特開 2023-41355 渦電流探傷装置および探傷方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023041355

(43)【公開日】2023-03-24

(54)【発明の名称】渦電流探傷装置および探傷方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/904 20210101AFI20230316BHJP

【ＦＩ】

G01N27/904

【審査請求】未請求

【請求項の数】4

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021148688

(22)【出願日】2021-09-13

(71)【出願人】

【識別番号】000000099

【氏名又は名称】株式会社ＩＨＩ

(74)【代理人】

【識別番号】110000936

【氏名又は名称】弁理士法人青海国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】大橋 タケル

(72)【発明者】

【氏名】畠中 宏明

(72)【発明者】

【氏名】瀬戸口 雄介

【テーマコード（参考）】

2G053

【Ｆターム（参考）】

2G053AA11

2G053AB21

2G053BC02

2G053BC14

2G053CA03

2G053DA01

2G053DB02

(57)【要約】

【課題】きずの見落としを防止する。
【解決手段】渦電流探傷装置は、探傷対象物との接触面２１４を有するプローブ本体２１０と、プローブ本体２１０に設けられる励磁コイル（第１励磁コイル２２４、第２励磁コイル２３４）と、プローブ本体２１０に設けられ、中心軸が接触面２１４と略直交する第１検出コイル２２２と、プローブ本体２１０に設けられ、第１検出コイル２２２の中心軸との為す角が鋭角である中心軸を有する第２検出コイル２３２と、励磁コイルに交流電流を印加し、電磁誘導により探傷対象物に誘導電流を発生させる励磁部と、第１検出コイル２２２を通じて、誘導電流に基づく第１の検出信号を検出している間に、第２検出コイル２３２を通じて、誘導電流に基づく第２の検出信号を検出する検出部と、を備える。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

探傷対象物との接触面を有するプローブ本体と、
前記プローブ本体に設けられる励磁コイルと、
前記プローブ本体に設けられ、中心軸が前記接触面と略直交する第１検出コイルと、
前記プローブ本体に設けられ、前記第１検出コイルの中心軸との為す角が鋭角である中心軸を有する第２検出コイルと、
前記励磁コイルに交流電流を印加し、電磁誘導により前記探傷対象物に誘導電流を発生させる励磁部と、
前記第１検出コイルを通じて、前記誘導電流に基づく第１の検出信号を検出している間に、前記第２検出コイルを通じて、前記誘導電流に基づく第２の検出信号を検出する検出部と、
を備える、渦電流探傷装置。

【請求項2】

前記第１検出コイルおよび前記第２検出コイルは、前記励磁コイルと前記接触面との間に設けられる、請求項１に記載の渦電流探傷装置。

【請求項3】

前記第２検出コイルは、前記第１検出コイルの中心軸との為す角が３５°以上５５°以下である中心軸を有する、請求項１または２に記載の渦電流探傷装置。

【請求項4】

探傷対象物との接触面を有するプローブ本体と、前記プローブ本体に設けられる励磁コイルと、前記プローブ本体に設けられ、中心軸が前記接触面と略直交する第１検出コイルと、前記プローブ本体に設けられ、前記第１検出コイルの中心軸との為す角が鋭角である中心軸を有する第２検出コイルと、を備える渦電流探傷装置を用いた探傷方法であって、
前記励磁コイルに交流電流を印加し、電磁誘導により前記探傷対象物に誘導電流を発生させる工程と、
前記第１検出コイルを通じて、前記誘導電流に基づく第１の検出信号を検出している間に、前記第２検出コイルを通じて、前記誘導電流に基づく第２の検出信号を検出する工程と、
前記第１の検出信号の信号強度と、前記第２の検出信号の信号強度との差分が所定値以上である場合に、きずがある旨を報知する工程と、
を含む、探傷方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、渦電流探傷装置および探傷方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来の鋼橋の点検は、目視検査および磁粉探傷試験（ＭＴ：Magnetic particle Testing）によって為されていた。目視検査において、塗膜割れや錆汁が発見された場合、まず、塗膜割れや錆汁が発生している箇所の塗膜を剥離して、金属部を露出させる。そして、磁粉探傷試験によって、金属部のきず（亀裂）の有無を検出していた。

【0003】

しかし、磁粉探傷試験は、塗膜を剥離する必要があり、人材確保や工数の増大によってコストが増加してしまうという問題である。

【0004】

そこで、渦電流探傷装置を用いて、塗膜上から探傷を行う技術が検討されている（例えば、特許文献１）。この場合、渦電流探傷装置によって得られる検出信号が所定の閾値を超えた場合に、きずがあると判定される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特許第５１９１８７３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

渦電流探傷装置における検出信号は、検出コイルの中心軸の方向と、きずの深さ方向とが一致した場合に最大となる。

【0007】

しかし、塗膜上から、きずの深さ方向を目視することはできない。また、塗膜割れの位置ときずの位置とが一致しない場合もあり、塗膜上からきずの位置が確認できないこともある。このため、検出コイルの中心軸の方向と、きずの深さ方向とを一致させるには、熟練の技が必要となり、検査技術者の熟練度によって、検出信号の信号強度の誤差によるきずの誤判定や、きずの見落としが生じるおそれがあった。

【0008】

本開示は、このような課題に鑑み、きずの見落としを防止することが可能な渦電流探傷装置および探傷方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記課題を解決するために、本開示の一態様に係る渦電流探傷装置は、探傷対象物との接触面を有するプローブ本体と、プローブ本体に設けられる励磁コイルと、プローブ本体に設けられ、中心軸が接触面と略直交する第１検出コイルと、プローブ本体に設けられ、第１検出コイルの中心軸との為す角が鋭角である中心軸を有する第２検出コイルと、励磁コイルに交流電流を印加し、電磁誘導により探傷対象物に誘導電流を発生させる励磁部と、第１検出コイルを通じて、誘導電流に基づく第１の検出信号を検出している間に、第２検出コイルを通じて、誘導電流に基づく第２の検出信号を検出する検出部と、を備える。

【0010】

また、第１検出コイルおよび第２検出コイルは、励磁コイルと接触面との間に設けられてもよい。

【0011】

また、第２検出コイルは、第１検出コイルの中心軸との為す角が３５°以上５５°以下である中心軸を有してもよい。

【0012】

上記課題を解決するために、本開示の一態様に係る探傷方法は、探傷対象物との接触面を有するプローブ本体と、プローブ本体に設けられる励磁コイルと、プローブ本体に設けられ、中心軸が接触面と略直交する第１検出コイルと、プローブ本体に設けられ、第１検出コイルの中心軸との為す角が鋭角である中心軸を有する第２検出コイルと、を備える渦電流探傷装置を用いた探傷方法であって、励磁コイルに交流電流を印加し、電磁誘導により探傷対象物に誘導電流を発生させる工程と、第１検出コイルを通じて、誘導電流に基づく第１の検出信号を検出している間に、第２検出コイルを通じて、誘導電流に基づく第２の検出信号を検出する工程と、第１の検出信号の信号強度と、第２の検出信号の信号強度との差分が所定値以上である場合に、きずがある旨を報知する工程と、を含む。

【発明の効果】

【0013】

本開示によれば、きずの見落としを防止することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】図１は、本実施形態に係る渦電流探傷装置の探傷対象物を説明する図である。

【図2】図２は、本実施形態に係る渦電流探傷装置は、プローブと、制御ユニットとを含む。

【図3】図３は、本実施形態に係るプローブを説明する図である。

【図4】図４は、図３のＩＶ－ＩＶ線断面図である。

【図5】図５は、支持体に生じるきずと、第１検出コイルおよび第２検出コイルとの関係を説明する図である。

【図6】図６は、本実施形態に係る制御ユニットの機能ブロック図である。

【図7】図７は、本実施形態に係る探傷方法の処理の流れを示すフローチャートである。

【図8】図８は、接触面が探傷対象物に接触している場合であり、きずがない場合の検出信号を説明する図である。

【図9】図９は、接触面が探傷対象物に接触している場合であり、きずがある場合の検出信号を説明する図である。

【発明を実施するための形態】

【0015】

以下に添付図面を参照しながら、本開示の実施形態について詳細に説明する。かかる実施形態に示す寸法、材料、その他具体的な数値等は、理解を容易とするための例示にすぎず、特に断る場合を除き、本開示を限定するものではない。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能、構成を有する要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略し、また本開示に直接関係のない要素は図示を省略する。

【0016】

図１は、本実施形態に係る渦電流探傷装置１００の探傷対象物１０を説明する図である。本実施形態の図１および後述する図５では、垂直に交わるＸ軸（水平方向、道路幅方向）、Ｙ軸（水平方向、道路長方向）、Ｚ軸（鉛直方向）を図示の通り定義している。

【0017】

図１に示すように、探傷対象物１０は、例えば、鋼橋である。探傷対象物１０は、支持体２０と、舗装体３０とを含む。

【0018】

支持体２０は、鋼製の部材で構成される床版である。支持体２０は、車両による鉛直下方の荷重を支持する。支持体２０の表面は、塗膜で覆われている。支持体２０は、第１板２２と、第２板２４と、溶接部２６とを含む。

【0019】

第１板２２は、略水平方向に延在する鋼板である。第２板２４は、第１板２２から鉛直下方に立設する鋼板である。第２板２４は、第１板２２に溶接（例えば、隅肉溶接）される。溶接部２６は、第１板２２と、第２板２４とが溶接された結果、形成される部位である。

【0020】

舗装体３０は、第１板２２上に積層される。舗装体３０は、アスファルト等で構成される。車両は、舗装体３０上を走行する。

【0021】

上記舗装体３０上を車両が通過することによって生じる経年疲労により、支持体２０における溶接部２６等に、亀裂等のきずが生じる場合がある。亀裂は、溶接部２６から第１板２２に向かって、もしくは、溶接部２６から第２板２４に向かって進展する。

【0022】

そこで、下記図２等に示す渦電流探傷装置１００は、支持体２０におけるきずの有無を検査する。

【0023】

［渦電流探傷装置１００］
図２は、本実施形態に係る渦電流探傷装置１００は、プローブ１１０と、制御ユニット１２０とを含む。以下、各構成について説明する。

【0024】

［プローブ１１０］
図３は、本実施形態に係るプローブ１１０を説明する図である。図４は、図３のＩＶ－ＩＶ線断面図である。

【0025】

図３、図４に示すように、プローブ１１０は、プローブ本体２１０と、第１コイルユニット２２０と、第２コイルユニット２３０とを含む。

【0026】

プローブ本体２１０は、把持部２１２と、接触面２１４と、傾斜面２１６とを含む。プローブ本体２１０は、例えば、プラスチックで形成される。

【0027】

把持部２１２は、例えば、四角柱形状の部分である。把持部２１２は、検査技術者に把持される。

【0028】

接触面２１４は、プローブ本体２１０の先端２１０ａに設けられる。接触面２１４は、探傷対象物１０と接触可能な平面である。つまり、検査技術者は、把持部２１２を把持して、接触面２１４を探傷対象物１０に接触させて、探傷を行う。また、検査技術者は、探傷を行う際、図４における奥行き方向と、図１のＹ軸方向とが一致するように、接触面２１４を探傷対象物１０に接触させる。本実施形態において、接触面２１４の面積は、把持部２１２の断面積よりも小さい。

【0029】

傾斜面２１６は、把持部２１２と接触面２１４との間に設けられる。本実施形態において、プローブ本体２１０は、４つの傾斜面２１６を有する。４つの傾斜面２１６の傾斜角は、等しくてもよいし、異なっていてもよい。

【0030】

第１コイルユニット２２０は、第１検出コイル２２２および第１励磁コイル２２４で構成される。第２コイルユニット２３０は、第２検出コイル２３２および第２励磁コイル２３４で構成される。第１コイルユニット２２０および第２コイルユニット２３０の構成は、接触面２１４との為す角およびプローブ本体２１０内の位置が異なること以外、実質的に等しい。また、第１コイルユニット２２０は、第２コイルユニット２３０と、図４における奥行き方向の位置を異にして設けられる。

【0031】

第１検出コイル２２２は、プローブ本体２１０内に設けられる。第１検出コイル２２２の中心軸は、接触面２１４と直交する。つまり、第１検出コイル２２２の中心軸と、接触面２１４との為す角αは、９０°である。

【0032】

第１励磁コイル２２４（励磁コイル）は、プローブ本体２１０内に設けられる。第１励磁コイル２２４は、第１検出コイル２２２よりも接触面２１４から離隔して設けられる。つまり、第１検出コイル２２２は、第１励磁コイル２２４と接触面２１４との間に設けられる。これにより、第１励磁コイル２２４によって印加される交流電流に基づくノイズの、第１検出コイル２２２への入力を抑制することができる。

【0033】

第１励磁コイル２２４の中心軸（図４における奥行き方向）は、第１検出コイル２２２の中心軸と直交する。

【0034】

第２検出コイル２３２は、プローブ本体２１０内に設けられる。第２検出コイル２３２の中心軸と第１検出コイル２２２の中心軸との為す角βは、鋭角（０°超９０°未満）である。角βは、例えば、３５°以上５５°以下である。本実施形態において、角βは、４５°である。

【0035】

第２励磁コイル２３４（励磁コイル）は、プローブ本体２１０内に設けられる。第２励磁コイル２３４は、第２検出コイル２３２よりも接触面２１４から離隔して設けられる。つまり、第２検出コイル２３２は、第２励磁コイル２３４と接触面２１４との間に設けられる。これにより、第２励磁コイル２３４によって印加される交流電流に基づくノイズの、第２検出コイル２３２への入力を抑制することができる。

【0036】

第２励磁コイル２３４の中心軸（図４における奥行き方向）は、第２検出コイル２３２の中心軸と直交する。

【0037】

図５は、支持体２０に生じるきずと、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２との関係を説明する図である。なお、図５中、破線は、きずを示す。また、図５中、太線は、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａおよび第２検出コイル２３２の中心軸の方向２３２ａを示す。

【0038】

支持体２０において、第１板２２と第２板２４とが離隔する方向、または、第１板２２と第２板２４とが近接する方向に応力がかかる。このため、図５に示すように、きずは、溶接部２６における端部２６ａ、２６ｂから進展する。また、きずは、支持体２０における方向Ａ、方向Ｂ、方向Ｃ、または、方向Ｄに向かって進展することが多い。方向Ａは、第１板２２の面内方向（図５中、ＸＹ面内方向）と直交する方向（図５中、Ｚ軸方向）である。方向Ｂは、第２板２４の面内方向（図５中、ＹＺ面内方向）と直交する方向（図５中、Ｘ軸方向）である。方向Ｃは、第１板２２の面内方向との為す角が４５°となる方向である。方向Ｄは、第２板２４の面内方向との為す角が４５°となる方向である。

【0039】

検査技術者によってプローブ１１０が支持体２０上を走査される場合、第１板２２、溶接部２６、第２板２４の順、または、第２板２４、溶接部２６、第１板２２の順で走査される。

【0040】

ここで、プローブ１１０の接触面２１４が第１板２２に接触し、傾斜面２１６が溶接部２６に接触する場合、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａと方向Ａとを概ね一致させることができる。また、第１検出コイル２２２の中心軸と、第２検出コイル２３２の中心軸との為す角βが４５°であるため、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａを方向Ａに一致させると、第２検出コイル２３２の中心軸の方向２３２ａを方向Ｃに一致させることができる。

【0041】

同様に、プローブ１１０の接触面２１４が第２板２４に接触し、傾斜面２１６が溶接部２６に接触する場合、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａと方向Ｄとを概ね一致させることができる。また、第１検出コイル２２２の中心軸と、第２検出コイル２３２の中心軸との為す角βが４５°であるため、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａを方向Ｄに一致させると、第２検出コイル２３２の中心軸の方向２３２ａを方向Ｂに一致させることができる。

【0042】

したがって、本実施形態に係るプローブ１１０は、接触面２１４を第１板２２に当接させた状態で、方向Ａに進展したきずと、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａとを一致させ、また、方向Ｂに進展したきずと、第２検出コイル２３２の中心軸の方向２３２ａとを一致させることができる。同様に、本実施形態に係るプローブ１１０は、接触面２１４を第２板２４に当接させた状態で、方向Ｄに進展したきずと、第１検出コイル２２２の中心軸の方向２２２ａとを一致させ、また、方向Ｃに進展したきずと、第２検出コイル２３２の中心軸の方向２３２ａとを一致させることが可能となる。

【0043】

［制御ユニット１２０］
図６は、本実施形態に係る制御ユニット１２０の機能ブロック図である。図６に示すように、制御ユニット１２０は、励磁部３１０と、検出部３３０と、Ａ／Ｄ変換器３４０と、中央制御部３６０と、メモリ３７０と、表示装置３８０とを含む。

【0044】

励磁部３１０は、第１励磁コイル２２４および第２励磁コイル２３４に交流電流を印加し、電磁誘導により探傷対象物１０（支持体２０）に誘導電流を発生させる。本実施形態において、励磁部３１０は、ファンクションジェネレータ３１２と、アンプ３１４とを含む。

【0045】

ファンクションジェネレータ３１２（図６中「Ｆ／Ｇ」で示す）は、第１の周波数の交流信号、および、第１の周波数とは異なる第２の周波数の交流信号を発生させる。ファンクションジェネレータ３１２による交流信号は、アンプ３１４および検出部３３０に出力される。

【0046】

アンプ３１４（図６中「Ｂ／Ｐ」で示す）は、ファンクションジェネレータ３１２による第１の周波数の交流信号を増幅し、第１励磁コイル２２４に交流電流を印加する。同様に、アンプ３１４は、ファンクションジェネレータ３１２による第２の周波数の交流信号を増幅し、第２励磁コイル２３４に交流電流を印加する。そうすると、電磁誘導により探傷対象物１０に誘導電流が発生する。アンプ３１４は、例えば、バイポーラ電源である。

【0047】

検出部３３０は、例えば、ロックインアンプ（図６中「Ｌ／Ｉ」で示す）で構成される。検出部３３０は、ファンクションジェネレータ３１２から出力された第１の周波数の交流信号（リファレンス信号）に基づき、第１検出コイル２２２によって検出された交流電圧から、第１励磁コイル２２４に印加した電流の周波数成分（誘導電流に基づく第１の検出信号）を抽出する。同様に、検出部３３０は、ファンクションジェネレータ３１２から出力された第２の周波数の交流信号（リファレンス信号）に基づき、第２検出コイル２３２によって検出された交流電圧から、第２励磁コイル２３４に印加した電流の周波数成分（誘導電流に基づく第２の検出信号）を抽出する。

【0048】

Ａ／Ｄ変換器３４０（図６中「Ａ／Ｄ」で示す）は、検出部３３０の出力値（アナログ信号）をデジタル信号に変換する。

【0049】

中央制御部３６０は、ＣＰＵ（中央処理装置）を含む半導体集積回路で構成される。中央制御部３６０は、ＲＯＭからＣＰＵを動作させるためのプログラムやパラメータ等を読み出す。中央制御部３６０は、ワークエリアとしてのＲＡＭや他の電子回路と協働して渦電流探傷装置１００全体を管理および制御する。

【0050】

メモリ３７０は、ＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュメモリ、ＨＤＤ等で構成される。メモリ３７０は、中央制御部３６０に用いられるプログラムや各種データを記憶する。

【0051】

表示装置３８０は、液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイ等で構成される。

【0052】

また、本実施形態において、中央制御部３６０は、判定部３６２、報知部３６４として機能する。

【0053】

判定部３６２は、第１検出コイル２２２を通じて検出された第１の検出信号の信号強度と、第２検出コイル２３２を通じて検出された第１の検出信号の信号強度とに基づき、きずの有無を判定する。判定部３６２による、きずの有無の判定については、後に詳述する。

【0054】

報知部３６４は、判定部３６２によってきずが有ると判定した場合には、その旨を表示装置３８０に表示させる。

【0055】

［探傷方法］
続いて、上記渦電流探傷装置１００を用いた、探傷対象物１０を探傷する探傷方法について説明する。図７は、本実施形態に係る探傷方法の処理の流れを示すフローチャートである。図７に示すように、本実施形態に係る探傷方法は、電流印加工程Ｓ１１０、信号検出工程Ｓ１２０、第１判定工程Ｓ１３０、第１報知工程Ｓ１４０、第２判定工程Ｓ１５０、第２報知工程Ｓ１６０、第３判定工程Ｓ１７０、第３報知工程Ｓ１８０を含む。以下、各工程について説明する。

【0056】

［電流印加工程Ｓ１１０］
電流印加工程Ｓ１１０は、励磁部３１０が、第１励磁コイル２２４および第２励磁コイル２３４に交流電流を印加し、電磁誘導により探傷対象物１０に誘導電流を発生させる工程である。上記したように、励磁部３１０は、第１の周波数の交流電流を第１励磁コイル２２４に印加し、第２の周波数の交流電流を第２励磁コイル２３４に印加する。

【0057】

［信号検出工程Ｓ１２０］
信号検出工程Ｓ１２０は、検出部３３０が、第１検出コイル２２２を通じて、誘導電流に基づく第１の検出信号Ｓ１を検出している間に、第２検出コイル２３２を通じて、誘導電流に基づく第２の検出信号Ｓ２を検出する工程である。本実施形態において、検出部３３０は、第１の検出信号Ｓ１および第２の検出信号Ｓ２を同時に検出する。

【0058】

図８は、接触面２１４が探傷対象物１０に接触している場合であり、きずがない場合の検出信号を説明する図である。図９は、接触面２１４が探傷対象物１０に接触している場合であり、きずがある場合の検出信号を説明する図である。

【0059】

図８、図９に示すように、検出信号は、リサージュ波形で表される。リサージュ波形は、励磁電圧を基準とした、検出信号のｓｉｎ成分（振幅、図８、図９中、縦軸）およびｃｏｓ成分（位相、図８、図９中、横軸）の変動を示す。渦電流探傷装置１００において、キャリブレーション用の標準試験体にプローブ１１０を当接させて、リサージュ波形の基準点が原点（０，０）となるように調整（原点補正）が行われる。そして、原点補正を行った後に、渦電流探傷装置１００を用いて探傷が行われる。したがって、リサージュ波形の基準点は、原点（０，０）となる。リサージュ波形において、原点を基準点として、検出信号のｓｉｎ成分およびｃｏｓ成分が変動する。

【0060】

図８に示すように、きずがない場合、検出信号のｓｉｎ成分の変動幅は、概ねゼロである。一方、図９に示すように、きずがある場合、検出信号のｓｉｎ成分の変動幅は、きずがない場合と比較して大きくなる。

【0061】

そこで、検出部３３０は、検出信号のｓｉｎ成分の変動幅を検出信号の信号強度Ｓｃとする。なお、検出信号の信号強度Ｓｃは、リサージュ波形における縦軸（ｓｉｎ成分）の最小値（マイナスのピーク）から最大値（プラスのピーク）までの値である。

【0062】

［第１判定工程Ｓ１３０］
図７に戻って説明すると、判定部３６２は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上であり、かつ、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上であるか否かを判定する。閾値Ｔｈは、検出が所望されるきずの深さに基づいて、予め決定される。

【0063】

第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上であり、かつ、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上であると判定した場合（Ｓ１３０におけるＹＥＳ）、判定部３６２は、第１報知工程Ｓ１４０に処理を移す。一方、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃおよび第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃのうちのいずれか一方または両方が閾値Ｔｈ以上ではないと判定した場合（Ｓ１３０におけるＮＯ）、判定部３６２は、第２判定工程Ｓ１５０に処理を移す。

【0064】

［第１報知工程Ｓ１４０］
報知部３６４は、「きずを検出した、または、リフトオフである」という旨の表示を表示装置３８０に表示させる。

【0065】

きずがない場合であっても、接触面２１４と探傷対象物１０とが離隔するとノイズ（リフトオフ信号）が生じ、検出信号のｓｉｎ成分が変動してしまう。第１検出コイル２２２と探傷対象物１０との離隔距離と、第２検出コイル２３２と探傷対象物１０との離隔距離は、実質的に等しくなるため、リフトオフ信号は、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２の双方を通じて検出されることになる。

【0066】

また、接触面２１４が探傷対象物１０に接触していても、所定の大きさ超のきずである場合、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２の双方を通じてきずに基づく検出信号が検出されることになる。

【0067】

そこで、報知部３６４は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃおよび第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上である場合（Ｓ１３０におけるＹＥＳ）、きずを検出した、または、接触面２１４と探傷対象物１０との離隔（リフトオフ）によるノイズであることを報知する。

【0068】

第１報知工程Ｓ１４０が実行された場合、検査技術者は、目視できずの有無を確認する。そして、検査技術者によってきずが確認されない場合、再度、電流印加工程Ｓ１１０～第１判定工程Ｓ１３０を繰り返すとよい。

【0069】

そして、検査技術者によるきずの有無の確認が終了したら、検査技術者により、プローブ１１０が移動されて、電流印加工程Ｓ１１０からの処理が繰り返される。

【0070】

［第２判定工程Ｓ１５０］
判定部３６２は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上である、または、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上であるか否かを判定する。

【0071】

第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃおよび第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃのうちのいずれか一方が閾値Ｔｈ以上であると判定した場合（Ｓ１５０におけるＹＥＳ）、判定部３６２は、第２報知工程Ｓ１６０に処理を移す。一方、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃおよび第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃが閾値Ｔｈ以上ではないと判定した場合（Ｓ１５０におけるＮＯ）、判定部３６２は、第３判定工程Ｓ１７０に処理を移す。

【0072】

［第２報知工程Ｓ１６０］
報知部３６４は、「きずを検出した」旨の表示を表示装置３８０に表示させる。

【0073】

上記したように、第１検出コイル２２２と探傷対象物１０との離隔距離と、第２検出コイル２３２と探傷対象物１０との離隔距離は、実質的に等しいため、リフトオフ信号は、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２の双方を通じて検出されることになる。

【0074】

しかし、所定の大きさ以下のきずに基づく検出信号は、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２のうちのいずれか一方を通じて検出されることになる。

【0075】

このため、報知部３６４は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃおよび第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃのうちのいずれか一方が閾値Ｔｈ以上であると判定した場合（Ｓ１５０におけるＹＥＳ）、きずを検出したことを報知する。加えて、報知部３６４は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃとの差分が所定値以上であると判定した場合（後述する第３判定工程Ｓ１７０におけるＹＥＳ）に、きずを検出したことを報知する。

【0076】

これにより、報知部３６４は、きずを高精度に報知することができる。

【0077】

そして、検査技術者により、プローブ１１０が移動されて、電流印加工程Ｓ１１０からの処理が繰り返される。
［第３判定工程Ｓ１７０］
判定部３６２は、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃとの差分が所定値以上であるか否かを判定する。

【0078】

第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃとの差分が所定値以上であると判定した場合（Ｓ１７０におけるＹＥＳ）、判定部３６２は、第２報知工程Ｓ１６０に処理を移す。一方、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃとの差分が所定値以上ではないと判定した場合（Ｓ１７０におけるＮＯ）、判定部３６２は、第３報知工程Ｓ１８０に処理を移す。

【0079】

［第３報知工程Ｓ１８０］
報知部３６４は、「健全である（きずがない）」旨の表示を表示装置３８０に表示させる。

【0080】

そして、検査技術者により、プローブ１１０が移動されて、電流印加工程Ｓ１１０からの処理が繰り返される。

【0081】

以上説明したように、本実施形態に係る渦電流探傷装置１００は、第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２を備える。これにより、渦電流探傷装置１００は、プローブ１１０を探傷対象物１０（支持体２０）に沿わせて走査するだけで、プローブ１１０の角度を変更することなく、様々な方向の深さを有するきずを検出することができる。したがって、検査技術者の熟練度に拘わらず、きずを検出することができ、きずの見落としを防止することが可能となる。

【0082】

以上、添付図面を参照しながら実施形態について説明したが、本開示は上記実施形態に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。

【0083】

例えば、上述した実施形態において、プローブ１１０が第１検出コイル２２２および第２検出コイル２３２を備える場合を例に挙げた。しかし、プローブ１１０は、３以上の検出コイルを備えていてもよい。例えば、プローブ１１０は、第１検出コイル、第２検出コイル、および、第３検出コイルを備えていてもよい。この場合、第１検出コイルの中心軸は、接触面２１４と直交する。第１検出コイルの中心軸と第２検出コイルの中心軸との為す角は、例えば４５°であり、第１検出コイルの中心軸と第３検出コイルの中心軸との為す角は、例えば９０°である。また、例えば、第１検出コイルの中心軸と第２検出コイルの中心軸との為す角は、例えば３０°であり、第１検出コイルの中心軸と第３検出コイルの中心軸との為す角は、例えば６０°である。

【0084】

また、上記実施形態において、第１励磁コイル２２４および第２励磁コイル２３４を備える場合を例に挙げた。しかし、励磁コイルの数に限定はない。例えば、プローブ１１０は、１の励磁コイルを備えていてもよいし、３以上の励磁コイルを備えてもよい。

【0085】

また、上記実施形態において、第１検出コイル２２２の中心軸が接触面２１４と直交する（角αが９０°である）場合を例に挙げた。しかし、第１検出コイル２２２の中心軸は、接触面２１４と略直交していればよい。略直交は、第１検出コイル２２２の中心軸と、接触面２１４との為す角αが、９０°±１°の範囲内、つまり、８９°以上９１°以下の範囲である。

【0086】

また、上記実施形態において、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃの閾値Ｔｈと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃの閾値Ｔｈとが等しい場合を例に挙げた。しかし、第１の検出信号Ｓ１の信号強度Ｓｃの閾値Ｔｈと、第２の検出信号Ｓ２の信号強度Ｓｃの閾値Ｔｈとは、異なっていてもよい。

【0087】

また、上記実施形態において、探傷対象物１０として鋼橋を例に挙げた。しかし、探傷対象物１０は、少なくとも、第１板２２と、第２板２４と、溶接部２６とを含んでいればよい。つまり、探傷対象物１０は、Ｔ字継手等の角溶接を有するものであってもよい。探傷対象物１０は、例えば、鋼橋の壁面、または、プラントであってもよい。

【0088】

本開示は、例えば、持続可能な開発目標（ＳＤＧｓ）の目標１２「持続可能な消費と生産のパターンを確保する」に貢献することができる。

【符号の説明】

【0089】

１０ 探傷対象物
１００ 渦電流探傷装置
２１０ プローブ本体
２１４ 接触面
２２２ 第１検出コイル
２２４ 第１励磁コイル（励磁コイル）
２３２ 第２検出コイル
２３４ 第２励磁コイル（励磁コイル）
３１０ 励磁部
３３０ 検出部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】