特開2023-182082IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

例えば、薄鋼板の欠陥を検出する漏洩磁気検査装置、漏洩磁気検査装置の調整方法及び、欠陥検査方法

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】励磁器の磁束の方向に直交する方向の欠陥を精度よく検出することが可能な漏洩磁気検査装置を提供する。
【解決手段】 漏洩磁気検査装置は、一端側に互いに異なる磁極が形成され、かつ前記一の方向に対して直交する方向に沿って配列される一対の脚部を有する励磁器と、前記一対の脚部の一端側において、前記一対の脚部の一方から他方に向かって配列され、かつ磁束を検出する複数の検出器と、前記複数の検出器の各々の検出信号に基づいて前記検査対象物の欠陥を検出する欠陥検出ユニットと、を備える。前記欠陥検出ユニットは、前記複数の検出器の前記検出信号の各々に対して、前記一対の脚部間の磁気環境に応じたバイアス信号を加えるバイアス部と、前記バイアス部を通過した前記検出器ごとの信号に対して増幅処理を行うアンプ部と、前記増幅処理がされた信号に基づいて欠陥判定を行う欠陥判定部と、を含む。
【選択図】図1

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献1~3に記載された技術を適用して、励磁器の磁極間の磁束のばらつきを低減しても、当該磁束密度を完全に均一化するのは困難である。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するため、本発明は以下の特徴を有する。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、バイアス部を有することにより、励磁器の磁極間に形成される磁気環境の影響を緩和させることができる。したがって、アンプによる検出信号の増幅量を一様にすることができ、例えば、低周波の信号を精度よく検出することが可能となる。その結果、例えば、薄鋼板の長手方向に形成された欠陥を精度よく検出することが可能となる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 漏洩磁気検査装置の構成を示す構成図である。
【図2】 漏洩磁気検査装置を用いた検査対象物の欠陥検査の態様を示す説明図である。
【図3】 図1の欠陥検出ユニットの構成を示すブロック図である。
【図4】 バイアス器の各々のバイアス信号を設定する態様を示す説明図である。
【図5】 励磁ヨークの磁極間の幅方向の位置における磁束密度を示すグラフである。
【図6】 バイアス部による検出器の検出信号に対してバイアス信号を加える態様を示す説明図である。
【図7】 第2欠陥検出ユニットの構成を示すブロック図である。
【図8】 励磁ヨークの磁極間の幅方向の位置における磁束密度を示すグラフである。
【図9】 第3欠陥検出ユニットの構成を示すブロック図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

100 漏洩磁気検査装置 10 搬送部 20 励磁器 21a 脚部 31~36 検出器 40 欠陥検出ユニット 41 バイアス部 42 アンプ部 45 欠陥判定部 46 バイアス信号設定部 61 バイアス信号設定部 62 設定情報入力部 71 バイアス信号設定部 72 信号入力部

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