特開 2024-101075 導体劣化検出装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024101075

(43)【公開日】2024-07-29

(54)【発明の名称】導体劣化検出装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/9013 20210101AFI20240722BHJP

【ＦＩ】

G01N27/9013

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023004763

(22)【出願日】2023-01-17

(71)【出願人】

【識別番号】501418498

【氏名又は名称】矢崎エナジーシステム株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001771

【氏名又は名称】弁理士法人虎ノ門知的財産事務所

(72)【発明者】

【氏名】滋野 弘崇

(72)【発明者】

【氏名】中野 武

(72)【発明者】

【氏名】田澤 和俊

【テーマコード（参考）】

2G053

【Ｆターム（参考）】

2G053AA11

2G053AB21

2G053BA02

2G053BA14

2G053BC02

2G053BC14

2G053CA03

2G053DB16

2G053DB20

2G053DB25

(57)【要約】

【課題】導体の劣化の検出精度を向上することができる導体劣化検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】導体劣化検出装置１は、軸線方向Ｘに沿って延在する電線Ｗの導体Ｗ１の劣化を検出するセンサ１１が収容されたセンサユニット１０と、電線Ｗが軸線方向Ｘに沿って貫通すると共に、内部にセンサユニット１０が設けられる筐体２０と、筐体２０を電線Ｗに対して軸線方向Ｘに沿って相対移動させる駆動機構３０と、センサユニット１０を電線Ｗ側に押し付ける弾性部材４０と、を備える。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

軸線方向に沿って延在する電線の導体の劣化を検出するセンサが収容されたセンサユニットと、
前記電線が前記軸線方向に沿って貫通すると共に、内部に前記センサユニットが設けられる筐体と、
前記筐体を前記電線に対して前記軸線方向に沿って相対移動させる駆動機構と、
前記センサユニットを前記電線側に押し付ける弾性部材と、
を備えた、導体劣化検出装置。

【請求項2】

前記センサユニットは、前記筐体に前記軸線方向と交差する方向に沿って移動可能に支持され、
前記弾性部材は、前記軸線方向と交差する方向に沿って前記センサユニットを前記電線側に押し付ける、
請求項１に記載の導体劣化検出装置。

【請求項3】

前記駆動機構は、前記センサユニットの前記軸線方向の両側に設けられ前記電線上を走行する一対のローラと、前記一対のローラを駆動するモータと、を有し、
前記センサユニットは、前記筐体に前記軸線方向と交差する上下方向に沿って移動可能に支持され、
前記センサユニットの下端部は、前記弾性部材の自由状態において、前記一対のローラの下端部同士を結ぶ前記軸線方向と平行な仮想直線よりも下方に位置される、
請求項１または２に記載の導体劣化検出装置。

【請求項4】

前記弾性部材は、当該弾性部材の弾性力によって前記センサユニットを前記電線側に押し付けるダンパねじによって構成される、
請求項１または２に記載の導体劣化検出装置。

【請求項5】

前記センサは、前記導体に渦電流を発生させ、当該導体で発生した渦電流に応じた磁界を検出するコイルセンサによって構成される、
請求項１または２に記載の導体劣化検出装置。

【請求項6】

前記筐体の前記軸線方向の両端部に設けられ前記電線を挟持する一対のクランプ部と、前記一対のクランプ部に取り付けられ前記電線と当接する回転体と、を有したクランプ部材を備えた、
請求項１または２に記載の導体劣化検出装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、導体劣化検出装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来の導体劣化検出装置に関する技術として、例えば、特許文献１には、電線の導体の劣化を検出するセンサが収容されたセンサユニットと、内部にセンサユニットが設けられる筐体と、筐体を電線に対して軸線方向に沿って相対移動させる駆動機構と、を備えた導体劣化検出装置が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００６－７１３５０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで、上述した特許文献１に記載の導体劣化検出装置では、例えば、電線側に撓み等が生じていると劣化状況の検出精度が低下することがあり、この点で更なる改善の余地がある。

【0005】

本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであって、導体の劣化の検出精度を向上することができる導体劣化検出装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記目的を達成するために、本発明に係る導体劣化検出装置は、軸線方向に沿って延在する電線の導体の劣化を検出するセンサが収容されたセンサユニットと、前記電線が前記軸線方向に沿って貫通すると共に、内部に前記センサユニットが設けられる筐体と、前記筐体を前記電線に対して前記軸線方向に沿って相対移動させる駆動機構と、前記センサユニットを前記電線側に押し付ける弾性部材と、を備える。

【発明の効果】

【0007】

本発明に係る導体劣化検出装置には、センサユニットを電線側に押し付ける弾性部材が設けられている。この構成により、導体劣化検出装置は、例えば、筐体の電線に対する軸線方向への相対移動時において、電線側に撓み等が生じていても弾性部材の弾性力によってセンサユニットを電線に密着させて当該センサユニット側のセンサと電線との間の距離（位置）を一定に保つことができる。この結果、導体劣化検出装置は、導体の劣化の検出精度を向上することができる、という効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】図１は、実施形態に係る導体劣化検出装置の例示的な斜視図である。

【図2】図２は、実施形態に係る導体劣化検出装置の例示的な断面図である。

【図3】図３は、実施形態に係る導体劣化検出装置のセンサユニットおよび駆動機構付近の例示的な斜視図である。

【図4】図４は、実施形態に係る導体劣化検出装置のセンサユニットおよび駆動機構付近の例示的な側面図である。

【図5】図５は、実施形態に係る導体劣化検出装置の例示的な正面図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、下記実施形態によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が置換可能かつ容易なもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。なお、本明細書では、序数は、部品や、部材、部位、位置、方向等を区別するためだけに用いられており、順番や優先度を示すものではない。

【0010】

［実施形態］
図１は、実施形態に係る導体劣化検出装置１の斜視図であり、図２は、導体劣化検出装置１の断面図である。なお、以下の説明では、互いに交差する第１方向、第２方向、および第３方向のうち、第１方向を「軸線方向Ｘ」といい、第２方向を「幅方向Ｙ」といい、第３方向を「上下方向Ｚ」という。ここでは、軸線方向Ｘと幅方向Ｙと上下方向Ｚとは、相互に略直交する。軸線方向Ｘは、典型的には、導体劣化検出装置１による検査対象である電線Ｗが延在する方向、導体劣化検出装置１の前後方向（長手方向）に相当する。幅方向Ｙは、典型的には、導体劣化検出装置１の左右方向（横幅方向）に相当する。上下方向Ｚは、典型的には、導体劣化検出装置１の高さ方向（縦幅方向）、検査対象である電線Ｗに導体劣化検出装置１を設置した状態で、電線Ｗが自重等によって撓む方向、言い換えれば、鉛直方向に相当する。また、以下の説明で用いる各方向は、特に断りのない限り、電線Ｗが導体劣化検出装置１に組み付けられた状態での方向として説明する。

【0011】

図１、２に示される本実施形態の導体劣化検出装置１は、いわゆる渦電流探傷法（ＥＣＴ：ＥｄｄｙＣｕｒｒｅｎｔ Ｔｅｓｔｉｎｇ）を用いて電線Ｗの導体Ｗ１の劣化を検出する検査装置である。電線Ｗは、導体劣化検出装置１によって導体Ｗ１の劣化が検査される検査対象（検体）である。電線Ｗは、導体Ｗ１と、絶縁被覆Ｗ２と、を含んで構成される。導体Ｗ１は、導電性を有する複数の金属素線を束ねたり撚り合せたりして構成される芯線である。絶縁被覆Ｗ２は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、導体Ｗ１の外周面を覆い絶縁するものである。電線Ｗは、軸線方向Ｘと直交する断面形状が略円形状に形成され、導体Ｗ１、絶縁被覆Ｗ２が軸線方向Ｘに沿ってほぼ同じ径で線状に延びるように形成される。導体劣化検出装置１は、後述するセンサユニット１０が発生させる磁界（磁束）によって電線Ｗの導体Ｗ１に渦電流を発生させ、当該渦電流に応じた磁界（磁束）を検出することで、導体Ｗ１の劣化を検出する。以下、各図を参照して導体劣化検出装置１の各構成について詳細に説明する。

【0012】

なお、導体劣化検出装置１によって検査する導体Ｗ１の劣化とは、典型的には、導体Ｗ１の腐食や導体Ｗ１の割れ等であり、例えば、経年変化等によって発生する。また、以下の説明では、導体劣化検出装置１によって検査する電線Ｗは、例えば、電柱等を介して空中に架けられた架空配電線であるものとして説明するがこれに限らない。また、以下の説明では、導体劣化検出装置１は、渦電流探傷法を用いて電線Ｗの導体Ｗ１の劣化を検出するものとして説明するがこれに限らない。

【0013】

図１、２に示されるように、導体劣化検出装置１は、例えば、センサユニット１０と、筐体２０と、駆動機構３０と、弾性部材４０と、クランプ部材５０と、を備えている。センサユニット１０や、駆動機構３０、弾性部材４０、クランプ部材５０は、筐体２０の内部に収容されている。導体劣化検出装置１は、例えば、当該導体劣化検出装置１を制御するコントローラとの間で、筐体２０に設けられた入出力端子や無線通信モジュール等を介して有線、無線を問わず、各種駆動信号や検出信号等を授受（送受信）することが可能である。

【0014】

センサユニット１０は、センサ１１と、センサ１１を収容するケース１２と、を有している。センサ１１は、例えば、上述した渦電流探傷法を用いたコイルセンサであり、それぞれ巻線が螺旋状や渦巻き状に巻回されることで構成される一対の励磁コイルおよび検出コイルを含んでいる。励磁コイルは、交流電流が印加されることによって磁界（磁束）を発生させるコイルであり、発生させた磁界によって導体Ｗ１に渦電流を発生させる。検出コイルは、磁界（磁束）を検出するコイルであり、導体Ｗ１で発生した渦電流に応じた磁界の磁束変化により誘導電流が流れる。励磁コイルによる磁界発生、および検出コイルによる磁界検出は、電子回路等によって制御される。

【0015】

電子回路は、例えば、発振回路や検出回路等を含んで構成される。発振回路は、励磁コイルを励磁させ、磁界を発生させる励磁回路である。発振回路は、励磁を励磁させる交流電流を生成し、当該交流電流を励磁コイルに印加する。発振回路は、励磁コイルに電気的に接続され、当該励磁コイルに交流電流を印加する。発振回路は、励磁コイルに電気的に接続され、当該励磁コイルに交流電流を印加する。検出回路は、検出コイルに流れる誘導電流を検出信号として検出する回路である。検出回路によって検出される検出信号（誘導電流）は、例えば、導体Ｗ１で発生した渦電流に応じた磁界の磁束変化等に応じて変化し、すなわち、導体Ｗ１で発生した渦電流等に応じた信号となる。検出回路は、検出コイルに電気的に接続され、検出コイルに流れる誘導電流を検出信号として検出する。検出回路は、検出コイルに流れる誘導電流を検出信号として検出する。

【0016】

ケース１２は、例えば、ロアケースやアッパケース等の複数の部材が組み合わされて全体として中空箱状に形成される。ケース１２は、ロアケースおよびアッパケースによって区画される内部の空間部がセンサ１１が収容される収容空間部として機能する。また、ケース１２は、例えば、電線Ｗに対して上下方向Ｚの一方側、すなわち上方側に対向して配置される。センサ１１は、ケース１２内における下壁部１２ａ上に搭載され、電線Ｗに対して下壁部１２ａの上下方向Ｚの厚さ分だけ離れて位置される。

【0017】

筐体２０は、内部にセンサユニット１０が設けられる箱状の部材である。筐体２０は、絶縁性を有する樹脂材料等によって構成される。筐体２０は、例えば、軸線方向Ｘが長辺方向となる略直方体の箱状に形成される。筐体２０は、天壁部２０ａや、底壁部２０ｂ、一対の側壁部２０ｃ、一対の端壁部２０ｄ、一対の中壁部２０ｅ等の複数の壁部を有している。天壁部２０ａおよび底壁部２０ｂは、いずれも、上下方向Ｚと直交する方向に沿って延びており、上下方向Ｚに間隔をあけて互いに平行に設けられている。天壁部２０ａは、筐体２０の上端部を構成し、底壁部２０ｂは、筐体２０の下端部を構成している。

【0018】

一対の側壁部２０ｃは、いずれも、幅方向Ｙと直交する方向に沿って延びており、幅方向Ｙに間隔をあけて互いに平行に設けられている。一対の側壁部２０ｃのうち一方は、天壁部２０ａおよび底壁部２０ｂの幅方向Ｙの一端部の間に渡り、筐体２０の左端部を構成している。一対の側壁部２０ｃのうち他方は、天壁部２０ａおよび底壁部２０ｂの幅方向Ｙの他端部の間に渡り、筐体２０の右端部を構成している。

【0019】

一対の端壁部２０ｄは、いずれも、軸線方向Ｘと直交する方向に沿って延びており、軸線方向Ｘに間隔をあけて互いに平行に設けられている。一対の端壁部２０ｄのうち一方は、天壁部２０ａおよび底壁部２０ｂの軸線方向Ｘの一端部の間に渡り、筐体２０の前端部を構成している。一対の端壁部２０ｄのうち他方は、天壁部２０ａおよび底壁部２０ｂの軸線方向Ｘの他端部の間に渡り、筐体２０の後端部を構成している。

【0020】

そして、筐体２０には、一対の端壁部２０ｄを軸線方向Ｘに沿って貫通する電線挿通孔２０ｆが設けられている。電線挿通孔２０ｆは、筐体２０の内外に渡って電線Ｗを挿通させるための貫通孔であり、一対の端壁部２０ｄの間に渡るように軸線方向Ｘに沿って延びている。電線挿通孔２０ｆは、例えば、筐体２０のうち上下方向Ｚの略中央部よりも下方側の領域に形成され、軸線方向Ｘの両側および下方側に開放されている。

【0021】

一対の中壁部２０ｅは、いずれも、一対の側壁部２０ｃの間に位置され、天壁部２０ａと底壁部２０ｂとの間に渡るように設けられている。一対の中壁部２０ｅは、例えば、第１部分２０ｅ１と、第２部分２０ｅ２と、第３部分２０ｅ３と、をそれぞれ含んで構成される。第１部分２０ｅ１は、底壁部２０ｂから電線挿通孔２０ｆと面するように上下方向Ｚに沿って延びている。第２部分２０ｅ２は、第１部分２０ｅ１の上端部から一対の側壁部２０ｃに向けて幅方向Ｙに沿って延びている。第３部分２０ｅ３は、第２部分２０ｅ２の幅方向Ｙの両端部から天壁部２０ａに向けて上下方向Ｚに沿って延びている。

【0022】

ここで、筐体２０内には、中壁部２０ｅの第２部分２０ｅ２と第３部分２０ｅ３とによって囲まれた収容空間部２０ｇが設けられている。収容空間部２０ｇは、センサユニット１０や、クランプ部材５０、後述する駆動機構３０のローラ３１（図３参照）等が配置される空間部である。収容空間部２０ｇは、上述した電線挿通孔２０ｆに対して上方側に対向して形成され、少なくとも上方側に開放されている。収容空間部２０ｇは、中壁部２０ｅからセンサユニット１０が取り外された状態において、電線挿通孔２０ｆと上下方向Ｚに連通する。

【0023】

図３は、導体劣化検出装置１のセンサユニット１０および駆動機構３０付近の斜視図である。図３に示されるように、駆動機構３０は、軸線方向Ｘに沿って電線Ｗと筐体２０とを相対移動させるものである。本実施形態の駆動機構３０は、電柱等を介して空中に架けられた電線Ｗに対して筐体２０を軸線方向Ｘに沿って移動させる。駆動機構３０は、例えば、一対のローラ３１と、モータ３２と、ギア機構３３と、プーリ３４と、を含んで構成される。

【0024】

モータ３２は、回転動力を発生させる動力源であり、ギア機構３３を介して回転動力を一対のローラ３１に伝達する。一対のローラ３１は、筐体２０の内部で電線Ｗと接触した状態で設けられ、モータ３２が発生させる回転動力によって回転駆動するものである。一対のローラ３１は、筐体２０に対して幅方向Ｙに沿って延びる回転中心回りに回転可能に支持されている。本実施形態では、例えば、一対のローラ３１のうちの一方が駆動ローラとして機能し、他方が従動ローラとして機能する。プーリ３４は、一対のローラ３１の間を連結し、駆動ローラの回転動力を従動ローラに伝達する。

【0025】

そして、駆動機構３０は、回転駆動する一対のローラ３１によって上述した電線挿通孔２０ｆの軸線方向Ｘの一端部から電線Ｗを筐体２０の内部に引き込むと共に、軸線方向Ｘの他端部から当該電線Ｗを筐体２０の外部に送り出すようにして、導体劣化検出装置１を、電線Ｗ上を走行させる。これにより、駆動機構３０は、電線Ｗに対して筐体２０を軸線方向Ｘに沿って相対移動させることができる。なお、本実施形態では、ローラ３１は、センサユニット１０の軸線方向Ｘの両側に一対で設けられているがこれに限らない。

【0026】

また、センサユニット１０は、例えば、ケース１２の側壁から幅方向Ｙの両側に張り出した取付部１２ｂを有している。取付部１２ｂは、上述した中壁部２０ｅの第２部分２０ｅ２に沿って延びており、当該第２部分２０ｅ２上に重ねられている。そして、本実施形態では、取付部１２ｂは、第２部分２０ｅ２に弾性部材４０を介して取り付けられている。弾性部材４０は、例えば、ダンパねじ４１によって構成される。

【0027】

ダンパねじ４１は、例えば、第２部分２０ｅ２に立設され取付部１２ｂを上下方向Ｚに貫通する軸部４２や、軸部４２の上端部に設けられる反力受け部４３、軸部４２に装着され反力受け部４３と取付部１２ｂとの間で弾性変形する弾性部材４０（スプリング）等を含んで構成される。取付部１２ｂは、弾性部材４０によって第２部分２０ｅ２に対して軸部４２（上下方向Ｚ）に沿ってスライド可能に支持されている。ダンパねじ４１は、センサユニット１０の四隅に設けられている。

【0028】

本実施形態では、ダンパねじ４１は、弾性部材４０の弾性力によって取付部１２ｂひいてはセンサユニット１０を上下方向Ｚに沿って電線Ｗ側に押し付けた状態で、当該取付部１２ｂを第２部分２０ｅ２に固定している。また、ダンパねじ４１は、弾性部材４０の弾性変形によって取付部１２ｂひいてはセンサユニット１０の上下方向Ｚの移動を許容し、当該取付部１２ｂを第２部分２０ｅ２に対して上下方向Ｚに沿って移動可能に支持している。なお、本実施形態では、弾性部材４０は、ダンパねじ４１によって構成されているがこれに限らない。

【0029】

本実施形態では、上下方向Ｚは、軸線方向Ｘと交差する方向の一例である。なお、弾性部材４０は、この例には限定されず、例えば、軸線方向Ｘと交差する幅方向Ｙに沿ってセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付けるように設けられてもよい。言い換えると、センサユニット１０は、電線Ｗに対して上方ではなく側方（幅方向Ｙ）に取り付けられてもよい。

【0030】

図４は、導体劣化検出装置１のセンサユニット１０および駆動機構３０付近の側面図である。図４に示されるように、本実施形態のセンサユニット１０は、上述したダンパねじ４１によって第１位置Ｐ１と第２位置Ｐ２との間で上下方向Ｚに沿って移動可能に支持されている。第１位置Ｐ１は、ダンパねじ４１の弾性部材４０（スプリング）の自由状態における位置であり、初期位置等とも称される。第２位置Ｐ２は、ダンパねじ４１の弾性部材４０の圧縮状態における位置であり、可動位置やセット位置等とも称される。センサユニット１０は、電線Ｗに対して第２位置Ｐ２に位置された状態で取り付けられ、ローラ３１と共に軸線方向Ｘに沿って電線Ｗ上を走行する。

【0031】

そして、本実施形態では、センサユニット１０の下端部１２ａ１は、上述した第１位置Ｐ１において、一対のローラ３１の下端部３１ａ同士を結ぶ軸線方向Ｘと平行な仮想直線Ｖよりも下方に位置されている。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、電線Ｗによってセンサユニット１０が上方に押し上げられた第２位置Ｐ２で取り付けられることで、導体劣化検出装置１の全体の自重がかかった状態でセンサユニット１０と電線Ｗとが密着するように構成されている。

【0032】

導体劣化検出装置１は、上述したセンサユニット１０が電線Ｗと密着した状態で電線Ｗ上を自走することで、軸線方向Ｘに沿って電線Ｗの導体Ｗ１の劣化を検出する。電線Ｗの導体Ｗ１は、腐食や割れ等による劣化が存在すると、当該劣化部位において、センサ１１（コイルセンサ）が発生させた磁界によって発生する渦電流の分布が変化し当該渦電流が相対的に少なくなる傾向にある。この結果、電線Ｗの導体Ｗ１は、腐食や割れ等による劣化が存在すると、当該劣化部位において、センサ１１によって検出される検出値が相対的に小さくなる傾向にある。センサ１１によって検出される検出値は、導体Ｗ１の劣化の度合いが相対的に大きくなるほど相対的に小さくなる傾向にある。このことを利用して、センサ１１は、導体Ｗ１の劣化状況を検出することができる。

【0033】

クランプ部材５０は、電線Ｗのセンサユニット１０やローラ３１に対する上下方向Ｚの位置および幅方向Ｙの位置を保持するものである。クランプ部材５０は、例えば、筐体２０の軸線方向Ｘの両端部に設けられる一対のクランプ部５１と、一対のクランプ部５１を連結する連結部５２と、一対のクランプ部５１に取り付けられる複数の回転体５３（図５参照）と、を含んで構成される。

【0034】

図５は、導体劣化検出装置１の正面図である。図５に示されるように、クランプ部５１は、一対の端壁部２０ｄの内側に位置されている。クランプ部５１は、例えば、下方側に開放された略Ｕ字状に形成され、電線Ｗを幅方向Ｙの両側から挟持可能である。また、クランプ部５１には、それぞれ一対の回転体５３が取り付けられている。回転体５３は、例えば、軸線方向Ｘに沿った電線Ｗと導体劣化検出装置１との相対移動に伴って当該電線Ｗの外面上を軸線方向Ｘに沿って転動するローラ等である。一対の回転体５３は、上下方向Ｚに沿って延びる回転中心回りに回転可能であり、クランプ部５１において、幅方向Ｙに互いに間隔をあけて設けられている。

【0035】

回転体５３は、クランプ部５１と電線Ｗとの間の隙間を最小にしつつクランプ部５１と電線Ｗとの間に生じる摩擦を低減することができる。ここでは、回転体５３は、電線Ｗと接触する転動面が直線形状に形成されているがこれに限らない。本実施形態では、一対の回転体５３の間に電線Ｗが挟持されることによって、電線Ｗのセンサユニット１０やローラ３１に対する位置を保持しつつ、電線Ｗとクランプ部５１との間の摺動抵抗が低減される。また、クランプ部５１における一対の回転体５３の間の開口幅が比較的広めに確保され、これにより、直径が異なる複数の仕様の電線Ｗに対応することができるように構成されている。

【0036】

連結部５２は、筐体２０の上方に位置され、一対のクランプ部５１を連結している。連結部５２は、例えば、軸線方向Ｘに沿って延びる二つの連結バー５４を有しており、当該二つの連結バー５４の開度（角度）を調節することによってクランプ部５１を開閉可能である。具体的には、連結部５２は、例えば、二つの連結バー５４が開いた図５の状態では、クランプ部５１を閉じ、二つの連結バー５４が閉じた状態、言い換えると二つの連結バー５４の幅方向Ｙの間隔が図５よりも狭まった状態では、クランプ部５１を開くことができる。

【0037】

また、連結部５２は、例えば、コイルスプリング等によって二つの連結バー５４が開く方向、すなわちクランプ部５１が閉じる方向に付勢されている。作業者は、二つの連結バー５４が閉じるように連結部５２を把持することによって、クランプ部５１を開くことができる。また、連結部５２は、例えば、導体劣化検出装置１の運搬時において作業者の把持部としても機能する。

【0038】

以上のように、本実施形態の導体劣化検出装置１は、軸線方向Ｘに沿って延在する電線Ｗの導体Ｗ１の劣化を検出するセンサ１１が収容されたセンサユニット１０と、電線Ｗが軸線方向Ｘに沿って貫通すると共に、内部にセンサユニット１０が設けられる筐体２０と、筐体２０を電線Ｗに対して軸線方向Ｘに沿って相対移動させる駆動機構３０と、センサユニット１０を電線Ｗ側に押し付ける弾性部材４０と、を備える。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、筐体２０の電線Ｗに対する軸線方向Ｘへの相対移動時において、電線Ｗ側に撓み等が生じていても弾性部材４０の弾性力によってセンサユニット１０を電線Ｗに密着させて当該センサユニット１０側のセンサ１１と電線Ｗとの間の距離（位置）を一定に保つことができる。この結果、導体劣化検出装置１は、導体Ｗ１の劣化の検出精度を向上することができる。

【0039】

ここで、導体劣化検出装置１は、軸線方向Ｘに沿って電線Ｗ上を自走することから当該電線Ｗが比較的撓み易い。また、電線Ｗ上を自走することから当該電線Ｗ上の微細の凹凸を拾ってセンサユニット１０と電線Ｗとの相対位置が変動する虞がある。その点、本実施形態によれば、弾性部材４０の弾性力によってセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付けて当該センサユニット１０と電線Ｗとの間に隙間が空かないようにすることができる。この結果、導体劣化検出装置１は、導体Ｗ１の劣化の検出精度を向上することができる。

【0040】

また、本実施形態の導体劣化検出装置１では、センサユニット１０は、筐体２０に軸線方向Ｘと交差する方向としての上下方向Ｚに沿って移動可能に支持され、弾性部材４０は、上下方向Ｚに沿ってセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付ける。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、直径違いの複数の仕様の電線Ｗに対応して当該電線Ｗの誤差を吸収することができ、ひいては直径が異なる複数の仕様の電線Ｗとセンサユニット１０とが密着可能な構成とすることができる。

【0041】

また、本実施形態の導体劣化検出装置１では、駆動機構３０は、センサユニット１０の軸線方向Ｘの両側に設けられ電線Ｗ上を走行する一対のローラ３１と、一対のローラ３１を駆動するモータ３２と、を有し、センサユニット１０の下端部１２ａ１は、弾性部材４０の自由状態において、一対のローラ３１の下端部３１ａ同士を結ぶ軸線方向Ｘと平行な仮想直線Ｖよりも下方に位置される。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、電線Ｗによってセンサユニット１０が上方に押し上げられた状態で取り付けられることで、筐体２０の自重がかかった状態でセンサユニット１０と電線Ｗとが密着する。この結果、導体劣化検出装置１は、センサユニット１０と電線Ｗとの密着性をより高めることができる。

【0042】

また、本実施形態の導体劣化検出装置１では、弾性部材４０は、当該弾性部材４０の弾性力によってセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付けるダンパねじ４１によって構成される。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、ダンパねじ４１によってセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付ける機能と、センサユニット１０を筐体２０に対して固定する機能とを担うことができ、ひいてはセンサユニット１０を電線Ｗ側に押し付ける構成を比較的容易に得ることができる。

【0043】

また、本実施形態の導体劣化検出装置１では、センサ１１は、導体Ｗ１に渦電流を発生させ、当該導体Ｗ１で発生した渦電流に応じた磁界を検出するコイルセンサによって構成される。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、コイルセンサによる渦電流探傷法を用いた導体劣化検出装置１において、センサユニット１０側のセンサ１１と電線Ｗとの間の距離（位置）を一定に保つことができ、ひいては導体Ｗ１の劣化の検出精度を向上することができる。

【0044】

また、本実施形態の導体劣化検出装置１では、筐体２０の軸線方向Ｘの両端部に設けられ電線Ｗを挟持する一対のクランプ部５１と、一対のクランプ部５１に取り付けられ電線Ｗと当接する回転体５３と、を有したクランプ部材５０を備える。この構成により、導体劣化検出装置１は、例えば、一対のクランプ部５１によって電線Ｗのセンサユニット１０やローラ３１に対する上下方向Ｚおよび幅方向Ｙの位置を保持しつつ、回転体５３によって電線Ｗとの摺動抵抗を低減することができる。また、例えば、直径違いの複数の仕様の電線Ｗに対応して当該電線Ｗの誤差を吸収することができ、ひいては直径が異なる複数の仕様の電線Ｗとセンサユニット１０やローラ３１とが密着しやすい構成とすることができる。

【0045】

以上、本発明の実施形態が例示されたが、上記実施形態は一例であって、発明の範囲を限定することは意図していない。上記実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。また、各構成や、形状、等のスペック（構造や、種類、方向、形式、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等）は、適宜に変更して実施することができる。

【符号の説明】

【0046】

１ 導体劣化検出装置
１０ センサユニット
１１ センサ（コイルセンサ）
１２ａ１ 下端部
２０ 筐体
３０ 駆動機構
３１ ローラ
３２ モータ
４０ 弾性部材
４１ ダンパねじ
５０ クランプ部材
５１ クランプ部
５３ 回転体
Ｗ 電線
Ｗ１ 導体
Ｘ 軸線方向
Ｙ 幅方向（軸線方向と交差する方向）
Ｚ 上下方向（軸線方向と交差する方向）

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】