(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024123403
(43)【公開日】2024-09-12
(54)【発明の名称】液体吐出ヘッドおよび液体吐出装置
(51)【国際特許分類】
B41J 2/14 20060101AFI20240905BHJP
H10N 30/06 20230101ALI20240905BHJP
H10N 30/87 20230101ALI20240905BHJP
H10N 30/20 20230101ALI20240905BHJP
【FI】
B41J2/14 305
B41J2/14 613
H10N30/06
H10N30/87
H10N30/20
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2023030797
(22)【出願日】2023-03-01
(71)【出願人】
【識別番号】000002369
【氏名又は名称】セイコーエプソン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100179475
【弁理士】
【氏名又は名称】仲井 智至
(74)【代理人】
【識別番号】100216253
【弁理士】
【氏名又は名称】松岡 宏紀
(74)【代理人】
【識別番号】100225901
【弁理士】
【氏名又は名称】今村 真之
(72)【発明者】
【氏名】御子柴 匡矩
(72)【発明者】
【氏名】▲高▼部 本規
【テーマコード(参考)】
2C057
【Fターム(参考)】
2C057AG37
2C057AG44
2C057AG52
2C057AG59
2C057AG92
2C057AG93
2C057BA04
2C057BA14
(57)【要約】
【課題】液体吐出ヘッドの吐出効率を向上させる。
【解決手段】液体吐出ヘッドは、第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、圧電素子の駆動により振動することにより、圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、圧力室基板、振動板および圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、圧電素子および振動板で構成される積層体の中立面は、圧電体層内に位置し、圧電体層を中立面により区分した2つの領域のうち、振動板に近いほうの領域を下部領域とし、振動板から遠いほうの領域を上部領域としたとき、下部領域の圧電定数は、上部領域の圧電定数よりも小さい。
【選択図】
図5
【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、
ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、
前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、
前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、
前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、
前記圧電体層を前記中立面により区分した2つの領域のうち、
前記振動板に近いほうの領域を下部領域とし、
前記振動板から遠いほうの領域を上部領域としたとき、
前記下部領域の圧電定数は、前記上部領域の圧電定数よりも小さい、
ことを特徴とする液体吐出ヘッド。
【請求項2】
前記圧力室は、前記積層方向にみて長手形状をなしており、
前記圧力室の短手方向での端は、前記積層方向にみて前記圧電体層に重ならない、
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項3】
前記下部領域の圧電定数は、前記上部領域の圧電定数の半分以下である、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項4】
前記圧電体層は、複数の層を有し、
前記複数の層のうち、
前記下部領域に含まれ、かつ、前記振動板に最も近い層を第1圧電体層とし、
前記上部領域に含まれ、かつ、前記振動板から最も遠い層を第2圧電体層としたとき、
前記第2圧電体層は、(100)面に優先配向した結晶で構成され、
前記第1圧電体層は、(100)面以外に優先配した結晶で構成される、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項5】
前記下部領域の厚さは、前記上部領域の厚さよりも薄い、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項6】
前記下部領域および前記上部領域は、互いに組成の異なる圧電材料で構成される、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項7】
前記下部領域の誘電率は、前記上部領域の誘電率よりも高い、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項8】
前記圧力室は、前記積層方向にみて長手形状をなし、
前記第1電極と前記圧電体層と前記第2電極とは、この順で前記積層方向に積層されており、
前記第2電極は、前記下部領域および前記上部領域のそれぞれの側面上に配置される部分を有する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
【請求項9】
第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、
ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、
前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、
前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、
前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、
前記圧電体層は、
(100)面以外に優先配向した結晶で構成される第1圧電体層と、
(100)面に優先配向した結晶で構成される第2圧電体層と、を含み、
前記第1圧電体層は、前記振動板と前記中立面との間に位置し、
前記中立面は、前記第1圧電体層と前記第2圧電体層との間に位置する、
ことを特徴とする液体吐出ヘッド。
【請求項10】
請求項1または9に記載の液体吐出ヘッドと、
前記液体吐出ヘッドの駆動を制御する制御部と、を備える、
ことを特徴とする液体吐出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、液体吐出ヘッドおよび液体吐出装置に関する。
【背景技術】
【0002】
ピエゾ方式のインクジェットプリンターに代表される液体吐出装置に用いる液体吐出ヘッドは、例えば、特許文献1に開示されるように、インク等の液体を吐出するノズルに連通する圧力室の壁面の一部を構成する振動板と、この振動板を振動させる圧電素子と、を有する。
【0003】
特許文献1では、振動板が圧力室の端部に対応する第1領域に肉厚部を有するとともに圧力室の中央部に対応する第2領域に厚肉部よりも薄い薄肉部を有することにより、振動板の第1領域および第2領域のそれぞれにおいて中立軸が適切な位置に設定される。これにより、圧電素子の駆動による振動板の変位量が増大する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、従来では、特許文献1に記載の技術を適用しようとしても、振動板の厚さを薄くすると、中立面が圧電体層内に位置してしまう。ここで、従来では、圧電素子の圧電体層の圧電定数が厚さ方向に一様であるため、中立面が圧電体層内に位置すると、圧電素子の駆動による振動板の変位効率が低下してしまう場合がある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
以上の課題を解決するために、本開示に係る液体吐出ヘッドの一態様は、第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、前記圧電体層を前記中立面により区分した2つの領域のうち、前記振動板に近いほうの領域を下部領域とし、前記振動板から遠いほうの領域を上部領域としたとき、前記下部領域の圧電定数は、前記上部領域の圧電定数よりも小さい。
【0007】
本開示に係る液体吐出ヘッドの他の一態様は、第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、前記圧電体層は、(100)面以外に優先配向した結晶で構成される第1圧電体層と、(100)面に優先配向した結晶で構成される第2圧電体層と、を含み、前記第1圧電体層は、前記振動板と前記中立面との間に位置し、前記中立面は、前記第1圧電体層と前記第2圧電体層との間に位置する。
【0008】
本開示に係る液体吐出装置の一態様は、前述の態様の液体吐出ヘッドと、前記液体吐出ヘッドの駆動を制御する制御部と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【
図1】実施形態に係る液体吐出装置を模式的に示す構成図である。
【
図2】実施形態に係る液体吐出ヘッドの分解斜視図である。
【
図4】実施形態に係る液体吐出ヘッドの一部を示す平面図である。
【
図6】圧電素子および振動板で構成される積層体の部分拡大断面図である。
【
図7】圧電体層下部の圧電定数を変化させたサンプルNO.1~18の条件と積層体の変形効率比との関係を示す図である。
【
図8】圧電体層下部の圧電定数比率と積層体の変形効率比との関係を示すグラフである。
【
図9】圧電体層下部の膜厚を変化させたサンプルNo.19~34の条件と積層体の変形効率比との関係を示す図である。
【
図10】圧電体層下部の膜厚比と積層体の変形効率比との関係を示すグラフである。
【
図11】変形例1に係る液体吐出ヘッドの断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、添付図面を参照しながら本開示に係る好適な実施形態を説明する。なお、図面において各部の寸法および縮尺は実際と適宜に異なり、理解を容易にするために模式的に示している部分もある。また、本開示の範囲は、以下の説明において特に本開示を限定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られない。
【0011】
なお、以下の説明は、互いに交差するX軸、Y軸およびZ軸を適宜に用いて行う。また、以下では、X軸に沿う一方向がX1方向であり、X1方向と反対の方向がX2方向である。同様に、Y軸に沿って互いに反対の方向がY1方向およびY2方向である。また、Z軸に沿って互いに反対の方向がZ1方向およびZ2方向である。Z1方向は、「積層方向」の一例である。また、Z軸に沿う方向でみることを「平面視」という場合がある。
【0012】
ここで、典型的には、Z軸が鉛直軸であり、Z2方向が鉛直下方に相当する。ただし、Z軸は、鉛直軸でなくともよい。また、X軸、Y軸およびZ軸は、典型的には互いに直交するが、これに限定されず、例えば、80°以上100°以下の範囲内の角度で交差すればよい。
【0013】
1.実施形態
1-1.液体吐出装置の全体構成
図1は、実施形態に係る液体吐出装置100を模式的に示す構成図である。液体吐出装置100は、液体の一例であるインクを液滴として媒体Mに吐出するインクジェット方式の印刷装置である。媒体Mは、典型的には印刷用紙である。なお、媒体Mは、印刷用紙に限定されず、例えば、樹脂フィルムまたは布帛等の任意の材質の印刷対象でもよい。
【0014】
図1に示すように、液体吐出装置100は、液体容器10と、「制御部」の一例である制御ユニット20と、搬送機構30と、移動機構40と、液体吐出ヘッド50と、を備える。
【0015】
液体容器10は、インクを貯留する容器である。液体容器10の具体的な態様としては、例えば、液体吐出装置100に着脱可能なカートリッジ、可撓性のフィルムで形成された袋状のインクパック、および、インクを補充可能なインクタンクが挙げられる。なお、液体容器10に貯留されるインクの種類は、特に限定されず、任意である。
【0016】
制御ユニット20は、例えば、CPU(Central Processing Unit)またはFPGA(Field Programmable Gate Array)等の処理回路と半導体メモリー等の記憶回路とを含み、液体吐出装置100の各要素の動作を制御する。ここで、制御ユニット20は、液体吐出ヘッド50の駆動を制御する。このため、後述するように、液体吐出ヘッド50の吐出特性が優れることから、吐出特性に優れた液体吐出装置100を提供することができる。
【0017】
搬送機構30は、制御ユニット20による制御のもとで、媒体MをY2方向に搬送する。移動機構40は、制御ユニット20による制御のもとで、液体吐出ヘッド50をX1方向とX2方向とに往復させる。
図1に示す例では、移動機構40は、液体吐出ヘッド50を収容する略箱型のキャリッジ41と、キャリッジ41が固定される搬送ベルト42と、を有する。なお、キャリッジ41に搭載される液体吐出ヘッド50の数は、1個に限定されず、複数個でもよい。また、キャリッジ41には、液体吐出ヘッド50のほかに、前述の液体容器10が搭載されてもよい。
【0018】
液体吐出ヘッド50は、制御ユニット20による制御のもとで、液体容器10から供給されるインクを複数のノズルのそれぞれからZ2方向に媒体Mに吐出する。この吐出が搬送機構30による媒体Mの搬送と移動機構40による液体吐出ヘッド50の往復移動とに並行して行われることにより、媒体Mの表面にインクによる画像が形成される。なお、液体吐出ヘッド50の構成および製造方法については、後に詳述する。
【0019】
1-2.液体吐出ヘッドの全体構成
図2は、実施形態に係る液体吐出ヘッド50の分解斜視図である。
図3は、
図2中のA-A線断面図である。
図2および
図3に示すように、液体吐出ヘッド50は、流路基板51と圧力室基板52とノズル基板53と吸振体54と振動板55と複数の圧電素子56と封止板57とケース58と配線基板59とを有する。
【0020】
ここで、流路基板51よりもZ1方向に位置する領域には、圧力室基板52と振動板55と複数の圧電素子56とケース58と封止板57とが設置される。他方、流路基板51よりもZ2方向に位置する領域には、ノズル基板53と吸振体54とが設置される。液体吐出ヘッド50の各要素は、概略的にはY軸に沿う方向に長尺な板状部材であり、例えば接着剤により互いに接合される。
【0021】
図2に示すように、ノズル基板53は、Y軸に沿う方向に配列される複数のノズルNが設けられる板状部材である。各ノズルNは、インクを通過させる貫通孔である。ノズル基板53は、例えば、ドライエッチングまたはウェットエッチング等の加工技術を用いる半導体製造技術によりシリコン単結晶基板を加工することにより製造される。ただし、ノズル基板53の製造には、他の公知の方法および材料が適宜に用いられてもよい。
【0022】
流路基板51は、インクの流路を形成するための板状部材である。
図2および
図3に示すように、流路基板51には、開口部R1と複数の供給流路Raと複数の連通流路Naとが設けられる。開口部R1は、複数のノズルNにわたり連続するように、Z軸に沿う方向でみた平面視で、Y軸に沿う方向に延びる長尺状の貫通孔である。他方、供給流路Raおよび連通流路Naそれぞれは、ノズルNごとに個別に設けられる貫通孔である。複数の供給流路Raのそれぞれは、開口部R1に連通する。流路基板51は、前述のノズル基板53と同様に、例えば、半導体製造技術によりシリコン単結晶基板を加工することにより製造される。ただし、流路基板51の製造には、他の公知の方法および材料が適宜に用いられてもよい。
【0023】
圧力室基板52は、複数のノズルNに対応する複数の圧力室Cが形成される板状部材である。圧力室Cは、流路基板51と振動板55との間に位置し、当該圧力室C内に充填されるインクに圧力を付与するためのキャビティと称される空間である。複数の圧力室Cは、Y軸に沿う方向に配列される。各圧力室Cは、圧力室基板52の両面に開口する孔52aで構成されており、X軸に沿う方向に延びる長尺状をなす。各圧力室CのX2方向での端は、対応する供給流路Raに連通する。一方、各圧力室CのX1方向での端は、対応する連通流路Naに連通する。圧力室基板52は、前述のノズル基板53と同様に、例えば、半導体製造技術によりシリコン単結晶基板を加工することにより製造される。ただし、圧力室基板52のそれぞれの製造には、他の公知の方法および材料が適宜に用いられてもよい。
【0024】
圧力室基板52のZ1方向を向く面には、振動板55が配置される。振動板55は、弾性的に変形可能な板状部材である。なお、振動板55の詳細については、後に
図5に基づいて説明する。
【0025】
振動板55のZ1方向を向く面には、互いに異なるノズルNまたは圧力室Cに対応する複数の圧電素子56が配置される。各圧電素子56は、駆動信号の供給により変形する受動素子であり、X軸に沿う方向に延びる長尺状をなす。複数の圧電素子56は、複数の圧力室Cに対応するようにY軸に沿う方向に配列される。圧電素子56の変形に連動して振動板55が振動すると、圧力室C内の圧力が変動することにより、インクがノズルNから吐出される。なお、圧電素子56の詳細については、後に
図4および
図5に基づいて説明する。
【0026】
ケース58は、複数の圧力室Cに供給されるインクを貯留するためのケースであり、流路基板51のZ1方向を向く面に接着剤等により接合される。ケース58は、例えば、樹脂材料で構成されており、射出成形により製造される。ケース58には、収容部R2と導入口IHとが設けられる。収容部R2は、流路基板51の開口部R1に対応する外形の凹部である。導入口IHは、収容部R2に連通する貫通孔である。開口部R1および収容部R2による空間は、インクを貯留するリザーバーである液体貯留室Rとして機能する。液体貯留室Rには、液体容器10からのインクが導入口IHを介して供給される。
【0027】
吸振体54は、液体貯留室R内の圧力変動を吸収するための要素である。吸振体54は、例えば、弾性変形可能な可撓性のシート部材であるコンプライアンス基板である。ここで、吸振体54は、流路基板51の開口部R1と複数の供給流路Raとを閉塞して液体貯留室Rの底面を構成するように、流路基板51のZ2方向を向く面に配置される。
【0028】
封止板57は、複数の圧電素子56を保護するとともに圧力室基板52および振動板55の機械的な強度を補強する構造体である。封止板57は、振動板55の表面に例えば接着剤により接合される。封止板57には、複数の圧電素子56を収容する凹部が設けられる。
【0029】
圧力室基板52または振動板55のZ1方向を向く面には、配線基板59が接合される。配線基板59は、制御ユニット20と液体吐出ヘッド50とを電気的に接続するための複数の配線が形成される実装部品である。配線基板59は、例えば、FPC(Flexible Printed Circuit)またはFFC(Flexible Flat Cable)等の可撓性の配線基板である。配線基板59には、圧電素子56を駆動するための駆動回路60が搭載される。駆動回路60は、各圧電素子56を駆動するための駆動信号を配線基板59を介して各圧電素子56に選択的に供給する。
【0030】
以上のように、液体吐出ヘッド50は、圧電素子56と、ノズルNに連通する圧力室Cが設けられた圧力室基板52と、圧電素子56の駆動により振動することにより、圧力室Cの液体に圧力を付与する振動板55と、を有する。ここで、前述のように、圧力室基板52、振動板55および圧電素子56がこの順でZ1方向に積層される。
【0031】
1-3.振動板および圧電素子の詳細
図4は、実施形態に係る液体吐出ヘッド50の一部を示す平面図である。
図5は、
図4中のB-B線断面図である。以下、
図4および
図5に基づいて、圧力室基板52、圧電素子56および振動板55をこの順で説明する。
【0032】
図4および
図5に示すように、圧力室基板52には、圧力室Cを構成する孔52aが設けられる。これに伴い、圧力室基板52には、互いに隣り合う2つの孔52aの間には、X軸に沿う方向に延びる壁状の隔壁52bが設けられる。圧力室基板52は、例えば、半導体製造技術によりシリコン単結晶基板を加工することにより製造される。
図4では、面方位(110)のシリコン単結晶基板に異方性エッチングにより形成した場合の孔52aの平面視形状が破線で示される。なお、孔52aの平面視形状は、
図4に示す例に限定されず、任意である。
【0033】
ここで、圧力室Cの形成は、圧電素子56の形成後に行われる。圧力室Cの形成は、例えば、圧電素子56の形成後のシリコン単結晶基板の両面のうち圧電素子56が形成される面とは異なる面を異方性エッチングすることにより行われる。このとき、当該異方性エッチングのエッチング液として、例えば、水酸化カリウム水溶液(KOH)等が用いられる。また、このとき、弾性膜55aが酸化シリコンで構成される場合、弾性膜55aは、当該異方性エッチングを停止させる停止層として機能する。以上の圧力室Cの形成後、圧力室基板52に流路基板51等が接着剤により接合される。
【0034】
図4に示すように、平面視で、圧力室Cには、圧電素子56が重なる。
図5に示すように、圧電素子56は、第1電極56aと圧電体層56bと第2電極56cとを有し、これらがこの順でZ1方向に積層される。
【0035】
第1電極56aは、圧電素子56ごとに互いに離間して配置される個別電極である。具体的には、X軸に沿う方向に延びる複数の第1電極56aが、互いに間隔をあけてY軸に沿う方向に配列される。各圧電素子56の第1電極56aには、制御ユニット20から所定の電圧パルスを含む駆動信号が供給される。
【0036】
第1電極56aは、例えば、イリジウム(Ir)で構成される層と、チタン(Ti)で構成される層と、を有し、これらがこの順でZ1方向に積層される。ここで、イリジウムは、導電性に優れた電極材料である。このため、第1電極56aの構成材料にイリジウムを用いることにより、第1電極56aの低抵抗化を図ることができる。また、チタンで構成される層は、圧電体層56bを形成する際に、島状のTiが結晶核となって圧電体層56bの配向を制御して、圧電体層56bの結晶性または配向性を高める。
【0037】
なお、イリジウムで構成される層に代えて、または、当該層に加えて、他の金属材料で構成される層が設けられてもよい。当該他の金属材料としては、例えば、白金(Pt)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、金(Au)、銅(Cu)等の金属材料が挙げられ、これらのうちの1種を単独でまたは2種以上を組み合わせて用いることができる。また、第1電極56aを構成する材料は、金属材料に限定されず、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)およびIZO(Indium Zinc Oxide)等の導電性の金属酸化物であってもよい。
【0038】
図4および
図5に示す例では、圧電体層56bは、複数の圧電素子56にわたり連続するようにY軸に沿う方向に延びる帯状をなす。
図4に示す例では、圧電体層56bには、互いに隣り合う各圧力室Cの間隙に平面視で対応する領域に、圧電体層56bを貫通する貫通孔56b1がX軸に沿う方向に延びて設けられる。これにより、
図5に示す断面でみて、圧電体層56bが圧電素子56ごとに個別に設けられる。
図4に示す例では、貫通孔56b1が設けられていない部分においては、圧電体層56bが複数の圧力室Cに連続して設けられるが、こうした構成には限定されず、連続する部分を除去し、圧電体層56bを複数の圧電素子56に個別に設けられてもよい。
【0039】
圧電体層56bは、一般組成式ABO3で表されるペロブスカイト型結晶構造を有する圧電材料で構成される。当該圧電材料としては、例えば、チタン酸鉛(PbTiO3)、チタン酸ジルコン酸鉛(Pb(Zr,Ti)O3)、ジルコニウム酸鉛(PbZrO3)、チタン酸鉛ランタン((Pb,La),TiO3)、ジルコン酸チタン酸鉛ランタン((Pb,La)(Zr,Ti)O3)、ニオブ酸ジルコニウムチタン酸鉛(Pb(Zr,Ti,Nb)O3)、マグネシウムニオブ酸ジルコニウムチタン酸鉛(Pb(Zr,Ti)(Mg,Nb)O3)等が挙げられる。中でも、圧電体層56bの構成材料には、圧電性能を高めやすいという観点から、チタン酸ジルコン酸鉛、ニオブ酸カリウムナトリウム、チタン酸バリウムが好適に用いられる。
【0040】
なお、圧電体層56bは、単層で構成されてもよいし、後述の
図6に基づいて説明するように複数層の積層で構成されてもよい。ただし、圧電体層56bが複数層の積層で構成される場合、後述するように圧電体層56bの圧電定数を厚さ方向に異ならせやすいという利点がある。
【0041】
第2電極56cは、複数の圧電素子56にわたり連続するようにY軸に沿う方向に延びる帯状の共通電極である。第2電極56cには、所定の定電位が供給される。
【0042】
第2電極56cは、例えば、イリジウム(Ir)で構成される。ただし、第2電極56cの構成材料は、イリジウムに限定されず、例えば、白金(Pt)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、金(Au)または銅(Cu)等の金属材料でもよい。また、第2電極56cは、これらの金属材料のうち、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を積層等の形態で組み合わせて用いてもよい。
【0043】
以上の第1電極56a、圧電体層56bおよび第2電極56cは、この順で振動板55上に成膜されることにより得られる。第1電極56aおよび第2電極56cのそれぞれは、例えば、スパッタ法等の公知の成膜技術、およびフォトリソグラフィおよびエッチング等を用いる公知の加工技術により形成される。圧電体層56bは、例えば、ゾルゲル法により圧電体の前駆体層を形成し、その前駆体層を焼成して結晶化することにより形成される。また、圧電体層56bには、第1電極56aと第2電極56cとの間に電圧を印加することにより、分極処理が施される。
【0044】
以上の圧電素子56では、第1電極56aと第2電極56cとの間に電圧が印加されることにより、圧電体層56bが逆圧電効果により変形する。この変形に伴って、振動板55が振動する。
【0045】
図5に示すように、振動板55は、弾性膜55aと絶縁膜55bとを有し、これらがこの順でZ1方向に積層される。ここで、弾性膜55aは、圧力室基板52上に設けられる。絶縁膜55bは、弾性膜55aと圧電素子56との間に設けられる。
【0046】
なお、
図5では、説明の便宜上、振動板55を構成する層同士の界面が明確に図示されるが、当該界面が明確でなくともよく、例えば、互いに隣り合う2つの層の界面付近において当該2つの層の構成材料同士が混在してもよい。また、振動板55は、弾性膜55aおよび絶縁膜55bを有する構成に限定されず、例えば、絶縁膜55bが省略された構成でもよいし、弾性膜55aと絶縁膜55bとの間に密着性を高めるためのTiO
X、AlO
X、CrO
X、TiNで構成される膜が設けられた構成でもよい。
【0047】
弾性膜55aは、例えば、酸化シリコン(SiO2)で構成される膜である。ここで、弾性膜55aには、酸化シリコンおよびその構成元素のほか、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)、鉄(Fe)、クロム(Cr)またはハフニウム(Hf)等の元素が不純物として少量含まれてもよい。このような不純物は、酸化シリコン(SiO2)を柔らかくする効果をもたらす。当該不純物は、弾性膜55aの形成の際に不可避的に混入される元素でもよいし、意図的に弾性膜55aに混入される元素でもよい。また、弾性膜55aには、シリコンが酸化物の状態で存在するほか、単体、窒化物または酸窒化物等の状態でシリコンが存在してもよい。
【0048】
弾性膜55aの厚さtd1は、振動板55の厚さtdおよび幅等に応じて決められ、特に限定されないが、100nm以上2000nm以下の範囲内であることが好ましく、500nm以上1500nm以下の範囲内であるとより好ましい。
【0049】
絶縁膜55bは、例えば、酸化ジルコニウム(ZrO2)で構成される膜である。ここで、絶縁膜55bには、酸化ジルコニウムおよびその構成元素のほか、チタン(Ti)、鉄(Fe)、クロム(Cr)またはハフニウム(Hf)等の元素が不純物として少量含まれてもよい。このような不純物は、酸化ジルコニウム(ZrO2)を柔らかくする効果をもたらす。当該不純物は、絶縁膜55bの形成の際に不可避的に混入される元素でもよいし、意図的に絶縁膜55bに混入される元素でもよい。また、絶縁膜55bには、ジルコニウムが酸化物の状態で存在するほか、単体、窒化物または酸窒化物等の状態でジルコニウムが存在してもよい。
【0050】
なお、絶縁膜55bを構成する材料は、ZrO2に限定されず、例えば、PbTiOX、TIOX、((Pb,Bi)(Fe,Ti)OX)であってもよい。また、絶縁膜55bは、単層で構成されてもよいし、複数層の積層で構成されてもよい。
【0051】
絶縁膜55bの厚さtd2は、振動板55の厚さtdおよび幅等に応じて決められ、特に限定されないが、例えば、100nm以上2000nm以下の範囲内であることが好ましく、500nm以上1500nm以下の範囲内であるとより好ましい。
【0052】
以上の弾性膜55aおよび絶縁膜55bは、この順で、圧力室基板52を形成するためのシリコン単結晶基板上に成膜されることにより得られる。例えば、弾性膜55aが酸化シリコンで構成される場合、弾性膜55aは、当該シリコン単結晶基板の一方の面を熱酸化することにより形成される。例えば、絶縁膜55bが酸化ジルコニウムで構成される場合、絶縁膜55bは、弾性膜55a上に、スパッタ法によりジルコニウムの層を形成し、当該層を熱酸化することにより形成される。
【0053】
なお、振動板55を構成する複数の膜のそれぞれの形成方法は、前述の例に限定されず、任意である。例えば、弾性膜55aの少なくとも一部の形成は、CVD法等を用いてもよい。また、絶縁膜55bの形成は、熱酸化を用いる方法に限定されず、例えば、CVD法または原子層堆積(ALD:Atomic Layer Deposition)法等を用いてもよい。
【0054】
以上の振動板55は、圧電素子56の駆動により振動する振動領域PVを有する。振動領域PVは、平面視で圧力室Cに重なる振動板55の部分である。ここで、前述の弾性膜55aと絶縁膜55bとのそれぞれは、Z軸に沿う方向みて振動領域PVの全域にわたり設けられる。
【0055】
振動領域PVは、能動領域RE1と非能動領域RE2とに区分される。能動領域RE1は、振動板55において、Z軸に沿う方向にみて、圧力室Cと第1電極56aと圧電体層56bと第2電極56cとに重なる部分である。非能動領域RE2は、振動板55において、Z軸に沿う方向にみて、圧力室Cと重なり、かつ、能動領域RE1とは異なる部分である。
【0056】
図5に示す例では、非能動領域RE2が腕部RE2aを有する。腕部RE2aは、Z軸に沿う方向にみて、能動領域RE1と圧力室Cの幅方向での端との間で、圧電体層56bに重ならずに圧力室Cに重なる振動板55の部分である。
【0057】
したがって、圧力室Cの短手方向での端は、Z軸に沿う方向にみて圧電体層56bに重ならない。このように腕部RE2aを設けることにより、振動板55の幅方向での端部を変形しやすくすることができる。このため、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。
【0058】
以上の圧電素子56および振動板55で構成される積層体LAを圧電素子56の駆動により効率的に変形させるには、従来では、圧電体層56bの圧電定数が一様であるため、積層体LAの中立面を振動板55と圧電素子56との間に位置させることが好ましいとされていた。
【0059】
一方、近年のノズルNの狭ピッチ化に伴い、振動板55の幅が小さくなるので、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させるには、振動板55の厚さtdを薄くする必要がある。
【0060】
振動板55の厚さtdが薄くなると、
図5に示すように、積層体LAの中立面ANは、圧電体層56b内に位置する。ここで、積層体LAの「中立面AN」とは、X軸とY軸との両方に平行な面のうち、積層体LAに曲げモーメントが生じた際に、圧縮歪みおよび引っ張り歪みが生じない面である。また、積層体LAの中立軸とは、X軸とZ軸との両方に平行な任意の平面のうち、中立面と交差する軸状の部分に相当する。本実施形態では、圧電素子56はZ方向に沿って撓み変形し、圧力室CがX軸に沿って長手に形成されるため、X軸にみたときに積層体LAの変形が顕著となり、中立軸はX方向に沿った軸である。
【0061】
ここで、n個の層からなる積層体の1層目側の表面を基準とするとき、当該積層体の中立面の位置y
0は、以下の式(1)で定義される。
【数1】
この式(1)中、kは1以上n以下の整数であり、Akは当該積層体全体の断面積であり、E
kは各層のヤング率[GPa]であり、h
kは各層の膜厚[nm]であり、aは層の幅[μm]である。
【0062】
当該積層体を積層体LAに当てはめると、kは5であり、1層目が弾性膜55aであり、2層目が絶縁膜55bであり、3層目が第1電極56aであり、4層目が圧電体層56bであり、5層目が第2電極56cである。したがって、位置y0は、積層体LAのZ2方向を向く面を基準とする中立面ANの位置であり、当基準と位置y0との間の距離に相当する。ここで、ヤング率E1は弾性膜55aのヤング率[GPa]であり、ヤング率E2は絶縁膜55bのヤング率[GPa]であり、ヤング率E3は第1電極56aのヤング率[GPa]であり、ヤング率E4は圧電体層56bのヤング率[GPa]であり、ヤング率E5は第2電極56cのヤング率[GPa]である。また、膜厚h1は弾性膜55aの厚さtd1[nm]であり、膜厚h2は絶縁膜55bの厚さtd2[nm]であり、膜厚h3は第1電極56aの厚さ[nm]であり、膜厚h4は圧電体層56bの厚さtp[nm]であり、膜厚h5は第2電極56cの厚さ[nm]である。断面積Akは、積層体LAの断面積であり、積層体LAの厚さT×幅aに相当する。幅aは、能動領域RE1の幅Wである。
【0063】
このような中立面ANにより圧電体層56bを区分した2つの領域のうち、振動板55に近いほうの領域が下部領域RBであり、振動板55から遠いほうの領域が上部領域RTである。すなわち、下部領域RBが中立面ANよりもZ2方向に位置する圧電体層56bの領域であり、上部領域RTが中立面ANよりもZ1方向に位置する圧電体層56bの領域である。このように、圧電体層56bが下部領域RBおよび上部領域RTを有する。
【0064】
ここで、下部領域RBおよび上部領域RTのそれぞれの側面上には、圧電素子56の第2電極56cの一部が配置される。このように第2電極56cが下部領域RBおよび上部領域RTのそれぞれの側面上に配置される部分を有することにより、前述のように第1電極56aを個別電極とするとともに第2電極56cを共通電極とすることができる。
【0065】
このように、中立面ANが圧電体層56b内に位置しているとき、圧電体層56bの圧電定数をZ軸方向において概ね一様とすることで、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率が低下してしまう場合がある。この理由について説明する。2つの電極によって圧電素子56に電圧が印加されたとき、圧電素子は、逆圧電効果によって、概ねY軸に沿って収縮するように変形し、積層体LAが圧力室側に凸となるように曲げモーメントが生じる。ここで、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合、上部領域RTの圧電体層56bの変位は、当該曲げモーメントに寄与するのに対し、下部領域RBの圧電体層56bの変形は、当該曲げモーメントを阻害してしまう。これは、積層体LAが圧力室側に凸となることで、引っ張り歪みが生じる、つまり伸びる方向の力が加えられる下部領域RBにおいて、圧電体層56bが逆圧電効果によって収縮する方向の力を加えるためである。以上のような理由により、圧電体層56bの圧電定数をZ軸方向において概ね一様とした構成では、変形効率が低下してしまう。
【0066】
そこで、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させるべく、液体吐出ヘッド50では、下部領域RBの圧電定数が上部領域RTの圧電定数よりも小さい。このため、圧電素子56に電圧が印加されたとき、下部領域RBが上部領域RTに比べて逆圧電効果により変形し難い。したがって、下部領域RBが実質的に振動板55として機能するので、下部領域RBの逆圧電効果による変形が、上部領域RTの逆圧電効果による変形に起因する積層体LAの曲げモーメントを阻害することが低減される。この結果、積層体LAの中立面ANが圧電体層56b内に位置しても、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。しかも、下部領域RBの圧電定数が、下部領域RBを実質的に振動板55として見做すことができる程度に低い場合、振動板55の幅方向での端部の厚さを薄くしたことと同等の構成が疑似的に得られるため、当該変形効率のさらなる向上を図ることができる。以下、
図6から
図10に基づいて、下部領域RBおよび上部領域RTについて詳述する。
【0067】
図6は、圧電素子56および振動板55で構成される積層体LAの部分拡大断面図である。
図6では、説明の便宜上、圧電体層56bが5層の積層で構成される場合が例示される。なお、圧電体層56bを構成する層の数は、5層に限定されず、任意であり、4層以下または6層以上であってもよい。また、圧電体層56bを構成する複数の層の厚さは、互いに等しくても異なってもよい。
【0068】
図6に示すように、圧電体層56bは、複数の層LA1、LA2、LA3、LA4、LA5を有する。層LA1、LA2、LA3、LA4、LA5は、この順でZ1方向に積層される。ここで、層LA1は、「第1圧電体層」の一例であり、振動板55と中立面ANとの間に位置しており、複数の層LA1~LA5のうち、下部領域RBに含まれ、かつ、振動板55に最も近い層である。また、層LA5は、「第2圧電体層」の一例であり、複数の層LA1~LA5のうち、上部領域RTに含まれ、かつ、振動板55から最も遠い層である。このような層LA1と層LA5との間には、中立面ANが位置する。
【0069】
ここで、下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくするには、層LA1~LA5のうち、下部領域RBに属する層の圧電定数の平均値が、上部領域RTに属する層の圧電定数の平均値よりも小さければよい。ただし、下部領域RBの圧電定数を小さくすることによる効果を好適に得る観点から、下部領域RBに属する層のうち、最も振動板55に近い層LA1の圧電定数が最も小さいことが好ましい。また、上部領域RTの圧電定数を大きくすることによる効果を好適に得る観点から、上部領域RTに属する層のうち、最も振動板55から遠い層LA5の圧電定数が最も大きいことが好ましい。
【0070】
以下、圧電体層56bのうち、圧電定数を小さくする層の厚さおよび圧電定数について詳述する。
【0071】
図7は、圧電体層56bの下部の圧電定数d1を変化させたサンプルNo.1~18の条件と積層体LAの変形効率比との関係を示す図である。圧電体層56bの下部とは、圧電体層56bを厚さ方向に区分した2つの部分のうちの振動板55に近いほうの部分である。また、以下では、圧電体層56bを厚さ方向に区分した2つの部分のうちの振動板55から遠いほうの部分は、圧電体層56bの上部と称される。
【0072】
図7中の「中立面の位置」は、中立面ANの位置である。ここで、「部材」の項目において、「圧電体層」は、中立面ANが圧電体層56b内に位置することを示し、「振動板」は、中立面ANが振動板55内に位置することを示す。また、「第1電極からの距離」は、第1電極56aと中立面ANとの間の距離[nm]である。ただし、当該距離は、中立面ANが第1電極56aよりもZ1方向に位置する場合に正の値であり、一方、中立面ANが第1電極56aよりもZ2方向に位置する場合に負の値である。
【0073】
サンプルNo.1~9では、中立面ANが圧電体層56b内に位置する。
図7に示す例では、サンプルNo.1~9における第1電極56aと中立面ANとの間の距離が115nmである。これに対し、サンプルNo.10~18では、中立面ANが振動板55内に位置する。
図7に示す例では、サンプルNo.10~18における第1電極56aと中立面ANとの間の距離が-275nmである。なお、サンプルNo.10~18では、振動板55の厚さtdがサンプルNo.1~9よりも厚いことにより、中立面ANの位置が振動板55内に位置する。
【0074】
図7中の「圧電体層の膜厚」は、圧電体層56bの厚さtp[nm]である。また、
図7中の「圧電体層下部の膜厚」は、圧電体層56bの下部の厚さtpb[nm]である。さらに、
図7中の「tpb/tp」は、厚さtpに対する厚さtpbの比tpb/tpである。
【0075】
サンプルNo.1~18における厚さtp、tpbおよび比tpb/tpのそれぞれが互いに等しい。
図7に示す例では、厚さtpが1200nmであり、厚さtpbが100nmであり、比tpb/tpが8%である。より具体的には、1層あたりの膜厚が100nmの層を12個積層することで、厚さ1200nmの圧電体層56bとしている。
【0076】
図7中の「圧電体層下部の圧電定数」は、圧電体層56bの下部の圧電定数d1である。また、
図7中の「圧電体層上部の圧電定数」は、圧電体層56bの上部の圧電定数d2である。さらに、
図7中の「d1/d2」は、圧電定数d2に対する圧電定数d1の比d1/d2である。
【0077】
サンプルNo.1~18における圧電定数d2が互いに等しい。
図7に示す例では、サンプルNo.1~18における圧電定数d2が200[pm/V]である。一方、サンプルNo.1~9における圧電定数d1が互いに異なる。同様に、サンプルNo.10~18における圧電定数d1が互いに異なる。
図7に示す例では、サンプルNo.1、10における圧電定数d1が10[pm/V]であり、サンプルNo.2、11における圧電定数d1が25[pm/V]であり、サンプルNo.3、12における圧電定数d1が50[pm/V]であり、サンプルNo.4、13における圧電定数d1が75[pm/V]であり、サンプルNo.5、14における圧電定数d1が100[pm/V]であり、サンプルNo.6、15における圧電定数d1が125[pm/V]であり、サンプルNo.7、16における圧電定数d1が150[pm/V]であり、サンプルNo.8、17における圧電定数d1が175[pm/V]であり、サンプルNo.9、18における圧電定数d1が200[pm/V]である。
【0078】
図7中の「変形効率比」は、圧電定数d1および圧電定数d2が互いに等しい場合の変形効率を基準「1」とした変形効率の比である。変形効率は、例えば、圧電素子56に印加した電圧に対する振動板55の変位量の割合である。
図7に示す変形効率比の結果は、シミュレーションにより求めた結果である。
【0079】
図8は、圧電体層56bの下部の圧電定数比率d1/d2と積層体LAの変形効率比との関係を示すグラフである。
図8では、前述の
図7に示す圧電定数比率d1/d2と積層体LAの変形効率比との関係が示される。
図8中、縦軸は、積層体LAの変形効率比を示し、横軸は、圧電定数比率d1/d2を示す。
【0080】
図8に示すように、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合、圧電定数比率d1/d2が小さくなるほど、積層体LAの変形効率比が高くなる。これは、下部領域RBが上部領域RTの作用を阻害しない効果が高まるからである。
【0081】
ここで、積層体LAの変形効率比を好適に高める観点から、圧電定数比率d1/d2は、25%以下であることが好ましく、12.5%以下であることがより好ましい。
【0082】
これに対し、中立面ANが振動板55内に位置する場合、圧電定数比率d1/d2が小さくなるほど、積層体LAの変形効率比が低くなる。これは、圧電体層56bを構成する層のうち振動板55の撓み変形に寄与すべき層の圧電定数が単に低下するからである。また、中立面ANが振動板55内に位置する場合、圧電定数比率d1/d2が0%と100%との間の全範囲にわたり、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合に比べて、積層体LAの変形効率比が低い。これは、中立面ANが振動板55内に位置する場合、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合に比べて、振動板55の厚さtdが厚いからである。
【0083】
以上のような
図8に示す結果から理解される通り、下部領域RBの圧電定数は、上部領域RTの圧電定数よりも小さければよいが、上部領域RTの圧電定数の半分以下であることが好ましい。この場合、下部領域RBの圧電定数が上部領域RTの圧電定数の半分よりも大きい態様に比べて、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。また、前述のように、圧電定数比率d1/d2は、25%以下であることが好ましく、12.5%以下であることがより好ましいことから、より好ましくは、下部領域RBの圧電定数は、上部領域RTの圧電定数に対して、25%以下であり、さらに好ましくは、12.5%以下である。
【0084】
下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくするには、例えば、層LA1~56b5のうち、下部領域RBに属する層を(100)面以外に優先配した結晶で構成するとともに、上部領域RTに属する層を(100)面に優先配向した結晶で構成すればよい。この場合、層LA5は、(100)面に優先配向した結晶で構成され、層LA1は、(100)面以外に優先配した結晶で構成される。このような構成により、下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくすることができる。
【0085】
また、下部領域RBおよび上部領域RTは、互いに組成の異なる圧電材料で構成されてもよい。例えば、下部領域RBおよび上部領域RTが互いに鉛の含有率の異なる圧電材料で構成される。この場合、下部領域RBおよび上部領域RTのそれぞれが(100)面に優先配向した結晶で構成されても、下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくすることができる。また、第2圧電体層を(100)面に優先配向した結晶で構成するとともに第1圧電体層を(100)面以外に優先配した結晶で構成する場合、下部領域および上部領域を互いに組成の異なる圧電材料で構成することにより、下部領域の圧電定数を上部領域の圧電定数よりも効果的に小さくすることができる。
【0086】
なお、圧電体層56bを構成する複数の層LA1~LA5の結晶状態が互いに異なってもよい。例えば、下部領域RBに属する層がアモルファス状態であるとともに、上部領域RTに属する層が多結晶状態または単結晶状態であってもよい。
【0087】
また、下部領域RBの誘電率は、上部領域RTの誘電率よりも高いことが好ましい。この場合、下部領域RBが第1電極56aと上部領域RTとの間に介在しても、下部領域RBの誘電率が上部領域RTの誘電率以下である態様に比べて、第1電極56aと第2電極56cとの間の電圧を上部領域RTに効率的に印加することができる。
【0088】
図9は、圧電体層56bの下部の膜厚を変化させたサンプルNo.19~34の条件と積層体LAの変形効率比との関係を示す図である。
【0089】
サンプルNo.19~26では、前述のサンプルNo.1~9と同様、中立面ANが圧電体層56b内に位置する。
図9に示す例では、サンプルNo.19~26における第1電極56aと中立面ANとの間の距離が115nmである。これに対し、サンプルNo.27~34では、前述のサンプルNo.10~18と同様、中立面ANが振動板55内に位置する。
図9に示す例では、サンプルNo.27~34における第1電極56aと中立面ANとの間の距離が-275nmである。
【0090】
また、前述のサンプルNo.1~18と同様、サンプルNo.19~34における厚さtpが互いに等しい。ただし、サンプルNo.19~26における厚さtpbが互いに異なる。同様に、サンプルNo.27~34における厚さtpbが互いに異なる。
図9に示す例では、サンプルNo.19、27における厚さtpbが0nmであり、サンプルNo.20、28における厚さtpbが200nmであり、サンプルNo.21、29における厚さtpbが300nmであり、サンプルNo.22、30における厚さtpbが400nmであり、サンプルNo.23、31における厚さtpbが600nmであり、サンプルNo.24、32における厚さtpbが800nmであり、サンプルNo.25、33における厚さtpbが1000nmであり、サンプルNo.26、34における厚さtpbが1200nmである。
【0091】
サンプルNo.19~34における圧電定数d1、d2および比d1/d2のそれぞれが互いに等しい。
図9に示す例では、圧電定数d1が10[pm/V]であり、圧電定数d2が200[pm/V]であり、比d1/d2が5.0%である。
【0092】
図10は、圧電体層56bの下部の膜厚比である比tpb/tpと積層体LAの変形効率比との関係を示すグラフである。
図10では、前述の
図9に示す比tpb/tpと積層体LAの変形効率比との関係が示される。
図9中、縦軸は、積層体LAの変形効率比を示し、横軸は、比tpb/tpを示す。
【0093】
図10に示すように、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合、比tpb/tpが40%以下の範囲において、層LA1の圧電定数d1を小さくすることによる積層体LAの変位効率比の向上が認められる。ここで、比tpb/tpが40%であるとき、厚さtpbは、第1電極56aと中立面ANとの間の距離よりも大きい。したがって、厚さtpbが第1電極56aと中立面ANとの間の距離よりも大きい場合においても、層LA1の圧電定数d1を小さくすることによる積層体LAの変位効率比の向上が認められる。
【0094】
これに対し、中立面ANが振動板55内に位置する場合、比tpb/tpが0%から100%までの全範囲において、比tpb/tpが大きくなるほど、積層体LAの変形効率比が低くなる。これは、振動板55の撓み変形に寄与すべき圧電体層56bの圧電定数が単に低下するからである。また、中立面ANが振動板55内に位置する場合、比tpb/tpが0%から100%までの全範囲において、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合に比べて、積層体LAの変形効率比が低い。これは、中立面ANが振動板55内に位置する場合、中立面ANが圧電体層56b内に位置する場合に比べて、振動板55の厚さtdが厚く変形が阻害されやすいからである。
【0095】
以上のような
図10に示す結果から理解される通り、下部領域RBの厚さtp1は、上部領域RTの厚さtp2よりも薄いことが好ましい。この場合、下部領域RBの厚さtp1が上部領域RTの厚さtp2以上である態様に比べて、下部領域RBの逆圧電効果による作用を小さくすることにより、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。また、前述の比tpb/tpと変形効率比との関係から、下部領域RBの厚さtp1は、上部領域RTの厚さtp2に対して、40%以下であることがより好ましい。
【0096】
以上のように、液体吐出ヘッド50では、下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくすることにより、圧電素子56の駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。
【0097】
2.変形例
以上の例示における形態は多様に変形され得る。前述の形態に適用され得る具体的な変形の態様を以下に例示する。なお、以下の例示から任意に選択される2以上の態様は、互いに矛盾しない範囲で適宜に併合され得る。
【0098】
2-1.変形例1
図11は、変形例1に係る液体吐出ヘッド50Aの断面図である。液体吐出ヘッド50Aは、圧電素子56に代えて圧電素子56Aを有すること以外は、前述の液体吐出ヘッド50と同様に構成される。圧電素子56Aは、第1電極56aが共通電極であるとともに第2電極56cが個別電極であること以外は、前述の圧電素子56と同様に構成される。すなわち、変形例1では、第1電極56aが複数の圧電素子56Aにわたり連続するようにY軸に沿う方向に延びる帯状の共通電極であるのに対し、第2電極56cが圧電素子56Aごとに互いに離間して配置される個別電極である。
【0099】
以上の変形例1によっても、下部領域RBの圧電定数を上部領域RTの圧電定数よりも小さくすることにより、圧電素子56Aの駆動による振動板55の変形効率を向上させることができる。
【0100】
なお、第1電極56aおよび第2電極56cの双方を個別電極としてもよい。
【0101】
2-2.変形例2
前述の形態では、液体吐出ヘッド50を搭載するキャリッジ41を往復させるシリアル方式の液体吐出装置100を例示するが、複数のノズルNが媒体Mの全幅にわたり分布するライン方式の液体吐出装置にも本開示を適用することが可能である。
【0102】
2-3.変形例3
前述の形態で例示する液体吐出装置100は、印刷に専用される機器のほか、ファクシミリ装置やコピー機等の各種の機器に採用され得る。もっとも、本開示の液体吐出装置の用途は印刷に限定されない。例えば、色材の溶液を吐出する液体吐出装置は、液晶表示装置のカラーフィルターを形成する製造装置として利用される。また、導電材料の溶液を吐出する液体吐出装置は、配線基板の配線や電極を形成する製造装置として利用される。
【0103】
3.本開示のまとめ
以下、本開示のまとめを付記する。
【0104】
(付記1)本開示の好適例である第1態様の液体吐出ヘッドは、第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、前記圧電体層を前記中立面により区分した2つの領域のうち、前記振動板に近いほうの領域を下部領域とし、前記振動板から遠いほうの領域を上部領域としたとき、前記下部領域の圧電定数は、前記上部領域の圧電定数よりも小さい。
【0105】
以上の第1態様では、下部領域の圧電定数が上部領域の圧電定数よりも小さいので、下部領域が圧電素子に印加される電圧により変形し難い。このため、下部領域が実質的に振動板として機能することにより、下部領域の逆圧電効果による変形が上部領域の逆圧電効果による変形の妨げとなることが低減される。この結果、圧電素子および振動板で構成される積層体の中立面が圧電体層内に位置しても、圧電素子の駆動による振動板の変形効率を向上させることができる。しかも、振動板の幅方向での端部の厚さを薄くすることにより、当該変形効率のさらなる向上を図ることができる。
【0106】
(付記2)第1態様の好適例である第2態様において、前記圧力室は、前記積層方向にみて長手形状をなしており、前記圧力室の短手方向での端は、前記積層方向にみて前記圧電体層に重ならない。以上の第2態様では、振動板の幅方向での端部を変形しやすくすることができる。このため、圧電素子の駆動による振動板の変形効率を向上させることができる。
【0107】
(付記3)第1態様または第2態様の好適例である第3態様において、前記下部領域の圧電定数は、前記上部領域の圧電定数の半分以下である。以上の第3態様では、下部領域の圧電定数が上部領域の圧電定数の半分よりも大きい態様に比べて、圧電素子の駆動による振動板の変形効率を向上させることができる。
【0108】
(付記4)第1態様から第3態様のいずれかの好適例である第4態様において、前記圧電体層は、複数の層を有し、前記複数の層のうち、前記下部領域に含まれ、かつ、前記振動板に最も近い層を第1圧電体層とし、前記上部領域に含まれ、かつ、前記振動板から最も遠い層を第2圧電体層としたとき、前記第2圧電体層は、(100)面に優先配向した結晶で構成され、前記第1圧電体層は、(100)面以外に優先配した結晶で構成される。以上の第4態様では、下部領域の圧電定数を上部領域の圧電定数よりも小さくすることができる。
【0109】
(付記5)第1態様から第4態様のいずれかの好適例である第5態様において、前記下部領域の厚さは、前記上部領域の厚さよりも薄い。以上の第5態様では、下部領域の厚さが上部領域の厚さ以上である態様に比べて、圧電素子の駆動による振動板の変形効率を向上させることができる。
【0110】
(付記6)第1態様から第5態様のいずれかの好適例である第6態様において、前記下部領域および前記上部領域は、互いに組成の異なる圧電材料で構成される。以上の第6態様では、下部領域および上部領域のそれぞれが(100)面に優先配向した結晶で構成されても、下部領域の圧電定数を上部領域の圧電定数よりも小さくすることができる。また、第2圧電体層を(100)面に優先配向した結晶で構成するとともに第1圧電体層を(100)面以外に優先配した結晶で構成する場合、下部領域および上部領域を互いに組成の異なる圧電材料で構成することにより、下部領域の圧電定数を上部領域の圧電定数よりも効果的に小さくすることができる。
【0111】
(付記7)第1態様から第6態様のいずれかの好適例である第7態様において、前記下部領域の誘電率は、前記上部領域の誘電率よりも高い。以上の第7態様では、下部領域が第1電極と上部領域との間に介在しても、下部領域の誘電率が上部領域の誘電率以下である態様に比べて、第1電極と第2電極との間の電圧を上部領域に効率的に印加することができる。
【0112】
(付記8)第1態様から第7態様のいずれかの好適例である第8態様において、前記圧力室は、前記積層方向にみて長手形状をなし、前記第1電極と前記圧電体層と前記第2電極とは、この順で前記積層方向に積層されており、前記第2電極は、前記下部領域および前記上部領域のそれぞれの側面上に配置される部分を有する。以上の第8態様では、第1電極を個別電極とするとともに第2電極を共通電極とすることができる。
【0113】
(付記9)本開示の好適例である第9態様の液体吐出ヘッドは、第1電極と圧電体層と第2電極とを有する圧電素子と、ノズルに連通する圧力室が設けられた圧力室基板と、前記圧電素子の駆動により振動することにより、前記圧力室の液体に圧力を付与する振動板と、を有し、前記圧力室基板、前記振動板および前記圧電素子がこの順で積層方向に積層されており、前記圧電素子および前記振動板で構成される積層体の中立面は、前記圧電体層内に位置し、前記圧電体層は、(100)面以外に優先配向した結晶で構成される第1圧電体層と、(100)面に優先配向した結晶で構成される第2圧電体層と、を含み、前記第1圧電体層は、前記振動板と前記中立面との間に位置し、前記中立面は、前記第1圧電体層と前記第2圧電体層との間に位置する。
【0114】
以上の第9態様では、圧電体層を中立面により区分した2つの領域のうち、前記振動板に近いほうの領域を下部領域とし、前記振動板から遠いほうの領域を上部領域としたとき下部領域の圧電定数を上部領域の圧電定数よりも小さくすることができる。このため、下部領域が圧電素子に印加される電圧により変形し難いので、下部領域が実質的に振動板として機能することにより、下部領域の逆圧電効果による変形が上部領域の逆圧電効果による変形の妨げとなることが低減される。この結果、圧電素子および振動板で構成される積層体の中立面が圧電体層内に位置しても、圧電素子の駆動による振動板の変形効率を向上させることができる。しかも、振動板の幅方向での端部の厚さを薄くすることにより、当該変形効率のさらなる向上を図ることができる。
【0115】
(付記10)本開示の好適例である第10態様の液体吐出装置は、第1態様から第9態様のいずれかの液体吐出ヘッドと、前記液体吐出ヘッドの駆動を制御する制御部と、を備える。以上の第10態様では、液体吐出ヘッドの吐出効率が優れるので、吐出特性に優れた液体吐出装置を提供することができる。
【符号の説明】
【0116】
10…液体容器、20…制御ユニット(制御部)、30…搬送機構、40…移動機構、41…キャリッジ、42…搬送ベルト、50…液体吐出ヘッド、50A…液体吐出ヘッド、51…流路基板、52…圧力室基板、52a…孔、52b…隔壁、53…ノズル基板、54…吸振体、55…振動板、55a…弾性膜、55b…絶縁膜、56…圧電素子、56A…圧電素子、56a…第1電極、56b…圧電体層、56b1…貫通孔、56c…第2電極、57…封止板、58…ケース、59…配線基板、60…駆動回路、100…液体吐出装置、AN…中立面、Ak…断面積、C…圧力室、IH…導入口、LA…積層体、LA1…層、LA2…層、LA3…層、LA4…層、LA5…層、M…媒体、N…ノズル、Na…連通流路、PV…振動領域、R…液体貯留室、R1…開口部、R2…収容部、RB…下部領域、RE1…能動領域、RE2…非能動領域、RE2a…腕部、RT…上部領域、Ra…供給流路、W…幅、d1…圧電定数、d2…圧電定数、td…厚さ、td1…厚さ、td2…厚さ、tp…厚さ、tp1…厚さ、tp2…厚さ、tpb…厚さ。