特開 2023-20788 分光分析法を用いた探査、検査法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023020788

(43)【公開日】2023-02-09

(54)【発明の名称】分光分析法を用いた探査、検査法

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/27 20060101AFI20230202BHJP

【ＦＩ】

G01N21/27 B

【審査請求】未請求

【請求項の数】3

【出願形態】書面

(21)【出願番号】P 2021146498

(22)【出願日】2021-07-30

(71)【出願人】

【識別番号】518440899

【氏名又は名称】パテントフレア株式会社

(72)【発明者】

【氏名】伊藤 学

【テーマコード（参考）】

2G059

【Ｆターム（参考）】

2G059EE02

2G059EE12

2G059FF06

2G059GG01

(57)【要約】

【課題】従来の分光分析による検査方法は、据え置き装置で、装置内に置かれている試料（検査対象）を、光源と受光器を用いてスペクトルを分析し、成分（化学組成）を調べていた。
この方法では、試料（検査対象）を採取して、装置内部の寸法に加工する必要があり、現地へ行ってその場で検査をすることができないという課題があった。
【解決手段】試料（検査対象）を採取するのではなく、現場へ装置を持ち込み、分光分析の手法で直接検査対象を調べる方法を提案する。
レーザー光等の光源と受光器を備え、小型化した検査装置で、装置の外側又は周囲にある検査対象にレーザー光を照射し、その反射光を受光器で受けて、スペクトルを分析する。
この検査方法によって、従来の課題を解決する。
【選択図】なし

【特許請求の範囲】

【請求項1】

分光分析法を用いて、検査装置内に置かれている試料（検査対象）ではなく、検査装置の外側又は周囲にある対象の成分（化学組成）を調べる方法。
検査装置の外側又は周囲にある対象に対して、光源からレーザー光等を照射してその反射光を受光器で受けて、分光分析法を用いて対象の成分（化学組成）を調べる方法。

【請求項2】

請求項１に記載の方法を使用した装置。

【請求項3】

請求項２に記載の装置を使用した役務、事業。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は分光分析技術の応用技術に関する。

【背景技術】

【0002】

分光分析学の技術

【0003】

天体観測の技術

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

従来の分光分析による検査方法は、据え置き装置で、装置内に置かれている試料（検査対象）を、光源と受光器を用いてスペクトルを分析し、成分（化学組成）を調べていた。
この方法では、試料（検査対象）を採取して、装置内部の寸法に加工する必要があり、現地へ行ってその場で、検査をすることができないという課題があった。

【課題を解決するための手段】

【0005】

試料（検査対象）を採取するのではなく、現場へ装置を持ち込み、分光分析の手法で直接検査対象を調べる方法を提案する。
レーザー光等の光源と受光器を備え、小型化した検査装置で、装置の外側又は周囲にある検査対象にレーザー光を照射し、その反射光を受光器で受けて、スペクトルを分析する。
この検査方法によって、従来の課題を解決する。

【実施例0006】

分光分析鉱物資源探査法（試掘調査）

【0007】

分光分析病理検査法（健康診断）

【0008】

分光分析生体認証法