特開 2023-86147 情報処理装置、情報処理方法、および、コンピュータプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023086147

(43)【公開日】2023-06-22

(54)【発明の名称】情報処理装置、情報処理方法、および、コンピュータプログラム

(51)【国際特許分類】

   G06T 17/00 20060101AFI20230615BHJP

   G06T 7/00 20170101ALI20230615BHJP

   G06T 7/60 20170101ALI20230615BHJP

【ＦＩ】

G06T17/00

G06T7/00 C

G06T7/60 150D

【審査請求】未請求

【請求項の数】14

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021200465

(22)【出願日】2021-12-10

(71)【出願人】

【識別番号】504139662

【氏名又は名称】国立大学法人東海国立大学機構

(74)【代理人】

【識別番号】110001911

【氏名又は名称】弁理士法人アルファ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】梶原 義実

(72)【発明者】

【氏名】井上 隼多

(72)【発明者】

【氏名】堀 涼

(72)【発明者】

【氏名】野原 裕太

(72)【発明者】

【氏名】川西 康友

【テーマコード（参考）】

5B080

5L096

【Ｆターム（参考）】

5B080AA01

5B080CA00

5B080FA00

5B080GA00

5L096AA09

5L096CA18

5L096DA02

5L096FA06

5L096FA08

5L096FA09

5L096FA13

5L096FA23

5L096FA62

5L096FA66

5L096FA67

5L096GA03

5L096GA51

5L096MA07

(57)【要約】

【課題】器物を対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、器物形状図面を自動的に作成する。
【解決手段】器物の形状を少なくとも器物の断面の輪郭線と器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理装置は、断面取得部と、微分値取得部と、特定点抽出部と、図面生成部とを備える。断面取得部は、器物の断面の輪郭線を示す断面データを取得する。微分値取得部は、輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値を取得する。特定点抽出部は、１階微分値および２階微分値に基づき、輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する。図面生成部は、特定点を通る水平線を稜線として設定し、稜線と輪郭線とに基づき器物形状図面を生成する。
【選択図】図５

【特許請求の範囲】

【請求項1】

器物の形状を少なくとも前記器物の断面の輪郭線と前記器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理装置であって、
前記器物の前記断面の前記輪郭線を示す断面データを取得する断面取得部と、
前記輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値を取得する微分値取得部と、
前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する特定点抽出部と、
前記特定点を通る水平線を前記稜線として設定し、前記稜線と前記輪郭線とに基づき前記器物形状図面を生成する図面生成部と、
を備える、情報処理装置。

【請求項2】

請求項１に記載の情報処理装置であって、
前記微分値取得部は、互いに交差する２つの方向について、前記１階微分値および前記２階微分値を取得し、
前記特定点抽出部は、前記２つの方向のそれぞれについての前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記特定点を抽出する、
情報処理装置。

【請求項3】

請求項２に記載の情報処理装置であって、
前記特定点抽出部は、少なくとも１つの方向について、前記１階微分値の絶対値が所定の閾値より大きく、かつ、前記２階微分値の絶対値が所定の閾値より小さい点を、前記特定点として抽出する、
情報処理装置。

【請求項4】

請求項２または請求項３に記載の情報処理装置であって、
前記２つの方向は、水平方向および鉛直方向であり、
前記特定点抽出部は、鉛直方向についての前記１階微分値の絶対値から、鉛直方向についての前記２階微分値の絶対値と、水平方向についての前記１階微分値の絶対値と、水平方向についての前記２階微分値の絶対値と、を差し引いた凹凸指標値が、所定の閾値より大きい点を、前記特定点として抽出する、
情報処理装置。

【請求項5】

請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の情報処理装置であって、さらに、
抽出された前記特定点から、前記稜線の設定のために使用する前記特定点を選択する特定点選択部を備える、
情報処理装置。

【請求項6】

請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の情報処理装置であって、
前記断面取得部は、前記器物の互いに異なる前記断面の前記輪郭線を示す複数の前記断面データを取得し、
前記情報処理装置は、さらに、複数の前記断面データのうちの１つを代表断面データとして選択する代表断面選択部を備え、
前記図面生成部は、前記代表断面データの表す前記断面である代表断面を対象として、前記器物形状図面を生成する、
情報処理装置。

【請求項7】

請求項６に記載の情報処理装置であって、
前記代表断面選択部は、複数の前記断面データを前記特定点の個数が多い順に第１グループ、第２グループおよび第３グループの３つのグループに分けるグループ化を行ったときの、前記第２グループに属する前記断面データの１つを、前記代表断面データとして選択する、
情報処理装置。

【請求項8】

請求項７に記載の情報処理装置であって、
前記第２グループは、複数の前記断面データのうち、前記特定点の個数が中央値に一致する前記断面データにより構成されるグループである、
情報処理装置。

【請求項9】

請求項７または請求項８に記載の情報処理装置であって、
前記代表断面選択部は、前記器物の外側の前記輪郭線上の前記特定点と、前記器物の内側の前記輪郭線上の前記特定点とのそれぞれについて、前記グループ化を実行し、外側の前記輪郭線と内側の前記輪郭線との両方について前記第２グループに属する前記断面データの１つを、前記代表断面データとして選択する、
情報処理装置。

【請求項10】

請求項７から請求項９までのいずれか一項に記載の情報処理装置であって、
前記代表断面選択部は、前記断面の形状を表す形状指標値を用いて複数の前記断面データを複数のクラスタに分類するクラスタリングを行い、最大クラスタに属する前記断面データを対象として前記グループ化を実行する、
情報処理装置。

【請求項11】

請求項７から請求項１０までのいずれか一項に記載の情報処理装置であって、
前記代表断面選択部は、前記第２グループに属する前記断面データのうち、前記断面の形状を表す形状指標値が分布の中心点に最も近い１つの前記断面データを、前記代表断面データとして選択する、
情報処理装置。

【請求項12】

請求項１から請求項１１までのいずれか一項に記載の情報処理装置であって、
前記器物は、考古資料であり、
前記器物形状図面は、前記考古資料の実測図である、
情報処理装置。

【請求項13】

器物の形状を少なくとも前記器物の断面の輪郭線と前記器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理方法であって、
前記器物の前記断面の前記輪郭線を示す断面データを取得する工程と、
前記輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値を取得する工程と、
前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する工程と、
前記特定点を通る水平線を前記稜線として設定し、前記稜線と前記輪郭線とに基づき前記器物形状図面を生成する工程と、
を備える、情報処理方法。

【請求項14】

器物の形状を少なくとも前記器物の断面の輪郭線と前記器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するためのコンピュータプログラムであって、
コンピュータに、
前記器物の前記断面の前記輪郭線を示す断面データを取得する処理と、
前記輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値を取得する処理と、
前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する処理と、
前記特定点を通る水平線を前記稜線として設定し、前記稜線と前記輪郭線とに基づき前記器物形状図面を生成する処理と、
を実行させる、
コンピュータプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書に開示される技術は、器物の形状を表す図面を生成するための情報処理装置等に関する。

【背景技術】

【0002】

遺跡から発掘された土器等の器物について、実測図の作成が行われている。実測図は、器物の形状および製法をまとめた図面であり、発掘調査報告書に必須の図面である。実測図では、少なくとも器物の断面の輪郭線と器物の表面上の稜線とを用いて、器物の形状が表現される。

【0003】

実測図の作成は、定規等の道具を器物に当てて器物の形状を方眼用紙に写し取る、といった手作業により行われている。また、実測図の作成の際には、器物の適切な位置に稜線を描画する必要がある。そのため、実測図の作成には、熟練した技術が必要である上に、時間と手間がかかり、かつ、作成者により出来映えにバラツキが生じやすい。

【0004】

従来、遺構を対象として、光波測量機器により測量した実測値を用いて実測図を作成するシステムが提案されている（例えば、特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００３－６５７６３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

上述した実測図を作成するためのシステムは、あくまで遺構を対象としたものであり、器物を対象とした実測図の作成に適用できるものではない。器物の実測図を自動的に作成する技術は知られていない。このように、器物を対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、実測図を自動的に作成する技術が求められている。

【0007】

なお、このような課題は、遺跡から発掘された考古資料としての器物の実測図の作成に限らず、美術品のような他の種類の器物の形状を表す図面の作成においても共通の課題である。

【0008】

本明細書では、上述した課題を解決することが可能な技術を開示する。

【課題を解決するための手段】

【0009】

本明細書に開示される技術は、例えば、以下の形態として実現することが可能である。

【0010】

（１）本明細書に開示される情報処理装置は、器物の形状を少なくとも前記器物の断面の輪郭線と前記器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理装置であって、断面取得部と、微分値取得部と、特定点抽出部と、図面生成部とを備える。断面取得部は、前記器物の前記断面の前記輪郭線を示す断面データを取得する。微分値取得部は、前記輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値を取得する。特定点抽出部は、前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する。図面生成部は、前記特定点を通る水平線を前記稜線として設定し、前記稜線と前記輪郭線とに基づき前記器物形状図面を生成する。

【0011】

このように、本情報処理装置では、器物の断面の輪郭線上の各点における１階微分値および２階微分値に基づき、輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出し、特定点を通る水平線を稜線として設定することにより、適切な位置に稜線を描画することができる。そのため、本情報処理装置によれば、器物を対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、適切な位置に稜線が描画された器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0012】

（２）上記情報処理装置において、前記微分値取得部は、互いに交差する２つの方向について、前記１階微分値および前記２階微分値を取得し、前記特定点抽出部は、前記２つの方向のそれぞれについての前記１階微分値および前記２階微分値に基づき、前記特定点を抽出する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、より適切な位置に稜線が描画された器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0013】

（３）上記情報処理装置において、前記特定点抽出部は、少なくとも１つの方向について、前記１階微分値の絶対値が所定の閾値より大きく、かつ、前記２階微分値の絶対値が所定の閾値より小さい点を、前記特定点として抽出する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、さらに適切な位置に稜線が描画された器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0014】

（４）上記情報処理装置において、前記２つの方向は、水平方向および鉛直方向であり、前記特定点抽出部は、鉛直方向についての前記１階微分値の絶対値から、鉛直方向についての前記２階微分値の絶対値と、水平方向についての前記１階微分値の絶対値と、水平方向についての前記２階微分値の絶対値と、を差し引いた凹凸指標値が、所定の閾値より大きい点を、前記特定点として抽出する構成としてもよい。このように規定された凹凸指標値ＣＶが比較的大きい点は、輪郭線上の凹点または凸点である蓋然性が高い点であるため、本情報処理装置によれば、さらに適切な位置に稜線が描画された器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0015】

（５）上記情報処理装置において、さらに、抽出された前記特定点から、前記稜線の設定のために使用する前記特定点を選択する特定点選択部を備える構成としてもよい。本情報処理装置によれば、稜線の始点としてより適切な特定点を選択することにより、さらに適切な位置に稜線が描画された器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0016】

（６）上記情報処理装置において、前記断面取得部は、前記器物の互いに異なる前記断面の前記輪郭線を示す複数の前記断面データを取得し、前記情報処理装置は、さらに、複数の前記断面データのうちの１つを代表断面データとして選択する代表断面選択部を備え、前記図面生成部は、前記代表断面データの表す前記断面である代表断面を対象として、前記器物形状図面を生成する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴が適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0017】

（７）上記情報処理装置において、前記代表断面選択部は、複数の前記断面データを前記特定点の個数が多い順に第１グループ、第２グループおよび第３グループの３つのグループに分けるグループ化を行ったときの、前記第２グループに属する前記断面データの１つを、前記代表断面データとして選択する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴がより適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0018】

（８）上記情報処理装置において、前記第２グループは、複数の前記断面データのうち、前記特定点の個数が中央値に一致する前記断面データにより構成されるグループである構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴がさらに適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0019】

（９）上記情報処理装置において、前記代表断面選択部は、前記器物の外側の前記輪郭線上の前記特定点と、前記器物の内側の前記輪郭線上の前記特定点とのそれぞれについて、前記グループ化を実行し、外側の前記輪郭線と内側の前記輪郭線との両方について前記第２グループに属する前記断面データの１つを、前記代表断面データとして選択する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴がさらに適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0020】

（１０）上記情報処理装置において、前記代表断面選択部は、前記断面の形状を表す形状指標値を用いて複数の前記断面データを複数のクラスタに分類するクラスタリングを行い、最大クラスタに属する前記断面データを対象として前記グループ化を実行する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴がより適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を、さらに効率的にかつ自動的に作成することができる。

【0021】

（１１）上記情報処理装置において、前記代表断面選択部は、前記第２グループに属する前記断面データのうち、前記断面の形状を表す形状指標値が分布の中心点に最も近い１つの前記断面データを、前記代表断面データとして選択する構成としてもよい。本情報処理装置によれば、器物の特徴がより適切に表われた代表断面を示す器物形状図面を自動的に作成することができる。

【0022】

（１２）上記情報処理装置において、前記器物は、考古資料であり、前記器物形状図面は、前記考古資料の実測図である構成としてもよい。本情報処理装置によれば、考古資料としての器物を対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、適切な位置に稜線が描画された実測図を自動的に作成することができる。

【0023】

なお、本明細書に開示される技術は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、情報処理装置、情報処理方法、それらの方法を実現するコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した一時的でない記録媒体等の形態で実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【0024】

【図1】本実施形態における情報処理装置１００の概略構成を示すブロック図

【図2】考古資料としての器物ＶＥを対象とした実測図ＳＤの例を示す説明図

【図3】実測図生成処理を示すフローチャート

【図4】本実施形態における実測図生成処理の概要を示す説明図

【図5】本実施形態における実測図生成処理の概要を示す説明図

【図6】本実施形態における実測図生成処理の概要を示す説明図

【図7】特定点抽出処理を示すフローチャート

【図8】１階微分値ＤＶ１の取得方法の概要を示す説明図

【図9】２階微分値ＤＶ２の取得方法の概要を示す説明図

【発明を実施するための形態】

【0025】

Ａ．実施形態：
Ａ－１．情報処理装置１００の構成：
図１は、本実施形態における情報処理装置１００の概略構成を示すブロック図である。本実施形態の情報処理装置１００は、器物形状図面を生成するための装置である。本明細書において、器物形状図面は、少なくとも器物の断面の輪郭線と器物の表面上の稜線とを用いて、器物の形状を表す図面である。本実施形態では、図２に示すように、遺跡から発掘された考古資料としての器物ＶＥ（例えば、土器）を対象として、器物ＶＥの断面ＣＳの輪郭線ＣＯと器物ＶＥの表面上の稜線ＲＬとを用いて器物ＶＥの形状表す図面である実測図ＳＤを生成するために、情報処理装置１００を適用する例について説明する。実測図ＳＤは、器物形状図面の一例である。

【0026】

なお、図２に示すように、実測図ＳＤでは、例えば中心線ＣＥより右側の部分（以下、「内側部分」という。）は、断面ＣＳの全体の輪郭線ＣＯと、器物ＶＥの内側表面の稜線ＲＬとから構成され、中心線ＣＥより左側の部分（以下、「外側部分」という。）は、器物ＶＥの外縁の線（断面ＣＳにおける外側の輪郭線ＣＯ）と、器物ＶＥの外側表面の稜線ＲＬとから構成される。また、考古資料としての器物ＶＥには、図２の上段に示す容れ物（坏、高坏、椀、皿等）と、図２の下段に示す蓋と、が存在する。

【0027】

情報処理装置１００(図１)は、例えばパーソナルコンピュータやサーバ、タブレット型端末、スマートフォン等のコンピュータにより構成されている。情報処理装置１００は、制御部１１０と、記憶部１３０と、表示部１５２と、操作入力部１５６と、インターフェース部１５８とを備える。これらの各部は、バス１９０を介して互いに通信可能に接続されている。

【0028】

情報処理装置１００の表示部１５２は、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイにより構成され、各種の画像や情報を表示する。また、操作入力部１５６は、例えばキーボードやマウス、ボタン、マイク、トラックパッドにより構成され、管理者の操作や指示を受け付ける。なお、表示部１５２が、タッチパネルを備えることにより、操作入力部１５６として機能するとしてもよい。また、インターフェース部１５８は、例えばＬＡＮインターフェースやＵＳＢインターフェース等により構成され、有線または無線により他の装置との通信を行う。なお、情報処理装置１００がスピーカを備えてもよい。

【0029】

情報処理装置１００の記憶部１３０は、例えばＲＯＭやＲＡＭ、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）により構成され、各種のプログラムやデータを記憶したり、各種のプログラムを実行する際の作業領域やデータの一時的な記憶領域として利用されたりする。例えば、記憶部１３０には、後述する実測図生成処理を実行するためのコンピュータプログラムである図面生成プログラムＣＰが格納されている。図面生成プログラムＣＰは、例えば、ＣＤ－ＲＯＭやＤＶＤ－ＲＯＭ、ＵＳＢメモリ等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体（不図示）に格納された状態で提供され、あるいは、インターフェース部１５８を介して外部装置（ネットワーク上のサーバや他の端末装置）から取得可能な状態で提供され、情報処理装置１００上で動作可能な状態で記憶部１３０に格納される。

【0030】

また、情報処理装置１００の記憶部１３０には、予め、または、後述する実測図生成処理中に、３ＤスキャンデータＳＣＤと、断面データＣＳＤと、形状指標値ＳＶと、実測図データＳＤＤとが格納される。これらの内容については、後述の実測図生成処理の説明に合わせて説明する。

【0031】

情報処理装置１００の制御部１１０は、例えばＣＰＵ等により構成され、記憶部１３０から読み出したコンピュータプログラムを実行することにより、情報処理装置１００の動作を制御する。例えば、制御部１１０は、記憶部１３０から図面生成プログラムＣＰを読み出して実行することにより、後述の実測図生成処理を実行するための図面生成部１２０として機能する。図面生成部１２０は、断面取得部１２１と、形状指標値算出部１２３と、微分値取得部１２４と、特定点抽出部１２５と、特定点選択部１２６と、代表断面選択部１２７とを含む。これら各部の機能については、後述の実測図生成処理の説明に合わせて説明する。

【0032】

Ａ－２．実測図生成処理：
次に、本実施形態の情報処理装置１００により実行される実測図生成処理について説明する。図３は、実測図生成処理を示すフローチャートである。また、図４から図６は、本実施形態における実測図生成処理の概要を示す説明図である。

【0033】

実測図生成処理は、図２を参照して上述したように、遺跡から発掘された考古資料としての器物ＶＥを対象として、器物ＶＥの断面ＣＳの輪郭線ＣＯと器物ＶＥの表面上の稜線ＲＬとを用いて器物ＶＥの形状を表す実測図ＳＤを生成する処理である。図４のＡ欄には、実測図生成処理の対象の器物ＶＥが例示されている。

【0034】

実測図ＳＤの生成の際には、器物ＶＥの特徴が適切に表われるような断面ＣＳ（後述する代表断面ＣＳｒ）を設定したり、適切な位置に稜線ＲＬを描画したりする必要がある。そのため、実測図生成処理では、代表断面ＣＳｒを設定する処理と、代表断面ＣＳｒに稜線ＲＬを描画する処理と、を含む種々の処理が実行され、その結果、実測図ＳＤが自動的に生成される。実測図生成処理は、例えば、管理者が情報処理装置１００の操作入力部１５６を介して処理開始の指示を入力したことに応じて開始される。

【0035】

はじめに、情報処理装置１００の図面生成部１２０（図１）が、器物ＶＥの３ＤスキャンデータＳＣＤを取得する（Ｓ１１０）。３ＤスキャンデータＳＣＤは、３Ｄスキャナを用いて器物ＶＥの３Ｄスキャンを行うことにより生成される３Ｄデータ（メッシュデータ）である。器物ＶＥの３ＤスキャンデータＳＣＤは、例えば、インターフェース部１５８を介して外部装置から取得される。取得された３ＤスキャンデータＳＣＤは、記憶部１３０に格納される。なお、情報処理装置１００が３Ｄスキャン機能を有する場合には、情報処理装置１００が該機能を用いて器物ＶＥの３ＤスキャンデータＳＣＤを取得してもよい。

【0036】

次に、器物ＶＥの特徴が適切に表われるような代表断面ＣＳｒを設定する処理（Ｓ１２０～Ｓ１９６）が実行される。まず、情報処理装置１００の断面取得部１２１（図１）が、３ＤスキャンデータＳＣＤに基づき、器物ＶＥについての互いに異なる断面ＣＳの形状を表す複数の断面データＣＳＤを取得する（Ｓ１２０）。より詳細には、図４のＡ欄に示すように、断面取得部１２１は、器物ＶＥの仮想中心軸（鉛直軸）Ｏｖを特定すると共に、仮想中心軸Ｏｖを始点として放射状に延びる複数の仮想鉛直面ＶＰを設定し、各仮想鉛直面ＶＰ上の器物ＶＥの断面ＣＳの形状を表す複数の断面データＣＳＤを取得する。取得された断面データＣＳＤは、記憶部１３０に格納される。なお、仮想中心軸Ｏｖの設定は、任意の方法により実行可能であるが、例えば、器物ＶＥを鉛直方向に投影した図形の重心を通る鉛直線を仮想中心軸Ｏｖとして設定することができる。仮想中心軸Ｏｖは、実測図ＳＤにおける中心線ＣＥ（図２）に相当する。また、複数の仮想鉛直面ＶＰは、例えば一定のピッチ（回転角）で設定される。本実施形態では、仮想鉛直面ＶＰを設定する個数、すなわち、取得する断面データＣＳＤの個数は、１０００個である。図４のＢ欄には、取得された複数の断面データＣＳＤの例が示されている。

【0037】

次に、断面取得部１２１は、各断面データＣＳＤにより表される断面ＣＳの輪郭線ＣＯを抽出する（Ｓ１３０）。より詳細には、断面取得部１２１は、各断面データＣＳＤを２値化し、２値化された断面データＣＳＤを対象として公知の輪郭抽出のための画像処理を実行することにより、断面ＣＳの輪郭線ＣＯを抽出する。図４のＢ欄には、各断面データＣＳＤにより表される断面ＣＳについて抽出された輪郭線ＣＯの例が示されている。以下、断面ＣＳの輪郭線ＣＯを示すデータも、断面データＣＳＤという。

【0038】

次に、情報処理装置１００の形状指標値算出部１２３が、各断面ＣＳの輪郭線ＣＯに基づき、形状指標値ＳＶを算出する（Ｓ１４０）。形状指標値ＳＶは、断面ＣＳの形状を表す指標値である。

【0039】

より詳細には、形状指標値算出部１２３は、各断面ＣＳの輪郭線ＣＯに対して楕円フーリエ変換を行う。楕円フーリエ変換は、輪郭線を定量的に記述するための処理であり、輪郭線を周期関数として捉え、その関数のフーリエ変換を行い、その係数を用いて輪郭線を記述するものである。具体的には、形状指標値算出部１２３は、以下の式（１）および式（２）を用いて断面ＣＳの輪郭線ＣＯに対して楕円フーリエ変換を行うことにより、４つの記述子ａ_ｎ、ｂ_ｎ、ｃ_ｎ、ｄ_ｎを求める。楕円フーリエ変換の次数ｎは適宜設定されるが、本実施形態では、次数ｎが１２８に設定される。そのため、各断面ＣＳについて４×１２８次元の変数が求められる。

【数1】

【数2】

【0040】

次に、形状指標値算出部１２３は、各断面ＣＳについての４×１２８次元の変数を対象として主成分分析による次元削減を行うことにより、所定数の次元（本実施形態では２０次元）のデータである形状指標値ＳＶを算出する。このように算出された形状指標値ＳＶは、断面ＣＳの形状を表す指標値となる。算出された形状指標値ＳＶは、記憶部１３０に格納される。

【0041】

次に、情報処理装置１００の代表断面選択部１２７（図１）が、形状指標値ＳＶを用いて複数の断面データＣＳＤのクラスタリングを行い、最大クラスタＣＬｘを特定する（Ｓ１５０）。複数の断面データＣＳＤのクラスタリングは、任意の公知のクラスタリング手法を用いて実行可能であるが、本実施形態では、密度準拠クラスタリングアルゴリズムであるＤＢＳＣＡＮが用いられる。代表断面選択部１２７は、クラスタリング結果に基づき、最も多数の断面データＣＳＤが属するクラスタＣＬを、最大クラスタＣＬｘとして特定する。最大クラスタＣＬｘに属する断面データＣＳＤの表す断面ＣＳは、器物ＶＥにおける典型的な断面ＣＳであると言え、代表断面ＣＳｒの候補となる。図４のＣ欄には、断面データＣＳＤのクラスタリングにより特定された最大クラスタＣＬｘの例が示されている。

【0042】

次に、情報処理装置１００の特定点抽出部１２５（図１）が、最大クラスタＣＬｘに属する各断面データＣＳＤを対象として、断面ＣＳの輪郭線ＣＯ上の特定点ＳＰを抽出するための特定点抽出処理を実行する（Ｓ１６０）。ここで、特定点ＳＰは、断面ＣＳの輪郭線ＣＯ上の凹点または凸点であり、稜線ＲＬの始点の候補である。

【0043】

図７は、特定点抽出処理を示すフローチャートである。はじめに、特定点抽出部１２５は、各断面データＣＳＤにより表される断面ＣＳについて、外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉを特定する（Ｓ３１０）。より詳細には、特定点抽出部１２５は、断面ＣＳの輪郭線ＣＯのうち、仮想中心軸Ｏｖ(図４のＡ欄)上における容器外部側の点を始点とし、外周に沿って器物ＶＥの外縁まで至る線を、外側輪郭線ＣＯｏとして特定し、仮想中心軸Ｏｖ上における容器内部側の点を始点とし、内周に沿って器物ＶＥの外縁まで至る線を、内側輪郭線ＣＯｉとして特定する。図５のＤ欄には、ある断面ＣＳにおいて特定された外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉの一部が示されている。特定点抽出処理におけるこれ以降の処理は、外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉのそれぞれに対して個別に実行される。

【0044】

次に、情報処理装置１００の微分値取得部１２４（図１）が、断面ＣＳの輪郭線ＣＯ（外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉ）上の各点Ｐにおける１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を取得する（Ｓ３２０）。図８は、１階微分値ＤＶ１の取得方法の概要を示す説明図であり、図９は、２階微分値ＤＶ２の取得方法の概要を示す説明図である。微分値取得部１２４は、輪郭線ＣＯ上の各点Ｐ（各画素）について、ｘ方向（水平方向）に１画素ずれたときのｙ方向（鉛直方向）のずれ量を１階微分値ＤＶ１として取得し、ｘ方向に１画素ずれたときのｙ方向のずれ量のずれ量を２階微分値ＤＶ２として取得する。図８および図９に示すように、１階微分値ＤＶ１は、輪郭線ＣＯ上の各点Ｐにおける輪郭線ＣＯの接線ＴＬの傾きに相当し、２階微分値ＤＶ２は、輪郭線ＣＯ上の各点Ｐにおける該傾きの変化率（１階微分値ＤＶ１を示す曲線ＣＯｄの接線ＴＬの傾き）に相当する。

【0045】

本実施形態では、１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２が、ｘ方向およびｙ方向のそれぞれについて取得される。図８および図９には、ｘ方向についての１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２の取得方法が示されているが、ｙ方向については、ｘ軸とｙ軸とのの関係を反転させたときの輪郭線ＣＯを対象として、同様に、１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２が取得される。以下、ｘ方向についての１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を、それぞれ、ｘ方向１階微分値ＤＶ１ｘおよびｘ方向２階微分値ＤＶ２ｘといい、ｙ方向についての１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を、それぞれ、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙおよびｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙという。

【0046】

次に、特定点抽出部１２５は、輪郭線ＣＯ上の各点Ｐにおける凹凸指標値ＣＶを算出する（Ｓ３３０）。凹凸指標値ＣＶは、輪郭線ＣＯ上の各点Ｐにおける凹の程度または凸の程度の高さを示す指標値である。本実施形態では、凹凸指標値ＣＶは、以下の式（３）を用いて算出される。すなわち、凹凸指標値ＣＶは、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値｜ＤＶ１ｙ｜から、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値｜ＤＶ２ｙ｜と、ｘ方向１階微分値ＤＶ１ｘの絶対値｜ＤＶ１ｘ｜と、ｘ方向２階微分値ＤＶ２ｘの絶対値｜ＤＶ２ｘ｜と、を差し引いた値である。すなわち、凹凸指標値ＣＶは、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値の大きさ、および、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値の小ささを表す指標値であると言える。

【数3】

【0047】

次に、特定点抽出部１２５は、凹凸指標値ＣＶが所定の閾値Ｔｈを超える（すなわち、ＣＶ＞Ｔｈの関係を満たす）点Ｐを、特定点候補ＳＰｐとして抽出する（Ｓ３４０）。上述したように、凹凸指標値ＣＶは、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値の大きさ、および、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値の小ささを表す指標値であるため、抽出された特定点候補ＳＰｐは、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値が比較的大きく、かつ、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値が比較的小さい点Ｐである。ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値が比較的大きく、かつ、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値が比較的小さい点Ｐは、輪郭線ＣＯ上において、鉛直方向の変化量に対する水平方向の変化量の割合が比較的大きく、かつ、該変化量の変化率が比較的小さい点であり、輪郭線ＣＯ上の凹点または凸点である蓋然性が高い点であると言える。なお、本実施形態では、特定点抽出部１２５は、凹凸指標値ＣＶを０以上、１以下の範囲に標準化し、標準化後の凹凸指標値ＣＶを予め設定された閾値Ｔｈ（０＜Ｔｈ＜１）と比較することにより、特定点候補ＳＰｐの抽出を実行する。

【0048】

次に、情報処理装置１００の特定点選択部１２６（図１）が、抽出された特定点候補ＳＰｐの中から特定点ＳＰを選択する（Ｓ３５０）。特定点選択部１２６は、例えば、以下のルールの少なくとも１つに従って特定点候補ＳＰｐの削除（絞り込み）を行い、削除されずに残った特定点候補ＳＰｐを特定点ＳＰとして選択する。
（１）ルール１：特定点候補ＳＰｐ同士の距離（例えば直線距離）が所定の閾値以下である場合、一方の特定点候補ＳＰｐ（例えば、器物ＶＥの外縁に近い側の特定点候補ＳＰｐ）を削除する。
（２）ルール２：特定点候補ＳＰｐから器物ＶＥの外縁までの距離（例えば直線距離）が所定の閾値以下である場合、該特定点候補ＳＰｐを削除する。
（３）ルール３：特定点候補ＳＰｐから器物ＶＥの仮想中心軸Ｏｖ（中心線ＣＥ）に向けて水平線を引いたときに、該水平線が仮想中心軸Ｏｖに至る前に輪郭線ＣＯに交差する場合、該特定点候補ＳＰｐを削除する。

【0049】

以上の各工程を行うことにより、特定点抽出処理（図３のＳ１６０）が完了する。特定点抽出処理により、外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉのそれぞれについて、凹点または凸点である蓋然性が高い点である特定点ＳＰが抽出される。以下、外側輪郭線ＣＯｏにおいて抽出された特定点ＳＰを外側特定点ＳＰｏといい、内側輪郭線ＣＯｉにおいて抽出された特定点ＳＰを内側特定点ＳＰｉという。図５のＤ欄には、ある断面ＣＳの輪郭線ＣＯ（外側輪郭線ＣＯｏおよび内側輪郭線ＣＯｉ）から抽出された特定点ＳＰ（外側特定点ＳＰｏおよび内側特定点ＳＰｉ）の例が示されている。

【0050】

次に、代表断面選択部１２７は、複数の断面データＣＳＤの中から、外側特定点ＳＰｏの個数が複数の断面データＣＳＤ全体の中央値に一致し、かつ、内側特定点ＳＰｉの個数が全体の中央値に一致する断面データＣＳＤを抽出する（図３のＳ１７０）。すなわち、代表断面選択部１２７は、外側特定点ＳＰｏの個数も内側特定点ＳＰｉの個数も器物ＶＥにおいて典型的な個数であるような断面データＣＳＤを抽出する。この処理は、複数の断面データＣＳＤを特定点ＳＰの個数が多い順に第１グループ、第２グループおよび第３グループの３つのグループに分けるグループ化を行ったときの、第２グループに属する断面データＣＳＤを抽出する処理に該当する。

【0051】

代表断面選択部１２７は、Ｓ１７０において抽出された断面データＣＳＤの個数Ｎに応じて、処理を分岐する（Ｓ１８０）。具体的には、抽出された断面データＣＳＤの個数Ｎが１個（Ｎ＝１）である場合、代表断面選択部１２７は、抽出された唯一の断面データＣＳＤを代表断面データＣＳＤｒとして選択する（Ｓ１９２）。また、抽出された断面データＣＳＤの個数Ｎが２個以上（Ｎ≧２）である場合、代表断面選択部１２７は、抽出された複数の断面データＣＳＤの中から、形状指標値ＳＶが分布の中心に最も近い１つの断面データＣＳＤを代表断面データＣＳＤｒとして選択する（Ｓ１９４）。この処理は、例えばｍｅｄｏｉｄ（クラスタ内の点であって、その点以外のクラスタ内の点との非類似度の総和が最小になる点）を特定することにより実行される。また、抽出された断面データＣＳＤの個数Ｎが０個（Ｎ＝０）である場合、代表断面選択部１２７は、最大クラスタＣＬｘに属するすべての断面データＣＳＤの中から、Ｓ１９４と同様に、形状指標値ＳＶが分布の中心に最も近い１つの断面データＣＳＤを代表断面データＣＳＤｒとして選択する（Ｓ１９６）。以上のようにして選択された代表断面データＣＳＤｒの表す代表断面ＣＳｒは、断面全体の形状が器物ＶＥにおいて典型的であり、かつ、特定点ＳＰの個数も器物ＶＥにおいて典型的であるものであり、器物ＶＥの特徴が適切に表われた断面であると言える。図５のＥ欄には、選択された代表断面データＣＳＤｒの例が示されている。

【0052】

次に、情報処理装置１００の図面生成部１２０（図１）が、代表断面データＣＳＤｒを用いて、稜線ＲＬ等を描画することにより、実測図ＳＤを生成する（Ｓ２００）。より詳細には、図５のＥ欄およびＦ欄に示すように、図面生成部１２０は、外側輪郭線ＣＯｏ上における最も下方の点である底点ＢＰを特定し、外側輪郭線ＣＯｏにおける底点ＢＰから仮想中心軸Ｏｖ（中心線ＣＥ）までの部分を水平線（実線）に変換する。このとき、変換される部分に特定点ＳＰが存在する場合、該特定点ＳＰを削除する。なお、図６のＧ欄に示すように、対象の器物ＶＥが上述した「容れ物」ではなく「蓋」である場合には、この処理は実行されない。

【0053】

また、図６のＨ欄に示すように、対象の器物ＶＥがいわゆる出腹形状であり、外側輪郭線ＣＯｏ上の底点ＢＰが脚部ＬＰ以外の箇所に存在する場合には、例えば以下のようにして準底点ＢＰ１を特定し、底点ＢＰに代えて準底点ＢＰ１を用いて同様の処理を実行する。
（１）外側輪郭線ＣＯｏと内側輪郭線ＣＯｉとの中間線ＣＣＬを特定する。
（２）中間線ＣＣＬ上における最も下方の点を中間底点ＣＢＰ１として特定する。
（３）中間底点ＣＢＰ１を通り外側輪郭線ＣＯｏと内側輪郭線ＣＯｉとを結ぶ直線Ｌ１と、外側輪郭線ＣＯｏと、の交点を準底点ＢＰ１として特定する。

【0054】

次に、図面生成部１２０は、特定点ＳＰを通る稜線ＲＬを描画する。より詳細には、図５のＦ欄に示すように、図面生成部１２０は、外側輪郭線ＣＯｏにおける特定点ＳＰ（外側特定点ＳＰｏ）から中心線ＣＥまで、水平の鎖線である稜線ＲＬを描画する。これにより、外側輪郭線ＣＯｏと稜線ＲＬとにより構成される実測図ＳＤの外側部分（中心線ＣＥより左側の部分）が生成される。また、図面生成部１２０は、内側輪郭線ＣＯｉにおける特定点ＳＰ（内側特定点ＳＰｉ）から中心線ＣＥまで、水平の鎖線である稜線ＲＬを描画する。これにより、断面ＣＳの輪郭線ＣＯと稜線ＲＬとにより構成される実測図ＳＤの内側部分（中心線ＣＥより右側の部分）が生成される。なお、特定点ＳＰ自身は実際の実測図ＳＤには描画されない。また、図６のＧ欄に示すように、器物ＶＥが「蓋」である場合において、特定点ＳＰが外側輪郭線ＣＯｏにおける最も外縁側（水平方向外側）の点と一致するときには、該特定点ＳＰから描画する稜線ＲＬ（ＲＬｘ）を実線とする。

【0055】

次に、図面生成部１２０は、生成された実測図ＳＤの外側部分および内側部分を結合した後、中心線ＣＥ、最下部の底線ＢＬ、最上部の頂線ＨＬおよびスケールＳＣを描画することにより、実測図ＳＤを完成させる。完成した実測図ＳＤを表す実測図データＳＤＤは、記憶部１３０に格納される。また、図面生成部１２０は、実測図ＳＤを表示部１５２に表示させたり、インターフェース部１５８を介して印刷装置に印刷させたりしてもよい。

【0056】

Ａ－３．本実施形態の効果：
以上説明したように、本実施形態の情報処理装置１００は、器物ＶＥの形状を少なくとも器物ＶＥの断面ＣＳの輪郭線ＣＯと器物ＶＥの表面上の稜線ＲＬとを用いて表す器物形状図面（実測図ＳＤ）を生成するための装置であり、断面取得部１２１と、微分値取得部１２４と、特定点抽出部１２５と、図面生成部１２０とを備える。断面取得部１２１は、器物ＶＥの断面ＣＳの輪郭線ＣＯを示す断面データＣＳＤを取得する。微分値取得部１２４は、輪郭線ＣＯ上の各点における１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を取得する。特定点抽出部１２５は、１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２に基づき、輪郭線ＣＯ上の凹点または凸点である特定点ＳＰを抽出する。図面生成部１２０は、特定点ＳＰを通る水平線を稜線ＲＬとして設定し、稜線ＲＬと輪郭線ＣＯとに基づき器物形状図面である実測図ＳＤを生成する。

【0057】

このように、本実施形態の情報処理装置１００では、器物ＶＥの断面ＣＳの輪郭線ＣＯ上の各点における１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２に基づき、輪郭線ＣＯ上の凹点または凸点である特定点ＳＰを抽出し、特定点ＳＰを通る水平線を稜線ＲＬとして設定することにより、適切な位置に稜線ＲＬを描画することができる。そのため、本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥを対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、適切な位置に稜線ＲＬが描画された実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0058】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、微分値取得部１２４は、互いに交差する２つの方向について１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を取得し、特定点抽出部１２５は、２つの方向のそれぞれについての１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２に基づき特定点ＳＰを抽出する。そのため、本実施形態の情報処理装置１００によれば、より適切な位置に稜線ＲＬが描画された実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0059】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、２つの方向は、水平方向（ｘ方向）および鉛直方向（ｙ方向）であり、特定点抽出部１２５は、ｙ方向についての１階微分値ＤＶ１の絶対値｜ＤＶ１ｙ｜から、ｙ方向についての２階微分値ＤＶ２の絶対値｜ＤＶ２ｙ｜と、ｘ方向についての１階微分値ＤＶ１の絶対値｜ＤＶ１ｘ｜と、ｘ方向についての２階微分値ＤＶ２の絶対値｜ＤＶ２ｘ｜と、を差し引いた凹凸指標値ＣＶが、所定の閾値Ｔｈより大きい点を特定点ＳＰとして抽出する。このように規定された凹凸指標値ＣＶが比較的大きい点は、輪郭線ＣＯ上の凹点または凸点である蓋然性が高い点であるため、本実施形態の情報処理装置１００によれば、さらに適切な位置に稜線ＲＬが描画された実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0060】

また、本実施形態の情報処理装置１００は、さらに、抽出された特定点ＳＰ（特定点候補ＳＰｐ）から、稜線ＲＬの設定のために使用する特定点ＳＰを選択する特定点選択部１２６を備える。本実施形態の情報処理装置１００によれば、稜線ＲＬの始点としてより適切な特定点ＳＰを選択することにより、さらに適切な位置に稜線ＲＬが描画された実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0061】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、断面取得部１２１は、器物ＶＥの互いに異なる断面ＣＳの輪郭線ＣＯを示す複数の断面データＣＳＤを取得し、情報処理装置１００は、さらに、複数の断面データＣＳＤのうちの１つを代表断面データＣＳＤｒとして選択する代表断面選択部１２７を備え、図面生成部１２０は、代表断面データＣＳＤｒの表す断面ＣＳである代表断面ＣＳｒを対象として実測図ＳＤを生成する。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴が適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0062】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、代表断面選択部１２７は、複数の断面データＣＳＤを特定点ＳＰの個数が多い順に第１グループ、第２グループおよび第３グループの３つのグループに分けるグループ化を行ったときの、第２グループに属する断面データＣＳＤの１つを、代表断面データＣＳＤｒとして選択する。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴がより適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0063】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、第２グループは、複数の断面データＣＳＤのうち、特定点ＳＰの個数が中央値に一致する断面データＣＳＤにより構成されるグループである。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴がさらに適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0064】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、代表断面選択部１２７は、器物ＶＥの外側の輪郭線ＣＯ上の特定点ＳＰ（外側特定点ＳＰｏ）と、器物ＶＥの内側の輪郭線ＣＯ上の特定点ＳＰ（内側特定点ＳＰｉ）とのそれぞれについてグループ化を実行し、外側の輪郭線ＣＯと内側の輪郭線ＣＯとの両方について第２グループに属する断面データＣＳＤの１つを、代表断面データＣＳＤｒとして選択する。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴がさらに適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0065】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、代表断面選択部１２７は、断面ＣＳの形状を表す形状指標値ＳＶを用いて複数の断面データＣＳＤを複数のクラスタに分類するクラスタリングを行い、最大クラスタＣＬｘに属する断面データＣＳＤを対象としてグループ化を実行する。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴がさらに適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを、さらに効率的にかつ自動的に作成することができる。

【0066】

また、本実施形態の情報処理装置１００では、代表断面選択部１２７は、第２グループに属する断面データＣＳＤのうち、断面ＣＳの形状を表す形状指標値ＳＶが分布の中心点に最も近い１つの断面データＣＳＤを、代表断面データＣＳＤｒとして選択する。本実施形態の情報処理装置１００によれば、器物ＶＥの特徴がより適切に表われた代表断面ＣＳｒを示す実測図ＳＤを自動的に作成することができる。

【0067】

Ｂ．変形例：
本明細書で開示される技術は、上述の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の形態に変形することができ、例えば次のような変形も可能である。

【0068】

上記実施形態における情報処理装置１００の構成は、あくまで一例であり、種々変形可能である。また、上記実施形態において、ハードウェアによって実現されている構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、反対に、ソフトウェアによって実現されている構成の一部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。

【0069】

上記実施形態における実測図生成処理の内容は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、形状指標値ＳＶとして２０次元の変数が用いられているが、形状指標値ＳＶの次元数（すなわち、楕円フーリエ変換の次数や主成分分析による次元削減数）は任意に変更可能である。また、次元数削減手法として、主成分分析以外の手法（例えば、ＳＶＤやｔ－ＳＮＥ）が用いられてもよい。また、形状指標値ＳＶの算出の際に、楕円フーリエ変換に代えて、他の輪郭線記述処理が採用されてもよい。また、クラスタリング処理（Ｓ１５０）が省略されてもよい。また、クラスタリング処理が複数回実行されてもよい。また、各データや情報がインターフェース部１５８を介して接続された外部記憶装置に格納されてもよい。

【0070】

上記実施形態では、特定点候補ＳＰｐの抽出に用いられる凹凸指標値ＣＶとして、上述した式（３）により定義される指標値が用いられているが、凹凸指標値ＣＶの算出方法は、１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２に基づいて算出する限りにおいて任意に変更可能である。例えば、凹凸指標値ＣＶを、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値｜ＤＶ１ｙ｜とｘ方向１階微分値ＤＶ１ｘの絶対値｜ＤＶ１ｘ｜との和から、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値｜ＤＶ２ｙ｜と、ｘ方向２階微分値ＤＶ２ｘの絶対値｜ＤＶ２ｘ｜と、を差し引いた値であるとしてもよい。あるいは、凹凸指標値ＣＶを、ｙ方向の微分値のみを用いて、例えばｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値｜ＤＶ１ｙ｜からｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値｜ＤＶ２ｙ｜を差し引いた値としてもよい。反対に、凹凸指標値ＣＶを、ｘ方向の微分値のみを用いて、例えばｘ方向１階微分値ＤＶ１ｘの絶対値｜ＤＶ１ｘ｜からｘ方向２階微分値ＤＶ２ｘの絶対値｜ＤＶ２ｘ｜を差し引いた値としてもよい。また、凹凸指標値ＣＶを、ｘ方向および／またはｙ方向の１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２の積や商、対数等を取ることにより算出してもよい。また、互いに直交する２つの方向に限らず、互いに交差する２つの方向についての１階微分値ＤＶ１および２階微分値ＤＶ２を用いて凹凸指標値ＣＶを算出してもよい。

【0071】

また、１階微分値ＤＶ１に関する指標値と、２階微分値ＤＶ２に関する指標値と、を個別に算出し、それぞれを、個別に設定された閾値と比較して特定点候補ＳＰｐを抽出してもよい。例えば、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値｜ＤＶ１ｙ｜が閾値より大きく、かつ、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値｜ＤＶ２ｙ｜が他の閾値より小さい点Ｐを特定点候補ＳＰｐとして抽出してもよい。あるいは、ｙ方向１階微分値ＤＶ１ｙの絶対値｜ＤＶ１ｙ｜とｘ方向１階微分値ＤＶ１ｘの絶対値｜ＤＶ１ｘ｜との和が閾値より大きく、かつ、ｙ方向２階微分値ＤＶ２ｙの絶対値｜ＤＶ２ｙ｜とｘ方向２階微分値ＤＶ２ｘの絶対値｜ＤＶ２ｘ｜との和が他の閾値より小さい点Ｐを特定点候補ＳＰｐとして抽出してもよい。

【0072】

上記実施形態における特定点候補ＳＰｐからの特定点ＳＰの選択方法は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、特定点候補ＳＰｐの削除（絞り込み）のための上述した３つのルール（ルール１～３）のうちの１つが削除されてもよいし、他のルールが追加されてもよい。

【0073】

上記実施形態では、複数の断面データＣＳＤの中から、外側特定点ＳＰｏの個数が全体の中央値に一致し、かつ、内側特定点ＳＰｉの個数が全体の中央値に一致する断面データＣＳＤを、代表断面データＣＳＤｒの候補として抽出しているが、この抽出方法は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、複数の断面データＣＳＤの中から、外側特定点ＳＰｏの個数が全体の中央値にある程度近く（例えば中央値との差が中央値の１０％以内であり）、かつ、内側特定点ＳＰｉの個数が全体の中央値にある程度近い（同）断面データＣＳＤを、代表断面データＣＳＤｒの候補として抽出してもよい。あるいは、複数の断面データＣＳＤの中から、外側特定点ＳＰｏの個数が全体の平均値に一致し、かつ、内側特定点ＳＰｉの個数が全体の平均値に一致する断面データＣＳＤを、代表断面データＣＳＤｒの候補として抽出してもよい。

【0074】

また、上記実施形態では、考古資料としての器物ＶＥについての実測図ＳＤを生成するために情報処理装置１００を適用する例について説明したが、本明細書に開示される技術は、考古資料としての器物ＶＥに限らず、美術品のような他の種類の器物を含む器物一般について、器物の断面の輪郭線と器物の表面上の稜線とを用いて器物の形状を表す器物形状図面を生成する場合に同様に適用可能である。

【符号の説明】

【0075】

１００：情報処理装置 １１０：制御部 １２０：図面生成部 １２１：断面取得部 １２３：形状指標値算出部 １２４：微分値取得部 １２５：特定点抽出部 １２６：特定点選択部 １２７：代表断面選択部 １３０：記憶部 １５２：表示部 １５６：操作入力部 １５８：インターフェース部 １９０：バス ＢＬ：底線 ＢＰ１：準底点 ＢＰ：底点 ＣＣＬ：中間線 ＣＥ：中心線 ＣＬ：クラスタ ＣＬｘ：最大クラスタ ＣＯ：輪郭線 ＣＯｄ：曲線 ＣＯｉ：内側輪郭線 ＣＯｏ：外側輪郭線 ＣＰ：図面生成プログラム ＣＳ：断面 ＣＳＤ：断面データ ＣＳＤｒ：代表断面データ ＣＳｒ：代表断面 ＣＶ：凹凸指標値 ＤＶ１：１階微分値 ＤＶ２：２階微分値 ＨＬ：頂線 ＬＰ：脚部 Ｏｖ：仮想中心軸 ＲＬ：稜線 ＳＣＤ：３Ｄスキャンデータ ＳＤＤ：実測図データ ＳＰ：特定点 ＳＰｉ：内側特定点 ＳＰｏ：外側特定点 ＳＰｐ：特定点候補 ＳＶ：形状指標値 ＴＬ：接線 ＶＥ：器物 ＶＰ：仮想鉛直面

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】