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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023178736
(43)【公開日】2023-12-18
(54)【発明の名称】材料試験機
(51)【国際特許分類】
G01N 3/20 20060101AFI20231211BHJP
【ＦＩ】
G01N3/20
【審査請求】未請求
【請求項の数】4
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022091591
(22)【出願日】2022-06-06
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】110001081
【氏名又は名称】弁理士法人クシブチ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】松下 和裕
【テーマコード（参考）】
2G061
【Ｆターム（参考）】
2G061AA07
2G061AB01
2G061CB01
2G061CC11
2G061EA01
2G061EB05
(57)【要約】
【課題】試験体の位置決めのための段取りの時間を短くでき、試験体の設置位置にずれを生じさせることのない材料試験機を提供する。
【解決手段】一対の支点８２の上に試験体Ｔを載せ、試験体Ｔの中央部Ｍ１に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機１において、一対の支点８２の外側に配置され、内側に移動させて試験体Ｔの中央部Ｍ１を一対の支点８２間の中央位置Ｍ２に位置決めする一対のアーム１２０と、一対のアーム１２０の移動量を同期させる同期機構と、を備える。
【選択図】図３
【解決手段】一対の支点８２の上に試験体Ｔを載せ、試験体Ｔの中央部Ｍ１に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機１において、一対の支点８２の外側に配置され、内側に移動させて試験体Ｔの中央部Ｍ１を一対の支点８２間の中央位置Ｍ２に位置決めする一対のアーム１２０と、一対のアーム１２０の移動量を同期させる同期機構と、を備える。
【選択図】図３
【特許請求の範囲】
【請求項1】
一対の支点の上に試験体を載せ、前記試験体の中央部に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機において、
前記一対の支点の外側に配置され、内側に移動させて前記試験体の中央部を前記一対の支点間の中央位置に位置決めする一対のアームと、
前記一対のアームの移動量を同期させる同期機構と、
を備える材料試験機。
前記一対の支点の外側に配置され、内側に移動させて前記試験体の中央部を前記一対の支点間の中央位置に位置決めする一対のアームと、
前記一対のアームの移動量を同期させる同期機構と、
を備える材料試験機。
【請求項2】
前記同期機構は、前記一対のアームの移動量を同期させるラックピニオン機構を備える請求項１に記載の材料試験機。
【請求項3】
前記一対のアームはベース部に片持ちで支持され、前記ベース部に前記ラックピニオン機構が配置される請求項２に記載の材料試験機。
【請求項4】
前記一対のアームは、前記一対の支点の上の奥行方向の正規の位置に前記試験体を誘導するマークを備える請求項１乃至３のいずれかに記載の材料試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、材料試験機に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、一対の支点の上に試験体を載せ、ポンチを降下させて、試験体に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機が知られている（特許文献１）。
この種の材料試験機では、ＩＳＯ／ＪＩＳ等の規格で、試験力は試験体の中央部に負荷すること、とされている。そのために、従来では、例えば試験体の寸法を測定して試験体の中央部をケガキし、ポンチ中央にそのケガキ線を合わせながら一対の支点の上に試験体を載せる段取りが行われている。
この種の材料試験機では、ＩＳＯ／ＪＩＳ等の規格で、試験力は試験体の中央部に負荷すること、とされている。そのために、従来では、例えば試験体の寸法を測定して試験体の中央部をケガキし、ポンチ中央にそのケガキ線を合わせながら一対の支点の上に試験体を載せる段取りが行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２０１６－２０８７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、従来のように、ケガキ線を合わせながらの段取りは、時間がかかり不便である。とくに、試験数が多くなると、段取り時間が長くなり、試験のタクトタイムが長くなるという課題がある。また、従来の段取りでは、目視での設置作業となるため、設置位置にずれが生じる恐れがある。
そこで、本発明の目的は、上述した従来の技術が有する課題を解消し、試験体の位置決めのための段取りの時間を短くでき、試験体の設置位置にずれを生じさせることのない材料試験機を提供することにある。
そこで、本発明の目的は、上述した従来の技術が有する課題を解消し、試験体の位置決めのための段取りの時間を短くでき、試験体の設置位置にずれを生じさせることのない材料試験機を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の態様は、一対の支点の上に試験体を載せ、前記試験体の中央部に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機において、前記一対の支点の外側に配置され、内側に移動させて前記試験体の中央部を前記支点間の中央位置に位置決めする一対のアームと、前記一対のアームの移動量を同期させる同期機構と、を備える材料試験機に関する。
【発明の効果】
【0006】
本発明の様態によれば、一対のアームと、一対のアームの移動量を同期させる同期機構により、曲げ試験治具の中央に簡便に試験体を設置できる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
図１は、実施形態に係る材料試験機１の正面図である。
材料試験機１は、負荷機構２０と、制御部２００と、を備える。
負荷機構２０は、台座２１を有する。台座２１の上部にはテーブル２２が設けられている。テーブル２２には、鉛直方向上方に延びる一対の支柱２３が立設されている。支柱２３の上部には、クロスヨーク２４が架け渡されている。
図１は、実施形態に係る材料試験機１の正面図である。
材料試験機１は、負荷機構２０と、制御部２００と、を備える。
負荷機構２０は、台座２１を有する。台座２１の上部にはテーブル２２が設けられている。テーブル２２には、鉛直方向上方に延びる一対の支柱２３が立設されている。支柱２３の上部には、クロスヨーク２４が架け渡されている。
【0009】
支柱２３の内部には、ボールねじ機構（不図示）が設けられている。ボールねじ機構のねじ棒には、図示しないナットを介して、クロスヘッド２５の両端が連結されている。クロスヘッド２５は、ねじ棒の回転によりテーブル２２に対して昇降する。なお、ねじ棒は、図示しないモータにより回転駆動される。
【0010】
クロスヘッド２５には、図２に示すように、ロードセル２６が設置されている。ロードセル２６には、継手２７が取り付けられる。継手２７は、下方に延び、継手２７の下端には、ポンチ台２８が接続されている。ポンチ台２８には、スプリング２９を介してポンチ３０が取り付けられる。
ポンチ３０が付与する試験力は、ロードセル２６により計測され、計測された信号は制御装置２００に入力される。
ポンチ３０が付与する試験力は、ロードセル２６により計測され、計測された信号は制御装置２００に入力される。
【0011】
ポンチ３０の下方には、曲げ試験治具７０が配置される。
曲げ試験治具７０は、図３に示すように、平板状の支点取り付け台８０と、支点取り付け台８０に固定された箱形状の支点台８１と、を備える。支点取り付け台８０は、取り付けボルト７９を介してテーブル２２に固定される。
曲げ試験治具７０は、図３に示すように、平板状の支点取り付け台８０と、支点取り付け台８０に固定された箱形状の支点台８１と、を備える。支点取り付け台８０は、取り付けボルト７９を介してテーブル２２に固定される。
【0012】
支点台８１には、支点台８１の短手方向（奥行方向）に延びる一対の支点８２が設けられる。一対の支点８２の上には試験体Ｔが載置される。
一対の支点８２は、それぞれ支持体８３に支持される。それぞれの支持体８３は、ボールねじ機構（不図示）を介して、調整ハンドル８４に連結される。調整ハンドル８４を、右又は左に回転させることにより、一対の支点８２が、共に、内側又は外側に均等に開いて、支点８２の間隔Ｗが小さく、又は大きく調整される。
支点目盛り８６は、一対の支点８２の間隔Ｗを調整するために配置される。一対の支点８２の間隔Ｗは、試験体Ｔの長さに合わせて調整される。
一対の支点８２は、それぞれ支持体８３に支持される。それぞれの支持体８３は、ボールねじ機構（不図示）を介して、調整ハンドル８４に連結される。調整ハンドル８４を、右又は左に回転させることにより、一対の支点８２が、共に、内側又は外側に均等に開いて、支点８２の間隔Ｗが小さく、又は大きく調整される。
支点目盛り８６は、一対の支点８２の間隔Ｗを調整するために配置される。一対の支点８２の間隔Ｗは、試験体Ｔの長さに合わせて調整される。
【0013】
一対の支点８２の両側には、試験体Ｔの中央部Ｍ１を、一対の支点８２間の中央位置Ｍ２に位置決めするための、一対のアーム１２０が配置される。
一対のアーム１２０はＴ字型であり、アーム部１２０Ａと、アーム部１２０Ａの根元の基部１２０Ｂと、を備える。一対のアーム１２０は、支点８２の外側に配置され、それぞれ内側に移動させて試験体Ｔを位置決めする。
一対のアーム１２０は、右アーム１２０Ｒと、左アーム１２０Ｌからなる。右アーム１２０Ｒと、左アーム１２０Ｌは、同期機構（図４参照。）を介して、ベース部１００に片持ちで支持され、水平方向に同期して移動可能である。
一対のアーム１２０はＴ字型であり、アーム部１２０Ａと、アーム部１２０Ａの根元の基部１２０Ｂと、を備える。一対のアーム１２０は、支点８２の外側に配置され、それぞれ内側に移動させて試験体Ｔを位置決めする。
一対のアーム１２０は、右アーム１２０Ｒと、左アーム１２０Ｌからなる。右アーム１２０Ｒと、左アーム１２０Ｌは、同期機構（図４参照。）を介して、ベース部１００に片持ちで支持され、水平方向に同期して移動可能である。
【0014】
図４は、図３のＩＶ－ＩＶ線断面図、図５は、図４のＶ－Ｖ線断面図である。
ベース部１００は、箱形本体１０１の開口部に、平板状の蓋部材１０２を取り付けて構成される。蓋部材１０２は、４本の固定具１１０により、箱形本体１０１の開口部に固定される。箱形本体１０１は下部マウント１６０を備える。下部マウント１６０は３本の固定具１６２によって、支点台８１に取り付けられる。
ベース部１００は、箱形本体１０１の開口部に、平板状の蓋部材１０２を取り付けて構成される。蓋部材１０２は、４本の固定具１１０により、箱形本体１０１の開口部に固定される。箱形本体１０１は下部マウント１６０を備える。下部マウント１６０は３本の固定具１６２によって、支点台８１に取り付けられる。
【0015】
上記の同期機構は、ラックピニオン機構１４０により構成され、図５に示すように、ベース部１００の箱形本体１０１の内側に配置される。
ラックピニオン機構１４０は、一対のラック１４２と、一対のラック１４２と噛合うピニオン１５０と、を備える。ピニオン１５０は、箱形本体１０１の内側に支軸１５１により回転可能に支持される。ベース部１００は、支軸１５１の延長線上に、一対の支点８２の間隔Ｗの中央位置Ｍ２（図３参照）を位置させて、３本の固定具１６２によって、支点台８１に取り付けられる。
ラックピニオン機構１４０は、一対のラック１４２と、一対のラック１４２と噛合うピニオン１５０と、を備える。ピニオン１５０は、箱形本体１０１の内側に支軸１５１により回転可能に支持される。ベース部１００は、支軸１５１の延長線上に、一対の支点８２の間隔Ｗの中央位置Ｍ２（図３参照）を位置させて、３本の固定具１６２によって、支点台８１に取り付けられる。
【0016】
ベース部１００の蓋部材１０２には、図４に示すように、ベース部１００の長手方向に延びる上部長孔１０４と、上部長孔１０４と平行に延びる下部長孔１０６と、が形成される。一対のラック１４２は、上部長孔１０４に沿って延びる上ラック１４２Ａと、下部長孔１０６に沿って延びる下ラック１４２Ｂと、を備える。
【0017】
下ラック１４２Ｂの右端部（一端）は、図５に示すように、下部長孔１０６を貫通する連結部材１４８を介して、右アーム１２０Ｒの基部１２０Ｂの下端に連結される。
また、右アーム１２０Ｒの基部１２０Ｂの上端に上部長孔１０４を貫通するピン１４９が形成され、右アームＲがスライド可能に支持される。
下ラック１４２Ｂには、連結部材１４８の近傍と、下ラック１４２Ｂの左端部（他端）のそれぞれにガイドピン１５４が取り付けられ、二つのガイドピン１５４は、下部長孔１０６の内側をスライド可能に形成される。右アーム１２０Ｒの基部１２０Ｂは、ベース部１００の右端側（図４の位置Ｇ）から、ベース部１００の中央側（図４の位置Ｈ）までスライドさせることが可能である。
また、右アーム１２０Ｒの基部１２０Ｂの上端に上部長孔１０４を貫通するピン１４９が形成され、右アームＲがスライド可能に支持される。
下ラック１４２Ｂには、連結部材１４８の近傍と、下ラック１４２Ｂの左端部（他端）のそれぞれにガイドピン１５４が取り付けられ、二つのガイドピン１５４は、下部長孔１０６の内側をスライド可能に形成される。右アーム１２０Ｒの基部１２０Ｂは、ベース部１００の右端側（図４の位置Ｇ）から、ベース部１００の中央側（図４の位置Ｈ）までスライドさせることが可能である。
【0018】
上ラック１４２Ａは、下ラック１４２Ｂと略対称の形態である。
図４に示すように、上ラック１４２Ａの左端部（一端）は、上部長孔１０４を貫通する連結部材１４６を介して、左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂの上端に連結される。
また、左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂの下端に下部長孔１０６を貫通するピン１４７が形成され、左アームＬがスライド可能に支持される。
上ラック１４２Ａには、連結部材１４６の近傍と、上ラック１４２Ａの右端部（他端）のそれぞれにガイドピン１５２が取り付けられ、二つのガイドピン１５２は、上部長孔１０４の内側をスライド可能に形成される。左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂは、ベース部１００の左端側（図４の位置Ｅ）から、ベース部１００の中央側（図４の位置Ｆ）までスライドさせることが可能である。
図４に示すように、上ラック１４２Ａの左端部（一端）は、上部長孔１０４を貫通する連結部材１４６を介して、左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂの上端に連結される。
また、左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂの下端に下部長孔１０６を貫通するピン１４７が形成され、左アームＬがスライド可能に支持される。
上ラック１４２Ａには、連結部材１４６の近傍と、上ラック１４２Ａの右端部（他端）のそれぞれにガイドピン１５２が取り付けられ、二つのガイドピン１５２は、上部長孔１０４の内側をスライド可能に形成される。左アーム１２０Ｌの基部１２０Ｂは、ベース部１００の左端側（図４の位置Ｅ）から、ベース部１００の中央側（図４の位置Ｆ）までスライドさせることが可能である。
【0019】
本実施形態によれば、ラックピニオン機構１４０により、例えば左アーム１２０Ｌの移動量に対して、右アーム１２０Ｒの移動量が等しくなる。
例えば左アーム１２０Ｌを掴んで中央から離れるように左側へ水平移動させると、右アーム１２０Ｒは中央から離れるように等距離だけ右側へ水平移動する。この場合、左アーム１２０Ｌは、ピン１５２でガイドされ、右アーム１２０Ｒは、ピン１５４でガイドされて移動するため、安定した移動が可能である。
例えば左アーム１２０Ｌを掴んで中央から離れるように左側へ水平移動させると、右アーム１２０Ｒは中央から離れるように等距離だけ右側へ水平移動する。この場合、左アーム１２０Ｌは、ピン１５２でガイドされ、右アーム１２０Ｒは、ピン１５４でガイドされて移動するため、安定した移動が可能である。
【0020】
一対のアーム１２０の対向面には、目盛り（誘導マーク）１２５が設けられる。
目盛り１２５は、一対の支点８２の各長手方向の中央部（奥行方向の正規の位置）に、試験体Ｔを誘導するように配置される。目盛り１２５は、支点８２の長手方向の中央部を０ｍｍの位置として、前後の方向に１０ｍｍ間隔で配置される。試験体Ｔの幅が、例えば２０ｍｍの場合であれば、目盛り１２５の１０ｍｍの位置に試験体Ｔを合わせることで、支点８２上の奥行方向の正規の位置に誘導が可能である。
目盛り１２５は、一対の支点８２の各長手方向の中央部（奥行方向の正規の位置）に、試験体Ｔを誘導するように配置される。目盛り１２５は、支点８２の長手方向の中央部を０ｍｍの位置として、前後の方向に１０ｍｍ間隔で配置される。試験体Ｔの幅が、例えば２０ｍｍの場合であれば、目盛り１２５の１０ｍｍの位置に試験体Ｔを合わせることで、支点８２上の奥行方向の正規の位置に誘導が可能である。
【0021】
以下、本実施形態の作用を説明する。
曲げ試験を行う場合には、まず、一対のアーム１２０を外側に移動させた状態で、一対の支点８２の上に、試験体Ｔを横に寝かせた状態で配置する。
この場合には、一対のアーム１２０の対向面にある目盛（誘導マーク）１２５に合わせて、一対の支点８２の各長手方向の中央部（正規の位置）に、試験体Ｔの奥行方向を位置合わせする。目盛り１２５は、支点８２の長手方向の中央部を０ｍｍの位置として、例えば前後の方向に１０ｍｍ間隔で配置される。したがって、この場合には、試験体Ｔの幅の寸法を計測し、該幅が例えば２０ｍｍであれば、目盛り１２５の１０ｍｍの位置に試験体Ｔを位置合わせすればよい。
曲げ試験を行う場合には、まず、一対のアーム１２０を外側に移動させた状態で、一対の支点８２の上に、試験体Ｔを横に寝かせた状態で配置する。
この場合には、一対のアーム１２０の対向面にある目盛（誘導マーク）１２５に合わせて、一対の支点８２の各長手方向の中央部（正規の位置）に、試験体Ｔの奥行方向を位置合わせする。目盛り１２５は、支点８２の長手方向の中央部を０ｍｍの位置として、例えば前後の方向に１０ｍｍ間隔で配置される。したがって、この場合には、試験体Ｔの幅の寸法を計測し、該幅が例えば２０ｍｍであれば、目盛り１２５の１０ｍｍの位置に試験体Ｔを位置合わせすればよい。
【0022】
この実施形態では、奥行方向の位置合わせを目視で行う場合と比較し、支点８２上の正規の位置に試験体Ｔを簡単に誘導できる。
【0023】
つぎに、一対のアーム１２０を内側にスライドさせる。
この実施形態では、一対のアーム１２０は、ラックピニオン機構（同期機構）１４０により連結される。このため例えば、左アーム１２０Ｌの移動量に対して、右アーム１２０Ｒの移動量が等しくなり、左アーム１２０Ｌを掴んで中央に寄せるように内側へ水平移動させると、右アーム１２０Ｒは等距離だけ内側へ水平移動する。
この実施形態では、一対のアーム１２０は、ラックピニオン機構（同期機構）１４０により連結される。このため例えば、左アーム１２０Ｌの移動量に対して、右アーム１２０Ｒの移動量が等しくなり、左アーム１２０Ｌを掴んで中央に寄せるように内側へ水平移動させると、右アーム１２０Ｒは等距離だけ内側へ水平移動する。
【0024】
一対のアーム１２０を内側に同期させて移動させることにより、試験体Ｔが左右の何れかに移動して、試験体Ｔが一対のアーム１２０の間に挟まれる。
【0025】
ラックピニオン機構１４０のピニオン１５０は、箱形本体１０１の内側に支軸１５１により回転可能に支持され、支軸１５１の延長線上に、一対の支点８２の間隔Ｗの中央位置Ｍ２（図３参照）を設定している。
したがって、試験体Ｔが一対のアーム１２０間に挟まれた状態で、試験体Ｔの中央部Ｍ１が、一対の支点８２間の中央位置Ｍ２に位置決めされる。
したがって、試験体Ｔが一対のアーム１２０間に挟まれた状態で、試験体Ｔの中央部Ｍ１が、一対の支点８２間の中央位置Ｍ２に位置決めされる。
【0026】
本実施形態では、一対のアーム１２０と、一対のアーム１２０の移動量を同期させるラックピニオン機構１４０を備えるため、一対の支点８２の間隔Ｗの中央位置Ｍ２に、試験体Ｔの中央部Ｍ１を簡単に位置決めできる。
このため、従来行われていた、ケガキ線を合わせながらの目視での段取りが必要なくなり、段取り時間が短縮され、試験のタクトタイムを短くできる。
このため、従来行われていた、ケガキ線を合わせながらの目視での段取りが必要なくなり、段取り時間が短縮され、試験のタクトタイムを短くできる。
【0027】
ついで、試験体Ｔを奥行方向の正規の位置にも、横方向（中央位置Ｍ２）にも位置合わせした状態で、ポンチ台２８を降下させる。
ポンチ台２８には、スプリング２９を介してポンチ３０が取り付けられ、ポンチ３０が試験体Ｔに付与する試験力は、ロードセル２６により計測され、計測された信号は制御装置２００に入力されて、曲げ試験が行われる。
ポンチ台２８には、スプリング２９を介してポンチ３０が取り付けられ、ポンチ３０が試験体Ｔに付与する試験力は、ロードセル２６により計測され、計測された信号は制御装置２００に入力されて、曲げ試験が行われる。
【0028】
本実施形態では、一対のアーム１２０は、ベース部１００に片持ちで支持され、ベース部１００は、支点台８１の背面側に取り付けられるため、支点台８１の前面側には、試験体Ｔを配置するための広い作業スペースを確保できる。
一対のアーム１２０の対向面には、支点８２の上の正規の位置に試験体Ｔを誘導するための、目盛り（誘導マーク）１２５を設けたため、左右方向のみならず、奥行方向についても正規の位置に試験体Ｔを設置できる。
一対のアーム１２０の対向面には、支点８２の上の正規の位置に試験体Ｔを誘導するための、目盛り（誘導マーク）１２５を設けたため、左右方向のみならず、奥行方向についても正規の位置に試験体Ｔを設置できる。
【0029】
なお、本開示は、説明した上記実施形態に限定されることはなく、種々の様態で実施することが可能である。
例えば、上記実施形態では、一対のアーム１２０の同期機構として、ラックピニオン機構１４０を採用したが、本開示はこれに限定されず、例えばベルトとプーリーとの組み合わせ等による同期機構を採用してもよい。
例えば、上記実施形態では、一対のアーム１２０の同期機構として、ラックピニオン機構１４０を採用したが、本開示はこれに限定されず、例えばベルトとプーリーとの組み合わせ等による同期機構を採用してもよい。
【0030】
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0031】
（第１項）
一様態に係る材料試験機は、一対の支点の上に試験体を載せ、前記試験体の中央部に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機であって、前記一対の支点の外側に配置され、内側に移動させて前記試験体の中央部を前記一対の支点間の中央位置に位置決めする一対のアームと、前記一対のアームの移動量を同期させる同期機構と、を備えてもよい。
一様態に係る材料試験機は、一対の支点の上に試験体を載せ、前記試験体の中央部に試験負荷をかけて曲げ試験を行う材料試験機であって、前記一対の支点の外側に配置され、内側に移動させて前記試験体の中央部を前記一対の支点間の中央位置に位置決めする一対のアームと、前記一対のアームの移動量を同期させる同期機構と、を備えてもよい。
【0032】
第１項に記載の材料試験機によれば、一対のアームと、一対のアームの移動量を同期させる同期機構により、曲げ試験治具の中央に簡便に試験体を設置できる。
【0033】
（第２項）
第１項に記載の材料試験機において、前記同期機構は、前記一対のアームの移動量を同期させるラックピニオン機構を備えてもよい。
第１項に記載の材料試験機において、前記同期機構は、前記一対のアームの移動量を同期させるラックピニオン機構を備えてもよい。
【0034】
第２項に記載の材料試験機によれば、同期機構は、ラックピニオン機構としたため、同期を簡単な構成で実現できる。
【0035】
（第３項）
第２項に記載の材料試験機において、前記一対のアームはベース部に片持ちで支持され、前記ベース部に前記ラックピニオン機構が配置されてもよい。
第２項に記載の材料試験機において、前記一対のアームはベース部に片持ちで支持され、前記ベース部に前記ラックピニオン機構が配置されてもよい。
【0036】
第３項に記載の材料試験機によれば、ベース部にラックピニオン機構が配置されるため、同期機構の構成が簡素化され、試験体の設置作業時に邪魔にならない。
【0037】
（第４項）
第１項から第３項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記一対のアームは、前記一対の支点の上の奥行方向の正規の位置に前記試験体を誘導するマークを備えてもよい。
第１項から第３項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記一対のアームは、前記一対の支点の上の奥行方向の正規の位置に前記試験体を誘導するマークを備えてもよい。
【0038】
第４項に記載の材料試験機によれば、奥行方向に延びてマークがあるため、試験体を、左右方向のみならず、奥行方向についても、簡単に位置決めすることができる。
【符号の説明】
【0039】
１ 材料試験機
２０ 負荷機構
２１ 台座
２２ テーブル
２３ 支柱
３０ ポンチ
８２ 支点
８４ 調整ハンドル
１００ ベース部
１０１ 箱形本体
１０２ 蓋部材
１０４ 上部長孔
１０６ 下部長孔
１２０ アーム
１２０Ｒ 右アーム
１２０Ｌ 左アーム
１２５ 目盛り（誘導マーク）
１４０ ラックピニオン機構（同期機構）
１４２ ラック
１４２Ａ 上ラック
１４２Ｂ 下ラック
１５０ ピニオン
Ｔ 試験体
Ｍ１ 中央部
Ｍ２ 中央位置
２０ 負荷機構
２１ 台座
２２ テーブル
２３ 支柱
３０ ポンチ
８２ 支点
８４ 調整ハンドル
１００ ベース部
１０１ 箱形本体
１０２ 蓋部材
１０４ 上部長孔
１０６ 下部長孔
１２０ アーム
１２０Ｒ 右アーム
１２０Ｌ 左アーム
１２５ 目盛り（誘導マーク）
１４０ ラックピニオン機構（同期機構）
１４２ ラック
１４２Ａ 上ラック
１４２Ｂ 下ラック
１５０ ピニオン
Ｔ 試験体
Ｍ１ 中央部
Ｍ２ 中央位置
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】