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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024146377
(43)【公開日】2024-10-15
(54)【発明の名称】分光干渉判定方法、及び分光干渉判定システム
(51)【国際特許分類】
G01N 21/73 20060101AFI20241004BHJP
【ＦＩ】
G01N21/73
【審査請求】未請求
【請求項の数】12
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023059232
(22)【出願日】2023-03-31
(71)【出願人】
【識別番号】323001683
【氏名又は名称】アサヒプリテック株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100124431
【弁理士】
【氏名又は名称】田中 順也
(74)【代理人】
【識別番号】100174160
【弁理士】
【氏名又は名称】水谷 馨也
(74)【代理人】
【識別番号】100175651
【弁理士】
【氏名又は名称】迫田 恭子
(74)【代理人】
【識別番号】100122448
【弁理士】
【氏名又は名称】福井 賢一
(72)【発明者】
【氏名】田村 信也
(72)【発明者】
【氏名】谷口 俊太
(72)【発明者】
【氏名】稲木 隼人
【テーマコード（参考）】
2G043
【Ｆターム（参考）】
2G043AA01
2G043BA01
2G043BA02
2G043BA03
2G043BA04
2G043CA02
2G043EA08
2G043FA06
2G043KA03
2G043NA01
2G043NA06
2G043NA11
(57)【要約】 （修正有）
【課題】既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できる方法を提供する。
【解決手段】判定対象元素の標準試料と、判定に供する測定試料との波形形状の乖離度合が所定の範囲を満たす測定波長のデータを、複数の異なる測定波長から絞り込む工程を行うことにより、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できる。
【選択図】なし
【解決手段】判定対象元素の標準試料と、判定に供する測定試料との波形形状の乖離度合が所定の範囲を満たす測定波長のデータを、複数の異なる測定波長から絞り込む工程を行うことにより、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できる。
【選択図】なし
【特許請求の範囲】
【請求項1】
判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得工程（Ｓ１）と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出工程（Ｓ２）と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出工程（Ｓ６）と、
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）と、を含む、分光干渉判定方法。
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出工程（Ｓ２）と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出工程（Ｓ６）と、
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）と、を含む、分光干渉判定方法。
【請求項2】
前記判定対象元素が、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、及びＰｔからなる群より選択される元素を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記判定対象元素が、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎからなる群より選択される元素を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項4】
前記測定試料が、低濃度金属元素と高濃度金属元素とを含み、
前記低濃度金属元素及び高濃度金属元素のうち、いずれか一方が前記判定対象元素、いずれか他方が前記干渉候補元素であり、
前記高濃度金属元素の濃度が、前記低濃度金属元素の濃度の８倍重量以上である、請求項１に記載の方法。
前記低濃度金属元素及び高濃度金属元素のうち、いずれか一方が前記判定対象元素、いずれか他方が前記干渉候補元素であり、
前記高濃度金属元素の濃度が、前記低濃度金属元素の濃度の８倍重量以上である、請求項１に記載の方法。
【請求項5】
前記データ取得工程（Ｓ１）が、
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む工程（Ｓ１１）と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック工程（Ｓ１２）と、
前記工程（Ｓ１２）で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）と、
前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定工程（Ｓ１４）と、
前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定工程（Ｓ１５）と、
前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定工程（Ｓ１６）とを含む、請求項１に記載の方法。
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む工程（Ｓ１１）と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック工程（Ｓ１２）と、
前記工程（Ｓ１２）で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）と、
前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定工程（Ｓ１４）と、
前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定工程（Ｓ１５）と、
前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定工程（Ｓ１６）とを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項6】
前記乖離スコア算出工程（Ｓ２）において、前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す前記乖離スコア［Ｐｓ］が、平均二乗誤差の負の常用対数として算出され、
前記第１の分光干渉判定工程において、前記乖離スコア［Ｐｓ］の前記所定範囲が２．５超である、請求項１に記載の方法。
前記第１の分光干渉判定工程において、前記乖離スコア［Ｐｓ］の前記所定範囲が２．５超である、請求項１に記載の方法。
【請求項7】
前記干渉候補元素が、前記対象波長から低波長側及び高波長側の両方に０．００９～０．０２１ｎｍ以内の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲以内で検出される元素に設定される、請求項１に記載の方法。
【請求項8】
前記影響度算出工程（Ｓ６）において、前記影響度［Ｐｅ］が、（前記干渉候補元素の濃度×前記干渉候補元素のピーク強度）／（前記判定対象元素の濃度×前記判定対象元素の前記対象波長でのピーク強度）により算出される、請求項１に記載の方法。
【請求項9】
前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程（Ｓ５２）を含む、請求項８に記載の方法。
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程（Ｓ５２）を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項10】
前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程（Ｓ５３）を含む、請求項８に記載の方法。
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程（Ｓ５３）を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項11】
前記判定対象元素の前記対象波長を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択する、対象波長選択工程（Ｓ４）を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項12】
判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得部と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部と、
前記ｎ個原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部と、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部と、を含む、分光干渉判定システム。
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部と、
前記ｎ個原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部と、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部と、を含む、分光干渉判定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、分光干渉判定方法、及び分光干渉判定システムに関する。
【背景技術】
【0002】
ＩＣＰ（高周波誘導結合プラズマ）発光分光分析装置は、アルゴンプラズマを発光光源として使用し、霧状にした溶液サンプルをプラズマに導入することで元素固有のスペクトルを発光させ、スペクトルの発光波長から元素を特定し、スペクトルの発光強度から元素を定量する。
【0003】
ＩＣＰ発光分光分析においては、元素の発光スペクトル線の数が非常に多いため、対象元素のスペクトル線に、近傍の発光波長を有する共存元素のスペクトル線が重なる現象、つまり分光干渉が生じる。分光干渉の影響を受けた対象元素の見かけの発光強度は、実際よりも見かけ上大きくなる。このような見かけの発光強度に基づいて対象元素の濃度を算出すると、実際の濃度より高くなる問題がある。ＩＣＰ発行分光分析では、上記の問題への対処法が提案されている。
【0004】
例えば、特許文献１では、試料の測定により取得された目的元素や共存元素のスペクトル強度をバックグラウンド補正することで純粋なスペクトルのピーク高さを算出し、そのピーク高さ（上記「バックグラウンド補正」を施した強度値）を用いて、濃度（定量値）に変換することなく干渉量を算出し、補正する方法が開示されている。
【0005】
特許文献２では、あらかじめ定量する目的元素に対し、ＩＣＰ発光分光分析に使用する光の波長と、目的元素に係る測定結果に与える共存元素の単位濃度あたりの分光干渉度合いとの関係を表すデータを取得し、分光干渉度合いの合計が許容範囲内か否かを判定し、許容範囲内のものを測定値として使用可能とする方法が開示されている。
【0006】
特許文献３では、分光干渉による影響が少なく感度の高いピーク波長を準備し、優先順位をつけ、その複数のピーク波長を分析値の近いもの同士へと仲間分けし、一つの仲間に属するピーク波長の数が最も多い仲間を選択し、該仲間中のピーク波長のうち最も前記優先順位が高いピーク波長を選択して分析値を決定する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【特許文献1】特開２００６－２７５８９２号公報
【特許文献2】特開２０２１－１５６７２０号公報
【特許文献3】特開２０２２－１５０５８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
ＩＣＰ発光分光分析の主な用途として、金属の定量分析（例えば、完成品が要求仕様を満足しているかの確認、他社品の調査、製品不具合時の成分比確認、開発品の化学的評価等の目的で用いられる）、清浄度測定（例えば、電子基板などの清浄度試験における汚染度測定、洗浄工程の効果確認、残留塩類の定量化等の目的で用いられる）、その他元素分析（例えば、未知化合物の精密定量、開発品又は不具合品の成分比確認、リサイクル品のレアメタル又は有害物の存在の確認等の目的で用いられる）がある。
【0009】
一方、レアメタルのように希少な元素が、ハイテク製品及び省エネ製品等への使用で需要が高まっている。さらに、レアメタルの価格の乱高下リスクを背景に、使用済み製品又は廃棄物からのレアメタルのリサイクルが、極めて重要な取り組みとして認識されている。このような取り組みにおいて、レアメタルの分離回収の方法について技術開発が活発に行われているが、使用済み製品又は廃棄物から得られるレアメタル廃液又はその粗精製分離物に対する元素の定量手法については十分に検討されていない。
【0010】
ここで、ＩＣＰ発光分光分析における分光干渉に対するこれまでの対処法では、既知の分光干渉パターンをデータベース化した分光干渉データを用いて分光干渉度合いを判断することが前提となっている。しかしながら、このようなデータベースには、予め想定されている分光干渉データしか収容されていないため、想定されていない分光干渉の影響を判定することはできず、判定可能な試料が制限される。
【0011】
本発明者は、既存の分光干渉データベースを用いて、レアメタル廃液に含まれる全元素のＩＣＰ発光分光分析による定量を試みたところ、多くの想定外の分光干渉の影響が生じており、既存の分光干渉データベースでは分光干渉判定できず定量に支障する問題に直面した。
【0012】
既存の分光干渉データベースで対応できない分光干渉については、人が判定する必要がある。人による判定では、波形の形状及び／又は検量線からの濃度等を考慮して分光干渉の有無を臨機応変に判断できる。しかしながら、人による分光干渉判定の精度は、分析者の熟練度に大きく依存するため、均質性を担保することが出来ないという問題がある。さらに、試料に含まれる元素組成が複雑であるほど工数が多くなるため、逐一人が判断するのは定常作業として現実的ではないという問題もある。
【0013】
このような既存の分光干渉データベースで対応できない分光干渉がもたらす問題は、レアメタル廃液だけでなく、当該データベースで想定されていない元素組成を有するあらゆる試料で想定される。
【0014】
そこで、本発明は、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できる方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0015】
本発明者らは、鋭意検討の結果、判定対象元素の標準試料と、判定に供する測定試料との波形形状の乖離度合が所定の範囲を満たす測定波長のデータを、複数の異なる測定波長から絞り込む工程を行うことにより、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できることを見出した。本発明は、この知見に基づいてさらに検討を重ねることにより完成したものである。
【0016】
即ち、本発明は、下記に掲げる態様の発明を提供する。
項１． 判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得工程（Ｓ１）と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出工程（Ｓ２）と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出工程（Ｓ６）と、
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）と、を含む、分光干渉判定方法。
項２． 前記判定対象元素が、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、及びＰｔからなる群より選択される元素を含む、項１に記載の方法。
項３． 前記判定対象元素が、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎからなる群より選択される元素を含む、項１又は２に記載の方法。
項４． 前記測定試料が、低濃度金属元素と高濃度金属元素とを含み、
前記低濃度金属元素及び高濃度金属元素のうち、いずれか一方が前記判定対象元素、いずれか他方が前記干渉候補元素であり、
前記高濃度金属元素の濃度が、前記低濃度金属元素の濃度の８倍重量以上である、項１～３のいずれかに記載の方法。
項５． 前記データ取得工程（Ｓ１）が、
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む工程（Ｓ１１）と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック工程（Ｓ１２）と、
前記工程（Ｓ１２）で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）と、
前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定工程（Ｓ１４）と、
前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定工程（Ｓ１５）と、
前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定工程（Ｓ１６）とを含む、項１～４のいずれかに記載の方法。
項６． 前記乖離スコア算出工程（Ｓ２）において、前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す前記乖離スコア［Ｐｓ］が、平均二乗誤差の負の常用対数として算出され、
前記第１の分光干渉判定工程において、前記乖離スコア［Ｐｓ］の前記所定範囲が２．５超である、項１～５のいずれかに記載の方法。
項７． 前記干渉候補元素が、前記対象波長から低波長側及び高波長側の両方に０．００９～０．０２１ｎｍ以内の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲以内で検出される元素に設定される、項１～６のいずれかに記載の方法。
項８． 前記影響度算出工程（Ｓ６）において、前記影響度［Ｐｅ］が、（前記干渉候補元素の濃度×前記干渉候補元素のピーク強度）／（前記判定対象元素の濃度×前記判定対象元素の前記対象波長でのピーク強度）により算出される、項１～７のいずれかに記載の方法。
項９． 前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程（Ｓ５２）を含む、項８に記載の方法。
項１０． 前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程（Ｓ５３）を含む、項８又は９に記載の方法。
項１１． 前記判定対象元素の前記対象波長を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択する、対象波長選択工程（Ｓ４）を含む、項１～８のいずれかに記載の方法。
項１２． 判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得部と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部と、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部と、を含む、分光干渉判定システム。
項１． 判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得工程（Ｓ１）と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出工程（Ｓ２）と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出工程（Ｓ６）と、
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）と、を含む、分光干渉判定方法。
項２． 前記判定対象元素が、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、及びＰｔからなる群より選択される元素を含む、項１に記載の方法。
項３． 前記判定対象元素が、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎからなる群より選択される元素を含む、項１又は２に記載の方法。
項４． 前記測定試料が、低濃度金属元素と高濃度金属元素とを含み、
前記低濃度金属元素及び高濃度金属元素のうち、いずれか一方が前記判定対象元素、いずれか他方が前記干渉候補元素であり、
前記高濃度金属元素の濃度が、前記低濃度金属元素の濃度の８倍重量以上である、項１～３のいずれかに記載の方法。
項５． 前記データ取得工程（Ｓ１）が、
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む工程（Ｓ１１）と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック工程（Ｓ１２）と、
前記工程（Ｓ１２）で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）と、
前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定工程（Ｓ１４）と、
前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定工程（Ｓ１５）と、
前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定工程（Ｓ１６）とを含む、項１～４のいずれかに記載の方法。
項６． 前記乖離スコア算出工程（Ｓ２）において、前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す前記乖離スコア［Ｐｓ］が、平均二乗誤差の負の常用対数として算出され、
前記第１の分光干渉判定工程において、前記乖離スコア［Ｐｓ］の前記所定範囲が２．５超である、項１～５のいずれかに記載の方法。
項７． 前記干渉候補元素が、前記対象波長から低波長側及び高波長側の両方に０．００９～０．０２１ｎｍ以内の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲以内で検出される元素に設定される、項１～６のいずれかに記載の方法。
項８． 前記影響度算出工程（Ｓ６）において、前記影響度［Ｐｅ］が、（前記干渉候補元素の濃度×前記干渉候補元素のピーク強度）／（前記判定対象元素の濃度×前記判定対象元素の前記対象波長でのピーク強度）により算出される、項１～７のいずれかに記載の方法。
項９． 前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程（Ｓ５２）を含む、項８に記載の方法。
項１０． 前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）を含み、
前記工程（Ｓ５）が、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程（Ｓ５３）を含む、項８又は９に記載の方法。
項１１． 前記判定対象元素の前記対象波長を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択する、対象波長選択工程（Ｓ４）を含む、項１～８のいずれかに記載の方法。
項１２． 判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得部と、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部と、
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部と、
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部と、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部と、を含む、分光干渉判定システム。
【発明の効果】
【0017】
本発明によれば、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉であっても、分析者の熟練度に依存することなく自動判定できる。
【図面の簡単な説明】
【0018】
【図1】本発明の分光干渉判定方法の実施形態のフローチャートを示す。
【図4】乖離スコア［Ｐｓ］の算出対象となる判定対象元素の測定波形と標準波形との組み合わせの例（乖離度合が小さい例）を示す。
【図5】乖離スコア［Ｐｓ］の算出対象となる判定対象元素の測定波形と標準波形との組み合わせの例（乖離度合が大きい例）を示す。
【図6】第１補正工程（Ｓ５２）の対象となる判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとの位置関係の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【0019】
１．分光干渉判定方法
本発明の分光干渉判定方法は、データ取得工程、乖離スコア算出工程、及び第１の分光干渉判定工程を必須工程として含む。本発明の分光干渉判定方法の好ましい実施形態においては、さらに、影響度算出工程、及び第２の分光干渉判定工程を含む。本発明の分光干渉判定方法のより好ましい実施形態においては、対象波長選択工程、及び干渉候補元素のピーク強度決定工程をさらに含むことができ；データ取得工程は、内標準チェック工程、濃度外れ値判定工程、検出限界判定工程、検量線判定工程、及び有効強度判定工程をさらに含むことができ；干渉候補元素のピーク強度決定工程は、第１補正工程及び／又は第２補正工程を含むことができる。
本発明の分光干渉判定方法は、データ取得工程、乖離スコア算出工程、及び第１の分光干渉判定工程を必須工程として含む。本発明の分光干渉判定方法の好ましい実施形態においては、さらに、影響度算出工程、及び第２の分光干渉判定工程を含む。本発明の分光干渉判定方法のより好ましい実施形態においては、対象波長選択工程、及び干渉候補元素のピーク強度決定工程をさらに含むことができ；データ取得工程は、内標準チェック工程、濃度外れ値判定工程、検出限界判定工程、検量線判定工程、及び有効強度判定工程をさらに含むことができ；干渉候補元素のピーク強度決定工程は、第１補正工程及び／又は第２補正工程を含むことができる。
【0020】
図１に、本発明の分光干渉判定方法の実施形態のフローチャートを示す。図１の実施形態は、データ取得工程（Ｓ１）、乖離スコア算出工程（Ｓ２）、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）、対象波長選択工程（Ｓ４）、干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）、影響度算出工程（Ｓ６）、及び第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）を含む。
【0021】
図２に、図１の干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）のサブフローの一例を示す。図２に例示されるピーク強度決定工程は、第１補正工程（Ｓ５２）及び第２補正工程（Ｓ５３）を含む。図３に、図１のデータ取得工程（Ｓ１）のサブフローの一例を示す。図３に例示されるデータ取得工程は、内標準チェック工程（Ｓ１２）、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）、検出限界判定工程（Ｓ１４）、検量線判定工程（Ｓ１５）、及び有効強度判定工程（Ｓ１６）を含む。
【0022】
以下、図１～３のフローチャートを参照して、本発明の分光干渉判定方法の実施形態について詳述する。
【0023】
１－１．データ取得工程（Ｓ１）
データ取得工程（図１のＳ１）では、判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する。
データ取得工程（図１のＳ１）では、判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する。
【0024】
１－１－１．判定対象元素を含む測定試料
測定試料に含まれる判定対象元素としては、原子分光分析で測定可能な元素であれば特に限定されない。判定対象元素の具体例としては、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、及びＰｔからなる群より選択される元素、並びに／若しくは、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎからなる群より選択される元素が挙げられる。
測定試料に含まれる判定対象元素としては、原子分光分析で測定可能な元素であれば特に限定されない。判定対象元素の具体例としては、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、及びＰｔからなる群より選択される元素、並びに／若しくは、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎからなる群より選択される元素が挙げられる。
【0025】
本発明で用いられる測定試料は、既存の分光干渉データベースで対応できない分光干渉が特に顕著に認められる試料として、低濃度金属元素と高濃度金属元素とを含み、前記低濃度金属元素及び高濃度金属元素のうち、いずれか一方が前記判定対象元素、いずれか他方が前記干渉候補元素であり、且つ前記高濃度金属元素の濃度が、前記低濃度金属元素の濃度の８倍重量以上又は１０倍重量以上、好ましくは２０倍重量以上、３０倍重量以上、４０倍重量以上、５０倍重量以上、６０倍重量以上、又は７０倍重量以上、より好ましくは８０倍重量以上、さらに好ましくは９０倍重量以上、一層好ましくは１００倍重量以上であるものが好ましい。
【0026】
本発明で用いられる測定試料のより具体的な例としては、都市鉱山（つまり、廃棄された家電製品及び工業製品等の中に存在する金属資源）のリサイクル過程で発生する処理液、めっき廃液、貴金属の湿式精錬における処理液等が挙げられる。
【0027】
１－１－２．原子分光分析データの数
原子分光分析データ数ｎ（ｎ≧２の整数）は、測定波長数ｎ（ｎ≧２の整数）に応じて定まるが、本発明の分光干渉判定方法の終了までに再測定が決定されることで振り出しに戻る確率を低減する観点から、多い方が好ましい。従って、原子分光分析データ数ｎとしては、好ましくは≧３、より好ましくはｎ≧４、さらに好ましくはｎ≧５の整数が挙げられる。
原子分光分析データ数ｎ（ｎ≧２の整数）は、測定波長数ｎ（ｎ≧２の整数）に応じて定まるが、本発明の分光干渉判定方法の終了までに再測定が決定されることで振り出しに戻る確率を低減する観点から、多い方が好ましい。従って、原子分光分析データ数ｎとしては、好ましくは≧３、より好ましくはｎ≧４、さらに好ましくはｎ≧５の整数が挙げられる。
【0028】
１－１－３．原子分光分析データの種類
本発明において、原子分光分析データは、ＩＣＰ（高周波誘導結合プラズマ）発光分光分析測定によるデータであってもよいし、それ以外の分光分析法（例えば、原子吸光分光
分析法等）測定によるデータであってもよい。
本発明において、原子分光分析データは、ＩＣＰ（高周波誘導結合プラズマ）発光分光分析測定によるデータであってもよいし、それ以外の分光分析法（例えば、原子吸光分光
分析法等）測定によるデータであってもよい。
【0029】
１－１－４．原子分光分析データの内容
原子分光分析データの内容としては、測定濃度データを取得可能な内容であれば特に限定されない。当該測定濃度は、測定対象元素のピークの強度が共存元素の分光干渉によって上乗せされることで、真の濃度よりも見かけ上大きくなっている可能性があるものであり、所謂「見かけ濃度」を意味する。
原子分光分析データの内容としては、測定濃度データを取得可能な内容であれば特に限定されない。当該測定濃度は、測定対象元素のピークの強度が共存元素の分光干渉によって上乗せされることで、真の濃度よりも見かけ上大きくなっている可能性があるものであり、所謂「見かけ濃度」を意味する。
【0030】
１－１－５．原子分光分析データの形式
取得される原子分光分析データ形式については特に限定されず、原子分光分析測定の結果を取得できる任意のソフトウェアによる出力形式が挙げられる。ソフトウェアの具体例としては、例えばＩＣＰ発光分光分析測定結果の取得においては、Ａｇｉｌｅｎｔ ＩＣＰ Ｅｘｐｅｒｔ ｓｙｓｔｅｍが挙げられる。
取得される原子分光分析データ形式については特に限定されず、原子分光分析測定の結果を取得できる任意のソフトウェアによる出力形式が挙げられる。ソフトウェアの具体例としては、例えばＩＣＰ発光分光分析測定結果の取得においては、Ａｇｉｌｅｎｔ ＩＣＰ Ｅｘｐｅｒｔ ｓｙｓｔｅｍが挙げられる。
【0031】
１－１－６．ｎ個の原子分光分析データの取得のために行われ得る前処理
ｎ個の原子分光分析データは、原子分光分析測定装置により測定されたデータそのものであってもよいし、予め前処理として任意の判定処理を経たものであってもよい。例えば、本発明の好ましい実施形態においては、ｎ個の原子分光分析データは、図３に示される前処理（つまり、Ｎ個の原子分光分析データ読み込み工程（Ｓ１１）、内標準チェック工程（Ｓ１２）、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）、検出限界判定工程（Ｓ１４）、検量線判定工程（Ｓ１５）、及び有効強度判定工程（Ｓ１６））に供されたものとして取得してもよい。
ｎ個の原子分光分析データは、原子分光分析測定装置により測定されたデータそのものであってもよいし、予め前処理として任意の判定処理を経たものであってもよい。例えば、本発明の好ましい実施形態においては、ｎ個の原子分光分析データは、図３に示される前処理（つまり、Ｎ個の原子分光分析データ読み込み工程（Ｓ１１）、内標準チェック工程（Ｓ１２）、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）、検出限界判定工程（Ｓ１４）、検量線判定工程（Ｓ１５）、及び有効強度判定工程（Ｓ１６））に供されたものとして取得してもよい。
【0032】
１－１－６－１．Ｎ個の原子分光分析データ読み込み工程（Ｓ１１）
この前処理を行う場合、まず、判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧２、但しＮ≧ｎ、好ましくはＮ≧３、より好ましくはＮ≧４、さらに好ましくはＮ≧５の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む（Ｓ１１）。これによって、Ｎ個の原子分光分析データから測定濃度（見かけ濃度）データを取得する。
この前処理を行う場合、まず、判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧２、但しＮ≧ｎ、好ましくはＮ≧３、より好ましくはＮ≧４、さらに好ましくはＮ≧５の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む（Ｓ１１）。これによって、Ｎ個の原子分光分析データから測定濃度（見かけ濃度）データを取得する。
【0033】
１－１－６－２．内標準チェック工程（Ｓ１２）
Ｎ個の原子分光分析データを読み込んだ（Ｓ１１）後、内標準チェック工程（Ｓ１２）では、Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する。有効範囲は適宜設定すればよい。具体的には、内標準補正比が所定の有効範囲外であるか否かが判断され（Ｓ１２）、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっていない場合（Ｓ１２のＹｅｓ）は、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１２１）、そうでない場合（Ｓ１２のＮｏ）は、次の工程に進む。Ｎ個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１２１）た後、残存データ数Ｎ１がゼロであるか否かが判断され（Ｓ１２２）、残存データ数Ｎ１がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１２２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１２２のＮｏ）は次の工程に進む。内標準元素としては、発光強度が大きく、測定元素との分光干渉がなく、またサンプル中に含まれない元素であれば、特に限定されない。また、原子線を測定する際には原子線の内標準元素を選択し、イオン線を測定する際にはイオン線の内標準元素を選択することが好ましい。
Ｎ個の原子分光分析データを読み込んだ（Ｓ１１）後、内標準チェック工程（Ｓ１２）では、Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する。有効範囲は適宜設定すればよい。具体的には、内標準補正比が所定の有効範囲外であるか否かが判断され（Ｓ１２）、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっていない場合（Ｓ１２のＹｅｓ）は、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１２１）、そうでない場合（Ｓ１２のＮｏ）は、次の工程に進む。Ｎ個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１２１）た後、残存データ数Ｎ１がゼロであるか否かが判断され（Ｓ１２２）、残存データ数Ｎ１がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１２２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１２２のＮｏ）は次の工程に進む。内標準元素としては、発光強度が大きく、測定元素との分光干渉がなく、またサンプル中に含まれない元素であれば、特に限定されない。また、原子線を測定する際には原子線の内標準元素を選択し、イオン線を測定する際にはイオン線の内標準元素を選択することが好ましい。
【0034】
１－１－６－３．濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）
まず、前記工程（Ｓ１２）による残存データ数Ｎ１が３未満であるか否かが判断される（Ｓ１３０）。残存データ数Ｎ１が３未満でない場合（Ｓ１３０のＮｏ）、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）が行われ、そうでない場合（Ｓ１３０のＹｅｓ）、本工程をスキップする。
まず、前記工程（Ｓ１２）による残存データ数Ｎ１が３未満であるか否かが判断される（Ｓ１３０）。残存データ数Ｎ１が３未満でない場合（Ｓ１３０のＮｏ）、濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）が行われ、そうでない場合（Ｓ１３０のＹｅｓ）、本工程をスキップする。
【0035】
濃度外れ値判定工程（Ｓ１３）では、前記工程（Ｓ１２）で選択されたＮ１個のデータから、判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する。外れ値に該当するか否かは、測定濃度が正規分布範囲外であるか否かに基づいて判断することができ、その具体的な手法は、当業者が適宜決定することができる。例えば、各測定波長での濃度を元に、測定波長ごとに統計量を算出し、算出された統計量が臨界値を超えている測定波長でのデータを、外れ値を含むデータと判定できる。より具体的な例において、統計量は、Ｓｍｉｒｎｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定法に基づき、以下の式１に基づいて算出できる。
【数1】
【0036】
本工程では、具体的には、判定対象元素の測定濃度が正規分布範囲外であるか否かが判断され（Ｓ１３）、測定濃度が正規分布範囲外である場合（Ｓ１３のＹｅｓ）は、当該測定波長でのデータは除外される（Ｓ１３１）、そうでない場合（Ｓ１３のＮｏ）は、次の工程に進む。Ｎ１個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１３１）た後、残存データ数Ｎ２がゼロであるか否かが判断され（Ｓ１３２）、残存データ数Ｎ２がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１３２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１３２のＮｏ）は次の工程に進む。
【0037】
１－１－６－４．濃度の検出限界判定工程（Ｓ１４）
前記工程（Ｓ１２）による残存データ数Ｎ１が３未満である場合（Ｓ１３０のＹｅｓ）、及び前記工程（Ｓ１３）による残存データ数Ｎ２がゼロでない場合（Ｓ１３のＮｏ）、濃度の検出限界判定工程（Ｓ１４）が行われる。濃度の検出限界判定工程（Ｓ１４）では、前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で上述のように選択されたデータが、判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する。具体的には、判定対象元素について検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が、残存データ数（前記工程（Ｓ１２）により残存したデータ数Ｎ１又は前記工程（Ｓ１３）により残存したデータ数Ｎ２）の半分未満か否かが判断され（Ｓ１４）、検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が残存データ数（Ｎ１又はＮ２）の半分未満である場合（Ｓ１４のＹｅｓ）は、判定対象元素が検出下限未満であると判定し（Ｓ１４１）、判定処理を終了する。検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が残存データ数（Ｎ１又はＮ２）の半分以上である場合（Ｓ１４のＮｏ）は、次の工程に進む。
前記工程（Ｓ１２）による残存データ数Ｎ１が３未満である場合（Ｓ１３０のＹｅｓ）、及び前記工程（Ｓ１３）による残存データ数Ｎ２がゼロでない場合（Ｓ１３のＮｏ）、濃度の検出限界判定工程（Ｓ１４）が行われる。濃度の検出限界判定工程（Ｓ１４）では、前記工程（Ｓ１２）又は前記工程（Ｓ１３）で上述のように選択されたデータが、判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する。具体的には、判定対象元素について検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が、残存データ数（前記工程（Ｓ１２）により残存したデータ数Ｎ１又は前記工程（Ｓ１３）により残存したデータ数Ｎ２）の半分未満か否かが判断され（Ｓ１４）、検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が残存データ数（Ｎ１又はＮ２）の半分未満である場合（Ｓ１４のＹｅｓ）は、判定対象元素が検出下限未満であると判定し（Ｓ１４１）、判定処理を終了する。検出下限濃度以上の測定濃度を示すデータ数が残存データ数（Ｎ１又はＮ２）の半分以上である場合（Ｓ１４のＮｏ）は、次の工程に進む。
【0038】
検出下限濃度については適宜設定することができるが、例えば０．０１ｍｇ／Ｌ、好ましくは０．０５ｍｇ／Ｌに設定することができる。
【0039】
１－１－６－５．検量線判定工程（Ｓ１５）
検量線判定工程（Ｓ１５）では、前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する。具体的には、判定対象元素の検出強度が検量線の範囲（つまり、検量線の最低濃度以上最大濃度以下）を超えているか否かが判断され（Ｓ１５）、検出強度が検量線の範囲を超えている場合（Ｓ１５のＹｅｓ）、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１５１）、そうでない場合（Ｓ１５のＮｏ）は、次の工程に進む。Ｎ１個又はＮ２個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１５１）た後、残存データ数Ｎ３がゼロであるか否かが判断され（Ｓ１５２）、残存データ数Ｎ３がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１５２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１５２のＮｏ）は次の工程に進む。
検量線判定工程（Ｓ１５）では、前記工程（Ｓ１４）を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する。具体的には、判定対象元素の検出強度が検量線の範囲（つまり、検量線の最低濃度以上最大濃度以下）を超えているか否かが判断され（Ｓ１５）、検出強度が検量線の範囲を超えている場合（Ｓ１５のＹｅｓ）、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１５１）、そうでない場合（Ｓ１５のＮｏ）は、次の工程に進む。Ｎ１個又はＮ２個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１５１）た後、残存データ数Ｎ３がゼロであるか否かが判断され（Ｓ１５２）、残存データ数Ｎ３がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１５２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１５２のＮｏ）は次の工程に進む。
【0040】
１－１－６－６．強度判定工程（Ｓ１６）
強度判定工程（Ｓ１６）では、前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する。具体的には、判定対象元素の検出強度とブランク強度との有意差が無いか否かが判断され（Ｓ１６）、判定対象元素の検出強度とブランク強度との有意差が無い場合（Ｓ１６のＹｅｓ）、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１６１）、そうでない場合（Ｓ１６のＮｏ）は、残存したデータを、ｎ種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データとして取得終了する。Ｎ３個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１６１）た後、残存データ数ｎがゼロであるか否かが判断され（Ｓ１６２）、残存データ数ｎがゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１６２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１６２のＮｏ）は、残存したデータを、ｎ種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データとして取得終了する。取得されたｎ個の原子分光分析データは、乖離スコア算出工程（Ｓ２）に供される。
強度判定工程（Ｓ１６）では、前記工程（Ｓ１５）で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する。具体的には、判定対象元素の検出強度とブランク強度との有意差が無いか否かが判断され（Ｓ１６）、判定対象元素の検出強度とブランク強度との有意差が無い場合（Ｓ１６のＹｅｓ）、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ１６１）、そうでない場合（Ｓ１６のＮｏ）は、残存したデータを、ｎ種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データとして取得終了する。Ｎ３個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ１６１）た後、残存データ数ｎがゼロであるか否かが判断され（Ｓ１６２）、残存データ数ｎがゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ１６２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ１６２のＮｏ）は、残存したデータを、ｎ種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データとして取得終了する。取得されたｎ個の原子分光分析データは、乖離スコア算出工程（Ｓ２）に供される。
【0041】
１－２．乖離スコア算出工程（Ｓ２）
乖離スコア算出工程（図１のＳ２）では、前記複数の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する。
乖離スコア算出工程（図１のＳ２）では、前記複数の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する。
【0042】
図４および図５に、乖離スコア［Ｐｓ］の算出対象となる判定対象元素の測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓとの組み合わせを例示する。図４は標準波形Ｗｓと測定波形Ｗｍとの乖離度合が小さい例であり、図５は標準波形Ｗｓと測定波形Ｗｍとの乖離度合が大きい例である。乖離スコア［Ｐｓ］は、これらの乖離度合を示す数値である。
【0043】
乖離スコア［Ｐｓ］の算出方法としては特に限定されず、波形の乖離度合を評価する指標を算出できる任意の方法が採用される。波形の乖離度合を評価する指標の具体例としては、ＭＳＥ（平均二乗誤差）、コサイン類似度等を利用する指標が挙げられる。
【0044】
波形の乖離度合を評価する指標として、ＭＳＥ（平均二乗誤差）を利用する指標を用いる場合、乖離スコア［Ｐｓ］は、以下の式２に示す通り平均二乗誤差（ＭＳＥ）の負の常用対数として算出することができる。
【数2】
【0045】
１－３．第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）
第１の分光干渉判定工程（図１のＳ３）では、前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する。具体的には、上記工程（Ｓ２）で算出された乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でないか否かが判断され（Ｓ３）、乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でない場合（Ｓ３のＹｅｓ）、一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合が大きく（つまり、判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が大きく）許容範囲外となるため、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ３１）、そうでない（乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内である）場合（Ｓ３のＮｏ）は、次の工程に進む。ｎ個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ３１）た後、残存データ数ｎ１がゼロであるか否かが判断され（Ｓ３２）、残存データ数ｎ１がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ３２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ３２のＮｏ）は次の工程に進む。
第１の分光干渉判定工程（図１のＳ３）では、前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内にない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する。具体的には、上記工程（Ｓ２）で算出された乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でないか否かが判断され（Ｓ３）、乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でない場合（Ｓ３のＹｅｓ）、一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合が大きく（つまり、判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が大きく）許容範囲外となるため、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ３１）、そうでない（乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内である）場合（Ｓ３のＮｏ）は、次の工程に進む。ｎ個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ３１）た後、残存データ数ｎ１がゼロであるか否かが判断され（Ｓ３２）、残存データ数ｎ１がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ３２のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ３２のＮｏ）は次の工程に進む。
【0046】
なお、乖離スコア［Ｐｓ］として、上記の平均二乗誤差（ＭＳＥ）の負の常用対数を用いる場合、乖離スコア［Ｐｓ］が２．５超、好ましくは３．０超である場合を判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が大きく許容範囲外と判定することができる。この判定においては、判定対象元素の検量線に基づく濃度に関わらず、１種類の乖離スコア［Ｐｓ］を用いることができる。また、本発明の一実施形態においては、判定対象元素の検量線に基づく濃度に応じて乖離スコア［Ｐｓ］の基準を複数設けることもできる。この場合、具体的には、判定対象元素の検量線に基づく濃度が２ｍｇ／ｍＬ以上である場合、分光干渉度合が許容範囲外と判定する乖離スコア［Ｐｓ］の範囲を３．０超と設定することができ、判定対象元素の検量線に基づく濃度が２ｍｇ／ｍＬ未満である場合、分光干渉度合が許容範囲外と判定する乖離スコア［Ｐｓ］の範囲を２．５超と設定することができる。
【0047】
１－４．対象波長選択工程（Ｓ４）
対象波長選択工程（図１のＳ４）では、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）で選択されたｎ１個の原子分光分析データについて、判定対象元素の対象波長（つまり判定対象元素のピーク波長）を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択することができる。優先順位［Ｐо］としては、デフォルトの順位を採用してもよいし、当業者が適宜設定した順位を用いてもよい。また、解析履歴を参照して、適宜順位を変更してもよい。
対象波長選択工程（図１のＳ４）では、第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）で選択されたｎ１個の原子分光分析データについて、判定対象元素の対象波長（つまり判定対象元素のピーク波長）を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択することができる。優先順位［Ｐо］としては、デフォルトの順位を採用してもよいし、当業者が適宜設定した順位を用いてもよい。また、解析履歴を参照して、適宜順位を変更してもよい。
【0048】
１－５．干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）
干渉候補元素のピーク強度決定工程（図１のＳ５）では、ｎ１個の原子分光分析データにおいて、干渉候補元素のピーク強度を決定する。
干渉候補元素のピーク強度決定工程（図１のＳ５）では、ｎ１個の原子分光分析データにおいて、干渉候補元素のピーク強度を決定する。
【0049】
１－５－１．干渉候補元素の選択
干渉候補元素の具体的な選択基準は、当業者が適宜決定することができる。本発明の好ましい実施形態においては、干渉候補元素としては、対象波長（判定対象元素のピーク波長）から低波長側及び高波長側の両方に０．００９～０．０２１ｎｍ以内の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲以内で検出される元素を選択することができる。
干渉候補元素の具体的な選択基準は、当業者が適宜決定することができる。本発明の好ましい実施形態においては、干渉候補元素としては、対象波長（判定対象元素のピーク波長）から低波長側及び高波長側の両方に０．００９～０．０２１ｎｍ以内の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲以内で検出される元素を選択することができる。
【0050】
１－５－２．干渉候補元素のピーク強度の決定方法
干渉候補元素のピーク強度を決定する具体的な方法については特に限定されず、当業者が適宜決定することができる。本発明の好ましい実施形態においては、干渉候補元素のピーク強度を決定する具体的な方法として、図２に示す処理を行うことができる。
干渉候補元素のピーク強度を決定する具体的な方法については特に限定されず、当業者が適宜決定することができる。本発明の好ましい実施形態においては、干渉候補元素のピーク強度を決定する具体的な方法として、図２に示す処理を行うことができる。
【0051】
図２に示す処理においては、まず、判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとが一致か否かが判断され（Ｓ５１）、一致である場合（Ｓ５１のＹｅｓ）は、第１補正工程（Ｓ５３）を行い、不一致である場合（Ｓ５１のＮｏ）は、第２補正工程（Ｓ５２）を行う。なお、ピークの一致とは、見かけ上１個のピークとして認められる態様をいい、見かけ上ピーク割れ又は肩ピークが認められる態様は該当しない。このため、ピークの一致は、見かけ上１個のピークとして認められる態様であれば、対象波長（判定対象元素のピーク波長）と干渉候補元素のピーク波長とが完全一致でなくてよい。
【0052】
１－５－２－１．第１補正工程（Ｓ５２）
第１補正工程（図３のＳ５２）では、干渉候補元素のピーク強度を、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対して補正をかけることによって算出する。ここで、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］は、干渉検知幅内にある干渉候補元素であればどのようなものでも（対象波長（判定対象元素のピーク波長）からの距離にかかわらず）判定対象元素の測定濃度への影響度合いが同じである前提で設定されている強度であり、このような干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］は、通常の干渉判定プログラムに搭載されている。
第１補正工程（図３のＳ５２）では、干渉候補元素のピーク強度を、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対して補正をかけることによって算出する。ここで、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］は、干渉検知幅内にある干渉候補元素であればどのようなものでも（対象波長（判定対象元素のピーク波長）からの距離にかかわらず）判定対象元素の測定濃度への影響度合いが同じである前提で設定されている強度であり、このような干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］は、通常の干渉判定プログラムに搭載されている。
【0053】
第１補正工程では、干渉候補元素による判定対象元素の測定濃度への影響度が、当該干渉候補元素のピーク波長と対象波長（判定対象元素のピーク波長）との距離が短いほど大きい（具体的には、図６に示すように、干渉候補元素のピーク波長から遠い干渉候補元素のピーク１と、近い干渉候補元素のピーク２とは、濃度が同程度であるにもかかわらず、ピーク２の方が、干渉候補元素のピークの見かけ濃度への影響度が大きい）ことを考慮し、その影響度に対応する量を補正する。具体的には、対象波長（判定対象元素のピーク波長）と干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、当該干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、当該補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで当該干渉候補元素のピーク強度を算出する。補正量としては、好ましくは、対象波長（判定対象元素のピーク波長）と干渉候補元素のピーク波長との距離（単位はｐｍ）を用いることができ、当該補正量に応じて干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］が小さくなるように補正をかける方法としては、好ましくは、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］を当該補正量（但し＞０）で除する方法を用いることができる。
【0054】
１－５－２－２．第２補正工程（Ｓ５３）
第２補正工程（図３のＳ５３）では、干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る。
第２補正工程（図３のＳ５３）では、干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る。
【0055】
本発明においては、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉を判定するため、干渉候補元素とピーク波長が一致する判定対象元素の測定濃度に対して干渉候補元素が与える影響度を考慮する場合に、通常の干渉判定プログラムに搭載されている干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］だけでは対応しきれない場合がある。このため、既存の分光干渉データベースで想定されていない分光干渉について別途取得されたデータ（好ましくは当該分光干渉についての事前調査に基づくデータベース）を用い、干渉候補元素の影響度を考慮して算出される干渉強度値（算出強度値）を取得する（Ｓ５３）。このようにして得られた算出強度値がデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］よりも小さいか否かが判断され（Ｓ５３１）、算出強度値がデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］よりも大きい場合（Ｓ５３１のＮｏ）は、当該算出強度値を干渉候補元素のピーク強度として採用し（Ｓ５３２）、算出強度値がデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］よりも小さい場合（Ｓ５３１のＹｅｓ）は、当該デフォルト強度［Ｐｄｆｔ］を干渉候補元素のピーク強度として採用する（Ｓ５３３）。
【0056】
１－６．影響度算出工程（Ｓ６）
影響度算出工程（図１のＳ６）では、前記ｎ個の原子分光分析データから第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データ（つまり、ｎ１個の原子分光分析データ）のうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、当該判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する。
影響度算出工程（図１のＳ６）では、前記ｎ個の原子分光分析データから第１の分光干渉判定工程（Ｓ３）によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データ（つまり、ｎ１個の原子分光分析データ）のうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、当該判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する。
【0057】
影響度［Ｐｅ］は、具体的には、｛（干渉候補元素の濃度×当該干渉候補元素のピーク強度）／（判定対象元素の濃度×当該判定対象元素の対象波長でのピーク強度）｝により算出することができる。この算出式において、干渉候補元素のピーク強度としては、上記の干渉候補元素のピーク強度決定工程（Ｓ５）によって決定された強度を用いることが好ましい。
【0058】
１－７．第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）
第２の分光干渉判定工程（図１のＳ７）では、影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、判定対象元素の測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する。
第２の分光干渉判定工程（図１のＳ７）では、影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、判定対象元素の測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する。
【0059】
第２の分光干渉判定工程（Ｓ７）では、具体的には、上記の影響度算出工程（Ｓ６）で算出した影響度［Ｐｅ］が所定範囲内であるか否かが判断され、影響度［Ｐｅ］が所定範囲内である場合（Ｓ７のＹｅｓ）は、当該測定波長でのデータは除外され（Ｓ７１）、そうでない場合（Ｓ７のＮｏ）は、干渉判定を終了する。ｎ１個の原子分光分析データから当該データが除外され（Ｓ７１）た後、残存データ数ｎ２がゼロであるか否かが判断され（Ｓ７２）、残存データ数ｎ２がゼロである場合（つまり、データが残存しない場合（Ｓ７のＹｅｓ））は、再測定が決定され（Ｓ８）、そうでない場合（Ｓ７２のＮｏ）は干渉判定を終了する。
【0060】
２．分光干渉判定システム
上記「１．分光干渉判定方法」に記載の分光干渉判定方法は、システム、又は、当該システムの内容をコンピュータにより実行させるプログラムにより実現することができる。従って、本発明は、上記本発明の分光干渉判定方法に対応する分光干渉判定システムも提供する。
上記「１．分光干渉判定方法」に記載の分光干渉判定方法は、システム、又は、当該システムの内容をコンピュータにより実行させるプログラムにより実現することができる。従って、本発明は、上記本発明の分光干渉判定方法に対応する分光干渉判定システムも提供する。
【0061】
本発明の分光干渉判定システムは、以下の構成を含む。
判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得部、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部、及び
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部。
判定対象元素を含む測定試料についてｎ（ｎ≧２の整数）種類の異なる測定波長で測定したｎ個の原子分光分析データを取得する、データ取得部、
前記ｎ個の原子分光分析データのうち一の測定波長（ａ）での原子分光分析データにおける前記判定対象元素の測定波形Ｗｍと、前記判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離度合を示す乖離スコア［Ｐｓ］を算出する、乖離スコア算出部、及び
前記乖離スコア［Ｐｓ］が所定範囲内でない場合に、前記測定波長（ａ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ａ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第１の分光干渉判定部。
【0062】
本発明の好ましい分光干渉判定システムは、さらに、以下の構成を含む。
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部。
前記ｎ個の原子分光分析データから前記第１の分光干渉判定部によって除外されなかった他の測定波長での原子分光分析データのうち、一の測定波長（ｂ）での原子分光分析データにおいて、前記判定対象元素のピーク波長である対象波長に対して設定される干渉候補元素が、前記判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出する、影響度算出部、及び
前記影響度［Ｐｅ］が所定範囲内に該当する場合に、前記測定波長（ｂ）での原子分光分析データを、前記判定対象元素の前記測定波長（ｂ）における分光干渉度合が許容外として除外する、第２の分光干渉判定部。
【0063】
本発明の分光干渉判定システムにおいて、上記データ取得部は、
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む、データ読み込み部と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック部と、
前記内標準チェック部で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定部と、
前記内標準チェック部又は前記濃度外れ値判定部で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定部と、
前記検出限界判定部を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定部と、
前記検量線判定部で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定部とを含むことができる。
判定対象元素を含む測定試料についてＮ（Ｎ≧３の整数）種類の異なる測定波長で測定したＮ個の原子分光分析データを読み込む、データ読み込み部と、
前記Ｎ個の原子分光分析データから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択する、内標準チェック部と、
前記内標準チェック部で選択されたデータから、前記判定対象元素の測定濃度が外れ値に該当しないデータを選択する、濃度外れ値判定部と、
前記内標準チェック部又は前記濃度外れ値判定部で選択されたデータが、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいることを判定する、検出限界判定部と、
前記検出限界判定部を経た、前記判定対象元素の測定濃度が検出下限濃度以上のデータを半数以上含んでいるデータから、前記判定対象元素の測定濃度が検量線範囲以内であるデータを選択する検量線判定部と、
前記検量線判定部で選択されたデータから、前記判定対象元素の検出強度がブランク強度と有意差が認められるデータを選択することで、前記ｎ個の原子分光分析データを取得する、有効強度判定部とを含むことができる。
【0064】
本発明の分光干渉判定システムは、前記干渉候補元素のピーク強度を決定する、干渉候補元素のピーク強度決定部を含むことができる。
また、前記ピーク強度決定部は、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程部を含むことができる。
さらに、前記ピーク強度決定部は、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程部を含むことができる。
また、前記ピーク強度決定部は、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが不一致である場合に、
前記対象波長と前記干渉候補元素のピーク波長との距離が長いほど大きく設定される補正量を用い、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に対し、前記補正量に応じて小さくなるように補正をかけることで前記干渉候補元素のピーク強度を算出する、第１補正工程部を含むことができる。
さらに、前記ピーク強度決定部は、
前記判定対象元素のピークと前記干渉候補元素のピークとが一致する場合に、
前記干渉候補元素のピーク強度を、算出強度値と、前記干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］とのうち、いずれか大きいほうの値として得る、第２補正工程部を含むことができる。
【0065】
本発明の分光干渉判定システムは、前記判定対象元素の前記対象波長を、該当する複数の波長から所定の優先順位［Ｐо］で選択する、対象波長選択部を含むことができる。
【0066】
上記各構成は、分光干渉判定システムが有する制御部により制御される。上記各構成はコンピュータに搭載されることができる。Ｎ個の原子分光分析データ又はｎ個の原子分光分析データを読み込むデータ読み込み部は、コンピュータの記録部（ＨＤＤ等）であってもよい。この場合、ＨＤＤに当該データが保存される。一方で、データ読み込み部はＨＤＤ以外であってもよく、例えばネットワークに接続されたクラウド内に保存された前記データを読み込む機能を有する構成をデータ読み込み部としてもよい。なお、データ読み込み部は、当該データを測定するための原子分光分析測定装置に接続されることができる。データ読み込み部以外の上記各構成が発揮する機能は、公知のコンピュータに搭載された演算機構に担わせてもよい。
【0067】
さらに、本発明の分光干渉判定システムで用いられる、乖離スコア［Ｐｓ］について設定された閾値（乖離スコア［Ｐｓ］についての所定範囲）、影響度［Ｐｅ］について設定された閾値（影響度［Ｐｅ］についての所定範囲）、干渉検知幅［Ｐｉｗ］、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］、及び優先順位［Ｐо］等の各解析パラメータは、ＨＤＤ内及び／又はクラウド上に、データベースとして予め用意しておくことができる。
【実施例0068】
以下、実施例を挙げて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
【0069】
＜実施例１＞
［１］標準試料液及び被測定試料溶液の調製
実施例において、検量線を作成するための標準試料液及び被測定試料溶液の調製等は、公知のＩＣＰ発光分光分析方法の手順、具体的にはＪＩＳ Ｋ０１１６：２０１４「発光分光分析通則」に記載された手順に従った。その他、特に記載しない手順についても、上記ＪＩＳ規格に準拠した。
［１］標準試料液及び被測定試料溶液の調製
実施例において、検量線を作成するための標準試料液及び被測定試料溶液の調製等は、公知のＩＣＰ発光分光分析方法の手順、具体的にはＪＩＳ Ｋ０１１６：２０１４「発光分光分析通則」に記載された手順に従った。その他、特に記載しない手順についても、上記ＪＩＳ規格に準拠した。
【0070】
（標準試料液の調製）
濃度既知の化学分析用標準液（１ｇ／Ｌ）を塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）にて希釈して調製した、金属濃度が５．００ｍｇ／Ｌ又は２０．００ｍｇ／Ｌの溶液と、金属濃度０．００ｍｇ／Ｌの塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）とからなる、３つの標準試料液を準備した。また、金属を含む標準試料液は、金属として複数元素を含むように調製されたものであって、事前にプロファイル測定を行うことによって、被測定試料溶液の測定波長において元素同士のスペクトルの重なりがない、つまり、分光干渉の影響がないことを確認したものである。
濃度既知の化学分析用標準液（１ｇ／Ｌ）を塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）にて希釈して調製した、金属濃度が５．００ｍｇ／Ｌ又は２０．００ｍｇ／Ｌの溶液と、金属濃度０．００ｍｇ／Ｌの塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）とからなる、３つの標準試料液を準備した。また、金属を含む標準試料液は、金属として複数元素を含むように調製されたものであって、事前にプロファイル測定を行うことによって、被測定試料溶液の測定波長において元素同士のスペクトルの重なりがない、つまり、分光干渉の影響がないことを確認したものである。
【0071】
標準試料液には、サンプルの粘性、表面張力、密度などの物理的性質によりサンプルのプラズマへの導入効率が変化する、いわゆる「物理干渉」の影響を補正するため、公知の「内部標準法」を用いた補正に基づき、所定濃度の内部標準元素を添加した。実施例では、すべての標準試料液に内部標準元素が所定の濃度となるように添加した。
【0072】
（被測定試料溶液の調製）
次に、濃度既知の化学分析用標準液（１ｇ／Ｌ）を組み合わせ、塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）にて希釈することで、表１記載の組成の被測定試料溶液（以下において、単に「試料」とも記載する。）を調製した。標準試料液と同様、「内部標準法」を用いた補正のため、すべての被測定試料溶液に内部標準元素が所定の濃度となるように添加した。
次に、濃度既知の化学分析用標準液（１ｇ／Ｌ）を組み合わせ、塩酸酸性溶液（２．３ＮのＨＣｌ）にて希釈することで、表１記載の組成の被測定試料溶液（以下において、単に「試料」とも記載する。）を調製した。標準試料液と同様、「内部標準法」を用いた補正のため、すべての被測定試料溶液に内部標準元素が所定の濃度となるように添加した。
【0073】
【表1】
【0074】
ＩＣＰ発光分光分析測定装置（Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ製 ＩＣＰ－ＯＥＳ ５８００）を用いて、調製した標準試料液を測定し、検量線を作成した。次いで、標準試料液と同様に被測定試料溶液を測定し、検量線に照合して得たスペクトル波形を取得した。
【0075】
［２］干渉判定方法
試料１～４に含まれる測定対象元素の濃度出力のために行った干渉判定を含む手順を以下に記載する。
試料１～４に含まれる測定対象元素の濃度出力のために行った干渉判定を含む手順を以下に記載する。
【0076】
［試料１］
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
判定対象元素Ａｕの濃度の測定において、ソフトウェア（Ａｇｉｌｅｎｔ ＩＣＰ Ｅｘｐｅｒｔ ｓｙｓｔｅｍ）を用い、表２に示す１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
判定対象元素Ａｕの濃度の測定において、ソフトウェア（Ａｇｉｌｅｎｔ ＩＣＰ Ｅｘｐｅｒｔ ｓｙｓｔｅｍ）を用い、表２に示す１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
【0077】
（内標準チェック工程Ｓ１２）
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
【0078】
（濃度外れ値判定工程Ｓ１３）
各波長の濃度から、平均濃度（０．９９７ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０２３０）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２０８．２０７ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの４個（Ｎ２＝４）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
各波長の濃度から、平均濃度（０．９９７ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０２３０）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２０８．２０７ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの４個（Ｎ２＝４）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
【0079】
【表2】
【0080】
【表3】
【0081】
（検出限界判定工程Ｓ１４）
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
【0082】
（検量線判定工程Ｓ１５）
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータが検量線範囲内であったことから、４個のデータ（Ｎ３＝４）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータが検量線範囲内であったことから、４個のデータ（Ｎ３＝４）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
【0083】
（有効強度判定工程Ｓ１６）
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、４個のデータ（ｎ＝４）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、４個のデータ（ｎ＝４）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
【0084】
（乖離スコア算出工程Ｓ２）
前処理を経た４個のデータ（ｎ＝４）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表４に示す。
前処理を経た４個のデータ（ｎ＝４）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表４に示す。
【0085】
【表4】
【0086】
（第１の分光干渉判定工程Ｓ３）
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか否か、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータで乖離スコア２．５０超であったことから、４個（ｎ１＝４）のデータすべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか否か、判定を行った。試料１では、４個中４個のデータで乖離スコア２．５０超であったことから、４個（ｎ１＝４）のデータすべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
【0087】
（対象波長選択工程Ｓ４）
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料１では、選択された４個（ｎ１＝４）のデータから、順位が最も高いＡｕの２４２．７９４ｎｍを対象波長として選択した。
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料１では、選択された４個（ｎ１＝４）のデータから、順位が最も高いＡｕの２４２．７９４ｎｍを対象波長として選択した。
【0088】
【表5】
【0089】
（干渉候補元素の選択）
試料１において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２４２．７９４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２４２．７９４－０．０２０）ｎｍ以上（２４２．７９４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料１では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１ｍｇ／Ｌ含まれているところ、既存の分光干渉データベースを用いてＰｔおよびＰｄが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行った。その結果、含まれないとの判定を得た。従って、Ａｕの対象波長２４２．７９ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
試料１において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２４２．７９４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２４２．７９４－０．０２０）ｎｍ以上（２４２．７９４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料１では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１ｍｇ／Ｌ含まれているところ、既存の分光干渉データベースを用いてＰｔおよびＰｄが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行った。その結果、含まれないとの判定を得た。従って、Ａｕの対象波長２４２．７９ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
【0090】
試料１についての干渉判定を終了し、対象波長である２４２．７９４ｎｍの測定濃度０．９８９ｍｇ／ＬをＡｕ濃度として出力した。
【0091】
[試料２]
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
試料１と同様にして、判定対象元素Ａｕについて、表６に示すとおりの、１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
試料１と同様にして、判定対象元素Ａｕについて、表６に示すとおりの、１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
【0092】
（内標準チェック工程Ｓ１２）
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
【0093】
（濃度外れ値判定工程Ｓ１３）
各波長の濃度から、平均濃度（１．０１６ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０４９２）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外するものとした。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長は存在しなったため（除外対象なし）、５個（Ｎ２＝５）すべての測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
各波長の濃度から、平均濃度（１．０１６ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０４９２）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外するものとした。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長は存在しなったため（除外対象なし）、５個（Ｎ２＝５）すべての測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
【0094】
【表6】
【0095】
（検出限界判定工程Ｓ１４）
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料２では、５個中５個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料２では、５個中５個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
【0096】
（検量線判定工程Ｓ１５）
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料２では、５個中５個のデータが検量線範囲内であったことから、５個のデータ（Ｎ３＝５）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料２では、５個中５個のデータが検量線範囲内であったことから、５個のデータ（Ｎ３＝５）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
【0097】
（有効強度判定工程Ｓ１６）
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、５個のデータ（ｎ＝５）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、５個のデータ（ｎ＝５）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
【0098】
（乖離スコア算出工程Ｓ２）
前処理を経た５個のデータ（ｎ＝５）について測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表７に示す。
前処理を経た５個のデータ（ｎ＝５）について測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表７に示す。
【0099】
【表7】
【0100】
（第１の分光干渉判定工程Ｓ３）
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料２では、乖離スコア２．５０超でなかった測定波長１９１．８９６ｎｍのデータを除外判定し、残りの４個（ｎ１＝４）のデータを採用判定し、次の判定に進んだ。
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料２では、乖離スコア２．５０超でなかった測定波長１９１．８９６ｎｍのデータを除外判定し、残りの４個（ｎ１＝４）のデータを採用判定し、次の判定に進んだ。
【0101】
（対象波長選択工程Ｓ４）
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料２では、選択された４個（ｎ１＝４）のデータから、順位が最も高いＡｕの２４２．７９４ｎｍを対象波長として選択した。
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料２では、選択された４個（ｎ１＝４）のデータから、順位が最も高いＡｕの２４２．７９４ｎｍを対象波長として選択した。
【0102】
（干渉候補元素のピーク強度決定工程Ｓ５）
試料２において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２４２．７９４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２４２．７９４－０．０２０）ｎｍ以上（２４２．７９４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料２では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１ｍｇ／Ｌ、Ｍｎが１０ｍｇ／Ｌ、Ｎｉが１０ｍｇ／Ｌ、Ｆｅが１０ｍｇ／Ｌ含まれているところ、干渉候補元素のピーク波長を既存の分光干渉データベースを用いてＰｔ、Ｐｄ、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行ったところ、Ｍｎが干渉候補元素として含まれるとの判定を得た。既存の分光干渉データベースを用いて干渉候補元素Ｍｎのピーク強度を決定した。
試料２において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２４２．７９４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２４２．７９４－０．０２０）ｎｍ以上（２４２．７９４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料２では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１ｍｇ／Ｌ、Ｍｎが１０ｍｇ／Ｌ、Ｎｉが１０ｍｇ／Ｌ、Ｆｅが１０ｍｇ／Ｌ含まれているところ、干渉候補元素のピーク波長を既存の分光干渉データベースを用いてＰｔ、Ｐｄ、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行ったところ、Ｍｎが干渉候補元素として含まれるとの判定を得た。既存の分光干渉データベースを用いて干渉候補元素Ｍｎのピーク強度を決定した。
【0103】
（影響度算出工程Ｓ６）
干渉候補元素が、当該判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出した。算出式：｛（干渉候補元素の濃度×当該干渉候補元素のピーク強度）／（判定対象元素の濃度×当該判定対象元素の対象波長でのピーク強度）｝を用いて算出すると、
［Ｐｅ］ ＝ ０．０８１／１．０８７ ＝ ０．０７４
の値を得た。影響度［Ｐｅ］が０．０２以上のものを干渉ありと判定するため、２４２．７９ｎｍの分析値は分析干渉度合が許容外として除外した。
干渉候補元素が、当該判定対象元素のピーク強度に与える影響度［Ｐｅ］を算出した。算出式：｛（干渉候補元素の濃度×当該干渉候補元素のピーク強度）／（判定対象元素の濃度×当該判定対象元素の対象波長でのピーク強度）｝を用いて算出すると、
［Ｐｅ］ ＝ ０．０８１／１．０８７ ＝ ０．０７４
の値を得た。影響度［Ｐｅ］が０．０２以上のものを干渉ありと判定するため、２４２．７９ｎｍの分析値は分析干渉度合が許容外として除外した。
【0104】
残存データ数が３個（ｎ２＝３）あるので、当該対象波長についての干渉判定を終了した。
【0105】
（次の対象波長での処理）
表５に記載したデフォルト順位に基づき、順位２位のＡｕの２６７．５９４ｎｍを次の対象波長として選択した。
表５に記載したデフォルト順位に基づき、順位２位のＡｕの２６７．５９４ｎｍを次の対象波長として選択した。
【0106】
対象波長２４２．７９４ｎｍの場合と同様の方法で、次の対象波長２６７．５９４ｎｍについて、上記「（干渉候補元素のピーク強度決定工程Ｓ５）」に供した。その結果、Ａｕの対象波長２６７．５９４ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
【0107】
試料２についての干渉判定を終了し、対象波長である２６７．５９４ｎｍの測定濃度０．９７９ｍｇ／ＬをＡｕ濃度として出力した。
【0108】
［試料３］
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
試料１、２と同様にして、判定対象元素Ａｕについて、表８に示すとおりの、１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
試料１、２と同様にして、判定対象元素Ａｕについて、表８に示すとおりの、１９１．８９６ｎｍ、１９７．７４２ｎｍ、２０８．２０７ｎｍ、２４２．７９４ｎｍ、及び２６７．５９４ｎｍの異なる５種類（Ｎ＝５）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
【0109】
（内標準チェック工程Ｓ１２）
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、５種類（Ｎ１＝５）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
【0110】
（濃度外れ値判定工程Ｓ１３）
各波長の濃度から、平均濃度（０．９９７ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０２３０）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２０８．２０７ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの４個（Ｎ２＝４）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
各波長の濃度から、平均濃度（０．９９７ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（０．０２３０）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表３記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２０８．２０７ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの４個（Ｎ２＝４）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
【0111】
【表8】
【0112】
（検出限界判定工程Ｓ１４）
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料３では、４個中４個のデータ（つまり半数以上）においてが検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料３では、４個中４個のデータ（つまり半数以上）においてが検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
【0113】
（検量線判定工程Ｓ１５）
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料３では、４個中４個のデータが検量線範囲内であったことから、４個のデータ（Ｎ３＝４）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料３では、４個中４個のデータが検量線範囲内であったことから、４個のデータ（Ｎ３＝４）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
【0114】
（有効強度判定工程Ｓ１６）
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、４個のデータ（ｎ＝４）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
Ａｕの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、４個のデータ（ｎ＝４）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
【0115】
（乖離スコア算出工程Ｓ２）
前処理を経た４個のデータ（ｎ＝４）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表４に示す。
前処理を経た４個のデータ（ｎ＝４）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表４に示す。
【0116】
【表9】
【0117】
（第１の分光干渉判定工程Ｓ３）
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料３では、４個中２個が乖離スコア２．５０超であったことから、２個（ｎ１＝２）のデータを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料３では、４個中２個が乖離スコア２．５０超であったことから、２個（ｎ１＝２）のデータを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
【0118】
（対象波長選択工程Ｓ４）
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料３では、選択された２個（ｎ１＝２）のデータから、順位が最も高いＡｕの２０８．２０７ｎｍを対象波長として選択した。
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料３では、選択された２個（ｎ１＝２）のデータから、順位が最も高いＡｕの２０８．２０７ｎｍを対象波長として選択した。
【0119】
（干渉候補元素のピーク強度決定工程Ｓ５）
試料３において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２０８．２０７ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（２０８．２０７－０．０２０）ｎｍ以上（２０８．２０７＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料３では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１０，０００ｍｇ／Ｌ含まれているところ、干渉候補元素のピーク波長を既存の分光干渉データベースを用いてＰｔおよびＰｄが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行った。その結果、含まれないとの判定を得た。従って、Ａｕの対象波長２０８．２０７ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
試料３において、干渉候補元素の選択は、Ａｕの対象波長２０８．２０７ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（２０８．２０７－０．０２０）ｎｍ以上（２０８．２０７＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料３では、判定対象元素であるＡｕ以外に、Ｐｔが１ｍｇ／Ｌ、Ｐｄが１０，０００ｍｇ／Ｌ含まれているところ、干渉候補元素のピーク波長を既存の分光干渉データベースを用いてＰｔおよびＰｄが対象波長の干渉検知幅の波長範囲内に含まれるかの判定を行った。その結果、含まれないとの判定を得た。従って、Ａｕの対象波長２０８．２０７ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
【0120】
試料３についての干渉判定を終了し、対象波長である２０８．２０７ｎｍの測定濃度１．０３２ｍｇ／ＬをＡｕ濃度として出力した。
【0121】
［試料４］
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
判定対象元素Ｐｔの濃度の測定において、試料１と同様の方法にて、表１０に示す２０３．６４６ｎｍ、２１４．４２４ｎｍ、２１７．４６８ｎｍ、２２４．５５２ｎｍ、２６５．９４５ｎｍ、及び２９９．７９６ｎｍの異なる６種類（Ｎ＝６）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
（データ取得工程Ｓ１）
（原子分光分析データ読み込み工程Ｓ１１）
判定対象元素Ｐｔの濃度の測定において、試料１と同様の方法にて、表１０に示す２０３．６４６ｎｍ、２１４．４２４ｎｍ、２１７．４６８ｎｍ、２２４．５５２ｎｍ、２６５．９４５ｎｍ、及び２９９．７９６ｎｍの異なる６種類（Ｎ＝６）の測定波長の測定濃度（見かけ濃度）データを読み込んだ。
【0122】
（内標準チェック工程Ｓ１２）
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、６種類（Ｎ１＝６）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
読み込んだデータから、内標準補正比が所定の有効範囲内に収まっているデータを選択した。この結果、６種類（Ｎ１＝６）すべてのデータを選択し、次の判定に進んだ。
【0123】
（濃度外れ値判定工程Ｓ１３）
各波長の濃度から、平均濃度（５２９．８５ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（１１５０．５８）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表１０記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２１７．４６８ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの５個（Ｎ２＝５）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
各波長の濃度から、平均濃度（５２９．８５ｍｇ／Ｌ）及び標準偏差（１１５０．５８）を算出し、前述の式１に導入して統計量Ｇを算出した。表３に記載したＳｍｉｍｏｖ－Ｇｒｕｂｂｓ検定における有意水準０．０２５の臨界値を基準とし、統計量Ｇが表１０記載の臨界値を超える場合、その波長の濃度を外れ値として除外判定した。具体的には、臨界値１．７２を超える測定波長２１７．４６８ｎｍを外れ値として除外判定し、残りの５個（Ｎ２＝５）の測定波長を採用判定し、次の判定に進んだ。
【0124】
【表10】
【0125】
（検出限界判定工程Ｓ１４）
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料４では、５個中５個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
選択されたデータに、検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上のデータ数が半数以上存在するか否か、判定を行った。試料４では、５個中５個のデータ（つまり半数以上）において検出下限濃度０．０５ｍｇ／Ｌ以上であることから、次の判定に進んだ。
【0126】
（検量線判定工程Ｓ１５）
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内、すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料４は、５個中５個のデータが検量線範囲内であったことから、５個のデータ（Ｎ３＝５）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
０．００ｍｇ／Ｌ、５．００ｍｇ／Ｌ、２０．００ｍｇ／Ｌの標準試料液を用いていることから、測定波長における測定濃度（見かけ濃度）が検量線範囲内、すなわち０～２０．００ｍｇ／Ｌの範囲にあるか、判定を行った。試料４は、５個中５個のデータが検量線範囲内であったことから、５個のデータ（Ｎ３＝５）すべてを採用判定とし、次の判定に進んだ。
【0127】
（有効強度判定工程Ｓ１６）
Ｐｔの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、５個のデータ（ｎ＝５）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
Ｐｔの検出強度について、ブランク強度との有意差の有無を判定した。その結果、５個のデータ（ｎ＝５）すべてについて有意差ありと判定し、次の判定に進んだ。
【0128】
（乖離スコア算出工程Ｓ２）
前処理を経た５個のデータ（ｎ＝５）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表１１に示す。
前処理を経た５個のデータ（ｎ＝５）について、測定波形Ｗｍと標準波形Ｗｓの平均二乗誤差を算出し、その負の常用対数を乖離スコア［Ｐｓ］とした。前述の式２に導入して算出して得られた乖離スコアを表１１に示す。
【0129】
【表11】
【0130】
（第１の分光干渉判定工程Ｓ３）
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料４では、４個中２個のデータで乖離スコア２．５０超であったことから、２個（ｎ１＝２）のデータを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
測定波長における測定波形Ｗｍと、判定対象元素の標準波形Ｗｓとの乖離スコア［Ｐｓ］が、閾値として設定した２．５０超でないか、判定を行った。試料４では、４個中２個のデータで乖離スコア２．５０超であったことから、２個（ｎ１＝２）のデータを採用判定とし、次の判定に進んだ。念のため、ＩＣＰ発光分光分析測定装置にて得られたピークを測定者が目視で確認したが、共存元素による分光干渉は目視では確認できなかった。
【0131】
（対象波長選択工程Ｓ４）
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料４では、選択された２個（ｎ１＝２）のデータから、順位が最も高いＰｔの２１４．４２４ｎｍを対象波長として選択した。
表５に記載したデフォルト順位に基づき、波長を選択した。試料４では、選択された２個（ｎ１＝２）のデータから、順位が最も高いＰｔの２１４．４２４ｎｍを対象波長として選択した。
【0132】
（干渉候補元素のピーク強度決定工程Ｓ５）
試料４において、干渉候補元素の選択は、Ｐｔの対象波長２１４．４２４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２１４．４２４－０．０２０）ｎｍ以上（２１４．４２４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料４では、Ｐｔの対象波長２１４．４２４ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
試料４において、干渉候補元素の選択は、Ｐｔの対象波長２１４．４２４ｎｍから低波長側及び高波長側の両方に０．０２０ｎｍ以内（つまり、（２１４．４２４－０．０２０）ｎｍ以上（２１４．４２４＋０．０２０）以下）の干渉検知幅［Ｐｉｗ］に相当する波長範囲内における他の元素の有無に基づいて行った。試料４では、Ｐｔの対象波長２１４．４２４ｎｍに対して選択される干渉候補元素はない（干渉候補元素による干渉がない）と判定した。
【0133】
試料４についての干渉判定を終了し、対象波長である２１４．４２４ｎｍの測定濃度１０．１７１ｍｇ／ＬをＰｔ濃度として出力した。
【0134】
＜実施例２＞
本実施例では、特に記載する事項以外の事項については、上記実施例１の方法に準じた。本実施例では、実施例１で調製した試料２について別の実施形態に係る判定を行った。参考のため、表１２下段に記載した組成の被測定試料溶液（参考試料）を測定した。
本実施例では、特に記載する事項以外の事項については、上記実施例１の方法に準じた。本実施例では、実施例１で調製した試料２について別の実施形態に係る判定を行った。参考のため、表１２下段に記載した組成の被測定試料溶液（参考試料）を測定した。
【0135】
【表12】
【0136】
（第２補正工程Ｓ５３）
判定対象元素のピーク波長の近傍に干渉候補元素の波長がある場合、試料２のように、判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとが一致することで、乖離スコアを用いた第１の分光干渉判定工程Ｓ３では干渉が除外されないケースがある。具体的には、Ａｕの検出波長「２４２．７９４ｎｍ」の近傍にＭｎの検出波長「２４２．７７２ｎｍ」が存在し、Ｐｔの検出波長「２１７．４６８ｎｍ」の近傍にＮｉの検出波長「２１７．４６７ｎｍ」が存在するケースが該当する。実際に参考試料を測定すると、ＡｕおよびＰｔが含まれていないにもかかわらず、ＡｕおよびＰｔのピーク出現箇所にピークが確認された。
判定対象元素のピーク波長の近傍に干渉候補元素の波長がある場合、試料２のように、判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとが一致することで、乖離スコアを用いた第１の分光干渉判定工程Ｓ３では干渉が除外されないケースがある。具体的には、Ａｕの検出波長「２４２．７９４ｎｍ」の近傍にＭｎの検出波長「２４２．７７２ｎｍ」が存在し、Ｐｔの検出波長「２１７．４６８ｎｍ」の近傍にＮｉの検出波長「２１７．４６７ｎｍ」が存在するケースが該当する。実際に参考試料を測定すると、ＡｕおよびＰｔが含まれていないにもかかわらず、ＡｕおよびＰｔのピーク出現箇所にピークが確認された。
【0137】
そこで、干渉候補元素のピーク強度決定の決定にあたり、干渉候補元素のデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］から強度補正を行った。具体的には、干渉候補元素の「影響度」を、干渉元素の単位濃度あたりの測定濃度値と定義してそれぞれ算出し、影響度の値と対象波長の強度値との積である最適強度を算出強度値として算出し、最適強度値（算出強度値）がデフォルト強度値［Ｐｄｆｔ］よりも大きい場合は、最適強度値（算出強度値）を補正強度として採用した。より具体的には、表１４に記載の通り、干渉候補元素のピーク強度として用いる補正強度として、Ａｕ（２４２．７９４ｎｍ）の干渉候補元素としてのＭｎについては１２５．３、Ｐｔ（２１７．４６８ｎｍ）の干渉候補元素としてのＮｉについては１９３２．８、Ｐｔ（２９９．７９６ｎｍ）の干渉候補元素としてのＭｏについては１２６．４を採用した。実施例１の試料２の判定においては、Ａｕ濃度の解析においては既存の分光干渉データベースから採用した干渉候補元素Ｍｎのピーク強度を用いたが、Ｐｔ濃度の解析においてはこのように補正された干渉候補元素Ｍｏのピーク強度を影響度算出工程Ｓ６で用いることで、第２の分光干渉判定工程Ｓ７でより精度高い判定ができた。なお、ここで得た算出強度値を既存のデータベースに追加する、又は当該算出強度値で既存のデータベースの数値を書き換えることで、既存のデータベースの更新を行うことができ、このように更新されたデータベースを用いることでさらに精度高い判定もできる。
【0138】
【表13】
【0139】
【表14】
【0140】
（第１補正工程Ｓ５２）
一方、判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとが不一致となる程度に、干渉候補元素の波長が判定対象元素のピーク波長から離れている（例えば、試料２における判定対象元素Ｐｄと干渉候補元素Ｎｉとの関係）場合は、干渉候補元素のピークが判定対象元素の測定濃度に影響を及ぼす度合いは、干渉候補元素のピークが対象波長から近い位置にあるほど大きくなる。対象波長からの距離に応じた補正量をデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に反映させ、補正強度を算出した。具体的には、デフォルト強度［Ｐｄｆｔ］を、Ｐｄの対象波長（４３２．１２２ｎｍ）からの距離（ｐｍ）で割った値を、干渉候補元素のピーク強度の補正強度として算出した（表１５）。このように補正された干渉候補元素のピーク強度を影響度算出工程Ｓ６で用いることで、第２の分光干渉判定工程Ｓ７でより精度高い判定ができる。
一方、判定対象元素のピークと干渉候補元素のピークとが不一致となる程度に、干渉候補元素の波長が判定対象元素のピーク波長から離れている（例えば、試料２における判定対象元素Ｐｄと干渉候補元素Ｎｉとの関係）場合は、干渉候補元素のピークが判定対象元素の測定濃度に影響を及ぼす度合いは、干渉候補元素のピークが対象波長から近い位置にあるほど大きくなる。対象波長からの距離に応じた補正量をデフォルト強度［Ｐｄｆｔ］に反映させ、補正強度を算出した。具体的には、デフォルト強度［Ｐｄｆｔ］を、Ｐｄの対象波長（４３２．１２２ｎｍ）からの距離（ｐｍ）で割った値を、干渉候補元素のピーク強度の補正強度として算出した（表１５）。このように補正された干渉候補元素のピーク強度を影響度算出工程Ｓ６で用いることで、第２の分光干渉判定工程Ｓ７でより精度高い判定ができる。
【0141】
【表15】
【0142】
＜実施例３＞
本実施例では、表１６に示す実試料を用い、図１～図３のフローチャートに従う自動解析で、それぞれの実試料に含まれる６０元素（Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｐｔ、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎを含む）全てについて分光干渉判定を行った。各工程の詳細は、実施例１及び２と同様である。なお、乖離スコア［Ｐｓ］の閾値は２．５（つまり、乖離スコア［Ｐｓ］２．５超でないものを分光干渉有と判定する）、干渉検知幅［Ｐｉｗ］は±０．０２０ｎｍ、検出下限濃度は０．０５ｍｇ／Ｌに設定した。
本実施例では、表１６に示す実試料を用い、図１～図３のフローチャートに従う自動解析で、それぞれの実試料に含まれる６０元素（Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｐｔ、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｈｇ、Ｐｂ、Ｒｕ、Ｔｉ、Ｂａ、Ｃｄ、Ｃｅ、Ｃｏ、Ｅｒ、Ｆｅ、Ｉｒ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｒｅ、Ｓｍ、Ｔｅ、Ｚｒ、Ｉｎ、Ｙ、Ａｌ、及びＺｎを含む）全てについて分光干渉判定を行った。各工程の詳細は、実施例１及び２と同様である。なお、乖離スコア［Ｐｓ］の閾値は２．５（つまり、乖離スコア［Ｐｓ］２．５超でないものを分光干渉有と判定する）、干渉検知幅［Ｐｉｗ］は±０．０２０ｎｍ、検出下限濃度は０．０５ｍｇ／Ｌに設定した。
【0143】
上記自動解析による全元素の判定結果を、干渉判定に熟練した人の目視による解析結果と比較した。判定結果において、分光干渉がある元素を除外せず、且つ、自動解析で算出した濃度と実濃度との誤差が±５％以上であったものを「誤判定」と評価した。結果を表１６に示す。
【表16】
【0144】
表１６に示される通り、極めて低い誤判定率で分光干渉判定が可能であった。これらの実試料が、判定対象元素と干渉候補元素との濃度差が大きい（つまり、判定対象元素及び干渉候補元素のうちいずれか一方の濃度が、他方の濃度の８倍重量以上、１０倍重量以上、２０倍重量以上、３０倍重量以上、４０倍重量以上、５０倍重量以上、６０倍重量以上、７０倍重量以上、８０倍重量以上、９０倍重量以上、又は１００倍重量以上である）金属元素組成を有しており、既存の分光干渉データベースでは判定できない分光干渉を多く含んでいたにも関わらず、極めて低い誤判定率で分光干渉判定が可能であったことから、本発明の分光干渉判定方法により、分析者の熟練度に依存することなく自動判定が可能となることが示された。
【符号の説明】
【0145】
Ｓ１ データ取得工程
Ｓ１２ 内標準チェック工程
Ｓ１３ 外れ値判定工程
Ｓ１４ 検出限界判定工程
Ｓ１５ 検量線判定工程
Ｓ１６ 有効強度判定工程
Ｓ２ 乖離スコア算出工程
Ｓ３ 第１の分光干渉判定工程
Ｓ４ 対象波長選択工程
Ｓ５ 干渉候補元素のピーク強度決定工程
Ｓ５２ 第１補正工程
Ｓ５３ 第２補正工程
Ｓ６ 影響度算出工程
Ｓ７ 第２の分光干渉判定工程
Ｓ１２ 内標準チェック工程
Ｓ１３ 外れ値判定工程
Ｓ１４ 検出限界判定工程
Ｓ１５ 検量線判定工程
Ｓ１６ 有効強度判定工程
Ｓ２ 乖離スコア算出工程
Ｓ３ 第１の分光干渉判定工程
Ｓ４ 対象波長選択工程
Ｓ５ 干渉候補元素のピーク強度決定工程
Ｓ５２ 第１補正工程
Ｓ５３ 第２補正工程
Ｓ６ 影響度算出工程
Ｓ７ 第２の分光干渉判定工程
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
