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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024111359
(43)【公開日】2024-08-19
(54)【発明の名称】光測距装置
(51)【国際特許分類】
G01S 7/481 20060101AFI20240809BHJP
G01C 3/06 20060101ALI20240809BHJP
【ＦＩ】
G01S7/481 A
G01C3/06 120Q
G01C3/06 140
【審査請求】未請求
【請求項の数】14
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023015785
(22)【出願日】2023-02-06
(71)【出願人】
【識別番号】000004260
【氏名又は名称】株式会社デンソー
(74)【代理人】
【識別番号】110000028
【氏名又は名称】弁理士法人明成国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】新村 康介
(72)【発明者】
【氏名】恩田 一寿
【テーマコード（参考）】
2F112
5J084
【Ｆターム（参考）】
2F112AD01
2F112BA06
2F112CA12
2F112DA02
2F112DA04
2F112DA15
2F112DA25
2F112DA28
2F112EA05
2F112GA01
5J084AA05
5J084AC02
5J084AD01
5J084BA04
5J084BA07
5J084BA11
5J084BA36
5J084BA40
5J084BA50
5J084BB04
5J084BB05
5J084BB10
5J084BB37
5J084CA03
5J084CA70
5J084EA04
(57)【要約】
【課題】レンズアレイを用いてスキャンする光測距装置において、受光素子での受光信号の低下を抑制して検出精度を向上させる技術を提供する。
【解決手段】測距装置１００は、パルス光ＤＬを発光する複数の発光素子４４と、複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ４６６を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ４６４、および発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部４６２を含み、パルス光を走査する発光側走査部４６と、物体ＯＢによって反射されたパルス光の反射光ＲＬを受光する複数の受光素子６４と、受光素子で受光された反射光の飛行時間を用いて、物体までの距離を算出する算出部９２４と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】測距装置１００は、パルス光ＤＬを発光する複数の発光素子４４と、複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ４６６を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ４６４、および発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部４６２を含み、パルス光を走査する発光側走査部４６と、物体ＯＢによって反射されたパルス光の反射光ＲＬを受光する複数の受光素子６４と、受光素子で受光された反射光の飛行時間を用いて、物体までの距離を算出する算出部９２４と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
光測距装置（１００，１００ｂ）であって、
パルス光（ＤＬ）を発光する複数の発光素子（４４）と、
前記複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ（４６６）を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ（４６４）、および前記発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部（４６２）を含み、前記パルス光を走査する発光側走査部（４６）と、
物体（ＯＢ）によって反射された前記パルス光の反射光（ＲＬ）を受光する複数の受光素子（６４）と、
前記受光素子で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記物体までの距離を算出する算出部（９２４）と、を備える、
光測距装置。
パルス光（ＤＬ）を発光する複数の発光素子（４４）と、
前記複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ（４６６）を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ（４６４）、および前記発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部（４６２）を含み、前記パルス光を走査する発光側走査部（４６）と、
物体（ＯＢ）によって反射された前記パルス光の反射光（ＲＬ）を受光する複数の受光素子（６４）と、
前記受光素子で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記物体までの距離を算出する算出部（９２４）と、を備える、
光測距装置。
【請求項2】
請求項１に記載の光測距装置であって、
第一発光側レンズ（４６６ｐ，４６６ｓ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ１）と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ（４６６ｑ，４６６ｔ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
第一発光側レンズ（４６６ｐ，４６６ｓ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ１）と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ（４６６ｑ，４６６ｔ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
【請求項3】
さらに、前記第一発光側レンズと前記第二発光側レンズとの間の距離が、前記第一発光側レンズの半径以下の距離である、請求項２に記載の光測距装置。
【請求項4】
請求項１に記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子は、同一平面上の予め定められた発光範囲（ＤＡ）に配列され、
前記複数の受光素子は、同一平面上の予め定められた受光範囲（ＲＡ）に配列され、
前記受光範囲の面積は、前記発光範囲の面積よりも大きい、
光測距装置。
前記複数の発光素子は、同一平面上の予め定められた発光範囲（ＤＡ）に配列され、
前記複数の受光素子は、同一平面上の予め定められた受光範囲（ＲＡ）に配列され、
前記受光範囲の面積は、前記発光範囲の面積よりも大きい、
光測距装置。
【請求項5】
請求項１に記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備える、
光測距装置。
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備える、
光測距装置。
【請求項6】
請求項５に記載の光測距装置であって、
第一受光側レンズ（６６６ｐ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ１）と、前記第一受光側レンズに隣接する第二受光側レンズ（６６６ｑ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
第一受光側レンズ（６６６ｐ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ１）と、前記第一受光側レンズに隣接する第二受光側レンズ（６６６ｑ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
【請求項7】
さらに、前記第一受光側レンズと前記第二受光側レンズとの間の距離が、前記第一受光側レンズの半径以下の距離である、請求項６に記載の光測距装置。
【請求項8】
請求項１に記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光と、前記発光側レンズアレイの移動とを交互に実行する、
光測距装置。
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光と、前記発光側レンズアレイの移動とを交互に実行する、
光測距装置。
【請求項9】
請求項１に記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを移動させながら、前記発光素子を発光させる、
光測距装置。
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを移動させながら、前記発光素子を発光させる、
光測距装置。
【請求項10】
請求項１に記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、奇数列と偶数列とを有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記奇数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子と、前記偶数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子とを交互に発光させる、
光測距装置。
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、奇数列と偶数列とを有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記奇数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子と、前記偶数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子とを交互に発光させる、
光測距装置。
【請求項11】
請求項１に記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、複数の列を有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイの一端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子から、前記発光側レンズアレイの他端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子までを順次に発光させる、
光測距装置。
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、複数の列を有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイの一端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子から、前記発光側レンズアレイの他端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子までを順次に発光させる、
光測距装置。
【請求項12】
請求項８から請求項１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが離れる位置に移動する場合には、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが一致する場合よりも前記発光素子による発光回数を増加させる、
光測距装置。
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが離れる位置に移動する場合には、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが一致する場合よりも前記発光素子による発光回数を増加させる、
光測距装置。
【請求項13】
請求項８から請求項１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備え、
前記制御部は、
さらに、前記受光側走査部を制御可能であり、
前記発光側走査部と、前記受光側走査部とを互いに同期して制御する、
光測距装置。
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備え、
前記制御部は、
さらに、前記受光側走査部を制御可能であり、
前記発光側走査部と、前記受光側走査部とを互いに同期して制御する、
光測距装置。
【請求項14】
請求項１に記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子、前記発光側走査部、および前記複数の受光素子を収容する筐体（８０）を備え、
前記複数の発光素子および前記複数の受光素子は、熱伝導材料を用いて前記筐体に固定される、
光測距装置。
前記複数の発光素子、前記発光側走査部、および前記複数の受光素子を収容する筐体（８０）を備え、
前記複数の発光素子および前記複数の受光素子は、熱伝導材料を用いて前記筐体に固定される、
光測距装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、光測距装置に関する。
【背景技術】
【0002】
レーザ光を発生させる発光素子と、物体で反射されたレーザ光の戻り光を受光する受光素子とを備える光測距装置が知られている。例えば、特許文献１には、レーザ光を透過する単数の発光側レンズ、および戻り光を透過する単数の受光側レンズを備えるレンズユニットをリニアモータによって左右に移動させることで、レーザ光を光測距装置の前方で左右方向に走査する光測距装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２００７－１９８９５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、レンズユニットを左右に移動させると、受光側レンズの端部に入射する戻り光の屈折度が大きくなるため、受光素子の近傍で像のひずみが発生することがある。この場合には、受光素子の受光量が低下し、検出精度が低下する可能性がある。そのため、レーザ光をレンズの移動により走査する光測距装置において、検出精度を向上させる技術が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本開示は、以下の形態として実現することが可能である。
【0006】
本開示の一形態によれば、光測距装置（１００，１００ｂ）が提供される。この光測距装置は、パルス光（ＤＬ）を発光する複数の発光素子（４４）と、前記複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ（４６６）を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ（４６４）、および前記発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部（４６２）を含み、前記パルス光を走査する発光側走査部（４６）と、物体（ＯＢ）によって反射された前記パルス光の反射光（ＲＬ）を受光する複数の受光素子（６４）と、前記受光素子で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記物体までの距離を算出する算出部（９２４）と、を備える。
【0007】
この形態の光測距装置によれば、複数の発光素子および複数の発光側レンズを備えることにより、発光視野を複数に分割することができ、単数の発光側レンズのみを備える光測距装置と比較して、発光側レンズ一つあたりの収差による像のひずみを小さくすることができる。したがって、受光素子での受光信号の低下を抑制することができ、光測距装置の検出精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】第１実施形態に係る光測距装置の概略構成を断面視で示す説明図。
【図2】制御装置の機能構成を示すブロック図。
【図3】発光部および受光部の構成を平面視で示す説明図。
【図4】発光側レンズアレイおよび受光側レンズアレイが上側に移動された状態を断面視で示す説明図。
【図5】発光側レンズアレイおよび受光側レンズアレイが上側に移動された状態を平面視で示す説明図。
【図6】発光側レンズアレイおよび受光側レンズアレイが下側に移動された状態を断面視で示す説明図。
【図7】発光側レンズアレイおよび受光側レンズアレイが下側に移動された状態を平面視で示す説明図。
【図8】発光側レンズアレイの光学的な構成を示す説明図。
【図9】比較例としての発光側レンズアレイの光学的な構成を示す説明図。
【図10】受光側レンズアレイの光学的な構成を示す説明図。
【図11】発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す説明図。
【図12】発光側走査部および受光側走査部の移動と、発光および受光タイミングとを示すタイミングチャート。
【図13】他の実施形態における発光側レンズアレイの光学的な構成を示す説明図。
【図14】他の実施形態における発光側走査部および受光側走査部の移動と、発光および受光タイミングとを示すタイミングチャート。
【図15】第２実施形態に係る光測距装置の概略構成を断面視で示す説明図。
【図16】第２実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す説明図。
【図17】第２実施形態に係る光測距装置の発光側レンズアレイが上側に移動された状態を示す説明図。
【図18】第２実施形態に係る光測距装置の発光側レンズアレイが下側に移動された状態を側面視で示す説明図。
【図19】第３実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す第１の説明図。
【図20】第３実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す第２の説明図。
【図21】他の実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す第１の説明図。
【図22】他の実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す第２の説明図。
【図23】第４実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す説明図。
【図24】第５実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す説明図。
【図25】他の実施形態に係る光測距装置の発光側走査部および受光側走査部のスキャン方法を概念的に示す第３の説明図。
【発明を実施するための形態】
【0009】
Ａ１．第１実施形態：
図１に示す光測距装置１００は、レーザ光ＤＬを発光し、対象物ＯＢによって反射された反射光ＲＬを受光することによって、対象物ＯＢまでの距離を検出する。本実施形態において、光測距装置１００は、LiDAR（Light Detection And Ranging）である。光測距装置１００は、例えば、車両に搭載されて、車両の周囲に存在する物体の距離を測定するために使用される。光測距装置１００は、発光部４０と、受光部６０と、発光部４０および受光部６０を収容する筐体８０と、制御装置９０とを備えている。筐体８０は、レーザ光ＤＬを透過する窓部８２を備えている。
図１に示す光測距装置１００は、レーザ光ＤＬを発光し、対象物ＯＢによって反射された反射光ＲＬを受光することによって、対象物ＯＢまでの距離を検出する。本実施形態において、光測距装置１００は、LiDAR（Light Detection And Ranging）である。光測距装置１００は、例えば、車両に搭載されて、車両の周囲に存在する物体の距離を測定するために使用される。光測距装置１００は、発光部４０と、受光部６０と、発光部４０および受光部６０を収容する筐体８０と、制御装置９０とを備えている。筐体８０は、レーザ光ＤＬを透過する窓部８２を備えている。
【0010】
図２に示すように、制御装置９０は、中央演算処理装置としてのＣＰＵ９２と、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリ９４とを備えるコンピュータとして構成されている。メモリ９４には、制御部９２２および算出部９２４など、本実施形態において提供される各機能を実現するためのプログラムが格納されており、各機能は、ＣＰＵ９２によってプログラムが実行されることによって実現される。
【0011】
制御部９２２は、発光部４０と、発光側走査部４６と、受光部６０との動作を制御する。算出部９２４は、受光部６０から入力された検出信号を用いて、対象物ＯＢまでの距離を算出する。具体的には、算出部９２４は、レーザ光ＤＬが発光されてから反射光ＲＬが受光されるまでの時間である飛行時間（ＴＯＦ：Time of Flight）を用いて、対象物ＯＢまでの距離を算出する。制御部９２２および算出部９２４は、電子回路により実現されてもよい。
【0012】
図１に示すように、発光部４０は、制御部９２２による制御のもとで、測距のためのレーザ光ＤＬを発光する。発光部４０は、複数の発光素子４４と、発光側走査部４６とを備えている。発光側走査部４６と発光素子４４との間には、さらに、集光用のコンデンサレンズ、クロストークを提言するためのピンホールなどが設けられてもよい。発光側走査部４６と窓部８２との間には、レーザ光ＤＬの照度を向上させるために、発光側レンズアレイ４６４が結像させた光を平行光として出射するトランスミッションレンズが設けられていてもよい。
【0013】
発光素子４４は、パルス状のレーザ光ＤＬを発光する。発光素子４４は、例えば、垂直共振器型面発光レーザ（ＶＣＳＥＬ: Vertical Cavity Surface Emitting Laser）である。発光素子４４から発せられたレーザ光ＤＬは、発光側走査部４６に入射して、窓部８２から外部へと出射される。
【0014】
図１に示すように、発光素子４４は、発光側サブマウント４２上に配列されている。発光側サブマウント４２は、熱伝導材料４１を介して、ＬＤドライバなどのＩＣチップを搭載するプリント基板８６上に配置されている。熱伝導材料（ＴＩＭ：Thermal Interface Material）とは、シリコーンなどの樹脂に、窒化ホウ素（ＢＮ）や窒化アルミニウム（ＡｌＮ）などの熱伝導性を有するフィラーを含有させた材料である。プリント基板８６は、筐体８０の内壁に熱伝導材料８４を介して固定されている。このように構成することにより、発光素子４４や受光素子６４から発生する熱を筐体８０に放熱しやすくすることができる。なお、発光素子４４は、端面発光型であってもよい。
【0015】
発光側走査部４６は、制御部９２２による制御のもと、予め定められた走査範囲ＭＲを含む角度範囲でレーザ光ＤＬを走査する。発光側走査部４６は、複数の発光側レンズ４６６を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ４６４と、発光側駆動部４６２とを備えている。図１には、発光素子４４から出射されるレーザ光ＤＬの光軸ＬＡ１が示されている。図１の例では、光軸ＬＡ１は、発光側レンズ４６６の中心と一致している。図３に示すように、複数の発光側レンズ４６６は、例えば、鉛直方向に１５０個、水平方向に２００個など、水平方向に沿って長尺な発光範囲ＤＡ内に格子状に配列されている。なお、本実施形態では、発光範囲ＤＡの外形サイズは、発光側サブマウント４２のサイズと略同じである。
【0016】
図１に示すように、発光側駆動部４６２は、発光側レンズアレイ４６４を平面上で移動させるアクチュエータ、およびエンコーダである。発光側駆動部４６２によって発光側レンズアレイ４６４が平面上の予め定められた領域内で移動されることにより、レーザ光ＤＬが走査範囲ＭＲ内で走査される。図１ならびに図１以降の各図には、発光側レンズアレイ４６４ならびに後述する受光側レンズアレイ６６４を走査する方向Ｄ１１，Ｄ１２，Ｄ２１，Ｄ２２が示されている。図１の例では、方向Ｄ１２は鉛直下向き、方向Ｄ１１は鉛直上向きを示し、方向Ｄ２１は、水平方向のうち一方側の向き、方向Ｄ２２は、方向Ｄ２２とは逆側の向きを示している。
【0017】
受光部６０は、発光素子４４から発光されたレーザ光ＤＬが対象物ＯＢにより反射された反射光ＲＬを受光する。受光部６０は、複数の受光素子６４と、受光側走査部６６とを備えている。受光素子６４は、例えば、ＳＰＡＤ（Single Photon Avalanche Diode）である。受光素子６４は、受光した光の強度に応じた検出信号を算出部９２４に出力する。受光素子６４は、ＡＰＤであってもよい。受光側走査部６６と受光素子６４との間には、さらに、外乱光を遮光するためのピンホール、受光素子６４によって構成される画素サイズの平行光に拡散光を調整するためのコリメートレンズなどが設けられてもよい。
【0018】
受光素子６４は、受光側サブマウント６２上に配列されている。複数の受光素子６４によって一つの画素が形成されている。なお、画素数は、発光素子４４の数と同じ数で設定されている。一つの画素に含まれる受光素子６４の数は、スキャン１周期内のスキャン回数と同数である。受光側サブマウント６２は、ＴＩＭを用いた熱伝導材料６１を介してプリント基板８６上に配置されている。このように構成することにより、受光素子６４から発生する熱を筐体８０に放熱させやすくすることができる。
【0019】
受光側走査部６６は、制御部９２２による制御のもとで、予め定められた走査範囲ＭＲを含む角度範囲からの反射光ＲＬを受光素子６４に結像させる。受光側走査部６６は、複数の受光側レンズ６６６を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ６６４と、受光側駆動部６６２とを備えている。図１には、受光素子６４に入射するレーザ光ＤＬの光軸ＬＡ２が示されている。図１の例では、光軸ＬＡ２は、受光側レンズ６６６の中心と一致している。図３に示すように、複数の受光側レンズ６６６は、発光範囲ＤＡと略同じ大きさの受光範囲ＲＡ内に格子状に配列されている。なお、本実施形態では、受光範囲ＲＡの外形サイズは、受光側サブマウント６２のサイズと略同じである。
【0020】
受光側駆動部６６２は、受光側レンズアレイ６６４を平面上で移動させるアクチュエータ、およびエンコーダである。受光側駆動部６６２によって受光側レンズアレイ６６４が平面上の予め定められた領域内で移動されることにより、走査範囲ＭＲからの反射光ＲＬが各画素に結像される。受光側走査部６６と窓部８２との間には、受光側レンズアレイ６６４に入射する反射光ＲＬの光量を大きくするための受光レンズが設けられてもよい。本実施形態では、制御部９２２は、受光側走査部６６の走査と発光側走査部４６の走査とを互いに同期して移動させる。ただし、受光側走査部６６の走査と発光側走査部４６の走査とは必ずしも同期されていなくてもよい。例えば、発光側レンズアレイ４６４の移動タイミングと、受光側レンズアレイ６６４の移動タイミングとが互いに一致していなくてもよい。この場合には、発光部４０を発光させるタイミングで、制御部９２２による発光側レンズアレイ４６４の移動と、受光側レンズアレイ６６４の移動とが完了されていればよい。
【0021】
図４および図５に示すように、発光側レンズアレイ４６４が光軸ＬＡ１に対して方向Ｄ１１、すなわち上側に移動されると、発光側レンズ４６６の下端あたりに入射したレーザ光ＤＬは上向きに屈折する。このとき、受光側レンズアレイ６６４が光軸ＬＡ２に対して上側に移動されると、反射光ＲＬが受光側レンズ６６６の下端あたりに入射して屈折し、光軸ＬＡ２に沿って受光素子６４へと入射する。
【0022】
図６および図７に示すように、発光側レンズアレイ４６４が光軸ＬＡ１に対して方向Ｄ１２、すなわち下側に移動されると、発光側レンズ４６６の上端あたりに入射したレーザ光ＤＬは下向きに屈折する。このとき、受光側レンズアレイ６６４が光軸ＬＡ２に対して下側に移動されると、反射光ＲＬが受光側レンズ６６６の上端あたりに入射して屈折し、光軸ＬＡ２に沿って受光素子６４へと入射する。
【0023】
図８には、発光側レンズ４６６の一例である第一発光側レンズ４６６ｐと第一発光側レンズ４６６ｐに隣接する第二発光側レンズ４６６ｑとが示されている。図８の中段には、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１にある状態の発光側走査部４６ｑが示されている。図８の上段には、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１よりも方向Ｄ１１に距離ｙ１だけ移動した状態の発光側走査部４６ｐが示されている。図８の下段には、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１よりも方向Ｄ１２に距離ｙ１だけ移動した状態の発光側走査部４６ｒが示されている。図８には、第一発光側レンズ４６６ｐ、第二発光側レンズ４６６ｑの焦点ｆ１，ｆ２と、第一発光側レンズ４６６ｐによって形成されるレーザ光ＤＬの照射範囲である像高Ｈ１および第二発光側レンズ４６６ｑによって形成されるレーザ光ＤＬの照射範囲である像高Ｈ２が示されている。
【0024】
図９には、比較例としての発光側走査部４６ＲＦが示されている。発光側走査部４６ＲＦには発光側レンズアレイ４６４に一つの発光側レンズ４６６ｒが設けられている。発光側レンズ４６６ｒのレンズ径は、図８で示した第一発光側レンズ４６６ｐのレンズ径よりも大きい。発光側レンズ４６６ｒを用いて、図８で示した像高Ｈ１，Ｈ２との総和に相当する大きさの像高Ｈｒを得るためには、発光側レンズ４６６ｒを、図８で示した距離ｙ１よりも大きい距離ｙｒだけ移動させることになる。
【0025】
これに対して、本実施形態の光測距装置１００では、図８に示すように、発光側レンズアレイ４６４において、以下（１）（２）を満たすように、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑの各パラメータが設定されている。発光側レンズのパラメータとは、例えば、主点から焦点ｆ１，ｆ２までの距離、物体面から主点までの距離、像面から主点までの距離、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑのレンズ径・厚さ・形状、倍率などである。
（１）第一発光側レンズ４６６ｐによって形成されるパルス光の像高Ｈ１と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ４６６ｑによって形成されるパルス光の像高Ｈ２とが、レンズ間の境界ＢＤで互いに接するように構成されている。このように構成することにより、レーザ光ＤＬの出射エリアを重複なく、かつ隙間がないように構成することができる。ただし、これに限らず、像高Ｈ１，Ｈ２の一部が互いに重複するように構成されてもよい。
（２）第一発光側レンズ４６６ｐと第二発光側レンズ４６６ｑとの間の距離が、第一受光側レンズの半径以下の距離となるように構成されている。本実施形態では、第一発光側レンズ４６６ｐと第二発光側レンズ４６６ｑとの間の距離は、発光側レンズアレイ４６４で構成可能な最小の距離となるように構成されている。このように構成することにより、単位面積あたりの発光側レンズ４６６の設置数、すなわち発光側レンズ４６６の密度を最大にでき、光軸外収差を発光側走査部４６ＲＦよりも小さくすることができる。
（１）第一発光側レンズ４６６ｐによって形成されるパルス光の像高Ｈ１と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ４６６ｑによって形成されるパルス光の像高Ｈ２とが、レンズ間の境界ＢＤで互いに接するように構成されている。このように構成することにより、レーザ光ＤＬの出射エリアを重複なく、かつ隙間がないように構成することができる。ただし、これに限らず、像高Ｈ１，Ｈ２の一部が互いに重複するように構成されてもよい。
（２）第一発光側レンズ４６６ｐと第二発光側レンズ４６６ｑとの間の距離が、第一受光側レンズの半径以下の距離となるように構成されている。本実施形態では、第一発光側レンズ４６６ｐと第二発光側レンズ４６６ｑとの間の距離は、発光側レンズアレイ４６４で構成可能な最小の距離となるように構成されている。このように構成することにより、単位面積あたりの発光側レンズ４６６の設置数、すなわち発光側レンズ４６６の密度を最大にでき、光軸外収差を発光側走査部４６ＲＦよりも小さくすることができる。
【0026】
図１０には、受光側レンズ６６６の一例である第一受光側レンズ６６６ｐと第一受光側レンズ６６６ｐに隣接する第二受光側レンズ６６６ｑとが示されている。図１０の中段には、第一受光側レンズ６６６ｐおよび第二受光側レンズ６６６ｑの中心が受光素子６４の光軸ＬＡ２にある状態の受光側走査部６６ｑが示されている。図１０の上段には、第一受光側レンズ６６６ｐおよび第二受光側レンズ６６６ｑの中心が受光素子６４の光軸ＬＡ２よりも方向Ｄ１１に距離ｙ２だけ移動した状態の受光側走査部６６ｐが示されている。図１０の下段には、第一受光側レンズ６６６ｐおよび第二受光側レンズ６６６ｑの中心が受光素子６４の光軸ＬＡ２よりも方向Ｄ１２に距離ｙ２だけ移動した状態の受光側走査部６６ｒが示されている。なお、本実施形態では、距離ｙ２は、距離ｙ１と等しい。図１０には、第一受光側レンズ６６６ｐ、第二受光側レンズ６６６ｑの焦点ｆ１，ｆ２、ならびに第一受光側レンズ６６６ｐの像高Ｈ１および第二受光側レンズ６６６ｑの像高Ｈ２が示されている。受光側レンズアレイ６６４の光学的な構成は、発光側レンズアレイ４６４の構成と同様であるので説明を省略する。
【0027】
図１１には、スキャンエリアＳＡが示されている。図１１では、技術の理解を容易にするために、スキャンエリアＳＡおよび受光素子６４の一つにハッチングを付している。スキャンエリアＳＡは、１画素に相当する。図１１には、受光部６０のうち、タテ３画素×ヨコ３画素の合計９画素が図示されている。１つの画素には、タテ３個×ヨコ３個の合計９個の受光素子６４が配列されている。本実施形態の光測距装置１００のスキャン１周期あたりのスキャン位置は、図１１の中央に示すスキャン位置ＳＣ、およびスキャン位置Ｓ１からスキャン位置Ｓ８までの合計９箇所である。なお、制御部９２２は、スキャン位置ごとの発光部４０の発光回数を任意に設定することができる。
【0028】
図１１の左上には、発光素子４４におけるレーザ光ＤＬの発光視野ＤＳと、受光素子６４における反射光ＲＬの受光視野ＲＳとが概念的に示されている。矢印Ｍ１－Ｍ９で示すように、制御部９２２が発光側駆動部４６２および受光側駆動部６６２を制御することによって、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４は、各スキャン位置ＳＣ，Ｓ１－Ｓ８に対応する位置に移動することによって、発光視野ＤＳおよび受光視野ＲＳは、各スキャン位置ＳＣ，Ｓ１－Ｓ８に移動する。
【0029】
発光視野ＤＳおよび受光視野ＲＳの大きさは、収差の大きさを概念的に表している。図１１の中央に示すスキャン位置ＳＣでは、発光素子４４の光軸ＬＡ１が発光側レンズ４６６の中心にあり、発光側レンズ４６６の光軸と、発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４からのパルス光の光軸ＬＡ１とが一致している。したがって、スキャン位置ＳＣは、収差が最も小さい位置である。これに対して、スキャン位置Ｓ１－Ｓ８は、発光側レンズ４６６の光軸と、発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４からのパルス光の光軸ＬＡ１とが離れる位置である。例えば、図１１の四隅に示すスキャン位置Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７は、光軸ＬＡ１に対して左上、右上、右下、左下というナナメとなる位置である。これらは、発光側レンズ４６６の光軸と、発光素子４４の光軸ＬＡ１とが最も離れ、収差が最も大きくなる位置である。スキャン位置Ｓ２，Ｓ４，Ｓ６，Ｓ８は、光軸ＬＡ１に対して上下左右に隣接する位置である。これらの位置での収差は、スキャン位置ＳＣの収差より大きく、スキャン位置Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７の収差より小さくなる。
【0030】
図１２には、発光素子４４および受光素子６４のオンオフのタイミング、ならびに発光側駆動部４６２および受光側駆動部６６２の移動タイミングがスキャン位置ＳＣ，Ｓ１－Ｓ８ごとに示されている。横軸は、時間軸であり、発光部４０および受光部６０の各制御において共通である。発光側駆動部４６２および受光側駆動部６６２の波形に付された「Ｍ１－Ｍ９」の符号は、図１１で示した矢印Ｍ１－Ｍ９と関連付けて示されている。なお、本実施形態では、制御部９２２による制御を簡易にする観点から、各スキャン位置ＳＣ，Ｓ１－Ｓ８での発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４の停止時間は、互いに等しく設定されている。
【0031】
図１２に示すように、本実施形態では、制御部９２２は、発光素子４４の発光と、発光側レンズアレイ４６４の移動とを交互に実行する。例えば、時間ｔ１において、制御部９２２は、スキャン位置ＳＣで発光素子４４を発光させる。次に、時間ｔ２において、発光側駆動部４６２および受光側駆動部６６２を駆動して、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を、図１１で示した矢印Ｍ１に従ってスキャン位置Ｓ１へと移動させる。制御部９２２は、時間ｔ３で発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４の移動を完了させると、時間ｔ４で発光素子４４を発光させる。スキャン位置Ｓ１でのスキャンを終えると、制御部９２２は、時間ｔ５において、発光側駆動部４６２および受光側駆動部６６２を駆動して、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を矢印Ｍ２に従ってスキャン位置Ｓ２へと移動させて、時間ｔ６で発光素子４４を発光させる。スキャン位置Ｓ２でのスキャンを終えると、制御部９２２は、時間ｔ７で、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を矢印Ｍ３に従ってスキャン位置Ｓ３へと移動させる。制御部９２２は、以降も同様に、スキャン位置Ｓ４からスキャン位置Ｓ８までを繰り返すことによって、スキャンの１周期を完了させる。制御部９２２は、１周期のスキャンを完了させると、スキャン位置ＳＣに戻り、同様の制御を繰り返す。なお、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４の移動は、発光素子４４の発光タイミングまでに完了していれば足りる。したがって、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４の移動は、互いに一致していなくてもよく、個別に制御されてもよい。
【0032】
本実施形態では、制御部９２２は、上述したスキャン位置Ｓ１－Ｓ８のように収差が大きくなる位置では、スキャン位置ＳＣのように収差が小さくなる位置よりも発光回数が多くなるように発光素子４４を制御する。より具体的には、図１２に示すように、制御部９２２は、光軸が一致するスキャン位置ＳＣでは、発光回数が１回であるのに対して、四隅のスキャン位置Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７では、発光回数が３回であり、上下左右のスキャン位置Ｓ２，Ｓ４，Ｓ６，Ｓ８では、発光回数は２回である。収差が大きくなる位置での発光回数を増加させることにより、受光素子６４での受光信号の低下を抑制し、検出精度の低下を抑制または防止することができる。
【0033】
以上、説明したように、本実施形態の光測距装置１００は、レーザ光ＤＬを発光する複数の発光素子４４と、複数の発光素子４４のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ４６６を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ４６４、および発光側レンズアレイ４６４を移動させる発光側駆動部４６２を含み、レーザ光ＤＬを走査する発光側走査部４６と、反射光ＲＬを受光する複数の受光素子６４と、受光素子６４で受光された反射光ＲＬの飛行時間を用いて、対象物ＯＢまでの距離を算出する算出部９２４と、を備えている。本実施形態の光測距装置１００によれば、複数の発光素子４４および複数の発光側レンズ４６６を備えることにより、発光視野を複数に分割することができ、例えば単数の発光側レンズ４６６のみを備える光測距装置と比較して、発光側レンズ４６６の一つあたりの収差による像のひずみを小さくすることができる。したがって、受光部６０による受光信号の低下を抑制することができ、光測距装置１００の検出精度を向上させることができる。
【0034】
本実施形態の光測距装置１００では、第一発光側レンズ４６６ｐによって形成されるレーザ光ＤＬの像高Ｈ１と、第一発光側レンズ４６６ｐに隣接する第二発光側レンズ４６６ｑによって形成されるレーザ光ＤＬの像高Ｈ２とが互いに接するように構成されている。本実施形態の光測距装置１００によれば、発光側レンズアレイ４６４において、互いに隣接するレンズのレーザ光ＤＬの出射エリアを、互いに重複なく、かつ隙間が発生しないように最適化することができる。
【0035】
本実施形態の光測距装置１００によれば、さらに、第一発光側レンズ４６６ｐと第二発光側レンズ４６６ｑとの間の距離が、第一発光側レンズ４６６ｐの半径以下の距離である。本実施形態の光測距装置１００によれば、単位面積あたりの発光素子４４および発光側レンズ４６６の設置数を最大にすることによって、発光側レンズ４６６の一つあたりに発生する収差を最小にすることができる。
【0036】
本実施形態の光測距装置１００は、さらに、複数の受光素子６４のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ６６６を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ６６４、および受光側レンズアレイ６６４を移動させる受光側駆動部６６２を含み、反射光ＲＬを結像させる受光側走査部６６を備える。本実施形態の光測距装置１００によれば、受光部６０に受光側レンズアレイ６６４を設けることにより、受光部６０での収差を抑制することができる。したがって、受光素子６４による受光信号の低下を抑制することができ、光測距装置１００の検出精度を向上させることができる。
【0037】
本実施形態の光測距装置１００によれば、受光側走査部６６は、第一受光側レンズ６６６ｐによって形成される反射光ＲＬの受光範囲ＨＲ１と、第一受光側レンズ６６６ｐに隣接する第二受光側レンズ６６６ｑによって形成される反射光ＲＬの受光範囲ＨＲ２とが互いに接するように構成されている。本実施形態の光測距装置１００によれば、受光側レンズアレイ６６４において、互いに隣接するレンズの反射光ＲＬの受光エリアを、互いに重複なく、かつ隙間が発生しないように最適化することができる。
【0038】
本実施形態の光測距装置１００によれば、さらに、第一受光側レンズ６６６ｐと第二受光側レンズ６６６ｑとの間の距離が、第一受光側レンズ６６６ｐの半径以下の距離である。本実施形態の光測距装置１００によれば、単位面積あたりの受光素子６４および受光側レンズ６６６の設置数を最大にすることによって、受光側レンズ６６６の一つあたりに発生する収差を最小にすることができる。
【0039】
本実施形態の光測距装置１００によれば、制御部９２２は、スキャン中における発光素子４４の発光と、発光側レンズアレイ４６４の移動とを交互に実行する。したがって、発光側駆動部４６２等の動作がスキャン時の収差へ与える影響を小さくすることができ、光測距装置１００の検出精度を向上させることができる。
【0040】
本実施形態の光測距装置１００によれば、制御部９２２は、発光側レンズアレイ４６４を、発光側レンズ４６６の光軸ＬＡ１と、発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４からのレーザ光ＤＬの光軸ＬＡ１とが離れる位置に移動する場合には、発光側レンズ４６６の光軸と、発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４からのレーザ光ＤＬの光軸ＬＡ１とが一致する場合よりも発光素子４４による発光回数を増加させる。収差が大きくなる箇所での発光回数を増加させることにより、収差が大きい箇所の検出精度の低下を抑制することができる。
【0041】
本実施形態の光測距装置１００によれば、制御部９２２は、発光側走査部４６と、受光側走査部６６とを互いに同期して制御する。したがって、制御部９２２による制御を簡易化することができる。
【0042】
本実施形態の光測距装置１００によれば、複数の発光素子４４および複数の受光素子６４は、熱伝導材料４１を用いて筐体８０に固定されている。したがって、発光素子４４から発生する熱を筐体８０に放熱しやすくすることができる。「熱伝導材料４１を用いて筐体８０に固定される」とは、筐体８０と発光素子４４等との間に熱伝導材料４１のみが設けられてもよく、熱伝導材料８４、プリント基板８６、発光側サブマウント４２、熱伝導材料６１、受光側サブマウント６２などのように、熱伝導材料４１とともに熱伝導材料４１以外の材料を介して筐体８０に固定されていてもよい。
【0043】
本実施形態の光測距装置１００によれば、さらに、筐体８０と、複数の発光素子４４および複数の受光素子６４との間に、が設けられる。熱伝導材料４１を用いることにより、発光素子４４の放熱性能をより向上させることができる。
【0044】
Ａ２．第１実施形態の他の実施形態１：
図１３には、発光側レンズ４６６の一例である第一発光側レンズ４６６ｓと第一発光側レンズ４６６ｓに隣接する第二発光側レンズ４６６ｔとが示されている。図１３に示すように、第一発光側レンズ４６６ｓと第二発光側レンズ４６６ｔとの間の距離は、第一発光側レンズ４６６ｓの半径よりも長く設定されてもよい。
図１３には、発光側レンズ４６６の一例である第一発光側レンズ４６６ｓと第一発光側レンズ４６６ｓに隣接する第二発光側レンズ４６６ｔとが示されている。図１３に示すように、第一発光側レンズ４６６ｓと第二発光側レンズ４６６ｔとの間の距離は、第一発光側レンズ４６６ｓの半径よりも長く設定されてもよい。
【0045】
図１３の中段には、第一発光側レンズ４６６ｓおよび第二発光側レンズ４６６ｔの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１にある状態の発光側走査部４６ｔが示されている。図１３の上段には、第一発光側レンズ４６６ｓおよび第二発光側レンズ４６６ｔの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１よりも方向Ｄ１１に距離ｙ３だけ移動した状態の発光側走査部４６ｓが示されている。図１３の下段には、第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑの中心が発光素子４４の光軸ＬＡ１よりも方向Ｄ１２に距離ｙ３だけ移動した状態の発光側走査部４６ｕが示されている。図１３には、第一発光側レンズ４６６ｓ、第二発光側レンズ４６６ｔの焦点ｆ１，ｆ２と、第一発光側レンズ４６６ｓの像高Ｈ３および第二発光側レンズ４６６ｔの像高Ｈ４とが示されている。像高Ｈ３は、図８で示した像高Ｈ１と像高Ｈ２との総和と等しい。像高Ｈ４も同様である。第一発光側レンズ４６６ｓおよび第二発光側レンズ４６６ｔを移動させる距離ｙ３は、図８で示した第一発光側レンズ４６６ｐおよび第二発光側レンズ４６６ｑを移動させる距離ｙ１と同じである。
【0046】
本実施形態の光測距装置１００によれば、第一発光側レンズ４６６ｓおよび第二発光側レンズ４６６ｔを、図８で示した距離ｙ１同じ距離ｙ３の移動によって、第１実施形態と同じサイズのスキャンエリアＳＡを形成することができる。また、発光側レンズアレイ４６４のレンズ数を減らすことができる。なお、この構成では、第１実施形態の発光側走査部４６よりも収差が大きくなり得る。
【0047】
Ａ３．第１実施形態の他の実施形態２：
上記第１実施形態では、制御部９２２によるスキャンにおいて、発光素子４４の発光と、発光側レンズアレイ４６４の移動とが交互に実行される例を示した。これに対して、制御部９２２は、発光側レンズアレイ４６４を移動させながら発光素子４４を発光させてもよい。
上記第１実施形態では、制御部９２２によるスキャンにおいて、発光素子４４の発光と、発光側レンズアレイ４６４の移動とが交互に実行される例を示した。これに対して、制御部９２２は、発光側レンズアレイ４６４を移動させながら発光素子４４を発光させてもよい。
【0048】
図１４に示すように、時間ｔ２１において、制御部９２２は、スキャン位置ＳＣで発光素子４４を発光させると、時間ｔ２２において、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４のスキャン位置Ｓ１への移動を開始する。制御部９２２は、スキャン位置Ｓ１への移動を完了する時間ｔ２５よりも前の時間ｔ２４で、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を移動させながら、発光素子４４の発光を開始する。この場合には、収差を抑制させる観点から、発光素子４４の発光のうち少なくとも一回が、各スキャン位置への移動を完了するタイミングで行われることが好ましい。次に、スキャン位置Ｓ２への移動を完了する時間ｔ２７よりも前となる時間ｔ２６に発光素子４４を発光させる。なお、スキャン位置Ｓ２では、制御部９２２は、２回の発光回数のうち１回の発光を時間ｔ２７のタイミングで実行する。以降のスキャン位置Ｓ３－Ｓ８でも同様に繰り返す。
【0049】
本実施形態の光測距装置１００によれば、制御部９２２は、発光側レンズアレイ４６４を移動させながら、発光素子４４を発光させる。したがって、スキャン１周期あたりにかかる時間を短縮し、光測距装置１００による単位時間あたりのスキャン回数を増加することができる。
【0050】
Ｂ．第２実施形態：
図１５に示すように、第２実施形態に係る光測距装置１００ｂでは、受光部６０に代えて、受光部６０ｂを備える点において第１実施形態の光測距装置１００と相違し、それ以外の構成は同様である。受光部６０ｂは、受光側走査部６６を備えない点と、受光範囲ＲＡｂの大きさが異なる点において、第１実施形態で示した受光部６０と相違する。
図１５に示すように、第２実施形態に係る光測距装置１００ｂでは、受光部６０に代えて、受光部６０ｂを備える点において第１実施形態の光測距装置１００と相違し、それ以外の構成は同様である。受光部６０ｂは、受光側走査部６６を備えない点と、受光範囲ＲＡｂの大きさが異なる点において、第１実施形態で示した受光部６０と相違する。
【0051】
図１６に示すように、発光視野ＤＳは第１実施形態と同様である。本実施形態では、受光部６０ｂが受光側走査部６６を備えないため、反射光ＲＬは受光素子６４に至るまでの間に広がる。この結果、受光視野ＲＳｂは、第１実施形態で示した受光視野ＲＳよりも大きくなる。本実施形態の光測距装置１００ｂでは、図１５に示すように、受光素子６４の配置数を多くして、受光範囲ＲＡｂを、第１実施形態で示した受光範囲ＲＡよりも大きくしている。このように構成することにより、図１７および図１８に示すように、受光素子６４による検出範囲を拡大して、反射光ＲＬの拡散による検出精度の低下を抑制することができる。
【0052】
本実施形態の光測距装置１００ｂによれば、複数の受光素子６４が配置される受光範囲ＲＡｂの面積は、発光範囲ＤＡの面積よりも大きい。したがって、光測距装置１００ｂの部品点数を低減することができるとともに、受光素子６４の検出範囲を拡大することによって、受光部６０ｂが受光側走査部６６を備えない場合であっても検出精度が低下することを抑制することができる。
【0053】
Ｃ１．第３実施形態：
図１９および図２０に示すように、本実施形態の光測距装置１００では、第１実施形態とは、発光側走査部４６および受光側走査部６６のスキャン方法が異なる点で相違し、それ以外の構成は第１実施形態と同様である。より具体的には、本実施形態では、制御部９２２は、鉛直方向における奇数列ＯＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４と、偶数列ＥＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４とを交互に発光させる。
図１９および図２０に示すように、本実施形態の光測距装置１００では、第１実施形態とは、発光側走査部４６および受光側走査部６６のスキャン方法が異なる点で相違し、それ以外の構成は第１実施形態と同様である。より具体的には、本実施形態では、制御部９２２は、鉛直方向における奇数列ＯＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４と、偶数列ＥＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４とを交互に発光させる。
【0054】
スキャンエリアＳＡ３１およびスキャンエリアＳＡ３２は、タテ１個×ヨコ３個の合計３個の受光素子６４が配列された範囲である。スキャンエリアＳＡ３１には、発光側レンズ４６６の光軸と発光素子４４の光軸ＬＡ１とが一致するスキャン位置ＳＣ３１と、その左右に位置するスキャン位置Ｓ３１，Ｓ３２とが含まれる。スキャン位置Ｓ３１，Ｓ３２，Ｓ３３，Ｓ３４の収差は、スキャン位置ＳＣ３１，ＳＣ３２の収差よりも大きい。
【0055】
制御部９２２は、格子状に配列された複数の発光側レンズ４６６のうち奇数列ＯＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４を発光させる。図１９の例では、制御部９２２は、奇数列ＯＲに属するスキャンエリアＳＡ３１のうち、中央のスキャン位置ＳＣ３１で発光素子４４を発光させる。次に、制御部９２２は、矢印Ｍ３１および矢印Ｍ３２で示すように、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を、スキャン位置ＳＣ３１から方向Ｄ２２へと、およびスキャン位置ＳＣ３１か方向Ｄ２１へと移動させる。制御部９２２は、それぞれのスキャン位置Ｓ３１，Ｓ３２で発光素子４４を発光させることによって、奇数列ＯＲに属するスキャンエリアＳＡ３１でのスキャンを完了させる。したがって、本実施形態では、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４は、上下方向およびナナメ方向には移動されない。
【0056】
図２０に示すように、制御部９２２は、次に、偶数列ＥＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４を発光させる。より具体的には、制御部９２２は、偶数列ＥＲに属するスキャンエリアＳＡ３２のうち、中央のスキャン位置ＳＣ３２で発光素子４４を発光させる。次に、制御部９２２は、矢印Ｍ３１および矢印Ｍ３２で示すように、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を、スキャン位置ＳＣ３２から方向Ｄ２２へと、およびスキャン位置ＳＣ３２か方向Ｄ２１へと移動させる。制御部９２２は、それぞれのスキャン位置Ｓ３３，Ｓ３４で発光素子４４を発光させることによって、偶数列ＥＲに属するスキャンエリアＳＡ３２でのスキャンを完了させる。奇数列ＯＲのスキャンエリアＳＡ３１と、偶数列ＥＲのスキャンエリアＳＡ３２とのスキャンにより、１周期分のスキャンが完了する。なお、スキャンエリアＳＡ３１，ＳＡ３２内での発光順序は、上記には限定されず、任意に設定されてもよい。
【0057】
以上のように、本実施形態の光測距装置１００によれば、制御部９２２は、鉛直方向における奇数列ＯＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４と、偶数列ＥＲに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４とを交互に発光させる。したがって、互いに隣接する奇数列ＯＲと偶数列ＥＲとのスキャンエリア同士のクロストークを抑制することができる。また、本実施形態では、ナナメ方向でのスキャンを行わないため、収差を低減することができ、検出精度を向上させることができる。
【0058】
Ｃ２．第３実施形態の他の実施形態：
上記第３実施形態では、鉛直方向における奇数列ＯＲのスキャンエリアＳＡ３１のスキャンと、偶数列ＥＲのスキャンエリアＳＡ３２のスキャンとを交互に実行される例を用いて説明した。これに対して、図２１および図２２に示すように、水平方向における奇数列ＯＣのスキャンエリアＳＡ４１のスキャンと、偶数列ＥＣのスキャンエリアＳＡ４２のスキャンとが交互に繰り返されてもよい。
上記第３実施形態では、鉛直方向における奇数列ＯＲのスキャンエリアＳＡ３１のスキャンと、偶数列ＥＲのスキャンエリアＳＡ３２のスキャンとを交互に実行される例を用いて説明した。これに対して、図２１および図２２に示すように、水平方向における奇数列ＯＣのスキャンエリアＳＡ４１のスキャンと、偶数列ＥＣのスキャンエリアＳＡ４２のスキャンとが交互に繰り返されてもよい。
【0059】
スキャンエリアＳＡ４１およびスキャンエリアＳＡ４２は、タテ３個×ヨコ１個の合計３個の受光素子６４が配列された範囲である。スキャン位置Ｓ４１，Ｓ４２の収差は、スキャン位置ＳＣ４１，ＳＣ４２の収差よりも大きい。このように、制御部９２２は、水平方向における奇数列ＯＣに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４と、偶数列ＥＣに属する発光側レンズ４６６に対応する発光素子４４とを交互に発光させてもよい。このように構成した光測距装置１００であっても、上記第３実施形態と同様な効果を奏する。
【0060】
Ｄ．第４実施形態：
スキャンエリアは、任意の形状を用いて設定することができる。例えば、図２３の左側に示すスキャンエリアＳＡ５のように、十字形状のスキャンエリアにすることもできる。スキャンエリアＳＡ５は、発光側レンズ４６６の光軸と発光素子４４の光軸ＬＡ１とが一致するスキャン位置ＳＣ５と、スキャン位置ＳＣ５の上下に位置するスキャン位置Ｓ５１，Ｓ５３と、スキャン位置ＳＣ５の左右に位置するスキャン位置Ｓ５２，Ｓ５４との合計５箇所のスキャン位置を含んでいる。
スキャンエリアは、任意の形状を用いて設定することができる。例えば、図２３の左側に示すスキャンエリアＳＡ５のように、十字形状のスキャンエリアにすることもできる。スキャンエリアＳＡ５は、発光側レンズ４６６の光軸と発光素子４４の光軸ＬＡ１とが一致するスキャン位置ＳＣ５と、スキャン位置ＳＣ５の上下に位置するスキャン位置Ｓ５１，Ｓ５３と、スキャン位置ＳＣ５の左右に位置するスキャン位置Ｓ５２，Ｓ５４との合計５箇所のスキャン位置を含んでいる。
【0061】
制御部９２２は、スキャン位置ＳＣ５で発光素子４４を発光させたあと、図２３に示す矢印Ｍ５１－Ｍ５５に従って、発光側レンズアレイ４６４および受光側レンズアレイ６６４を上下左右に移動させて、スキャン位置Ｓ５１，Ｓ５２，Ｓ５３，Ｓ５４の順で１周期のスキャンを実行する。スキャン位置Ｓ５１，Ｓ５２，Ｓ５３，Ｓ５４の収差は、スキャン位置ＳＣ５の収差よりも大きい。このように構成した光測距装置１００であっても、ナナメ位置でのスキャンを実行せず、上記第３実施形態と同様な効果を奏する。なお、スキャンエリアＳＡ５内での発光順序は、上記には限定されず、任意に設定されてもよい。
【0062】
Ｅ１．第５実施形態：
上記第１実施形態では、分割された複数のスキャンエリアＳＡごとに発光素子４４を発光させることによって走査範囲ＭＲのスキャンを完了させる例を示した。これに対して、図２４に示すように、複数の発光側レンズ４６６が複数の列を有する格子状に配列される場合に、一端側から他端側に向かって順次にスキャンエリアが切り替えられることによって走査範囲ＭＲのスキャンが実行されてもよい。
上記第１実施形態では、分割された複数のスキャンエリアＳＡごとに発光素子４４を発光させることによって走査範囲ＭＲのスキャンを完了させる例を示した。これに対して、図２４に示すように、複数の発光側レンズ４６６が複数の列を有する格子状に配列される場合に、一端側から他端側に向かって順次にスキャンエリアが切り替えられることによって走査範囲ＭＲのスキャンが実行されてもよい。
【0063】
図２４に示すように、制御部９２２は、発光側レンズアレイ４６４の方向Ｄ２２側の端部に近い列に属するスキャンエリアＳＡ６１に対応する発光素子４４から、これに隣接する列のスキャンエリアＳＡ６２と、スキャンエリアＳＡ６２に隣接する列のスキャンエリアＳＡ６３との順でスキャンを実行し、以降も同様に、発光側レンズアレイ４６４の方向Ｄ２１側の端部に向かって順次にスキャンを実行する。スキャンエリアＳＡ６１では、矢印Ｍ６１，Ｍ６２で示すように、中央ならびにその上下のスキャン位置で発光素子４４を発光させた後、矢印ＭＳ６１で示すように、スキャンエリアを方向Ｄ２１側に１列だけシフトさせる。次に、スキャンエリアＳＡ６２において、同様に、中央ならびにその上下のスキャン位置で発光素子４４を発光させた後、矢印ＭＳ６２で示すように、発光位置を方向Ｄ２１側にさらに１列だけシフトさせて、以降も同様に方向Ｄ２１側の端部に向かって１列ずつスキャンエリアをシフトさせながら繰り返す。
【0064】
本実施形態の光測距装置１００によれば、ナナメ方向でのスキャンを省略して上記第３実施形態と同様の効果を得ることができる。また、列ごとにスキャンするので、分割された複数のスキャンエリアのそれぞれの発光素子４４を発光させる場合と比較して、クロストークの発生を抑制することができる。
【0065】
Ｅ２．第５実施形態の他の実施形態：
上記第５実施形態では、スキャンエリアを水平方向に沿って列ごとに切り替えて走査範囲ＭＲのスキャンを完了させる例を示した。これに対して、図２５に示すように、スキャンエリアを鉛直方向に沿って列ごとに切り替えてスキャンしてもよい。
上記第５実施形態では、スキャンエリアを水平方向に沿って列ごとに切り替えて走査範囲ＭＲのスキャンを完了させる例を示した。これに対して、図２５に示すように、スキャンエリアを鉛直方向に沿って列ごとに切り替えてスキャンしてもよい。
【0066】
より具体的には、スキャンエリアＳＡ７１において、矢印Ｍ７１，Ｍ７２で示すように、中央ならびにその左右のスキャン位置で発光素子４４を発光させた後、矢印ＭＳ７１で示すように、スキャンエリアを方向Ｄ１２側に１列だけシフトさせる。次に、スキャンエリアＳＡ７２において、同様に、中央ならびにその左右のスキャン位置で発光素子４４を発光させた後、矢印ＭＳ７２で示すように、発光位置を方向Ｄ１２側にさらに１列だけシフトさせて、以降も同様に方向Ｄ１２側の端部に向かって１列ずつスキャンエリアをシフトさせながら繰り返す。このように構成した光測距装置１００であっても、上記第５実施形態と同様な効果を奏する。
【0067】
Ｆ．他の実施形態：
（Ｆ１）スキャンエリアＳＡに含まれる受光素子６４の数は、上記各実施形態で示した個数には限定されず、スキャンエリアＳＡのサイズ等に応じて任意に設定されてよい。
（Ｆ１）スキャンエリアＳＡに含まれる受光素子６４の数は、上記各実施形態で示した個数には限定されず、スキャンエリアＳＡのサイズ等に応じて任意に設定されてよい。
【0068】
（Ｆ２）上記各実施形態では、受光範囲ＲＡの面積が発光範囲ＤＡの面積と同じ、あるいは受光範囲ＲＡｂの面積が発光範囲ＤＡの面積よりも大きい例を示した。これに対して、受光範囲ＲＡの面積が発光範囲ＤＡの面積よりも小さく設定されてもよい。
【0069】
（Ｆ３）上記第１実施形態では、スキャン位置Ｓ１－Ｓ８のように収差が大きくなる位置では、スキャン位置ＳＣのように収差が小さくなる位置よりも発光回数が多くなるように発光素子４４が制御される例を示した。これに対して、例えば、全てのスキャン位置において発光回数が同じにされてもよく、各スキャン位置で任意の発光回数が設定されてもよい。また、発光回数は、１－３回には限らず、４以上の任意の発光回数が設定されてもよい。
【0070】
（Ｆ４）上記第１実施形態では、複数の発光素子４４および複数の受光素子６４は、熱伝導材料４１を用いて筐体８０に固定される例を示した。これに対して、発光素子４４および受光素子６４は、熱伝導材料４１を用いずに筐体８０に固定されてもよい。
【0071】
本開示に記載の制御部及びその手法は、コンピュータプログラムにより具体化された一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。あるいは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ以上の専用ハードウェア論理回路によってプロセッサを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。もしくは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリと一つ以上のハードウェア論理回路によって構成されたプロセッサとの組み合わせにより構成された一つ以上の専用コンピュータにより、実現されてもよい。また、コンピュータプログラムは、コンピュータにより実行されるインストラクションとして、コンピュータ読み取り可能な非遷移有形記録媒体に記憶されていてもよい。
【0072】
本開示は、上述の実施形態に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現することができる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態中の技術的特徴は、上述の課題の一部又は全部を解決するために、あるいは、上述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことが可能である。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することが可能である。
【0073】
他の形態：
本開示の特徴を以下の通り示す。
（形態１）
光測距装置（１００，１００ｂ）であって、
パルス光（ＤＬ）を発光する複数の発光素子（４４）と、
前記複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ（４６６）を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ（４６４）、および前記発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部（４６２）を含み、前記パルス光を走査する発光側走査部（４６）と、
物体（ＯＢ）によって反射された前記パルス光の反射光（ＲＬ）を受光する複数の受光素子（６４）と、
前記受光素子で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記物体までの距離を算出する算出部（９２４）と、を備える、
光測距装置。
（形態２）
形態１に記載の光測距装置であって、
第一発光側レンズ（４６６ｐ，４６６ｓ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ１）と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ（４６６ｑ，４６６ｔ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
（形態３）
さらに、前記第一発光側レンズと前記第二発光側レンズとの間の距離が、前記第一発光側レンズの半径以下の距離である、形態２に記載の光測距装置。
（形態４）
形態１から形態３までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子は、同一平面上の予め定められた発光範囲（ＤＡ）に配列され、
前記複数の受光素子は、同一平面上の予め定められた受光範囲（ＲＡ）に配列され、
前記受光範囲の面積は、前記発光範囲の面積よりも大きい、
光測距装置。
（形態５）
形態１から形態４までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備える、
光測距装置。
（形態６）
形態５に記載の光測距装置であって、
第一受光側レンズ（６６６ｐ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ１）と、前記第一受光側レンズに隣接する第二受光側レンズ（６６６ｑ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
（形態７）
さらに、前記第一受光側レンズと前記第二受光側レンズとの間の距離が、前記第一受光側レンズの半径以下の距離である、形態６に記載の光測距装置。
（形態８）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光と、前記発光側レンズアレイの移動とを交互に実行する、
光測距装置。
（形態９）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを移動させながら、前記発光素子を発光させる、
光測距装置。
（形態１０）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、奇数列と偶数列とを有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記奇数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子と、前記偶数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子とを交互に発光させる、
光測距装置。
（形態１１）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、複数の列を有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイの一端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子から、前記発光側レンズアレイの他端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子までを順次に発光させる、
光測距装置。
（形態１２）
形態８から形態１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが離れる位置に移動する場合には、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが一致する場合よりも前記発光素子による発光回数を増加させる、
光測距装置。
（形態１３）
形態８から形態１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備え、
前記制御部は、
さらに、前記受光側走査部を制御可能であり、
前記発光側走査部と、前記受光側走査部とを互いに同期して制御する、
光測距装置。
（形態１４）
形態１から形態１３までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子、前記発光側走査部、および前記複数の受光素子を収容する筐体（８０）を備え、
前記複数の発光素子および前記複数の受光素子は、熱伝導材料を用いて前記筐体に固定される、
光測距装置。
本開示の特徴を以下の通り示す。
（形態１）
光測距装置（１００，１００ｂ）であって、
パルス光（ＤＬ）を発光する複数の発光素子（４４）と、
前記複数の発光素子のそれぞれに対応する複数の発光側レンズ（４６６）を同一平面上に配列して備える発光側レンズアレイ（４６４）、および前記発光側レンズアレイを移動させる発光側駆動部（４６２）を含み、前記パルス光を走査する発光側走査部（４６）と、
物体（ＯＢ）によって反射された前記パルス光の反射光（ＲＬ）を受光する複数の受光素子（６４）と、
前記受光素子で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記物体までの距離を算出する算出部（９２４）と、を備える、
光測距装置。
（形態２）
形態１に記載の光測距装置であって、
第一発光側レンズ（４６６ｐ，４６６ｓ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ１）と、前記第一発光側レンズに隣接する第二発光側レンズ（４６６ｑ，４６６ｔ）によって形成されるパルス光の照射範囲（Ｈ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
（形態３）
さらに、前記第一発光側レンズと前記第二発光側レンズとの間の距離が、前記第一発光側レンズの半径以下の距離である、形態２に記載の光測距装置。
（形態４）
形態１から形態３までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子は、同一平面上の予め定められた発光範囲（ＤＡ）に配列され、
前記複数の受光素子は、同一平面上の予め定められた受光範囲（ＲＡ）に配列され、
前記受光範囲の面積は、前記発光範囲の面積よりも大きい、
光測距装置。
（形態５）
形態１から形態４までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備える、
光測距装置。
（形態６）
形態５に記載の光測距装置であって、
第一受光側レンズ（６６６ｐ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ１）と、前記第一受光側レンズに隣接する第二受光側レンズ（６６６ｑ）によって形成される反射光の受光範囲（ＨＲ２）とが互いに接するように構成されている、
光測距装置。
（形態７）
さらに、前記第一受光側レンズと前記第二受光側レンズとの間の距離が、前記第一受光側レンズの半径以下の距離である、形態６に記載の光測距装置。
（形態８）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光と、前記発光側レンズアレイの移動とを交互に実行する、
光測距装置。
（形態９）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを移動させながら、前記発光素子を発光させる、
光測距装置。
（形態１０）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、奇数列と偶数列とを有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記奇数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子と、前記偶数列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子とを交互に発光させる、
光測距装置。
（形態１１）
形態１から形態７までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
さらに、前記発光素子および前記発光側走査部を制御可能な制御部（９２２）を備え、
前記複数の発光側レンズは、複数の列を有する格子状に配列され、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイの一端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子から、前記発光側レンズアレイの他端に近い列に属する発光側レンズに対応する前記発光素子までを順次に発光させる、
光測距装置。
（形態１２）
形態８から形態１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記制御部は、前記発光側レンズアレイを、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが離れる位置に移動する場合には、前記発光側レンズの光軸と、前記発光側レンズに対応する前記発光素子からのパルス光の光軸とが一致する場合よりも前記発光素子による発光回数を増加させる、
光測距装置。
（形態１３）
形態８から形態１１までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
さらに、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する複数の受光側レンズ（６６６）を同一平面上に配列して備える受光側レンズアレイ（６６４）、および前記受光側レンズアレイを移動させる受光側駆動部（６６２）を含む受光側走査部（６６）を備え、
前記制御部は、
さらに、前記受光側走査部を制御可能であり、
前記発光側走査部と、前記受光側走査部とを互いに同期して制御する、
光測距装置。
（形態１４）
形態１から形態１３までのいずれか一つに記載の光測距装置であって、
前記複数の発光素子、前記発光側走査部、および前記複数の受光素子を収容する筐体（８０）を備え、
前記複数の発光素子および前記複数の受光素子は、熱伝導材料を用いて前記筐体に固定される、
光測距装置。
【符号の説明】
【0074】
４４…発光素子、４６…発光側走査部、６４…受光素子、１００，１００ｂ…光測距装置、４６２…発光側駆動部、４６４…発光側レンズアレイ、４６６…発光側レンズ、９２４…算出部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】