特開 2024-109184 コネクタ検査装置、コネクタ検査方法およびコネクタ検査装置の制御プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024109184

(43)【公開日】2024-08-14

(54)【発明の名称】コネクタ検査装置、コネクタ検査方法およびコネクタ検査装置の制御プログラム

(51)【国際特許分類】

   H01R 43/00 20060101AFI20240806BHJP

   H01R 13/24 20060101ALI20240806BHJP

【ＦＩ】

H01R43/00 Z

H01R13/24

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023013837

(22)【出願日】2023-02-01

(71)【出願人】

【識別番号】000004237

【氏名又は名称】日本電気株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100109313

【弁理士】

【氏名又は名称】机 昌彦

(74)【代理人】

【識別番号】100149618

【弁理士】

【氏名又は名称】北嶋 啓至

(72)【発明者】

【氏名】山下 淳也

(72)【発明者】

【氏名】山形 真司

【テーマコード（参考）】

5E051

【Ｆターム（参考）】

5E051GA09

5E051GB09

(57)【要約】

【課題】コネクタが備える複数の端子金具のうちで押し込み試験が実施された端子金具を特定することが可能なコネクタ検査装置等を提供する。
【解決手段】コネクタ検査装置は、先端部に設けられたピンと導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いた、端子金具の固定検査に用いられる。コネクタ検査装置は、コネクタ検査補助基板と、位置検出手段とを備える。コネクタ検査補助基板は、コネクタが備える複数の端子金具に対応する位置に貫通穴を有し、コネクタの嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板には、貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成る配線パターンが形成される。配線パターンは、突き当て部が接触する配線の組み合わせが、貫通穴ごとに異なるように形成される。そして位置検出手段が、突き当て部が接触した配線の組み合わせに基づいて、ピンが押圧した端子金具の位置を検出する。
【選択図】 図２１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置であって、
複数の前記端子金具の各々に対応する位置に複数の貫通穴を有し、前記コネクタの嵌合面に取り付けられるコネクタ検査補助基板と、
前記突き当て部を前記貫通穴の外周部に突き当て、前記貫通穴を介してリテンションツールが前記端子金具を押圧した際に、押圧された前記端子金具の位置を検出する位置検出手段と、
を有し、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段が、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を検出する、
ことを特徴とするコネクタ検査装置。

【請求項2】

前記配線パターンが、
前記リテンションツールが前記貫通穴に挿入された際に、前記突き当て部が、前記複数の配線のうちの少なくとも２つに接触するように形成されている、
ことを特徴とする請求項１に記載のコネクタ検査装置。

【請求項3】

前記複数の配線のうちの少なくとも一部が、
前記コネクタ検査補助基板の端部まで延伸されている、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ検査装置。

【請求項4】

前記複数の配線のうちの少なくとも一部が、スルーホールを介して前記コネクタ検査補助基板の裏面に延伸されている、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ検査装置。

【請求項5】

前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を記録する記録手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ検査装置。

【請求項6】

前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を表示する表示手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ検査装置。

【請求項7】

前記コネクタの嵌合面と反対側の面を保持するコネクタ保持ブロックと、
前記コネクタ保持ブロックから遠ざかる方向に付勢し、前記コネクタ保持ブロックに対して前記コネクタ検査補助基板を保持するコネクタ検査補助基板保持機構と、
をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ検査装置。

【請求項8】

先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置を用いたコネクタ検査方法であって、
前記コネクタ検査装置は、
複数の前記端子金具の各々に対応する位置に複数の貫通穴を有し、前記コネクタの嵌合面に取り付けられるコネクタ検査補助基板と、
前記突き当て部を前記貫通穴の外周部に突き当て、前記貫通穴を介してリテンションツールが前記端子金具を押圧した際に、押圧された前記端子金具の位置を検出する位置検出手段と、
を有し、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段が、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を検出する、
ことを特徴とするコネクタ検査方法。

【請求項9】

先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置の制御プログラムであって、
前記コネクタ検査装置は、
複数の前記端子金具の各々に対応する位置に複数の貫通穴を有し、前記コネクタの嵌合面に取り付けられるコネクタ検査補助基板と、
前記突き当て部を前記貫通穴の外周部に突き当て、前記貫通穴を介してリテンションツールが前記端子金具を押圧した際に、押圧された前記端子金具の位置を検出する位置検出手段と、
を有し、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段に、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置する処理を実行させる、
ことを特徴とするコネクタ検査装置の制御プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、コネクタ検査装置等に関する。

【背景技術】

【0002】

複数の電線の各々を同時に接続するために、コネクタが用いられている。一般的なコネクタでは、雄型または雌型の端子金具がハウジングに固定されている。この固定が正常に行われていないと、雄型コネクタと雌型コネクタを接続した際に、端子金具がずれて雄型コネクタと雌型コネクタとの間で接続不良が生じる。このため、端子金具がハウジングに固定されていることを検査する必要がある。

【0003】

特に、宇宙船や宇宙探査機等の宇宙分野の技術では、コネクタに高い信頼性が求められる。このため、宇宙分野の製品に対して、コネクタ検査方法が厳格に規定される場合がある。例えば、宇宙航空研究開発機構（ＪＡＸＡ、Ｊａｐａｎ Ａｅｒｏｓｐａｃｅ Ｅｘｐｌｏｒａｔｉｏｎ Ａｇｅｎｃｙ）の宇宙用電気配線工程標準（ＪＥＲＧ－０－０４１ＩＤ）には、以下のようなコネクタの検査方法が定められている。「コネクタのコンタクト（本発明の端子金具に相当）の装着状態について、押し込み試験および引張り試験を実施する。試験においては、各コンタクトピンやソケット（端子金具）に定められた範囲の荷重を加える。そのときにコンタクトピンやソケット（端子金具）がコネクタから抜けないことを目視確認する。このうち、押し込み試験においては、荷重の設定が可能な押し付け試験工具を用いる」。ここで、押し付け試験工具はリテンションツールとも呼ばれる。本発明は、上記の押し込み試験に用いるコネクタ検査装置等に関する。

【0004】

上記の押し込み試験においては、リテンションツールを用いて、設定された荷重で端子金具が押圧される。この作業は、例えば、作業者によって実行される。この際、端子金具がハウジングから抜けなければ、当該端子金具の固定が「良」と判定される。一方、当該端子金具が端子挿入孔から抜ければ、当該端子金具の固定が「不良」と判定される。

【0005】

なお、上記のような厳密な試験には対応しない技術であって、端子金具の固定検査を行う一般的な技術が、例えば、特許文献１に開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開２００１－３４５１５８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

上記の押し込み試験においては、例えば、作業者が各端子金具にリテンションツールを押し付けることによって、検査が実行される。この際、端子金具が複数あるため、押し込み試験に漏れが生じる恐れがあった。すなわち、押し込み試験が実施されていない端子金具が生じる恐れがあった。

【0008】

本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、コネクタが備える複数の端子金具のうちで押し込み試験が実施された端子金具を特定することが可能なコネクタ検査装置等を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記の課題を解決するため、本発明のコネクタ検査装置は、先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置であって、複数の前記端子金具の各々に対応する位置に複数の貫通穴を有し、前記コネクタの嵌合面に取り付けられるコネクタ検査補助基板と、前記突き当て部を前記貫通穴の外周部に突き当て、前記貫通穴を介してリテンションツールが前記端子金具を押圧した際に、押圧された前記端子金具の位置を検出する位置検出手段と、を有し、前記コネクタ検査補助基板が、少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、前記位置検出手段が、前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置を検出する。

【0010】

また、本発明のコネクタ検査方法は、先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置を用いたコネクタ検査方法であって、前記コネクタ検査補助基板が、少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、前記位置検出手段が、前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置を検出する。

【0011】

また、本発明にコネクタ検査装置の制御プログラムは、先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置の制御プログラムであって、前記コネクタ検査補助基板が、少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、前記位置検出手段に、前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置する処理を実行させる。

【発明の効果】

【0012】

本発明の効果は、コネクタが備える複数の端子金具のうちで押し込み試験が実施された端子金具を特定することが可能なコネクタ検査装置等を提供できることである。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】第１の実施形態のコネクタ検査装置を示す模式図である。

【図2】第１の実施形態のコネクタ検査補助基板の一例を示す模式図である。

【図3】第１の実施形態の接触配線検出部とリテンションツールの等価回路を示す模式図である。

【図4】第１の実施形態のコネクタ検査補助基板にリテンションツールが接触する際の第１の状態を示す模式図である。

【図5】第１の実施形態のコネクタ検査補助基板にリテンションツールが接触する際の第２の状態を示す模式図である。

【図6】第１の実施形態のコネクタ検査補助基板にリテンションツールが接触する際の第３の状態を示す模式図である。

【図7】第１の実施形態のコネクタ検査における貫通穴と配線の組み合わせを示す表である。

【図8】第１の実施形態のコネクタ検査における表示部の表示例を示す模式図である。

【図9】第１の実施形態の位置検出手段の動作を示すフローチャートである。

【図10】第１の実施形態で用いられるリテンションツールの一例を示す模式図である。

【図11】第１の実施形態のコネクタ検査の一例の第１の状態を示す断面模式図である。

【図12】第１の実施形態のコネクタ検査の一例の第２の状態を示す断面模式図である。

【図13】第１の実施形態で用いられるリテンションツールの別の一例を示す模式図である。

【図14】第１の実施形態のコネクタ検査の別の一例の第１の状態を示す断面模式図である。

【図15】第１の実施形態のコネクタ検査の別の一例の第２の状態を示す断面模式図である。

【図16】第１の実施形態の配線パターンの変形例１を示す模式図である。

【図17】第１の実施形態の配線パターンの変形例１における貫通穴と配線の組み合わせを示す表である。

【図18】第１の実施形態の配線パターンの変形例２を示す模式図である。

【図19】第１の実施形態の配線パターンの変形例２の裏面を示す模式図である。

【図20】第１の実施形態の配線パターンの変形例１における貫通穴と配線の組み合わせを示す表である。

【図21】第２の実施形態のコネクタ検査装置を示す模式図である。

【図22】第２の実施形態のコネクタ検査装置の動作を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を詳細に説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい限定がされているが、発明の範囲を以下に限定するものではない。なお各図面の同様の構成要素には同じ番号を付し、説明を省略する場合がある。

【0015】

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態のコネクタ検査装置１００を示す模式図である。コネクタ検査装置１００は、リテンションツールを用いて、コネクタ２００を検査する装置である。この検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。

【0016】

リテンションツールでは、先端部にピンが設けられている。また、ピンの根元部分には、導電性の突き当て部が設けられている。リテンションツールの詳細については後述する。

【0017】

コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツールの突き当て部が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。それぞれの配線Ｐは、独立に接触配線検出部２１に接続される。それぞれの配線Ｐは、例えば、コネクタ検査補助基板１０の端部まで延伸さる。そして、配線Ｐの延伸された部分が、接触配線検出部２１と電気的に接続される。

【0018】

検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、リテンションツールの突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。これにより、突き当て部と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。

【0019】

位置検出手段２０は、リテンションツールで押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。そのために、位置検出手段２０は、接触配線検出部２１と、端子金具位置検出部２２とを備えている。詳細は後述するが、接触配線検出部２１は、例えば、複数の入出力端子を備えた入出力ユニットである。それぞれの配線Ｐは、複数の入出力端子のいずれかと電気的に接続される。そして、リテンションツールと配線Ｐとを含むルートが閉ループとなったかを、接触配線検出部２１が検出する。これによって、リテンションツールの突き当て部と接触した配線Ｐが識別される。

【0020】

端子金具位置検出部２２は、リテンションツールによって押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。上記のように、リテンションツールが接触する配線Ｐの組み合わせは、リテンションツールが突き当てられる貫通穴Ｈごとに異なる。この組み合わせに基づいて、端子金具位置検出部２２が、端子金具Ｃの位置を特定する。

【0021】

端子金具位置検出部２２は、例えば、プロセッサやメモリを備えたコンピュータである。コネクタ２００の種類ごとに、端子金具位置検出部２２は、端子金具Ｃの配置を記憶している。貫通穴Ｈの位置と端子金具Ｃの位置とは対応しているので、リテンションツールが接触した貫通穴Ｈが検出できれば、該当する端子金具Ｃの位置が特定される。つまり、端子金具位置検出部２２によって、検査が実施された端子金具Ｃの位置が特定される。これにより、検査済みの端子金具Ｃと検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。

【0022】

また、コネクタ検査装置１００には、記録手段３０と、表示手段４０が備えられていても良い。記録手段３０には、端子金具位置検出部２２の検出結果が記録される。記録手段３０は、端子金具位置検出部２２に備えられていても良い。あるいは、記録手段３０が、端子金具位置検出部２２の外部に設けられていても良い。表示手段４０には、例えば、検査済みの端子金具Ｃと検査未実施の端子金具Ｃの配置が表示される。

【0023】

次に、コネクタ検査補助基板１０の具体例について説明する。図２は、第１の実施形態のコネクタ検査補助基板１０の一例を示す模式図である。このコネクタ検査補助基板１０の検査対象は、１２ピン（端子金具）のコネクタである。コネクタ検査補助基板１０には、コネクタ２００の端子金具Ｃの位置に対応して、１２個の貫通穴Ｈが設けられている。

【0024】

図２では、端子金具ＣにＣ１０１～Ｃ１１２の番号が付与されている。また、対応する貫通穴Ｈには、Ｈ１０１～Ｈ１１２の番号が付与されている。そして、７つの配線Ｐから成る配線パターン１１が形成されている。配線Ｐには、Ｐ１０１～Ｐ１０７の番号が付与されている。リテンションツールのピンが貫通穴Ｈに挿入されて検査が実施された際には、リテンションツールの突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に設けられた配線Ｐに接触する。この際、突き当て部が接触する配線Ｐの組み合わせが、それぞれの貫通穴Ｈで異なる。また、コネクタ検査補助基板１０の、コネクタ２００に対向する部分の外側には、取り付け用貫通穴１２が設けられている。これは、取り付け用貫通穴１２は、コネクタ検査補助基板１０のコネクタ２００への取り付けに用いられる。なお、図２は模式図であり、貫通穴Ｈと取り付け用貫通穴１２の寸法の関係は、図２の例に限定されない。

【0025】

図３は、第１の実施形態の接触配線検出部２１とリテンションツール３００の等価回路を示す模式図である。リテンションツール３００には突き当て部３１０が設けられている。リテンションツール３００の突き当て部３１０は導電性である。そして突き当て部３１０が、接触配線検出部２１の１つの入出力端子と電気的に接続される。リテンションツール３００は、例えば、接触配線検出部２１のグランド端子に接続される。

【0026】

図３の状態から、リテンションツール３００の突き当て部３１０が、配線Ｐに接触すると、配線Ｐとリテンションツール３００と接触配線検出部２１によって閉ループが形成される。これによって、突き当て部３１０が接触した配線Ｐが識別される。なお、図３では、番号の順に配線Ｐが並ぶように描かれているが、並び方はこれに限られない。つまり、この図は模式的なものである。

【0027】

次に、リテンションツール３００で検査される端子金具Ｃと、その際に突き当て部３１０が接触する配線Ｐの具体例について説明する。

【0028】

図４は、第１の実施形態のコネクタ検査補助基板１０にリテンションツール３００が接触する際の第１の状態を示す模式図である。第１の状態では、貫通穴Ｈ１０１にリテンションツール３００のピンが挿入され、ピンが端子金具Ｃ１０１を押圧する。この際、図４に示すリテンションツール接触範囲Ｒに突き当て部３１０が接触する。そして、突き当て部３１０が配線Ｐ１０１と電気的に接続される。

【0029】

図５は、第１の実施形態のコネクタ検査補助基板１０にリテンションツール３００が接触する際の第２の状態を示す模式図である。第２の状態では、貫通穴Ｈ１０２にリテンションツール３００のピンが挿入され、ピンが端子金具Ｃ１０２を押圧する。この際、図５に示すリテンションツール接触範囲Ｒに突き当て部３１０が接触する。そして、突き当て部３１０が配線Ｐ１０１および配線Ｐ１０２と電気的に接続される。つまり、第２の状態で突き当て部３１０が接触する配線Ｐの組み合わせは、第１の状態と異なる。

【0030】

図６は、第１の実施形態のコネクタ検査補助基板１０にリテンションツール３００が接触する際の第３の状態を示す模式図である。第３の状態では、貫通穴Ｈ１０９にリテンションツール３００のピンが挿入され、ピンが端子金具Ｃ１０９押圧する。この際、図６に示すリテンションツール接触範囲Ｒに突き当て部３１０が接触する。そして、突き当て部３１０が配線Ｐ１０５と電気的に接続される。つまり、第３の状態で突き当て部３１０が接触する配線Ｐの組み合わせは、第１の状態および第２の状態とは異なる。

【0031】

上記の例のように、リテンションツール３００の突き当て部３１０が接触する配線Ｐの組み合わせが、貫通穴Ｈごとに異なる。このため、接触した配線Ｐの組み合わせに基づいて、検査が実施された端子金具Ｃが特定される。図７は、第１の実施形態のコネクタ検査における貫通穴Ｈと配線Ｐの組み合わせを示す表である。この表に基づいて、リテンションツール３００が突き当てられた貫通穴Ｈが特定される。すなわち、端子金具位置検出部２２によって、検査済みの端子金具Ｃが特定される。

【0032】

検査済みの端子金具Ｃを識別した結果は、例えば、記録手段３０に記録される。あるいは、結果が外部の記憶装置に記録されても良い。

【0033】

そして、その結果は、例えば、表示手段４０に表示される。図８は、第１の実施形態のコネクタ検査における表示手段４０の表示例を示す模式図である。図８に示されているように、表示手段４０には、検査済みの端子金具Ｃと検査未実施の端子金具Ｃが一目で識別できるように、結果が表示される。これにより、検査漏れが、より確実に防止される。

【0034】

以上に説明した位置検出手段２０の動作をフローチャート表すことが可能である。図９は、第１の実施形態の位置検出手段２０の動作を示すフローチャートである。検査においては、まず、リテンションツール３００突き当て部３１０が、対応する配線Ｐに接触する。そして、接触配線検出部２１が、突き当て部３１０が接触した配線Ｐを検出する（Ｓ１０１）。次に、端子金具位置検出部２２が、接触した配線Ｐの組み合わせに基づいて、検査が実施された端子金具Ｃの位置を特定する（Ｓ１０２）。そして、特定した端子金具Ｃが、検査済みの端子金具Ｃとして、記録手段３０に記録される（Ｓ１０３）。また、この結果を用いて、検査済みの端子金具Ｃと検査未実施の端子金具Ｃの位置が、表示手段４０に表示される（Ｓ１０４）。

【0035】

次に、リテンションツール３００の具体例について説明する。コネクタ２００では、ハウジングの端子金具挿入穴２３０に端子金具Ｃが挿入されている。そして、端子金具Ｃが備えるツメが、端子金具挿入穴２３０の凹部に係止されることで、端子金具Ｃが固定されるのが一般的である。このような構造は、ランス構造と呼ばれる。リテンションツール３００は、ハウジングに固定された端子金具Ｃを所定の荷重で押圧し、抜けが発生しないか検査するための工具である。リテンションツール３００が荷重を加える方式には幾つかの種類がある。その一つが、突き当て部３１０から外側にピンが突出する方式である。

【0036】

図１０は、第１の実施形態で用いられるリテンションツールの一例を示す模式図である。リテンションツール３００は、本体部３２０と、突き当て部３１０と、ピン３３０と、ハンドル部３４０とを備える。また、本体部３２０には、ピン３３０をハンドル部３４０から遠ざけるように付勢する付勢手段３５０が収容されている。この付勢手段３５０によって、ピンが端子金具を押圧する押圧力が所定の値に制御される。本実施形態では、突き当て部３１０が、接触配線検出部２１の１つの入出力端子と電気的に接続される。このため、突き当て部３１０には、導線３６０が取り付けられている。また、必須構成ではないが、突き当て部３１０の先端には、導電性ゴム３７０が取り付けられても良い。これにより、突き当て部３１０と配線Ｐとの接触が安定化される。

【0037】

図１０に示されているように、本実施形態では、突き当て部３１０をコネクタ検査補助基板１０に突き当て、ハンドル部３４０をコネクタ２００の方向に押し込まれる。この操作によって、突き当て部３１０から外側に向かってピン３３０が突出する。この例では、ピン３３０が、長さΔＬ_１だけ外側に突出する。そして、端子金具Ｃが所定の荷重で押圧される。

【0038】

図１１は、第１の実施形態のコネクタ検査の一例の第１の状態を示す断面模式図である。本実施形態のコネクタ検査では、リテンションツール３００によって、端子金具Ｃが押圧される。コネクタ２００は、ハウジング２１０と、ハウジング２１０を収容するシェル２２０を備える。また、ハウジング２１０には、端子金具Ｃが取り付けられる端子金具挿入穴２３０が設けられている。端子金具挿入穴２３０には、例えば、端子金具Ｃのツメが係止される係止部２４０が設けられている。なお、端子金具挿入穴２３０の中には、端子金具Ｃが収容されない空の端子金具挿入穴２３０があり得る。また、図１１では、端子金具Ｃが雄型（プラグ）の構成が例示されているが、端子金具Ｃが雌型（ソケット）であっても良い。

【0039】

検査においては、図１１に示されているように、コネクタ２００の嵌合側にコネクタ検査補助基板１０が固定される。ここでは、シェル２２０の端部にコネクタ検査補助基板１０が突き当てられ、固定部材４００で固定されている。固定部材４００は、取り付け用貫通穴１２に挿通されている。検査では、リテンションツール３００のピン３３０が貫通穴Ｈに挿通される。この際、突き当て部３１０がコネクタ検査補助基板１０の表面に突き当てられる。そして、突き当て部３１０が、配線Ｐのいずれかの組み合わせに接触する。この接触が、接触配線検出部２１によって検出される。

【0040】

図１２は、第１の実施形態のコネクタ検査の一例の第２の状態を示す断面模式図である。押し込み試験では、リテンションツール３００のハンドル部３４０がコネクタ２００の方向に押し込まれる。これによって、端子金具Ｃがピン３３０に押圧される。この際、リテンションツール３００の特性によって、押圧の荷重が所定の値に制御される。ここで、端子金具Ｃが端子金具挿入穴２３０から抜けると、端子金具Ｃの固定が不良であると判定される。図１２の例では、図面の左端の端子金具Ｃが端子金具挿入穴２３０から抜ける固定不良となっている。

【0041】

次に、上記とは、別の方式のリテンションツール３００の例について説明する。図１３は、第１の実施形態で用いられるリテンションツール３００の別の一例を示す模式図である。この例の、リテンションツール３００ａは、本体部３２０ａと、突き当て部３１０ａと、ピン３３０ａと、ハンドル部３４０ａとを備える。また、本体部３２０ａには、ピン３３０ａをハンドル部３４０ａから遠ざけるように付勢する付勢手段３５０ａが収容されている。この付勢手段３５０ａによって、ピン３３０ａが端子金具Ｃを押圧する押圧力が所定の値に制御される。この例では、突き当て部３１０ａが、接触配線検出部２１と電気的に接続される。このため、突き当て部３１０ａには、導線３６０が取り付けられている。

【0042】

この方式のリテンションツール３００ａでは、本体部３２０ａと、突き当て部３１０ａと、ピン３３０ａの位置関係が固定されている。図１３に示されているように、リテンションツール３００ａでは、突き当て部３１０ａをコネクタ検査補助基板１０に突き当て、ハンドル部３４０をコネクタ２００の方向に押し込まれる。そして、付勢手段３５０ａの長さがＬ_０からＬ_１に変化し、ΔＬ_２だけ縮められる。図示はしていないが、本体部３２０ａの内部にはストッパが設けられ、付勢手段３５０ａがＬ_１以下に縮められないようになっている。検査では、突き当て部３１０ａがコネクタ検査補助基板１０の表面に押し当てられる。そして、ハンドル部３４０ａがコネクタ２００に向かって押し込まれる。この際、コネクタ検査補助基板１０が押し込まれた方向に動くことができれば、コネクタ検査補助基板１０が所定の荷重で押し込まれる。

【0043】

図１４は、第１の実施形態のコネクタ検査の別の一例の第１の状態を示す断面模式図である。コネクタ２００のシェル２２０のベース部分に、固定部材５１０によってコネクタ保持ブロック５００が取り付けられている。コネクタ保持ブロック５００のコネクタ２００の嵌合側（図１４の上側）には、位置決め穴５２０が設けられている。また、コネクタ検査補助基板１０の、位置決め穴５２０に対応する位置には取り付け用貫通穴１２が設けられている。この取り付け用貫通穴１２にシャフト部を有する位置決め部材４１０が挿通される。位置決め穴５２０とコネクタ検査補助基板１０との間には、コネクタ検査補助基板１０をコネクタ２００から遠ざける方向に付勢する付勢部材５３０が設けられる。コネクタ保持ブロック５００と、固定部材５１０と、位置決め部材４１０と、付勢部材５３０とが、コネクタ検査補助基板保持機構Ｓを構成する。

【0044】

この構成では、端子金具Ｃの上方にコネクタ検査補助基板１０の貫通穴Ｈが位置決めされる。そして、重力によって、コネクタ検査補助基板１０が図１４の下方に引かれる。一方、付勢部材５３０の付勢力によって、コネクタ検査補助基板１０は、図１４の上方に押される。重力と付勢部材５３０の付勢力が釣り合うことによって、コネクタ検査補助基板１０がフローティング状態で支持される。この構成では、コネクタ検査補助基板１０が、コネクタ２００と近づく方向に移動可能である。

【0045】

検査に当たっては、リテンションツール３００ａのピン３３０ａが貫通穴Ｈに挿通される。この際、突き当て部３１０ａがコネクタ検査補助基板１０の表面に突き当てられる。そして、突き当て部３１０ａが、配線Ｐのいずれかの組み合わせに接触する。この接触が、接触配線検出部２１によって検出される。この状態からリテンションツール３００ａをコネクタ２００と近づく方向に押し込むと、付勢部材５３０が縮まる。そしてコネクタ検査補助基板１０とピン３３０ａとが、コネクタ２００と近づく方向に移動する。

【0046】

図１５は、第１の実施形態のコネクタ検査の別の一例の第２の状態を示す断面模式図である。上記したように、リテンションツール３００ａの下方への押し込みよって、ピン３３０ａが端子金具Ｃを押圧する。この際、リテンションツール３００ａの荷重が所定の値に制御されているため、端子金具Ｃの押し込み検査が可能となる。なお、上記の動作では、付勢部材５３０を縮めるための荷重が必要になる。このため、リテンションツール３００ａには、検査仕様の荷重に、付勢部材５３０を縮める荷重を加えた荷重が設定される。この検査で、端子金具Ｃが動かなければ検査結果が「良」、端子金具挿入穴２３０から抜ければ検査結果が「不良」と判定される。

【0047】

（変形例１）
次に、配線パターン１１の変形例について説明する。図１６は、第１の実施形態の配線パターン１１の変形例１を示す模式図である。変形例１でも、リテンションツール３００が貫通穴Ｈに挿入される。この際、突き当て部３１０が、複数の配線Ｐのうちの少なくとも２つに接触する。例えば、貫通穴Ｈ２０１にピン３３０が挿入された際には、突き当て部３１０が、配線Ｐ２０１および配線Ｐ２０２に接触する。他の貫通穴Ｈにおいても、同様に、２つの配線Ｐが突き当て部３１０と接触する。そして接触する２つの配線Ｐの組み合わせは、貫通穴Ｈごとに異なる。

【0048】

図１７は、第１の実施形態の配線パターンの変形例１における貫通穴と配線の組み合わせを示す表である。この表に基づいて、リテンションツール３００が突き当てられた貫通穴Ｈが特定される。すなわち、端子金具位置検出部２２によって、検査済みの端子金具Ｃが特定される。

【0049】

検査において、リテンションツール３００を貫通穴Ｈに挿入した際に、リテンションツール３００が、鉛直方向に対して傾いた状態で挿入されることがある。リテンションツール３００が傾いていると、正常な押し込み検査が実行されない。そして、突き当て部３１０が１つの配線Ｐとしか接触しない場合がある。このため、１つの配線Ｐとの接触しか検出されなかった場合は、リテンションツール３００の挿入の仕方が不良である判定される。つまり、この仕組みを利用することで、誤った検査が実行されるリスクが低減される。

【0050】

（変形例２）
次に、別の変形例について説明する。図１８は、第１の実施形態の配線パターン１１の変形例２を示す模式図である。また、図１９は、第１の実施形態の配線パターン１１の変形例２の裏面を示す模式図である。変形例２のコネクタ検査補助基板１０は、１６ピン（端子金具）のコネクタ２００の検査に用いられる。コネクタ２００のピン数（端子金具数）が増えると、すべての配線Ｐをコネクタ検査補助基板１０の片面で引き回すことが難しくなる。そこで、一部の配線については、コネクタ検査補助基板１０の表側に、突き当て部３１０との接点だけを設ける。そして、配線Ｐを接触配線検出部２１に接続するための延伸部分を裏面に設ける。表面の接点と延伸部分とはスルーホールを介して接続される。なお、ここでは、コネクタ検査補助基板１０のコネクタ２００と対向する面が裏面、コネクタ２００から遠い方の面が表面とされている。

【0051】

図１８に示されているように、コネクタ検査補助基板１０の表側には、１６個の貫通穴Ｈと、１３個の配線Ｐが設けられている。そして、中央部の配線Ｐ３０７については、表側に円形の接点だけが設けられている。配線Ｐ３０７の接点の中央部にはスルーホールＰ３０７ａが設けられている。そして、コネクタ検査補助基板１０の裏面には、配線Ｐ３０７の延伸部が設けられている。この延伸部と表側の接点とはスルーホールＰ３０７ａを介して接続されている。そして、配線Ｐ３０７の延伸部は、コネクタ検査補助基板１０の裏面の端部まで延伸されている。

【0052】

以上のように、配線Ｐの延伸部分をコネクタ検査補助基板１０の裏面に設けることで、ピン数の多いコネクタ２００に対応するコネクタ検査補助基板１０の形成が容易になる。

【0053】

以上、本実施形態のコネクタ検査装置１００等について説明した。

【0054】

コネクタ検査装置１００は、リテンションツール３００を用いて、コネクタ２００を検査する装置である。この検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピン３３０の根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツールの突き当て部が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。ここで、位置検出手段２０によって、電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。そして、この組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。

【0055】

上記の構成では、リテンションツール３００によって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0056】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００において、リテンションツール３００が貫通穴Ｈに挿入された際に、突き当て部３１０が配線Ｐに接触する。その際、突き当て部３１０が、複数の配線Ｐのうちの少なくとも２つに接触するように、配線パターン１１が形成されている。

【0057】

上記の構成では、リテンションツール３００が傾いて挿入された際に、突き当て部３１０が１つの配線Ｐにしか接触しない場合がある。このため、１つの配線Ｐとの接触しか検出されなかったことをもって、検査が正しく実行されてないことが明らかになる。このため、誤った検査が行われるリスクが低減される。

【0058】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００において、複数の配線Ｐのうちの少なくとも一部が、コネクタ検査補助基板１０の端部まで延伸されている。

【0059】

上記の構成とすることにより、配線Ｐと接触配線検出部２１との接続が容易になる。

【0060】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００において、複数の配線Ｐのうちの少なくとも一部が、スルーホールを介してコネクタ検査補助基板１０の裏面に延伸されている。

【0061】

上記の構成とすることで、端子金具数の多いコネクタ２００に対応するコネクタ検査補助基板１０の作製が容易になる。

【0062】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００が、記録手段３０をさらに備える。位置検出手段２０の検出結果に基づいて、記録手段３０が、ピン３３０が押圧した端子金具Ｃの位置を記録する。

【0063】

上記の構成によれば、検査が実施された端子金具の位置が記録される。この記録を参照することで、検査漏れが防止される。

【0064】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００が、さらに、表示手段４０を備える。表示手段４０には、ピン３３０が押圧した端子金具Ｃの位置が表示される。この表示は、位置検出手段２０の検出結果に基づいて行われる。

【0065】

上記の構成では、検査済みの端子金具Ｃと検査未実施の端子金具Ｃとを、作業者が一目で識別できる。このため、作業漏れが防止される。

【0066】

また、一態様によれば、コネクタ検査装置１００が、コネクタ検査補助基板保持機構Ｓを備える。コネクタ検査補助基板保持機構Ｓには、コネクタ保持ブロック５００と、固定部材５１０と、付勢部材５３０とが含まれる。コネクタ保持ブロック５００が、コネクタ２００の嵌合面と反対側の面を保持する。また、付勢部材５３０が、コネクタ保持ブロック５００に対して、コネクタ検査補助基板１０を保持する。ここで、付勢部材５３０が、コネクタ保持ブロック５００から遠ざかる方向に付勢する。

【0067】

以上の構成とすることで、突き当て部３１０とピン３３０の位置関係が固定されたリテンションツール３００を用いたコネクタ検査が実行可能になる。

【0068】

また、本実施形態のコネクタ検査方法では、コネクタ検査装置１００とリテンションツール３００とが用いられる。そして、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピン３３０の根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツール３００の突き当て部３１０が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。ここで、位置検出手段２０によって、電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。そして、この組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。

【0069】

上記の構成では、リテンションツール３００によって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0070】

また、本実施形態のコネクタ検査装置１００の制御プログラムは、リテンションツール３００を用いてコネクタ２００を検査するコネクタ検査装置１００を制御する。リテンションツール３００は、先端部に設けられたピン３３０と、ピン３３０の根元部分に設けられた導電性の突き当て部３１０を有する。コネクタ２００は複数の端子金具を備える。そして、検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているか検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピンの根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツールの突き当て部が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部３１０と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。そして、本実施形態のコネクタ検査装置１００の制御プログラムが、位置検出手段２０に、以下の処理を実行させる。その処理では、まず、突き当て部３１０と電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。また、その処理では、検出した配線Ｐの組み合わせに基づいて、押圧された端子金具Ｃの位置が検出される。

【0071】

上記の制御では、リテンションツール３００によって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0072】

（第２の実施形態）
本実施形態では、コネクタ検査装置の基本構成について説明する。図２１は、第２の実施形態のコネクタ検査装置１００を示す模式図である。コネクタ検査装置１００は、リテンションツールを用いて、コネクタ２００を検査する装置である。この検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。第１の実施形態のコネクタ検査補助基板１０は、本実施形態のコネクタ検査補助基板１０の具体例である。また、第１の実施形態の位置検出手段２０は、本実施形態の位置検出手段２０の具体例である。

【0073】

リテンションツールでは、先端部にピンが設けられている。また、ピンの根元部分には、導電性の突き当て部が設けられている。

【0074】

コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツール３００の突き当て部３１０が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。

【0075】

検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部３１０が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。上述したように、この際、突き当て部３１０と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。ここで、位置検出手段２０によって、電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。そして、この組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。

【0076】

図２２は、第２の実施形態のコネクタ検査装置１００の位置検出手段２０の動作を示すフローチャートである。コネクタ２００の検査では、例えば、作業者によって、リテンションツールのピンが貫通穴Ｈに挿入される。この際、リテンションツールの突き当て部が配線Ｐのいずれかに接触する。ここで、突き当て部と接触した配線Ｐとが電気的に接続される。この接続を検出することで、位置検出手段２０が、突き当て部と接触した配線Ｐを検出する（Ｓ２０１）。次に、突き当て部と接触した配線Ｐの組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、貫通穴Ｈの位置を検出する。ここで、貫通穴Ｈは、コネクタ２００の端子金具Ｃに対応して設けられている。このため、位置検出手段２０によって、検査が実施された端子金具Ｃの位置が検出される（Ｓ２０２）。

【0077】

以上の動作では、リテンションツールによって検査が実施された端子金具Ｃの位置が検出される。すなわち、検査済みの端子金具Ｃの位置が特定される。これにより、検査済みの端子金具Ｃと、検査が未実施の端子金具Ｃとが識別される。このため、複数ある端子金具Ｃの検査における検査漏れが防止される。

【0078】

なお、位置検出手段２０は、例えば、コンピュータを備える。そしてコンピュータにインストールされたコネクタ検査装置の制御プログラムによって、位置検出手段２０の上記の動作が実行される。

【0079】

以上、本実施形態のコネクタ検査装置１００等について説明した。

【0080】

コネクタ検査装置１００は、リテンションツール３００を用いて、コネクタ２００を検査する装置である。この検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピン３３０の根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツールの突き当て部が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。ここで、位置検出手段２０によって、電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。そして、この組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。

【0081】

上記の構成では、リテンションツールによって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0082】

また、本実施形態のコネクタ検査方法では、コネクタ検査装置１００とリテンションツールとが用いられる。そして、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているかが検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピン３３０の根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツール３００の突き当て部３１０が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。ここで、位置検出手段２０によって、電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。そして、この組み合わせに基づいて、位置検出手段２０が、押圧された端子金具Ｃの位置を検出する。

【0083】

上記の構成では、コネクタ検査装置１００において、リテンションツール３００によって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0084】

また、本実施形態のコネクタ検査装置１００の制御プログラムは、リテンションツール３００を用いてコネクタ２００を検査するコネクタ検査装置１００を制御する。リテンションツール３００は、先端部に設けられたピン３３０と、ピン３３０の根元部分に設けられた導電性の突き当て部３１０を有する。コネクタ２００は複数の端子金具を備える。そして、検査では、コネクタ２００が備える複数の端子金具Ｃが、コネクタ２００に固定されているか検査される。コネクタ検査装置１００は、コネクタ検査補助基板１０と、位置検出手段２０と、を有する。リテンションツール３００では、先端部にピン３３０が設けられている。また、ピンの根元部分には、導電性の突き当て部３１０が設けられている。コネクタ検査補助基板１０では、端子金具Ｃの各々に対応する位置に、複数の貫通穴Ｈが設けられている。コネクタ検査補助基板１０は、コネクタ２００の嵌合面に取り付けられる。コネクタ検査補助基板１０には、配線パターン１１が設けられる。配線パターン１１は、少なくとも貫通穴Ｈの外周部に一部が設けられた複数の配線Ｐからなる。リテンションツールの突き当て部が貫通穴Ｈの外周部に接触した際に、突き当て部３１０と配線Ｐのいずれかの組み合わせとが電気的に接続される。この組み合わせが、各々の貫通穴Ｈで異なるように、配線パターン１１が形成されている。検査では、貫通穴Ｈを介してリテンションツールが端子金具Ｃを押圧する。この時、突き当て部が、貫通穴Ｈの外周部に突き当てられる。この際、突き当て部３１０と、配線Ｐのいずれか組み合わせとが電気的に接続される。そして、本実施形態のコネクタ検査装置１００の制御プログラムが、位置検出手段２０に、以下の処理を実行させる。その処理では、まず、突き当て部３１０と電気的に接続された配線Ｐの組み合わせが検出される。また、その処理では、検出した配線Ｐの組み合わせに基づいて、押圧された端子金具Ｃの位置が検出される。

【0085】

上記の制御では、リテンションツール３００によって検査が実行された端子金具Ｃの位置が検出される。このため、検査済みの端子金具Ｃと、検査未実施の端子金具Ｃとが識別される。これによって、コネクタ２００に複数設けられた端子金具Ｃの検査において、検査漏れの発生が防止される。

【0086】

上述した第１および第２の実施形態の処理を、コンピュータに実行させるプログラムおよび該プログラムを格納した記録媒体も本発明の範囲に含む。記録媒体としては、例えば、磁気ディスク、磁気テープ、光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、などを用いることができる。

【0087】

以上、第１および第２の実施形態を模範的な例として本発明を説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態には限定されない。即ち、本発明は、本発明のスコープ内において、当業者が理解し得る様々な態様を適用することができる。

【0088】

上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。

【0089】

（付記１）
先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を 有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置であって 、
複数の前記端子金具の各々に対応する位置に複数の貫通穴を有し、前記コネクタの嵌合面に取り付けられるコネクタ検査補助基板と、
前記突き当て部を前記貫通穴の外周部に突き当て、前記貫通穴を介してリテンションツールが前記端子金具を押圧した際に、押圧された前記端子金具の位置を検出する位置検出手段と、
を有し、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段が、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置を検出する、
ことを特徴とするコネクタ検査装置。

【0090】

（付記２）
前記配線パターンが、
前記リテンションツールが前記貫通穴に挿入された際に、前記突き当て部が、前記複数の配線のうちの少なくとも２つに接触するように形成されている、
ことを特徴とする付記１に記載のコネクタ検査装置。

【0091】

（付記３）
前記複数の配線のうちの少なくとも一部が、
前記コネクタ検査補助基板の端部まで延伸されている、
ことを特徴とする付記１または２に記載のコネクタ検査装置。

【0092】

（付記４）
前記複数の配線のうちの少なくとも一部が、スルーホールを介して前記コネクタ検査補助基板の裏面に延伸されている、
ことを特徴とする付記１乃至３のいずれか一付記に記載のコネクタ検査装置。

【0093】

（付記５）
前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を記録する記録手段をさらに備える、
ことを特徴とする付記１乃至４のいずれか一付記に記載のコネクタ検査装置。

【0094】

（付記６）
前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記ピンが押圧した前記端子金具の位置を表示する表示手段をさらに備える、
ことを特徴とする付記１乃至５のいずれか一付記に記載のコネクタ検査装置。

【0095】

（付記７）
前記コネクタの嵌合面と反対側の面を保持するコネクタ保持ブロックと、
前記保持ブロックから遠ざかる方向に付勢し、前記コネクタ保持ブロックに対して前記コネクタ検査補助基板を保持するコネクタ検査補助基板保持機構と、
をさらに備える、
ことを特徴とする付記１乃至６のいずれか一付記に記載のコネクタ検査装置。

【0096】

（付記８）
先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置を用いたコネクタ検査方法であって、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段が、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置を検出する、
ことを特徴とするコネクタ検査方法。

【0097】

（付記９）
先端部に設けられたピン、および前記ピンの根元部分に設けられた導電性の突き当て部を有するリテンションツールを用いて、コネクタが備える複数の端子金具が前記コネクタに固定されているかを検査するコネクタ検査装置の制御プログラムであって、
前記コネクタ検査補助基板が、
少なくとも前記貫通穴の外周部に一部が設けられた複数の配線から成り、前記突き当て部が前記貫通穴の外周部に接触した際に、前記突き当て部と電気的に接続される前記複数の配線のいずれかの組み合わせが複数の前記貫通穴の各々で異なるように形成された配線パターンを備え、
前記位置検出手段に、
前記突き当て部と電気的に接続された前記複数の配線のいずれかの組み合わせに基づいて、複数の前記端子金具のうちで、前記ピンが押圧した端子金具の位置する処理を実行させる、
ことを特徴とするコネクタ検査装置の制御プログラム。

【符号の説明】

【0098】

１０ コネクタ検査補助基板
１１ 配線パターン
２０ 位置検出手段
１００ コネクタ検査装置
２００ コネクタ
３００、３００ａ リテンションツール
４００、５１０ 固定部材
５００ コネクタ保持ブロック
Ｃ 端子金具
Ｈ 貫通穴
Ｐ 配線

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【図22】