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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024135923
(43)【公開日】2024-10-04
(54)【発明の名称】磁気ディスク装置
(51)【国際特許分類】
G11B 21/21 20060101AFI20240927BHJP
G11B 5/596 20060101ALI20240927BHJP
G11B 21/10 20060101ALI20240927BHJP
【ＦＩ】
G11B21/21 F
G11B5/596
G11B21/10 N
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023046831
(22)【出願日】2023-03-23
(71)【出願人】
【識別番号】000003078
【氏名又は名称】株式会社東芝
(71)【出願人】
【識別番号】317011920
【氏名又は名称】東芝デバイス＆ストレージ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001737
【氏名又は名称】弁理士法人スズエ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】渡邊 徹
(57)【要約】
【課題】 実施形態の課題は、記録の精度を向上できる磁気ディスク装置を提供することにある。
【解決手段】磁気ディスクと、ライトヘッドとリードヘッドとヒータとを有している磁気ヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、前記コントローラは、前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする際、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、磁気ディスク装置。
【選択図】 図１１
【解決手段】磁気ディスクと、ライトヘッドとリードヘッドとヒータとを有している磁気ヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、前記コントローラは、前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする際、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、磁気ディスク装置。
【選択図】 図１１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、
前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、
前記コントローラは、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする際、
前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
磁気ディスク装置。
前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、
前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、
前記コントローラは、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする際、
前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
磁気ディスク装置。
【請求項2】
前記コントローラは、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ライトヘッドの浮上量が前記所望の浮上量の半分以下の浮上量になるように、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ライトヘッドの浮上量が前記所望の浮上量の半分以下の浮上量になるように、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項3】
前記コントローラは、
前記ヒータに供給する電力の電力値を前記所定の電力値に戻し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超えていない場合、又は前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えていない場合、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記ヒータに供給する電力の電力値を前記所定の電力値に戻し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超えていない場合、又は前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えていない場合、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項4】
前記第１検出部は、前記リードヘッドで取得した再生信号の一次成分と三次成分との比から前記ライトヘッドの浮上量を検出する、
請求項３に記載の磁気ディスク装置。
請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項5】
磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、
前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記ライトヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、
前記コントローラは、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクの所定のトラックにデータをライトする際、
前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ライトヘッドを任意のトラックに位置決めし、
前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
磁気ディスク装置。
前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、
前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記ライトヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、
前記コントローラは、
前記ライトヘッドで前記磁気ディスクの所定のトラックにデータをライトする際、
前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、
前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、
前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、
前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、
前記ライトヘッドを任意のトラックに位置決めし、
前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる、
磁気ディスク装置。
【請求項6】
前記磁気ヘッドの移動を制限するストッパを更に備え、
前記ライトヘッドは、前記磁気ヘッドの移動が前記ストッパによって制限された場合に、前記任意のトラックに位置決めされる、
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
前記ライトヘッドは、前記磁気ヘッドの移動が前記ストッパによって制限された場合に、前記任意のトラックに位置決めされる、
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【請求項7】
前記任意のトラックは、汚れ除去用トラックである、
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置に関する。
【背景技術】
【0002】
磁気ディスク装置は、磁気ディスクと磁気ヘッドとを備えている。磁気ディスク装置は、記録密度、特に線記録密度を向上するために、磁気ヘッドと磁気ディスクとの間の隙間（浮上量）を小さくする必要がある。このため、磁気ヘッドがヒータを有し、ヒータによって所望の浮上量でライトやリードなどの動作を行う技術が用いられている。
磁気ディスク上には、磁気ディスク装置の製造過程や内部の発ガスなどにより生じた汚れ成分が付着している場合がある。磁気ヘッドに汚れが付着している場合、ヒータで浮上量を制御しようとしても所望の浮上量にならず、記録品質や再生品質が低下し、磁気ディスク装置の機能を損なうことがある。
磁気ディスク上には、磁気ディスク装置の製造過程や内部の発ガスなどにより生じた汚れ成分が付着している場合がある。磁気ヘッドに汚れが付着している場合、ヒータで浮上量を制御しようとしても所望の浮上量にならず、記録品質や再生品質が低下し、磁気ディスク装置の機能を損なうことがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】米国特許第９７９９３５８号明細書
【特許文献2】米国特許第１１０７４９３６号明細書
【特許文献3】米国特許第９０４７９０２号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本実施形態の課題は、記録の精度を向上できる磁気ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
一実施形態に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、前記コントローラは、前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、前記ライトヘッドで前記磁気ディスクにデータをライトする際、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる。
【0006】
また、一実施形態に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータと、を有している磁気ヘッドと、前記ライトヘッドの浮上量を検出する第１検出部と、前記ライトヘッドの前記磁気ディスクのトラックに対する位置決め誤差を検出する第２検出部と、第１閾値と第２閾値とを格納しているメモリと、を有しているコントローラと、を備え、前記コントローラは、前記ライトヘッドで前記磁気ディスクの所定のトラックにデータをライトする際、前記ライトヘッドの浮上量が所望の浮上量になるように、所定の電力値の電力を前記ヒータに供給し、前記第１検出部で前記ライトヘッドの浮上量を検出し、前記第２検出部で前記ライトヘッドの位置決め誤差を検出し、前記ライトヘッドの浮上量が前記第１閾値を超え、且つ、前記ライトヘッドの位置決め誤差が前記第２閾値を超えている場合、前記ライトヘッドを任意のトラックに位置決めし、前記ヒータに供給する電力の電力値を増加させる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の趣旨を保っての適宣変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面や説明をより明確にするため、実際の様態に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宣省略することがある。
以下、図面を参照しながら一実施形態に係る磁気ディスク装置について詳細に説明する。
以下、図面を参照しながら一実施形態に係る磁気ディスク装置について詳細に説明する。
【0009】
図１は、一実施形態に係る磁気ディスク装置１０の構成を示すブロック図である。
図１に示すように、磁気ディスク装置１０は、矩形状の筐体１１と、筐体１１内に配置された記録媒体としての磁気ディスク１２と、磁気ディスク１２を支持及び回転するスピンドルモータ１４と、磁気ディスク１２に対してデータをライト（記録）及びリード（再生）を行う複数の磁気ヘッド１６と、を備えている。
図１に示すように、磁気ディスク装置１０は、矩形状の筐体１１と、筐体１１内に配置された記録媒体としての磁気ディスク１２と、磁気ディスク１２を支持及び回転するスピンドルモータ１４と、磁気ディスク１２に対してデータをライト（記録）及びリード（再生）を行う複数の磁気ヘッド１６と、を備えている。
【0010】
磁気ディスク装置１０は、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の任意のトラック上に移動するとともに位置決めするヘッドアクチュエータ１８を備えている。ヘッドアクチュエータ１８は、磁気ヘッド１６を移動可能に支持するキャリッジアッセンブリ２０と、キャリッジアッセンブリ２０を回動させるボイスコイルモータ（ＶＣＭ）２２と、を含んでいる。
キャリッジアッセンブリ２０は、筐体１１に回動自在に支持された軸受部２４と、軸受部２４から延出した複数のサスペンション２６と、を有している。磁気ヘッド１６は、各サスペンション２６の先端に支持されている。
キャリッジアッセンブリ２０は、筐体１１に回動自在に支持された軸受部２４と、軸受部２４から延出した複数のサスペンション２６と、を有している。磁気ヘッド１６は、各サスペンション２６の先端に支持されている。
【0011】
磁気ディスク装置１０は、磁気ヘッド１６の移動を制限するストッパＳＴを備えている。一例において、ストッパＳＴは、磁気ヘッド１６が磁気ディスク１２に対して内周側に行き過ぎることを防止する。具体的には、ストッパＳＴは、軸受部２４を中心として回動するＶＣＭ２２に接触することで磁気ヘッド１６がスピンドルモータ１４に接触することを防止する。
磁気ディスク１２は、汚れ除去用トラック１２ａを有している。磁気ヘッド１６は、汚れ除去用トラック１２ａにデータをライトしたり、汚れ除去用トラック１２ａからデータをリードしたりしない。なお、磁気ディスク１２は、汚れ除去用トラック１２ａを無しに構成されてもよい。一例において、汚れ除去用トラック１２ａは、磁気ヘッド１６の移動がストッパＳＴによって制限された場合に、磁気ヘッド１６が汚れ除去用トラック１２ａに位置決めされるように、磁気ディスク１２の内周側に位置している。なお、汚れ除去用トラック１２ａが配置される位置は、上記の位置に限定されず、例えば、外周側に位置してもよい。
磁気ディスク１２は、汚れ除去用トラック１２ａを有している。磁気ヘッド１６は、汚れ除去用トラック１２ａにデータをライトしたり、汚れ除去用トラック１２ａからデータをリードしたりしない。なお、磁気ディスク１２は、汚れ除去用トラック１２ａを無しに構成されてもよい。一例において、汚れ除去用トラック１２ａは、磁気ヘッド１６の移動がストッパＳＴによって制限された場合に、磁気ヘッド１６が汚れ除去用トラック１２ａに位置決めされるように、磁気ディスク１２の内周側に位置している。なお、汚れ除去用トラック１２ａが配置される位置は、上記の位置に限定されず、例えば、外周側に位置してもよい。
【0012】
磁気ディスク装置１０は、磁気ヘッド１６を駆動するヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０と、メインコントローラ４０と、ドライバＩＣ４８と、を備えている。ヘッドアンプＩＣ３０は、磁気ヘッド１６に電気的に接続されている。ヘッドアンプＩＣ３０は、磁気ヘッド１６の記録コイルに記録電流を供給する記録電流供給回路３２と、後述するヒータＨに電力を供給するヒータ電力供給回路３４と、磁気ヘッド１６により読み取った信号を増幅する増幅器３６と、を備えている。
【0013】
メインコントローラ４０及びドライバＩＣ４８は、例えば、筐体１１の背面側に設けられた図示しない制御回路基板に構成されている。メインコントローラ４０は、Ｒ／Ｗチャネル４２、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４４、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）４６、メモリ４７などを備えている。メインコントローラ４０は、ドライバＩＣ４８を介して、ＶＣＭ２２及びスピンドルモータ１４に電気的に接続されている。ＨＤＣ４４は、ホストコンピュータ（ホスト）４５に接続可能である。
【0014】
Ｒ／Ｗチャネル４２は、リード／ライトデータの信号処理回路である。ＨＤＣ４４は、ＭＰＵ４６からの支持に応じて、ホスト４５とＲ／Ｗチャネル４２との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ４４は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４２、ＭＰＵ４６、メモリ４７などに電気的に接続されている。メモリ４７は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリを含む。例えば、メモリ４７は、ＤＲＡＭからなるバッファメモリ及びフラッシュメモリなどを含む。メモリ４７は、ＭＰＵ４６の処理に必要なプログラム及びパラメータを格納する。メモリ４７は、更に、磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６との間の隙間（浮上量）に対応する第１閾値Ａ１と、磁気ヘッド１６の位置決め誤差に対応する第２閾値Ａ２と、を格納する。
【0015】
ＭＰＵ４６は、磁気ディスク装置１０の主制御部であり、リード／ライト動作の制御及び磁気ヘッド１６の位置決めに必要なサーボ制御を実行する。ＭＰＵ４６は、ライト処理を制御するライト制御部４６ａ、リード処理を制御するリード制御部４６ｂ、後述するヒータＨに供給する電力値を制御するヒータ制御部４６ｃ、磁気ヘッド１６の磁気ディスク１２に対する浮上量を検出する第１検出部４６ｄ、磁気ヘッド１６の磁気ディスク１２の半径方向における位置決め誤差を検出する第２検出部４６ｅなどを含んでいる。
【0016】
ライト制御部４６ａは、ホスト４５などからのコマンドに従って、データのライト処理を制御する。具体的には、ライト制御部４６ａは、ドライバＩＣ４８を介してＶＣＭ２２を制御し、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の所定の位置に配置して、データをライトする。
リード制御部４６ｂは、ホスト４５などからのコマンドに従って、データのリード処理を制御する。具体的には、リード制御部４６ｂは、ドライバＩＣ４８を介してＶＣＭ２２を制御し、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の所定の位置に配置して、データをリードする。
リード制御部４６ｂは、ホスト４５などからのコマンドに従って、データのリード処理を制御する。具体的には、リード制御部４６ｂは、ドライバＩＣ４８を介してＶＣＭ２２を制御し、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の所定の位置に配置して、データをリードする。
【0017】
第１検出部４６ｄは、リードヘッド１６Ｒで取得した再生信号の一次成分（一次高調波成分）と三次成分（三次高調波成分）との振幅変化を基に、製造時に特定される基準となる浮上量（所望の浮上量ＦＨ）からの変化量を測定する方法によって、磁気ヘッド１６の浮上量を検出する。より具体的には、１次高調波成分と３次高調波成分との比の変化から浮上量の変化量を測定することで、磁気ヘッド１６の浮上量を検出する。なお、第１検出部４６ｄの浮上量を検出する方法は、上記の方法に限定されず、例えば、再生信号の１次成分の振幅から浮上量を検出する方法や、磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６との間の静電容量などを基に浮上量を検出する方法であってもよい。ただし、ヘッドアンプＩＣ３０の増幅率の変化を吸収できるため、一次成分と三次成分との比を基に浮上量を測定する方法を用いることが好ましい。
第２検出部４６ｅは、磁気ディスク１２上のサーボセクタを基に位置決め誤差を検出する。具体的には、第２検出部４６ｅは、磁気ヘッド１６でサーボセクタからリードしたサーボ信号の振幅などに基づいて、位置決め誤差を検出する。
第２検出部４６ｅは、磁気ディスク１２上のサーボセクタを基に位置決め誤差を検出する。具体的には、第２検出部４６ｅは、磁気ヘッド１６でサーボセクタからリードしたサーボ信号の振幅などに基づいて、位置決め誤差を検出する。
【0018】
ここで、磁気ヘッド１６の浮上量の測定方法について、図２を参照して説明する。
図２は、隙間変化に対する再生信号の一次成分及び三次成分の振幅の変化を示すグラフである。図２において、縦軸は再生信号の振幅を表し、横軸は磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６と間の隙間を表している。隙間が大きくなると、実線で示される一次成分Ａｍｐ１の振幅は、緩やかに減少する。一方、一点鎖線で示される三次成分Ａｍｐ３の振幅は、一次成分Ａｍｐ１の振幅よりも減少量が大きい。例えば、隙間が０．２ｎｍから０．４ｎｍに変化する場合において、三次成分Ａｍｐ３の振幅の減少量は、一次成分Ａｍｐ１の振幅の減少量よりも大きい。
一次成分Ａｍｐ１と三次成分Ａｍｐ３との間には上記のような関係があるため、一次成分Ａｍｐ１の振幅と三次成分Ａｍｐ３の振幅との比を基に磁気ヘッド１６の浮上量を検出することで、ヘッドアンプＩＣ３０の増幅率の変化を吸収し、より正確な浮上量を検出することができる。
図２は、隙間変化に対する再生信号の一次成分及び三次成分の振幅の変化を示すグラフである。図２において、縦軸は再生信号の振幅を表し、横軸は磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６と間の隙間を表している。隙間が大きくなると、実線で示される一次成分Ａｍｐ１の振幅は、緩やかに減少する。一方、一点鎖線で示される三次成分Ａｍｐ３の振幅は、一次成分Ａｍｐ１の振幅よりも減少量が大きい。例えば、隙間が０．２ｎｍから０．４ｎｍに変化する場合において、三次成分Ａｍｐ３の振幅の減少量は、一次成分Ａｍｐ１の振幅の減少量よりも大きい。
一次成分Ａｍｐ１と三次成分Ａｍｐ３との間には上記のような関係があるため、一次成分Ａｍｐ１の振幅と三次成分Ａｍｐ３の振幅との比を基に磁気ヘッド１６の浮上量を検出することで、ヘッドアンプＩＣ３０の増幅率の変化を吸収し、より正確な浮上量を検出することができる。
【0019】
図３は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０の磁気ヘッド１６及び磁気ディスク１２を示す拡大断面図である。図３に示すように、磁気ヘッド１６は、スライダ１５の端部に、例えば、薄膜プロセスで形成されたライトヘッド１６Ｗ及びリードヘッド１６Ｒを有し、分離型のヘッドとして形成されている。スライダ１５は、磁気ディスク１２の記録面１２ｂから浮上するために磁気ディスク１２の記録面１２ｂに対向する面であるＡＢＳ（Ａｉｒ Ｂｅａｒｉｎｇ Ｓｕｒｆａｃｅ：ヘッド面）１３を有している。ライトヘッド１６Ｗは、磁気ディスク１２上にデータを書き込む。リードヘッド１６Ｒは、磁気ディスク１２上に記録されているデータを読み出す。
【0020】
磁気ディスク１２は、垂直磁気記録媒体として構成されている。磁気ディスク１２は、例えば、直径９６ｍｍ（約３．５インチ）の円板状に形成され、非磁性体からなる基板１０１を有している。基板１０１の各表面（記録面１２ｂ）に、下地層として軟磁気特性を示す材料からなる軟磁性層１０２と、その上層部に、磁気ディスク１２の表面に対して垂直方向に磁気異方性を有する垂直磁気記録層１０３と、保護層１０４とが順次積層されている。磁気ディスク１２は、スピンドルモータ２１のハブに互いに同軸的に嵌合されている。磁気ディスク１２は、スピンドルモータ２１により所定の速度で矢印Ｂ方向に回転される（図１参照）。
【0021】
リードヘッド１６Ｒは、磁気抵抗効果素子５５と、垂直磁気記録層１０３に形成される記録トラックの長手方向Ｘにおいて、磁気抵抗効果素子５５を挟むように配置された第１磁気シールド膜５６及び第２磁気シールド膜５７と、を有している。磁気抵抗効果素子５５及び各磁気シールド膜５６，５７は、ＡＢＳ１３に対してほぼ垂直に延在している。磁気抵抗効果素子５５及び各磁気シールド膜５６，５７の下端部（先端部）は、ＡＢＳ１３から僅かに突出している。
【0022】
ライトヘッド１６Ｗは、主磁極６０と、リターン磁極６２と、非導電体５２と、リーディング磁極６４と、第２接続部６７と、第１記録コイル７０と、第２記録コイル７２と、を有している。主磁極６０、リターン磁極６２、及びリーディング磁極６４は、高透磁材料で形成されている。主磁極６０及びリターン磁極６２は、磁路を形成する第１磁気コアを構成し、主磁極６０及びリーディング磁極６４は、磁路を形成する第２磁気コアを構成している。
主磁極６０は、ＡＢＳ１３に対してほぼ垂直に延びている。主磁極６０のＡＢＳ１３側の先端部６０ａは、ＡＢＳ１３に向かって先細に絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極６０の先端部６０ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。
主磁極６０は、ＡＢＳ１３に対してほぼ垂直に延びている。主磁極６０のＡＢＳ１３側の先端部６０ａは、ＡＢＳ１３に向かって先細に絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極６０の先端部６０ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。
【0023】
リターン磁極６２は、主磁極６０直下の磁気ディスク１２の軟磁性層１０２を介して効率的に磁路を閉じるために設けられている。リターン磁極６２は、ほぼＬ字形状に形成され、その先端部６２ａは、細長い矩形状に形成されている。リターン磁極６２の先端部６２ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。先端部６２ａは、主磁極６０の先端部６０ａにライトギャップＷＧを置いて対向するリーディング側端面（磁極端面）６２ｂを有している。リーディング側端面６２ｂは、ＡＢＳ１３に対し垂直に、あるいは、僅かに傾斜して延びている。
【0024】
リターン磁極６２は、主磁極６０に接続された第１接続部５０を有している。第１接続部５０は、非導電体５２を介して主磁極６０の上部、すなわち、主磁極６０のＡＢＳ１３から離れた部分に磁気的に接続されている。第１記録コイル７０は、第１磁気コアにおいて、例えば、第１接続部５０の回りに巻き付けられている。磁気ディスク１２に信号を書き込む際、第１記録コイル７０にライト電流を流すことにより、第１記録コイル７０は、主磁極６０を励起して主磁極６０に磁束を流す。
【0025】
リーディング磁極６４は、主磁極６０のリーディング側に主磁極６０と対向して設けられている。リーディング磁極６４は、ほぼＬ字形状に形成され、ＡＢＳ１３側の先端部６４ａは、細長い矩形状に形成されている。先端部６４ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。先端部６４ａは、主磁極６０の先端部６０ａにギャップを置いて対向するトレーリング側端面（磁極端面）６４ｂを有している。
また、リーディング磁極６４は、ＡＢＳ１３から離間した位置で主磁極６０に接合された第２接続部６７を有している。この第２接続部６７は、例えば、軟磁性体で形成され、非導電体６９を介して主磁極６０の上部、すなわち、主磁極６０のＡＢＳ１３から離れた部分に磁気的に接続されている。これにより、第２接続部６７は、主磁極６０及びリーディング磁極６４とともに磁気回路を形成している。第２記録コイル７２は、例えば、第２接続部６７の回りに巻き付けて配置され、この磁気回路に磁界を印加する。
また、リーディング磁極６４は、ＡＢＳ１３から離間した位置で主磁極６０に接合された第２接続部６７を有している。この第２接続部６７は、例えば、軟磁性体で形成され、非導電体６９を介して主磁極６０の上部、すなわち、主磁極６０のＡＢＳ１３から離れた部分に磁気的に接続されている。これにより、第２接続部６７は、主磁極６０及びリーディング磁極６４とともに磁気回路を形成している。第２記録コイル７２は、例えば、第２接続部６７の回りに巻き付けて配置され、この磁気回路に磁界を印加する。
【0026】
更に、磁気ヘッド１６は、ヒータ（熱アクチュエータ）Ｈを更に有している。一例において、ヒータＨは、ライトヘッド１６Ｗの浮上量を調整する第１ヒータＨ１と、リードヘッド１６Ｒの浮上量を調整する第２ヒータＨ２とから構成されている。第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２は、それぞれ配線及び接続端子４３を介してヘッドアンプＩＣ３０に接続されている。ヘッドアンプＩＣ３０のヒータ電力供給回路３４から第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２のそれぞれに所望の電力値の電力が供給される。なお、ヒータＨは、第１ヒータＨ１と第２ヒータＨ２との２つのヒータから構成されることに限定されず、第１ヒータＨ１のみで構成されてもよい。
【0027】
図４は、磁気ディスク装置１０の磁気ヘッド１６及び磁気ディスク１２を示す側面図である。図４では、磁気ヘッド１６のヘッド部１００の拡大断面図が矢印の先に示されている。また、図４は、第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２に電力が供給されている状態を示している。
図４に示すように、各ヒータＨ１，Ｈ２に電力が供給されると、第１ヒータＨ１は、ライトヘッド１６Ｗの周辺を加熱することによってライトヘッド１６Ｗの浮上量を調整し、第２ヒータＨ２は、リードヘッド１６Ｒの周辺を加熱することによってリードヘッド１６Ｒの浮上量を調整する。第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２に供給される電力の電力値は、ＭＰＵ４６によって制御される。第１ヒータＨ１は、少なくともライト時に電力が供給される。第２ヒータＨ２は、少なくともリード時に電力が供給される。
図４に示すように、各ヒータＨ１，Ｈ２に電力が供給されると、第１ヒータＨ１は、ライトヘッド１６Ｗの周辺を加熱することによってライトヘッド１６Ｗの浮上量を調整し、第２ヒータＨ２は、リードヘッド１６Ｒの周辺を加熱することによってリードヘッド１６Ｒの浮上量を調整する。第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２に供給される電力の電力値は、ＭＰＵ４６によって制御される。第１ヒータＨ１は、少なくともライト時に電力が供給される。第２ヒータＨ２は、少なくともリード時に電力が供給される。
【0028】
図５は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着している状態における、磁気ディスク１２及び磁気ヘッド１６を示す断面図である。なお、図５は、データをライトする際の状態を示しており、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力が供給されている状態を示している。
図５に示すように、汚れＤは、磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６との間の隙間に位置し、ライトヘッド１６Ｗに付着している。汚れＤは、例えば、磁気ディスク装置１０の製造過程や内部の発ガスなどにより磁気ディスク１２上に生じるカーボンを主とする不純物（コンタミ）である。
図５に示すように、汚れＤは、磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６との間の隙間に位置し、ライトヘッド１６Ｗに付着している。汚れＤは、例えば、磁気ディスク装置１０の製造過程や内部の発ガスなどにより磁気ディスク１２上に生じるカーボンを主とする不純物（コンタミ）である。
【0029】
一例において、第１ヒータＨ１に電力が供給されていない状態におけるライトヘッド１６Ｗの浮上量は、１０ｎｍ程度である。また、ライト時、つまり、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力が供給されている状態におけるライトヘッド１６Ｗの浮上量は、１ｎｍ程度である。上記のような浮上量で動作する磁気ディスク装置１０において、磁気ディスク１２上に１乃至２０ｎｍ程度の汚れＤが存在している場合、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着することになる。
【0030】
ヒータＨに電力を供給していない状態、つまり、浮上量が１０ｎｍの状態で磁気ディスク１２上の汚れＤが磁気ヘッド１６に付着した場合、磁気ヘッド１６に付着している汚れＤの高さは、磁気ヘッド１６の浮上量とほぼ同等になることが実験的にわかっている。
この状態から、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力を供給して、ライトヘッド１６Ｗの浮上量を所望の浮上量ＦＨ（一例では、１ｎｍ）にする場合、図５に示すように、汚れＤが磁気ディスク１２に押し付けられる。この時、汚れＤを磁気ディスク１２の回転によって完全に除去できなかった場合、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨよりも大きくなる。汚れＤが磁気ディスク１２に接触し、磁気ディスク１２が回転しているため、汚れＤと磁気ディスク１２との間で摩擦力Ｆが生じる。
この状態から、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力を供給して、ライトヘッド１６Ｗの浮上量を所望の浮上量ＦＨ（一例では、１ｎｍ）にする場合、図５に示すように、汚れＤが磁気ディスク１２に押し付けられる。この時、汚れＤを磁気ディスク１２の回転によって完全に除去できなかった場合、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨよりも大きくなる。汚れＤが磁気ディスク１２に接触し、磁気ディスク１２が回転しているため、汚れＤと磁気ディスク１２との間で摩擦力Ｆが生じる。
【0031】
図６は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０の磁気ディスク１２及び磁気ヘッド１６を示す平面図である。
図６に示すように、磁気ヘッド１６は、磁気ディスク１２の半径方向における外周側に位置している。図５に示すように、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着している場合、摩擦力Ｆは、磁気ディスク１２の回転方向に作用する。摩擦力Ｆは、ヘッドアクチュエータ１８の回動方向と同じ向きの成分Ｆ１を有している。このため、摩擦力Ｆによってライトヘッド１６Ｗに、目標トラックに対する半径方向のずれ（以下、単に「位置決め誤差」とも称する）が生じる場合がある。
上記のことから、位置決め誤差が所定の値より大きいか否かを基に、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着しているか否かを判断することができる。なお、磁気ディスク装置１０が外部からの振動を受けると、位置決め誤差が大きくなることがあるため、ライトヘッド１６Ｗの浮上量と併せて判断することが好ましい。
図６に示すように、磁気ヘッド１６は、磁気ディスク１２の半径方向における外周側に位置している。図５に示すように、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着している場合、摩擦力Ｆは、磁気ディスク１２の回転方向に作用する。摩擦力Ｆは、ヘッドアクチュエータ１８の回動方向と同じ向きの成分Ｆ１を有している。このため、摩擦力Ｆによってライトヘッド１６Ｗに、目標トラックに対する半径方向のずれ（以下、単に「位置決め誤差」とも称する）が生じる場合がある。
上記のことから、位置決め誤差が所定の値より大きいか否かを基に、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着しているか否かを判断することができる。なお、磁気ディスク装置１０が外部からの振動を受けると、位置決め誤差が大きくなることがあるため、ライトヘッド１６Ｗの浮上量と併せて判断することが好ましい。
【0032】
次に、図７及び図８を参照して、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着した場合における浮上量の変化量と位置決め誤差との関係について説明する。
図７は、ライトヘッド１６Ｗに汚れが付着した場合における、ライトヘッド１６Ｗの所望の浮上量からの変化を示すグラフである。図８は、ライトヘッド１６Ｗに汚れが付着した状態における、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差の変化を示すグラフである。
図７は、ライトヘッド１６Ｗに汚れが付着した場合における、ライトヘッド１６Ｗの所望の浮上量からの変化を示すグラフである。図８は、ライトヘッド１６Ｗに汚れが付着した状態における、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差の変化を示すグラフである。
【0033】
図７に示すように、時間Ｔまでの間、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨである。時間Ｔにライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着すると、ライトヘッド１６Ｗの浮上量の変化量は、増加し始める。一方、図８に示すように、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差も時間Ｔに増加し始める。つまり、浮上量の変化量と位置決め誤差とは、ほぼ同時に増加し始める。
その後、浮上量の変化量は徐々に増加し、第１閾値Ａ１を超える。一例において、第１閾値Ａ１は、所望の浮上量ＦＨからの変化（増加）量に対する閾値であり、例えば、０．５ｎｍである。なお、第１閾値Ａ１は、磁気ディスク１２からのライトヘッド１６Ｗの浮上量に対する閾値であってもよい。
その後、浮上量の変化量は徐々に増加し、第１閾値Ａ１を超える。一例において、第１閾値Ａ１は、所望の浮上量ＦＨからの変化（増加）量に対する閾値であり、例えば、０．５ｎｍである。なお、第１閾値Ａ１は、磁気ディスク１２からのライトヘッド１６Ｗの浮上量に対する閾値であってもよい。
【0034】
一方、位置決め誤差も徐々に増加し、第２閾値Ａ２を超える。一例において、第２閾値Ａ２は、磁気ディスク１２の半径方向におけるライトヘッド１６Ｗがデータをライト可能な範囲であり、例えば、トラック幅に対して２０％振れた位置である。
上述のようにライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着すると、浮上量及び位置決め誤差がほぼ同時に増加するため、浮上量の変化量が第１閾値Ａ１を超え、且つ、位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えた場合に、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着したと判断することができる。本実施形態に係る磁気ディスク装置１０では、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着したと判断した場合、汚れＤを除去する動作を行う。
上述のようにライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着すると、浮上量及び位置決め誤差がほぼ同時に増加するため、浮上量の変化量が第１閾値Ａ１を超え、且つ、位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えた場合に、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着したと判断することができる。本実施形態に係る磁気ディスク装置１０では、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着したと判断した場合、汚れＤを除去する動作を行う。
【0035】
次に、図５、図９、図１０を参照して、汚れの付着を検出してから、汚れＤを除去し、再びライトするまでの磁気ヘッド１６の動作について説明する。
図５に示すように、ライトヘッド１６Ｗは、第１閾値Ａ１よりも上方に位置している。この時、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合、ヒータ制御部４６ｃでヒータ電力供給回路３４を制御して汚れＤを除去する動作を行う。具体的には、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させる。好ましくは、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が所望の浮上量の半分以下の浮上量になるように、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させる。一例において、所望の浮上量ＦＨの５０％の浮上量が得られる電力値の電力を第１ヒータＨ１に供給する。
図５に示すように、ライトヘッド１６Ｗは、第１閾値Ａ１よりも上方に位置している。この時、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合、ヒータ制御部４６ｃでヒータ電力供給回路３４を制御して汚れＤを除去する動作を行う。具体的には、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させる。好ましくは、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が所望の浮上量の半分以下の浮上量になるように、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させる。一例において、所望の浮上量ＦＨの５０％の浮上量が得られる電力値の電力を第１ヒータＨ１に供給する。
【0036】
図９は、汚れ除去動作時における磁気ディスク１２及び磁気ヘッド１６を示す断面図である。
図９に示すように、第１ヒータＨ１には所望の浮上量ＦＨの５０％の浮上量が得られる電力値の電力が供給され、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨの半分程度である。汚れＤは、回転している磁気ディスク１２に押圧され、磁気ディスク１２の回転によってライトヘッド１６Ｗから除去される。その後、ヒータ制御部４６ｃでヒータ電力供給回路３４を制御して第１ヒータＨ１に供給されている電力の電力値を所定の電力値に戻す。
図９に示すように、第１ヒータＨ１には所望の浮上量ＦＨの５０％の浮上量が得られる電力値の電力が供給され、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨの半分程度である。汚れＤは、回転している磁気ディスク１２に押圧され、磁気ディスク１２の回転によってライトヘッド１６Ｗから除去される。その後、ヒータ制御部４６ｃでヒータ電力供給回路３４を制御して第１ヒータＨ１に供給されている電力の電力値を所定の電力値に戻す。
【0037】
図１０は、汚れ除去後における磁気ディスク１２及び磁気ヘッド１６を示す断面図である。
図１０に示すように、磁気ディスク１２側の汚れＤが除去され、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨである。また、ライトヘッド１６Ｗの所望の浮上量ＦＨからの変化量は、第１閾値Ａ１未満である。この場合、ライト制御部４６ａで記録電流供給回路３２を制御して磁気ディスク１２にデータをライトする。
図１０に示すように、磁気ディスク１２側の汚れＤが除去され、ライトヘッド１６Ｗの浮上量は、所望の浮上量ＦＨである。また、ライトヘッド１６Ｗの所望の浮上量ＦＨからの変化量は、第１閾値Ａ１未満である。この場合、ライト制御部４６ａで記録電流供給回路３２を制御して磁気ディスク１２にデータをライトする。
【0038】
以下、汚れＤの付着を検出し、汚れＤを除去する処理の手順について説明する。
図１１は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０のライト処理の手順の一例を示すフローチャートである。図１２は、図１１に続く、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０のライト処理の手順の一例を示すフローチャートである。
図１１及び図１２に示すように、ライト処理を開始すると、メインコントローラ４０は、データをライトするセクタを含む所定のトラックにライトヘッド１６Ｗを位置決めし（Ｓ１）、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力を供給し（Ｓ２）、第１検出部４６ｄでライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出する。
図１１は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０のライト処理の手順の一例を示すフローチャートである。図１２は、図１１に続く、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０のライト処理の手順の一例を示すフローチャートである。
図１１及び図１２に示すように、ライト処理を開始すると、メインコントローラ４０は、データをライトするセクタを含む所定のトラックにライトヘッド１６Ｗを位置決めし（Ｓ１）、第１ヒータＨ１に所定の電力値の電力を供給し（Ｓ２）、第１検出部４６ｄでライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出する。
【0039】
次に、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が第１閾値Ａ１を超えているか否かを判断し（Ｓ４）、浮上量が第１閾値Ａ１を超えていない場合、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していないと判断し、ライトヘッド１６Ｗでデータを磁気ディスク１２にライトし（Ｓ１５）、ライト処理を終了する。
浮上量が第１閾値を超えている場合（Ｓ４）、メインコントローラ４０は、第２検出部４６ｅでライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し（Ｓ５）、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えているか否かを判断する（Ｓ６）。
浮上量が第１閾値を超えている場合（Ｓ４）、メインコントローラ４０は、第２検出部４６ｅでライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し（Ｓ５）、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えているか否かを判断する（Ｓ６）。
【0040】
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えていない場合（Ｓ６）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していないと判断し、ステップＳ１５を実行し、ライト処理を終了する。
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合（Ｓ６）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していると判断し、ライトヘッド１６Ｗを任意のトラックに位置決めし（Ｓ７）、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させ（Ｓ８）、汚れ除去動作を行う。上記した任意のトラックは、例えば、汚れ除去用トラック１２ａである。
汚れ除去動作を行った後、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗを所定のトラックに位置決めし直し（Ｓ９）、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を所定の電力値に戻す（１０）。
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合（Ｓ６）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していると判断し、ライトヘッド１６Ｗを任意のトラックに位置決めし（Ｓ７）、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を増加させ（Ｓ８）、汚れ除去動作を行う。上記した任意のトラックは、例えば、汚れ除去用トラック１２ａである。
汚れ除去動作を行った後、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗを所定のトラックに位置決めし直し（Ｓ９）、第１ヒータＨ１に供給する電力の電力値を所定の電力値に戻す（１０）。
【0041】
その後、メインコントローラ４０は、再び、第１検出部４６ｄでライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出し（Ｓ１１）、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が第１閾値Ａ１を超えているか否かを判断し（Ｓ１２）、浮上量が第１閾値Ａ１を超えていない場合、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していないと判断し、ステップＳ１５を実行し、ライト処理を終了する。
浮上量が第１閾値Ａ１を超えている場合（Ｓ１２）、メインコントローラ４０は、第２検出部４６ｅでライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し（Ｓ１３）、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えているか否かを判断する（Ｓ１４）。
浮上量が第１閾値Ａ１を超えている場合（Ｓ１２）、メインコントローラ４０は、第２検出部４６ｅでライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し（Ｓ１３）、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えているか否かを判断する（Ｓ１４）。
【0042】
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えていない場合（Ｓ１４）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していないと判断し、ステップＳ１５を実行し、ライト処理を終了する。
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合（Ｓ１４）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していると判断し、ステップＳ７からステップＳ１４までの処理を再び実行する。
位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合（Ｓ１４）、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗに汚れＤが付着していると判断し、ステップＳ７からステップＳ１４までの処理を再び実行する。
【0043】
なお、上記したライト処理の手順において、ステップＳ３及びステップＳ４を、ステップＳ５及びステップＳ６と入れ替えてもよい。図１１で例えると、ステップＳ２を実行した後、ステップＳ５及びステップＳ６を行い、位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合に、ステップＳ３及びステップＳ４を実行してもよい。
同様に、ステップＳ１１及びステップＳ１２を、ステップＳ１３及びステップＳ１４と入れ替えてもよい。図１２で例えると、ステップＳ１０を実行した後、ステップＳ１３及びステップＳ１４を実行し、位置決め誤差が第２閾値Ａ２未満を超えている場合に、ステップＳ１１及びステップＳ１２を実行してもよい。
同様に、ステップＳ１１及びステップＳ１２を、ステップＳ１３及びステップＳ１４と入れ替えてもよい。図１２で例えると、ステップＳ１０を実行した後、ステップＳ１３及びステップＳ１４を実行し、位置決め誤差が第２閾値Ａ２未満を超えている場合に、ステップＳ１１及びステップＳ１２を実行してもよい。
【0044】
上述したように、磁気ディスク１２は、汚れ除去用トラック１２ａを無しに構成されてもよい。この場合、ライト処理の手順において、ステップＳ７及びステップＳ９を実行しなくともよい。図１１及び図１２で例えると、ステップＳ６を実行し、位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合に、ステップＳ８を実行し、ステップＳ１０を実行する処理であってもよい。
【0045】
実施形態の効果について説明する。
本実施形態に係る磁気ディスク装置１０によれば、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗで磁気ディスク１２にデータをライトする際、ライトヘッド１６Ｗの浮上量及びライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が第１閾値Ａ１を超え、且つ、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合、第１ヒータＨ１に供給している電力の電力値を増加させる。
これにより、ライトヘッド１６Ｗに付着した汚れＤを除去することで、ライト性能の低下を抑制し、記録の精度を向上できる磁気ディスク装置１０を得ることができる。
本実施形態に係る磁気ディスク装置１０によれば、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗで磁気ディスク１２にデータをライトする際、ライトヘッド１６Ｗの浮上量及びライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差を検出し、ライトヘッド１６Ｗの浮上量が第１閾値Ａ１を超え、且つ、ライトヘッド１６Ｗの位置決め誤差が第２閾値Ａ２を超えている場合、第１ヒータＨ１に供給している電力の電力値を増加させる。
これにより、ライトヘッド１６Ｗに付着した汚れＤを除去することで、ライト性能の低下を抑制し、記録の精度を向上できる磁気ディスク装置１０を得ることができる。
【0046】
第１検出部４６ｄは、再生信号の一次成分と三次成分との比からライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出する。これにより、より正確にライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出できるため、汚れ除去動作時におけるライトヘッド１６Ｗが磁気ディスク１２に接触することを抑制することができる。
磁気ディスク１２が汚れ除去用トラック１２ａを有している場合、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗを汚れ除去用トラック１２ａに位置決めしてから、汚れ除去動作を行う。これにより、データがライトされている領域における摩耗による減磁を防止することができる。
磁気ヘッド１６の移動がストッパＳＴによって制限された場合に、ライトヘッド１６Ｗは、汚れ除去用トラック１２ａに位置決めされる。これにより、磁気ヘッド１６をストッパＳＴに押し付けるだけで、つまりサーボによる位置決め調整を行うことなく、ライトヘッド１６Ｗを汚れ除去用トラック１２ａに位置決めすることができる。
磁気ディスク１２が汚れ除去用トラック１２ａを有している場合、メインコントローラ４０は、ライトヘッド１６Ｗを汚れ除去用トラック１２ａに位置決めしてから、汚れ除去動作を行う。これにより、データがライトされている領域における摩耗による減磁を防止することができる。
磁気ヘッド１６の移動がストッパＳＴによって制限された場合に、ライトヘッド１６Ｗは、汚れ除去用トラック１２ａに位置決めされる。これにより、磁気ヘッド１６をストッパＳＴに押し付けるだけで、つまりサーボによる位置決め調整を行うことなく、ライトヘッド１６Ｗを汚れ除去用トラック１２ａに位置決めすることができる。
【0047】
本発明の実施形態を説明したが、実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述した新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【0048】
１０…磁気ディスク装置、１２…磁気ディスク、１２ａ…汚れ除去用トラック、１６…磁気ヘッド、１６Ｒ…リードヘッド、１６Ｗ…ライトヘッド、４０…メインコントローラ、４６ｄ…第１検出部、４６ｅ…第２検出部、４７…メモリ、Ａ１…第１閾値、Ａ２…第２閾値、汚れ…Ｄ、Ｆ…摩擦力、Ｆ１…成分、Ｈ…ヒータ、Ｈ１…第１ヒータ、Ｈ２…第２ヒータ、ＳＴ…ストッパ。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】