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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024137017
(43)【公開日】2024-10-04
(54)【発明の名称】信号伝送装置
(51)【国際特許分類】
H04L 25/02 20060101AFI20240927BHJP
【ＦＩ】
H04L25/02 303B
【審査請求】未請求
【請求項の数】13
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023048356
(22)【出願日】2023-03-24
(71)【出願人】
【識別番号】000116024
【氏名又は名称】ローム株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001933
【氏名又は名称】弁理士法人 佐野特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】嶋田 雄二
【テーマコード（参考）】
5K029
【Ｆターム（参考）】
5K029AA11
5K029CC01
5K029DD04
5K029JJ03
(57)【要約】
【課題】絶縁通信において送信強度又は受信感度の適正化を図る。
【解決手段】信号伝送装置は互いに絶縁された第１回路（１０）及び第２回路（２０）を備える。第１回路は第１トランスミッタ（ＴＸ１）及び第２レシーバ（ＲＸ２）を備え、第２回路は第２トランスミッタ（ＴＸ２）及び第１レシーバ（ＲＸ１）を備える。校正モードにおいて、第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を第２回路に送信するテスト送信処理と、第１レシーバによるテスト信号の受信結果に応じて第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を第１回路に送信するテスト返信処理とを実行する。テスト送信処理及びテスト返信処理を通じて、第１回路にて第１トランスミッタの適正送信強度を設定する又は第２回路にて第１レシーバの適正受信感度を設定する。
【選択図】図１５
【解決手段】信号伝送装置は互いに絶縁された第１回路（１０）及び第２回路（２０）を備える。第１回路は第１トランスミッタ（ＴＸ１）及び第２レシーバ（ＲＸ２）を備え、第２回路は第２トランスミッタ（ＴＸ２）及び第１レシーバ（ＲＸ１）を備える。校正モードにおいて、第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を第２回路に送信するテスト送信処理と、第１レシーバによるテスト信号の受信結果に応じて第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を第１回路に送信するテスト返信処理とを実行する。テスト送信処理及びテスト返信処理を通じて、第１回路にて第１トランスミッタの適正送信強度を設定する又は第２回路にて第１レシーバの適正受信感度を設定する。
【選択図】図１５
【特許請求の範囲】
【請求項1】
互いに絶縁された第１回路及び第２回路を備えた信号伝送装置であって、前記第１回路は第１トランスミッタ及び第２レシーバを備え、前記第２回路は第２トランスミッタ及び第１レシーバを備え、
前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、
前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの適正送信強度を設定し、
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記適正送信強度にて前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記入力デジタル信号を受信する
、信号伝送装置。
前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、
前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの適正送信強度を設定し、
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記適正送信強度にて前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記入力デジタル信号を受信する
、信号伝送装置。
【請求項2】
前記第１回路は、前記第１トランスミッタの送信強度を制御するよう構成された送信強度制御回路を有する第１校正回路を備え、
前記第２回路は、第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき前記適正送信強度を設定する
、請求項１に記載の信号伝送装置。
前記第２回路は、第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき前記適正送信強度を設定する
、請求項１に記載の信号伝送装置。
【請求項3】
前記校正モードにおいて、前記テスト信号が前記第１レシーバにて受信されたとき、前記テスト信号に対応する波形を有する受信矩形波信号が前記第１レシーバから出力され、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記第１レシーバからの前記受信矩形波信号の出力有無に基づき前記テスト返信処理の実行有無を制御する
、請求項２に記載の信号伝送装置。
、請求項２に記載の信号伝送装置。
【請求項4】
前記複数の候補強度は第１～第ｍ候補強度を含み、第ｉテスト設定状態にて前記第１トランスミッタの送信強度は第ｉ候補強度であり、ｍは２以上の整数を表し、ｉはｍ以下の自然数を表し、
前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、
前記第１校正回路は、第１～第ｍテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第２レシーバでの前記返信信号の受信有無に基づき、前記適正送信強度を設定する
、請求項３に記載の信号伝送装置。
前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、
前記第１校正回路は、第１～第ｍテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第２レシーバでの前記返信信号の受信有無に基づき、前記適正送信強度を設定する
、請求項３に記載の信号伝送装置。
【請求項5】
前記第１校正回路は、前記複数の候補強度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補強度を前記適正送信強度に設定する
、請求項２～４の何れかに記載の信号伝送装置。
、請求項２～４の何れかに記載の信号伝送装置。
【請求項6】
前記校正モードにおいて、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの前記適正送信強度を設定し且つ前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度を設定し、
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記適正送信強度にて前記入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する
、請求項１に記載の信号伝送装置。
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記適正送信強度にて前記入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する
、請求項１に記載の信号伝送装置。
【請求項7】
前記第１回路は、前記第１トランスミッタの送信強度を制御するよう構成された送信強度制御回路を有する第１校正回路を備え、
前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路を有する第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて前記第１校正回路及び前記第２校正回路により第１校正処理及び第２校正処理が実行され、
前記第１校正処理において、前記第２校正回路は前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を所定受信感度に固定し、
前記第１校正処理において、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき暫定送信強度を特定し、
前記第２校正処理において、前記第１校正回路は前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を所定送信強度に固定し、
前記第２校正処理において、前記第１校正回路は、前記１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ暫定受信感度を特定し、
前記第１校正処理の後、前記第１校正回路は、前記暫定送信強度及び前記所定送信強度の内、高い方を前記適正送信強度に設定し、
前記第２校正処理の後、前記第２校正回路は、前記暫定受信感度及び前記所定受信感度の内、高い方を前記適正受信感度に設定する
、請求項６に記載の信号伝送装置。
前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路を有する第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて前記第１校正回路及び前記第２校正回路により第１校正処理及び第２校正処理が実行され、
前記第１校正処理において、前記第２校正回路は前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を所定受信感度に固定し、
前記第１校正処理において、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき暫定送信強度を特定し、
前記第２校正処理において、前記第１校正回路は前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を所定送信強度に固定し、
前記第２校正処理において、前記第１校正回路は、前記１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ暫定受信感度を特定し、
前記第１校正処理の後、前記第１校正回路は、前記暫定送信強度及び前記所定送信強度の内、高い方を前記適正送信強度に設定し、
前記第２校正処理の後、前記第２校正回路は、前記暫定受信感度及び前記所定受信感度の内、高い方を前記適正受信感度に設定する
、請求項６に記載の信号伝送装置。
【請求項8】
前記第１校正処理において、前記第１校正回路は、前記複数の候補強度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補強度を前記暫定送信強度として特定し、
前記第２校正処理において、前記第２校正回路は、前記複数の候補感度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補感度を前記暫定受信感度として特定する
、請求項７に記載の信号伝送装置。
前記第２校正処理において、前記第２校正回路は、前記複数の候補感度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補感度を前記暫定受信感度として特定する
、請求項７に記載の信号伝送装置。
【請求項9】
互いに絶縁された第１回路及び第２回路を備えた信号伝送装置であって、前記第１回路は第１トランスミッタ及び第２レシーバを備え、前記第２回路は第２トランスミッタ及び第１レシーバを備え、
前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、
前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度を設定し、
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する
、信号伝送装置。
前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、
前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、
前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度を設定し、
前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する
、信号伝送装置。
【請求項10】
前記第１回路は、第１校正回路を備え、
前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路を有する第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記第１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ前記適正受信感度を設定する
、請求項９に記載の信号伝送装置。
前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路を有する第２校正回路を備え、
前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記第１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ前記適正受信感度を設定する
、請求項９に記載の信号伝送装置。
【請求項11】
前記校正モードにおいて、前記テスト信号が前記第１レシーバにて受信されたとき、前記テスト信号に対応する波形を有する受信矩形波信号が前記第１レシーバから出力され、前記第２校正回路は、前記候補感度ごとに前記第１レシーバからの前記受信矩形波信号の出力有無に基づき前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定する
、請求項１０に記載の信号伝送装置。
、請求項１０に記載の信号伝送装置。
【請求項12】
前記複数の候補感度は第１～第ｎ候補感度を含み、第ｉテスト設定状態にて前記第１レシーバの受信感度は第ｉ候補感度であり、ｎは２以上の整数を表し、ｉはｎ以下の自然数を表し、
前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、
前記第２校正回路は、第１～第ｎテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第１レシーバでの前記テスト信号の受信可否に基づき、前記適正受信感度を設定する
、請求項１１に記載の信号伝送装置。
前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、
前記第２校正回路は、第１～第ｎテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第１レシーバでの前記テスト信号の受信可否に基づき、前記適正受信感度を設定する
、請求項１１に記載の信号伝送装置。
【請求項13】
前記第２校正回路は、前記複数の候補感度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補感度を前記適正受信感度に設定する
、請求項１０～１２の何れかに記載の信号伝送装置。
、請求項１０～１２の何れかに記載の信号伝送装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、信号伝送装置に関する。
【背景技術】
【0002】
絶縁素子を用いて第１回路及び第２回路間で絶縁通信を行う構成が実用化されている。この際、トランスミッタ及びレシーバを用いて送信側から受信側に伝送する。トランスミッタにより絶縁素子が駆動されることで信号が送信される。例えば絶縁素子としてパルストランスが用いられる場合、送信側でのデジタル信号にレベル変化が生じるたびにパルストランスを駆動する（パルストランスに電流を供給する）方法がある。絶縁素子としてコンデンサが用いられる場合も同様である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２０２０－２０５４７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
絶縁通信においてトランスミッタの送信強度又はレシーバの受信感度の適正化は重要である。
【0005】
本開示は、トランスミッタの送信強度又はレシーバの受信感度の適正化に寄与する信号伝送装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一側面に係る信号伝送装置は、互いに絶縁された第１回路及び第２回路を備えた信号伝送装置であって、前記第１回路は第１トランスミッタ及び第２レシーバを備え、前記第２回路は第２トランスミッタ及び第１レシーバを備え、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの適正送信強度を設定し、前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記適正送信強度にて前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記入力デジタル信号を受信する。
【0007】
本開示の他の一側面に係る信号伝送装置は、互いに絶縁された第１回路及び第２回路を備えた信号伝送装置であって、前記第１回路は第１トランスミッタ及び第２レシーバを備え、前記第２回路は第２トランスミッタ及び第１レシーバを備え、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度を設定し、前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する。
【発明の効果】
【0008】
本開示によれば、トランスミッタの送信強度又はレシーバの受信感度の適正化に寄与する信号伝送装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本開示の実施形態の例を、図面を参照して具体的に説明する。参照される各図において、同一の部分には同一の符号を付し、同一の部分に関する重複する説明を原則として省略する。尚、本明細書では、記述の簡略化上、情報、信号、物理量、機能部、回路、素子又は部品等を参照する記号又は符号を記すことによって、該記号又は符号に対応する情報、信号、物理量、機能部、回路、素子又は部品等の名称を省略又は略記することがある。例えば、後述の“ＳＥＬ＿ＩＮ１”によって参照される入力セレクタは（図１参照）、入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１と表記されることもあるし、セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１と略記されることもあり得るが、それらは全て同じものを指す。
【0011】
まず、本開示の実施形態の記述にて用いられる幾つかの用語について説明を設ける。レベルとは電位のレベルを指す。任意の注目した信号又は電圧において、ローレベルからハイレベルへの切り替わりをライズエッジと称し、ローレベルからハイレベルへの切り替わりのタイミングをライズエッジタイミングと称する。任意の注目した信号又は電圧において、ハイレベルからローレベルへの切り替わりをフォールエッジと称し、ハイレベルからローレベルへの切り替わりのタイミングをフォールエッジタイミングと称する。
【0012】
回路を形成する複数の部位間についての接続とは、特に記述なき限り、電気的な接続を指すと解して良い。
【0013】
図１に本実施形態に係る信号伝送装置１の概略構成を示す。信号伝送装置１は半導体集積回路を有する半導体装置であって良い。信号伝送装置１は回路１０及び２０と絶縁素子３１及び３２とを備える。回路１０及び２０は電気的に互いに絶縁される。本明細書において、絶縁とは直流の信号及び電力の伝達が遮断されていることを意味する。回路１０及び２０の内、任意の一方が一次側回路として機能し、他方が二次側回路として機能する。以下では、説明の具体化のため、回路１０が一次側回路であって且つ回路２０が二次側回路であると考える。
【0014】
一次側回路１０は、トランスミッタＴＸ１、レシーバＲＸ２、校正回路ＣＢ１、モード設定回路ＭＳ１、入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１及び出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ２を備える。二次側回路２０は、トランスミッタＴＸ２、レシーバＲＸ１、校正回路ＣＢ２、モード設定回路ＭＳ２、入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２及び出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ１を備える。
【0015】
一次側回路１０におけるグランドは“ＧＮＤ１”にて参照され、二次側回路２０におけるグランドは“ＧＮＤ２”にて参照される。一次側回路１０における任意の電圧又は信号は、グランドＧＮＤ１を基準とする電圧又は信号であって、グランドＧＮＤ１から見た電位を有する。二次側回路２０における任意の電圧又は信号は、グランドＧＮＤ２を基準とする電圧又は信号であって、グランドＧＮＤ２から見た電位を有する。回路１０及び２０の夫々において、グランドは０Ｖ（ゼロボルト）の基準電位を有する基準導電部を指す又は基準電位そのものを指す。但し、グランドＧＮＤ１とグランドＧＮＤ２は互いに絶縁されているため、互いに異なる電位を有し得る。基準導電部は金属等の導体にて形成される。一次側回路１０内の各回路は電源電圧ＶＤＤ１に基づいて駆動する。電源電圧ＶＤＤ１はグランドＧＮＤ１よりも高い電位を有する正の直流電圧である。二次側回路２０内の各回路は電源電圧ＶＤＤ２に基づいて駆動する。電源電圧ＶＤＤ２はグランドＧＮＤ２よりも高い電位を有する正の直流電圧である。
【0016】
入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１は入力ノードＮＤ１ｂ及びＮＤ１ｃと出力ノードＮＤ１ａを備え、モード設定回路ＭＳ１の制御の下、入力ノードＮＤ１ｂ及びＮＤ１ｃの何れか一方を出力ノードＮＤ１ａに接続する。出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ２は入力ノードＮＤ２ｄと出力ノードＮＤ２ｅ及びＮＤ２ｆを備え、モード設定回路ＭＳ１の制御の下、入力ノードＮＤ２ｄを出力ノードＮＤ２ｅ及びＮＤ２ｆの何れか一方に接続する。ノードＮＤ１ｂは一次側回路１０に内蔵又は外部接続された回路（図１では不図示）に接続される。ノードＮＤ１ａはトランスミッタＴＸ１に接続される。ノードＮＤ２ｅは一次側回路１０に内蔵又は外部接続された回路（図１では不図示）に接続される。ノードＮＤ２ｄはレシーバＲＸ２に接続される。ノードＮＤ１ｃ及びＮＤ２ｆは校正回路ＣＢ１に接続される。
【0017】
入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２は入力ノードＮＤ２ｂ及びＮＤ２ｃと出力ノードＮＤ２ａを備え、モード設定回路ＭＳ２の制御の下、入力ノードＮＤ２ｂ及びＮＤ２ｃの何れか一方を出力ノードＮＤ２ａに接続する。出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ１は入力ノードＮＤ１ｄと出力ノードＮＤ１ｅ及びＮＤ１ｆを備え、モード設定回路ＭＳ２の制御の下、入力ノードＮＤ１ｄを出力ノードＮＤ１ｅ及びＮＤ１ｆの何れか一方に接続する。ノードＮＤ２ｂは二次側回路２０に内蔵又は外部接続された回路（図１では不図示）に接続される。ノードＮＤ２ａはトランスミッタＴＸ２に接続される。ノードＮＤ１ｅは二次側回路２０に内蔵又は外部接続された回路（図１では不図示）に接続される。ノードＮＤ１ｄはレシーバＲＸ１に接続される。ノードＮＤ２ｃ及びＮＤ１ｆは校正回路ＣＢ２に接続される。
【0018】
出力ノードＮＤ１ａにおける信号を記号“ＩＮ１”にて参照する。信号ＩＮ１はトランスミッタＴＸ１への入力信号であり、以下、入力信号ＩＮ１又は信号ＩＮ１と称される。レシーバＲＸ１の出力信号を記号“ＯＵＴ１”にて参照する。レシーバＲＸ１の出力信号ＯＵＴ１は入力ノードＮＤ１ｄに加わる。出力ノードＮＤ２ａにおける信号を記号“ＩＮ２”にて参照する。信号ＩＮ２はトランスミッタＴＸ２への入力信号であり、以下、入力信号ＩＮ２又は信号ＩＮ２と称される。レシーバＲＸ２の出力信号を記号“ＯＵＴ２”にて参照する。レシーバＲＸ２の出力信号ＯＵＴ２は入力ノードＮＤ２ｄに加わる。
【0019】
モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２は一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードを通常モード又は校正モードに設定する。詳細には、モード設定回路ＭＳ１により一次側回路１０の動作モードが通常モード又は校正モードに設定され、モード設定回路ＭＳ２により二次側回路２０の動作モードが通常モード又は校正モードに設定される。モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２を包含する単一のモード設定回路が信号伝送装置１に設けられる、と解しても良い。
【0020】
モード設定に関わる微小な時間ずれを無視すれば、モード設定回路ＭＳ１により一次側回路１０の動作モードが通常モードに設定されるとき、モード設定回路ＭＳ２により二次側回路２０の動作モードも通常モードに設定され、モード設定回路ＭＳ１により一次側回路１０の動作モードが校正モードに設定されるとき、モード設定回路ＭＳ２により二次側回路２０の動作モードも校正モードに設定される。尚、モード設定回路ＭＳ１により設定及び制御される動作モードは、一次側回路１０内の回路の内、モード設定回路ＭＳ１以外の回路の動作モードであると解して良い。同様に、モード設定回路ＭＳ２により設定及び制御される動作モードは、二次側回路２０内の回路の内、モード設定回路ＭＳ２以外の回路の動作モードであると解して良い。各モード設定回路による動作モードの設定方法については後述される。
【0021】
以下、一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードが通常モードに設定されている状態を通常モード状態と称し、一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードが校正モードに設定されている状態を校正モード状態と称する。
【0022】
図２に通常モード状態における各セレクタの状態を示す。通常モード状態において、モード設定回路ＭＳ１は、入力ノードＮＤ１ｂが出力ノードＮＤ１ａに接続され且つ入力ノードＮＤ２ｄが出力ノードＮＤ２ｅに接続されるよう、セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１及びＳＥＬ＿ＯＵＴ２を制御する。通常モード状態において、モード設定回路ＭＳ２は、入力ノードＮＤ２ｂが出力ノードＮＤ２ａに接続され且つ入力ノードＮＤ１ｄが出力ノードＮＤ１ｅに接続されるよう、セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２及びＳＥＬ＿ＯＵＴ１を制御する。
【0023】
通常モード状態では、一次側回路１０に内蔵又は外部接続される回路（図２では不図示）から出力される信号Ｓｎ１が、ノードＮＤ１ｂ及びＮＤ１ａを通じ、入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に供給される。通常モード状態において、トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１により絶縁通信形式にて信号Ｓｎ１が一次側回路１０から二次側回路２０に伝送される。トランスミッタＴＸ１は信号Ｓｎ１を絶縁素子３１を用いて二次側回路２０に送信する。レシーバＲＸ１はトランスミッタＴＸ１から信号Ｓｎ１を受信する。通常モード状態において、レシーバＲＸ１は信号Ｓｎ１の受信結果を示す信号ＯＵＴ１を生成し、レシーバＲＸ１の出力信号ＯＵＴ１を、ノードＮＤ１ｄ及びＮＤ１ｅを通じ、二次側回路２０に内蔵又は外部接続される回路（図２では不図示）に対し供給する。
【0024】
通常モード状態では、二次側回路２０に内蔵又は外部接続される回路（図２では不図示）から出力される信号Ｓｎ２が、ノードＮＤ２ｂ及びＮＤ２ａを通じ、入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に供給される。通常モード状態において、トランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２により絶縁通信形式にて信号Ｓｎ２が二次側回路２０から一次側回路１０に伝送される。トランスミッタＴＸ２は信号Ｓｎ２を絶縁素子３２を用いて一次側回路１０に送信する。レシーバＲＸ２はトランスミッタＴＸ２から信号Ｓｎ２を受信する。通常モード状態において、レシーバＲＸ２は信号Ｓｎ２の受信結果を示す信号ＯＵＴ２を生成し、レシーバＲＸ２の出力信号ＯＵＴ２を、ノードＮＤ２ｄ及びＮＤ２ｅを通じ、一次側回路１０に内蔵又は外部接続される回路（図２では不図示）に対し供給する。
【0025】
信号Ｓｎ１及びＳｎ２は夫々にシリアルのデジタル信号である。従って、信号Ｓｎ１及びＳｎ２は夫々にハイレベル又はローレベルの電位を持つ。入力信号ＩＮ１及びＩＮ２並びに出力信号ＯＵＴ１及びＯＵＴ２も夫々にシリアルのデジタル信号であり、ハイレベル又はローレベルの電位を有する。任意の信号においてハイレベルはローレベルよりも高い電位を有する。信号Ｓｎ１、ＩＮ１及びＯＵＴ２におけるローレベルはグランドＧＮＤ１の電位を有し、信号Ｓｎ１、ＩＮ１及びＯＵＴ２におけるハイレベルは電源電圧ＶＤＤ１の電位を有する（但しグランドＧＮＤ１より高いが電源電圧ＶＤＤ１より低い電位を有していても良い）。信号Ｓｎ２、ＩＮ２及びＯＵＴ１におけるローレベルはグランドＧＮＤ２の電位を有し、信号Ｓｎ２、ＩＮ２及びＯＵＴ１におけるハイレベルは電源電圧ＶＤＤ２の電位を有する（但しグランドＧＮＤ２より高いが電源電圧ＶＤＤ２より低い電位を有していても良い）。
【0026】
図３に通常モード状態における信号Ｓｎ１、ＩＮ１及びＯＵＴ１の波形を示す。通常モード状態において、信号Ｓｎ１はトランスミッタＴＸ１への入力信号ＩＮ１として機能する。更に、通常モード状態において、入力信号ＩＮ１の波形と出力信号ＯＵＴ１の波形は実質的に同じであり、送受信に関わる伝達遅延等を無視すれば、入力信号ＩＮ１と出力信号ＯＵＴ１とは互いに等価である。即ち、通常モード状態において、入力信号ＩＮ１がハイレベルであれば出力信号ＯＵＴ１もハイレベルとなり、入力信号ＩＮ１がローレベルであれば出力信号ＯＵＴ１もローレベルとなる。但し、変形として信号ＩＮ１の論理と信号ＯＵＴ１の論理とが逆になるように信号伝送装置１を形成しても良い。
【0027】
図４に通常モード状態における信号Ｓｎ２、ＩＮ２及びＯＵＴ２の波形を示す。通常モード状態において、信号Ｓｎ２はトランスミッタＴＸ２への入力信号ＩＮ２として機能する。更に、通常モード状態において、入力信号ＩＮ２の波形と出力信号ＯＵＴ２の波形は実質的に同じであり、送受信に関わる伝達遅延等を無視すれば、入力信号ＩＮ２と出力信号ＯＵＴ２とは互いに等価である。即ち、通常モード状態において、入力信号ＩＮ２がハイレベルであれば出力信号ＯＵＴ２もハイレベルとなり、入力信号ＩＮ２がローレベルであれば出力信号ＯＵＴ２もローレベルとなる。但し、変形として信号ＩＮ２の論理と信号ＯＵＴ２の論理とが逆になるように信号伝送装置１を形成しても良い。
【0028】
図５に校正モード状態における各セレクタの状態を示す。校正モード状態において、モード設定回路ＭＳ１は、入力ノードＮＤ１ｃが出力ノードＮＤ１ａに接続され且つ入力ノードＮＤ２ｄが出力ノードＮＤ２ｆに接続されるよう、入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ１及び出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ２を制御する。校正モード状態において、モード設定回路ＭＳ２は、入力ノードＮＤ２ｃが出力ノードＮＤ２ａに接続され且つ入力ノードＮＤ１ｄが出力ノードＮＤ１ｆに接続されるよう、入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２及び出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ１を制御する。
【0029】
校正モード状態において、一次側回路１０の動作モードが校正モードであることを示す情報がモード設定回路ＭＳ１から校正回路ＣＢ１に伝達される。モード設定回路ＭＳ１は校正回路ＣＢ１の一部であると解しても良い。校正モード状態において、校正回路ＣＢ１は入力ノードＮＤ１ｃに対して信号Ｓｃ１を出力し、故に信号Ｓｃ１がトランスミッタＴＸ１への入力信号ＩＮ１となる。また校正モード状態において、レシーバＲＸ２の出力信号ＯＵＴ２がノードＮＤ２ｄ及びＮＤ２ｆを通じて校正回路ＣＢ１に入力される。更に校正モード状態において、校正回路ＣＢ１はトランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ２の内、少なくとも一方の動作を制御することができるが、これについては後に詳説される。
【0030】
校正モード状態において、二次側回路２０の動作モードが校正モードであることを示す情報がモード設定回路ＭＳ２から校正回路ＣＢ２に伝達される。モード設定回路ＭＳ２は校正回路ＣＢ２の一部であると解しても良い。校正モード状態において、校正回路ＣＢ２は入力ノードＮＤ２ｃに対して信号Ｓｃ２を出力し、故に信号Ｓｃ２がトランスミッタＴＸ２への入力信号ＩＮ２となる。また校正モード状態において、レシーバＲＸ１の出力信号ＯＵＴ１がノードＮＤ１ｄ及びＮＤ１ｆを通じて校正回路ＣＢ２に入力される。更に校正モード状態において、校正回路ＣＢ２はトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ１の内、少なくとも一方の動作を制御することができるが、これについては後に詳説される。
【0031】
絶縁素子３１は、一次側回路１０及び二次側回路２０間の絶縁を確保したまま入力信号ＩＮ１を一次側回路１０から二次側回路２０に伝送するための素子である。絶縁素子３１は送信側コイル及び受信側コイルを有するパルストランスであって良い。この場合、絶縁素子３１における送信側コイルはトランスミッタＴＸ１に接続され且つ絶縁素子３１における受信側コイルはレシーバＲＸ１に接続される。この際、１以上のパルストランスにて絶縁素子３１を形成することができる。或いは１以上のコンデンサにて絶縁素子３１を形成しても良い。
【0032】
絶縁素子３２は、二次側回路２０及び一次側回路１０間の絶縁を確保したまま入力信号ＩＮ２を二次側回路２０から一次側回路１０に伝送するための素子である。絶縁素子３２は送信側コイル及び受信側コイルを有するパルストランスであって良い。この場合、絶縁素子３２における送信側コイルはトランスミッタＴＸ２に接続され且つ絶縁素子３２における受信側コイルはレシーバＲＸ２に接続される。この際、１以上のパルストランスにて絶縁素子３２を形成することができる。或いは１以上のコンデンサにて絶縁素子３２を形成しても良い。
【0033】
以下では、図６に示す如く、絶縁素子３１が２つのパルストランス３１＿Ｒ及び３１＿Ｆにて構成されると共に絶縁素子３２が２つのパルストランス３２＿Ｒ及び３２＿Ｆにて構成されるものとする。図６は信号伝送装置１の一部構成図である。パルストランス３１＿Ｒは送信側コイル３１＿Ｒｔ及び受信側コイル３１＿Ｒｒを備える。パルストランス３１＿Ｆは送信側コイル３１＿Ｆｔ及び受信側コイル３１＿Ｆｒを備える。パルストランス３２＿Ｒは送信側コイル３２＿Ｒｔ及び受信側コイル３２＿Ｒｒを備える。パルストランス３２＿Ｆは送信側コイル３２＿Ｆｔ及び受信側コイル３２＿Ｆｒを備える。各パルストランスにおいて送信側コイルと受信側コイルは互いに磁気結合される。
【0034】
図７も参照しつつトランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の構成及び動作を説明する。図７はトランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の動作に関わるタイミングチャートである。トランスミッタＴＸ１はエッジ検出回路ＥＤ１並びにドライバＲｄｒｖ１及びＦｄｒｖ１を備える。レシーバＲＸ１は検出回路Ｒｄｅｔ１及びＦｄｅｔ１並びにコンパレータＣＭＰ１を有する。
【0035】
エッジ検出回路ＥＤ１に対して入力信号ＩＮ１が入力される。エッジ検出回路ＥＤ１は、入力信号ＩＮ１におけるライズエッジ及びフォールエッジを個別に検出し、ライズエッジの検出結果を示す信号ＥＤ＿Ｒ１とフォールエッジの検出結果を示す信号ＥＤ＿Ｆ１とを生成する。
【0036】
信号ＥＤ＿Ｒ１には入力信号ＩＮ１のライズエッジタイミングを示す情報が含まれており、エッジ検出回路ＥＤ１は当該情報を示すライズ検出パルスＰＬＳＲ１を信号ＥＤ＿Ｒ１中に含める（図７参照）。具体的には、エッジ検出回路ＥＤ１は信号ＥＤ＿Ｒ１のレベルを原則としてローレベルに設定し、入力信号ＩＮ１のライズエッジの検出を契機に所定の微小時間だけ信号ＥＤ＿Ｒ１のレベルをハイレベルに設定する。ハイレベルの信号ＥＤ＿Ｒ１がライズ検出パルスＰＬＳＲ１に相当する。
【0037】
ドライバＲｄｒｖ１に対しエッジ検出回路ＥＤ１からの信号ＥＤ＿Ｒ１が入力される。ドライバＲｄｒｖ１は、信号ＥＤ＿Ｒ１におけるライズ検出パルスＰＬＳＲ１に応答してパルストランス３１＿Ｒをパルス駆動する。ドライバＲｄｒｖ１は、エッジ検出回路ＥＤ１からライズ検出パルスＰＬＳＲ１を受けるごとに、ライズ検出パルスＰＬＳＲ１を受けたタイミングにてパルストランス３１＿Ｒをパルス駆動する。送信側コイル３１＿Ｒｔの第１端及び第２端はドライバＲｄｒｖ１に接続される。送信側コイル３１＿Ｒｔの第２端はグランドＧＮＤ１に接続される。パルストランス３１＿Ｒのパルス駆動とは、送信側コイル３１＿Ｒｔの第１端から第２端に向けてパルス状の駆動電流を供給することを指す。
【0038】
パルストランス３１＿Ｒのパルス駆動により送信側コイル３１＿Ｒｔにパルス状の駆動電流が供給されると、当該駆動電流に応じた信号ＳＲ１が受信側コイル３１＿Ｒｒに誘起される。受信側コイル３１＿Ｒｒの第１端及び第２端は検出回路Ｒｄｅｔ１に接続される。受信側コイル３１＿Ｒｒの第２端はグランドＧＮＤ２に接続される。信号ＳＲ１は受信側コイル３１＿Ｒｒの第１端及び第２端間に発生する信号である。信号ＳＲ１は受信側コイル３１＿Ｒｒの第１端及び第２端間に発生した電圧の大きさを持つ。信号ＳＲ１は受信側コイル３１＿Ｒｒの第２端の電位から見た受信側コイル３１＿Ｒｒの第１端の電位を持つ、と考えても良い。検出回路Ｒｄｅｔ１は信号ＳＲ１の大きさに比例した電圧値を持つ電圧ＶＰ１を生成する。信号ＳＲ１の大きさ（絶対値）が増大するにつれて、電圧ＶＰ１が高くなる。電圧ＶＰ１は例えば信号ＳＲ１の絶対値の平滑化信号であって良い。
【0039】
信号ＥＤ＿Ｆ１には入力信号ＩＮ１のフォールエッジタイミングを示す情報が含まれており、エッジ検出回路ＥＤ１は当該情報を示すフォール検出パルスＰＬＳＦ１を信号ＥＤ＿Ｆ１中に含める（図７参照）。具体的には、エッジ検出回路ＥＤ１は信号ＥＤ＿Ｆ１のレベルを原則としてローレベルに設定し、入力信号ＩＮ１のフォールエッジの検出を契機に所定の微小時間だけ信号ＥＤ＿Ｆ１のレベルをハイレベルに設定する。ハイレベルの信号ＥＤ＿Ｆ１がフォール検出パルスＰＬＳＦ１に相当する。
【0040】
ドライバＦｄｒｖ１に対しエッジ検出回路ＥＤ１からの信号ＥＤ＿Ｆ１が入力される。ドライバＦｄｒｖ１は、信号ＥＤ＿Ｆ１におけるフォール検出パルスＰＬＳＦ１に応答してパルストランス３１＿Ｆをパルス駆動する。ドライバＦｄｒｖ１は、エッジ検出回路ＥＤ１からフォール検出パルスＰＬＳＦ１を受けるごとに、フォール検出パルスＰＬＳＦ１を受けたタイミングにてパルストランス３１＿Ｆをパルス駆動する。送信側コイル３１＿Ｆｔの第１端及び第２端はドライバＦｄｒｖ１に接続される。送信側コイル３１＿Ｆｔの第２端はグランドＧＮＤ１に接続される。パルストランス３１＿Ｆのパルス駆動とは、送信側コイル３１＿Ｆｔの第１端から第２端に向けてパルス状の駆動電流を供給することを指す。
【0041】
パルストランス３１＿Ｆのパルス駆動により送信側コイル３１＿Ｆｔにパルス状の駆動電流が供給されると、当該駆動電流に応じた信号ＳＦ１が受信側コイル３１＿Ｆｒに誘起される。受信側コイル３１＿Ｆｒの第１端及び第２端は検出回路Ｆｄｅｔ１に接続される。受信側コイル３１＿Ｆｒの第２端はグランドＧＮＤ２に接続される。信号ＳＦ１は受信側コイル３１＿Ｆｒの第１端及び第２端間に発生する信号である。信号ＳＦ１は受信側コイル３１＿Ｆｒの第１端及び第２端間に発生した電圧の大きさを持つ。信号ＳＦ１は受信側コイル３１＿Ｆｒの第２端の電位から見た受信側コイル３１＿Ｆｒの第１端の電位を持つ、と考えても良い。検出回路Ｆｄｅｔ１は信号ＳＦ１の大きさに比例した電圧値を持つ電圧ＶＭ１を生成する。信号ＳＦ１の大きさ（絶対値）が増大するにつれて、電圧ＶＭ１が高くなる。電圧ＶＭ１は例えば信号ＳＦ１の絶対値の平滑化信号であって良い。
【0042】
コンパレータＣＭＰ１の非反転入力端子、反転入力端子に対し、夫々、検出回路Ｒｄｅｔ１からの電圧ＶＰ１、検出回路Ｆｄｅｔ１からの電圧ＶＭ１が入力される。コンパレータＣＭＰ１は電圧ＶＰ１及びＶＭ１の比較結果に応じた信号を出力信号ＯＵＴ１として出力する。
【0043】
コンパレータＣＭＰ１での比較においてオフセットが付与される。具体的には、信号ＯＵＴ１がローレベルを有する状態において、コンパレータＣＭＰ１は第１不等式“ＶＰ１＞ＶＭ１＋ＶＯＦＦＳＥＴ１”の成否を判断する。コンパレータＣＭＰ１は、信号ＯＵＴ１がローレベルを有する状態において、第１不等式が不成立ならば信号ＯＵＴ１をローレベルに維持し、第１不等式が成立すると信号ＯＵＴ１にライズエッジを発生させる。信号ＯＵＴ１がハイレベルを有する状態において、コンパレータＣＭＰ１は第２不等式“ＶＭ１＞ＶＰ１＋ＶＯＦＦＳＥＴ１”の成否を判断する。コンパレータＣＭＰ１は、信号ＯＵＴ１がハイレベルを有する状態において、第２不等式が不成立ならば信号ＯＵＴ１をハイレベルに維持し、第２不等式が成立すると信号ＯＵＴ１にフォールエッジを発生させる。電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１はコンパレータＣＭＰ１のオフセット電圧に相当し、正の電圧値を有する。尚、信号ＯＵＴ１の初期レベルはローレベルである（但し、ハイレベルであっても良い）。
【0044】
上述の構成により、図７に示す如く、入力信号ＩＮ１にライズエッジが生じるたびに出力信号ＯＵＴ１にもライズエッジが生じ、入力信号ＩＮ１にフォールエッジが生じるたびに出力信号ＯＵＴ１にもフォールエッジが生じる。入力信号ＩＮ１のライズエッジタイミングと出力信号ＯＵＴ１のライズエッジタイミングは実質的に同じとなり、入力信号ＩＮ１のフォールエッジタイミングと出力信号ＯＵＴ１のフォールエッジタイミングは実質的に同じとなる。詳細には、トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の応答特性に応じた遅延時間だけ、出力信号ＯＵＴ１のライズ、フォールエッジタイミングが入力信号ＩＮ１のライズ、フォールエッジタイミングより遅れるが、ここでは当該遅延時間が微小であるとして無視する。
【0045】
図８も参照しつつトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の構成及び動作を説明する。図８はトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の動作に関わるタイミングチャートである。トランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の構成及び動作はトランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１のそれらと同様である。即ち、トランスミッタＴＸ２はエッジ検出回路ＥＤ２並びにドライバＲｄｒｖ２及びＦｄｒｖ２を備える。レシーバＲＸ２は検出回路Ｒｄｅｔ２及びＦｄｅｔ２並びにコンパレータＣＭＰ２を有する。
【0046】
エッジ検出回路ＥＤ２に対して入力信号ＩＮ２が入力される。エッジ検出回路ＥＤ２は、入力信号ＩＮ２におけるライズエッジ及びフォールエッジを個別に検出し、ライズエッジの検出結果を示す信号ＥＤ＿Ｒ２とフォールエッジの検出結果を示す信号ＥＤ＿Ｆ２とを生成する。
【0047】
信号ＥＤ＿Ｒ２には入力信号ＩＮ２のライズエッジタイミングを示す情報が含まれており、エッジ検出回路ＥＤ２は当該情報を示すライズ検出パルスＰＬＳＲ２を信号ＥＤ＿Ｒ２中に含める（図８参照）。具体的には、エッジ検出回路ＥＤ２は信号ＥＤ＿Ｒ２のレベルを原則としてローレベルに設定し、入力信号ＩＮ２のライズエッジの検出を契機に所定の微小時間だけ信号ＥＤ＿Ｒ２のレベルをハイレベルに設定する。ハイレベルの信号ＥＤ＿Ｒ２がライズ検出パルスＰＬＳＲ２に相当する。
【0048】
ドライバＲｄｒｖ２に対しエッジ検出回路ＥＤ２からの信号ＥＤ＿Ｒ２が入力される。ドライバＲｄｒｖ２は、信号ＥＤ＿Ｒ２におけるライズ検出パルスＰＬＳＲ２に応答してパルストランス３２＿Ｒをパルス駆動する。ドライバＲｄｒｖ２は、エッジ検出回路ＥＤ２からライズ検出パルスＰＬＳＲ２を受けるごとに、ライズ検出パルスＰＬＳＲ２を受けたタイミングにてパルストランス３２＿Ｒをパルス駆動する。送信側コイル３２＿Ｒｔの第１端及び第２端はドライバＲｄｒｖ２に接続される。送信側コイル３２＿Ｒｔの第２端はグランドＧＮＤ２に接続される。パルストランス３２＿Ｒのパルス駆動とは、送信側コイル３２＿Ｒｔの第１端から第２端に向けてパルス状の駆動電流を供給することを指す。
【0049】
パルストランス３２＿Ｒのパルス駆動により送信側コイル３２＿Ｒｔにパルス状の駆動電流が供給されると、当該駆動電流に応じた信号ＳＲ２が受信側コイル３２＿Ｒｒに誘起される。受信側コイル３２＿Ｒｒの第１端及び第２端は検出回路Ｒｄｅｔ２に接続される。受信側コイル３２＿Ｒｒの第２端はグランドＧＮＤ１に接続される。信号ＳＲ２は受信側コイル３２＿Ｒｒの第１端及び第２端間に発生する信号である。信号ＳＲ２は受信側コイル３２＿Ｒｒの第１端及び第２端間に発生した電圧の大きさを持つ。信号ＳＲ２は受信側コイル３２＿Ｒｒの第２端の電位から見た受信側コイル３２＿Ｒｒの第１端の電位を持つ、と考えても良い。検出回路Ｒｄｅｔ２は信号ＳＲ２の大きさに比例した電圧値を持つ電圧ＶＰ２を生成する。信号ＳＲ２の大きさ（絶対値）が増大するにつれて、電圧ＶＰ２が高くなる。電圧ＶＰ２は例えば信号ＳＲ２の絶対値の平滑化信号であって良い。
【0050】
信号ＥＤ＿Ｆ２には入力信号ＩＮ２のフォールエッジタイミングを示す情報が含まれており、エッジ検出回路ＥＤ２は当該情報を示すフォール検出パルスＰＬＳＦ２を信号ＥＤ＿Ｆ２中に含める（図８参照）。具体的には、エッジ検出回路ＥＤ２は信号ＥＤ＿Ｆ２のレベルを原則としてローレベルに設定し、入力信号ＩＮ２のフォールエッジの検出を契機に所定の微小時間だけ信号ＥＤ＿Ｆ２のレベルをハイレベルに設定する。ハイレベルの信号ＥＤ＿Ｆ２がフォール検出パルスＰＬＳＦ２に相当する。
【0051】
ドライバＦｄｒｖ２に対しエッジ検出回路ＥＤ２からの信号ＥＤ＿Ｆ２が入力される。ドライバＦｄｒｖ２は、信号ＥＤ＿Ｆ２におけるフォール検出パルスＰＬＳＦ２に応答してパルストランス３２＿Ｆをパルス駆動する。ドライバＦｄｒｖ２は、エッジ検出回路ＥＤ２からフォール検出パルスＰＬＳＦ２を受けるごとに、フォール検出パルスＰＬＳＦ２を受けたタイミングにてパルストランス３２＿Ｆをパルス駆動する。送信側コイル３２＿Ｆｔの第１端及び第２端はドライバＦｄｒｖ２に接続される。送信側コイル３２＿Ｆｔの第２端はグランドＧＮＤ２に接続される。パルストランス３２＿Ｆのパルス駆動とは、送信側コイル３２＿Ｆｔの第１端から第２端に向けてパルス状の駆動電流を供給することを指す。
【0052】
パルストランス３２＿Ｆのパルス駆動により送信側コイル３２＿Ｆｔにパルス状の駆動電流が供給されると、当該駆動電流に応じた信号ＳＦ２が受信側コイル３２＿Ｆｒに誘起される。受信側コイル３２＿Ｆｒの第１端及び第２端は検出回路Ｆｄｅｔ２に接続される。受信側コイル３２＿Ｆｒの第２端はグランドＧＮＤ１に接続される。信号ＳＦ２は受信側コイル３２＿Ｆｒの第１端及び第２端間に発生する信号である。信号ＳＦ２は受信側コイル３２＿Ｆｒの第１端及び第２端間に発生した電圧の大きさを持つ。信号ＳＦ２は受信側コイル３２＿Ｆｒの第２端の電位から見た受信側コイル３２＿Ｆｒの第１端の電位を持つ、と考えても良い。検出回路Ｆｄｅｔ２は信号ＳＦ２の大きさに比例した電圧値を持つ電圧ＶＭ２を生成する。信号ＳＦ２の大きさ（絶対値）が増大するにつれて、電圧ＶＭ２が高くなる。電圧ＶＭ２は例えば信号ＳＦ２の絶対値の平滑化信号であって良い。
【0053】
コンパレータＣＭＰ２の非反転入力端子、反転入力端子に対し、夫々、検出回路Ｒｄｅｔ２からの電圧ＶＰ２、検出回路Ｆｄｅｔ２からの電圧ＶＭ２が入力される。コンパレータＣＭＰ２は電圧ＶＰ２及びＶＭ２の比較結果に応じた信号を出力信号ＯＵＴ２として出力する。
【0054】
コンパレータＣＭＰ２での比較においてオフセットが付与される。具体的には、信号ＯＵＴ２がローレベルを有する状態において、コンパレータＣＭＰ２は第３不等式“ＶＰ２＞ＶＭ２＋ＶＯＦＦＳＥＴ２”の成否を判断する。コンパレータＣＭＰ２は、信号ＯＵＴ２がローレベルを有する状態において、第３不等式が不成立ならば信号ＯＵＴ２をローレベルに維持し、第３不等式が成立すると信号ＯＵＴ２にライズエッジを発生させる。信号ＯＵＴ２がハイレベルを有する状態において、コンパレータＣＭＰ２は第４不等式“ＶＭ２＞ＶＰ２＋ＶＯＦＦＳＥＴ２”の成否を判断する。コンパレータＣＭＰ２は、信号ＯＵＴ２がハイレベルを有する状態において、第４不等式が不成立ならば信号ＯＵＴ２をハイレベルに維持し、第４不等式が成立すると信号ＯＵＴ２にフォールエッジを発生させる。電圧ＶＯＦＦＳＥＴ２はコンパレータＣＭＰ２のオフセット電圧に相当し、正の電圧値を有する。尚、信号ＯＵＴ２の初期レベルはローレベルである（但し、ハイレベルであっても良い）。
【0055】
上述の構成により、図８に示す如く、入力信号ＩＮ２にライズエッジが生じるたびに出力信号ＯＵＴ２にもライズエッジが生じ、入力信号ＩＮ２にフォールエッジが生じるたびに出力信号ＯＵＴ２にもフォールエッジが生じる。入力信号ＩＮ２のライズエッジタイミングと出力信号ＯＵＴ２のライズエッジタイミングは実質的に同じとなり、入力信号ＩＮ２のフォールエッジタイミングと出力信号ＯＵＴ２のフォールエッジタイミングは実質的に同じとなる。詳細には、トランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の応答特性に応じた遅延時間だけ、出力信号ＯＵＴ２のライズ、フォールエッジタイミングが入力信号ＩＮ２のライズ、フォールエッジタイミングより遅れるが、ここでは当該遅延時間が微小であるとして無視する。
【0056】
尚、図７では、トランスミッタＴＸ１の送信強度及びレシーバＲＸ１の受信感度が適正である又は十分に高いことが想定されている。仮に、それらが過小である場合には、入力信号ＩＮ１のレベル変化に応答したレベル変化が出力信号ＯＵＴ１に現れない。レシーバＲＸ１の受信感度はオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１によって定まる。オフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が低いほどレシーバＲＸ１の受信感度は高くなる。同様に、図８では、トランスミッタＴＸ２の送信強度及びレシーバＲＸ２の受信感度が適正である又は十分に高いことが想定されている。仮に、それらが過小である場合には、入力信号ＩＮ２のレベル変化に応答したレベル変化が出力信号ＯＵＴ２に現れない。レシーバＲＸ２の受信感度はオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ２によって定まる。オフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ２が低いほどレシーバＲＸ２の受信感度は高くなる。
【0057】
信号伝送装置１の製品ごとのばらつきを考慮し、余裕を持って必要な信号の送受信が可能となるよう、送信強度及び受信感度を大きめに設計しておく方法も検討される。但し、過大な送信強度は信号伝送装置１の消費電力及び発生ノイズ量を過度に増大させる。また受信感度を高めすぎるとノイズ耐性（コモンモードノイズに対する耐性）が弱くなる。本実施形態に係る信号伝送装置１では送信強度及び受信感度を適正化に寄与する校正動作が可能とされる。
【0058】
以下、複数の実施例の中で、信号伝送装置１に関わる幾つかの具体的な構成例、動作例、応用技術、変形技術等を説明する。本実施形態にて上述した事項は、特に記述無き限り且つ矛盾無き限り、以下の各実施例に適用される。各実施例において、上述の事項と矛盾する事項がある場合には、各実施例での記載が優先されて良い。また矛盾無き限り、以下に示す複数の実施例の内、任意の実施例に記載した事項を、他の任意の実施例に適用することもできる（即ち複数の実施例の内の任意の２以上の実施例を組み合わせることも可能である）。
【0059】
＜＜第１実施例＞＞
第１実施例を説明する。第１実施例ではトランスミッタＴＸ１の送信強度の校正方法を説明する。校正モード状態において、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２はトランスミッタＴＸ１における適正な送信強度を探索する送信強度校正動作ＯＰ＿Ａを行う。送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにて探索される適正な送信強度を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１と称する。尚、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２と、トランスミッタＴＸ１及びＴＸ２並びにレシーバＲＸ１及びＲＸ２との協働により実現される。後述の他の校正動作も同様である。
第１実施例を説明する。第１実施例ではトランスミッタＴＸ１の送信強度の校正方法を説明する。校正モード状態において、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２はトランスミッタＴＸ１における適正な送信強度を探索する送信強度校正動作ＯＰ＿Ａを行う。送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにて探索される適正な送信強度を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１と称する。尚、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２と、トランスミッタＴＸ１及びＴＸ２並びにレシーバＲＸ１及びＲＸ２との協働により実現される。後述の他の校正動作も同様である。
【0060】
図９に、信号伝送装置１の内、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａの動作に関与する構成を示す。校正回路ＣＢ１には送信強度制御回路１１、テスト信号生成回路１２及び受信判定回路１３が設けられる。校正回路ＣＢ２には受信判定回路２１及び信号監視回路２２が設けられる。
【0061】
トランスミッタＴＸ１の送信強度が変更可能となるようにトランスミッタＴＸ１が構成されており、トランスミッタＴＸ１の送信強度が送信強度制御回路１１により調整、制御及び設定される。
【0062】
パルストランス３１＿Ｒをパルス駆動することで一次側回路１０から二次側回路２０に送信される（換言すればトランスミッタＴＸ１からレシーバＲＸ１に送信される）信号をライズエッジ信号と称する。ライズエッジ信号は入力信号ＩＮ１にてライズエッジが発生したことを示す。パルストランス３１＿Ｆをパルス駆動することで一次側回路１０から二次側回路２０に送信される（換言すればトランスミッタＴＸ１からレシーバＲＸ１に送信される）信号をフォールエッジ信号と称する。フォールエッジ信号は入力信号ＩＮ１にてフォールエッジが発生したことを示す。トランスミッタＴＸ１の送信強度はドライバＲｄｒｖ１の送信強度とドライバＦｄｒｖ１の送信強度を含む。ドライバＲｄｒｖ１の送信強度とはドライバＲｄｒｖ１によるライズエッジ信号の送信強度であり、ドライバＦｄｒｖ１の送信強度とはドライバＦｄｒｖ１によるフォールエッジ信号の送信強度である。
【0063】
ドライバＲｄｒｖ１はパルストランス３１＿Ｒのパルス駆動において、送信側コイル３１＿Ｒｔにパルス状の駆動電流を供給する。この際、ドライバＲｄｒｖ１は送信側コイル３１＿Ｒｔに流れる電流の値を０から急峻に駆動電流の値にまで高める。ドライバＲｄｒｖ１による駆動電流の値を、駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１と称する。パルストランス３１＿Ｒのパルス駆動により受信側コイル３１＿Ｒｒで発生する誘起電圧の大きさは、駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１に概略比例する。即ち、ドライバＲｄｒｖ１の送信強度（即ちライズエッジ信号の送信強度）は、駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１の増大につれて増大し、駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１の減少につれて減少する。
【0064】
ドライバＦｄｒｖ１はパルストランス３１＿Ｆのパルス駆動において、送信側コイル３１＿Ｆｔにパルス状の駆動電流を供給する。この際、ドライバＦｄｒｖ１は送信側コイル３１＿Ｆｔに流れる電流の値を０から急峻に駆動電流の値にまで高める。ドライバＦｄｒｖ１による駆動電流の値を、駆動電流値Ｉ＿Ｆｄｒｖ１と称する。パルストランス３１＿Ｆのパルス駆動により受信側コイル３１＿Ｆｒで発生する誘起電圧の大きさは、駆動電流値Ｉ＿Ｆｄｒｖ１に概略比例する。即ち、ドライバＦｄｒｖ１の送信強度（即ちフォールエッジ信号の送信強度）は、駆動電流値Ｉ＿Ｆｄｒｖ１の増大につれて増大し、駆動電流値Ｉ＿Ｆｄｒｖ１の減少につれて減少する。
【0065】
駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１が変更可能となるようにドライバＲｄｒｖ１及びＦｄｒｖ１が構成される。送信強度制御回路１１により駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１が制御されることを通じてトランスミッタＴＸ１の送信強度が制御される。
【0066】
送信強度制御回路１１では、トランスミッタＴＸ１の送信強度の候補として第１～第ｍ候補強度が予め規定される。ｍは２以上の任意の整数を表す。任意の整数ｉに関して、第（ｉ＋１）候補強度は第ｉ候補強度よりも高い。故に、トランスミッタＴＸ１の送信強度が第（ｉ＋１）候補強度に設定されるときの駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１は、トランスミッタＴＸ１の送信強度が第ｉ候補強度に設定されるときの駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１よりも大きい。尚、駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１を互いに異ならせることも可能であるが、ここでは駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１が互い同じであるとする。
【0067】
例えば、送信強度制御回路１１はＤＡＣ（デジタルアナログ変換器）を有し、ＤＡＣの出力アナログ電圧値に応じて駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びＩ＿Ｆｄｒｖ１が制御される構成が採用される。この場合、送信強度制御回路１１はＤＡＣへの入力デジタル値をｍ種類に変化させることで、トランスミッタＴＸ１の送信強度をｍ種類に変化させることができる。
【0068】
テスト信号生成回路１２はテスト信号を生成し、信号Ｓｃ１として出力する。このため、校正モード状態ではテスト信号が入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に供給される。テスト信号はハイレベル及びローレベルの信号レベルを交互に持つ矩形波信号である。故に、テスト信号をテスト矩形波信号と称することもできる。テスト信号を送信するための処理をテスト送信処理と称する。１回分のテスト送信処理では一定時間分のテスト信号が送信される。テスト信号は周期性を有する矩形波信号であって良く、上記一定時間はテスト信号の周期の整数倍である。ここでは、上記一定時間はテスト信号の１周期分の長さであるとする。そうすると、１回分のテスト送信処理において、入力信号ＩＮ１はライズエッジ及びフォールエッジの夫々を１つだけ有する矩形波信号となる。１回分のテスト送信処理において、テスト信号生成回路１２は、入力信号ＩＮ１にライズエッジを発生させた後、フォールエッジを発生させるものとする（後述の他の実施例においても同様）。
【0069】
テスト信号が入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に供給されると、テスト信号のライズエッジを契機にライズエッジ信号がトランスミッタＴＸ１からレシーバＲＸ１に送信され、テスト信号のフォールエッジを契機にフォールエッジ信号がトランスミッタＴＸ１からレシーバＲＸ１に送信される。これらのライズエッジ信号及びフォールエッジ信号がレシーバＲＸ１にて正しく受信された場合には信号ＯＵＴ１に矩形波が現れるが、そうでない場合には信号ＯＵＴ１に矩形波が現われない。仮にトランスミッタＴＸ１の送信強度が低すぎると、レシーバＲＸ１でのテスト信号の受信が不可となる。
【0070】
校正モード状態において、受信判定回路２１は信号ＯＵＴ１に基づきレシーバＲＸ１によるテスト信号の受信可否を判定する。レシーバＲＸ１にてテスト信号が受信された場合、受信判定回路２１は返信信号を入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２を通じ入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に供給する。返信信号はハイレベル及びローレベルの信号レベルを交互に持つ矩形波信号である。故に、返信信号を返信矩形波信号と称することもできる。出力信号ＯＵＴ１そのものを返信信号として用いても良いし、他の所定の矩形波信号を返信信号に設定しても良い。
【0071】
信号監視回路２２は検出回路Ｒｄｅｔ１及びＦｄｅｔ１に接続され、検出回路Ｒｄｅｔ１及びＦｄｅｔ１から電圧ＶＰ１及びＶＭ１を受ける。校正モード状態において、信号監視回路２２は電圧ＶＰ１及びＶＭ１に基づきテスト信号がトランスミッタＴＸ１から送信されたかを監視し、その監視の結果を示す監視結果信号ＳＭＮ１を受信判定回路２１に出力する。監視結果信号ＳＭＮ１は原則としてローレベルを有する。上述のテスト送信処理が行われたとき、電圧ＶＰ１が０Ｖより高まったのちに電圧ＶＭ１が０Ｖより高まる。このため、信号監視回路２２は電圧ＶＰ１及びＶＭ１を所定の正の監視判定電圧ＶＭＮＴＨと比較し、“ＶＰ１＞ＶＭＮＴＨ”の成立後、所定時間内に“ＶＭ１＞ＶＭＮＴＨ”が成立した場合に限り、監視結果信号ＳＭＮ１を微小時間だけハイレベルとする。
【0072】
ハイレベルの監視結果信号ＳＭＮ１を受けたタイミングを含む期間であって且つ一定時間分の判定期間において、テスト信号の波形に対応するレベル変化が信号ＯＵＴ１に現れたとき、受信判定回路２１はレシーバＲＸ１にてテスト信号が受信できたと判定し、テスト信号の波形に対応するレベル変化が信号ＯＵＴ１に現われなかったとき、受信判定回路２１はレシーバＲＸ１にてテスト信号が受信できなかったと判定する。
【0073】
上記の返信信号が入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に供給されると、トランスミッタＴＸ２からレシーバＲＸ２へと返信信号が伝送される。返信信号を表す信号ＯＵＴ２が出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ２を通じて校正回路ＣＢ１に供給される。受信判定回路１３は返信信号を表す信号ＯＵＴ２を受けたとき、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されたと判定する。受信判定回路１３は、テスト信号が送信された後、所定のタイムアウト時間が経過しても返信信号を表す信号ＯＵＴ２がレシーバＲＸ２から出力されないとき、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されなかったと判定する。尚、トランスミッタＴＸ２の送信強度及びレシーバＲＸ２の受信感度は、返信信号の送受信が確実に可能な程度に高いものとする。
【0074】
送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにおいて、トランスミッタＴＸ１の送信強度は第１～第ｍ候補強度の中で切り替え設定される。そして、校正回路ＣＢ１は、レシーバＲＸ１にてテスト信号を受信可能な最小の候補強度を探索することで適正送信強度ＯＰＴＴＸ１を特定する。
【0075】
図１０に送信強度校正動作ＯＰ＿Ａのフローチャートを示す。送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは、一次側回路１０が行う一次側動作ＯＰ＿Ａ１と二次側回路２０が行う二次側動作ＯＰ＿Ａ２とで構成される。一次側動作ＯＰ＿Ａ１はステップＳ１１１～Ｓ１１８の処理を有し、二次側動作ＯＰ＿Ａ２はステップＳ１６１～Ｓ１６５の処理を有する。
【0076】
一次側回路１０の動作モードが校正モードに設定されると、まずステップＳ１１１において、校正回路ＣＢ１は自身が管理する変数ｉにｍの値を代入する。続くステップＳ１１２において、送信強度制御回路１１はトランスミッタＴＸ１の送信強度に第ｉ候補強度を設定する。トランスミッタＴＸ１の送信強度が第ｉ候補強度に設定された状態を第ｉテスト設定状態と称する。上述の説明から明らかなように、図１０の動作において“ｉ＝ｍ”であるとき、トランスミッタＴＸ１の送信強度は最大となる。続くステップＳ１１３において校正回路ＣＢ１によりテスト送信処理が実行される。
【0077】
テスト送信処理では、テスト信号生成回路１２がテスト信号を入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に供給し、これによってテスト信号をトランスミッタＴＸ１から二次側回路２０に送信する。上述したように、ここでは１回分のテスト送信処理において、入力信号ＩＮ１はライズエッジ及びフォールエッジの夫々を１つだけ有する矩形波信号であるとする。
【0078】
一方、二次側回路２０の動作モードが校正モードに設定されると、まずステップＳ１６１において校正回路ＣＢ２によりレシーバＲＸ１の受信感度が所定の標準感度にて固定される。レシーバＲＸ１の受信感度が所定の標準感度にて固定されるとは、コンパレータＣＭＰ１のオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が所定の標準電圧ＶＳＴＤに固定されることを意味する。第１実施例では、校正モード状態及び通常モード状態の何れにおいても、“ＶＯＦＦＳＥＴ１＝ＶＳＴＤ”にて固定される。このため、二次側動作ＯＰ＿Ａ２においてステップＳ１６１の処理は省略されても良い。ステップＳ１６１の後、ステップＳ１６２に進む。ステップＳ１６２において受信判定回路２１は、監視結果信号ＳＭＮ１にライズエッジが発生するのを待機し、監視結果信号ＳＭＮ１にライズエッジが発生するとステップＳ１６３に進む。一次側回路１０においてステップＳ１１３のテスト送信処理が１回行われる度にステップＳ１６２からステップＳ１６３への移行が発生する。
【0079】
ステップＳ１６３において受信判定回路２１はテスト信号の受信判定処理を行う。ステップＳ１６３の受信判定処理では、テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されたかを判定する。当該判定の結果がステップＳ１６３に続くステップＳ１６４にて確認される。テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信された場合に限り、受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力される。受信矩形波信号はテスト信号に対応する波形を有し、実質的にテスト信号と同じ波形を持つ。故に受信矩形波信号は１つのライズエッジと、それに続く１つのフォールエッジを有する。テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されるとは受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されることを意味し、信号ＳＲ１及びＳＦ１が幾らかの振幅を有していても受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されないならばテスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されない、と解される。
【0080】
ステップＳ１６３及びＳ１６４において受信判定回路２１は、受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されるかを監視し、ハイレベルの監視結果信号ＳＭＮ１を受けたタイミングを含む期間であって且つ一定時間分の判定期間において受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力された場合に限り、テスト信号が受信されたと判定して（ステップＳ１６４のＹ）、ステップＳ１６５への移行を発生させる。上記判定期間においてレシーバＲＸ１からの受信矩形波信号の出力が確認されなった場合（例えば信号ＯＵＴ１がハイレベル又はローレベルで保持されていた場合）、受信判定回路２１によりテスト信号が受信されなかったと判定され（ステップＳ１６４のＮ）、二次側動作ＯＰ＿Ａ２を終える。二次側回路２０において二次側動作ＯＰ＿Ａ２が終了すると、モード設定回路ＭＳ２は二次側回路２０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替える。
【0081】
ステップＳ１６５において受信判定回路２１はテスト返信処理を実行する。テスト返信処理において、受信判定回路２１は返信信号を入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２を通じ入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に供給する。上述したように、返信信号はハイレベル及びローレベルの信号レベルを交互に持つ矩形波信号（返信矩形波信号）である。出力信号ＯＵＴ１そのものを返信信号として用いても良いし、他の所定の矩形波信号を返信信号に設定しても良い。ステップＳ１６５でのテスト返信処理の後、二次側動作ＯＰ＿Ａ２においてステップＳ１６２への遷移が発生する。
【0082】
他方、一次側回路１０における受信判定回路１３は、ステップＳ１１３にてテスト送信処理を行った後、ステップＳ１１４にて返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたかを判定する（具体的には返信信号が信号ＯＵＴ２としてレシーバＲＸ２から出力されたかを判定する）。返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたかの判定は、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されたかの判定と等価であると考えて良い。ステップＳ１１３にてテスト送信処理を行った後、所定のタイムアウト時間内に返信信号に相当する信号ＯＵＴ２がレシーバＲＸ２から出力された場合には返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたと判定されて（ステップＳ１１４のＹ）ステップＳ１１５に進み、所定のタイムアウト時間内に返信信号に相当する信号ＯＵＴ２がレシーバＲＸ２から出力されなかった場合には（ステップＳ１１４のＮ）返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されなかったと判定されてステップＳ１１６に進む。
【0083】
ステップＳ１１５において校正回路ＣＢ１により変数ｉから１が減算され、その後、ステップＳ１１２に戻る。ステップＳ１１６において校正回路ＣＢ１により“ｉ＝ｍ”の成否が判定され、“ｉ＝ｍ”の不成立時にはステップＳ１１７に進む一方で、“ｉ＝ｍ”の成立時にはステップＳ１１８に進む。
【0084】
ステップＳ１１７において送信強度制御回路１１は、現在の送信強度よりも１段階上の送信強度である第（ｉ＋１）候補強度を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定する。ステップＳ１１８において校正回路ＣＢ１は所定のエラー処理を実行する。“ｉ＝ｍ”である状態でテスト信号の受信が不能であるとき、何らかの異常発生が疑われるからであり、エラー処理では例えば所定のエラー信号を信号伝送装置１の外部に出力する。ステップＳ１１７又はＳ１１８の処理を経て一次側動作ＯＰ＿Ａ１を終える。一次側回路１０において一次側動作ＯＰ＿Ａ１が終了すると、モード設定回路ＭＳ１は一次側回路１０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替える。
【0085】
送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにおいて一次側動作ＯＰ＿Ａ１及び二次側動作ＯＰ＿Ａ２は実質同時に開始される。その後、トランスミッタＴＸ１の送信強度を段階的に低下させながら、テスト送信処理とテスト返信処理の組が二次側回路２０にてテスト信号を受信できなくなるまで繰り返される。そして、二次側回路２０にてテスト信号を受信できなくなるとステップＳ１６４の否定を経て二次側動作ＯＰ＿Ａ２が終了し、それに連動して略同時にステップＳ１１４の否定を経て一次側動作ＯＰ＿Ａ１が終了する。このため、一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードは略同時に校正モードから通常モードに遷移する。
【0086】
図１１に、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにおける、トランスミッタＴＸ１の送信強度と幾つかの信号との関係の例を示す。上述したように、１回分のテスト送信処理においてライズエッジ及びフォールエッジの夫々を１つだけ有する矩形波信号がテスト信号及び入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に入力される。また、図１１では信号ＯＵＴ１そのものが返信信号として用いられることを想定している。図１１の例では、トランスミッタＴＸ１の送信強度が第（ｍ－３）候補強度以上であれば、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信され、結果、信号ＯＵＴ１、ＩＮ２及びＯＵＴ２にテスト信号に対応するレベル変化が生じる。図１１の例において、トランスミッタＴＸ１の送信強度が第（ｍ－４）候補強度にまで低下するとテスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されず、結果、信号ＯＵＴ１、ＩＮ２及びＯＵＴ２にテスト信号に対応するレベル変化が生じない。故に図１１の例では、“ｉ＝ｍ－４”の段階でステップＳ１１４からステップＳ１１６を経由してステップＳ１１７に進むため、第（ｍ－３）候補強度が適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定される。
【0087】
送信強度校正動作ＯＰ＿Ａの実行後の通常モード状態において、送信強度制御回路１１はトランスミッタＴＸ１の送信強度に適正送信強度ＯＰＴＴＸ１を設定する。従って、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａの実行後の通常モード状態において、トランスミッタＴＸ１は入力信号ＩＮ１としての信号Ｓｎ１（デジタル信号）を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１にて二次側回路２０に送信し、レシーバＲＸ１は当該信号Ｓｎ１を受信することで出力信号ＯＵＴ１を生成する（図３参照）。これにより、必要な送受信が確保された上で信号伝送装置１の消費電力及び発生ノイズ量を極力低減することができる。
【0088】
送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは異なるタイミングにて複数回実行されても良い。この場合、適正送信強度ＯＰＴＴＸ１は送信強度校正動作ＯＰ＿Ａが実行される度に最新のものに更新される。
【0089】
上述の如く、校正回路ＣＢ１はトランスミッタＴＸ１の送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら候補強度ごとにテスト送信処理（Ｓ１１３）を実行する。校正回路ＣＢ２は、候補強度ごとに、テスト信号のレシーバＲＸ１による受信可否に応じてテスト返信処理の実行制御を行う（Ｓ１６３～Ｓ１６５）。そして、校正回路ＣＢ１はレシーバＲＸ２による返信信号の受信状態に基づき適正送信強度ＯＰＴＴＸ１を設定する。
【0090】
より具体的には、第ｉテスト設定状態にてテスト送信処理が実行されたときにおいて（Ｓ１１２、Ｓ１１３）、レシーバＲＸ１から信号ＯＵＴ１として受信矩形波信号が出力されたならば校正回路ＣＢ２は返信信号をトランスミッタＴＸ２から一次側回路１０に送信するテスト返信処理を行い、レシーバＲＸ１から信号ＯＵＴ１として受信矩形波信号が出力されなかったならば校正回路ＣＢ２はテスト返信処理を非実行とする（Ｓ１６３～Ｓ１６５）。校正回路ＣＢ１は、第１～第ｎテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態におけるレシーバＲＸ２での返信信号の受信有無に基づき適正送信強度ＯＰＴＴＸ１を設定する。図１０の動作例において、２回以上のテスト送信処理を経てからのみステップＳ１１７への移行が発生して適正送信強度ＯＰＴＴＸ１の設定が可能となる。
【0091】
上述の説明から明らかなように、校正回路ＣＢ１は、第１～第ｍ候補強度の内、レシーバＲＸ１にてテスト信号を受信できる最小の候補強度を探索し、探索された最小の候補強度を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定する。
【0092】
変形として、ステップＳ１１７において、マージンをとり、第（ｉ＋１）候補強度よりも高い候補強度、例えば第（ｉ＋２）候補強度又は第（ｉ＋３）候補強度を、適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定しても良い。但し、適正送信強度ＯＰＴＴＸ１の上限は第ｍ候補強度とされる。
【0093】
図１０の動作例ではトランスミッタＴＸ１の送信強度を第ｍ候補強度から順次低下させてゆきながらテスト信号を受信できる最小の候補強度を探索しているが、トランスミッタＴＸ１の送信強度を第１候補強度から順次増加させてゆきながら上記最小の候補強度を探索しても良い。
【0094】
＜＜第２実施例＞＞
第２実施例を説明する。第２実施例ではレシーバＲＸ１の受信感度の校正方法を説明する。校正モード状態において、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２はレシーバＲＸ１における適正な受信感度を探索する受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂを行う。受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて探索される適正な受信感度を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１と称する。
第２実施例を説明する。第２実施例ではレシーバＲＸ１の受信感度の校正方法を説明する。校正モード状態において、校正回路ＣＢ１及びＣＢ２はレシーバＲＸ１における適正な受信感度を探索する受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂを行う。受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて探索される適正な受信感度を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１と称する。
【0095】
図１２に、信号伝送装置１の内、受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂの動作に関与する構成を示す。校正回路ＣＢ１にはテスト信号生成回路１２及び受信判定回路１３が設けられる。第２実施例において、校正回路ＣＢ１に対する送信強度制御回路１１（図９）の設置の有無は任意である。校正回路ＣＢ２には受信判定回路２１、信号監視回路２２及び受信感度制御回路２３が設けられる。
【0096】
レシーバＲＸ１の受信感度が変更可能となるようにレシーバＲＸ１が構成されており、レシーバＲＸ１の受信感度が受信感度制御回路２３により調整、制御及び設定される。上述したように、レシーバＲＸ１の受信感度はオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１により定まる。オフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が小さいほどレシーバＲＸ１の受信感度は高まり、オフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が大きいほどレシーバＲＸ１の受信感度は低下する。受信感度制御回路２３によりオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が可変設定される。
【0097】
受信感度制御回路２３では、レシーバＲＸ１の受信感度の候補として第１～第ｎ候補感度が予め規定される。ｎは２以上の任意の整数を表す。任意の整数ｉに関して、第（ｉ＋１）候補感度は第ｉ候補感度よりも高い。故に、レシーバＲＸ１の受信感度が第（ｉ＋１）候補感度に設定されるときのオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１は、レシーバＲＸ１の受信感度が第ｉ候補感度に設定されるときのオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１よりも小さい。
【0098】
例えば、受信感度制御回路２３はＤＡＣ（デジタルアナログ変換器）を有し、ＤＡＣの出力アナログ電圧値に応じてオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１が制御される構成が採用される。この場合、受信感度制御回路２３はＤＡＣへの入力デジタル値をｎ種類に変化させることで、レシーバＲＸ１の受信感度をｎ種類に変化させることができる。
【0099】
受信感度制御回路２３の動作を除き、信号伝送装置１の各構成要素の動作及び機能は第１実施例で述べた通りである。
【0100】
受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにおいて、レシーバＲＸ１の受信感度は第１～第ｎ候補感度の中で切り替え設定される。そして、校正回路ＣＢ２は、レシーバＲＸ１にてテスト信号を受信可能な最小の候補感度を探索することで適正受信感度ＯＰＴＲＸ１を特定する。
【0101】
図１３に受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂのフローチャートを示す。受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂは、一次側回路１０が行う一次側動作ＯＰ＿Ｂ１と二次側回路２０が行う二次側動作ＯＰ＿Ｂ２とで構成される。一次側動作ＯＰ＿Ｂ１はステップＳ２１１～Ｓ２１３の処理を有し、二次側動作ＯＰ＿Ｂ２はステップＳ２６１～Ｓ２７０の処理を有する。
【0102】
一次側回路１０の動作モードが校正モードに設定されると、まずステップＳ２１１において、校正回路ＣＢ１によりトランスミッタＴＸ１の送信強度が所定の標準強度にて固定される。トランスミッタＴＸ１の送信強度が所定の標準強度にて固定されるとは、パルストランス３１＿Ｒをパルス駆動する際の駆動電流値Ｉ＿Ｒｄｒｖ１及びパルストランス３１＿Ｆをパルス駆動する際の駆動電流値Ｉ＿Ｆｄｒｖ１を、所定の標準電流値に固定することを意味する。第２実施例では、校正モード状態及び通常モード状態の何れにおいても、トランスミッタＴＸ１の送信強度が所定の標準強度にて固定される。このため、一次側動作ＯＰ＿Ｂ１においてステップＳ２１１の処理は省略されても良い。ステップＳ２１１の後、ステップＳ２１２に進む。
【0103】
ステップＳ２１２において校正回路ＣＢ１によりテスト送信処理が実行される。ステップＳ２１２におけるテスト送信処理は、図１０のステップＳ１１３におけるテスト送信処理と同じである。
【0104】
一方、二次側回路２０の動作モードが校正モードに設定されると、まずステップＳ２６１において校正回路ＣＢ２は自身が管理する変数ｉにｎの値を代入する。続くステップＳ２６２において、受信感度制御回路２３はレシーバＲＸ１の受信感度に第ｉ候補感度を設定する。レシーバＲＸ１の受信感度が第ｉ候補感度に設定されるときのオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１は電圧ＶＣ［ｉ］である。つまり、受信感度制御回路２３はオフセット電圧ＶＯＦＦＳＥＴ１に電圧ＶＣ［ｉ］を設定することでレシーバＲＸ１の受信感度に第ｉ候補感度を設定する。電圧ＶＣ［１］～ＶＣ［ｎ］の内、電圧ＶＣ［１］が最大であり、電圧ＶＣ［ｎ］が最小である。“ｉ＝ｎ”であるとき、レシーバＲＸ１の受信感度は最大となる。第１実施例と異なり、第２実施例に係る第ｉテスト設定状態はレシーバＲＸ１の受信感度が第ｉ候補感度に設定された状態を指す。ステップＳ２６２の後、ステップＳ２６３に進む。
【0105】
ステップＳ２６３において受信判定回路２１は、監視結果信号ＳＭＮ１にライズエッジが発生するのを待機し、監視結果信号ＳＭＮ１にライズエッジが発生するとステップＳ２６４に進む。一次側回路１０においてステップＳ２１２のテスト送信処理が１回行われる度にステップＳ２６３からステップＳ２６４への移行が発生する。
【0106】
ステップＳ２６４において受信判定回路２１はテスト信号の受信判定処理を行う。ステップＳ２６４の受信判定処理では、テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されたかを判定する。当該判定の結果がステップＳ２６４に続くステップＳ２６５にて確認される。テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信された場合に限り、受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力される。受信矩形波信号はテスト信号に対応する波形を有し、実質的にテスト信号と同じ波形を持つ。故に受信矩形波信号は１つのライズエッジと、それに続く１つのフォールエッジを有する。テスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されるとは受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されることを意味し、信号ＳＲ１及びＳＦ１が幾らかの振幅を有していても受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されないならばテスト信号が二次側回路２０にて（即ちレシーバＲＸ１にて）受信されない、と解される。
【0107】
ステップＳ２６４及びＳ２６５において受信判定回路２１は、受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力されるかを監視し、ハイレベルの監視結果信号ＳＭＮ１を受けたタイミングを含む期間であって且つ一定時間分の判定期間において受信矩形波信号が信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力された場合に限り、テスト信号が受信されたと判定して（ステップＳ２６５のＹ）、ステップＳ２６６への移行を発生させる。上記判定期間においてレシーバＲＸ１からの受信矩形波信号の出力が確認されなった場合（例えば信号ＯＵＴ１がハイレベル又はローレベルで保持されていた場合）、受信判定回路２１によりテスト信号が受信されなかったと判定され（ステップＳ２６５のＮ）、ステップＳ２６８へ進む。
【0108】
ステップＳ２６６において受信判定回路２１はテスト返信処理を実行する。テスト返信処理において、受信判定回路２１は返信信号を入力セレクタＳＥＬ＿ＩＮ２を通じ入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に供給する。上述したように、返信信号はハイレベル及びローレベルの信号レベルを交互に持つ矩形波信号（返信矩形波信号）である。出力信号ＯＵＴ１そのものを返信信号として用いても良いし、他の所定の矩形波信号を返信信号に設定しても良い。ステップＳ２６６に続くステップＳ２６７において校正回路ＣＢ２により変数ｉから１が減算され、その後、ステップＳ２６２に戻る。
【0109】
ステップＳ２６８において校正回路ＣＢ２により“ｉ＝ｎ”の成否が判定され、“ｉ＝ｎ”の不成立時にはステップＳ２６９に進む一方で、“ｉ＝ｎ”の成立時にはステップＳ２７０に進む。
【0110】
ステップＳ２６９において受信感度制御回路２３は、現在の受信感度よりも１段階上の受信感度である第（ｉ＋１）候補感度を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定する。ステップＳ２７０において校正回路ＣＢ２は所定のエラー処理を実行する。“ｉ＝ｎ”である状態でテスト信号の受信が不能であるとき、何らかの異常発生が疑われるからであり、エラー処理では例えば所定のエラー信号を信号伝送装置１の外部に出力する。ステップＳ２６９又はＳ２７０の処理を経て二次側動作ＯＰ＿Ｂ２を終える。二次側回路２０において二次側動作ＯＰ＿Ｂ２が終了すると、モード設定回路ＭＳ２は二次側回路２０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替える。
【0111】
他方、一次側回路１０における受信判定回路１３は、ステップＳ２１２にてテスト送信処理を行った後、ステップＳ２１３にて返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたかを判定する（具体的には返信信号が信号ＯＵＴ２としてレシーバＲＸ２から出力されたかを判定する）。返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたかの判定は、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されたかの判定と等価であると考えて良い。ステップＳ２１２にてテスト送信処理を行った後、所定のタイムアウト時間内に返信信号に相当する信号ＯＵＴ２がレシーバＲＸ２から出力された場合には（ステップＳ２１３のＹ）返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されたと判定され、この場合にはステップＳ２１２に戻ってテスト送信処理が再度実行される。所定のタイムアウト時間内に返信信号に相当する信号ＯＵＴ２がレシーバＲＸ２から出力されなかった場合には（ステップＳ２１３のＮ）返信信号がレシーバＲＸ２にて受信されなかったと判定され、一次側動作ＯＰ＿Ｂ１を終える。一次側回路１０において一次側動作ＯＰ＿Ｂ１が終了すると、モード設定回路ＭＳ１は一次側回路１０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替える。
【0112】
受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにおいて一次側動作ＯＰ＿Ｂ１及び二次側動作ＯＰ＿Ｂ２は実質同時に開始される。その後、レシーバＲＸ１の受信感度を段階的に低下させながら、テスト送信処理とテスト返信処理の組が二次側回路２０にてテスト信号を受信できなくなるまで繰り返される。そして、二次側回路２０にてテスト信号を受信できなくなるとステップＳ２６５の否定を経て二次側動作ＯＰ＿Ｂ２が終了し、それに連動して略同時にステップＳ２１３の否定を経て一次側動作ＯＰ＿Ｂ１が終了する。このため、一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードは略同時に校正モードから通常モードに遷移する。
【0113】
図１４に、受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにおける、レシーバＲＸ１の受信感度と幾つかの信号との関係の例を示す。上述したように、１回分のテスト送信処理においてライズエッジ及びフォールエッジの夫々を１つだけ有する矩形波信号がテスト信号及び入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に入力される。また、図１４では信号ＯＵＴ１そのものが返信信号として用いられることを想定している。図１４の例では、レシーバＲＸ１の受信感度が第（ｎ－３）候補感度以上であれば、テスト信号がレシーバＲＸ１にて受信され、結果、信号ＯＵＴ１、ＩＮ２及びＯＵＴ２にテスト信号に対応するレベル変化が生じる。図１４の例において、レシーバＲＸ１の受信感度が第（ｎ－４）候補感度にまで低下するとテスト信号がレシーバＲＸ１にて受信されず、結果、信号ＯＵＴ１、ＩＮ２及びＯＵＴ２にテスト信号に対応するレベル変化が生じない。故に図１４の例では、“ｉ＝ｎ－４”の段階でステップＳ２６５からステップＳ２６８を経由してステップＳ２６９に進むため、第（ｎ－３）候補感度が適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定される。
【0114】
受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂの実行後の通常モード状態において、受信感度制御回路２３はレシーバＲＸ１の受信感度に適正受信感度ＯＰＴＲＸ１を設定する。従って、受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂの実行後の通常モード状態において、トランスミッタＴＸ１は入力信号ＩＮ１としての信号Ｓｎ１（デジタル信号）を二次側回路２０に送信し、レシーバＲＸ１は当該信号Ｓｎ１を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１にて受信することで出力信号ＯＵＴ１を生成する（図３参照）。受信感度を高めすぎるとノイズ耐性が弱くなる。逆に受信感度を低くしすぎると必要な信号受信が不能となる。本実施例の方法を用いることで、ノイズ耐性も考慮した適正な感度で信号を受信することが可能である。
【0115】
受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂは異なるタイミングにて複数回実行されても良い。この場合、適正受信感度ＯＰＴＲＸ１は受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂが実行される度に最新のものに更新される。
【0116】
上述の如く、校正回路ＣＢ２はレシーバＲＸ１の受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら候補感度ごとにテスト信号のレシーバＲＸ１による受信可否を判定する（Ｓ２６４）。その判定結果に応じて、校正回路ＣＢ２はテスト返信処理の実行制御を行い（Ｓ２６５～Ｓ２６６）且つ適正受信感度ＯＰＴＲＸ１を設定する（Ｓ２６９）。
【0117】
より具体的には、第ｉテスト設定状態にてテスト送信処理が実行されたときにおいて（Ｓ２１２）、レシーバＲＸ１から信号ＯＵＴ１として受信矩形波信号が出力されたならば校正回路ＣＢ２は返信信号をトランスミッタＴＸ２から一次側回路１０に送信するテスト返信処理を行い、レシーバＲＸ１から信号ＯＵＴ１として受信矩形波信号が出力されなかったならば校正回路ＣＢ２はテスト返信処理を非実行とする（Ｓ２６５～Ｓ２６７）。校正回路ＣＢ２は、第１～第ｎテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態におけるレシーバＲＸ１でのテスト信号の受信可否に基づき適正受信感度ＯＰＴＲＸ１を設定する。図１３の動作例において、２回以上の受信判定処理を経てからのみステップＳ２６９への移行が発生して適正受信感度ＯＰＴＲＸ１の設定が可能となる。
【0118】
上述の説明から明らかなように、校正回路ＣＢ２は、第１～第ｎ候補感度の内、レシーバＲＸ１にてテスト信号を受信できる最小の候補感度を探索し、探索された最小の候補感度を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定する。
【0119】
変形として、ステップＳ２６９において、マージンをとり、第（ｉ＋１）候補感度よりも高い候補感度、例えば第（ｉ＋２）候補感度又は第（ｉ＋３）候補感度を、適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定しても良い。但し、適正受信感度ＯＰＴＲＸ１の上限は第ｎ候補感度とされる。
【0120】
図１３の動作例ではレシーバＲＸ１の受信感度を第ｎ候補感度から順次低下させてゆきながらテスト信号を受信できる最小の候補感度を探索しているが、レシーバＲＸ１の受信感度を第１候補感度から順次増加させてゆきながら上記最小の候補感度を探索しても良い。
【0121】
＜＜第３実施例＞＞
第３実施例を説明する。第３実施例ではトランスミッタＴＸ１の送信強度及びレシーバＲＸ１の受信感度の双方を校正する方法を説明する。
第３実施例を説明する。第３実施例ではトランスミッタＴＸ１の送信強度及びレシーバＲＸ１の受信感度の双方を校正する方法を説明する。
【0122】
図１５に、信号伝送装置１の内、トランスミッタＴＸ１の送信強度及びレシーバＲＸ１の受信感度の校正動作に関与する構成を示す。第３実施例に係る校正回路ＣＢ１は送信強度制御回路１１、テスト信号生成回路１２及び受信判定回路１３を備え、それら回路１１～１３の動作及び機能は、以下に示す事項を除き、第１又は第２実施例に示した通りである。第３実施例に係る校正回路ＣＢ２は受信判定回路２１、信号監視回路２２及び受信感度制御回路２３を備え、それら回路２１～２３の動作及び機能は、以下に示す事項を除き、第１又は第２実施例に示した通りである。第３実施例では、トランスミッタＴＸ１の送信強度が変更可能となるようにトランスミッタＴＸ１が構成され、且つ、レシーバＲＸ１の受信感度が変更可能となるようにレシーバＲＸ１が構成される。
【0123】
図１６に第３実施例に係る校正動作のフローチャートを示す。信号伝送装置１の状態が校正モード状態となると、まずステップＳ３１１にて送信強度校正動作ＯＰ＿Ａが実行される。ステップＳ３１１の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは第１実施例に示したものと同様である。但し、ステップＳ３１１の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａでは、図１０のステップＳ１１７に至ったときの第（ｉ＋１）候補強度が適正送信強度ＯＰＴＴＸ１ではなく暫定送信強度として特定される。暫定送信強度は暫定的に決定された適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に相当する。ここでは図１０のエラー処理（ステップＳ１１８）が行われる状況は無視する。ステップＳ３１１において、校正回路ＣＢ１は、第１～第ｍ候補強度の内、テスト信号を受信できる最小の候補強度を探索し、探索された最小の候補強度を暫定送信強度として特定することになる。
【0124】
また、ステップＳ３１１の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａは、レシーバＲＸ１の受信感度が所定の設計最小感度にて固定された状態で実行される。ステップＳ３１１の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａでは、上述の標準感度（図１０のステップＳ１６１参照）として設計最小感度が用いられると考えれば良い。トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１間において適正な信号の送受信を安定的に実現するために必要な最小の受信感度が、信号伝送装置１の設計段階で定められる。設計段階で定められた最小の受信感度が設計最小感度である。設計最小感度は第１候補感度よりも高く且つ第ｎ候補感度よりも低い。設計最小感度は第２～第（ｎ－１）候補感度の何れかと一致していても良い。例えばｎが４の倍数であって且つ５以上の整数であれば、設計最小感度は第（ｎ／４）候補感度であって良い。
【0125】
ステップＳ３１１の後、ステップＳ３１２に進む。ステップＳ３１２にて受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂが実行される。詳細には、ステップＳ３１１にて一次側動作ＯＰ＿Ａ１（図１０参照）が終了した後、モード設定回路ＭＳ１により一次側回路１０の動作モードが校正モードで維持された上で一次側回路１０にて一次側動作ＯＰ＿Ｂ１（図１３参照）が開始され、且つ、モード設定回路ＭＳ２により二次側回路２０の動作モードが校正モードで維持された上で二次側回路２０にて二次側動作ＯＰ＿Ｂ２（図１３参照）が開始される。これら一次側動作ＯＰ＿Ｂ１及び二次側動作ＯＰ＿Ｂ２にてステップＳ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂが構成される。
【0126】
ステップＳ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂは第２実施例に示したものと同様である。但し、ステップＳ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂでは、図１３のステップＳ２６９に至ったときの第（ｉ＋１）候補感度が適正受信感度ＯＰＴＲＸ１ではなく暫定受信感度として特定される。暫定受信感度は暫定的に決定された適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に相当する。ここでは図１３のエラー処理（ステップＳ２７０）が行われる状況は無視する。ステップＳ３１２において、校正回路ＣＢ２は、第１～第ｎ候補感度の内、テスト信号を受信できる最小の候補感度を探索し、探索された最小の候補感度を暫定受信感度として特定することになる。
【0127】
また、ステップＳ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿ＢはトランスミッタＴＸ１の送信強度が所定の設計最小強度にて固定された状態で実行される。ステップＳ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂでは、上述の標準強度（図１３のステップＳ２１１参照）として設計最小強度が用いられると考えれば良い。トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１間において適正な信号の送受信を安定的に実現するために必要な最小の送信強度が、信号伝送装置１の設計段階で定められる。設計段階で定められた最小の送信強度が設計最小強度である。設計最小強度は第１候補強度よりも高く且つ第ｍ候補強度よりも低い。設計最小強度は第２～第（ｍ－１）候補強度の何れかと一致していても良い。例えばｍが４の倍数であって且つ５以上の整数であれば、設計最小強度は第（ｍ／４）候補強度であって良い。
【0128】
ステップＳ３１２の後、ステップＳ３１３に進んでステップＳ３１３及びＳ３１４の処理が実行される。第３実施例では、ステップＳ３１２にて一次側動作ＯＰ＿Ｂ１及び二次側動作ＯＰ＿Ｂ２（図１３参照）が終了しても、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により一次側回路１０及び二次側回路２０の動作モードが校正モードで維持される。
【0129】
ステップＳ３１３において、送信強度制御回路１１は、ステップＳ３１１で特定された暫定送信強度を設計最小強度と比較し、暫定送信強度及び設計最小強度の内、高い方を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定する。これにより、設計上、想定されない送信強度でトランスミッタＴＸ１が動作することが回避され、安定的な信号伝送が担保される。また第１実施例に示した作用効果も得られる。尚、暫定送信強度及び設計最小強度が互いに一致する場合には、暫定送信強度又は設計最小強度が適正送信強度ＯＰＴＴＸ１に設定される。
【0130】
ステップＳ３１４において、受信感度制御回路２３は、ステップＳ３１２で特定された暫定受信感度を設計最小感度と比較し、暫定受信感度及び設計最小感度の内、高い方を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定する。これにより、設計上、想定されない受信感度でレシーバＲＸ１が動作することが回避され、安定的な信号伝送が担保される。また第２実施例に示した作用効果も得られる。尚、暫定受信感度及び設計最小感度が互いに一致する場合には、暫定受信感度又は設計最小感度が適正受信感度ＯＰＴＲＸ１に設定される。
【0131】
ステップＳ３１３及びＳ３１４の処理の完了を以って図１６の校正動作が終了する。図１６の校正動作の終了後、信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替わる。モード設定回路ＭＳ１は、ステップ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂ中の一次側動作ＯＰ＿Ｂ１が終了した後、ステップＳ３１３の処理が完了するのを待ってから一次側回路１０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替えれば良い。モード設定回路ＭＳ２は、ステップ３１２の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂ中の二次側動作ＯＰ＿Ｂ２が終了した後、ステップＳ３１４の処理が完了するのを待ってから二次側回路２０の動作モードを校正モードから通常モードに切り替えれば良い。尚、ここではステップＳ３１１の動作の後にステップＳ３１２の動作が実行されることを例示したが、それらの実行順序は逆とされても良い。
【0132】
図１６の校正動作の実行後の通常モード状態において、トランスミッタＴＸ１は入力信号ＩＮ１としての信号Ｓｎ１（デジタル信号）を適正送信強度ＯＰＴＴＸ１にて二次側回路２０に送信し、レシーバＲＸ１は当該信号Ｓｎ１を適正受信感度ＯＰＴＲＸ１にて受信することで出力信号ＯＵＴ１を生成する（図３参照）。これにより、必要な送受信が確保された上で信号伝送装置１の消費電力及び発生ノイズ量を極力低減することができると共に、ノイズ耐性も良好となる。
【0133】
＜＜第４実施例＞＞
第４実施例を説明する。第１～第３実施例に示した各校正動作をトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２に適用することもできる。
第４実施例を説明する。第１～第３実施例に示した各校正動作をトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２に適用することもできる。
【0134】
即ち、第１実施例に示した送信強度校正動作ＯＰ＿Ａを、トランスミッタＴＸ１の送信強度の校正だけでなく、トランスミッタＴＸ２の送信強度の校正に利用しても良い。送信強度校正動作ＯＰ＿ＡをトランスミッタＴＸ２の送信強度の校正に利用する場合、第１実施例の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにおいて、トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の役割とトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の役割を入れ替えれば足る。当該入れ替えを伴う送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにより決定される適正送信強度ＯＰＴＴＸ１（図１０のＳ１１７参照）、トランスミッタＴＸ２の適正送信強度ＯＰＴＴＸ２となる。
【0135】
同様に、第２実施例に示した受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂを、レシーバＲＸ１の受信感度の校正だけでなく、レシーバＲＸ２の受信感度の校正に利用しても良い。受信感度校正動作ＯＰ＿ＢをレシーバＲＸ２の受信感度の校正に利用する場合、第２実施例の受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにおいて、トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の役割とトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の役割を入れ替えれば足る。当該入れ替えを伴う受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂより決定される適正受信感度ＯＰＴＲＸ１（図１３のＳ２６９参照）は、レシーバＲＸ２の適正受信感度ＯＰＴＲＸ２となる。
【0136】
同様に、第３実施例に示した図１６の校正動作を、トランスミッタＴＸ１の送信強度及びレシーバＲＸ１の受信感度の校正だけでなく、トランスミッタＴＸ２の送信強度及びレシーバＲＸ２の受信感度の校正に利用しても良い。図１６の校正動作をトランスミッタＴＸ２の送信強度及びレシーバＲＸ２の受信感度の校正に利用する場合、図１６の送信強度校正動作ＯＰ＿Ａ及び受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂの夫々において、トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１の役割とトランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２の役割を入れ替えれば足る。当該入れ替えを伴う図１６の校正動作にて決定される適正送信強度ＯＰＴＴＸ１（図１６のＳ３１３参照）は、トランスミッタＴＸ２の適正送信強度ＯＰＴＴＸ２となり、且つ、当該入れ替えを伴う図１６の校正動作にて決定される適正受信感度ＯＰＴＲＸ１（図１６のＳ３１４参照）は、レシーバＲＸ２の適正受信感度ＯＰＴＲＸ２となる。
【0137】
【0138】
図１７の一次側回路１０には図１の一次側回路１０を基準に同期出力回路１６が追加される。但し、同期出力回路１６は一次側回路１０の構成要素に含まれないと解しても良い。この場合、同期出力回路１６は一次側回路１０の外部に設けられた回路であって且つ一次側回路１０に接続された回路であると解される。
【0139】
図１７の二次側回路２０には図１の二次側回路２０を基準にクロックジェネレータＣＧ及び信号処理回路２６が追加される。尚、クロックジェネレータＣＧは二次側回路２０の構成要素に含まれないと解しても良い。この場合、クロックジェネレータＣＧは二次側回路２０の外部に設けられた回路であって且つ二次側回路２０に接続された回路（外部クロック回路）であると解される。信号処理回路２６は二次側回路２０の構成要素に含まれないと解しても良い。この場合、信号処理回路２６は二次側回路２０の外部に設けられた回路であって且つ二次側回路２０に接続された回路であると解される。
【0140】
クロックジェネレータＣＧは、所定の周波数を有するクロック信号ＣＬＫ２を生成及び出力する。クロック信号ＣＬＫ２はハイレベル及びローレベルの信号レベルを交互に持つ矩形波信号である。通常モード状態においてクロックジェネレータＣＧから出力されるクロック信号ＣＬＫ２は信号Ｓｎ２として且つ入力信号ＩＮ２としてトランスミッタＴＸ２に入力される。通常モード状態においてクロックジェネレータＣＧから出力されるクロック信号ＣＬＫ２が一次側回路１０に伝送され、伝送されたクロック信号ＣＬＫ２が出力信号ＯＵＴ２としてレシーバＲＸ２から出力される。通常モード状態において出力信号ＯＵＴ２は出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ２を通じクロック信号ＣＬＫ１として同期出力回路１６に供給される。トランスミッタＴＸ２及びレシーバＲＸ２間の伝達遅延等を無視すれば、クロック信号ＣＬＫ１の波形はクロック信号ＣＬＫ２の波形と同じである。
【0141】
同期出力回路１６はクロック信号ＣＬＫ１に同期して信号Ｓｎ１を出力する。信号Ｓｎ１はシリアルのデジタル信号である。図１８に信号伝送装置１における複数の信号の関係を示す。クロック信号ＣＬＫ１において隣接する２つのライズエッジタイミング間の期間を単位期間と称する。１つの単位期間の長さはクロック信号ＣＬＫ１の１周期の長さに等しい。信号Ｓｎ１は時系列上に並ぶ複数ビット分のデータを表す。信号Ｓｎ１は１単位期間において１ビット分のデータを有する。同期出力回路１６はクロック信号ＣＬＫ１における第ｊ番目のライズエッジを契機に、信号Ｓｎ１にて表されるデータを第（ｊ－１）番目のビットのデータから第ｊ番目のビットのデータに切り替える。ｊは任意の自然数を表す。
【0142】
通常モード状態において同期出力回路１６から出力される信号Ｓｎ１は入力信号ＩＮ１としてトランスミッタＴＸ１に入力される。結果、信号Ｓｎ１は二次側回路２０に伝送され、伝送された信号Ｓｎ１が出力信号ＯＵＴ１としてレシーバＲＸ１から出力される。通常モード状態において出力信号ＯＵＴ１は出力セレクタＳＥＬ＿ＯＵＴ１を通じ信号Ｓｎ１’として信号処理回路２６に供給される。トランスミッタＴＸ１及びレシーバＲＸ１間の伝達遅延等を無視すれば、信号Ｓｎ１’の波形は信号Ｓｎ１の波形と同じである（図１８参照）。
【0143】
信号Ｓｎ１’はクロック信号ＣＬＫ２に同期した信号である。信号処理回路２６はクロック信号ＣＬＫ２を用いて信号Ｓｎ１’が持つデータ（従って信号Ｓｎ１が持つデータ）を認識できる。即ち、信号処理回路２６は信号Ｓｎ１’持つデータをクロック信号ＣＬＫ２に同期して読み取ることができる。信号処理回路２６は、クロック信号ＣＬＫ２に基づき信号Ｓｎ１’に対して所定の信号処理を行う。
【0144】
＜＜第６実施例＞＞
第６実施例を説明する。図１７の信号伝送装置１において同期出力回路１６は、例えば図１９に示す如くＡＤ変換回路１６ａであっても良い。ＡＤ変換回路１６ａは、サンプリングタイミングにおける入力アナログ信号をＡＤ変換（アナログ／デジタル変換）することでＡＤ変換の結果を表す信号Ｓｎ１を生成し、信号Ｓｎ１をクロック信号ＣＬＫ１に同期して出力する。入力アナログ信号は一次側回路１０とは異なる任意の回路からＡＤ変換回路１６ａに供給される、又は、一次側回路１０内で生成される。サンプリングタイミングは図示されない制御回路により指定される。
第６実施例を説明する。図１７の信号伝送装置１において同期出力回路１６は、例えば図１９に示す如くＡＤ変換回路１６ａであっても良い。ＡＤ変換回路１６ａは、サンプリングタイミングにおける入力アナログ信号をＡＤ変換（アナログ／デジタル変換）することでＡＤ変換の結果を表す信号Ｓｎ１を生成し、信号Ｓｎ１をクロック信号ＣＬＫ１に同期して出力する。入力アナログ信号は一次側回路１０とは異なる任意の回路からＡＤ変換回路１６ａに供給される、又は、一次側回路１０内で生成される。サンプリングタイミングは図示されない制御回路により指定される。
【0145】
ＡＤ変換回路１６ａにおけるＡＤ変換の形式は任意である。ＡＤ変換回路１６ａはデルタシグマ型のＡＤ変換回路であっても良く、この場合、信号Ｓｎ１’に対しクロック信号ＣＬＫ２に同期してデジタルのフィルタリング処理を行うデジタルフィルタを信号処理回路２６に設けておくことができる。
【0146】
同期出力回路１６がＡＤ変換回路１６ａである場合、絶縁素子の駆動に伴うノイズはＡＤ変換の精度に影響を与えうる。しかしながら、本実施形態では、送信強度の適正化に伴って過度なノイズ発生が抑制されるので、ＡＤ変換の精度向上が見込める。
【0147】
パルストランス３１＿Ｒ（図６参照）がパルス駆動されるときに送信側コイル３１＿Ｒｔの第１端に生じる電圧、及び、パルストランス３１＿Ｆがパルス駆動されるときに送信側コイル３１＿Ｆｔの第１端に生じる電圧を、便宜上、第１評価電圧、第２評価電圧と称する。図１９の信号伝送装置１において、トランスミッタＴＸ１に対して送信強度校正動作ＯＰ＿Ａが実行される際、第１評価電圧を示す第１評価アナログ信号及び第２評価電圧を示す第１評価アナログ信号をＡＤ変換回路１６ａに入力し、ＡＤ変換回路１６ａにて第１及び第２評価アナログ信号をＡＤ変換することで、第１及び第２評価電圧のデジタル値を導出するようしても良い。校正回路ＣＢ１は、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａの各テスト送信処理において、第１及び第２評価電圧のデジタル値に基づき期待通りの電流にてパルストランス３１＿Ｒ及び３１＿Ｆがパルス駆動されているかを判断することができ、当該判断結果も参照して適正送信強度ＯＰＴＴＸ１を設定することもできる。トランスミッタＴＸ２に対して送信強度校正動作ＯＰ＿Ａが実行される場合も同様である。
【0148】
この他、同期出力回路１６はクロック信号ＣＬＫ１に同期して信号Ｓｎ１を出力する回路であれば任意である。信号伝送装置１はクロック信号ＣＬＫ１及びＣＬＫ２に同期して任意の信号Ｓｎ１の送受信を行う絶縁通信装置（デジタルアイソレータ）であっても良い。
【0149】
＜＜第７実施例＞＞
第７実施例を説明する。第７実施例では動作モードの設定方法について説明する。モード設定回路ＭＳ１は原則として一次側回路１０の動作モードを通常モードに設定し、モード設定回路ＭＳ２は原則として二次側回路２０の動作モードを通常モードに設定する。即ち、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２は原則として信号伝送装置１の状態を通常モード状態に設定する。
第７実施例を説明する。第７実施例では動作モードの設定方法について説明する。モード設定回路ＭＳ１は原則として一次側回路１０の動作モードを通常モードに設定し、モード設定回路ＭＳ２は原則として二次側回路２０の動作モードを通常モードに設定する。即ち、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２は原則として信号伝送装置１の状態を通常モード状態に設定する。
【0150】
所定の校正トリガ条件の成立を契機に、モード設定回路ＭＳ１は一次側回路１０の動作モードを校正モードに設定し且つモード設定回路ＭＳ２は二次側回路２０の動作モードを校正モードに設定する。即ち、所定の校正トリガ条件の成立を契機に、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２は信号伝送装置１の状態を校正モード状態に設定する。校正トリガ条件の成否を判定する条件判定回路（不図示）を信号伝送装置１に設けておいて良い。
【0151】
校正モード状態において送信強度校正動作ＯＰ＿Ａのみが行われる場合にあっては、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにて適正送信強度（ＯＰＴＴＸ１及びＯＰＴＴＸ２の内、少なくとも一方）が設定されると、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替えられる。
校正モード状態において受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂのみが行われる場合にあっては、受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１及びＯＰＴＲＸ２の内、少なくとも一方）が設定されると、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替えられる。
校正モード状態において送信強度校正動作ＯＰ＿Ａ及び受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂが行われる場合にあっては、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにて適正送信強度（ＯＰＴＴＸ１及びＯＰＴＴＸ２の内、少なくとも一方）が設定され且つ受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１及びＯＰＴＲＸ２の内、少なくとも一方）が設定されると、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替えられる。
校正モード状態において受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂのみが行われる場合にあっては、受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１及びＯＰＴＲＸ２の内、少なくとも一方）が設定されると、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替えられる。
校正モード状態において送信強度校正動作ＯＰ＿Ａ及び受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂが行われる場合にあっては、送信強度校正動作ＯＰ＿Ａにて適正送信強度（ＯＰＴＴＸ１及びＯＰＴＴＸ２の内、少なくとも一方）が設定され且つ受信感度校正動作ＯＰ＿Ｂにて適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１及びＯＰＴＲＸ２の内、少なくとも一方）が設定されると、モード設定回路ＭＳ１及びＭＳ２により信号伝送装置１の状態が校正モード状態から通常モード状態に切り替えられる。
【0152】
例えば、校正トリガ条件は信号伝送装置１が起動するたびに成立する。即ち、信号伝送装置１に対する電源電圧ＶＤＤ１及びＶＤＤ２の供給が遮断された状態から、信号伝送装置１に対して電源電圧ＶＤＤ１及びＶＤＤ２の供給された状態に遷移にすることで信号伝送装置１が起動したときに、校正トリガ条件が成立して良い。この場合、信号伝送装置１の起動直後に信号伝送装置１は校正モードで動作することになる。
【0153】
また例えば、通常モード状態において信号Ｓｎ１及びＳｎ２が、一定時間、所定レベル（ローレベル又はハイレベル）にて固定されたとき、校正トリガ条件が成立しても良い。この際、上記の条件判定回路は、信号Ｓｎ１及びＳｎ２に基づき校正トリガ条件の成否を判断すれば良い。図１７又は図１９の構成に係るクロックジェネレータＣＧが二次側回路２０の外部に設けられた外部クロック回路である場合において、クロックジェネレータＣＧが停止状態にあるとき、信号Ｓｎ２はローレベル又はハイレベルにて固定され、それに連動して同期出力回路１６又はＡＤ変換回路１６ａの出力信号Ｓｎ１はローレベル又はハイレベルにて固定される。そのような状態が一定時間継続したとき、校正トリガ条件が成立したと判定して良い。
【0154】
また例えば、信号伝送装置１の起動後、所定時間が経過するたびに校正トリガ条件が成立しても良い。この際、上記の条件判定回路はタイマを用いて構成トリガ条件の成否を判断すれば良い。例えば１秒に１回だけＡＤ変換が必要なアプリケーションに図１９の信号伝送装置１が用いられる場合、ＡＤ変換とＡＤ変換の結果を示す信号Ｓｎ１の伝送とが完了するたびに、校正トリガ条件が成立する。
【0155】
この他、校正トリガ条件は信号伝送装置１に対して予め定められた条件であれば任意である。信号伝送装置１の起動後、複数の時刻の夫々にて校正トリガ条件が成立するようにしておけば、信号伝送装置１の送受信に関わる状態を温度変化等に抗して常に最適に保つことができる。
【0156】
＜＜第８実施例＞＞
第８実施例を説明する。第８実施例では上述の各種の構成又は動作に対する応用技術又は変形技術等を説明する。
第８実施例を説明する。第８実施例では上述の各種の構成又は動作に対する応用技術又は変形技術等を説明する。
【0157】
任意の信号又は電圧に関して、上述の主旨を損なわない形で、それらのハイレベルとローレベルの関係は上述したものの逆とされ得る。
【0158】
図２０に半導体装置１００の外観斜視図を示す。信号伝送装置１は半導体装置１００に組み込まれた装置であって良い。半導体装置１００は、半導体基板上に形成された半導体集積回路を有する半導体チップと、半導体チップを収容する筐体（パッケージ）と、筐体から半導体装置１００の外部に対して露出する複数の外部端子と、を備えた電子部品である。半導体チップを樹脂にて構成された筐体（パッケージ）内に封入することで半導体装置１００が形成される。尚、図２０に示される半導体装置１００の外部端子の数及び半導体装置１００の筐体の種類は例示に過ぎず、それらを任意に設計可能である。
【0159】
半導体装置１００に第１～第３半導体チップが設けられて良い。この場合、第１半導体チップ内の半導体集積回路に一次側回路１０を含め、且つ、第２半導体チップ内の半導体集積回路に二次側回路２０を含める。絶縁素子３１及び３２は第３半導体チップに形成される（但し、第１及び第２半導体チップに分散して配置されて良い）。
【0160】
本開示の実施形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。以上の実施形態は、あくまでも、本開示の実施形態の例であって、本開示ないし各構成要件の用語の意義は、以上の実施形態に記載されたものに制限されるものではない。上述の説明文中に示した具体的な数値は、単なる例示であって、当然の如く、それらを様々な数値に変更することができる。
【0161】
＜＜付記＞＞
上述の実施形態にて具体的構成例が示された本開示について付記を設ける。
上述の実施形態にて具体的構成例が示された本開示について付記を設ける。
【0162】
本開示の一側面に係る信号伝送装置（第１実施例；図１、図９～図１１参照）は、互いに絶縁された第１回路（１０）及び第２回路（２０）を備えた信号伝送装置（１）であって、前記第１回路は第１トランスミッタ（ＴＸ１）及び第２レシーバ（ＲＸ２）を備え、前記第２回路は第２トランスミッタ（ＴＸ２）及び第１レシーバ（ＲＸ１）を備え、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子（３１）を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子（３２）を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの適正送信強度（ＯＰＴＴＸ１）を設定し、前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記適正送信強度にて前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記入力デジタル信号を受信する構成（第１の構成）である。
【0163】
これにより、第１トランスミッタの送信強度の適正化が図られる。送信強度の適正化により消費電力の低減及び発生ノイズ量の低減が期待される。
【0164】
上記第１の構成に係る信号伝送装置において、前記第１回路は、前記第１トランスミッタの送信強度を制御するよう構成された送信強度制御回路（１１）を有する第１校正回路（ＣＢ１）を備え、前記第２回路は、第２校正回路（ＣＢ２）を備え、前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき前記適正送信強度を設定する構成（第２の構成）であっても良い。
【0165】
上記第２の構成に係る信号伝送装置において、前記校正モードにおいて、前記テスト信号が前記第１レシーバにて受信されたとき、前記テスト信号に対応する波形を有する受信矩形波信号（ＯＵＴ１）が前記第１レシーバから出力され、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記第１レシーバからの前記受信矩形波信号の出力有無に基づき前記テスト返信処理の実行有無を制御する構成（第３の構成）であっても良い。
【0166】
上記第３の構成に係る信号伝送装置において、前記複数の候補強度は第１～第ｍ候補強度を含み、第ｉテスト設定状態にて前記第１トランスミッタの送信強度は第ｉ候補強度であり、ｍは２以上の整数を表し、ｉはｍ以下の自然数を表し、前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、前記第１校正回路は、第１～第ｍテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第２レシーバでの前記返信信号の受信有無に基づき、前記適正送信強度を設定する構成（第４の構成）であっても良い。
【0167】
上記第２～第４の構成の何れかに係る信号伝送装置において、前記第１校正回路は、前記複数の候補強度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補強度を前記適正送信強度に設定する構成（第５の構成）であっても良い。
【0168】
上記第１の構成に係る信号伝送装置において（第３実施例；図１、図１５及び図１６参照）、前記校正モードにおいて、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第１回路にて前記第１トランスミッタの前記適正送信強度を設定し且つ前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１）を設定し、前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記適正送信強度にて前記入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する構成（第６の構成）であっても良い。
【0169】
これにより、第１トランスミッタの送信強度の適正化に加えて、第１レシーバの受信感度の適正化も図られる。送信強度及び受信感度の適正化により、消費電力の低減及び発生ノイズ量の低減が期待され、且つ、適正なノイズ耐性を有した安定的な通信が可能となる。
【0170】
上記第６の構成に係る信号伝送装置において、前記第１回路は、前記第１トランスミッタの送信強度を制御するよう構成された送信強度制御回路（１１）を有する第１校正回路（ＣＢ１）を備え、前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路（２３）を有する第２校正回路（ＣＢ２）を備え、前記校正モードにおいて前記第１校正回路及び前記第２校正回路により第１校正処理（ＯＰ＿Ａ）及び第２校正処理（ＯＰ＿Ｂ）が実行され、前記第１校正処理において、前記第２校正回路は前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を所定受信感度に固定し、前記第１校正処理において、前記第１校正回路は、前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を複数の候補強度間で切り替えながら前記候補強度ごとに前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記候補強度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い、前記第１校正回路は、前記第２レシーバによる前記返信信号の受信状態に基づき暫定送信強度を特定し（Ｓ３１１）、前記第２校正処理において、前記第１校正回路は前記送信強度制御回路を用いて前記第１トランスミッタの送信強度を所定送信強度に固定し、前記第２校正処理において、前記第１校正回路は、前記１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ暫定受信感度を特定し（Ｓ３１２）、前記第１校正処理の後、前記第１校正回路は、前記暫定送信強度及び前記所定送信強度の内、高い方を前記適正送信強度に設定し、前記第２校正処理の後、前記第２校正回路は、前記暫定受信感度及び前記所定受信感度の内、高い方を前記適正受信感度に設定する構成（第７の構成）であっても良い。
【0171】
上記第７の構成に係る信号伝送装置において、前記第１校正処理において、前記第１校正回路は、前記複数の候補強度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補強度を前記暫定送信強度として特定し、前記第２校正処理において、前記第２校正回路は、前記複数の候補感度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補感度を前記暫定受信感度として特定する構成（第８の構成）であっても良い。
【0172】
本開示の他の一側面に係る信号伝送装置（第２実施例；図１、図１２～図１４参照）は、互いに絶縁された第１回路（１０）及び第２回路（２０）を備えた信号伝送装置（１）であって、前記第１回路は第１トランスミッタ（ＴＸ１）及び第２レシーバ（ＲＸ２）を備え、前記第２回路は第２トランスミッタ（ＴＸ２）及び第１レシーバ（ＲＸ１）を備え、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバは、前記第１トランスミッタ及び前記第１レシーバ間に設けられた第１絶縁素子（３１）を介して前記第１回路から前記第２回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバは、前記第２トランスミッタ及び前記第２レシーバ間に設けられた第２絶縁素子（３２）を介して前記第２回路から前記第１回路に対し信号伝送を行うよう構成され、前記第１回路及び前記第２回路は、通常モード又は校正モードにて動作し、前記校正モードにおいて、前記第１トランスミッタから矩形波を持つテスト信号を前記第２回路に送信するテスト送信処理と、前記第１レシーバによる前記テスト信号の受信結果に応じて前記第２トランスミッタから矩形波を持つ返信信号を前記第１回路に送信するテスト返信処理とを実行し、前記テスト送信処理及び前記テスト返信処理を通じて前記第２回路にて前記第１レシーバの適正受信感度（ＯＰＴＲＸ１）を設定し、前記校正モード後の前記通常モードにおいて、前記第１トランスミッタは前記第１トランスミッタへの入力デジタル信号を前記第２回路に送信し、前記第１レシーバは前記適正受信感度にて前記入力デジタル信号を受信する構成（第９の構成）である。
【0173】
これにより、第１レシーバの受信感度の適正化が図られる。受信感度の適正化により、適正なノイズ耐性を有した安定的な通信が可能となる。
【0174】
上記第９の構成に係る信号伝送装置において、前記第１回路は、第１校正回路（ＣＢ１）を備え、前記第２回路は、前記第１レシーバの受信感度を制御するよう構成された受信感度制御回路（２３）を有する第２校正回路（ＣＢ２）を備え、前記校正モードにおいて、前記第１校正回路は、前記第１トランスミッタを用いて前記テスト送信処理を実行し、前記第２校正回路は、前記受信感度制御回路を用いて前記第１レシーバの受信感度を複数の候補感度間で切り替えながら前記候補感度ごとに前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定し、判定結果に応じて前記テスト返信処理の実行制御を行い且つ前記適正受信感度を設定する構成（第１０の構成）であっても良い。
【0175】
上記第１０の構成に係る信号伝送装置において、前記校正モードにおいて、前記テスト信号が前記第１レシーバにて受信されたとき、前記テスト信号に対応する波形を有する受信矩形波信号（ＯＵＴ１）が前記第１レシーバから出力され、前記第２校正回路は、前記候補感度ごとに前記第１レシーバからの前記受信矩形波信号の出力有無に基づき前記テスト信号の前記第１レシーバによる受信可否を判定する構成（第１１の構成）であっても良い。
【0176】
上記第１１の構成に係る信号伝送装置において、前記複数の候補感度は第１～第ｎ候補感度を含み、第ｉテスト設定状態にて前記第１レシーバの受信感度は第ｉ候補感度であり、ｎは２以上の整数を表し、ｉはｎ以下の自然数を表し、前記第ｉテスト設定状態にて前記テスト送信処理が実行されたときにおいて、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されたならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理にて前記受信矩形波信号又は所定矩形波信号を前記返信信号として前記第２トランスミッタから前記第１回路に送信させ、前記第１レシーバから前記受信矩形波信号が出力されなかったならば、前記第２校正回路は前記テスト返信処理を非実行とし、前記第２校正回路は、第１～第ｎテスト設定状態の内、２以上のテスト設定状態における前記第１レシーバでの前記テスト信号の受信可否に基づき、前記適正受信感度を設定する構成（第１２の構成）であっても良い。
【0177】
上記第１０～第１２の構成の何れかに係る信号伝送装置において、前記第２校正回路は、前記複数の候補感度の内、前記第１レシーバにて前記テスト信号を受信可能な最小の候補感度を前記適正受信感度に設定する構成（第１３の構成）であっても良い。
【符号の説明】
【0178】
１ 信号伝送装置
１０ 一次側回路
１１ 送信強度制御回路
１２ テスト信号生成回路
１３ 受信判定回路
１６ 同期出力回路
２０ 二次側回路
２１ 受信判定回路
２２ 信号監視回路
２３ 受信感度制御回路
２６ 信号処理回路
３１、３２ 絶縁素子
３１＿Ｒ、３１＿Ｆ、３２＿Ｒ、３２＿Ｆ パルストランス
３１＿Ｒｔ、３１＿Ｆｔ、３２＿Ｒｔ、３２＿Ｆｔ 送信側コイル
３１＿Ｒｒ、３１＿Ｆｒ、３２＿Ｒｒ、３２＿Ｆｒ 受信側コイル
１００ 半導体装置
ＴＸ１、ＴＸ２ トランスミッタ
ＥＤ１、ＥＤ２ エッジ検出回路
Ｒｄｒｖ１、Ｆｄｒｖ１、Ｒｄｒｖ２、Ｆｄｒｖ２ ドライバ
ＲＸ１、ＲＸ２ レシーバ
Ｒｄｅｔ１、Ｆｄｅｔ１、Ｒｄｅｔ２、Ｆｄｅｔ２ 検出回路
ＣＭＰ１、ＣＭＰ２ コンパレータ
ＣＢ１、ＣＢ２ 校正回路
ＭＳ１、ＭＳ２ モード設定回路
ＳＥＬ＿ＩＮ１、ＳＥＬ＿ＩＮ１ 入力セレクタ
ＳＥＬ＿ＯＵＴ１、ＳＥＬ＿ＯＵＴ１ 出力セレクタ
ＮＤ１ｂ、ＮＤ１ｃ、ＮＤ１ｄ、ＮＤ２ｂ、ＮＤ２ｃ、ＮＤ２ｄ 入力ノード
ＮＤ１ａ、ＮＤ１ｅ、ＮＤ１ｆ、ＮＤ２ａ、ＮＤ２ｅ、ＮＤ２ｆ 出力ノード
ＩＮ１、ＩＮ２ 入力信号
ＯＵＴ１、ＯＵＴ２ 出力信号
Ｓｎ１、Ｓｎ２、Ｓｃ１、Ｓｃ２ 信号
ＣＬＫ１、ＣＬＫ２ クロック信号
ＶＤＤ１、ＶＤＤ２ 電源電圧
ＧＮＤ１、ＧＮＤ２ グランド
ＣＧ クロックジェネレータ
ＳＭＮ１ 監視結果信号
ＥＤ＿Ｒ１、ＥＤ＿Ｆ１、ＥＤ＿Ｒ２、ＥＤ＿Ｆ２ 信号
ＳＲ１、ＳＦ１、ＳＲ２、ＳＦ２ 信号
ＶＰ１、ＶＭ１、ＶＰ２、ＶＭ２ 電圧
１０ 一次側回路
１１ 送信強度制御回路
１２ テスト信号生成回路
１３ 受信判定回路
１６ 同期出力回路
２０ 二次側回路
２１ 受信判定回路
２２ 信号監視回路
２３ 受信感度制御回路
２６ 信号処理回路
３１、３２ 絶縁素子
３１＿Ｒ、３１＿Ｆ、３２＿Ｒ、３２＿Ｆ パルストランス
３１＿Ｒｔ、３１＿Ｆｔ、３２＿Ｒｔ、３２＿Ｆｔ 送信側コイル
３１＿Ｒｒ、３１＿Ｆｒ、３２＿Ｒｒ、３２＿Ｆｒ 受信側コイル
１００ 半導体装置
ＴＸ１、ＴＸ２ トランスミッタ
ＥＤ１、ＥＤ２ エッジ検出回路
Ｒｄｒｖ１、Ｆｄｒｖ１、Ｒｄｒｖ２、Ｆｄｒｖ２ ドライバ
ＲＸ１、ＲＸ２ レシーバ
Ｒｄｅｔ１、Ｆｄｅｔ１、Ｒｄｅｔ２、Ｆｄｅｔ２ 検出回路
ＣＭＰ１、ＣＭＰ２ コンパレータ
ＣＢ１、ＣＢ２ 校正回路
ＭＳ１、ＭＳ２ モード設定回路
ＳＥＬ＿ＩＮ１、ＳＥＬ＿ＩＮ１ 入力セレクタ
ＳＥＬ＿ＯＵＴ１、ＳＥＬ＿ＯＵＴ１ 出力セレクタ
ＮＤ１ｂ、ＮＤ１ｃ、ＮＤ１ｄ、ＮＤ２ｂ、ＮＤ２ｃ、ＮＤ２ｄ 入力ノード
ＮＤ１ａ、ＮＤ１ｅ、ＮＤ１ｆ、ＮＤ２ａ、ＮＤ２ｅ、ＮＤ２ｆ 出力ノード
ＩＮ１、ＩＮ２ 入力信号
ＯＵＴ１、ＯＵＴ２ 出力信号
Ｓｎ１、Ｓｎ２、Ｓｃ１、Ｓｃ２ 信号
ＣＬＫ１、ＣＬＫ２ クロック信号
ＶＤＤ１、ＶＤＤ２ 電源電圧
ＧＮＤ１、ＧＮＤ２ グランド
ＣＧ クロックジェネレータ
ＳＭＮ１ 監視結果信号
ＥＤ＿Ｒ１、ＥＤ＿Ｆ１、ＥＤ＿Ｒ２、ＥＤ＿Ｆ２ 信号
ＳＲ１、ＳＦ１、ＳＲ２、ＳＦ２ 信号
ＶＰ１、ＶＭ１、ＶＰ２、ＶＭ２ 電圧
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】