特開2024-151460検査支援システム及び、検査支援方法

発明の名称　検査支援システム及び、検査支援方法

出願人　株式会社大林組　（識別番号 549）

　　　　特許公開件数ランキング 66 位（398件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 203 位（157件）（共同出願を含む）

出願人　公益財団法人レーザー技術総合研究所　（識別番号 591114803）

　　　　特許公開件数ランキング 31345 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 9401 位（3件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2024-151460

公報発行日　2024年10月25

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-151460

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