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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023184337
(43)【公開日】2023-12-28
(54)【発明の名称】非破壊検査方法
(51)【国際特許分類】
G01N 27/83 20060101AFI20231221BHJP
【ＦＩ】
G01N27/83
【審査請求】未請求
【請求項の数】17
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022098422
(22)【出願日】2022-06-17
(71)【出願人】
【識別番号】000144991
【氏名又は名称】株式会社四国総合研究所
(74)【代理人】
【識別番号】100134979
【弁理士】
【氏名又は名称】中井 博
(74)【代理人】
【識別番号】100167427
【弁理士】
【氏名又は名称】岡本 茂樹
(74)【代理人】
【識別番号】100144509
【弁理士】
【氏名又は名称】山本 洋三
(72)【発明者】
【氏名】内田 徹
(72)【発明者】
【氏名】白石 浩造
(72)【発明者】
【氏名】中西 美一
【テーマコード（参考）】
2G053
【Ｆターム（参考）】
2G053AA11
2G053AB22
2G053BA02
2G053CA18
2G053DA01
2G053DB02
2G053DB03
2G053DB14
2G053DB19
(57)【要約】
【課題】コンクリート構造物内に設けられた鉄筋等の損傷の有無を精度よく推定することができる非破壊検査方法を提供する。
【解決手段】コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと平行かつ検査対象Ｐの第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象Ｐの破断の有無を判断する。
【選択図】図１
【解決手段】コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと平行かつ検査対象Ｐの第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象Ｐの破断の有無を判断する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
該差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
該差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
【請求項2】
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、
各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘおよび／または各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘおよび／または各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
【請求項3】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。
【請求項4】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
差ΔｄＢｘを第一軸とし差ΔｄＸｘを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、
差ΔｄＢｘを第一軸とし差ΔｄＸｘを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
【請求項5】
コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から位置の差Ｙの測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差ΔｄＸｘを前記一次近似式により推定した値ΔｄＸｘ（Ｙ）とし、
ΔｄＸｘ（Ｙ）／ΔｄＸｘ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から位置の差Ｙの測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差ΔｄＸｘを前記一次近似式により推定した値ΔｄＸｘ（Ｙ）とし、
ΔｄＸｘ（Ｙ）／ΔｄＸｘ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査方法。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
【請求項6】
コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置における第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｙおよび／または差Δｄ２Ｘｙに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置における第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｙおよび／または差Δｄ２Ｘｙに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
【請求項7】
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数βで除した値Δｄ２Ｂｙ／βとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、
各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
【請求項8】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１との関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１との関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または値Δｄ２Ｘｙ・αが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１との関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１との関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または値Δｄ２Ｘｙ・αが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
【請求項9】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１をそれぞれ算出し、
値Δｄ２Ｂｙ／β１を第一軸とし値Δｄ２Ｘｙ・α１を第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１をそれぞれ算出し、
値Δｄ２Ｂｙ／β１を第一軸とし値Δｄ２Ｘｙ・α１を第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
【請求項10】
コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における値Δｄ２Ｘｙ・αを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ）とし、
（Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ））／（Δｄ２Ｘｙ（０）・α（０））と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数のまたは０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における値Δｄ２Ｘｙ・αを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ）とし、
（Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ））／（Δｄ２Ｘｙ（０）・α（０））と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項６記載の非破壊検査方法。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数のまたは０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
【請求項11】
コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置における第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置における第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚに基づいて検査対象の破断の有無を判断する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
【請求項12】
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、
各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
【請求項13】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す判断一次近似式を作成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
【請求項14】
前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｚを第一軸とし差Δｄ２Ｘｚを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、
複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、
各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、
差Δｄ２Ｂｚを第一軸とし差Δｄ２Ｘｚを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、
コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
【請求項15】
コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差Δｄ２Ｘｚを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）とし、
Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）／Δｄ２Ｘｚ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、
第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差Δｄ２Ｘｚを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）とし、
Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）／Δｄ２Ｘｚ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、
該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定する
ことを特徴とする請求項１１記載の非破壊検査方法。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
【請求項16】
第二方向における検査対象から測定位置までの距離Ｙａとコンクリート構造物の表面から検査対象までの距離Ｚａとの関係を示すＹａ／Ｚａが０～１．５となる測定位置において測定した磁束密度の変動から得られる微分曲線の極大値と極小値の差および／または微分曲線の極大値の位置と極小値の位置の差を用いて前記検査対象の破断の有無を推定する
ことを特徴とする請求項１から１５のいずれかに記載の非破壊検査方法。
ことを特徴とする請求項１から１５のいずれかに記載の非破壊検査方法。
【請求項17】
距離Ｚａが１００ｍｍである場合において、距離Ｙａが０～１５０ｍｍである
ことを特徴とする請求項１６記載の非破壊検査方法。
ことを特徴とする請求項１６記載の非破壊検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本願発明は、非破壊検査方法に関する。さらに詳しくは、漏洩磁束法を使用してコンクリート構造物内に設けられている鉄筋や鋼棒、鋼線等の破断を検出する非破壊検査方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来から、コンクリート構造物内に設けられた鉄筋や鋼棒、鋼線等（以下鉄筋等という）の損傷部を検出する非破壊検査方法として漏洩磁束法がある。この漏洩磁束法では、永久磁石等の磁石をコンクリートの表面に沿って移動させることにより鉄筋等を磁化させ、その後、コンクリートの表面から漏れる磁束密度を測定する。そして、磁束密度の測定結果に基づいて、鉄筋等の損傷の有無を検出する。この漏洩磁束法を利用した鉄筋等の損傷部を検出する技術が特許文献１～６に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特許第３７３４８２２号公報
【特許文献2】特許第５９４６６３８号公報
【特許文献3】ＷＯ２０２０／０２７０２８号公報
【特許文献4】ＷＯ２０２０／０２７０４３号公報
【特許文献5】特許第６３０５８６０号公報
【特許文献6】特開２０２０-１４８５６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献１～６に開示されている技術を使用することによって、ある程度の精度で鉄筋等の損傷部を検出することができるが、損傷部をより精度よく判断できる方法が求められている。
【0005】
本発明は上記事情に鑑み、コンクリート構造物内に設けられた鉄筋等の破断の有無を精度よく推定することができる非破壊検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
＜Ｘ軸方向＞
第１発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、該差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする非破壊検査方法。
第２発明の非破壊検査方法は、第１発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘおよび／または各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第３発明の非破壊検査方法は、第１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第４発明の非破壊検査方法は、第１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、差ΔｄＢｘを第一軸とし差ΔｄＸｘを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第５発明の非破壊検査方法は、第１発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差ΔｄＸｘを前記一次近似式により推定した値ΔｄＸｘ（Ｙ）とし、ΔｄＸｘ（Ｙ）／ΔｄＸｘ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
＜Ｙ軸方向＞
第６発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線をそれぞれ形成し、各測定位置における第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｙおよび／または差Δｄ２Ｘｙに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする。
第７発明の非破壊検査方法は、第６発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数βで除した値Δｄ２Ｂｙ／βとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
第８発明の非破壊検査方法は、第６発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１との関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１との関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または値Δｄ２Ｘｙ・αが前記判断一次近似式上に分布する場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
第９発明の非破壊検査方法は、第６発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１をそれぞれ算出し、値Δｄ２Ｂｙ／β１を第一軸とし値Δｄ２Ｘｙ・α１を第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
第１０発明の非破壊検査方法は、第６発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙにおける値Δｄ２Ｘｙ・αを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ）とし、（Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ））／（Δｄ２Ｘｙ（０）・α（０））と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、正の数または０の場合「＋１」、負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
＜Z軸方向＞
第１１発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線をそれぞれ形成し、各測定位置における第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする。
第１２発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第１３発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第１４発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｚを第一軸とし差Δｄ２Ｘｚを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第１５発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差Δｄ２Ｘｚを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）とし、Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）／Δｄ２Ｘｚ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
第１６発明の非破壊検査方法は、第１～第１５発明において、第二方向における検査対象から測定位置までの距離Ｙａとコンクリート構造物の表面から検査対象までの距離Ｚａとの関係を示すＹａ／Ｚａが０～１．５となる測定位置において測定した磁束密度の変動から得られる微分曲線の極大値と極小値の差および／または微分曲線の極大値の位置と極小値の位置の差を用いて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第１７発明の非破壊検査方法は、第１６発明において、距離Ｚａが１００ｍｍである場合において、距離Ｙａが０～１５０ｍｍであることを特徴とする。
第１発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、該差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする非破壊検査方法。
第２発明の非破壊検査方法は、第１発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘおよび／または各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第３発明の非破壊検査方法は、第１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび／または差ΔｄＸｘが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第４発明の非破壊検査方法は、第１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第一方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第一方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第一方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向変動曲線を一階微分した第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差ΔｄＢｘ、および／または、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘをそれぞれ算出し、差ΔｄＢｘを第一軸とし差ΔｄＸｘを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第５発明の非破壊検査方法は、第１発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差ΔｄＸｘを前記一次近似式により推定した値ΔｄＸｘ（Ｙ）とし、ΔｄＸｘ（Ｙ）／ΔｄＸｘ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
＜Ｙ軸方向＞
第６発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線をそれぞれ形成し、各測定位置における第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｙおよび／または差Δｄ２Ｘｙに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする。
第７発明の非破壊検査方法は、第６発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数βで除した値Δｄ２Ｂｙ／βとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
第８発明の非破壊検査方法は、第６発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙ、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙをそれぞれ算出し、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１との関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１との関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび／または値Δｄ２Ｘｙ・αが前記判断一次近似式上に分布する場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
第９発明の非破壊検査方法は、第６発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第二方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第二方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第二方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向変動曲線を二階微分した第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１、および／または、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１をそれぞれ算出し、値Δｄ２Ｂｙ／β１を第一軸とし値Δｄ２Ｘｙ・α１を第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
α１：ＳＩＧＮ（Ｙ１）
β１：Ｙ１／Ｚａ１・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ１：試験対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ１：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から試験対象までの距離
第１０発明の非破壊検査方法は、第６発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙにおける値Δｄ２Ｘｙ・αを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ）とし、（Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ））／（Δｄ２Ｘｙ（０）・α（０））と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
α：ＳＩＧＮ（Ｙ）
β：Ｙ／Ｚａ・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）
Ｙ：検査対象から各測定位置までの第二方向の位置の差
ＳＩＧＮ（Ａ）：Ａの正負の符号により、正の数または０の場合「＋１」、負の数の場合「－1」の値とする
Ｚａ：第一方向および第二方向と直交する第三方向における各測定位置から検査対象までの距離
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上に測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
＜Z軸方向＞
第１１発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物に埋設された第一方向に延びる検査対象の磁束密度を、該検査対象の第一方向に沿ってコンクリート構造物の外側で測定し、測定した磁束密度の変動に基づいて前記検査対象の破断の有無を推定する方法であって、コンクリート構造物の表面と平行かつ前記検査対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線をそれぞれ形成し、各測定位置における第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚに基づいて検査対象の破断の有無を判断することを特徴とする。
第１２発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す一次近似式、および／または、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第１３発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの逆３乗であるＲ－３と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚとの関係を表す判断一次近似式、および／または、各測定位置から前記試験対象までの距離Ｒの１／２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す判断一次近似式を作成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび／または差Δｄ２Ｘｚが前記判断一次近似式を満たす場合に検査対象に破断が生じていると判断することを特徴とする。
第１４発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、前記検査対象と同等の部材である破断を有する試験対象を有する、コンクリート構造物を模した試験構造物において、該試験構造物の表面と平行かつ前記試験対象の第一方向と直交する第二方向に沿って並んだ複数の測定位置で前記試験対象の第一方向に沿って第三方向の磁束密度を測定し、複数の測定位置において測定された第三方向の磁束密度の第一方向に沿った変動を示す第三方向変動曲線を各測定位置についてそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向変動曲線を二階微分した第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、各測定位置の第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚ、および／または、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚをそれぞれ算出し、差Δｄ２Ｂｚを第一軸とし差Δｄ２Ｘｚを第二軸とする、前記検査対象の破断を推定する破断領域を有する診断マップを形成し、コンクリート構造物において測定された磁束密度から算出される差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚが前記診断マップの破断領域に位置するか否かに基づいて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第１５発明の非破壊検査方法は、第１１発明において、コンクリート構造物に検査対象以外の埋設鉄筋が無い場合において、各測定位置から前記検査対象までの距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式を作成し、第二方向における検査対象から測定位置までの位置の差を位置の差Ｙ、検査対象から測定位置までの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、位置の差Ｙの場合における差Δｄ２Ｘｚを前記一次近似式により推定した値Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）とし、Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）／Δｄ２Ｘｚ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成し、該相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象の破断ギャップを推定することを特徴とする。
Ｒ（０）：第一方向および第二方向と直交する第三方向線上における検査対象からの距離が測定位置と同じ距離かつ検査対象の第三方向線上測定位置があるとした場合における測定位置から検査対象までの距離
第１６発明の非破壊検査方法は、第１～第１５発明において、第二方向における検査対象から測定位置までの距離Ｙａとコンクリート構造物の表面から検査対象までの距離Ｚａとの関係を示すＹａ／Ｚａが０～１．５となる測定位置において測定した磁束密度の変動から得られる微分曲線の極大値と極小値の差および／または微分曲線の極大値の位置と極小値の位置の差を用いて前記検査対象の破断の有無を推定することを特徴とする。
第１７発明の非破壊検査方法は、第１６発明において、距離Ｚａが１００ｍｍである場合において、距離Ｙａが０～１５０ｍｍであることを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
＜Ｘ軸方向＞
第１、第２発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第３、第４発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第５発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に、
検査対象の破断ギャップを推定することができる。
＜Ｙ軸方向＞
第６、第７発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第８、第９発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第１０発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に検査対象の破断ギャップを推定することができる。
＜Ｚ軸方向＞
第１１、第１２発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第１３、第１４発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第１５発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に、検査対象の破断ギャップを推定することができる。
第１６および第１７発明によれば、検査対象の破断評価の精度を高くできる。
第１、第２発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第３、第４発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第５発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に、
検査対象の破断ギャップを推定することができる。
＜Ｙ軸方向＞
第６、第７発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第８、第９発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第１０発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に検査対象の破断ギャップを推定することができる。
＜Ｚ軸方向＞
第１１、第１２発明によれば、測定した磁束密度に基づいて、コンクリート構造物に埋設された検査対象の破断を検出することができる。
第１３、第１４発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物があっても、測定した磁束密度に基づく検査対象の破断を検出する精度を高くできる。
第１５発明によれば、コンクリート構造物と検査対象との間に障害物がない場合に、検査対象の破断ギャップを推定することができる。
第１６および第１７発明によれば、検査対象の破断評価の精度を高くできる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】本実施形態の非破壊検査方法に使用される非破壊検査装置１の概略説明図であって、（Ａ）は側面図であり、（Ｂ）は平面図である。
【図3】本実施形態の非破壊検査方法に使用される非破壊検査装置１の概略ブロック図である。
【図4】試験構造物ＴＭの概略説明図であり、（Ａ）は（Ｂ）のＡ－Ａ線概略断面矢視図であり、（Ｂ）は（Ａ）のＢ－Ｂ線概略断面矢視図である。
【図5】（Ａ）は第一方向変動曲線を示したグラフであり、（Ｂ）は第一方向微分曲線を示したグラフである。
【図6】（Ａ）は差ΔｄＢｘとＲ－３との関係を表す一次近似式のグラフであり、（Ｂ）は差ΔｄＸｘとＲ1/2との関係を表す一次近似式のグラフである。
【図7】（Ａ）は検査対象がＰＣ撚り線の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における差ΔｄＸｘとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフであり、（Ｂ）は検査対象がＰＣ鋼棒の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における差ΔｄＸｘとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフである。
【図8】（Ａ）は第二方向変動曲線を示したグラフであり、（Ｂ）は第二方向微分曲線を示したグラフである。
【図9】（Ａ）は値Δｄ２Ｂｙ／βとＲ－３との関係を表す一次近似式のグラフであり、（Ｂ）は値Δｄ２Ｘｙ・αと算出されたＲ1/2との関係を表す一次近似式のグラフである。
【図10】（Ａ）は検査対象がＰＣ撚り線の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における値Δｄ２Ｘｙ・αとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフであり、（Ｂ）は検査対象がＰＣ鋼棒の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における値Δｄ２Ｘｙ・αとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフである。
【図11】（Ａ）は第三方向変動曲線を示したグラフであり、（Ｂ）は第三方向微分曲線を示したグラフである。
【図12】（Ａ）は差Δｄ２ＢｚとＲ－３との関係を表す一次近似式のグラフであり、（Ｂ）は差Δｄ２ＸｚとＲ1/2との関係を表す一次近似式のグラフである。
【図13】（Ａ）は検査対象がＰＣ撚り線の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における差Δｄ２ＸｚとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフであり、（Ｂ）は検査対象がＰＣ鋼棒の場合において、コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合における差Δｄ２ＸｚとＲ1/2との関係を表す一次近似式を比較したグラフである。
【図14】診断マップＭＰの概略説明図であり、（Ａ）は差ΔｄＢｘと差ΔｄＸｘを用いた診断マップＭＰであり、（Ｂ）は値Δｄ２Ｂｙ／βと値Δｄ２Ｘｙ・αを用いた診断マップＭＰであり、（Ｃ）は差Δｄ２Ｂｚと差Δｄ２Ｘｚを用いた診断マップＭＰである。
【図15】破断ＧＡの破断ギャップＧａｐと一次近似式の傾きとの関係を示したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
本実施形態の非破壊検査方法は、漏洩磁束法を用いてコンクリート構造物の内部に埋設されている検査対象の破断を推定する方法であって、鉄筋や鋼棒、鋼線等のように一方向に沿って延びる検査対象であって、検査対象の破断の検出精度を向上できるものである。
【0010】
本実施形態の非破壊検査方法によって検査される検査対象が埋設されているコンクリート構造物（以下単に検査されるコンクリート構造物という場合がある）は、とくに限定されない。例えば、道路や鉄道などの橋桁や橋脚、床版等を、本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物として挙げることができる。
【0011】
本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物は、その表面が平面であるものに限られず、表面が円筒状の面であるものも含まれる。例えば、表面が円筒状の面を有する柱状体等も本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物として挙げることができる。
【0012】
本実施形態の非破壊検査方法によって検査される検査対象もとくに限定されず、検査されるコンクリート構造物の表面と平行に一方向に沿って延びる検査対象であって、破断等の損傷が生じる可能性があるものであればよい。例えば、ＰＣ鋼棒（直径１０ｍｍ以上の高強度鋼）や、ＰＣ鋼線（直径８ｍｍ以下の高強度鋼製の線材）、ＰＣ撚り線（ＰＣ鋼線をより合わせたもの）等のＰＣ鋼材や鉄筋コンクリート用棒鋼等の鋼材を検査対象とすることができる。
【0013】
以下では、本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物の表面が平面である場合を代表として説明する。
【0014】
なお、以下の説明で、検査されるコンクリート構造物の表面は、表面が円筒状の面である構造物（曲面コンクリート構造物）における接平面を含む概念である。円筒状の曲面コンクリート構造物の場合、検査対象となる鉄筋等は、曲面コンクリート構造物の表面の軸方向（円筒状面の中心軸方向）に沿って延びている。このため、本実施形態の非破壊検査方法に使用される装置は、曲面コンクリート構造物の表面の軸方向に沿って移動しながら磁束密度を測定することになる。そして、磁束密度を測定する後述する磁気センサは、装置が曲面コンクリート構造物の表面の軸方向に沿って移動すると、曲面コンクリート構造物の表面の接平面と平行な状態を保って移動しながら磁束密度を測定することになる。したがって、以下の説明において、コンクリート構造物の表面を基準とする場合には、曲面コンクリート構造物では、コンクリート構造物の表面の接平面を基準とすることを意味する。
【0015】
＜コンクリート構造物Ｃ＞
まず、本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物Ｃについて簡単に説明する。
まず、本実施形態の非破壊検査方法によって検査されるコンクリート構造物Ｃについて簡単に説明する。
【0016】
検査されるコンクリート構造物Ｃは、例えば、橋桁や橋脚、床版等の構造物であり、構造物の内部に鉄筋や鋼棒、鋼線等の検査対象Ｐが埋設されたものである（図１参照）。具体的には、検査されるコンクリート構造物Ｃは平面状の表面ＣＦを有しており、この表面ＣＦと平行に検査対象Ｐが一方向に沿って延びるように埋設されている。この検査対象Ｐが延びる方向、つまり、検査対象Ｐの軸方向（図１では左右方向）を、以下では検査対象Ｐの第一方向という。
【0017】
なお、以下では、検査対象Ｐの第一方向をＸ軸方向、コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと平行かつＸ軸方向と直交する方向をＹ軸方向、コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦの法線方向をＺ軸方向、という場合がある（図１参照）。このＹ軸方向が特許請求の範囲にいう第二方向、Ｚ軸方向が特許請求の範囲にいう第三方向になる。
【0018】
なお、検査されるコンクリート構造物Ｃには、配筋等の鉄筋やスペーサ等のような検査対象Ｐ以外の部材が埋設されている場合がある。
【0019】
また、コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと検査対象Ｐが平行とは、検査対象Ｐの全体に渡って両者が完全に平行である場合だけでなく、検査対象Ｐの一部に検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに対して若干の傾きがある場合を含む概念である。
【0020】
＜本実施形態の非破壊検査装置１＞
つぎに、本実施形態の非破壊検査方法を説明する前に、本実施形態の非破壊検査方法に使用される非破壊検査装置１を説明する。
つぎに、本実施形態の非破壊検査方法を説明する前に、本実施形態の非破壊検査方法に使用される非破壊検査装置１を説明する。
【0021】
＜移動体２＞
図１に示すように、非破壊検査装置１は移動体２を有している。この移動体２は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに沿って、一方向にスムースに移動できるような構造を有している。より詳しく言えば、移動体２は、その中心軸Ｂ（図１（Ｂ）参照）の方向に沿って直線的に移動できる構造を有している。しかも、移動体２は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと、後述する磁束測定部５との距離Ｈを一定に維持した状態で移動することができる機能を有している。なお、以下では、移動体２の中心軸Ｂ方向（つまり移動体２の移動方向）をｘ軸方向という場合がある（図１参照）。
図１に示すように、非破壊検査装置１は移動体２を有している。この移動体２は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに沿って、一方向にスムースに移動できるような構造を有している。より詳しく言えば、移動体２は、その中心軸Ｂ（図１（Ｂ）参照）の方向に沿って直線的に移動できる構造を有している。しかも、移動体２は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと、後述する磁束測定部５との距離Ｈを一定に維持した状態で移動することができる機能を有している。なお、以下では、移動体２の中心軸Ｂ方向（つまり移動体２の移動方向）をｘ軸方向という場合がある（図１参照）。
【0022】
具体的には、移動体２は、その本体２ａと、本体２ａに回転可能に取り付けられた複数の車輪２ｒと、を備えている（図１（Ａ）参照）。この複数の車輪２ｒは、その回転軸が移動体２の中心軸Ｂと直交するように設けられている。しかも、複数の車輪２ｒは、移動体２を検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに配置した状態において、その回転軸が検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと平行になるように設けられている。なお、以下では、複数の車輪２ｒの回転軸と平行な方向をｙ軸方向、ｘ軸方向およびｙ軸方向と直交する方向をｚ軸方向という場合がある（図１参照）。ｚ軸方向は、移動体２をコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに配置した状態において、コンクリート構造物Ｃの表面ＣＦの法線方向（上述したＺ軸方向）と平行になる。
【0023】
また、複数の車輪２ｒは、磁束測定部５（より具体的には磁気センサ６）と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとの距離Ｈ（Ｚ軸方向の距離）を一定に維持した状態で移動できるように設けられている。つまり、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに複数の車輪２ｒを接触させた状態で複数の車輪２ｒを転動させれば、磁束測定部５と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとのＺ軸方向の距離を一定の距離Ｈに保ったままで、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦをＸ軸方向に沿って移動体２を移動させることができる。以下では、移動体２を移動させる場合、その移動方向がＸ軸方向に沿った方向であることを前提に説明する。
【0024】
なお、移動体２に設ける車輪２ｒの数はとくに限定されない。上述したように、磁束測定部５と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとのＺ軸方向の距離を一定に維持したままで移動体２をＸ軸方向に移動させることができるのであれば、車輪２ｒの数は３つでもよいし、４つ以上でもよい。
【0025】
また、移動体２は、磁束測定部５と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとのＺ軸方向の距離Ｈを一定に維持でき、かつ、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦをＸ軸方向に沿ってスムースに移動できるようになっていればよく、その構造はとくに限定されない。上記例では、移動体２が車輪２ｒを有する場合を説明したが、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと平行かつＸ軸方向に沿ってガイドレール等を敷設して、このガイドレール等に沿って移動体２を移動させるようにしても上記機能を発揮させることができる。なお、磁束測定部５と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとのＺ軸方向の距離Ｈを一定に維持するとは、移動体２がコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに沿って移動した際に、両者間の距離Ｈに約２０ｍｍ程度の変動がある場合を含んでいる。
【0026】
また、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに凹凸がある場合には、磁束測定部５において磁気センサ６を設けられる領域の幅と対応する領域（図１（Ｂ）の幅Ｗの領域）の表面の凹凸を平均化した仮想平面が検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに相当する。したがって、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに凹凸がある場合には、磁束測定部５と検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦのＺ軸方向における距離Ｈとは、Ｚ軸方向における仮想平面から磁束測定部５までの距離になる。なお、以下では、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦという場合には、磁束測定部５と対応する領域の表面の凹凸を平均化した仮想平面も含む。
【0027】
また、表面が円筒状の面を有する柱状体を検査するコンクリート構造物（上述した曲面コンクリート構造物に相当する）とした場合には、柱状体の軸方向と直交する方向では、位置によって磁束測定部５とコンクリート構造物の表面との距離が異なる状態となる。しかし、非破壊検査装置１の移動体２は、移動体２を柱状体の軸方向（つまり検査対象の軸方向、特許請求の範囲にいう検査対象の第一方向に相当する）に移動させた場合、磁束測定部５の各磁気センサ６とコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦとの距離を一定に保った状態で移動できる機能を有している。例えば、移動体２の中心軸Ｂと柱状体の中心軸とを通過する面と柱状体の表面との交線に接する接平面を設定すると、非破壊検査装置１の移動体２は、この接平面と磁束測定部５の各磁気センサ６との距離を一定に維持した状態で移動することができる機能を有している。
【0028】
＜磁束測定部５＞
磁束測定部５は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦの磁束密度を測定するものであり、磁気センサ６を備えている。磁気センサ６は、３軸方向の磁束密度を測定できるものであり、磁束測定部５のベース部材５ａに配設されている（図１（Ｂ）参照）。なお、磁気センサ６には、３軸方向の磁束密度を測定できるものであればよく、公知の種々の磁気センサを使用することができる。例えば、ホール素子センサやＭＲセンサ、ＭＩセンサ、ＴＭＲセンサなどを磁気センサ６として用いることができる。
磁束測定部５は、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦの磁束密度を測定するものであり、磁気センサ６を備えている。磁気センサ６は、３軸方向の磁束密度を測定できるものであり、磁束測定部５のベース部材５ａに配設されている（図１（Ｂ）参照）。なお、磁気センサ６には、３軸方向の磁束密度を測定できるものであればよく、公知の種々の磁気センサを使用することができる。例えば、ホール素子センサやＭＲセンサ、ＭＩセンサ、ＴＭＲセンサなどを磁気センサ６として用いることができる。
【0029】
磁気センサ６は、ｙ軸方向に沿って間隔を空けて並ぶように、磁束測定部５のベース部材５ａに複数（図１（Ｂ）では８つ）設けられている。具体的には、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに移動体２を配置した状態において、検査対象ＰのＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁束密度をそれぞれ測定できるように、ｙ軸方向に沿って間隔を空けて並ぶように各磁気センサ６は配設されている。
【0030】
複数の磁気センサ６は、全ての磁気センサ６の各軸方向の測定軸が同一面内に位置するように設けることが望ましい。ここでいう、全ての磁気センサ６の各軸方向の測定軸が同一面内に位置するとは、全ての磁気センサ６の各軸方向の測定軸が完全に同一面内に位置する場合と、各磁気センサ６の各軸方向の測定軸同士で若干のズレがある場合とを含んでいる。各磁気センサ６の各軸方向の測定軸同士のズレとは、各磁気センサ６の測定軸同士が、各測定軸と直交する方向において、±２０ｍｍ程度以内の位置のズレがある場合と、各測定軸の測定軸同士で若干の傾きがある場合の両方を含んでいる。例えば、ｘ軸方向の測定軸の場合であれば、各磁気センサ６のｘ軸方向の測定軸同士において、ｙ軸方向および／またはｚ軸方向において±２０ｍｍ程度以内の位置のズレがある場合や、ｘ軸方向とｙ軸方向の両方に平行な面に対する傾きが異なる場合、ｘ軸方向とｚ軸方向の両方に平行な面に対する傾きが異なる場合を含んでいる。
【0031】
複数の磁気センサ６を設ける場合、磁気センサ６同士の間隔や磁気センサ６を設ける領域の幅Ｗはとくに限定されない。検査対象Ｐが埋設されている深さや間隔等に応じて適切な間隔、領域の幅Ｗとすればよい。例えば、検査対象Ｐから検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦまでの第三方向（Ｚ軸方向）の距離が約１００～２００ｍｍであれば、磁気センサ６のｙ軸方向の間隔は５０～１００ｍｍ程度、磁気センサ６を設ける領域の幅Ｗは３００～１０００ｍｍ程度が望ましい。
【0032】
なお、図１（Ｂ）では磁気センサ６を８つ設けているが、磁気センサ６を設ける数は３つ以上であればよく、磁気センサ６を設ける数はとくに限定されない。
【0033】
また、複数の磁気センサ６は、いずれかの磁気センサ６が移動体２の中心線Ｂ上に位置するように設けることが望ましい。例えば、図１（Ｂ）であれば、Ｙ０３の磁気センサ６を移動体２の中心線Ｂ上に配設し、他の７つの磁気センサ６は移動体２の中心線Ｂの一方の側に３つ、他方に４つ設ければよい。とくに、磁気センサ６の数が奇数の場合であれば、一つの磁気センサ６は、移動体２の中心線Ｂ上に設け、かつ、他の磁気センサ６は、移動体２の中心線Ｂに対して対称となるように配設することが望ましい。つまり、移動体２の中心線Ｂを挟んで両側に同じ数の磁気センサ６が配置されるように複数の磁気センサ６を設けることが望ましい。例えば、移動体２の中心線Ｂを含みｙ軸方向と直交する面を基準面ＳＡとすると、複数の磁気センサ６はこの基準面ＳＡに対して対称になるように設けることが望ましい。
【0034】
また、複数の磁気センサ６は、必ずしも移動体２の中心線Ｂに対して対称となるように配置されていなくてもよい。移動体２の中心線Ｂの両側に少なくとも１つ以上、好ましくは、２つ以上の磁気センサ６が設けられていればよい。
【0035】
さらに、複数の磁気センサ６は、どの磁気センサ６も移動体２の中心線Ｂ上に位置しないように配設されていてもよい。この場合も、移動体２の中心線Ｂの両側に少なくとも１つ以上、好ましくは、２つ以上の磁気センサ６が設けられていればよい。とくに、移動体２の中心線Ｂに対して対称となるように複数の磁気センサ６が配置されていることが望ましい。
【0036】
＜制御部４＞
図３に示すように、制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置を算出する位置算出機能と、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の作動を制御する作動制御機能と、を有している。また、制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値のデータと、位置算出機能が算出する磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置と、をそれぞれ関連づけてメモリー等の記憶部に記憶させる記憶機能を有している。
図３に示すように、制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置を算出する位置算出機能と、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の作動を制御する作動制御機能と、を有している。また、制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値のデータと、位置算出機能が算出する磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置と、をそれぞれ関連づけてメモリー等の記憶部に記憶させる記憶機能を有している。
【0037】
さらに、制御部４は、記憶部に記憶されているデータを使用して、磁束密度の測定値の変動を示すグラフやマップを作成する解析機能を有している。
【0038】
なお、制御部４にデータ通信機能を設けて、外部のパソコン、クラウドコンピュータとの間で測定データ等を送受信するようにすれば、制御部４の記憶機能、解析機能等を外部のパソコン等と協働させることも可能である。
【0039】
＜位置算出機能＞
制御部４は、移動体２の移動量、言い換えれば、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の移動量を算出する位置算出機能を有している。この位置算出機能は、初期位置（移動体２を検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに配置した位置）から現在位置までの磁束測定部５の複数の磁気センサ６の移動距離、言い換えれば、初期位置を基準とした磁束測定部５の複数の磁気センサ６の現在位置を算出するものである。例えば、移動体２の基準位置（例えば、車輪２ｒの位置）に対する複数の磁気センサ６の相対的な位置が記憶部に記憶されていれば、位置算出機能は、初期位置における基準位置を元にして、移動体２のｘ軸方向の初期位置からの移動量と基準位置に対する複数の磁気センサ６の相対的な位置とに基づいて、複数の磁気センサ６のＸ軸方向の移動距離および上記移動後の複数の磁気センサ６の位置（Ｘ軸方向の位置）を算出することができる。
制御部４は、移動体２の移動量、言い換えれば、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の移動量を算出する位置算出機能を有している。この位置算出機能は、初期位置（移動体２を検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに配置した位置）から現在位置までの磁束測定部５の複数の磁気センサ６の移動距離、言い換えれば、初期位置を基準とした磁束測定部５の複数の磁気センサ６の現在位置を算出するものである。例えば、移動体２の基準位置（例えば、車輪２ｒの位置）に対する複数の磁気センサ６の相対的な位置が記憶部に記憶されていれば、位置算出機能は、初期位置における基準位置を元にして、移動体２のｘ軸方向の初期位置からの移動量と基準位置に対する複数の磁気センサ６の相対的な位置とに基づいて、複数の磁気センサ６のＸ軸方向の移動距離および上記移動後の複数の磁気センサ６の位置（Ｘ軸方向の位置）を算出することができる。
【0040】
なお、Ｘ軸方向における初期位置からの現在位置までの磁束測定部５の複数の磁気センサ６の移動距離を求める方法はとくに限定されない。図３に示すように、移動体２の初期位置からの移動距離を検出する検出器４ｃを移動体２に設けてもよい。例えば、検出器４ｃとして、車輪２ｒの回転量（回転角度）を検出することができるエンコーダを設けてもよい。この場合、位置算出機能は、検出器４ｃが検出する車輪２ｒの回転角度と車輪２ｒの直径とに基づいて、初期位置に対する磁束測定部５の複数の磁気センサ６のＸ軸方向の移動距離および、上記移動後の初期位置に対する磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置（Ｘ軸方向の位置）を算出することができる。
【0041】
また、上述した移動体２の初期位置からの移動距離を検出する検出器４ｃは、上述したエンコーダのように車輪２ｒの回転数に基づいてＸ軸方向の移動距離を検出するものに限られない。光学マウスや加速度計等をＸ軸方向の移動距離を把握する検出器４ｃとして使用してもよい。
【0042】
さらに、複数の磁気センサ６の現在位置（言い換えれば複数の磁気センサ６が磁束密度を測定している位置）を把握する方法も上述した方法に限られない。例えば、コンクリート構造物Ｃやその近傍に位置標識を設けておき、この位置標識に対する磁束密度を測定したタイミングにおける磁束測定部５の相対的な位置を測定して磁束測定部５が磁束密度を測定した位置（Ｘ軸方向の位置）を把握してもよい。
【0043】
＜作動制御機能＞
制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の作動を制御する作動制御機能を有している。この作動制御機能は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が磁束密度を測定するタイミングを決定し、そのタイミングで磁束測定部５の複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させる機能と、測定した測定値を記憶機能に送信する機能と、を有している。例えば、操作ボタン等によって測定開始信号が入力されると、その後、所定の時間間隔（例えば、１０ミリ秒毎）で複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させてその測定値を記憶機能に送信したり（以下、複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させてその測定値を記憶機能に送信することを測定等という場合がある）、位置算出機能が算出する移動体２のｘ軸方向の移動量に基づいて所定の距離ごとに複数の磁気センサ６に磁束密度を測定等させたりする機能を作動制御機能は有している。もちろん、制御部４は、操作ボタン等によって測定開始信号が入力されると複数の磁気センサ６に連続して磁束密度を測定させて測定値を連続して記憶機能に送信するようになっていてもよい。なお、制御部４は、全ての磁気センサ６が同じタイミングで磁束密度を測定等するように制御してもよいし、磁気センサ６毎に適切なタイミングで測定等するように制御してもよい。例えば、各磁気センサの移動量がそれぞれ所定の移動量になったタイミングで、各磁気センサ６にそれぞれ測定等するように制御してもよい。
制御部４は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６の作動を制御する作動制御機能を有している。この作動制御機能は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が磁束密度を測定するタイミングを決定し、そのタイミングで磁束測定部５の複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させる機能と、測定した測定値を記憶機能に送信する機能と、を有している。例えば、操作ボタン等によって測定開始信号が入力されると、その後、所定の時間間隔（例えば、１０ミリ秒毎）で複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させてその測定値を記憶機能に送信したり（以下、複数の磁気センサ６に磁束密度を測定させてその測定値を記憶機能に送信することを測定等という場合がある）、位置算出機能が算出する移動体２のｘ軸方向の移動量に基づいて所定の距離ごとに複数の磁気センサ６に磁束密度を測定等させたりする機能を作動制御機能は有している。もちろん、制御部４は、操作ボタン等によって測定開始信号が入力されると複数の磁気センサ６に連続して磁束密度を測定させて測定値を連続して記憶機能に送信するようになっていてもよい。なお、制御部４は、全ての磁気センサ６が同じタイミングで磁束密度を測定等するように制御してもよいし、磁気センサ６毎に適切なタイミングで測定等するように制御してもよい。例えば、各磁気センサの移動量がそれぞれ所定の移動量になったタイミングで、各磁気センサ６にそれぞれ測定等するように制御してもよい。
【0044】
なお、位置算出機能が上述したような検出器４ｃを有している場合には、検出器４ｃが発信する信号を直接作動制御機能に供給して、検出器４ｃが発信する信号に基づいて作動制御機能が複数の磁気センサ６に磁束密度を測定等させるようにしてもよい。例えば、検出器４ｃがエンコーダであれば、検出器４ｃが検出する車輪２ｒの回転角度に応じて（つまり所定の角度だけ車輪２ｒが回転すると）作動制御機能が複数の磁気センサ６に磁束密度を測定等させるようにしてもよい。また、複数の磁気センサ６に磁束密度の測定を開始させるタイミングも検出器４ｃが発信する信号に基づいて決定してもよい。例えば、車輪２ｒが回転していない状態から車輪２ｒが回転を開始したことを検出器４ｃが検出し信号を発信すると、その信号に基づいて複数の磁気センサ６に磁束密度の測定を開始させるようにしてもよい。
【0045】
また、磁束測定部５の複数の磁気センサ６は、作動制御機能の指令に係らず、常時、磁束密度を測定する状態となっていてもよい。この場合は、作動制御機能は、測定開始信号が入力された後、上述した時間間隔や所定の移動距離ごとに複数の磁気センサ６からの信号を記憶機能に送信する機能を有していればよい。
【0046】
＜記憶機能＞
記憶機能は、位置算出機能が算出した磁束測定部５の移動距離（つまり複数の磁気センサ６の移動距離）と、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値とを関連付けて記憶させる機能である。具体的には、記憶機能は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値と、複数の磁気センサ６が磁束密度を測定した時間と、その時間における磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置（移動体２のｘ軸方向の移動量や検出器４ｃの信号等）と、をそれぞれ関連付けて記憶部に記憶させる機能を有している。
記憶機能は、位置算出機能が算出した磁束測定部５の移動距離（つまり複数の磁気センサ６の移動距離）と、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値とを関連付けて記憶させる機能である。具体的には、記憶機能は、磁束測定部５の複数の磁気センサ６が測定した磁束密度の測定値と、複数の磁気センサ６が磁束密度を測定した時間と、その時間における磁束測定部５の複数の磁気センサ６の位置（移動体２のｘ軸方向の移動量や検出器４ｃの信号等）と、をそれぞれ関連付けて記憶部に記憶させる機能を有している。
【0047】
また、記憶部には、各磁気センサ６が測定を開始した位置（例えば初期位置）とその開始時間に関する情報が、各磁気センサ６と対応付けて記憶される。
【0048】
したがって、記憶部に記憶されている情報を取得すれば、各磁気センサ６が測定した磁束密度がどの位置で測定されたものであるかをそれぞれ特定することができる。
【0049】
＜解析機能＞
制御部４は、記憶部に記憶されているデータを解析する解析機能も有している。この解析機能は、記憶部に記憶されているデータを使用して、検査対象Ｐの破断の有無を判断したり、検査対象Ｐの破断長さＧａｐ等を推定したりする機能を有している。なお、解析機能の詳細については後述する。
制御部４は、記憶部に記憶されているデータを解析する解析機能も有している。この解析機能は、記憶部に記憶されているデータを使用して、検査対象Ｐの破断の有無を判断したり、検査対象Ｐの破断長さＧａｐ等を推定したりする機能を有している。なお、解析機能の詳細については後述する。
【0050】
なお、制御部４は、上述したような解析機能を有していなくてもよく、上述した位置算出機能と、作動制御機能と、記憶機能と、だけを有していてもよい。この場合には、制御部４に記憶されているデータを外部に供給する機能を設けて、非破壊検査装置１と別に設けられている解析装置でデータを解析するようにしてもよい。その場合、有線や無線で制御部から解析装置にデータを供給するようにしてもよいし、ＵＳＢ等の記憶装置にデータを記憶させて制御部から解析装置にデータを供給するようにしてもよい。
【0051】
また、解析機能は、解析の精度を高めるために、必要に応じてデータの平滑化、平坦化等の前処理を行うようにしてもよい。つまり、後述するような磁束密度の変動曲線を形成する場合に、データの平滑化、平坦化等の前処理を行って、磁束密度の変動曲線に基づく解析精度を高める機能を解析機能は有していてもよい。データの平滑化、平坦化等を行う方法はとくに限定されず、周知の方法（例えば移動平均法やフィルタリング、近似直線による傾き補正等）を使用することができる。
【0052】
＜本実施形態の非破壊検査方法＞
上述した本実施形態の非破壊検査装置１によって、検査するコンクリート構造物Ｃに埋設されている検査対象Ｐの破断を検査する方法を説明する。なお、以下では、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦが水平面であることを前提に説明する。もちろん、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦが鉛直面や傾斜した面であっても、本実施形態の非破壊検査装置１を用いて同様の方法で検査を行うことができる。
上述した本実施形態の非破壊検査装置１によって、検査するコンクリート構造物Ｃに埋設されている検査対象Ｐの破断を検査する方法を説明する。なお、以下では、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦが水平面であることを前提に説明する。もちろん、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦが鉛直面や傾斜した面であっても、本実施形態の非破壊検査装置１を用いて同様の方法で検査を行うことができる。
【0053】
まず、検査するコンクリート構造物Ｃの表面に沿って磁石を移動させて、検査するコンクリート構造物Ｃに埋設されている検査対象Ｐを着磁する。なお、検査対象Ｐを着磁する方法はとくに限定されない。以下の説明では、磁石のＮ極とＳ極が検査対象Ｐの第一方向（図１のＸ軸方向）に並んだ状態で磁石を検査対象Ｐの第一方向に沿って移動させた場合を説明する。また、検査対象Ｐを着磁した後で整磁することが望ましい。検査対象Ｐを整磁する方法もとくに限定されない。
【0054】
検査対象Ｐを着磁した後、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦに非破壊検査装置１の移動体２を配置する（図１（Ａ）参照）。このとき、移動体２は、検査対象Ｐの中心軸が基準面ＳＡに含まれるように配置する。すると、検査するコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦおよび検査対象Ｐの第一方向に沿って移動体２を移動させたときに、一つの磁気センサ６（図１（Ｂ）ではＹ０３の磁気センサ６）を検査対象Ｐの鉛直上方に配置し、かつ、複数の磁気センサ６（Ｙ００～Ｙ０７）と検査対象Ｐとの相対的な位置を一定の状態に維持したまま、移動体２を移動させることができる（図１（Ｂ）参照）。
【0055】
なお、移動体２は、検査対象Ｐの中心軸が基準面ＳＡから若干ずれた状態で配置されていてもよい。例えば、Ｙ軸方向において、移動体２の基準面ＳＡと検査対象Ｐの中心軸とが、０～１０ｍｍ程度ずれていてもよい。
【0056】
また、移動体２は、検査対象Ｐの中心軸が基準面ＳＡと平行になるように配置されていれば、必ずしも検査対象Ｐの中心軸が基準面ＳＡに含まれるように配置しなくてもよい。この場合には、複数の磁気センサ６のうち、いずれかの磁気センサ６が検査対象Ｐの中心軸を含みかつコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと直交する面上に位置し、かつ、この面の両側に少なくとも１つ以上の磁気センサ６が配置されるようにすることが望ましい。
【0057】
移動体２を配置すると、操作ボタン等によって測定開始信号を入力し、移動体２を検査対象Ｐの第一方向（Ｘ軸方向）に沿って移動させる。すると、磁束測定部５の複数の磁気センサ６によって、複数の磁気センサ６の移動経路に沿った磁束密度がそれぞれ測定される。つまり、複数の磁気センサ６の位置における、検査対象Ｐの第一方向に沿った磁束密度が測定される。そして、複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度の測定値は、その測定位置と測定時間と測定した磁気センサ６とを関連付けて、記憶機能に記憶される。
【0058】
検査対象Ｐを検査する領域、つまり、検査対象Ｐを検査する距離だけ移動体２を移動させると検査が終了する。
【0059】
測定が終了すれば、制御部４の解析機能によって検査対象Ｐの破断の有無が判断される。また、必要に応じて、破断長さＧａｐを推定することができる。
【0060】
＜磁気センサ６について＞
上記例では、複数の磁気センサ６として、３軸方向の磁束密度を測定できるものを使用したが、３軸方向の磁束密度を測定する場合には、１軸方向の磁束密度を測定することができる磁気センサを複数使用して、３軸方向の磁束密度を測定するようにしてもよい。例えば、各測定位置（図１（Ｂ）であればＹ００～Ｙ０７）において１軸方向の磁束密度を測定する磁気センサを３つ隣接するように並べて配置して、３軸方向の磁束密度を測定してもよい。
また、磁気センサ６によって３軸方向の磁束密度を測定してもよいが、１軸方向だけ、または、２軸方向だけの磁束密度を測定してもよい。２軸方向の磁束密度を測定する場合には、１軸方向の磁束密度を測定する磁気センサを各測定位置（図１（Ｂ）であればＹ００～Ｙ０７）において２つ隣接するように並べて配置して、２軸方向の磁束密度を測定してもよい。
上記例では、複数の磁気センサ６として、３軸方向の磁束密度を測定できるものを使用したが、３軸方向の磁束密度を測定する場合には、１軸方向の磁束密度を測定することができる磁気センサを複数使用して、３軸方向の磁束密度を測定するようにしてもよい。例えば、各測定位置（図１（Ｂ）であればＹ００～Ｙ０７）において１軸方向の磁束密度を測定する磁気センサを３つ隣接するように並べて配置して、３軸方向の磁束密度を測定してもよい。
また、磁気センサ６によって３軸方向の磁束密度を測定してもよいが、１軸方向だけ、または、２軸方向だけの磁束密度を測定してもよい。２軸方向の磁束密度を測定する場合には、１軸方向の磁束密度を測定する磁気センサを各測定位置（図１（Ｂ）であればＹ００～Ｙ０７）において２つ隣接するように並べて配置して、２軸方向の磁束密度を測定してもよい。
【0061】
＜解析機能の詳細な説明＞
上述したように、本実施形態の非破壊検査装置１では、磁束測定部５の複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度を利用して、検査対象Ｐの破断の有無を判断できる。また、磁束測定部５の複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度を利用して、破断長さＧａｐを推定することができるようにしてもよい。
上述したように、本実施形態の非破壊検査装置１では、磁束測定部５の複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度を利用して、検査対象Ｐの破断の有無を判断できる。また、磁束測定部５の複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度を利用して、破断長さＧａｐを推定することができるようにしてもよい。
【0062】
以下、制御部４の解析機能が、検査対象Ｐの破断の有無を判断する方法および破断長さＧａｐを推定する方法を説明する。
【0063】
＜検査対象Ｐの破断の有無を判断する方法＞
解析機能は、複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度の第一方向（図１のＸ軸方向）に沿った変動を解析することによって、検査対象Ｐに破断が生じていると推定する機能を有している。検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動、に基づいてそれぞれ推定することができる。
解析機能は、複数の磁気センサ６によって測定された磁束密度の第一方向（図１のＸ軸方向）に沿った変動を解析することによって、検査対象Ｐに破断が生じていると推定する機能を有している。検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動、に基づいてそれぞれ推定することができる。
【0064】
なお、以下の説明で使用するデータは、検査対象Ｐ以外に縦筋と横筋が埋設されているコンクリート構造物Ｃにおいて、８つの３軸磁気センサ６（Ｙ００～Ｙ０７、図１（Ｂ）参照）を使用し、かつ、Ｙ０３の磁気センサ６（移動体２の中心線Ｂ上に配設されている磁気センサ６）が検査対象Ｐの中心軸を含みかつコンクリート構造物Ｃの表面ＣＦと直交する面（直交面）上に位置する状態で磁束密度を測定したデータである。なお、この状態では、基準面ＳＡと直交面とは同一面になる。
【0065】
＜Ｘ軸方向＞
検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で推定することができる。
検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で推定することができる。
【0066】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向（Ｘ軸方向）に沿ってｘ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第一方向変動曲線を形成する（図５（Ａ）参照）。
【0067】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第一方向変動曲線を形成すると、この第一方向変動曲線を一階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの一階微分値と、一階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第一方向微分曲線を形成する（図５（Ｂ）参照）。
【0068】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第一方向微分曲線を形成すると、極大値と極小値の差ΔｄＢｘと極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘとを算出する（図５（Ｂ）参照）。具体的には、各第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差ΔｄＢｘを算出する。また、各第一方向微分曲線について、極大値となる位置と極小値となる位置の差ΔｄＸｘを算出する。
【0069】
極大値と極小値の差ΔｄＢｘと極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘとを算出すると、以下の方法で破断の有無を推定する。
【0070】
＜差ΔｄＢｘを使用する例＞
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図６（Ａ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差ΔｄＢｘを第一軸としＲ－３を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘをグラフ上にプロットし、プロットした点が一次近似式近傍に分布するか否かを判断する（図６（Ａ）参照）。
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図６（Ａ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差ΔｄＢｘを第一軸としＲ－３を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘをグラフ上にプロットし、プロットした点が一次近似式近傍に分布するか否かを判断する（図６（Ａ）参照）。
【0071】
そして、プロットした点が一次近似式近傍に分布する場合、つまり差ΔｄＢｘとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0072】
なお、差ΔｄＢｘとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ－３が同じ場合において、そのＲ－３における一次近似式の値と差ΔｄＢｘとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0073】
＜差ΔｄＸｘを使用する例＞
上記例では、差ΔｄＢｘを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差ΔｄＸｘを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
上記例では、差ΔｄＢｘを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差ΔｄＸｘを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
【0074】
この場合、まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘと算出されたＲ1/２との関係を表す一次近似式を算出する（図６（Ｂ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差ΔｄＸｘを第一軸としＲ1/２を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘをプロットし、プロットした点が一次近似式近傍に分布するか否かを判断する（図６（Ｂ）参照）。
【0075】
そして、プロットした点が一次近似式近傍に分布する場合、つまり差ΔｄＸｘとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0076】
なお、差ΔｄＸｘとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ1/２が同じ場合において、そのＲ1/２における一次近似式の値と差ΔｄＸｘとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0077】
＜試験構造物ＴＭの一次近似式を使用する例＞
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐにおいて各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐにおいて各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
【0078】
この場合、使用する試験構造物ＴＭは、コンクリートに検査対象と同等の部材である試験対象Ｑ（好ましくは検査対象Ｐと同じ材料）が埋設されたものを使用する。つまり、試験対象Ｑを、かぶり深さ（試験構造物ＴＭの表面から試験対象Ｑまでの距離）がコンクリート構造物Ｃにおける検査対象Ｐと同じかぶり深さ（コンクリート構造物Ｃの表面から検査対象Ｐまでの距離）となるようにコンクリートに埋設した試験構造物ＴＭにおいて、検査と同じ方法で試験対象Ｑを着磁・整磁した後、非破壊検査装置１の磁気センサ６によって試験構造物ＴＭを測定して得られる磁束密度を用いて、判断一次近似式を算出する。
【0079】
なお、一般に乾燥したコンクリートの透磁率は空気とほぼ同じであることから、試験構造物ＴＭは必ずしも試験対象ＴＭをコンクリートに埋設した構造としなくてもよく、疑似コンクリート埋設構造物を試験構造物ＴＭとしてもよい。疑似コンクリート埋設構造物とは、例えば、試験構造物ＴＭとして、試験対象Ｑやその他の構造物（例えば交差鉄筋ＣＲ等）を所定の構造や形状となるように設置しただけのもの、つまり、試験対象Ｑやその他の構造物が露出した状態で設置された構造物や、試験対象Ｑやその他の構造物を所定の構造や形状となるように設置しこの試験対象Ｑやその他の構造物を覆う部材（例えば板状部材など）を設けた構造物等が該当する。試験対象Ｑやその他の構造物を覆う部材を設けた構造物の場合、試験対象Ｑやその他の構造物を覆う部材の表面が、試験対象Ｑをコンクリートに埋設した構造を有する試験構造物ＴＭにおけるコンクリートの表面に相当する面になる。以下では、試験構造物ＴＭにおけるコンクリートの表面や試験構造物における試験対象Ｑを覆う部材の表面を、試験構造物ＴＭの表面ＣＦという場合がある。
【0080】
なお、以下において試験構造物ＴＭという場合には、試験対象Ｑやその他の構造物（例えば交差鉄筋ＣＲ等）をコンクリートに埋設した構造を有する構造物と、試験対象Ｑやその他の構造物を有する疑似コンクリート埋設構造物の両方を含んでいる。
【0081】
試験構造物ＴＭから判断一次近似式を作成する方法は、上述したコンクリート構造物Ｃにおいて一次近似式を作成する方法と同様の方法で実施する。
【0082】
つまり、図４に示すような縦筋Ｒ２と横筋Ｒ１とを有する交差鉄筋ＣＲを有する試験構造物ＴＭを形成し、試験対象Ｑの第一方向（図４の左右方向、Ｘ軸方向）に沿って本実施形態の非破壊検査装置１を試験構造物ＴＭの表面ＣＦ上を移動させて、ｘ軸方向の磁束密度を測定する。すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と試験対象Ｑの第一方向の測定位置との関係を示す第一方向変動曲線を形成する（図５（Ａ）参照）。
【0083】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第一方向変動曲線を形成すると、この第一方向変動曲線を一階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの一階微分値と、一階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第一方向微分曲線を形成する（図５（Ｂ）参照）。
【0084】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第一方向微分曲線を形成すると、極大値と極小値の差ΔｄＢｘと極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘとを算出する（図５（Ｂ）参照）。具体的には、各第一方向微分曲線について、第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差ΔｄＢｘを算出する。また、各第一方向微分曲線について、極大値となる位置と極小値となる位置の差ΔｄＸｘを算出する。
【0085】
そして、複数の磁気センサ６から試験対象Ｑまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＢｘと算出されたＲ－３との関係を表す判断一次近似式を算出する（図６（Ａ）参照）。
【0086】
また、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘと算出されたＲ1/２との関係を表す判断一次近似式を算出する（図６（Ｂ）参照）。
【0087】
このようにして算出された判断一次近似式近傍に、本実施形態の非破壊検査装置１の磁束密度の測定値から得られる差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが分布する場合には、検査対象Ｐに破断が生じていると判断することができる。
【0088】
＜診断マップＭＰを使用する方法＞
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ａ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ａ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる差ΔｄＢｘや差ΔｄＸｘが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
【0089】
診断マップＭＰは、Ｙ軸方向における試験対象Ｑから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）毎に作成し、試験構造物ＴＭを使用して得られた差ΔｄＢｘを第一軸、差ΔｄＸｘを第二軸としたものとする。この診断マップＭＰに、磁気センサ６からＺ軸方向における試験対象Ｑまでの距離Ｚａ（図２参照）およびその他の構造物を変化させた試験構造物ＴＭを使用して得られた結果をプロットする。つまり、試験対象Ｑに破断が生じている場合の差ΔｄＢｘと差ΔｄＸｘを診断マップＭＰにプロットして、破断領域ＢＡを設定する（図１４（Ａ）参照）。つまり、距離Ｙａの場合において、距離Ｚａに対応する破断領域ＢＡを設定する。すると、距離Ｚａとなるコンクリート構造物Ｃにおいて本実施形態の非破壊検査装置１の距離Ｙａとなる磁気センサ６で測定された磁束密度に基づいて得られる差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘの組み合わせを、距離Ｙａの診断マップＭＰにプロットすれば、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。つまり、診断マップＭＰの破断領域ＢＡに差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘの組み合わせが位置すれば検査対象Ｐに破断が生じており、破断領域ＢＡから差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘの組み合わせが外れていれば検査対象Ｐに破断が生じていないと判断することができる。
【0090】
例えば、図１４（Ａ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線であり、距離Ｙａ＝１００ｍｍであり、距離Ｚａ＝１００、１５０ｍｍであれば、診断マップＭＰにおいて、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合の破断領域ＢＡ１は図１４（Ａ）に示すようになり、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合の破断領域ＢＡ２は図１４（Ａ）に示すようになる。したがって、本実施形態の非破壊検査装置１によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定する場合において、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合であれば、差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘの組み合わせが破断領域ＢＡ１に入れば破断が生じていると判断できる。また、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合であれば、差ΔｄＢｘおよび差ΔｄＸｘの組み合わせが破断領域ＢＡ２に入れば破断が生じていると判断できる。
【0091】
＜特定の磁気センサ６の測定値を使用する方法＞
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる差ΔｄＸｘのうち、一定以上の差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる差ΔｄＸｘだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる差ΔｄＸｘのうち、一定以上の差ΔｄＸｘが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる差ΔｄＸｘだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
【0092】
この場合、診断マップＭＰの破断領域を絞り込めるという点で好ましい。とくに、試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成している場合には、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６を設けるだけでも破断の判断をすることができる。すると、本実施形態の非破壊検査装置１が備える磁気センサ６の数を少なくできるので、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できるし、測定後のデータ処理も早くなる。
【0093】
上記のようにできる理由は、以下のとおりである。
【0094】
コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合では、その条件によって一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも差ΔｄＸｘが異なる値になる（図７参照）。また、検査対象Ｐの種類が異なっても、一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも差ΔｄＸｘが異なる値になる（図７参照）。このため、検査対象Ｐの破断を検出する精度を高くするためには、複数の磁気センサ６で測定された磁束密度を用いて得られる複数の差ΔｄＸｘを用いて、複数の差ΔｄＸｘが一次近似式を満たすか否かを判断することが望ましい。
【0095】
しかし、Ｙ軸方向における検査対象Ｐから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）とＺ軸方向における検査対象Ｐまでの距離Ｚａ（図２参照）との関係を示すＹａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差ΔｄＸｘは、検査対象Ｐの種類が同じであれば、交差鉄筋の有無や交差鉄筋の種類によらず、ほぼ同じ値になる。したがって、検査対象Ｐの種類ごとに判断一次近似式を作成しておき、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６を設け、その位置で磁束密度を測定すれば、検査対象Ｐの破断を検出する精度を維持しつつ、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できる。
【0096】
例えば、図７（Ａ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線の場合であれば、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが１００ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差ΔｄＸｘが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0097】
同様に、図７（Ｂ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ鋼棒の場合でも、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが１００ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差ΔｄＸｘが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0098】
なお、判断一次近似式を作成していない場合、つまり、複数の磁気センサ６によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して一次近似式を作成する場合でも同様に判断できる。つまり、コンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して作成した一次近似式について、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度から得られる差ΔｄＸｘだけを使用し、この差ΔｄＸｘが一次近似式を満たすか否かによって検査対象Ｐが破断しているか否かを判断してもよい。
【0099】
＜検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定する方法＞
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
【0100】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向に沿ってｘ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第一方向変動曲線を形成する（図５（Ａ）参照）。
【0101】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第一方向変動曲線を形成すると、この第一方向変動曲線を一階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの一階微分値と、一階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第一方向微分曲線をそれぞれ形成し、極大値の位置と極小値の位置の差ΔｄＸｘを算出する。具体的には、各第一方向微分曲線について、各第一方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、極大値となる位置と極小値となる位置の差ΔｄＸｘを算出する。
【0102】
そして、位置の差Ｙの位置における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第一方向微分曲線から算出される差ΔｄＸｘとの関係を表す一次近似式により推定した値を値ΔｄＸｘ（Ｙ）とする。そして、ΔｄＸｘ（Ｙ）／ΔｄＸｘ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成する。すると、Ｚ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離ＺａがＧａｐ≧Ｚａの場合には、一次近似式の傾きに基づいて検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐを推定することができる（図１５参照）。
【0103】
なお、位置の差Ｙとは、Ｙ軸方向における検査対象Ｐから各磁気センサ６までの距離であって、Ｙ軸方向における正負を含む値である。以下、本明細書における位置の差Ｙとは、この値を意味する。
【0104】
また、Ｒ（０）は、移動体２の中心線Ｂ上、つまり、基準面ＳＡと交差する位置に設けられた磁気センサ６（図１（Ｂ）ではＹ０３の磁気センサ）のＺ軸方向における検査対象Ｐまでの距離を意味している。つまり、複数の磁気センサ６について、磁気センサ６からＺ軸方向における検査対象Ｐまでの距離Ｚａが同じであれば、実質的に、Ｒ（０）は距離Ｚａと同じになる。以下、本明細書におけるＲ（０）とは、この値を意味する。
【0105】
また、一次近似式の傾きと検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐとの関係は、試験構造物ＴＭにおいてＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａおよび破断ギャップＧａｐを変更してあらかじめ求めておけばよい。
【0106】
＜Ｙ軸方向＞
上記例では、検査対象Ｐの破断を磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動に基づいて判断する場合を説明したが、検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で判断してもよい。
上記例では、検査対象Ｐの破断を磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向の磁束密度の変動に基づいて判断する場合を説明したが、検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で判断してもよい。
【0107】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向（Ｘ軸方向）に沿ってｙ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第二方向変動曲線を形成する（図８（Ａ）参照）。
【0108】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第二方向変動曲線を形成すると、この第二方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第二方向微分曲線を形成する（図８（Ｂ）参照）。
【0109】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第二方向微分曲線を形成すると、各磁気センサ６の第二方向微分曲線について、極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙとを算出する（図８（Ｂ）参照）。具体的には、各第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙを算出する。また、極大値となる位置と極小値となる位置の差Δｄ２Ｘｙを算出する。
【0110】
極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙとを算出すると、以下の方法で破断の有無を推定する。
【0111】
＜差Δｄ２Ｂｙを使用する例＞
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。また、検査対象Ｐから各磁気センサ６までのＹ軸方向の位置の差ＹとＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａから、補正係数β＝（Ｙ／Ｚａ）・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）を算出する。そして、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数βで除した値Δｄ２Ｂｙ／βと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図９（Ａ）参照）。
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。また、検査対象Ｐから各磁気センサ６までのＹ軸方向の位置の差ＹとＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａから、補正係数β＝（Ｙ／Ｚａ）・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）を算出する。そして、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｙを補正係数βで除した値Δｄ２Ｂｙ／βと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図９（Ａ）参照）。
【0112】
なお、ＳＩＧＮ（Ａ）はＡの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする。例えば、図８（Ｂ）において、磁気センサ６がＹ００～Ｙ０２の場合は差Δｄ２Ｘｙは負の数になるのでＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）は「－1」となり、磁気センサ６がＹ０３～Ｙ０７の場合は差Δｄ２Ｘｙは正の数または０になるのでＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）は「＋1」となる。
【0113】
なお、位置の差Ｙとは、Ｙ軸方向における検査対象Ｐから各磁気センサ６までの距離であって、Ｙ軸方向における正負を含む値である。例えば、図１において、磁気センサ６がＹ００～Ｙ０２の場合、Ｙは負の値になり、磁気センサ６がＹ０４～Ｙ０７の場合、Ｙは正の値になる。また、磁気センサ６がＹ０３の場合、Ｙ＝０となる。したがって、Ｙ０３の磁気センサ６が測定した磁束密度からは値Δｄ２Ｂｙ／βが算出できないので、データから除外することとする。
【0114】
一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、値Δｄ２Ｂｙ／βを第一軸としＲ－３を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βをプロットし、プロットした点が一次近似式を満たすか否かを判断する（図９（Ａ）参照）。
【0115】
そして、プロットした点が一次近似式近傍に分布する場合、つまり値Δｄ２Ｂｙ／βとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0116】
なお、値Δｄ２Ｂｙ／βとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ－３が同じ場合において、そのＲ－３における一次近似式の値と値Δｄ２Ｂｙ／βとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0117】
なお、差Δｄ２Ｂｙではなく、値Δｄ２Ｂｙ／βを使用する理由は差Δｄ２Ｂｙが破断箇所直上（Ｙ０３の位置、Ｙ＝０）で不連続的に変化するが、検査対象Ｐの破断に起因する差Δｄ２Ｂｙと差Δｄ２Ｂｚの幾何学的関係、つまり、Δｄ２Ｂｙ／Δｄ２Ｂｚ＝（Ｙ／Ｚａ）・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）＝βにより補正すれば、後述するｚ軸方向の磁束密度の変動から得られる差Δｄ２Ｂｚと同様に扱えるからである。
【0118】
＜差Δｄ２Ｘｙを使用する例＞
上記例では、値Δｄ２Ｂｙ／βを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差Δｄ２Ｘｙを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
上記例では、値Δｄ２Ｂｙ／βを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差Δｄ２Ｘｙを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
【0119】
この場合、まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を、検査対象Ｐから各磁気センサ６までのＹ軸方向の位置の差Ｙの正負の符号で補正した値Δｄ２Ｘｙ・αと、算出されたＲ1/２との関係を表す一次近似式を算出する（図９（Ｂ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、値Δｄ２Ｘｙ・αを第一軸としＲ1/２を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αをプロットし、プロットした点が一次近似式を満たすか否かを判断する（図９（Ｂ）参照）。
【0120】
なお、αは、α＝ＳＩＧＮ（Ｙ）とする。
ＳＩＧＮ（Ａ）はＡの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする。例えば、図１において、磁気センサ６がＹ００～Ｙ０２の場合、Ｙは負の数になるのでα＝ＳＩＧＮ（Ｙ）は「－1」となり、磁気センサ６がＹ０３～Ｙ０７の場合，Ｙは正の数または０になるのでα＝ＳＩＧＮ（Ｙ）は「＋1」となる。
ＳＩＧＮ（Ａ）はＡの正負の符号により、Ａが正の数または０の場合「＋１」、Ａが負の数の場合「－1」の値とする。例えば、図１において、磁気センサ６がＹ００～Ｙ０２の場合、Ｙは負の数になるのでα＝ＳＩＧＮ（Ｙ）は「－1」となり、磁気センサ６がＹ０３～Ｙ０７の場合，Ｙは正の数または０になるのでα＝ＳＩＧＮ（Ｙ）は「＋1」となる。
【0121】
そして、プロットした点が一次近似式を満たす場合、つまり値Δｄ２Ｘｙ・αとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0122】
なお、値Δｄ２Ｘｙ・αとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ1/２が同じ場合において、そのＲ1/２における一次近似式の値と値Δｄ２Ｘｙ・αとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0123】
＜試験構造物ＴＭの一次近似式を使用する例＞
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて検査対象Ｐの破断を判断する方法と同様に、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐにおいて各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βや値Δｄ２Ｘｙ・αが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、磁束密度の第一方向に沿ったｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて検査対象Ｐの破断を判断する方法と同様に、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐにおいて各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／βや値Δｄ２Ｘｙ・αが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
【0124】
試験構造物ＴＭから判断一次近似式を作成する方法は、上述したコンクリート構造物Ｃにおいて一次近似式を作成する方法と同様の方法で実施する。
【0125】
つまり、図４に示すような縦筋Ｒ２と横筋Ｒ１とを有する交差鉄筋ＣＲを有する試験構造物ＴＭを形成し、試験対象Ｑの第一方向（図４の左右方向、Ｘ軸方向）に沿って本実施形態の非破壊検査装置１を試験構造物ＴＭの表面ＣＦ上を移動させて、ｙ軸方向の磁束密度を測定する。すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と試験対象Ｑの第一方向の測定位置との関係を示す第二方向変動曲線を形成する（図８（Ａ）参照）。
【0126】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第二方向変動曲線を形成すると、この第二方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第二方向微分曲線を形成する（図８（Ｂ）参照）。
【0127】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第二方向微分曲線を形成すると、極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙとを算出する（図８（Ｂ）参照）。具体的には、各第二方向微分曲線について、第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｙを補正係数β１で除した値Δｄ２Ｂｙ／β１を算出する。また、極大値となる位置と極小値となる位置の差Δｄ２Ｘｙを算出し、差Δｄ２Ｘｙの正負の符号を補正した値Δｄ２Ｘｙ・α１を算出する。
【0128】
そして、複数の磁気センサ６から試験対象Ｑまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｂｙ／β１と算出されたＲ－３との関係を表す判断一次近似式を算出する（図９（Ａ）参照）。
【0129】
また、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・α１と算出されたＲ1/２との関係を表す判断一次近似式を算出する（図９（Ｂ）参照）。
【0130】
このようにして算出された判断一次近似式近傍に、本実施形態の非破壊検査装置１の磁束密度の測定値から得られる値Δｄ２Ｂｙ／βや値Δｄ２Ｘｙ・αが分布する場合には、検査対象Ｐに破断が生じていると判断することができる。
【0131】
なお、試験構造物ＴＭでは、補正係数β１＝（Ｙ１／Ｚａ）・ＳＩＧＮ（Δｄ２Ｘｙ）となりα１＝ＳＩＧＮ（Ｙ１）となる。また、位置の差Ｙ１は、試験構造物ＴＭのＹ軸方向における試験対象Ｑから各磁気センサ６までの距離であって、Ｙ軸方向における正負を含む値である。
【0132】
＜診断マップＭＰを使用する方法＞
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ｂ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に値Δｄ２Ｂｙ／β１や値Δｄ２Ｘｙ・α１が分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる値Δｄ２Ｂｙ／βや値Δｄ２Ｘｙ・αが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ｂ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に値Δｄ２Ｂｙ／β１や値Δｄ２Ｘｙ・α１が分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる値Δｄ２Ｂｙ／βや値Δｄ２Ｘｙ・αが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
【0133】
診断マップＭＰは、Ｙ軸方向における試験対象Ｑから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）毎に作成し、試験構造物ＴＭを使用して得られた値Δｄ２Ｂｙ／β１を第一軸、値Δｄ２Ｘｙ・α１を第二軸としたものとする。この診断マップＭＰに、磁気センサ６からＺ軸方向における試験対象Ｑまでの距離Ｚａ（図２参照）およびその他の構造物を変化させた試験構造物ＴＭを使用して得られた結果をプロットする。つまり、試験対象Ｑに破断が生じている場合の値Δｄ２Ｂｙ／β１と値Δｄ２Ｘｙ・α１を診断マップＭＰにプロットして、破断領域ＢＡを設定する（図１４（Ｂ）参照）。つまり、距離Ｙａの場合において、および距離Ｚａに対応する破断領域ＢＡを設定する。すると、距離Ｚａとなるコンクリート構造物Ｃにおいて本実施形態の非破壊検査装置１で測定された磁束密度に基づいて得られる値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αの組み合わせを、距離Ｙａの診断マップＭＰにプロットすれば、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。つまり、診断マップＭＰの破断領域ＢＡに値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αの組み合わせが位置すれば検査対象Ｐに破断が生じており、破断領域ＢＡから値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αの組み合わせが外れていれば検査対象Ｐに破断が生じていないと判断することができる。
【0134】
例えば、図１４（Ｂ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線であり、距離Ｙａ＝１００ｍｍであり、距離Ｚａ＝１００、１５０ｍｍであれば、診断マップＭＰにおいて、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合の破断領域ＢＡ１は図１４（Ｂ）に示すようになり、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合の破断領域ＢＡ２は図１４（Ｂ）に示すようになる。したがって、本実施形態の非破壊検査装置１によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定する場合において、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合であれば、値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αの組み合わせが破断領域ＢＡ１に入れば破断が生じていると判断できる。また、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合であれば、値Δｄ２Ｂｙ／βおよび値Δｄ２Ｘｙ・αの組み合わせが破断領域ＢＡ２に入れば破断が生じていると判断できる。
【0135】
＜特定の磁気センサ６の測定値を使用する方法＞
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αのうち、一定以上の値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αのうち、一定以上の値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
【0136】
この場合、診断マップＭＰの破断領域を絞り込めるという点で好ましい。とくに、試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成している場合には、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６だけを設けるだけでも破断の判断をすることができる。すると、本実施形態の非破壊検査装置１が備える磁気センサ６の数を少なくできるので、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できるし、測定後のデータ処理も早くなる。
【0137】
上記のようにできる理由は、以下のとおりである。
【0138】
コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合では、その条件によって一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも値Δｄ２Ｘｙ・αが異なる値になる（図１０参照）。また、検査対象Ｐの種類が異なっても、一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも値Δｄ２Ｘｙ・αが異なる値になる（図１０参照）。このため、検査対象Ｐの破断を検出する精度を高くするためには、複数の磁気センサ６で測定された磁束密度を用いて得られる複数の値Δｄ２Ｘｙ・αを用いて、複数の値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たすか否かを判断することが望ましい。
【0139】
しかし、Ｙ軸方向における検査対象Ｐから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）とＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａ（図２参照）との関係を示すＹａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αは、検査対象Ｐの種類が同じであれば、交差鉄筋の有無や交差鉄筋の種類によらず、ほぼ同じ値になる。したがって、検査対象Ｐの種類ごとに判断一次近似式を作成しておき、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６を設け、その位置で磁束密度を測定すれば、検査対象Ｐの破断を検出する精度を維持しつつ、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できる。
【0140】
例えば、図１０（Ａ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線の場合であれば、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが１００ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0141】
同様に、図１０（Ｂ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ鋼棒の場合でも、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが１００ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0142】
なお、判断一次近似式を作成していない場合、つまり、複数の磁気センサ６によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して一次近似式を作成する場合でも同様に判断できる。つまり、コンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して作成した一次近似式について、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度から得られる値Δｄ２Ｘｙ・αだけを使用し、この値Δｄ２Ｘｙ・αが一次近似式を満たすか否かによって検査対象Ｐが破断しているか否かを判断してもよい。
【0143】
＜検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定する方法＞
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
【0144】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向に沿ってｙ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第二方向変動曲線を形成する（図８（Ａ）参照）。
【0145】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第二方向変動曲線を形成すると、この第二方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第二方向微分曲線をそれぞれ形成し、極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｙを算出する。具体的には、各第二方向微分曲線について、各第二方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、極大値となる位置と極小値となる位置の値Δｄ２Ｘｙ・αを算出する。
【0146】
そして、位置の差Ｙの位置における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第二方向微分曲線から算出される値Δｄ２Ｘｙ・αとの関係を表す一次近似式により推定した値を値Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ）とする。そして、（Δｄ２Ｘｙ（Ｙ）・α（Ｙ））／（Δｄ２Ｘｙ（０）・α（０））と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成する。すると、Ｚ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離ＺａがＧａｐ≧Ｚａの場合には、相対値一次近似式の傾きに基づいて検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐを推定することができる（図１５参照）。
【0147】
なお、一次近似式の傾きと検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐとの関係は、試験構造物ＴＭにおいてＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａおよび破断ギャップＧａｐを変更してあらかじめ求めておけばよい。
【0148】
＜Ｚ軸方向＞
上記例では、検査対象Ｐの破断を磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向およびｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて判断する場合を説明したが、検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で判断してもよい。
上記例では、検査対象Ｐの破断を磁束密度の第一方向に沿ったｘ軸方向およびｙ軸方向の磁束密度の変動に基づいて判断する場合を説明したが、検査対象Ｐの破断は、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動に基づいて以下のような方法で判断してもよい。
【0149】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向（Ｘ軸方向）に沿ってｚ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第三方向変動曲線を形成する（図１１（Ａ）参照）。
【0150】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第三方向変動曲線を形成すると、この第三方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第三方向微分曲線を形成する（図１１（Ｂ）参照）。
【0151】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第三方向微分曲線を形成すると、各磁気センサ６の第三方向微分曲線について、極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚとを算出する（図１１（Ｂ）参照）。具体的には、各第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚを算出する。また、極大値となる位置と極小値となる位置の差Δｄ２Ｘｚを算出する。
【0152】
極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚとを算出すると、以下の方法で破断の有無を推定する。
【0153】
＜差Δｄ２Ｂｚを使用する例＞
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図１２（Ａ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差Δｄ２Ｂｚを第一軸としＲ－３を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚをプロットし、プロットした点が一次近似式を満たすか否かを判断する（図１２（Ａ）参照）。
まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚと算出されたＲ－３との関係を表す一次近似式を算出する（図１２（Ａ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差Δｄ２Ｂｚを第一軸としＲ－３を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚをプロットし、プロットした点が一次近似式を満たすか否かを判断する（図１２（Ａ）参照）。
【0154】
そして、プロットした点が一次近似式を満たす場合、つまり差Δｄ２ＢｚとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0155】
なお、差Δｄ２ＢｚとＲ－３との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ－３が同じ場合において、そのＲ－３における一次近似式の値と差Δｄ２Ｂｚとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0156】
＜差Δｄ２Ｘｚを使用する例＞
上記例では、差Δｄ２Ｂｚを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差Δｄ２Ｘｚを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
上記例では、差Δｄ２Ｂｚを使用して検査対象Ｐの破断を判断する場合を説明したが、差Δｄ２Ｘｚを使用して検査対象Ｐの破断の判断を行ってもよい。
【0157】
この場合、まず、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚと算出されたＲ1/２との関係を表す一次近似式を算出する（図１２（Ｂ）参照）。一次近似式を算出すると、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たすか否かを判断する。例えば、差Δｄ２Ｘｚを第一軸としＲ1/２を第二軸とするグラフ上に各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚをプロットし、プロットした点が一次近似式を満たすか否かを判断する（図１２（Ｂ）参照）。
【0158】
そして、プロットした点が一次近似式近傍に分布する場合、つまり差Δｄ２ＸｚとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断する。
【0159】
なお、差Δｄ２ＸｚとＲ1/２との関係が一次近似式を満たす場合とは、Ｒ1/２が同じ場合において、そのＲ1/２における一次近似式の値と差Δｄ２Ｘｚとの相対誤差が±３０％以内の場合を意味している。
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
相対誤差＝[｛（実測値）／（一次近似式の値）｝－１]×１００％
【0160】
＜試験構造物ＴＭの一次近似式を使用する例＞
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動に基づいて検査対象Ｐの破断を判断する方法と同様に、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
上述した方法では、本実施形態の非破壊検査装置１が備える複数の磁気センサ６によって検査するコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定した場合に、測定された磁束密度を利用して、一次近似式を算出するようにした。しかし、磁束密度の第一方向に沿ったｚ軸方向の磁束密度の変動に基づいて検査対象Ｐの破断を判断する方法と同様に、本実施形態の非破壊検査装置１によって検査するコンクリート構造物Ｃを模した試験構造物ＴＭの磁束密度を測定し、この磁束密度に基づいて一次近似式（判断一次近似式）を予め算出しておいてもよい。そして、各磁気センサ６が測定した各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが、判断一次近似式を満たすか否かによって、破断を判断してもよい。
【0161】
試験構造物ＴＭから判断一次近似式を作成する方法は、上述したコンクリート構造物Ｃにおいて一次近似式を作成する方法と同様の方法で実施する。
【0162】
つまり、図４に示すような縦筋Ｒ２と横筋Ｒ１とを有する交差鉄筋ＣＲを有する試験構造物ＴＭを形成し、試験対象Ｑの第一方向に沿って本実施形態の非破壊検査装置１を試験構造物ＴＭの表面ＣＦ上を移動させて、ｚ軸方向の磁束密度を測定する。すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と試験対象Ｑの第一方向の測定位置との関係を示す第三方向変動曲線を形成する（図１１（Ａ）参照）。
【0163】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第三方向変動曲線を形成すると、この第三方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第三方向微分曲線を形成する（図１１（Ｂ）参照）。
【0164】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第三方向微分曲線を形成すると、極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚと極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚとを算出する（図１１（Ｂ）参照）。具体的には、各第三方向微分曲線について、第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、この極大値と極小値の差Δｄ２Ｂｚを算出する。また、各第三方向微分曲線について、極大値となる位置と極小値となる位置の差Δｄ２Ｘｚを算出する。
【0165】
そして、複数の磁気センサ６から試験対象Ｑまでの距離Ｒ（図２参照）の逆３乗であるＲ－３を算出する。そして、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｂｚと算出されたＲ－３との関係を表す判断一次近似式を算出する（図１２（Ａ）参照）。
【0166】
また、複数の磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｒ（図２参照）の１／２乗であるＲ1/２を算出する。そして、各磁気センサ６の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚと算出されたＲ1/２との関係を表す判断一次近似式を算出する（図１２（Ｂ）参照）。
【0167】
このようにして算出された判断一次近似式上に、本実施形態の非破壊検査装置１の磁束密度の測定値から得られる差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが分布する場合には、検査対象Ｐに破断が生じていると判断することができる。
【0168】
＜診断マップＭＰを使用する方法＞
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ｃ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成する場合には、試験構造物ＴＭを用いて診断マップＭＰを形成することが望ましい（図１４（Ｃ）参照）。この診断マップＭＰにおいて試験対象Ｑに破断が生じている場合に差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが分布する領域（破断領域ＢＡ）を設定すれば、実際のコンクリート構造物Ｃの磁束密度の測定値から得られる差Δｄ２Ｂｚや差Δｄ２Ｘｚが破断領域ＢＡに位置するか否かによって、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。
【0169】
診断マップＭＰは、Ｙ軸方向における試験対象Ｑから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）毎に作成し、試験構造物ＴＭを使用して得られた差Δｄ２Ｂｚを第一軸、差Δｄ２Ｘｚを第二軸としたものとする。この診断マップＭＰに、磁気センサ６からＺ軸方向における試験対象Ｑまでの距離Ｚａ（図２参照）およびその他の構造物を変化させた試験構造物ＴＭを使用して得られた結果をプロットする。つまり、試験対象Ｑに破断が生じている場合の差Δｄ２Ｂｚと差Δｄ２Ｘｚを診断マップＭＰにプロットして、破断領域ＢＡを設定する（図１４（Ｃ）参照）。つまり、距離Ｙａの場合において、距離Ｚａに対応する破断領域ＢＡを設定する。すると、距離Ｚａとなるコンクリート構造物Ｃにおいて本実施形態の非破壊検査装置１の距離Ｙａとなる磁気センサ６で測定された磁束密度に基づいて得られる差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚの組み合わせを、距離Ｙａの診断マップＭＰにプロットすれば、検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断することができる。つまり、診断マップＭＰの破断領域ＢＡに差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚの組み合わせが位置すれば検査対象Ｐに破断が生じており、破断領域ＢＡから差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚの組み合わせが外れていれば検査対象Ｐに破断が生じていないと判断することができる。
【0170】
例えば、図１４（Ｃ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線であり、距離Ｙａ＝１００ｍｍであり、距離Ｚａ＝１００、１５０ｍｍであれば、診断マップＭＰにおいて、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合の破断領域ＢＡ１は図１４（Ｃ）に示すようになり、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合の破断領域ＢＡ２は図１４（Ｃ）に示すようになる。したがって、本実施形態の非破壊検査装置１によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定する場合において、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１００ｍｍの場合であれば、差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚの組み合わせが破断領域ＢＡ１に入れば破断が生じていると判断できる。また、距離Ｙａ＝１００ｍｍ、距離Ｚａ＝１５０ｍｍの場合であれば、差Δｄ２Ｂｚおよび差Δｄ２Ｘｚの組み合わせが破断領域ＢＡ２に入れば破断が生じていると判断できる。
【0171】
＜特定の磁気センサ６の測定値を使用する方法＞
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる差Δｄ２Ｘｚのうち、一定以上の差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる差Δｄ２Ｘｚだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
検査対象Ｐの破断を判断する際に、複数の磁気センサ６によって測定した磁束密度から得られる差Δｄ２Ｘｚのうち、一定以上の差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たす場合に、検査対象Ｐに破断が生じていると判断してもよい。例えば、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６の測定値から得られる差Δｄ２Ｘｚだけを用いて検査対象Ｐに破断が生じているか否かを判断してもよい。
【0172】
この場合、診断マップＭＰの破断領域を絞り込めるという点で好ましい。とくに、試験構造物ＴＭを用いて判断一次近似式を作成している場合には、検査対象Ｐから特定の位置関係にある磁気センサ６だけを設けるだけでも破断の判断をすることができる。すると、本実施形態の非破壊検査装置１が備える磁気センサ６の数を少なくできるので、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できるし、測定後のデータ処理も早くなる。
【0173】
上記のようにできる理由は、以下のとおりである。
【0174】
コンクリート構造物Ｃに横筋や縦筋等の交差鉄筋が存在する場合や交差鉄筋が無い場合では、その条件によって一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも差Δｄ２Ｘｚが異なる値になる（図１３参照）。また、検査対象Ｐの種類が異なっても、一次近似式の傾きが異なり、Ｒ1/2が同じでも差Δｄ２Ｘｚが異なる値になる（図１３参照）。このため、検査対象Ｐの破断を検出する精度を高くするためには、複数の磁気センサ６で測定された磁束密度を用いて得られる複数の差Δｄ２Ｘｚを用いて、複数の差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たすか否かを判断することが望ましい。
【0175】
しかし、Ｙ軸方向における検査対象Ｐから磁気センサ６までの距離Ｙａ（図２参照）とＺ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離Ｚａ（図２参照）との関係を示すＹａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差Δｄ２Ｘｚは、検査対象Ｐの種類が同じであれば、交差鉄筋の有無や交差鉄筋の種類によらず、ほぼ同じ値になる。したがって、検査対象Ｐの種類ごとに判断一次近似式を作成しておき、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６を設け、その位置で磁束密度を測定すれば、検査対象Ｐの破断を検出する精度を維持しつつ、本実施形態の非破壊検査装置１の構成を簡素化できる。
【0176】
例えば、図１３（Ａ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ撚り線の場合であれば、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが１００ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差Δｄ２Ｘｚが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0177】
同様に、図１３（Ｂ）に示すように、検査対象ＰがＰＣ鋼棒の場合でも、距離Ｚａが１００ｍｍであれば、距離Ｙａが５０ｍｍとなる位置の磁気センサ６で測定した磁束密度の変動から得られる差Δｄ２Ｘｚが試験構造物ＴＭを用いて得られる判断一次近似式を満たせば、検査対象Ｐが破断していると判断することができる。
【0178】
なお、判断一次近似式を作成していない場合、つまり、複数の磁気センサ６によってコンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して一次近似式を作成する場合でも同様に判断できる。つまり、コンクリート構造物Ｃの磁束密度を測定して作成した一次近似式について、Ｙａ／Ｚａが０．５～１．０となる磁気センサ６で測定した磁束密度から得られる差Δｄ２Ｘｚだけを使用し、この差Δｄ２Ｘｚが一次近似式を満たすか否かによって検査対象Ｐが破断しているか否かを判断してもよい。
【0179】
＜検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定する方法＞
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
検査対象Ｐ以外の埋設鉄筋が無い場合には、検査対象Ｐの破断ＧＡのギャップＧａｐを推定することも可能である。
【0180】
まず、コンクリート構造物Ｃの検査対象Ｐの第一方向に沿ってｚ軸方向の磁束密度を測定すると、複数の磁気センサ６のそれぞれの測定値と第一方向の測定位置との関係を示す第三方向変動曲線を形成する（図１１（Ａ）参照）。
【0181】
複数の磁気センサ６についてそれぞれ第三方向変動曲線を形成すると、この第三方向変動曲線を二階微分する。そして、複数の磁気センサ６のそれぞれの二階微分値と、二階微分値に対応する第一方向の測定位置との関係を示す第三方向微分曲線をそれぞれ形成し、極大値の位置と極小値の位置の差Δｄ２Ｘｚを算出する。具体的には、各第三方向微分曲線ついて、各第三方向微分曲線が０となる位置を挟む極大値と極小値を算出し、極大値となる位置と極小値となる位置の差Δｄ２Ｘｚを算出する。
【0182】
そして、位置の差Ｙの位置における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離を距離Ｒ（Ｙ）とし、距離Ｒの１/２乗であるＲ1/２と各測定位置の第三方向微分曲線から算出される差Δｄ２Ｘｚとの関係を表す一次近似式により推定した差を差Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）とする。そして、Δｄ２Ｘｚ（Ｙ）／Δｄ２Ｘｚ（０）と（Ｒ（Ｙ）／Ｒ（０））1/2との関係を表す相対値一次近似式を作成する。Ｚ軸方向における磁気センサ６から検査対象Ｐまでの距離ＺａがＧａｐ≧Ｚａの場合には、一次近似式の傾きに基づいて検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐを推定することができる（図１５参照）。
【0183】
なお、一次近似式の傾きと検査対象Ｐの破断ＧＡの破断ギャップＧａｐとの関係は、試験構造物ＴＭにおいてＺ軸方向における磁気センサから検査対象Ｐまでの距離Ｚａおよび破断ギャップＧａｐを変更してあらかじめ求めておけばよい。
【産業上の利用可能性】
【0184】
本発明の非破壊検査方法は、コンクリート構造物内に設けられている鉄筋や鋼棒、鋼線等の破断を検出する方法として適している。
【符号の説明】
【0185】
１ 非破壊検査装置
２ 移動体
５ 磁束測定部
６ 磁気センサ
Ａ 第二測定方向
Ｂ 移動体２の中心軸
ＳＡ 基準面
Ｃ コンクリート構造物
ＣＦ コンクリート構造物Ｃの表面
ＣＲ 交差鉄筋
Ｐ 検査対象
ＴＭ 試験構造物
Ｑ 試験対象
Ｒ１ 交差鉄筋（横筋）
Ｒ２ 交差鉄筋（縦筋）
ＧＡ 破断
Ｇａｐ 破断ギャップ
２ 移動体
５ 磁束測定部
６ 磁気センサ
Ａ 第二測定方向
Ｂ 移動体２の中心軸
ＳＡ 基準面
Ｃ コンクリート構造物
ＣＦ コンクリート構造物Ｃの表面
ＣＲ 交差鉄筋
Ｐ 検査対象
ＴＭ 試験構造物
Ｑ 試験対象
Ｒ１ 交差鉄筋（横筋）
Ｒ２ 交差鉄筋（縦筋）
ＧＡ 破断
Ｇａｐ 破断ギャップ
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
