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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024134210
(43)【公開日】2024-10-03
(54)【発明の名称】誤り率測定装置及び誤り率測定方法
(51)【国際特許分類】
H04L 1/00 20060101AFI20240926BHJP
H04L 25/49 20060101ALI20240926BHJP
【ＦＩ】
H04L1/00 C
H04L25/49 L
【審査請求】有
【請求項の数】4
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023044404
(22)【出願日】2023-03-20
(71)【出願人】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100067323
【弁理士】
【氏名又は名称】西村 教光
(74)【代理人】
【識別番号】100124268
【弁理士】
【氏名又は名称】鈴木 典行
(72)【発明者】
【氏名】城所 久生
【テーマコード（参考）】
5K014
5K029
【Ｆターム（参考）】
5K014BA05
5K014GA02
5K014GA04
5K014GA06
5K029FF02
5K029KK27
(57)【要約】
【課題】ビットエラーだけでなくＦｌｉｔエラーの測定を同時に行う。
【解決手段】ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳ相当部分のマスク用のマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラー判別用閾値の設定を操作部２にて行う。エラー検出器４は、マスクパターンをシンボルマスク生成部２５にて生成し、エラー検出部２８により、被測定物ＷからのＰＲＢＳパターンに基づくＰＡＭ４信号を受信して疑似的にＦｌｉｔ長の間隔で区切り、ＳＫＰ ＯＳ相当部分をマスクパターンでマスクしてＦｌｉｔ相当部分のエラーを検出してカウントし、Ｆｌｉｔエラー検出部２９により、Ｆｌｉｔ相当部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
【選択図】図１
【解決手段】ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳ相当部分のマスク用のマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラー判別用閾値の設定を操作部２にて行う。エラー検出器４は、マスクパターンをシンボルマスク生成部２５にて生成し、エラー検出部２８により、被測定物ＷからのＰＲＢＳパターンに基づくＰＡＭ４信号を受信して疑似的にＦｌｉｔ長の間隔で区切り、ＳＫＰ ＯＳ相当部分をマスクパターンでマスクしてＦｌｉｔ相当部分のエラーを検出してカウントし、Ｆｌｉｔエラー検出部２９により、Ｆｌｉｔ相当部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値の設定を行う操作部（２）と、
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンを生成するシンボルマスク生成部（２５）と、被測定物（Ｗ）から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部（２８）と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部（２９）と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示する同期状態管理部（３０）とを含むエラー検出器（４）と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンを生成するシンボルマスク生成部（２５）と、被測定物（Ｗ）から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部（２８）と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部（２９）と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示する同期状態管理部（３０）とを含むエラー検出器（４）と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項2】
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生して前記被測定物に送信するパターン発生器（３）を備え、
前記被測定物は、自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、ループバック状態のときに前記パターン発生器から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記エラー検出器に折り返して送信することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
前記被測定物は、自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、ループバック状態のときに前記パターン発生器から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記エラー検出器に折り返して送信することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
【請求項3】
ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値の設定を操作部（２）にて行うステップと、
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンをエラー検出器（４）のシンボルマスク生成部（２５）にて生成するステップと、
前記エラー検出器のエラー検出部（２８）により、被測定物（Ｗ）から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部（２９）により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部（３０）により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンをエラー検出器（４）のシンボルマスク生成部（２５）にて生成するステップと、
前記エラー検出器のエラー検出部（２８）により、被測定物（Ｗ）から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部（２９）により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部（３０）により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【請求項4】
前記被測定物が自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器（３）から発生して前記被測定物に送信するステップと、
前記被測定物がループバック状態のときに前記パターン発生器から前記被測定物に送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記被測定物から前記エラー検出器に折り返して送信するステップと、を含むことを特徴とする請求項３に記載の誤り率測定方法。
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器（３）から発生して前記被測定物に送信するステップと、
前記被測定物がループバック状態のときに前記パターン発生器から前記被測定物に送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記被測定物から前記エラー検出器に折り返して送信するステップと、を含むことを特徴とする請求項３に記載の誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、自身の設定でループバック状態に遷移できるデバイスを被測定物とし、被測定物から送信されるＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号のエラー測定を行う誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率（以下、ＢＥＲ：Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅとも言う）を測定する装置として従来から知られている。
【0003】
また、下記特許文献１に開示されるように、ＩＥＥＥ ８０２．３規格に準拠したＲＳ－ＦＥＣ測定機能を有する誤り率測定装置が知られている。この誤り率測定装置では、コードワード長で区切った領域のコードワード長ごとのＦＥＣシンボルエラー数を集計し、各々のエラーカウント数及びエラーレートを取得して表示していた。
【0004】
ところで、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ５．０の物理層評価は、被測定物のＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ）とリンクトレーニングを行って被測定物をＬｏｏｐｂａｃｋ状態（信号折り返しの状態）にし、ＭＣＰ（Ｍｏｄｉｆｉｅｄ Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅ Ｐａｔｔｅｒｎ）を用いて行われていた。このときの性能指標は、ＢＥＲ＜１０-12 である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２０２１－１３６６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０ではＦＥＣが導入された。しかしながら、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０でもＭＣＰが定義されているが、ＦＥＣガードの対象外となっている。ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０物理層にはＦＥＣ対象パターンのＦｌｉｔとＦＥＣ対象外パターンのＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ）が混在するため、ＭＣＰを用いた従来の手法ではＦｌｉｔエラーの評価に対応できなかった。同様に、特許文献１に開示される誤り率測定装置では、コードワード当たりのシンボルエラー数を測定するだけで、コードワード内に複数のＦＥＣガードが存在する場合を考慮していなかった。
【0007】
さらに説明すると、Ｌ０でＦｌｉｔの送受信を行う際は、一定間隔でＳＫＰ ＯＳを挿入する仕様となっている。このＳＫＰ ＯＳはＦｌｉｔのＦＥＣのガード対象外となっている。このとき、ＳＫＰ ＯＳの送信間隔は一定であるが、受信ＳＫＰ ＯＳの長さは可変する可能性がある。よって、Ｆｌｉｔエラーを正しく検出するためには、ＦＥＣガード対象外のＳＫＰ ＯＳを取り除いた後、Ｆｌｉｔエラー測定をする必要がある。このことは、ＢＥＲ測定に一般的に用いられている単純なＰＲＢＳパターンを用いたビットエラー測定ではＦｌｉｔエラーとの相関を得られにくいことを示している。
【0008】
なお、ＬＴＳＳＭが実装されないＳｅｒＤｅｓの物理層評価ではＰＲＢＳパターンが使われるが、このときもＭＣＰをＰＲＢＳパターンと読み替えることができ、同様の問題がある。
【0009】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＰＲＢＳパターンを用いてビットエラーだけでなく、Ｆｌｉｔエラーの測定を同時に行うことができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0010】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値の設定を行う操作部２と、
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンを生成するシンボルマスク生成部２５と、被測定物Ｗから送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部２８と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部２９と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示する同期状態管理部３０とを含むエラー検出器４と、
を備えたことを特徴とする。
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンを生成するシンボルマスク生成部２５と、被測定物Ｗから送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部２８と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部２９と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示する同期状態管理部３０とを含むエラー検出器４と、
を備えたことを特徴とする。
【0011】
本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生して前記被測定物に送信するパターン発生器３を備え、
前記被測定物は、自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、前記パターン発生器から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記エラー検出器に折り返して送信することを特徴とする。
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生して前記被測定物に送信するパターン発生器３を備え、
前記被測定物は、自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、前記パターン発生器から送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記エラー検出器に折り返して送信することを特徴とする。
【0012】
本発明の請求項３に記載された誤り率測定方法は、ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値の設定を操作部２にて行うステップと、
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンをエラー検出器４のシンボルマスク生成部２５にて生成するステップと、
前記エラー検出器のエラー検出部２８により、被測定物Ｗから送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部２９により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部３０により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示するステップと、を含むことを特徴とする。
前記マスクパターン長と前記マスクパターン周期によるマスクパターンをエラー検出器４のシンボルマスク生成部２５にて生成するステップと、
前記エラー検出器のエラー検出部２８により、被測定物Ｗから送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号を疑似的に前記Ｆｌｉｔ長の間隔で区切り、前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を前記マスクパターンでマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部２９により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部３０により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記エラーを検出するためのリファレンスパターンの再生成を指示するステップと、を含むことを特徴とする。
【0013】
本発明の請求項４に記載された誤り率測定方法は、請求項３の誤り率測定方法において、
前記被測定物が自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３から発生して前記被測定物に送信するステップと、
前記パターン発生器から前記被測定物に送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記被測定物から前記エラー検出器に折り返して送信するステップと、を含むことを特徴とする。
前記被測定物が自身の設定でループバック状態に遷移可能であり、
前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３から発生して前記被測定物に送信するステップと、
前記パターン発生器から前記被測定物に送信される前記ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を前記被測定物から前記エラー検出器に折り返して送信するステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、ビットエラー測定に一般的に用いられている単純なＰＲＢＳパターンを用いて擬似的にＦｌｉｔとそれ以外とに区別を行い、Ｆｌｉｔ領域についてのＦＥＣシンボルエラー状況から、Ｆｌｉｔエラーが起きるか否かを推定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
【図2】ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０規格で定義されるＦｌｉｔの説明図である。
【図3】ＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数ごとのＦｌｉｔ数の一例を示す図である。
【図4】本発明に係る誤り率測定装置によるエラー測定方法の概略説明図である。
【図5】本発明に係る誤り率測定装置における各種エラー検出のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図7】本発明に係る誤り率測定装置におけるＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー検出のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図8】本発明に係る誤り率測定装置の処理動作のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【0017】
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、自身の設定でループバック状態に遷移できるデバイスを被測定物（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）Ｗとし、ハイスピードバス規格としてのＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６と言う）規格の物理層のエラー測定において、ＰＲＢＳパターンを用いてビットエラーだけでなく、Ｆｌｉｔエラー（ＦｌｉｔのＦＥＣがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになるか）の測定を同時に行う機能を有するものであり、操作部２、パターン発生器３、エラー検出器４を備えて概略構成される。
【0018】
なお、本実施の形態が対象とするＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格では、取り扱う信号がＰＡＭ４信号となる。また、Ｆｌｉｔの概念はＰＣＩｅ Ｇｅｎ６から定義されたが、同様のＦｌｉｔの概念を用いた今後のＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ規格にも本発明の適用は可能である。さらに、本実施の形態では、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６を例示して説明するが、例えばＵＳＢ等の他のハイスピードバス規格において、Ｆｌｉｔエラーを測定する場合にも本発明の適用は可能である。
【0019】
［Ｆｌｉｔについて］
まず、本実施の形態の誤り率測定装置１が取り扱うＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔについて図２および図３を参照しながら説明する。Ｆｌｉｔは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格において、ＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ：リンク状態管理機構）のステートがＬ０のとき送信されるデータフォーマットであり、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。
まず、本実施の形態の誤り率測定装置１が取り扱うＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔについて図２および図３を参照しながら説明する。Ｆｌｉｔは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格において、ＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ：リンク状態管理機構）のステートがＬ０のとき送信されるデータフォーマットであり、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。
【0020】
１Ｆｌｉｔは、図２に示すように、３つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２）でインターリーブされる。１つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐは、１ＦＥＣシンボル（４ＰＡＭ４シンボル＝８ｂｉｔ）で区切られる。
【0021】
そして、ＦｌｉｔがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる条件を要約すると、１Ｆｌｉｔ内において同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐに２回ＦＥＣシンボルエラーが入った場合にＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅとなる。
【0022】
さらに図３を用いて説明する。図３はＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ数（２以上）、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数（０～７、８以上）ごとのＦｌｉｔ数の一例を示している。なお、図３において、右下がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる部分を示し、右上がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる場合とＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない場合がある部分を示している。
【0023】
例えばＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎ≧２の場合を例にとって図３を参照しながら説明する。図３の点線で囲まれるＡ（Ｆｌｉｔ数：３）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生しているが、別々のＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０とＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１）のエラー数が１個ずつなので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない。
【0024】
これに対し、図３の点線で囲まれるＢ（Ｆｌｉｔ数：５）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが４個発生しているだけでなく、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数で見ても、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0025】
また、図３の点線で囲まれるＣ（Ｆｌｉｔ数：９）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生し、同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0026】
このように、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６では、新しくＦｌｉｔのモードが導入されており、Ｆｌｉｔは２５６ＦＥＣシンボル長（１ＦＥＣシンボル＝８ｂｉｔ）で、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。ＦｌｉｔのＦＥＣは、３－ｗａｙ ｉｎｔｅｒｌｅａｖｅｄ ＥＣＣであり、各ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐはシングルバイトエラー（１ＦＥＣシンボルのエラー）を訂正することができる。
【0027】
そして、１Ｆｌｉｔでは、３ＦＥＣシンボルまでの誤りが訂正可能であり、誤り訂正ができない場合、Ｆｌｉｔエラー（ＥＣＣがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ）となる。しかし、３ＦＥＣシンボル誤りでも誤り位置の発生状況によっては、訂正不可となってしまう。例えば、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のシンボル０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１のシンボル１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２のシンボル２が誤りであった場合は訂正可能であるが、同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のシンボル０、３、６が誤りであった場合は訂正不可となる。これは同じビットエラーレートでも、ビットエラーの発生位置によってＦｌｉｔエラー発生数が異なることを意味する。
【0028】
［本発明の概要について］
図４に示すように、誤り率測定装置１は、連続パターンであるＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ Ｒａｎｄｏｍ Ｂｉｔ Ｓｅｑｕｅｎｃｅ：疑似ランダム信号）パターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号（後述するＰＲＢＳエラー測定パターンに相当）を被測定物Ｗに送信し、被測定物Ｗ自身のループバックにより被測定物Ｗから折り返されるＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をエラー検出器４が受信すると、エラー検出器４内部では、受信したＰＡＭ４信号を疑似的にＦｌｉｔ長（例えば２５６ＦＥＣシンボル＝２０４８ｂｉｔ）による一定間隔で区切り、さらにＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ、以下、ＳＫＰと省略する：図面上では「ＳＫＰ」にて図示）に相当するパターンをマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）をカウントする。さらに、Ｆｌｉｔに相当する部分については、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
図４に示すように、誤り率測定装置１は、連続パターンであるＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ Ｒａｎｄｏｍ Ｂｉｔ Ｓｅｑｕｅｎｃｅ：疑似ランダム信号）パターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号（後述するＰＲＢＳエラー測定パターンに相当）を被測定物Ｗに送信し、被測定物Ｗ自身のループバックにより被測定物Ｗから折り返されるＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をエラー検出器４が受信すると、エラー検出器４内部では、受信したＰＡＭ４信号を疑似的にＦｌｉｔ長（例えば２５６ＦＥＣシンボル＝２０４８ｂｉｔ）による一定間隔で区切り、さらにＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ、以下、ＳＫＰと省略する：図面上では「ＳＫＰ」にて図示）に相当するパターンをマスクしてＦｌｉｔに相当する部分のエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）をカウントする。さらに、Ｆｌｉｔに相当する部分については、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
【0029】
ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格では、物理層がビットエラー性能指標を満たしても、ストレス条件よってはＦｌｉｔエラーが起きる可能性がある。これに対し、ビットエラーとＦｌｉｔエラーを同時に測定することで、ビットエラーとＦｌｉｔエラーの相関性を明らかにし、Ｆｌｉｔエラーが起きるか否かを知ることができる。
【0030】
また、Ｆｌｉｔは、Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎ Ｌａｙｅｒのユーザーデータを運んでおり、Ｆｌｉｔエラーが起きた際、ユーザーデータを再送処理することでリカバリされるが、これが多発するようでは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６本来の帯域で通信ができない。これに対し、ビットエラー測定とＦｌｉｔエラー測定を同時に行うことで、ユーザーデータ使用時のスループット性能、すなわち、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６本来の帯域を使用できているか否かを正確に把握することができるようになる。
【0031】
［誤り率測定装置の各部の構成について］
操作部２は、設定手段や表示手段としても機能するものであり、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示手段の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成され、ユーザの操作に応じて各種設定、指示や測定結果の表示を行う。
操作部２は、設定手段や表示手段としても機能するものであり、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示手段の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成され、ユーザの操作に応じて各種設定、指示や測定結果の表示を行う。
【0032】
操作部２にて設定される設定内容としては、ＰＲＢＳパターンのＰＲＢＳ段数、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰ ＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇ、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定がある。
【0033】
パターン発生器３は、操作部２からの指示に従い、ＰＲＢＳエラー測定パターンを発生するもので、図１に示すように、ＰＲＢＳパターン発生部１１、ビット分割部１２、Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇエンコーダ１３、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇエンコーダ１４、ＰＡＭ４エンコーダ１５を備えて構成される。
【0034】
ＰＲＢＳパターン発生部１１は、被測定物Ｗに送信するＰＲＢＳエラー測定パターンの元になるパターンとして、操作部２にて設定されるＰＲＢＳ段数によるＰＲＢＳパターン（例えばＰＲＢＳ７、ＰＲＢＳ９、ＰＲＢＳ１１、ＰＲＢＳ１５、ＰＲＢＳ２０、ＰＲＢＳ３１など）を発生する。
【0035】
ビット分割部１２は、ＰＲＢＳパターン発生部１１が発生するＰＲＢＳパターンを最上位ビット列データ（以下、ＭＳＢデータと言う）と最下位ビット列データ（以下、ＬＳＢデータと言う）に分割する。
【0036】
Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇエンコーダ１３とＰｒｅｃｏｄｉｎｇエンコーダ１４は、必要に応じて設けられ、操作部２からの指示に従い、ビット分割部１２にて分割されたＭＳＢデータとＬＳＢデータに対し、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇおよびＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇによるエンコードを施してＰＡＭ４エンコーダ１５に入力する。
【0037】
ＰＡＭ４エンコーダ１５は、ビット分割部１２にて分割されたＭＳＢデータとＬＳＢデータをＰＡＭ４エンコードし、ＰＡＭ４エンコードしたＰＡＭ４信号をＰＲＢＳエラー測定パターンとして出力する。また、ＰＡＭ４エンコーダ１５は、必要に応じてＰＡＭ４ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇおよびＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇによるエンコードが施されたＭＳＢデータとＬＳＢデータをＰＡＭ４エンコードし、ＰＡＭ４エンコードしたＰＡＭ４信号をＰＲＢＳエラー測定パターンとして出力する。
【0038】
エラー検出器４は、パターン発生器３からＰＲＢＳエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）が被測定物Ｗに送信されたときに、被測定物Ｗ自身のループバックにより折り返されるＰＲＢＳエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）を受信してエラーを検出するもので、ＰＡＭ４デコーダ２１、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２２、Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇデコーダ２３、リファレンスパターン生成部２４、シンボルマスク生成部２５、第１遅延部２６、第２遅延部２７、エラー検出部２８、Ｆｌｉｔエラー検出部２９、同期状態管理部３０を備えて構成される。
【0039】
ＰＡＭ４デコーダ２１は、被測定物Ｗから受信したＰＲＢＳエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）のＰＡＭ４シンボルを、ＭＳＢデータとＬＳＢデータにデコードして分離する。
【0040】
Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２２、Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇデコーダ２３は、必要に応じて設けられ、操作部２からの指示に従い、ＰＡＭ４デコーダ２１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータにＰｒｅｃｏｄｉｎｇおよびＧｒａｙ ｃｏｄｉｎｇのデコードを施して出力する。
【0041】
リファレンスパターン生成部２４は、エラーを検出するためのリファレンスパターンを生成するもので、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａとＬＳＢリファレンスパターン生成部２４ｂからなる。ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａは、操作部２にて設定されたＰＲＢＳ段数により、入力パターンのＭＳＢデータを種として、ＰＲＢＳパターンによるＭＳＢリファレンスパターンを生成する。また、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａは、ＬＳＢリファレンスパターンを生成するための種を生成する。さらに、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａは、ＰＲＢＳパターンの１周期の先頭を検出してマスクパターン先頭信号（ＦＥＣシンボルの境界を示す信号）をシンボルマスク生成部２５に出力する。
【0042】
ＬＳＢリファレンスパターン生成部２４ｂは、操作部２にて設定されたＰＲＢＳ段数により、ＭＳＢリファレンスパターンを種として、ＰＲＢＳパターンによるＬＳＢリファレンスパターンを生成する。
【0043】
シンボルマスク生成部２５は、マスクパターン先頭信号をトリガとして、入力ＰＲＢＳパターンであるＭＳＢデータとＬＳＢデータをＦｌｉｔ領域と区別するのか、ＳＫＰ領域と区別するのかの、ＦＥＣシンボル単位のマスクパターンを操作部２にて設定されるマスクパターン長、マスクパターン周期に基づいて生成する。また、シンボルマスク生成部２５は、マスクパターン先頭信号をエラー検出部２８に出力する。
【0044】
なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＦｌｉｔパターンは１ＦＥＣシンボル＝８ｂｉｔであり、１ＦＥＣシンボルはＭＳＢデータとＬＳＢデータにビットインターリーブされているため、４ＰＡＭ４シンボル単位のマスクとなる。本実施の形態では、０：Ｆｌｉｔ領域、１：ＳＫＰ領域とする。マスクパターンは、操作部２の設定操作により図４に対応したものを事前に計算し、シンボルマスク生成部２５の内部メモリに設定しておく。
【0045】
第１遅延部２６は、エラー検出部２８に入力されるＭＳＢデータ、ＬＳＢデータ、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号が同位相となるように、ＭＳＢデータとＬＳＢデータを所定時間遅延させてエラー検出部２８に入力する。
【0046】
第２遅延部２７は、エラー検出部２８に入力されるＭＳＢデータ、ＬＳＢデータ、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号が同位相となるように、ＭＳＢリファレンスパターンを所定時間遅延させてエラー検出部２８に入力する。
【0047】
エラー検出部２８は、ＰＲＢＳパターンによるＭＳＢデータとＬＳＢデータ、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号を用いて、ビットエラー（ＭＳＢビットエラー、ＬＳＢビットエラー）の検出及びカウント、ＰＡＭ４シンボルエラーの検出及びカウント、ＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行い、カウント結果を操作部２に出力する。
【0048】
ここで、図５は誤り率測定装置１のエラー検出部２８による各種エラー検出のタイミングチャートの一例を示している。図５はＰＲＢＳ７パターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を被測定物Ｗに送信したときのタイミングチャートの一例である。
【0049】
図５のマスクパターン先頭信号入力後のＣＬＫ位置１～３６に着目した場合を例にとって説明する。この場合、入力ＰＲＢＳ７パターンのＭＳＢ（ＰＲＢＳパターンによるＭＳＢデータに相当）の各ビットとリファレンスＰＲＢＳ７パターンのＭＳＢ（ＭＳＢリファレンスパターンに相当）の対応する各ビットとを比較し、入力ＰＲＢＳ７パターンのＬＳＢ（ＰＲＢＳパターンによるＬＳＢデータに相当）の各ビットとリファレンスＰＲＢＳ７パターンのＬＳＢ（ＬＳＢリファレンスパターンに相当）の対応する各ビットとを比較する。
【0050】
その結果、Ｆｌｉｔ領域（マスク信号が０）のエラー結果は、ＭＳＢビットエラーが「０」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「１」、「１」、「１」、ＬＳＢビットエラーが「１」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、ＰＡＭ４シンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「１」、「１」、「１」、ＦＥＣシンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」、「１」となる。
【0051】
これに対し、ＳＫＰ領域（マスク信号が０）のエラー結果は、ＭＳＢビットエラーが「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「０」、ＬＳＢビットエラーが「１」、「０」、「１」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、ＰＡＭ４シンボルエラーが「１」、「１」、「１」、「１」、 「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「０」、ＦＥＣシンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」となる。
【0052】
なお、エラー検出部２８は、シンボルマスク生成部２５から入力されるマスクパターンとマスクパターン先頭信号を、ＦＥＣシンボル単位のエラー検出結果と位相を合わせ、ＦＥＣシンボル単位のエラー検出結果と共にＦｌｉｔエラー検出部２９に出力する。
【0053】
Ｆｌｉｔエラー検出部２９は、マスクパターンを用いて、Ｆｌｉｔ領域（マスク信号が０）と、ＳＫＰ領域（マスク信号が１）に分けてＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行う。
【0054】
また、Ｆｌｉｔエラー検出部２９は、１Ｆｌｉｔ長において、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ内のＦＥＣシンボルエラー数が、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたか否かの検出とカウントを行い、カウント結果を操作部２に出力する。
【0055】
なお、Ｆｌｉｔエラー検出部２９の検出結果を用いて、キャプチャなどを行うこともできる。
【0056】
同期状態管理部３０は、エラー検出部２８のエラー検出結果に基づくエラー数情報を基に、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を下回ったときに、同期確立を操作部２に通知する。また、同期状態管理部３０は、エラー検出部２８のエラー検出結果に基づくエラー数情報を基に、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、同期未確立を操作部２に通知し、リファレンスパターン生成部２４（ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａ）にリファレンスパターンの再生成（種の再ロード）を指示する。なお、同期確立や同期未確立の通知先は操作部２に限定されるものではない。例えば外部の端末装置であってもよく、メッセージ表示や音声などでユーザに知らせることもできる。
【0057】
【0058】
図６に示すように、Ｆｌｉｔエラー検出部２９は、Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ２９ａ、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ２９ｂ、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｃ、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｄ、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｅ、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｆ、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｇ、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｈ、比較部２９ｉ、Ｆｌｉｔエラーカウント部２９ｊを備えて構成される。
【0059】
Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ２９ａは、マスクパターン先頭信号をトリガにして、操作部２にて設定されたＦｌｉｔ長をカウントする。カウンタは、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のときにカウントアップし、Ｆｌｉｔ長に達したら０からカウントを繰り返す。
【0060】
ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ２９ｂは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐの区別に使用するカウンタであり、Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ値を３で割った余りを出力するカウンタである。
【0061】
第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｃは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ２９ｂのカウンタ値が０、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0062】
第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｆは、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｃが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0063】
第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｄは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ２９ｂのカウンタ値が１、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0064】
第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｇは、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｄが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0065】
第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｅは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ２９ｂのカウンタ値が２、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0066】
第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部２９ｈは、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部２９ｅが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0067】
比較部２９ｉは、１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数と、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎとを比較し、１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数がＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎを超えたＥＣＣ ＧｒｏｕｐがあったときにＦｌｉｔエラー検出信号をＦｌｉｔエラーカウント部２９ｊに出力する。
【0068】
Ｆｌｉｔエラーカウント部２９ｊは、比較部２９ｉからのＦｌｉｔエラー検出信号をカウントし、カウント結果（Ｆｌｉｔエラーカウント値）を操作部２に出力する。
【0069】
ここで、図７は誤り率測定装置１のＦｌｉｔエラー検出部２９によるＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー検出のタイミングチャートの一例を示している。この例では、Ｆｌｉｔ長が８シンボル、ＦＥＣシンボルエラー閾値ｎが３シンボルに設定されているものとする。
【0070】
図７のＣＬＫ位置０～１５のＦｌｉｔ領域に着目すると、ＦＥＣシンボルエラーとして「１」、「１」、「１」、「１」、「０」、「０」、「０」、「０」、「１」、「１」、「１」、「１」、「０」、「０」、「１」、「０」が入力し、Ｆｌｉｔ領域内における４ＰＡＭ４シンボル＝８ｂｉｔごとのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のＦＥＣシンボルエラー数が「２」、「３」、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１のＦＥＣシンボルエラー数が「１」、「１」、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２のＦＥＣシンボルエラー数が「１」、「１」となっている。そして、ＣＬＫ位置８～１５のＦｌｉｔ領域におけるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のＦＥＣシンボルエラー数が「３」であり、ＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎ＝「３」以上なので、Ｆｌｉｔエラー１がエラー結果として出力される。
【0071】
なお、図７のＳＫＰ領域のＣＬＫ位置１６～２０、３７～４１は、マスクパターンによってマスクされるため、エラーの検出及びカウントは行われない。
【0072】
次に、上記構成の誤り率測定装置１によるＰＣＩｅ Ｇｅｎ６物理層のエラー測定時の処理動作について図８のフローチャートを参照しながら説明する。なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６物理層のエラー測定を行うにあたっては、被測定物Ｗが自身の設定によりループバック状態に遷移しているものとする。
【0073】
まず、ＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３から発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信する（ＳＴ１）。
【0074】
そして、エラー検出器４は、パターン発生器３から被測定物ＷへのＰＡＭ４信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号をＰＡＭ４デコーダ２１によりＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割する（ＳＴ２）。このとき、ＭＳＢデータとＬＳＢデータは、必要に応じてＰｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２２とＧｒａｙ ｃｏｄｉｎｇデコーダ２３にてデコードされる。
【0075】
そして、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａは、デコードされたＭＳＢデータを種としてＭＳＢリファレンスパターンを生成する（ＳＴ３）。このとき、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａは、ＰＲＢＳパターンの１周期の先頭を検出してマスクパターン先頭信号をシンボルマスク生成部２５に出力する（ＳＴ４）。また、ＬＳＢリファレンスパターン生成部２４ｂは、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａにて生成したＭＳＢリファレンスパターンを種としてＬＳＢリファレンスパターンを生成する（ＳＴ５）。
【0076】
また、シンボルマスク生成部２５は、ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａからマスクパターン先頭信号が入力されると、操作部２にて設定されるマスクパターン長およびマスクパターン周期に基づくＦＥＣシンボルマスクパターンを生成する（ＳＴ６）。
【0077】
そして、エラー検出部２８は、ＰＲＢＳパターンによるＭＳＢデータとＬＳＢデータ、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号を用いて、ビットエラーの検出及びカウント、ＰＡＭ４シンボルエラーの検出及びカウント、ＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行う（ＳＴ７）。このときのカウント結果は操作部２に出力される。その際、エラー検出部２８が検出するＦｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を下回ると、同期状態管理部３０から同期確立が操作部２に通知される。これに対し、エラー検出部２８が検出するＦｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ると、同期状態管理部３０から同期未確立が操作部２に通知され、リファレンスパターン生成部２４（ＭＳＢリファレンスパターン生成部２４ａ）にリファレンスパターンの再生成（種の再ロード）が指示される。
【0078】
また、Ｆｌｉｔエラー検出部２９は、１Ｆｌｉｔ長において、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ内のＦＥＣシンボルエラー数が、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたか否かの検出とカウントを行う（ＳＴ８）。このときのカウント結果は操作部２に出力される。
【0079】
ところで、上述した実施の形態では、パターン発生器３が発生するＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を被測定物Ｗに送信し、リンクトレーニングを行わす被測定物Ｗ自身が信号折り返しのステートに遷移する機能を有するものとして説明したが、パターン発生器３を省き、被測定物ＷからＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をエラー検出器４に送信する構成としてもよい。この場合、被測定物Ｗが送信するＰＲＢＳパターンのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信して各種エラーを検出するために必要な情報（ＰＲＢＳ段数、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰ ＯＳの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇの設定、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定）は、予め操作部２に設定されているものとする。
【0080】
このように、本実施の形態によれば、ビットエラー測定に一般的に用いられている単純なＰＲＢＳパターンを用いて擬似的にＦｌｉｔとそれ以外とに区別を行い、Ｆｌｉｔ領域についてのＦＥＣシンボルエラー状況から、Ｆｌｉｔエラーが起きるか否かを推定することが可能となる。
【0081】
また、ＦＥＣでガードされたパターンと、ＦＥＣでガードされていないパターンが混在する環境でもＦＥＣでガードされたパターンを識別し、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになるか否かの判定を行うことが可能となる。しかも、本実施の形態では、誤り訂正を行わないため、回路規模を小さくできる。
【0082】
以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【0083】
１ 誤り率測定装置
２ 操作部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ ＰＲＢＳパターン発生部
１２ ビット分割部
１３ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇエンコーダ
１４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇエンコーダ
１５ ＰＡＭ４エンコーダ
２１ ＰＡＭ４デコーダ
２２ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ
２３ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇデコーダ
２４ リファレンスパターン生成部
２４ａ ＭＳＢＰＲＢＳリファレンスパターン生成部
２４ｂ ＬＳＢＰＲＢＳリファレンスパターン生成部
２５ シンボルマスク生成部
２６ 第１遅延部
２７ 第２遅延部
２８ エラー検出部
２９ Ｆｌｉｔエラー検出部
２９ａ Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ
２９ｂ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ
２９ｃ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｄ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｅ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｆ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｇ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｈ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｉ 比較部
２９ｊ Ｆｌｉｔエラーカウント部
３０ 同期状態管理部
Ｗ 被測定物
２ 操作部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ ＰＲＢＳパターン発生部
１２ ビット分割部
１３ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇエンコーダ
１４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇエンコーダ
１５ ＰＡＭ４エンコーダ
２１ ＰＡＭ４デコーダ
２２ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ
２３ Ｇｒａｙ ｃｏｄｉｎｇデコーダ
２４ リファレンスパターン生成部
２４ａ ＭＳＢＰＲＢＳリファレンスパターン生成部
２４ｂ ＬＳＢＰＲＢＳリファレンスパターン生成部
２５ シンボルマスク生成部
２６ 第１遅延部
２７ 第２遅延部
２８ エラー検出部
２９ Ｆｌｉｔエラー検出部
２９ａ Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ
２９ｂ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ
２９ｃ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｄ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｅ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
２９ｆ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｇ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｈ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
２９ｉ 比較部
２９ｊ Ｆｌｉｔエラーカウント部
３０ 同期状態管理部
Ｗ 被測定物
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】