特開2023-64699光学測定システム

発明の名称　光学測定システム

出願人　大塚電子株式会社　（識別番号 206967）

　　　　特許公開件数ランキング 2796 位（6件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 2094 位（7件）（共同出願を含む）

出願人　国立大学法人京都大学　（識別番号 504132272）

　　　　特許公開件数ランキング 342 位（185件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 297 位（166件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2023-64699

公報発行日　2023年5月11

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-64699

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