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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024120721
(43)【公開日】2024-09-05
(54)【発明の名称】画像読取装置
(51)【国際特許分類】
H04N 1/191 20060101AFI20240829BHJP
H04N 1/04 20060101ALI20240829BHJP
【ＦＩ】
H04N1/191
H04N1/12 Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】13
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023027727
(22)【出願日】2023-02-24
(71)【出願人】
【識別番号】000005267
【氏名又は名称】ブラザー工業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100129643
【弁理士】
【氏名又は名称】皆川 祐一
(72)【発明者】
【氏名】前田 隆志
【テーマコード（参考）】
5C072
【Ｆターム（参考）】
5C072BA15
5C072BA20
5C072CA05
5C072CA07
5C072DA03
5C072DA25
5C072EA07
5C072FB25
5C072NA01
5C072NA04
5C072QA11
5C072RA06
5C072RA10
5C072RA16
5C072UA06
5C072UA07
5C072UA11
5C072UA13
5C072UA14
5C072UA17
5C072UA18
5C072VA03
5C072VA05
5C072XA01
(57)【要約】
【課題】画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物の検出レベルを変更可能な画像読取装置を提供する。
【解決手段】読取ガラス（２５）と、前記読取ガラス（２５）上の原稿（ＧＳ）を読み取り、画像データを出力する画像読取センサ（３１）と、前記画像データに画像不良を発生させる異物を検出する際に用いる検出レベルであって、互いに異なる複数の前記検出レベルを記憶する記憶装置（４２）と、を備えるように構成する。
【選択図】図４
【解決手段】読取ガラス（２５）と、前記読取ガラス（２５）上の原稿（ＧＳ）を読み取り、画像データを出力する画像読取センサ（３１）と、前記画像データに画像不良を発生させる異物を検出する際に用いる検出レベルであって、互いに異なる複数の前記検出レベルを記憶する記憶装置（４２）と、を備えるように構成する。
【選択図】図４
【特許請求の範囲】
【請求項1】
読取ガラスと、
前記読取ガラス上の原稿を読み取り、画像データを出力する画像読取センサと、
前記画像データに画像不良を発生させる異物を検出する際に用いる検出レベルであって、互いに異なる複数の前記検出レベルを記憶する記憶装置と、
を備えることを特徴とする画像読取装置。
前記読取ガラス上の原稿を読み取り、画像データを出力する画像読取センサと、
前記画像データに画像不良を発生させる異物を検出する際に用いる検出レベルであって、互いに異なる複数の前記検出レベルを記憶する記憶装置と、
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項2】
コントローラをさらに備え、
前記コントローラは、
複数の前記検出レベルのうち、いずれかを設定する設定処理と、
前記設定処理にて設定された前記検出レベルに基づき、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された画像データから、前記異物を検出する検出処理と、
を実行することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
複数の前記検出レベルのうち、いずれかを設定する設定処理と、
前記設定処理にて設定された前記検出レベルに基づき、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された画像データから、前記異物を検出する検出処理と、
を実行することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項3】
報知部または通信部をさらに備え、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記異物を検出した場合は、前記報知部または前記通信部を介して、前記異物の存在を通知する通知処理を、
実行することを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記異物を検出した場合は、前記報知部または前記通信部を介して、前記異物の存在を通知する通知処理を、
実行することを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項4】
複数の前記検出レベルは、複数の前記検出レベル毎に、輝度値に関する閾値である互いに異なる第１閾値を含み、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項5】
複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、画素数に関する閾値であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる第２閾値と、を含み、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下の連続する画素数が、前記第２閾値以上である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下の連続する画素数が、前記第２閾値以上である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項6】
複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、輝度値が前記第１閾値以下となる許容回数に関する閾値であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる第３閾値と、を含み、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下となる回数が、前記第３閾値以上である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下となる回数が、前記第３閾値以上である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項7】
前記画像読取センサは、受光した光を検出する素子が主走査方向に複数並んで配置され、
複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、前記画像読取センサの前記主走査方向にて設定され、複数の前記素子から出力された画像データから前記異物を検出する範囲であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる検出範囲と、を含み、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサの前記検出範囲の前記素子から出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、前記画像読取センサの前記主走査方向にて設定され、複数の前記素子から出力された画像データから前記異物を検出する範囲であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる検出範囲と、を含み、
前記コントローラは、
前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサの前記検出範囲の前記素子から出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項8】
複数の前記検出範囲は、
前記画像読取センサの前記主走査方向にて、前記素子が配置された中央部の範囲を含み、
前記検出範囲が前記主走査方向の前記中央部から両外側へ広くなるに従って、前記検出レベルが高くなる、
ことを特徴とする請求項７に記載の画像読取装置。
前記画像読取センサの前記主走査方向にて、前記素子が配置された中央部の範囲を含み、
前記検出範囲が前記主走査方向の前記中央部から両外側へ広くなるに従って、前記検出レベルが高くなる、
ことを特徴とする請求項７に記載の画像読取装置。
【請求項9】
前記検出レベルの選択を受け付ける受付装置をさらに備え、
前記コントローラは、
前記設定処理にて、前記受付装置を介して、選択された前記検出レベルを設定する、
ことを特徴とする請求項２から８のいずれか１項に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記設定処理にて、前記受付装置を介して、選択された前記検出レベルを設定する、
ことを特徴とする請求項２から８のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項10】
前記報知部はディスプレイを含み、
前記コントローラは、
前記通知処理にて、前記異物の存在を通知する通知画面を前記ディスプレイに表示した後、前記検出レベルの変更を受け付ける変更画面を前記ディスプレイに表示する、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記通知処理にて、前記異物の存在を通知する通知画面を前記ディスプレイに表示した後、前記検出レベルの変更を受け付ける変更画面を前記ディスプレイに表示する、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項11】
前記報知部はディスプレイを含み、
前記コントローラは、
前記通知処理にて、前記ディスプレイを介して、前記検出レベルの選択を受け付ける、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記通知処理にて、前記ディスプレイを介して、前記検出レベルの選択を受け付ける、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項12】
前記通知処理は、前記異物の存在の通知に対して、清掃の要否を選択させる処理を含み、
前記コントローラは、
前記通知処理にて、清掃の不要が選択された場合、前記設定処理にて設定された前記検出レベルよりも所定レベル低い検出レベルに再設定する、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
前記コントローラは、
前記通知処理にて、清掃の不要が選択された場合、前記設定処理にて設定された前記検出レベルよりも所定レベル低い検出レベルに再設定する、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項13】
前記コントローラは、
前記原稿の画像の種別を取得する取得処理と、
前記取得処理にて取得した前記原稿の画像の種別が第１種別であるか否かを判定する判定処理と、
前記判定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別であると判定した場合は、前記設定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別とは異なる第２種別の画像に設定される第１検出レベルよりも低い第２検出レベルに前記検出レベルを設定する、
ことを特徴とする請求項２から８のいずれか１項に記載の画像読取装置。
前記原稿の画像の種別を取得する取得処理と、
前記取得処理にて取得した前記原稿の画像の種別が第１種別であるか否かを判定する判定処理と、
前記判定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別であると判定した場合は、前記設定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別とは異なる第２種別の画像に設定される第１検出レベルよりも低い第２検出レベルに前記検出レベルを設定する、
ことを特徴とする請求項２から８のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、画像読取装置に関する。
【背景技術】
【0002】
画像読取装置では、読取ガラス上の原稿読取位置にゴミや汚れなどの異物が付着している場合、その位置に対応した読取画像にスジ等の画像不良が発生する。このスジ等の画像不良発生の解決手段として、特許文献１には、読取ガラス上の異物を検出した時に、異物検知メッセージと共に、検出された異物の位置を操作パネルに表示して、ユーザによる清掃を補助する構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２０１４－１４３４８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献１に記載された画像読取装置では、常に一定の条件を満たす場合に、異物を検出する。このため、ユーザが所望する異物の検出レベル、或いは、原稿の種類に適した異物の検出レベルがそれぞれ違っていても、それぞれの異物の検出レベルに対応させることができなかった。
【0005】
本開示は、上述の問題点を鑑みたものであり、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物の検出レベルを変更可能な画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の課題を解決するために、本開示の第１態様の画像読取装置では、読取ガラスと、前記読取ガラス上の原稿を読み取り、画像データを出力する画像読取センサと、前記画像データに画像不良を発生させる異物を検出する際に用いる検出レベルであって、互いに異なる複数の前記検出レベルを記憶する記憶装置と、を備える構成である。
【0007】
上記の構成によれば、画像読取センサから出力された画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を検出する際に、記憶装置に記憶している互いに異なる複数の検出レベルのうち、ユーザが所望する異物の検出レベル、或いは、原稿の種類に適した異物の検出レベルを用いることが可能となる。
【0008】
第２態様は、第１の態様の画像読取装置であって、コントローラをさらに備え、前記コントローラは、複数の前記検出レベルのうち、いずれかを設定する設定処理と、前記設定処理にて設定された前記検出レベルに基づき、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された画像データから、前記異物を検出する検出処理と、を実行するようにしてもよい。
【0009】
上記の構成によれば、コントローラは、設定された検出レベルに基づいて、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を検出する。これにより、ユーザが所望する異物の検出レベル、或いは、原稿の種類に適した異物の検出レベルを設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0010】
第３態様は、第２の態様の画像読取装置であって、報知部または通信部をさらに備え、前記コントローラは、前記検出処理にて、前記異物を検出した場合は、前記報知部または前記通信部を介して、前記異物の存在を通知する通知処理を、実行するようにしてもよい。上記の構成によれば、コントローラは、ディスプレイなどの報知部を介して異物の存在をユーザに対して通知する。または、コントローラは、通信部を介して外部のＰＣ等の装置に異物の存在を通知する。これにより、ユーザは、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物が付着した旨を容易に認識できる。
【0011】
第４態様は、第２の態様の画像読取装置であって、複数の前記検出レベルは、複数の前記検出レベル毎に、輝度値に関する閾値である互いに異なる第１閾値を含み、前記コントローラは、前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定するようにしてもよい。
【0012】
上記の構成によれば、コントローラは、読取ガラス上に原稿がない状態にて、画像読取センサから出力された画像データの輝度値が、第１閾値以下である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、異物がないときの輝度値に近い第１閾値を設定することによって、異物を検出する検出レベルを上げることができる。従って、ユーザが所望する第１閾値、或いは、原稿の種類に適した第１閾値を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0013】
第５態様は、第２の態様の画像読取装置であって、複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、画素数に関する閾値であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる第２閾値と、を含み、前記コントローラは、前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下の連続する画素数が、前記第２閾値以上である場合に、前記異物があると判定するようにしてもよい。
【0014】
上記の構成によれば、コントローラは、読取ガラス上に原稿がない状態にて、画像読取センサから出力された画像データの輝度値が第１閾値以下の連続する画素数が、第２閾値以上である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、第２閾値の画素数に応じて異物の検出レベルを変更することができる。例えば、小さな異物の場合は、輝度値が第１閾値以下の連続する画素数が少なくなり、大きな異物の場合は、輝度値が第１閾値以下の連続する画素数が多くなる。
【0015】
その結果、第２閾値として設定される画素数が少ない場合、コントローラは、小さな異物を検出することができる。一方、第２閾値として設定される画素数が多い場合、第２閾値として設定される画素数が少ない場合に比べて、コントローラが検出できる異物は大きくなる。つまり、第２閾値として設定される画素数に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する第２閾値、或いは、原稿の種類に適した第２閾値を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0016】
第６態様は、第２の態様の画像読取装置であって、複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、輝度値が前記第１閾値以下となる許容回数に関する閾値であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる第３閾値と、を含み、前記コントローラは、前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサから出力された前記画像データの輝度値が前記第１閾値以下となる回数が、前記第３閾値以上である場合に、前記異物があると判定するようにしてもよい。
【0017】
上記の構成によれば、コントローラは、読取ガラス上に原稿がない状態にて、画像読取センサから出力された画像データの輝度値が第１閾値以下となる回数が、第３閾値以上である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、画像データの輝度値が第１閾値以下となる第３閾値の回数に応じて異物の検出レベルを変更することができる。
【0018】
例えば、第３閾値として設定される許容回数が１回である場合、１回でも画像データの輝度値が第１閾値以下となる輝度値を検出すると異物があると判定する。また、例えば、第３閾値として設定される許容回数が３回である場合、画像データの輝度値が第１閾値以下となる輝度値を１回検出しただけでは、異物があると判定しない。つまり、第３閾値として設定される許容回数に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する第３閾値、或いは、原稿の種類に適した第３閾値を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0019】
第７態様は、第２の態様の画像読取装置であって、前記画像読取センサは、受光した光を検出する素子が主走査方向に複数並んで配置され、複数の前記検出レベルは、輝度値に関する閾値である第１閾値と、前記画像読取センサの前記主走査方向にて設定され、複数の前記素子から出力された画像データから前記異物を検出する範囲であって、複数の前記検出レベル毎に、互いに異なる検出範囲と、を含み、前記コントローラは、前記検出処理にて、前記読取ガラス上に前記原稿がない状態にて、前記画像読取センサの前記検出範囲の前記素子から出力された前記画像データの輝度値が、前記第１閾値以下である場合に、前記異物があると判定するようにしてもよい。
【0020】
上記の構成によれば、コントローラは、読取ガラス上に原稿がない状態にて、画像読取センサの検出範囲の素子から出力された画像データの輝度値が、第１閾値以下である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、設定される検出範囲に応じて異物の検出レベルを変更することができる。例えば、検出範囲を画像読取センサの主走査方向の全長に亘って設定した場合、画像読取センサの全画素のうち、１個でも輝度値が第１閾値以下の画素を検出すると異物があると判定する。
【0021】
また、例えば、検出範囲を画像読取センサの主走査方向の一部分の範囲に設定した場合は、一部分の範囲内に１個でも輝度値が第１閾値以下の画素を検出すると異物があると判定する。しかし、一部分の範囲の外側に１個でも輝度値が第１閾値以下の画素があっても、一部分の範囲内に輝度値が第１閾値以下の画素がない場合は、異物があると判定しない。つまり、設定される検出範囲に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する検出範囲、或いは、原稿の種類に適した検出範囲を設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0022】
第８態様は、第７の態様の画像読取装置であって、複数の前記検出範囲は、前記画像読取センサの前記主走査方向にて、前記素子が配置された中央部の範囲を含み、前記検出範囲が前記主走査方向の前記中央部から両外側へ広くなるに従って、前記検出レベルが高くなるようにしてもよい。
【0023】
上記構成によれば、原稿は、画像読取センサの主走査方向の中央部を中心に、主走査方向に対して直交する副走査方向に搬送される。このため、検出範囲が、画像読取センサの主走査方向の中央部から両外側へ広くなるに従って、異物を検出する検出レベルが高くなる。これにより、ユーザが所望する検出範囲、或いは、原稿の種類に適した検出範囲を設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0024】
第９態様は、第２の態様から第８の態様のいずれか一の態様の画像読取装置であって、前記検出レベルの選択を受け付ける受付装置をさらに備え、前記コントローラは、前記設定処理にて、前記受付装置を介して、選択された前記検出レベルを設定するようにしてもよい。上記構成によれば、ユーザは、受付装置を介して望む検出レベルを設定することができる。
【0025】
第１０態様は、第３の態様の画像読取装置であって、前記報知部はディスプレイを含み、前記コントローラは、前記通知処理にて、前記異物の存在を通知する通知画面を前記ディスプレイに表示した後、前記検出レベルの変更を受け付ける変更画面を前記ディスプレイに表示するようにしてもよい。上記構成によれば、ユーザは、ディスプレイに表示された通知画面を介して読取ガラス上の異物の存在を確認できる。その後に、ユーザは、ディスプレイに表示された変更画面を介してユーザの望む検出レベルに変更することができる。
【0026】
第１１態様は、第３の態様の画像読取装置であって、前記報知部はディスプレイを含み、前記コントローラは、前記通知処理にて、前記ディスプレイを介して、前記検出レベルの選択を受け付けるようにしてもよい。上記構成によれば、ユーザは、異物の存在を通知する画面から、異物を検出する検出レベルの設定をユーザの望む検出レベルに変更することができる。
【0027】
第１２態様は、第３の態様の画像読取装置であって、前記通知処理は、前記異物の存在の通知に対して、清掃の要否を選択させる処理を含み、前記コントローラは、前記通知処理にて、清掃の不要が選択された場合、前記設定処理にて設定された前記検出レベルよりも所定レベル低い検出レベルに再設定するようにしてもよい。上記構成によれば、ユーザは、異物の存在を通知する画面にて、異物の清掃が不要である旨を選択することによって、異物の検出レベルを自動で下げることができる。
【0028】
第１３態様は、第２の態様から第８の態様のいずれか一の態様の画像読取装置であって、前記コントローラは、前記原稿の画像の種別を取得する取得処理と、前記取得処理にて取得した前記原稿の画像の種別が第１種別であるか否かを判定する判定処理と、前記判定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別であると判定した場合は、前記設定処理にて、前記原稿の画像の種別が前記第１種別とは異なる第２種別の画像に設定される第１検出レベルよりも低い第２検出レベルに前記検出レベルを設定するようにしてもよい。
【0029】
上記構成によれば、コントローラは、原稿の画像の種別が、第１種別の場合には、原稿の画像の種別が、第２種別の際に設定される第１検出レベルよりも低い第２検出レベルに検出レベルを設定する。従って、第１種別の原稿の場合には、第２種別の原稿の場合よりも、異物を検出するための検出レベルを自動的に下げることができる。
【発明の効果】
【0030】
本開示の一態様によれば、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物の検出レベルを変更可能な画像読取装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0031】
【図1】実施形態１に係る画像読取装置の内部構成の概略を示す断面図である。
【図4】実施形態１に係る画像読取装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図5】実施形態１に係るコントローラが実行する清掃メイン処理の一例を示すフローチャートである。
【図8】読取ガラス上に異物がある際に、画像読取センサの出力波形の一例を示す図である。
【図9】実施形態１に係る清掃指示画面の一例を示す図である。
【図11】実施形態１に係る検出レベル設定画面の一例を示す図である。
【図12】実施形態２に係るコントローラが実行する異物検出処理２のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
【図13】読取ガラス上に異物がある際に、画像読取センサの出力波形と画素数との対応の一例を示す図である。
【図14】実施形態２に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【図15】実施形態３に係るコントローラが実行する異物検出処理３のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
【図16】読取ガラス上に異物がある際に、画像読取センサの出力波形の一例を示す図である。
【図17】実施形態３に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【図18】実施形態４に係るコントローラが実行する異物検出処理４のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
【図19】画像読取センサの異物の検出範囲の一例を示す図である。
【図20】実施形態４に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【図21】実施形態５に係るコントローラが実行する清掃判定処理２のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
【図22】実施形態５に係る清掃指示画面の一例を示す図である。
【図23】実施形態６に係るコントローラが実行する第２清掃メイン処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0032】
［実施形態１］
［画像読取装置１の概略構成］
以下、本開示の実施形態１に係る画像読取装置１の概略構成について図１～図４に基づいて説明する。図１は、実施形態１に係る画像読取装置１の内部構成の概略を示す断面図である。図２は、図１の読取部２４の構成を拡大して示す図である。図３は、図２の画像読取センサ３１の構成を示すブロック図である。なお、図１において、上下方向および前後方向は矢印により示される。搬送方向ＦＤは、図１および図２において、矢印ＦＤにより示される。主走査方向ＭＤは、図１および図２において、紙面に対して垂直な方向ＭＤであり、図３において、矢印ＭＤにより示される。
［画像読取装置１の概略構成］
以下、本開示の実施形態１に係る画像読取装置１の概略構成について図１～図４に基づいて説明する。図１は、実施形態１に係る画像読取装置１の内部構成の概略を示す断面図である。図２は、図１の読取部２４の構成を拡大して示す図である。図３は、図２の画像読取センサ３１の構成を示すブロック図である。なお、図１において、上下方向および前後方向は矢印により示される。搬送方向ＦＤは、図１および図２において、矢印ＦＤにより示される。主走査方向ＭＤは、図１および図２において、紙面に対して垂直な方向ＭＤであり、図３において、矢印ＭＤにより示される。
【0033】
図１に示すように、画像読取装置１は、給紙トレイ２と、本体部３と、排紙トレイ４とを備える。操作部５、およびディスプレイ６が、本体部３の上方へ回動可能に設けられたメインカバー７の上面に配置される。操作部５は、電源スイッチ、および各種設定ボタンを含み、使用者からの操作指令等を受け付ける。例えば、操作部５は、読取動作の開始を指示する開始ボタンなどを含む。ディスプレイ６は、ＬＣＤを含み、画像読取装置１の状況を表示する。原稿ＧＳは、給紙トレイ２の支持面の主走査方向ＭＤの中央位置と、原稿ＧＳの主走査方向ＭＤの中央位置とが一致するように載置される。
【0034】
搬送経路２０が、本体部３の内部に形成される。給紙トレイ２に支持された原稿ＧＳは、搬送経路２０に沿って搬送方向ＦＤに搬送され、排紙トレイ４に排出される。給紙ローラ２１と、分離パッド２２と、一対の上流側搬送ローラ２３と、読取部２４と、読取ガラス２５と、一対の下流側搬送ローラ２６とが、搬送経路２０に沿って配置される。
【0035】
給紙ローラ２１は、分離パッド２２と協働して、複数枚の原稿ＧＳを、１枚ずつ給送する。給紙ローラ２１、上流側搬送ローラ２３、および下流側搬送ローラ２６は、搬送モータＭＴ（図４参照）により駆動される。読取ガラス２５は、光透過性を有し、搬送経路２０の下側において搬送経路２０に沿って配置される。各搬送ローラ２３、２６は、搬送経路２０において主走査方向の中央位置に配置され、給紙ローラ２１から給送された原稿ＧＳが所定の間隔で読取ガラス２５の上を通過するように原稿ＧＳを搬送する。
【0036】
本実施形態１では、原稿ＧＳの読み取り面が給紙トレイ２の支持面に向くように原稿ＧＳが給紙トレイ２に支持される。読取部２４は、搬送経路２０の下側に配置され、読取ガラス２５を通過する原稿ＧＳの読み取り面の画像を読み取る。原稿センサ２７が、給紙トレイ２に配置され、給紙トレイ２に原稿ＧＳが支持されたときにオンし、給紙トレイ２に原稿ＧＳが支持されていないときにオフするように構成される。
【0037】
［読取部２４の詳細な構成］
読取部２４の詳細な構成について図２および図３を参照して説明する。図２において、読取部２４は、光源３０と、画像読取センサ３１と、ロッドレンズアレイ３２とを備える。光源３０は、赤色、緑色、および青色の３色の発光ダイオードを含む。光源３０から出射された光が原稿ＧＳの読み取り面などにより反射されたときに、ロッドレンズアレイ３２は、反射光を画像読取センサ３１に結像する。本実施形態１において、３色の発光ダイオードが順次点灯することにより１ラインの原稿ＧＳの画像が読み取られる。光源３０は、３色の発光ダイオードが備えられた１チップの発光ダイオードと、発光ダイオードからの光を主走査方向ＭＤに導光する導光体とを含む。
読取部２４の詳細な構成について図２および図３を参照して説明する。図２において、読取部２４は、光源３０と、画像読取センサ３１と、ロッドレンズアレイ３２とを備える。光源３０は、赤色、緑色、および青色の３色の発光ダイオードを含む。光源３０から出射された光が原稿ＧＳの読み取り面などにより反射されたときに、ロッドレンズアレイ３２は、反射光を画像読取センサ３１に結像する。本実施形態１において、３色の発光ダイオードが順次点灯することにより１ラインの原稿ＧＳの画像が読み取られる。光源３０は、３色の発光ダイオードが備えられた１チップの発光ダイオードと、発光ダイオードからの光を主走査方向ＭＤに導光する導光体とを含む。
【0038】
白色基準板３４が、読取部２４と搬送経路２０を介して対向する位置に、配置される。白色基準板３４は、原稿ＧＳの背景色である白色と同じ反射率を有する。搬送経路２０に原稿ＧＳが存在しない場合に、光源３０からの出射光は、白色基準板３４により反射され、その反射光はロッドレンズアレイ３２を介して画像読取センサ３１により受光される。なお、白色基準板３４は必ずしも白色でなくてもよく、例えばグレーであってもよい。
【0039】
図３において、画像読取センサ３１は、主走査方向ＭＤに直線状に配列される１２個のセンサＩＣチップＣＨ１～ＣＨ１２（以下、チップＣＨ１～ＣＨ１２という）と、図示しないアナログシフトレジスタと、を有する。各チップＣＨ１～ＣＨ１２は、主走査方向ＭＤに複数の光電変換素子３３（素子）、例えば、２４８１個の光電変換素子３３（素子）を含む。なお、複数の光電変換素子３３は、２４８１個に限定されず、個数が多い程測定精度が向上する。各光電変換素子３３の受光量が電荷として蓄積され、その電荷が各画素の電気信号としてアナログシフトレジスタに出力される。
【0040】
アナログシフトレジスタは、光電変換素子３３と同数の画素の電気信号を蓄積できる。各光電変換素子３３とアナログシフトレジスタの各レジスタとがそれぞれ接続されている。アナログシフトレジスタから出力された電気信号は図示しない増幅器を介してアナログ信号として出力される。先頭画素は、主走査方向ＭＤの最上流の位置にあるチップＣＨ１内のチップＣＨ２と隣接していない側の端部にある先頭素子で読み取られる画素である。最終画素は、主走査方向ＭＤの最下流の位置にあるチップＣＨ１２内のチップＣＨ１１と隣接していない側の端部にある最終素子で読み取られる画素である。
【0041】
給紙トレイ２の支持面の主走査方向ＭＤの中央位置に対向する位置にある中央画素は、チップＣＨ７に含まれる、例えば、１２４１画素目の中央素子で読み取られる画素である。１ラインは、この先頭画素から最終画素までの画素で構成される画素群である。
【0042】
［画像読取装置１の電気的構成］
画像読取装置１の電気的構成について図４に基づいて説明する。図４は、実施形態１に係る画像読取装置１の電気的構成を示すブロック図である。図４に示すように、画像読取装置１は、コントローラ４０、デバイス制御部４５、アナログフロントエンド（以下、ＡＦＥという）４６、画像処理部４７、および駆動回路４８、通信部８を主な構成要素として備える。これらの構成要素は、バス４９を介して、操作部５、ディスプレイ６および原稿センサ２７に接続される。通信部８は、ＰＣ（Personal Computer）等と通信するための通信インタフェースの一例として機能する。
画像読取装置１の電気的構成について図４に基づいて説明する。図４は、実施形態１に係る画像読取装置１の電気的構成を示すブロック図である。図４に示すように、画像読取装置１は、コントローラ４０、デバイス制御部４５、アナログフロントエンド（以下、ＡＦＥという）４６、画像処理部４７、および駆動回路４８、通信部８を主な構成要素として備える。これらの構成要素は、バス４９を介して、操作部５、ディスプレイ６および原稿センサ２７に接続される。通信部８は、ＰＣ（Personal Computer）等と通信するための通信インタフェースの一例として機能する。
【0043】
コントローラ４０は、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３、フラッシュＲＯＭ４４を備えている。ＲＯＭ４２は、後述する清掃メイン処理、清掃メイン処理中のサブ処理など、画像読取装置１の各種動作を実行するためのプログラムを記憶する。ＣＰＵ４１は、ＲＯＭ４２から読み出されたプログラムに従って、各部の制御を行う。フラッシュＲＯＭ４４は、読み書き可能な不揮発性メモリであり、ＣＰＵ４１の制御処理により設定される各種のデータ、例えば初期化するときに使用する各データなどを記憶する。ＲＡＭ４３は、ＣＰＵ４１の制御処理により生成された算出結果などを一時的に記憶する。
【0044】
デバイス制御部４５は、読取部２４に接続され、コントローラ４０からの命令に基づいて、光源３０の点灯または消灯を制御する信号、および光源３０に流れる電流値を制御する信号を光源３０に送信する。また、デバイス制御部４５は、図３に示すように、コントローラ４０からの命令に基づいて、シリアルイン信号ＳＩおよびクロック信号ＣＬＫを画像読取センサ３１に送信する。
【0045】
シリアル信号ＳＩは、画像読取センサ３１の各チップＣＨ１～ＣＨ１２の多数の光電変換素子３３の電気信号を同時にアナログシフトレジスタの各レジスタに転送するための制御信号である。クロック信号ＣＬＫは、アナログシフトレジスタの電気信号を順番に１画素ずつ出力させるための制御信号である。読取部２４は、デバイス制御部４５からこれらの制御信号を受け取ると、光源３０を点灯させるとともに、画像読取センサ３１が受光した受光量に応じたアナログ信号をＡＦＥ４６に送信する。
【0046】
ＡＦＥ４６は、読取部２４に接続され、コントローラ４０からの命令に基づいて、読取部２４から送信されるアナログ信号をデジタルデータに変換する。ＡＦＥ４６は、予め定められた入力レンジおよび分解能を有する。例えば、分解能は、１０ビットであるならば「０」から「１０２３」の階調である。この場合に、ＡＦＥ４６は、読取部２４から送信されたアナログ信号をデジタルデータとして１０ビット（０～１０２３）の階調データに変換する。ＡＦＥ４６によって変換されたデジタルデータは、画像処理部４７に送信される。
【0047】
画像処理部４７は、画像処理用の専用ＩＣであるＡＳＩＣから構成され、デジタルデータに各種の画像処理を施す。画像処理は、ガンマ補正などの補正処理である。画像処理部４７は、画像処理をデジタルデータに施し、デジタル画像データを生成する。そのデジタル画像データは、バス４９を介してＲＡＭ４３に記憶される。
【0048】
駆動回路４８は、搬送モータＭＴに接続され、コントローラ４０から送信される駆動指令に基づいて搬送モータＭＴを駆動する。駆動回路４８は、駆動指令により指令された回転量および回転方向に従って搬送モータＭＴを回転させる。搬送モータＭＴが所定量だけ回転すると、給紙ローラ２１、および各搬送ローラ２３、２６が所定角度回転し、搬送経路２０において原稿ＧＳが所定距離だけ搬送される。
【0049】
［画像読取装置１の処理の流れ］
次に、画像読取装置１の読取ガラス２５上の異物検出時の処理の流れについて図５～図１１に基づいて説明する。図５は、電源が投入されている状態において、コントローラ４０が実行する清掃メイン処理の一例を示すフローチャートである。図５にフローチャートで示されるプログラムは、予めＲＯＭ４２に記憶されている。
次に、画像読取装置１の読取ガラス２５上の異物検出時の処理の流れについて図５～図１１に基づいて説明する。図５は、電源が投入されている状態において、コントローラ４０が実行する清掃メイン処理の一例を示すフローチャートである。図５にフローチャートで示されるプログラムは、予めＲＯＭ４２に記憶されている。
【0050】
図５に示すように、電源が投入されると、ステップＳ１１において、コントローラ４０は、読取ガラス２５または画像読取センサ３１の清掃が必要であるか否かを判定する清掃判定処理を実行した後、ステップＳ１２の処理に進む。なお、清掃判定処理の詳細は後述する。
【0051】
ステップＳ１２において、コントローラ４０は、操作部５を介してスキャン指示が入力されたか否かを判定する。そして、コントローラ４０は、操作部５を介してスキャン指示が入力されたと判定した場合は（Ｓ１２：ＹＥＳ）、ステップＳ１３の処理に進む。
【0052】
ステップＳ１３において、コントローラ４０は、給紙トレイ２に載置された原稿ＧＳを読み取るスキャン処理を実行した後、ステップＳ１４の処理に進む。ステップＳ１４において、コントローラ４０は、清掃判定処理を実行した後、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。
【0053】
一方、上記ステップＳ１２において、コントローラ４０は、操作部５を介してスキャン指示が入力されていないと判定した場合は（Ｓ１２：ＮＯ）、ステップＳ１５の処理に進む。ステップＳ１５において、コントローラ４０は、不図示のカバーセンサからの出力信号に基づき、メインカバー７がオープンされたか否かを判定する。そして、コントローラ４０は、メインカバー７がオープンされたと判定した場合は（Ｓ１５：ＹＥＳ）、ステップＳ１６の処理に進む。
【0054】
ステップＳ１６において、コントローラ４０は、カバーセンサからの出力信号に基づき、メインカバー７がクローズされたか否かを判定する。そして、コントローラ４０は、メインカバー７がクローズされていないと判定した場合は（Ｓ１６：ＮＯ）、再度ステップＳ１６の処理を実行する。一方、コントローラ４０は、メインカバー７がクローズされたと判定した場合は（Ｓ１６：ＹＥＳ）、ステップＳ１４の処理に進む。ステップＳ１４において、コントローラ４０は、清掃判定処理を実行した後、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。
【0055】
一方、上記ステップＳ１５において、コントローラ４０は、メインカバー７がオープンされていないと判定した場合は（Ｓ１５：ＮＯ）、ステップＳ１７の処理に進む。ステップＳ１７において、コントローラ４０は、読取ガラス２５上、または画像読取センサ３１上における、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルの設定を変更する変更指示が操作部５を介して入力されたか否かを判定する。
【0056】
そして、コントローラ４０は、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルの設定を変更する変更指示が操作部５を介して入力されていないと判定した場合は（Ｓ１７：ＮＯ）、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。一方、コントローラ４０は、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルの設定を変更する変更指示が操作部５を介して入力されたと判定した場合は（Ｓ１７：ＹＥＳ）、ステップＳ１８の処理に進む。
【0057】
ステップＳ１８において、コントローラ４０は、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルを変更する設定値変更処理を実行した後、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。なお、設定値変更処理の詳細は後述する。
【0058】
［清掃判定処理のサブ処理］
次に、図５に示す清掃判定処理（Ｓ１１）のサブ処理について図６～図９に基づいて説明する。図６は、上記ステップＳ１１およびステップＳ１４において、コントローラ４０が実行する清掃判定処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図７は、図６の異物検出処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図８は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形の一例を示す図である。図９は、清掃指示画面の一例を示す図である。
次に、図５に示す清掃判定処理（Ｓ１１）のサブ処理について図６～図９に基づいて説明する。図６は、上記ステップＳ１１およびステップＳ１４において、コントローラ４０が実行する清掃判定処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図７は、図６の異物検出処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図８は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形の一例を示す図である。図９は、清掃指示画面の一例を示す図である。
【0059】
図６に示すように、ステップＳ１１１において、コントローラ４０は、画像データの輝度値に関する閾値である第１閾値Ｔ１を取得する。ここで、図８に示すように、画像データの輝度値に関する閾値である第１閾値Ｔ１としては、例えば、低レベルの第１閾値Ｔ１１と、中レベルの第１閾値Ｔ１２と、高レベルの第１閾値Ｔ１３とが、予めＲＯＭ４２に記憶されている。そして、画像読取装置１の起動時には、画像データの輝度値に関する閾値として、中レベルの第１閾値Ｔ１２が設定されている。図６に戻り、ステップＳ１１１において、コントローラ４０は、第１閾値Ｔ１として中レベルの第１閾値Ｔ１２をＲＯＭ４２から読み出してＲＡＭ４３に記憶した後、ステップＳ１１２の処理に進む。
【0060】
ステップＳ１１２において、コントローラ４０は、読取ガラス２５上に原稿ＧＳが無い状態で、デバイス制御部４５を介して、光源３０を点灯して、画像読取センサ３１で読み取りを実行した後、ステップＳ１１３の処理に進む。これにより、コントローラ４０は、画像処理部４７を介して、画像読取センサ３１の各光電変換素子３３に対応する各画素（以下、「画素３３」ともいう。）の輝度値を取得することができる。
【0061】
ステップＳ１１３において、コントローラ４０は、異物検出処理を実行した後、ステップＳ１１４の処理に進む。ここで、異物検出処理のサブ処理について、図７に基づいて説明する。図７に示すように、ステップＳ２１１において、コントローラ４０は、各画素の輝度値を順に読み出し、輝度値が中レベルの第１閾値Ｔ１２以下の画素が存在するか否かを判定する。
【0062】
コントローラ４０は、輝度値が中レベルの第１閾値Ｔ１２以下の画素が存在すると判定した場合は（Ｓ２１１：ＹＥＳ）、ステップＳ２１２の処理に進む。例えば、図８に示すように、出力波形５１に、中レベルの第１閾値Ｔ１２以下の輝度値Ａ１が存在した場合は、ステップＳ２１２の処理に進む。
【0063】
ステップＳ２１２において、コントローラ４０は、ＲＡＭ４３から異物検出フラグを読み出して、オンに設定した後、再度ＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。なお、異物検出フラグは、画像読取装置１の起動時に、オフに設定されてＲＡＭ４３に記憶される。
【0064】
一方、コントローラ４０は、輝度値が中レベルの第１閾値Ｔ１２以下の画素が存在しないと判定した場合は（Ｓ２１１：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。従って、異物検出フラグはオフに設定された状態でＲＡＭ４３に記憶されている。
【0065】
次に、図６に示すように、ステップＳ１１４において、コントローラ４０は、異物検出フラグをＲＡＭ４３から読み出し、異物検出フラグがオンに設定されているか否かを判定する。つまり、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上に異物を検出したか否かを判定する。そして、コントローラ４０は、異物検出フラグがオフに設定されていると判定した場合、つまり、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上に異物を検出していないと判定した場合は（Ｓ１１４：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。
【0066】
一方、コントローラ４０は、異物検出フラグがオンに設定されていると判定した場合、つまり、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上に異物を検出したと判定した場合は（Ｓ１１４：ＹＥＳ）、ステップＳ１１５の処理に進む。ステップＳ１１５において、コントローラ４０は、読取ガラス２５または画像読取センサ３１に付着した異物の存在を通知して清掃を促す清掃指示画面をディスプレイ６に表示する。なお、コントローラ４０は、ＬＥＤなどの点灯によって、読取ガラス２５または画像読取センサ３１に付着した異物の存在を通知して清掃を促すようにしてもよい。ディスプレイ６またはＬＥＤは、報知部の一例として機能する。
【0067】
また、通信部８に外部のＰＣ（パーソナルコンピュータ）等が接続されている場合には、コントローラ４０は、読取ガラス２５または画像読取センサ３１に付着した異物の存在を通信部８を介して、外部のＰＣ等の装置に通知して清掃を促すようにしてもよい。例えば、コントローラ４０は、外部のＰＣ等の装置に、読取ガラス２５または画像読取センサ３１の清掃を促す清掃指示画面を表示するように通信部８を介して指示する。その後、コントローラ４０は、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。
【0068】
ここで、清掃指示画面の一例について図９に基づいて説明する。図９に示すように、コントローラ４０は、清掃指示画面５２をディスプレイ６に表示する。清掃指示画面５２には、例えば、読取ガラス２５の清掃を指示する旨と、読取ガラス２５のガラス面の汚れなどの検知レベルの変更を促す旨とが表示される。また、清掃指示画面５２には、読取ガラス２５のガラス面の汚れなどの検知レベルを変更するガラス面汚れ検知設定ボタン５２Ａと、清掃指示画面５２の表示を終了する閉じるボタン５２Ｂとが表示される。清掃指示画面５２は、通知画面の一例として機能する。
【0069】
そして、閉じるボタン５２Ｂがタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、清掃指示画面５２の表示が終了する。一方、ガラス面汚れ検知設定ボタン５２Ａがタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、ガラス面汚れ検知設定画面５３が表示される。ガラス面汚れ検知設定画面５３には、ガラス面汚れ検知ボタン５３Ａと、ガラス面汚れ検知レベル変更ボタン５３Ｂと、が表示される。
【0070】
ガラス面汚れ検知ボタン５３Ａがタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、ガラス面汚れ検知画面５４が表示される。ガラス面汚れ検知画面５４には、読取ガラス２５または画像読取センサ３１の汚れを検知するオンボタン５４Ａと、読取ガラス２５または画像読取センサ３１の汚れの検知を中止するオフボタン５４Ｂと、が表示される。つまり、ガラス面汚れ検知画面５４では、読取ガラス２５または画像読取センサ３１の汚れを検知する機能を継続して使用するか、当該機能を停止させるかを選択する画面である。
【0071】
一方、ガラス面汚れ検知レベル変更ボタン５３Ｂがタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、検知レベル変更画面５５が表示される。検知レベル変更画面５５は、上ボタン５５Ａと下ボタン５５Ｂとが表示される。ユーザは、上ボタン５５Ａまたは下ボタン５５Ｂを押下することによって、画像データの輝度値に関する閾値である中レベルの第１閾値Ｔ１２、高レベルの第１閾値Ｔ１３、低レベルの第１閾値Ｔ１１を順番に選択して、設定することができる。検知レベル変更画面５５は、変更画面の一例として機能する。
【0072】
［設定変更処理のサブ処理］
次に、図５に示す設定変更処理（Ｓ１８）のサブ処理について図１０および図１１に基づいて説明する。図１０は、設定値変更処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図１１は、検出レベル設定画面の一例を示す図である。
次に、図５に示す設定変更処理（Ｓ１８）のサブ処理について図１０および図１１に基づいて説明する。図１０は、設定値変更処理のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。図１１は、検出レベル設定画面の一例を示す図である。
【0073】
図１０に示すように、ステップＳ３１１において、コントローラ４０は、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルの設定画面をディスプレイ６に表示した後、ステップＳ３１２の処理に進む。例えば、図１１に示すように、コントローラ４０は、ディスプレイ６の画面の最上段に、「検出レベルを選択してください」と表示する。そして、コントローラ４０は、「検出レベルを選択してください」の表示の下側に、高レベル、中レベル、低レベルの各検出レベルを表示する。そして、コントローラ４０は、中レベルの第１閾値Ｔ１２が検出レベルとして設定されている場合には、中レベルの左側の白丸内に黒丸を表示して、現在設定されている検出レベルを報知する。
【0074】
ステップＳ３１２において、コントローラ４０は、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルの変更を受け付けた後、ステップＳ３１３の処理に進む。例えば、図１１に示すように、コントローラ４０は、高レベル、中レベル、低レベルの各検出レベルのうち、いずれかが押下された場合には、左側の白丸内に黒丸を表示する。その後、コントローラ４０は、ＯＫボタン５７が押下されると、白丸内に黒丸が表示された検出レベルを受け付ける。また、高レベル、中レベル、低レベルの各検出レベルのうち、いずれも押下されないで、ＯＫボタン５７が押下された場合には、コントローラ４０は、中レベルの検出レベルを受け付ける。
【0075】
ステップＳ３１３において、コントローラ４０は、ステップＳ３１２で受け付けた検出レベルを、画像不良を発生させる異物を検出する検出レベルとして、ＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。例えば、図１１に示す低レベルが選択されて、ＯＫボタン５７が押下された場合は、コントローラ４０は、低レベルの第１閾値Ｔ１３を検出レベルとして設定してＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。
【0076】
以上詳細に説明した通り、実施形態１に係る画像読取装置１では、コントローラ４０は、読取ガラス２５上に原稿がない状態にて、画像読取センサ３１から出力された画像データの輝度値が、例えば、中レベルの第１閾値Ｔ１２以下である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、異物がないときの輝度値に近い第１閾値Ｔ１を設定することによって、異物を検出する検出レベルを上げることができる。従って、ユーザが所望する第１閾値Ｔ１、或いは、原稿の種類に適した第１閾値Ｔ１を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0077】
［実施形態２］
次に、実施形態２について、図１２～図１４に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１２は、実施形態２に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理２の一例を示すサブフローチャートである。図１３は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形と画素数との対応の一例を示す図である。図１４は、実施形態２に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
次に、実施形態２について、図１２～図１４に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１２は、実施形態２に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理２の一例を示すサブフローチャートである。図１３は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形と画素数との対応の一例を示す図である。図１４は、実施形態２に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【0078】
本実施形態２では、コントローラ４０は、図６に示すステップＳ１１３において実行された異物検出処理のサブ処理の内容が実施形態１とは異なる。
【0079】
具体的には、ステップＳ１１３において、コントローラ４０は、異物検出処理のサブ処理として「異物検出処理２」を実行する。ここで、コントローラ４０が、上記ステップＳ１１３において実行する「異物検出処理２」について、図１２に示すサブフローチャートに基づいて説明する。
【0080】
図１２に示すように、ステップＳ４１１において、コントローラ４０は、各画素３３の輝度値を順に読み出し、画素３３の輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する画素数をカウントして、ＲＡＭ４３に記憶した後、ステップＳ４１２の処理に進む。例えば、図１３に示すように、コントローラ４０は、出力波形６１の輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する各画素３３Ａ１～３３Ａ４の４個と、各画素３３Ｂ１～３３Ｂ２の２個と、のそれぞれをカウントして、ＲＡＭ４３に記憶する。
【0081】
ステップＳ４１２において、コントローラ４０は、上記ステップＳ４１１においてカウントした輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する画素数うちの最大値を算出する。そして、この連続する画素数の最大値を最大の異物の大きさとする。また、コントローラ４０は、連続する画素数に関する閾値である第２閾値Ｔ２として、中レベルの第２閾値Ｔ２２をＲＯＭ４２から読み出す。そして、コントローラ４０は、この連続する画素数の最大値、つまり、最大の異物の大きさが、中レベルの第２閾値Ｔ２２以上の画素数であるか否かを判定する。
【0082】
ここで、図１４に示すように、連続する画素数に関する閾値である第２閾値Ｔ２としては、例えば、低レベルの第２閾値Ｔ２１と、中レベルの第２閾値Ｔ２２と、高レベルの第２閾値Ｔ２３とが、予めＲＯＭ４２に記憶されている。また、例えば、第２閾値Ｔ２１は、画素数が５［個］である。第２閾値Ｔ２２は、画素数が３［個］である。また、第２閾値Ｔ２３は、画素数が１［個］である。
【0083】
コントローラ４０は、連続する画素数の最大値、つまり、最大の異物の大きさが、中レベルの第２閾値Ｔ２２以上の画素数であると判定した場合は（Ｓ４１２：ＹＥＳ）、ステップＳ４１３の処理に進む。例えば、図１３に示すように、出力波形６１に、中レベルの第２閾値Ｔ２２以上、例えば３［個］以上の連続する画素３３Ａ１～３３Ａ４が存在した場合は、ステップＳ４１３の処理に進む。
【0084】
ステップＳ４１３において、コントローラ４０は、ＲＡＭ４３から異物検出フラグを読み出して、オンに設定した後、再度ＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。なお、異物検出フラグは、画像読取装置１の起動時に、オフに設定されてＲＡＭ４３に記憶される。
【0085】
一方、コントローラ４０は、連続する画素数の最大値、つまり、最大の異物の大きさが、中レベルの第２閾値Ｔ２２未満であると判定した場合は（Ｓ４１２：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。例えば、コントローラ４０は、連続する画素数の最大値、つまり、最大の異物の大きさが、画素数２［個］以下であると判定した場合は（Ｓ４１２：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。従って、異物検出フラグはオフに設定された状態でＲＡＭ４３に記憶されている。
【0086】
以上詳細に説明した通り、実施形態２に係る画像読取装置１では、コントローラ４０は、読取ガラス２５上に原稿がない状態にて、画像読取センサ３１から出力された画像データの輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する画素数が、第２閾値Ｔ２以上である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、第２閾値Ｔ２の画素数に応じて異物の検出レベルを変更することができる。例えば、小さな異物の場合は、輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する画素数が少なくなり、大きな異物の場合は、輝度値が第１閾値Ｔ１以下の連続する画素数が多くなる。
【0087】
その結果、第２閾値Ｔ２として設定される画素数が少ない場合、コントローラ４０は、小さな異物を検出することができる。一方、第２閾値Ｔ２として設定される画素数が多い場合、第２閾値Ｔ２として設定される画素数が少ない場合に比べて、コントローラ４０が検出できる異物は大きくなる。つまり、第２閾値Ｔ２として設定される画素数に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する第２閾値Ｔ２、或いは、原稿の種類に適した第２閾値Ｔ２を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0088】
［実施形態３］
次に、実施形態３について、図１５～図１７に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１５は、実施形態３に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理３の一例を示すサブフローチャートである。図１６は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形７１の一例を示す図である。図１７は、実施形態３に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
次に、実施形態３について、図１５～図１７に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１５は、実施形態３に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理３の一例を示すサブフローチャートである。図１６は、読取ガラス２５上に異物がある際に、画像読取センサ３１の出力波形７１の一例を示す図である。図１７は、実施形態３に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【0089】
本実施形態３では、コントローラ４０は、図６に示すステップＳ１１３において実行された異物検出処理のサブ処理の内容が、実施形態１とは異なる。
【0090】
具体的には、ステップＳ１１３において、コントローラ４０は、異物検出処理のサブ処理として「異物検出処理３」を実行する。ここで、コントローラ４０が、上記ステップＳ１１３において実行する「異物検出処理３」について、図１５に示すサブフローチャートに基づいて説明する。
【0091】
図１５に示すように、ステップＳ５１１において、コントローラ４０は、各画素の輝度値を順に読み出し、画素の輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数をカウントして、ＲＡＭ４３に記憶した後、ステップＳ５１２の処理に進む。例えば、図１６に示すように、コントローラ４０は、出力波形７１の輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数、つまり、第１閾値Ｔ１以下の最小の輝度値Ｐ１、Ｐ２となる回数として２［回］をカウントして、ＲＡＭ４３に記憶する。なお、ここでは第１閾値Ｔ１以下の最小の輝度値Ｐ１、Ｐ２となる回数をカウントすることにしているが、これに限るものではない。すなわち、第１閾値Ｔ１以下となる回数をカウントすればよく、最小の輝度値のみカウントする構成に限定されるものではない。
【0092】
ステップＳ５１２において、コントローラ４０は、画素の輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる許容回数に関する閾値である第３閾値Ｔ３として、中レベルの第３閾値Ｔ３２をＲＯＭ４２から読み出す。そして、コントローラ４０は、上記ステップＳ５１１でカウントした輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数が、中レベルの第３閾値Ｔ３２以上の回数であるか否かを判定する。
【0093】
ここで、図１７に示すように、画素の輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる許容回数に関する閾値である第３閾値Ｔ３としては、例えば、低レベルの第３閾値Ｔ３１と、中レベルの第３閾値Ｔ３２と、高レベルの第３閾値Ｔ３３とが、予めＲＯＭ４２に記憶されている。また、例えば、第３閾値Ｔ３１は、許容回数が４［回］である。第３閾値Ｔ３２は、許容回数が２［回］である。また、第３閾値Ｔ３３は、許容回数が１［回］である。
【0094】
コントローラ４０は、輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数が、中レベルの第３閾値Ｔ３２以上の回数であると判定した場合は（Ｓ５１２：ＹＥＳ）、ステップＳ５１３の処理に進む。例えば、図１６に示すように、出力波形７１に、輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数が、中レベルの第３閾値Ｔ３２以上、例えば２［回］以上である場合は（Ｓ５１２：ＹＥＳ）、ステップＳ５１３の処理に進む。
【0095】
ステップＳ５１３において、コントローラ４０は、ＲＡＭ４３から異物検出フラグを読み出して、オンに設定した後、再度ＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。なお、異物検出フラグは、画像読取装置１の起動時に、オフに設定されてＲＡＭ４３に記憶される。
【0096】
一方、コントローラ４０は、輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数が、中レベルの第３閾値Ｔ３２未満の回数であると判定した場合、例えば１［回］であると判定した場合は（Ｓ５１２：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。従って、異物検出フラグはオフに設定された状態でＲＡＭ４３に記憶されている。
【0097】
以上詳細に説明した通り、実施形態３に係る画像読取装置１では、コントローラ４０は、読取ガラス２５上に原稿がない状態にて、画像読取センサ３１から出力された画像データの輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる回数が、第３閾値Ｔ３以上である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、画像データの輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる第３閾値Ｔ３の回数に応じて異物の検出レベルを変更することができる。
【0098】
例えば、第３閾値Ｔ３として設定される許容回数が１回である場合、１回でも画像データの輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる輝度値を検出すると異物があると判定する。また、例えば、第３閾値Ｔ３として設定される許容回数が３回である場合、画像データの輝度値が第１閾値Ｔ１以下となる輝度値を１回検出しただけでは、異物があると判定しない。つまり、第３閾値Ｔ３として設定される許容回数に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する第３閾値Ｔ３、或いは、原稿の種類に適した第３閾値Ｔ３を検出レベルとして設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0099】
［実施形態４］
次に、実施形態４について、図１８～図２０に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１８は、実施形態４に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理４の一例を示すサブフローチャートである。図１９は、画像読取センサ３１の異物の検出範囲の一例を示す図である。図２０は、実施形態４に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
次に、実施形態４について、図１８～図２０に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図１８は、実施形態４に係るコントローラ４０が実行する異物検出処理４の一例を示すサブフローチャートである。図１９は、画像読取センサ３１の異物の検出範囲の一例を示す図である。図２０は、実施形態４に係る異物の検出レベルの一例を示す図である。
【0100】
本実施形態４では、コントローラ４０は、図６に示すステップＳ１１３において実行された異物検出処理のサブ処理の内容が、実施形態１とは異なる。
【0101】
具体的には、ステップＳ１１３において、コントローラ４０は、異物検出処理のサブ処理として「異物検出処理４」を実行する。ここで、コントローラ４０が、上記ステップＳ１１３において実行する「異物検出処理４」について、図１８に示すサブフローチャートに基づいて説明する。
【0102】
図１８に示すように、ステップＳ６１１において、コントローラ４０は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤに設定され、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を検出する検出範囲を設定する。
【0103】
ここで、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を検出する検出範囲について図１９および図２０に基づいて説明する。図１９および図２０に示すように、低レベルの検出範囲Ｔ４１は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの中央位置から両外側へそれぞれ約１／１０の部分であって、全長に対して約１／５の検出範囲である。中レベルの検出範囲Ｔ４２は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの中央位置から両外側へそれぞれ約３／１０の部分であって、全長に対して約３／５の検出範囲で、低レベルの検出範囲Ｔ４１を内側中央部に含んでいる。高レベルの検出範囲Ｔ４３は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの中央位置から両外側へそれぞれ約５／１０の部分であって、つまり、各端縁までの部分を含む検出範囲で、中レベルの検出範囲Ｔ４２を内側中央部に含んでいる。
【0104】
本実施形態４では、コントローラ４０は、上記検出範囲として、中レベルの検出範囲Ｔ４２をＲＡＭ４３に記憶する場合を考える。ステップＳ６１１において、コントローラ４０は、中レベルの検出範囲Ｔ４２をＲＡＭ４３に記憶した後、ステップＳ６１２の処理に進む。
【0105】
図１８に示すように、ステップＳ６１２において、コントローラ４０は、画像読取センサ３１の中レベルの検出範囲Ｔ４２内の光電変換素子に対応する各画素３３（図１３参照）の輝度値のうちに、第１閾値Ｔ１以下の輝度値が存在するか否かを判定する。そして、コントローラ４０は、画像読取センサ３１の中レベルの検出範囲Ｔ４２内の光電変換素子に対応する各画素３３の輝度値のうちに、第１閾値Ｔ１以下の輝度値が存在すると判定した場合は（Ｓ６１２：ＹＥＳ）、ステップＳ６１３の処理に進む。
【0106】
ステップＳ６１３において、コントローラ４０は、ＲＡＭ４３から異物検出フラグを読み出して、オンに設定した後、再度ＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。なお、異物検出フラグは、画像読取装置１の起動時に、オフに設定されてＲＡＭ４３に記憶される。
【0107】
一方、コントローラ４０は、画像読取センサ３１の中レベルの検出範囲Ｔ４２内の光電変換素子に対応する各画素３３の輝度値のうちに、第１閾値Ｔ１以下の輝度値が存在しないと判定した場合は（Ｓ６１２：ＮＯ）、当該サブ処理を終了する。そして、コントローラ４０は、清掃判定処理のサブ処理のステップＳ１１４の処理に進む。従って、異物検出フラグはオフに設定された状態でＲＡＭ４３に記憶されている。
【0108】
以上詳細に説明した通り、実施形態４に係る画像読取装置１では、コントローラ４０は、読取ガラス２５上に原稿がない状態にて、画像読取センサ３１の検出範囲Ｔ４の光電変換素子（素子）に対応する各画素３３の輝度値が、第１閾値以下である場合に、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物があると判定する。これにより、設定される検出範囲Ｔ４に応じて異物の検出レベルを変更することができる。例えば、高レベルの検出範囲Ｔ４３を画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの全長に亘って設定した場合、画像読取センサ３１の光電変換素子に対応する全画素３３のうち、１個でも輝度値が第１閾値Ｔ１以下の画素３３を検出すると異物があると判定する。
【0109】
また、例えば、検出範囲Ｔ４を画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一部分の範囲に設定した場合は、一部分の範囲内に１個でも輝度値が第１閾値以下の画素３３を検出すると異物があると判定する。しかし、一部分の範囲の外側に１個でも輝度値が第１閾値以下の画素３３があっても、一部分の範囲内に輝度値が第１閾値以下の画素３３がない場合は、異物があると判定しない。つまり、設定される検出範囲Ｔ４に応じて、異物を検出する検出レベルを変更することができる。従って、ユーザが所望する検出範囲Ｔ４、或いは、原稿の種類に適した検出範囲Ｔ４を設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0110】
原稿ＧＳは、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの中央部を中心に、主走査方向ＭＤに対して直交する副走査方向に搬送される。このため、検出範囲Ｔ４が、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの中央部から両外側へ広くなるに従って、異物を検出する検出レベルが高くなる。これにより、ユーザが所望する検出範囲Ｔ４、或いは、原稿ＧＳの種類に適した検出範囲Ｔ４を設定することによって、画像データにスジ等の画像不良を発生させる異物を状況に応じて適切に検出することができる。
【0111】
［実施形態５］
次に、実施形態５について、図２１および図２２に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図２１は、実施形態５に係るコントローラ４０が実行する清掃判定処理２の一例を示すサブフローチャートである。図２２は、実施形態５に係る清掃指示画面８１の一例を示す図である。
次に、実施形態５について、図２１および図２２に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図２１は、実施形態５に係るコントローラ４０が実行する清掃判定処理２の一例を示すサブフローチャートである。図２２は、実施形態５に係る清掃指示画面８１の一例を示す図である。
【0112】
本実施形態５では、コントローラ４０は、図５に示すステップＳ１１およびステップＳ１４において実行する清掃判定処理のサブ処理の内容が、実施形態１とは異なる。
【0113】
具体的には、ステップＳ７１１以降の処理が異なる。図２１に示すように、コントローラ４０は、ステップＳ１１１～ステップＳ１１４の処理を実行する。その後、ステップＳ１１４において、コントローラ４０は、異物検出フラグがオンに設定されていると判定した場合、つまり、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上に異物を検出したと判定した場合は（Ｓ１１４：ＹＥＳ）、ステップＳ７１１の処理に進む。ステップＳ７１１において、コントローラ４０は、ユーザに対して、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物の存在を通知して取り除くように指示する清掃指示画面８１をディスプレイ６に表示した後、ステップＳ７１２の処理に進む。
【0114】
ここで、清掃指示画面８１の一例について図２２に基づいて説明する。図２２に示すように、コントローラ４０は、ディスプレイ６の表示画面に、「ゴミを清掃して下さい」と表示して、ユーザに対して、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物の存在を通知して取り除くように指示する。また、コントローラ４０は、「ゴミを清掃して下さい」の表示の下側に、ＯＫボタン８２と清掃不要ボタン８３とを左右に並べて表示して、ユーザに対して、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の清掃の要否を問い合わせる。
【0115】
そして、ユーザがタッチパネル５Ａを介して、ＯＫボタン８２を押下した場合は、コントローラ４０は、ユーザが読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の清掃が必要であると判断したと判定する。一方、ユーザがタッチパネル５Ａを介して、清掃不要ボタン８３を押下した場合は、コントローラ４０は、ユーザが読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の清掃が不要であると判断したと判定する。
【0116】
ステップＳ７１２において、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベル、つまり、第１閾値Ｔ１を自動変更するか否かを判定する。具体的には、コントローラ４０は、清掃不要ボタン８３がタッチパネル５Ａを介して押下されたか否かにより、第１閾値Ｔ１を自動変更するか否かを判定する。
【0117】
そして、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを自動変更しないと判定した場合は（Ｓ７１２：ＮＯ）、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。例えば、コントローラ４０は、清掃指示画面８１のＯＫボタン８２がタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを自動変更しないと判定する。
【0118】
一方、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを自動変更すると判定した場合は（Ｓ７１２：ＹＥＳ）、ステップＳ７１３の処理に進む。例えば、コントローラ４０は、清掃指示画面８１の清掃不要ボタン８３がタッチパネル５Ａを介して押下された場合は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを自動変更すると判定する。
【0119】
ステップＳ７１３において、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを一段下げて、ＲＡＭ４３に記憶した後、ステップＳ７１４の処理に進む。例えば、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルが中レベルの第１閾値Ｔ１２の場合には、低レベルの第１閾値Ｔ１１に設定変更して、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出する検出レベルを一段下げる。
【0120】
ステップＳ７１４において、コントローラ４０は、上記ステップＳ７１３において、検出レベルを一段下げた検出レベルをＲＡＭ４３に記憶した後、当該サブ処理を終了して、清掃メイン処理に戻る。
【0121】
以上詳細に説明した通り、実施形態５に係る画像読取装置１では、ユーザは、異物の存在を通知して清掃を指示する清掃指示画面８１にて、異物の清掃が不要である旨を入力する清掃不要ボタン８３を押下（選択）する。これにより、コントローラ４０は、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物の検出レベルを中レベルの第１閾値Ｔ１２から低レベルの第１閾値Ｔ１１に自動で一段下げることができる。
【0122】
［実施形態６］
次に、実施形態６について、図２３および図２４に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図２３は、実施形態６に係るコントローラ４０が実行する第２清掃メイン処理を示すフローチャートである。図２４は、図２３の清掃判定処理３のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
次に、実施形態６について、図２３および図２４に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図２３は、実施形態６に係るコントローラ４０が実行する第２清掃メイン処理を示すフローチャートである。図２４は、図２３の清掃判定処理３のサブ処理の一例を示すサブフローチャートである。
【0123】
本実施形態６では、コントローラ４０は、図５に示す清掃メイン処理に替えて、図２３に示す第２清掃メイン処理を実行する点において、実施形態１とは異なる。実施形態６に係るコントローラ４０が実行する第２清掃メイン処理について図２３に基づいて説明する。
【0124】
［第２清掃メイン処理］
図２３に示すように、第２清掃メイン処理は、図５に示す清掃メイン処理にステップＳ８１１を追加している点が異なる。すなわち、上記ステップＳ１３において、コントローラ４０は、給紙トレイ２に載置された原稿ＧＳを読み取るスキャン処理を実行した後、ステップＳ８１１の処理に進む。そして、ステップＳ８１１において、コントローラ４０は、清掃判定処理３を実行した後、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。
図２３に示すように、第２清掃メイン処理は、図５に示す清掃メイン処理にステップＳ８１１を追加している点が異なる。すなわち、上記ステップＳ１３において、コントローラ４０は、給紙トレイ２に載置された原稿ＧＳを読み取るスキャン処理を実行した後、ステップＳ８１１の処理に進む。そして、ステップＳ８１１において、コントローラ４０は、清掃判定処理３を実行した後、再度、ステップＳ１２以降の処理を実行する。
【0125】
［清掃判定処理３］
次に、清掃判定処理３の詳細について図２４に基づいて説明する。図２４に示すように、コントローラ４０は、上記ステップＳ１１１の処理（図６参照）を実行した後、ステップＳ９１１の処理に進む。ステップＳ９１１において、コントローラ４０は、上記ステップＳ１３においてスキャンした原稿ＧＳの画像解析、または、読取部２４の読取設定値に基づいて、原稿ＧＳの画像の種別が第１種別であるか否かを判定する。画像の種別が第１種別とは、例えば、テキストデータがベースとなる画像である。
次に、清掃判定処理３の詳細について図２４に基づいて説明する。図２４に示すように、コントローラ４０は、上記ステップＳ１１１の処理（図６参照）を実行した後、ステップＳ９１１の処理に進む。ステップＳ９１１において、コントローラ４０は、上記ステップＳ１３においてスキャンした原稿ＧＳの画像解析、または、読取部２４の読取設定値に基づいて、原稿ＧＳの画像の種別が第１種別であるか否かを判定する。画像の種別が第１種別とは、例えば、テキストデータがベースとなる画像である。
【0126】
そして、コントローラ４０は、上記ステップＳ１３においてテキストデータがベースの原稿ＧＳをスキャンしたと判定した場合は（Ｓ９１１：ＹＥＳ）、ステップＳ９１２の処理に進む。ステップＳ９１２において、コントローラ４０は、上記ステップＳ１１１で第１閾値Ｔ１としてＲＡＭに記憶した中レベルの第１閾値Ｔ１２を読み出し、この第１閾値Ｔ１２よりも検出レベルが低い低レベルの第１閾値Ｔ１１（図８参照）をＲＯＭ４２から読み出す。そして、コントローラ４０は、中レベルの第１閾値Ｔ１２に替えて、低レベルの第１閾値Ｔ１１を第１閾値Ｔ１としてＲＡＭに記憶した後、上記ステップＳ１１２の処理に進む。
【0127】
一方、コントローラ４０は、上記ステップＳ１３においてテキストデータがベースの原稿ＧＳをスキャンしていない、つまり、原稿ＧＳの画像の種別が第１種別とは異なる第２種別であると判定した場合は（Ｓ９１１：ＮＯ）、上記ステップＳ１１２の処理に進む。画像の種別が第２種別とは、例えば、写真データがベースとなる画像である。その後、コントローラ４０は、上記ステップＳ１１２～ステップＳ１１５の処理を実行した後、当該サブ処理を終了して、第２清掃メイン処理に戻る。
【0128】
以上詳細に説明した通り、実施形態６に係る画像読取装置１では、コントローラ４０は、原稿ＧＳの画像の種別が、テキストベース（第１種別）の場合には、原稿ＧＳの画像の種別が、写真ベース（第２種別）の際に設定される中レベルの第１閾値Ｔ１２（第１検出レベル）よりも低い低レベルの第１閾値Ｔ１１（第２検出レベル）に検出レベルを設定する。従って、テキストデータがベース（第１種別）の原稿ＧＳの場合には、写真ベース（第２種別）の原稿ＧＳの場合よりも、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出するための検出レベルを自動的に下げることができる。
【0129】
［変形例１］
本発明の画像読取装置１は、プリンタ部を備えた複合機に適用されてもよい。また、画像読取装置１は、１つの読取部２４と、１つの白色基準板３４とが備えられる構成であるが、原稿ＧＳの両面を読み取るために、２つの読取部と、２つの白色基準板とが備えられる構成でもよい。
本発明の画像読取装置１は、プリンタ部を備えた複合機に適用されてもよい。また、画像読取装置１は、１つの読取部２４と、１つの白色基準板３４とが備えられる構成であるが、原稿ＧＳの両面を読み取るために、２つの読取部と、２つの白色基準板とが備えられる構成でもよい。
【0130】
［変形例２］
実施形態４において、例えば、低レベルの検出範囲Ｔ４１は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁側へ、全長に対して約１／５の部分を検出範囲としてもよい。また、中レベルの検出範囲Ｔ４２は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁側へ、全長に対して約３／５の部分を検出範囲として、低レベルの検出範囲Ｔ４１を一方に端縁側に含むようにしてもよい。また、高レベルの検出範囲Ｔ４３は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁までの全長に亘って検出範囲を設定し、中レベルの検出範囲Ｔ４２を一方に端縁側に含むようにしてもよい。
実施形態４において、例えば、低レベルの検出範囲Ｔ４１は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁側へ、全長に対して約１／５の部分を検出範囲としてもよい。また、中レベルの検出範囲Ｔ４２は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁側へ、全長に対して約３／５の部分を検出範囲として、低レベルの検出範囲Ｔ４１を一方に端縁側に含むようにしてもよい。また、高レベルの検出範囲Ｔ４３は、画像読取センサ３１の主走査方向ＭＤの一方の端縁から他方の端縁までの全長に亘って検出範囲を設定し、中レベルの検出範囲Ｔ４２を一方に端縁側に含むようにしてもよい。
【0131】
［変形例３］
実施形態６において、例えば、上記ステップＳ９１１において、コントローラ４０は、原稿ＧＳの画像の種別が第１種別とは異なる第２種別であると判定した場合は（Ｓ９１１：ＮＯ）、検出レベルを上げてもよい。
実施形態６において、例えば、上記ステップＳ９１１において、コントローラ４０は、原稿ＧＳの画像の種別が第１種別とは異なる第２種別であると判定した場合は（Ｓ９１１：ＮＯ）、検出レベルを上げてもよい。
【0132】
例えば、コントローラ４０は、上記ステップＳ１３において写真データがベースの原稿ＧＳをスキャンしたと判定した場合は（Ｓ９１１：ＮＯ）、上記ステップＳ１１１で第１閾値Ｔ１としてＲＡＭに記憶した中レベルの第１閾値Ｔ１２を読み出す。そして、コントローラ４０は、この第１閾値Ｔ１２よりも検出レベルが高い高レベルの第１閾値Ｔ１３（図８参照）をＲＯＭ４２から読み出す。
【0133】
そして、コントローラ４０は、中レベルの第１閾値Ｔ１２に替えて、高レベルの第１閾値Ｔ１３を第１閾値Ｔ１としてＲＡＭに記憶した後、上記ステップＳ１１２の処理に進むようにしてもよい。その後、コントローラ４０は、上記ステップＳ１１２～ステップＳ１１５の処理を実行した後、当該サブ処理を終了して、第２清掃メイン処理に戻るようにしてもよい。これにより、写真データがベース（第２種別）の原稿ＧＳの場合には、読取ガラス２５上または画像読取センサ３１上の異物を検出するための検出レベルを自動的に上げることができる。
【0134】
〔付記事項〕
本開示は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本開示の技術的範囲に含まれる。
本開示は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本開示の技術的範囲に含まれる。
【符号の説明】
【0135】
１ 画像読取装置、５ 操作部、５Ａ タッチパネル、６ ディスプレイ、８ 通信部、２５ 読取ガラス、３１ 画像読取センサ、３３ 光電変換素子（画素）、４０ コントローラ、４２ ＲＯＭ、４３ ＲＡＭ、ＧＳ 原稿
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】