特開 2023-182474 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023182474

(43)【公開日】2023-12-26

(54)【発明の名称】分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01N 30/02 20060101AFI20231219BHJP

   G01N 30/86 20060101ALI20231219BHJP

【ＦＩ】

G01N30/02 Z

G01N30/86 D

G01N30/86 G

G01N30/86 Z

【審査請求】未請求

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022096098

(22)【出願日】2022-06-14

(71)【出願人】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川 雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根 剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村 英幸

(72)【発明者】

【氏名】藤崎 真一

(72)【発明者】

【氏名】川瀬 智裕

(57)【要約】

【課題】測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することを課題とする。
【解決手段】分析支援装置は、分析装置に与えられる複数の分析条件データＡＰと、複数の分析条件データＡＰに基づいて分析装置で得られた複数の測定データＭＤを用いて、回帰分析により測定品質指標データＭＱの分布を推定する推定部２０３と、測定品質指標データＭＱの分布をディスプレイ１０４に出力する分析支援情報出力部２０４とを備える。分析条件データＡＰは、第１の因子を含む。推定部２０３は、第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱの分布を推定する。分析支援情報出力部２０４は、それぞれの分布をディスプレイ１０４に出力する。
【選択図】図３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する分析支援情報出力部と、
を備え、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定部は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定し、
前記分析支援情報出力部は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する、分析支援装置。

【請求項2】

前記分析支援情報出力部は、前記それぞれの分布を前記表示装置に並列表示させる、請求項１に記載の分析支援装置。

【請求項3】

前記表示装置に出力される前記それぞれの分布は、デザインスペースを含む、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。

【請求項4】

前記表示装置に出力される前記それぞれの分布において、表示軸である因子のスケールとして同じスケールが使用される、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。

【請求項5】

前記表示装置に出力される前記それぞれの分布は、１つの表示画面内に配置される、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。

【請求項6】

前記第１の因子として、連続した値で表現できない因子が用いられる、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。

【請求項7】

分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する出力工程と、
を含み、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定工程は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定する工程を含み、
前記出力工程は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する工程を含む、分析支援方法。

【請求項8】

コンピュータに分析支援方法を実行させる分析支援プログラムであって、
前記分析支援方法は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する出力工程と、
を含み、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定工程は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定する工程を含み、
前記出力工程は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する工程を含む、分析支援プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、分析装置から得られる測定データを扱う分析支援装置、方法およびプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

試料の成分を分析する分析装置がある。分析装置に設定される分析条件によって、試料の分析結果に変化が生じる。分析条件は複数の因子を含み、複数の因子の値に応じて、その応答である分析結果が変化する。デザインスペースは、この因子と応答との関係を視覚的に描画したものである。デザインスペースは、測定結果の品質を確保することのできる因子の範囲を検討するために活用される。

【0003】

例えば、ＨＰＬＣ(高速液体クロマトグラフ)を用いた分析において、特定のカラムに対応したデザインスペースを作成することができる。このデザインスペースを参照することにより、そのカラムの分離度（応答）が、カラムオーブン温度（因子）や移動相流量（因子）の変動領域においてどのように変化するかを視覚的に理解することができる。このように、デザインスペースは、分離度などの測定品質指標の分布をユーザに視覚的に提供する。これにより、ユーザは、測定品質指標（例えば、カラムの分離度）の評価を効率的に行うことができる。下記特許文献１においては、コンピュータの画面にデザインスペースを表示させる方法が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０２１－１７３６２８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

デザインスペースを活用することで、上述したように、因子と応答との関係を視覚的に把握することができる。さらに、デザインスペースを有意義に活用することで、分析条件と測定結果の品質との関係について詳しい考察が可能となることが期待される。

【0006】

本発明の目的は、測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一局面に従う分析支援装置は、分析装置に与えられる複数の分析条件データと、複数の分析条件データに基づいて分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定部と、測定品質指標データの分布を表示装置に出力する分析支援情報出力部とを備え、分析条件データは、第１の因子を含み、推定部は、第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データの分布を推定し、分析支援情報出力部は、それぞれの分布を表示装置に出力する。

【0008】

本発明の他の局面に従う分析支援方法は、分析装置に与えられる複数の分析条件データと、複数の分析条件データに基づいて分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、測定品質指標データの分布を表示装置に出力する出力工程とを含み、分析条件データは、第１の因子を含み、推定工程は、第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データの分布を推定する工程を含み、出力工程は、それぞれの分布を表示装置に出力する工程を含む。

【発明の効果】

【0009】

本発明によれば、測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】本実施の形態に係る分析システムの全体図である。

【図2】本実施の形態に係るコンピュータの構成図である。

【図3】本実施の形態に係るコンピュータの機能ブロック図である。

【図4】実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。

【図5】実施の形態に係る分析支援画面を示す図である。

【図6】実施の形態に係る作成画面を示す図である。

【図7】実施の形態に係る作成画面を示す図である。

【図8】他の実施の形態に係る分析支援画面を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

次に、添付の図面を参照しながら本発明の実施の形態に係る分析支援装置、方法およびプログラムについて説明する。

【0012】

（１）分析システムの全体構成
図１は、本実施の形態に係る分析システム５の全体図である。分析システム５は、コンピュータ１および液体クロマトグラフ３を備える。コンピュータ１および液体クロマトグラフ３は、ネットワーク４を介して接続される。ネットワーク４は、例えばＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）である。

【0013】

コンピュータ１は、液体クロマトグラフ３に分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３における測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。コンピュータ１には、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムがインストールされる。

【0014】

液体クロマトグラフ３は、ポンプユニット、オートサンプラユニット、カラムオーブンユニットおよび検出器ユニットなどを備える。液体クロマトグラフ３は、また、システムコントローラを備える。システムコントローラは、コンピュータ１からネットワーク４経由で受信した制御指示に従って、液体クロマトグラフ３を制御する。システムコントローラは、液体クロマトグラフ３の測定結果のデータを、ネットワーク４経由でコンピュータ１に送信する。

【0015】

（２）コンピュータ（分析支援装置）の構成
図２は、コンピュータ１の構成図である。コンピュータ１は、本実施の形態においてはパーソナルコンピュータが利用される。コンピュータ１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１０１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１０２、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１０３、ディスプレイ１０４、操作部１０５、記憶装置１０６、通信インタフェース１０７、および、デバイスインタフェース１０８を備える。

【0016】

ＣＰＵ１０１は、コンピュータ１の制御を行う。ＲＡＭ１０２は、ＣＰＵ１０１がプログラムを実行するときにワークエリアとして使用される。ＲＯＭ１０３には、制御プログラムなどが記憶される。ディスプレイ１０４は、例えば液晶ディスプレイである。ディスプレイ１０４は、本発明の表示装置の例である。操作部１０５は、ユーザの操作を受け付けるデバイスであり、キーボード、マウスなどを含む。ディスプレイ１０４がタッチパネルディスプレイで構成され、ディスプレイ１０４が操作部１０５としての機能を備えていても良い。記憶装置１０６は、各種プログラムおよびデータを記憶する装置である。記憶装置１０６は、例えばハードディスクである。通信インタフェース１０７は、他のコンピュータおよびデバイスと通信を行うインタフェースである。通信インタフェース１０７は、ネットワーク４に接続される。デバイスインタフェース１０８は、各種の外部デバイスにアクセスするインタフェースである。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８に接続された外部デバイス装置を介して記憶媒体１０９にアクセスすることができる。

【0017】

記憶装置１０６には、分析支援プログラムＰ１、分析条件データＡＰ、測定データＭＤ、測定品質指標データＭＱおよび分布データＤＤが記憶される。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムである。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３に対して分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３から測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。分析条件データＡＰは、液体クロマトグラフ３に設定する分析条件を記述したデータであり、複数の因子を含む。各因子にパラメータが設定されることにより、分析条件データＡＰが作成される。測定データＭＤは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果のデータである。

【0018】

測定品質指標データＭＱは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果の品質を評価するためのデータである。測定品質指標データＭＱは、例えば、最小分離度、分離ピーク数などである。分離度は、クロマトグラムにおいて特定されたピーク間の距離を評価する値である。クロマトグラムにおいては、複数の成分に対応した複数のピークが出現する。これら複数のピークから算出される複数の分離度の中で最小の値を最小分離度として測定品質指標とすることができる。最小分離度が所定の閾値を超えることにより、液体クロマトグラフ３における測定結果が有効であると判定することができる。分離ピーク数は、クロマトグラムにおいて特定されたピークの数である。ユーザが予め測定対象の試料に含まれる物質の数を把握している場合には、分離ピーク数は測定品質指標とすることができる。分離ピーク数が所定の閾値を超えることにより、液体クロマトグラフ３における測定結果が有効であると判定することができる。

【0019】

分布データＤＤは、実際に液体クロマトグラフ３に設定された分析条件データＡＰおよび実際に液体クロマトグラフ３において測定された測定データＭＤに基づいて推定された測定品質指標データＭＱの分布を示すデータである。分布データＤＤは、測定品質指標データＭＱの応答曲面を示す。

【0020】

図３は、コンピュータ１の機能ブロック図である。制御部２００は、ＣＰＵ１０１が、ＲＡＭ１０２をワークエリアとして使用し、分析支援プログラムＰ１を実行することにより実現される機能部である。制御部２００は、分析管理部２０１、算出部２０２、推定部２０３および分析支援情報出力部２０４を備える。

【0021】

分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３の制御を行う。分析管理部２０１は、ユーザによる分析条件データＡＰの設定および分析処理の開始指示を受けて、液体クロマトグラフ３に対する分析処理の指示を行う。分析管理部２０１は、また、液体クロマトグラフ３から測定データＭＤを取得する。

【0022】

算出部２０２は、液体クロマトグラフ３における測定結果を示す測定データＭＤに基づいて、測定品質指標データＭＱを算出する。算出部２０２は、測定品質指標データＭＱとして、最小分離度や分離ピーク数を算出する。

【0023】

推定部２０３は、実際の測定に用いられた分析条件データＡＰ、および、その分析条件データＡＰに基づいて実際に算出された測定品質指標データＭＱに基づいて、測定品質指標データＭＱの分布を示す分布データＤＤを推定する。分布データＤＤには、実際に分析されていない分析条件データに対する測定品質指標データＭＱの推定値が含まれる。推定部２０３は、分布データＤＤを推定するために回帰分析を行う。具体的には、実際に用いられる複数の分析条件データＡＰ、および、実際に測定された測定データＭＤから算出された複数の測定品質指標データＭＱとの間の回帰式を取得する。そして、実際に用いられていない他の分析条件データに対して、回帰式を適用させることにより、それら他の分析条件データに対する測定品質指標データＭＱを推定する。

【0024】

本実施の形態においては、推定部２０３は、分析条件データＡＰに含まれる第１の因子の値が、第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱの分布を推定する。例えば、分析条件データＡＰに含まれる第１の因子がカラムの種類であるとする。この場合、推定部２０３は、分析条件データＡＰに含まれるカラムの種類がカラムＡ（第１の値）である場合とカラムＢ（第２の値）である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱの分布を推定する。

【0025】

分析支援情報出力部２０４は、分析条件データＡＰ、推定部２０３において推定された測定品質指標データＭＱ、および、分布データＤＤなどを用いて、ディスプレイ１０４に対して分析支援のための情報を出力する。分析支援情報出力部２０４は、第１の因子の値が第１の値である場合の測定品質指標データＭＱの分布に基づいて表示情報を出力する。また、分析支援情報出力部２０４は、第１の因子の値が第２の値である場合の測定品質指標データＭＱの分布に基づいて表示情報を出力する。

【0026】

（３）分析支援方法
次に、本実施の形態に係るコンピュータ１（分析支援装置）において実行される分析支援方法について説明する。図４は、本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。図４で示す処理は、ＣＰＵ１０１が分析支援プログラムＰ１を実行することにより、実現される処理である。図４に示す処理を開始する前に、予め、ユーザが操作部１０５を操作し、複数の分析条件データＡＰの設定を行う。具体的には、ユーザは、溶媒初期濃度、溶媒混合比、グラジエント初期値、グラジエント勾配、カラム温度などの因子のパラメータの組み合わせを、分析条件データＡＰとして設定する。例えば、溶媒濃度を少しずつ変化させたパラメータの組み合わせや、カラム温度を少しずつ変化させたパラメータの組み合わせなどを分析条件データＡＰとして設定する。また、因子として、カラムの種類が設定される。この後の説明において、分析条件データＡＰに含まれる第１の因子としてカラムの種類が設定される場合を例に説明する。また、カラムの種類に設定されるパラメータとして、カラムＡ（第１の値）およびカラムＢ（第２の値）が設定される場合を例に説明する。このようなユーザの設定操作を受けて、分析管理部２０１は、記憶装置１０６に複数の分析条件データＡＰを保存する。

【0027】

次に、図４に示すステップＳ１０１において、分析管理部２０１が、第１の因子として第１の値および第２の値を含む複数の分析条件データＡＰを液体クロマトグラフ３に設定する。具体的には、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３のシステムコントローラに対して、複数の分析条件データＡＰを設定する。これに応じて、液体クロマトグラフ３において、設定された複数の分析条件データＡＰに基づいて、同一の試料に対して複数回の分析処理が実行される。この実施の形態の例では、液体クロマトグラフ３において、カラムＡを用いた複数回の分析処理と、カラムＢを用いた複数回の分析処理とが実行される。

【0028】

次に、ステップＳ１０２において、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３から第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの複数の測定データＭＤを取得する。この実施の形態の例では、分析管理部２０１は、カラムＡを用いた複数回の分析処理に基づく測定データＭＤと、カラムＢを用いた複数回の分析処理に基づく測定データＭＤとを取得する。分析管理部２０１は、記憶装置１０６に、取得した複数の測定データＭＤを保存する。

【0029】

次に、算出部２０２が、ステップＳ１０２において記憶装置１０６に保存された複数の測定データＭＤを取得する。そして、ステップＳ１０３において、算出部２０２が、取得した複数の測定データＭＤから第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱを取得する。この実施の形態の例では、算出部２０２は、カラムＡに対応した複数の測定データＭＤから複数の測定品質指標データＭＱを取得し、カラムＢに対応した複数の測定データＭＤから複数の測定品質指標データＭＱを取得する。

【0030】

次に、ステップＳ１０４において、推定部２０３は、第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれについて、複数の分析条件データＡＰおよび複数の測定品質指標データＭＱに基づいて回帰分析を行う。これにより、推定部２０３は、分析条件と測定品質指標との間の回帰式を算出する。この実施の形態の例では、推定部２０３は、カラムＡに対応した複数の測定データＭＤおよび複数の測定品質指標データＭＱに基づいて回帰分析を行い、および、カラムＢに対応した複数の測定データＭＤおよび複数の測定品質指標データＭＱに基づいて回帰分析を行う。本実施の形態においては、回帰分析を行うときに、ベイズ推定を用いている。他に、回帰分析として最小二乗法を用いることも可能である。

【0031】

続いて、推定部２０３は、ステップＳ１０５において、回帰式に基づいて第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱの分布を推定する。この実施の形態の例では、推定部２０３は、カラムＡに対応した測定品質指標データＭＱの分布を推定し、第１分布データＤＤ１を取得する。また、推定部２０３は、カラムＢに対応した測定品質指標データＭＱの分布を推定し、第２分布データＤＤ２を取得する。推定部２０３は、図２および図３に示すように、分布データＤＤ１，ＤＤ２を記憶装置１０６に保存する。

【0032】

分析支援プログラムＰ１による以上のステップＳ１０１～Ｓ１０５がコンピュータ１において実行されることにより、実際に分析が実行された分析条件以外の分析条件についても、測定品質指標が推定される。この実施の形態の例では、第１の因子がカラムＡ（第１の値）である場合において、実際に分析が実行された分析条件以外の分析条件についても、測定品質指標が推定される。また、第１の因子がカラムＢ（第２の値）である場合において、実際に分析が実行された分析条件以外の分析条件についても、測定品質指標が推定される。

【0033】

次に、ステップＳ１０６において、分析支援情報出力部２０４が、複数のデザインスペースを比較可能な態様でディスプレイ１０４に出力する。この実施の形態の例では、分析支援情報出力部２０４が、第１の因子がカラムＡ（第１の値）である場合のデザインスペースと第１の因子がカラムＢ（第２の値）である場合のデザインスペースとを、比較可能な態様でディスプレイ１０４に出力する。つまり、分析支援情報出力部２０４が、第１分布データＤＤ１に基づくデザインスペースと第２分布データＤＤ２に基づくデザインスペースとを、比較可能な態様でディスプレイ１０４に出力する。

【0034】

（４）分析支援画面
図５は、分析支援情報出力部２０４がディスプレイ１０４に出力する分析支援画面２１０を示す図である。分析支援画面２１０には、カラムＡに対応するヒートマップ２１１ＡおよびカラムＢに対応するヒートマップ２１１Ｂが並列表示されている。分析支援情報出力部２０４は、第１分布データＤＤ１に基づいてカラムＡに関するヒートマップを出力し、および、第２分布データＤＤ２に基づいてカラムＢに関するヒートマップを出力する。ヒートマップは、デザインスペースとして利用される。デザインスペースとしてのヒートマップは、測定結果の品質を確保することのできる因子の範囲を検討するために活用される。

【0035】

図５に示すように、ヒートマップは、２つの因子を軸として描かれた応答のマップである。表示軸として用いられるこれらの因子を軸因子と呼ぶ。これに対して、第１の因子が比較対象となる因子（ここではカラム）である。ヒートマップでは、応答の値に応じて、応答の分布が色分け表示される。図５の例では、カラムＡおよびカラムＢについて、それぞれ、最小分離度および評価値の２つの応答に対応した２つのヒートマップが描画されている。評価値は、測定品質を表す値であり、分離度などに基づいて算出される。最小分離度および評価値に関する２つのヒートマップは、いずれも、初期濃度（％）と移動相Ｍ１（％）の２つの軸因子を軸として描かれている。縦軸の軸因子である初期濃度（％）は、移動相Ｍ１の初期濃度である。横軸の軸因子である移動相Ｍ１（％）は、移動相Ｍ１の混合比率を示す。このヒートマップを参照することで、ユーザは、軸因子である初期濃度（％）と移動相Ｍ１（％）を変化させることにより、その応答（最小分離度または評価値）がどのように変化するかを視覚的に把握することができる。

【0036】

また、カラムＡおよびカラムＢに関するヒートマップ２１１Ａおよび２１１Ｂが、１つの表示画面である分析支援画面２１０に配置されている。ユーザは、並列配置されたカラムＡおよびカラムＢのヒートマップ２１１Ａ，２１１Ｂを参照することで、測定品質を分かりやすく比較することができる。ユーザは、デザインスペースを検討する上で、カラムの種類が与える影響を把握し易い。また、分析支援画面２１０において、表示軸である軸因子（初期濃度（％）および移動相Ｍ１（％））のスケールは、それぞれのヒートマップ２１１Ａ，２１１Ｂで同じスケールが使用される。これにより、ユーザは、カラムＡおよびカラムＢのデザインスペースを比較することが容易である。

【0037】

図６は、デザインスペースを作成するための作成画面２２０を示す図である。つまり、図５で示した分析支援画面２１０を作成するための画面である。図６に示すように、作成画面２２０には、メソッドメニュー、変数設定メニューおよびカテゴリーメニューが配置されて。メソッドメニューは、回帰分析に使用する回帰手法を選択するメニューである。図の例では、ユーザは、最小二乗法とベイズ推定の２つの回帰手法を選択可能である。変数設定メニューは、分析支援画面２１０に表示させるヒートマップの軸因子を設定するメニューである。図の例では、ヒートマップの軸因子として、初期濃度（％）および移動相Ｍ１（％）が選択されている状態を示している。

【0038】

カテゴリーメニューは、分析支援画面２１０に表示させるヒートマップのカテゴリーを設定するメニューである。図の例では、カテゴリーとしてカラムＡが選択されている。つまり、分析支援画面２１０には、カラムＡに関するヒートマップが表示される設定となっている。言い換えると、分析条件データＡＰに含まれる複数の因子のうち、カテゴリーメニューにおいて、特定の因子（第１の因子）の値を固定し、その固定された値についてのデザインスペースが作成可能となっている。

【0039】

図７は、カテゴリーメニューにおいて、２つのカラムＡおよびカラムＢを選択している状態を示す。このように、２つのカラムＡおよびカラムＢを選択することにより、図５に示したように、カラムＡおよびカラムＢに対応した２つのヒートマップ２１１Ａ，２１１Ｂが表示される。

【0040】

以上説明したように、本実施の形態の分析支援装置であるコンピュータ１は、第１の因子（例えばカラムの種類）が第１の値（カラムＡ）である場合と第２の値（カラムＢ）である場合のそれぞれの測定品質指標データＭＱの分布を推定し、それぞれの分布をディスプレイ１０４に出力する。ディスプレイ１０４に表示されるそれぞれの分布は、デザインスペースとして利用される。ユーザは、特定の因子（第１の因子）について、異なる値を設定したときのデザインスペースを比較することができる。従来であれば、特定の因子について、特定の値を設定してデザインスペースを作成し、それらを別個記憶装置に保存するなどしていた。そして、個別に作成されたデザインスペースを比較することは煩雑な作業であって。本実施の形態であれば、特定の因子の値に対応した複数のデザインスペースが一括作成されるとともに比較表示されるので、ユーザは、容易に測定品質を検討することができる。第１の因子として、本実施の形態ではカラムが選択されたが、他にも移動相の組み合わせ、試料の前処理方法等が選択されてもよい。第１の因子は、軸因子とは異なり、連続した値で表現できない因子を用いることができる。

【0041】

（５）その他の実施の形態
上記実施の形態においては、分析支援画面２１０にカラムＡおよびカラムＢに対応した２つのヒートマップ２１１Ａ，２１１Ｂを表示させる場合を例に説明した。これは一例であり、分析支援情報出力部２０４がディスプレイ１０４に出力するヒートマップの数は３つ以上であってもよい。図８は、カラムＡ、カラムＢおよびカラムＣに対応した３つのヒートマップ２１１Ａ，２１１Ｂ，２１１Ｃが表示されている例を示す。

【0042】

上記実施の形態においては、本発明の分析装置として、液体クロマトグラフ３を例に説明した。本発明は、他にも、ガスクロマトグラフにも適用可能である。また、上記の実施の形態において、本実施の形態の分析支援装置であるコンピュータ１は、ネットワーク４を介して分析装置である液体クロマトグラフ３に接続される場合を例に説明した。他の実施の形態として、コンピュータ１が、分析装置に内蔵される構成であってもよい。

【0043】

上記実施の形態においては、分析支援プログラムＰ１は、記憶装置１０６に保存されている場合を例に説明した。他の実施の形態として、分析支援プログラムＰ１は、記憶媒体１０９に保存されて提供されてもよい。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を、記憶装置１０６またはＲＯＭ１０３に保存するようにしてもよい。あるいは、ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を実行するようにしてもよい。あるいは、分析支援プログラムＰ１がネットワーク上のサーバに保存されている場合には、ＣＰＵ１０１は、通信インタフェース１０７を介して分析支援プログラムＰ１をダウンロードする形態であってもよい。

【0044】

（６）態様
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0045】

（第１項）
一態様に係る分析支援装置は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する分析支援情報出力部と、
を備え、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定部は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定し、
前記分析支援情報出力部は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する。

【0046】

測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することができる。

【0047】

（第２項）
第１項に記載の分析支援装置において、
前記分析支援情報出力部は、前記それぞれの分布を前記表示装置に並列表示させてもよい。

【0048】

分布が並列表示されるので、ユーザはそれぞれの分布を比較することが容易である。

【0049】

（第３項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記表示装置に出力される前記それぞれの分布は、デザインスペースを含んでもよい。

【0050】

ユーザはそれぞれのデザインスペースを参照することにより、測定品質を確保することのできる因子の範囲を比較検討することができる。

【0051】

（第４項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記表示装置に出力される前記それぞれの分布において、表示軸である因子のスケールとして同じスケールが使用されてもよい。

【0052】

それぞれの分布がスケールを合わせて表示されるので、ユーザは、それぞれの分布を比較検討することが容易である。

【0053】

（第５項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記表示装置に出力される前記それぞれの分布は、１つの表示画面内に配置されてもよい。

【0054】

それぞれの分布が１つの表示画面内に配置されるので、ユーザは、それぞれの分布を比較検討することが容易である。

【0055】

（第６項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記第１の因子として、連続した値で表現できない因子が用いられてもよい。

【0056】

部品の種類など連続した値で表現できない因子について比較することができる。

【0057】

（第７項）
他の態様に係る分析支援方法は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する出力工程と、
を含み、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定工程は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定する工程を含み、
前記出力工程は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する工程を含む。

【0058】

測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することができる。

【0059】

（第８項）
他の態様に係る分析支援プログラムは、
コンピュータに分析支援方法を実行させる分析支援プログラムであって、
前記分析支援方法は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、回帰分析により測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記測定品質指標データの分布を表示装置に出力する出力工程と、
を含み、
前記分析条件データは、第１の因子を含み、
前記推定工程は、前記第１の因子が第１の値である場合と第２の値である場合のそれぞれの前記測定品質指標データの分布を推定する工程を含み、
前記出力工程は、前記それぞれの分布を前記表示装置に出力する工程を含む。

【0060】

測定品質指標の分布について有意義な情報をユーザに提供することができる。

【符号の説明】

【0061】

１…コンピュータ（分析支援装置）、１０１…ＣＰＵ、１０２…ＲＡＭ、１０３…ＲＯＭ、１０４…ディスプレイ、１０５…操作部、１０６…記憶装置、２０１…分析管理部、２０２…算出部、２０３…推定部、２０４…分析支援情報出力部、２１０…分析支援画面、２１１Ａ，２１１Ｂ，２１１Ｃ…ヒートマップ、Ｐ１…分析支援プログラム、ＡＰ…分析条件データ、ＭＤ…測定データ、ＭＱ…測定品質指標データ、ＤＤ…分布データ、ＤＤ１…第１分布データ、ＤＤ２…第２分布データ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】