特開 2023-71577 キャパシタ部品

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023071577

(43)【公開日】2023-05-23

(54)【発明の名称】キャパシタ部品

(51)【国際特許分類】

   H01G 4/30 20060101AFI20230516BHJP

【ＦＩ】

H01G4/30 201L

H01G4/30 201M

H01G4/30 201N

H01G4/30 201G

H01G4/30 515

H01G4/30 516

【審査請求】未請求

【請求項の数】11

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022057618

(22)【出願日】2022-03-30

(31)【優先権主張番号】10-2021-0154819

(32)【優先日】2021-11-11

(33)【優先権主張国・地域又は機関】KR

(71)【出願人】

【識別番号】594023722

【氏名又は名称】サムソン エレクトロ－メカニックス カンパニーリミテッド．

(74)【代理人】

【識別番号】110000877

【氏名又は名称】弁理士法人ＲＹＵＫＡ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】チャ、ジン ウク

(72)【発明者】

【氏名】リー、チャン ミン

(72)【発明者】

【氏名】ヨーン、ヒェ スン

(72)【発明者】

【氏名】ジャン、セオン エー

(72)【発明者】

【氏名】リム、ジ ヒュク

(72)【発明者】

【氏名】リー、キ ヨン

【テーマコード（参考）】

5E001

5E082

【Ｆターム（参考）】

5E001AB03

5E001AE00

5E001AF06

5E082AA01

5E082AB03

5E082EE01

5E082FF05

5E082FG26

5E082GG10

(57)【要約】      （修正有）

【課題】信頼性を向上させるキャパシタ部品を提供する。
【解決手段】キャパシタ部品は、誘電体層１１１と、第１内部電極層１２１及び第２内部電極層１２２を含む本体と、本体に配置され、第１内部電極層及び第２内部電極層と連結された外部電極と、を含む。本体は、誘電体層を間に挟んで第１内部電極層及び第２内部電極層が互いに交互に配置された活性部１１０Ａと、活性部の上部及び下部に形成されたカバー部１１０Ｃと、活性部の互いに相対する両側端部に配置されたサイドマージン部１１０Ｍと、を有する。活性部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＡ１、カバー部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＣ１、サイドマージン部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＭ１とするとき、０＜Ａ１＜Ｍ１≦Ｃ１及びＡ１／Ｃ１≦０．６０を満たす。
【選択図】図３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

誘電体層と、第１及び第２内部電極層を含む本体と、
前記本体に配置され、前記第１及び第２内部電極層と連結された外部電極と、を含み、
前記本体は、
前記誘電体層を間に挟んで前記第１及び第２内部電極層が互いに交互に配置された活性部と、前記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、前記活性部の互いに相対する両側端部に配置されたサイドマージン部と、を有し、
前記活性部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＡ１、前記カバー部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＣ１、及び前記サイドマージン部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＭ１とするとき、０＜Ａ１＜Ｍ１≦Ｃ１、及びＡ１／Ｃ１≦０．６０を満たす、キャパシタ部品。

【請求項2】

前記誘電体層の平均厚さは４００ｎｍ以下である、請求項１に記載のキャパシタ部品。

【請求項3】

前記誘電体層は、厚さの相対標準偏差が２０％以下である、請求項１または２に記載のキャパシタ部品。

【請求項4】

前記第１内部電極層の平均厚さは４００ｎｍ以下である、請求項１から３のいずれか一項に記載のキャパシタ部品。

【請求項5】

前記第１内部電極層は、厚さの相対標準偏差が２０％以下である、請求項１から４のいずれか一項に記載のキャパシタ部品。

【請求項6】

前記活性部の空隙率は０．０１％以下である、請求項１から５のいずれか一項に記載のキャパシタ部品。

【請求項7】

前記活性部の空隙率をＡ２、前記カバー部の空隙率をＣ２、及び前記サイドマージン部の空隙率をＭ２とするとき、Ａ２／Ｃ２≧０．００３、及びＭ２／Ｃ２≧０．２４を満たす、請求項１から６のいずれか一項に記載のキャパシタ部品。

【請求項8】

前記外部電極は、
前記本体に配置された第１電極層、及び前記第１電極層に配置された第２電極層を含む、請求項１から７のいずれか一項に記載のキャパシタ部品。

【請求項9】

前記第２電極層は、ニッケル（Ｎｉ）及び錫（Ｓｎ）のうち少なくとも一つを含む、請求項８に記載のキャパシタ部品。

【請求項10】

誘電体層と、第１及び第２内部電極層を含む本体と、
前記本体に配置され、前記第１及び第２内部電極層と連結された外部電極と、を含み、
前記本体は、
前記誘電体層を間に挟んで前記第１及び第２内部電極層が互いに交互に配置された活性部と、前記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、前記活性部の互いに相対する両側端部に配置されたサイドマージン部と、を有し、
前記活性部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＡ１、前記カバー部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＣ１、及び前記サイドマージン部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＭ１とするとき、０＜Ａ１＜Ｍ１≦Ｃ１を満たし、
前記活性部の空隙率は０．０１％以下である、キャパシタ部品。

【請求項11】

前記活性部の空隙率をＡ２、前記カバー部の空隙率をＣ２、及び前記サイドマージン部の空隙率をＭ２とするとき、Ａ２／Ｃ２≧０．００３、及びＭ２／Ｃ２≧０．２４を満たす、請求項１０に記載のキャパシタ部品。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、キャパシタ部品に関するものである。

【背景技術】

【0002】

キャパシタ部品の一つであるＭＬＣＣは、小型でありながらも高容量が保障され、実装が容易であるという利点により、通信、コンピュータ、家電、自動車などの産業に使用される重要なチップ部品であり、特に、携帯電話、コンピュータ、デジタルＴＶなど、各種電気、電子、情報通信機器に使用される核心受動素子である。

【0003】

ＭＬＣＣの高性能化への要求に伴って誘電体層はますます薄くなっている。しかし、誘電体層が薄くなる場合、容量を向上させることはできるが、例として、カバー部及びマージン部の厚さも薄くなって耐湿信頼性が低下するという問題点が発生する可能性がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】韓国公開特許第２０２１－００７１４９６号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本発明のいくつかの目的の一つは、信頼性を向上させることができるキャパシタ部品を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の一側面は、誘電体層と、第１及び第２内部電極層を含む本体と、上記本体に配置され、上記第１及び第２内部電極層と連結された外部電極と、を含み、上記本体は、上記誘電体層を間に挟んで上記第１及び第２内部電極層が互いに交互に配置された活性部と、上記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、上記活性部の互いに相対する両側端部に配置されたサイドマージン部と、を有し、上記活性部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＡ１、上記カバー部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＣ１、及び上記サイドマージン部に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＭ１とするとき、０＜Ａ１＜Ｍ１≦Ｃ１、及びＡ１／Ｃ１≦０．６０を満たすキャパシタ部品を提供する。

【発明の効果】

【0007】

本発明の一実施形態によると、キャパシタ部品の信頼性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】本発明の一実施形態によるキャパシタ部品を概略的に示す図である。

【図2】図１のＩ－Ｉ'線に沿った断面を概略的に示す図である。

【図3】図１のＩＩ－ＩＩ'線に沿った断面を概略的に示す図である。

【図4】誘電体層及び内部電極層のそれぞれの厚さ測定のために、図１のＩＩ－ＩＩ'線に沿った断面に示された活性部を９つの領域に分割したことを概略的に示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下では、添付の図面を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。しかし、本発明の実施形態は様々な他の形態に変形されることができ、本発明の範囲は以下で説明する実施形態に限定されない。また、本発明の実施形態は、当該技術分野で平均的な知識を有する者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために誇張することがある。また、各の実施形態の図面における同一思想の範囲内の機能が同一である構成要素については同一の参照符号を用いて説明する。

【0010】

なお、明細書全体において、ある構成要素を「含む」というのは、特に反対される記載がない限り、他の構成要素を除外するのではなく、他の構成要素をさらに含むことができることを意味する。また、明細書全体において、「上に」形成されるというのは、直接的に接触して形成されることを意味するだけでなく、その中に他の構成要素をさらに含んでもよいことを意味することができるものとして文脈に応じて適切に解釈されるべきである。

【0011】

そして、図面において本発明を明確に説明するために説明と関係のない部分は省略し、複数の層及び領域を明確に表現するために厚さを拡大して示し、明細書全体にわたって類似の部分については類似の図面符号を付する。

【0012】

図１は本発明の一実施形態によるキャパシタ部品を概略的に示す図であり、図２は図１のＩ－Ｉ'線に沿った断面を概略的に示す図であり、図３は図１のＩＩ－ＩＩ'線に沿った断面を概略的に示す図である。図１～図３を参照すると、本発明の一実施形態によるキャパシタ部品１００は、本体１１０と、第１及び第２外部電極１３０、１４０とを含む。

【0013】

本発明の一実施形態において、本体１１０は形状における特別な限定はないが、実質的に六面体形状であってよい。すなわち、本体１１０は、内部電極層１２１、１２２の配置による厚さの差及び角部の研磨によって、完全な六面体形状ではないが、実質的に六面体に近い形状を有することができる。

【0014】

本発明の実施形態を明確に説明するために、六面体の方向を定義すると、図面上に示されているＬ、Ｗ及びＴはそれぞれ長さ方向、幅方向及び厚さ方向を示す。ここで、厚さ方向は、誘電体層が積層された積層方向と同じ概念で使用することができる。

【0015】

また、本体１１０において、Ｔ方向に互いに対向する両面を第１及び第２面１、２と定義し、第１及び第２面１、２と連結され、Ｌ方向に互いに対向する両面を第３及び第４面３、４と定義し、第１及び第２面１、２と連結され、第３及び第４面３、４と連結され、Ｗ方向に互いに対向する両面を第５及び第６面５、６と定義する。このとき、第１面１は実装面となることができる。

【0016】

本体１１０は、キャパシタの容量形成に寄与する部分としての活性部１１０Ａ、活性部１１０Ａの上下部にそれぞれ形成されるカバー部１１０Ｃ、及び活性部１１０Ａの幅方向に相対する両側端部に配置されたサイドマージン部１１０Ｍを含むことができる。

【0017】

活性部１１０Ａは、複数の誘電体層１１１と、誘電体層１１１を間に挟んで複数の第１及び第２内部電極層１２１、１２２が交互に積層される構造からなることができる。

【0018】

誘電体層１１１は、高誘電率を有するセラミック粉末、例えば、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３）系又はチタン酸ストロンチウム（ＳｒＴｉＯ３）系粉末を用いて形成することができるが、本発明はこれに限定されるものではない。ここで、例として、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３）系粉末を用いて誘電体層１１１が形成されるとは、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３）粉末を主成分として、主成分に副成分の粉末を追加したものを用いたことを意味することができる。副成分は、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３）のペロブスカイト構造（ＡＢＯ３）において、バリウム（Ｂａ）及び／又はチタン（Ｔｉ）の格子位置、すなわち、Ａ－ｓｉｔｅ及び／又はＢ－ｓｉｔｅを置換（ｓｕｂｓｔｉｔｕｔｅ）又は侵入（ｉｎｔｅｒｓｔｉｔｉａｌ）することができる元素のカチオンを含む化合物（酸化物及び窒化物などを意味する）を含むことができる。一方、後述するように、誘電体層１１１はマグネシウム（Ｍｇ）を含む。

【0019】

第１及び第２内部電極層１２１、１２２は、誘電体層１１１を間に挟んで互いに相対するように配置されることができる。第１及び第２内部電極層１２１、１２２は、誘電体層１１１を形成するための誘電体グリーンシート上に所定の厚さで導電性金属を含む導電性ペーストを印刷して誘電体グリーンシートを間に挟んで誘電体グリーンシートの積層方向に沿って積層された後、このような積層体を焼結することにより形成することができる。第１及び第２内部電極層１２１、１２２は、積層体が焼結して形成された本体１１０の第３及び第４面３、４を介して交互に露出するように形成されることができ、中間に配置された誘電体層１１１によって互いに電気的に絶縁されることができる。

【0020】

このような第１及び第２内部電極層１２１、１２２は、本体１１０の第３及び第４面３、４を介して交互に露出する部分によって第１及び第２外部電極１３０、１４０とそれぞれ電気的に連結されることができる。

【0021】

したがって、第１及び第２外部電極１３０、１４０に電圧を印加すると、互いに対向する第１及び第２内部電極層１２１、１２２の間に電荷が蓄積され、このとき、キャパシタ部品１００の静電容量は、第１及び第２内部電極層１２１、１２２の互いに重なる領域の面積に比例する。

【0022】

誘電体層１１１及び内部電極層１２１、１２２のそれぞれの平均厚さは４００ｎｍ以下であってよい。誘電体層１１１及び内部電極層１２１、１２２のそれぞれの平均厚さが４００ｎｍ以下に形成されるため、本実施形態によるキャパシタ部品１を薄型化するのに有利である。ここで、誘電体層１１１の平均厚さとは、Ｌ方向の中央部からとった本体１００のＷＴ断面に現れた活性部１１０Ａを図４に示すように９つの領域に分割し、当該領域のそれぞれに対する光学顕微鏡画像又はＳＥＭ画像を用いて誘電体層１１１のＴ方向に沿った数値（ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ）を測定し、これらの値を算術平均したものであってよい。ここで、９つの領域は、図４に示すように、幅方向Ｗ及び厚さ方向Ｔに等間隔であってよいが、これに限定されるものではない。さらに、９つの領域のそれぞれは、図４に示すように、２つの内部電極層１２１、１２２と１つの誘電体層１１１とで構成される大きさであってよいが、これに限定されるものではない。他の例として、９つの領域のそれぞれは、８つの内部電極層１２１、１２２と７つの誘電体層１１１とで構成される大きさであってよい。内部電極層１２１、１２２の平均厚さも、前述した誘電体層１１１の平均厚さの測定方法と同様の方法で取得することができる。

【0023】

誘電体層１１１及び内部電極層１２１、１２２のそれぞれは、厚さの相対標準偏差が２０％以下であってよい。誘電体層１１１及び内部電極層１２１、１２２のそれぞれの厚さの相対標準偏差が２０％以下に形成されると、内部電極層１２１、１２２の電極凝集現象が減少することができ、部品の特性が向上することができる。ここで、誘電体層１１１の厚さの相対標準偏差は、前述の方法で９つの領域のそれぞれについて誘電体層１１１のＴ方向に沿った数値（ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ）を取得し、これらを算術平均して平均厚さを取得し、上記数値の標準偏差を計算して、標準偏差を平均厚さで除し、これに１００を乗じたものであってよい。内部電極層１２１、１２２の厚さの相対標準偏差も、前述した誘電体層１１１の厚さの相対標準偏差の計算方法と同様の方法で計算することができる。

【0024】

カバー部１１０Ｃは、内部電極層を含まないことを除いては、上記活性部１１０Ａの誘電体層１１１と類似の材料で形成することができる。具体的に、カバー部１１０Ｃは、誘電体層１１１と異なる材料のセラミック誘電体粉末を用いて形成することができる。ここで、カバー部１１０Ｃが誘電体層１１１と異なる材料のセラミック誘電体粉末を用いて形成されるとは、カバー部１１０Ｃの形成のために用いられる誘電体粉末と、誘電体層１１１の形成のために用いられる誘電体粉末が、互いに同じ元素で構成されるが、これらの間の比が異なることを意味することもでき、前述した副成分の元素の種類が異なることを意味することもでき、前述した副成分の元素の含量が異なることを意味することもできる。一方、後述するように、カバー部１１０Ｃはマグネシウム（Ｍｇ）を含む。

【0025】

カバー部１１０Ｃは、単一の誘電体層又は２つ以上の誘電体層を上記活性部１１０Ａの上下面にそれぞれＴ方向に積層して形成されたものと見なすことができ、基本的に物理的又は化学的ストレスによる第１及び第２内部電極層１２１、１２２の損傷を防止する役割を果たすことができる。

【0026】

サイドマージン部１１０Ｍは、内部電極層を含まないことを除いては、上記活性部１１０Ａの誘電体層１１１と類似の材料で形成することができる。具体的に、サイドマージン部１１０Ｍは、誘電体層１１１と異なる材料のセラミック誘電体粉末を用いて形成することができる。ここで、サイドマージン部１１０Ｍが誘電体層１１１と異なる材料のセラミック誘電体粉末を用いて形成されるとは、サイドマージン部１１０Ｍの形成のために用いられる誘電体粉末と、誘電体層１１１の形成のために用いられる誘電体粉末が、互いに同じ元素で構成されるが、これらの間の比が異なることを意味することもでき、前述した副成分の元素の種類が異なることを意味することもでき、前述した副成分の元素の含量が異なることを意味することもできる。一方、後述するように、サイドマージン部１１０Ｍはマグネシウム（Ｍｇ）を含む。

【0027】

サイドマージン部１１０Ｍは、単一の誘電体層又は２つ以上の誘電体層を上記活性部１１０Ａの幅方向Ｗに相対する両側端面にそれぞれ幅方向Ｗに積層して形成されたものと見なすことができ、基本的に物理的又は化学的ストレスによる第１及び第２内部電極層１２１、１２２の損傷を防止する役割を果たすことができる。

【0028】

活性部１１０Ａに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＡ１、カバー部１１０Ｃに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＣ１、及びサイドマージン部１１０Ｍに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量をＭ１とするとき、０＜Ａ１＜Ｍ１≦Ｃ１、及びＡ１／Ｃ１≦０．６０を満たす。Ａ１がＭ１又はＣ１より大きいか、又はＡ１／Ｃ１の比が０．６０を超える場合は、耐湿信頼性が低下する可能性がある。

【0029】

活性部１１０Ａに含まれたマグネシウムの含量Ａ１は、キャパシタ部品１の長さ方向Ｌの中央からとった幅方向－厚さ方向の断面（ＷＴ断面）において、活性部１１０Ａの誘電体層１１１の複数の地点に対してＴＥＭ－ＥＤＳマッピング（又はＳＥＭ－ＥＤＳマッピング）を行い、各地点別にマグネシウム（Ｍｇ）の含量を取得し、これを算術平均して導出することができる。ここで、複数の地点は、少なくとも３以上の地点を意味することができ、互いに等間隔に離隔することができるが、本発明の範囲がこれに限定されるものではない。カバー部１１０Ｃに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量Ｃ１、及びサイドマージン部１１０Ｍに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量Ｍ１のそれぞれも、前述したＡ１の測定方法と同様の方法で測定することができる。

【0030】

活性部１１０Ａの空隙率をＡ２、カバー部１１０Ｃの空隙率をＣ２、及びサイドマージン部１１０Ｍの空隙率をＭ２とするとき、Ａ２は０．０１％以下であってよい。そして、Ａ２／Ｃ２≧０．００３、及びＭ２／Ｃ２≧０．２４を満たすことができる。Ａ２が０．０１％を超える場合は、耐湿信頼性が低下する可能性がある。Ａ２／Ｃ２の比が０．００３を超える場合やＭ２／Ｃ２の比が０．２４未満の場合にも耐湿信頼性が低下する可能性がある。

【0031】

活性部１１０Ａの空隙率であるＡ２は、キャパシタ部品１の長さ方向Ｌの中央からとった幅方向－厚さ方向の断面（ＷＴ断面）において、活性部１１０Ａの誘電体層１１１の複数の領域について、各領域別に空隙（ｐｏｒｅ）の面積を計算して取得することができる。当該領域において空隙及び非空隙別面積は、例として、上記断面に対する光学顕微鏡画像又はＳＥＭ画像を取得した後、ＯＢＪＥＣＴ ＡＲＥＡ ＴＯＯＬを用いて当該画像から空隙及び非空隙を区別して取得することができる。そして、空隙率Ａ２は、上記領域の総面積に対する空隙の総面積の比で取得することができる。ここで、複数の領域を互いに等間隔に離隔することができ、互いに同じ面積を有するように選択することができるが、本発明の範囲はこれに限定されるものではない。カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ２、及びサイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２のそれぞれも前述したＡ２の測定方法と同様の方法で測定することができる。

【0032】

下記の表１は、活性部１１０Ａの形成のために誘電体組成物に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量（ｍｏｌ）、カバー部１１０Ｃの形成のために誘電体組成物に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量（ｍｏｌ）、及びサイドマージン部１１０Ｍの形成のために誘電体組成物に含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量（ｍｏｌ）を変化させた場合の、焼結後の製品における活性部１１０Ａに含まれたマグネシウムの含量Ａ１（ｗｔ％）、カバー部１１０Ｃに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量Ｃ１（ｗｔ％）、及びサイドマージン部１１０Ｍに含まれたマグネシウム（Ｍｇ）の含量Ｍ１（ｗｔ％）の変化を示す。また、焼結後の製品における活性部１１０Ａの空隙率Ａ２（％）、カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ１（％）、及びサイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２（％）の変化を示す。

【0033】

耐湿信頼性の評価８５８５は、各実験例当たり４００個のサンプルについて、温度８５℃、相対湿度８５％、及び印加電圧６．３Ｖを実験条件にして、時間ｔによる絶縁抵抗ＩＲの変化を測定して行われた。実験時間の間、絶縁抵抗が初期の絶縁抵抗に比べて２ｏｒｄｅｒ以上（１０２以上）低下するサンプルを不良と判定し、各実験例別に不良サンプルの個数を数えて表１に示した。

【0034】

【表1】

【0035】

表１を参照すると、実験例１の場合、カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ２が６．６％、サイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２が１．１％、活性部１１０Ａの空隙率Ａ２が０．０１％であることが分かる。実験例１の場合、Ａｌ／Ｃ１が０．７０であって０．６０を超え、Ａ２／Ｃ２が０．００１５であって０．００３未満の値を有する。また、Ｍ２／Ｃ２が０．１７であって０．２４未満の値を有する。その結果、耐湿信頼性の評価で不良が発生することが分かる。

【0036】

実験例２の場合、カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ２が３．８％、サイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２が０．７％、活性部１１０Ａの空隙率Ａ２が０．０１％であることが分かる。実験例２の場合、Ａｌ／Ｃ１が０．７０であって０．６０を超え、Ａ２／Ｃ２が０．００２６であって０．００３未満の値を有する。また、Ｍ２／Ｃ２は０．１８であって０．２４未満の値を有する。その結果、耐湿信頼性の評価で不良が発生することが分かる。

【0037】

実験例３の場合、カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ２が３．３％、サイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２が０．８％、活性部１１０Ａの空隙率Ａ２が０．０１％であることが分かる。実験例３の場合、Ａｌ／Ｃ１が０．６０、Ａ２／Ｃ２が０．００３０、Ｍ２／Ｃ２が０．２４である。その結果、耐湿信頼性の評価で不良が発生しないことが分かる。

【0038】

実験例４の場合、カバー部１１０Ｃの空隙率Ｃ２が０．９５％、サイドマージン部１１０Ｍの空隙率Ｍ２が０．９％、活性部１１０Ａの空隙率Ａ２が０．０１％であることが分かる。実験例４の場合、Ａｌ／Ｃ１が０．６０、Ａ２／Ｃ２が０．０１０５、０．００３以上であり、Ｍ２／Ｃ２が０．９５であって０．２４以上である。その結果、耐湿信頼性の評価で不良が発生しないことが分かる。

【0039】

外部電極１３０、１４０は本体１００の第３及び第４面３、４に配置されて、内部電極層１２１、１２２と連結される。具体的に、第１外部電極１３０は本体１１０の第３面３に配置されて本体１１０の第３面３に露出した第１内部電極層１２１と連結される。第２外部電極１４０は本体１１０の第４面４に配置されて本体１１０の第４面４に露出した第２内部電極層１２２と連結される。第１及び第２外部電極１３０、１４０は、第１電極層１３１、１４１、及び第１電極層１３１、１４１上に配置される第２電極層１３２、１４２をそれぞれ含むことができる。一方、第１及び第２外部電極１３０、１４０は、内部電極層１２１、１２２との連結関係、及び本体１１０に形成された位置のみが異なる。したがって、以下では、説明の便宜上、本体１１０の第３面３に配置された第１外部電極１３０を中心に説明し、第２外部電極１４０に対する説明は省略する。第１外部電極１３０に対する後述の説明は、第２外部電極１４０にも同様に適用することができる。

【0040】

第１電極層１３１は、本体１１０の第３面３を介して露出した第１内部電極層１２１とそれぞれ接触して直接的に連結されることにより、第１外部電極１３０と第１内部電極層１２１間の電気的導通を確保する。第１電極層１３１は、例として、銅（Ｃｕ）及び銀（Ａｇ）のうち少なくとも一つを含む導電性粉末を含む導電性ペーストを塗布した後、これを硬化又は焼成したものであってよい。他の例として、第１電極層１３１は、銅（Ｃｕ）めっき層であってよい。

【0041】

第２電極層１３２は第１電極層１３１に配置される。限定されない例として、第２電極層１３２は、電解めっきで形成されためっき層であってよい。第２電極層１３２は、例えば、ニッケルめっき層と錫めっき層とが順に積層された構造であってよい。

【0042】

第１外部電極１３０は、本体の第３面３に形成される接続部と、上記接続部において本体１１０の第１面１、第２面２、第５面５及び第６面６のそれぞれの少なくとも一部まで延びるバンド部を含むことができる。ただし、本実施形態の範囲が上記の説明に限定されるものではなく、第１外部電極１３０は、例として、Ｌ型、Ｃ型などに様々に変形することができる。

【0043】

以上のように、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の権利範囲はこれに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の技術的事項から逸脱しない範囲内で様々な修正及び変形が可能であることは当該技術分野における通常の知識を有する者には自明である。

【符号の説明】

【0044】

１００：キャパシタ部品
１１０：本体
１１０Ａ：活性部
１１０Ｃ：カバー部
１１０Ｍ：サイドマージン部
１１１：誘電体層
１２１、１２２：第１及び第２内部電極層
１３０、１４０：第１及び第２外部電極
１３１、１４１：第１電極層
１３２、１４２：第２電極層
１００：キャパシタ部品

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】