特開 2024-137831 測定装置の制御方法及び測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024137831

(43)【公開日】2024-10-07

(54)【発明の名称】測定装置の制御方法及び測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/00 20060101AFI20240927BHJP

【ＦＩ】

G01N35/00 E

G01N35/00 A

【審査請求】有

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2024042182

(22)【出願日】2024-03-18

(31)【優先権主張番号】10 2023 107 031.2

(32)【優先日】2023-03-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】DE

(31)【優先権主張番号】63/453,485

(32)【優先日】2023-03-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】301077552

【氏名又は名称】ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー

(74)【代理人】

【識別番号】100118913

【弁理士】

【氏名又は名称】上田 邦生

(74)【代理人】

【識別番号】100142789

【弁理士】

【氏名又は名称】柳 順一郎

(74)【代理人】

【識別番号】100201466

【弁理士】

【氏名又は名称】竹内 邦彦

(72)【発明者】

【氏名】マーティン ブルーナー

(72)【発明者】

【氏名】トーマス デンナー

(72)【発明者】

【氏名】ティロ ヒルパート

(72)【発明者】

【氏名】ファビアン ウォルファート

(72)【発明者】

【氏名】ミハエル シェーネイヒ

(72)【発明者】

【氏名】ミハエル ミューラー

(72)【発明者】

【氏名】トルステン ハックマン

【テーマコード（参考）】

2G058

【Ｆターム（参考）】

2G058AA05

2G058GD05

2G058GD06

2G058GE01

2G058GE05

2G058HA04

(57)【要約】      （修正有）

【課題】測定装置の制御方法及び測定装置に関する。
【解決手段】コントローラ１１０によって、特定の測定を実行する要求を受信することと、コントローラ１１０によって、特定の測定のために実行されるステップの測定スケジュールを確立することと、コントローラ１１０によって、確立された測定スケジュールを測定装置１００のユーザに出力することとを含む、測定装置１００の制御方法に関する。本発明はさらに測定装置１００に関する。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

コントローラ（１１０；２００）によって、特定の測定を実行するための要求を受信すること（Ｍ１）と、
前記コントローラ（１１０；２００）によって、前記特定の測定のために実行されるステップの測定スケジュールを確立すること（Ｍ２）と、
前記コントローラ（１１０；２００）によって、前記確立された測定スケジュールを測定装置（１００）のユーザに出力すること（Ｍ３）と、
を含む、測定装置（１００）の制御方法（Ｍ）。

【請求項2】

前記コントローラ（１１０；２００）が、前記測定スケジュールを確立する際にデータベース（１２０；３００）にアクセスする請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項3】

前記データベース（１２０；３００）が、複数の既製の測定スケジュールを含み、
前記コントローラ（１１０；２００）が、前記複数の既製の測定スケジュールから１つを選択する請求項２に記載の方法（Ｍ）。

【請求項4】

前記データベース（１２０；３００）が、材料特性及び測定方法に関する複数の情報を含み、
前記コントローラ（１１０；２００）が、前記複数の情報に基づいて前記測定スケジュールを自律的に確立する請求項２に記載の方法（Ｍ）。

【請求項5】

前記コントローラ（１１０；２００）が、前記測定が実行された後に前記データベース（１２０；３００）を更新する請求項２に記載の方法（Ｍ）。

【請求項6】

前記確立された測定スケジュールが、前記ユーザに個別に出力される複数の測定ステップを含む請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項7】

前記ユーザが、後続の測定ステップが出力される前に、測定ステップが実行されたことを確認することを要する請求項６に記載の方法（Ｍ）。

【請求項8】

前記確立された測定スケジュールを出力することが、前記測定装置（１００）の出力装置（１３０）によって行われる請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項9】

前記確立された測定スケジュールを出力することが、前記測定装置（１００）の少なくとも１つの構成要素、具体的には、入力装置（１４０）又はサンプル受取装置（１５０）を強調表示することを含む請求項１に記載の方法（Ｍ）。

【請求項10】

請求項１から９のいずれか一項に記載の方法（Ｍ）を実行するように構成される測定装置（１００）。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測定装置の制御方法及び測定装置に関する。

【背景技術】

【0002】

様々な材料の特性を明らかにすることは、研究及び産業における多くの用途にとって非常に重要である。この目的のために、用途に応じて、時には非常に複雑な測定プロセスを提供する様々な測定装置が使用されている。

【0003】

目的の測定を確実に成功させるには、個々の測定プロセスの技術的・科学的背景を考慮する必要があるため、ユーザがこれらの測定を行うには、ある程度の専門知識が必要である。

【0004】

このため、測定を行うには、純粋な測定時間だけでなく、時には長い準備時間も必要となり、その間、測定を行う測定装置のユーザ自身が測定手順を計画し、準備しなければならない。

【発明の概要】

【0005】

このような背景から、本発明の目的は、測定装置の使用を容易にし、より効率的にすることである。

【0006】

この課題は、請求項１の特徴を有する方法及び請求項１０の特徴を有する測定装置によって解決される。

【0007】

従って、測定装置の制御方法が提供される。本方法は、コントローラによって、特定の測定を実行するための要求を受信することと、前記コントローラによって、前記特定の測定のために実行されるステップの測定スケジュールを確立することと、前記コントローラによって、前記確立された測定スケジュールを測定装置のユーザに出力することと、を含む。

【0008】

さらに、本発明に係る方法を実行するように構成された測定装置が提供される。

【0009】

測定装置のユーザがこの目的のために設計されたコントローラによって支援されることが、本発明の基本的な考え方である。コントローラが測定スケジュールを確立するタスクを引き受けるので、この測定準備のステップはかなり短縮される。また、測定スケジュールのユーザへの出力は、測定プロセス中に実行することもでき、さらに、測定実行中のユーザの負担を軽減する。

【0010】

本方法の一実施形態によれば、前記コントローラは、前記測定スケジュールを確立する際にデータベースにアクセスする。適切な測定スケジュールの確立は、データベースの適切な設計によって有利に支援される。

【0011】

本方法のさらなる発展形として、前記データベースが、複数の既製の測定スケジュールを含み、前記コントローラが、前記複数の既製の測定スケジュールから１つを選択する。これは、高速で信頼性の高い結果を提供する、有利に単純なデータベース設計である。

【0012】

本方法のさらなる発展形によれば、前記データベースが、材料特性及び測定方法に関する複数の情報を含み、前記コントローラが、この複数の情報に基づいて測定スケジュールを自律的に確立する。結果として、コントローラは、仮想的に可能な複数の測定を有利に支援することができる。

【0013】

本方法の一実施形態によれば、コントローラは、前記測定が実行された後に前記データベースを更新する。結果として、測定中に得られた知識を将来の測定に役立てることができる。

【0014】

本方法の一実施形態によれば、前記確立された測定スケジュールが、複数の測定ステップを含み、それらは個別にユーザに出力される。結果として、一度に多くの情報が出力されることがないため、ユーザは測定の実行を支援される。

【0015】

本方法のさらなる発展形によれば、ユーザは、後続の測定ステップが出力される前に、測定ステップが実行されたことを確認することを要する。結果として、コントローラは、各測定ステップが正しく実行されていることを保証できるため、測定実行時にさらに有利な支援を提供することができる。

【0016】

本方法の実施形態例によれば、前記確立された測定スケジュールを出力することが、前記測定装置の出力装置によって行われる。出力を特定の領域に集中させることで、ユーザが出力情報を受け取りやすくなる。

【0017】

本方法の例示的な実施形態によれば、前記確立された測定スケジュールを出力することが、前記測定装置の少なくとも１つの構成要素、具体的には、入力装置又はサンプル受取装置を強調表示することを含む。結果として、コントローラによってユーザの注意が特に向けられるので、ユーザはさらに有利に支援される。

【図面の簡単な説明】

【0018】

以下、図面を参照して本発明を説明する。

【図1】本発明の例示的な実施形態に係る方法の概略フロー図である。

【図2】本発明の例示的な実施形態に係る測定装置の概略図である。

【図3】本発明の例示的な実施形態に係る複数の測定装置を備えたシステムの概略図である。

【0019】

図中、同一の参照符号は、別段の指示がない限り、同一又は機能的に同一の構成要素を示す。

【発明を実施するための形態】

【0020】

図１は、本発明の例示的な実施形態に係る測定装置の制御方法Ｍの概略フロー図である。

【0021】

第１の方法ステップＭ１では、コントローラが、特定の測定を実行するための要求を受信する。さらなる方法ステップＭ２において、コントローラは、特定の測定に対して実行されるステップの測定スケジュールを確立する。さらなる方法ステップＭ３において、コントローラは、確立された測定スケジュールを測定装置のユーザに出力する。

【0022】

図２及び図３を参照しながら、以下に示す方法Ｍを詳細に説明する。

【0023】

図２は、本発明の例示的な実施形態に係る測定装置１００の概略図である。

【0024】

測定装置１００は、コントローラ１１０と、データベース１２０と、出力装置１３０と、入力装置１４０と、サンプル受取装置１５０と、を備えている。

【0025】

ここに示される例示的な実施形態では、コントローラ１１０は、測定装置１００に組み込まれており、特定の測定を実行するための要求を受信するように構成されている。この要求は、測定装置１００のユーザによって、例えば測定装置１００の入力装置１４０を介してコントローラ１１０に送信され得る。入力装置１４０は、例えば、キーボード、タッチスクリーン等を備えていてもよい。あるいは、要求は、外部インタフェースを介してコントローラ１１０に送信されてもよい。

【0026】

コントローラ１１０はさらに、特定の測定のためにどのステップを実行するかに関して受信した要求に応答して、測定スケジュールを確立するように構成される。この目的のために、コントローラ１１０は、データベース１２０にアクセスすることができ、本例示的実施形態におけるデータベース１２０は、測定装置１００の内部メモリの形態で構成される。この点に関して、データベース１２０は、複数の所定の測定スケジュールを備えていてもよい。この場合、コントローラ１１０は、データベース内の所定の測定スケジュールのうちの１つを選択することによって、特定の測定のための測定スケジュールを確立する。代替的または追加的に、データベース１２０は、材料特性及び測定方法に関する複数の情報を含んでいてもよい。この場合、コントローラは、この複数の情報に基づいて測定スケジュールを自律的に確立する。

【0027】

コントローラ１１０はさらに、確立された測定スケジュールを測定装置１００のユーザに出力するように構成される。例えば、測定装置１００の出力装置１３０をこの目的のために使用することができる。出力装置１３０は、例えば、この目的のためのスクリーン及び／又はスピーカを備えていてもよい。例えば、出力装置１３０と入力装置１４０とをタッチスクリーンに組み合わせてもよい。代替的に又は追加的に、入力装置１４０及びサンプル受取装置１５０のような測定装置１００の個々の構成要素を、例えば、作動させるべきボタン等を照明することで強調表示させてもよい。

【0028】

特に、コントローラ１１０は、特定の測定が実行された後にデータベース１２０を更新するように構成されてもよい。測定に使用したサンプルの材料特性に関する測定結果は、その後、例えばデータベース１２０に記録され、将来の測定及び測定スケジュールのために利用可能となる。また、実施された測定を考慮して、所定の測定スケジュールを修正してもよい。実施した測定に関してこのために必要な情報は、測定装置１００のユーザによってコントローラ１１０に転送されてもよい。代替的または追加的に、コントローラ１１０は、測定装置１００から、又は測定装置１００に組み込まれたセンサから、関連情報を直接受信してもよい。

【0029】

確立された測定スケジュールを出力するための１つのオプションとして、測定スケジュールを複数の個別に実行される測定ステップに分割し、これらの測定ステップが次々にユーザに出力されてもよく、これにより、測定ステップは、先行するステップが実行された場合にのみ出力される。代替的または追加的に、コントローラ１１０は、ユーザが現在の測定ステップが実行されたことを確認するまで、さらなるステップが実行されないように構成されてもよい。コントローラ１１０は、例えば測定装置１００に組み込まれたセンサによって、個別に実行された測定ステップの性能を直接監視することができる。

【0030】

測定装置１００は、特に、材料の熱解析のための装置として構成されてもよい。具体的には、測定装置１００は、示差熱分析、動的示差熱量測定、動的機械分析、熱機械分析などを実行するように構成されてもよい。このような測定プロセスでは、コントローラ１１０によるユーザの支援が特に有利である。

【0031】

図３は、本発明の例示的な実施形態に係る複数の測定装置１００を備えたシステム１０の概略図である。

【0032】

図示の例示的な実施形態では、システム１０は、合計２つの測定装置１００と、コントローラ２００と、データベース３００と、を備えている。

【0033】

システム１０の個々の構成要素は、原則として、図２を参照して説明した対応する構成要素と全く同様に構成することができる。ここに示される例示的な実施形態では、コントローラ２００及びデータベース３００のみが、２つの測定装置１００の外部にある独立した装置として構成されている。しかし、原理的には、データベース３００をコントローラ２００のサブコンポーネントとして構成することもできる。

【0034】

コントローラ２００は、スタンドアロンデバイスとして構成されているため、２つの測定装置１００のいずれかと共に使用するように構成することができる。この構成では、コントローラ２００によって確立される測定スケジュールに、どちらの測定装置１００を使用するかを含めることができる。

【0035】

図３は２台の測定装置１００を示している。しかしながら、任意の数の測定装置１００が提供されてもよい。特に、外部コントローラ２００及び／又は外部データベース３００を備えた個別の測定装置１００を使用することも考えられる。

【0036】

測定装置１００は、同じ機能を有するように構成することもできるし、それぞれの場合に異なる測定を実行するように構成することもできる。用途に応じて、それぞれの測定プロセスを同時に、又は順次実行することができる。

【0037】

データベース３００は、ここではシステム１０の特定の構成要素として示されている。しかしながら、コントローラ２００及び／又はデータベース３００が拡張ネットワーク、具体的にはインターネットに接続され、ローカルに保存する代わりに、このネットワークを介して関連情報を直接取得することも考えられる。

【符号の説明】

【0038】

１０ システム
１００ 測定装置
１１０ コントローラ
１２０ データベース
１３０ 出力装置
１４０ 入力装置
１５０ サンプル受信装置
２００ コントローラ
３００ データベース
Ｍ 方法
Ｍ１ 方法ステップ
Ｍ２ 方法ステップ
Ｍ３ 方法ステップ

【図1】

【図2】

【図3】