特開 2024-133753 センシング装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024133753

(43)【公開日】2024-10-03

(54)【発明の名称】センシング装置

(51)【国際特許分類】

   G08C 15/00 20060101AFI20240926BHJP

【ＦＩ】

G08C15/00 D

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023043704

(22)【出願日】2023-03-20

(71)【出願人】

【識別番号】000004215

【氏名又は名称】株式会社日本製鋼所

(74)【代理人】

【識別番号】100103894

【弁理士】

【氏名又は名称】家入 健

(72)【発明者】

【氏名】武本 華奈

(72)【発明者】

【氏名】福士 雄祐

(72)【発明者】

【氏名】落岩 崇

【テーマコード（参考）】

2F073

【Ｆターム（参考）】

2F073AA02

2F073AA03

2F073AA12

2F073AA19

2F073AA25

2F073AA40

2F073AB01

2F073AB04

2F073AB05

2F073BB01

2F073BB04

2F073BB07

2F073BC01

2F073BC02

2F073CC03

2F073CC14

2F073CD11

2F073DD02

2F073DE02

2F073DE06

2F073DE13

2F073EE01

2F073EE13

2F073EF01

2F073FF01

2F073FF12

2F073FG01

2F073FG02

2F073GG01

2F073GG08

(57)【要約】

【課題】センサで測定された測定データを適切に取得できるようにすること。
【解決手段】第１の複数のセンサからの信号を入力する第１入力部、前記第１入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第１サブ基板と、第２の複数のセンサからの信号を入力する第２入力部、前記第２入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第２サブ基板と、前記第１サブ基板と前記第２サブ基板とに電力を供給するメイン基板と、前記デジタル信号に基づくデータを出力する制御部と、を有する、センシング装置が提供される。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１の複数のセンサからの信号を入力する第１入力部、前記第１入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第１サブ基板と、
第２の複数のセンサからの信号を入力する第２入力部、前記第２入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第２サブ基板と、
前記第１サブ基板と前記第２サブ基板とに電力を供給するメイン基板と、
前記デジタル信号に基づくデータを出力する制御部と、
を有する、センシング装置。

【請求項2】

前記制御部は、
特定のセンサに基づいて監視対象装置の異常の有無を判定し、
前記特定のセンサの異常を検知した場合は、他のセンサに基づいて前記監視対象装置の異常の有無を判定する、
請求項１に記載のセンシング装置。

【請求項3】

前記制御部は、
前記特定のセンサの異常を検知した場合、複数のセンサのそれぞれで測定されるデータの推移、及び値の範囲の少なくとも一方についての前記特定のセンサとの類似度に基づいて、前記他のセンサを決定する、
請求項２に記載のセンシング装置。

【請求項4】

前記制御部は、
各時点における前記特定のセンサによる測定データを一時的に記録し、
前記特定のセンサに基づいて前記監視対象装置の異常を検知した場合、一時的に記録している測定データのうち、異常が発生した際の前後を含む特定期間に測定された測定データを特定の記憶部へ記録する、
請求項２または３に記載のセンシング装置。

【請求項5】

前記制御部は、
前記特定のセンサに基づいて前記監視対象装置の異常を検知した際、異常が発生した際に測定された他のセンサによる測定データを前記特定の記憶部へ記録する、
請求項４に記載のセンシング装置。

【請求項6】

前記第１サブ基板のローパスフィルタは、
前記第１入力部からの信号の第１周波数以上を減衰させる第１ローパスフィルタと、
前記第１ローパスフィルタからの信号の前記第１周波数よりも低い第２周波数以上を減衰させる第２ローパスフィルタと、を有する、
請求項１に記載のセンシング装置。

【請求項7】

前記第１サブ基板は、
前記第１ローパスフィルタの前記第１周波数の値を設定するディップスイッチを有する、
請求項６に記載のセンシング装置。

【請求項8】

前記制御部は、前記第１入力部から入力された特定の信号に基づいて、前記第１ローパスフィルタの前記第１周波数の値を設定する、
請求項６または７に記載のセンシング装置。

【請求項9】

前記メイン基板は、
前記制御部が前記デジタル信号に基づくデータを出力していない際は商用電源からバッテリに充電させ、
前記制御部が前記デジタル信号に基づくデータを出力している場合は前記バッテリから前記第１サブ基板と前記第２サブ基板とに電力を供給する、
請求項１に記載のセンシング装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、センシング装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、センサで測定された測定データに基づいて、産業機械等の異常を検知する技術が知られている（例えば、特許文献１を参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】国際公開第２０２０／１７０４０９号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、従来技術では、例えば、センサで測定された測定データを適切に取得できないことが考えられる。

【0005】

本開示の目的は、センサで測定された測定データを適切に取得できる技術を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示に係る一の態様では、第１の複数のセンサからの信号を入力する第１入力部、前記第１入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第１サブ基板と、第２の複数のセンサからの信号を入力する第２入力部、前記第２入力部からの信号のノイズを除去するローパスフィルタ、及び当該ローパスフィルタからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路を有する第２サブ基板と、前記第１サブ基板と前記第２サブ基板とに電力を供給するメイン基板と、前記デジタル信号に基づくデータを出力する制御部と、を有する、センシング装置が提供される。

【発明の効果】

【0007】

本開示によれば、センサで測定された測定データを適切に取得できる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】実施形態に係るセンシングシステムの構成の一例を示す図である。

【図2】実施形態に係るセンシング装置の一例を示す図である。

【図3】実施形態に係るセンシング装置の制御部のハードウェア構成の一例を示す図である。

【図4】実施形態に係るセンシング装置１０が、特定のセンサ５０の異常を検知した際の処理の一例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0009】

本開示の原理は、いくつかの例示的な実施形態を参照して説明される。これらの実施形態は、例示のみを目的として記載されており、本開示の範囲に関する制限を示唆することなく、当業者が本開示を理解および実施するのを助けることを理解されたい。本明細書で説明される開示は、以下で説明されるもの以外の様々な方法で実装される。
以下の説明および特許請求の範囲において、他に定義されない限り、本明細書で使用されるすべての技術用語および科学用語は、本開示が属する技術分野の当業者によって一般に理解されるのと同じ意味を有する。
以下、図面を参照して、本開示の一実施形態を説明する。

【0010】

＜システム構成＞
図１を参照し、実施形態に係るセンシングシステム１の構成について説明する。図１は、実施形態に係るセンシングシステム１の構成の一例を示す図である。図１の例では、センシングシステム１は、センシング装置１０、エッジ装置２０、クラウドサーバ３０、及び監視対象装置４０を有する。また、センシングシステム１は、センサ５０Ａ～Ｆ（以下で、区別する必要が無い場合は、単に「センサ５０」とも称する。）を有する。なお、センシング装置１０、エッジ装置２０、クラウドサーバ３０、監視対象装置４０、及びセンサ５０の数は図１の例に限定されない。

【0011】

図１の例では、センシング装置１０とセンサ５０とは、アナログ信号を伝達するケーブルで接続されている。また、センシング装置１０とエッジ装置２０とは、バス、またはＬＡＮ等のケーブルで接続されている。また、センシング装置１０とクラウドサーバ３０は、ネットワークＮにより通信できるように接続されている。ネットワークＮの例には、例えば、インターネット、移動通信システム、無線ＬＡＮ（Local Area Network）、及びＬＡＮ等が含まれてもよい。移動通信システムの例には、例えば、第５世代移動通信システム（５Ｇ）、第６世代移動通信システム（６Ｇ、Ｂｅｙｏｎｄ ５Ｇ）、第４世代移動通信システム（４Ｇ）、第３世代移動通信システム（３Ｇ）等が含まれてもよい。

【0012】

センサ５０は、監視対象装置４０の特定部位に設置され、測定を行うセンサである。センサ５０は、例えば、温度、振動（速度、距離、加速度）、トルク、ひずみ、圧力等を測定してもよい。

【0013】

センシング装置１０は、センサ５０により測定された測定データのアナログ信号をデジタル信号へ変換する。この場合、測定データには、例えば、監視対象装置４０の振動（速度、距離、加速度）、トルク、ひずみ、及び圧力の少なくとも一つを示すデータが含まれてもよい。また、センシング装置１０は、当該デジタル信号に基づくデータを、センシング装置１０の内部または外部の記憶装置に記録させてもよい。これにより、例えば、保守員は、記憶装置（例えば、ＳＤメモリーカード）に記録された情報をノートＰＣ（パーソナルコンピュータ）等へコピーするなどして持ち帰ることができる。また、センシング装置１０は、当該デジタル信号に基づくデータを、エッジ装置２０へ送信してもよい。この場合、センシング装置１０は、例えば、特定間隔（例えば、３時間に１回）で、特定期間（例えば、３０分間）の測定データをエッジ装置２０へ送信してもよい。

【0014】

エッジ装置２０は、監視対象装置４０に関するデータを記録し、記録したデータをクラウドサーバ３０へアップロードする。クラウドサーバ３０は、エッジ装置２０からアップロードされたデータに基づいて、監視対象装置４０の稼動状況、劣化状況等を分析して、分析結果をＷｅｂサイトにより監視対象装置４０のユーザへ提供してもよい。

【0015】

監視対象装置４０は、センシング装置１０により測定対象とされる装置である。監視対象装置４０は、例えば、樹脂を加熱溶融及び混練してフィルムまたはシートを製造する押出機（二軸スクリュ押出機）等の産業機械でもよい。なお、押出機は、モータで発生した動力を所定のトルクに変換して二軸スクリュに伝える減速機を有してもよい。また、監視対象装置４０は、例えば、樹脂材の原料であるペレットを製造するための押出機または造粒機でもよい。また、監視対象装置４０は、熱等により溶かした原料を型に流し込んで成形する射出成形機でもよい。

【0016】

＜センシング装置１０の構成＞
次に、図２を参照し、実施形態に係るセンシング装置１０の構成について説明する。図２は、実施形態に係るセンシング装置１０の構成の一例を示す図である。図２の例では、センシング装置１０は、制御部１４、メイン基板１１、及びバッテリ１３を有する。また、センシング装置１０は、サブ基板１２Ａ～Ｂ（以下で、区別する必要が無い場合は、単に「サブ基板１２」とも称する。）を有する。なお、制御部１４、メイン基板１１、サブ基板１２、及びバッテリ１３の数は、図２の例に限定されない。制御部１４は、例えば、マイコン（マイクロコントローラ）等のコンピュータ１００により実現されてもよい。なお、マイコンとは、例えば、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、Ｉ／Ｏポートなどを１つの集積回路にまとめたコンピュータでもよい。メイン基板１１、及びサブ基板１２は、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）により実現されてもよい。

【0017】

サブ基板１２Ａは、複数のセンサ５０からの信号を入力する入力部１２１Ａ、入力部１２１Ａからの信号のノイズを除去するローパスフィルタ１２２Ａ、及びローパスフィルタ１２２Ａからのアナログ信号をデジタル信号へ変換する変換回路１２３Ａを有している。

【0018】

ローパスフィルタ１２２Ａは、入力部１２１Ａからの信号の第１周波数以上を減衰させるローパスフィルタ１２２Ａ１と、ローパスフィルタ１２２Ａ１からの信号の第１周波数よりも低い第２周波数以上を減衰させるローパスフィルタ１２２Ａ２と、を有する。このように２つのローパスフィルタをカスケード接続することにより、遮断する信号のレベルをより抑えることができる。なお、ローパスフィルタ１２２Ａ１及びローパスフィルタ１２２Ａ２の少なくとも一方は、周波数領域におけるエリアシングを防ぐアンチエリアシングフィルタでもよい。

【0019】

なお、ローパスフィルタ１２２Ａ２及び変換回路１２３Ａは、同一のＩＣ（Integrated Circuit）チップ上に実装されていてもよい。これにより、例えば、汎用的な部品である当該ＩＣチップとローパスフィルタ１２２Ａ１とを組み合わせることにより、所望の特性を有するローパスフィルタ１２２Ａを実現できる。

【0020】

サブ基板１２Ａは、ローパスフィルタ１２２Ａ１の遮断周波数である第１周波数の値を設定できるディップスイッチを有してもよい。これにより、例えば、センシング装置１０の設置場所の周囲の監視対象装置４０の数が比較的多い、及び周囲の気温が比較的高い等によりノイズが比較的大きい場合に、センシング装置１０を設置するユーザ（エンジニア）は、第１周波数の値をより適切な値（例えば、比較的高い値）に設定することができる。なお、ディップスイッチとは、例えば、電子回路基板上に実装される小型等のスイッチである。

【0021】

また、制御部１４は、入力部１２１Ａから入力された特定の信号（テスト用の特定波形の信号。例えば、正弦波。）に基づいて、ローパスフィルタ１２２Ａ１の遮断周波数である第１周波数の値を設定してもよい。これにより、周囲環境に応じた値を自動で設定できる。この場合、当該特定の信号を出力する装置からのケーブルが入力部１２１Ａへユーザにより接続されてもよい。そして、制御部１４は、例えば、当該装置が接続されたことを検知し、ローパスフィルタ１２２Ａ１の遮断周波数を複数の値のそれぞれに変更しながら、変換回路１２３Ａで変換されたデジタル信号での誤り率をそれぞれ算出してもよい。そして、制御部１４は、例えば、当該複数の値のうち、当該誤り率が最も低くなる値を、第１周波数の値として設定してもよい。

【0022】

サブ基板１２Ｂは、サブ基板１２Ａと同様でもよい。この場合、サブ基板１２Ｂについての説明は、サブ基板１２Ａについての説明において符号中の「Ａ」を「Ｂ」と読み替える等すればよい。なお、図２の例では、入力部１２１Ａにはセンサ５０Ａ～Ｃが接続され、入力部１２１Ｂにはセンサ５０Ｄ～Ｆが接続されている。

【0023】

メイン基板１１は、サブ基板１２Ａとサブ基板１２Ｂとに電力を供給する。制御部１４は、センシング装置１０の各部を制御する。また、制御部１４は、サブ基板１２からのデジタル信号に基づくデータを、センシング装置１０の内部または外部の記憶装置へ出力（記録、保存）してもよい。また、制御部１４は、サブ基板１２からのデジタル信号に基づくデータをエッジ装置２０へ出力（送信）してもよい。また、制御部１４は、例えば、入力部１２１Ａのスイッチを制御することにより、入力部１２１Ａが入力対象とするセンサ５０を切り替えてもよい。また、制御部１４は、例えば、入力部１２１Ａのスイッチを制御することにより、入力部１２１Ａが複数のセンサ５０からの各測定データを並列で（同時に）取得できるようにしてもよい。同様に、制御部１４は、例えば、入力部１２１Ｂのスイッチを制御することにより、入力部１２１Ｂが入力対象とするセンサ５０を切り替えてもよい。また、制御部１４は、例えば、入力部１２１Ｂのスイッチを制御することにより、入力部１２１Ｂが複数のセンサ５０からの各測定データを並列で（同時に）取得できるようにしてもよい。

【0024】

メイン基板１１は、制御部１４がサブ基板１２からのデジタル信号に基づくデータを出力していない場合（例えば、特定のセンサ５０により測定が行われていない際）は、商用電源からバッテリ１３に充電させてもよい。そして、メイン基板１１は、制御部１４がサブ基板１２からのデジタル信号に基づくデータを出力している場合（例えば、特定のセンサ５０により測定が行われている際）はバッテリ１３からサブ基板１２へ給電させてもよい。これにより、例えば、クラウドサーバ３０へアップロードされる測定データ、及び記憶装置に記録される測定データにおいて、ノイズの影響を低減できる。これは、例えば、商用電源からのノイズがローパスフィルタ１２２Ａ等に影響する可能性が考えられるためである。なお、メイン基板１１は、例えば、特定のセンサ５０により測定が行われているか否かを示す情報を制御部１４またはサブ基板１２から取得してもよい。

【0025】

（監視対象装置４０の異常時のログ保存）
制御部１４は、各時点における特定のセンサ５０による測定データを一時的に記録してもよい。ここで、制御部１４は、例えば、記憶部の特定領域において、古い測定データから順に、新しい測定データに上書きしてもよい。

【0026】

そして、制御部１４は、特定のセンサ５０に基づいて監視対象装置４０の異常を検知してもよい。ここで、制御部１４は、例えば、特定のセンサ５０による測定データの変化量が閾値以上である場合、監視対象装置４０に異常が発生したと判定してもよい。

【0027】

そして、制御部１４は、監視対象装置４０の異常を検知した場合、一時的に記録している測定データのうち、異常が発生した際の前後を含む特定期間に測定された測定データを特定の記憶部へ記録してもよい。これにより、監視対象装置４０に異常が発生した場合に、異常が発生した際の前後の何分間かのデータをロギングできる。

【0028】

また、制御部１４は、監視対象装置４０の異常を検知した場合、異常を検知してから特定時間が経過するまでの間の当該特定のセンサ５０以外のセンサ５０による測定データを、当該特定の記憶部へ記録してもよい。これにより、監視対象装置４０に異常が発生した場合に、異常が発生した後の何分間かの他のセンサによるデータをロギングできる。

【0029】

＜制御部１４のハードウェア構成＞
図３は、実施形態に係るセンシング装置１０の制御部１４（コンピュータ１００）のハードウェア構成例を示す図である。図３の例では、コンピュータ１００は、プロセッサ１０１、メモリ１０２、通信インターフェイス１０３を含む。これら各部は、バス等により接続されてもよい。メモリ１０２は、プログラム１０４の少なくとも一部を格納する。通信インターフェイス１０３は、他のネットワーク要素との通信に必要なインターフェイスを含む。

【0030】

プログラム１０４が、プロセッサ１０１及びメモリ１０２等の協働により実行されると、コンピュータ１００により本開示の実施形態の少なくとも一部の処理が行われる。メモリ１０２は、任意のタイプのものであってもよい。プロセッサ１０１は、汎用コンピュータ、専用コンピュータ、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：Digital Signal Processor）、および非限定的な例としてマルチコアプロセッサアーキテクチャに基づくプロセッサの１つ以上を含んでよい。コンピュータ１００は、メインプロセッサを同期させるクロックに時間的に従属する特定用途向け集積回路チップなどの複数のプロセッサを有してもよい。

【0031】

プログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例には、磁気記録媒体、光磁気記録媒体、光ディスク媒体、半導体メモリ等が含まれる。磁気記録媒体には、例えば、フレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ等が含まれる。光磁気記録媒体には、例えば、光磁気ディスク等が含まれる。光ディスク媒体には、例えば、ブルーレイディスク、ＣＤ（Compact Disc）－ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＣＤ－Ｒ（Recordable）、ＣＤ－ＲＷ（ReWritable）等が含まれる。半導体メモリには、例えば、ソリッドステートドライブ、マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ（Programmable ROM）、ＥＰＲＯＭ（Erasable PROM）、フラッシュＲＯＭ、ＲＡＭ（random access memory）等が含まれる。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。

【0032】

＜処理＞
次に、図４を参照し、実施形態に係るセンシング装置１０が、特定のセンサ５０の異常を検知した際の処理の一例について説明する。図４は、実施形態に係るセンシング装置１０が、特定のセンサ５０の異常を検知した際の処理の一例を示すフローチャートである。なお、以下の各処理の順番は、矛盾を生じない範囲で適宜変更されてもよい。

【0033】

ステップＳ１０１において、制御部１４は、監視対象装置４０の異常を判定するための特定のセンサ５０に異常が発生したか否かを判定する。ここで、制御部１４は、例えば、センサ５０による測定データの値が、特定の範囲外である場合に、センサ５０に異常が発生したと判定してもよい。

【0034】

特定のセンサ５０に異常が発生していない場合（ステップＳ１０１でＮＯ）、制御部１４は、特定のセンサ５０に基づいて監視対象装置４０の異常の有無を判定し（ステップＳ１０２）、処理を終了する。ここで、制御部１４は、例えば、特定のセンサ５０による測定データの変化量が閾値以上である場合、監視対象装置４０に異常が発生したと判定してもよい。

【0035】

一方、特定のセンサ５０に異常が発生している場合（ステップＳ１０１でＹＥＳ）、制御部１４は、監視対象装置４０の異常の有無を判定するための他のセンサ５０を特定する（ステップＳ１０３）。ここで、制御部１４は、例えば、複数のセンサ５０のそれぞれで測定されるデータの推移、及び値の範囲の少なくとも一方についての前記特定のセンサ５０との類似度に基づいて、当該他のセンサ５０を特定してもよい。

【0036】

この場合、制御部１４は、例えば、各センサ５０で測定されるデータの特徴量に関する確率分布（例えば、情報エントロピー、情報量など）を算出してもよい。そして、制御部１４は、例えば、ＫＬ(Kullback-Leibler)ダイバージェンスまたはＪＳ（Jensen-Shannon）ダイバージェンス等を用いて、算出した各確率分布の差異を当該類似度としても算出してもよい。また、制御部１４は、例えば、相互情報量、または各エントロピーの差分等に基づいて、当該類似度を算出してもよい。

【0037】

また、制御部１４は、例えば、複数のセンサ５０のそれぞれで測定されるデータの推移と、特定のセンサ５０のそれぞれで測定されるデータの推移との相関係数を、当該類似度として算出してもよい。

【0038】

また、制御部１４は、例えば、複数のセンサ５０のそれぞれで測定されるデータの値の範囲と、特定のセンサ５０のそれぞれで測定されるデータの値の範囲とが近いほど、当該類似度の値を高く決定してもよい。

【0039】

続いて、制御部１４は、当該他のセンサ５０に基づいて監視対象装置４０の異常の有無を判定し（ステップＳ１０４）、処理を終了する。ここで、制御部１４は、例えば、当該他のセンサ５０による測定データの変化量が閾値以上である場合、監視対象装置４０に異常が発生したと判定してもよい。

【0040】

なお、本開示は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。

【符号の説明】

【0041】

１ センシングシステム
１０ センシング装置
１１ メイン基板
１２Ａ～Ｂ サブ基板
１２１Ａ～Ｂ 入力部
１２２Ａ～Ｂ、１２２Ａ１、１２２Ｂ１、１２２Ａ２、１２２Ｂ２ ローパスフィルタ
１２３Ａ、１２３Ｂ 変換回路
１３ バッテリ
１４ 制御部
２０ エッジ装置
３０ クラウドサーバ
４０ 監視対象装置
５０Ａ～Ｆ センサ
１００ コンピュータ
１０１ プロセッサ
１０２ メモリ
１０３ 通信インターフェイス
１０４ プログラム

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】