特開2023-181535IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

演算装置、試料調製装置及び検出装置

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】適切な検出条件を決定する。
【解決手段】演算装置は、繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定する。演算装置は、条件が入力される入力インターフェースと、入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波による電場の染み出し深さ以下となるように、前記電磁波の周波数と、前記標識物の大きさと、前記パターンの大きさとのうち、少なくとも１つを決定するように構成されたプロセッサとを備える。
【選択図】図１

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

空隙が配置された構造体に電磁波を照射して行う物質の検出において、適切な検出条件を決定する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本実施形態の一態様によれば、演算装置は、繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定する。演算装置は、条件が入力される入力インターフェースと、入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波によ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、一演算装置の構成例の概略を示すブロック図である。
【図2A】 図２Ａは、一検出センサの構成の一例の概略を示す断面図である。
【図2B】 図２Ｂは、一検出センサの構成の一例の概略を示す平面図である。
【図3】 図３は、検出装置で取得される電磁波を検出センサに照射したときの周波数に対する反射率の一例の概略を示す図である。
【図4】 図４は、第１の、光源の周波数と、電場の染み出し深さと、ビーズサイズと、センサのパターンサイズとの関係について説明するための図である。
【図5】 図５は、第１の演算装置の動作の一例の概略を示すフローチャートである。
【図6】 図６は、第１の実施形態の適用例に関するシステムの構成例の概略を示すブロック図である。
【図7】 図７は、第２の、試料条件と、光源の周波数と、ビーズサイズと、センサのパターンサイズとの関係について説明するための図である。
【図8】 図８は、第２の演算装置の動作の一例の概略を示すフローチャートである。
【図9】 図９は、変形例に関する検出装置の構成例の概略を示すブロック図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

１０…システム、１００…演算装置、１１１…ＣＰＵ、１１３…メモリ、１１５…記憶装置、１２１…バスライン、１２３…入力Ｉ／Ｆ、１２５…出力Ｉ／Ｆ、１３０…入力装置、１５０…外部装置、２００…供給装置、２２０…貯蔵庫、２２１…第１の容器、２２２…第２の容器、２２３…第３の容器、２３０…駆動回路、２３１…第１のシャッター、２３２…第２のシャッター、２３３…第３のシャッター、２４０…排出路、２５０…反応容器、３００…検出装置、３１０…移動機構、３２０…照射部、３２１…第１の光源、３２２…第２の光源、３２３…第３の光源、３３０…駆動部、３３１…第１の駆動回路、３３２…第２の駆動回路、３３３…第３の駆動回路、３４０…受信部、３５０…ＡＤ変換回路、４０１…センサ、４０３…基板、４０４…膜、４０６…空隙、４１０…第１のセンサ、４２０…第２のセンサ、４３０…第３のセンサ、５１０…第１のビーズ、５２０…第２のビーズ、５３０…第３のビーズ、６０１…反応液、６０２…検出対象物。

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