構成要素を省略したりしている。

【0017】

（実施形態１）
図１は、実施形態１に係るシール部材を示す。図１（ａ）は、シール部材の概略を示す平面図である。図１（ｂ）は、図１（ａ）に示したシール部材のＡ－Ａ’線に沿った断面図である。また、図２は、実施形態１に係る密閉容器を示す。図２（ａ）は、密閉容器の概略を示す、蓋体側から見た分解斜視図である。図２（ｂ）は、蓋体の概略を示す、開口方向から見た斜視図である。さらに、図３は、実施形態１に係る密閉容器の断面図である。

【0018】

本実施形態に係るシール部材１０は、図１（ａ）に示すように、断面が矩形のリング状の部材である。ここで、当接箇所１２は、シール部材１０を介して第１部材及び第２部材を接続した際の、各部材との当接箇所を指す。また、当接箇所１２は、当接箇所１２ａ及び当接箇所１２ｂから構成される。当接箇所１２ａは、第１部材（本実施形態に係る蓋体２０）との当接箇所を指し、当接箇所１２ｂは、第２部材（本実施形態に係る有底筒体３０）との当接箇所を指す。

【0019】

シール部材１０の形状は、図１（ａ）に示すように、典型的にはリング状であるが、接続すべき２つの部材間に介在することができれば、特に限定されない。シール部材１０の形状としては、リング状の他に、例えば、円盤状、円柱状等があり得る。シール部材１０がリング状である場合、図２（ｂ）及び図３に示されるように、接続する一方の部材の溝（本実施形態においては、蓋体２０の溝部２８）等に固定され得るため、部材同士の着脱操作がしやすい。したがって、本実施形態に係るシール部材１０は、第１部材又は第２部材に設けられた溝に取り付けて使用されることが好ましい。また、反対に、シール部材１０の一部に溝を設けて、第１部材又は第２部材に設けた凸部をはめ込むことで固定することによっても、同様の効果を得ることができる。

【0020】

本実施形態に係るシール部材１０は、負荷時（接続部の接続完了時）における圧縮率（つぶし率；ＪＩＳ Ｂ ２４０１－２）が、０．１％以上３０％以下であることが好ましい。このような圧縮率を有するシール部材１０を用いることで、接続部のシールが可能となる一方、接続部の着脱時に不快音が生じ得る。本実施形態に係るシール部材１０は、負荷時における圧縮率が、好適には１％以上、５％以上又は８％以上であり得る。また、本実施形態に係るシール部材１０は、負荷時における圧縮率が、好適には２５％以下、２０％以下、１５％以下又は１０％以下であり得る。このような圧縮率を有するシール部材１０を用いることで、接続部を確実にシールすることができる。

【0021】

本実施形態に係る密閉容器４０は、図２に示すように、シール部材１０、蓋体２０及び有底筒体３０を備える。本実施形態において、蓋体２０は有蓋筒体の形状であって下方に開口し、蓋上面部２２と蓋上面部２２に繋がる蓋側面部２４とから構成される。蓋側面部２４の内周には雌螺子部２６が設けられている。さらに、蓋側面部２４の蓋上面部２２付近の内周上に、溝部２８が設けられている。また、有底筒体３０は、上方が大径となる円錐台状の有底筒体であって上方に開口し、筒底面部３２と筒底面部３２に繋がる筒側面部３４とから構成される。筒側面部３４の開口部付近には、筒状の口部３６を有する。口部３６は、外周面に雄螺子部３８を備える。

【0022】

本実施形態において、シール部材１０は、図２（ａ）及び図３に示すように、密閉容器４０に使用される。すなわち、本実施形態において、シール部材１０は、蓋体２０（第１部材）と有底筒体３０（第２部材）との間に介在させて使用するシール部材である。

【0023】

本実施形態において、図３に示すように、蓋体２０及び有底筒体３０は、蓋体２０の雌螺子部２６と、有底筒体３０の雄螺子部３８との螺合によって着脱可能に接続している。さらに、本実施形態において、図３に示すように、蓋体２０が有底筒体３０にしっかり接続された状態では、蓋体２０の溝部２８に当接箇所１２ａが密着し、且つ、有底筒体３０の口部３６の上面に当接箇所１２ｂが密着している。これにより、接続部がシールされ、有底筒体３０の内部空間が密閉されている。なお、部材同士の接続方式は、本実施形態では螺合であるが、接続時に、蓋体２０及び有底筒体３０がシール部材１０と当接していれば、特に限定されない。本実施形態に係るシール部材１０は、着脱操作時の不快音を低減することから、可動部分に使用されることが好ましく、繰り返し着脱される接続部に使用されることが特に好ましい。したがって、本実施形態に係るシール部材１０は、パッキン部材であってもよい。

【0024】

本実施形態に係るシール部材１０は、シリコーン樹脂製である。本実施形態に係るシリコーン樹脂は、特に限定されず、目的に合わせて任意のシリコーン樹脂を選択することができる。シリコーン樹脂の原料として、例えば、過酸化物架橋型ミラブルシリコーンゴム、付加架橋型ミラブルシリコーンゴム、付加型液状シリコーンゴム及び縮合架橋型液状シリコーンゴム等が挙げられる。さらに、シリコーン樹脂の原料として、２液型のものを用いても、１液型のものを用いてもよい。シール部材１０を形成可能であれば、原料の硬化方法は特に限定されない。硬化方法は、例えば、室温硬化及び加温硬化のいずれかであってもよい。

【0025】

本実施形態に係るシリコーン樹脂のタイプＡデュロメータにより測定されるショア硬度は、３０以上が好ましく、４０以上がより好ましく、５０以上がさらに好ましく、６０以上が特に好ましい。また、本実施形態に係るシリコーン樹脂のタイプＡデュロメータにより測定されるショア硬度は、８０以下が好ましく、７０以下がさらに好ましい。ショア硬度がこのような範囲であると、シール部材１０は優れた密閉性を有するとともに、第１部材と第２部材との着脱時の不快音の低減効果を奏しやすくなる。ショア硬度は、試験片を本実施形態に係るシール部材１０として、ＪＩＳ Ｋ ６２５３－３に準じた方法により測定できる。

【0026】

本実施形態に係るシール部材１０は、表面層に改質層を有する。具体的には、シール部材１０は、第１部材及び第２部材との当接箇所１２の少なくとも一部についてＸ線光電子分光法（ＸＰＳ）深さ方向分析で得られるプロファイルにおいて、最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値を１００％としたときの、酸素原子濃度の比率が８０％以上となる改質層の厚さが５００ｎｍ以上であることが好ましい。ここで、本明細書における「ＸＰＳ深さ方向分析で得られるプロファイル」とは、ＸＰＳ深さ方向分析において検出された元素のうち、ケイ素（Ｓｉ２ｐ）、酸素（Ｏ１ｓ）及び炭素（Ｃ１ｓ）を選択し、これらの各原子濃度の合計を１００原子％としたプロファイルを指す。各元素は、バックグラウンドをＳｈｉｒｌｅｙ法やＴｏｕｇａａｒｄ法等で求め、得られたピーク面積から相対感度係数法を用いて定量することができる。また、本実施形態に係る改質層の厚さは、７００ｎｍ以上がより好ましく、１０００ｎｍ以上が特に好ましい。なお、最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値は特に限定されないが、例えば、４０原子％以上であり、好ましくは５０原子％以上である。このような改質層を有するシール部材１０を用いることで、第１部材と第２部材との着脱時の不快音を低減できる。着脱時の不快音を低減できる理由としては、表面層にこのような改質層を有するシール部材１０は、着脱操作により、シール部材１０に負荷がかかった際、改質層が圧縮変形しにくいためであると推察される。着脱時の不快音は、特に、シール部材１０に大きな負荷がかかる際に生じやすい。したがって、シール部材１０の圧縮率が高いときに生じやすく、例えば、接続部の接続完了直前や、接続部の取り外し開始直後に生じやすい。

【0027】

また、本実施形態において、当接箇所１２のうち、当接箇所１２ｂの一部又は全部が、上述の改質層を有することが好ましく、当接箇所１２ｂの全部が上述の改質層を有することが特に好ましい。なお、当接箇所の全部が改質層を有する場合には、ＸＰＳ深さ方向分析を任意の箇所で実施したときに、上述の指標で定義される改質層が確認され得る。本実施形態において、シール部材１０は溝部２８により固定されているため、当接箇所１２ａには着脱操作による負荷がかかりにくい。一方、固定されていない当接箇所１２ｂには、着脱操作による負荷がかかりやすい。上述の通り、着脱時の不快音は、着脱操作による負荷がかかる際に生じやすいため、着脱操作時に負荷がかかりやすい箇所に上述の改質層を有することが好ましい。したがって、換言すると、本実施形態に係るシール部材１０は、第１部材及び第２部材との当接箇所１２のうち、固定されていない箇所に上述の改質層を有することが好ましい。ここで、「当接箇所のうち、固定されていない箇所」とは、「当接箇所のうち、着脱操作時に第１部材又は第２部材と摺動する箇所」と言うこともできる。

【0028】

本実施形態に係るシール部材１０は、さらに、第１部材及び第２部材との当接箇所１２の少なくとも一部についてＸＰＳ深さ方向分析で得られるプロファイルにおいて、最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値と、最表面から深さ１０００ｎｍの地点における酸素原子濃度との差が、５原子％以上であることが好ましい。また、当該最大値と、最表面から深さ２０００ｎｍ地点における酸素原子濃度との差が、７原子％以上であることが好ましい。表面層がこのような酸素原子濃度であるシール部材１０を用いることで、着脱時の不快音を低減できる。着脱時の不快音を低減できる理由としては、上述した圧縮変形しにくい改質層を有しつつ、表面層に酸素原子濃度の勾配があることにより、シール部材１０全体としては着脱動作に伴うひずみを最低限に維持しつつ摺動できるためであると推察される。したがって、本実施形態におけるシール部材１０の動摩擦係数は、小さいことが好ましい。動摩擦係数は、例えば、ＪＩＳ Ｋ ７１２５に準じた方法により測定できる。本実施形態に係るシール部材１０の動摩擦係数は、０．２５以下であることが好ましく、０．２０以下であることがさらに好ましい。

【0029】

ＸＰＳ分析は、試料表面にＸ線を照射することによって、固体内の準位に対応したエネルギーの電子を励起し、真空中に放出された光電子の運動エネルギーを測定する分析手法である。各元素の各軌道準位は固有の結合エネルギー値を有するため、試料表面の元素分析をすることができる。また、イオンスパッタリング法により、試料表面を削り取りながらＸＰＳ分析を行うことで、最表面から所定深さの地点の元素分析をすることができる。イオンスパッタリング法は、例えば、アルゴンイオンビームの照射により行うことができる。ＸＰＳ深さ方向分析の分析単位深さは、任意に設定できる。ＸＰＳ深さ方向分析は、例えば、１０ｎｍ刻み、１００ｎｍ刻み等で行うことができる。ＸＰＳ深さ方向分析装置として、例えば、サーモフィッシャーサイエンティフィック社製のＫ－Ａｌｐｈａ等を使用することができる。

【0030】

本実施形態に係る蓋体２０及び有底筒体３０の材質は、特に限定されず、任意の材料から作製できる。蓋体２０及び有底筒体３０の材質として、例えば、プラスチック、金属等が挙げられる。また、図３に示す蓋体２０及び有底筒体３０は単一の材料から一体成型された単一部材であるが、複数の材料を組み合わせたものであってもよい。また、シール部材１０と当接する部分の表面は、不快音が生じやすい、鏡面加工された表面であってもよい。特に、シール部材１０と当接する部分の表面が金属鏡面であると不快音を生じやすい。本実施形態に係るシール部材１０を用いることで、このような表面を有する場合であっても、不快音を低減することができる。

【0031】

なお、本実施形態に係るシール部材１０は密閉容器４０に使用されるが、蓋上面部２２等に開口部を有する非密閉容器等に使用されてもよい。本実施形態に係るシール部材１０は、部材間の接続部をシールするものであり、容器自体が密閉性を有するか否かは、使用する用途によって任意に選択できる。

【0032】

本実施形態に係る密閉容器４０の用途は、特に限定されない。着脱時の不快音は、当接箇所１４に水などの液体が付着している場合に大きくなるため、液体が付着し得る状況で使用する場合に、本実施形態による効果をより享受できる。したがって、本実施形態に係る密閉容器４０は、飲食料品保管容器等であり得る。飲食料品保管容器等に収容される物の温度は、容器自体の性能範囲であれば、特に限定されず、１０℃以下の低温、常温及び８０℃以上の高温であってもよい。このような温度の収容物に含まれる液体（高温の収容物から発生する水蒸気等も含む）が当接箇所１２に付着しても、本実施形態に係るシール部材１０を用いることで、着脱時の不快音を低減できる。

【0033】

本実施形態に係るシール部材１０は、例えば、成形したシリコーン樹脂を、ＵＶ照射することにより、作製することができる。シリコーン樹脂の成形方法は、特に限定されないが、例えば、溶融したシリコーンと金型を用いた射出成型等が挙げられる。ＵＶ照射の条件は、シリコーン樹脂の種類によって適宜変更できる。照射する光の波長及び積算光量を高度に最適化することで、上述したＸＰＳ深さ方向分析で得られるプロファイルを有するシール部材を得ることができる。本実施形態に係るシール部材は、例えば、成形したシリコーン樹脂を、波長２１０ｎｍ以下の紫外線光を３０分以上照射することにより作製することができる。紫外線光の波長は、２００ｎｍ以下が好ましく、１９０ｎｍ以下がさらに好ましい。紫外線光の波長の下限値は、特に限定されないが、例えば、１０ｎｍ、１００ｎｍ、１５０ｎｍとしてもよい。また、照射波長における積算光量は、例えば、５０００ｍＪ／ｃｍ^２以上が好ましく、１００００ｍＪ／ｃｍ^２以上であることがさらに好ましい。照射波長における積算光量の上限値は、特に限定されないが、例えば、１０００００ｍＪ／ｃｍ^２、５００００ｍＪ／ｃｍ^２としてもよい。このような積算光量であると、シール部材自体の損傷（例えば、圧縮永久ひずみの増加や、表面の亀裂）がほとんど発生せず、且つ、高い消音効果を有するシール部材を取得できる。ここで、圧縮永久ひずみは、例えば、試験温度を１８０℃、試験時間を１６８時間、圧縮率を２５％とし、ＪＩＳ Ｋ ６２６２に準じた方法により測定できる値である。ＵＶ照射によって得られる、本実施形態に係るシール部材の圧縮永久ひずみは、照射前のシール部材を基準として、１２０％以下であることが好ましく、１１５％以下であることがさらに好ましい。

【0034】

本実施形態に係るシール部材による、不快音の低減は、従来公知の方法により検出することができる。具体的には、蓋体２０と有底筒体３０との間にシール部材１０を設置し、当接箇所１２に液体が付着した状態で、着脱動作時の音量を測定することにより、検出することができる。音量の測定には、任意の音量測定器を使用することができ、例えば、精密騒音計（ＮＬ－３１；リオン社製）を使用することができる。音量の測定時には、測定環境下の雑音を排除するために、防風スクリーン等を使用することが好ましい。

【0035】

（実施形態２）
図４は、実施形態２に係るシール部材を示す。図４（ａ）は、シール部材の概略を示す平面図である。図４（ｂ）は、図４（ａ）に示したシール部材のＢ－Ｂ’線に沿った断面図である。図５は、実施形態２に係る接続管体を示す。図５（ａ）は、接続管体の概略を示す、分解斜視図である。図５（ｂ）は、接続管体の断面図である。本実施形態の基本的な構成は実施形態１と同様である。以下では、実施形態１と異なる構成について説明する。

【0036】

本実施形態に係るシール部材１０の断面形状は、図４（ａ）に示すように、実施形態１と異なり、円形である。このように、シール部材１０の断面形状は、シール部材として機能することができれば、特に限定されない。

【0037】

本実施形態に係る接続管体７０は、図５に示すように、シール部材１０、第１管体５０（本実施形態における第１部材）及び第２管体６０（本実施形態における第２部材）を備える。本実施形態において、第２管体６０は、管本体部６１と、第１管体５０が挿入される受口部６２とを備える。受口部６２の内周面に溝部６４が設けられている。実施形態１では、第１部材である蓋体２０にシール部材１０を固定するための溝部２８が設けられていたが、実施形態２では第２部材である第２管体６０にシール部材１０を固定するための溝部６４が設けられている。シール部材１０を固定するための溝部は、本実施形態の必須構成ではないが、上述の通り、第１部材及び第２部材のどちらか一方の部材に設けられていることが好ましい。また、本実施形態では、第２部材に溝部６４が設けられているため、当接箇所１２のうち、固定されていない当接箇所１２ａの一部又は全部が、上述の改質層を有することが好ましい。

【0038】

本実施形態に係るシール部材１０は、図５に示すように、管体同士の接続に使用される。すなわち、本実施形態において、シール部材１０は、第１管体５０（第１部材）と第２管体６０（第２部材）との間に介在させて使用するシール部材である。

【0039】

本実施形態に示すように、第１部材及び第２部材は管体であってもよい。本実施形態に係る接続管体７０は、例えば、配管等であり得る。

【0040】

本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、当業者の知識に基づいて各種の設計変更などの変形を加えることも可能であり、そのような変形が加えられた実施形態も本発明の範囲に含まれる。

【0041】

本実施形態に係るシール部材は、第１部材又は第２部材と一体成型されたものであってもよい。例えば、蓋体構造も備えるシール部材が、有底筒体に接続された密閉容器も、本発明の範囲に含まれる。

【0042】

本実施形態に係るシール部材は、第１部材（有底筒体）と第２部材（管体）との間、第２部材と第３部材（蓋体）との間のいずれか一方又は両方に、介在してもよい。このような第１部材、第２部材及び第３部材を備える密閉容器も、本発明の範囲に含まれる。

【実施例0043】

（サンプルの作製）
付加架橋型ミラブルシリコーンゴムを用いて成型した未改質のシール部材を、ＵＶ照射器（岩崎電気社製）内のトレイ上に設置し、所定処理時間、以下の条件で照射を行った。なお、本条件において、照射波長の平均照度は、３．３ｍＷ／ｃｍ^２であり、照射波長の積算光量は、照射１０分あたり１９８０ｍＪ／ｃｍ^２であることを、光量計（浜松ホトニクス社製）で確認した。
照射波長：１８５ｎｍ
照射距離：６ｍｍ

【0044】

（表面層の分析）
各サンプルについて、ＸＰＳ深さ方向分析を行った。具体的には、まず、サンプルをシール部材として使用したとき、溝等に固定されてない当接箇所の一部（幅１０ｍｍ、厚さ１ｍｍ）を切り出し、ＸＰＳ深さ方向分析用試験片とした。続いて、各ＸＰＳ深さ方向分析用試験片について、ＸＰＳ深さ方向分析装置（Ｋ－Ａｌｐｈａ；サーモフィッシャーサイエンティフィック社製）を用いて、以下の条件でＸＰＳ深さ方向分析を行った。
励起Ｘ線：単色Ａｌ Ｋα線 照射径４００μｍ 中和銃使用
パスエネルギー：２００ｅＶ
エネルギーステップ：１ｅＶ
エッチング：アルゴンイオン銃、３ｋＶ
エッチングエリア：２ｍｍ×２ｍｍ
分析深さ：最表面から４０００ｎｍまで（１００ｎｍ刻み）

【0045】

各サンプルにおける、ＸＰＳ深さ方向分析のプロファイルの結果を、図６に示す。図６より、未処理サンプルの表面層に比べて、処理時間に応じて最表面付近の酸素原子濃度が増加することが分かった。また、各サンプルにおける、（１）改質層（最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値を１００％としたときの、酸素原子濃度の比率が８０％以上となる地点から最表面まで）の厚さ、及び（２）最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値と、最表面から所定深さ地点における酸素原子濃度との差を、表１に示す。

【0046】

【表1】

【0047】

なお、表１において、未処理サンプル及び２０分処理サンプルで、改質層の厚さが分析深さ（４０００ｎｍ）以上となったが、これは、定義された算出方法による見かけ上の値である。改質されていない又は改質が不十分であると、図６に示すように、最表面から深さ２００ｎｍ地点までにおける酸素原子濃度の最大値が低く、未改質層の酸素原子濃度との差が２０％未満であるためである。すなわち、当該算出方法だけでは、改質の有無を判断できない。したがって、本実施形態に係るシール部材は、表面層に酸素原子濃度の勾配があることを示す（２）の指標も合わせて満たす必要がある。

【0048】

（ショア硬度）
未処理サンプル及び７０分処理サンプルについて、タイプＡデュロメータ（デジテスト；Ｈ．バーレイス社製）を用いてショア硬度を測定した。測定は、１サンプルあたり５回行い、その平均値を算出した。各サンプルのショア硬度の結果を、表２に示す。

【0049】

【表2】

【0050】

（音量測定）
各サンプルに係るシール部材を介して接続される、図１に記載の構成に準じる密閉容器を用意した。当該密閉容器は、螺合により接続される蓋体及び有底筒体からなり、蓋体はシール部材を固定する溝部を有する。また、蓋体及び有底筒体におけるシール部材との当接箇所の材質は、それぞれ、プラスチック及びステンレス鋼である。

【0051】

まず、各サンプルを蓋体の溝部に固定した。続いて、有底筒体に半容量程度の常温の水又は約９０℃の湯を入れた後、蓋体を接続して密閉容器を密閉した。このとき、サンプルの圧縮率は、９％であった。さらに、密閉容器を振って接続部が濡れた状態とした。

【0052】

接続部の着脱操作を５回繰り返し、このときの最大音量を、防風スクリーン（ＷＳ－１０；リオン社製）を装着した精密騒音計（ＮＬ－３１；リオン社製）により測定した（ｎ＝２）。さらに、このときの音の不快感を以下の基準に従い評価した。
Ａ：音の不快感がほとんどない
Ｂ：音の不快感はあるが気にならない程度
Ｃ：音の不快感がある

【0053】

図７に、接続部の着脱操作時における、最大音量の平均値を示す。また、表３に音の不快感の評価結果を示す。なお、音の不快感は、２回の試験間で同じであったため、単一の評価として示す。

【0054】

【表3】

【0055】

図７より、処理時間が３０分以上のサンプルは、未処理サンプルに比べて、着脱操作時の音量が減少することが分かった。また、表３より、処理時間が３０分以上のサンプルは音の不快感が低減した。さらに、処理時間が６０分以上のサンプルは、音の不快感がほとんどないことが分かった。

【0056】

（圧縮永久ひずみ）
付加架橋型ミラブルシリコーンゴムから成型した圧縮永久ひずみ測定用試験片（直径１３ｍｍ、厚さ６．３ｍｍ）を、ＵＶ照射器（岩崎電気社製）内のトレイ上に設置し、上記と同様の条件で照射を行った。

【0057】

未処理サンプル、１５分処理サンプル、３０分処理サンプル、４５分処理サンプル及び６０分処理サンプルについて、圧縮永久ひずみを測定した。圧縮永久ひずみは、試験温度を１８０℃、試験時間を１６８時間、圧縮率を２５％とし、ＪＩＳ Ｋ ６２６２に準じた方法により測定した。恒温槽として、ギヤー式老化試験機（安田精機製作所製）を用いた。また、厚さの測定は、定圧厚さ測定器（テクロック社製）を用いて、Ａ法（ＪＩＳ Ｋ ６２５０）により測定した。測定は、各サンプルについてｎ＝３とし、その中央値を当該サンプルの圧縮永久ひずみとした。各サンプルの圧縮永久ひずみの測定結果を、表４に示す。

【0058】

【表4】

【0059】

（動摩擦係数）
付加架橋型ミラブルシリコーンゴムを用いて成型した板状シリコーン樹脂（８ｃｍ×２ｃｍ、厚さ０．２ｃｍ）を、ＵＶ照射器（岩崎電気社製）内のトレイ上に設置し、上記と同様の条件で照射を行った。

【0060】

未処理サンプル、３０分処理サンプル及び６０分処理サンプルについて、動摩擦係数を測定した。具体的には、まず、サンプルを水平な試験テーブル上に設置した。次に、おもり荷重６２．９８ｇを載せたポリエチレンフィルム（ＳＰＶ－Ｃ－１００；日東電工社製）を滑り片とし、上記サンプルの上に設置した。フォースゲージ（日本電産社製）を滑り片に接続し、５０ｍｍ／秒の速度で５秒間、当該滑り片を滑らせることにより、動摩擦係数を測定した。測定は、各サンプルについてｎ＝５とし、その平均値を算出した。各サンプルにおける動摩擦係数の測定結果を、表５に示す。

【0061】

【表5】

【符号の説明】

【0062】

１０ シール部材
１２ 当接箇所
２０ 蓋体
２２ 蓋上面部
２４ 蓋側面部
２６ 雌螺子部
２８ 溝部
３０ 有底筒体
３２ 筒底面部
３４ 筒側面部
３６ 口部
３８ 雄螺子部
４０ 密閉容器
５０ 第１管体
６０ 第２管体
６１ 菅本体部
６２ 受口部
６４ 溝部
７０ 接続管体

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】