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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023049898
(43)【公開日】2023-04-10
(54)【発明の名称】タイヤ試験機の精度検査方法
(51)【国際特許分類】
G01M 17/02 20060101AFI20230403BHJP
【ＦＩ】
G01M17/02
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021159916
(22)【出願日】2021-09-29
(71)【出願人】
【識別番号】000001199
【氏名又は名称】株式会社神戸製鋼所
(74)【代理人】
【識別番号】100115381
【弁理士】
【氏名又は名称】小谷 昌崇
(74)【代理人】
【識別番号】100178582
【弁理士】
【氏名又は名称】行武 孝
(72)【発明者】
【氏名】藤原 英人
(57)【要約】
【課題】一のタイヤを試験位置から搬出することなく、スピンドルとタイヤとの位相を変えて試験機の精度検査を行うことが可能なタイヤ試験機の精度検査方法を提供する。
【解決手段】タイヤ試験機１の精度検査方法では、一のタイヤに対する１回目の試験が終了すると、上スピンドル２２がタイヤＴから上方に離間する。その後、下スピンドル２１およびタイヤＴが所定の角度だけ回転する。更に、搬送コンベア８が上昇してタイヤＴを一時的に保持した状態で、下スピンドル２１の位相が上スピンドル２２の位相に合うように調整される。タイヤＴが再び下スピンドル２１に支持され、上スピンドル２２が下降することで、２回目の試験が実行される。
【選択図】図１９
【解決手段】タイヤ試験機１の精度検査方法では、一のタイヤに対する１回目の試験が終了すると、上スピンドル２２がタイヤＴから上方に離間する。その後、下スピンドル２１およびタイヤＴが所定の角度だけ回転する。更に、搬送コンベア８が上昇してタイヤＴを一時的に保持した状態で、下スピンドル２１の位相が上スピンドル２２の位相に合うように調整される。タイヤＴが再び下スピンドル２１に支持され、上スピンドル２２が下降することで、２回目の試験が実行される。
【選択図】図１９
【特許請求の範囲】
【請求項1】
所定のタイヤ試験位置においてタイヤの回転中心軸が上下方向に延びる姿勢である水平姿勢とされた前記タイヤを前記回転中心軸回りに回転させ前記タイヤに所定の試験を行うタイヤ試験機の精度検査方法であって、
前記タイヤ試験機として、前記水平姿勢とされたタイヤを前記タイヤ試験位置を通るように水平方向に搬送可能な搬送部と、前記タイヤが前記回転中心軸回りに回転可能なように前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの下側部分を支持する下スピンドルと、前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの上側部分を支持する上スピンドルとを有するものを準備する準備工程と、
前記搬送部によって一のタイヤを前記タイヤ試験位置に搬入する搬入工程と、
前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを搬送部から前記下スピンドルに受け渡す第１受け渡し工程と、
前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に下降させ、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルによって前記一のタイヤを挟持するタイヤ挟持工程と、
前記下スピンドルと前記一のタイヤと前記上スピンドルとを一体で回転させ、前記一のタイヤに前記試験を行い、試験データを取得する試験工程と、
前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に上昇させ、当該上スピンドルを前記タイヤから離間させる上スピンドル離間工程と、
前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して所定の角度相対回転させる下スピンドル回転工程と、
前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを前記下スピンドルから前記搬送部に受け渡す第２受け渡し工程と、
前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返す繰り返し工程と、
前記繰り返し工程を経て取得された前記試験回数分の前記試験データに基づいて、前記タイヤ試験機の精度を解析する解析工程と、
を備える、タイヤ試験機の精度検査方法。
前記タイヤ試験機として、前記水平姿勢とされたタイヤを前記タイヤ試験位置を通るように水平方向に搬送可能な搬送部と、前記タイヤが前記回転中心軸回りに回転可能なように前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの下側部分を支持する下スピンドルと、前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの上側部分を支持する上スピンドルとを有するものを準備する準備工程と、
前記搬送部によって一のタイヤを前記タイヤ試験位置に搬入する搬入工程と、
前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを搬送部から前記下スピンドルに受け渡す第１受け渡し工程と、
前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に下降させ、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルによって前記一のタイヤを挟持するタイヤ挟持工程と、
前記下スピンドルと前記一のタイヤと前記上スピンドルとを一体で回転させ、前記一のタイヤに前記試験を行い、試験データを取得する試験工程と、
前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に上昇させ、当該上スピンドルを前記タイヤから離間させる上スピンドル離間工程と、
前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して所定の角度相対回転させる下スピンドル回転工程と、
前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを前記下スピンドルから前記搬送部に受け渡す第２受け渡し工程と、
前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返す繰り返し工程と、
前記繰り返し工程を経て取得された前記試験回数分の前記試験データに基づいて、前記タイヤ試験機の精度を解析する解析工程と、
を備える、タイヤ試験機の精度検査方法。
【請求項2】
前記第１受け渡し工程の前に、前記上スピンドルと前記下スピンドルとの位相を所定の特定位相に合わせる位相調整工程を更に備え、
前記繰り返し工程は、前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記位相調整工程、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返すことを含む、請求項１に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
前記繰り返し工程は、前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記位相調整工程、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返すことを含む、請求項１に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
【請求項3】
前記準備工程は、
前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの一方のスピンドルとして、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの前記一方のスピンドルとは異なる他方のスピンドルに挿入される挿入部であって当該挿入部の外周面を構成する挿入外周面を含み前記回転中心軸を中心とした円柱状の挿入部を有するものを準備することと、
前記他方のスピンドルとして、前記回転中心軸の軸方向において前記一方のスピンドルの前記挿入部に対向する開口部と当該開口部を通じて前記挿入部を受け入れ可能な内部空間とをそれぞれ画定する円筒状のスピンドル内周面と、前記スピンドル内周面の少なくとも一部を構成し、前記一方のスピンドルを前記軸方向において拘束するように前記内部空間に挿入された前記挿入部をロックすることが可能なロック部とを有するものを準備することと、
を含む、請求項２に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの一方のスピンドルとして、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの前記一方のスピンドルとは異なる他方のスピンドルに挿入される挿入部であって当該挿入部の外周面を構成する挿入外周面を含み前記回転中心軸を中心とした円柱状の挿入部を有するものを準備することと、
前記他方のスピンドルとして、前記回転中心軸の軸方向において前記一方のスピンドルの前記挿入部に対向する開口部と当該開口部を通じて前記挿入部を受け入れ可能な内部空間とをそれぞれ画定する円筒状のスピンドル内周面と、前記スピンドル内周面の少なくとも一部を構成し、前記一方のスピンドルを前記軸方向において拘束するように前記内部空間に挿入された前記挿入部をロックすることが可能なロック部とを有するものを準備することと、
を含む、請求項２に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
【請求項4】
前記準備工程は、
前記一方のスピンドルとして、前記挿入部が、
前記回転中心軸の軸方向にそれぞれ延びるとともに前記タイヤの回転方向に互いに間隔をおいて配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数の係合突起をそれぞれ含む複数の挿入係合部と、
前記複数の挿入係合部のうち前記回転方向において互いに隣接する挿入係合部同士の間に前記軸方向に延びるようにそれぞれ配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入凹部であって、前記軸方向から見て前記複数の挿入係合部に対して径方向内側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数の挿入凹部と、
を有するものを準備することと、
前記他方のスピンドルとして、前記ロック部が、
前記スピンドル内周面において前記軸方向にそれぞれ延びるとともに前記回転方向に互いに間隔をおいて配置された複数のロック係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数のロック用突起をそれぞれ含む複数のロック係合部と、
前記複数のロック係合部のうち前記回転方向において互いに隣接するロック係合部同士の間に前記軸方向に延びるように前記スピンドル内周面にそれぞれ配置され、前記軸方向から見て前記複数のロック係合部に対して径方向外側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数のロック凹部と、
を有するものを準備することと、を含み、
前記位相調整工程は、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部にそれぞれ合致しかつ前記一方のスピンドルの前記複数の挿入凹部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部にそれぞれ合致した状態である挿入可能状態となるように、前記上スピンドルと前記下スピンドルとの位相を合わせることを含む、請求項３に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
前記一方のスピンドルとして、前記挿入部が、
前記回転中心軸の軸方向にそれぞれ延びるとともに前記タイヤの回転方向に互いに間隔をおいて配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数の係合突起をそれぞれ含む複数の挿入係合部と、
前記複数の挿入係合部のうち前記回転方向において互いに隣接する挿入係合部同士の間に前記軸方向に延びるようにそれぞれ配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入凹部であって、前記軸方向から見て前記複数の挿入係合部に対して径方向内側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数の挿入凹部と、
を有するものを準備することと、
前記他方のスピンドルとして、前記ロック部が、
前記スピンドル内周面において前記軸方向にそれぞれ延びるとともに前記回転方向に互いに間隔をおいて配置された複数のロック係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数のロック用突起をそれぞれ含む複数のロック係合部と、
前記複数のロック係合部のうち前記回転方向において互いに隣接するロック係合部同士の間に前記軸方向に延びるように前記スピンドル内周面にそれぞれ配置され、前記軸方向から見て前記複数のロック係合部に対して径方向外側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数のロック凹部と、
を有するものを準備することと、を含み、
前記位相調整工程は、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部にそれぞれ合致しかつ前記一方のスピンドルの前記複数の挿入凹部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部にそれぞれ合致した状態である挿入可能状態となるように、前記上スピンドルと前記下スピンドルとの位相を合わせることを含む、請求項３に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
【請求項5】
前記タイヤ挟持工程は、
前記複数の挿入係合部が前記回転方向において前記複数のロック係合部にそれぞれ対向する位置まで、前記一方のスピンドルの前記挿入部を前記軸方向に沿って前記他方のスピンドルの前記内部空間に挿入する挿入工程と、
前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起とそれぞれ係合することで、前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとを前記軸方向において相対的に位置決めするように、前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して相対回転させる位置決め工程と、
前記上スピンドル、前記一のタイヤおよび前記下スピンドルが一体で回転可能なように、前記一のタイヤの内部にエアを充填するエア充填工程と、
を含む、請求項４に記載の、タイヤ試験機の精度検査方法。
前記複数の挿入係合部が前記回転方向において前記複数のロック係合部にそれぞれ対向する位置まで、前記一方のスピンドルの前記挿入部を前記軸方向に沿って前記他方のスピンドルの前記内部空間に挿入する挿入工程と、
前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起とそれぞれ係合することで、前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとを前記軸方向において相対的に位置決めするように、前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して相対回転させる位置決め工程と、
前記上スピンドル、前記一のタイヤおよび前記下スピンドルが一体で回転可能なように、前記一のタイヤの内部にエアを充填するエア充填工程と、
を含む、請求項４に記載の、タイヤ試験機の精度検査方法。
【請求項6】
前記準備工程は、
前記一のスピンドルとして、前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起が、前記回転方向に進むにつれて前記軸方向における一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状を有しているものを準備することと、
前記他のスピンドルとして、前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が、前記回転方向に進むにつれて前記一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状であって前記回転方向に沿って前記複数の係合突起と係合可能な螺旋形状を有しているものを準備することと、
を含み、
前記位相調整工程は、前記位置決め工程において前記複数の係合突起の螺旋形状と前記複数のロック用突起の螺旋形状とが互いに係合することで前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとが前記軸方向において相対的に位置決めされるように、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部と前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部との位相を合わせることを含む、請求項５に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
前記一のスピンドルとして、前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起が、前記回転方向に進むにつれて前記軸方向における一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状を有しているものを準備することと、
前記他のスピンドルとして、前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が、前記回転方向に進むにつれて前記一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状であって前記回転方向に沿って前記複数の係合突起と係合可能な螺旋形状を有しているものを準備することと、
を含み、
前記位相調整工程は、前記位置決め工程において前記複数の係合突起の螺旋形状と前記複数のロック用突起の螺旋形状とが互いに係合することで前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとが前記軸方向において相対的に位置決めされるように、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部と前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部との位相を合わせることを含む、請求項５に記載のタイヤ試験機の精度検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、タイヤに所定の試験を行うためのタイヤ試験機の精度検査方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、タイヤのユニフォミティなどを測定するタイヤ試験機が知られている。当該タイヤ試験機は、タイヤを上下方向に延びる回転中心軸回りに回転可能に支持するスピンドルと、スピンドルの回転中心軸と平行な回転中心軸回りに回転可能であり且つタイヤの外周面に当接可能とされた回転ドラムと、回転ドラムに加わる荷重を計測可能なロードセルとを有する。また、スピンドル側にロードセルを有する装置も存在する。
【0003】
スピンドルに装着されたタイヤに空気が充填されタイヤの外周面に回転ドラムが押し付けられると、タイヤがスピンドルによって回転され、ロードセルがタイヤの荷重変動データを計測する。計測された荷重変動データに基づいて、タイヤの均一性（ユニフォミティ）が評価される。スピンドルは、上スピンドルと下スピンドルとを有する。タイヤをスピンドルに装着する際には、タイヤサイズに応じた上リムおよび下リムがタイヤの両側面にそれぞれ装着され、これらのリムを介してスピンドルがタイヤを回転可能に支持する。
【0004】
特許文献１には、上記のようなタイヤ試験機（タイヤユニフォミティ機）の精度検査方法が開示されている。当該方法では、まず、移送装置により一のタイヤをテストゾーンに搬入し、上スピンドルと下スピンドルとを軸方向に接近させて前記タイヤを挟持し、スピンドルを回転させて１回目のタイヤユニフォミティを測定する。その後、スピンドルの回転を停止させ、両スピンドルを離間させ、移送装置によって前記タイヤを回転しないようにテストゾーンから搬出し待機位置に待機させる。次に、両スピンドルを接当させた状態で所定角度だけ回転させスピンドルの位相をずらした後、両スピンドルを離間させ、待機位置の前記タイヤをテストゾーンに再び搬入する。その後、両スピンドルによって前記タイヤを再び挟持し、２回目のタイヤユニフォミティを測定する。このように、１本のタイヤについてｎ回のタイヤユニフォミティを測定し、ｍ本のタイヤについて同様にｎ回のタイヤユニフォミティを測定することで、合計ｎ×ｍのタイヤユニフォミティデータを得て、タイヤ試験機の精度が検証される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特公平６－１７８５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
特許文献１に記載された技術では、１本のタイヤについてタイヤとスピンドルとの位相を変えて試験を行う度に、タイヤを試験位置から搬出し再び試験位置に搬入する作業や、タイヤの軸位置を試験位置に合わせる作業が発生するため、タイヤ試験機の精度検査に多くの時間を要するという問題があった。
【0007】
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、一のタイヤを試験位置から搬出することなく、スピンドルとタイヤとの位相を変えて試験機の精度検査を行うことが可能なタイヤ試験機の精度検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明によって提供されるのは、所定のタイヤ試験位置においてタイヤの回転中心軸が上下方向に延びる姿勢である水平姿勢とされた前記タイヤを前記回転中心軸回りに回転させ前記タイヤに所定の試験を行うタイヤ試験機の精度検査方法である。当該精度検査方法は、準備工程と、搬入工程と、第１受け渡し工程と、タイヤ挟持工程と、試験工程と、上スピンドル離間工程と、下スピンドル回転工程と、第２受け渡し工程と、繰り返し工程と、解析工程とを備える。前記準備工程では、前記タイヤ試験機として、前記水平姿勢とされたタイヤを前記タイヤ試験位置を通るように水平方向に搬送可能な搬送部と、前記タイヤが前記回転中心軸回りに回転可能なように前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの下側部分を支持する下スピンドルと、前記タイヤ試験位置において前記水平姿勢とされた前記タイヤの上側部分を支持する上スピンドルとを有するものを準備する。前記搬入工程では、前記搬送部によって一のタイヤを前記タイヤ試験位置に搬入する。前記第１受け渡し工程では、前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを搬送部から前記下スピンドルに受け渡す。タイヤ挟持工程では、前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に下降させ、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルによって前記一のタイヤを挟持する。前記試験工程では、前記下スピンドルと前記一のタイヤと前記上スピンドルとを一体で回転させ、前記一のタイヤに前記試験を行い、試験データを取得する。前記上スピンドル離間工程では、前記上スピンドルを前記下スピンドルに対して相対的に上昇させ、当該上スピンドルを前記タイヤから離間させる。前記下スピンドル回転工程では、前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して所定の角度、相対回転させる。前記第２受け渡し工程では、前記搬送部を前記下スピンドルに対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤを前記下スピンドルから前記搬送部に受け渡す。前記繰り返し工程では、前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返す。前記解析工程では、前記繰り返し工程を経て取得された前記試験回数分の前記試験データに基づいて、前記タイヤ試験機の精度を解析する。
【0009】
本方法によれば、１本のタイヤについてタイヤと各スピンドルとの位相を変えて試験を行う度に、タイヤをタイヤ試験位置から搬出し再びタイヤ試験位置に搬入する作業や、タイヤの軸位置をタイヤ試験位置に頻繁に合わせる作業が発生しないため、タイヤ試験機の精度検査に要する時間を低減することが可能となる。
【0010】
上記の方法において、前記第１受け渡し工程の前に、前記上スピンドルと前記下スピンドルとの位相を所定の特定位相に合わせる位相調整工程を更に備え、前記繰り返し工程は、前記一のタイヤに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記位相調整工程、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返すことを含むものでもよい。
【0011】
本方法によれば、上スピンドルと下スピンドルとの位相を合わせた状態で、各タイヤに対して複数回の試験を行うことが可能になるため、スピンドルとタイヤとの位相に着目した精度ばらつきを解析することができる。また、上下スピンドルの間隔をタイヤの幅に応じて設定するために、上スピンドルと下スピンドルのとの位相を合致させる必要がある場合でも、各スピンドルとタイヤとの位相を異ならせることで、タイヤ試験機の精度検査を行うことができる。
【0012】
上記の方法において、前記準備工程は、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの一方のスピンドルとして、前記下スピンドルおよび前記上スピンドルのうちの前記一方のスピンドルとは異なる他方のスピンドルに挿入される挿入部であって当該挿入部の外周面を構成する挿入外周面を含み前記回転中心軸を中心とした円柱状の挿入部を有するものを準備することと、前記他方のスピンドルとして、前記回転中心軸の軸方向において前記一方のスピンドルの前記挿入部に対向する開口部と当該開口部を通じて前記挿入部を受け入れ可能な内部空間とをそれぞれ画定する円筒状のスピンドル内周面と、前記スピンドル内周面の少なくとも一部を構成し、前記一方のスピンドルを前記軸方向において拘束するように前記内部空間に挿入された前記挿入部をロックすることが可能なロック部とを有するものを準備することと、を含むものでもよい。
【0013】
本方法によれば、他方のスピンドルの内部空間に一方のスピンドルの挿入部を挿入し、ロック部によって挿入部をロックすることで、下スピンドルと上スピンドルとの相対位置を容易に拘束することができる。
【0014】
上記の方法において、前記準備工程は、前記一方のスピンドルとして、前記挿入部が、前記回転中心軸の軸方向にそれぞれ延びるとともに前記タイヤの回転方向に互いに間隔をおいて配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数の係合突起をそれぞれ含む複数の挿入係合部と、前記複数の挿入係合部のうち前記回転方向において互いに隣接する挿入係合部同士の間に前記軸方向に延びるようにそれぞれ配置され前記挿入外周面の一部をそれぞれ構成する複数の挿入凹部であって、前記軸方向から見て前記複数の挿入係合部に対して径方向内側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数の挿入凹部と、を有するものを準備することと、前記他方のスピンドルとして、前記ロック部が、前記スピンドル内周面において前記軸方向にそれぞれ延びるとともに前記回転方向に互いに間隔をおいて配置された複数のロック係合部であって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数のロック用突起をそれぞれ含む複数のロック係合部と、前記複数のロック係合部のうち前記回転方向において互いに隣接するロック係合部同士の間に前記軸方向に延びるように前記スピンドル内周面にそれぞれ配置され、前記軸方向から見て前記複数のロック係合部に対して径方向外側に窪んだ形状をそれぞれ有する複数のロック凹部と、を有するものを準備することとを含み、前記位相調整工程は、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部にそれぞれ合致しかつ前記一方のスピンドルの前記複数の挿入凹部が前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部にそれぞれ合致した状態である挿入可能状態となるように、前記上スピンドルと前記下スピンドルとの位相を合わせることを含むものでもよい。
【0015】
本方法によれば、一方のスピンドルの挿入部が有する複数の挿入係合部と複数の挿入凹部と、他方のスピンドルのロック部が有する複数のロック係合部と複数のロック凹部とによって、下スピンドルと上スピンドルとの軸方向における相対位置を容易に設定することができる。特に、挿入部の挿入係合部には複数の係合突起が軸方向に隣接して配置される一方、ロック部のロック係合部には複数のロック用突起が軸方向に隣接して配置されているため、互いの突起の係合位置を軸方向において異ならせることで、タイヤの幅に応じて両スピンドルの間隔を容易に変更することが可能となる。
【0016】
上記の方法において、前記タイヤ挟持工程は、前記複数の挿入係合部が前記回転方向において前記複数のロック係合部にそれぞれ対向する位置まで、前記一方のスピンドルの前記挿入部を前記軸方向に沿って前記他方のスピンドルの前記内部空間に挿入する挿入工程と、前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起とそれぞれ係合することで、前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとを前記軸方向において相対的に位置決めするように、前記下スピンドルを前記上スピンドルに対して相対回転させる位置決め工程と、前記上スピンドル、前記一のタイヤおよび前記下スピンドルが一体で回転可能なように、前記一のタイヤの内部にエアを充填するエア充填工程と、を含むものでもよい。
【0017】
本方法によれば、一方のスピンドルの挿入部を他方のスピンドルの内部空間に挿入したのち他方のスピンドルを一方のスピンドルに対して相対的に回転させることで上スピンドルと下スピンドルとの間隔を容易に固定することができる。
【0018】
上記の方法において、前記準備工程は、前記一のスピンドルとして、前記複数の挿入係合部の前記複数の係合突起が、前記回転方向に進むにつれて前記軸方向における一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状を有しているものを準備することと、前記他のスピンドルとして、前記複数のロック係合部の前記複数のロック用突起が、前記回転方向に進むにつれて前記一の方向に傾斜するように前記回転中心軸を中心とした螺旋形状であって前記回転方向に沿って前記複数の係合突起と係合可能な螺旋形状を有しているものを準備することと、を含み、前記位相調整工程は、前記位置決め工程において前記複数の係合突起の螺旋形状と前記複数のロック用突起の螺旋形状とが互いに係合することで前記一のタイヤの幅に応じて前記上スピンドルと前記下スピンドルとが前記軸方向において相対的に位置決めされるように、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの前記複数の挿入係合部と前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部との位相を合わせることを含むものでもよい。
【0019】
本方法によれば、位相調整工程において、前記一方のスピンドルの複数の挿入係合部と他方のスピンドルの複数のロック凹部との位相を合わせておくことで、内部空間に対する挿入部の挿入位置とあいまって、下スピンドルと上スピンドルとの間隔をタイヤの幅に応じて精度良く調整することができる。
【発明の効果】
【0020】
本発明によれば、一のタイヤを試験位置から搬出することなく、スピンドルとタイヤとの位相を変えて試験機の精度検査を行うことが可能なタイヤ試験機の精度検査方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【0021】
【図1】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の平面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の背面図である。
【図3】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の側面図である。
【図4】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の上スピンドルに上リムが支持された状態の側面図である。
【図5】本発明の一変形実施形態に係るタイヤ試験機のロックピースの平面図である。
【図6】本発明の一変形実施形態に係るタイヤ試験機のロックピースの側断面図である。
【図7】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機のロックピースの斜視図である。
【図8】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の下スピンドルおよび上スピンドルに下リムおよび上リムがそれぞれ支持された状態の側断面図である。
【図9】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の昇降ユニットの上方斜視図である。
【図11】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の昇降ユニットの下方斜視図である。
【図13】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機のブロック図である。
【図14】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機のユニフォミティ試験のフローチャートである。
【図15】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機のユニフォミティ試験においてタイヤが下スピンドルに支持された様子を示す断面図である。
【図16】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機のユニフォミティ試験において上スピンドルが下スピンドルに挿入された様子を示す断面図である。
【図17】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機においてタイヤが回転可能に支持された様子を示す断面図である。
【図18】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の精度検査のフローチャートである。
【図19】本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機の精度検査においてタイヤが下スピンドルから脱離された様子を示す断面図である。
【図20】本発明の変形実施形態に係るタイヤ試験機の上スピンドルに上リムが支持された状態の側面図である。
【図21】本発明の変形実施形態に係るタイヤ試験機のロックピースの側断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0022】
以下、本発明のタイヤ試験機１の一実施形態を、図面に基づき詳しく説明する。図１、図２および図３は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の平面図、背面図および側面図である。なお、以後の各図面では、タイヤ試験機１によって搬送されるタイヤＴを基準に、前後、上下および左右の各方向が示されているが、当該方向は本発明に係るタイヤ試験機の精度検査方法、タイヤ試験機の使用態様を限定するものではない。
【0023】
タイヤ試験機１は、本体フレーム１Ｓと、スピンドル２と、タイヤ搬送機構３と、回転ドラム４と、昇降ユニット５０と、マーキングユニット６０と、不図示のドラム移動機構およびロードセル４Ｌと、を備える。タイヤ試験機１は、所定のタイヤ試験位置ＰにおいてタイヤＴ（図１５参照）のタイヤ回転中心軸ＣＬ（回転中心軸）が上下方向に延びる姿勢である水平姿勢とされた前記タイヤＴを前記タイヤ回転中心軸ＣＬ回りに回転させ前記タイヤＴに所定の試験を行う。
【0024】
本体フレーム１Ｓは、タイヤ試験機１の略中央部に配置されており、その内部にタイヤ試験位置Ｐが形成されている。また、本体フレーム１Ｓは、スピンドル２を回転可能に支持する。本体フレーム１Ｓは、下フレーム１００（図３）と、ベースフレーム１０１（図２）と、アッパーフレーム１０２（図２）と、を有する。
【0025】
スピンドル２は、タイヤ試験位置Ｐにおいて上下方向に延びる基準回転中心軸２Ｓ回りにタイヤＴを回転可能に支持する。スピンドル２は、下スピンドル２１（他方のスピンドル、第２スピンドル）と、上スピンドル２２（一方のスピンドル、第１スピンドル）と、を有する（図２、図３）。下スピンドル２１は、下フレーム１００に回転可能に支持されている。
【0026】
タイヤ搬送機構３は、平面視でタイヤ試験位置Ｐを通るように水平な搬送方向Ｄ１に沿って配設されており、水平姿勢とされたタイヤＴをタイヤ試験位置Ｐに搬入することが可能である一方、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐから搬送方向Ｄ１に沿って搬出することが可能とされている。
【0027】
回転ドラム４は、本体フレーム１Ｓのベースフレーム１０１に回転可能に支持されている。回転ドラム４は、タイヤ搬送機構３で搬送されるタイヤＴの搬送方向Ｄ１とほぼ直交する方向（左右方向）において、タイヤ試験位置Ｐ（スピンドル２）に所定の間隔をおいて対向して配置されている。この回転ドラム４は、スピンドル２の基準回転中心軸２Ｓと平行な方向（上下方向）に延びる回転中心軸回りに回転自在とされた円筒状の部材であり、その外周面にはタイヤＴが走行する模擬路面４Ａ（外周面）が形成されている。模擬路面４ＡがタイヤＴの外周面に当接することで、回転ドラム４がタイヤＴに従動して回転する。回転ドラム４の側方にはこの回転ドラム４を水平方向に押し動かす不図示のドラム移動機構が設けられており、ドラム移動機構は、回転ドラム４をタイヤＴに対して接近および離脱することができる。
【0028】
ロードセル４Ｌ（荷重測定器）は、回転ドラム４の回転中心軸の上下延長線上にそれぞれ配置され（図１には上側のみ示している）、回転ドラム４がタイヤＴから受ける荷重を測定する。ロードセル４Ｌは、回転ドラム４を本体フレーム１Ｓに支持するために用いられており、回転ドラム４の上部と下部とに１つずつ配備され、回転ドラム４に作用する軸垂直方向の荷重を測定する。すなわち、本実施形態に係るタイヤ試験機１は、不図示のボールねじ及びモーターの組合せを用いて、回転ドラム４をスピンドル２に近接させ、回転ドラム４の模擬路面４ＡにタイヤＴを接触させつつタイヤ回転時の荷重変動をロードセル４Ｌで計測することで、タイヤＴの均一性を評価するタイヤユニフォミティマシンとして構成されている。
【0029】
タイヤ搬送機構３は、ベルトコンベア式の構造からなる。タイヤ搬送機構３は、搬入コンベア７と、搬送コンベア８と、搬出コンベア９と、搬入フレーム７Ｓと、搬出フレーム９Ｓと、を有する。図１では、タイヤＴが後側（上流側）から前側（下流側）に向かって搬送される。
【0030】
搬入コンベア７は、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐに向かって搬送する。搬入コンベア７によって搬送されたタイヤＴは、搬送コンベア８の上流側部分に受け渡される。搬送コンベア８は、搬入コンベア７からタイヤＴを受け入れるとともに、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐに搬入する。搬送コンベア８は、後記の制御部９０によって制御されることで、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐにおいて一時停止させる。その後、タイヤＴに所定の試験が施されると、搬送コンベア８は、タイヤＴを更に下流側に搬送する。搬送コンベア８によって搬送されたタイヤＴは、搬出コンベア９に受け渡される。搬出コンベア９は、搬送コンベア８からタイヤＴを受け入れるとともに、タイヤＴを更に下流側に搬送する。
【0031】
なお、搬入コンベア７、搬送コンベア８および搬出コンベア９は、タイヤ搬送機構３が有する不図示の駆動部によって周回駆動される。更に、搬送コンベア８は、前記駆動部に含まれる不図示のエアシリンダよって昇降可能とされている。タイヤ試験位置Ｐに搬入されたタイヤＴは、搬送コンベア８の下降によって下スピンドル２１に受け渡される。図３では、搬送コンベア８が最も下方の下方位置に移動した状態が示されている。搬送コンベア８が最も上方の上方位置に移動されると、搬送コンベア８は搬入コンベア７および搬出コンベア９と同じ高さに配置され、タイヤＴを搬送可能となる。また、搬入コンベア７、搬送コンベア８および搬出コンベア９は、タイヤＴの外径よりも狭い間隔で互いに並んで配置された一対のベルトから構成されている。また、上記のように、搬送コンベア８の昇降（上下移動）によって、タイヤＴの受け渡しが実行可能なように、搬送コンベア８の一対のベルトの間隔は、下スピンドル２１の外径よりも広く設定されている。
【0032】
搬入フレーム７Ｓは、搬入コンベア７を周回可能に支持しており、搬出フレーム９Ｓは、搬出コンベア９を周回可能に支持している。また、搬出フレーム９Ｓは、タイヤ試験位置Ｐにおける試験結果に応じてタイヤＴに所定のマーキングを施すマーキングユニット６０（図３）を支持している。
【0033】
昇降ユニット５０（図２）は、上スピンドル２２を昇降可能かつ回転可能に支持する。昇降ユニット５０は、図２のアッパーフレーム１０２の前後一対のガイドフレーム１０２Ａに沿って上下に移動することが可能である。なお、昇降ユニット５０の詳細な構造については後記で説明する。
【0034】
図４は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の上スピンドル２２に上リム６２が支持された状態の側面図である。図５、図６および図７は、本実施形態に係るタイヤ試験機１のロックピース２５０の平面図、側断面図および斜視図である。図８は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の下スピンドル２１および上スピンドル２２に下リム６１および上リム６２がそれぞれ支持された状態の側断面図である。
【0035】
下スピンドル２１は、前記水平姿勢とされたタイヤＴのうち下側に位置するビード部である下ビード部に装着される下リム６１を保持することが可能な下保持フランジ２１０Ａ（図８）（下保持部）を有し、前記下リム６１を介してタイヤＴが基準回転中心軸２Ｓ周りに回転可能なようにタイヤＴを支持する。
【0036】
上スピンドル２２は、前記水平姿勢とされたタイヤＴのうち上側に位置するビード部である上ビード部に装着される上リム６２を保持することが可能な上保持フランジ２２１（図８）（上保持部）を有し、前記上リム６２を介してタイヤＴが基準回転中心軸２Ｓ周りに回転可能なようにタイヤＴを支持する。
【0037】
なお、タイヤＴがタイヤ試験位置Ｐに配置されると、タイヤＴのタイヤ回転中心軸ＣＬがスピンドル２の基準回転中心軸２Ｓと合致する。タイヤ試験機１は、タイヤ試験位置Ｐにおいて試験を受けるタイヤＴのサイズ（外径、内径、幅）、形状などに応じて、複数種の下リム６１および上リム６２を有しており、各タイヤＴに応じて適切な下リム６１および上リム６２がタイヤ試験位置Ｐに配置される。
【0038】
上スピンドル２２は、上スピンドル基端部２２０（図４）と、上保持フランジ２２１と、下スピンドル２１に挿入される挿入部２２２と、ガイドピース２２３と、上スピンドル係合部２２４と、を有する。
【0039】
上スピンドル基端部２２０は、上スピンドル２２の基端部（上端部）を構成する円柱形状を有している。なお、図１１に示すように、上スピンドル基端部２２０は、昇降ユニット５０に接続されている。
【0040】
上保持フランジ２２１は、上スピンドル基端部２２０の下端に接続されており、リング状の上リム６２を保持する機能を有している。
【0041】
挿入部２２２は、上保持フランジ２２１に下方から接続されている。挿入部２２２は、挿入外周面２２２Ｓ（図４）を含み、基準回転中心軸２Ｓ（タイヤ回転中心軸ＣＬ）を中心とした円柱形状を有している。なお、図８に示すように、挿入部２２２がリング状の上リム６２の内部に挿通されることで、上リム６２が上保持フランジ２２１に到達し保持される。
【0042】
ガイドピース２２３は、挿入部２２２の下端部に複数のボルトＶによって固定されており（図８）、挿入部２２２とともに下スピンドル２１の後記の内部空間Ｓに挿入される。
【0043】
上スピンドル係合部２２４（図４）は、挿入部２２２の挿入外周面２２２Ｓの上下方向における略中央部に配置されている。上スピンドル係合部２２４は、複数の挿入係合部２２４Ａと、複数の挿入凹部２２４Ｂとを有する。
【0044】
複数の挿入係合部２２４Ａは、基準回転中心軸２Ｓの軸方向にそれぞれ延びるとともにタイヤＴの回転方向に互いに間隔をおいて配置され、挿入外周面２２２Ｓの一部をそれぞれ構成する。複数の挿入係合部２２４Ａは、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数の係合突起２２４ＡＳをそれぞれ含む。複数の挿入係合部２２４Ａにおける複数の係合突起２２４ＡＳは、上スピンドル２２の回転方向（図４の矢印参照）に進むにつれて前記軸方向における一の方向（上方向）に傾斜するように基準回転中心軸２Ｓを中心とした螺旋形状を有している。
【0045】
一方、複数の挿入凹部２２４Ｂは、複数の挿入係合部２２４Ａのうち前記回転方向において互いに隣接する挿入係合部２２４Ａ同士の間に前記軸方向に延びるようにそれぞれ配置され、挿入外周面２２２Ｓの一部を構成する。複数の挿入凹部２２４Ｂは、前記軸方向から見て複数の挿入係合部２２４Ａに対して径方向内側に窪んだ形状をそれぞれ有する。なお、上記の複数の係合突起２２４ＡＳ間に形成された空間（溝）の両端部は、隣接する挿入凹部２２４Ｂによって画定される空間（くぼみ）にそれぞれ連通している。
【0046】
更に、図８に示すように、挿入部２２２は、エア導入部２２５Ａ、複数のエア供給部２２５Ｂを有する。エア導入部２２５Ａは、後記のエア供給機構５５に連通しており、エア供給機構５５からタイヤＴ内（タイヤ内部空間）に供給するエアを受け入れる。複数のエア供給部２２５Ｂは、エア導入部２２５Ａに連通し、エア導入部２２５Ａから放射状に延びている。各エア供給部２２５Ｂは、前記タイヤ内部空間に連通し、エアを供給する。なお、エア導入部２２５Ａおよび複数のエア供給部２２５Ｂは、タイヤ内部空間にエアが充分に充填された際に、タイヤＴの破裂を防止するため、過剰なエアを排出させる排出部としても機能し、これらの周辺には前記エアの排出を制御する不図示の制御弁が配置されている。
【0047】
下スピンドル２１（図８）は、円筒状のスピンドル本体２１０と、スピンドル本体２１０に固定されたリング状のロックピース２５０（ロック部）と、を有する。スピンドル本体２１０は、円筒状の本体内周面２１０Ｓを有する。また、ロックピース２５０は、円筒状のピース内周面２５０Ｓ（図５、図８）を有する。本体内周面２１０Ｓおよびピース内周面２５０Ｓは、円筒状のスピンドル内周面２１Ｓ（図８）を構成する。スピンドル内周面２１Ｓは、前記軸方向において上スピンドル２２の挿入部２２２に対向する開口部Ｘ（図８）と当該開口部Ｘを通じて挿入部２２２を受け入れ可能な内部空間Ｓとをそれぞれ画定する。なお、スピンドル内周面２１Ｓの内径は、挿入部２２２の外径よりも僅かに大きく設定されている。
【0048】
本実施形態では、スピンドル本体２１０は、円筒状の下保持フランジ２１０Ａと、円筒状の下スピンドル本体部２１０Ｂとを含み、上下二分割構造を有している。図８に示すように、下保持フランジ２１０Ａおよび下スピンドル本体部２１０Ｂは、複数のボルトＶによって互いに連結されている。下保持フランジ２１０Ａは、下リム６１を下方から保持する下保持部として機能する。下保持フランジ２１０Ａの上側部分は、下保持フランジ２１０Ａの下側部分よりも小さな外径を有する。リング形状を有する下リム６１の中心に円筒状の下保持フランジ２１０Ａの上側部分が挿通されることで、下保持フランジ２１０Ａの下側部分（フランジ部分）が下リム６１を保持する。
【0049】
ロックピース２５０（図８）は、下保持フランジ２１０Ａと下スピンドル本体部２１０Ｂとの間に介在するように配置され、前述のようにそのピース内周面２５０Ｓがスピンドル内周面２１Ｓの一部を構成している。ロックピース２５０は、上スピンドル２２を前記軸方向において拘束するように、前記内部空間Ｓに挿入された上スピンドル２２をロックすることが可能とされている。なお、ロックピース２５０は、スピンドル本体２１０と一体で基準回転中心軸２Ｓ周りに回転する。
【0050】
ロックピース２５０は、複数のロック係合部２５０Ａと、複数のロック凹部２５０Ｂとを有する（図５乃至図７）。なお、本実施形態では、前述の複数の挿入係合部２２４Ａおよび複数の挿入凹部２２４Ｂと、複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂとの数はすべて同じである。
【0051】
複数のロック係合部２５０Ａは、スピンドル内周面２１Ｓにおいて前記軸方向にそれぞれ延びるとともに前記回転方向に互いに間隔をおいて配置されている。複数のロック係合部２５０Ａは、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数のロック用突起２５０ＡＳ（図６）をそれぞれ含む。複数のロック係合部２５０Ａの複数のロック用突起２５０ＡＳは、下スピンドル２１の回転方向に進むにつれて上方向（前記一の方向）に傾斜するように基準回転中心軸２Ｓを中心とした螺旋形状であって、前記回転方向に沿って複数の挿入係合部２２４Ａにおける複数の係合突起２２４ＡＳと係合可能な螺旋形状を有している。換言すれば、上記の複数の係合突起２２４ＡＳおよび複数のロック用突起２５０ＡＳは、基準回転中心軸２Ｓを中心として所定のリードで形成されたねじの一部（ねじノコ歯）からなる。
【0052】
一例として、前記リードが２分の１ピッチであり、複数の挿入凹部２２４Ｂおよび複数のロック凹部２５０Ｂがそれぞれ周方向において６か所ずつ配置されている場合、複数の挿入係合部２２４Ａと複数のロック係合部２５０Ａとが係合している状態で、下スピンドル２１を１８０度回転させると、下リム６１と上リム６２との間隔（リム幅）を４分の１ピッチだけ変更することができる。一方、リードが１ピッチであり、複数の挿入凹部２２４Ｂおよび複数のロック凹部２５０Ｂがそれぞれ周方向において８か所ずつ配置されている場合、複数の挿入係合部２２４Ａと複数のロック係合部２５０Ａとが係合している状態で、下スピンドル２１を９０度回転させると、下リム６１と上リム６２との間隔（リム幅）を４分の１ピッチだけ変更することができる。
【0053】
複数のロック凹部２５０Ｂは、前記複数のロック係合部２５０Ａのうち前記回転方向において互いに隣接するロック係合部２５０Ａ同士の間に前記軸方向に延びるように前記スピンドル内周面２１Ｓにそれぞれ配置され、前記軸方向から見て前記複数のロック係合部２５０Ａに対して径方向外側に窪んだ形状をそれぞれ有する（図５）。
【0054】
なお、ロック係合部２５０Ａの内径は、前述の挿入凹部２２４Ｂの外径よりも大きくかつ挿入係合部２２４Ａの外径よりも小さく、ロック凹部２５０Ｂの内径は、前述の挿入係合部２２４Ａの外径よりも大きく設定されている。これらの大きさの相互関係は、エア供給機構５５によりタイヤ内部空間に供給されたエアによって、上スピンドル２２および下スピンドル２１に生じる大きな軸方向の力に耐えうるように設定される。
【0055】
図９は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の昇降ユニット５０の上方斜視図であり、図１０は、図９の昇降ユニット５０の一部を拡大した拡大斜視図である。図１１は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の昇降ユニット５０の下方斜視図であり、図１２は、図１１の昇降ユニット５０の一部を拡大した拡大斜視図である。
【0056】
図９、図１０を参照して、昇降ユニット５０は、昇降ブラケット５１０と、被ガイドフレーム５１１と、前後一対の斜めフレーム５１２と、ベースプレート５１５と、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６と、前後左右４つのオフセット調整ねじ５１７と、エア供給機構５５と、を有する。また、前述の上スピンドル２２は、上スピンドル基端部２２０（図４）に接続された上スピンドルフランジ２２７（図１０）を更に有する。
【0057】
昇降ブラケット５１０、被ガイドフレーム５１１、前後一対の斜めフレーム５１２は、上スピンドル２２を昇降させるフレームを構成する。昇降ブラケット５１０は、前後および左右方向に延びる矩形形状を有している。昇降ブラケット５１０の前後方向の中央部には、板状のブラケット中央部５１０Ａが配置されている。被ガイドフレーム５１１は、昇降ブラケット５１０の右側の側縁から上方に立設されており、前後および上下方向に延びる矩形形状を有している。被ガイドフレーム５１１は、アッパーフレーム１０２の一対のガイドフレーム１０２Ａによって上下に移動（昇降）可能に支持されている。前後一対の斜めフレーム５１２は、昇降ブラケット５１０と被ガイドフレーム５１１とを互いに接続し、昇降ユニット５０の剛性を維持している。
【0058】
ベースプレート５１５は、昇降ブラケット５１０のブラケット中央部５１０Ａ上に載置された部材であって、円板状の部分と円筒状の部分（ベースプレートボス部５１５Ｓ）とを有する。ベースプレート５１５の中心は基準回転中心軸２Ｓに合致する。なお、図１１、図１２に示すように、ブラケット中央部５１０Ａにはベースプレート５１５の外径よりも小さな内径を有する円形の開口部が形成されており、当該開口部を通じてベースプレート５１５の中央部分（ベースプレートボス部５１５Ｓ）が下方に延びるように露出している。
【0059】
上スピンドルフランジ２２７は、上スピンドル２２の挿入部２２２と一体で基準回転中心軸２Ｓ周りに回転可能な部材である。上スピンドルフランジ２２７は、図１０に示すように、ベースプレート５１５上に載置されており、上スピンドルフランジ２２７の中心は基準回転中心軸２Ｓと合致する。上スピンドルフランジ２２７には、周方向に沿って等間隔に４つの孔部２２７Ａが開口されている。孔部２２７Ａは、上スピンドルフランジ２２７を上下方向に貫通するように形成されている。一方、前述のベースプレート５１５には、前記孔部２２７Ａにそれぞれ挿入可能な４つのベースプレートピン（不図示）が上方に突出するように配設されている。
【0060】
４つのベースプレートピンが４つの孔部２２７Ａにそれぞれ挿入されると、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２の基準回転中心軸２Ｓ周りの回転が昇降ブラケット５１０によって阻止される。一方、上スピンドル２２の上スピンドルフランジ２２７がベースプレート５１５に対して相対的に上方に移動し、４つのベースプレートピンが４つの孔部２２７Ａからそれぞれ脱離されると、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２が基準回転中心軸２Ｓ周りに自由回転可能とされる。
【0061】
４つのオフセット調整ねじ５１７は、ベースプレート５１５の外周面を径方向内側に向かって付勢するようにブラケット中央部５１０Ａに配設されている。各オフセット調整ねじ５１７の締め込み量を調整することで、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２のオフセット量を調整することが可能となる。
【0062】
一対の上スピンドル回転位相センサ５１６（図１０）は、上スピンドル２２（タイヤＴ）の回転方向に沿って間隔をおいて配置され、ベースプレート５１５上に固定されたブラケット５１６Ｓに支持されている。一方、前述の上スピンドルフランジ２２７は、その外周部に配設された被検知部２２９を有する。被検知部２２９は、Ｌ字状の板金部材であり、上スピンドルフランジ２２７の外周部近傍において上方に延びる部分を有する。上スピンドルフランジ２２７が上スピンドル２２とともに基準回転中心軸２Ｓ周りに回転すると、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６が被検知部２２９を検知することで、上スピンドルフランジ２２７の回転および位相を検知することができる。一例として、上スピンドル回転位相センサ５１６は、検知光を発光する発光部と、前記検知光の反射光を受光する受光部とを含む。
【0063】
エア供給機構５５は、不図示の圧縮機から延びており、上スピンドルフランジ２２７および上スピンドル基端部２２０の円筒内部を通じて、前述のエア導入部２２５Ａにエアを供給する。すなわち、エア供給機構５５は、上スピンドル２２および下スピンドル２１が上リム６２および下リム６１を介してタイヤＴを支持した状態で、上リム６２、タイヤＴおよび下リム６１によって画定される空間であるタイヤ内部空間にエアを充填することが可能とされている。
【0064】
図１１乃至図１２を参照して、昇降ユニット５０は、昇降検知センサ５１８と、センサブラケット５１８Ａとを更に有する。また、ベースプレート５１５のうち一対の上スピンドル回転位相センサ５１６に隣接する位置には、ベースプレート５１５が部分的に切り欠かれた形状のベースプレート切欠き部５１５Ａが形成されている。昇降検知センサ５１８は、ベースプレート切欠き部５１５Ａ内に配置されるように、センサブラケット５１８Ａによって支持されている。センサブラケット５１８Ａは、その先端部で昇降検知センサ５１８を支持し、その基端部は、ブラケット中央部５１０Ａの下面部に固定されている。昇降検知センサ５１８は、上スピンドルフランジ２２７の下面部を検知可能なセンサであり、上スピンドルフランジ２２７のベースプレート５１５に対する相対的な昇降を検知する。なお、他の実施形態において、センサブラケット５１８Ａの基端部は、ベースプレート５１５に固定されてもよい。この場合、４つのオフセット調整ねじ５１７によってベースプレート５１５のオフセット位置が微調整されても、昇降検知センサ５１８が上スピンドルフランジ２２７の下面部を安定して検知することができる。
【0065】
図１３は、本実施形態に係るタイヤ試験機１のブロック図である。タイヤ試験機１は、制御部９０と、複数のタイヤ検知センサ９１と、入力部９２と、下スピンドル回転駆動部９３と、上スピンドル昇降駆動部９４と、下スピンドル回転位相センサ９５と、を更に備える。
【0066】
複数のタイヤ検知センサ９１は、タイヤ搬送機構３によって搬送されるタイヤＴの搬送路中にそれぞれ配置されており、タイヤＴの搬送位置を検知する。各タイヤ検知センサ９１がタイヤＴを検知すると、所定の検知信号が制御部９０に入力される。
【0067】
入力部９２は、タイヤＴに対して所定の試験が行われるにあたって、各種の指令情報を制御部９０に入力するものであり、作業者によって操作される操作部やディスプレイを含む。
【0068】
下スピンドル回転駆動部９３は、下スピンドル２１に回転駆動力を入力するものであって、下スピンドル２１と上スピンドル２２とのロック係合時およびタイヤＴに対する試験時に下スピンドル２１を基準回転中心軸２Ｓ周りに回転させる駆動部である。下スピンドル回転駆動部９３は、油圧または電力で駆動する不図示のモーターやギヤを含む。
【0069】
上スピンドル昇降駆動部９４は、昇降ユニット５０を通じて上スピンドル２２を下スピンドル２１に対して相対的に昇降させる駆動部である。上スピンドル昇降駆動部９４は、油圧または電力で駆動する不図示のモーターやギヤを含む。図９の上側には、上スピンドル昇降駆動部９４を構成する軸受５１３が示されている。軸受５１３には送りねじが軸支され、不図示の電気モーター、減速機およびエンコーダ等に接続される。本実施形態では、送りねじとしてボールねじが用いられているが、台形ねじといった他の種類のねじであってもよい。また、適宜、カップリング等の機械要素部品が用いられてもよい。更に、電気モーターの代わりに、油圧モーターや油圧シリンダといった油圧による駆動力と、エンコーダやリニアセンサといった測定装置とを組み合わされて、用いられてもよい。
【0070】
下スピンドル回転位相センサ９５は、下フレーム１００に装着されており、下スピンドル２１の回転および位相を検知することができる。このため、下スピンドル２１には、下スピンドル回転位相センサ９５によって検知される不図示の被検知部が設けられている。
一例として、下スピンドル回転位相センサ９５は、検知光を発光する発光部と、前記検知光の反射光を受光する受光部とを含む。
一例として、下スピンドル回転位相センサ９５は、検知光を発光する発光部と、前記検知光の反射光を受光する受光部とを含む。
【0071】
制御部９０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、制御プログラムを記憶するＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＣＰＵの作業領域として使用されるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等から構成されている。また、制御部９０には、前述のタイヤ検知センサ９１、上スピンドル回転位相センサ５１６、昇降検知センサ５１８、入力部９２、下スピンドル回転位相センサ９５、タイヤ搬送機構３、下スピンドル回転駆動部９３、上スピンドル昇降駆動部９４およびエア供給機構５５などが電気的に接続されている。制御部９０は、前記ＣＰＵがＲＯＭに記憶された制御プログラムを実行することにより、タイヤ搬送制御部９０１、下スピンドル回転制御部９０２、上スピンドル昇降制御部９０３、エア供給制御部９０４、記憶部９０５、精度検査指令部９０６および判定部９０７をそれぞれ機能させる。
【0072】
タイヤ搬送制御部９０１は、タイヤ搬送機構３に備えられた前述の駆動部を制御することで、搬入コンベア７、搬送コンベア８および搬出コンベア９によってタイヤＴを搬送する。また、タイヤ搬送制御部９０１は、搬送コンベア８の昇降動作を制御することで、搬送コンベア８を前述の上方位置と下方位置との間で昇降させることで、タイヤＴを搬送コンベア８と下スピンドル２１との間で受け渡す。
【0073】
下スピンドル回転制御部９０２は、下スピンドル回転駆動部９３を制御することで、下スピンドル２１を基準回転中心軸２Ｓ周りに回転させる。下スピンドル２１と上スピンドル２２とをロックする際には、上スピンドル２２の回転が阻止された状態で、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１を回転させる。一方、タイヤＴに所定の試験を行う際には、上スピンドル２２の回転が許容された状態で、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１と上スピンドル２２とを一体で回転させる。
【0074】
上スピンドル昇降制御部９０３は、上スピンドル昇降駆動部９４を制御することで、昇降ユニット５０（上スピンドル２２）の昇降動作を制御する。
【0075】
エア供給制御部９０４は、エア供給機構５５を制御することで、タイヤＴの内部空間にエアを充填する作業を実行する。
【0076】
記憶部９０５は、タイヤ搬送制御部９０１、下スピンドル回転制御部９０２、上スピンドル昇降制御部９０３およびエア供給制御部９０４によって参照される各種の制御パラメータなどを記憶している。
【0077】
精度検査指令部９０６は、後記のタイヤ試験機１の精度検査を実行するために、制御部９０内の各機能部に指令信号を入力する。
【0078】
判定部９０７は、精度検査指令部９０６が実行する精度検査における各種の判定処理を実行する。
【0079】
＜ユニフォミティ試験について＞
図１４は、本実施形態に係るタイヤ試験機１のユニフォミティ試験のフローチャートである。図１５は、タイヤ試験機１のユニフォミティ試験においてタイヤＴが下スピンドル２１に支持された様子を示す断面図である。図１６は、タイヤ試験機１のユニフォミティ試験において上スピンドル２２が下スピンドル２１に挿入された様子を示す断面図である。図１７は、タイヤ試験機１においてタイヤＴが下スピンドル２１に回転可能に支持された様子を示す断面図である。
図１４は、本実施形態に係るタイヤ試験機１のユニフォミティ試験のフローチャートである。図１５は、タイヤ試験機１のユニフォミティ試験においてタイヤＴが下スピンドル２１に支持された様子を示す断面図である。図１６は、タイヤ試験機１のユニフォミティ試験において上スピンドル２２が下スピンドル２１に挿入された様子を示す断面図である。図１７は、タイヤ試験機１においてタイヤＴが下スピンドル２１に回転可能に支持された様子を示す断面図である。
【0080】
タイヤＴに対するユニフォミティ試験が実行されるにあたって、図１５に示すように、予め下リム６１および上リム６２が下スピンドル２１および上スピンドル２２にそれぞれ保持され、上スピンドル２２が下スピンドル２１に対して上方に移動された状態とされる。この際、上スピンドル２２の上スピンドルフランジ２２７では、被検知部２２９（図１０）が一対の上スピンドル回転位相センサ５１６によって検知された状態であり、４つの孔部２２７Ａにベースプレート５１５の４つのベースプレートピンがそれぞれ挿入されることで、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２は基準回転中心軸２Ｓ周りの特定の回転位置においてその回転が阻止されている。
【0081】
一方、下スピンドル回転制御部９０２は、上スピンドル２２が上記の特定の回転位置に配置されていることに対応して、前記軸方向から見て上スピンドル２２の複数の挿入係合部２２４Ａが下スピンドル２１の複数のロック凹部２５０Ｂにそれぞれ合致しかつ上スピンドル２２の複数の挿入凹部２２４Ｂが下スピンドル２１の複数のロック係合部２５０Ａにそれぞれ合致した状態である挿入可能状態となるように、予め下スピンドル２１の回転位置を調整している。この際、下スピンドル回転位相センサ９５が下スピンドル２１の被検知部を検知することで、下スピンドル２１の回転位置を調整することができる。
【0082】
搬入コンベア７（図１）の上流側端部にタイヤＴが載置されると、タイヤ搬送制御部９０１が搬入コンベア７および搬送コンベア８の周回を制御することによってタイヤＴがタイヤ試験位置Ｐに搬入される（図１４のステップＳ１）。この際、タイヤＴのタイヤ回転中心軸ＣＬがスピンドル２の基準回転中心軸２Ｓと合致するように、搬送コンベア８の周回が停止される。その後、タイヤ搬送制御部９０１が搬送コンベア８を下降させると、搬送コンベア８から下スピンドル２１にタイヤＴが受け渡される（図１４のステップＳ２）。タイヤＴは、下スピンドル２１に保持された下リム６１上に載置される（図１５）。
【0083】
次に、上スピンドル昇降制御部９０３が、昇降ユニット５０とともに上スピンドル２２を下降させることで（図１４のステップＳ３）、上保持フランジ２２１に保持された上リム６２と下保持フランジ２１０Ａに保持された下リム６１との間隔がタイヤＴの幅に応じて設定された所定の間隔となるように、上スピンドル２２の挿入部２２２を下スピンドル２１の内部空間Ｓの特定位置まで挿入する（図１６）。
【0084】
なお、本実施形態では、図４に示すように、上スピンドル係合部２２４の挿入係合部２２４Ａの係合突起２２４ＡＳは、ロックピース２５０のロック係合部２５０Ａのロック用突起２５０ＡＳ（図６）よりも多くの段数を有しており、最大で１６段階のタイヤＴの幅に対応可能とされている。また、前述のように、複数の係合突起２２４ＡＳおよび複数のロック用突起２５０ＡＳが、基準回転中心軸２Ｓを中心として所定のリードで形成されたねじの一部（ねじノコ歯）からなることによって、下リム６１と上リム６２との間隔（リム幅）を４分の１ピッチで更に変更することができる。
【0085】
【0086】
次に、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１を図４の矢印方向に回転させることで、複数の挿入係合部２２４Ａが基準回転中心軸２Ｓを中心とする径方向において複数のロック係合部２５０Ａに対向（嵌合）させ、下スピンドル２１と上スピンドル２２とをロックする（図１４のステップＳ４）（スピンドルロック）。具体的に、下スピンドル回転制御部９０２が上スピンドル２２を基準回転中心軸２Ｓ周りに３０度回転させる。この結果、下スピンドル２１の複数のロック係合部２５０Ａの複数のロック用突起２５０ＡＳが、軸方向に互いに隣接するロック用突起２５０ＡＳの間の空間に上スピンドル２２の複数の挿入係合部２２４Ａの複数の係合突起２２４ＡＳを前記回転方向に沿ってそれぞれ受け入れ、複数の係合突起２２４ＡＳとそれぞれ係合する。この係合によって、上スピンドル２２の上保持フランジ２２１と下スピンドル２１の下保持フランジ２１０Ａとを前記軸方向において相対的に位置決めすることが可能となり、下リム６１と上リム６２との間隔が固定される。
【0087】
なお、このように下リム６１と上リム６２との間隔が試験の対象となるタイヤＴの幅に応じて設定された状態では、図１６に示すように、タイヤＴの上面部と上リム６２の外周部に形成された上リムフランジ６２Ｆ（図４参照）との間にはわずかな隙間Ｋが形成されている。
【0088】
次に、エア供給制御部９０４がエア供給機構５５を制御し、エアの充填作業を実施する（図１４のステップＳ５）（タイヤインフレーション）。具体的に、エア供給制御部９０４は、上スピンドル２２および下スピンドル２１が上リム６２および下リム６１を介してタイヤＴを支持した状態で、上リム６２、タイヤＴおよび下リム６１によって画定される空間であるタイヤ内部空間にエア供給機構５５を通じてエアを充填する。この結果、図１７に示すように、タイヤＴが膨らみ、前述の隙間Ｋ（図１６）が埋められる。この際、タイヤＴの上ビード部および下ビード部は、前記エアによって上リム６２および下リム６１にそれぞれ密着する。なお、タイヤ内部空間の圧力は不図示の圧力計によって検出され、所定の設定空気圧に至るまで充填作業が行われる。
【0089】
次に、上スピンドル昇降制御部９０３が上スピンドル昇降駆動部９４を制御して、昇降ユニット５０を図１７の下降量Ｈ（一例として２５ｍｍ）だけ下降させる（図１４のステップＳ６）。上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２の上下方向の位置は、上スピンドル係合部２２４とロックピース２５０との係合によって阻止されているため、上記のように昇降ユニット５０が下降すると、図１０において、上スピンドルフランジ２２７がベースプレート５１５に対して相対的に上昇する（浮き上がる）。この際、上スピンドルフランジ２２７の下面部が昇降検知センサ５１８から上方に離間し、昇降検知センサ５１８の出力信号が変化することで、昇降ユニット５０が下降量Ｈだけ下降したことが検出される。この結果、上スピンドルフランジ２２７の４つの孔部２２７Ａが、ベースプレート５１５の４つのベースプレートピンから脱離し、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２が基準回転中心軸２Ｓ周りに自由回転可能となる（上スピンドル２２の開放）。
【0090】
図１７に示す状態で、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１を回転させると、下リム６１および上リム６２に挟持されたタイヤＴが、下スピンドル２１および上スピンドル２２と一体で基準回転中心軸２Ｓ周りに回転する。そして、前述のように回転ドラム４がタイヤＴに押圧されることで、タイヤＴのユニフォミティ試験を実行することができる（図１４のステップＳ７）。なお、この際、前記タイヤ内部空間に充填されたエアによって上スピンドル２２および下スピンドル２１には、上リム６２および下リム６１を介して大きな軸方向の力が付与される。この結果、複数の係合突起２２４ＡＳと複数のロック用突起２５０ＡＳとの間に付与される接触面圧によって下スピンドル２１と上スピンドル２２との基準回転中心軸２Ｓ周りの相対回転が抑止された状態で、下スピンドル２１と上スピンドル２２とが一体で回転することが可能となる。なお、タイヤＴに対する試験実行中は、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６の検知信号は無視される。
【0091】
タイヤＴに対する試験終了後は、上記とは逆の手順で実行される。すなわち、昇降ユニット５０が上スピンドル２２に対して相対的に上昇し、上スピンドル２２の回転が拘束されると（図１４のステップＳ８）、エア供給制御部９０４がエア供給機構５５を制御し、タイヤ内部空間に充填されたエアが開放される（ステップＳ９）。また、上スピンドル２２の回転が阻止された状態で、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１を図４の矢印の反対方向に回転させることで、複数の挿入係合部２２４Ａが複数のロック係合部２５０Ａから周方向に脱離し、下スピンドル２１と上スピンドル２２とのロックが解除される（図１４のステップＳ１０）。また、昇降ユニット５０によって上スピンドル２２が上昇され、挿入部２２２が下スピンドル２１の内部空間Ｓから脱離する（図１４のステップＳ１１）。その後、搬送コンベア８が上昇し、タイヤＴが下スピンドル２１から搬送コンベア８に受け渡され再び搬送コンベア８上に載置される（図１４のステップＳ１２）。そして、タイヤＴが搬送コンベア８および搬出コンベア９によってタイヤ試験位置Ｐから搬出され（図１４のステップＳ１３）、マーキングユニット６０がタイヤＴに所定のマーキングを付与する。この結果、タイヤＴに対するユニフォミティ試験が終了する。
【0092】
なお、前述のように被検知部２２９の先端部は上下方向に延びる形状を有している（図１３）。このため、上スピンドルフランジ２２７がベースプレート５１５に対して浮き上がった状態でも、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６が被検知部２２９を検知することができる。この構成によって、上記のようにタイヤＴに対する試験が終了したのち、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２を再び特定の回転位置に配置する際に、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６が被検知部２２９を検知することができる。したがって、一対の上スピンドル回転位相センサ５１６が被検知部２２９を検知した状態で、上スピンドル昇降制御部９０３が上スピンドル昇降駆動部９４を制御して、昇降ユニット５０を前記下降量Ｈだけ上昇させると、上スピンドルフランジ２２７の４つの孔部２２７Ａに、ベースプレート５１５の４つのベースプレートピンが嵌合し、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２の基準回転中心軸２Ｓ周りの回転が阻止される。この状態で、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル回転駆動部９３を制御して、下スピンドル２１を３０度回転させた後、上スピンドル２２を下スピンドル２１に対して上昇させ上スピンドル２２を内部空間Ｓから抜き出すことが可能となる。
【0093】
＜タイヤ試験機の精度検査について＞
上記のようなタイヤ試験機１では、定期的に精度検査が実行される。本実施形態では、１０本（Ｍ＝１０）のタイヤＴのそれぞれに対して、１０回（Ｎ＝１０）ずつユニフォミティ試験を順に実行し、最終的にＮ×Ｍ＝１００個のデータが取得される。そして、この１００個のデータから公知の統計的解析手法に基づいて、データのばらつき範囲が算出され、当該ばらつき範囲が所定の閾値以下であることをもって、測定精度の確認が行われる。本実施形態では、一のタイヤＴについて、タイヤＴと下スピンドル２１および上スピンドル２２との回転位相を変化させながら１０回のユニフォミティ試験が実行される。この際、１０回の試験中に、一のタイヤＴの前後方向における位置がタイヤ試験位置Ｐに維持されることで、上記の精度検査を短時間で実行することが可能となる。以下に、このような本実施形態における精度検査について詳述する。
上記のようなタイヤ試験機１では、定期的に精度検査が実行される。本実施形態では、１０本（Ｍ＝１０）のタイヤＴのそれぞれに対して、１０回（Ｎ＝１０）ずつユニフォミティ試験を順に実行し、最終的にＮ×Ｍ＝１００個のデータが取得される。そして、この１００個のデータから公知の統計的解析手法に基づいて、データのばらつき範囲が算出され、当該ばらつき範囲が所定の閾値以下であることをもって、測定精度の確認が行われる。本実施形態では、一のタイヤＴについて、タイヤＴと下スピンドル２１および上スピンドル２２との回転位相を変化させながら１０回のユニフォミティ試験が実行される。この際、１０回の試験中に、一のタイヤＴの前後方向における位置がタイヤ試験位置Ｐに維持されることで、上記の精度検査を短時間で実行することが可能となる。以下に、このような本実施形態における精度検査について詳述する。
【0094】
図１８は、本実施形態に係るタイヤ試験機１の精度検査のフローチャートである。図１９は、タイヤ試験機１の精度検査においてタイヤＴが下スピンドル２１から脱離された様子を示す断面図である。入力部９２（図１３）には、作業者が精度検査の実行を指令するための指令ボタンが配置されている。作業者が当該指令ボタンを押すと、通常のユニフォミティ試験から精度試験に切り換えられ、精度検査指令部９０６が精度試験の実行を開始する。
【0095】
精度試験が開始されると、１本目のタイヤＴが、前述のユニフォミティ試験と同様に搬入コンベア７および搬送コンベア８によって、タイヤ試験位置Ｐに搬入される（図１８のステップＳ２１）。次に、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル回転位相センサ９５の検知結果を参照しながら、下スピンドル２１の位相（回転位置）を上スピンドル２２の位相に合わせるように、下スピンドル２１を回転させる（ステップＳ２２）。この際、タイヤＴは、搬送コンベア８上に配置されているため、回転しない。
【0096】
次に、タイヤ搬送制御部９０１が搬送コンベア８を下降させ、タイヤＴが搬送コンベア８から下スピンドル２１に受け渡される（図１８のステップＳ２３）。その後、ユニフォミティ試験のための試験前動作が実行される（ステップＳ２４）。なお、当該試験前動作は、図１４のステップＳ３からステップＳ６までの動作と同様である。次に、図１４のステップＳ７と同様に、１本目のタイヤＴに対する１回目のユニフォミティ試験が実行される（ステップＳ２５）。次に、試験後動作が実行される。なお、当該試験後動作は、図１４のステップＳ８からステップＳ１１までの動作と同様である。試験後動作が終了すると、上スピンドル２２は、タイヤＴの上方に離間した位置に配置されている一方、タイヤＴは、下リム６１を介して下スピンドル２１に支持されている。
【0097】
次に、精度検査指令部９０６が下スピンドル回転制御部９０２に対して、下スピンドル２１の回転指令信号を入力する。この結果、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル回転駆動部９３を制御して、下スピンドル２１を基準回転中心軸２Ｓ回りに３６度回転させる（図１８のステップＳ２７）。なお、この際の下スピンドル２１の回転方向は、ユニフォミティ試験時の下スピンドル２１の回転方向でも良いし、その反対方向でも良い。ただし、一のタイヤＴについて実行される精度検査中、ステップＳ２７における下スピンドル２１の回転方向は同じに設定される。また、上記では、下スピンドル２１が３６度回転される態様にて示したが、下スピンドル２１は他の角度分だけ回転されてもよい。この場合、Ｎ回（１０回）の試験において、下スピンドル２１とタイヤＴとの位相が重複しないように上記の角度が設定されることが望ましい。なお、ステップＳ２７では、下スピンドル２１に支持されているタイヤＴも下スピンドル２１と一体で回転する。
【0098】
【0099】
次に、判定部９０７（図１３）が、前記一のタイヤＴに対する現在の試験回数Ｎを判定する（図１８のステップＳ２９）。ここで、現在の試験回数Ｎ＜１０の場合（ステップＳ２９でＮＯ）、ステップＳ２２以降の処理が繰り返される。一方、１０≦Ｎの場合（ステップＳ２９でＹＥＳ）、ステップＳ２８でタイヤＴを支持している搬送コンベア８が、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐから搬出する（ステップＳ３０）。
【0100】
次に、判定部９０７が、現在のタイヤ本数Ｍを判定する（図１８のステップＳ３１）。ここで、Ｍ＜１０の場合（ステップＳ３１でＮＯ）、新たなタイヤＴについて、ステップＳ２１以降の処理が実行される。一方、１０≦Ｍの場合（ステップＳ３１でＹＥＳ）、１０本のタイヤＴに対する精度検査がすべて終了し、前述のように、ばらつき範囲が解析される。
【0101】
なお、一のタイヤＴについてステップＳ２９で判定部９０７がＮＯと判定した場合、次にステップＳ２２において、下スピンドル２１の位相を上スピンドル２２の位相に合わせるように、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１を回転させる。本実施形態では、前述のように、上スピンドル２２の挿入部２２２が下スピンドル２１の内部空間Ｓに挿入可能なように、特に、複数の上スピンドル係合部２２４が複数のロック凹部２５０Ｂに嵌合するように、下スピンドル２１の位相が調整される。
【0102】
複数の係合突起２２４ＡＳおよび複数のロック用突起２５０ＡＳは、基準回転中心軸２Ｓを中心として所定のリードで形成されたねじの一部（ねじノコ歯）からなる。このため、タイヤＴの幅に応じて下リム６１と上リム６２との間隔を設定するためには、複数の上スピンドル係合部２２４と複数のロック凹部２５０Ｂとの周方向における位置は、一義的に決定される。したがって、ステップＳ２２において、下スピンドル回転制御部９０２が下スピンドル２１の位相を上スピンドル２２の位相に合致させると、１０回の試験において、下スピンドル２１と上スピンドル２２とは常に同じ回転位置でロックされることになる。
【0103】
一方、各回の試験後、ステップＳ２７において、下スピンドル２１およびタイヤＴが上スピンドル２２に対して相対的に３６度回転したのち、次のステップＳ２２で下スピンドル２１の位相が上スピンドル２２の位相に合致するため、試験毎に、下スピンドル２１および上スピンドル２２とタイヤＴとの相対的な回転位置（位相）が異なるように設定される。したがって、１０回の試験を通じて、スピンドル２に対してタイヤＴの位相を３６度ずつ変化させながら、１０個の試験データを取得することができる。この結果、１０本のタイヤＴのそれぞれについて、タイヤ試験機１におけるばらつきデータを効率的に取得することができる。
【0104】
なお、図１８において、２回目以降の試験におけるステップＳ２２は、本発明の位相調整工程に相当する。ここで、前回の試験時のステップＳ２７において一の回転方向に下スピンドル２１を所定の角度（たとえば３６度）回転させた場合（順回転）、次のステップＳ２２では、下スピンドル２１および上スピンドル２２の位相を戻すために、下スピンドル２１を前記所定の角度だけ逆回転させればよい。また、前記位相を戻すために、下スピンドル２１を３６０度から前記所定の角度を差し引いた角度だけ順回転させてもよい。なお、前記所定の角度が１８０度未満の場合には、サイクルタイムを低減するために、上記の逆回転の態様が採用されることが好ましい。
【0105】
＜タイヤ試験機１の精度検査方法＞
上記のように説明したタイヤ試験機１における精度検査には、以下のような精度検査方法が含まれている。当該精度検査方法は、所定のタイヤ試験位置ＰにおいてタイヤＴの回転中心軸ＣＬが上下方向に延びる姿勢である水平姿勢とされた前記タイヤＴを回転中心軸ＣＬ回りに回転させ、タイヤＴに所定の試験を行うタイヤ試験機１の精度検査方法である。当該精度検査方法は、少なくとも、準備工程と、搬入工程と、第１受け渡し工程と、タイヤ挟持工程と、試験工程と、上スピンドル離間工程と、下スピンドル回転工程と、第２受け渡し工程と、繰り返し工程と、解析工程とを含む。
上記のように説明したタイヤ試験機１における精度検査には、以下のような精度検査方法が含まれている。当該精度検査方法は、所定のタイヤ試験位置ＰにおいてタイヤＴの回転中心軸ＣＬが上下方向に延びる姿勢である水平姿勢とされた前記タイヤＴを回転中心軸ＣＬ回りに回転させ、タイヤＴに所定の試験を行うタイヤ試験機１の精度検査方法である。当該精度検査方法は、少なくとも、準備工程と、搬入工程と、第１受け渡し工程と、タイヤ挟持工程と、試験工程と、上スピンドル離間工程と、下スピンドル回転工程と、第２受け渡し工程と、繰り返し工程と、解析工程とを含む。
【0106】
前記準備工程では、タイヤ試験機１として、タイヤＴが回転中心軸ＣＬ回りに回転可能なように前記水平姿勢とされたタイヤＴの下側部分を支持する下スピンドル２１と、タイヤＴが回転中心軸ＣＬ回りに回転可能なように前記水平姿勢とされたタイヤＴの上側部分を支持する上スピンドル２２と、前記水平姿勢とされたタイヤＴをタイヤ試験位置Ｐを通るように水平方向に搬送可能な搬送コンベア８（タイヤ搬送機構３）と、を有するものを準備する。
【0107】
前記搬入工程では、搬送コンベア８によって一のタイヤＴをタイヤ試験位置Ｐに搬入する。
【0108】
前記第１受け渡し工程では、搬送コンベア８を下スピンドル２１に対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤＴを搬送コンベア８から下スピンドル２１に受け渡す。
【0109】
タイヤ挟持工程では、上スピンドル２２を下スピンドル２１に対して相対的に下降させ、下スピンドル２１および上スピンドル２２によって前記一のタイヤＴを挟持する。
【0110】
前記試験工程では、下スピンドル２１と前記一のタイヤＴと上スピンドル２２とを一体で回転させ、前記一のタイヤＴに前記試験を行い、試験データを取得する。
【0111】
前記上スピンドル離間工程では、上スピンドル２２を下スピンドル２１に対して相対的に上昇させ、当該上スピンドル２２をタイヤＴから離間させる。
【0112】
前記下スピンドル回転工程では、下スピンドル２１を上スピンドル２２に対して所定の角度、相対回転させる。
【0113】
前記第２受け渡し工程では、搬送コンベア８を下スピンドル２１に対して上下方向に相対移動させ、前記一のタイヤＴを下スピンドル２１から搬送コンベア８に受け渡す。
【0114】
前記繰り返し工程では、前記一のタイヤＴに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返す。
【0115】
そして、前記解析工程では、前記繰り返し工程を経て取得された前記試験回数分の前記試験データに基づいて、タイヤ試験機１の精度を解析する。
【0116】
このような精度検査方法によれば、１本のタイヤＴについてタイヤＴとスピンドル２との位相を変えて試験を行う度に、タイヤＴをタイヤ試験位置Ｐから搬出し再びタイヤ試験位置Ｐに搬入する作業や、タイヤＴの軸位置をタイヤ試験位置Ｐに頻繁に合わせる作業が発生しないため、タイヤ試験機１の精度検査に要する時間を低減することが可能となる。
【0117】
また、本実施形態では、前記精度検査方法は、前記第１受け渡し工程の前に、上スピンドル２２と下スピンドル２１との位相を所定の特定位相に合わせる位相調整工程を更に備える。前記繰り返し工程は、前記一のタイヤＴに対して予め設定された試験回数だけ前記試験を行うように、前記位相調整工程、前記第１受け渡し工程、前記タイヤ挟持工程、前記試験工程、前記上スピンドル離間工程、前記下スピンドル回転工程および前記第２受け渡し工程を、順に繰り返すことを含む。
【0118】
このような精度検査方法によれば、上スピンドル２２と下スピンドル２１との位相を合わせた状態で、各タイヤＴに対して複数回の試験を行うことが可能になるため、スピンドル２とタイヤＴとの位相に着目した精度ばらつきを解析することができる。また、上下リムの間隔をタイヤＴの幅に応じて設定するために、上スピンドル２２と下スピンドル２１のとの位相を合致させる必要がある場合でも、スピンドル２とタイヤＴとの位相を異ならせることで、タイヤ試験機１の精度検査を行うことができる。
【0119】
また、本実施形態では、前記準備工程は、第１準備工程と、第２準備工程とを含む。第１準備工程では、下スピンドル２１および上スピンドル２２のうちの一方のスピンドルとして、下スピンドル２１および上スピンドル２２のうちの前記一方のスピンドルとは異なる他方のスピンドルに挿入される挿入部２２２であって、当該挿入部２２２の外周面を構成する挿入外周面２２２Ｓを含み回転中心軸ＣＬを中心とした円柱状の挿入部２２２を有するものを準備する。また、第２準備工程では、前記他方のスピンドルとして、前記軸方向において前記一方のスピンドルの挿入部２２２に対向する開口部Ｘと当該開口部Ｘを通じて挿入部２２２を受け入れ可能な内部空間Ｓとをそれぞれ画定する円筒状のスピンドル内周面２１Ｓと、スピンドル内周面２１Ｓの少なくとも一部を構成し、前記一方のスピンドルを軸方向において拘束するように内部空間Ｓに挿入された挿入部２２２をロックすることが可能なロックピース２５０（ロック部）とを有するものを準備する。
【0120】
このような精度検査方法によれば、他方のスピンドルの内部空間Ｓに一方のスピンドルの挿入部２２２を挿入し、ロックピース２５０によって挿入部２２２をロックすることで、下スピンドル２１と上スピンドル２２との相対位置を容易に拘束することができる。
【0121】
また、本実施形態では、前記準備工程の第１準備工程は、前記一方のスピンドルとして、挿入部２２２が複数の挿入係合部２２４Ａと複数の挿入凹部２２４Ｂとを有するものを準備することを含む。複数の挿入係合部２２４Ａは、回転中心軸ＣＬの軸方向にそれぞれ延びるとともにタイヤＴの回転方向に互いに間隔をおいて配置され挿入外周面２２２Ｓの一部をそれぞれ構成する複数の挿入係合部２２４Ａであって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数の係合突起２２４ＡＳをそれぞれ含む。また、複数の挿入凹部２２４Ｂは、前記複数の挿入係合部２２４Ａのうち前記回転方向において互いに隣接する挿入係合部２２４Ａ同士の間に前記軸方向に延びるようにそれぞれ配置され挿入外周面２２２Ｓの一部をそれぞれ構成する複数の挿入凹部２２４Ｂであって、軸方向から見て複数の挿入係合部２２４Ａに対して径方向内側に窪んだ形状をそれぞれ有する。
【0122】
また、前記準備工程の第２準備工程では、前記他方のスピンドルとして、ロックピース２５０が複数のロック係合部２５０Ａと複数のロック凹部２５０Ｂとを有するものを準備する。複数のロック係合部２５０Ａは、スピンドル内周面２１Ｓにおいて軸方向にそれぞれ延びるとともに前記回転方向に互いに間隔をおいて配置された複数のロック係合部２５０Ａであって、前記回転方向に沿ってそれぞれ延びるとともに前記軸方向に互いに隣接して配置された複数のロック用突起２５０ＡＳをそれぞれ含む。複数のロック凹部２５０Ｂは、複数のロック係合部２５０Ａのうち前記回転方向において互いに隣接するロック係合部２５０Ａ同士の間に前記軸方向に延びるようにスピンドル内周面２１Ｓにそれぞれ配置され、前記軸方向から見て前記複数のロック係合部２５０Ａに対して径方向外側に窪んだ形状をそれぞれ有する。
【0123】
また、前記位相調整工程は、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの複数の挿入係合部２２４Ａが前記他方のスピンドルの前記複数のロック凹部２５０Ｂにそれぞれ合致しかつ前記一方のスピンドルの前記複数の挿入凹部２２４Ｂが前記他方のスピンドルの前記複数のロック係合部２５０Ａにそれぞれ合致した状態である挿入可能状態となるように、上スピンドル２２と下スピンドル２１との位相を合わせることを含む。
【0124】
このような精度検査方法によれば、一方のスピンドルの挿入部２２２が有する複数の挿入係合部２２４Ａと複数の挿入凹部２２４Ｂと、他方のスピンドルのロックピース２５０が有する複数のロック係合部２５０Ａと複数のロック凹部２５０Ｂとによって、下スピンドル２１と上スピンドル２２との軸方向における相対位置を容易に設定することができる。特に、挿入部２２２の挿入係合部２２４Ａには複数の係合突起２２４ＡＳが軸方向に隣接して配置される一方、ロックピース２５０のロック係合部２５０Ａには複数のロック用突起２５０ＡＳが軸方向に隣接して配置されているため、互いの突起の係合位置を軸方向において異ならせることで、タイヤＴの幅に応じて上リム６２と下リム６１との間隔を容易に変更することが可能となる。
【0125】
また、本実施形態では、前記タイヤ挟持工程は、挿入工程と、位置決め工程と、エア充填工程とを含む。挿入工程では、複数の挿入係合部２２４Ａが前記回転方向において前記複数のロック係合部２５０Ａにそれぞれ対向する位置まで、前記一方のスピンドルの前記挿入部２２２を前記軸方向に沿って前記他方のスピンドルの前記内部空間Ｓに挿入する。
【0126】
前記位置決め工程では、前記他方のスピンドルの複数のロック係合部２５０Ａの複数のロック用突起２５０ＡＳが前記一方のスピンドルの複数の挿入係合部２２４Ａの複数の係合突起２２４ＡＳとそれぞれ係合することで、前記一のタイヤＴの幅に応じて上スピンドル２２と下スピンドル２１とを前記軸方向において相対的に位置決めするように、下スピンドル２１を上スピンドル２２に対して相対回転させる。また、エア充填工程では、上スピンドル２２、前記一のタイヤＴおよび下スピンドル２１が一体で回転可能なように、前記一のタイヤＴの内部にエアを充填する。
【0127】
このような精度検査方法によれば、上スピンドル２２の挿入部２２２を下スピンドル２１の内部空間Ｓに挿入したのち下スピンドル２１を上スピンドル２２に対して相対的に回転させることで上スピンドル２２と下スピンドル２１との間隔を容易に固定することができる。
【0128】
また、本実施形態では、前記準備工程は、前記一のスピンドルとして、複数の挿入係合部２２４Ａの複数の係合突起２２４ＡＳが、前記回転方向に進むにつれて軸方向における一の方向に傾斜するように回転中心軸ＣＬを中心とした螺旋形状を有しているものを準備することと、前記他のスピンドルとして、複数のロック係合部２５０Ａの複数のロック用突起２５０ＡＳが、前記回転方向に進むにつれて前記一の方向に傾斜するように回転中心軸ＣＬを中心とした螺旋形状であって前記回転方向に沿って複数の係合突起２２４ＡＳと係合可能な螺旋形状を有しているものを準備することとを含む。また、前記位相調整工程は、前記位置決め工程において複数の係合突起２２４ＡＳの螺旋形状と複数のロック用突起２５０ＡＳの螺旋形状とが互いに係合することで前記一のタイヤＴの幅に応じて上スピンドル２２と下スピンドル２１とが前記軸方向において相対的に位置決めされるように、前記軸方向から見て前記一方のスピンドルの複数の挿入係合部２２４Ａと他方のスピンドルの複数のロック凹部２５０Ｂとの位相を合わせることを含む。
【0129】
このような精度検査方法によれば、位相調整工程において、前記一方のスピンドルの複数の挿入係合部２２４Ａと他方のスピンドルの複数のロック凹部２５０Ｂとの位相を合わせておくことで、内部空間Ｓに対する挿入部２２２の挿入位置とあいまって、下スピンドル２１と上スピンドル２２との間隔をタイヤＴの幅に応じて精度良く調整することができる。
【0130】
また、本実施形態では、下スピンドル回転駆動部９３は、前記タイヤ内部空間に充填されたエアによって上リム６２および下リム６１を介して複数の係合突起２２４ＡＳと複数のロック用突起２５０ＡＳとの間に付与される接触面圧によって下スピンドル２１と上スピンドル２２との基準回転中心軸２Ｓ周りの相対回転が抑止された状態で、下スピンドル２１と上スピンドル２２とを一体で回転させる。
【0131】
このような構成によれば、上スピンドル２２と下スピンドル２１とをロックさせることが可能な下スピンドル回転駆動部９３の駆動力を利用して、上スピンドル２２と下スピンドル２１とを一体で回転させタイヤＴに対して所定の試験を行うことが可能となる。
【0132】
また、本実施形態では、複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂは、ピース内周面２５０Ｓにそれぞれ形成されている。
【0133】
このような構成によれば、複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂがロックピース２５０に形成されているため、スピンドル本体２１０の本体内周面２１０Ｓにロック用突起２５０ＡＳを設ける必要がなく、スピンドル本体２１０の加工コストを低減することができる。
【0134】
更に、本実施形態では、基準回転中心軸２Ｓを中心としたリング形状を有する単一のロックピース２５０が備えられており、複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂは、前記単一のロックピース２５０のピース内周面２５０Ｓにそれぞれ形成されている。
【0135】
このような構成によれば、ロックピース２５０が複数の部材から構成される場合と比較して、複数のロック用突起２５０ＡＳの位置精度を向上させることが可能となる。
【0136】
また、本実施形態では、下スピンドル２１に備えられたロックピース２５０に対して、上スピンドル２２の挿入部２２２を相対的に回転させることで、下スピンドル２１と上スピンドル２２とのロックおよび当該ロックの解除を行うことができる。この際、ロックピース２５０は、互いに分離可能な下保持フランジ２１０Ａと下スピンドル本体部２１０Ｂとの間に配置されているため、ロックピース２５０の上面部および下面部には、それぞれリング状のシール部材Ｊ（図８）が配置されているが、ロックピース２５０を駆動する駆動機構が下スピンドル２１のスピンドル本体２１０を径方向に貫通するように配置される他の技術と比較して、シール部材Ｊの数および構造を簡易にすることが可能となる。なお、ロックピース２５０の装着後に下保持フランジ２１０Ａと下スピンドル本体部２１０Ｂとを完全に接合する場合には、上記のシール部材Ｊを省略することも可能である。また、ロックピース２５０と挿入部２２２との相対的な回転によって、下スピンドル２１と上スピンドル２２とのロックおよび当該ロックの解除を行うため、上記のような他の技術と比較して、タイヤ試験機１の部品点数を少なくすることが可能でありタイヤ試験機１の故障を低減することが可能となる。
【0137】
また、本実施形態では、前述のように、上記の複数の係合突起２２４ＡＳおよび複数のロック用突起２５０ＡＳは、基準回転中心軸２Ｓを中心として所定のリードで形成されたねじの一部（ねじノコ歯）からなる。
【0138】
このため、挿入部２２２の上スピンドル係合部２２４とロックピース２５０との軸方向における相対位置だけではなく、互いの周方向における相対位置（回転位置）に応じても、下リム６１と上リム６２との間隔を調整することができるため、細かいリム幅の設定が可能となる。なお、上記のねじ構造では、複数の挿入係合部２２４Ａおよび複数のロック係合部２５０Ａがそれぞれ一つの連続した仮想螺旋形状に沿って配置されてもよいし、軸方向に沿って互いに間隔をおいて配置される複数の仮想螺旋形状に沿って配置されてもよい。
【0139】
以上、本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機１の精度検査方法について説明したが、本発明はこれらの形態に限定されるものではなく、以下のような変形実施形態が可能である。
【0140】
（１）上記の実施形態では、上スピンドル係合部２２４の挿入係合部２２４Ａに形成された複数の係合突起２２４ＡＳおよびロックピース２５０のロック係合部２５０Ａに形成された複数のロック用突起２５０ＡＳは、基準回転中心軸２Ｓを中心として所定のリードで形成されたねじの一部（ねじノコ歯）からなる態様に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。図２０は、本発明の変形実施形態に係るタイヤ試験機の上スピンドル２２に上リム６２が支持された状態の側面図である。図２１は、本変形実施形態に係るタイヤ試験機のロックピース２５０Ｍの側断面図である。
【0141】
本変形実施形態では、複数の係合突起２２４ＡＳは、前記軸方向と直交する方向（水平方向）に延びるように配置されている。具体的に、上スピンドル係合部２２４の挿入係合部２２４Ａに形成された係合突起２２４ＡＳおよびロックピース２５０のロック係合部２５０Ａに形成されたロック用突起２５０ＡＳがいずれも基準回転中心軸２Ｓと直交する方向に延びている（通常ノコ歯）。
【0142】
このような構成では、先の実施形態のように、上スピンドル係合部２２４とロックピース２５０との互いの周方向における相対位置（回転位置）に応じて、下リム６１と上リム６２との間隔を調整することはできないが、互いの軸方向における相対位置に基づいて、下リム６１と上リム６２との間隔を調整することが可能である。
【0143】
また、本変形実施形態では、上スピンドル係合部２２４の挿入係合部２２４Ａに形成された係合突起２２４ＡＳおよびロックピース２５０のロック係合部２５０Ａに形成されたロック用突起２５０ＡＳがいずれも基準回転中心軸２Ｓと直交する方向に延びているため、タイヤ内部空間にエアが充填された際に、下スピンドル２１および上スピンドル２２に付与される軸力をロック用突起２５０ＡＳおよび係合突起２２４ＡＳで安定して受けることが可能となる。
【0144】
（２）また、上記の実施形態では、上スピンドル２２が挿入部２２２を有し、下スピンドル２１が円筒状の内部空間Ｓを有する態様にて説明したが、図８の上下を反転する構造、すなわち、上スピンドル２２が円筒状の内部空間Ｓを有し、下スピンドル２１が挿入部２２２を有する態様でもよい。なお、上記の実施形態のように、下スピンドル２１に円筒状の内部空間Ｓが形成され、上スピンドル２２に円柱状の挿入部２２２が形成されている場合、下スピンドル２１の上下方向における長さが短くなる。このため、下スピンドル２１との間で下リム６１の受け渡しを行う搬送コンベア８の高さを低くすることが可能となり、タイヤ搬送機構３の搬送路の高さを同様に低く設定することが可能となる。
【0145】
（３）また、上記の実施形態では、下スピンドル２１がスピンドル本体２１０に装着されるロックピース２５０を有し、当該ロックピース２５０に複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂが形成される態様にて説明したが、下スピンドル２１はロックピース２５０を有することなく、スピンドル本体２１０の本体内周面２１０Ｓに直接、複数のロック係合部２５０Ａおよび複数のロック凹部２５０Ｂが形成されるものでもよい。
【0146】
（４）また、上記の実施形態では、上スピンドルフランジ２２７を含む上スピンドル２２が一対の上スピンドル回転位相センサ５１６によって検知される特定の回転位置において上スピンドル２２の回転が阻止された状態で、下スピンドル２１と上スピンドル２２との係合が行われる態様にて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。上スピンドル２２が基準回転中心軸２Ｓ周りの任意の回転位置に配置された状態で、その回転が阻止され、下スピンドル２１と上スピンドル２２との係合が行われるものでもよい。すなわち、前述の一対の上スピンドル回転位相センサ５１６に代えて、回転検知部として上スピンドル２２の回転軸に配置された不図示のエンコーダが、上スピンドル２２の特定部分の基準回転中心軸２Ｓ周りの回転位置を検知する。また、上スピンドル２２の回転が停止されると、上スピンドル２２に機械的に接触するブレーキ機構などが回転阻止部として上スピンドル２２の回転を阻止する。そして、下スピンドル回転駆動部９３は、前記回転阻止部によって上スピンドル２２の回転が阻止された状態で、前記軸方向から見て上スピンドル２２の複数の挿入係合部２２４Ａが下スピンドル２１の複数のロック凹部２５０Ｂにそれぞれ合致しかつ上スピンドル２２の複数の挿入凹部２２４Ｂが下スピンドル２１の複数のロック係合部２５０Ａにそれぞれ合致するように、前記エンコーダの検知結果に応じて下スピンドル２１を基準回転中心軸２Ｓ周りに回転させればよい。
【0147】
このような構成によれば、上スピンドル２２を特定の回転位置に停止させることなく、リム幅を調整するために下スピンドル２１のロックピース２５０と上スピンドル２２の上スピンドル係合部２２４との回転方向における位置合わせを容易に行うことができる。
【0148】
更に、この場合、上スピンドル昇降駆動部９４は、前記回転阻止部によって上スピンドル２２の回転が阻止されかつ前記複数の挿入係合部２２４Ａが前記複数のロック凹部２５０Ｂにそれぞれ合致し前記複数の挿入凹部２２４Ｂが前記複数のロック係合部２５０Ａにそれぞれ合致した状態で、上スピンドル２２の挿入部２２２を下スピンドル２１の内部空間Ｓの特定位置まで相対的に挿入することが可能である。また、下スピンドル回転駆動部９３は、前記回転阻止部によって上スピンドル２２の回転が阻止されかつ挿入部２２２が内部空間Ｓの前記特定位置まで挿入された状態で、複数の挿入係合部２２４Ａの複数の係合突起２２４ＡＳと複数のロック係合部２５０Ａの複数のロック用突起２５０ＡＳとが互いに係合するように、下スピンドル２１を基準回転中心軸２Ｓ周りに回転させることが可能である。
【0149】
このような構成によれば、上スピンドル２２を特定の回転位置に停止させることなく、上スピンドル２２の挿入部２２２を下スピンドル２１の内部空間Ｓに容易に挿入し、上スピンドル係合部２２４とロックピース２５０とを互いに係合させることができる。このため、上スピンドル２２と下スピンドル２１とを軸方向および回転方向において順に相対移動させ両スピンドルをロックすることが可能となるため、ロック時における上スピンドル２２および下スピンドル２１の互いの連れ回りを防止することができる。なお、この場合においても、上記と同様の構造によって下スピンドル２１の回転が阻止された状態で、上スピンドル２２の回転によって上スピンドル係合部２２４とロックピース２５０とを互いに係合させるものでもよい。また、挿入部２２２が内部空間Ｓに挿入されるために、下スピンドル２１が上スピンドル２２に対して昇降されるものでもよい。すなわち、本発明では、下スピンドル２１および上スピンドル２２から「一方のスピンドル」、「他方のスピンドル」が選択的に設定されてもよく、同様に、「第１スピンドル」、「第２スピンドル」が選択的に、すなわち上記の実施形態とは逆に設定されてもよい。
【符号の説明】
【0150】
１ タイヤ試験機
１Ｓ 本体フレーム
２ スピンドル
２１ 下スピンドル（他方のスピンドル、第２スピンドル）
２１０ スピンドル本体
２１０Ｓ 本体内周面
２１Ｓ スピンドル内周面
２２ 上スピンドル（一方のスピンドル、第１スピンドル）
２２２ 挿入部
２２２Ｓ 挿入外周面
２２３ ガイドピース
２２４ 上スピンドル係合部
２２４Ａ 挿入係合部
２２４ＡＳ 係合突起
２２４Ｂ 挿入凹部
２５０ ロックピース（ロック部）
２５０Ａ ロック係合部
２５０ＡＳ ロック用突起
２５０Ｂ ロック凹部
２５０Ｓ ピース内周面
２Ｓ 基準回転中心軸
３ タイヤ搬送機構
４ 回転ドラム
４Ａ 模擬路面
５０ 昇降ユニット
６１ 下リム
６２ 上リム
９０ 制御部
９０１ タイヤ搬送制御部
９０２ 下スピンドル回転制御部
９０３ 上スピンドル昇降制御部
９０４ エア供給制御部
９０５ 記憶部
９０６ 精度検査指令部
９０７ 判定部
９３ 下スピンドル回転駆動部
９４ 上スピンドル昇降駆動部
９５ 下スピンドル回転位相センサ
ＣＬ タイヤ回転中心軸
Ｐ タイヤ試験位置
Ｓ 内部空間
Ｔ タイヤ
１Ｓ 本体フレーム
２ スピンドル
２１ 下スピンドル（他方のスピンドル、第２スピンドル）
２１０ スピンドル本体
２１０Ｓ 本体内周面
２１Ｓ スピンドル内周面
２２ 上スピンドル（一方のスピンドル、第１スピンドル）
２２２ 挿入部
２２２Ｓ 挿入外周面
２２３ ガイドピース
２２４ 上スピンドル係合部
２２４Ａ 挿入係合部
２２４ＡＳ 係合突起
２２４Ｂ 挿入凹部
２５０ ロックピース（ロック部）
２５０Ａ ロック係合部
２５０ＡＳ ロック用突起
２５０Ｂ ロック凹部
２５０Ｓ ピース内周面
２Ｓ 基準回転中心軸
３ タイヤ搬送機構
４ 回転ドラム
４Ａ 模擬路面
５０ 昇降ユニット
６１ 下リム
６２ 上リム
９０ 制御部
９０１ タイヤ搬送制御部
９０２ 下スピンドル回転制御部
９０３ 上スピンドル昇降制御部
９０４ エア供給制御部
９０５ 記憶部
９０６ 精度検査指令部
９０７ 判定部
９３ 下スピンドル回転駆動部
９４ 上スピンドル昇降駆動部
９５ 下スピンドル回転位相センサ
ＣＬ タイヤ回転中心軸
Ｐ タイヤ試験位置
Ｓ 内部空間
Ｔ タイヤ
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】