特開 2023-177081 パラメータ算出装置、パラメータ算出方法、及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023177081

(43)【公開日】2023-12-13

(54)【発明の名称】パラメータ算出装置、パラメータ算出方法、及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   H02P 23/14 20060101AFI20231206BHJP

【ＦＩ】

H02P23/14

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022089785

(22)【出願日】2022-06-01

(71)【出願人】

【識別番号】000003218

【氏名又は名称】株式会社豊田自動織機

(71)【出願人】

【識別番号】000003609

【氏名又は名称】株式会社豊田中央研究所

(74)【代理人】

【識別番号】100121083

【弁理士】

【氏名又は名称】青木 宏義

(74)【代理人】

【識別番号】100138391

【弁理士】

【氏名又は名称】天田 昌行

(74)【代理人】

【識別番号】100074099

【弁理士】

【氏名又は名称】大菅 義之

(72)【発明者】

【氏名】蓑島 紀元

(72)【発明者】

【氏名】古川 智康

(72)【発明者】

【氏名】岩井 良樹

(72)【発明者】

【氏名】平本 健二

(72)【発明者】

【氏名】中井 英雄

【テーマコード（参考）】

5H505

【Ｆターム（参考）】

5H505BB07

5H505DD03

5H505DD05

5H505JJ03

5H505JJ05

5H505JJ17

5H505LL22

5H505LL29

5H505LL34

5H505LL40

5H505LL45

5H505MM14

(57)【要約】

【課題】磁界解析を用いて誘導電動機のパラメータを算出する際、ロータの温度の変化幅が比較的大きい場合において、磁界解析の回数増加を抑制する。
【解決手段】ステータ電流と、ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、すべり角周波数ωｓを二次抵抗Ｒｒで除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比ωｓ／Ｒｒ、または、すべり角周波数ωｓとの対応関係を示すパラメータマップを作成するマップ作成部２と、パラメータマップを参照して、ステータ電流と、すべり角周波数ωｓを変化後の二次抵抗Ｒｒ´で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比ωｓ／Ｒｒ´、または、すべり角周波数ωｓを変化前の二次抵抗Ｒｒに対する変化後の二次抵抗Ｒｒ´の変化率Ａで除算した値であるすべり角周波数変化率比ωｓ／Ａとに対応するパラメータを算出するパラメータ算出部３とを備えてパラメータ算出装置１を構成する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成するマップ作成部と、
前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを算出するパラメータ算出部と、
を備えるパラメータ算出装置。

【請求項2】

請求項１に記載のパラメータ算出装置であって、
前記パラメータ算出部は、Ｒｒ´を前記変化後の二次抵抗とし、Ａを変化率とし、Ｒｒを前記変化前の二次抵抗とする場合、下記式１を計算することにより前記変化後の二次抵抗を求め、その求めた変化後の二次抵抗に基づいて、前記すべり角周波数二次抵抗比を求める
Ｒｒ´＝Ａ×Ｒｒ ・・・式１
ことを特徴とするパラメータ算出装置。

【請求項3】

請求項１に記載のパラメータ算出装置であって、
前記パラメータ算出部は、Ａを変化率とし、α２をロータの温度係数とし、Ｔ２´を変化後のロータの温度とし、Ｔ２を変化前のロータの温度とし、Ｔｂをロータの基準温度とする場合、下記式２を計算することにより前記変化率を求め、その求めた変化率に基づいて、前記すべり角周波数変化率比を求める
Ａ＝（１＋α２×（Ｔ２´－Ｔｂ））／（１＋α２×（Ｔ２－Ｔｂ）） ・・・式２
ことを特徴とするパラメータ算出装置。

【請求項4】

プロセッサを備えるパラメータ算出装置において、誘導電動機のパラメータを算出するパラメータ算出方法であって、
前記プロセッサは、
ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成し、
前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを求める
パラメータ算出方法。

【請求項5】

プロセッサを備えるパラメータ算出装置において、誘導電動機のパラメータを算出するためのプログラムであって、
前記プロセッサに、
ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成するステップと、
前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを求めるステップと
を実行させるためのプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、誘導電動機のパラメータを算出する技術に関する。

【背景技術】

【0002】

誘導電動機のパラメータを算出するパラメータ算出装置として、二次元磁界解析や三次元磁界解析などの磁界解析（磁場解析）にステータ電流及びすべり角周波数を入力することで、インダクタンス、二次抵抗（ロータの導体抵抗）、ステータ電圧、ロータ電流、及びロータ磁束などのパラメータを算出するものがある。関連する技術として、特許文献１がある。

【0003】

ところで、ロータの温度が変化すると、パラメータが変化してしまうため、ロータの温度が変化する度に磁界解析を再度行う必要がある。

【0004】

そのため、上記パラメータ算出装置では、ロータの温度の変化幅が比較的大きい場合、磁界解析の回数が増加するという懸念がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２０１０－２６５９５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

本発明の一側面に係る目的は、磁界解析を用いて誘導電動機のパラメータを算出する際、ロータの温度の変化幅が比較的大きい場合であっても、磁界解析の回数増加を抑制することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明に係る一つの形態であるパラメータ算出装置は、ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成するマップ作成部と、前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを算出するパラメータ算出部とを備える。

【0008】

これにより、ロータ温度の変化により二次抵抗が変化しても、パラメータマップを再度作成する必要がないため、磁界解析の回数増加を抑制することができる。

【0009】

また、前記パラメータ算出部は、Ｒｒ´を前記変化後の二次抵抗とし、Ａを変化率とし、Ｒｒを前記変化前の二次抵抗とする場合、下記式１を計算することにより前記変化後の二次抵抗を求め、その求めた変化後の二次抵抗に基づいて、前記すべり角周波数二次抵抗比を求めるように構成してもよい。

【0010】

Ｒｒ´＝Ａ×Ｒｒ ・・・式１

【0011】

また、前記パラメータ算出部は、Ａを変化率とし、α２をロータの温度係数とし、Ｔ２´を変化後のロータの温度とし、Ｔ２を変化前のロータの温度とし、Ｔｂをロータの基準温度とする場合、下記式２を計算することにより前記変化率を求め、その求めた変化率に基づいて、前記すべり角周波数変化率比を求めるように構成してもよい。

【0012】

Ａ＝（１＋α２×（Ｔ２´－Ｔｂ））／（１＋α２×（Ｔ２－Ｔｂ）） ・・・式２

【0013】

また、本発明に係る一つの形態であるパラメータ算出方法は、プロセッサを備えるパラメータ算出装置において、誘導電動機のパラメータを算出するパラメータ算出方法であって、前記プロセッサは、ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成し、前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを求める。

【0014】

また、本発明に係る一つの形態であるプログラムは、プロセッサを備えるパラメータ算出装置において、誘導電動機のパラメータを算出するためのプログラムであって、前記プロセッサに、ステータ電流と、前記ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、前記すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成するステップと、前記パラメータマップを参照して、前記ステータ電流と、前記すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、前記すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを求めるステップとを実行させる。

【発明の効果】

【0015】

本発明によれば、磁界解析を用いて誘導電動機のパラメータを算出する際、ロータの温度の変化幅が比較的大きい場合において、磁界解析の回数増加を抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【0016】

【図1】実施形態におけるパラメータ算出装置を示す図である。

【図2】実施形態におけるパラメータ算出方法を示すフローチャートである。

【図3】実施例１におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【図4】実施例１におけるパラメータマップの一例を示す図である。

【図5】実施例１における整理後のパラメータマップの一例を示す図である。

【図6】実施例１におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【図7】実施例２におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【図8】パラメータ算出装置のハードウェア構成を示す図である。

【図9】変形例１におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【図10】変形例１におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【発明を実施するための形態】

【0017】

以下、図面に基づいて実施形態の詳細を説明する。

【0018】

図１は、実施形態におけるパラメータ算出装置を示す図である。

【0019】

図１に示すパラメータ算出装置１は、誘導電動機のパラメータとしてステータの自己インダクタンスＬｓ、ロータの自己インダクタンスＬｒ、相互インダクタンスＭ、及び二次抵抗Ｒｒ（ロータの抵抗）などを算出するものであって、マップ作成部２と、パラメータ算出部３とを備える。

【0020】

図２は、実施形態におけるパラメータ算出方法を示すフローチャートである。

【0021】

まず、ステップＳ１において、マップ作成部２は、ステータ電流と、ステータ電流及びすべり角周波数に基づいて求められる誘導電動機のパラメータと、すべり角周波数を二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、すべり角周波数との対応関係を示すパラメータマップを作成する。

【0022】

次に、ステップＳ２において、パラメータ算出部３は、パラメータマップを参照して、ステータ電流と、すべり角周波数を変化後の二次抵抗で除算した値であるすべり角周波数二次抵抗比、または、すべり角周波数を変化前の二次抵抗に対する変化後の二次抵抗の変化率で除算した値であるすべり角周波数変化率比とに対応するパラメータを算出する。

【0023】

ところで、ステータ電流やすべり角周波数が変化すると、誘導電動機の電流・電圧特性が変化し、誘導電動機のパラメータが変化してしまう。そのため、ステータ電流やすべり角周波数の変化幅が比較的大きい場合、ステータ電流やすべり角周波数を入力とする磁界解析の回数が増大する懸念がある。

【0024】

そこで、実施形態のパラメータ算出装置１では、ステータ電流及びすべり角周波数と、パラメータとが対応付けられているパラメータマップを予め用意しておき、そのパラメータマップを参照して、ステータ電流及びすべり角周波数に対応するパラメータを算出している。そのため、ステータ電流やすべり角周波数が変化する度に磁界解析を行うことないため、磁界解析の回数の増加を抑制することができる。

【0025】

また、ロータの導体に用いられるアルミニウムや銅は温度変化により抵抗値が変化する。すなわち、ロータの導体に電流が流れることによってロータの温度が変化すると、二次抵抗が変化する。例えば、変化後の二次抵抗と変化前の二次抵抗との関係を下記式１に示す。なお、Ｒｒ´を変化後の二次抵抗とし、Ａを変化率とし、Ｒｒを変化前の二次抵抗とする。また、変化率Ａは、下記式２により求められる。α２をロータの温度係数とし、Ｔ２´を変化後のロータの温度とし、Ｔ２を変化前のロータの温度とし、Ｔｂをロータの基準温度とする。

【0026】

Ｒｒ´＝Ａ×Ｒｒ ・・・式１

【0027】

Ａ＝（１＋α２×（Ｔ２´－Ｔｂ））／（１＋α２×（Ｔ２－Ｔｂ）） ・・・式２

【0028】

また、ロータの温度変化によっても、誘導電動機のパラメータが変化してしまう。

【0029】

そこで、実施形態のパラメータ算出装置１では、ロータの温度変化を考慮してパラメータマップを参照している。

【0030】

ここで、誘導電動機の電圧方程式を下記式３に示す。なお、Ｖｄｓをステータｄ軸電圧とし、Ｖｑｓをステータｑ軸電圧とし、ｉｄｓをステータｄ軸電流とし、ｉｑｓをステータｑ軸電流とし、ｉｄｒをロータｄ軸電流とし、ｉｑｒをロータｑ軸電流とし、Ｒｓを一次抵抗（ステータの巻線抵抗）とし、Ｒｒを二次抵抗（ロータの導体抵抗）とし、ωを電源角周波数とし、ωｒｅをロータの角周波数とし、Ｌｓをステータの自己インダクタンスとし、Ｌｒをロータの自己インダクタンスとし、Ｍをステータとロータとの間の相互インダクタンスとする。

【0031】

【数1】

【0032】

上記式３において、ロータ電流とステータ電流との関係を抽出したものを下記式４に示す。なお、ωｓをすべり角周波数とする。また、「すべり角周波数ωｓ＝２×π×すべり周波数ｆｓ」の関係式により、すべり角周波数ωｓをすべり周波数ｆｓに置き換えてもよい。また、「すべりｓ＝（電源角周波数ω－ロータの角周波数ωｒｅ）／電源角周波数ω」の関係式により、すべり角周波数ωｓをすべりｓに置き換えてもよい。

【0033】

【数2】

【0034】

また、上記式１に示すように、変化前の二次抵抗Ｒｒを変化率Ａ倍して変化後の二次抵抗Ｒｒ´とする場合、上記式４は下記式５となりＲｒ´をＡＲｒに置き替えて整理すると下記式６となる。

【0035】

【数3】

【0036】

【数4】

【0037】

上記式４と上記式６を比較すると、二次抵抗Ｒｒが変化率Ａ倍に変化したときのロータ電流（ｉｄｒ´，ｉｑｒ´）は、二次抵抗Ｒｒを変化率Ａ倍させず、すべり角周波数ωｓを１／Ａ（＝Ｒｒ／Ｒｒ´）倍することで求められることがわかる。すなわち、二次抵抗Ｒｒが変化率Ａ倍に変化したときのパラメータは、二次抵抗Ｒｒを変化率Ａ倍させず、すべり角周波数ωｓを１／Ａ（＝Ｒｒ／Ｒｒ´）倍したときのパラメータと等しくなる。

【0038】

そのため、二次抵抗Ｒｒが二次抵抗Ｒｒ´に変化したときの誘導電動機のパラメータを、ロータの基準温度におけるパラメータと、１／Ａ（＝Ｒｒ／Ｒｒ´）倍したすべり角周波数ωｓとに基づいて算出することができる。

【0039】

そこで、実施形態のパラメータ算出装置１では、ステータ電流と、すべり角周波数ωｓを二次抵抗Ｒｒ´で除算した値を示すすべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ´）またはすべり角周波数ωｓを変化率Ａで除算した値を示すすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）を用いて、パラメータマップを参照している。これにより、ロータ温度の変化により二次抵抗が変化しても、パラメータマップを再度作成する必要がないため、磁界解析の回数増加を抑制することができる。

【0040】

＜実施例１＞
図３は、実施例１におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。

【0041】

まず、マップ作成部２は、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数（ωｓ）を入力とする磁界解析（二次元磁界解析または三次元磁界解析）を行い、ロータ電流（ｉｄｒ，ｉｑｒ）、ステータ電圧（Ｖｄｓ，Ｖｑｓ）、及びロータ磁束（Φｄｒ，Φｑｒ）を得る。なお、実施例１や後述する実施例２で扱われるステータ電流、ロータ電流、ステータ電圧、及びロータ電圧はそれぞれ実効値とする。また、電流や電圧の座標系は、ｄｑ軸座標系に限らない。

【0042】

次に、マップ作成部２は、上記式３、下記式７、及び下記式８などに示す電圧方程式にステータ電圧（Ｖｄｓ，Ｖｑｓ）、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）、ロータ電流（ｉｄｒ，ｉｑｒ）、及びロータ磁束（Φｄｒ，Φｑｒ）などを入力して、自己インダクタンスＬｓ、自己インダクタンスＬｒ、相互インダクタンスＭ、及び二次抵抗Ｒｒを求める。なお、ｉｄｓはステータｄ軸電流とし、ｉｑｓはステータｑ軸電流とし、ｉｄｒはロータｄ軸電流とし、ｉｑｒはロータｑ軸電流とし、ωは電源角周波数とし、Ｒｓはステータの巻線抵抗とする。

【0043】

【数5】

【0044】

【数6】

【0045】

次に、マップ作成部２は、複数のステータ電流及び複数のすべり角周波数に対して、図３に示す処理を繰り返し行うことで、自己インダクタンスＬｓ、自己インダクタンスＬｒ、相互インダクタンスＭ、及び二次抵抗Ｒｒをそれぞれ複数得る。

【0046】

次に、マップ作成部２は、図４（ａ）に示すように、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数ωｓと、自己インダクタンスＬｓとの対応関係を示すパラメータマップＭＬｓを作成する。

【0047】

また、マップ作成部２は、図４（ｂ）に示すように、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数ωｓと、自己インダクタンスＬｒとの対応関係を示すパラメータマップＭＬｒを作成する。

【0048】

また、マップ作成部２は、図４（ｃ）に示すように、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数ωｓと、相互インダクタンスＭとの対応関係を示すパラメータマップＭＭを作成する。

【0049】

また、マップ作成部２は、図４（ｄ）に示すように、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数ωｓと、二次抵抗Ｒｒとの対応関係を示すパラメータマップＭＲｒを作成する。

【0050】

次に、マップ作成部２は、ステータ電流毎に各すべり角周波数（ωｓ１、ωｓ２、ωｓ３、・・・）を図４（ｄ）のパラメータマップＭＲｒで除算した値を求め、図４（ａ）、図４（ｂ）、図４（ｃ）の各パラメータマップを図５に示すパラメータマップ（Ｍｐ１、Ｍｐ２、Ｍｐ３、・・・）へ整理をする。

【0051】

次に、パラメータ算出部３は、図６に示すように、図４（ｄ）に示すパラメータマップＭＲｒを参照して、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数ωｓに対応する変化前の二次抵抗Ｒｒを求め、その求めた二次抵抗Ｒｒとロータの温度（Ｔ２）を上記式１及び式２に代入して、変化後の二次抵抗Ｒｒ´を求める。

【0052】

また、パラメータ算出部３は、すべり角周波数ωｓを二次抵抗Ｒｒ´で除算することで、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ´）を求める。

【0053】

また、パラメータ算出部３は、図５に示す各パラメータマップのうち、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）に対応するパラメータマップを参照して、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ´）に対応する自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、及び相互インダクタンスＭ´を求める。

【0054】

そして、ロータの温度がさらに変化した場合、その変化後のロータの温度Ｔ２を用いて、変化後の二次抵抗Ｒｒ´を求めるとともに、その二次抵抗Ｒｒ´を用いてすべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ´）を求め、そのすべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ´）及び図５に示すパラメータマップを用いて自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、相互インダクタンスＭ´を求める。

【0055】

このように、実施例１に示すパラメータ算出装置１は、ロータ温度が変化しても、磁界解析を行うことなく、ロータ温度の変化が考慮された二次抵抗Ｒｒ´を求めることができるとともに、パラメータマップを用いてロータ温度の変化が考慮された自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、相互インダクタンスＭ´を求めることができる。

【0056】

＜実施例２＞
図７は、実施例２におけるパラメータ算出方法を説明するための図である。なお、実施例２において、図４（ａ）に示すパラメータマップＭＬｓ、図４（ｂ）に示すパラメータマップＭＬｒ、図４（ｃ）に示すパラメータマップＭＭ、及び図４（ｄ）に示すパラメータマップＭＲｒを作成するまでのマップ作成部２の動作は、実施例１におけるマップ作成部２の動作と同じであるため、その動作の説明を省略する。

【0057】

実施例２におけるパラメータ算出部３は、図７に示すように、図４（ｄ）に示すパラメータマップＭＲｒを参照して、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数ωｓに対応する変化前の二次抵抗Ｒｒを求め、その求めた二次抵抗Ｒｒと変化率Ａを上記式１に代入することにより変化後の二次抵抗Ｒｒ´を求める。

【0058】

また、パラメータ算出部３は、すべり角周波数ωｓを変化率Ａで除算することで、すべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）を求める。

【0059】

また、パラメータ算出部３は、図４（ａ）に示すパラメータマップＭＬｓを参照して、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）に相当するすべり角周波数に対応する自己インダクタンスＬｓ´を求める。

【0060】

また、パラメータ算出部３は、図４（ｂ）に示すパラメータマップＭＬｒを参照して、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）に相当するすべり角周波数に対応する自己インダクタンスＬｒ´を求める。

【0061】

また、パラメータ算出部３は、図４（ｃ）に示すパラメータマップＭＭを参照して、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）及びすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）に相当するすべり角周波数に対応する相互インダクタンスＭ´を求める。

【0062】

そして、ロータの温度がさらに変化した場合、その変化後のロータの温度Ｔ２を用いて、変化後の二次抵抗Ｒｒ´を求めるとともに、その二次抵抗Ｒｒ´を用いてすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）を求め、そのすべり角周波数変化率比（ωｓ／Ａ）及び図４に示すパラメータマップＭＬｓ、ＭＬｒ、ＭＭを用いて自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、相互インダクタンスＭ´を求める。

【0063】

このように、実施例２に示すパラメータ算出装置１は、実施例１に示すパラメータ算出装置１と同様に、ロータ温度が変化しても、磁界解析を行うことなく、ロータ温度の変化が考慮された二次抵抗Ｒｒ´を求めることができるとともに、パラメータマップを用いてロータ温度の変化が考慮された自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、相互インダクタンスＭ´を求めることができる。

【0064】

＜パラメータ算出装置１のハードウェア構成＞
図８は、パラメータ算出装置１として用いられる情報処理装置（コンピュータ）のハードウェア構成例を示す図である。

【0065】

図８に示す情報処理装置１００は、プロセッサ１０１、メモリ１０２、記憶装置１０３、読取装置１０４、通信インタフェース１０６、及び入出力インタフェース１０７を備える。なお、これらの構成要素は、例えば、バス１０８を介して互いに接続されている。

【0066】

プロセッサ１０１は、例えば、シングルプロセッサであっても、マルチプロセッサおよびマルチコアであってもよい。プロセッサ１０１は、メモリ１０２を利用して例えば上述のパラメータ算出方法の手順を記述したプログラムを実行することにより、パラメータ算出装置１の機能を提供する。

【0067】

メモリ１０２は、例えば半導体メモリであり、ＲＡＭ領域およびＲＯＭ領域を含んでよい。記憶装置１０３は、例えばハードディスク、フラッシュメモリ等の半導体メモリ、または外部記憶装置である。なお、ＲＡＭは、Random Access Memoryの略称である。また、ＲＯＭは、Read Only Memoryの略称である。

【0068】

読取装置１０４は、プロセッサ１０１の指示に従って着脱可能記憶媒体１０５にアクセスする。着脱可能記憶媒体１０５は、例えば、半導体デバイス（ＵＳＢメモリ等）、磁気的作用により情報が入出力される媒体（磁気ディスク等）、光学的作用により情報が入出力される媒体（ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ等）などにより実現される。なお、ＵＳＢは、Universal Serial Busの略称である。ＣＤは、Compact Discの略称である。ＤＶＤは、Digital Versatile Diskの略称である。

【0069】

通信インタフェース１０６は、例えば、プロセッサ１０１の指示に従って通信ネットワークを介してデータを送受信する。

【0070】

入出力インタフェース１０７は、例えば、キーボード、ポインティングデバイス等であり、オペレータ又はユーザからの指示又は情報の入力に用いられる。

【0071】

プロセッサ１０１により実行される各プログラムは、例えば、下記の形態で提供される。

【0072】

（１）記憶装置１０３に予めインストールされている。

【0073】

（２）着脱可能記憶媒体１０５により提供される。

【0074】

（３）プログラムサーバなどのサーバから通信ネットワークを介して通信インタフェース１０６へ提供される。

【0075】

なお、情報処理装置１００のハードウェア構成は、例示であり、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、上述の機能部の一部または全部の機能がＦＰＧＡおよびＳｏＣなどによるハードウェアとして実装されてもよい。なお、ＦＰＧＡは、Field Programmable Gate Arrayの略称である。ＳｏＣは、System-on-a-chipの略称である。

【0076】

また、本発明は、以上の実施形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変更が可能である。

【0077】

＜変形例１＞
上記実施例１または実施例２においてマップ作成部２では、パラメータマップを作成する際、上記式３、式７、式８に示す電圧方程式を用いて自己インダクタンスＬｓ、自己インダクタンスＬｒ、相互インダクタンスＭ、及び二次抵抗Ｒｒを求める構成であるが、図９に示すように、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）と、ステータ電圧との対応関係を示すマップＭ１、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）と、ロータ電流、との対応関係を示すマップＭ２、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）と、ロータ磁束との対応関係を示すマップＭ３、ステータ電流（ｉｄｓ，ｉｑｓ）と、すべり角周波数ωｓと、二次抵抗Ｒｒとの対応関係を示すマップＭ４を作成してもよい。

【0078】

また、マップ作成部２は、磁界解析のステップ毎のロータの位置情報も用いて、マップＭ１～Ｍ４を作成するように構成してもよい。

【0079】

この場合、パラメータ算出部３は、図１０に示すように、マップＭ４を参照して、ステータ電流とすべり角周波数ωｓ、ロータの位置に対応する変化前の二次抵抗Ｒｒを求める。

【0080】

また、パラメータ算出部３は、マップＭ１を参照して、ステータ電流、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）、ロータの位置に対応するステータ電圧（ｖｄｓ、ｖｑｓ）を求める。

【0081】

また、パラメータ算出部３は、マップＭ２を参照して、ステータ電流、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）、ロータの位置に対応するロータ電流（ｉｄｒ、ｉｑｒ）を求める。

【0082】

また、パラメータ算出部３は、マップＭ３を参照して、ステータ電流、すべり角周波数二次抵抗比（ωｓ／Ｒｒ）、ロータの位置に対応するロータ磁束（φｄｒ、φｑｒ）を求める。

【0083】

次に、ロータの温度（Ｔ２）を上記式１及び式２に代入して、変化後の二次抵抗Ｒｒ´を求め、変化後の二次抵抗Ｒｒ´及び前記ステータ電圧、ロータ電流、ロータ磁束とステータ電流から上記式３、式７、式８に示す電圧方程式を用いて自己インダクタンスＬｓ´、自己インダクタンスＬｒ´、相互インダクタンスＭ´を求める。

【0084】

＜変形例２＞
誘導電動機にスキューが施されている場合、マップ作成部２は、スキューを考慮してパラメータマップを作成するように構成してもよい。

【符号の説明】

【0085】

１ パラメータ算出装置
２ マップ作成部
３ パラメータ算出部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】