特開 2023-177545出願番号 特願 2022-90276
距離画像撮像装置、及び距離画像撮像方法
公報発行日 2023年12月14
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-177545 ログイン済みの方はこのURLへ
［この特許公報を共有したい場合］あなたがログインしてこの特許公報を表示すれば、他の人はログインしなくてもこのURLで見ることができるようになります。
※ 共同出願を含む
知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、この公報の全文を閲覧できます。 ログインはこちら ログイン・ユーザー登録
技術分野
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】干渉光の影響を低減し、距離測定の精度を向上する。
【解決手段】距離画像撮像装置は、光電変換素子と、電荷蓄積部と、転送トランジスタとを備える複数の画素回路と、光パルスの照射に同期した所定の蓄積タイミングで、前記電荷を振分けて前記電荷蓄積部に蓄積させる画素駆動回路とを有する受光部と、前記光パルスを照射する光源部と、前記電荷蓄積部のそれぞれに蓄積された電荷量に基づいて、被写体までの距離を測定距離として測定する距離画像処理部とを備え、前記距離画像処理部は、前記距離を計測する前に、前記光パルスを照射しない状態で、且つ、前記光パルスを照射する場合と等しい周期及び前記蓄積タイミングで、前記電荷蓄積部のそれぞれに蓄積された干渉電荷量の最大値と最小値との差分に基づいて、干渉光を検出し、前記干渉光を検出した場合に、前記光パルスの照射タイミング及び前記蓄積タイミングを変更して、前記測定距離を測定する。
【選択図】図１
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明によれば、干渉光の影響を低減し、距離測定の精度を向上させることができる。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)
この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録
［広告欄］
ログインすれば広告は減ります
ログインすれば広告は減ります