(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023039312
(43)【公開日】2023-03-20
(54)【発明の名称】プリント配線板の製造方法
(51)【国際特許分類】
H05K 3/46 20060101AFI20230313BHJP
【FI】
H05K3/46 N
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2021146429
(22)【出願日】2021-09-08
(71)【出願人】
【識別番号】000000158
【氏名又は名称】イビデン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100122622
【弁理士】
【氏名又は名称】森 徳久
(72)【発明者】
【氏名】石田 敦
(72)【発明者】
【氏名】野村 健太
【テーマコード(参考)】
5E316
【Fターム(参考)】
5E316AA02
5E316AA12
5E316AA15
5E316AA32
5E316AA43
5E316CC09
5E316CC32
5E316DD17
5E316DD24
5E316DD32
5E316DD33
5E316EE33
5E316FF03
5E316FF07
5E316FF14
5E316FF17
5E316GG15
5E316GG16
5E316GG17
5E316HH40
(57)【要約】
【課題】高い品質を有するプリント配線板を製造するための製造方法の提供。
【解決手段】プリント配線板の製造方法は、導体回路を有する第1導体層上に第1面と前記第1面と反対側の第2面とを有する樹脂絶縁層を形成することと、前記樹脂絶縁層の前記第1面上に保護膜を形成することと、前記樹脂絶縁層を貫通し前記第1導体層に至るビア導体用の開口を形成することと、前記開口内をプラズマによって洗浄することと、前記洗浄することの後に前記樹脂絶縁層から前記保護膜を除去することと、前記樹脂絶縁層の前記第1面上に第2導体層を形成することと、前記開口に前記第1導体層と前記第2導体層を接続するビア導体を形成すること、とを含む。
【選択図】
図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
導体回路を有する第1導体層上に第1面と前記第1面と反対側の第2面とを有する樹脂絶縁層を形成することと、
前記樹脂絶縁層の前記第1面上に保護膜を形成することと、
前記樹脂絶縁層を貫通し前記第1導体層に至るビア導体用の開口を形成することと、
前記開口内をプラズマによって洗浄することと、
前記洗浄することの後に前記樹脂絶縁層から前記保護膜を除去することと、
前記樹脂絶縁層の前記第1面上に第2導体層を形成することと、
前記開口に前記第1導体層と前記第2導体層を接続するビア導体を形成すること、とを含むプリント配線板の製造方法。
【請求項2】
請求項1のプリント配線板の製造方法であって、前記第2導体層を形成することは、前記樹脂絶縁層の前記第1面上にシード層を形成することと、前記シード層上にめっきレジストを形成することと、前記めっきレジストから露出する前記シード層上に電解めっき膜を形成することと、前記めっきレジストを除去することと、前記電解めっき膜から露出する前記シード層を除去すること、とを含み、前記シード層はスパッタによって形成される。
【請求項3】
請求項1のプリント配線板の製造方法であって、前記開口を形成することは、レーザ光を用いて前記保護膜と前記樹脂絶縁層を同時に貫通することを含む。
【請求項4】
請求項1のプリント配線板の製造方法であって、前記樹脂絶縁層の前記第1面を荒らすことは行われない。
【請求項5】
請求項2のプリント配線板の製造方法であって、前記シード層を形成することの前に前記樹脂絶縁層の前記第1面を荒らすことは行われない。
【請求項6】
請求項1のプリント配線板の製造方法であって、前記第2導体層は第1信号配線と第2信号配線によって形成されるペア配線を含む。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本明細書によって開示される技術は、プリント配線板の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献1は、導体回路上の層間絶縁膜にレーザでビア導体用の開口を形成することと、開口内をプラズマによってデスミア処理すること、とを含むプリント配線板の製造方法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【0004】
[特許文献1の課題]
特許文献1の技術では、開口内がプラズマによってデスミア処理される。同時に層間絶縁膜の上面もプラズマの影響を受ける。そのため、層間絶縁膜の上面に凹凸が形成されると考えられる。その結果、層間絶縁膜の上面近傍部分の比誘電率の標準偏差が大きくなると考えられる。層間絶縁膜上に複数の信号配線が形成される場合、信号配線間の電気信号の伝搬速度の差が大きくなると考えられる。特許文献1の技術で形成されるプリント配線板では大きいノイズが発生すると考えられる。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明のプリント配線板の製造方法は、導体回路を有する第1導体層上に第1面と前記第1面と反対側の第2面とを有する樹脂絶縁層を形成することと、前記樹脂絶縁層の前記第1面上に保護膜を形成することと、前記樹脂絶縁層を貫通し前記第1導体層に至るビア導体用の開口を形成することと、前記開口内をプラズマによって洗浄することと、前記洗浄することの後に前記樹脂絶縁層から前記保護膜を除去することと、前記樹脂絶縁層の前記第1面上に第2導体層を形成することと、前記開口に前記第1導体層と前記第2導体層を接続するビア導体を形成すること、とを含む。
【0006】
本発明の実施形態の製造方法では、ビア導体用の開口内をプラズマで洗浄することの後に樹脂絶縁層から保護膜が除去される。プラズマによる洗浄が行われている間、第1面は保護膜で保護される。そのため、第1面がプラズマで荒らされない。樹脂絶縁層の第1面近傍部分の比誘電率の標準偏差が大きくなることが抑制される。第2導体層が2つの信号配線を含む場合、信号配線間の電気信号の伝搬速度の差を小さくすることができる。実施形態の製造方法によって形成されるプリント配線板ではノイズが抑制される。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【
図1】実施形態のプリント配線板を模式的に示す断面図。
【
図2A】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2B】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2C】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2D】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2E】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2F】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【
図2G】実施形態のプリント配線板の製造方法を模式的に示す断面図。
【発明を実施するための形態】
【0008】
[実施形態]
図1は実施形態のプリント配線板2を示す断面図である。
図1に示されるように、プリント配線板2は、絶縁層4と第1導体層10と樹脂絶縁層20と第2導体層30とビア導体40とを有する。
【0009】
絶縁層4は熱硬化性樹脂を用いて形成される。絶縁層4はシリカ等の無機粒子を含んでもよい。絶縁層4は、ガラスクロス等の補強材を含んでもよい。絶縁層4は、第3面6(図中の上面)と第3面6と反対側の第4面8(図中の下面)を有する。
【0010】
第1導体層10は絶縁層4の第3面6上に形成されている。第1導体層10は信号配線12とパッド14とを含む。図に示されていないが、第1導体層10は信号配線12とパッド14以外の導体回路も含んでいる。第1導体層10は銅によって形成される。第1導体層10は、シード層10aとシード層10a上の電解めっき膜10bで形成されている。
【0011】
樹脂絶縁層20は絶縁層4の第3面6と第1導体層10上に形成されている。樹脂絶縁層20は第1面22(図中の上面)と第1面22と反対側の第2面24(図中の下面)を有する。樹脂絶縁層20にはパッド14を露出する開口26が形成されている。樹脂絶縁層20はエポキシ系樹脂とエポキシ系樹脂内に分散されている無機粒子で形成されている。樹脂の例は熱硬化性樹脂と光硬化性樹脂である。無機粒子は、例えば、シリカやアルミナである。
【0012】
樹脂絶縁層20の第1面22には凹凸が形成されていない。第1面22は荒らされていない。第1面22は平滑に形成されている。一方、開口26の内壁面は凹凸を有する。樹脂絶縁層20の厚さは、第2導体層30の厚さの2倍以上である。樹脂絶縁層20の厚さTは第1面22と第1導体層10の上面の間の距離である。
【0013】
第2導体層30は樹脂絶縁層20の第1面22上に形成されている。第2導体層30は第1信号配線32と第2信号配線34とランド36とを含む。図に示されていないが、第2導体層30は第1信号配線32と第2信号配線34とランド36以外の導体回路も含んでいる。第1信号配線32と第2信号配線34はペア配線を形成している。第2導体層30は銅によって形成される。第2導体層30は、シード層30aとシード層30a上の電解めっき膜30bで形成されている。
【0014】
ビア導体40は開口26内に形成されている。ビア導体40は第1導体層10と第2導体層30を接続する。
図1ではビア導体40はパッド14とランド36を接続する。ビア導体40はシード層30aとシード層30a上の電解めっき膜30bで形成されている。
【0015】
[実施形態のプリント配線板2の製造方法]
図2A~
図2Gは実施形態のプリント配線板2の製造方法を示す。
図2A~
図2Gは断面図である。
図2Aは絶縁層4と絶縁層4の第3面6上に形成されている第1導体層10を示す。第1導体層10はセミアディティブ法によって形成される。
【0016】
図2Bに示されるように、絶縁層4と第1導体層10上に樹脂絶縁層20と保護膜50が形成される。樹脂絶縁層20の第2面24が絶縁層4の第3面6と対向している。樹脂絶縁層20の第1面22上に保護膜50が形成されている。
【0017】
保護膜50は樹脂絶縁層20の第1面22を完全に覆っている。保護膜50の例は、ポリエチレンテレフタレート(PET)製のフィルムである。保護膜50と樹脂絶縁層20との間に離型剤が形成されている。
【0018】
図2Cに示されるように、保護膜50の上からレーザ光Lが照射される。レーザ光Lは保護膜50と樹脂絶縁層20を同時に貫通する。第1導体層10のパッド14に至るビア導体用の開口26が形成される。レーザ光Lは例えばUVレーザ光、CO
2レーザ光である。開口26によりパッド14が露出される。開口26が形成される時、第1面22は保護膜50で覆われている。そのため、開口26が形成される時、樹脂が飛散しても、第1面22に樹脂が付着することが抑制される。
【0019】
その後、開口26内が洗浄される。開口26内を洗浄することにより開口26形成時に発生する樹脂残渣が除去される。開口26内の洗浄はプラズマによって行われる。即ち洗浄はドライプロセスで行われる。洗浄はデスミア処理を含む。プラズマにより、エポキシ系樹脂が選択的に除去される。プラズマは無機粒子よりエポキシ系樹脂を早く除去する。開口26の内壁面はプラズマで荒らされる。開口26の内壁面には凹凸が形成される。開口26の内壁面は樹脂絶縁層20を形成する樹脂と無機粒子で形成される。開口26の内壁面から無機粒子が部分的に露出する。一方、樹脂絶縁層20の第1面22は保護膜50で覆われている。第1面22はプラズマの影響を受けない。樹脂絶縁層20の第1面22には凹凸が形成されない。第1面22は荒らされない。第1面22は平滑に形成されている。
【0020】
図2Dに示されるように、樹脂絶縁層20から保護膜50が除去される。保護膜50除去後、樹脂絶縁層20の第1面22を荒らすことは行われない。
【0021】
図2Eに示されるように、樹脂絶縁層20の第1面22上にシード層30aが形成される。シード層30aはスパッタによって形成される。シード層30aの形成はドライプロセスで行われる。シード層30aは開口26から露出するパッド14の上面と開口26の内壁面にも形成される。シード層30aは銅で形成される。
【0022】
図2Fに示されるように、シード層30a上にめっきレジスト60が形成される。めっきレジスト60は、第1信号配線32と第2信号配線34とランド36(
図1)を形成するための開口を有する。
【0023】
図2Gに示されるように、めっきレジスト60から露出するシード層30a上に電解めっき膜30bが形成される。電解めっき膜30bは開口26を充填する。第1面22上のシード層30aと電解めっき膜30bによって、第1信号配線32と第2信号配線34とランド36が形成される。第2導体層30が形成される。開口26内のシード層30aと電解めっき膜30bによって、ビア導体40が形成される。ビア導体40は、パッド14とランド36を接続する。第1信号配線32と第2信号配線34はペア配線を形成する。
【0024】
その後、めっきレジスト60が除去される。電解めっき膜30bから露出するシード層30aが除去される。第2導体層30とビア導体40は同時に形成される。実施形態のプリント配線板2(
図1)が得られる。
【0025】
実施形態の製造方法によると、樹脂絶縁層20に開口26が形成される時、樹脂絶縁層20の第1面22は保護膜50で覆われている。開口26内がプラズマによって洗浄される時、樹脂絶縁層20の第1面22は保護膜50で覆われている(
図2C参照)。プラズマによる洗浄が行われている間、第1面22は保護膜50で保護される。そのため、第1面22に凹凸が形成されることが防止される。樹脂絶縁層20の第1面22近傍部分の比誘電率の標準偏差が大きくなることが抑制される。第1面22の比誘電率は場所によって大きく変わらない。第2導体層30が第1信号配線32と第2信号配線34を有しても、第1信号配線32で伝達される電気信号の伝搬速度と第2信号配線34で伝達される電気信号の伝搬速度間の差を小さくすることができる。実施形態の製造方法によって形成されるプリント配線板2ではノイズが抑制される。実施形態のプリント配線板2にロジックICが実装されても、第1信号配線32で伝達されるデータと第2信号配線で伝達されるデータがロジックICにほぼ遅延なく到達する。ロジックICの誤動作を抑制することができる。第1信号配線32の長さと第2信号配線34の長さが5mm以上であっても、両者の伝搬速度の差を小さくすることができる。第1信号配線32の長さと第2信号配線34の長さが10mm以上、20mm以下であっても、ロジックICの誤動作を抑制することができる。実施形態の製造方法によれば、高い品質を有するプリント配線板2が提供される。
【0026】
プリント配線板2(
図1)では、樹脂絶縁層20の厚さTは第2導体層30の厚さの2倍以上である。プリント配線板2がヒートサイクルを受けると、開口26の内壁面とビア導体40の間に加わるストレスは、第1面22と第2導体層30の間に加わるストレスより大きいと考えられる。実施形態の製造方法によると、開口26の内壁面にはプラズマの影響で凹凸が形成される。そのため、開口26の内壁面とビア導体40間の密着強度は、第1面22と第2導体層30間の密着強度より高い。ビア導体40が樹脂絶縁層20から剥離し難い。第2導体層30が樹脂絶縁層20から剥離し難い。
【0027】
実施形態の製造方法によると、シード層30aはスパッタで形成される(
図2E)。シード層30aを形成する粒子は第1面22と垂直に衝突する。そのため、第1面22とシード層30aとの密着強度は高い。一方、シード層30aを形成する粒子と開口26の内壁面は斜めに衝突する。ただし、開口26の内壁面は凹凸を有する。そのため、シード層30aと開口26の内壁面間の密着強度は高い。第1面22が凹凸を有していなく、且つ、開口26の内壁面が凹凸を有しても、第2導体層30と第1面22との間の密着強度とビア導体40と開口26の内壁面との間の密着強度の差を小さくすることができる。第2導体層30と第1面22との間の界面にストレスが集中し難い。ビア導体40と開口26の内壁面との間の界面にストレスが集中し難い。プリント配線板2がヒートサイクルを受けても、ビア導体40が樹脂絶縁層20から剥離し難い。第2導体層30が樹脂絶縁層20から剥離し難い。実施形態の製造方法によれば、高い品質を有するプリント配線板2が提供される。
【符号の説明】
【0028】
2 :プリント配線板
4 :絶縁層
10 :第1導体層
12 :信号配線
14 :パッド
20 :樹脂絶縁層
22 :第1面
24 :第2面
26 :開口
30 :第2導体層
30a :シード層
30b :電解めっき膜
32 :第1信号配線
34 :第2信号配線
36 :ランド
40 :ビア導体
50 :保護膜
60 :めっきレジスト
L :レーザ光