特開2024-146170半導体記憶装置及びテスト方法

発明の名称　半導体記憶装置及びテスト方法

出願人　ラピステクノロジー株式会社　（識別番号 320012037）

　　　　特許公開件数ランキング 30447 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 9051 位（1件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2024-146170

公報発行日　2024年10月15

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-146170

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