特開 2024-14747 エラーベクトル絶対値測定結果の補正

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024014747

(43)【公開日】2024-02-01

(54)【発明の名称】エラーベクトル絶対値測定結果の補正

(51)【国際特許分類】

   H04L 27/00 20060101AFI20240125BHJP

   H04B 17/15 20150101ALI20240125BHJP

【ＦＩ】

H04L27/00 A

H04B17/15

【審査請求】未請求

【請求項の数】30

【出願形態】ＯＬ

【外国語出願】

(21)【出願番号】P 2023104833

(22)【出願日】2023-06-27

(31)【優先権主張番号】202210867015.2

(32)【優先日】2022-07-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】CN

(71)【出願人】

【識別番号】507308186

【氏名又は名称】ライトポイント・コーポレイション

【氏名又は名称原語表記】ＬｉｔｅＰｏｉｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ

(74)【代理人】

【識別番号】100083806

【弁理士】

【氏名又は名称】三好 秀和

(74)【代理人】

【識別番号】100111235

【弁理士】

【氏名又は名称】原 裕子

(74)【代理人】

【識別番号】100195257

【弁理士】

【氏名又は名称】大渕 一志

(72)【発明者】

【氏名】カオ、 チェン

(72)【発明者】

【氏名】オルガード、 クリスチャン ヴォルフ

(72)【発明者】

【氏名】ワン、 ルイツ

(72)【発明者】

【氏名】ル、 キンジェ

(57)【要約】

【課題】 エラーベクトル絶対値測定結果を補正することを提供する。
【解決手段】 例示的試験システムは、（ｉ）実行可能である命令及び（ｉｉ）第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を格納するメモリ（例えば１つ又は複数のメモリデバイス）を含み、ここで、第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、第２のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている。試験システムはまた、信号を被試験デバイスから受信するためのこの信号に基づく第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得するための復号器を含み、第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている。１つ又は複数の処理デバイスは、第３のＥＶＭ内のシンボル復号エラーを補正するためにマッピング関数を使用することにより第３のＥＶＭを調節する命令を実行するように構成される。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

搬送波信号の振幅及び位相に基づく符号化からのシンボルと共に使用するための方法であって、
第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と前記第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成することであって、前記第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、前記第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されている、生成することと、
第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得することであって、前記第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている、取得することと、
前記第３のＥＶＭ内の前記シンボル復号エラーを補正するために前記マッピング関数を使用することにより前記第３のＥＶＭを調節することと
を含む方法。

【請求項2】

前記マッピング関数は、符号化のタイプについて前記第１のＥＶＭを前記第２のＥＶＭへ関係付けるルックアップテーブル（ＬＵＴ）を含み、
前記第３のＥＶＭを調節することは、前記ＬＵＴを選択することと、前記ＬＵＴ内の第２のＥＶＭを前記第３のＥＶＭに基づき選択することと、前記第３のＥＶＭを、前記選択された第２のＥＶＭに対応する前記第１のＥＶＭで置換することとを含む、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

前記符号化のタイプは直交振幅変調を含む、請求項２に記載の方法。

【請求項4】

前記マッピング関数は、
前記第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第１のＥＶＭを生成するために前記第１の値の組を平均化することと、
前記第２のＥＶＭに対応する第２の値を、前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音と前記シンボル復号エラーとの両方により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第２のＥＶＭを生成するために前記第２の値の組を平均化することと
を含む動作を行うように構成されるシミュレーションに基づく、請求項１に記載の方法。

【請求項5】

各第１の値を判断することは、
選択された第１のシンボルへＲＦ雑音を加えることと
前記選択された第１のシンボルとＲＦ雑音が加えられた前記選択された第１のシンボルとに基づき第１の値を判断することと
を含み、
前記第１の値は、シンボル復号エラーなしに発生するであろう前記選択された第１のシンボルのＥＶＭである、請求項４に記載の方法。

【請求項6】

前記ＲＦ雑音を加えることは、
雑音のガウス分布からランダム雑音を選択することと、
前記ランダム雑音と前記選択された第１のシンボルとを組み合わせることと
を含む、請求項５に記載の方法。

【請求項7】

各第２の値を判断することは、
シンボル復号エラーを、加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルへ加えることと、
加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルと、加えられたＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方を有する前記選択された第１のシンボルとに基づき、第２の値を判断することと
を含み、
前記第２の値は前記シンボル復号エラーと共に発生するであろう前記選択された第１のシンボルのＥＶＭである、請求項５に記載の方法。

【請求項8】

前記シンボル復号エラーは、シンボルを復号するように構成されたコンステレーション復号器により適用される１つ又は複数の規則に基づく疑似エラーを含む、請求項７に記載の方法。

【請求項9】

前記規則の少なくとも１つは、コンステレーション上の理想的シンボル場所と加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルとの間の最短エラーベクトルの選択を必要とする、請求項７に記載の方法。

【請求項10】

前記第１のシンボルは正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得される、請求項１に記載の方法。

【請求項11】

前記第３のＥＶＭが調節されるコンステレーション復号器内に前記マッピング関数を格納することをさらに含む、請求項１に記載の方法。

【請求項12】

第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と前記第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成する方法であって、
前記第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損され、前記第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されており、
前記方法は、
前記第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第１のＥＶＭを生成するために前記第１の値の組を平均化することと、
前記第２のＥＶＭに対応する第２の値を、前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音と前記シンボル復号エラーとの両方により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第２のＥＶＭを生成するために前記第２の値の組を平均化することと、
前記第１のＥＶＭと前記第２のＥＶＭとを関係付けることと
を含む、方法。

【請求項13】

前記第１のシンボルは正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得され、
前記方法は、前記ＲＦ雑音を前記第１のシンボルへ加えることにより前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンを判断することを含む、請求項１２に記載の方法。

【請求項14】

前記ＲＦ雑音を加えることは、
雑音のガウス分布からランダム雑音を選択することと、
前記ランダム雑音と各第１のシンボルとを組み合わせることと
を含む、請求項１３に記載の方法。

【請求項15】

搬送波信号の振幅及び位相に基づく符号化からのシンボルと共に使用するための方法を実施するために１つ又は複数の処理デバイスにより実行可能である命令を格納する１つ又は複数の非一時的機械可読媒体であって、
前記命令は、
第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と前記第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成することであって、前記第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、前記第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されている、生成することと、
第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得することであって、前記第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている、取得することと、
前記第３のＥＶＭ内の前記シンボル復号エラーを補正するために前記マッピング関数を使用することにより前記第３のＥＶＭを調節することと
を含む動作を行うように実行可能である、１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項16】

前記マッピング関数は、符号化のタイプについて前記第１のＥＶＭを前記第２のＥＶＭへ関係付けるルックアップテーブル（ＬＵＴ）を含み、
前記第３のＥＶＭを調節することは、前記ＬＵＴを選択すること、前記ＬＵＴ内の第２のＥＶＭを前記第３のＥＶＭに基づき選択することと、前記第３のＥＶＭを、前記選択された第２のＥＶＭに対応する前記第１のＥＶＭで置換することとを含む、請求項１５に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項17】

符号化の前記タイプは直交振幅変調を含む、請求項１６に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項18】

前記マッピング関数は、
前記第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第１のＥＶＭを生成するために前記第１の値の組を平均化することと、
前記第２のＥＶＭに対応する第２の値を、前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音と前記シンボル復号エラーとの両方により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第２のＥＶＭを生成するために前記第２の値の組を平均化することと
を含む動作を行うように構成されるシミュレーションに基づく、請求項１５に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項19】

各第１の値を判断することは、
選択された第１のシンボルへＲＦ雑音を加えることと
前記選択された第１のシンボルとＲＦ雑音が加えられた前記選択された第１のシンボルとに基づき第１の値を判断することと
を含み、
前記第１の値は、シンボル復号エラーなしに発生するであろう前記選択された第１のシンボルのＥＶＭである、請求項１８に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項20】

前記ＲＦ雑音を加えることは、
雑音のガウス分布からランダム雑音を選択することと、
前記ランダム雑音と前記選択された第１のシンボルとを組み合わせることと
を含む、請求項１９に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項21】

各第２の値を判断することは、
シンボル復号エラーを、加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルへ加えることと
加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルと、加えられたＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方を有する前記選択された第１のシンボルとに基づき、第２の値を判断することと
を含み、
前記第２の値は、前記シンボル復号エラーと共に発生するであろう前記選択された第１のシンボルのＥＶＭである、請求項１９に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項22】

前記シンボル復号エラーは、シンボルを復号するように構成されたコンステレーション復号器により適用される１つ又は複数の規則に基づく疑似エラーを含む、請求項２１に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項23】

前記規則の少なくとも１つは、コンステレーション上の理想的シンボル場所と加えられたＲＦ雑音を有する前記選択された第１のシンボルとの間の最短エラーベクトルの選択を必要とする、請求項２１に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項24】

前記第１のシンボルは、正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得される、請求項１５に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項25】

前記第３のＥＶＭが調節されるコンステレーション復号器内に前記マッピング関数を格納することをさらに含む、請求項１５に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項26】

第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と前記第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成する方法を実施するために１つ又は複数の処理デバイスにより実行可能である命令を格納する１つ又は複数の非一時的機械可読媒体であって、
前記第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、前記第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されており、
前記命令は、
前記第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第１のＥＶＭを生成するために前記第１の値の組を平均化することと、
前記第２のＥＶＭに対応する第２の値を、前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョン及び前記ＲＦ雑音と前記シンボル復号エラーとの両方により破損された前記第１のシンボルのバージョンに基づき判断することと、
各第２のＥＶＭを生成するために前記第２の値の組を平均化することと、
前記第１のＥＶＭと前記第２のＥＶＭとを関係付けることと
を含む動作を行うように実行可能である、１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項27】

前記第１のシンボルは、正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得され、
前記方法は、前記ＲＦ雑音を前記第１のシンボルへ加えることにより前記ＲＦ雑音により破損された前記第１のシンボルのバージョンを判断することを含む、請求項２６に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項28】

前記ＲＦ雑音を加えることは、
雑音のガウス分布からランダム雑音を選択することと、
前記ランダム雑音と各第１のシンボルとを組み合わせることと
を含む、請求項２７に記載の１つ又は複数の非一時的機械可読媒体。

【請求項29】

試験システムであって、
（ｉ）実行可能である命令、及び（ｉｉ）第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）を前記第１のシンボルの第２のＥＶＭへ関係付けるマッピング関数を格納するメモリであって、前記第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、前記第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されている、メモリと、
被試験デバイスから信号を受信する復号器であって、前記信号に基づく第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得し、前記第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている、復号器と、
前記第３のＥＶＭ内の前記シンボル復号エラーを補正するために前記マッピング関数を使用することにより前記第３のＥＶＭを調節する命令を実行する１つ又は複数の処理デバイスと
を含む、試験システム。

【請求項30】

前記第３のＥＶＭは、前記復号器により加えられるシンボル復号化誤差に基づき、
前記シンボル復号エラーは、前記復号器により実装される少なくとも１つの所定規則に基づく、請求項２９に記載の試験システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書はエラーベクトル絶対値測定結果を補正するためのシステムの例について説明する。

【背景技術】

【0002】

試験システムは電子デバイスの動作を試験するように構成される。試験することは信号をデバイスへ送信することとどのようにデバイスがその応答に基づきその信号に応答したかを判断することとを含み得る。例えば、試験することは試験信号を集積回路（ＩＣ）などのデバイスへ送信することとデバイスから戻る無線周波数（ＲＦ）信号を受信することとを含み得る。ＲＦ信号はデバイスが許容可能な状態で動作しているかどうかを判断するように処理される。エラーベクトル絶対値（ＥＶＭ：ｅｒｒｏｒ ｖｅｃｔｏｒ ｍａｇｎｉｔｕｄｅ）はＤＵＴから受信された信号の品質の測度である。

【発明の概要】

【0003】

例示的方法は、搬送波信号の振幅及び位相に基づく符号化からのシンボルと共に使用するためのものである。本方法は以下の操作を含み得る：第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成することであって、第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、第２のＥＶＭはＲＦ雑音及びシンボル復号エラーの両方により破損されている、生成すること；第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得することであって、第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている、取得すること；及び第３のＥＶＭ内のシンボル復号エラーを補正するためにマッピング関数を使用することにより第３のＥＶＭを調節すること。

【0004】

本方法は、前述の操作を行うために１つ又は複数の処理デバイスにより実行可能である命令を格納する１つ又は複数の非一時的機械可読媒体を使用することにより実施され得る。本方法は、１つ又は複数の以下の特徴を単独で又は組み合わせのいずれかで含み得る。

【0005】

マッピング関数は、符号化のタイプについて第１のＥＶＭを第２のＥＶＭへ関係付けるルックアップテーブル（ＬＵＴ：ｌｏｏｋ－ｕｐ ｔａｂｌｅ）を含み得る。第３のＥＶＭを調節することは、ＬＵＴを選択すること、ＬＵＴ内の第２のＥＶＭを第３のＥＶＭに基づき選択すること、及び第３のＥＶＭを、選択された第２のＥＶＭに対応する第１のＥＶＭで置換することを含み得る。この符号化のタイプは直交振幅変調を含み得る。

【0006】

マッピング関数は、以下のことを含む操作を行うように構成されたシミュレーションに基づき得る：第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない第１のシンボルのバージョン及びＲＦ雑音により破損された第１のシンボルのバージョンに基づき判断すること；各第１のＥＶＭを生成するために第１の値の組を平均化すること；第２のＥＶＭに対応する第２の値を、ＲＦ雑音により破損された第１のシンボルのバージョン及びＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損された第１のシンボルのバージョンに基づき判断すること；並びに各第２のＥＶＭを生成するために第２の値の組を平均化すること。各第１の値を判断することは、選択された第１のシンボルへＲＦ雑音を加えること及び選択された第１のシンボルとＲＦ雑音が加えられた選択された第１のシンボルとに基づき第１の値を判断することを含み得る。第１の値は、シンボル復号エラーなしに発生するであろう選択された第１のシンボルのＥＶＭであり得る。ＲＦ雑音を加えることは、雑音のガウス分布からランダム雑音を選択すること、及びランダム雑音と選択された第１のシンボルとを組み合わせることを含み得る。各第２の値を判断することは、シンボル復号エラーを、加えられたＲＦ雑音を有する選択された第１のシンボルへ加えること、及び加えられたＲＦ雑音を有する選択された第１のシンボルと加えられたＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方を有する選択された第１のシンボルとに基づき、第２の値を判断することを含み得る。第２の値は、シンボル復号エラーと共に発生するであろう選択された第１のシンボルのＥＶＭであり得る。シンボル復号エラーは、シンボルを復号するように構成されたコンステレーション復号器により適用される１つ又は複数の規則に基づく疑似エラーを含み得る。これらの規則の少なくとも１つは、コンステレーション上の理想的シンボル場所と加えられたＲＦ雑音を有する選択された第１のシンボルとの間の最短エラーベクトルの選択を必要とし得る。

【0007】

第１のシンボルは正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得され得る。本方法は、第３のＥＶＭが調節されるコンステレーション復号器内にマッピング関数を格納することを含み得る。

【0008】

例示的方法は、第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成し、ここで、第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており、第２のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている。本方法は以下の操作を含み得る：第１のＥＶＭに対応する第１の値を、ＲＦ雑音により破損されていない第１のシンボルのバージョン及びＲＦ雑音により破損された第１のシンボルのバージョンに基づき判断すること；各第１のＥＶＭを生成するために第１の値の組を平均化すること；第２のＥＶＭに対応する第２の値を、ＲＦ雑音により破損された第１のシンボルのバージョン及びＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損された第１のシンボルのバージョンに基づき判断すること；各第２のＥＶＭを生成するために第２の値の組を平均化すること；及び第１のＥＶＭと第２のＥＶＭとを関係付けること。

【0009】

本方法は、前述の操作を行うために１つ又は複数の処理デバイスにより実行可能である命令を格納する１つ又は複数の非一時的機械可読媒体を使用することにより実施され得る。本方法は１つ又は複数の以下の特徴を単独で又は組み合わせのいずれかで含み得る。

【0010】

第１のシンボルは正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得され得る。本操作は、ＲＦ雑音を第１のシンボルへ加えることによりＲＦ雑音により破損された第１のシンボルのバージョンを判断することを含み得る。ＲＦ雑音を加えることは、雑音のガウス分布からランダム雑音を選択すること及びランダム雑音と各第１のシンボルとを組み合わせることを含み得る。

【0011】

例示的試験システムは、（ｉ）実行可能である命令及び（ｉｉ）第１のシンボルの第１のエラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）と第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を格納するメモリ（例えば１つ又は複数のメモリデバイス）を含み、ここで、第１のＥＶＭは無線周波数（ＲＦ）雑音により破損されており第２のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている。試験システムはまた、信号を被試験デバイスから受信するためのこの信号に基づく第２のシンボルの第３のＥＶＭを取得するための復号器を含み、ここで、第３のＥＶＭはＲＦ雑音とシンボル復号エラーとの両方により破損されている。１つ又は複数の処理デバイスは、第３のＥＶＭ内のシンボル復号エラーを補正するためにマッピング関数を使用することにより第３のＥＶＭを調節する命令を実行するように構成される。

【0012】

第３のＥＶＭは復号器により加えられるシンボル復号エラーに基づき得る。シンボル復号エラーは、復号器により実装される少なくとも１つの所定規則に基づき得る。

【0013】

本明細書において説明される特徴（この概要セクションにおけるものを含む）の任意の２つ以上は本明細書において具体的に説明されない実装形態を形成するために組み合わせられ得る。

【0014】

本明細書において説明される様々なシステム又はその一部分は、１つ又は複数の非一時的機械可読ストレージ媒体上に格納され、１つ又は複数の処理デバイス上で実行可能である命令を含むコンピュータプログラム製品（例えばマイクロプロセッサ、特定用途集積回路、フィールドプログラマブルゲートアレイなどのプログラム論理等々）を介し少なくとも部分的に実装され得る。本明細書において説明されるプロセス又はその一部は、述べられた機能の制御を実施するために実行可能命令を格納するための１つ又は複数の処理デバイス及びコンピュータメモリを含み得る装置、方法又はシステムとして実装され得る。本明細書において説明されるデバイス、システム、プロセス及び／又は構成要素は例えば、設計、構築、配置、プレイスメント、プログラミング、操作、活性化、非活性化、及び／又は制御を介し構成され得る。

【0015】

１つ又は複数の実装態様の詳細は添附図面及び以下の明細書に記載される。他の機能及び利点は本明細書及び添付図面及び特許請求の範囲から明白になる。

【図面の簡単な説明】

【0016】

【図1】例示的エラーベクトルを示すコンステレーション線図である。

【図2】コンステレーション復号器によりＥＶＭ測定結果内へ導入される疑似エラー／シンボル復号エラーを示すコンステレーション線図である。

【図3】例示的試験チャネルの構成要素及び例示的試験システムの構成要素を示すブロック線図である。

【図4】ＥＶＭ測定における疑似エラーに対処するためにマッピング関数を生成するための例示的プロセスを示すフローチャートである。

【図5】図４のプロセスをグラフィック的に示すブロック線図である。

【図6】マッピング関数を使用するＥＶＭ測定における疑似エラーに対処するための例示的プロセスを示すフローチャートである。

【図7】様々な直交振幅変調（ＱＡＭ： ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ ａｍｐｌｉｔｕｄｅ ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の理論的ＥＶＭ、シミュレーションＥＶＭ及び試験器ＥＶＭを関係付けるグラフの例である。

【図8】様々な直交振幅変調（ＱＡＭ： ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ ａｍｐｌｉｔｕｄｅ ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の理論的ＥＶＭ、シミュレーションＥＶＭ及び試験器ＥＶＭを関係付けるグラフの例である。

【図9】様々な直交振幅変調（ＱＡＭ： ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ ａｍｐｌｉｔｕｄｅ ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の理論的ＥＶＭ、シミュレーションＥＶＭ及び試験器ＥＶＭを関係付けるグラフの例である。

【図10】様々な直交振幅変調（ＱＡＭ： ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ ａｍｐｌｉｔｕｄｅ ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の理論的ＥＶＭ、シミュレーションＥＶＭ及び試験器ＥＶＭを関係付けるグラフの例である。

【図11】理論的ＥＶＭ電力レベル、シミュレーションＥＶＭ電力レベル及び被試験デバイス（ＤＵＴ：ｄｅｖｉｃｅ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ）電力レベルを関係付けるグラフの例である。

【発明を実施するための形態】

【0017】

様々な図面内の同様な参照符号は同様な要素を示す。

【0018】

本明細書において説明されるのは、技術、プロセス、及び試験システム（エラーベクトル絶対値（ＥＶＭ）測定結果を補正するように構成される自動試験機器（ＡＴＥ：ａｕｔｏｍａｔｉｃ ｔｅｓｔ ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）など）の例示的実装形態である。ＥＶＭは、どれくらい正確に被試験デバイス（ＤＵＴ）がコンステレーション内のシンボルを送信するかの測度である。例示的コンステレーション線図は無線周波数（ＲＦ）信号を使用することにより送信されるシンボルのグラフィック表現を含む。この点に関し、デジタル変調信号は、正弦搬送波とデータ信号とを混合することにより正弦搬送波信号を使用することにより情報を符号化する。データ信号は、変調された信号を生成するために、搬送波信号の振幅、位相角、又は振幅及び位相角の両方を修正する。変調された信号は振幅値と位相値との組み合わせを含む。振幅値と位相値とのこの組み合わせはデータの１つ又は複数のビットにより定義されるシンボルを表し得る。これらのシンボルはコンステレーション線図上の点に対応する。コンステレーション線図上の各点の場所はその対応シンボルに関連する振幅及び位相角に基づく。

【0019】

図１の例示的コンステレーション線図１０では、４ビットシンボルを表す点は同相（Ｉ）及び直交（Ｑ）複素平面を表す２次元グラフ上に配置される。この例では、「１００１」などの各４ビットラベル付き点が当該面内のシンボルの理想的場所を表す。しかし、他の例では、各点は面内の理想点の推定場所を表し得る。

【0020】

受信データが復調されると、シンボルの場所（データにより表される「０００１」など）がコンステレーション線図上で識別される。いくつかのケースでは、データにより表されるシンボルの場所はコンステレーション線図上の当該シンボルの理想的場所と一致しない。例えば、データにより表されるシンボル（０００１）がコンステレーション線図上の点１２に位置し得る。「０００１」の理想点１１と測定された点１２との間の差が誤差（データが基づくＲＦ信号内の雑音に起因し得る）を構成する。この誤差はコンステレーション線図内の最も近い所定点に対して判断され得る。エラーベクトル１３は所定点と測定点との間の場所のこの差を表す。このベクトル１３の絶対値がＥＶＭである。

【0021】

コンステレーション復号器（又は単純に「復号器」）はコンステレーション線図内の潜在的エラーを解決するための規則を実施するように構成される。図２の例示的部分的コンステレーション線図１５では、シンボルの理想的場所は点１７、１８、１９、２０にある。例えばＲＦ雑音から生じる誤差に起因して、コンステレーション復号器はシンボルを場所２２に置く。ＲＦ雑音は、限定しないが白色雑音、位相雑音、又はデータ以外の他のタイプの信号などの任意の雑音関連特徴を含み得る。コンステレーション復号器には気付かれていないが、シンボルの正しい場所は場所１９にある。しかし、復号器は「ＥＶＭがコンステレーション線図上の最も近い理想的シンボル場所に対して取られるように要求する」復号化規則によりプログラムされる。この例では、当該場所は、１８であり、ベクトル２５に基づくＥＶＭの代わりにベクトル２４に基づくＥＶＭを生じる（この事例ではＥＶＭの正しい基礎となるであろう）。したがって、結果ＥＶＭは、疑似エラー又はシンボル復号エラーと本明細書では呼ばれる誤差を含む。

【0022】

本明細書において説明される例示的システム、技術、及びプロセスはこの疑似エラーに対処し、ＥＶＭ測定精度を改善し得る。疑似エラーに対処することは疑似エラーを全体的に又は少なくとも部分的に補正することを含み得る。これらの技術及びプロセスは、試験システムの文脈で説明されるが、試験システムとの使用に又は試験文脈における使用に限定されない。

【0023】

図３は例示的試験システム３５又はＡＴＥの例示的試験チャネル（「チャネル」）３４を示す。図３に示すように、試験チャネル３４はＤＵＴ３７（８０２．１１ｂｅ Ｗｉ－Ｆｉデバイス、又はＲＦ信号を解析のために試験システムへ送信するように構成された他のタイプのデバイスなど）へ接続するように構成される。８０２．１１ｂｅ Ｗｉ－Ｆｉデバイスについて述べるが、ＲＦ信号を出力する任意のタイプのＤＵＴが試験システムにより試験され得る。

【0024】

試験チャネル３４は、ＤＵＴから入力信号を受信するように、コンステレーション線図上のプレイスメントのためのシンボルの場所を出力する又はコンステレーション線図自体を出力するように構成されたハードウェアデバイスであり得る復号器３６を含む。ＤＵＴからの入力信号は、検査スティミュラスに対する応答であってもよいし検査スティミュラスと無関係な応答であってもよい。復号器は、その例が本明細書において説明される１つ又は複数の処理デバイス３６ａを含み得る。復号器はまた、１つ又は複数の処理デバイス３６ａを以下に説明される操作（疑似エラーに対処するための本明細書において説明されるプロセスを含む）のすべて又はいくつかを行うようにプログラムするコンピュータコード又は命令３６ｃを格納するメモリ３６ｂを含む。いくつかの実装形態では、処理デバイス及びメモリは、以下に説明される制御システム３８（疑似エラーに対処するための本明細書において説明されるプロセスのすべて又は一部を実施する復号器３６の動作を制御する）の一部であり得る。

【0025】

復号器３６は、コンステレーション復号器であり得、また、ベクトル信号解析器（ＶＳＡ：ｖｅｃｔｏｒ ｓｉｇｎａｌ ａｎａｌｙｚｅｒ）機能を実施するように構成（例えばプログラム及び／又は制御）され得る。例示的ベクトル信号解析器は、ＶＳＡの帯域内にある周波数における入力信号の絶対値及び位相を測定するように構成される。ＶＳＡはまた、チャネル内信号測定を行う（入力信号のＥＶＭを測定することを含む）ように構成され得る。復号器は、限定しないが例えば「ＥＶＭがシンボルのコンステレーション線図上の最も近い理想的場所（例えば図２内の場所１８）に対して判断されることを要求する」復号化規則により構成（例えばプログラム及び／又は制御）され得る。

【0026】

試験システム３５はまた、制御システム３８を含む。制御システム３８は、その例が本明細書において説明される１つ又は複数の処理デバイス３８ａ；及び雑音又はＥＶＭ内の破損の他の源を補正すること及びＥＶＭ測定結果３９を出力することなどの機能を実施するために実行可能であるコンピュータコード３８ｃ又は命令を格納するメモリ３８ｂを含み得る。制御システム３８により実施され得るプロセスの例は２０２２年５月１７日申請の米国特許出願第１７／７４６，２３０号明細書：題名”Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ Ｅｒｒｏｒ Ｖｅｃｔｏｒ Ｍａｇｎｉｔｕｄｅ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ”に説明されている。いくつかの実装形態では、疑似エラーに対処するための本明細書において説明されたプロセスを実施するためのコンピュータコードは制御システム内にだけ存在し得、復号器を制御するために使用され得る。いくつかの実装形態では、疑似エラーに対処するための本明細書において説明されるプロセスを実施するためのコンピュータコードは復号器内にだけ存在し得る。いくつかの実装形態では、疑似エラーに対処するための本明細書において説明されるプロセスを実施するためのコンピュータコードは復号器及び制御システム間で分散され得る。いくつかの実装形態では、疑似エラーに対処するために本明細書において説明されたプロセスを実施するためのコンピュータコードは試験システムの別の部分内に又は試験システムの外に存在し得る。

【0027】

疑似エラーに対処するための例示的プロセスは第１のシンボルの第１のＥＶＭと第１のシンボルの第２のＥＶＭとを関係付けるマッピング関数を生成することを含み、ここで、第１のＥＶＭはＲＦ雑音により破損されており、第２のＥＶＭはＲＦ雑音及び疑似エラーの両方（すなわち、シンボル復号エラー）により破損されている。マッピング関数の例は、限定しないが単一段関数、多段伝達関数、ルックアップテーブル（ＬＵＴ）、又はそれらの組み合わせを含む。図４は、例示的マッピング関数を生成するための例示的プロセス４０に含まれる操作を示す。これらの操作は、コンピューターソフトウェアで行われ得、試験されるデバイス毎には繰り返されない。これらの操作は図５に示すブロック線図５０に関して説明される。この点に関し、ブロック線図５０は、プロセス４０のグラフィック表現であり、コンピューターソフトウェア内で実施されるシミュレーションを表す。具体的には、ブロック線図５０は、シミュレートされランダムに選択されたシンボル、雑音及び疑似エラーに基づくマッピング関数を構築するための統計的プロセスを表す。したがって、本明細書において説明される例示的システム、技術及びプロセスは、シミュレーションのための基準データとして使用される特定パケットに関する事前情報を必要としない。

【0028】

図４及び５を参照すると、プロセス４０は、データを受信すること（４０ａ）と、このデータに基づき所定電力レベルの組のシンボルのうちの１つのシンボル（ＥＶＭが判断される信号の信号対雑音比（ＳＮＲ）電力など）を判断すること（４０ｂ）とを含む。ＳＮＲ電力はベクトル信号生成器（ＶＳＧ）信号電力に基づき得る。ＶＳＧは、様々な電力レベルにおける振幅、周波数及び波形などの所定特性を有する試験ベクトル（例えば電気信号）を生成する電子デバイスであるか、又はそれを含む。これらの生成された試験ベクトルはデバイス試験のためのスティミュラスとして使用される。

【0029】

図５の例では、データ５１は、コンステレーション線図上のシンボル５３の場所を判断するコンステレーションマッピングブロック５２において受信される。データは、ＤＵＴ信号を表し得、所定電力レベル（対応信号のＳＮＲ電力レベルなど）の所定正規分布のシンボルからデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得及び受信され得る。所定正規分布及び電力レベルは前の試験結果を使用することにより判断され得る。限定しないがモンテカルロサンプリング技術を含む任意の適切なサンプリング技術が使用され得る。一般的に、モンテカルロサンプリング技術は、可能な入力の領域を定義することと、上記領域全体にわたって確率分布（この例では正規分布）から入力をランダムに生成することとを含む。

【0030】

ブロック５９では、ＲＦ雑音などの雑音５５がシンボル５３のデータへ加えられる（４０ｃ）。ＲＦ雑音を加えることは、雑音のガウス分布からランダム雑音を選択することと、選択されたランダム雑音とシンボルのデータとを組み合わせることとを含み得る。この結果は、加えられたＲＦ雑音を有するシンボル５６である。

【0031】

ブロック５８における図４のブランチ４１及び図５の経路５７では、プロセス４０はシンボルの第１のＥＶＭ測定結果／値を判断する（４０ｄ）。「ＥＶＭ」は本明細書ではＥＶＭ測定結果又はＥＶＭ値の省略表現として使用される。この文脈では、「第１」は、数値的含蓄を有するのではなく、むしろ、ブランチ４１／経路５７において取得されたＥＶＭを、以下に説明されるブランチ４２／経路６０において取得されたＥＶＭから区別するためにだけ使用される。第１のＥＶＭは、加えられたＲＦ雑音を有するシンボル５６及び加えられたＲＦ雑音を有しないシンボル５３に基づく。これらのシンボルのいずれも、復号器により導入される疑似エラーを含まない。図２を参照すると、例えば、加えられたＲＦ雑音を有しないシンボルは場所１９におけるシンボルであり得、加えられたＲＦ雑音を有するシンボルは場所２２におけるシンボルであり得る。したがって、この例でのＥＶＭはベクトル２５の絶対値である。このＥＶＭは、復号器により導入される疑似エラーなしに取得されるＥＶＭであるので「理論的」ＥＶＭと呼ばれる。

【0032】

ブロック６１では、プロセス４０は現電力レベル（例えばＳＮＲ電力レベル）の第１のＥＶＭの平均を判断する（４０ｅ）。この平均は、統計的ノルムの外のＥＶＭの影響を低減するために又は無くすためにここでは使用される。所定電力レベルのすべての又はいくつかの第１のＥＶＭの平均は所定電力レベルの理論的ＥＶＭ６３としてプロセス４０により使用される。この点に関し、第１のＥＶＭが、判断された第１の値である場合、第１のＥＶＭは平均化を開始する。第１のＥＶＭが、判断された第１の値でない場合、第１のＥＶＭは以前の第１のＥＶＭの移動平均へ取り込まれ得る。代替的に、すべての第１のＥＶＭが判断され得、次にそれらの第１のＥＶＭのすべての平均が計算され得る。

【0033】

この例では、プロセス４０は、平均内に含むべき現在の所定電力レベルに関して処理する（４０ｅ）ために追加データ（例えばランダムサンプリングを介し取得されたシンボル）が存在するかどうかを判断する（４０ｆ）。所定電力レベルに関し処理すべきデータの量は復号器及び／又は制御システム内へプログラムされ得る。例えば、ユーザは、各理論的ＥＶＭを取得するために処理されるシンボルの数がランダムサンプリングを介し取得されるようにプログラムし得る。この数は電力レベル毎に同じであっても異なってもよい。追加処理すべきデータが存在すれば（４０ｆ）、プロセスは操作４０ａへ戻り、その後、ランダムサンプリングを介し取得された電力のシンボルを表す新たに受信されたデータに関し、操作４０ｂ～４０ｆが繰り返される。電力レベルに関して処理すべき追加データ（例えば追加シンボル）がなければ（４０ｆ）、理論的ＥＶＭが、そのための対応所定電力レベルに関連してメモリ内に格納され得る（４０ｇ）。

【0034】

ブランチ４１／経路５７において処理される同じデータ（例えばシンボル）がまた、図４のブランチ４２において図５の経路６０において処理される。いくつかの実装形態では、ブランチ４１／経路５７において行われる処理はブランチ４２／経路６０において行われる処理と並列に行われ得る。例えば、ブランチ４１／経路５７において行われる処理のすべて又は一部はブランチ４２／経路６０において行われる処理と同時に行われ得る。いくつかの実装形態では、ブランチ４１／経路５７及びブランチ４２／経路６０において行われる処理は直列であり得る。例えば、ブランチ４１／経路５７において行われる処理はブランチ４２／経路６０において行われる処理の前に行われ得、逆もまた同様である。

【0035】

ブランチ４２／経路６０において、コンステレーション復号器ブロック６４では、疑似エラーがまた、ＲＦ雑音及び加えられた疑似エラーの両方を有するシンボル６５を生成するために、加えられたＲＦ雑音を有するシンボル５６へ加えられる（４０ｈ）。この例では、コンステレーション復号器ブロック５４は、コンステレーション線図内の潜在的エラー（図２に関し説明されたものなど）を解決するために復号器３６と同じ規則を実施することにより図３のハードウェア復号器３６をシミュレートするソフトウェアモジュール又はルーチンであり得る。

【0036】

ブロック６６では、プロセス４０はオリジナルシンボル５３に基づき第２のＥＶＭを判断する（４０ｉ）。この文脈では、「第２」は、数値的含蓄を有するのではなく、むしろブランチ４２／経路６０において取得されたＥＶＭをブランチ４１／経路５７において取得されたＥＶＭから区別するためにだけ使用される。第２のＥＶＭは、加えられたＲＦ雑音を有するシンボル５６と、加えられたＲＦ雑音を有するとともに疑似エラーを含むシンボル６５とに基づく。図２を参照すると、例えば、加えられたＲＦ雑音を有するシンボル５６は場所２２に在り得、疑似エラーにより破損されたＥＶＭは、復号器５４により実施される規則がエラーベクトル２４としたがってＥＶＭとを判断するために最も近い理想的シンボル場所１８を選択することであるので、ベクトル２４の絶対値であり得る。このＥＶＭは、「シミュレーション」ＥＶＭと呼ばれ、ＲＦ雑音と復号器５４により導入される疑似エラーとの両方に基づき取得されるＥＶＭである。

【0037】

ブロック６８では、プロセス４０は現在の所定電力レベルの第２のＥＶＭの平均を判断する（４０ｊ）。この平均は統計的ノルム外のＥＶＭの影響を低減するために又は無くすために使用される。ブランチ４１／経路５７と同様に、所定電力レベルの第２のＥＶＭのすべて又はいくつかの平均は、所定電力レベルのシミュレーションＥＶＭ７０としてプロセス４０により使用される。この点に関し、第２のＥＶＭが、判断された第１の値である場合、第２のＥＶＭは平均化を開始する。第２のＥＶＭが、判断された第１の値でない場合、第２のＥＶＭは以前の第２のＥＶＭの移動平均内へ取り込まれ得る。代替的に、すべての第２のＥＶＭが判断され得、次にその平均が計算され得る。

【0038】

上述のように、この例では、プロセス４０は、平均に含むべき特定電力レベルに関して処理する（４０ｊ）ために、追加データ（例えばランダムサンプリングを介し取得されたシンボル）が存在するかどうかを判断する（４０ｆ）。処理すべき追加データが存在すれば（４０ｆ）、プロセスは操作４０ａへ戻り、その後、操作４０ｂ～４０ｆ、操作４０ｈ～４０ｊが、ランダムサンプリングを介し取得された電力のシンボルを表す新たに受信されたデータに関し、繰り返される。電力レベルに関して処理すべき追加データ（例えば追加シンボル）がなければ（４０ｆ）、シミュレーションＥＶＭが、そのための対応所定電力レベルに関連してメモリ内に格納され得る（４０ｇ）。

【0039】

プロセス４０は、マッピング関数を生成するために取得すべき追加ＥＶＭがあるかどうかを判断する（４０ｋ）。例えば、マッピング関数は、所定数の電力レベルの理論的ＥＶＭ及びシミュレーションＥＶＭのペアに基づき得る又はそれを必要とし得る。この所定数の電力レベルは、追加ＥＶＭが取得される必要があるかどうかを理論的ＥＶＭ及びシミュレーションＥＶＭが判断するために取得された多くの電力レベルと比較され得る。追加ＥＶＭがこの比較に基づき取得されることになれば（４０ｋ）、処理は操作４０ａへ戻り、ここでデータが受信される。上述のように、このデータは、新しい電力レベルのシンボルの所定正規分布からデータセットをランダムにサンプリングすることにより取得され得る。その後、操作４０ｂ～４０ｋは取得すべき追加ＥＶＭがなくなる（４０ｋ）まで１回又は複数回（（例えば複数回））繰り返され得る。

【0040】

プロセス４０は理論的ＥＶＭとシミュレーションＥＶＭとを関係付ける（４０ｌ）。例えば、図１１に示すように、理論的ＥＶＭ１００及びシミュレーションＥＶＭ１０２は、ある範囲の電力レベル１０２全体にわたってグラフ９９上でプロットされ得る。プロセス４０は、理論的ＥＶＭとシミュレーションＥＶＭとの関係（理論的ＥＶＭとグラフィック的に示されたシミュレーションＥＶＭとの関係など）に基づきマッピング関数をメモリ内に格納する（４０ｆ）。この点に関し、図７～図１０の例示的グラフは、ＶＳＡ雑音が優勢であり且つ変化せず、その結果「ＶＳＧ電力スイープ（例えば範囲）は、ＥＶＭが測定されている信号のＳＮＲ電力スイープと等価である」特別なケースの同様なプロットを示す。

【0041】

マッピング関数は単一段関数、多段伝達関数、１つ又は複数のＬＵＴ、又はそれらの組み合わせであり得るか、又はそれらを含み得る。いくつかの実装形態では、マッピング関数は復号器３６上のメモリ３６ｂ（図３）内に格納され得、ここで、マッピング関数は、以下の図６に関し説明されるやり方で疑似エラーに対処するために復号器３６により使用され得る。いくつかの実装形態では、マッピング関数は制御システム３８上のメモリ３８ｂ内に格納され得、ここで、マッピング関数は、以下の図６に関し説明されるやり方で疑似エラーに対処するために復号器３６を制御する制御システムにより実行され得る。

【0042】

マッピング関数は、シンボルを符号化するために使用される符号化のタイプと関連して格納され得る。一例として、直交振幅変調（ＱＡＭ）がシンボルを符号化するために使用され得る。ＱＡＭは、振幅シフトキーイング（ＡＳＫ：ａｍｐｌｉｔｕｄｅ－ｓｈｉｆｔ ｋｅｙｉｎｇ）デジタル変調又は振幅変調（ＡＭ：ａｍｐｌｉｔｕｄｅ ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）アナログ変調を使用することにより２つの搬送波の振幅を変更（すなわち修正）することにより２つのアナログメッセージ信号又は２つのデジタルビットストリームを運ぶ。位相変調及び位相シフトキーイング（デジタルＰＳＫ）は、ＱＡＭの特別なケース（送信された信号の振幅は一定であるがその位相は変化する）と考えられ得る。ＱＡＭでは、コンステレーション点は等しい垂直方向間隔及び水平方向間隔を有するグリッドパターンで配置され得る。グリッド内の点の数は通常、１シンボル当たりのビットの数に対応する２のべき乗である。プロセス４０は様々な符号化のマッピング関数を生成するために使用され得る。

【0043】

具体的には、プロセス４０は、１シンボル当たり異なる数のビットを使用することにより符号化されたデータセットを使用することにより繰り返され得る。例えば、プロセス４０は、１シンボル当たり異なる数のビットを使用することにより符号化されたデータの正規分布からランダムにサンプリングされたデータを入力データとして各回に使用することにより何回も繰り返され得る。したがって、プロセスは、符号化のタイプ毎に異なる又は別々のマッピング関数を生成し、それをメモリ内に格納し得る。図７～図１０に示される例では、プロセスは、４０９６ＱＡＭ変調の理論的ＥＶＭ７５とシミュレーションＥＶＭ７６との関係（図７）、１０２４ＱＡＭ変調の理論的ＥＶＭ８０とシミュレーションＥＶＭ８１との関係（図８）、２５６ＱＡＭ変調の理論的ＥＶＭ８３とシミュレーションＥＶＭ８４との関係（図９）、６４ＱＡＭ変調の理論的ＥＶＭ８６とシミュレーションＥＶＭ８７の関係（図１０）を生成する。同様に、プロセス４０は、図１１に示すような、異なる又は別々のマッピング関数を生成し、それをメモリ内に格納し得、図１１では、ＥＶＭは、例えば６４ＱＡＭ変調、２５６ＱＡＭ変調、１０２４ＱＡＭ変調及び４０９６ＱＡＭ変調に関してＳＮＲ電力スイープに対してプロットされる。プロセス４０は、任意の適切な符号化のタイプの別のマッピング関数を生成し、それをメモリ内に格納し得る。いくつかの実装形態では、多段関数などの単一マッピング関数が複数の異なる符号化のタイプに対処し得る。図７～図１０の符号化は一例に過ぎないということと、プロセス４０は、異なるビットのＱＡＭ変調と共に又は本明細書において説明されない他の符号化のタイプと共に使用され得、本明細書で説明されるような別の符号化のタイプ毎にマッピング関数を生成し得るということとに留意されたい。

【0044】

図６は、復号器３６により生成されるＥＶＭの疑似エラーに対処する（例えば少なくとも部分的に補正する）ための例示的プロセス６２内に含まれる操作を示す。いくつかの例では、プロセス６２は復号器３６、制御システム３８、又は復号器３６と制御システム３８との組み合わせにより実施され得る。プロセス６２は、試験中のＤＵＴから取得された信号からシンボルのＥＶＭ（「試験器ＥＶＭ」と呼ばれる）を試験プロセス中に復号器３６から取得すること（６２ａ）を含み、ここで、当該シンボルはＲＦ雑音と疑似エラーとの両方により破損されている。プロセス６２は、試験器ＥＶＭを生成するシンボルにより使用される符号化のタイプに基づきＬＵＴなどのマッピング関数を選択すること（６２ｂ）を含む。例えば、シンボルが１０２４ＱＡＭ変調されれば、試験器は図８に示す理論的ＥＶＭとシミュレーションＥＶＭとの関係を反映するＬＵＴを選択し得る。プロセス６２は、使用される符号化のタイプを例えば１シンボル当たり受信されたビットの数に基づき識別し得る。

【0045】

プロセス６２は、試験器ＥＶＭに基づくマッピング関数を使用することにより理論的ＥＶＭを判断する。例えば、特定ＤＵＴ１０９の図１１のプロット１０４では、試験器ＥＶＭデータ点１０５はシミュレーションＥＶＭ１０２曲線を少なくとも曲線の一部に関して密に追跡し得る（これはシミュレーションが曲線の当該部分に関して少なくとも正確だったという指標である）。試験器ＥＶＭデータ点９２、９０、９３、９４がまた、４０９６ＱＡＭ変調（図７）に関して、１０２４ＱＡＭ変調（図８）に関して、２５６ＱＡＭ変調（図９）に関して、６４ＱＡＭ変調（図１０）に関してそれぞれ示される。

【0046】

この例では、プロセス６２は、１０２４ＱＡＭ変調のＬＵＴなどのマッピング関数又は複数の符号化のタイプ（１０２４ＱＡＭ変調を含む）に対処するマッピング関数を選択する（６２ｂ）。プロセス６２は、試験器ＥＶＭの補正又は調節されたバージョンである理論的ＥＶＭを、試験器ＥＶＭに基づくマッピング関数を使用することにより判断する（６２ｃ）。図１１に示す例において、２つのＤＵＴ１０９、１１０のデータを示すプロット１０４を参照すると、試験器ＥＶＭ１１１が－３８ｄＢｍ電力のＳＮＲ電力レベルにおいて－３７ｄＢであれば（追随線１１２と１１３）、対応理論的ＥＶＭ１１６は約－３６ｄＢである。この理論的ＥＶＭ１１６は復号器により導入された疑似エラーを除去した試験器ＥＶＭ１１１に対応する（例えばこれに等しい又はこれの推定値である）。したがって、プロセス６２は、試験器ＥＶＭ（例えばＥＶＭ１１１）を理論的ＥＶＭ（例えばＥＶＭ１１６）で置換すること（６２ｄ）により試験器ＥＶＭを調節し、これにより試験器ＥＶＭ内の疑似エラーに対処する。結果の疑似エラー補正済みＥＶＭが例えば復号器３６から制御システム３８へ出力される（６２ｅ）、コンピュータ符号化（例えば機械実行可能命令）が、雑音又は疑似エラー補正済みＥＶＭ内の破損の他の源を補正するためなどの機能を実施するために実行され得る。

【0047】

図８に示す別の例では、試験器ＥＶＭ９５が－５０ｄＢｍの電力において－３０ｄＢであれば（追随線９６）、対応理論的ＥＶＭ９７は約－２６ｄＢである。この理論的ＥＶＭ９７は、復号器により導入された疑似エラーを除去した試験器ＥＶＭ９５に対応する（例えばこれに等しい又はこれの推定値である）。したがって、プロセス６２は、試験器ＥＶＭ（例えばＥＶＭ９５）を理論的ＥＶＭ（例えばＥＶＭ９７）で置換すること（６２ｄ）により試験器ＥＶＭを調節し、これにより試験器ＥＶＭ内の疑似エラーに対処する。結果の疑似エラー補正済みＥＶＭが例えば復号器３６から制御システム３８へ出力され（６２ｅ）、ここで、コンピュータ符号化（例えば機械実行可能命令）が、雑音又は疑似エラー補正済みＥＶＭ内の破損の他の源を補正するためなどの機能を実施するために実行され得る。

【0048】

本明細書において説明されたシステム及び処理のすべて又は一部並びにそれらの様々な修正形態は、１つ又は複数の情報キャリア（１つ又は複数の非一時的機械可読ストレージ媒体など）内に有形に具現化された１つ又は複数のコンピュータプログラムを使用する１つ又は複数のコンピュータ（制御システム３８など）により少なくとも部分的に構成され制御され得る。コンピュータプログラムは、コンパイル型又はインタープリタ型言語を含む任意の形式のプログラミング言語で書かれ得、スタンドアロンプログラムとして、又はモジュール、パーツ、サブルーチンとして、又はコンピューティング環境内の使用に好適な他のユニットとして、を含む任意の形式で配備され得る。コンピュータプログラムは、１つのサイトにおいて１つのコンピュータ又は複数のコンピュータ上で実行されるように配備され得る、又は複数のサイトにわたって分散されネットワークにより相互接続されるように配備され得る。

【0049】

本明細書において説明された試験システム及びプロセスの構成又は制御に関連する行為は、本明細書において説明された操作のすべて又はいくつかを制御する又は行うために１つ又は複数のコンピュータプログラムを実行する１つ又は複数のプログラム可能プロセッサにより行われ得る。試験システム及びプロセスのすべて又は一部は、ＦＰＧＡ（フィールドプログラマブルゲートアレイ）、及び／又はＡＳＩＣ（特定用途集積回路）、又は機器ハードウェアへ局所化される埋め込み型マイクロプロセッサなどの専用論理回路構成により構成又は制御され得る。

【0050】

コンピュータプログラムの実行に好適なプロセッサは、一例として、汎用及び専用マイクロプロセッサと、任意のタイプのデジタルコンピュータの１つ又は複数のプロセッサとの両方を含む。通常、プロセッサは、読み取り専用ストレージ領域又はランダムアクセスストレージ領域から又はその両方から命令及びデータを受信する。コンピュータの要素は、命令を実行するための１つ又は複数のプロセッサと、命令及びデータを格納するための１つ又は複数のストレージ領域デバイスとを含む。通常、コンピュータはまた、データを格納するためのマスストレージデバイスなど１つ又は複数の機械可読ストレージ媒体（例えば、磁気、光磁気ディスク、又は光ディスクなど）を含むことになるか、又はそれらからデータを受信する若しくはそれらへデータを送信する若しくはその両方を行うように作動可能に結合されることになる。コンピュータプログラム命令及びデータを具現化するために好適な非一時的機械可読ストレージ媒体は、一例としてＥＰＲＯＭ（消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ）、ＥＥＰＲＯＭ（電気的消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ）及びフラッシュストレージ領域デバイスなどの半導体ストレージ領域デバイス；内部ハードディスク又は着脱可能ディスクなどの磁気ディスク；光磁気ディスク；並びにＣＤ－ＲＯＭ（コンパクトディスク読み出し専用メモリ）及びＤＶＤ－ＲＯＭ（デジタルバーサタイルディスク読み出し専用メモリ）を含むすべての形式の不揮発性ストレージ領域を含む。

【0051】

本明細書で述べた様々な実装形態の要素は、これまで具体的に記載されない他の実装形態を形成するために組み合わせられ得る。いくつかの要素は、それらの動作又はシステムの動作全般に悪影響を与えることなく、先に説明されたシステムから省かれ得る。さらに、様々な別の要素が、本明細書において説明された機能を行うために１つ又は複数の個々の要素内へ組み込まれ得る。

【0052】

本明細書において具体的に説明されない他の実装形態もまた以下の特許請求の範囲内にある。

【符号の説明】

【0053】

１０ コンステレーション線図
１１ 理想点
１２ 点
１３ エラーベクトル
１５ コンステレーション線図
１６ 場所
１７ 場所
１８ 場所
１９ 場所
２０ 場所
２２ 場所
２４ ベクトル
２５ ベクトル
３４ 試験チャネル
３５：試験システム
３６ 復号器
３６ａ １つ又は複数の処理デバイス
３６ｂ メモリ
３６ｃ 実行可能コンピュータコード
３８ 制御システム
３８ａ １つ又は複数の処理デバイス
３８ｂ メモリ
３８ｃ 実行可能コンピュータコード
３９ ＥＶＭ測定結果
４０ プロセス
４０ａ－４０ｃ，４０ｈ－４０ｊ 操作
４１ ブランチ
４２ ブランチ
５０ ブロック線図
５１ データ
５２ コンステレーションマッピングブロック
５３ ＲＦ雑音を有しないシンボル
５４ コンステレーション復号器
５５ 雑音
５６ ＲＦ雑音を有するシンボル
５７ 経路
５８ 第１のＥＶＭ
５９ ブロック
６０ 経路
６１ 平均化
６２ プロセス
６３ 理論的ＥＶＭ
６５ ＲＦ雑音及び疑似エラーを有するシンボル
６６ 第２のＥＶＭ
６８ 平均化
７０ シミュレーションＥＶＭ
７５ 理論的ＥＶＭ
７６ シミュレーションＥＶＭ
８０ 理論的ＥＶＭ
８１ シミュレーションＥＶＭ
８３ 理論的ＥＶＭ
８４ シミュレーションＥＶＭ
８６ 理論的ＥＶＭ
８７ シミュレーションＥＶＭ
９０ 試験器ＥＶＭ
９２ 試験器ＥＶＭ
９３ 試験器ＥＶＭ
９４ 試験器ＥＶＭ
９５ 試験器ＥＶＭ
９６ 追随線９６
９７ 理論的ＥＶＭ
９９ グラフ
１００ 理論的ＥＶＭ
１０２ シミュレーションＥＶＭ
１０４ プロット
１０９ ＤＵＴ
１１０ ＤＵＴ
１１１ 試験器ＥＶＭ
１１２ 追随線
１１３ 追随線
１１６ 理論的ＥＶＭ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【外国語明細書】