特開 2024-137817 システムの制御方法及びシステム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024137817

(43)【公開日】2024-10-07

(54)【発明の名称】システムの制御方法及びシステム

(51)【国際特許分類】

   G01D 3/00 20060101AFI20240927BHJP

   G01D 21/02 20060101ALI20240927BHJP

【ＦＩ】

G01D3/00 Z

G01D21/02

【審査請求】有

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2024041109

(22)【出願日】2024-03-15

(31)【優先権主張番号】10 2023 107 075.4

(32)【優先日】2023-03-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】DE

(31)【優先権主張番号】63/453,493

(32)【優先日】2023-03-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】301077552

【氏名又は名称】ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー

(74)【代理人】

【識別番号】100118913

【弁理士】

【氏名又は名称】上田 邦生

(74)【代理人】

【識別番号】100142789

【弁理士】

【氏名又は名称】柳 順一郎

(74)【代理人】

【識別番号】100201466

【弁理士】

【氏名又は名称】竹内 邦彦

(72)【発明者】

【氏名】マーティン ブルーナー

(72)【発明者】

【氏名】トーマス デンナー

(72)【発明者】

【氏名】ティロ ヒルパート

(72)【発明者】

【氏名】ファビアン ウォルファート

(72)【発明者】

【氏名】ミハエル シェーネイヒ

(72)【発明者】

【氏名】ミハエル ミューラー

(72)【発明者】

【氏名】トルステン ハックマン

【テーマコード（参考）】

2F075

2F076

【Ｆターム（参考）】

2F075AA01

2F075AA10

2F075EE14

2F075EE18

2F075FF03

2F076BA01

2F076BE07

2F076BE09

2F076BE10

2F076BE14

(57)【要約】      （修正有）

【課題】複数の測定装置を備えたシステムの使用を容易にし、それらをより効率的にすること。
【解決手段】システム（１０）のコントローラ（２００）によって、所望の測定値を決定するための要求を受信することと、コントローラによって、複数の測定装置のうちのどれが特定の測定値を決定するのに適しているかに関する提案を作成することと、コントローラ（２００）によって、確立された提案をシステム（１０）のユーザに出力することと、を含む。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

システム（１０）のコントローラ（２００）によって、所望の測定値を決定するための要求を受信すること（Ｍ１）と、
前記コントローラ（２００）によって、複数の測定装置（１００）のうちのどれが特定の測定値を決定するのに適しているかについての提案を作成すること（Ｍ２）と、
前記コントローラ（２００）によって、前記作成された提案をシステム（１０）のユーザに出力すること（Ｍ３）と、
を含む、複数の測定装置（１００）を有するシステム（１０）の制御方法（Ｍ）。

【請求項2】

前記コントローラ（２００）が、前記提案を作成するためのデータベース（３００）にアクセスする請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項3】

前記データベース（３００）が、材料特性、測定方法及び前記複数の測定装置（１００）に関する複数の情報を含み、
前記コントローラ（２００）が、前記複数の情報に基づいて前記提案を自律的に作成する請求項２に記載の方法（Ｍ）。

【請求項4】

前記コントローラ（２００）が、前記測定値が決定された後に前記データベース（３００）を更新する請求項２に記載の方法（Ｍ）。

【請求項5】

前記提案を作成することが、前記複数の測定装置（１００）のうちの複数の測定装置の逐次的使用又は同時使用を含む請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項6】

前記所望の測定値の決定のために、使用される複数の測定装置（１００）の各々によって行われた測定が参酌される請求項５に記載の方法（Ｍ）。

【請求項7】

前記所望の測定値を決定することが、コントローラ（２００）によって自律的に実行される請求項６に記載の方法（Ｍ）。

【請求項8】

前記コントローラ（２００）が、前記提案を作成するために、前記複数の測定装置（１００）の現在又は将来計画される動作状態を参酌する請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項9】

請求項１から８のいずれか一項に記載の方法（Ｍ）を実行するように構成される複数の測定装置（１００）を含むシステム（１０）。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、システムの制御方法及びシステムに関する。

【背景技術】

【0002】

様々な材料の特性を明らかにすることは、研究及び産業における多くの用途にとって非常に重要である。この目的のために、用途に応じて、時には非常に複雑な測定プロセスを提供する様々な測定装置が使用されている。

【0003】

目的の測定を確実に成功させるには、個々の測定プロセスの技術的・科学的背景を考慮する必要があるため、ユーザがこれらの測定を行うには、ある程度の専門知識が必要である。さらに、ほとんどの実験室環境には複数の測定装置が存在する。つまり、どの装置がどの測定に特に適しているかを判断するためには、ユーザは複数の測定装置に精通していなければならない。さらに、測定装置は一般的に複数の人によって使用される。そのため、どの装置をどの測定に使用するかは、その都度合意を必要とする。

【発明の概要】

【0004】

このような背景から、本発明の目的は、複数の測定装置を備えたシステムの使用を容易にし、それらをより効率的にすることである。

【0005】

この課題は、請求項１の特徴を有する方法及び請求項９の特徴を有するシステムによって解決される。

【0006】

従って、複数の測定装置を備えるシステムの制御方法が提供される。本方法は、システムのコントローラによって、所望の測定値を決定するための要求を受信することと、前記コントローラによって、複数の測定装置のうちのどれが特定の測定値を決定するのに適しているかに関する提案を作成することと、前記コントローラによって、前記作成された提案をシステムのユーザに出力することと、を含む。

【0007】

さらに、本発明に係る方法を実行するように構成された複数の測定装置を備えたシステムが提供される。

【0008】

システムのユーザがこの目的のために設計されたコントローラによって支援されることが、本発明の基本的な考え方である。コントローラが、複数の測定装置のどれが所望の測定値を決定するのに適しているかという提案をユーザに伝えるので、測定準備中にこのステップをかなり短縮することができる。

【0009】

本方法の例示的な実施形態によれば、前記コントローラが、前記提案を作成するときにデータベースにアクセスする。適切な提案の作成は、データベースの適切な構成によって有利に支援され得る。

【0010】

本方法のさらなる発展形によれば、前記データベースが、材料特性、測定方法及び前記複数の測定装置に関する複数の情報を含み、前記コントローラが、前記複数の情報に基づいて前記提案を自律的に作成する。結果として、コントローラは、仮想的に可能な複数の測定を有利に支援することができる。

【0011】

本方法の一実施形態によれば、前記コントローラが、前記測定値が決定された後に前記データベースを更新する。結果として、測定中に得られた知識を将来の測定に役立てることができる。

【0012】

本方法の例示的な実施形態によれば、前記提案は、前記複数の測定装置のうちの複数の測定装置の逐次的使用又は同時使用を含む。結果として、個々の測定装置の作業負荷を有利に最適化することができる。

【0013】

本方法の例示的な実施形態によれば、前記所望の測定値の決定のために、使用される複数の測定装置の各々によって行われた測定が参酌される。結果として、所望の測定値の決定が簡略化される。

【0014】

本方法のさらなる発展形によれば、前記所望の測定値を決定することが、コントローラによって自律的に実行される。結果として、所望の測定値の決定が簡略化される。

【0015】

本方法のさらなる発展形によれば、前記コントローラが、前記提案を作成する間に、前記複数の測定装置の現在の、又は将来計画される動作状態を参酌する。結果として、個々の測定装置の作業負荷を有利に最適化することができる。

【図面の簡単な説明】

【0016】

以下、図面を参照して本発明を説明する。

【図1】本発明の例示的な実施形態に係る方法の概略フロー図である。

【図2】本発明の例示的な実施形態に係る複数の測定装置を備えたシステムの概略図である。

【図3】本発明の例示的な実施形態に係る測定装置の概略図である。

【0017】

図中、同一の参照符号は、別段の指示がない限り、同一又は機能的に同一の構成要素を示す。

【発明を実施するための形態】

【0018】

図１は、本発明の例示的な実施形態に係る複数の測定装置を備えるシステムの制御方法Ｍの概略フロー図である。

【0019】

第１の方法ステップＭ１では、コントローラが、所望の測定値を決定するための要求を受信する。さらなる方法ステップＭ２において、コントローラは、複数の測定装置のうちのどれが所望の測定値を決定するのに適しているかについての提案を作成する。さらなる方法ステップＭ３において、コントローラは、作成された提案をシステムのユーザに出力する。

【0020】

図２及び図３を参照しながら、以下に示す方法Ｍを詳細に説明する。

【0021】

図２は、本発明の例示的な実施形態に係る測定装置１００を備えたシステム１０の概略図である。

【0022】

図示の例示的な実施形態では、システム１０は、合計２つの測定装置１００と、コントローラ２００と、データベース３００と、を備えている。

【0023】

コントローラ２００は、所望の測定値を決定するための要求を受信するように構成されている。この要求は、システム１０のユーザによって、例えばコントローラ２００の入力装置（明示的に図示せず）を介してなされ得る。この入力装置は、例えば、キーボード、タッチスクリーン等を備えていてもよい。あるいは、要求は、外部インタフェースを介してコントローラ２００に送信されてもよい。

【0024】

コントローラ２００はさらに、受信した要求に応答して、複数の測定装置のうちのどれが所望の測定値を決定するのに適しているかについての提案を作成するように構成される。この目的のために、コントローラ２００は、データベース３００にアクセスすることができる。データベース３００は、材料特性、測定方法及び複数の測定装置に関する複数の情報を含んでいてもよい。この場合、コントローラ２００は、この複数の情報に基づいて提案を自律的に作成する。このプロセスの間に、コントローラ２００は、所望の測定値が測定装置１００のいずれでも決定できないことを決定することもできる。この場合、パラメータリストの代わりに、対応する通知を出力することもできる。

【0025】

コントローラ２００はさらに、作成された提案をシステム１０のユーザに出力するように構成される。例えば、コントローラ２００の出力装置（明示的に図示せず）をこの目的のために使用することができる。この出力装置は、例えば、スクリーン及び／又はスピーカを備えていてもよい。例えば、コントローラ２００の出力装置と入力装置とをタッチスクリーンに組み合わせてもよい。代替的に又は追加的に、測定装置１００の個々の構成要素を、例えば、作動させるべきスイッチパネル等を照明することで強調表示させてもよい。

【0026】

特に、コントローラ２００は、特定の測定が実行された後にデータベース３００を更新するように構成されてもよい。測定に使用したサンプルの材料特性に関する測定結果は、その後、例えばデータベース３００に記録され、将来の測定及び測定スケジュールのために利用可能となる。また、実施された測定を考慮して、所定の測定スケジュールを修正してもよい。実施された測定に関してこのために必要な情報は、ユーザシステム１０からコントローラ２００に転送されてもよい。代替的または追加的に、コントローラ２００は、測定装置１００から関連情報を直接受信してもよい。

【0027】

コントローラ２００によって作成される提案は、複数の測定装置のうちの複数の測定装置の逐次的使用又は同時的使用を含み得る。これは、例えば、再現性の理由から所望の測定値が数回決定される場合、又は所望の測定値が間接的に導出される中間結果を決定するために、所望の測定値を決定するために複数の異なる測定プロセスが実行されなければならない場合に有利であり得る。このような場合、所望の測定値を決定するために、使用される複数の測定装置１００の各々によって測定された測定値が考慮されることが提供され得る。この場合、所望の測定値の決定は、コントローラ２００によって自律的に実行され得る。

【0028】

コントローラ２００はまた、提案を作成する間に、複数の測定装置の現在又は将来計画される動作状態を参酌するように構成されてもよい。例えば、測定装置１００のうちの一つが原理的には所望の測定値を決定するためにより適している場合であっても、当該一つの測定装置１００が予見可能な将来において他の測定プロセスのために既に意図されている場合には、測定装置１００のうちの別のものが提案され得る。

【0029】

図２は２つの測定装置１００を示している。しかし、実際には任意の数の測定装置１００を提供されてもよい。測定装置１００は、同じ機能を有するように構成されてもよいし、それぞれの場合に異なる測定を実行するように構成されてもよい。これにより、用途に応じて、それぞれの測定プロセスを同時にまたは逐次的に実行することができる。特に、測定装置１００は、材料の熱解析のための装置として構成されてもよい。具体的には、測定装置１００は、示差熱分析、動的示差熱量測定、動的機械分析、熱機械分析などを実施するように構成されてもよい。このような測定プロセスでは、コントローラ２００によるユーザの支援が特に有利である。

【0030】

データベース３００は、ここではシステム１０の特定の構成要素として示されている。しかしながら、コントローラ２００及び／又はデータベース３００が拡張ネットワーク、具体的にはインターネットに接続され、ローカルに保存する代わりに、このネットワークを介して関連情報を直接取得することも考えられる。

【0031】

図３は、本発明の例示的な実施形態に係るシステムに提供され得る測定装置１００の概略図である。

【0032】

測定装置１００は、コントローラ１１０と、データベース１２０と、センサ装置１３０と、出力装置１４０と、入力装置１５０と、サンプル受取装置１６０と、を備えている。

【0033】

コントローラ１１０は、上位システム１０のコントローラ２００と通信し、システム１０のコントローラ２００によって決定された提案等を測定装置１００で直接実施するように構成されてもよい。この目的のために、コントローラ１１０は、測定装置１００に組み込まれたデータベース１２０にアクセスすることができ、このデータベース１２０には、測定装置１００に関連する情報を格納することができる。原則として、測定装置のコントローラ１１０及びデータベース１２０は、上位システム１０の対応するコンポーネントと同じ機能性を有し、それらを支援することができる。

【0034】

センサ装置１３０は、測定値を決定する間、測定パラメータを監視するように構成されてもよい。この場合、コントローラ１１０は、監視された測定パラメータを評価するように構成されてもよい。これにより、コントローラ１１０は、警告を出力したり、測定値の決定を中断したり、所望の測定値を決定する際に必要であれば、測定装置１００のパラメータを自律的に変更するように構成することができる。

【0035】

出力装置１４０は、例えば、スクリーン及び／又はスピーカを備えていてもよい。入力装置１５０は、例えば、キーボード、タッチスクリーン等を備えていてもよい。例えば、出力装置１４０と入力装置１５０とをタッチスクリーンに組み合わせてもよい。入力装置１５０やサンプル受取装置１６０など、測定装置１００の個々の構成要素は、例えば、作動させるスイッチフィールドを照明するなどして、強調表示されるように構成させてもよい。

【符号の説明】

【0036】

１０ システム
１００ 測定装置
１１０ コントローラ
１２０ データベース
１３０ センサ装置
１４０ 出力装置
１５０ 入力装置
１６０ サンプル受取装置
２００ コントローラ
３００ データベース
Ｍ 方法
Ｍ１ 方法ステップ
Ｍ２ 方法ステップ
Ｍ３ 方法ステップ

【図1】

【図2】

【図3】