特開 2024-101312 自動分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024101312

(43)【公開日】2024-07-29

(54)【発明の名称】自動分析装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/00 20060101AFI20240722BHJP

【ＦＩ】

G01N35/00 F

【審査請求】未請求

【請求項の数】15

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023005223

(22)【出願日】2023-01-17

(71)【出願人】

【識別番号】594164542

【氏名又は名称】キヤノンメディカルシステムズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110003708

【氏名又は名称】弁理士法人鈴榮特許綜合事務所

(72)【発明者】

【氏名】下平 雄貴

(72)【発明者】

【氏名】松田 勇

(72)【発明者】

【氏名】小笠原 誠

(72)【発明者】

【氏名】児玉 究

(72)【発明者】

【氏名】瀬町 崇浩

(72)【発明者】

【氏名】小森 裕也

【テーマコード（参考）】

2G058

【Ｆターム（参考）】

2G058CD04

2G058EA02

2G058EA04

2G058GA11

2G058GE08

(57)【要約】

【課題】電極ユニットの異常判定の精度を向上すること。
【解決手段】実施形態に係る自動分析装置は、電極ユニットと、設定部と、測定部と、抽出部と、判定部とを備える。電極ユニットは、電位を測定する。設定部は、測定環境を含む測定条件を設定する。測定部は、測定条件において、電極ユニットで用いられる校正液を連続して複数回の測定をすることによって第１の測定データを生成する。抽出部は、抽出条件に基づいて第１の測定データから基準データを抽出する。判定部は、基準データと、測定条件および抽出条件に基づく比較対象データとに基づいて、電極ユニットの異常を判定する。
【選択図】 図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

電位を測定する電極ユニットと、
測定環境を含む測定条件を設定する設定部と、
前記測定条件において、前記電極ユニットで用いられる校正液を連続して複数回の測定をすることによって第１の測定データを生成する測定部と、
抽出条件に基づいて前記第１の測定データから基準データを抽出する抽出部と、
前記基準データと、前記測定条件および前記抽出条件に基づく比較対象データとに基づいて、前記電極ユニットの異常を判定する判定部と
を具備する、自動分析装置。

【請求項2】

前記測定部は、前記電極ユニットによる測定結果が変動しうる第１のタイミングで前記第１の測定データを生成する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項3】

前記第１のタイミングは、前記校正液のロットが切り替わったタイミング、ハードウェアのメンテナンス後のタイミング、および前記電極ユニットの日常的なメンテナンス時のタイミングの少なくともいずれかである、
請求項２に記載の自動分析装置。

【請求項4】

前記測定部は、前記測定条件において、前記第１の測定データと測定タイミングの異なる第２の測定データを生成し、
前記抽出部は、前記抽出条件に基づいて前記第２の測定データから前記比較対象データを抽出する、
請求項３に記載の自動分析装置。

【請求項5】

前記測定部は、前記第１のタイミングと測定タイミングの異なる第２のタイミングで前記第２の測定データを生成する、
請求項４に記載の自動分析装置。

【請求項6】

前記第２のタイミングは、前記第１のタイミングを基準とした予め設定されたスケジュールに基づくタイミングである、
請求項５に記載の自動分析装置。

【請求項7】

前記判定部は、前記基準データの波形と前記比較対象データの波形との差分に基づいて前記電極ユニットの異常を判定する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項8】

前記基準データの波形および前記比較対象データの波形は、どちらも電極電位と時間とを対応付けたものである、
請求項７に記載の自動分析装置。

【請求項9】

前記差分は、波形の立ち上がり時間、波形の電位ピーク値、波形の電位平均値、および波形の傾きの少なくともいずれかに関する、
請求項８に記載の自動分析装置。

【請求項10】

前記基準データと前記測定条件とを対応付けてメモリに記憶させる制御部
を更に具備し、
前記設定部は、前記メモリから読み出した前記測定条件を設定し、
前記測定部は、前記測定条件において、前記第１の測定データと測定タイミングの異なる第２の測定データを生成し、
前記抽出部は、前記抽出条件に基づいて前記第２の測定データから前記比較対象データを抽出する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項11】

前記制御部は、前記比較対象データと前記測定条件とを対応付けて前記メモリに記憶させる、
請求項１０に記載の自動分析装置。

【請求項12】

前記測定環境は、前記電極ユニット以外の他のユニットの動作状況である、
請求項１から請求項１１までのいずれか一項に記載の自動分析装置。

【請求項13】

前記測定条件は、前記他のユニットの動作の停止を含む、
請求項１２に記載の自動分析装置。

【請求項14】

前記測定条件は、前記電極ユニットが有する電極の温度を含む、
請求項１３に記載の自動分析装置。

【請求項15】

前記第１の測定データは、前記複数回の測定に対応する複数の測定期間を有し、
前記抽出条件は、前記複数の測定期間のうちの２番目以降の任意の測定期間を抽出することである、
請求項１２に記載の自動分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。

【背景技術】

【0002】

電気化学的に溶液中の特定の電解質濃度を測定するイオン選択性電極は、現在広く自動分析装置に組み込まれ、主に生体由来の試料中のナトリウムイオン、カリウムイオン、およびクロルイオンの測定に用いられている。イオン選択性電極の測定系（ユニット）の異常判定に関する技術として、ハードウェアの動作タイミングと電極センサ出力の変動とを関連付けて監視することで、測定系の異常を判定する技術がある。また、反応過程を継続的にモニタすることで経年劣化による影響を判定する技術がある。また、複数の検体の測定結果から測定系の異常を検知する技術がある。また、複数の校正液の測定結果から測定系の異常を検知する技術がある。

【0003】

しかし、これまでのイオン選択性電極のユニットの異常検知方法は、試料濃度、校正液のロット、および溶液の温度などの条件が異なると、検知結果に大きな影響を与える可能性がある。これにより、反応過程もこれらの条件の変動により大きく変化する可能性がある。この変動をユニットの異常による変動と識別することは困難であり、異常判定の精度低下につながっている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開平８－２３３７７１号公報

【特許文献2】特開２００９－１２１８１７号公報

【特許文献3】特開２００８－１０２１３１号公報

【特許文献4】特開２０１２－４２３５９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、電極ユニットの異常判定の精度を向上することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

【課題を解決するための手段】

【0006】

実施形態に係る自動分析装置は、電極ユニットと、設定部と、測定部と、抽出部と、判定部とを備える。電極ユニットは、電位を測定する。設定部は、測定環境を含む測定条件を設定する。測定部は、測定条件において、電極ユニットで用いられる校正液を連続して複数回の測定をすることによって第１の測定データを生成する。抽出部は、抽出条件に基づいて第１の測定データから基準データを抽出する。判定部は、基準データと、測定条件および抽出条件に基づく比較対象データとに基づいて、電極ユニットの異常を判定する。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成例を示すブロック図である。

【図2】図２は、図１の分析機構の構成例を示す図である。

【図3】図３は、図２の電極ユニットの構成例を示す図である。

【図4】図４は、本実施形態における基準データ作成処理の動作を例示するフローチャートである。

【図5】図５は、本実施形態における各イオンの電極電位と時間とを対応付けてグラフで示した測定データを示す図である。

【図6】図６は、図５の測定データから抽出された基準データを示す図である。

【図7】図７は、本実施形態における電極ユニット異常検知処理の動作を例示するフローチャートである。

【図8】図８は、図７のデータ判定処理の動作を例示するフローチャートである。

【図9】図９は、本実施形態における基準データと比較対象データとの種々の差分についての説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について詳細に説明する。

【0009】

（実施形態）
図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成例を示すブロック図である。例えば、図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース５、出力インタフェース６、通信インタフェース７、記憶回路８および制御回路９を備える。尚、制御回路は、処理回路に言い換えられてもよい。

【0010】

分析機構２は、標準試料または被検試料などの試料と、当該試料に設定される各種検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば、吸光度に関連付けられた標準データおよび被検データを生成する。また、分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば、電極電位に関連付けられた標準データおよび被検データを生成する。

【0011】

解析回路３は、生成された標準データおよび被検データを解析することで、検量データおよび分析データなどを生成するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路８から動作プログラムを読み出し、読み出した動作プログラムに従って検量データおよび分析データなどを生成する。例えば、解析回路３は、標準データに基づき、標準データと、標準試料について予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路３は、被検データと、当該被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、分析データを生成する。分析データには、濃度値と酵素の活性値とを対応づけたデータおよび試料中の所望のイオンの濃度を時系列に記録したデータなどがある。解析回路３は、生成した検量データおよび分析データなどを制御回路９へ出力する。

【0012】

駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。駆動機構４は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベアおよびリードスクリューなどにより実現される。例えば、駆動機構４は、後述する反応ディスク２０１を所定の回動角度で回動させる。所定の回動角度とは、例えば、１サイクルにおいて回動する角度である。

【0013】

入力インタフェース５は、例えば、操作者の操作によって、病院内ネットワークＮＷを介して測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータなどの設定を受け付ける。入力インタフェース５は、例えば、マウス、キーボード、および、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッドなどにより実現される。入力インタフェース５は、制御回路９に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路９へ出力する。

【0014】

なお、本明細書において、入力インタフェース５は、マウスおよびキーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、入力インタフェース５は、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、当該電気信号を制御回路９へ出力する処理回路でもよい。

【0015】

出力インタフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インタフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路および音声デバイスなどにより実現される。

【0016】

表示回路には、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイおよびプラズマディスプレイなどを含む。また、表示回路は、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、当該ビデオ信号を外部へ出力する処理回路でもよい。印刷回路は、例えば、プリンタなどを含む。また、印刷回路は。印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路でもよい。音声デバイスは、例えば、スピーカなどを含む。また、音声デバイスは、音声信号を外部へ出力する出力回路でもよい。

【0017】

通信インタフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷと接続する。通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Ｈｏｓｐｉｔａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）とデータ通信を行う。なお、通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システムを介してＨＩＳとデータ通信を行ってもよい。

【0018】

記憶回路８は、磁気的記録媒体、光学的記録媒体または半導体メモリなどの、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体などを含む。なお、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶装置により実現されない。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現されてもよい。

【0019】

また、記憶回路８は、操作者から入力された検査オーダ、または、通信インタフェース７によって病院内ネットワークＮＷを介して受信した検査オーダなどを記憶する。オーダ情報には、試料ＩＤ、測定対象となる試料について必要とされる検査項目、および、検査に関する測定順序が含まれる。記憶回路８は、自動分析装置１の各部の一連の動作を１サイクルで実行させるための各種設定値を記憶する。記憶回路８は、制御回路９で読み出される動作プログラムを記憶する。

【0020】

制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。例えば、制御回路９は、分析機構２の各部を駆動させるための制御信号を駆動機構４へと出力する。制御回路９は、記憶回路８に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。尚、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶するメモリを備えても構わない。本実施形態に係る制御回路９の機能については後述される。

【0021】

図２は、図１の分析機構の構成例を示す図である。例えば、図２に示すように、分析機構２は、反応ディスク２０１、恒温部２０２、ラックサンプラ２０３、第１試薬庫２０４および第２試薬庫２０５を備える。また、分析機構２は、試料分注アーム２０６、試料分注プローブ２０７、洗浄槽２０７ａ、洗剤貯留容器２０７ｂ、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、洗浄槽２０９ａ、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、洗浄槽２１１ａ、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４および攪拌ユニット２１６を備える。

【0022】

以下では、まず、反応ディスク２０１、恒温部２０２、ラックサンプラ２０３、第１試薬庫２０４および第２試薬庫２０５について説明する。

【0023】

反応ディスク２０１は、複数の反応管２０１１を、環状に配列させて保持する。反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔（以下、１サイクルと称する）、例えば４．５秒で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管２０１１は、例えば、ガラス、ポリプロピレン（ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ：ＰＰ）、またはアクリルにより形成されている。尚、反応管２０１１は、反応容器またはセルと呼ばれてもよい。また、検査中の反応ディスク２０１の動作は、サイクル動作と呼ばれてもよい。

【0024】

恒温部２０２は、所定の温度（通常３７℃）に保たれた水（恒温水）を貯留する容器である。恒温水には、例えば、抗菌目的のために添加剤が含まれている。恒温部２０２は、貯留している恒温水に反応管２０１１を浸漬させることで、反応管２０１１に収容される液体（例えば、混合液）を加温して一定の温度に保つ。

【0025】

ラックサンプラ２０３は、測定を依頼された試料を収容する複数の試料容器１００を保持可能な試料ラック２０３１を、移動可能に支持する。図２に示す例では、５本の試料容器１００を並列して保持可能な試料ラック２０３１が示されている。

【0026】

ラックサンプラ２０３は、リーダ３００を有する。リーダ３００は、例えば試料容器１００に付された光学式マークを読取り可能な位置に設けられている。光学式マークは、試料容器１００に収容される試料の識別情報などを符号化したマーク、例えば、バーコード、１次元画素コードおよび２次元画素コードなどである。リーダ３００は、制御回路９からのＩＤ読取開始の指示を契機として、光学式マークの読取りを開始する。リーダ３００は、光学式マークを読取り可能な位置に試料容器１００が到着すると、当該光学式マークから試料の識別情報を読み取る。リーダ３００は、読取った識別情報を制御回路９に供給する。なお、リーダ３００は、ＲＦＩＤ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ＩＤｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）などを利用した他のセンサで代替してもよい。

【0027】

ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック２０３１を回収する回収位置まで、試料ラック２０３１を搬送する搬送領域が設けられている。搬送領域では、短手方向に整列された複数の試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ１へ移動される。

【0028】

また、ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１で保持される試料容器１００を所定のサンプル吸引位置へ移動させるため、試料ラック２０３１を搬送領域から引き込む引き込み領域が設けられている。サンプル吸引位置は、例えば、後述される試料分注プローブ２０７の回動軌道と、ラックサンプラ２０３で支持されて試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域では、搬送されてきた試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ２へ移動される。また、引き込み領域の光学式マークを読取り可能な位置では、方向Ｄ２に移動された試料ラック２０３１に保持された試料容器に記されている光学式マークがリーダ３００により読み取られる。

【0029】

また、ラックサンプラ２０３には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック２０３１を搬送領域へ戻すための戻し領域が設けられている。戻し領域では、試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ３へ移動される。

【0030】

第１試薬庫２０４は、標準試料に含まれる所定の成分または被検試料に含まれる所定の成分に反応する第１試薬を収容する試薬容器１０１を複数保冷する。図２では図示していないが、第１試薬庫２０４は、着脱自在な試薬カバーで覆われている。第１試薬庫２０４内には、試薬ラックが回転自在に設けられている。試薬ラックは、複数の試薬容器１０１を円環状に配列して保持する。試薬ラックは、駆動機構４により回動される。

【0031】

第１試薬庫２０４上の所定の位置には、第１試薬吸引位置が設定されている。第１試薬吸引位置は、例えば、後述される第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、試薬ラックに円環状に配列される試薬容器１０１の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。

【0032】

第２試薬庫２０５は、例えば、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器１０１を複数保冷する。図２では図示していないが、第２試薬庫２０５は、着脱自在な試薬カバーで覆われている。第２試薬庫２０５内には、試薬ラックが回転自在に設けられている。試薬ラックは、複数の試薬容器１０１を円環状に配列して保持する。なお、第２試薬庫２０５で保冷される第２試薬は、第１試薬庫２０４で保冷される第１試薬と同一成分、かつ、同一濃度の試薬でもよい。

【0033】

第２試薬庫２０５上の所定の位置には、第２試薬吸引位置が設定されている。第２試薬吸引位置は、例えば、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、試薬ラックに円環状に配列される試薬容器１０１の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。

【0034】

次に、試料分注アーム２０６、試料分注プローブ２０７、洗浄槽２０７ａ、洗剤貯留容器２０７ｂ、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、洗浄槽２０９ａ、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、洗浄槽２１１ａ、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４および攪拌ユニット２１６について説明する。

【0035】

試料分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とラックサンプラ２０３との間に設けられている。試料分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。試料分注アーム２０６は、一端に試料分注プローブ２０７を保持する。

【0036】

試料分注プローブ２０７は、試料分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ２０３上の試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部が位置するようになっている。

【0037】

また、試料分注プローブ２０７の回動軌道上には、試料分注プローブ２０７が吸引した試料を反応管２０１１へ吐出するためのサンプル吐出位置が設けられている。サンプル吐出位置は、試料分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌道との交点に相当する。

【0038】

また、試料分注プローブ２０７の回動軌道上のサンプル吸引位置およびサンプル吐出位置とは異なった位置には、試料分注プローブ２０７が洗浄される洗浄位置が設けられている。洗浄位置には、試料分注プローブ２０７を洗浄する洗浄槽２０７ａが設けられている。

【0039】

また、試料分注プローブ２０７の回動軌道上のサンプル吸引位置、サンプル吐出位置および洗浄位置とは異なった位置には、試料分注プローブ２０７が洗剤を吸引するための洗剤吸引位置が設けられてもよい。洗剤吸引位置には、後述する電極ユニットの洗浄に用いる洗剤を貯留する洗剤貯留容器２０７ｂが設けられてもよい。

【0040】

試料分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、ラックサンプラ２０３上の試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部の直上、サンプル吐出位置、洗浄位置または洗剤吸引位置において上下方向に移動する。

【0041】

また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、試料容器の開口部から試料を吸引する。また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。試料分注プローブ２０７は、この一連の分注動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0042】

また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、試料分注プローブ２０７の回動軌道上の洗浄位置の直下に位置する洗浄槽２０７ａから洗浄液を吸引する。洗浄液は、例えば、純水、プローブ洗浄用のアルカリ性洗剤またはプローブ洗浄用の酸性洗剤などである。試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した洗浄液を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。これにより、試料分注プローブ２０７およびサンプル吐出位置の直下に位置する反応管２０１１が洗浄される。試料分注プローブ２０７は、この一連の洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0043】

また、自動分析装置１において洗剤貯留容器２０７ｂが備えられている場合、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、試料分注プローブ２０７の回動軌道上の洗剤吸引位置の直下に位置する洗剤貯留容器２０７ｂから洗剤を吸引する。また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した洗剤をサンプル吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。試料分注プローブ２０７は、この一連の分注動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0044】

第１試薬分注アーム２０８は、反応ディスク２０１と第１試薬庫２０４との間に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、一端に第１試薬分注プローブ２０９を保持する。

【0045】

第１試薬分注プローブ２０９は、第１試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第１試薬吸引位置が設けられている。また、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０９が吸引した試薬を反応管２０１１へ吐出するための第１試薬吐出位置が設定されている。第１試薬吐出位置は、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌道との交点に相当する。さらに、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上の第１試薬吸引位置および第１試薬吐出位置とは異なった位置には、第１試薬分注プローブ２０９が洗浄される洗浄位置が設けられている。洗浄位置には、第１試薬分注プローブ２０９を洗浄する洗浄槽２０９ａが設けられている。

【0046】

第１試薬分注プローブ２０９は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第１試薬吸引位置、第１試薬吐出位置または洗浄位置において上下方向に移動する。

【0047】

第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、第１試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第１試薬を吸引する。すなわち、第１試薬分注プローブ２０９は、本実施形態に係る試薬分注プローブの一例である。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。第１試薬分注プローブ２０９は、この一連の分注動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0048】

第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上の洗浄位置の直下に位置する洗浄槽２０９ａから洗浄液を吸引する。第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した洗浄液を、第１試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。これにより、第１試薬分注プローブ２０９および第１試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１が洗浄される。第１試薬分注プローブ２０９は、この一連の洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0049】

第２試薬分注アーム２１０は、反応ディスク２０１と第２試薬庫２０５との間に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、一端に第２試薬分注プローブ２１１を保持する。

【0050】

第２試薬分注プローブ２１１は、第２試薬分注アーム２１０の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第２試薬吸引位置が設けられている。

【0051】

また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１１が吸引した試薬を反応管２０１１へ吐出するための第２試薬吐出位置が設定されている。第２試薬吐出位置は、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌道との交点に相当する。

【0052】

また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１１が吸引した洗剤を反応管へ吐出するための洗剤吐出位置が設定されている。洗剤吐出位置は、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌道との交点に相当し、第２試薬吐出位置とは異なる位置である。

【0053】

また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上の第２試薬吸引位置、第２試薬吐出位置および洗剤吐出位置とは異なった位置には、第２試薬分注プローブ２１１が洗浄される洗浄位置が設けられている。洗浄位置には、第２試薬分注プローブ２１１を洗浄する洗浄槽２１１ａが設けられている。

【0054】

第２試薬分注プローブ２１１は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第２試薬吸引位置、第２試薬吐出位置、洗剤吐出位置または洗浄位置において上下方向に移動する。

【0055】

第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、第２試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。すなわち、第２試薬分注プローブ２１１は、本実施形態に係る試薬分注プローブの一例である。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。第２試薬分注プローブ２１１は、この一連の分注動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0056】

第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上の洗浄位置の直下に位置する洗浄槽２１１ａから洗浄液を吸引する。第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、吸引した洗浄液を、第２試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１へ吐出する。これにより、第２試薬分注プローブ２１１および第２試薬吐出位置の直下に位置する反応管２０１１が洗浄される。第２試薬分注プローブ２１１は、この一連の洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

【0057】

電極ユニット２１２は、反応管２０１１内に吐出された試料と試薬との混合液の電解質濃度を測定する。電極ユニット２１２は、イオン選択性電極（Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ：ＩＳＥ）および参照電極を有する。電極ユニット２１２は、制御回路９の制御に従い、測定対象の混合液について、ＩＳＥと参照電極との間の電位を測定することによって、検査項目であるイオン（例えば、ナトリウムイオン、カリウムイオン、およびクロルイオン（塩素イオン））の電解質を検出する。電極ユニット２１２は、電位を測定したデータを標準データまたは被検データとして解析回路３へと出力する。以下、図３を参照して、電極ユニット２１２の構成について詳細に説明する。

【0058】

図３は、図２の電極ユニットの構成例を示す図である。例えば、図３に示すように、電極ユニット２１２は、検出部４１０と、校正液貯留容器４２０（校正液ポット）と、校正液供給ポンプ４３０と、校正液タンク４４０と、校正液廃棄ポンプ４５０と、廃液タンク４６０と、吸引ポンプ４７０とを備える。

【0059】

また、校正液供給ポンプ４３０と校正液貯留容器４２０との間には、例えばチューブで接続された流路ＦＰ１が設けられている。同様に、校正液供給ポンプ４３０と校正液タンク４４０との間には、流路ＦＰ２が設けられている。校正液廃棄ポンプ４５０と校正液貯留容器４２０との間には、流路ＦＰ３が設けられている。校正液廃棄ポンプ４５０と廃液タンク４６０との間には、流路ＦＰ４が設けられている。吸引ポンプ４７０と検出部４１０との間には、流路ＦＰ５が設けられている。吸引ポンプ４７０と廃液タンク４６０との間には、流路ＦＰ６が設けられている。

【0060】

検出部４１０は、駆動機構４によって駆動され、校正液吸引位置Ｐ１と混合液吸引位置Ｐ２とを移動する。校正液吸引位置Ｐ１は、校正液貯留容器４２０上に設定される。混合液吸引位置Ｐ２は、反応ディスク２０１における反応管２０１１上に設定される。また、検出部４１０は、吸引ノズルを有し、吸引ポンプ４７０により、校正液吸引位置Ｐ１で校正液を吸引し、混合液吸引位置Ｐ２で混合液を吸引する。

【0061】

また、検出部４１０は、前述のＩＳＥおよび参照電極を有し、校正液または混合液の電位を測定する。検出部４１０は、校正液または混合液に関する測定データを解析回路３へと出力する。

【0062】

校正液貯留容器４２０は、所定量の校正液を貯留する。貯留される校正液は、校正液供給ポンプ４３０により供給される。また、校正液を入れ換える際には、校正液廃棄ポンプ４５０により吸引される。

【0063】

校正液供給ポンプ４３０は、例えば、プランジャ、シリンジおよび三方バルブによって構成される。三方バルブは、シリンジ、流路ＦＰ１、および流路ＦＰ２に接続される。校正液タンク４４０から校正液を吸引する場合、校正液供給ポンプ４３０は、三方バルブにおける流路ＦＰ１の接続を閉じてプランジャを動作させる。吸引した校正液を校正液貯留容器４２０に供給する場合、校正液供給ポンプ４３０は、三方バルブにおける流路ＦＰ２の接続を閉じてプランジャを動作させる。

【0064】

校正液タンク４４０には、校正液が収容されている。収容されている校正液は、校正液供給ポンプ４３０を介して、校正液貯留容器４２０に供給される。

【0065】

校正液廃棄ポンプ４５０は、例えば、プランジャ、シリンジおよび三方バルブによって構成される。三方バルブは、シリンジ、流路ＦＰ３、および流路ＦＰ４に接続される。校正液貯留容器４２０の校正液を吸引する場合、三方バルブにおける流路ＦＰ４の接続を閉じてプランジャを動作させる。吸引した校正液を廃液タンク４６０に廃棄する場合、校正液廃棄ポンプ４５０は、三方バルブにおける流路ＦＰ３の接続を閉じてプランジャを動作させる。

【0066】

廃液タンク４６０は、廃液を貯留する。貯留される廃液は、例えば、校正液貯留容器４２０に貯留された校正液、検出部４１０で吸引した混合液、および検出部４１０で吸引した校正液である。

【0067】

吸引ポンプ４７０は、例えば、プランジャ、シリンジおよび三方バルブによって構成される。三方バルブは、シリンジ、流路ＦＰ５、および流路ＦＰ６に接続される。反応管２０１１の混合液または校正液貯留容器４２０の校正液を吸引する場合、三方バルブにおける流路ＦＰ６の接続を閉じてプランジャを動作させる。吸引した混合液または校正液を廃棄する場合、三方バルブにおけるＦＰ５の接続を閉じてプランジャを動作させる。

【0068】

標準試料には、各電解質の濃度が異なる２種類の第１の標準試料および第２の標準試料がある。第１の標準試料に含まれる各電解質の濃度を示す第１の標準値と、第２の標準試料に含まれる各電解質の濃度を示す第２の標準値とが入力インタフェース５からの入力により記憶回路８に保存されている。尚、第１の標準値および第２の標準値は、上述の標準データに含まれる。

【0069】

キャリブレーションが実行されると、試料分注プローブ２０７は第１の標準試料を反応管２０１１に分注し、第１試薬分注プローブ２０９は第１の標準試料が分注された反応管２０１１に第１試薬を分注する。第１の標準試料および第１試薬の分注により、反応管２０１１内では第１の標準試料が第１試薬で希釈され、校正液よりも低濃度の各電解質を含有する第１の標準混合液となる。

【0070】

また同様に、キャリブレーションが実行されると、試料分注プローブ２０７は第２の標準試料を反応管２０１１に分注し、第１試薬分注プローブ２０９は第２の標準試料が分注された反応管２０１１に第１試薬を分注する。第２の標準試料および第１試薬の分注により、反応管２０１１内では第２の標準試料が第１試薬で希釈され、校正液よりも高濃度の各電解質を含有する第２の標準混合液となる。

【0071】

検査が実行されると、試料分注プローブ２０７は各電解質の濃度が未知の被検試料を反応管２０１１に分注し、第１試薬分注プローブ２０９は被検試料が分注された反応管２０１１に第１試薬を分注する。被検試料および第１試薬の分注により、反応管２０１１内では被検試料が第１試薬で希釈された被検混合液となる。

【0072】

測光ユニット２１３は、反応管２０１１内に吐出された試料と試薬との混合液における所定の成分を光学的に測定する。測光ユニット２１３は、光源および光検出器を有する。測光ユニット２１３は、制御回路９の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応管２０１１の第１側壁から入射され、第１側壁と対向する第２側壁から出射される。測光ユニット２１３は、反応管２０１１から出射された光を、光検出器により検出する。

【0073】

具体的には、例えば、光検出器は、反応管２０１１内の標準試料と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度などにより表される標準データを生成する。また、光検出器は、反応管２０１１内の被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度などにより表される被検データを生成する。測光ユニット２１３は、生成した標準データおよび被検データを解析回路３へ出力する。

【0074】

洗浄ユニット２１４は、電極ユニット２１２または測光ユニット２１３において混合液の測定が終了した反応管２０１１の内部を洗浄する。この洗浄ユニット２１４は、反応管２０１１を洗浄するための洗浄液を供給する不図示の洗浄液供給ポンプを備えている。また、洗浄ユニット２１４は、洗浄液供給ポンプから供給された洗浄液の反応管２０１１内への吐出や、反応管２０１１内の混合液、及び洗浄液の各液体の吸引を行う不図示の洗浄ノズルを備えている。

【0075】

攪拌ユニット２１６は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。攪拌ユニット２１６は、攪拌子を有し、攪拌子により、反応ディスク２０１上の攪拌位置に位置する反応管２０１１内に収容されている試料及び第１試薬、又は、反応管２０１１内に収容されている試料、第１試薬、及び第２試薬を攪拌する。

【0076】

次に、本実施形態に係る制御回路９の機能について述べる。図１に示される制御回路９は、記憶回路８に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路９は、動作プログラムを実行することで、システム制御機能９１（制御部）、設定機能９２（設定部）、測定機能９３（測定部）、抽出機能９４（抽出部）、判定機能９５（判定部）、および報告機能９６（報告部）を有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能９１、設定機能９２、測定機能９３、抽出機能９４、判定機能９５、および報告機能９６が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することにより各機能を実現しても構わない。

【0077】

制御回路９は、システム制御機能９１により、例えば、入力インタフェース５から入力される入力情報などに基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する。具体的には、制御回路９は、電極ユニット２１２の動作などを制御する。

【0078】

また、制御回路９は、読み出した動作プログラムに従って、基準データ作成処理および電極ユニット異常検知処理に係る各機能を実行する。上記各機能には、例えば、設定機能９２、測定機能９３、抽出機能９４、判定機能９５、および報告機能９６などがある。尚、上記各機能には、システム制御機能９１の一部の機能が含まれてもよい。

【0079】

制御回路９は、設定機能９２により、測定環境を含む測定条件を設定する。測定環境は、例えば、電極ユニット２１２以外の他のユニットの動作状況である。他のユニットの動作状況を考慮する理由として、他のユニットの動作時のノイズが電極ユニット２１２の測定に影響を与える可能性があるためである。よって、測定条件として、他のユニットの動作の停止を含むことが望ましい。尚、測定条件は、電極ユニット２１２が有する電極の温度を含んでもよい。この場合、電極が規定温度で安定していることを測定条件とする。

【0080】

制御回路９は、測定機能９３により、測定条件において、電極ユニット２１２で用いられる校正液を連続して複数回の測定をすることによって第１の測定データを生成する。この時、制御回路９は、電極ユニット２１２による測定結果が変動しうるタイミング（以降、第１のタイミングと称する）で第１の測定データを生成する。第１の測定データは、例えば、各イオンの電極電位と時間とを対応付けたデータである。第１の測定データは、例えば、波形のグラフで表されてもよい。尚、第１のタイミングの具体例は、後述される。

【0081】

更に、制御回路９は、測定機能９３により、第１の測定データの作成と同一の測定条件において、第１の測定データと測定タイミングの異なる第２の測定データを生成する。この時、制御回路９は、第１のタイミングと測定タイミングの異なる第２のタイミングで第２の測定データを生成する。第２の測定データは、第１の測定データと同様に、各イオンの電極電位と時間とを対応付けたデータであり、波形のグラフで表されてもよい。尚、第２のタイミングの具体例は、後述される。

【0082】

制御回路９は、抽出機能９４により、抽出条件に基づいて第１の測定データから基準データを抽出する。基準データは、電極ユニット２１２の異常判定の基準となるデータである。制御回路９は、抽出条件に基づいて第２の測定データから比較対象データを抽出する。比較対象データは、基準データと同一の測定環境を条件として抽出されたデータである。典型的には、新たな基準データが抽出された場合、新たな基準データの抽出以降に抽出された比較対象データは、新たな基準データと比較される。尚、新たな基準データの抽出以降に抽出された比較対象データであっても、以前の古い基準データと比較されてもよい。

【0083】

抽出条件は、測定データが複数回の測定に対応する複数の測定期間を有している場合、例えば、複数の測定期間のうちの２番目以降の任意の測定期間を抽出することである。具体的には、制御回路９は、校正液を連続してＮ（Ｎ≧２）回測定した時系列の測定データの場合、測定開始からＭ（Ｎ≧Ｍ≧２）番目のデータを抽出する。尚、抽出条件は、基準データの抽出と比較対象データの抽出とで共通している。

【0084】

制御回路９は、判定機能９５により、基準データと、比較対象データとに基づいて、電極ユニット２１２の異常を判定する。具体的には、制御回路９は、基準データの波形とヒッ句対象データの波形との差分に基づいて電極ユニット２１２の異常を判定する。差分は、例えば、波形の立ち上がり時間、波形の電位ピーク値、波形の電位平均値、および波形の傾きの少なくともいずれかに関する。

【0085】

制御回路９は、報告機能９６により、判定結果を報告する。判定結果は、例えば、電極ユニット２１２の正常または異常である。具体的には、制御回路９は、正常または異常の判定結果を出力インタフェース６へ報告する。

【0086】

なお、システム制御機能９１により、制御回路９は、上記各機能で生成されたデータを記憶回路８（メモリ）に記憶させてもよい。具体的には、制御回路９は、基準データと測定条件とを対応付けてメモリに記憶させ、比較対象データと測定条件とを対応付けてメモリに記憶させる。例えば、比較対象データを作成する場合、制御回路９は、基準データに対応付けられた測定条件をメモリから読み出し、メモリから読み出した測定条件を設定する。

【0087】

次に、以上のように構成された本実施形態に係る自動分析装置１の動作について制御回路９の処理手順に従って説明する。初めに、電極ユニット異常検知処理で用いられる基準データを作成するための基準データ作成処理について、図４のフローチャートを用いて説明する。

【0088】

基準データ作成処理は、第１のタイミングで行われる。第１のタイミングは、例えば、（１）校正液のロットが切り替わったタイミング、（２）ハードウェアのメンテナンス後のタイミング、（３）電極ユニット２１２の日常的なメンテナンス時のタイミングである。

【0089】

上記（１）のタイミングによる実施は、校正液のロットが切り替わることにより、測定結果に影響を与える可能性があるために有効である。また、上記（２）のタイミングによる実施は、メンテナンス時の消耗品の交換などによりノイズの発生量が変化する可能性があるために有効である。これは、自動分析装置が一般的に動作時の振動や電気的ノイズを発する様々なユニットから構成されており、ユニット動作時のノイズが測定結果に影響を与えることに起因する。上記消耗品は、例えば、駆動機構４を構成するモータなどである。

【0090】

また、上記（３）のタイミングによる実施は、電極ユニット２１２のメンテナンス時に測定をすることによって測定動作の時間を別途設ける必要がないために有効である。具体的には、電極ユニット２１２のメンテナンスでは、電極ユニット２１２の検出部４１０の洗浄を目的として後述する基準データ作成処理と同様の動作を行う。そのため、一日に複数回のメンテナンス動作が行われる場合、任意のタイミングのメンテナンス時（例えば、その日最後のメンテナンス時）に測定動作も行うことで、自動分析装置１を効率的に運用することができる。尚、基準データ作成処理は、前回の測定の実施から所定時間が経過した後に都度実施してもよい。

【0091】

図４は、本実施形態における基準データ作成処理の動作を例示するフローチャートである。図４のフローチャートは、上記第１のタイミングで、制御回路９が基準データ作成処理を行うプログラムを実行することにより開始される。

【0092】

（ステップＳＴ１１０）
基準データ作成処理を開始すると、制御回路９は、設定機能９２を実行する。設定機能９２を実行すると、制御回路９は、測定条件を設定する。具体的には、制御回路９は、測定環境を含む測定条件を設定する。測定条件は、例えば、他のユニットの動作の停止および電極ユニット２１２の電極が規定温度で安定していることである。

【0093】

（ステップＳＴ１２０）
測定環境を設定した後、制御回路９は、測定機能９３を実行する。測定機能９３を実行すると、制御回路９は、測定条件を満たしたことを契機として校正液測定を実施する。以下、校正液測定を実施した際に生成される測定データについて、図５を用いて説明する。

【0094】

図５は、本実施形態における各イオンの電極電位と時間とを対応付けてグラフで示した測定データを示す図である。図５の測定データ５００には、グラフ５１０、グラフ５２０、およびグラフ５３０が含まれている。グラフ５１０は、カリウムイオンの電極電位を示す。グラフ５２０は、ナトリウムイオンの電極電位を示す。グラフ５３０はクロルイオンの電極電位を示す。

【0095】

測定データ５００は、校正液を連続して４回測定した時系列データに相当する。１回目の測定期間ｐ１は、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの期間である。時刻ｔ１および時刻t２は、校正液の吸引を開始する時刻である。同じように、２回目の測定期間ｐ２は時刻ｔ２から時刻ｔ３までの期間であり、３回目の測定期間ｐ３は時刻ｔ３から時刻ｔ４までの期間であり、４回目の測定期間ｐ４は時刻ｔ４から時刻ｔ５までの期間である。即ち、測定データ５００は、複数の測定期間として４つの測定期間を有しているといえる。

【0096】

（ステップＳＴ１３０）
校正液測定を実施した後、制御回路９は、抽出機能９４を実行する。抽出機能９４を実行すると、制御回路９は、抽出条件に基づいて測定データ（第１の測定データ）から基準データを抽出する。抽出条件は、例えば、複数の測定期間のうちの２番目以降の任意の測定期間を抽出することである。以下、基準データについて、図６を用いて説明する。

【0097】

図６は、図５の測定データから抽出された基準データを示す図である。図６の基準データ６００は、図５の測定データ５００における３番目の測定期間を抽出したものである。即ち、基準データ６００は、測定データ５００の３回目の測定期間ｐ３に対応するデータである。よって、図６の期間ｐｓ、開始時刻ｔｓ、および終了時刻ｔｅは、それぞれ３回目の測定期間ｐ３、時刻ｔ３、および時刻ｔ４に対応する。

【0098】

図６の基準データ６００には、グラフ６１０、グラフ６２０、およびグラフ６３０が含まれている。グラフ６１０、グラフ６２０、およびグラフ６３０は、それぞれグラフ５１０、グラフ５２０、およびグラフ５３０の一部である。よって、グラフ６１０はカリウムイオンの電極電位を示し、グラフ６２０はナトリウムイオンの電極電位を示し、グラフ６３０はクロルイオンの電極電位を示す。

【0099】

（ステップＳＴ１４０）
基準データを抽出した後、制御回路９は、システム制御機能９１により、基準データと測定時の条件とを対応付けて記憶する。ステップＳＴ１４０の後、基準データ作成処理は終了する。

【0100】

次に、電極ユニット異常検知処理について、図７および図８のフローチャートを用いて説明する。

【0101】

電極ユニット異常検知処理は、第１の測定タイミングと異なる第２のタイミングで行われる。第２のタイミングは、例えば、第１のタイミングを基準とした予め設定されたスケジュールに基づくタイミングである。予め設定されたスケジュールは、例えば、基準データが作成された第１のタイミングから所定期間経過毎である。尚、第２のタイミングは、検査を実施していない任意の期間でもよいし、ユーザが指定したタイミングでもよい。

【0102】

図７は、本実施形態における電極ユニット異常検知処理の動作を例示するフローチャートである。図７のフローチャートは、上記第２のタイミングで、制御回路９が電極ユニット異常検知処理を行うプログラムを実行することにより開始される。

【0103】

（ステップＳＴ２１０）
電極ユニット異常検知処理を開始すると、制御回路９は、設定機能９２を実行する。設定機能９２を実行すると、制御回路９は、基準データの作成時と同一環境の測定条件を設定する。具体的には、制御回路９は、基準データの作成時と同じ測定条件を設定する。

【0104】

（ステップＳＴ２２０）
測定環境を設定した後、制御回路９は、測定機能９３を実行する。測定機能９３を実行すると、制御回路９は、測定条件を満たしたことを契機として校正液測定を実施する。

【0105】

（ステップＳＴ２３０）
校正液測定を実施した後、制御回路９は、抽出機能９４を実行する。抽出機能９４を実行すると、制御回路９は、抽出条件に基づいて測定データ（第２の測定データ）から比較対象データを抽出する。抽出条件は、基準データの抽出時と同じ条件である。

【0106】

（ステップＳＴ２４０）
比較対象データを抽出した後、制御回路９は、判定機能９５を実行する。判定機能９５を実行すると、制御回路９は、データ判定処理を開始する。以下、データ判定処理について、図８を用いて説明する。

【0107】

図８は、図７のデータ判定処理の動作を例示するフローチャートである。図８のフローチャートでは、異常を判定する手段として、波形の立ち上がり時間、波形の電位ピーク値、および波形の傾きをそれぞれ閾値と比較する例を示す。

【0108】

（ステップＳＴ２４１）
データ判定処理を開始すると、制御回路９は、基準データの波形および比較対象データの波形に基づいて種々の差分を算出する。ここで算出される種々の差分は、波形の立ち上がり時間、波形の電位ピーク値、および波形の傾きである。以下、種々の差分について、図９を用いて説明する。

【0109】

図９は、本実施形態における基準データと比較対象データとの種々の差分についての説明図である。図９では、ナトリウムイオンの電極電位のデータのみを抜き出している。図９には、基準データとしてのグラフ６２０と、比較対象データとしてのグラフ９００とが含まれている。

【0110】

グラフ６２０の立ち上がり時間は時刻ｔｓであり、グラフ９００の立ち上がり時間は時刻ｔｓよりも前の時刻ｔｓ’である。立ち上がり時間に関する差分Ｄ１は、時刻ｔｓと時刻ｔｓ’との差である。例えば、差分Ｄ１によって、流路の詰まりを推定することができる。

【0111】

グラフ６２０の電位ピーク値は電位ｅ１であり、グラフ９００の電位ピーク値は電位ｅ１よりも大きい電位ｅ２である。電位ピーク値に関する差分Ｄ２は、電位ｅ１と電位ｅ２との差である。例えば、差分Ｄ２によって、流路内の圧力および流路内の液体の流速の異常を推定することができる。

【0112】

グラフ６２０の傾きは傾きｍ１であり、グラフ９００の傾きは傾きｍ２である。波形の傾きに関する差分Ｄ３は、傾きｍ１と傾きｍ２との差である。例えば、差分Ｄ３によって、流路内の液体の流速の異常を推定することができる。

【0113】

（ステップＳＴ２４２）
種々の差分を算出した後、制御回路９は、判定機能９５により、立ち上がり時間の差分が閾値以上であるか否かを判定する。閾値以上であると判定された場合、処理はステップＳＴ２４６へと進む。閾値以上でないと判定された場合、処理はステップＳＴ２４３へと進む。

【0114】

（ステップＳＴ２４３）
立ち上がり時間の差分が閾値以上でないと判定した後、制御回路９は、判定機能９５により、電位ピーク値の差分が閾値以上であるか否かを判定する。閾値以上であると判定された場合、処理はステップＳＴ２４６へと進む。閾値以上でないと判定された場合、処理はステップＳＴ２４４へと進む。

【0115】

（ステップＳＴ２４４）
電位ピーク値の差分が閾値以上でないと判定した後、制御回路９は、判定機能９５により、傾きの差分が閾値以上であるか否かを判定する。閾値以上であると判定された場合、処理はステップＳＴ２４６へと進む。閾値以上でないと判定された場合、処理はステップＳＴ２４５へと進む。

【0116】

（ステップＳＴ２４５）
傾きの差分が閾値以上でないと判定した後、制御回路９は、比較対象データに異常が無い、即ち比較対象データが正常であると判定する。ステップＳＴ２４５の後、処理はステップＳＴ２５０へと進む。

【0117】

（ステップＳＴ２４６）
ステップＳＴ２４２、ステップＳＴ２４３、およびステップＳＴ２４４において、いずれも閾値以上であると判定した後、制御回路９は、比較対象データに異常があると判定する。ステップＳＴ２４６の後、処理はステップＳＴ２５０へと進む。

【0118】

（ステップＳＴ２５０）
データ判定処理が行われた後、制御回路９は、報告機能９６により、判定結果を報告する。ステップＳＴ２４５から遷移した場合、制御回路９は、判定結果として比較対象データが正常であると報告する。ステップＳＴ２４６から遷移した場合、制御回路９は、判定結果として比較対象データが異常であると報告する。

【0119】

なお、図８のフローチャートにおいて、ステップＳＴ２４２、ステップＳＴ２４３、およびステップＳＴ２４４の処理を全て行った後に比較対象データの異常判定を行ってもよい。これにより、異常判定の原因を詳細に分析することができる。

【0120】

また、ステップＳＴ２４２、ステップＳＴ２４３、およびステップＳＴ２４４の処理順は任意に入れ換えられてもよいし、少なくともいずれか一つでもよい。

【0121】

以上説明したように、本実施形態に係る自動分析装置は、電位を測定する電極ユニットを有し、測定環境を含む測定条件を設定し、測定条件において、電極ユニットで用いられる校正液を連続して複数回の測定をすることによって第１の測定データを生成し、抽出条件に基づいて第１の測定データから基準データを抽出し、基準データと、測定条件および抽出条件に基づく比較対象データとに基づいて、電極ユニットの異常を判定する。

【0122】

従って、本実施形態に係る自動分析装置は、基準データを作成した条件と、比較対象データを作成する条件とを揃えることにより、電極ユニット以外の他のユニットの動作による影響などを低減することができる。また、本実施形態に係る自動分析装置は、連続して複数回の校正液測定を行うことでデータドリフトによるばらつきの少ない測定期間を抽出可能である。よって、本実施形態に係る自動分析装置は、電極ユニットの異常判定の精度を向上することができる。

【0123】

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、電極ユニットの異常判定の精度を向上することができる。

【0124】

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

【符号の説明】

【0125】

１ 自動分析装置
２ 分析機構
３ 解析回路
４ 駆動機構
５ 入力インタフェース
６ 出力インタフェース
７ 通信インタフェース
８ 記憶回路
９ 制御回路
９１ システム制御機能
９２ 設定機能
９３ 測定機能
９４ 抽出機能
９５ 判定機能
９６ 報告機能
１００ 試料容器
１０１ 試薬容器
２０１ 反応ディスク
２０１１ 反応管
２０２ 恒温部
２０３ ラックサンプラ
２０３１ 試料ラック
２０４ 第１試薬庫
２０５ 第２試薬庫
２０６ 試料分注アーム
２０７ 試料分注プローブ
２０７ａ 洗浄槽
２０７ｂ 洗剤貯留容器
２０８ 第１試薬分注アーム
２０９ 第１試薬分注プローブ
２０９ａ 洗浄槽
２１０ 第２試薬分注アーム
２１１ 第２試薬分注プローブ
２１１ａ 洗浄槽
２１２ 電極ユニット
２１３ 測光ユニット
２１４ 洗浄ユニット
２１６ 攪拌ユニット
３００ リーダ
４１０ 検出部
４２０ 校正液貯留容器
４３０ 校正液供給ポンプ
４４０ 校正液タンク
４５０ 校正液廃棄ポンプ
４６０ 廃液タンク
４７０ 吸引ポンプ
５００ 測定データ
５１０，５２０，５３０，６１０，６２０，６３０，９００ グラフ
６００ 基準データ
ＦＰ１，ＦＰ２，ＦＰ３，ＦＰ４，ＦＰ５，ＦＰ６ 流路
ＮＷ 病院内ネットワーク
ｐ１，ｐ２，ｐ３，ｐ４ 測定期間
Ｐ１ 校正液吸引位置
Ｐ２ 混合液吸引位置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】