特開 2023-71238 トランス巻数検査回路

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023071238

(43)【公開日】2023-05-23

(54)【発明の名称】トランス巻数検査回路

(51)【国際特許分類】

   H01F 30/10 20060101AFI20230516BHJP

   G01R 29/20 20060101ALI20230516BHJP

【ＦＩ】

H01F30/10 Z

G01R29/20

【審査請求】未請求

【請求項の数】4

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021183878

(22)【出願日】2021-11-11

(71)【出願人】

【識別番号】000107804

【氏名又は名称】スミダコーポレーション株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100137589

【弁理士】

【氏名又は名称】右田 俊介

(72)【発明者】

【氏名】宮崎 弘行

(57)【要約】

【課題】巻数比の高いトランスでも正確にコイル巻数を検査可能な回路を提供する。
【解決手段】トランス巻数検査回路（１）は、基準トランス（ＣＴ１）及び被検査トランス（ＣＴ２）の一次側コイルどうし（Ｎｐ１及びＮｐ２）及び二次側コイルどうし（Ｎｓ１及びＮｓ２）をそれぞれ同相直列接続可能に構成されており、基準トランスの二次側コイルの両端間に形成される基準側ループ回路（Ｌｐ１）に含まれる基準側抵抗素子（Ｒ１）と、被検査トランスの二次側コイルの両端間に形成される被検査側ループ回路（Ｌｐ２）に含まれる被検査側抵抗素子（Ｒ２）と、基準側ループ回路及び被検査側ループ回路の共通ラインであって基準トランス及び被検査トランスの二次側コイル間の中点と基準側抵抗素子及び被検査側抵抗素子の中点とを結ぶ共通ラインに設けられた電圧検出手段（Ｒｄ）とを備える。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

基準トランスを基準として被検査トランスのコイル巻数を検査可能なトランス巻数検査回路であって、
前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルに交流電力を供給可能に構成されており、
前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルどうし及び二次側コイルどうしをそれぞれ同相直列接続可能に構成されており、
前記基準トランスの二次側コイルの両端間に形成される基準側ループ回路に含まれる基準側抵抗素子と、
前記被検査トランスの二次側コイルの両端間に形成される被検査側ループ回路に含まれる被検査側抵抗素子と、
前記基準側ループ回路及び前記被検査側ループ回路の共通ラインであって前記基準トランス及び前記被検査トランスの二次側コイル間の中点と前記基準側抵抗素子及び前記被検査側抵抗素子の中点とを結ぶ該共通ラインに設けられた電圧検出手段と、
を備えるトランス巻数検査回路。

【請求項2】

前記被検査側抵抗素子は、前記基準側抵抗素子と抵抗値が同じであり、
前記電圧検出手段は、前記基準側抵抗素子及び前記被検査側抵抗素子よりも抵抗値が高い抵抗素子である、
請求項１に記載のトランス巻数検査回路。

【請求項3】

前記電圧検出手段で検出される交流電圧を整流して直流電圧に変換する整流回路と、
前記整流回路で変換された前記直流電圧を基準電圧と比較する比較器と、
前記比較器の出力に基づいて前記被検査トランスのコイル巻数の検査結果を出力する出力手段と、
を更に備える請求項１又は２に記載のトランス巻数検査回路。

【請求項4】

前記基準トランス及び前記被検査トランスは複数の二次側コイルをそれぞれ有しており、
前記基準トランス及び前記被検査トランスそれぞれ一つずつの二次側コイルどうしを同相直列接続可能であって、前記基準トランスの二次側コイルごとに該二次側コイルの両端間に一つの基準側ループ回路がそれぞれ形成可能であって、前記被検査トランスの二次側コイルごとに該二次側コイルの両端間に一つの被検査側ループ回路がそれぞれ形成可能に構成されており、
前記基準側抵抗素子は、各基準側ループ回路にそれぞれ設けられており、
前記被検査側抵抗素子は、各被検査側ループ回路にそれぞれ設けられており、
前記電圧検出手段は、前記基準側ループ回路及び前記被検査側ループ回路の共通ラインであって同相直列接続されている前記基準トランス及び前記被検査トランスの二次側コイル間の中点と該基準側ループ回路に設けられた前記基準側抵抗素子と該被検査側ループ回路に設けられた前記被検査側抵抗素子との中点とを結ぶ共通ラインに設けられている、
請求項１から３のいずれか一項に記載のトランス巻数検査回路。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、トランスのコイル巻数を検査する回路に関する。

【背景技術】

【0002】

トランスは一次側コイルと二次側コイルの巻数比によって変圧比或いは変流比が変化することから、トランスの品質の維持には、トランスの一次側及び二次側コイル（巻線）が仕様通りの適切な巻数となっている必要がある。
下記特許文献１には、交流電源に一次側を接続した被試験変圧器及び標準変圧器の二次側を誘起電圧が逆方向になるよう接続し、その差電圧を増幅して取り出すようにした電磁コイルの巻数比試験装置が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開昭５９－３８６６７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、上述の試験装置では、カレントトランスや高圧トランスのように巻数比の高いトランスにおいて正確に検査ができない可能性がある。例えば、巻数比２００対１、４００対１のようなトランスにおいて巻数１回の違いを検出することは困難である。
本発明は、巻数比の高いトランスでも正確にコイル巻数を検査可能な回路を提供する。

【課題を解決するための手段】

【0005】

本発明によれば、基準トランスを基準として被検査トランスのコイル巻数を検査可能なトランス巻数検査回路であって、前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルに交流電力を供給可能に構成されており、前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルどうし及び二次側コイルどうしをそれぞれ同相直列接続可能に構成されており、前記基準トランスの二次側コイルの両端間に形成される基準側ループ回路に含まれる基準側抵抗素子と、前記被検査トランスの二次側コイルの両端間に形成される被検査側ループ回路に含まれる被検査側抵抗素子と、前記基準側ループ回路及び前記被検査側ループ回路の共通ラインであって前記基準トランス及び前記被検査トランスの二次側コイル間の中点と前記基準側抵抗素子及び前記被検査側抵抗素子の中点とを結ぶ該共通ラインに設けられた電圧検出手段とを備えるトランス巻数検査回路が提供される。

【発明の効果】

【0006】

上記態様によれば、巻数比の高いトランスでも正確にコイル巻数を検査可能な回路を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】第一実施形態におけるトランス巻数検査回路の回路図である。

【図2】第二実施形態におけるトランス巻数検査回路の回路図である。

【図3】第三実施形態におけるトランス巻数検査回路の回路図である。

【図4】第一実施形態のトランス巻数検査回路における二次側の各ポイントでの電圧の測定結果を示す表である。

【図5】第一実施形態におけるトランス巻数検査回路の応用回路の回路図である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、本発明の好ましい実施形態の例（以降、本実施形態と表記する）について説明する。なお、以下に挙げる各実施形態はそれぞれ例示であり、本発明は以下の実施形態の構成に限定されない。

【0009】

［第一実施形態］
図１は、第一実施形態におけるトランス巻数検査回路１の回路図である。
トランス巻数検査回路１は、基準トランスＣＴ１を基準として被検査トランスＣＴ２のコイル巻数を検査可能な回路であり、以降、検査回路１と略称する場合もある。即ち、検査回路１によれば、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを検査することができる。
本明細書においてトランスのコイル巻数と表記する場合には、トランスの一次側コイルの巻数及び二次側コイルの巻数、或いはトランスの一次側コイル及び二次側コイルの巻数比を意味するものとする。
本実施形態によれば、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が、カレントトランス、高圧トランス、昇圧トランスのような巻数比が比較的高いトランス、或いは巻数比が低い他のトランスであっても検査が可能である。
本実施形態では、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２がカレントトランスであることを想定し、各トランスの一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２のコイル巻数は同じであると仮定する。

【0010】

〔回路構成〕
検査回路１は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に交流電力を供給可能に構成されている。本実施形態では、検査回路１は、交流電力を供給する電源の出力端子に接続可能な電源端子ＰＴ１及びＰＴ２を備えており、図１の例では、正弦波定電流電源（以降、電源と略称する場合もある）ＰＳの出力端子が電源端子ＰＴ１及びＰＴ２にそれぞれ接続されている。
電源ＰＳは、一定の交流電力を供給可能であればよく、その具体的な仕様は限定されない。
検査回路１は、電源ＰＳを回路構成要素として含んでいてもよいし、含んでいなくてもよい。

【0011】

検査回路１は、図１に示されるように、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２における一次側コイルどうし（Ｎｐ１及びＮｐ２）、二次側コイルどうし（Ｎｓ１及びＮｓ２）をそれぞれ同相直列接続可能に構成されている。
「コイルどうしの同相直列接続」とは、両方のコイルの極性（巻線方向）が同じになるように、一方のコイルの正極側端子と他方のコイルの負極側端子とを直列に接続することを意味する。
このため、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が検査回路１に接続されている状態において、一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２は次のように接続される。電源端子ＰＴ１に繋がる導線に基準トランスＣＴ１の一次側コイルＮｐ１の負極側端子が接続され、その一次側コイルＮｐ１の正極側端子と被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ２の負極側端子とが直列に配線されている。そして、電源端子ＰＴ２に繋がる導線にその一次側コイルＮｐ２の正極側端子が接続される。

【0012】

検査回路１は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側には、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１の両端間に形成される基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２の両端間に形成される被検査側ループ回路Ｌｐ２を備えている。基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２は、一部の配線を共有しており、その共有している配線を共有ラインと表記する。
そして、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が検査回路１に接続されている状態において、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１の正極側端子と被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２の負極側端子とが直列に配線されるように、当該二次側コイルＮｓ１の正極側端子及び負極側端子を基準側ループ回路Ｌｐ１に接続し、当該二次側コイルＮｓ２の正極側端子及び負極側端子を被検査側ループ回路Ｌｐ２に接続する。

【0013】

検査回路１は、基準トランスＣＴ１を固定的に備えており、被検査トランスＣＴ２のみを他の被検査トランスに交換可能に構成されていてもよい。
この場合には、例えば、検査回路１は、基準トランスＣＴ１の一次側コイルＮｐ１の正極側端子に繋がる第一接続端子、電源端子ＰＴ２に繋がる第二接続端子、並びに被検査側ループ回路Ｌｐ２に被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２を接続するための第三及び第四接続端子を更に備える（図示せず）。被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２の負極側端子に接続するための第三接続端子は、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１の正極側端子に繋がる導線の一端に設けられる。
そして、検査のために準備された被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ２の負極側端子を上記第一接続端子に接続し、その一次側コイルＮｐ２の正極側端子を上記第二接続端子に接続する。更に、その被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２の負極側端子を上記第三接続端子に接続し、その二次側コイルＮｓ２の正極側端子を上記第四接続端子に接続する。

【0014】

検査回路１は、被検査トランスＣＴ２のみでなく、基準トランスＣＴ１も他の基準トランスに交換可能に構成されていてもよい。この場合、例えば、巻数比２００対１の基準トランスから巻数比４００対１の基準トランスに交換可能とされる。
この場合には、検査回路１は、上述の第一接続端子から第四接続端子に加えて、電源端子ＰＴ１に繋がる第五接続端子、上記第一接続端子に繋がる第六接続端子、並びに基準側ループ回路Ｌｐ１に基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１を接続するための第七及び第八接続端子を更に備える（図示せず）。基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１の正極側端子に接続するための第八接続端子は、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２の負極側端子に繋がる導線の一端に設けられる。
そして、交換のために準備された基準トランスＣＴ１の一次側コイルＮｐ１の負極側端子を上記第五接続端子に接続し、その一次側コイルＮｐ１の正極側端子を上記第六接続端子に接続する。更に、その基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１の負極側端子を上記第七接続端子に接続し、その二次側コイルＮｓ１の正極側端子を上記第八接続端子に接続する。

【0015】

但し、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２における一次側コイルどうし（Ｎｐ１及びＮｐ２）、二次側コイルどうし（Ｎｓ１及びＮｓ２）がそれぞれ同相直列接続可能とされていればよいため、一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２、並びに二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２は、図１に示される極性とは逆の極性となるようにそれぞれ接続されていてもよい。

【0016】

検査回路１は、基準側抵抗素子Ｒ１、被検査側抵抗素子Ｒ２及び電圧検出抵抗素子Ｒｄを更に備えている。
基準側抵抗素子Ｒ１は、基準側ループ回路Ｌｐ１（共通ライン以外）に設けられており、被検査側抵抗素子Ｒ２は、被検査側ループ回路Ｌｐ２（共通ライン以外）に設けられている。
電圧検出抵抗素子Ｒｄは、基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２の共通ラインであって基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２間の中点（接続点）と基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２の中点とを結ぶ共通ラインに設けられている。

【0017】

基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２は同じ抵抗値の抵抗素子であり、電圧検出抵抗素子Ｒｄは、基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２よりも抵抗値が高い抵抗素子である。

【0018】

〔動作〕
以下、上述のような構成を有する第一実施形態における検査回路１の動作を説明する。

【0019】

まず、検査回路１に基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が図１に示すように接続されている状態で、電源ＰＳから一定の交流電力が基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に供給される。これにより、一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２にはそれぞれ同レベルの電流が流れる。

【0020】

一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に電流が流れることで基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２にはそれぞれ磁界が生じ、二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２に誘導起電力が生じる。このとき、二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２に誘起される電力は、基準トランスＣＴ１の巻線比及び被検査トランスＣＴ２の巻線比に応じて増幅される。

【0021】

ここで、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が同じ場合には、各トランスの巻数比に応じた同じレベルの電流が基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２にそれぞれ流れることになる。
これにより、二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２、並びに基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２で形成されるループ回路に電流が流れ、基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２の共通ラインには電流が流れない。但し、ここでの「電流が流れない」との表記は、理想的な回路では電流が完全に流れないことを意味するが、実回路では微小電流が流れることを許容するものである。この微小電流については実施例の項で詳述する。
結果、当該共通ラインに設けられた電圧検出抵抗素子Ｒｄには電圧が生じないこととなる。

【0022】

一方で、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が異なる場合には、二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２に誘起される電力に差異が生じるため、基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２にかかる電圧にも差異が生じ、基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２にはそれぞれ異なるレベルの電流が流れることになる。
結果、当該共通ラインにも電流が流れ、電圧検出抵抗素子Ｒｄに電圧が生じることになる。

【0023】

このように本実施形態では、電圧検出抵抗素子Ｒｄは、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２間の中点（接続点）と基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２の中点との電位差を検出する。また、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が異なる場合には、二次側コイルＮｓ１に生じる電圧と二次側コイルＮｓ２との中点（接続点）に生じる電圧に位相差が生じるため、電圧検出抵抗素子Ｒｄはその位相差も検出することができる。
また、基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２の抵抗値が同じとされ、かつ電圧検出抵抗素子Ｒｄの抵抗値がそれらよりも高く設定されることにより、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２のコイル巻数に関係しない誤差レベルの電位差が電圧検出抵抗素子Ｒｄで検出されることを抑制することができる。

【0024】

従って、本実施形態によれば、電圧検出抵抗素子Ｒｄに生じる電圧を検出することで、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを検査することができる。更に言えば、電圧検出抵抗素子Ｒｄを基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２の共通ラインに設けることで、電圧の位相差及び電流レベルの差を検出することができるため、巻数比の高いトランスでも正確にコイル巻数が検査可能となる。

【0025】

［第二実施形態］
図２は、第二実施形態における検査回路１の回路図である。
第二実施形態は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が複数の二次側コイルを有する点において第一実施形態と異なる。
以下、第二実施形態における検査回路１について第一実施形態と異なる内容を中心に説明し、第一実施形態と同一内容については適宜省略する。

【0026】

図２の例では、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２は、二つの二次側コイル（Ｎｓ１１及びＮｓ１２）及び（Ｎｓ２１及びＮｓ２２）をそれぞれ有している。
第二実施形態における検査回路１は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の全ての二次側コイルＮｓ１１、Ｎｓ１２、Ｎｓ２１及びＮｓ２２を同相直列接続可能に構成されている。具体的には、基準トランスＣＴ１において二次側コイルＮｓ１１の正極側端子と二次側コイルＮｓ１２の負極側端子とが直列に配線され、その二次側コイルＮｓ１２の正極側端子と被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２２の負極側端子とが直列に配線され、その二次側コイルＮｓ２２の正極側端子と二次側コイルＮｓ２１の負極側端子とが直列に配線される。その上で、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１１の負極側端子と基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１２の正極側端子とが基準側ループ回路Ｌｐ１に接続され、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２２の負極側端子と被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２１の正極側端子とが被検査側ループ回路Ｌｐ２に接続される。

【0027】

このような回路構成によれば、一次側コイルの巻数に対する二次側コイルの合計巻数の比が基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２で一致しない場合には、基準側ループ回路Ｌｐ１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２の共通ラインに電流が流れ、電圧検出抵抗素子Ｒｄに電圧が生じる。
結果、複数の二次側コイルで構成されているトランスを検査対象とする場合でも、電圧検出抵抗素子Ｒｄの電圧を検出することにより、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを検査することができる。

【0028】

図２の例では、２つの二次側コイルを有するトランスが対象とされているが、３つ以上の二次側コイルを有するトランスでも、３つ以上の二次側コイルを同相直列接続することで、同様の効果を得ることができる。

【0029】

［第三実施形態］
図３は、第三実施形態における検査回路１の回路図である。
第三実施形態は、第二実施形態と同様に、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２が複数の二次側コイルを有する場合の形態であるが、第二実施形態とは異なる回路構成となっている。
以下、第三実施形態における検査回路１について第一実施形態及び第二実施形態と異なる内容を中心に説明し、第一実施形態又は第二実施形態と同一内容については適宜省略する。

【0030】

図３の例では、図２と同様に、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２は二つの二次側コイル（Ｎｓ１１及びＮｓ１２）及び（Ｎｓ２１及びＮｓ２２）をそれぞれ有している。
第三実施形態における検査回路１は、基準トランスＣＴ１の一つの二次側コイルＮｓ１１と被検査トランスＣＴ２の一つの二次側コイルＮｓ２１とを同相直列接続可能に構成されており、基準トランスＣＴ１の他の一つの二次側コイルＮｓ１２と被検査トランスＣＴ２の他の一つの二次側コイルＮｓ２２とを同相直列接続可能に構成されている。
その上で、検査回路１は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一つの二次側コイルにつき一つのループ回路がそれぞれ形成されるように構成されている。具体的には、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１１の両端間に基準側ループ回路Ｌｐ１１が形成され、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１２の両端間に基準側ループ回路Ｌｐ１２が形成され、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２１の両端間に被検査側ループ回路Ｌｐ２１が形成され、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２２の両端間に被検査側ループ回路Ｌｐ２２が形成される。
これにより、同相直列接続される二次側コイルＮｓ１１及び二次側コイルＮｓ２１の各両端間に形成される基準側ループ回路Ｌｐ１１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２１は一部に共通ラインを含んでいる。同様に、同相直列接続される二次側コイルＮｓ１２及び二次側コイルＮｓ２２の各両端間に形成される基準側ループ回路Ｌｐ１２及び被検査側ループ回路Ｌｐ２２は一部に共通ラインを含んでいる。

【0031】

更に、第三実施形態における検査回路１は、基準側抵抗素子、被検査側抵抗素子及び電圧検出抵抗素子を各トランスの二次側コイルの数と同数ずつ備えている。具体的には、検査回路１は、二つの基準側抵抗素子Ｒ１１及びＲ１２、二つの被検査側抵抗素子Ｒ２１及びＲ２２、二つの電圧検出抵抗素子Ｒｄ１及びＲｄ２を有している。
基準側抵抗素子Ｒ１１は基準側ループ回路Ｌｐ１１に設けられており、基準側抵抗素子Ｒ１２は基準側ループ回路Ｌｐ１２に設けられており、被検査側抵抗素子Ｒ２１は被検査側ループ回路Ｌｐ２１に設けられており、被検査側抵抗素子Ｒ２２は被検査側ループ回路Ｌｐ２２に設けられている。
そして、電圧検出抵抗素子Ｒｄ１は、基準側ループ回路Ｌｐ１１及び被検査側ループ回路Ｌｐ２１の共通ラインであって同相直列接続される基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ１１及びＮｓ２１間の中点と基準側抵抗素子Ｒ１１と被検査側抵抗素子Ｒ２１との中点とを結ぶ共通ラインに設けられている。電圧検出抵抗素子Ｒｄ２は、基準側ループ回路Ｌｐ１２及び被検査側ループ回路Ｌｐ２２の共通ラインであって同相直列接続される基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ１２及びＮｓ２２間の中点と基準側抵抗素子Ｒ１２と被検査側抵抗素子Ｒ２２との中点とを結ぶ共通ラインに設けられている。

【0032】

第三実施形態では、上述したように、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一つの二次側コイルにつき一つのループ回路がそれぞれ形成され、同相直列接続されている基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２それぞれ一つの二次側コイルの中点と、各ループ回路の基準側抵抗素子及び被検査側抵抗素子の中点との電位差がそれらループ回路の共通ラインに設けられた電圧検出抵抗素子により検出される。
従って、第三実施形態によれば、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の複数の二次側コイルをトランスごとに一つずつの二次側コイルのペア間でコイル巻数の検査を行うことができる。例えば、基準トランスＣＴ１の複数の二次側コイルの合計巻数と被検査トランスＣＴ２の複数の二次側コイルの合計巻数とが同じであるが、個々の二次側コイルの巻数が基準トランスＣＴ１と被検査トランスＣＴ２との間で異なる場合であっても、第三実施形態によれば、その巻数の相違を正確に検出することができる。

【0033】

図３の例では、２つの二次側コイルを有するトランスが対象とされているが、３つ以上の二次側コイルを有するトランスでも、上述のような回路構成とすることで、同様の効果を得ることができる。即ち、検査回路１が、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２それぞれ一つずつの二次側コイルどうしを同相直列接続可能であって、基準トランスＣＴ１の二次側コイルごとにそれの両端間に一つの基準側ループ回路がそれぞれ形成可能であって、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルごとにそれの両端間に一つの被検査側ループ回路がそれぞれ形成可能に構成されており、基準側抵抗素子は、各基準側ループ回路にそれぞれ設けられており、被検査側抵抗素子は、各被検査側ループ回路にそれぞれ設けられており、電圧検出抵抗素子は、基準側ループ回路及び被検査側ループ回路の共通ラインであって同相直列接続されている基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の二次側コイル間の中点とその基準側ループ回路に設けられた基準側抵抗素子とその被検査側ループ回路に設けられた被検査側抵抗素子との中点とを結ぶ共通ラインに設けられているようにすればよい。

【0034】

［変形例］
上述の各実施形態における検査回路１はそれぞれ一例である。上述の各実施形態における検査回路１は、上述の構成のみに限定されるわけではなく、部分的に適宜変形されてもよい。
例えば、上述の各実施形態において、電圧検出抵抗素子を電圧検出のためのトランスに置き換えることができる。例えば、上述の各実施形態の電圧検出抵抗素子に代えて電圧検出トランスの一次側コイルを配置し、その電圧検出トランスの二次側の回路で検出された電圧を用いて、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを判定するようにすればよい。
上述の各実施形態における電圧検出抵抗素子及び本変形例における電圧検出トランスは、電圧検出手段と表記することができる。

【0035】

以下に実施例を挙げ、上述の内容を更に詳細に説明する。但し、以下の実施例の記載は、上述の内容に何ら限定を加えるものではない。

【実施例0036】

実施例１では、上述の第一実施形態の効果を実証した結果を示す。
実施例１では、図１に示される第一実施形態の検査回路１が用いられ、正弦波定電流電源ＰＳから定格電流（周波数１００ｋＨｚ、１０Ａｒｍｓ）を基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に入力して、二次側コイルＮｓ１及びＮｓ２、基準側抵抗素子Ｒ１、被検査側抵抗素子Ｒ２、電圧検出抵抗素子Ｒｄにかかる電圧を測定した。

【0037】

また、実施例１では、基準トランスＣＴ１を巻数比２００対１のトランスとし、抵抗値８０Ωの基準側抵抗素子Ｒ１及び被検査側抵抗素子Ｒ２、並びに抵抗値１０ｋΩの電圧検出抵抗素子Ｒｄを採用した。
また、被検査トランスＣＴ２として１４種類のサンプルトランスが準備され、その準備された検査対象用の１４種類のサンプルトランスが順次交換されて、各ポイントでの電圧を測定した。
１４種類のサンプルトランスは次のとおりである。
・サンプル１９８Ｔ－０１＝巻数比１９８対１のサンプルトランス
・サンプル１９８Ｔ－０２＝巻数比１９８対１のサンプルトランス
・サンプル１９８Ｔ－０３＝巻数比１９８対１のサンプルトランス
・サンプル１９９Ｔ－０１＝巻数比１９９対１のサンプルトランス
・サンプル１９９Ｔ－０２＝巻数比１９９対１のサンプルトランス
・サンプル１９９Ｔ－０３＝巻数比１９９対１のサンプルトランス
・サンプル２００Ｔ－０２＝巻数比２００対１のサンプルトランス
・サンプル２００Ｔ－０３＝巻数比２００対１のサンプルトランス
・サンプル２０１Ｔ－０１＝巻数比２０１対１のサンプルトランス
・サンプル２０１Ｔ－０２＝巻数比２０１対１のサンプルトランス
・サンプル２０１Ｔ－０３＝巻数比２０１対１のサンプルトランス
・サンプル２０２Ｔ－０１＝巻数比２０２対１のサンプルトランス
・サンプル２０２Ｔ－０２＝巻数比２０２対１のサンプルトランス
・サンプル２０２Ｔ－０３＝巻数比２０２対１のサンプルトランス
このように実施例１では、基準トランスＣＴ１とはコイル巻数が１巻きから２巻き異なるサンプルトランスをそれぞれ複数個準備して巻数の差異が検出できることを実測により確認した。

【0038】

図４は、第一実施形態のトランス巻数検査回路１における二次側の各ポイントでの電圧の測定結果を示す表である。図４には、基準側抵抗素子Ｒ１で実測された電圧（Ｖｒ１）、被検査側抵抗素子Ｒ２で実測された電圧（Ｖｒ２）、基準トランスＣＴ１の二次側コイルＮｓ１で実測された電圧（Ｖｎｓ１）、被検査トランスＣＴ２の二次側コイルＮｓ２で実測された電圧（Ｖｎｓ２）、及び電圧検出抵抗素子Ｒｄで実測された電圧（Ｖｒｄ）がそれぞれ実効値（Ｖｒｍｓ）で示されている。

【0039】

図４によれば、基準トランスＣＴ１とコイル巻数が同じサンプルトランス（２００Ｔ－０２及び２００Ｔ－０３）が被検査トランスＣＴ２とされた場合には、電圧検出抵抗素子Ｒｄで生じる電圧が０．１２５Ｖｒｍｓ及び０．２６１Ｖｒｍｓであるのに対して、基準トランスＣＴ１とコイル巻数が１回以上多い又は少ないサンプルトランスが被検査トランスＣＴ２とされた場合には、電圧検出抵抗素子Ｒｄで生じる電圧が２．０１３Ｖｒｍｓ以上となっていることが分かる。即ち、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１と同じ場合と１巻きでも異なる場合とで、電圧検出抵抗素子Ｒｄで計測される電圧に大きな差（約１０倍）が現れている。
従って、実施例１によれば、電圧検出抵抗素子Ｒｄに生じる電圧により、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを検査することができること、更に言えば、巻数比が比較的高いトランスにおいてコイル巻数１巻きの違いでも正確に検出できることが実証された。

【実施例0040】

実施例２では上述の第一実施形態の検査回路１の応用例を示す。
図５は、第一実施形態におけるトランス巻数検査回路１の応用回路の回路図である。以降、図５に示される応用回路を本応用回路と表記する。
本応用回路は、第一実施形態における検査回路１を含んでいる。図１に例示される検査回路１の構成と同一構成には図５でも同一符号が付されている。
端子Ｎｐ１－１は図１の電源端子ＰＴ１に相当し、端子Ｎｐ２－２は図１の電源端子ＰＴ２に相当する。また、端子Ｎｐ１－２は基準トランスＣＴ１の一次側コイルＮｐ１の正極側に繋がれる接続端子であり、端子Ｎｐ２－１は被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ２の負極側に繋がれる接続端子である。

【0041】

本応用回路は、電源回路、発振回路、定電流電源回路ＤＳ及び直列共振型ハーフブリッジインバーター回路（以降、インバーター回路と略称する場合もある）１０を更に含んでおり、これらにより正弦波定電流を検査回路１における基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に供給する。

【0042】

インバーター回路１０は、ＦＥＴ（Field Effect Transistor）駆動回路ＦＭ、抵抗素子Ｒ１０１及びＲ１０２、トランジスタＱ１０１及びＱ１０２、コンデンサＣ１０１、コイルＬ１０１等を有している。
コンデンサＣ１０１及びコイルＬ１０１は、基準トランスＣＴ１及び被検査トランスＣＴ２の一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２を介して直列に接続されており、直列共振回路を構成する。この直列共振回路は、トランジスタＱ１０１のソースに接続されると共に、トランジスタＱ１０２のドレイン・ソース間に設けられている。これにより、トランジスタＱ１０１がオン状態でかつトランジスタＱ１０２がオフ状態である場合には、コイルＬ１０１からコンデンサＣ１０１に向けて電流が流れるのに対して、トランジスタＱ１０１がオフ状態でトランジスタＱ１０２がオン状態である場合には、コンデンサＣ１０１に蓄電された電力によりコンデンサＣ１０１からコイルＬ１０１に向けて電流が流れる。
このようにＦＥＴ駆動回路ＦＭがトランジスタＱ１０１及びＱ１０２のＯＮ状態及びＯＦＦ状態を交互に切り替えることで、コンデンサＣ１０１及びコイルＬ１０１を共振させて正弦波電流を一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に供給している。

【0043】

また、本応用回路は、インバーター回路１０から一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に流れる電流を検出して、定電流電源回路ＤＳへフィードバック信号を送る回路構成要素を更に含んでいる。このような回路構成要素としては、カレントトランスＣＴ１００、抵抗素子Ｒ２０１、Ｒ２０２及びＲ２０３、ダイオードＤ２０１、Ｄ２０２、Ｄ２０３及びＤ２０４、コンデンサＣ２０１が設けられている。

【0044】

インバーター回路１０から一次側コイルＮｐ１及びＮｐ２に流れる電流がカレントトランスＣＴ１００の一次側コイルにも流れ、これによりカレントトランスＣＴ１００の二次側コイルＮｃにもコイル巻数比に応じた電流が誘起される。当該二次側コイルＮｃで誘起された交流電力は、抵抗素子Ｒ２０１、Ｒ２０２及びＲ２０３、ダイオードＤ２０１、Ｄ２０２、Ｄ２０３及びＤ２０４、並びにコンデンサＣ２０１により整流及び平滑化されて直流電圧に変換され、定電流電源回路ＤＳに直流電圧信号としてフィードバックされる。
定電流電源回路ＤＳは、この直流電圧信号のフィードバックを受けて、インバーター回路１０に一定の電力を提供できるように制御する。

【0045】

更に、本応用回路は、検査回路１の電圧検出抵抗素子Ｒｄに生じる電圧に応じて、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを判定し、その判定結果を提示するための回路構成要素を含んでいる。このような回路構成要素としては、ダイオードＤ３０１、コイルＣ３０１、抵抗素子Ｒ３０１、及び判定提示回路３０が設けられている。
電圧検出抵抗素子Ｒｄにかかる交流電圧は、ダイオードＤ３０１、コイルＣ３０１及び抵抗素子Ｒ３０１で整流及び平滑化されることで直流電圧（以降、検出電圧と表記される場合もある）に変換され、判定提示回路３０に入力される。このため、少なくともダイオードＤ３０１は、電圧検出抵抗素子Ｒｄで検出される交流電圧を整流して直流電圧に変換する整流回路と表記できる。

【0046】

判定提示回路３０では、当該検出電圧が比較器ＣＭ１の反転端子に入力され、一方で電源回路から供給される直流電力が抵抗素子Ｒ３０２及びＲ３０３で分圧されて基準電圧として比較器ＣＭ１の非反転端子及び比較器ＣＭ２の反転端子に入力される。
比較器ＣＭ１は、検出電圧のレベルが基準電圧のレベルに対して高い（ＨＩ）か低い（ＬＯＷ）かを判定し、ＨＩ／ＬＯＷを比較器ＣＭ２の非反転端子に入力する。比較器ＣＭ２は、比較器ＣＭ１のＨＩ／ＬＯＷ出力と基準電圧とを比較して結果を出力し、比較器ＣＭ２の出力によりＬＥＤ素子のＯＮ／ＯＦＦが切り替えられる。
このため、比較器ＣＭ１及びＣＭ２は、整流回路で変換された直流電圧を基準電圧と比較する比較器と表記することができ、ＬＥＤ素子は、比較器の出力に基づいて被検査トランスのコイル巻数の検査結果を出力する出力手段と表記することができる。

【0047】

これにより、本応用回路では、電圧検出抵抗素子Ｒｄで検出された電圧が所定閾値よりも高い場合には、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致していないと判定して、ＬＥＤ素子がＯＮ状態とされ（点灯し）、電圧検出抵抗素子Ｒｄで検出された電圧が所定閾値よりも低い場合には、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致していると判定して、ＬＥＤ素子がＯＦＦ状態とされる（消灯する）。
従って、本応用回路によれば、ＬＥＤ素子の点灯状態を見ることで、被検査トランスＣＴ２のコイル巻数が基準トランスＣＴ１のコイル巻数と一致しているか否かを直ちに判定することができる。

【0048】

実施例２の応用回路では、被検査トランスのコイル巻数の検査結果を出力する出力手段としてＬＥＤ素子が用いられたが、検査結果を音で出力する発音素子等のような他の出力手段が用いられてもよい。

【0049】

上述の実施形態及び変形例の一部又は全部は、次のようにも特定され得る。但し、上述の実施形態及び変形例が以下の記載に制限されるものではない。

【0050】

（１）
基準トランスを基準として被検査トランスのコイル巻数を検査可能なトランス巻数検査回路であって、
前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルに交流電力を供給可能に構成されており、
前記基準トランス及び前記被検査トランスの一次側コイルどうし及び二次側コイルどうしをそれぞれ同相直列接続可能に構成されており、
前記基準トランスの二次側コイルの両端間に形成される基準側ループ回路に含まれる基準側抵抗素子と、
前記被検査トランスの二次側コイルの両端間に形成される被検査側ループ回路に含まれる被検査側抵抗素子と、
前記基準側ループ回路及び前記被検査側ループ回路の共通ラインであって前記基準トランス及び前記被検査トランスの二次側コイル間の中点と前記基準側抵抗素子及び前記被検査側抵抗素子の中点とを結ぶ該共通ラインに設けられた電圧検出手段と、
を備えるトランス巻数検査回路。
（２）
前記被検査側抵抗素子は、前記基準側抵抗素子と抵抗値が同じであり、
前記電圧検出手段は、前記基準側抵抗素子及び前記被検査側抵抗素子よりも抵抗値が高い抵抗素子である、
（１）に記載のトランス巻数検査回路。
（３）
前記電圧検出手段で検出される交流電圧を整流して直流電圧に変換する整流回路と、
前記整流回路で変換された前記直流電圧を基準電圧と比較する比較器と、
前記比較器の出力に基づいて前記被検査トランスのコイル巻数の検査結果を出力する出力手段と、
を更に備える（１）又は（２）に記載のトランス巻数検査回路。
（４）
前記基準トランス及び前記被検査トランスは複数の二次側コイルをそれぞれ有しており、
前記基準トランス及び前記被検査トランスそれぞれ一つずつの二次側コイルどうしを同相直列接続可能であって、前記基準トランスの二次側コイルごとに該二次側コイルの両端間に一つの基準側ループ回路がそれぞれ形成可能であって、前記被検査トランスの二次側コイルごとに該二次側コイルの両端間に一つの被検査側ループ回路がそれぞれ形成可能に構成されており、
前記基準側抵抗素子は、各基準側ループ回路にそれぞれ設けられており、
前記被検査側抵抗素子は、各被検査側ループ回路にそれぞれ設けられており、
前記電圧検出手段は、前記基準側ループ回路及び前記被検査側ループ回路の共通ラインであって同相直列接続されている前記基準トランス及び前記被検査トランスの二次側コイル間の中点と該基準側ループ回路に設けられた前記基準側抵抗素子と該被検査側ループ回路に設けられた前記被検査側抵抗素子との中点とを結ぶ共通ラインに設けられている、
（１）から（３）のいずれか一つに記載のトランス巻数検査回路。