(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023174342
(43)【公開日】2023-12-07
(54)【発明の名称】眼科装置
(51)【国際特許分類】
A61B 3/10 20060101AFI20231130BHJP
【ＦＩ】
A61B3/10 100
【審査請求】未請求
【請求項の数】18
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022087144
(22)【出願日】2022-05-27
(71)【出願人】
【識別番号】501299406
【氏名又は名称】株式会社トーメーコーポレーション
(74)【代理人】
【識別番号】110000110
【氏名又は名称】弁理士法人 快友国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】山成 正宏
(72)【発明者】
【氏名】岡本 圭一郎
【テーマコード（参考）】
4C316
【Ｆターム（参考）】
4C316AA01
4C316AA09
4C316AA26
4C316AB03
4C316AB04
4C316AB11
4C316FY00
(57)【要約】
【課題】基準光により算出される基準位置を任意の位置に設定可能とする。
【解決手段】眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼に照射して測定光を生成する測定光学系と、光源からの光を用いて参照光を生成する参照光学系と、光源からの光を用いて基準位置を算出するための基準光を生成する基準光学系と、測定光と参照光とを合波して測定干渉光を生成すると共に、基準光と参照光とを合波して基準干渉光を生成する干渉光学系と、を備えている。基準光学系は、測定光学系より分岐された光路を有している。測定光学系は、光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、光源からの光を前記基準光学系に導く第２状態とに切替える切替部を備えている。制御部は、被検眼の測定時に、第１状態として検出器で干渉信号を検出し、第２状態として検出器で基準干渉信号を検出するように切替部を制御する。
【選択図】図１
【解決手段】眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼に照射して測定光を生成する測定光学系と、光源からの光を用いて参照光を生成する参照光学系と、光源からの光を用いて基準位置を算出するための基準光を生成する基準光学系と、測定光と参照光とを合波して測定干渉光を生成すると共に、基準光と参照光とを合波して基準干渉光を生成する干渉光学系と、を備えている。基準光学系は、測定光学系より分岐された光路を有している。測定光学系は、光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、光源からの光を前記基準光学系に導く第２状態とに切替える切替部を備えている。制御部は、被検眼の測定時に、第１状態として検出器で干渉信号を検出し、第２状態として検出器で基準干渉信号を検出するように切替部を制御する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
光源と、
前記光源からの光を被検眼に照射して測定光を生成する測定光学系と、
前記光源からの光を用いて参照光を生成する参照光学系と、
前記光源からの光を用いて基準位置を算出するための基準光を生成する基準光学系と、
前記測定光と前記参照光とを合波して測定干渉光を生成すると共に、前記基準光と前記参照光とを合波して基準干渉光を生成する干渉光学系と、
前記測定干渉光を検出して測定干渉信号を出力すると共に、前記基準干渉光を検出して基準干渉信号を出力する検出器と、
前記測定干渉信号に基づいて前記被検眼の深さ方向の位置情報を算出すると共に、前記基準干渉信号に基づいて前記基準位置を算出する制御部と、を備えており、
前記基準光学系は、前記測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記測定光学系は、前記光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、前記光源からの光を前記基準光学系に導く第２状態とに切替える切替部を備えており、
前記制御部は、前記被検眼の測定時に、前記第１状態として前記検出器で前記測定干渉信号を検出すると共に、前記第２状態として前記検出器で前記基準干渉信号を検出するように前記切替部を制御する、眼科装置。
前記光源からの光を被検眼に照射して測定光を生成する測定光学系と、
前記光源からの光を用いて参照光を生成する参照光学系と、
前記光源からの光を用いて基準位置を算出するための基準光を生成する基準光学系と、
前記測定光と前記参照光とを合波して測定干渉光を生成すると共に、前記基準光と前記参照光とを合波して基準干渉光を生成する干渉光学系と、
前記測定干渉光を検出して測定干渉信号を出力すると共に、前記基準干渉光を検出して基準干渉信号を出力する検出器と、
前記測定干渉信号に基づいて前記被検眼の深さ方向の位置情報を算出すると共に、前記基準干渉信号に基づいて前記基準位置を算出する制御部と、を備えており、
前記基準光学系は、前記測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記測定光学系は、前記光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、前記光源からの光を前記基準光学系に導く第２状態とに切替える切替部を備えており、
前記制御部は、前記被検眼の測定時に、前記第１状態として前記検出器で前記測定干渉信号を検出すると共に、前記第２状態として前記検出器で前記基準干渉信号を検出するように前記切替部を制御する、眼科装置。
【請求項2】
前記制御部は、前記第１状態として前記検出器で前記測定干渉信号を検出する前又は検出した後に、前記第２状態として前記検出器で前記基準干渉信号を検出するように前記切替部を制御する、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項3】
特定時において調整された前記基準位置を示す特定時基準位置を記憶する記憶部をさらに備えており、
前記特定時基準位置は、前記特定時に前記基準光学系で生成された前記基準光と前記参照光学系で生成された前記参照光とを合波して生成される前記基準干渉光から算出された位置であり、
前記制御部は、前記測定時に前記検出器から出力される前記基準干渉信号に基づいて算出される前記基準位置である測定時基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置との差に基づいて、前記測定時に前記検出器から出力される前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を補正するように構成されている、請求項１又は２に記載の眼科装置。
前記特定時基準位置は、前記特定時に前記基準光学系で生成された前記基準光と前記参照光学系で生成された前記参照光とを合波して生成される前記基準干渉光から算出された位置であり、
前記制御部は、前記測定時に前記検出器から出力される前記基準干渉信号に基づいて算出される前記基準位置である測定時基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置との差に基づいて、前記測定時に前記検出器から出力される前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を補正するように構成されている、請求項１又は２に記載の眼科装置。
【請求項4】
前記記憶部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記被検眼の実寸値に変換するため変換式をさらに記憶しており、
前記制御部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記変換式で変換することで、前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して前記光源からの光を前記測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、前記参照光学系で生成された前記参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項３に記載の眼科装置。
前記制御部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記変換式で変換することで、前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して前記光源からの光を前記測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、前記参照光学系で生成された前記参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項３に記載の眼科装置。
【請求項5】
前記特定時と、前記変換式を取得するために前記較正用ツールを用いて前記較正用干渉光を測定する時とは、略同時である、請求項４に記載の眼科装置。
【請求項6】
特定時において調整された前記基準位置を示す特定時基準位置を記憶する記憶部をさらに備えており、
前記特定時基準位置は、前記特定時に前記基準光学系で生成された前記基準光と前記参照光学系で生成された前記参照光とを合波して生成される前記基準干渉光から算出された位置であり、
前記参照光学系は、前記参照光の光路長を調整する調整部を備えており、
前記制御部は、前記測定時に前記検出器から出力される前記基準干渉信号に基づいて算出される前記基準位置である測定時基準位置を算出し、前記測定時に算出される前記測定時基準位置が前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置となるように前記調整部を制御する、請求項１に記載の眼科装置。
前記特定時基準位置は、前記特定時に前記基準光学系で生成された前記基準光と前記参照光学系で生成された前記参照光とを合波して生成される前記基準干渉光から算出された位置であり、
前記参照光学系は、前記参照光の光路長を調整する調整部を備えており、
前記制御部は、前記測定時に前記検出器から出力される前記基準干渉信号に基づいて算出される前記基準位置である測定時基準位置を算出し、前記測定時に算出される前記測定時基準位置が前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置となるように前記調整部を制御する、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項7】
前記記憶部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記被検眼の実寸値に変換するため変換式をさらに記憶しており、
前記制御部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記変換式で変換することで、前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して前記光源からの光を前記測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、前記参照光学系で生成された前記参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項６に記載の眼科装置。
前記制御部は、前記測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記変換式で変換することで、前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して前記光源からの光を前記測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、前記参照光学系で生成された前記参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項６に記載の眼科装置。
【請求項8】
前記特定時と、前記変換式を取得するために前記較正用ツールを用いて前記較正用干渉光を測定する時とは、略同時である、請求項７に記載の眼科装置。
【請求項9】
前記制御部は、
前記切替部を前記第２状態として前記検出器で前記基準干渉信号を検出し、
検出した前記基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時基準位置が前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置となるように前記調整部を制御し、
前記調整部により前記参照光の光路長が調整された後に、前記切替部を前記第１状態として前記測定干渉信号を検出する、請求項６～８のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記切替部を前記第２状態として前記検出器で前記基準干渉信号を検出し、
検出した前記基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時基準位置が前記記憶部に記憶された前記特定時基準位置となるように前記調整部を制御し、
前記調整部により前記参照光の光路長が調整された後に、前記切替部を前記第１状態として前記測定干渉信号を検出する、請求項６～８のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項10】
眼科装置であって、
被検眼の第１部位の深さ方向の第１位置を測定する第１ＯＣＴと、
前記被検眼の前記第１部位とは異なる第２部位の深さ方向の第２位置を測定する第２ＯＣＴと、
前記第１ＯＣＴで測定された前記第１位置と、前記第２ＯＣＴで測定された前記第２位置とから、前記第１部位から前記第２部位までの深さ方向の寸法を算出する制御部と、を備えており、
前記第１ＯＣＴは、
第１光源と、
前記第１光源からの光を前記被検眼の前記第１部位に照射して第１測定光を生成する第１測定光学系と、
前記第１光源からの光を用いて第１参照光を生成する第１参照光学系と、
前記第１光源からの光を用いて第１基準位置を算出するための第１基準光を生成する第１基準光学系と、
前記第１測定光と前記第１参照光とを合波して第１測定干渉光を生成すると共に、前記第１基準光と前記第１参照光とを合波して第１基準干渉光を生成する第１干渉光学系と、
前記第１測定干渉光を検出して第１測定干渉信号を出力すると共に、前記第１基準干渉光を検出して第１基準干渉信号を出力する第１検出器と、を備えており、
前記第１基準光学系は、前記第１測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記第１測定光学系は、前記第１光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、前記第１光源からの光を前記第１基準光学系に導く第２状態とに切替える第１切替部を備えており、
前記被検眼の測定時には、前記第１切替部により前記第１状態として前記第１検出器で前記第１測定干渉信号を検出すると共に、前記第１切替部により前記第２状態として前記第１検出器で前記第１基準干渉信号を検出する、眼科装置。
被検眼の第１部位の深さ方向の第１位置を測定する第１ＯＣＴと、
前記被検眼の前記第１部位とは異なる第２部位の深さ方向の第２位置を測定する第２ＯＣＴと、
前記第１ＯＣＴで測定された前記第１位置と、前記第２ＯＣＴで測定された前記第２位置とから、前記第１部位から前記第２部位までの深さ方向の寸法を算出する制御部と、を備えており、
前記第１ＯＣＴは、
第１光源と、
前記第１光源からの光を前記被検眼の前記第１部位に照射して第１測定光を生成する第１測定光学系と、
前記第１光源からの光を用いて第１参照光を生成する第１参照光学系と、
前記第１光源からの光を用いて第１基準位置を算出するための第１基準光を生成する第１基準光学系と、
前記第１測定光と前記第１参照光とを合波して第１測定干渉光を生成すると共に、前記第１基準光と前記第１参照光とを合波して第１基準干渉光を生成する第１干渉光学系と、
前記第１測定干渉光を検出して第１測定干渉信号を出力すると共に、前記第１基準干渉光を検出して第１基準干渉信号を出力する第１検出器と、を備えており、
前記第１基準光学系は、前記第１測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記第１測定光学系は、前記第１光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、前記第１光源からの光を前記第１基準光学系に導く第２状態とに切替える第１切替部を備えており、
前記被検眼の測定時には、前記第１切替部により前記第１状態として前記第１検出器で前記第１測定干渉信号を検出すると共に、前記第１切替部により前記第２状態として前記第１検出器で前記第１基準干渉信号を検出する、眼科装置。
【請求項11】
前記第２ＯＣＴは、
第２光源と、
前記第２光源からの光を前記被検眼の前記第２部位に照射して第２測定光を生成する第２測定光学系と、
前記第２光源からの光を用いて第２参照光を生成する第２参照光学系と、
前記第２光源からの光を用いて第２基準位置を算出するための第２基準光を生成する第２基準光学系と、
前記第２測定光と前記第２参照光とを合波して第２測定干渉光を生成すると共に、前記第２基準光と前記第２参照光とを合波して第２基準干渉光を生成する第２干渉光学系と、
前記第２測定干渉光を検出して第２測定干渉信号を出力すると共に、前記第２基準干渉光を検出して第２基準干渉信号を出力する第２検出器と、を備えており、
前記第２基準光学系は、前記第２測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記第２測定光学系は、前記第２光源からの光を被検眼に照射する第３状態と、前記第２光源からの光を前記第２基準光学系に導く第４状態とに切替える第２切替部を備えており、
前記被検眼の測定時には、前記第２切替部により前記第３状態として前記第２検出器で前記第２測定干渉信号を検出すると共に、前記第２切替部により前記第４状態として前記第２検出器で前記第２基準干渉信号を検出する、請求項１０に記載の眼科装置。
第２光源と、
前記第２光源からの光を前記被検眼の前記第２部位に照射して第２測定光を生成する第２測定光学系と、
前記第２光源からの光を用いて第２参照光を生成する第２参照光学系と、
前記第２光源からの光を用いて第２基準位置を算出するための第２基準光を生成する第２基準光学系と、
前記第２測定光と前記第２参照光とを合波して第２測定干渉光を生成すると共に、前記第２基準光と前記第２参照光とを合波して第２基準干渉光を生成する第２干渉光学系と、
前記第２測定干渉光を検出して第２測定干渉信号を出力すると共に、前記第２基準干渉光を検出して第２基準干渉信号を出力する第２検出器と、を備えており、
前記第２基準光学系は、前記第２測定光学系より分岐された光路を有しており、
前記第２測定光学系は、前記第２光源からの光を被検眼に照射する第３状態と、前記第２光源からの光を前記第２基準光学系に導く第４状態とに切替える第２切替部を備えており、
前記被検眼の測定時には、前記第２切替部により前記第３状態として前記第２検出器で前記第２測定干渉信号を検出すると共に、前記第２切替部により前記第４状態として前記第２検出器で前記第２基準干渉信号を検出する、請求項１０に記載の眼科装置。
【請求項12】
前記第１切替部が前記第１状態とすると、前記第２切替部が前記第３状態とし、
前記第１切替部が前記第２状態とすると、前記第２切替部が前記第４状態とし、
前記第１切替部と前記第２切替部とは兼用されている、請求項１１に記載の眼科装置。
前記第１切替部が前記第２状態とすると、前記第２切替部が前記第４状態とし、
前記第１切替部と前記第２切替部とは兼用されている、請求項１１に記載の眼科装置。
【請求項13】
前記眼科装置は、さらに、特定時において調整された前記第１ＯＣＴの測定範囲と前記第２ＯＣＴの測定範囲との間の深さ方向の距離と、前記特定時において調整された前記第１基準位置を示す特定時第１基準位置と、前記特定時において調整された前記第２基準位置を示す特定時第２基準位置と、を記憶する記憶部をさらに備えており、
前記制御部は、
（１）測定時に前記第１検出器から出力される前記第１基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第１基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時第１基準位置との差と、
（２）測定時に前記第１検出器から出力される第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の前記第１位置と、
（３）測定時に前記第２検出器から出力される前記第２基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第２基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時第２基準位置との差と、
（４）測定時に前記第２検出器から出力される第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の前記第２位置と、
（５）前記記憶部に記憶された前記第１ＯＣＴの測定範囲と前記第２ＯＣＴの測定範囲との間の深さ方向の距離と、
を用いて、前記第１部位から前記第２部位までの深さ方向の寸法を算出する、請求項１１又は１２に記載の眼科装置。
前記制御部は、
（１）測定時に前記第１検出器から出力される前記第１基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第１基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時第１基準位置との差と、
（２）測定時に前記第１検出器から出力される第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の前記第１位置と、
（３）測定時に前記第２検出器から出力される前記第２基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第２基準位置と、前記記憶部に記憶された前記特定時第２基準位置との差と、
（４）測定時に前記第２検出器から出力される第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の前記第２位置と、
（５）前記記憶部に記憶された前記第１ＯＣＴの測定範囲と前記第２ＯＣＴの測定範囲との間の深さ方向の距離と、
を用いて、前記第１部位から前記第２部位までの深さ方向の寸法を算出する、請求項１１又は１２に記載の眼科装置。
【請求項14】
前記記憶部は、
前記第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記第１ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸値に変換するため第１変換式と、
前記第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記第２ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸値に変換するため第２変換式と、をさらに記憶しており、
前記制御部は、
前記第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記第１変換式で変換することで、前記第１ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されると共に、
前記第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記第２変換式で変換することで、前記第２ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記第１変換式は、（Ａ１）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第１較正用ツールに対して前記第１光源からの光を前記第１測定光学系から照射することで生成される第１較正用測定光と、前記第１参照光学系で生成された前記第１参照光と、を合波して生成される第１較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得され、
前記第２変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第２較正用ツールに対して前記第２光源からの光を前記第２測定光学系から照射することで生成される第２較正用測定光と、前記第２参照光学系で生成された前記第２参照光と、を合波して生成される第２較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項１３に記載の眼科装置。
前記第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記第１ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸値に変換するため第１変換式と、
前記第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を、前記第２ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸値に変換するため第２変換式と、をさらに記憶しており、
前記制御部は、
前記第１測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記第１変換式で変換することで、前記第１ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されると共に、
前記第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の深さ方向の位置情報を前記第２変換式で変換することで、前記第２ＯＣＴの測定範囲における前記被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されており、
前記第１変換式は、（Ａ１）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第１較正用ツールに対して前記第１光源からの光を前記第１測定光学系から照射することで生成される第１較正用測定光と、前記第１参照光学系で生成された前記第１参照光と、を合波して生成される第１較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得され、
前記第２変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第２較正用ツールに対して前記第２光源からの光を前記第２測定光学系から照射することで生成される第２較正用測定光と、前記第２参照光学系で生成された前記第２参照光と、を合波して生成される第２較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得される、請求項１３に記載の眼科装置。
【請求項15】
前記特定時第１基準位置は、前記特定時に前記第１基準光学系で生成された前記第１基準光と前記第１参照光学系で生成された前記第１参照光とを合波して生成される前記第１基準干渉光から算出された位置であり、
前記特定時第２基準位置は、前記特定時に前記第２基準光学系で生成された前記第２基準光と前記第２参照光学系で生成された前記第２参照光とを合波して生成される前記第２基準干渉光から算出された位置であり、
前記特定時と、前記第１変換式を取得するために前記第１較正用ツールに前記第１測定光を照射する時と、前記第２変換式を取得するために前記第２較正用ツールに前記第２測定光を照射する時とは、略同時である、請求項１４に記載の眼科装置。
前記特定時第２基準位置は、前記特定時に前記第２基準光学系で生成された前記第２基準光と前記第２参照光学系で生成された前記第２参照光とを合波して生成される前記第２基準干渉光から算出された位置であり、
前記特定時と、前記第１変換式を取得するために前記第１較正用ツールに前記第１測定光を照射する時と、前記第２変換式を取得するために前記第２較正用ツールに前記第２測定光を照射する時とは、略同時である、請求項１４に記載の眼科装置。
【請求項16】
前記眼科装置は、さらに、
前記第１参照光学系と前記第２参照光学系の少なくとも一方に設けられ、その光路長を調整する調整部を備えており、
前記制御部は、測定時に前記第１基準干渉信号から算出される測定時第１基準位置と、測定時に前記第２基準干渉信号から算出される測定時第２基準位置との間の距離が、予め設定された距離となるように前記前記調整部を制御する、請求項１１又は１２に記載の眼科装置。
前記第１参照光学系と前記第２参照光学系の少なくとも一方に設けられ、その光路長を調整する調整部を備えており、
前記制御部は、測定時に前記第１基準干渉信号から算出される測定時第１基準位置と、測定時に前記第２基準干渉信号から算出される測定時第２基準位置との間の距離が、予め設定された距離となるように前記前記調整部を制御する、請求項１１又は１２に記載の眼科装置。
【請求項17】
前記予め設定された距離は、特定時に前記第１基準干渉信号から算出される特定時第１基準位置と、特定時に前記第２基準干渉信号から算出される特定時第２基準位置との間の距離とされる、請求項１６に記載の眼科装置。
【請求項18】
前記制御部は、
前記第１切替部を前記第２状態として前記第１検出器で前記第１基準干渉信号を検出し、
前記第２切替部を前記第４状態として前記第２検出器で前記第２基準干渉信号を検出し、
検出した前記第１基準干渉信号及び前記第２基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第１基準位置と前記測定時第２基準位置の差が、前記予め設定された距離となるように前記前記調整部を制御し、
前記調整部により光路長が調整された後に、前記第１切替部を前記第１状態として前記第１測定干渉信号を検出すると共に、前記第２切替部を前記第３状態として前記第２測定干渉信号を検出する、請求項１６に記載の眼科装置。
前記第１切替部を前記第２状態として前記第１検出器で前記第１基準干渉信号を検出し、
前記第２切替部を前記第４状態として前記第２検出器で前記第２基準干渉信号を検出し、
検出した前記第１基準干渉信号及び前記第２基準干渉信号に基づいて算出される前記測定時第１基準位置と前記測定時第２基準位置の差が、前記予め設定された距離となるように前記前記調整部を制御し、
前記調整部により光路長が調整された後に、前記第１切替部を前記第１状態として前記第１測定干渉信号を検出すると共に、前記第２切替部を前記第３状態として前記第２測定干渉信号を検出する、請求項１６に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本明細書に開示する技術は、光の干渉現象を利用して被検眼の断層像を撮影する眼科装置に関する。
【背景技術】
【0002】
光の干渉現象を利用する眼科装置では、参照光と測定光とを合波して測定干渉光が生成され、生成された測定干渉光から被検眼の深さ方向の位置情報が算出される（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２０１２－１６１４２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
この種の眼科装置において、深さ方向の位置情報を正確に算出するためには、参照光及び測定光を生成する光学系の光路長を正確に調整する必要がある。このために、眼科装置の製造時に光学系の較正を行い、その後に出荷されている（すなわち、出荷時（詳細には、製造工程において予め設定された光学系較正時）に較正処理が行われている）。しかしながら、出荷後の経時変化や測定時の環境（例えば、温度等）によって光学系の光路長が変化し、較正処理を行ったときと同様の条件で測定することが困難な場合がある。そこで、干渉光学系の光の一部を分岐して基準光を生成し、この基準光を利用して被検眼の深さ方向の位置情報を補正することが考えられる。
【0005】
しかしながら、このような眼科装置では、測定光学系の光の一部を被検眼に照射して測定光を生成すると同時に、測定光学系の光の一部を分岐して基準光を生成する。そして、測定光から算出される被検眼の深さ方向の位置情報を、基準光から算出される基準位置を用いて補正する。このため、基準光から算出される基準位置を、測定光から算出される被検眼の深さ方向の位置情報とは異なる位置に設定しなければならないという制約を有している。本明細書は、基準光を利用して被検眼の深さ方向の位置情報を補正する眼科装置において、基準光により算出される基準位置を任意の位置に設定することができる技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本明細書に開示する第１の眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼に照射して測定光を生成する測定光学系と、光源からの光を用いて参照光を生成する参照光学系と、光源からの光を用いて基準位置を算出するための基準光を生成する基準光学系と、測定光と参照光とを合波して測定干渉光を生成すると共に、基準光と参照光とを合波して基準干渉光を生成する干渉光学系と、測定干渉光を検出して測定干渉信号を出力すると共に、基準干渉光を検出して基準干渉信号を出力する検出器と、測定干渉信号に基づいて被検眼の深さ方向の位置情報を算出すると共に、基準干渉信号に基づいて基準位置を算出する制御部と、を備える。基準光学系は、測定光学系より分岐された光路を有している。測定光学系は、光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、光源からの光を基準光学系に導く第２状態とに切替える切替部を備えている。制御部は、被検眼の測定時に、第１状態として検出器で測定干渉信号を検出すると共に、第２状態として検出器で基準干渉信号を検出するように前記切替部を制御する。
【0007】
上記の眼科装置では、光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、光源からの光を基準光学系に導く第２状態とに切替えられる。被検眼の測定時には、第１状態として検出器で測定干渉信号を検出すると共に、第２状態として検出器で基準干渉信号を検出する。すなわち、測定干渉信号を検出する期間と基準干渉信号を検出する期間とが、異なる期間となる。このため、基準干渉信号により算出される基準位置を、測定干渉信号により算出される被検眼の深さ方向の位置情報とは関係なく、任意の位置に設定することができる。
【0008】
また、本明細書に開示する第２の眼科装置は、被検眼の第１部位の深さ方向の第１位置を測定する第１ＯＣＴと、被検眼の第１部位とは異なる第２部位の深さ方向の第２位置を測定する第２ＯＣＴと、第１ＯＣＴで測定された第１位置と、第２ＯＣＴで測定された第２位置とから、第１部位から第２部位までの深さ方向の寸法を算出する制御部と、を備えている。第１ＯＣＴは、第１光源と、第１光源からの光を被検眼の第１部位に照射して第１測定光を生成する第１測定光学系と、第１光源からの光を用いて第１参照光を生成する第１参照光学系と、第１光源からの光を用いて第１基準位置を算出するための第１基準光を生成する第１基準光学系と、第１測定光と第１参照光とを合波して第１測定干渉光を生成すると共に、第１基準光と第１参照光とを合波して第１基準干渉光を生成する第１干渉光学系と、第１測定干渉光を検出して第１測定干渉信号を出力すると共に、第１基準干渉光を検出して第１基準干渉信号を出力する第１検出器と、を備えている。第１基準光学系は、第１測定光学系より分岐された光路を有している。第１測定光学系は、第１光源からの光を被検眼に照射する第１状態と、第１光源からの光を前記第１基準光学系に導く第２状態とに切替える第１切替部を備えている。被検眼の測定時には、第１切替部により第１状態として第１検出器で第１測定干渉信号を検出すると共に、第１切替部により第２状態として第１検出器で第１基準干渉信号を検出する。
【0009】
上記の眼科装置でも、第１状態として第１検出器で第１測定干渉信号を検出し、第２状態として第１検出器で第１基準干渉信号を検出する。このため、第１基準干渉信号により算出される第１基準位置を、第１測定干渉信号により算出される被検眼の深さ方向の位置情報とは関係なく、任意の位置に設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】実施例１に係る眼科装置の光学系の構成を示す図。
【図2】実施例１に係る眼科装置が備える２つのＯＣＴで測定される被検眼の測定範囲の関係を示す図。
【図3】実施例１に係る眼科装置の制御系の構成を示すブロック図。
【図4】実施例１に係る眼科装置において被検眼の眼軸長を測定するときの手順を示すフローチャート。
【図5】実施例２に係る眼科装置の光学系の構成を示す図。
【図6】実施例２に係る眼科装置の光学系の構成を示す図（光学系較正時）。
【図7】実施例２に係る眼科装置の光学系の構成を示す図（被検眼測定時）。
【図8】実施例２に係る眼科装置の制御系の構成を示すブロック図。
【図9】実施例２に係る眼科装置において被検眼の眼軸長を測定するときの手順を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【0011】
上記した第１の眼科装置と第２の眼科装置の主要な態様を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。
【0012】
（第１態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置において、制御部は、第１状態として検出器で前記測定干渉信号を検出する前又は検出した後に、第２状態として検出器で基準干渉信号を検出するように切替部を制御してもよい。このような構成によると、被検眼の深さ方向の位置情報を取得する前後で基準位置を取得する。このため、測定時の状況を適切に考慮して、被検眼の深さ方向の位置情報を補正することができる。
【0013】
（第２態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置又は第１態様においては、特定時において調整された基準位置を示す特定時基準位置を記憶する記憶部をさらに備えていてもよい。特定時基準位置は、特定時に基準光学系で生成された基準光と参照光学系で生成された参照光とを合波して生成される基準干渉光から算出された位置であってもよい。制御部は、測定時に検出器から出力される基準干渉信号に基づいて算出される基準位置である測定時基準位置と、記憶部に記憶された特定時基準位置との差に基づいて、測定時に検出器から出力される測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を補正するように構成されていてもよい。このような構成によると、測定時に取得される基準位置と、特定時（例えば、出荷較正時又は修理較正時等）に取得された基準位置とに基づいて、被検眼の深さ方向の位置情報を補正する。このため、特定時から測定時までの光学系の経時変化を考慮することができる。
【0014】
（第３態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置の第２態様においては、記憶部は、測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を、被検眼の実寸値に変換するため変換式をさらに記憶していてもよい。制御部は、測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を変換式で変換することで、被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されていてもよい。変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して光源からの光を測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、参照光学系で生成された参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得されてもよい。このような構成によると、被検眼の深さ方向の実寸法を精度よく算出することができる。
【0015】
（第４態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置の第３態様においては、特定時と、変換式を取得するために較正用ツールを用いて較正用干渉光を測定する時とは、略同時であってもよい。このような構成によると、特定時基準位置を測定する時と、変換式を取得するために測定する時とが略同時となるため、被検眼の測定精度を高めることができる。
【0016】
（第５態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置においては、特定時において調整された基準位置を示す特定時基準位置を記憶する記憶部をさらに備えていてもよい。特定時基準位置は、特定時に基準光学系で生成された基準光と参照光学系で生成された参照光とを合波して生成される基準干渉光から算出された位置であってもよい。参照光学系は、参照光の光路長を調整する調整部を備えていてもよい。制御部は、測定時に検出器から出力される基準干渉信号に基づいて算出される基準位置である測定時基準位置を算出し、測定時に算出される測定時基準位置が記憶部に記憶された特定時基準位置となるように調整部を制御してもよい。このような構成によると、参照光の光路長を調整することで、特定時の状態と略同様の状態で被検眼の測定を行うことができる。
【0017】
（第６態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置の第５態様においては、記憶部は、測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を、被検眼の実寸値に変換するため変換式をさらに記憶していてもよい。制御部は、測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を前記変換式で変換することで、被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されていてもよい。変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツールに対して光源からの光を測定光学系から照射することで生成される較正用測定光と、参照光学系で生成された前記参照光と、を合波して生成される較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得されてもよい。このような構成によると、被検眼の深さ方向の実寸法を精度よく算出することができる。
【0018】
（第７態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置の第６態様においては、特定時と、変換式を取得するために較正用ツールを用いて較正用干渉光を測定する時とは、略同時であってもよい。このような構成によると、特定時と、変換式を取得するために測定する時とが略同時となるため、被検眼の測定精度を高めることができる。
【0019】
（第８態様） 本明細書が開示する第１の眼科装置の第５態様～第７態様のいずれかにおいては、制御部は、切替部を第２状態として検出器で基準干渉信号を検出し、検出した基準干渉信号に基づいて算出される測定時基準位置が記憶部に記憶された特定時基準位置となるように調整部を制御し、調整部により参照光の光路長が調整された後に、切替部を第１状態として測定干渉信号を検出してもよい。このような構成によると、参照光の光路長が特定時と同様な状態となるように調整した後に、被検眼の測定を行う。このため、特定時（例えば、出荷較正時、修理較正時等）と同一の条件で被検眼の測定を行うことができる。
【0020】
（第９態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置においては、第２ＯＣＴは、第２光源と、第２光源からの光を被検眼の第２部位に照射して第２測定光を生成する第２測定光学系と、第２光源からの光を用いて第２参照光を生成する第２参照光学系と、第２光源からの光を用いて第２基準位置を算出するための第２基準光を生成する第２基準光学系と、第２測定光と第２参照光とを合波して第２測定干渉光を生成すると共に、第２基準光と第２参照光とを合波して第２基準干渉光を生成する第２干渉光学系と、第２測定干渉光を検出して第２測定干渉信号を出力すると共に、第２基準干渉光を検出して第２基準干渉信号を出力する第２検出器と、を備えていてもよい。第２基準光学系は、第２測定光学系より分岐された光路を有していてもよい。第２測定光学系は、第２光源からの光を被検眼に照射する第３状態と、第２光源からの光を第２基準光学系に導く第４状態とに切替える第２切替部を備えていてもよい。被検眼の測定時には、第２切替部により第３状態として第２検出器で第２測定干渉信号を検出すると共に、第２切替部により第４状態として第２検出器で第２基準干渉信号を検出してもよい。このような構成によると、第２ＯＣＴにおいても、第１ＯＣＴと同様、第２基準位置を任意の位置に設定することができる。
【0021】
（第１０態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第９態様においては、第１切替部が第１状態とすると、第２切替部が第３状態とし、第１切替部が第２状態とすると、第２切替部が第４状態とし、第１切替部と第２切替部とは兼用されていてもよい。このような構成によると、第１切替部と第２切替部とが兼用されるため、光学系の構成を簡易にできると共に、各切替部の切り替えを容易に行うことができる。
【0022】
（第１１態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第９態様又は第１０態様においては、眼科装置は、さらに、特定時において調整された第１ＯＣＴの測定範囲と第２ＯＣＴの測定範囲との間の深さ方向の距離と、特定時において調整された第１基準位置を示す特定時第１基準位置と、特定時において調整された第２基準位置を示す特定時第２基準位置と、を記憶する記憶部をさらに備えていてもよい。制御部は、（１）測定時に第１検出器から出力される第１基準干渉信号に基づいて算出される測定時第１基準位置と、記憶部に記憶された特定時第１基準位置との差と、（２）測定時に第１検出器から出力される第１測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の第１位置と、（３）測定時に第２検出器から出力される第２基準干渉信号に基づいて算出される測定時第２基準位置と、記憶部に記憶された特定時第２基準位置との差と、（４）測定時に第２検出器から出力される第２測定干渉信号に基づいて算出される前記被検眼の前記第２位置と、（５）記憶部に記憶された第１ＯＣＴの測定範囲と第２ＯＣＴの測定範囲との間の深さ方向の距離と、を用いて、第１部位から第２部位までの深さ方向の寸法を算出してもよい。このような構成によると、第１部位から第２部位までの深さ方向の寸法を精度よく算出することができる。
【0023】
（第１２態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第１１態様においては、記憶部は、第１測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を、第１ＯＣＴの測定範囲における被検眼の実寸値に変換するため第１変換式と、第２測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を、第２ＯＣＴの測定範囲における被検眼の実寸値に変換するため第２変換式と、をさらに記憶していてもよい。制御部は、第１測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を第１変換式で変換することで、第１ＯＣＴの測定範囲における被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されると共に、第２測定干渉信号に基づいて算出される被検眼の深さ方向の位置情報を第２変換式で変換することで、第２ＯＣＴの測定範囲における被検眼の実寸法をさらに算出するように構成されていてもよい。第１変換式は、（Ａ１）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第１較正用ツールに対して第１光源からの光を第１測定光学系から照射することで生成される第１較正用測定光と、第１参照光学系で生成された第１参照光と、を合波して生成される第１較正用干渉光から得られる前記２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）前記２つの反射面の光路長差と、を用いて取得されてもよい。第２変換式は、（Ａ）光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する第２較正用ツールに対して第２光源からの光を第２測定光学系から照射することで生成される第２較正用測定光と、第２参照光学系で生成された第２参照光と、を合波して生成される第２較正用干渉光から得られる２つの反射面の深さ方向の位置情報と、（Ｂ）２つの反射面の光路長差と、を用いて取得されてもよい。このような構成によると、被検眼の深さ方向の実寸法を精度よく算出することができる。
【0024】
（第１３態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第１２態様においては、特定時第１基準位置は、特定時に第１基準光学系で生成された第１基準光と第１参照光学系で生成された第１参照光とを合波して生成される第１基準干渉光から算出された位置であってもよい。特定時第２基準位置は、特定時に第２基準光学系で生成された第２基準光と第２参照光学系で生成された第２参照光とを合波して生成される第２基準干渉光から算出された位置であってもよい。特定時と、第１変換式を取得するために第１較正用ツールに第１測定光を照射する時と、第２変換式を取得するために第２較正用ツールに第２測定光を照射する時とは、略同時であってもよい。このような構成によると、特定時と、変換式を取得するために測定する時とが略同時となるため、被検眼の測定精度を高めることができる。
【0025】
（第１４態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第９態様又は第１０態様においては、眼科装置は、さらに、第１参照光学系と第２参照光学系の少なくとも一方に設けられ、その光路長を調整する調整部を備えていてもよい。制御部は、測定時に第１基準干渉信号から算出される測定時第１基準位置と、測定時に第２基準干渉信号から算出される測定時第２基準位置との間の距離が、予め設定された距離となるように調整部を制御してもよい。このような構成によると、２つの参照光学系の光路長の関係が予め設定された距離となるように調整した後に、被検眼の測定を行う。このため、被検眼の第１部位から第２部位までの深さ方向の寸法を精度よく算出することができる。
【0026】
（第１５態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第１４態様においては、予め設定された距離は、特定時に第１基準干渉信号から算出される特定時第１基準位置と、特定時に第２基準干渉信号から算出される特定時第２基準位置との間の距離とされていてもよい。このような構成によると、特定時（例えば、出荷較正時、修理較正時等）と同一の条件で被検眼の測定を行うことができる。
【0027】
（第１６態様） 本明細書が開示する第２の眼科装置の第１４態様又は第１５態様においては、制御部は、第１切替部を第２状態として第１検出器で第１基準干渉信号を検出し、第２切替部を第４状態として第２検出器で第２基準干渉信号を検出し、検出した第１基準干渉信号及び第２基準干渉信号に基づいて算出される測定時第１基準位置と測定時第２基準位置の差が、予め設定された距離となるように調整部を制御し、調整部により光路長が調整された後に、第１切替部を第１状態として第１測定干渉信号を検出すると共に、第２切替部を第３状態として第２測定干渉信号を検出してもよい。
【実施例0028】
（実施例１）
実施例１に係る眼科装置１０について説明する。眼科装置１０は、被検眼の前眼部（第１部位の一例）の断層画像を撮像する前眼部ＯＣＴ（第１ＯＣＴの一例）と、被検眼の眼底（第２部位の一例）の断層画像を撮像する眼底ＯＣＴ（第２ＯＣＴの一例）を備える。眼科装置１０は、前眼部と眼底で異なるＯＣＴを用いて断層画像を撮像することで、前眼部と眼底のそれぞれについて鮮明な断層画像の取得を可能としている。
実施例１に係る眼科装置１０について説明する。眼科装置１０は、被検眼の前眼部（第１部位の一例）の断層画像を撮像する前眼部ＯＣＴ（第１ＯＣＴの一例）と、被検眼の眼底（第２部位の一例）の断層画像を撮像する眼底ＯＣＴ（第２ＯＣＴの一例）を備える。眼科装置１０は、前眼部と眼底で異なるＯＣＴを用いて断層画像を撮像することで、前眼部と眼底のそれぞれについて鮮明な断層画像の取得を可能としている。
【0029】
すなわち、眼科装置１０では、図２に示すように、被検眼２００の前眼部２０２の断層像を前眼部ＯＣＴで撮像し、眼底２０４の断層像を眼底ＯＣＴで撮像する。前眼部２０２及び眼底２０４のそれぞれを鮮明に撮影するため、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａ（深さ方向の長さＢ）と眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａ（深さ方向の長さＣ）は重複しないように設定されている。このため、例えば、眼軸長（前眼部２０２の角膜表面（第１位置の一例）から眼底２０４の網膜表面（第２位置の一例）までの長さ）を測定しようとすると、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係を知っておく必要がある。例えば、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａの最深部から眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの最浅部までの距離（長さＡ）が必要となる。したがって、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係が予め設定された位置関係となるように、眼科装置１０の光学系の構成が設計され、また、眼科装置１０の出荷時には眼科装置１０の光学系の較正が行われる。しかしながら、眼科装置１０の光学系は、出荷後の経時変化や測定時の環境（例えば、温度等）によって変化し、較正処理で較正した条件で測定することはできない。そこで、眼科装置１０では光学系の光路長の変化を補正して眼軸長を算出するようにしている。
【0030】
まず、眼科装置１０の光学系の構成を説明する。図１に示すように、眼科装置１０は、前眼部ＯＣＴ（１２，１８ａ～１８ｅ，２０，２２，２６，２４，２８，３２，３４，３６，３８、４０，４３）と、眼底ＯＣＴ（１４，１６，３０ａ～３０ｄ，３２，３３，３６，３８，４１，４２）を備える。
【0031】
前眼部ＯＣＴは、波長掃引型の光源１２（第１光源の一例）を備えるフーリエドメイン方式の光断層画像撮影装置（いわゆる、ＳＳ－ＯＣＴ）であり、前眼部測定光学系（第１測定光学系の一例）と、前眼部参照光学系（第１参照光学系の一例）と、前眼部基準光学系（第１基準光学系の一例）と、前眼部干渉光学系（第１干渉光学系の一例）と、前眼部検出器２８（第１検出器の一例）と、を備えている。
【0032】
前眼部測定光学系は、光ファイバ１８ａ，１８ｂ，１８ｄと、カプラ２０と、サーキュレータ２２と、レンズ３４と、ガルバノスキャナ３６と、を備えている。光源１２から出射された光は、光ファイバ１８ａを通ってカプラ２０に入力される。カプラ２０は、光源１２からの光を、測定光と参照光に分波する。カプラ２０で分波された測定光（第１測定光の一例）は、光ファイバ１８ｂに出力される。光ファイバ１８ｂにはサーキュレータ２２が配置されている。光ファイバ１８ｂに出力された測定光は、サーキュレータ２２を通って、光ファイバ１８ｂの先端からレンズ３４に向かって出射される。レンズ３４に出射された測定光は、２軸のガルバノスキャナ３６に出射される。ガルバノスキャナ３６は、図示しない駆動装置によって傾動するように構成されており、ガルバノスキャナ３６を傾動することで、被検眼２００への測定光の照射位置が走査される。被検眼２００からの反射光は、上記とは逆に、ガルバノスキャナ３６を介してレンズ３４に入力される。レンズ３４に入力された反射光は、光ファイバ１８ｂを通ってサーキュレータ２２に入力される。サーキュレータ２２に入力された反射光は、光ファイバ１８ｄを通ってカプラ２６に入力される。なお、図１では、光学系の構成を簡略化したため、光ファイバ１８ｂがレンズ３２を貫通しているように図示されているが、実際には光ファイバ１８ｂはレンズ３３を貫通していない。また、図１では、後述する光ファイバ３０ｃにサーキュレータ２２が配置されているように図示されているが、実際には光ファイバ３０ｃにサーキュレータ２２は配置されていない。
【0033】
前眼部参照光学系は、光ファイバ１８ａ，１８ｃ，１８ｅと、カプラ２０と、サーキュレータ２４と、レンズ４３と、参照ミラー４０と、を備えている。上記したように、光源１２から出射された光は、光ファイバ１８ａを通ってカプラ２０に入力し、カプラ２０において測定光と参照光に分波される。カプラ２０から出力される参照光（第１参照光の一例）は、光ファイバ１８ｃに入力し、サーキュレータ２４を通って、光ファイバ１８ｃの先端からレンズ４３に向かって出射される。レンズ４３に出射された参照光は、参照ミラー４０で反射され、再びレンズ４３に入力される。レンズ４３に入力された参照光は、光ファイバ１８ｃを通ってサーキュレータ２４に入力される。サーキュレータ２４に入力された反射光は、光ファイバ１８ｅを通ってカプラ２６に入力される。
【0034】
前眼部基準光学系は、前眼部測定光学系より分岐された光路を有しており、この光路上に配置された基準ミラー３８を備えている。上記したガルバノスキャナ３６は、図示しない駆動装置によって傾動することで、光源１２からの光を被検眼２００に照射する第１状態と、光源１２からの光を基準ミラー３８に照射する第２状態とに切替える。ガルバノスキャナ３６は、第１状態と第２状態とを切替える「第１切替部」として機能する。また、本実施例では、光源１２からの光が被検眼２００に照射される状態では、光源１２からの光は基準ミラー３８に導かれない。一方、光源１２からの光が基準ミラー３８に導かれる状態では、光源１２からの光は被検眼２００に照射されない。すなわち、光源１２から前眼部測定光学系に導かれた光の全てが被検眼２００又は基準ミラー３８に照射される。なお、基準ミラー３８に照射された光（第１基準光の一例）は、基準ミラー３８で反射され、ガルバノスキャナ３６とレンズ３４と光ファイバ１８ｂを通ってサーキュレータ２２に入力する。サーキュレータ２２に入力された光は、光ファイバ１８ｄを通ってカプラ２６に入力される。
【0035】
前眼部干渉光学系は、カプラ２６を備えている。カプラ２６は、被検眼２００から反射された光（第１測定光）と参照ミラー４０で反射された光（第１参照光）を合波して干渉光（第１測定干渉光の一例）を生成し、また、基準ミラー３８から反射された光（第１基準光）と参照ミラー４０で反射された光（第１参照光）を合波して干渉光（第１基準干渉光の一例）を生成する。カプラ２６で生成される干渉光は、前眼部検出器２８に入力される。前眼部検出器２８は、バランス検出器であり、カプラ２６から入力する干渉光を検出し、干渉信号（電気信号）を出力する。前眼部検出器２８から出力される干渉信号は、後述する制御装置４４（図３に図示）に入力される。
【0036】
眼底ＯＣＴは、広帯域波長の光源１４（第２光源の一例）を備えるスペクトルドメイン方式の光断層画像撮影装置（いわゆる、ＳＤ－ＯＣＴ）であり、眼底測定光学系（第２測定光学系の一例）と、眼底参照光学系（第２参照光学系の一例）と、眼底基準光学系（第２基準光学系の一例）と、眼底干渉光学系（第２干渉光学系の一例）と、眼底検出器１６（第２検出器の一例）と、を備えている。
【0037】
眼底測定光学系は、光ファイバ３０ａ，３０ｃと、カプラ３２と、レンズ３３と、ガルバノスキャナ３６と、を備えている。光源１４から出射された光は、光ファイバ３０ａを通ってカプラ３２に入力される。カプラ３２は、光源１４からの光を、測定光（第２測定光の一例）と参照光に分波する。カプラ４０で分波された測定光は、光ファイバ３０ｃに出力され、光ファイバ３０ｃの先端からレンズ３３に向かって出射される。レンズ３３に出射された測定光は、上述した前眼部ＯＣＴと同様、２軸のガルバノスキャナ３６に出射される。ガルバノスキャナ３６は、図示しない駆動装置によって駆動され、被検眼２００への測定光の照射位置が走査される。被検眼２００からの反射光は、上記とは逆に、ガルバノスキャナ３６、レンズ３４及び光ファイバ３０ｃを通ってカプラ３２に入力される。
【0038】
上記の説明から明らかなように、ガルバノスキャナ３６から被検眼２００までの間の光路は、眼底測定光学系と前眼部測定光学系とで共通化されており、ガルバノスキャナ３６は、眼底測定光学系と前眼部測定光学系とで兼用されている。なお、図１では、光ファイバ３０ｃの先端からレンズ３３に向かって出射された測定光がレンズ３４を透過しているように図示されているが、実際にはレンズ３４を透過していない。また、図１に示すように、眼底測定光学系における光ファイバ３０ｃの先端から被検眼２００までの光路長は、前眼部測定光学系における光ファイバ１８ｂの先端から被検眼２００までの光路長よりも長くなっている。すなわち、眼底測定光学系では、光ファイバ３０ｃの先端から光ファイバ１８ｂの先端に相当する位置までの間がバルク光学系で構成されるのに対して、前眼部測定光学系では光ファイバ１８ｂで構成されている。このため、温度変化による前眼部測定光学系の光路長変化と眼底測定光学系の光路長変化とは同一とはならない。また、眼科装置１０の装置内の温度は非均一であるため、各光学系の温度も全光路長に渡って均一とはならない。このことによっても、温度による各光学系の光路長変化は不均一となる。
【0039】
眼底参照光学系は、光ファイバ３０ａ，３０ｂと、カプラ３２と、レンズ４１と、参照ミラー４２と、を備えている。上記したように、光源１４から出射された光は、光ファイバ３０ａを通ってカプラ３２に入力し、カプラ３２において測定光と参照光に分波される。カプラ３２から出力される参照光（第２参照光の一例）は、光ファイバ３０ｂを通って、光ファイバ３０ｂの先端からレンズ４１に向かって出射される。レンズ４１に出射される参照光は、参照ミラー４２で反射され、レンズ４１及び光ファイバ３０ｂを通ってカプラ３２に入力される。
【0040】
眼底基準光学系は、眼底測定光学系より分岐された光路を有しており、この光路上に配置された基準ミラー３８を備えている。図１から明らかなように、基準ミラー３８は、眼底基準光学系と前眼部基準光学系とで兼用されており、眼底基準光学系は前眼部基準光学系と同一の構成を備えている。したがって、ガルバノスキャナ３６を駆動することで、光源１４からの光を被検眼２００に照射する第３状態と、光源１４からの光を基準ミラー３８に照射する第４状態とに切替えられる。すなわち、ガルバノスキャナ３６は、第３状態と第４状態とを切替える「第２切替部」として機能する。後述するように、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴは同時に被検眼２００の断層像を撮影するため、ガルバノスキャナ３６が前眼部ＯＣＴを第１状態とすると、眼底ＯＣＴは第３状態となる。また、ガルバノスキャナ３６が前眼部ＯＣＴを第２状態とすると、眼底ＯＣＴは第４状態となる。なお、眼底ＯＣＴにおいても、光源１４から眼底測定光学系に導かれた光の全てが被検眼２００又は基準ミラー３８に照射される。なお、基準ミラー３８に照射された光（第２基準光の一例）は、基準ミラー３８で反射され、ガルバノスキャナ３６及び光ファイバ３０ｂを通ってカプラ３２に入力される。
【0041】
眼底干渉光学系は、カプラ３２を備えている。カプラ３２は、被検眼２００から反射された光（第２測定光）と参照ミラー４０で反射された光（第２参照光）を合波して干渉光（第２測定干渉光の一例）を生成し、また、基準ミラー３８から反射された光（第２基準光）と参照ミラー４０で反射された光（第２参照光）を合波して干渉光（第２基準干渉光の一例）を生成する。カプラ２６で生成される干渉光は、眼底検出器１６に入力される。眼底検出器１６は分光器であり、入力する干渉光を分光して検出し、干渉信号（電気信号）を出力する。眼底検出器１６から出力される干渉信号（干渉光の分光情報）は、後述する制御装置４４（図３に図示）に入力される。
【0042】
次に、眼科装置１０の制御系の構成を説明する。図３に示すように、眼科装置１０は制御装置４４によって制御される。制御装置４４は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成され、被検眼２００の眼軸長を算出する演算部４６と、各種情報を記憶する記憶部４８として機能する。制御装置４４には、光源１２，１４と、前眼部検出器２８と、眼底検出器１６と、ガルバノスキャナ３６が接続されている。制御装置４４は、光源１２，１４のオン／オフを制御し、ガルバノスキャナ３６を駆動する。また、制御装置４４は、前眼部検出器２８から入力する干渉信号から被検眼２００の前眼部２０２の断層像を生成すると共に、眼底検出器１６から入力する干渉信号から被検眼２００の眼底２０４の断層像を生成する。制御装置４４で生成された断層像は、図示しないモニタに表示される。
【0043】
また、制御装置４４の演算部４６は、前眼部検出器２８から入力する干渉信号（前眼部２０２ａの深さ方向の位置情報）と、眼底検出器１６から入力する干渉信号（眼底２０４の深さ方向の位置情報）とに基づいて、被検眼２００の眼軸長（被検眼２００の角膜前面から網膜の表面までの長さ）を算出する。上述したように、被検眼２００の眼軸長を算出するためには、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係（例えば、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａの最深部から眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの最浅部までの距離（長さＡ））が必要となる。したがって、制御装置４４の記憶部４８は、眼科装置１０の出荷時における前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係（長さＡ）を記憶している。より詳細には、前眼部ＯＣＴで測定される干渉信号から算出される被検眼２００の深さ方向の位置情報を、被検眼の実寸値に変換するため変換式（第１変換式の一例）と、眼底ＯＣＴで測定される干渉信号から算出される被検眼２００の深さ方向の位置情報を、被検眼の実寸値に変換するため変換式（第２変換式の一例）を記憶すると共に、さらに、眼科装置１０の出荷時における前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係（例えば、長さＡ）を記憶している。これら変換式と位置関係は、眼科装置１０の出荷時に実施される光学系の較正処理を行う際に取得される。
【0044】
なお、眼科装置１０の光学系が出荷時に較正され、かつ、出荷時における撮像範囲２０２ａと撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係（変換式（長さＡ））が記憶されていても、出荷後の経時変化や測定時の環境（例えば、温度等）によって光学系の光路長は変化する。その結果、撮像範囲２０２ａと撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係が変化し、そのままでは眼軸長を正しく算出できない。そこで、本実施例では、制御装置４４の記憶部４８は、出荷時における前眼部ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置（特定時第１基準位置の一例）と、出荷時における眼底ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置（特定時第２基準位置の一例）をさらに記憶している。
【0045】
ここで、眼科装置１０の出荷時に実施される光学系の較正処理と、眼軸長を算出するための変換式を取得する処理の一例について説明する。光学系の較正処理を行う際は、光路長差が既知の少なくとも２つの反射面を有する較正用ツール（ガラスブロック）を用いる。すなわち、ガラスブロックは、その前面と後面が反射面となり、前面から後面までの長さ（ガラスブロックの厚み）が既知である。このため、ガラスブロックを較正ツールとして用いることができる。
【0046】
具体的な処理としては、被検眼２００の前眼部の位置に較正用ツール（ガラスブロック）を配置し、前眼部ＯＣＴにより較正用ツールを測定し、較正用ツールの前面の位置と後面の位置を取得する。上述したように較正用ツールの前面の位置と後面の位置との光路長差は既知であるため、前眼部ＯＣＴにより測定した値を実寸法に変換する変換式（第１変換式）を取得する。同様に、被検眼２００の網膜の位置に較正用ツール（ガラスブロック）を配置し、眼底ＯＣＴにより較正用ツールを測定し、較正用ツールの前面の位置と後面の位置を取得する。これによって、眼底ＯＣＴにより測定した値を実寸法に変換する変換式（第２変換式）を取得する。次に、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａに較正用ツールの前面が位置し、眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａに較正用ツールの後面が位置するように較正ツールを配置し、前眼部ＯＣＴで較正用ツールの前面の位置を取得すると共に、眼底ＯＣＴで較正用ツールの後面の位置を取得する。これによって、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａの位置関係（例えば、長さＡ）を取得することができる。これらの測定によって、被検眼２００の眼軸長（実寸）を算出するための変換式が取得され、取得された変換式が記憶部４８に記憶される。
【0047】
上述した変換式を取得する測定と同時に、前眼部ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置と、眼底ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置を測定する。すなわち、前眼部ＯＣＴにより較正用ツールを測定する際に、その測定が終了した後にガルバノスキャナ３６を駆動して、光源からの光を基準ミラー３８に照射する。そして、基準ミラー３８で反射された基準光と参照光とを合波した基準干渉光から、前眼部ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置を取得する。同様に、眼底ＯＣＴにより較正用ツールを測定する際に、その測定が終了した後にガルバノスキャナ３６を駆動して、光源からの光を基準ミラー３８に照射する。そして、基準ミラー３８で反射された基準光と参照光とを合波した基準干渉光から、眼底ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置を取得する。そして、これら２つの基準位置は、記憶部４８に記憶される。上記の変換式及び基準位置を記憶部４８に記憶することで、眼科装置１０の出荷時の較正処理が終了する。なお、上記の較正処理は、眼科装置１０の出荷時だけでなく、種々のタイミングで実施することができる。例えば、眼科装置１０の修理時や、メンテナンス時に行うようにしてもよい。また、上記の例では、変換式を取得する測定を行った後に、基準位置を測定する処理を行ったが、これとは逆に、基準位置を測定する処理を行った後に、変換式を取得する測定する処理を行ってもよい。
【0048】
次に、出荷後に被検眼２００の眼軸長を測定するときの眼科装置１０の動作について説明する。被検眼２００の眼軸長を測定するには、まず、被検眼２００に対して前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴの光学系を位置決めする（アライメントする）。次に、制御装置４４は、図４に示すように、光源１２，１４をオンする（Ｓ１０）。これによって、光源１２，１４のそれぞれから光が出力され、出力された光が被検眼２００に照射される。すなわち、光源１２，１４のそれぞれから出射した光が被検眼２００に同時に照射される。
【0049】
次に、制御装置４４は、被検眼２００の前眼部２０２及び眼底２０４の断層像を撮影する（Ｓ１２）。具体的には、制御装置４４は、ガルバノスキャナ３６を駆動して、光源１２，１４からの光を被検眼２００の測定範囲に対して走査する（Ｓ１２）。これによって、被検眼２００の前眼部２０２から反射された光による干渉光が前眼部検出器２８で検出され、同時に被検眼２００の眼底２０４から反射された光による干渉光が眼底検出器１６で検出される。このため、制御装置４４は、前眼部検出器２８から入力する干渉信号に基づいて被検眼２００の前眼部２０２の断層像を生成すると共に、眼底検出器１６から入力する干渉信号に基づいて被検眼２００の眼底２０４の断層像を生成する。
【0050】
次に、制御装置４４は、光源１２，１４からの光を基準ミラー３８に照射し、基準ミラー３８の位置を測定する（Ｓ１４）。具体的には、制御装置４４は、ガルバノスキャナ３６を駆動して、光源１２、１４からの光を基準光学系に導き、光源１２、１４からの光を基準ミラー３８に照射する。上述したように、Ｓ１４の状態では、光源１２、１４からの光は被検眼２００に照射されない。このため、前眼部検出器２８は、基準ミラー３８で照射した光（第１基準光）と第１参照光との干渉光だけを検出し、眼底検出器１６は、基準ミラー３８で照射した光（第２基準光）と第２参照光との干渉光だけを検出する。これら検出した干渉光に基づいて、制御装置４４は、前眼部ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置と、眼底ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置を算出する。
【0051】
次に、制御装置４４は、Ｓ１２で測定した被検眼２００の測定結果と、Ｓ１４で測定した基準ミラー３８の測定結果に基づいて、被検眼２００の眼軸長を算出する（Ｓ１６）。すなわち、Ｓ１２では前眼部ＯＣＴによって被検眼２００の前眼部２０２の断層像を撮影し、眼底ＯＣＴによって被検眼２００の眼底２０４の断層像を撮影している。したがって、制御装置４４は、前眼部２０２の断層像から被検眼２００の角膜表面の位置と、眼底２０４の断層像から被検眼２００の網膜表面の位置を特定することができる。ここで、制御装置４４の記憶部４８は、前眼部ＯＣＴの撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴの撮像範囲２０４ａとの位置関係（長さＡ）と変換式を記憶している。したがって、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴの光学系の光路長に変化がないのであれば、制御装置４４は、特定した角膜表面の位置及び網膜表面の位置と、変換式（長さＡ）と位置関係から眼軸長を算出することができる。
【0052】
しかしながら、既に説明したように、眼科装置１０の光学系の光路長は、出荷後の経時変化や測定時の環境（例えば、温度等）によって変化する。このため、制御装置４４は、Ｓ１４で算出した基準ミラー３８の位置を利用して、Ｓ１２で撮影した断層像から特定される角膜表面の位置と網膜表面の位置を補正する。すなわち、制御装置４４の記憶部４８は、出荷時における前眼部ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置と、出荷時における眼底ＯＣＴにおける基準ミラー３８の位置を記憶している。したがって、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴのそれぞれにおいて、Ｓ１４で測定した基準ミラー３８の位置と、記憶部４８に記憶されている基準ミラー３８の位置の差（すなわち、光路長変化）により、Ｓ１２で撮影した断層像から特定される角膜表面の位置と網膜表面の位置を補正する。次いで、補正した角膜表面の位置及び網膜表面の位置と、撮像範囲２０２ａと撮像範囲２０４ａの位置関係（長さＡ）から眼軸長を算出する。これによって、被検眼２００の眼軸長を精度よく算出することができる。なお、Ｓ１６で算出された眼軸長は、図示しないモニタに表示される。
【0053】
上記した実施例１の眼科装置１０では、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴのそれぞれが基準光学系を備え、基準光学系で測定された基準位置（基準ミラー３８の位置）により、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴのそれぞれの測定結果を補正する。このため、眼科装置１０の光学系の光路長が経時的に、あるいは、温度によって変化したとしても、光路長変化を考慮して前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴのそれぞれの測定結果が補正される。このため、被検眼２００の眼軸長を精度よく算出することができる。
【0054】
また、被検眼２００に光を照射して被検眼２００の測定を行った後に、基準ミラー３８に光を照射して基準ミラー３８の位置（基準位置）を測定する。すなわち、被検眼２００の測定と基準ミラー３８の測定を同時に実施しない。このため、基準ミラー３８を任意の位置に設定することができ、被検眼２００の各部位（角膜、水晶体、網膜）の位置と基準ミラー３８の位置が同一の位置となっても問題が生じない。また、被検眼２００の測定と基準ミラー３８の測定を同時に実施しないが、被検眼２００の測定を行った直後に基準ミラー３８の測定を行う。このため、眼軸長の算出精度にはほとんど影響はない。なお、上記の例では、被検眼２００の測定を行った直後に基準ミラー３８の測定を行ったが、これとは逆に、基準ミラー３８の測定を行った直後に被検眼２００の測定を行ってもよい。
【0055】
（実施例２）
次に、実施例２に係る眼科装置５０について説明する。実施例２に係る眼科装置５０は、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴを備え、それぞれのＯＣＴが基準位置を取得するための基準光学系を備えており、この点においては実施例１に係る眼科装置１０と同一である。ただし、実施例２に係る眼科装置５０では、基準光学系の構成が異なると共に、基準光学系で取得した基準位置に基づいて、眼科装置５０の光学系の光路長変化を補正する構成が、実施例１の眼科装置１０のそれと相違する。以下、実施例２の眼科装置５０の構成のうち、実施例１の眼科装置１０と同一の構成を有する部分については簡単に説明し、実施例１と異なる構成を有する部分について詳細に説明する。
次に、実施例２に係る眼科装置５０について説明する。実施例２に係る眼科装置５０は、前眼部ＯＣＴと眼底ＯＣＴを備え、それぞれのＯＣＴが基準位置を取得するための基準光学系を備えており、この点においては実施例１に係る眼科装置１０と同一である。ただし、実施例２に係る眼科装置５０では、基準光学系の構成が異なると共に、基準光学系で取得した基準位置に基づいて、眼科装置５０の光学系の光路長変化を補正する構成が、実施例１の眼科装置１０のそれと相違する。以下、実施例２の眼科装置５０の構成のうち、実施例１の眼科装置１０と同一の構成を有する部分については簡単に説明し、実施例１と異なる構成を有する部分について詳細に説明する。
【0056】
図５～７に示すように、眼科装置１０は、被検眼の前眼部の断層画像を撮像する前眼部ＯＣＴ５４（第１ＯＣＴの他の例）と、被検眼の眼底の断層画像を撮像する眼底ＯＣＴ５２（第２ＯＣＴの他の例）を備える。前眼部ＯＣＴ５４は、波長掃引型の光源８２を備える光断層画像撮影装置（ＳＳ－ＯＣＴ）であり、前眼部測定光学系（８６ａ，８６ｃ，５９，６０，６２，６３，７６，６８）と、前眼部参照光学系（８６ａ，８６ｄ，８８，９４，９０，９６，９２）と、前眼部基準光学系（８０，７４）と、前眼部干渉光学系８８と、前眼部検出器８４と、を備えている。
【0057】
前眼部測定光学系は、光ファイバ８６ａ，８６ｃと、カプラ８８と、レンズ５９と、ビームスプリッタ６０と、ガルバノスキャナ６２と、ミラー６３と、レンズ７６と、ミラー６８を備えている。光源８２から出射された光は、光ファイバ８６ａを通ってカプラ８８において測定光と参照光に分波され、カプラ８８で分波された測定光は、光ファイバ８６ｃの先端からレンズ５９に向かって出射される。レンズ５９に出射された測定光は、ビームスプリッタ６０、ガルバノスキャナ６２、ミラー６３、レンズ７６、ミラー６８を通過して被検眼２００（図６，７参照）に照射される。なお、図５においては、被検眼２００の代わりに、製品出荷時に用いられる較正用ツール７２（例えば、模擬眼）が表示されている。較正用ツール７２は、角膜の位置に１枚のガラスブロックが配置され、網膜の位置に１枚のガラスブロックが配置されている。なお、各ガラスブロックの厚み（光路長差）と、２枚のガラスブロックの距離（光路長差）は既知となっている。実施例２においても、ガルバノスキャナ６２が駆動されることで、被検眼２００に照射される光が走査される。なお、被検眼で反射した光は、上記した経路を逆方向に進んで、カプラ８８に入力される。
【0058】
前眼部参照光学系は、光ファイバ８６ａ，８６ｄと、カプラ８８と、レンズ９４と、ビームスプリッタ９０と、レンズ９６と、参照ミラー９２と、を備えている。カプラ８８で分波された参照光は、光ファイバ８６ｄの先端からレンズ９４に出射され、ビームスプリッタ９０とレンズ９６を通って参照ミラー９２に照射される。参照ミラー９２で反射された光は、上記した経路を逆方向に進み、カプラ８８に入力される。
【0059】
前眼部基準光学系は、前眼部測定光学系（詳細には、ガルバノスキャナ６２）より分岐された光路を有しており、この光路上に配置されたレンズ８０及び基準ミラー７４を備えている。基準ミラー７４は、製品出荷時に用いられる較正用ツール７２と同一の構成を有しており、かつ、ガルバノスキャナ６２から較正用ツール７２（正確には、較正用ツール７２の角膜の前面に相当するガラスブロックの反射面）までの光路長と、ガルバノスキャナ６２から基準ミラー７４の反射面（正確には、基準ミラー７４の角膜の前面に相当するガラスブロックの反射面）までの光路長は同一となるように配置されている。したがって、前眼部ＯＣＴ５４の光学系の光路長が変化しなければ、較正用ツール７２の反射面の深さ方向の位置と基準ミラー７４の深さ方向の位置は同一となる。なお、実施例１と同様に、ガルバノスキャナ６２を駆動することによって、光源８２からの光が被検眼（較正用ツール７２）に照射される状態と、光源８２からの光が基準ミラー７４に照射される状態が切替られる。基準ミラー７４に照射された光は、ガルバノスキャナ６２に向かって反射され、ビームスプリッタ６０、レンズ５９及び光ファイバ８６ｃを通ってカプラ８８に入力される。
【0060】
前眼部干渉光学系は、カプラ８８を備えている。カプラ８８は、較正用ツール７２（又は被検眼２００）から反射された光と参照ミラー９２で反射された光を合波して干渉光を生成すると共に、基準ミラー７４から反射された光と参照ミラー７２で反射された光を合波して干渉光を生成する。カプラ８８で生成される干渉光は、前眼部検出器８４に入力される。前眼部検出器２８は、干渉光を検出し、干渉信号を制御装置１００（図８に図示）に出力する。
【0061】
眼底ＯＣＴ５２は、広帯域波長の光源５４を備える光断層画像撮影装置（ＳＤ－ＯＣＴ）であり、眼底測定光学系（５８ａ，５８ｅ，６０，６２，６３，６６，７０，７８，６８）と、眼底参照光学系（５８ａ，５８ｃ，５８ｄ，６０，６１，５８ｄ，６４）と、眼底基準光学系（５８ｆ，９０．９６，９２）と、眼底干渉光学系６０と、眼底検出器５６と、を備えている。
【0062】
眼底測定光学系は、光ファイバ５８ａ，５８ｅと、カプラ６０と、ビームスプリッタ６０と、ガルバノスキャナ６２と、ミラー６３，６６，７０と、レンズ７６と、ミラー６８を備えている。光源５４から出射された光は、光ファイバ５８ａを通ってカプラ６０において測定光と参照光に分波され、カプラ６０で分波された測定光は、光ファイバ５８ｅの先端からビームスプリッタ６０に向かって出射される。光ファイバ５８ｅから出射された光は、ビームスプリッタ６０で反射され、ガルバノスキャナ６２に出射される。ガルバノスキャナ６２で反射された光は、ミラー６３，６６，７０でそれぞれ反射され、レンズ７６を通ってミラー６８で反射され、被検眼２００（図５では較正用ツール７２）に照射される。被検眼２００からの反射光は、上記とは逆に進み、カプラ６０に入力される。
【0063】
眼底参照光学系は、光ファイバ５８ａ，５８ｃ，５８ｄと、カプラ６１と、参照ミラー６４を備えている。カプラ６０で分波された参照光は、光ファイバ５８ｄを通ってカプラ６１に入力される。カプラ６１は、光ファイバ５８ｄから入力する光を参照光と基準光に分波する（例えば、参照光：基準光＝９９：１）。カプラ６１で分波された参照光は、光ファイバ５８ｄに進み、光ファイバ５８ｄの先端から参照ミラー６４に出射される。参照ミラー６４に出射されて参照ミラー６４で反射した光は、上記した経路を逆方向に進み、カプラ６０に入力される。
【0064】
眼底基準光学系は、眼底参照光学系のカプラ６１より分岐された光路を有しており、カプラ６１と、光ファイバ５８ｆと、ビームスプリッタ９０と、レンズ９６と、基準ミラー９２（前眼部ＯＣＴ５４における参照ミラー９２）を備えている。すなわち、眼底基準光学系の基準ミラー９２と、前眼部参照光学系の参照ミラー９２とが共通化されている。カプラ６１で分岐された基準光は、光ファイバ５８ｆ、ビームスプリッタ９０、レンズ９６を介して基準ミラー９２に照射され、基準ミラー９２で反射する。基準ミラー９２で反射した基準光は、レンズ９６、ビームスプリッタ９０、光ファイバ５８ｆ、カプラ６１に入力される。カプラ６１においては、参照ミラー６４で反射された参照光と、基準ミラー９２で反射した基準光とは合波される。
【0065】
眼底干渉光学系は、カプラ６０を備えている。カプラ６０は、光ファイバ５８ｃから入力する光（すなわち、参照ミラー６４で反射した参照光と基準ミラー９２で反射した基準光）と光ファイバ５８ｅから入力する光（被検眼から反射された測定光）とを合波する。これによって、参照ミラー６４で反射した参照光と被検眼２００から反射された測定光の干渉光と、参照ミラー６４で反射した参照光と基準ミラー９２で反射した基準光の干渉光と、基準ミラー９２で反射した基準光と被検眼２００から反射された測定光の干渉光が生成される。生成された干渉光は、光ファイバ５８ｂを介して眼底検出器５６に入力される。ここで、基準光の強度は、参照光の強度に比して無視できるほど小さな強度とされている。このため、眼底検出器５６は、参照ミラー６４で反射した参照光と被検眼から反射された測定光の干渉光と、参照ミラー６４で反射した参照光と基準ミラー９２で反射した基準光の干渉光を検出し、これら干渉光の干渉信号を後述する制御装置１００（図８に図示）に出力する。
【0066】
次に、眼科装置５０の制御系の構成を説明する。図８に示すように、眼科装置５０は制御装置１００によって制御される。制御装置１００は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成され、実施例１と同様に演算部１０２及び記憶部１０４として機能する。制御装置１００には、光源５４，８２と、検出器５６，８４と、ガルバノスキャナ６２が接続されている。制御装置１００は、光源５４，８２のオン／オフを制御し、また、ガルバノスキャナ６２を駆動する。また、制御装置１００は、検出器５６、８４から入力する干渉信号に基づいて、被検眼２００の断層像を生成する。
【0067】
実施例２では、制御装置１００は、さらに前眼部参照光路長調整部１０６と眼底参照光路長調整部１０８が接続されている。すなわち、実施例２においては、光ファイバ８６ｄの先端から参照ミラー９２までの長さが調整可能となっており、光ファイバ５８ｄの先端から参照ミラー６４までの長さが調整可能となっている。制御装置１００は、前眼部参照光路長調整部１０６を駆動することで、光ファイバ８６ｄの先端に対してレンズ９４、ビームスプリッタ９０、レンズ９６、参照ミラー９２を光軸方向に移動させる。また、制御装置１００は、眼底参照光路長調整部１０８を駆動することで、光ファイバ５８ｄの先端に対してレンズ参照ミラー６４を光軸方向に移動させる。
【0068】
また、制御装置１００の記憶部１０４には、被検眼２００の眼軸長を測定する際に用いられる各種情報を記憶する。すなわち、実施例２の眼科装置５０では、図５に示すように、出荷時に較正用ツール７２を用いて較正処理を行い、そのときに取得される各種情報を記憶部１０４に記憶する。具体的には、被検眼２００の位置に較正用ツール７２を配置し、較正用ツール７２の前面（角膜表面に相当）の位置に配置されたガラスブロックの前後面と、較正用ツール７２の後面（網膜表面に相当）に配置されたガラスブロックの前後面の位置を測定する。すなわち、前眼部ＯＣＴ５４によって較正用ツール７２の前面（角膜表面に相当）のガラスブロックの前後面の位置を測定し、また、眼底ＯＣＴ５２によって較正用ツール７２の後面（網膜表面に相当）のガラスブロックの前後面の位置を測定する。この際、前眼部ＯＣＴ５４は、前眼部基準光学系の基準ミラー７４の反射面の位置を測定する。また、眼底ＯＣＴ５２は、眼底基準光学系の基準ミラー９２（すなわち、前眼部ＯＣＴ５４における参照ミラー９２の位置）を測定する。
【0069】
ここで、較正用ツール７２の前面から後面までの長さは既知であることから、実施例１と同様に、制御装置１００の演算部１０２は、前眼部ＯＣＴ５４で撮像される画像から特定される角膜前面の位置と、眼底ＯＣＴ５２で撮像される画像から特定される網膜表面の位置から、被検眼２００の眼軸長（実寸）を算出するための変換式と位置関係（長さＡ）を算出する。そして、制御装置１００の記憶部１０４は、算出した変換式及び位置関係（長さＡ）を記憶する。また、制御装置１００の記憶部１０４は、測定された較正用ツール７２の前面の位置（すなわち、前眼部基準光学系の基準ミラー７４の位置）と、測定された参照ミラー９２の位置（すなわち、眼底基準光学系の基準ミラー９２の位置）を記憶する。
【0070】
次に、被検眼２００の眼軸長を測定するときの眼科装置５０の動作について説明する。まず、被検眼２００に対して前眼部ＯＣＴ５４と眼底ＯＣＴ５２の光学系を位置決めすると、図９に示すように、制御装置１００は光源１２，１４をオンする（Ｓ２０）。
【0071】
次に、制御装置１００は、基準ミラー７４の位置と基準ミラー９２の位置を測定する（Ｓ２２）。具体的には、図６に示すように、光源５４の光を基準ミラー９２に照射すると共に、ガルバノスキャナ６２を駆動して、光源８２の光を基準ミラー７４に照射する。これによって、眼底検出器５６は、基準ミラー（参照ミラー）９２で反射された反射光と参照光（眼底参照光学系の参照光）との干渉光を検出し、制御装置５０は、眼底検出器５６で検出された干渉光から、基準ミラー９２（前眼部参照光学系の参照ミラー９２）の位置を算出する。また、前眼部検出器８４は、基準ミラー７４で反射された反射光と参照光（前眼部参照光学系の参照光）との干渉光を検出し、制御装置５０は、前眼部検出器８４で検出された干渉光から、基準ミラー７４の位置を算出する。
【0072】
次に、制御装置１００は、記憶部１０４に記憶している基準ミラー７４、９２の位置と、Ｓ２２で測定した基準ミラー７４、９２の位置に基づいて、前眼部参照光学系の光路長を調整すると共に、眼底参照光学系の光路長を調整する（Ｓ２４）。既に説明したように、出荷時の較正処理によって、較正用ツール７２の前面の位置（すなわち、基準ミラー７４の位置）と、基準ミラー９２の位置が測定され、記憶部１０４に記憶されている。眼科装置５０の光学系の光路長は、出荷時からの経年変化や眼科装置５０の環境温度によって、出荷時（較正処理を行った時）から変化している。このため、Ｓ２４では、Ｓ２２で測定された基準ミラー９２の位置が記憶部１０４に記憶された基準ミラー９２の位置となるように、前眼部参照光路長調整部１０６によって基準ミラー９２（参照ミラー９２）の位置を調整する。次に、Ｓ２２で測定された基準ミラー７４の位置が記憶部１０４に記憶された較正用ツール７２の前面の位置となるように、眼底参照光路長調整部１０８によって参照ミラー６４の位置を調整する。この際、基準ミラー９２の位置が調整されているため、その分だけをＳ２２で測定された基準ミラー７４の位置が変化している。このため、基準ミラー９２の位置調整分と、Ｓ２２で測定された基準ミラー７４の位置に基づいて、参照ミラー６４の位置を調整する。これによって、前眼部ＯＣＴ５４の撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴ５２の撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係が較正処理時の位置関係と同一となる。
【0073】
次に、制御装置１００は、図７に示すように、前眼部ＯＣＴ５４によって被検眼２００の角膜表面の位置を測定すると共に、眼底ＯＣＴ５２によって網膜表面の位置を測定する（Ｓ２６）。次いで、制御装置１００は、Ｓ２６の測定結果（角膜表面の位置及び網膜表面の位置）と、記憶部に記憶された変換式及び位置関係（長さＡ）を用いて、被検眼２００の眼軸長を算出する（Ｓ２８）。ここで、Ｓ２４により、前眼部ＯＣＴ５４の撮像範囲２０２ａと眼底ＯＣＴ５２の撮像範囲２０４ａの深さ方向の位置関係が較正処理時の位置関係と同一となっている。このため、Ｓ２６で測定した角膜表面の位置及び網膜表面の位置を補正することなく、記憶部に記憶された変換式及び位置関係（長さＡ）を用いて眼軸長を算出することができる。
【0074】
上記の実施例２の眼科装置５０では、前眼部ＯＣＴ５４と眼底ＯＣＴ５２のそれぞれの参照光学系の光路長を調整することで、較正時と同一の状態で被検眼２００の眼軸長を測定することができる。これによって、実施例２の眼科装置５０でも、被検眼２００の眼軸長を精度よく測定することができる。
【0075】
また、実施例２の眼科装置５０でも、前眼部ＯＣＴ５４については、基準ミラー７４の測定が終わった後に、被検眼２００の測定を行う。すなわち、基準ミラー７４の測定と被検眼２００の測定を同時に行うことがないため、基準ミラー７４の位置を任意の位置に設定することができる。
【0076】
なお、上述した実施例２の眼科装置５０では、前眼部ＯＣＴ５４の参照光路長を調整すると共に眼底ＯＣＴ５２の参照光路長を調整することで、前眼部ＯＣＴ５４と眼底ＯＣＴ５２の位置関係を較正処理時の位置関係と同一としたが、本明細書に開示の技術は、このような例に限られない。例えば、前眼部ＯＣＴ５４の参照光路長のみを調整することで、前眼部ＯＣＴ５４と眼底ＯＣＴ５２の位置関係を較正処理時の位置関係と同一としてもよい。あるいは、眼底ＯＣＴ５２の参照光路長のみを調整することで、前眼部ＯＣＴ５４と眼底ＯＣＴ５２の位置関係を較正処理時の位置関係と同一としてもよい。
【0077】
また、実施例２の眼科装置５０では、眼底ＯＣＴ５２の参照光を分岐して基準光を生成し、生成した基準光を前眼部ＯＣＴ５４の参照ミラー９２に照射するようにしたが、本明細書に開示の技術は、このような例に限られない。上記の例とは逆に、前眼部ＯＣＴの参照光を分岐して基準光を生成、その生成した基準光を眼底ＯＣＴの参照ミラーに照射するようにしてもよい。
【0078】
また、上述した実施例１，２の眼科装置は、眼底ＯＣＴと前眼部ＯＣＴの両者を備えていたが、本明細書に開示の技術は、眼底ＯＣＴ又は前眼部ＯＣＴだけを備えた眼科装置に適用することもできる。この場合、例えば、ガルバノスキャナを利用して、基準ミラーに光源の光を照射する状態と、被検眼に光源の光を照射する状態とを切り替えるようにすることで、任意の位置に基準ミラーを設定することができる。
【0079】
以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【符号の説明】
【0080】
１０：眼科装置
１２、１４：光源
１８ａ～１８ｅ，３０ａ～３０ｃ：光ファイバ
１６，２８：検出器
３６：ガルバノスキャナ
４０，４２：参照ミラー
４４：制御装置
１２、１４：光源
１８ａ～１８ｅ，３０ａ～３０ｃ：光ファイバ
１６，２８：検出器
３６：ガルバノスキャナ
４０，４２：参照ミラー
４４：制御装置
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】