特開 2023-33741 赤外線撮影装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023033741

(43)【公開日】2023-03-13

(54)【発明の名称】赤外線撮影装置

(51)【国際特許分類】

   G01J 1/02 20060101AFI20230306BHJP

   G01J 1/00 20060101ALI20230306BHJP

   G01J 5/48 20220101ALI20230306BHJP

   G01J 5/90 20220101ALI20230306BHJP

   H04N 23/60 20230101ALI20230306BHJP

【ＦＩ】

G01J1/02 H

G01J1/00 B

G01J1/02 Q

G01J5/48 F

G01J5/00 A

H04N5/232

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021139615

(22)【出願日】2021-08-30

(71)【出願人】

【識別番号】000227836

【氏名又は名称】日本アビオニクス株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000925

【氏名又は名称】弁理士法人信友国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】小森 隆正

(72)【発明者】

【氏名】高橋 琢哉

【テーマコード（参考）】

2G065

2G066

5C122

【Ｆターム（参考）】

2G065AA11

2G065AB02

2G065BA14

2G065BA15

2G065BA34

2G065BB21

2G065BC11

2G065BC14

2G065CA25

2G065DA03

2G065DA18

2G066BA34

2G066CA02

2G066CA15

2G066CB05

5C122DA16

5C122DA25

5C122EA01

5C122FF10

5C122FH24

5C122GA34

5C122HA81

5C122HA88

5C122HB01

(57)【要約】

【課題】シャッタの動作精度の劣化を検出することができる赤外線撮影装置を提供する。
【解決手段】赤外線撮影装置１は、赤外線を受光して熱画像データに変換する赤外線センサ３と、赤外線センサ３よりも測定対象物１０１側に配置されたシャッタ４と、シャッタ４の開閉を制御する制御部８２と、熱画像データを出力する出力部７３とを備える。制御部８２は、シャッタ４の閉じ動作を開始してから所定時間（例えば、４５０ｍｓ）が経過したときに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標を、予め定めた閾値と比較することで、シャッタ４が劣化したか否かを判定する。出力部７３は、制御部によりシャッタ４が劣化したと判定された場合に、シャッタ４が劣化したことを示す劣化情報を出力する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

赤外線を受光して熱画像データに変換する赤外線センサと、
前記赤外線センサよりも測定対象物側に配置されたシャッタと、
前記シャッタの開閉を制御する制御部と、
前記熱画像データを出力する出力部と、を備え、
前記制御部は、前記シャッタの閉じ動作を開始してから所定時間が経過したときに得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標を、予め定めた閾値と比較することで、前記シャッタが劣化したか否かを判定し、
前記出力部は、前記制御部により前記シャッタが劣化したと判定された場合に、前記シャッタが劣化したことを示す劣化情報を出力する
赤外線撮影装置。

【請求項2】

前記制御部は、前記所定時間が経過したときに得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値を超える場合に、前記シャッタが劣化したと判定する
請求項１に記載の赤外線撮影装置。

【請求項3】

前記制御部は、前記所定時間よりも短い特定時間が経過したときに得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値以下である場合に、前記シャッタが劣化していないと判定し、前記特定時間よりも長く且つ前記所定時間よりも短い判定期間中に得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値以下である場合に、前記シャッタが劣化注意状態であると判定する
請求項２に記載の赤外線撮影装置。

【請求項4】

前記出力部は、前記制御部により前記劣化注意状態であると判定された場合に、前記シャッタが使用可能な範囲内で劣化していることを示す劣化注意情報を出力する
請求項３に記載の赤外線撮影装置。

【請求項5】

前記判定期間中に得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値以下となるまでの時間を待機時間として記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記シャッタの劣化を検出する処理を行う場合に、前記記憶部に記憶された前記待機時間が経過するまで前記シャッタの劣化判定を行わず、前記待機時間が経過したのちに得られた前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値以下であるか否かを判定する
請求項３に記載の赤外線撮影装置。

【請求項6】

前記判定期間において、前記制御部は、一定時間が経過する度に前記熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、前記閾値以下であるか否かを判定する
請求項３に記載の赤外線撮影装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、赤外線撮影装置に関する。

【背景技術】

【0002】

測定対象物の温度を非接触で計測する赤外線撮影装置が知られている。赤外線撮影装置は、測定対象物から放射されている赤外線を受光して熱画像データに変換する赤外線センサと、赤外線センサよりも測定対象物側に配置されたシャッタと、シャッタを開閉するシャッタ駆動機構を備えている。ところで、シャッタの動作精度は、使用回数や仕様期間に応じて劣化する。

【0003】

シャッタや絞りなどの動作精度の劣化を検知する撮像装置としては、例えば、特許文献１に記載されている。特許文献１に記載されたカメラシステムは、絞りの累積駆動回数と動作保証回数とを記憶する記憶手段を有している。このカメラシステムは、絞りが駆動されるときに、累積駆動回数の更新処理と、累積駆動回数と動作保証回数との比較処理を行い、積駆動回数が動作保証回数に達した場合にその旨を報知手段により報知する。これにより、使用者は、絞りが交換時期にきていることを知ることができる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００５－１４０９１４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかし、特許文献１に開示されたカメラシステムでは、絞りの動作精度が実際に劣化しているか否かに関わらず、絞りの駆動回数に基づいて、動作精度の劣化を画一的に判定する。そのため、実際には使用可能な絞りを交換することになる。

【0006】

本発明の目的は、上記の問題点を考慮し、シャッタの動作精度の劣化を検出することができる赤外線撮影装置を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決し、本発明の目的を達成するため、赤外線撮影装置は、赤外線を受光して熱画像データに変換する赤外線センサと、赤外線センサよりも測定対象物側に配置されたシャッタと、シャッタの開閉を制御する制御部と、熱画像データを出力する出力部とを備える。制御部は、シャッタの閉じ動作を開始してから所定時間が経過したときに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標を、予め定めた閾値と比較することで、にシャッタが劣化したと判定する。出力部は、制御部によりシャッタが劣化したと判定された場合に、シャッタの劣化を示す劣化情報を出力する。

【発明の効果】

【0008】

本発明の赤外線撮影装置によれば、シャッタの動作精度の劣化を検出することができる。
上記した以外の課題、構成および効果は、以下の実施形態の説明によって明らかにされる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本発明の一実施形態に係る赤外線撮影装置の概略構成を示したブロック図である。

【図2】シャッタを開いた場合と、シャッタが閉じている場合と、シャッタが完全に開いている状態と完全に閉じている状態の間の中間の状態である場合の熱画像の温度分布を示すヒストグラムである。

【図3】本発明の一実施形態に係る赤外線撮影装置のシャッタを閉じる処理の例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、本発明の一実施形態に係る赤外線撮影装置について、図１～図３を参照して説明する。なお、各図において共通の部材には、同一の符号を付している。

【0011】

［赤外線撮影装置の全体構成］
まず、本発明の一実施形態に係る赤外線撮影装置の構成について、図１を参照して説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る赤外線撮影装置の概略構成を示したブロック図である。

【0012】

図１に示すように、赤外線撮影装置１は、レンズ２と、赤外線センサ３と、シャッタ４と、シャッタ駆動機構５を備える。レンズ２は、測定対象物１０１から放射される赤外線を集光する。赤外線センサ３は、レンズ２により集光された赤外線を受光してアナログの電気信号（アナログ信号）に変換する。

【0013】

シャッタ４は、レンズ２と赤外線センサ３との間に配置される。すなわち、シャッタ４は、赤外線センサ３よりも測定対象物１０１側に配置されている。シャッタ駆動機構５は、シャッタ４を開閉する。シャッタ４を閉じると、レンズ２により集光された赤外線が遮断される。これにより、測定対象物１０１から放射された赤外線は、赤外線センサ３に到達しない。また、シャッタ４には、シャッタ４の温度を測定する温度センサ４１が取り付けられている。

【0014】

また、赤外線撮影装置１は、プリアンプ基板６と、補正処理基板７と、制御基板８とを備える。プリアンプ基板６には、赤外線センサ３と、Ａ／Ｄ変換器６１と、温度センサ６２が設けられている。赤外線センサ３は、例えば、ＶＧＡ（Video Graphics Array）規格の画素配列（水平６４０画素×垂直４８０画素）でアナログ信号の熱画像データを取得する赤外線イメージセンサである。

【0015】

Ａ／Ｄ変換器６１は、赤外線センサ３から出力されたアナログ信号をデジタル信号（以下、「熱画像データ」とする）に変換する。温度センサ６２は、赤外線センサ３の温度を検出する。また、プリアンプ基板６には、赤外線センサ３から出力されたアナログ信号を増幅する不図示のバッファアンプや、赤外線センサ３を制御する不図示のマイコンが設けられている。

【0016】

補正処理基板７には、データ受信部７１と、補正処理部７２と、出力部７３と、データ格納部７４と、補正値格納部７５が設けられている。データ受信部７１は、Ａ／Ｄ変換器６１から出力された熱画像データを受信し、データ格納部７４に格納する。また、データ受信部７１は、熱画像データを補正処理部７２に送る。

【0017】

補正処理部７２は、データ受信部７１から供給された熱画像データを、補正値格納部７５に格納された補正値を用いて補正する。赤外線センサ３は、画素（ピクセル）毎の感度がばらついている。そのため、補正処理部７２は、赤外線センサ３の出力のばらつきをオフセット調整して、同じ輝度に対して同じ出力を得るための補正処理、すなわち、ＮＵＣ（Non-Uniformity Correction）を行う。補正処理が行われた熱画像データは、出力部７３に供給される。

【0018】

補正値格納部７５には、補正処理部７２によるオフセット調整に必要な補正値が格納されている。補正値は、後述する制御部８２により算出され、補正値格納部７５に格納される。出力部７３は、赤外線撮影装置１の外部に補正処理後の熱画像データを出力する。例えば、データ受信部７１が毎秒３０フレームの熱画像データを得る場合に、出力部７３は、毎秒３０フレームの熱画像データを出力（伝送）する。

【0019】

制御基板８には、ヒストグラム検出部８１と、制御部８２と、記憶部８３が設けられている。ヒストグラム検出部８１は、データ格納部７４に格納された熱画像データから１フレーム分の熱画像データに対応するヒストグラム（温度分布）を検出する。ヒストグラム検出部８１は、検出したヒストグラムを制御部８２に供給する。

【0020】

制御部８２は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）である。制御部８２は、シャッタ駆動機構５の駆動源に電気的に接続されている。制御部８２は、シャッタ駆動機構５の駆動を制御し、シャッタ４を開閉させる。制御部８２は、温度センサ４１からシャッタ４の温度を得る。また、制御部８２は、温度センサ６２から赤外線センサ３の温度を得る。

【0021】

制御部８２は、シャッタ４を閉じた状態の熱画像データである補正用熱画像データをデータ格納部７４から得る。制御部８２は、補正用熱画像データの面内ばらつきを測定し、赤外線センサ３の画素（ピクセル）毎の感度のばらつきを補正するための補正値を算出する。制御部８２は、算出した補正値を補正値格納部７５に格納する。

【0022】

また、制御部８２は、ヒストグラム検出部８１から供給されるヒストグラムから、シャッタ４の動作精度の劣化（以下、「シャッタ４の劣化」とする）を検出する。制御部８２によるシャッタ４の劣化検出及び上述した補正値の算出は、シャッタを閉じる処理において行われる。シャッタを閉じる処理では、シャッタ４が劣化して使用できないこと、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していること、シャッタ４が劣化していないことを検出する。

【0023】

シャッタを閉じる処理において、シャッタ４が劣化して使用できないことを検出した場合に、制御部８２は、劣化情報を出力部７３に送る。また、シャッタを閉じる処理において、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していることを検出した場合に、制御部８２は、劣化注意情報を出力部７３に送る。出力部７３は、制御部８２から劣化情報又は劣化注意情報を受信した場合に、その劣化情報又は劣化注意情報を赤外線撮影装置１の外部に出力する。

【0024】

記憶部８３は、ヒストグラム検出部８１や制御部８２による演算を実行するためのプログラムを格納するＲＯＭ（Read Only Memory）やパラメータ変数を記憶するための不揮発性メモリを有している。また、記憶部８３は、ヒストグラム検出部８１や制御部８２がプログラムを実行する際の作業領域となるＲＡＭ（Random Access Memory）を有している。

【0025】

［シャッタの開閉状態と温度分布］
次に、シャッタ４の開閉状態と温度分布について、図２を参照して説明する。
図２は、シャッタ４を開いた場合と、シャッタ４が閉じている場合と、シャッタ４が完全に開いている状態と完全に閉じている状態の間の中間の状態である場合の熱画像の温度分布を示すヒストグラムである。図２に示すヒストグラムの横軸は、温度値であり、縦軸は存在確率である。すなわち、図２は、温度値を示す画素が、全画素数に存在確率を乗じた数だけ存在することを示している。

【0026】

図２Ａは、シャッタ４を開いて測定対象物１０１から放射される赤外線を赤外線センサ３が受光した場合の熱画像データのヒストグラムを示す。ヒストグラムの横軸は温度を示し、縦軸は温度の相対度数を示す。シャッタ４を開いた状態では、赤外線センサ３が、測定対象物１０１から放射される赤外線、及び測定対象物１０１の周りの赤外線を受光する。その結果、シャッタ４を開いた場合は、熱画像データの温度分布にばらつきが生じている。

【0027】

図２Ｂは、シャッタ４を閉じた状態で取得した熱画像データのヒストグラムを示す。図２Ｂに示すように、シャッタ４を閉じた状態では、赤外線センサ３が、シャッタ４から放射された赤外線を受光する。その結果、シャッタ４を閉じた場合は、熱画像データの温度分布にばらつきが生じていない。

【0028】

図２Ｃは、シャッタ４が完全に開いている状態と完全に閉じている状態の間の中間の状態であるときに取得した熱画像のヒストグラムを示す。シャッタ４が劣化している場合は、所定時間が経過してもシャッタ４が十分に閉じられない。したがって、赤外線センサ３は、シャッタ４から放射された赤外線、及びシャッタ４以外の環境から放射される赤外線を受光する。その結果、シャッタ４が劣化している場合は、熱画像データの温度分布にばらつきが生じている。

【0029】

したがって、シャッタ４を閉じ始めてから所定時間が経過したときの熱画像データの温度分布、つまり、温度値のばらつきを表す指標が、予め定めた閾値を超える場合に、シャッタ４が劣化していると判定することができる。

【0030】

ばらつきを表す指標としては、熱画像データに含まれる各画素が表す温度値の存在範囲、すなわち、温度値の最高値から最低値までの温度幅を用いることができる。例えば、熱画像データに含まれる各画素が表す温度値は、図２Ａでは２５度以上の温度幅の範囲に分布している。これに対して、図２Ｂでは、２度以下の温度幅の範囲に分布している。そして、図２Ｃの温度幅は、図２Ａと図２Ｂの中間である。シャッタ４が閉じている図２Ｂを参照すると、温度幅が２度以下であれば、シャッタ４が閉じていると判定できる。所定時間が経過したときに、温度幅２度を閾値としてばらつきを表す指標（温度幅）を判定することで、シャッタ４が劣化したか否かを判定することができる。

【0031】

また、熱画像データに含まれる各画素が表す温度値の分散を、ばらつきを表す指標として用いることもできる。分散は、各画素が表す温度値とそれら温度値の平均値との差を画素ごとに算出し、画素ごとの差の二乗を全画素で合計し、これを画素数で除した値とする（式（１）を参照）。

【0032】

［数１］

【0033】

図２Ａにおける分散は、２．５以上であり、図２Ｂにおける分散は、０．１５以下である。図２Ｃにおける分散は、図２Ａと図２Ｂの中間である。分散が０．１５以下であれば、シャッタ４が閉じていると判定できる。所定時間が経過したときに分散０．１５を閾値としてばらつきを表す指標（分散）を判定することで、シャッタ４が劣化したか否かを判定することができる。

【0034】

［シャッタを閉じる処理］
次に、制御部８２が行うシャッタを閉じる処理について、図３を参照して説明する。
図３は、赤外線撮影装置１のシャッタを閉じる処理の例を示すフローチャートである。

【0035】

シャッタを閉じる処理は、赤外線撮影装置１の電源がＯＮされる度に実行される。まず、制御部８２は、開いた状態のシャッタ４を閉じる制御を開始し、特定時間（例えば、１００ｍｓ）待機する（Ｓ１１）。また、ステップＳ１１において、制御部８２は、待機時間カウントを初期化する。待機時間カウントは、待機時間を検出するためのカウントである。また、特定時間は、シャッタ４が劣化している（使用可能な劣化を含む）か否かを判定するために設定した時間である。

【0036】

次に、制御部８２は、記憶部８３に記憶された待機時間カウントを読み出し、待機時間カウントの値に対応する時間（本実施形態では、１カウントが３５ｍｓ）が経過するまで待機する（Ｓ１２）。記憶部８３には、カウント値の初期値もしくは、前回のシャッタを閉じる処理において格納したカウント値が格納されている。

【0037】

次に、制御部８２は、そのときの熱画像データの温度分布を取得する（Ｓ１３）。すなわち、制御部８２は、そのときの熱画像データのヒストグラムを、ヒストグラム検出部８１から取得する。次に、制御部８２は、熱画像データの温度のばらつきを表す指標が予め定めた閾値以下であるか否かを判定する（Ｓ１４）。

【0038】

ステップＳ１４において、熱画像データの温度のばらつきを表す指標が閾値以下でないと判定したとき（Ｓ１４がＮＯ判定の場合）、制御部８２は、待機時間カウントに「１」を加算し、待機時間カウントの値は１０以下であるか否かを判定する（Ｓ１５）。ステップＳ１５において、待機時間カウントの値は１０以下であると判定したとき（Ｓ１５がＹＥＳ判定の場合）、制御部８２は、約１フレーム分（例えば、３５ｍｓ）待機する（Ｓ１６）。ステップＳ１６の処理後、制御部８２は、ステップＳ１３の処理に移行する。

【0039】

一方、ステップＳ１５において、待機時間カウントの値は１０以下でないと判定したとき（Ｓ１５がＮＯ判定の場合）、制御部８２は、シャッタ４が劣化したと判別し、シャッタ４が劣化したことを示す劣化情報を出力部７３に送る（Ｓ１７）。ステップＳ１７の処理後、制御部８２は、ステップＳ２３の処理に移行する。

【0040】

待機時間カウントの値が１０である場合のステップＳ１４の処理において、熱画像データの温度のばらつきを表す指標が閾値以下でないと判定されると、ステップＳ１５の処理において待機時間カウントの値が１１になる。その結果、ステップＳ１５がＮＯ判定となり、シャッタ４が劣化したと判定されて、劣化情報が出力部７３に送られる。

【0041】

シャッタ４を閉じる動作を開始してから待機時間カウントの値が１０になるまでの時間は、本発明に係る所定時間に対応する。本実施形態において、シャッタ４を閉じる動作を開始してから温度分布（ヒストグラム）を取得するまでの最短時間は、１００ｍｓである。そして、待機時間カウントの１カウントに対応する時間が３５ｍｓであるため、待機時間カウントが０から１０になるまでの時間は、３５０ｍｓとなる。したがって、本実施形態における所定時間は、４５０ｍｓとなる。

【0042】

待機時間カウントの値が０から１０になるまでの時間（３５０ｍｓ）は、本発明に係る判定期間に対応する。また、待機時間カウントの１カウントに対応する時間（３５ｍｓ）は、本発明に係る一定時間に対応する。そして、シャッタ４を閉じる動作を開始してから温度分布（ヒストグラム）を取得するまでの最短時間（１００ｍｓ）は、本発明に係る特定時間に対応する。

【0043】

ステップＳ１４において、熱画像データの温度のばらつきを表す指標が閾値以下であると判定したとき（Ｓ１４がＹＥＳ判定の場合）、制御部８２は、シャッタ４の温度を温度センサ４１から取得する（Ｓ１８）。次に、制御部８２は、温度のばらつきを表す指標が閾値以下であると判定されたときの熱画像データを補正用熱画像データにする。そして、補正用熱画像データ及びシャッタ４の温度から、赤外線センサ３の画素（ピクセル）毎の感度のばらつきを補正するための補正値を決定する（Ｓ１９）。

【0044】

次に、制御部８２は、待機時間カウントの値が１以上であるか否かを判定する（Ｓ２０）。ステップＳ２０において、待機時間カウントの値が１以上でないと判定したとき（Ｓ２０がＮＯ判定の場合）、制御部８２は、ステップＳ２３の処理に移行する。

【0045】

一方、ステップＳ２０において、待機時間カウントの値が１以上であると判定したとき（Ｓ２０がＹＥＳ判定の場合）、制御部８２は、待機時間カウントを記憶部８３に格納する（Ｓ２１）。次に、制御部８２は、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していることを示す劣化注意情報を出力部７３に送る（Ｓ２２）。

【0046】

待機時間カウントの値が１以上１０以下である場合は、特定時間を経過したときにシャッタ４が閉じ切れていなかったが、所定時間が経過する前にシャッタ４が閉じたことを意味する。そのため、制御部８２は、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していると判定する。一方、待機時間カウントの値が１以上でない場合は、特定時間を経過したときにシャッタ４が閉じている。そのため、制御部８２は、シャッタ４が劣化してないと判定する。

【0047】

ステップＳ１７及びステップＳ２２の処理後、又はステップＳ２０がＮＯ判定の場合、制御部８２は、シャッタ４を開く（Ｓ２３）。その後、制御部８２は、シャッタを閉じる処理を終了する。このように、赤外線撮影装置１では、シャッタ４の閉じ動作における熱画像データの温度分布（ヒストグラム）から温度のばらつきを検出することにより、シャッタ４の劣化を検出することができる。これにより、実際に使用可能なシャッタに対して劣化であると判定することが無く、赤外線撮影装置の長寿命化に貢献することができる。

【0048】

また、赤外線撮影装置１は、シャッタ４の動作速度を検出する検出部を新たに設けなくても、既存の構成でシャッタ４が閉じたタイミングを検知して、シャッタ４が劣化しているか否かを検出することができる。さらに、赤外線撮影装置１は、使用可能ではあるがシャッタ４に劣化が生じていることを検出することができる。また、赤外線撮影装置１は、劣化注意情報を出力するため、使用者にシャッタ４が劣化し始めている旨の注意を促すことができる。

【0049】

以上説明したように、上述した実施形態の赤外線撮影装置１は、赤外線を受光して熱画像データに変換する赤外線センサ３と、赤外線センサ３よりも測定対象物１０１側に配置されたシャッタ４と、シャッタ４の開閉を制御する制御部８２と、熱画像データを出力する出力部７３とを備える。制御部８２は、シャッタ４の閉じ動作を開始してから所定時間（例えば、４５０ｍｓ）が経過したときに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、予め定めた閾値を超える場合にシャッタ４が劣化したと判定する。

【0050】

出力部７３は、制御部８２によりシャッタ４が劣化したと判定された場合に、シャッタ４が劣化したことを示す劣化情報を出力する。これにより、シャッタの動作速度を検出する検出部を新たに設けずに、使用者にシャッタ４の劣化を通知することができる。その結果、実際に使用可能なシャッタに対して劣化であると判定することが無く、赤外線撮影装置の長寿命化に貢献することができる。

【0051】

また、上述した実施形態における制御部８２は、所定時間よりも短い特定時間（例えば、１００ｍｓ）が経過したときに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値以下である場合に、シャッタ４が劣化していないと判定する。また、制御部８２は、特定時間よりも長く且つ所定時間よりも短い判定期間（例えば、待機時間カウントの値が１～９（１３５ｍｓ～４１５ｍｓ））中に得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値以下である場合に、シャッタ４が劣化注意状態であると判定する。これにより、赤外線撮影装置１は、使用可能ではあるがシャッタ４に劣化が生じていることを検出することができる。

【0052】

また、上述した実施形態における出力部７３は、制御部８２により劣化注意状態であると判定された場合に、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していることを示す劣化注意情報を出力する。これにより、使用者にシャッタ４が劣化し始めている旨の注意を促すことができる。

【0053】

また、上述した実施形態の赤外線撮影装置１は、判定期間中に得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値以下となるまでの時間を待機時間（待機時間カウント）として記憶する記憶部８３を有する。制御部８２は、シャッタ４の劣化を検出する処理（シャッタを閉じる処理）を行う場合に、記憶部８３に記憶された待機時間が経過するまでシャッタの劣化判定を行わない、すなわち処理を待機する（Ｓ１２の処理）。

【0054】

そして、制御部８２は、待機時間が経過したのちに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値以下であるか否かを判定する。これにより、熱画像データの温度分布を取得する処理（Ｓ１３の処理）を行う回数を削減することができ、シャッタ４の劣化を検出するための処理負荷を削減することができる。

【0055】

また、上述した実施形態における制御部は、判定期間において、一定時間（例えば、３５ｍｓ）が経過する度に熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値以下であるか否かを判定する。これにより、シャッタ４が閉じたタイミングを高精度に検出することができる。その結果、シャッタ４の劣化の進行状態を細かく検出することができる。例えば、待機時間カウントの値が１～３と、４～６と、７～９とにレベル分けをして、劣化注意情報と一緒にレベルを出力するようにしてもよい。これにより、シャッタ４の劣化の進行状態を使用者に認識させることができる。

【0056】

以上、本発明の赤外線撮影装置について、その作用効果も含めて説明した。しかしながら、本発明の赤外線撮影装置は、上述の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形実施が可能である。また、上述した実施形態は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。

【0057】

例えば、上述した実施形態では、シャッタを閉じる処理においてシャッタ４の劣化を検出する処理を行った。しかし、本発明に係るシャッタの劣化を検出する処理は、上述したシャッタを閉じる処理において行うことに限定されず、例えば、使用者の操作によりシャッタの劣化を検出する処理を行うようにしてもよい。

【0058】

また、上述した実施形態では、シャッタを閉じる処理において、シャッタ４が劣化して使用できないこと、シャッタ４が使用可能な範囲内で劣化していること、シャッタ４が劣化していないことを検出する構成にした。しかし、本発明に係る赤外線撮影装置としては、シャッタが劣化して使用できないこと（シャッタが劣化したこと）のみを検出するものであってもよい。この場合は、シャッタを閉じ始めてから所定時間（例えば、４５０ｍｓ）を経過したときに得られた熱画像データの温度のばらつきを表す指標が、閾値を超えるか否かを判定する。そして、熱画像データの温度のばらつきを表す指標が閾値を超えた場合に、シャッタが劣化して使用できないと判定する。

【0059】

また、上述した実施形態では、出力部７３が赤外線撮影装置１の外部に劣化情報や劣化注意情報を出力する構成にした。しかし、本発明に係る赤外線撮影装置としては、劣化情報や劣化注意情報を報知する報知部を備えていてもよい。報知部としては、例えば、液晶表示装置や有機ＥＬ（electro-luminescence）ディスプレイ等の表示部であってもよく、また、ＬＥＤ（light emitting diode）などを用いた点灯部であってもよい。

【符号の説明】

【0060】

１…赤外線撮影装置、 ２…レンズ、 ３…赤外線センサ、 ４…シャッタ、 ５…シャッタ駆動機構、 ６…プリアンプ基板、 ７…補正処理基板、 ８…制御基板、 ４１…温度センサ、 ６１…Ａ／Ｄ変換器、 ６２…温度センサ、 ７１…データ受信部、 ７２…補正処理部、 ７３…出力部、 ７４…データ格納部、 ７５…補正値格納部、 ８１…ヒストグラム検出部、 ８２…制御部、 ８３…記憶部、 １０１…測定対象物

【図1】

【図2】

【図3】