特開2023-43841IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

電流の強度を測定するための抵抗アセンブリ

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】電流強度を測定するための抵抗アセンブリを提供する。
【解決手段】抵抗アセンブリ(1)は、少なくとも2つのストリップ状または板状の端子素子(2、2‘)と、電流の方向で端子素子(2、2‘)の間に配置されている少なくとも1つのストリップ状または板状の抵抗素子(3)とを備え、端子素子(2、2‘)と抵抗素子(3)が一平面上に相並んで、および相対して一列に配置され、少なくとも1つの抵抗素子(3)は、室温での比電気抵抗が端子素子(2、2‘)の材料の比電気抵抗より少なくとも10倍大きい材料からなり、少なくとも1つの抵抗素子(3)は、2つの互いに平行の接触辺(31、32)を有し、端子素子(2、2‘)は、それぞれ1つの接触面(21、21‘)を有し、接触面にて端子素子が少なくとも1つの抵抗素子(3)または別の抵抗素子の接触辺(31、32)のうちの1つと接続され、かつ電気的に接触している。
【選択図】図5

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、抵抗アセンブリを流れる電流の強度を決定するための、電流強度の決定への温度の影響が低減される代替の抵抗アセンブリを提供するという課題にもとづいている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、請求項1の特徴により示される。他の引用する請求項は、本発明の有利な実施形態および発展形態に該当する。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 従来技術から知られる抵抗アセンブリの図である。
【図2】 図1による抵抗アセンブリにおける電流線の模式図である。
【図3】 図1による抵抗アセンブリにおける等電位線の模式図である。
【図4】 斜めに位置決めされた抵抗素子を有する抵抗アセンブリの図である。
【図5】 図4による抵抗アセンブリにおける電流線の模式図である。
【図6】 図4による抵抗アセンブリにおける等電位線の模式図である。
【図7】 斜めに位置決めされた抵抗素子と電圧タップのための領域とを有する抵抗アセンブリの図である。
【図8】 斜めに位置決めされた抵抗素子と電圧タップのための好ましい領域とを有する抵抗アセンブリの図である。
【図9】 斜めに位置決めされた抵抗素子と電圧タップのための好ましい領域とを有する抵抗アセンブリの図である。
【図10】 測定データの比較グラフである。
【図11】 シミュレーション結果のグラフである。

選択図 図5出願人が指定した本件の代表的な図

1 抵抗アセンブリ 2、2‘ 端子素子 21、21‘ 接触面 3 抵抗素子 31 接触辺 32 接触辺 4 電流フロー線 41 等電位線 51 長辺 52 長辺 6、6‘ 電圧タップ 7、7‘ 接続する手段、孔

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