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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023086517
(43)【公開日】2023-06-22
(54)【発明の名称】部材の製造方法、及び溶接装置
(51)【国際特許分類】
B23K 9/09 20060101AFI20230615BHJP
B23K 9/12 20060101ALI20230615BHJP
【ＦＩ】
B23K9/09
B23K9/12 310Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】8
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021201082
(22)【出願日】2021-12-10
(71)【出願人】
【識別番号】391002498
【氏名又は名称】フタバ産業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110000578
【氏名又は名称】名古屋国際弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】初鳥 貴広
【テーマコード（参考）】
4E082
【Ｆターム（参考）】
4E082AA04
4E082BA04
(57)【要約】
【課題】入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことを目的とする。
【解決手段】パルスアーク溶接の実行中、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給すると共に、溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流す。溶接ワイヤにおける少なくとも先端を含む区間には、式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部が形成されている。（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
【選択図】図２
【解決手段】パルスアーク溶接の実行中、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給すると共に、溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流す。溶接ワイヤにおける少なくとも先端を含む区間には、式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部が形成されている。（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
【選択図】図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
パルスアーク溶接による部材の製造方法であって、
前記パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給することと、
前記パルスアーク溶接を行うため、前記溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流すことと、を備え、
前記溶接ワイヤにおける少なくとも先端を含む区間には、以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部が形成されている
部材の製造方法。
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
前記パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給することと、
前記パルスアーク溶接を行うため、前記溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流すことと、を備え、
前記溶接ワイヤにおける少なくとも先端を含む区間には、以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部が形成されている
部材の製造方法。
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
【請求項2】
請求項１に記載の部材の製造方法であって、
Ｎ＝１
である部材の製造方法。
Ｎ＝１
である部材の製造方法。
【請求項3】
請求項１又は請求項２に記載の部材の製造方法であって、
前記溶接トーチに送給されている前記溶接ワイヤにおける前記形成位置に、前記脆弱部を形成すること
をさらに備える部材の製造方法。
前記溶接トーチに送給されている前記溶接ワイヤにおける前記形成位置に、前記脆弱部を形成すること
をさらに備える部材の製造方法。
【請求項4】
パルスアーク溶接を行う溶接装置であって、
前記パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給する送給部と、
前記パルスアーク溶接を行うため、前記溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流す溶接制御部と、
前記溶接ワイヤにおける以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部を形成する形成部と、
を備える溶接装置。
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
前記パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給する送給部と、
前記パルスアーク溶接を行うため、前記溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流す溶接制御部と、
前記溶接ワイヤにおける以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部を形成する形成部と、
を備える溶接装置。
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
【請求項5】
請求項４に記載の溶接装置であって、
Ｎ＝１
である溶接装置。
Ｎ＝１
である溶接装置。
【請求項6】
請求項４又は請求項５に記載の溶接装置であって、
前記形成部は、尖った部位を前記溶接ワイヤに当接させることで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
前記形成部は、尖った部位を前記溶接ワイヤに当接させることで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
【請求項7】
請求項４から請求項６のうちのいずれか１項に記載の溶接装置であって、
前記形成部は、前記溶接ワイヤに対し接近及び離間するように変位する押圧部材により前記溶接ワイヤを押圧することで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
前記形成部は、前記溶接ワイヤに対し接近及び離間するように変位する押圧部材により前記溶接ワイヤを押圧することで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
【請求項8】
請求項４から請求項６のうちのいずれか１項に記載の溶接装置であって、
前記形成部は、前記周期Ｔに応じた周期で回転する回転部材を前記溶接ワイヤに当接させることで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
前記形成部は、前記周期Ｔに応じた周期で回転する回転部材を前記溶接ワイヤに当接させることで、前記脆弱部を形成する
溶接装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、部材の製造方法、及び溶接装置に関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献１に記載されているように、周期的に矩形のパルスが生じる溶接電流を用いるパルスアーク溶接が知られている。パルスアーク溶接は、溶接電流の矩形のパルスにより電磁ピンチ力を発生させることで、スムーズな溶滴移行を実現可能とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２００８－２２９６３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
パルスアーク溶接においては、スパッタやヒュームの発生を抑制するためには、パルスが発生する各周期において１つの溶滴移行が生じるようにする必要がある。そして、そのためには、１周期に複数のパルスを発生させたり、パルスによりハイレベルとなった溶接電流の電流値を高くしたり、ハイレベルとなっている期間を長くしたりする必要がある。しかし、これによりワークへの入熱が増加し、溶け落ち等の溶接不良が生じる恐れがある。
【0005】
本開示の一態様では、入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一態様は、パルスアーク溶接による部材の製造方法である。該製造方法は、パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給することと、パルスアーク溶接を行うため、溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流すことと、を備える。溶接ワイヤにおける少なくとも先端を含む区間には、以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部が形成されている。
【0007】
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
上記構成によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤの先端の溶融部分に１又は複数の脆弱部が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、溶接電流の電流値を高くすること無く、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
上記構成によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤの先端の溶融部分に１又は複数の脆弱部が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、溶接電流の電流値を高くすること無く、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0008】
本開示の一態様では、Ｎ＝１であってもよい。
上記構成によれば、溶接ワイヤにおける脆弱部の数を抑制できる。このため、溶接ワイヤの抵抗値の増加を抑制でき、その結果、消費電力を抑制できる。
上記構成によれば、溶接ワイヤにおける脆弱部の数を抑制できる。このため、溶接ワイヤの抵抗値の増加を抑制でき、その結果、消費電力を抑制できる。
【0009】
本開示の一態様は、溶接トーチに送給されている溶接ワイヤにおける形成位置に、脆弱部を形成することをさらに備えてもよい。
上記構成によれば、パルスアーク溶接の実行中に、該パルスアーク溶接の周期Ｔ及び溶接速度Ｖに対応する形成位置に脆弱部を形成できる。このため、脆弱部が形成された溶接ワイヤを事前に準備する必要が無く、様々な状況で行われるパルスアーク溶接において、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
上記構成によれば、パルスアーク溶接の実行中に、該パルスアーク溶接の周期Ｔ及び溶接速度Ｖに対応する形成位置に脆弱部を形成できる。このため、脆弱部が形成された溶接ワイヤを事前に準備する必要が無く、様々な状況で行われるパルスアーク溶接において、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0010】
本開示の一態様は、パルスアーク溶接を行う溶接装置であり、送給部と、溶接制御部と、形成部と、を備える。送給部は、パルスアーク溶接が行われているときに、予め定められた速度Ｖで溶接ワイヤを溶接トーチの先端に向けて送給する。溶接制御部は、パルスアーク溶接を行うため、溶接ワイヤに、予め定められた周期Ｔで相対的に電流値が高くなるハイレベル期間が発生する溶接電流を流す。形成部は、溶接ワイヤにおける以下の式１により示される間隔ｄを空けて設定される形成位置に、脆弱部を形成する。
【0011】
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは１以上の整数）
上記構成によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤの先端の溶融部分に１又は複数の脆弱部が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、溶接電流の電流値を高くすること無く、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
上記構成によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤの先端の溶融部分に１又は複数の脆弱部が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、溶接電流の電流値を高くすること無く、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0012】
本開示の一態様では、Ｎ＝１であってもよい。
上記構成によれば、溶接ワイヤにおける脆弱部の数を抑制できる。このため、溶接ワイヤの抵抗値の増加を抑制でき、その結果、消費電力を抑制できる。
上記構成によれば、溶接ワイヤにおける脆弱部の数を抑制できる。このため、溶接ワイヤの抵抗値の増加を抑制でき、その結果、消費電力を抑制できる。
【0013】
本開示の一態様では、形成部は、尖った部位を溶接ワイヤに当接させることで、脆弱部を形成してもよい。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
【0014】
本開示の一態様では、形成部は、溶接ワイヤに対し接近及び離間するように変位する押圧部材により溶接ワイヤを押圧することで、脆弱部を形成してもよい。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
【0015】
本開示の一態様では、形成部は、周期Ｔに応じた周期で回転する回転部材を溶接ワイヤに当接させることで、脆弱部を形成してもよい。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
上記構成によれば、脆弱部を良好に形成できる。
【図面の簡単な説明】
【0016】
【図1】溶接装置の説明図である。
【図2】溶接ワイヤの説明図である。
【図3】形成部の説明図である。
【図4】形成部の説明図である。
【図5】形成部の説明図である。
【図6】部材の製造方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0017】
以下、本開示の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本開示の実施の形態は、下記の実施形態に何ら限定されることはなく、本開示の技術的範囲に属する限り種々の形態を採りうる。
【0018】
［１．溶接装置］
本実施形態の溶接装置１は、パルスアーク溶接を行うよう構成されており、溶接トーチ１０と、ケーブル１４と、送給装置１５（換言すれば、送給部）と、スプール１６と、溶接制御部１７と、形成部２とを備える（図１参照）。
本実施形態の溶接装置１は、パルスアーク溶接を行うよう構成されており、溶接トーチ１０と、ケーブル１４と、送給装置１５（換言すれば、送給部）と、スプール１６と、溶接制御部１７と、形成部２とを備える（図１参照）。
【0019】
送給装置１５は、送給ローラ及び加圧ローラを備え、これらのローラを回転させることで、スプール１６に巻き付けられている溶接ワイヤ３を、溶接トーチ１０の先端に向けて送給する。
【0020】
ケーブル１４は、内部に溶接ワイヤ３の通路が形成されており、一端が溶接トーチ１０に接続されていると共に、他端が送給装置１５に接続されている。送給装置１５により送給される溶接ワイヤ３は、ケーブル１４の内部の通路を通過して溶接トーチ１０に到達する。
【0021】
［２．溶接トーチ］
溶接トーチ１０は、トーチホルダ１１と、トーチボディ１２と、ノズル１３とを備える（図１参照）。
溶接トーチ１０は、トーチホルダ１１と、トーチボディ１２と、ノズル１３とを備える（図１参照）。
【0022】
ノズル１３は、溶接トーチ１０の先端に位置し、ワーク４における溶接箇所に向けてシールドガスを放出する。また、ノズル１３の内部には図示しないチップが配置されており、チップからは、送給される溶接ワイヤ３の先端が突出する。そして、チップから突出する溶接ワイヤ３を介して、ワーク４における溶接箇所に対しアークが放出される。この時、溶接ワイヤ３の先端部分が溶融し、溶滴移行が生じる。
【0023】
トーチボディ１２は、トーチホルダ１１から突出するように設けられ、トーチボディ１２の先端にはノズル１３が設けられる。また、トーチボディ１２の内部には、溶接ワイヤ３をチップに送給するための通路と、シールドガスをノズル１３に供給するための流路とが設けられる。
【0024】
トーチホルダ１１は、ノズル１３から放出されるシールドガスを供給するための供給口が設けられる。また、トーチホルダ１１の内部には、溶接ワイヤ３をチップに送給するための通路が設けられる。
【0025】
［３．溶接制御部］
溶接制御部１７は、溶接装置１でのパルスアーク溶接を制御する部位である（図１参照）。溶接制御部１７は、ワーク４の溶接箇所に対しアークを放出するため、溶接電流１８を溶接ワイヤ３に出力する。溶接電流１８では、溶滴移行を発生させるため、周期Ｔで単一の矩形のパルスが生じる。
溶接制御部１７は、溶接装置１でのパルスアーク溶接を制御する部位である（図１参照）。溶接制御部１７は、ワーク４の溶接箇所に対しアークを放出するため、溶接電流１８を溶接ワイヤ３に出力する。溶接電流１８では、溶滴移行を発生させるため、周期Ｔで単一の矩形のパルスが生じる。
【0026】
また、溶接制御部１７は、ユーザからの指示に応じて、溶接電流１８における周期Ｔを設定する。この他にも、溶接制御部１７は、ユーザからの指示に応じて、溶接電流１８におけるハイレベル期間Ｔｈ、ローレベル期間Ｔｌ、ハイレベル電流値Ｉｈ、及びローレベル電流値Ｉｌを設定しても良い。なお、ハイレベル期間Ｔｈとは、パルスにより電流値が高くなる期間であり、ローレベル期間Ｔｌとは、パルスが発生せず、電流値が低い値に維持される期間である。また、ハイレベル電流値Ｉｈとは、パルス発生時の電流値であり、ローレベル電流値Ｉｌとは、ローレベル期間Ｔｌにおける電流値である。
【0027】
なお、溶接制御部１７は、例えば、溶接電流１８において、周期Ｔにて複数の矩形のパルスを発生させることで、溶滴移行を発生させても良い。具体的には、溶接制御部１７は、周期Ｔで交互に到来するハイレベル期間Ｔｈ及びローレベル期間Ｔｌを設けても良い。そして、溶接制御部１７は、ハイレベル期間Ｔｈに複数のパルスを発生させ、ローレベル期間Ｔｌに電流値を低い値に維持しても良い。
【0028】
この他にも、溶接制御部１７は、例えば、溶接電流１８において、矩形以外の波形のパルスを発生させることで、溶滴移行を発生させても良い。この場合においても、溶接制御部１７は、上記と同様のハイレベル期間Ｔｈ及びローレベル期間Ｔｌを設けても良い。そして、溶接制御部１７は、ハイレベル期間Ｔｈに矩形以外の波形のパルスを発生させ、ローレベル期間Ｔｌに電流値を低い値に維持しても良い。
【0029】
また、溶接制御部１７は、パルスアーク溶接の実行中、送給装置１５を制御し、送給速度Ｖで溶接ワイヤ３を溶接トーチ１０の先端に向けて移動させる。
［４．溶接ワイヤ］
溶接ワイヤ３における先端３Ａを含む区間には、脆弱部３１が形成されている（図２）。脆弱部３１とは、溶接ワイヤ３における他の部分よりも脆弱な部分である。
［４．溶接ワイヤ］
溶接ワイヤ３における先端３Ａを含む区間には、脆弱部３１が形成されている（図２）。脆弱部３１とは、溶接ワイヤ３における他の部分よりも脆弱な部分である。
【0030】
上記区間には、溶接ワイヤ３の伸長方向に沿って間隔ｄを空けて形成位置３０が設定される。そして、脆弱部３１は、溶接ワイヤ３における形成位置３０を含む部分に形成される。なお、ｄは、以下の式１により定められる。
【0031】
（式１）ｄ＝Ｖ×Ｔ
これにより、パルスアーク溶接の際、溶接ワイヤ３の先端３Ａを含む溶融部分では、脆弱部３１よりも先端３Ａ側の部分が溶滴として溶融池に落下し易くなる。
これにより、パルスアーク溶接の際、溶接ワイヤ３の先端３Ａを含む溶融部分では、脆弱部３１よりも先端３Ａ側の部分が溶滴として溶融池に落下し易くなる。
【0032】
本実施形態では、一例として、溶接ワイヤ３の外周面に凹部を設けることで、脆弱部３１が形成される。つまり、溶接ワイヤ３における脆弱部３１が形成された部分は、他の部分によりも細くなっている。しかし、これに限らず、例えば、溶接ワイヤ３における形成位置３０を含む部分に切り込みや穴を形成し、該部分に損傷を与えることで、脆弱部３１を形成しても良い。
【0033】
［５．形成部］
形成部２は、溶接装置１でのパルスアーク溶接の実行中、溶接トーチ１０に送給される溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成する（図１、２参照）。形成部２は、溶接装置１における溶接ワイヤ３の送給経路のいずれかの位置に設けられ、該位置を通過する溶接ワイヤ３に脆弱部３１を形成する。
形成部２は、溶接装置１でのパルスアーク溶接の実行中、溶接トーチ１０に送給される溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成する（図１、２参照）。形成部２は、溶接装置１における溶接ワイヤ３の送給経路のいずれかの位置に設けられ、該位置を通過する溶接ワイヤ３に脆弱部３１を形成する。
【0034】
具体的には、例えば、形成部２は、溶接ワイヤ３の送給経路における送給装置１５とスプール１６との間に設けられても良い。より詳しくは、形成部２は、例えば、溶接ワイヤ３が送給装置１５の内部に進入する入口に対し、スプール１６側に隣接する位置１Ａに設けられていても良い。
【0035】
また、例えば、形成部２は、溶接ワイヤ３の送給経路における送給装置１５と溶接トーチ１０との間に設けられても良い。より詳しくは、形成部２は、例えば、送給装置１５における溶接ワイヤ３の出口に対し、溶接トーチ１０側に隣接する位置１Ｂに設けられていても良い。
【0036】
また、例えば、形成部２は、溶接トーチ１０の内部に設けられていても良い。より詳しくは、形成部２は、トーチホルダ１１の内部の位置１Ｃに設けられていても良い。
この他にも、形成部２は、例えば、送給装置１５の内部に設けられていても良い。
この他にも、形成部２は、例えば、送給装置１５の内部に設けられていても良い。
【0037】
なお、上述した式１が示すように、溶接ワイヤ３における形成位置３０の間隔ｄは、送給速度Ｖ及び周期Ｔにより定められ、送給速度Ｖ及び周期Ｔは溶接作業毎に適宜変更され得る。つまり、溶接作業毎に、溶接ワイヤ３における形成位置３０が変化する可能性がある。
【0038】
このため、形成部２は、溶接ワイヤ３の送給経路における溶接トーチ１０の先端により近い位置に設けるのが好適である。こうすることにより、溶接作業の終了時に残存する、該溶接作業に対応して脆弱部３０が形成された溶接ワイヤ３の区間をより短くでき、溶接ワイヤ３をより有効に利用できる。
【0039】
［６．形成部の具体例１］
形成部２は、２つの押圧部材２１と、各押圧部材２１に対応して設けられた２つの駆動機構２０とを備えていても良い（図３参照）。
形成部２は、２つの押圧部材２１と、各押圧部材２１に対応して設けられた２つの駆動機構２０とを備えていても良い（図３参照）。
【0040】
２つの押圧部材２１は、溶接ワイヤ３の伸長方向に略直交する第１方向２Ａに沿って並び、溶接ワイヤ３を挟んで対面する。また、各押圧部材２１は、溶接ワイヤ３の外周面に当接する当接部２２を備える。
【0041】
駆動機構２０は、図示しないモータ等を備え、溶接ワイヤ３の外周面に対する接近及び離間を繰り返すように、押圧部材２１を第１方向２Ａに変位させる。ここで、押圧部材２１が溶接ワイヤ３に最も接近する位置を、近接位置２１Ａとし、押圧部材２１が溶接ワイヤ３から最も離間する位置を、離間位置２１Ｂとする。
【0042】
押圧部材２１が近接位置２１Ａに到達することで、押圧部材２１の当接部２２が溶接ワイヤ３の外周面に当接し、該外周面を押圧する。これにより、溶接ワイヤ３の外周面に凹部が形成され、該凹部が脆弱部３１となる。なお、駆動機構２０は、周期Ｔにて押圧部材２１が近接位置２１Ａに到達するように押圧部材２１を変位させる。これにより、溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１が形成される。
【0043】
また、当接部２２は、例えば、尖った部位として構成されても良い。具体的には、例えば、当接部２２は、溶接ワイヤ３の伸長方向に略直交する向きに配置された刃として形成されていても良い。また、例えば、当接部２２は、棒状であると共に、先端に向かうに従い細くなる形状を有していても良い。無論、これに限らず、当接部２２は、例えば、丸みを帯びた形状や、溶接ワイヤ３の伸長方向に沿って平面状に広がる形状を有していても良い。
【0044】
［７．形成部の具体例２］
形成部２は、２つの第１回転部材２３と、各第１回転部材２３を、溶接ワイヤ３の伸長方向に沿って伸びる回転軸２３Ａを中心に回転させる図示しない駆動機構とを備えていても良い（図４参照）。なお、各第１回転部材２３の回転方向は、適宜定められ得る。
形成部２は、２つの第１回転部材２３と、各第１回転部材２３を、溶接ワイヤ３の伸長方向に沿って伸びる回転軸２３Ａを中心に回転させる図示しない駆動機構とを備えていても良い（図４参照）。なお、各第１回転部材２３の回転方向は、適宜定められ得る。
【0045】
２つの第１回転部材２３は、第１方向２Ａに沿って並び、溶接ワイヤ３を挟んで対面する。また、各第１回転部材２３は、一例として４個の突出部２４を備える。各突出部２４は、回転軸２３Ａから径方向に突出すると共に、回転軸２３Ａを中心とする周方向に等間隔を空けて配置される。また、各突出部２４は、回転軸２３Ａに略直交する向きに広がる扁平な部位であり、各突出部２４の先端には当接部２４Ａが設けられている。
【0046】
そして、駆動機構は、図示しないモータ等を備え、周期Ｔの４倍の周期で各第１回転部材２３を１回転させる。これにより、４つの突出部２４の各当接部２４Ａは、周期Ｔで溶接ワイヤ３に当接し、溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成する。
【0047】
また、上述した押圧部材２１の当接部２２と同様、各突出部２４の当接部２４Ａは、尖った部位であっても良いし、刃であっても良い。無論、これに限らず、各当接部２４Ａは、例えば、丸みを帯びた形状を有していても良い。
【0048】
また、各第１回転部材２３は、様々な向きに配置され得る。具体的には、例えば、各第１回転部材２３は、回転軸２３Ａが、第１方向２Ａ及び溶接ワイヤ３の伸長方向と略直交する方向に伸びるように配置されていても良い。
【0049】
また、各第１回転部材２３における突出部２４の数（以後、Ｘ）は、４以外であっても良い。このような場合であっても、周方向に等間隔を空けて突出部２４を配置し、周期ＴのＸ倍の周期で各第１回転部材２３を１回転させることで、溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成できる。
【0050】
［８．形成部の具体例３］
形成部２は、２つの第２回転部材２５と、各第２回転部材２５を、溶接ワイヤ３の伸長方向及び第１方向２Ａに略直交する回転軸２５Ａを中心に回転させる図示しない駆動機構とを備えていても良い（図５参照）。なお、各第２回転部材２５の回転方向は、適宜定められ得る。
形成部２は、２つの第２回転部材２５と、各第２回転部材２５を、溶接ワイヤ３の伸長方向及び第１方向２Ａに略直交する回転軸２５Ａを中心に回転させる図示しない駆動機構とを備えていても良い（図５参照）。なお、各第２回転部材２５の回転方向は、適宜定められ得る。
【0051】
２つの第２回転部材２５は、第１方向２Ａに沿って並び、溶接ワイヤ３を挟んで対面する。また、各第２回転部材２５は、柱状の部位であり、伸長方向に直交する断面の中心に回転軸２５Ａが位置し、一例として７個の突出部２６を備える。各突出部２６は、回転軸２５Ａを中心とする周方向に等間隔を空けて配置される。また、各突出部２６は、回転軸２５Ａから径方向に突出しており、その先端には当接部２６Ａが設けられている。
【0052】
そして、駆動機構は、図示しないモータ等を備え、周期Ｔの７倍の周期で各第２回転部材２５を１回転させる。これにより、７つの突出部２６の各当接部２６Ａが、周期Ｔで溶接ワイヤ３に当接し、溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成する。
【0053】
また、上述した押圧部材２１の当接部２２や第１回転部材２３の当接部２４Ａと同様、各突出部２６の当接部２６Ａは、尖った部位であっても良いし、刃であっても良い。無論、これに限らず、各当接部２６Ａは、例えば、丸みを帯びた形状を有していても良い。
【0054】
また、各第２回転部材２５は、様々な向きに配置され得る。具体的には、例えば、各第２回転部材２５は、回転軸２５Ａが、溶接ワイヤ３の伸長方向に沿って伸びるように配置されていても良い。
【0055】
また、各第２回転部材２５における突出部２６の数（以後、Ｙ）は、７以外であっても良い。このような場合であっても、周方向に等間隔を空けて突出部２６を配置し、周期ＴのＹ倍の周期で各第２回転部材２５を１回転させることで、溶接ワイヤ３の形成位置３０に脆弱部３１を形成できる。
【0056】
［９．部材の製造方法］
次に、溶接装置１がパルスアーク溶接によりワーク４を接合することによる部材の製造方法について、図６のフローチャートを用いて説明する。
次に、溶接装置１がパルスアーク溶接によりワーク４を接合することによる部材の製造方法について、図６のフローチャートを用いて説明する。
【0057】
Ｓ１００では、溶接装置１の溶接制御部１７は、ユーザからパルスアーク溶接の設定の入力を受け付ける。具体的には、溶接制御部１７は、ユーザからの指示に従い、溶接電流１８における周期Ｔ、及び溶接ワイヤ３の送給速度Ｖを設定する。この他にも、溶接制御部１７は、ユーザからの指示に従い、例えば、上述したハイレベル期間Ｔｈ、ローレベル期間Ｔｌ、ハイレベル電流値Ｉｈ、及びローレベル電流値Ｉｌ等を設定しても良い。また、溶接制御部１７は、設定された周期Ｔや、ハイレベル期間Ｔｈや、ハイレベル電流値Ｉｈや、ローレベル電流値Ｉｌ等に基づき、溶接ワイヤ３の送給速度Ｖを設定しても良い。
【0058】
一例として、溶接ワイヤ３の径が１．２ｍｍであり、溶接電流１８の電流値が５０～２００Ａである場合には、送給速度Ｖは１０～１５０ｍｍ／ｓｅｃ、周期Ｔは５～２０ｍｍの値に設定され得る。
【0059】
Ｓ１０５では、溶接制御部１７は、溶接ワイヤ３における形成位置３０に脆弱部３１が形成されるよう、周期Ｔ及び送給速度Ｖに基づき形成部２における駆動機構の動作を設定し、Ｓ１１０に移行する。
【0060】
Ｓ１１０では、溶接制御部１７は、Ｓ１００での設定値に従い溶接電流１８を生成し、溶接ワイヤ３に出力することで、パルスアーク溶接を開始する。また、溶接制御部１７は、形成部２の動作を開始させ、溶接ワイヤ３の脆弱部３１の形成を開始する。溶接制御部１７は、パルスアーク溶接の開始後、ユーザから該パルスアーク溶接の終了指示を受け付けるまでは、Ｓ１００にてなされた設定に従いパルスアーク溶接を行う。
【0061】
なお、溶接装置１は、形成部２を作動させることなく、事前に脆弱部３１が形成された溶接ワイヤ３を用いてパルスアーク溶接を行っても良い。すなわち、所定の周期Ｔ及び送給速度Ｖに対応する脆弱部３１が形成された溶接ワイヤ３を、溶接装置１にセットしても良い。そして、溶接制御部１７は、該周期Ｔでパルスが発生する溶接電流１８を出力すると共に、該送給速度Ｖで溶接ワイヤ３を送給することで、パルスアーク溶接を行っても良い。
【0062】
また、パルスアーク溶接の実行中、溶接制御部１７は、溶接の状態やユーザからの指示に応じて、溶接電流１８の電流値や、周期Ｔや、溶接ワイヤ３の送給速度Ｖを変更しても良い。この場合、溶接制御部１７は、これらの値の変更に応じて溶接ワイヤ３における形成位置３０の間隔ｄを更新し、更新後の間隔ｄに基づき溶接ワイヤ３に脆弱部３１を形成する。
【0063】
［１０．効果］
（１）上記実施形態の部材の製造方法、及び溶接装置１によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤ３の先端の溶融部分に脆弱部３１が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、周期Ｔに複数のパルスを発生させたり、溶接電流１８のハイレベル期間Ｔｈを長くしたり、ハイレベル期間Ｔｈにおける溶接電流１８の電流値Ｉｈを高くしたりしなくても、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワーク４への入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
（１）上記実施形態の部材の製造方法、及び溶接装置１によれば、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤ３の先端の溶融部分に脆弱部３１が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、周期Ｔに複数のパルスを発生させたり、溶接電流１８のハイレベル期間Ｔｈを長くしたり、ハイレベル期間Ｔｈにおける溶接電流１８の電流値Ｉｈを高くしたりしなくても、周期Ｔにおいて１つの溶滴移行が発生するように促すことができる。したがって、ワーク４への入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0064】
また、単一のパルスが発生する溶接電流１８を用いたパルスアーク溶接により、スパッタやヒュームを抑制できる。また、単一のパルスが発生する溶接電流１８におけるハイレベル期間Ｔｈやハイレベル電流Ｉｈを、低減できる。
【0065】
（２）また、脆弱部３１の形成位置３０の間隔ｄは、送給速度Ｖと周期Ｔとの乗算値となっているため、溶接ワイヤ３に形成される脆弱部３１の数を抑制できる。これにより、溶接ワイヤ３の抵抗値の増加を抑制でき、その結果、消費電力を抑制できる。
【0066】
（３）また、パルスアーク溶接の実行中に、溶接トーチ１０に送給されている溶接ワイヤ３における該パルスアーク溶接の周期Ｔ及び溶接速度Ｖに対応する形成位置３０に、脆弱部３１が形成される。このため、脆弱部３１が形成された溶接ワイヤ３を事前に準備する必要が無く、様々な状況で行われるパルスアーク溶接において、ワーク４への入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0067】
（４）また、形成部２では、押圧部材２１と、第１及び回転部材２３、２５とにおける当接部２２、２４Ａ、２６Ａは、尖った部位として構成されている。このため、脆弱部３１を良好に形成できる。
【0068】
（５）また、形成部２における押圧部材２１は、溶接ワイヤ３に対し接近及び離間することで、脆弱部３１を形成する。また、第１及び回転部材２３、２５は、回転することで脆弱部３１を形成する。このため、脆弱部３１を良好に形成できる。
【0069】
［６．他の実施形態］
（１）上記実施形態において、形成位置３０の間隔ｄは、以下の式２により設定されても良い。
（１）上記実施形態において、形成位置３０の間隔ｄは、以下の式２により設定されても良い。
【0070】
（式２）ｄ＝Ｖ×Ｔ／Ｎ（Ｎは２以上の整数）
このような場合であっても、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤ３の先端の溶融部分に複数の脆弱部３１が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
このような場合であっても、溶滴移行の発生が見込まれる時期に、溶接ワイヤ３の先端の溶融部分に複数の脆弱部３１が存在するよう促されるため、より小さい電磁ピンチ力により溶滴移行が発生し得る。このため、ワークへの入熱を抑制しつつ、溶滴移行を良好に行うことができる。
【0071】
（２）上記実施形態においては、形成部２は、溶接装置１の一部として構成されているが、これに限らず、形成部２を単独の装置として構成しても良い。そして、パルスアーク溶接を行う溶接装置と共に形成部２を用い、該溶接装置にてパルスアーク溶接が行われている際に、溶接ワイヤ３に脆弱部３１を形成しても良い。また、パルスアーク溶接が行われていない時に、形成部２により、予め定められた周期Ｔ及び送給速度Ｖに対応する脆弱部３１を溶接ワイヤ３に形成しても良い。
【0072】
（３）上記実施形態における１つの構成要素が有する複数の機能を、複数の構成要素によって実現したり、１つの構成要素が有する１つの機能を、複数の構成要素によって実現したりしてもよい。また、複数の構成要素が有する複数の機能を、１つの構成要素によって実現したり、複数の構成要素によって実現される１つの機能を、１つの構成要素によって実現したりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。
【符号の説明】
【0073】
１…溶接装置、１０…溶接トーチ、１５…送給装置、１７…溶接制御部、１８…パルス電流、２…形成部、２１…押圧部材、２２…当接部、２３…第１回転部材、２４Ａ…当接部、２５…第２回転部材、２６Ａ…当接部、３…溶接ワイヤ、３０…形成位置、３１…脆弱部。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】