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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023000532
(43)【公開日】2023-01-04
(54)【発明の名称】移動端末試験システム及び移動端末試験方法
(51)【国際特許分類】
H04B 17/17 20150101AFI20221222BHJP
H04B 17/29 20150101ALI20221222BHJP
【ＦＩ】
H04B17/17
H04B17/29 200
【審査請求】有
【請求項の数】8
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021101415
(22)【出願日】2021-06-18
(11)【特許番号】
(45)【特許公報発行日】2022-12-20
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．３ＧＰＰ
(71)【出願人】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110003694
【氏名又は名称】弁理士法人有我国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】横堀 邦幸
(72)【発明者】
【氏名】鮫島 圭一郎
(57)【要約】
【課題】全てのテストケースの試験が完了する前に、有用な試験結果を短時間で得ることができる移動端末試験システム及び移動端末試験方法を提供する。
【解決手段】３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末１００に対して順次実行する移動端末試験システム１であって、試験方針を設定するための操作部３０と、複数のテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる試験実行制御部１２と、操作部３０により設定された試験方針と、複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部１６と、を備え、試験実行制御部１２は、優先順位決定部１６により決定された優先順位で、複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる。
【選択図】図１
【解決手段】３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末１００に対して順次実行する移動端末試験システム１であって、試験方針を設定するための操作部３０と、複数のテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる試験実行制御部１２と、操作部３０により設定された試験方針と、複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部１６と、を備え、試験実行制御部１２は、優先順位決定部１６により決定された優先順位で、複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末（１００）に対して順次実行する移動端末試験システム（１）であって、
試験方針を設定するための試験方針設定部（３０）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御部（１２）と、
前記試験方針設定部により設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部（１６）と、を備え、
前記試験実行制御部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験システム。
試験方針を設定するための試験方針設定部（３０）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御部（１２）と、
前記試験方針設定部により設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部（１６）と、を備え、
前記試験実行制御部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験システム。
【請求項2】
前記優先順位決定部は、前記試験方針設定部により設定された試験方針が第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
【請求項3】
前記試験方針設定部により設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定部（１４）を更に備え、
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
【請求項4】
前記試験方針設定部により設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成部（１５）を更に備え、
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項３に記載の移動端末試験システム。
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項３に記載の移動端末試験システム。
【請求項5】
３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末（１００）に対して順次実行する移動端末試験方法であって、
試験方針を設定するための試験方針設定ステップ（Ｓ１）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御ステップ（Ｓ２，Ｓ２６，Ｓ３４，Ｓ３６）と、
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定ステップ（Ｓ２５，Ｓ２７，Ｓ３０，Ｓ３３，Ｓ３５）と、を含み、
前記試験実行制御ステップは、前記優先順位決定ステップにより決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験方法。
試験方針を設定するための試験方針設定ステップ（Ｓ１）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御ステップ（Ｓ２，Ｓ２６，Ｓ３４，Ｓ３６）と、
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定ステップ（Ｓ２５，Ｓ２７，Ｓ３０，Ｓ３３，Ｓ３５）と、を含み、
前記試験実行制御ステップは、前記優先順位決定ステップにより決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験方法。
【請求項6】
前記優先順位決定ステップは、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
【請求項7】
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定ステップ（Ｓ２８）を更に含み、
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
【請求項8】
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成ステップ（Ｓ３２）を更に含み、
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項７に記載の移動端末試験方法。
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項７に記載の移動端末試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、移動端末試験システム及び移動端末試験方法に関し、特に、移動端末の３ＧＰＰ規格に準拠したコンフォーマンステストを実行する移動端末試験システム及び移動端末試験方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、各国でミリ波帯の周波数を運用する５Ｇのサービスが開始され、５Ｇスマートフォンなどの５Ｇ用移動端末の生産が本格化している。５Ｇ用移動端末の設計開発会社又はその製造工場においては、５Ｇ用移動端末が備えている無線通信アンテナを介して送信電波の出力レベルや受信感度を測定し、５Ｇ用移動端末が所定の基準を満たしているか否かを判定する性能試験が行われる。
【0003】
このような性能試験の中には、移動端末や基地局装置が３ＧＰＰ（3rd Generation Partnership Project）規格に準拠しているか否かを確認するコンフォーマンステストがある。コンフォーマンステストでは、試験目的、合否判定基準、試験条件、Test IDで識別される複数の試験項目、及び試験手順が定義されたテストケース（Test Case：ＴＣ）が実行される。
【0004】
特許文献１には、試験装置それぞれのソフトウェアの入れ替えを含む動作設定を１組のテストケースとして、複数のテストケースを自動的に実行する試験システムが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２０１１－１９９７１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
３ＧＰＰ規格のＴＳ ３８．５２２に記載のとおり、実行されるべきテストケースは明確化されているが、試験システムでは任意のテストケースを実行可能であり、実行順序についても定められていない。このため、テストケースの実行順序によっては、テストケースごとの定められた試験時間どおりの所要時間を無為に費やしてしまう場合がある。
【0007】
類似した試験条件においては、移動端末内で使用される変復調回路、ＲＦ回路、ｆｉｌｔｅｒ回路や、それらの回路の設定が同様であるため、試験条件のうちのあるパラメータを変えながら複数回試験を実行する場合などに、合格（以下、「ＰＡＳＳ」とも称する）が連続したり、逆に不合格（以下、「ＦＡＩＬ」とも称する）が連続したりすることが起こる。
【0008】
一方で、例えばＰＡＳＳする可能性の高いテストケースを優先的に実行したいという要求や、逆にＦＡＩＬする可能性の高いテストケースを優先的に実行して、ＦＡＩＬとなった原因の究明を行いたいという要求がある。しかしながら、従来の試験システムでは、試験順序を効率化して、試験目的に応じた試験結果を優先的に得たいという要求に応えることができないという問題があった。
【0009】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、全てのテストケースの試験が完了する前に、有用な試験結果を短時間で得ることができる移動端末試験システム及び移動端末試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
上記課題を解決するために、本発明に係る移動端末試験システムは、３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末に対して順次実行する移動端末試験システムであって、試験方針を設定するための試験方針設定部と、前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置に実行させる試験実行制御部と、前記試験方針設定部により設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部と、を備え、前記試験実行制御部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させる構成である。
【0011】
この構成により、本発明に係る移動端末試験システムは、試験方針と、実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、実行が完了していないテストケースの優先順位を決定し、この優先順位に従って実行が完了していないテストケースの試験の測定を測定装置に実行させるようになっている。これにより、本発明に係る移動端末試験システムは、全てのテストケースの試験が完了する前に、有用な試験結果を短時間で得ることができる。
【0012】
また、本発明に係る移動端末試験システムにおいては、前記優先順位決定部は、前記試験方針設定部により設定された試験方針が第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【0013】
この構成により、本発明に係る移動端末試験システムは、試験方針が第１の方針である場合に、実行済みのテストケースの試験結果においてＰＡＳＳとなった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げるようになっている。これにより、本発明に係る移動端末試験システムは、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＰＡＳＳする可能性の高いテストケースを優先的に実行して、３ＧＰＰ規格への準拠度合を確認することができる。
【0014】
また、本発明に係る移動端末試験システムは、前記試験方針設定部により設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定部を更に備え、前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げる構成であってもよい。
【0015】
この構成により、本発明に係る移動端末試験システムは、試験方針が第２の方針である場合に、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定し、特定した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げるようになっている。これにより、本発明に係る移動端末試験システムは、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＦＡＩＬする可能性の高いテストケースの実行の優先度を下げ後回しにすることにより、有用な試験結果を得るまでの試験時間を短縮することができる。
【0016】
また、本発明に係る移動端末試験システムは、前記試験方針設定部により設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成部を更に備え、前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【0017】
この構成により、本発明に係る移動端末試験システムは、試験方針が第２の方針である場合に、実行済みのテストケースの試験結果において試験結果がＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含む類似テストケースを生成し、この類似テストケースの優先順位を上げるようになっている。これにより、本発明に係る移動端末試験システムは、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＦＡＩＬする可能性の高い類似テストケースを優先的に実行して、ＦＡＩＬの要因を検証することができる。
【0018】
また、本発明に係る移動端末試験方法は、３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末に対して順次実行する移動端末試験方法であって、試験方針を設定するための試験方針設定ステップと、前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置に実行させる試験実行制御ステップと、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定ステップと、を含み、前記試験実行制御ステップは、前記優先順位決定ステップにより決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させる構成である。
【0019】
また、本発明に係る移動端末試験方法においては、前記優先順位決定ステップは、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【0020】
また、本発明に係る移動端末試験方法は、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定ステップを更に含み、前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げる構成であってもよい。
【0021】
また、本発明に係る移動端末試験方法は、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成ステップを更に含み、前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【発明の効果】
【0022】
本発明は、全てのテストケースの試験が完了する前に、有用な試験結果を短時間で得ることができる移動端末試験システム及び移動端末試験方法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【0023】
【図1】本発明の実施形態に係る移動端末試験システムの構成を示すブロック図である。
【図2】試験周波数、ＢＷＰ帯域幅、及びＳＳＢ配置の組合せの一例を示す図である。
【図3】テストケースの実行手順を示す概念図である。
【図4】本発明の実施形態に係る移動端末試験システムを用いる移動端末試験方法の処理を示すフローチャートである。
【図6】ある試験条件の組合せにおける試験項目ごとの試験結果の表示例を示す表である。
【図8】テストケースごとの試験結果の表示例を示す表である。
【発明を実施するための形態】
【0024】
以下、本発明に係る移動端末試験システム及び移動端末試験方法の実施形態について、図面を用いて説明する。
【0025】
図１に示す本実施形態に係る移動端末試験システム１は、主に疑似基地局として動作して、複数のテストケースの試験を移動端末１００に対して順次実行するものである。移動端末試験システム１は、測定装置１０と、制御装置２０と、操作部３０と、表示部３１と、を備える。
【0026】
測定装置１０は、移動端末１００と無線通信接続又は有線通信接続を行って、移動端末１００の送受信特性を測定するものである。測定装置１０は、移動端末１００の送信特性として、例えば、送信電力、エラーベクトル振幅（ＥＶＭ）、ＩＱコンスタレーション、スペクトラム等を測定可能である。また、測定装置１０は、移動端末１００の受信特性として、例えば、パケットエラーレート（ＰＥＲ）やフレーム受信レート（ＦＲＲ）等を測定可能である。
【0027】
制御装置２０は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、移動端末試験システム１を構成する上記各部の動作を制御するものである。また、制御装置２０は、ＲＯＭ等に記憶された所定のプログラムをＲＡＭに移してＣＰＵで実行することにより、後述するテストケース記憶部１１、試験実行制御部１２、合否判定部１３、不合格要因特定部１４、類似テストケース生成部１５、優先順位決定部１６、及び傾向記憶部１７の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、テストケース記憶部１１、試験実行制御部１２、合否判定部１３、不合格要因特定部１４、類似テストケース生成部１５、優先順位決定部１６、及び傾向記憶部１７の少なくとも一部は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのディジタル回路で構成することも可能である。あるいは、テストケース記憶部１１、試験実行制御部１２、合否判定部１３、不合格要因特定部１４、類似テストケース生成部１５、優先順位決定部１６、及び傾向記憶部１７の少なくとも一部は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
【0028】
テストケース記憶部１１は、３ＧＰＰ規格に準拠したコンフォーマンステストのテストケースの情報を記憶している。また、テストケース記憶部１１は、後述する類似テストケース生成部１５により生成されたテストケース（以下、「類似テストケース」とも称する）の情報も記憶できるようになっている。
【0029】
試験実行制御部１２は、テストケース記憶部１１から読み出したテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる制御を行う。また、試験実行制御部１２は、後述する優先順位決定部１６により決定された優先順位で、テストケース記憶部１１に記憶された複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる制御を行う。
【0030】
合否判定部１３は、測定装置１０による測定結果と合否判定基準に基づいて、テストケースの試験結果が合格（ＰＡＳＳ）であるか不合格（ＦＡＩＬ）であるかを判定するようになっている。さらに、合否判定部１３は、実行済みのテストケースの試験条件又は試験条件の組合せごとの試験結果が、それぞれＰＡＳＳであるかＦＡＩＬであるかを傾向記憶部１７に記憶させるようになっている。
【0031】
試験条件は、移動端末１００が送受信する信号の周波数、強度、及び位相に関する試験を行うために、測定装置１０に設定される条件である。試験条件は、例えば、試験周波数［Low/Mid/High Range］、ＢＷＰ配置［Low/Mid/High test channel bandwidth］、ＢＷＰ帯域幅、ＳＣＳ（Subcarrier Spacing）［Lowest, Mid, Highest］、ＲＢ（Resource Block）配置、変調方式、ＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）限界、ＴＣＩ（Transmission Configuration Indicator）のＱＣＬ（Quasi Co-Location）設定［ＳＳＢ（Synchronization Signal/PBCH block）／ＣＳＩ－ＲＳ（Channel State Information Reference Signal）］などである。
【0032】
操作部３０は、移動端末試験システム１の試験方針として、第１の方針（以下、「類似ＰＡＳＳ調査」とも称する）と第２の方針（以下、「類似ＦＡＩＬ調査」とも称する）のいずれかを設定するための試験方針設定部を構成する。類似ＰＡＳＳ調査は、試験結果がＰＡＳＳとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定する試験方針である。また、類似ＦＡＩＬ調査は、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定する試験方針である。
【0033】
不合格要因特定部１４は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定するようになっている。また、不合格要因特定部１４は、特定した試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目がＦＡＩＬになる原因を分析し、その分析結果を表示部３１に表示するようになっていてもよい。
【0034】
類似テストケース生成部１５は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、実行済みのテストケースの試験結果においてＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含む類似テストケースを生成するようになっている。例えば、類似テストケース生成部１５は、試験結果がＦＡＩＬとなった各試験条件のパラメータをユーザによる操作部３０への操作入力に応じて変更することによって、類似テストケースを生成することが可能である。類似テストケースは、ＦＡＩＬとなった原因の特定のために不合格要因特定部１４において用いられるものであり、必ずしも３ＧＰＰ規格に準拠したものでなくてもよい。
【0035】
以下、不合格要因特定部１４によるＦＡＩＬの原因の分析について説明する。図２は、試験周波数、ＢＷＰ帯域幅、及びＳＳＢ配置の組合せの一例を示す図である。ここで、ＤＣ＿１Ａ＿ｎ７８Ａは、ＬＴＥバンド１と５Ｇバンドｎ７８の組合せのデュアルコネクティビティを表している。また、ＤＣ＿３Ａ＿ｎ４１Ａは、ＬＴＥバンド３と５Ｇバンドｎ４１の組合せのデュアルコネクティビティを表している。
【0036】
例えば、試験周波数がＤＣ＿３Ａ＿ｎ４１Ａ、ＢＷＰ帯域幅が１００ＭＨｚ、ＳＳＢ配置がHigh Rangeの組合せを含む試験項目の試験結果がＦＡＩＬになったとする。この組合せのうち、試験周波数をＤＣ＿１Ａ＿ｎ７８Ａに変化させたテストケース（又は類似テストケース）の試験項目の試験結果がＰＡＳＳになった場合には、ＦＡＩＬの原因は相互変調歪である可能性が高い。この場合、不合格要因特定部１４は、相互変調歪が原因で試験結果がＦＡＩＬになった可能性がある旨を表示部３１に表示する。
【0037】
また、例えば、試験周波数がＤＣ＿３Ａ＿ｎ４１Ａ、ＢＷＰ帯域幅が１００ＭＨｚ、ＳＳＢ配置がHigh Rangeの組合せを含む試験項目の試験結果がＦＡＩＬになったとする。この組合せのうち、ＢＷＰ帯域幅を２０ＭＨｚに変化させたテストケース（又は類似テストケース）の試験項目の試験結果がＰＡＳＳになった場合には、ＦＡＩＬの原因は帯域内の周波数特性と変復調性能である可能性が高い。この場合、不合格要因特定部１４は、帯域内の周波数特性と変復調性能が原因で試験結果がＦＡＩＬになった可能性がある旨を表示部３１に表示する。
【0038】
また、例えば、試験周波数がＤＣ＿３Ａ＿ｎ４１Ａ、ＢＷＰ帯域幅が１００ＭＨｚ、ＳＳＢ配置がHigh Rangeの組合せを含む試験項目の試験結果がＦＡＩＬになったとする。この組合せのうち、ＳＳＢ配置をLow Rangeに変化させたテストケース（又は類似テストケース）の試験項目の試験結果がＰＡＳＳになった場合には、ＦＡＩＬの原因は位相同期の問題である可能性が高い。この場合、不合格要因特定部１４は、位相同期不良が原因で試験結果がＦＡＩＬになった可能性がある旨を表示部３１に表示する。
【0039】
優先順位決定部１６は、操作部３０により設定された試験方針と、テストケース記憶部１１に記憶された複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、テストケース記憶部１１に記憶された複数のテストケースのうちの実行が完了していない全てのテストケースの優先順位を決定する。また、優先順位決定部１６は、実行予定のテストケースを実行予定の順に表示部３１に一覧表示させるようになっていてもよい。
【0040】
例えば、優先順位決定部１６は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＰＡＳＳ調査である場合に、実行済みのテストケースの試験結果においてＰＡＳＳとなった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げる。
【0041】
また、例えば、優先順位決定部１６は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、不合格要因特定部１４により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げる。
【0042】
また、例えば、優先順位決定部１６は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、不合格要因特定部１４により試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合には、実行済みのテストケースの試験結果においてＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含む既存のテストケースの優先順位を上げる。
【0043】
また、例えば、優先順位決定部１６は、操作部３０により設定された試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、不合格要因特定部１４により試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合には、類似テストケース生成部１５により生成された類似テストケースの優先順位を上げる。
【0044】
試験実行制御部１２は、周波数制御部１２ａと、強度制御部１２ｂと、位相制御部１２ｃと、リソース制御部１２ｄと、を含む。
【0045】
周波数制御部１２ａは、移動端末１００で使用される周波数に関する試験条件を測定装置１０に設定するものである。周波数に関する試験条件は、試験周波数、ＢＷＰ配置、ＢＷＰ帯域幅などであり、移動端末１００内のフィルタの組合せや、フィルタの性能などに対応している。試験周波数は、ＬＴＥバンド、５Ｇバンド、又はＬＴＥバンドと５Ｇバンドの組合せ（Band combo）などである。
【0046】
例えば図３に示すように、試験周波数がＤＣ＿１Ａ＿ｎ７８Ａの場合は、移動端末１００の動作条件は、変復調回路の帯域設定がＤＣ＿１Ａ＿ｎ７８Ａ、ＲＦ回路の内部発振設定が２．１ＧＨｚ及び３．５ＧＨｚ、Ｆｉｌｔｅｒ回路の内部選択設定が２～３ＧＨｚ及び３～４ＧＨｚなどとなる。これらの動作条件が、測定装置１０により移動端末１００に設定された後に、試験周波数ごとにテストケースが繰り返し実行される。
【0047】
強度制御部１２ｂは、移動端末１００から送信される信号の強度に関する試験条件を測定装置１０に設定するものである。強度に関する試験条件は、ＳＮＲ限界などである。強度に関する試験条件は、移動端末１００内のフィルタの性能や、復調性能などに対応している。
【0048】
位相制御部１２ｃは、移動端末１００から送信される信号の位相に関する試験条件を測定装置１０に設定するものである。位相に関する試験条件は、ＴＣＩのＱＣＬ設定などである。位相に関する試験条件は、移動端末１００内の復調性能などに対応している。
【0049】
リソース制御部１２ｄは、移動端末１００から送信される信号のリソースに関する試験条件を測定装置１０に設定するものである。変復調性能に関する試験条件は、変調方式、ＲＢ配置などである。変復調性能に関する試験条件は、移動端末１００の変復調性能などに対応している。
【0050】
試験実行制御部１２は、ユーザによる操作部３０への操作入力により、類似ＰＡＳＳ調査と類似ＦＡＩＬ調査のどちらかを実行する制御を行うようになっている。類似ＰＡＳＳ調査と類似ＦＡＩＬ調査の概要は以下のとおりである。ここでは、説明を簡略化するために、初期設定では、移動端末試験システム１が４つのテストケースＴＣ１～ＴＣ４を、ＴＣ１、ＴＣ２、ＴＣ３，ＴＣ４の順に実行する予定になっているものとする。
【0051】
例えば、類似ＰＡＳＳ調査において、テストケースＴＣ１の試験周波数が、５Ｇバンドｎ７８のLow/Mid RangeでＰＡＳＳ傾向であり、High RangeでＦＡＩＬ傾向である場合、優先順位決定部１６は、残りのテストケースＴＣ２～ＴＣ４の中から、試験周波数がLow/Mid Rangeの試験条件を有するテストケースを選出する。仮に、テストケースＴＣ３がHigh Range条件のみのテストケースである場合、優先順位は、テストケースＴＣ２のLow/Mid Rangeが最も高く、テストケースＴＣ４のLow/Mid Range、テストケースＴＣ２のHigh Range、テストケースＴＣ３のHigh Range、テストケースＴＣ４のHigh Rangeの順に低くなっていく。
【0052】
このようにして、移動端末試験システム１は、ＰＡＳＳ傾向の高いテストケースを優先的に実行することによって、全てのテストケースの試験が完了する前に、試験結果がＰＡＳＳとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定することができる。
【0053】
また、例えば、類似ＦＡＩＬ調査において、テストケースＴＣ１の試験周波数が、５Ｇバンドｎ７８のLow/Mid RangeでＰＡＳＳ傾向であり、High RangeでＦＡＩＬ傾向であり、移動端末１００の送信信号のレベルは問題ないが、信号品質が悪い可能性があることが不合格要因特定部１４の分析により分かったとする。この場合、優先順位決定部１６は、残りのテストケースＴＣ２～ＴＣ４の中から、信号品質を測定するテストケースの優先順位を選出する。仮に、テストケースＴＣ３がHigh Range条件のみの信号品質測定のテストケースである場合、優先順位は、テストケースＴＣ３のHigh Rangeが最も高く、テストケースＴＣ２のHigh Range、テストケースＴＣ４のHigh Range、テストケースＴＣ２のLow/Mid Range、テストケースＴＣ４のLow/Mid Rangeの順に低くなっていく。そして、テストケースＴＣ３のHigh RangeもＦＡＩＬした場合、不合格要因特定部１４は、移動端末１００の信号品質不良が原因で試験結果がＦＡＩＬになった可能性がある旨を表示部３１に表示する。
【0054】
このようにして、移動端末試験システム１は、ＦＡＩＬ傾向の高いテストケースを優先的に実行することによって、全てのテストケースの試験が完了する前に、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せと、ＦＡＩＬの原因を特定することができる。
【0055】
操作部３０は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部３１の表示画面に対応する入力面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。操作部３０は、ユーザが表示画面に表示されている特定の項目の位置を指やスタイラス等で触れた際に、タッチセンサが表示画面上で検出した位置と項目の位置との一致を認識することにより、各項目に割り当てられた機能を実行するための信号を制御装置２０に出力する。操作部３０は、表示部３１に操作可能に表示されるものであってもよく、あるいは、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されるものであってもよい。
【0056】
ユーザによる操作部３０への操作入力により、試験方針、移動端末１００の仕様、各種試験条件のパラメータなどの設定を行うことが可能である。
【0057】
表示部３１は、液晶ディスプレイやＣＲＴ等の表示機器で構成され、制御装置２０による表示制御に基づき、測定装置１０による移動端末１００に対する送受信特性の測定に関わる設定画面や試験結果などの各種表示内容を表示画面に表示するようになっている。この表示内容には、例えば、テストケースの実行順序の予定、測定装置１０による移動端末１００の送受信特性の測定結果などが含まれる。さらに、表示部３１は、各種条件を設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。
【0058】
以下、移動端末試験システム１を用いる移動端末試験方法について、図４のフローチャートを参照しながら説明する。
【0059】
まず、試験実行制御部１２は、ユーザによる操作部３０への操作に応じて、試験方針や、移動端末１００の仕様などの各種情報を設定する（試験方針設定ステップＳ１）。
【0060】
次に、試験実行制御部１２は、実行予定の複数のテストケースのうち、実行されていないか、又は、実行が完了していない１つのテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる（試験実行制御ステップＳ２）。
【0061】
次に、試験実行制御部１２は、操作部３０により試験方針の設定が行われているか否かを判断する（ステップＳ３）。操作部３０により試験方針の設定が行われている場合には、試験実行制御部１２は、後述するステップＳ２１の処理を実行する。一方、操作部３０により試験方針の設定が行われていない場合には、試験実行制御部１２は、ステップＳ４の処理を実行する。
【0062】
ステップＳ４において、試験実行制御部１２は、実行されていないか、又は、実行が完了していないテストケースが残っているか否かを判断する（ステップＳ４）。実行すべきテストケースが残っている場合には、再びステップＳ２以降の処理が実行される。一方、実行すべきテストケースが残っていない場合には、ステップＳ５の処理が実行される。
【0063】
ステップＳ５において、試験実行制御部１２は、ステップＳ２等で実行された全てのテストケースの試験結果を表示部３１の表示画面に表示制御する（ステップＳ５）。
【0064】
以下、図５のフローチャートを参照しながら、ステップＳ２の処理の一例を説明する。ここでは、５Ｇバンドｎ１について、移動端末１００の最大送信レベルの特性に関するテストケースを実行する場合を例に挙げて説明する。なお、それぞれの試験条件は説明のための例示である。
【0065】
まず、試験実行制御部１２の周波数制御部１２ａは、５Ｇバンドｎ１のLow/Mid/High Rangeのうちのいずれかを測定装置１０に設定する（ステップＳ１１）。
【0066】
次に、試験実行制御部１２の周波数制御部１２ａは、ＢＷＰ帯域幅として、例えば、１０ＭＨｚ、２０ＭＨｚ、４０ＭＨｚのうちのいずれかを測定装置１０に設定する（ステップＳ１２）。
【0067】
次に、試験実行制御部１２の周波数制御部１２ａは、ＳＣＳとして、例えば、１５ｋＨｚ、３０ｋＨｚのうちのいずれかを測定装置１０に設定する（ステップＳ１３）。以上のステップＳ１１～Ｓ１３は、試験条件の設定を行うためのステップである。
【0068】
次に、試験実行制御部１２は、Test IDが１～６の試験項目の試験の測定を、ステップＳ１１～Ｓ１３で設定された試験条件の組合せで測定装置１０に実行させる（ステップＳ１４）。
【0069】
合否判定部１３は、測定装置１０による最大送信レベルに関する測定結果に基づいて、Test IDが１～６の試験項目の試験結果がＰＡＳＳであるかＦＡＩＬであるかを判定する（ステップＳ１５）。
【0070】
試験実行制御部１２は、ステップＳ１１～Ｓ１３で設定された試験条件の組合せにおいて未実行の試験項目の試験が残っているか否かを判断する（ステップＳ１６）。ステップＳ１１～Ｓ１３で設定された試験条件の組合せにおいて未実行の試験項目の試験が残っている場合には、再びステップＳ１４以降の処理が実行される。一方、ステップＳ１１～Ｓ１３で設定された試験条件の組合せにおいて全ての試験項目の試験が完了した場合には、ステップＳ１７の処理が実行される。
【0071】
試験実行制御部１２は、図６に示すように、ステップＳ１１～Ｓ１３で設定された試験条件の組合せでの試験項目の試験結果を、表示部３１の表示画面に表示制御する（ステップＳ１７）。
【0072】
試験実行制御部１２は、ステップＳ１１～Ｓ１３で設定されていない試験条件の組合せが残っているか否かを判断する（ステップＳ１８）。未設定の試験条件の組合せが残っている場合には、再びステップＳ１１以降の処理が実行される。一方、全ての試験条件の組合せが設定された場合には一連の処理が終了する。
【0073】
このように、試験実行制御部１２は、ステップＳ１１～Ｓ１３で試験条件の組合せを変更しながら、各試験項目の試験を実行する。
【0074】
以下、ステップＳ３で操作部３０により試験方針の設定が行われていると判断された場合の処理について、図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【0075】
まず、合否判定部１３は、ステップＳ２等で実行されたテストケースの試験の結果を、周波数、強度、位相などの試験条件と対応付けて傾向記憶部１７に記憶させる（ステップＳ２１）。傾向記憶部１７は、これらの試験条件又は試験条件の組合せごとに、試験結果（ＰＡＳＳ又はＦＡＩＬ）を記憶する。
【0076】
さらに、ステップＳ２１において、合否判定部１３は、ステップＳ２等で実行されたテストケースにおける試験項目のうち、ＰＡＳＳした試験項目における試験条件又は試験条件の組合せがＰＡＳＳ傾向であることを傾向記憶部１７に記憶させる。例えば、ステップＳ２等で実行されたテストケースにおいて、特定の変調方式（ここでは、「Modulation1」とする）を含む試験項目が全てＰＡＳＳした場合、合否判定部１３は、Modulation1を試験条件に含む試験項目がＰＡＳＳ傾向であることを傾向記憶部１７に記憶させる。
【0077】
同様に、ステップＳ２１において、合否判定部１３は、ステップＳ２等で実行されたテストケースにおける試験項目のうち、ＦＡＩＬした試験項目における試験条件又は試験条件の組合せがＦＡＩＬ傾向であることを傾向記憶部１７に記憶させる。例えば、ステップＳ２等で実行されたテストケースにおいて、特定の変調方式（ここでは、「Modulation1」とする）を含む試験項目が全てＦＡＩＬした場合、合否判定部１３は、Modulation1を試験条件に含む試験項目がＦＡＩＬ傾向であることを傾向記憶部１７に記憶させる。
【0078】
次に、試験実行制御部１２は、試験方針設定ステップＳ１において設定された試験方針が類似ＰＡＳＳ調査と類似ＦＡＩＬ調査のどちらであるかを判断する（ステップＳ２２）。類似ＰＡＳＳ調査が設定されている場合には、ステップＳ２３の処理が実行される。一方、類似ＦＡＩＬ調査が設定されている場合には、ステップＳ２８の処理が実行される。
【0079】
ステップＳ２３において、試験実行制御部１２は、ステップＳ２又は後述するステップＳ２６で実行されたテストケースの各試験項目の試験結果のうち、１つでもＦＡＩＬがあるか否かを判断する（ステップＳ２３）。ステップＳ２又は後述するステップＳ２６で実行された各試験項目のテストケースの試験結果に１つもＦＡＩＬがない場合には、ステップＳ２４の処理が実行される。一方、ステップＳ２又は後述するステップＳ２６で実行された各試験項目のテストケースの試験結果のうち、１つでもＦＡＩＬがある場合には、ステップＳ２７の処理が実行される。
【0080】
ステップＳ２４において、試験実行制御部１２は、ステップＳ２１で記憶されたＰＡＳＳ傾向にある試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースの実行が全て完了しているか否かを判断する。例えば、試験実行制御部１２は、Modulation1を試験条件に含む試験項目が定義されているテストケースが全て実行完了済みであるか否かを判断する。ステップＳ２１で記憶されたＰＡＳＳ傾向にある試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースを全て実行完了済みでない場合には、ステップＳ２５の処理が実行される。一方、ステップＳ２１で記憶されたＰＡＳＳ傾向にある試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースを全て実行完了済みである場合には、ステップＳ４の処理が実行される。
【0081】
ステップＳ２５において、優先順位決定部１６は、実行済みのテストケースの試験結果においてＰＡＳＳとなった試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースのうち、実行完了済みでないテストケースの優先順位を最上位に設定し、実行が完了していない全てのテストケースの実行順序を更新する（優先順位決定ステップＳ２５）。
【0082】
次に、試験実行制御部１２は、ステップＳ２５で優先順位が最上位に設定されたテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる（試験実行制御ステップＳ２６）。例えば、ステップＳ２等で実行されたテストケースにおいて、Modulation1を試験条件に含む試験項目が全てＰＡＳＳした場合、試験実行制御部１２は、ＰＡＳＳ見込みの試験条件であるModulation1を含む試験項目が定義されたテストケースを優先実行する。ステップＳ２６の処理が完了すると、再びステップＳ２１以降の処理が実行される。
【0083】
ステップＳ２７において、優先順位決定部１６は、ＦＡＩＬした試験に共通して含まれる試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースの優先順位を下げるように、実行が完了していない全てのテストケースの実行順序を更新する（優先順位決定ステップＳ２７）。例えば、優先順位決定部１６は、ステップＳ２等で実行されたテストケースについて、Modulation1と、試験周波数がHigh Rangeの条件との組合せを含む試験項目についてのみＦＡＩＬが発生した場合、該当する試験条件の組合せが含まれるテストケースの優先順位を下げる。この結果、ステップＳ２７以降に実行されるステップＳ２においては、Modulation1と、試験周波数がLow/Mid Rangeの条件との組合せを含む試験項目が定義されているテストケースが優先的に実行される。ステップＳ２７の処理が完了すると、ステップＳ４の処理が実行される。
【0084】
ステップＳ２８において、不合格要因特定部１４は、ステップＳ２等で実行されたテストケースの各試験項目の試験結果のうち、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定する（不合格要因特定ステップＳ２８）。
【0085】
次に、試験実行制御部１２は、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せが不合格要因特定ステップＳ２８により特定できたか否かを判断する（ステップＳ２９）。ここでの判断は、例えば、試験条件ごと、又は、試験条件の組合せごとのＦＡＩＬ数が所定の閾値を超えたか否かなどで行われる。不合格要因特定ステップＳ２８により試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せが特定できた場合には、ステップＳ３０の処理が実行される。一方、不合格要因特定ステップＳ２８により試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せが特定できなかった場合には、ステップＳ３１の処理が実行される。
【0086】
ステップＳ３０において、優先順位決定部１６は、不合格要因特定ステップＳ２８により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースの優先順位を下げるように、実行が完了していない全てのテストケースの実行順序を更新する（優先順位決定ステップＳ３０）。ステップＳ３０の処理が完了すると、ステップＳ４の処理が実行される。
【0087】
ステップＳ３１において、試験実行制御部１２は、ユーザによる操作部３０への操作入力により、類似テストケースを生成するための指示が入力されたか否かを判断する。類似テストケースを生成するための指示が操作部３０に入力された場合には、ステップＳ３２の処理が実行される。一方、類似テストケースを生成するための指示が操作部３０に入力されなかった場合には、ステップＳ３５の処理が実行される。
【0088】
ステップＳ３２において、類似テストケース生成部１５は、実行済みのテストケースの試験結果においてＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含む類似テストケースを生成する（類似テストケース生成ステップＳ３２）。
【0089】
次に、優先順位決定部１６は、類似テストケース生成ステップＳ３２により生成された実行完了済みでない類似テストケースの優先順位を最上位に設定し、実行が完了していない全てのテストケースの実行順序を更新する（優先順位決定ステップＳ３３）。
【0090】
次に、試験実行制御部１２は、優先順位決定ステップＳ３３で優先順位が最上位に設定された類似テストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる（試験実行制御ステップＳ３４）。ステップＳ３４の処理が完了すると、再びステップＳ２１以降の処理が実行される。
【0091】
ステップＳ３５において、優先順位決定部１６は、実行済みのテストケースの試験結果においてＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せを含む試験項目が定義されているテストケースのうち、実行完了済みでないテストケースの優先順位を最上位に設定し、実行が完了していない全てのテストケースの実行順序を更新する（優先順位決定ステップＳ３５）。
【0092】
次に、試験実行制御部１２は、ステップＳ３５で優先順位が最上位に設定されたテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させる（試験実行制御ステップＳ３６）。ステップＳ３６の処理が完了すると、再びステップＳ２１以降の処理が実行される。
【0093】
図８は、図４のフローチャートのステップＳ５で表示部３１に表示される試験結果の一例を示している。なお、ここでは、説明の簡略化のためにテストケースの数が４であるとしている。各テストケースＴＣ１～ＴＣ４の試験結果は、各テストケースＴＣ１～ＴＣ４に定義された全ての試験項目がＰＡＳＳした場合にＰＡＳＳ、それ以外の場合がＦＡＩＬとなる。
【0094】
図４のフローチャートでは、ステップＳ２において１つのテストケースの試験が全て実行されるとしたが、テストケースによっては測定が数時間～数十時間かかるものもあるため、本実施形態の移動端末試験システム１は、ＰＡＳＳ見込みがない試験項目が定義されたテストケースの試験は途中で切り上げるなど、無駄な測定を省くものであってもよい。その場合、移動端末試験システム１は、ステップＳ２における１つのテストケースを１つの試験項目に読み替えた処理を実行するとともに、ステップＳ２以降において、テストケース単位の処理又は判断を試験項目単位の処理又は判断に読み替えた処理を実行することになる。これにより、例えば、あるテストケースにおいてTest IDが１の試験項目がＦＡＩＬした場合に、Test IDが２以降の試験項目の実行を省略して、次のテストケースの試験に進むことなどが可能になる。
【0095】
以上説明したように、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、試験方針と、実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、実行が完了していないテストケースの優先順位を決定し、この優先順位に従って実行が完了していないテストケースの試験の測定を測定装置１０に実行させるようになっている。これにより、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、全てのテストケースの試験が完了する前に、有用な試験結果を短時間で得ることができる。
【0096】
また、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、試験方針が類似ＰＡＳＳ調査である場合に、実行済みのテストケースの試験結果においてＰＡＳＳとなった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げるようになっている。これにより、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＰＡＳＳする可能性の高いテストケースを優先的に実行して、３ＧＰＰ規格への準拠度合を確認することができる。なお、類似ＰＡＳＳ調査の途中結果の状況から類似ＰＡＳＳ調査を途中で終了し、類似ＦＡＩＬ調査を開始するようにしても良い。
【0097】
また、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、試験結果がＦＡＩＬとなる試験条件又は試験条件の組合せを特定し、特定した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げるようになっている。これにより、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＦＡＩＬする可能性の高いテストケースの実行の優先度を下げ後回しにすることにより、有用な試験結果を得るまでの試験時間を短縮することができる。
【0098】
また、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、試験方針が類似ＦＡＩＬ調査である場合に、実行済みのテストケースの試験結果において試験結果がＦＡＩＬとなった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含む類似テストケースを生成し、この類似テストケースの優先順位を上げるようになっている。これにより、本実施形態に係る移動端末試験システム１は、未実行のテストケースを、ＰＡＳＳする可能性の高いものとＦＡＩＬする可能性が高いものとに分類し、ＦＡＩＬする可能性の高い類似テストケースを優先的に実行して、ＦＡＩＬの要因を検証することができる。
【符号の説明】
【0099】
１ 移動端末試験システム
１０ 測定装置
１１ テストケース記憶部
１２ 試験実行制御部
１２ａ 周波数制御部
１２ｂ 強度制御部
１２ｃ 位相制御部
１２ｄ リソース制御部
１３ 合否判定部
１４ 不合格要因特定部
１５ 類似テストケース生成部
１６ 優先順位決定部
１７ 傾向記憶部
２０ 制御装置
３０ 操作部
３１ 表示部
１００ 移動端末
１０ 測定装置
１１ テストケース記憶部
１２ 試験実行制御部
１２ａ 周波数制御部
１２ｂ 強度制御部
１２ｃ 位相制御部
１２ｄ リソース制御部
１３ 合否判定部
１４ 不合格要因特定部
１５ 類似テストケース生成部
１６ 優先順位決定部
１７ 傾向記憶部
２０ 制御装置
３０ 操作部
３１ 表示部
１００ 移動端末
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【手続補正書】
【提出日】2022-11-18
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末（１００）に対して順次実行する移動端末試験システム（１）であって、
試験方針を設定するための試験方針設定部（３０）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御部（１２）と、
前記試験方針設定部により設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部（１６）と、を備え、
前記試験実行制御部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験システム。
試験方針を設定するための試験方針設定部（３０）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御部（１２）と、
前記試験方針設定部により設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定部（１６）と、を備え、
前記試験実行制御部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験システム。
【請求項2】
前記優先順位決定部は、前記試験方針設定部により設定された試験方針が、試験結果が合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
【請求項3】
前記試験方針設定部により設定された試験方針が、試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定部（１４）を更に備え、
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験システム。
【請求項4】
前記試験方針設定部により設定された試験方針が前記第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成部（１５）を更に備え、
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項３に記載の移動端末試験システム。
前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項３に記載の移動端末試験システム。
【請求項5】
３ＧＰＰ規格で規定された複数のテストケースの試験を移動端末（１００）に対して順次実行する移動端末試験方法であって、
試験方針を設定するための試験方針設定ステップ（Ｓ１）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御ステップ（Ｓ２，Ｓ２６，Ｓ３４，Ｓ３６）と、
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定ステップ（Ｓ２５，Ｓ２７，Ｓ３０，Ｓ３３，Ｓ３５）と、を含み、
前記試験実行制御ステップは、前記優先順位決定ステップにより決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験方法。
試験方針を設定するための試験方針設定ステップ（Ｓ１）と、
前記複数のテストケースの試験の測定を測定装置（１０）に実行させる試験実行制御ステップ（Ｓ２，Ｓ２６，Ｓ３４，Ｓ３６）と、
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針と、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの試験結果とに応じて、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの優先順位を決定する優先順位決定ステップ（Ｓ２５，Ｓ２７，Ｓ３０，Ｓ３３，Ｓ３５）と、を含み、
前記試験実行制御ステップは、前記優先順位決定ステップにより決定された優先順位で、前記複数のテストケースのうちの実行が完了していないテストケースの試験の測定を前記測定装置に実行させることを特徴とする移動端末試験方法。
【請求項6】
前記優先順位決定ステップは、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が、試験結果が合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
【請求項7】
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が、試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定ステップ（Ｓ２８）を更に含み、
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げることを特徴とする請求項５に記載の移動端末試験方法。
【請求項8】
前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が前記第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成ステップ（Ｓ３２）を更に含み、
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項７に記載の移動端末試験方法。
前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げることを特徴とする請求項７に記載の移動端末試験方法。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0012】
また、本発明に係る移動端末試験システムにおいては、前記優先順位決定部は、前記試験方針設定部により設定された試験方針が、試験結果が合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0014】
また、本発明に係る移動端末試験システムは、前記試験方針設定部により設定された試験方針が、試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定部を更に備え、前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げる構成であってもよい。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0016】
また、本発明に係る移動端末試験システムは、前記試験方針設定部により設定された試験方針が前記第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成部を更に備え、前記優先順位決定部は、前記不合格要因特定部により前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成部により生成されたテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0019】
また、本発明に係る移動端末試験方法においては、前記優先順位決定ステップは、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が、試験結果が合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第１の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において合格となった試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0020】
また、本発明に係る移動端末試験方法は、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が、試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する第２の方針である場合に、前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せを特定する不合格要因特定ステップを更に含み、前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより特定された試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースの優先順位を下げる構成であってもよい。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0021】
また、本発明に係る移動端末試験方法は、前記試験方針設定ステップにより設定された試験方針が前記第２の方針である場合に、前記複数のテストケースのうちの実行済みのテストケースの前記試験結果において不合格となった試験条件又は試験条件の組合せに類似した試験条件又は試験条件の組合せを含むテストケースを生成する類似テストケース生成ステップを更に含み、前記優先順位決定ステップは、前記不合格要因特定ステップにより前記試験結果が不合格となる試験条件又は試験条件の組合せが特定されていない場合に、前記類似テストケース生成ステップにより生成されたテストケースの優先順位を上げる構成であってもよい。