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特開2024-106339長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステム及び方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024106339
(43)【公開日】2024-08-07
(54)【発明の名称】長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステム及び方法
(51)【国際特許分類】
G01R 27/28 20060101AFI20240731BHJP
H04B 17/15 20150101ALI20240731BHJP
H04B 17/29 20150101ALI20240731BHJP
H04L 7/06 20060101ALI20240731BHJP
【ＦＩ】
G01R27/28 Z
H04B17/15
H04B17/29
H04L7/06 500
【審査請求】未請求
【請求項の数】15
【出願形態】ＯＬ
【外国語出願】
(21)【出願番号】P 2024010225
(22)【出願日】2024-01-26
(31)【優先権主張番号】18/101,997
(32)【優先日】2023-01-26
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．Ｂｌｕ－ｒａｙ
(71)【出願人】
【識別番号】514046574
【氏名又は名称】キーサイト テクノロジーズ， インク．
(74)【代理人】
【識別番号】100099623
【弁理士】
【氏名又は名称】奥山 尚一
(74)【代理人】
【識別番号】100125380
【弁理士】
【氏名又は名称】中村 綾子
(74)【代理人】
【識別番号】100142996
【弁理士】
【氏名又は名称】森本 聡二
(74)【代理人】
【識別番号】100166268
【弁理士】
【氏名又は名称】田中 祐
(72)【発明者】
【氏名】キース・フレデリック・アンダーソン
【テーマコード（参考）】
2G028
5K047
【Ｆターム（参考）】
2G028BE01
2G028CG19
2G028CG24
2G028GL03
2G028KQ07
5K047AA03
5K047BB01
5K047GG10
5K047MM37
5K047MM38
5K047MM45
5K047MM49
(57)【要約】
【課題】方法及びシステムは、長距離にわたってＤＵＴを試験するために第１のＶＮＡと第２のＶＮＡとを同期する。
【解決手段】本方法は、第２のＶＮＡにおいて、第１のＶＮＡからＲＦ信号を受信することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号とＬＯ信号とを混合して、ＩＦ信号をＡＤＣに出力することと、第１のＶＮＡ内の第１の基準クロックと第２のＶＮＡ内の第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、基準誤差を所望のＬＯ周波数に適用することによって、ＬＯ周波数を補正されたＬＯ周波数に調整することと、ＲＦ信号と調整されたＬＯ信号とを混合してＩＦ信号を出力することと、第１の基準クロック又は第２の基準クロックに調整を行うことなく、基準誤差に合わせて補正される補正されたＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートでＩＦ信号をリサンプリングすることとを含む。
【選択図】図１
【解決手段】本方法は、第２のＶＮＡにおいて、第１のＶＮＡからＲＦ信号を受信することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号とＬＯ信号とを混合して、ＩＦ信号をＡＤＣに出力することと、第１のＶＮＡ内の第１の基準クロックと第２のＶＮＡ内の第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、基準誤差を所望のＬＯ周波数に適用することによって、ＬＯ周波数を補正されたＬＯ周波数に調整することと、ＲＦ信号と調整されたＬＯ信号とを混合してＩＦ信号を出力することと、第１の基準クロック又は第２の基準クロックに調整を行うことなく、基準誤差に合わせて補正される補正されたＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートでＩＦ信号をリサンプリングすることとを含む。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
無線周波数（ＲＦ）信号を送信するように構成される第１のベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）であって、ここで、該第１のＶＮＡは、第１の基準信号を提供するように構成される第１の基準クロックを備えるものである、第１のＶＮＡと、
前記第１のＶＮＡから長距離にわたって送信された前記ＲＦ信号を受信して測定することで測定されたＲＦ信号を提供するように構成される第２のＶＮＡであって、該第２のＶＮＡは、第２の基準信号を提供するように構成される第２の基準クロックを備え、ここで、前記第２の基準クロックは、前記第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２のＶＮＡと、
前記第２のＶＮＡの局部発振器（ＬＯ）信号のＬＯ周波数を調整して前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、前記基準誤差比率を使用して前記ＬＯ周波数を補正することと、前記補正されたＬＯ周波数の前記ＬＯ信号と前記測定されたＲＦ信号とを混合して中間周波数（ＩＦ）信号を取得することと、前記第２のＶＮＡの前記ＩＦ信号のデジタル化及びリサンプリングを制御して補正されたＩＦ信号を出力することとによって、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差を補償するようにプログラミングされている処理ユニットと
を備える長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステム。
前記第１のＶＮＡから長距離にわたって送信された前記ＲＦ信号を受信して測定することで測定されたＲＦ信号を提供するように構成される第２のＶＮＡであって、該第２のＶＮＡは、第２の基準信号を提供するように構成される第２の基準クロックを備え、ここで、前記第２の基準クロックは、前記第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２のＶＮＡと、
前記第２のＶＮＡの局部発振器（ＬＯ）信号のＬＯ周波数を調整して前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、前記基準誤差比率を使用して前記ＬＯ周波数を補正することと、前記補正されたＬＯ周波数の前記ＬＯ信号と前記測定されたＲＦ信号とを混合して中間周波数（ＩＦ）信号を取得することと、前記第２のＶＮＡの前記ＩＦ信号のデジタル化及びリサンプリングを制御して補正されたＩＦ信号を出力することとによって、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差を補償するようにプログラミングされている処理ユニットと
を備える長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステム。
【請求項2】
前記第２のＶＮＡは、
前記ＬＯ信号を発生させるように構成されるＬＯと、
前記測定されたＲＦ信号と前記補正されたＬＯ周波数の前記ＬＯ信号とを混合して、あるＩＦ周波数の前記ＩＦ信号を出力するように構成される混合器と、
前記混合器によって出力された前記ＩＦ信号をデジタル化するように構成されるアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）と、
前記補正されたＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化されたＩＦ信号をリサンプリングするように構成されるデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）と
を更に備える、請求項１に記載のシステム。
前記ＬＯ信号を発生させるように構成されるＬＯと、
前記測定されたＲＦ信号と前記補正されたＬＯ周波数の前記ＬＯ信号とを混合して、あるＩＦ周波数の前記ＩＦ信号を出力するように構成される混合器と、
前記混合器によって出力された前記ＩＦ信号をデジタル化するように構成されるアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）と、
前記補正されたＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化されたＩＦ信号をリサンプリングするように構成されるデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）と
を更に備える、請求項１に記載のシステム。
【請求項3】
前記処理ユニットは、
前記ＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記ＬＯの前記ＬＯ周波数を調整し、前記混合器の前記出力を測定することと、
前記調整されたＬＯ周波数及びＩＦ周波数を減算又は加算し、差又は和を前記ＲＦ信号のＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
によって、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の前記基準誤差比率を求めるようにプログラミングされている、請求項２に記載のシステム。
前記ＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記ＬＯの前記ＬＯ周波数を調整し、前記混合器の前記出力を測定することと、
前記調整されたＬＯ周波数及びＩＦ周波数を減算又は加算し、差又は和を前記ＲＦ信号のＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
によって、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の前記基準誤差比率を求めるようにプログラミングされている、請求項２に記載のシステム。
【請求項4】
前記ＬＯがハイサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記ＬＯ周波数から前記ＩＦ周波数を減算することによって、前記調整されたＬＯ周波数と前記ＩＦ周波数との間の前記差を求めるようにプログラミングされ、
前記ＬＯがローサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記ＬＯ周波数に前記ＩＦ周波数を加算することによって、前記調整されたＬＯ周波数と前記ＩＦ周波数との前記和を求めるようにプログラミングされているものである、請求項３に記載のシステム。
前記ＬＯがローサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記ＬＯ周波数に前記ＩＦ周波数を加算することによって、前記調整されたＬＯ周波数と前記ＩＦ周波数との前記和を求めるようにプログラミングされているものである、請求項３に記載のシステム。
【請求項5】
長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステムであって、
（ｉ）無線周波数（ＲＦ）周波数のＲＦ信号を発生させるように構成される信号発生器と、第１の基準周波数の第１の基準信号を少なくとも前記信号発生器に提供するように構成される第１の基準クロックとを備える、第１のベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）と、
（ｉｉ）第２の局部発振器（ＬＯ）周波数を有する第２のＬＯ信号を発生させるように構成される第２のＬＯと、前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ信号とを混合して、第２の中間周波数（ＩＦ）信号を出力するように構成される第２の混合器と、前記第２のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第２のアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）と、前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成されるリサンプラと、第２の基準信号を少なくとも前記第２のＬＯ及び前記第２のＡＤＣに提供するように構成される第２の基準クロックであって、該第２の基準クロックは、前記第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２の基準クロックとを備える、前記ＤＵＴを介して前記第１のＶＮＡからの前記ＲＦ信号を受信して測定するように構成される第２のＶＮＡと、
（ｉｉｉ）前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、前記基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を補正された第２のＬＯ周波数に調整することとを行うようにプログラミングされている、処理ユニットと
を備え、
前記第２の混合器は、前記測定されたＲＦ信号と前記補正された第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力するように更に構成され、
前記リサンプラは、前記基準誤差比率に合わせて補正される補正されたものである第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成され、前記第２のＶＮＡは、前記第１の基準クロック又は前記第２の基準クロックに調整を行うことなく、前記第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の前記第２の基準信号を使用するように見えるものである、システム。
（ｉ）無線周波数（ＲＦ）周波数のＲＦ信号を発生させるように構成される信号発生器と、第１の基準周波数の第１の基準信号を少なくとも前記信号発生器に提供するように構成される第１の基準クロックとを備える、第１のベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）と、
（ｉｉ）第２の局部発振器（ＬＯ）周波数を有する第２のＬＯ信号を発生させるように構成される第２のＬＯと、前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ信号とを混合して、第２の中間周波数（ＩＦ）信号を出力するように構成される第２の混合器と、前記第２のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第２のアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）と、前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成されるリサンプラと、第２の基準信号を少なくとも前記第２のＬＯ及び前記第２のＡＤＣに提供するように構成される第２の基準クロックであって、該第２の基準クロックは、前記第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２の基準クロックとを備える、前記ＤＵＴを介して前記第１のＶＮＡからの前記ＲＦ信号を受信して測定するように構成される第２のＶＮＡと、
（ｉｉｉ）前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、前記基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を補正された第２のＬＯ周波数に調整することとを行うようにプログラミングされている、処理ユニットと
を備え、
前記第２の混合器は、前記測定されたＲＦ信号と前記補正された第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力するように更に構成され、
前記リサンプラは、前記基準誤差比率に合わせて補正される補正されたものである第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成され、前記第２のＶＮＡは、前記第１の基準クロック又は前記第２の基準クロックに調整を行うことなく、前記第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の前記第２の基準信号を使用するように見えるものである、システム。
【請求項6】
前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を調整することであって、前記第２の混合器は、前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力するものであることと、
前記第２のＩＦ信号の第２のＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記第２の混合器の前記出力を測定することと、
前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の数学的関係を求め、前記数学的関係を前記ＲＦ信号の前記ＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
によって、前記処理ユニットは、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の前記基準誤差比率を求めるようにプログラミングされている、請求項５に記載のシステム。
前記第２のＩＦ信号の第２のＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記第２の混合器の前記出力を測定することと、
前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の数学的関係を求め、前記数学的関係を前記ＲＦ信号の前記ＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
によって、前記処理ユニットは、前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の前記基準誤差比率を求めるようにプログラミングされている、請求項５に記載のシステム。
【請求項7】
前記第２のＬＯがハイサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記第２のＬＯ周波数から前記第２のＩＦ周波数を減算することによって、前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の前記数学的関係を求めるようにプログラミングされ、
前記第２のＬＯがローサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記第２のＬＯ周波数に前記第２のＩＦ周波数を加算することによって、前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の前記数学的関係を求めるようにプログラミングされているものである、請求項６に記載のシステム。
前記第２のＬＯがローサイドＬＯ混合を行う場合には、前記処理ユニットは、前記第２のＬＯ周波数に前記第２のＩＦ周波数を加算することによって、前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の前記数学的関係を求めるようにプログラミングされているものである、請求項６に記載のシステム。
【請求項8】
前記第１のＶＮＡは、
第１のＬＯ周波数を有する第１のＬＯ信号を発生させるように構成される第１のＬＯと、
前記ＲＦ信号と前記第１のＬＯ信号とを混合して、第１のＩＦ信号を出力するように構成される第１の混合器であって、ここで、前記第１のＩＦ信号は第１のＩＦ周波数を有するものである、第１の混合器と、
前記第１のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第１のＡＤＣと、
前記第１のＩＦ周波数に実質的に等しい第１の数値制御発振器（ＮＣＯ）周波数を有する第１のＮＣＯ信号を発生させるように構成される第１のＮＣＯと、
前記第１のＩＦ信号と前記第１のＮＣＯ信号とを混合して、前記ＲＦ信号の第１の振幅値及び第１の位相値を出力するように構成される第１のＮＣＯ混合器と
を更に備える、請求項５に記載のシステム。
第１のＬＯ周波数を有する第１のＬＯ信号を発生させるように構成される第１のＬＯと、
前記ＲＦ信号と前記第１のＬＯ信号とを混合して、第１のＩＦ信号を出力するように構成される第１の混合器であって、ここで、前記第１のＩＦ信号は第１のＩＦ周波数を有するものである、第１の混合器と、
前記第１のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第１のＡＤＣと、
前記第１のＩＦ周波数に実質的に等しい第１の数値制御発振器（ＮＣＯ）周波数を有する第１のＮＣＯ信号を発生させるように構成される第１のＮＣＯと、
前記第１のＩＦ信号と前記第１のＮＣＯ信号とを混合して、前記ＲＦ信号の第１の振幅値及び第１の位相値を出力するように構成される第１のＮＣＯ混合器と
を更に備える、請求項５に記載のシステム。
【請求項9】
前記第２のＶＮＡは、
前記第２のＩＦ周波数に実質的に等しい第２のＮＣＯ周波数を有する第２のＮＣＯ信号を発生させるように構成される第２のＮＣＯと、
前記第２のＩＦ信号と前記第２のＮＣＯ信号とを混合して、前記測定されたＲＦ信号の第２の振幅値及び第２の位相値を出力するように構成される第２のＮＣＯ混合器と
を更に備える、請求項８に記載のシステム。
前記第２のＩＦ周波数に実質的に等しい第２のＮＣＯ周波数を有する第２のＮＣＯ信号を発生させるように構成される第２のＮＣＯと、
前記第２のＩＦ信号と前記第２のＮＣＯ信号とを混合して、前記測定されたＲＦ信号の第２の振幅値及び第２の位相値を出力するように構成される第２のＮＣＯ混合器と
を更に備える、請求項８に記載のシステム。
【請求項10】
前記処理ユニットは、
前記ＲＦ信号の第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数の前記第１の位相値と前記第２の位相値との間の第１の位相の比率及び第２の位相の比率をそれぞれ求めることと、
前記第２の位相の比率から前記第１の位相の比率を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第１のＲＦ周波数と前記第２のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の電気的遅延を求めることと
を行うように更にプログラミングされている、請求項９に記載のシステム。
前記ＲＦ信号の第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数の前記第１の位相値と前記第２の位相値との間の第１の位相の比率及び第２の位相の比率をそれぞれ求めることと、
前記第２の位相の比率から前記第１の位相の比率を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第１のＲＦ周波数と前記第２のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の電気的遅延を求めることと
を行うように更にプログラミングされている、請求項９に記載のシステム。
【請求項11】
長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するために第１のベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）と第２のＶＮＡとを同期する方法であって、前記第１のＶＮＡは、第１の局部発振器（ＬＯ）周波数を有する第１のＬＯ信号を発生させる第１のＬＯと、第１のアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）とを備え、前記第２のＶＮＡは、第２のＬＯ周波数を有する第２のＬＯ信号を発生させる第２のＬＯと、第２のＡＤＣとを備え、前記第１のＶＮＡ及び前記第２のＶＮＡは、基準クロック又はトリガ信号を共有しないものであり、
前記第２のＶＮＡにおいて、前記第１のＶＮＡからの無線周波数（ＲＦ）信号を受信して測定することであって、ここで、前記ＲＦ信号は連続波（ＣＷ）信号であることと、
前記第２のＶＮＡの前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ信号とを混合して、第２の中間周波数（ＩＦ）信号を前記第２のＡＤＣに出力することであって、ここで、前記第２のＩＦ信号は、第２のＩＦ周波数を有するものであることと、
第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることであって、ここで、前記第１の基準クロックは、第１の基準信号を少なくとも前記第１のＬＯ及び前記第１のＡＤＣに提供するように構成され、前記第２の基準クロックは、第２の基準信号を少なくとも前記第２のＬＯ及び前記第２のＡＤＣに提供するように構成されているものであることと、
前記基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を、補正された第２のＬＯ周波数に調整することと、
前記測定されたＲＦ信号と、前記補正された第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力することと、
前記第２のＩＦ信号をデジタル化することと、
前記基準誤差比率に合わせて補正される補正された第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングすることと
を含み、
前記第１の基準クロック又は前記第２の基準クロックに調整を行うことなく、前記第２のＶＮＡは、前記第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の前記第２の基準信号を用いて動作するように見えるものである、方法。
前記第２のＶＮＡにおいて、前記第１のＶＮＡからの無線周波数（ＲＦ）信号を受信して測定することであって、ここで、前記ＲＦ信号は連続波（ＣＷ）信号であることと、
前記第２のＶＮＡの前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ信号とを混合して、第２の中間周波数（ＩＦ）信号を前記第２のＡＤＣに出力することであって、ここで、前記第２のＩＦ信号は、第２のＩＦ周波数を有するものであることと、
第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることであって、ここで、前記第１の基準クロックは、第１の基準信号を少なくとも前記第１のＬＯ及び前記第１のＡＤＣに提供するように構成され、前記第２の基準クロックは、第２の基準信号を少なくとも前記第２のＬＯ及び前記第２のＡＤＣに提供するように構成されているものであることと、
前記基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を、補正された第２のＬＯ周波数に調整することと、
前記測定されたＲＦ信号と、前記補正された第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力することと、
前記第２のＩＦ信号をデジタル化することと、
前記基準誤差比率に合わせて補正される補正された第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートで前記デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングすることと
を含み、
前記第１の基準クロック又は前記第２の基準クロックに調整を行うことなく、前記第２のＶＮＡは、前記第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の前記第２の基準信号を用いて動作するように見えるものである、方法。
【請求項12】
前記第１の基準クロックと前記第２の基準クロックとの間の前記基準誤差比率を求めることは、
前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力することと、
前記第２のＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を調整することと、
前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の数学的関係を求め、該数学的関係を前記第１のＶＮＡにおいて発生したままの前記ＲＦ信号のＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
を含む、請求項１１に記載の方法。
前記測定されたＲＦ信号と前記第２のＬＯ周波数の前記第２のＬＯ信号とを混合して、前記第２のＩＦ信号を出力することと、
前記第２のＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、前記第２のＬＯの前記第２のＬＯ周波数を調整することと、
前記調整された第２のＬＯ周波数と前記第２のＩＦ周波数との間の数学的関係を求め、該数学的関係を前記第１のＶＮＡにおいて発生したままの前記ＲＦ信号のＲＦ周波数で除算することによって、前記測定されたＲＦ信号の前記ＲＦ周波数の周波数誤差比率を計算することであって、ここで、前記基準誤差比率は、前記周波数誤差比率に等しいものであることと
を含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項13】
前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡまでの前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の電気的遅延を求めることを更に含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項14】
前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることは、
前記第１のＶＮＡの前記第１のＬＯ信号を前記第１のＬＯ周波数に固定し、前記第２のＶＮＡの前記第２のＬＯ信号を前記補正された第２のＬＯ周波数に固定することと、
前記ＲＦ信号を第１のＲＦ周波数に設定し、前記第１のＲＦ周波数の前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記ＲＦ信号の前記第１のＲＦ周波数と、前記第１のＬＯ信号の前記第１のＬＯ周波数と、前記第２のＬＯ信号の前記第２のＬＯ周波数とを使用して、前記ＲＦ信号の第１の位相を測定することと、
前記ＲＦ信号を前記第１のＲＦ周波数とは異なる第２のＲＦ周波数に設定し、前記第２のＲＦ周波数の前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と、前記第１のＬＯ信号の前記第１のＬＯ周波数と、前記第２のＬＯ信号の前記第２のＬＯ周波数とを使用して、前記ＲＦ信号の第２の位相を測定することと、
前記第２の位相から前記第１の位相を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と前記第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることと
を含む、請求項１３に記載の方法。
前記第１のＶＮＡの前記第１のＬＯ信号を前記第１のＬＯ周波数に固定し、前記第２のＶＮＡの前記第２のＬＯ信号を前記補正された第２のＬＯ周波数に固定することと、
前記ＲＦ信号を第１のＲＦ周波数に設定し、前記第１のＲＦ周波数の前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記ＲＦ信号の前記第１のＲＦ周波数と、前記第１のＬＯ信号の前記第１のＬＯ周波数と、前記第２のＬＯ信号の前記第２のＬＯ周波数とを使用して、前記ＲＦ信号の第１の位相を測定することと、
前記ＲＦ信号を前記第１のＲＦ周波数とは異なる第２のＲＦ周波数に設定し、前記第２のＲＦ周波数の前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と、前記第１のＬＯ信号の前記第１のＬＯ周波数と、前記第２のＬＯ信号の前記第２のＬＯ周波数とを使用して、前記ＲＦ信号の第２の位相を測定することと、
前記第２の位相から前記第１の位相を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と前記第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることと
を含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項15】
前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることは、
第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数のそれぞれで前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記第１のＶＮＡにおいて前記第１のＲＦ周波数及び前記第２のＲＦ周波数のそれぞれで第１の数値制御発振器（ＮＣＯ）を使用して、前記第１のＬＯによって出力される第１のＩＦ信号の第１の位相値を求めることと、
前記第２のＶＮＡにおいて前記第１のＲＦ周波数及び前記第２のＲＦ周波数のそれぞれで第２のＮＣＯを使用して、前記第２のＬＯによって出力される前記第２のＩＦ信号の第２の位相値を求めることと、
前記第１のＲＦ周波数の前記第２の位相値から前記第１の位相値を減算することによって、前記ＲＦ信号の第１の位相を求めることと、
前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数の前記第２の位相値から前記第１の位相値を減算することによって、前記ＲＦ信号の第２の位相を求めることと、
前記第２の位相から前記第１の位相を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と前記第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることと
を含む、請求項１３に記載の方法。
第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数のそれぞれで前記ＲＦ信号を前記第１のＶＮＡから前記第２のＶＮＡに送信することと、
前記第１のＶＮＡにおいて前記第１のＲＦ周波数及び前記第２のＲＦ周波数のそれぞれで第１の数値制御発振器（ＮＣＯ）を使用して、前記第１のＬＯによって出力される第１のＩＦ信号の第１の位相値を求めることと、
前記第２のＶＮＡにおいて前記第１のＲＦ周波数及び前記第２のＲＦ周波数のそれぞれで第２のＮＣＯを使用して、前記第２のＬＯによって出力される前記第２のＩＦ信号の第２の位相値を求めることと、
前記第１のＲＦ周波数の前記第２の位相値から前記第１の位相値を減算することによって、前記ＲＦ信号の第１の位相を求めることと、
前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数の前記第２の位相値から前記第１の位相値を減算することによって、前記ＲＦ信号の第２の位相を求めることと、
前記第２の位相から前記第１の位相を減算することによって、位相差を求めることと、
前記求められた位相差の負数を、前記ＲＦ信号の前記第２のＲＦ周波数と前記第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって、前記ＤＵＴを通る前記ＲＦ信号の前記電気的遅延を求めることと
を含む、請求項１３に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【0001】
ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ：vector network analyzer）は、典型的には、ＶＮＡの試験ポートがともに物理的に近接及び同期している構成において、被試験デバイス（ＤＵＴ：device under test）の測定を行うために使用される。例えば、試験ポートは、同じ局部発振器（ＬＯ：local oscillator）及び基準クロック（reference clock）を共有し、共通のトリガを有する。
【0002】
しかしながら、例えば、アンテナレンジ（antenna range）測定等、長距離にわたってＤＵＴの測定を行うためにＶＮＡを使用するとき、試験ポートを非常に遠隔に、例えば、異なる地理的ロケーションに置かなければならない。したがって、長距離にわたるＤＵＴの測定は、分散ＶＮＡ（distributed VNA）として協働する２つの１ポートＶＮＡを使用して最も良く行われる。典型的には、分散ＶＮＡは、２つの試験ポート間で、局部発振器（ＬＯ）信号、基準（クロック）信号、及びトリガという３つの信号を共有することが必要になる。しかしながら、試験ポート間の長距離に起因して、特に２つのＶＮＡの同期のタイミング及び動作に関して、これらの接続を確立するのは困難である。
【発明の概要】
【0003】
例示の実施形態は、以下の詳細な説明が添付図面の図とともに読まれたときに、以下の詳細な説明から最も良く理解される。様々な特徴部が必ずしも一律の縮尺で描かれていないことを強調しておく。実際、寸法は、論述内容を明瞭にするために任意に増減される場合がある。該当する場合及び実際的な場合にはどの箇所においても、同様の参照符号は同様の要素を指す。
【図面の簡単な説明】
【0004】
【図1】代表的な実施形態に係る、第１のベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）及び第２のＶＮＡを使用して、長距離にわたって被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するシステムを示す簡略ブロック図である。
【図2】代表的な実施形態に係る、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡを使用して、長距離にわたってＤＵＴを通る無線周波数（ＲＦ：radio frequency）信号の電気的遅延を測定するシステムを示す簡略ブロック図である。
【図3】代表的な実施形態に係る、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡを使用して、長距離にわたってＤＵＴを試験するために第１のＶＮＡと第２のＶＮＡとを同期する方法の流れ図である。
【図4】代表的な実施形態に係る、広範囲にわたってＤＵＴを試験するために、第１のＶＮＡ内の第１の基準クロックと第２のＶＮＡ内の第２の基準クロックとの間の基準誤差比率（reference error ratio）を求める方法の流れ図である。
【図5】代表的な実施形態に係る、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡを使用して、広範囲にわたってＤＵＴを通るＲＦ信号の電気的遅延を測定する方法の流れ図である。
【図6】代表的な実施形態に係る、長距離にわたってＤＵＴを試験するコンピュータシステムの一例を示す簡略ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0005】
以下の詳細な説明では、限定ではなく説明を目的として、具体的な詳細を開示する代表的な実施形態が、本教示による一実施形態の十分な理解を提供するために述べられる。既知のシステム、デバイス、材料、動作の方法及び製造の方法の説明は、代表的な実施形態の説明を不明瞭にすることを回避するために省略される場合がある。それでもなお、当業者の認識範囲内にあるシステム、デバイス、材料及び方法は、本教示の範囲内にあり、代表的な実施形態に従って使用することができる。本明細書において使用される専門用語は、特定の実施形態の説明のみを目的とするものであり、限定を意図するものでないことが理解されるべきである。定義された用語は、それらの技術的意味及び科学的意味に加えて、本教示の技術分野において一般に理解され、受け入れられている通りのものである。
【0006】
第１、第２、第３等の用語が、様々な要素又は構成要素を説明するために本明細書において使用される場合があるが、これらの要素又は構成要素は、これらの用語によって限定されるべきでないことが理解されるであろう。これらの用語は、或る要素又は構成要素を別の要素又は構成要素から区別するためにのみ使用される。したがって、以下で論述する第１の要素又は構成要素は、本開示の教示から逸脱することなく第２の要素又は構成要素と呼ぶこともできる。
【0007】
本明細書において使用される専門用語は、特定の実施形態の説明のみを目的とするものであり、限定を意図するものでない。本明細書及び添付の特許請求の範囲において使用される場合、用語の単数形（「a」、「an」、及び「the」）は、文脈上明らかにとりたてて指定がなされていない限り、単数形及び複数形の双方を含むことを意図されている。加えて、用語「～備える」、及び／又は「～を含む」、及び／又は同様の用語は、本明細書において使用されるとき、明記された特徴、要素、及び／又は構成要素が存在することを指定するが、１つ以上の他の特徴、要素、構成要素、及び／又はそれらの群の存在又は追加を排除するものではない。本明細書において使用される場合、用語「及び／又は」は、列挙された関連項目のうちの１つ以上の全ての組み合わせを含むことを意味する。
【0008】
とりたてて記載がない限り、要素又は構成要素が別の要素又は構成要素に「接続される」、「結合される」、又は「隣接する」と言うとき、これは、その要素又は構成要素をその別の要素又は構成要素に直接的に接続又は結合することもできるし、介在する要素又は構成要素が存在する場合もあることと理解される。すなわち、これらの用語及び同様の用語は、１つ以上の中間にある要素又は構成要素が、２つの要素又は構成要素を接続するために用いられることがある場合を含む。ただし、要素又は構成要素が別の要素又は構成要素に「直接接続される」と言うとき、これは、それらの２つの要素又は構成要素が、中間にある又は介在する要素又は構成要素を伴わずに互いに接続される場合のみを含む。
【0009】
上記を考慮すると、本開示は、したがって、その様々な態様、実施形態及び／又は特定の特徴若しくは部分構成要素のうちの１つ以上を通じて、以下で具体的に言及される利点のうちの１つ以上を引き出すように意図されている。限定することなく説明を目的として、具体的な詳細を開示する例示の実施形態が、本教示による一実施形態の十分な理解を提供するために述べられる。ただし、本明細書に開示される具体的な詳細から外れているが本開示と合致する他の実施形態も、添付の特許請求の範囲の範囲内にあるものである。その上、よく知られた装置及び方法の説明は、例示の実施形態の説明を不明瞭にしないように省略される場合がある。そのような方法及び装置は、本開示の範囲内にある。
【0010】
様々な実施形態は、ＬＯ信号、基準信号、又はトリガを２つの試験ポート間で共有しなければならないことはなく、これらの信号の必要性を排除するためにデジタル信号処理を使用して、長距離のＤＵＴを測定する分散ＶＮＡを提供する。これにより、分散ＶＮＡの構成がより単純になる。
【0011】
代表的な実施形態によれば、長距離にわたってＤＵＴを試験するシステムが提供される。本システムは、無線周波数（ＲＦ）信号を送信するように構成されるＶＮＡであって、ここで、第１のＶＮＡは、第１の基準信号を提供するように構成される第１の基準クロックを備えるものである、ＶＮＡと、第１のＶＮＡから長距離にわたって送信されたＲＦ信号を受信して測定することで測定されたＲＦ信号を提供するように構成される第２のＶＮＡであって、第２のＶＮＡは、第２の基準信号を提供するように構成される第２の基準クロックを備え、ここで、第２の基準クロックは、第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２のＶＮＡと、第２のＶＮＡの局部発振器（ＬＯ）信号のＬＯ周波数を調整して第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差比率（reference error ratio）を求めることと、基準誤差比率を使用してＬＯ周波数を補正することと、補正された（すなわち、補正後の）ＬＯ周波数のＬＯ信号と測定されたＲＦ信号とを混合して、デジタル化される中間周波数（ＩＦ：intermediate frequency）信号を取得することと、第２のＶＮＡのデジタル化された（すなわち、デジタル化後の）ＩＦ信号のリサンプリングを制御して補正されたＩＦ信号を出力することとによって、第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差を補償するようにプログラミングされている処理ユニットとを備える。
【0012】
代表的な実施形態によれば、長距離にわたってＤＵＴを試験するシステムが提供される。本システムは、第１のＶＮＡと、第２のＶＮＡと、処理ユニットとを備える。第１のＶＮＡは、連続波（ＣＷ：continuous wave）信号とすることができるＲＦ周波数のＲＦ信号を発生させるように構成される信号発生器と、第１のＬＯ周波数を有する第１のＬＯ信号を発生させるように構成される第１のＬＯと、ＲＦ信号と第１のＬＯ信号とを混合して、第１の中間周波数（ＩＦ）信号を出力するように構成される第１の混合器であって、第１のＩＦ信号は第１のＩＦ周波数を有する、第１の混合器と、第１のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第１のＡＤＣと、第１の基準信号を信号発生器と、第１のＬＯと、第１のＡＤＣとに提供するように構成される第１の基準クロックとを備える。第２のＶＮＡは、ＤＵＴを介して第１のＶＮＡからのＲＦ信号を受信して測定するように構成され、第２のＬＯ周波数を有する第２のＬＯ信号を発生させるように構成される第２のＬＯと、測定されたＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して、第２のＩＦ信号を出力するように構成される第２の混合器と、第２のＩＦ信号をデジタル化するように構成される第２のＡＤＣと、デジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成されるリサンプラ（resampler）と、第２の基準信号を少なくとも第２のＬＯ及び第２のＡＤＣに提供するように構成される第２の基準クロックであって、ここで、第２の基準クロックは、第１の基準クロックとは独立して動作するものである、第２の基準クロックとを備える。処理ユニットは、第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることと、基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、第２のＬＯの第２のＬＯ周波数を補正された第２のＬＯ周波数に調整することとを行うようにプログラミングされている。第２の混合器は、測定されたＲＦ信号と補正された第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号とを混合して、第２のＩＦ信号を出力するように更に構成され、リサンプラは、基準誤差比率に合わせて補正されたものである補正された第２のＩＦ信号を出力するように調整された（すなわち、調整後の）サンプルレートでデジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成され、第２のＶＮＡは、第１の基準クロック又は第２の基準クロックに調整を行うことなく、第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の第２の基準信号を使用するように見える。
【0013】
別の代表的な実施形態によれば、長距離にわたってＤＵＴを試験するために第１のＶＮＡと第２のＶＮＡとを同期する方法が提供される。ここで、第１のＶＮＡは、第１のＬＯ周波数を有する第１のＬＯ信号を発生させる第１のＬＯと、第１のＡＤＣとを備え、第２のＶＮＡは、第２のＬＯ周波数を有する第２のＬＯ信号を発生させる第２のＬＯと、第２のＡＤＣとを備え、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡは、基準クロック又はトリガ信号を共有しない。本方法は、第２のＶＮＡにおいて、ＣＷ信号とすることができる第１のＶＮＡからのＲＦ信号を受信することと、第２のＶＮＡの測定されたＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して、第２のＩＦ信号を第２のＡＤＣに出力することと、第１の基準クロックと第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求めることであって、第１の基準クロックは、第１の基準信号を少なくとも第１のＬＯ及び第１のＡＤＣに提供するように構成され、第２の基準クロックは、第２の基準信号を少なくとも第２のＬＯ及び第２のＡＤＣに提供するように構成されているものである基準誤差比率を求めることと、基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、第２のＬＯの第２のＬＯ周波数を、補正された第２のＬＯ周波数に調整することと、測定されたＲＦ信号と、補正された第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号とを混合して、第２のＩＦ信号を出力することと、第２のＩＦ信号をデジタル化することと、基準誤差比率に合わせて補正されたものである補正された第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートでデジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングすることとを含む。第２のＶＮＡは、第１の基準クロック又は第２の基準クロックに調整を行うことなく、第１の基準信号の第１の基準周波数に等しい第２の基準周波数の第２の基準信号を用いて動作するように見える。
【0014】
図１は、代表的な実施形態に係る、長距離にわたってＤＵＴを試験するシステムを示す簡略ブロック図である。
【0015】
図１を参照すると、システム１００は、長距離にわたってＤＵＴ１０５を通るＲＦ信号を測定するように構成される第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０を含む分散ＶＮＡを提供する。ＤＵＴ１０５は、ＲＦ信号を通信するために、第１のＶＮＡ１１０の第１の試験ポート１１１に接続される第１のアンテナ１０６と、第２のＶＮＡ１２０の第２の試験ポート１２１に接続される第２のアンテナ１０８との一方又は両方を備えることができる。ここで、システム１００は、例えば、アンテナ範囲を測定することができる。「長距離」とは、信号喪失を生じるのに十分大きいことで測定雑音をもたらし、第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０が、ＬＯ信号、基準クロック信号、及び共通トリガ信号を正確に共有することを妨げる、第１の試験ポート１１１と第２の試験ポート１２１との間の距離を指す。例えば、第１の試験ポート１１１と第２の試験ポート１２１との間の距離は、約１０メートルを超えると長距離とみなすことができる。第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０は、１ポートデバイスとして示されているが、第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０は、本教示の範囲から逸脱することなく、２つ以上の試験ポートを有することができることを理解されたい。同様に、２ポートデバイスとして示されているＤＵＴ１０５は、例えば、アンテナアレイ等のマルチポートデバイス（すなわち、３つ以上のポート）とすることができる。
【0016】
システム１００は、第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０を制御し、それぞれの測定値を組み合わせ、結果を表示するように概して構成されるコンピュータシステム１５０を更に備える。コンピュータシステム１５０は、有線及び／又は無線接続（つまり、有線接続又は無線接続あるいはそれらの両方）を介して第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０のそれぞれと通信することができる。第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０は、ＬＯ信号、基準クロック信号、及びトリガ信号を共有することができないため、後述するように、ファームウェア及びデジタル信号処理を使用してコンピュータシステム１５０によって同期される。図１は１つのコンピュータシステム１５０を示しているが、本教示の範囲から逸脱することなく、他の構成を実施することができることを理解されたい。例えば、システム１００は、２つの処理ユニットを備えることができ、第１の処理ユニットは第１のＶＮＡ１１０に接続され、第２の処理ユニットは第２のＶＮＡに接続され、第１の処理ユニット及び第２の処理ユニットは、有線又は無線ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）を介して互いに接続される。コンピュータシステム１５０については、図３を参照して以下により詳細に記載する。
【0017】
第１のＶＮＡ１１０は、ＲＦ周波数のＲＦ信号を発生させるように構成される第１のＲＦ信号発生器１１２と、第１のＬＯ周波数の第１のＬＯ信号を発生させるように構成される第１のＬＯ１１３とを備える。第１のＲＦ信号発生器１１２は、例えば、任意波形発生器（ＡＷＧ：arbitrary waveform generator）又はダイレクトデジタルシンセサイザ（ＤＤＳ：direct digital synthesizer）とすることができる。較正のために、第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生するＲＦ信号は、連続波（ＣＷ）信号とすることができ、パイロットトーン（pilot tone）と称される。
【0018】
第１のＶＮＡ１１０は、順方向性結合器（forward directional coupler）１１４と、第１の混合器１１５と、第１のアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ：analog to digital converter）１１６と、第１のデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：digital signal processor）１１９とを更に備える。順方向性結合器１１４は、第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生したＲＦ信号を第１の混合器１１５に結合するように構成され、第１の混合器１１５は、ＲＦ信号を第１のＬＯ１１３からのＬＯ信号と混合して、第１の中間周波数（ＩＦ）周波数を有する第１のＩＦ信号を出力する。第１のＡＤＣ１１６は、第１の混合器１１５によって出力された第１のＩＦ信号をデジタル化し、第１のＤＳＰ１１９は、デジタル化された第１のＩＦ信号の信号処理を行う。処理された第１のＩＦ信号は、例えば、第１のＤＳＰ１１９によってコンピュータシステム１５０に出力することができる。
【0019】
また、第１のＶＮＡ１１０は、第１の基準信号を発生させるように構成される第１の基準クロック１１７と、第１のトリガ信号を発生させるように構成される第１のトリガ源１１８とを備える。第１の基準信号及び第１のトリガ信号は、少なくとも第１のＲＦ信号発生器１１２及び第１のＡＤＣ１１６に提供される。第１のＡＤＣ１１６に関して、第１の基準信号は、第１の混合器１１５によって出力された第１のＩＦ信号をサンプリングする第１のサンプルレートを生み出す。
【0020】
第１のＶＮＡ１１０は、ＤＵＴ１０５から受信されたＲＦ信号を別の混合器に結合するように構成される逆方向性結合器（reverse directional coupler）を備えることもでき、この別の混合器は、受信されたＲＦ信号を第１のＬＯ１１３からのＬＯ信号と混合して、受信されたＲＦ信号に対応するＩＦ信号を出力する。第１のＶＮＡ１１０は、ＩＦ信号をデジタル化する別のＡＤＣを備えることもできる。しかしながら、本明細書に記載の実施形態は、第１のＶＮＡ１１０から第２のＶＮＡ１２０へのＲＦ信号の送信を伴い、したがって、逆方向性結合器又は追加の混合器及びＡＤＣの使用を含まない。したがって、明確化のために、これらの要素は図１において省略されている。
【0021】
第２のＶＮＡ１２０は、別のＲＦ信号を発生させるように構成される第２のＲＦ信号発生器（図示せず）と、第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号を発生させるように構成される第２のＬＯ１２３とを備える。第２のＶＮＡ１２０は、逆方向性結合器１２４と、第２の混合器１２５と、第２のＡＤＣ１２６と、第２のＤＳＰ１３０とを更に備える。方向性結合器１２４は、第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生し、第２の試験ポート１２１を介して受信されたＲＦ信号を第２の混合器１２５に結合するように構成されている。第２の混合器１２５は、ＲＦ周波数の受信されたＲＦ信号を、第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ１２３からの第２のＬＯ信号と混合して、第２のＩＦ周波数を有する第２のＩＦ信号を出力する。第２のＡＤＣ１２６は、第２の混合器１２５によって出力された第２のＩＦ信号をデジタル化する。
【0022】
また、第２のＶＮＡ１２０は、第２の基準信号を発生させるように構成される第２の基準クロック１２７と、第２のトリガ信号を発生させるように構成される第２のトリガ源（trigger source）１２８とを備える。第２の基準信号及び第２のトリガ信号は、少なくとも第２のＲＦ信号発生器及び第２のＡＤＣ１２６に提供される。ここで、第２の基準信号は、第２の混合器１２５によって出力された第２のＩＦ信号をサンプリングする第２のＡＤＣ１２６の第２のサンプルレートを生み出す。
【0023】
第２のＶＮＡ１２０は、リサンプラ１２９を更に備える。リサンプラ１２９は、後述するように、第１の基準信号と第２の基準信号との間の差からもたらされる基準誤差比率を補正するために、第２のＡＤＣ１２６によって出力されたものであるデジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングするように構成されている。リサンプラ１２９は、例えば、第２のＤＳＰ１３０によって実施される既知のソフトウェアフィルタ又はアルゴリズムとすることができるが、代替的に、リサンプラ１２９は、コンピュータシステム１５０によって実施されてもよい。リサンプラ１２９に送信されるデータは、第２の基準クロック１２７からの第２の基準信号によって規定されるレートで、第２のＡＤＣ１２６から同期して読み出しされる（clocked out）。第２のＤＳＰ１３０は、リサンプリングされた第２のＩＦ信号の信号処理を行い、例えば、処理された第２のＩＦ信号をコンピュータシステム１５０に出力することができる。一実施形態において、第２のＤＳＰ１３０は、リサンプラ１２９を備えることができる。
【0024】
第２のＶＮＡ１２０は、第２のＲＦ信号発生器によって発生したＲＦ信号を別の混合器に結合するように構成される順方向性結合器を備えることもでき、この別の混合器は、発生したＲＦ信号を第２のＬＯ１２３からのＬＯ信号と混合して、発生したＲＦ信号に対応するＩＦ信号を出力する。第２のＶＮＡ１２０は、ＩＦ信号をデジタル化する別のＡＤＣを備えることもできる。しかしながら、ここでも、本明細書に記載の実施形態は、第１のＶＮＡ１１０から第２のＶＮＡ１２０へのＲＦ信号の送信を伴うため、順方向性結合器並びに追加の混合器及びＡＤＣは使用されない。したがって、明確化のために、これらの要素は図１において省略されている。
【0025】
更に後述するように、システム１００は、第１の基準クロック１１７又は第２の基準クロック１２７のいずれも実際に調整することなく、第１のＶＮＡ１１０と第２のＶＮＡ１２０とを同期して、広範囲にわたるＤＵＴ１０５の試験を可能にするように構成されている。試験前の較正期間中、第１のＲＦ信号発生器１１２は、ＣＷ信号（パイロットトーン）を、所定のＲＦ周波数を有するＲＦ信号として発生させる。ＲＦ信号は、第１のアンテナ１０６及び第２のアンテナ１０８を使用して、第１のＶＮＡ１１０によって第２のＶＮＡ１２０に送信される。ＤＵＴ１０５は、較正中に存在しても存在しなくてもよい。ＤＵＴ１０５が存在する場合、ＲＦ信号は、第１のＶＮＡ１１０から第２のＶＮＡ１２０に送信される際にＤＵＴ１０５を通過する。
【0026】
第１のＶＮＡ１１０によって送信されたＲＦ信号は、第２のＶＮＡ１２０の第２の試験ポート１２１において受信され、測定されたＲＦ信号として測定される。ＤＵＴ１０５が周波数変換デバイスでない場合、又はＤＵＴ１０５が存在しない場合には、測定されたＲＦ信号は、第１のＶＮＡ１１０によって送信されたＲＦ信号と実質的に同じＲＦ周波数であって、このＲＦ周波数に対して周波数誤差（後述する）だけオフセットされたものを有する。ＤＵＴ１０５が混合器等の周波数変換デバイスである場合には、測定されたＲＦ信号は、第１のＶＮＡ１１０によって送信されたＲＦ信号の周波数変換後にＤＵＴ１０５によって出力された目標ＲＦ信号と実質的に同じＲＦ周波数を有し、測定されたＲＦ信号のＲＦ周波数は、目標ＲＦ信号周波数に対して周波数誤差だけオフセットされる。測定されたＲＦ信号は、方向性結合器１２４によって第２の混合器１２５に結合される。第２の混合器１２５は、測定されたＲＦ信号と第２のＬＯ１２３によって発生した第２のＬＯ信号とを混合し、第２のＩＦ信号を出力する。上述したように、測定されたＲＦ信号はＲＦ周波数を有し、第２のＬＯ信号は第２のＬＯ周波数を有し、得られる第２のＩＦ信号は、ＲＦ周波数と第２のＬＯ周波数との間の差によって求められる第２のＩＦ周波数を有する。
【0027】
コンピュータシステム１５０は、第１の基準クロック１１７によって提供される第１の基準信号と第２の基準クロック１２７によって提供される第２の基準信号との間の基準誤差比率を、第２のＬＯ周波数及び第２のＩＦ周波数に基づいて求める。基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）は、第１の基準信号の第１の基準周波数（Ｒｅｆ１）と、第２の基準信号の第２の基準周波数（Ｒｅｆ２）との比として定義される（Ｅｒｅｆ＝Ｒｅｆ１／Ｒｅｆ２）。第１の基準周波数は、第２のＶＮＡ１２０から見て第２の基準周波数とは異なるため、第１の基準信号は、その差の計算においてエラー状態にあると想定される。重要なことに、様々な実施形態によれば、第２の基準クロック１２７は、第２の基準信号の第２の基準周波数が、第１の基準信号の第１の基準周波数と実際に一致するように調整されない。同様に、第１の基準クロック１１７は、第１の基準信号の第１の基準周波数が、第２の基準信号の第２の基準周波数と実際に一致するように調整されない。むしろ、第１の基準周波数及び第２の基準周波数が変更されないまま、基準誤差比率は求められ、補正される。第２のＶＮＡ１２０は、第２の基準周波数が実際に第１の基準周波数に設定されているかのように測定する。
【0028】
特に、コンピュータシステム１５０は、第２の混合器１２５によって出力された第２のＩＦ信号の第２のＩＦ周波数をモニタリングし、第２のＩＦ周波数が期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで、第２のＬＯ１２３の第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を調整する。ＤＵＴ１０５が周波数変換デバイスでない場合、又はＤＵＴ１０５が存在しない場合には、期待されるＩＦ周波数は、当業者には明らかであるように、様々なシステム制約に基づいて事前に求められた第１のＩＦ周波数と同じ周波数である。ＤＵＴ１０５が周波数変換デバイスである場合には、期待されるＩＦ周波数は、当業者には明らかであるように、ＤＵＴ１０５の試験要件及び様々なシステム制約に基づいて事前に求められる。コンピュータシステム１５０は、その後、調整された第２のＬＯ周波数と第２の（期待される）ＩＦ周波数との間の数学的関係（例えば、和又は差）を求め、この数学的関係を、第１のＶＮＡ１１０において第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生したままのＲＦ信号のＲＦ周波数（ＲＦ１）で除算することによって、測定されたＲＦ信号のＲＦ周波数における周波数誤差比率（ＥＲＦ）を計算する。基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）は、計算された周波数誤差比率（ＥＲＦ）に等しい。
【0029】
すなわち、第２のＶＮＡ１２０は、第１のＶＮＡ１１０からＲＦ信号（ＲＦ１）を受信し、対応する測定されたＲＦ信号（ＲＦＭＥＡＳ）のＲＦ周波数を測定し、これは、周波数誤差比率（ＥＲＦ）を含み、ＲＦＭＥＡＳ＝ＥＲＦ＊ＲＦ１によって示される。第２のＬＯ１２３及び第２の混合器１２５がハイサイドＬＯ混合（high-side LO mixing）を行う場合、第２のＩＦ周波数（ＩＦ２）は、調整された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ａｄｊ）から測定されたＲＦ信号（ＲＦＭＥＡＳ）を減算することによって求められる。
ＩＦ２＝ＬＯ２ａｄｊ－ＲＦＭＥＡＳ 式（１）
ＩＦ２＝ＬＯ２ａｄｊ－ＲＦＭＥＡＳ 式（１）
【0030】
測定されたＲＦ信号（ＲＦＭＥＡＳ）がＥＲＦ＊ＲＦ１に等しいため、式（１）を以下のように記述することができる。
ＥＲＦ＊ＲＦ１＝ＬＯ２ａｄｊ－ＩＦ２ 式（２）
ＥＲＦ＊ＲＦ１＝ＬＯ２ａｄｊ－ＩＦ２ 式（２）
【0031】
したがって、調整された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ａｄｊ）と第２のＩＦ周波数（ＩＦ２）との間の数学的関係は、調整された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ａｄｊ）と第２のＩＦ周波数（ＩＦ２）との間の差であり、ＲＦ周波数（ＲＦ１）と周波数誤差比率（ＥＲＦ）との積に等しい。周波数誤差比率について式（２）を解くと以下となる。
【数1】
【0032】
同様に、第２のＬＯ１２３及び第２の混合器１２５がローサイドＬＯ混合を行う場合には、第２のＩＦ周波数（ＩＦ２）は、測定されたＲＦ信号（ＲＦＭＥＡＳ）から調整された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ａｄｊ）を減算することによって求められる。
ＩＦ２＝ＲＦＭＥＡＳ－ＬＯ２ａｄｊ 式（４）
ＩＦ２＝ＲＦＭＥＡＳ－ＬＯ２ａｄｊ 式（４）
【0033】
測定されたＲＦ信号（ＲＦＭＥＡＳ）がＥＲＦ＊ＲＦ１に等しいため、式（４）を以下のように記述することができる。
ＥＲＦ＊ＲＦ１＝ＬＯ２ａｄｊ＋ＩＦ２ 式（５）
ＥＲＦ＊ＲＦ１＝ＬＯ２ａｄｊ＋ＩＦ２ 式（５）
【0034】
したがって、調整された第２のＬＯ周波数と第２のＩＦ周波数との間の数学的関係は、調整された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ａｄｊ）に第２のＩＦ周波数（ＩＦ２）を加算することによって求められ、ＲＦ周波数（ＲＦ１）と周波数誤差比率（ＥＲＦ）との積に等しい。周波数誤差比率について式（５）を解くと以下となる。
【数2】
【0035】
そのため、コンピュータシステム１５０は、第１の基準周波数（Ｒｅｆ１）又は第２の基準周波数（Ｒｅｆ２）のいずれの値も知る必要なく、第１の基準信号と第２の基準信号との基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）を計算することができる。
【0036】
コンピュータシステム１５０は、その後、基準誤差比率を使用したスケーリングによって基準誤差（reference error）を補償する、第２のＬＯ１２３によって発生した第２のＬＯ信号の補正された第２のＬＯ周波数を求める。特に、コンピュータシステム１５０は、基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）を所望の第２のＬＯ周波数に適用して、補正された第２のＬＯ周波数を求める。ＤＵＴ１０５が周波数変換デバイスでない場合、又はＤＵＴ１０５が存在しない場合には、所望の第２のＬＯ周波数は、第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数と同じ周波数である。ＤＵＴ１０５が周波数変換デバイスである場合には、所望の第２のＬＯ周波数は事前に求められ、上述した期待されるＩＦ周波数の値をもたらす。例えば、コンピュータシステム１５０は、所望の第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ｄｅｓｉｒｅｄ）に基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）を乗算して、補正された第２のＬＯ周波数（ＬＯ２ｃｏｒｒｅｃｔｅｄ）を取得することができる。
ＬＯ２ｃｏｒｒｅｃｔｅｄ＝ＬＯ２ｄｅｓｉｒｅｄ＊Ｅｒｅｆ 式（７）
ＬＯ２ｃｏｒｒｅｃｔｅｄ＝ＬＯ２ｄｅｓｉｒｅｄ＊Ｅｒｅｆ 式（７）
【0037】
コンピュータシステム１５０は、第２のＬＯ１２３に入力されたＬＯ周波数を制御して、補正された第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号を発生させる。例えば、第２のＬＯ１２３は、例えば、フラクショナルＮ型ループ（fractional-n loop）又はＤＤＳと位相ロックされた電圧制御発振器（ＶＣＯ：voltage controlled oscillator）とすることができる。
【0038】
第２の混合器１２５は、測定されたＲＦ信号と、基準誤差比率に合わせて調整されたものである補正された第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号とを混合し、期待される第２のＩＦ周波数の第２のＩＦ信号を出力する。第２のＡＤＣ１２６は、第２の基準信号に応答した第２のサンプルレートで第２のＩＦ信号をデジタル化し、リサンプラ１２９は、基準誤差比率を補正するように調整されたサンプルレートで第２のＡＤＣ１２６によって出力されたデジタル化された第２のＩＦ信号をリサンプリングする。調整されたサンプルレートは、第２の基準周波数（Ｒｅｆ２）と基準誤差比率（Ｅｒｅｆ）との積である。結果として、第２のＶＮＡ１２０は、第１の基準クロック１１７又は第２の基準クロック１２７に調整を行うことなく、第１の基準信号に等しい第２の基準信号を用いて動作するように見える。
【0039】
比較として、従来のシステムは、様々な代替手段によって基準誤差を補正することを試みるものであるが、いずれも第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡ並びに処理ユニットに加えてハードウェアの使用が必要になる。例えば、光ファイバ又はアンテナを使用して、基準信号を一方のＶＮＡから他方に送信することができる。しかしながら、これには、光ファイバ又はアンテナを追加する費用が必要になる。全地球測位衛星（ＧＰＳ：global positioning satellite）受信機を、それぞれが同様の基準信号を発生させるように、ＶＮＡのそれぞれの中に設置することができる。しかしながら、これには、ＧＰＳ受信機を両方のＶＮＡサイトに設置する費用が必要になる。或いは、Stickleらに対する米国特許第１０，３８６，４４４号に記載されているように、基準誤差比率は、第１のＶＮＡの第１の基準信号と第２のＶＮＡの第２の基準信号との商（Ｒｅｆ１／Ｒｅｆ２）として測定することができ、その後、第２のＶＮＡの基準クロックは、第２の基準信号が第１の基準信号に一致するまで調整される。しかしながら、これには、第２のＶＮＡ内の基準クロックを調整する能力が必要になり、これには、追加の特殊なハードウェアが必要になる。
【0040】
様々な実施形態において、第１のＶＮＡ１１０と第２のＶＮＡ１２０とが、第１の基準クロック１１７及び第２の基準クロック１２７に関して有効に同期されると、ＤＵＴ１０５を通るＲＦ信号の遅延を求めることができる。図２は、代表的な実施形態に係る、長距離にわたってＤＵＴを通るＲＦ信号の電気的遅延を測定するシステムを示す簡略ブロック図である。
【0041】
図２を参照すると、システム１００’は、図１のシステム１００と実質的に同じであり、ここでは、第１のＶＮＡ１１０内の第１のＤＳＰ１１９及び第２のＶＮＡ１２０内の第２のＤＳＰ１３０がより詳細に示されている。特に、第１のＤＳＰ１１９は、ＶＮＡ１複合数値制御発振器（ＮＣＯ：numerically controlled oscillator）２１１と第１のホモダイン混合器（homodyne mixer）２１２とを備え、第２のＤＳＰ１３０は、第２の複合ＮＣＯ２２１と第２のホモダイン混合器２２２とを備える。比較として、第１の混合器１１５及び第２の混合器１２５のそれぞれは、ヘテロダイン混合器である。システム１００の他の要素はシステム１００’内に存在するが、図２では便宜上示されていない。
【0042】
第１のホモダイン混合器２１２は、第１のＡＤＣ１１６によって出力されたデジタル化された第１のＩＦ信号を、第１の複合ＮＣＯ２１１によって発生したＶＮＡ１ ＮＣＯ信号と混合し、第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生したＲＦ信号の振幅及び位相を含む対応するＶＮＡ１複合信号を出力するように構成されるデジタル混合器である。ＶＮＡ１ ＮＣＯ信号のＶＮＡ１ ＮＣＯ周波数は、ＤＣへのミックスダウンを可能にする第１のＩＦ周波数と同じである。同様に、第２のホモダイン混合器２２２は、リサンプラ１２９によって出力されたデジタル化及びリサンプリングされた第２のＩＦ信号を、第２の複合ＮＣＯ２２１によって発生したＶＮＡ２ ＮＣＯ信号と混合し、方向性結合器１２４からの測定されたＲＦ信号の振幅及び位相を含む対応するＶＮＡ２複合信号を出力するように構成されるデジタル混合器である。ＶＮＡ２ ＮＣＯ信号のＶＮＡ２ ＮＣＯ周波数は、ＤＣへのミックスダウンを可能にする第２のＩＦ周波数と同じである。
【0043】
概して、電気的遅延は、第１のＲＦ信号発生器１１２によって発生したＲＦ信号を２つの異なるＲＦ周波数に設定し、第１の複合ＮＣＯ２１１によって発生した第１のＮＣＯ信号及び第２の複合ＮＣＯ２２１によって発生した第２のＮＣＯ信号のそれぞれを、２つの異なるＲＦ周波数にそれぞれ対応する２つの異なる第１のＮＣＯ周波数及び第２のＮＣＯ周波数に設定することによって、求められる。第１の複合ＮＣＯ２１１及び第２の複合ＮＣＯ２２１は、第１の複合信号及び第２の複合信号の２つのセ組を出力する。２つのＲＦ信号の位相の変化は、第１の複合信号及び第２の複合信号の２つの組の位相に基づいて求められ、２つのＲＦ信号の周波数の変化は、２つの異なるＲＦ周波数の間の差である。電気的遅延は、位相の変化と周波数の変化との商である。
【0044】
より詳細には、ＲＦ信号の電気的遅延を求めるために、第１のＬＯ１１３の第１のＬＯ周波数は固定され、第２のＬＯ１２３の第２のＬＯ周波数は固定され、測定全体を通して固定されたままである。したがって、第１のＬＯ１１３及び第２のＬＯ１２３の未知の位相は、測定値からコモンモード除去がされ（common-mode out）る。
【0045】
その後、ＲＦ信号のＲＦ周波数は、第１の周波数（ＲＦｘ）に設定され、第１のＮＣＯ信号は、第１のＮＣＯ周波数（ＮＣＯ１ｘ）に設定され、第２のＮＣＯ信号は、第１のＮＣＯ周波数に等しい第２のＮＣＯ周波数（ＮＣＯ２ｘ）に設定される。第１のＮＣＯ周波数及び第２のＮＣＯ周波数は、ＲＦ信号の第１の周波数に対応して設定される。すなわち、第１の複合ＮＣＯ２１１及び第２の複合ＮＣＯ２２１は、第１のＩＦ信号及び第２のＩＦ信号をホモダイン検出する（homodyne）ため、第１のＮＣＯ周波数及び第２のＮＣＯ周波数は、第１のＩＦ周波数及び第２のＩＦ周波数にそれぞれ等しい。これに応答して、第１のホモダイン混合器２１２は、第１の複合信号の位相値（Ａｘ）を出力し、第２のホモダイン混合器２２２は、第２の複合信号の位相値（Ｂｘ）を出力する。ＲＦ信号の第１の位相（Ｐｈａｓｅ１）は、第１の信号の位相値と第２の複合信号の位相値との商（Ｂ１ｘ／Ａ１ｘ）として求められる。
【0046】
次に、ＲＦ周波数は、第２の周波数（ＲＦｙ）に設定され、第１のＮＣＯ信号は、調整された第１のＮＣＯ周波数（ＮＣＯ１ｙ）に設定され、第２のＮＣＯ信号は、調整された第１のＮＣＯ周波数に等しい調整された第２のＮＣＯ周波数（ＮＣＯ２ｙ）に設定される。調整された第１のＮＣＯ信号及び調整された第２のＮＣＯ信号は、上述したように、ＲＦ信号の第２の周波数に対応して設定される。これに応答して、第１のホモダイン混合器２１２は、調整された第１の複合信号の位相値（Ａｙ）を出力し、第２のホモダイン混合器２２２は、調整された第２の複合信号の位相値（Ｂｙ）を出力する。ＲＦ信号の第２の位相（Ｐｈａｓｅ２）は、調整された第２の複合信号の位相値と調整された第１の複合信号の位相値との商（Ｂｙ／Ａｙ）として求められる。
【0047】
周波数の変化は、ＲＦ信号の第２の周波数と第１の周波数との間の差として計算される（ΔＦｒｅｑ＝ＲＦｙ－ＲＦｘ）。位相の変化は、第２の位相と第１の位相との間の差として計算される（ΔＰｈａｓｅ＝Ｐｈａｓｅ２－Ｐｈａｓｅ１）。その後、電気的遅延は、位相の負の変化を第１の周波数と第２の周波数との間の差で除算したものとして計算される（電気的遅延＝－ΔＰｈａｓｅ／ΔＦｒｅｑ）。遅延が求められると、ＲＦ信号の位相差も同様に、遅延を積分することによって求めることができる。
【0048】
概して、ＡＤＣの出力がホモダイン混合器によって測定される度に、典型的には、異なる振幅及び位相が報告される。しかしながら、様々な実施形態によれば、第１のＶＮＡ１１０の第１の複合信号及び第２のＶＮＡ１２０の第２の複合信号を測定するとき、例えば、Andersonらに対する米国特許第９，８８７，７８５号（２０１８年２月６日）に記載されているように、タイムスタンプが使用される。この特許は、引用することによりその全体が本明細書の一部をなすものとする。同じ時間を示すタイムスタンプ値が、第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０の両方の測定値に割り当てられるが、第１の基準クロック１１７と第２の基準クロック１２７とが同期されていないため、時間は不揃いである。しかしながら、複数の測定値が同じ誤差を有するため、減算を行って位相差を求める場合、時間差はコモンモード除去される。したがって、第１の複合信号及び第２の複合信号の振幅及び位相は、ＲＦ周波数、第１のＬＯ周波数、及び第２のＬＯ周波数のそれぞれが測定期間中に変化しない限りは測定ごとに一定となる。
【0049】
電気的遅延を求める際にＲＦ周波数並びに第１のＮＣＯ周波数及び第２のＮＣＯ周波数が変化するため、ＮＣＯ位相は、タイムスタンプが正確になるように各測定期間の開始時にリセットされる。すなわち、第１の複合ＮＣＯ２１１及び第２の複合ＮＣＯ２２１のそれぞれが測定期間の開始時にリセットされるため、タイムスタンプにより、対応する第１のＮＣＯ周波数及び第２のＮＣＯ周波数の移動（ＮＣＯ１ｘ→ＮＣＯ１ｙ及びＮＣＯ２ｘ→ＮＯＣ２ｙ）が未知の位相誤差を生じないことが確実になる。
【0050】
また、第２のＡＤＣ１２６によって出力されたデジタル化された第２のＩＦ信号がリサンプラ１２９によってリサンプリングされるため、タイムスタンプはリサンプリングされた第２のＩＦ信号に適用される。さらに、電気的遅延を測定する場合、リサンプリングカーネル（resampling kernel）が初期較正中に開始し、稼働したままとなるため、時間は適切に蓄積される。しかしながら、これは、絶対遅延が測定されないため、分散のみを測定する場合には必要ない。
【0051】
図３は、代表的な実施形態に係る、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡを使用して、長距離にわたってＤＵＴを試験するために第１のＶＮＡと第２のＶＮＡとを同期する方法の流れ図である。図３の方法は、上述した第１のＶＮＡ１１０、第２のＶＮＡ１２０、及びコンピュータシステム１５０を備えるシステム１００によって実施することができる。
【0052】
図３を参照すると、ブロックＳ３１１において、第１のＶＮＡのＲＦ信号発生器（例えば、第１のＲＦ信号発生器１１２）によって発生したＲＦ信号は、第２のＶＮＡにおいて受信及び測定され、測定されたＲＦ信号を提供する。ＲＦ信号は、ＣＷ信号とすることができ、ＲＦ周波数を有する。
【0053】
ブロックＳ３１２において、測定されたＲＦ信号と第２のＬＯ信号とが、第２のＶＮＡの第２の混合器（例えば、第２の混合器１２５）によって混合され、第２のＩＦ信号を第２のＡＤＣ（例えば、第２のＡＤＣ１２６）に出力する。第２のＩＦ信号は第２のＩＦ周波数を有する。
【0054】
ブロックＳ３１３において、第１の基準信号と第２の基準信号との間の基準誤差比率が求められる。第１の基準信号は、第１の基準クロック（例えば、第１の基準クロック１１７）によって発生し、第２の基準信号は、第２の基準クロック（例えば、第２の基準クロック１２７）によって発生する。第１の基準信号は、少なくとも第１のＶＮＡのＲＦ信号発生器、第１のＡＤＣ（例えば、第１のＡＤＣ１１６）及び第１のＬＯ（例えば、第１のＬＯ１１３）を駆動し、第２の基準信号は、少なくとも第２のＶＮＡの第２のＡＤＣ及び第２のＬＯ（例えば、第２のＬＯ１２３）を駆動する。
【0055】
図４は、代表的な実施形態に係る、ブロックＳ３１３によって示される、第１のＶＮＡ内の第１の基準クロックと第２のＶＮＡ内の第２の基準クロックとの間の基準誤差比率を求める方法の流れ図である。図４の方法も同様に、上述した第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０、並びにコンピュータシステム１５０を備えるシステム１００によって実施することができる。
【0056】
図４を参照すると、ブロックＳ４１１において、測定されたＲＦ信号と第２のＬＯ周波数の第２のＬＯ信号とが、第２の混合器において混合され、第２のＩＦ信号を出力する。第２のＬＯ周波数は、最初、所定の期待されるＩＦ周波数を目標とするＲＦ周波数をダウンコンバートするために、例えば、第１のＬＯの第１のＬＯ周波数に等しい所望の第２のＬＯ周波数に設定される。
【0057】
ブロックＳ４１２において、第２のＬＯ周波数は、第２のＬＯにおいて、第２のＩＦ周波数が所定の期待されるＩＦ周波数に等しくなるまで調整される。期待されるＩＦ周波数は、ＡＤＣ及びＤＳＰがその後の信号処理のために調節される第２のＩＦ信号の周波数である。
【0058】
ブロックＳ４１３において、測定されたＲＦ信号のＲＦ周波数の周波数誤差比率が計算される。周波数誤差比率は、調整された第２のＬＯ周波数と第２のＩＦ周波数との間の数学的関係（例えば、差又は和）を求め、この数学的関係を、第１のＶＮＡにおいて発生したままのＲＦ信号のＲＦ周波数で除算することによって、計算することができる。上述したように、第２のＬＯ及び第２の混合器がハイサイドＬＯ混合を行う場合には、調整された第２のＬＯ周波数と第２のＩＦ周波数との間の数学的関係は、第２のＬＯ周波数から第２のＩＦ周波数を減算することによって求められる。第２のＬＯ１２３及び第２の混合器がローサイドＬＯ混合（low-side LO mixing）を行う場合には、調整された第２のＬＯ周波数と第２のＩＦ周波数との間の数学的関係は、第２のＬＯ周波数に第２のＩＦ周波数を加算することによって求められる。基準誤差比率は、計算された周波数誤差比率に等しい。
【0059】
図３を再び参照すると、ブロックＳ３１４において、第２のＬＯ周波数は、ブロックＳ４１３において求められた基準誤差比率を所望の第２のＬＯ周波数に適用することによって、第２のＬＯにおいて補正された第２のＬＯ周波数に調整される。上述したように、ＤＵＴが周波数変換デバイスでない場合、又はＤＵＴが存在しない場合には、所望の第２のＬＯ周波数は、第１のＬＯによって発生した第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数と同じ周波数である。ＤＵＴが周波数変換デバイスである場合には、所望の第２のＬＯ周波数は、期待されるＩＦ周波数の値をもたらす事前に求められた周波数である。
【0060】
ブロックＳ３１５において、測定されたＲＦ信号は、補正された第２のＬＯ周波数にプログラミングされた第２のＬＯ信号と混合され、所望の第２のＩＦ周波数に基準誤差比率（ブロックＳ３１３にて求められた）を乗算したものに等しい第２のＩＦ周波数の第２のＩＦ信号を出力する。ここでも、ＤＵＴが周波数変換デバイスでない場合、又はＤＵＴが存在しない場合には、所望の第２のＩＦ周波数は第１のＬＯ周波数と同じ周波数であり、ＤＵＴが周波数変換デバイスである場合には、所望の第２のＩＦ周波数は、その後の信号処理の事前に求められた周波数である。
【0061】
ブロックＳ３１６において、第２のＩＦ信号は、第２のＡＤＣによってデジタル化（測定）され、その後、「補正された第２のＩＦ信号」と称される、基準誤差比率に合わせて補正されるデジタル化された第２のＩＦ信号を出力するように調整されたサンプルレートでリサンプリングされる。したがって、第２のＶＮＡは、第２の基準クロック（又は第１の基準クロック）に調整を行うことなく、第１の基準信号に等しい第２の基準信号とともに動作するように見える。
【0062】
ブロックＳ３１７において、ＲＦ信号の電気的遅延が、任意選択的に、後述するように、第１のＶＮＡからＤＵＴを通して第２のＶＮＡに送信されるＲＦ信号について求められる。
【0063】
図５は、代表的な実施形態に係る、第１のＶＮＡ及び第２のＶＮＡを使用して、広範囲にわたってＤＵＴを通るＲＦ信号の電気的遅延を求める方法の流れ図である。図５の方法は、上述した第１のＶＮＡ１１０、第２のＶＮＡ１２０、及びコンピュータシステム１５０を備えるシステム１００、１００’によって実施することができる。
【0064】
図５を参照すると、ＲＦ信号の電気的遅延を求めることは、ブロックＳ５１１において、第１のＶＮＡにおいて第１のＬＯ信号を第１のＬＯ周波数にプログラミングすることと、第２のＶＮＡにおいて第２のＬＯ信号を補正された第２のＬＯ周波数に固定することとを含む。第１のＬＯ周波数及び第２のＬＯ周波数は、設定されると、測定プロセス全体を通して一定のままにとどまる。
【0065】
ブロックＳ５１２において、ＲＦ信号は、第１のＲＦ信号発生器の第１のＲＦ周波数に設定される。第１のＲＦ周波数のＲＦ信号は、第１のＶＮＡからＤＵＴを通過して第２のＶＮＡに送信される。
【0066】
ブロックＳ５１３において、ＲＦ信号の第１の位相は、ＲＦ信号の第１のＲＦ周波数、第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数、及び第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を使用して測定される。ＲＦ信号の第１の位相を測定することは、第１のＶＮＡのＲＦ信号と第１のＬＯ信号とを混合して第１のＩＦ信号を出力することと、第１のＩＦ信号と第１のＮＣＯからの第１のＮＣＯ信号とを混合して第１のＩＦ信号の第１の位相値を出力することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して第２のＩＦ信号を出力することと、第２のＩＦ信号と第２のＮＣＯからの第２のＮＣＯ信号とを混合して第２のＩＦ信号の第２の位相値を出力することとを含む。第１の位相は、第２の位相値から第１の位相値を減算することによって求められる。
【0067】
ブロックＳ５１４において、ＲＦ信号は、第１のＲＦ信号発生器の第１のＲＦ周波数とは異なる第２のＲＦ周波数に設定される。第２のＲＦ周波数のＲＦ信号は、第１のＶＮＡからＤＵＴを通過して第２のＶＮＡに送信される。
【0068】
ブロックＳ５１５において、ＲＦ信号の第２の位相は、ＲＦ信号の第２のＲＦ周波数、第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数、及び第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を使用して測定される。ＲＦ信号の第１の位相を測定することは、第１のＶＮＡにおいて発生したＲＦ信号と第１のＬＯ信号とを混合して調整された第１のＩＦ信号を出力することと、調整された第１のＩＦ信号と第１のＮＣＯ信号とを混合して調整された第１のＩＦ信号の調整された第１の位相値を出力することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して調整された第２のＩＦ信号を出力することと、調整された第２のＩＦ信号と第２のＮＣＯ信号とを混合して調整された第２のＩＦ信号の調整された第２の位相値を出力することとを含む。第２の位相は、調整された第２の位相値から調整された第１の位相値を減算することによって求められる。
【0069】
ブロックＳ５１６において、第１のＲＦ周波数のＲＦ信号と第２のＲＦ周波数のＲＦ信号との間の位相差が求められる。位相差は、第２の位相から第１の位相を減算することによって求めることができる。
【0070】
ブロックＳ５１７において、ＤＵＴを通るＲＦ信号の電気的遅延は、求められた位相差の負数（negative：負の数）を、ＲＦ信号の第２のＲＦ周波数と第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって求められる。電気的遅延は、長距離にわたってＲＦ信号を通すＤＵＴによって導入される遅延時間である。
【0071】
もちろん、ＲＦ信号の電気的遅延は、本教示の範囲から逸脱することなく、他の技法を使用して求めることができる。代替的な実施形態において、電気的遅延は、ＲＦ信号を第１のＲＦ信号発生器の第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数に設定することと、ＲＦ信号を第１のＶＮＡから第２のＶＮＡに送信するが、ＮＣＯ周波数は変更しないこととによって求めることができる。ここでも、ＬＯ周波数はそれぞれ固定されたままである。特に、第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数は、第１の混合器及び第２の混合器において、ＲＦ信号を第１のＬＯ信号及び第２のＬＯ信号とそれぞれ混合しても、第１のＩＦ信号の第１のＩＦ周波数及び第２のＩＦ信号の第２のＩＦ周波数が変化しないように選択される。例えば、第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数は、第１のＬＯ周波数及び第２のＬＯ周波数の上下に同じ量だけオフセットすることができ、これにより、第１のＬＯ及び第２のＬＯのそれぞれと混合器とは、それぞれ第１のＲＦ周波数及び第２のＲＦ周波数に関して、ハイサイドＬＯ混合からローサイドＬＯ混合に切り替える。
【0072】
そうでなければ、本技法は図５を参照して上述したものと実質的に同じである。すなわち、ＲＦ信号の第１の位相は、第１のＶＮＡのＲＦ信号と第１のＬＯ信号とを混合して第１のＩＦ信号を出力することと、第１のＩＦ信号と第１のＮＣＯからの固定された第１のＮＣＯ信号とを混合して第１のＩＦ信号の第１の位相値を出力することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して第２のＩＦ信号を出力することと、第２のＩＦ信号と第２のＮＣＯからの固定された第１のＮＣＯ信号とを混合して第２のＩＦ信号の第２の位相値を出力することとによって、ＲＦ信号の第１のＲＦ周波数、第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数、及び第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を使用して測定される。第１の位相は、第２の位相値から第１の位相値を減算することによって求められる。
【0073】
同様に、ＲＦ信号の第２の位相は、第１のＶＮＡにおいて発生したＲＦ信号と第１のＬＯ信号とを混合して調整された第１のＩＦ信号を出力することと、調整された第１のＩＦ信号と固定された第１のＮＣＯ信号とを混合して調整された第１のＩＦ信号の調整された第１の位相値を出力することと、第２のＶＮＡのＲＦ信号と第２のＬＯ信号とを混合して調整された第２のＩＦ信号を出力することと、調整された第２のＩＦ信号と固定された第２のＮＣＯ信号とを混合して調整された第２のＩＦ信号の調整された第２の位相値を出力することとによって、ＲＦ信号の第２のＲＦ周波数、第１のＬＯ信号の第１のＬＯ周波数、及び第２のＬＯ信号の第２のＬＯ周波数を使用して測定される。第２の位相は、調整された第２の位相値から調整された第１の位相値を減算することによって求められる。
【0074】
第１のＲＦ周波数のＲＦ信号と第２のＲＦ周波数のＲＦ信号との間の位相差は、第２の位相から第１の位相を減算することによって求められる。ＤＵＴを通るＲＦ信号の電気的遅延は、求められた位相差の負数を、ＲＦ信号の第２のＲＦ周波数と第１のＲＦ周波数との間の差で除算することによって求められる。
【0075】
別の代替的な実施形態において、電気的遅延は、ＲＦ信号を変調することと、変調されたＲＦ信号の包絡線の遅延を測定することとによって求めることができる。例えば、第１のＶＮＡにおいて発生したＲＦ信号は、２トーン信号とすることができ、ここで、２つのトーンは、上述したように、遅延を測定するための２つの異なる周波数（例えば、第１のＲＦ周波数ＲＦｘ及び第２のＲＦ周波数ＲＦｙ）に対応する。同様に、第１のＶＮＡにおいて発生したＲＦ信号は、３つ以上のトーンを有することができ、遅延は、３つ以上のＲＦ周波数を用いた同様の技法を使用して測定される。
【0076】
別の代替的な実施形態において、電気的遅延は、第１のＮＣＯ及び第２のＮＣＯをオンにすることと、それらの位相が測定中にコヒーレントのままとなるように稼働したままにすることとによって求めることができる。
【0077】
図６は、代表的な実施形態に係る、長距離にわたってＤＵＴを試験するコンピュータシステムの一例を示す簡略ブロック図である。
【0078】
図６を参照すると、コンピュータシステム１５０は、処理ユニット６１０と、本明細書に記載のプロセスを実施するように処理ユニット６１０によって実行可能な命令を記憶するメモリ６２０と、ディスプレイ６３０と、ユーザインタフェース６４０と、ネットワークインタフェース６５０とを備える。処理ユニット６１０は、１つ以上の処理デバイスの代表であり、例えば図３～図５に述べた方法の様々なステップを含む、本明細書の様々な実施形態に記載の機能を行うソフトウェア命令を実行するように構成されている。処理ユニット６１０は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、配線された論理回路、又はそれらの組合せの任意の組合せを使用して、汎用コンピュータ、パーソナルコンピュータ（ＰＣ：personal computer）、中央処理ユニット（ＣＰＵ：central processing unit）、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：digital signal processor）、１つ以上のプロセッサ、マイクロプロセッサ若しくはマイクロコントローラ、状態機械、プログラマブルロジックデバイス、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ：field programmable gate array）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ：application specific integrated circuit）、又はそれらの組合せによって実装することができる。「プロセッサ」という用語は、特に、プログラム、又は機械実行可能命令を実施できる電子部品を包含する。「プロセッサ（processor）」への言及は、マルチコアプロセッサ、及び／又は、並列プロセッサ（つまり、マルチコアプロセッサ、又は並列プロセッサ、あるいはそれらの両方）のように、２つ以上のプロセッサ又は処理コアを含むものと解釈するものとする。また、プロセッサは、単一コンピュータシステム内のプロセッサの集合体、又は、クラウドベース若しくは他のマルチサイトアプリケーション等、複数のコンピュータシステム間で分散されたプロセッサの集合体を称する場合もある。プログラムは、同じコンピューティングデバイス内にありうる、又は、複数のコンピューティングデバイスにわたって分散しうる１つ以上のプロセッサによって実行されるソフトウェア命令を含む。
【0079】
メモリ６２０は、主メモリ、及び／又はスタティックメモリ（つまり、主メモリ、又はスタティックメモリ、あるいはそれらの両方）を含んでもよく、かかるメモリは、１つ以上のバスを介して互いに、及び処理ユニット６１０と通信することができる。メモリ６２０は、本明細書で記載される方法、及びプロセスのいくつかの、又は、全ての態様を実施するために使用される命令を格納する。メモリ６２０は、例えば、任意の数、種類、及び、組み合わせのランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ：random access memory）と読み取り専用メモリ（ＲＯＭ：read-only memory）で実装することができ、ソフトウェアアルゴリズム、及びコンピュータプログラム等の様々な種類の情報を格納することができ、それらは全て処理ユニット６１０によって実行可能である。様々な種類のＲＯＭとＲＡＭには、ディスクドライブ、フラッシュメモリ、電気的にプログラム可能な読み取り専用メモリ（ＥＰＲＯＭ：electrically programmable read-only memory）、電気的に消去可能、且つプログラム可能な読み取り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ：electrically erasable and programmable read only memory）、レジスタ、ハードディスク、リムーバブルディスク、テープ、コンパクトディスク読み取り専用メモリ（ＣＤ－ＲＯＭ：compact disk read only memory）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ：digital versatile disk）、フロッピーディスク、ｂｌｕ－ｒａｙディスク、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ：universal serial bus）ドライブ、又は、当該技術分野で知られている他の任意の形態の記憶媒体等、任意の数、種類、及び組み合わせのコンピュータ可読記憶媒体を含むことができる。
【0080】
メモリ６２０は、データと実行可能ソフトウェア命令を格納するための有形の記憶媒体であり、ソフトウェア命令が内部に格納されている間は、非一時的である。本明細書で使用する場合、「非一時的（non-transitory）」という用語は、状態の永遠の特性ではなく、或る期間続く状態の特性として解釈されるものとする。「非一時的」という用語は、具体的に言えば、任意の時点で任意の場所に一時的にしか存在しない、搬送波若しくは信号、又は、他の形態の特性等、一時的な特性を否定する。メモリ６２０は、様々な機能の実行を可能にするソフトウェア命令、及び／又はコンピュータ可読コード（つまり、ソフトウェア命令、又はコンピュータ可読コード、あるいはそれらの両方）を格納することができる。メモリ６２０は、セキュア及び／又は暗号化されている（つまり、セキュア又は暗号化されている、あるいはそれらの両方である）か、又は、非セキュア及び／又は暗号化されていない（つまり、非セキュア又は暗号化されていない、あるいはそれらの両方である）場合もある。
【0081】
ディスプレイ６３０は、例えば、コンピュータモニタ、テレビ、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ：organic light emitting diode）、フラットパネルディスプレイ、固体ディスプレイ、又は陰極線管（ＣＲＴ:cathode ray tube）ディスプレイ等のモニタ、又は、電子ホワイトボードとすることができる。また、ディスプレイ６３０は、ユーザとの間で情報を表示及び受信するためのグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ：graphical user interface）を提供することもある。
【0082】
ユーザインタフェース６４０は、処理ユニット６１０及び／又はメモリ６２０（つまり、処理ユニット６１０又はメモリ６２０あるいはそれらの両方）によって出力された情報及びデータをユーザに提供するとともに、ユーザによって入力された情報及びデータを受信する既知のインタフェースを含む。例えば、ユーザインタフェース６４０により、ユーザは、データの入力及び本明細書に記載のプロセスの態様の制御又は操作が可能になり、また、処理ユニット６１０は、ユーザの制御又は操作の効果を示すことが可能になる。ユーザインタフェース６４０は、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、ジョイスティック、触覚デバイス、マイクロフォン、ビデオカメラ、タッチパッド、タッチスクリーン、マイクロフォン若しくはビデオカメラによってキャプチャされる音声又はジェスチャ認識、又は、コンピュータシステム１５０からのユーザフィードバック及びコンピュータシステム１５０とのインタラクションを可能にする他の任意の周辺装置若しくは制御装置等の１つ以上のユーザデバイスを接続することができる。
【0083】
ネットワークインタフェース６５０は、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ：local area network）、無線ＬＡＮ、Ｗｉｆｉ、イーサネット等のデータ通信ネットワークへの既知の入力／出力接続を含む。ネットワークインタフェース６５０により、コンピュータシステム１５０と第１のＶＮＡ１１０及び第２のＶＮＡ１２０のそれぞれとの間の接続が可能になる。ネットワークインタフェース６５０は、１つ以上のポート、ディスクドライブ、無線アンテナ、又は他のタイプの受信機回路部を更に含むことができる。
【0084】
本発明は、図面及び上述の説明に詳細に図示及び説明されてきたが、そのような説明図及び説明は、例示又は模範とみなされるべきであり、限定とみなされるべきではなく、本発明は、開示された実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、請求項に係る発明を実施する際に、図面、開示及び添付の特許請求の範囲の検討により、開示される実施形態に対する他の変形形態を理解し、それを行うことができる。特許請求の範囲において、「を含む（comprising）」という単語は他の要素又はステップを排除せず、不定冠詞「一つの（"a"又は"an"）」は複数形を排除しない。或る特定の手段が互いに異なる複数の従属請求項に列挙されているだけであれば、それらの手段を組み合わせて有利に使用することができないことは示されていないものとする。
【0085】
本発明の態様は、装置、方法又はコンピュータプログラム製品として具現化することができる。したがって、本発明の態様は、全体がハードウェアの実施形態、全体がソフトウェアの実施形態（ファームウェア、常駐ソフトウェア、マイクロコード等を含む）、又はソフトウェアの態様及びハードウェアの態様を組み合わせた実施形態の形を取ることができる。これらは全て、本明細書において、「回路」、「モジュール」又は「システム」と総称される場合がある。さらに、本発明の態様は、コンピュータ実行可能コードが具現化された１つ以上のコンピュータ可読媒体に具現化されるコンピュータプログラム製品の形を取ることができる。
【0086】
代表的な実施形態が本明細書に開示されているが、当業者であれば、本教示に従った多くの変形形態が可能であり、添付の特許請求の範囲の範囲内にあることを理解する。本発明は、したがって、添付の特許請求の範囲の範囲内にあること以外で限定されるべきでない。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【外国語明細書】