特開2024-151957昇圧装置、補正値検出用情報生成装置、温度推定装置、内部抵抗推定装置、昇圧方法、補正値検出用情報生成方法、及びプログラム
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024151957
(43)【公開日】2024-10-25
(54)【発明の名称】昇圧装置、補正値検出用情報生成装置、温度推定装置、内部抵抗推定装置、昇圧方法、補正値検出用情報生成方法、及びプログラム
(51)【国際特許分類】
H02M 3/155 20060101AFI20241018BHJP
【ＦＩ】
H02M3/155 H
【審査請求】未請求
【請求項の数】16
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023065808
(22)【出願日】2023-04-13
(71)【出願人】
【識別番号】000001236
【氏名又は名称】株式会社小松製作所
(74)【代理人】
【識別番号】110001634
【氏名又は名称】弁理士法人志賀国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】浅井 石南
(72)【発明者】
【氏名】井上 洋平
【テーマコード（参考）】
5H730
【Ｆターム（参考）】
5H730AS01
5H730AS04
5H730BB14
5H730BB57
5H730BB82
5H730BB88
5H730DD03
5H730DD16
5H730EE59
5H730FD01
5H730FD41
5H730FG05
5H730FG10
5H730FG12
5H730FG22
(57)【要約】
【課題】多相化された昇圧チョッパ回路において、フィードバック制御において要求される速度に追従可能な電流測定回路を用いつつ、制御性の良いフィードバック制御を行う。
【解決手段】測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、昇圧回路の数に応じて生じる相違であってサンプル電流値の平均値とインダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して得られる補正インダクタ電流値と、昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるようにスイッチ素子を駆動する制御部と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、昇圧回路の数に応じて生じる相違であってサンプル電流値の平均値とインダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して得られる補正インダクタ電流値と、昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるようにスイッチ素子を駆動する制御部と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
各々がインダクタと、スイッチ素子とを有する複数の昇圧回路と、平滑コンデンサとによって形成される多相化された昇圧チョッパ回路と、
前記インダクタの各々を流れる電流を測定して測定インダクタ電流値を取得する複数の電流測定回路と、
前記測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して得られる補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する制御部と、
を備える昇圧装置。
前記インダクタの各々を流れる電流を測定して測定インダクタ電流値を取得する複数の電流測定回路と、
前記測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して得られる補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する制御部と、
を備える昇圧装置。
【請求項2】
少なくとも前記昇圧チョッパ回路の入力端子間の電圧値を含む前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報と、前記電流補正値との関係を示す補正値検出用情報を予め記憶する記憶部を備え、
前記制御部は、
前記サンプル電流値が得られた際の前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報と、前記補正値検出用情報とに基づいて、前記電流補正値を検出し、検出した前記電流補正値を前記サンプル電流値に適用して前記補正インダクタ電流値を得る、
請求項１に記載の昇圧装置。
前記制御部は、
前記サンプル電流値が得られた際の前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報と、前記補正値検出用情報とに基づいて、前記電流補正値を検出し、検出した前記電流補正値を前記サンプル電流値に適用して前記補正インダクタ電流値を得る、
請求項１に記載の昇圧装置。
【請求項3】
多相化された昇圧チョッパ回路をインタリーブ制御する昇圧装置の前記昇圧チョッパ回路に含まれるインダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値と、前記インダクタを流れる電流を電流測定回路によって測定して一定のサンプリング間隔でサンプリングすることにより得られるサンプル電流値の平均値との相違の補正に用いられる電流補正値と、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報との関係を示す補正値検出用情報を生成する補正値検出用情報生成装置であって、
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出する実電流推定部と、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出する測定電流推定部と、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出するサンプル電流推定部と、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する情報生成部と、
を備える補正値検出用情報生成装置。
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出する実電流推定部と、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出する測定電流推定部と、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出するサンプル電流推定部と、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する情報生成部と、
を備える補正値検出用情報生成装置。
【請求項4】
前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報は、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間の電圧値と、前記昇圧チョッパ回路の出力端子間の電圧値とを含み、前記パラメータは、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間の電圧値と、前記昇圧チョッパ回路の出力端子間の電圧値とを組み合わせて生成される、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項5】
前記パラメータにおいて、前記出力端子間の電圧値が一定値に固定される、
請求項４に記載の補正値検出用情報生成装置。
請求項４に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項6】
前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報は、更に、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に供給される電力値を含み、前記パラメータは、組み合わせの要素に前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に供給される電力値が加えられて生成される、
請求項４または請求項５に記載の補正値検出用情報生成装置。
請求項４または請求項５に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項7】
前記インダクタ特性値には、前記インダクタのインダクタンス値であって、複数の前記電力値の各々に対して予め定められるインダクタンス値が含まれる、
請求項６に記載の補正値検出用情報生成装置。
請求項６に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項8】
前記インダクタの全部、または、一部は、磁気結合された磁気結合インダクタであり、磁気結合されている前記インダクタ特性値には、結合係数が含まれる、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項9】
前記電流測定回路は、
前記インダクタを流れる電流の電流値を示すセンサインダクタ電流値を検出するセンサ回路と、
前記センサ回路が検出する前記センサインダクタ電流値をローパスフィルタリングして測定インダクタ電流値を得るフィルタ回路と、
を備えており、
前記電流測定回路の時定数には、前記センサ回路の時定数と、前記フィルタ回路の時定数とが含まれる、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
前記インダクタを流れる電流の電流値を示すセンサインダクタ電流値を検出するセンサ回路と、
前記センサ回路が検出する前記センサインダクタ電流値をローパスフィルタリングして測定インダクタ電流値を得るフィルタ回路と、
を備えており、
前記電流測定回路の時定数には、前記センサ回路の時定数と、前記フィルタ回路の時定数とが含まれる、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項10】
前記情報生成部は、
前記補正値検出用情報として、前記電流補正値の離散値を要素として含むテーブル形式で示される情報を生成するか、または、前記電流補正値を算出する関数によって示される情報を生成する、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
前記補正値検出用情報として、前記電流補正値の離散値を要素として含むテーブル形式で示される情報を生成するか、または、前記電流補正値を算出する関数によって示される情報を生成する、
請求項３に記載の補正値検出用情報生成装置。
【請求項11】
請求項１に記載の昇圧装置の制御部に接続する温度推定装置であって、
前記昇圧チョッパ回路における測定対象箇所、または、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に接続する機器における測定対象箇所を含む部材の外部から測定可能な箇所の温度を測定し、測定した温度と、前記制御部から取得する前記補正インダクタ電流値とに基づいて、前記測定対象箇所の温度を算出する、
温度推定装置。
前記昇圧チョッパ回路における測定対象箇所、または、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に接続する機器における測定対象箇所を含む部材の外部から測定可能な箇所の温度を測定し、測定した温度と、前記制御部から取得する前記補正インダクタ電流値とに基づいて、前記測定対象箇所の温度を算出する、
温度推定装置。
【請求項12】
請求項１に記載の昇圧装置の制御部に接続する内部抵抗推定装置であって、
前記昇圧チョッパ回路の入力端子間の電圧値と、前記制御部から取得する前記補正インダクタ電流値とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に接続する蓄電器の内部抵抗値を算出する、
内部抵抗推定装置。
前記昇圧チョッパ回路の入力端子間の電圧値と、前記制御部から取得する前記補正インダクタ電流値とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間に接続する蓄電器の内部抵抗値を算出する、
内部抵抗推定装置。
【請求項13】
各々がインダクタと、スイッチ素子とを有する複数の昇圧回路と、平滑コンデンサとによって形成される多相化された昇圧チョッパ回路における前記インダクタの各々を流れる電流を測定して測定インダクタ電流値を取得し、
前記測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して補正インダクタ電流値を算出し、
算出した前記補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する、
昇圧方法。
前記測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して補正インダクタ電流値を算出し、
算出した前記補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する、
昇圧方法。
【請求項14】
多相化された昇圧チョッパ回路をインタリーブ制御する昇圧装置の前記昇圧チョッパ回路に含まれるインダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値と、前記インダクタを流れる電流を電流測定回路によって測定して一定のサンプリング間隔でサンプリングすることにより得られるサンプル電流値の平均値との相違の補正に用いられる電流補正値と、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報との関係を示す補正値検出用情報を生成する補正値検出用情報生成方法であって、
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出し、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出し、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出し、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する、
補正値検出用情報生成方法。
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出し、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出し、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出し、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する、
補正値検出用情報生成方法。
【請求項15】
コンピュータに、
各々がインダクタと、スイッチ素子とを有する複数の昇圧回路と、平滑コンデンサとによって形成される多相化された昇圧チョッパ回路における前記インダクタの各々を流れる電流の測定値である測定インダクタ電流値が一定のサンプリング間隔でサンプリングされることにより抽出されるサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して補正インダクタ電流値を算出する手順、
算出した前記補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する手順、
を実行させるためのプログラム。
各々がインダクタと、スイッチ素子とを有する複数の昇圧回路と、平滑コンデンサとによって形成される多相化された昇圧チョッパ回路における前記インダクタの各々を流れる電流の測定値である測定インダクタ電流値が一定のサンプリング間隔でサンプリングされることにより抽出されるサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して補正インダクタ電流値を算出する手順、
算出した前記補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する手順、
を実行させるためのプログラム。
【請求項16】
多相化された昇圧チョッパ回路をインタリーブ制御する昇圧装置の前記昇圧チョッパ回路に含まれるインダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値と、前記インダクタを流れる電流を電流測定回路によって測定して一定のサンプリング間隔でサンプリングすることにより得られるサンプル電流値の平均値との相違の補正に用いられる電流補正値と、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報との関係を示す補正値検出用情報を生成するコンピュータに、
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出する手順、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出する手順、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出する手順、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する手順、
を実行させるためのプログラム。
前記インダクタの特性を示すインダクタ特性値と、前記昇圧チョッパ回路のスイッチング周期と、前記昇圧チョッパ回路をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、前記昇圧チョッパ回路の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々の推定実インダクタ電流値を算出する手順、
前記電流測定回路の時定数と、前記電流測定回路をモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、前記パラメータごとの前記推定実インダクタ電流値から、前記パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出する手順、
前記パラメータごとの前記推定測定インダクタ電流値を、前記サンプリング間隔のサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、前記パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出する手順、
前記推定実インダクタ電流値と、前記推定サンプル電流値とから、前記パラメータごとの前記電流補正値を算出し、前記パラメータと、前記電流補正値との関係を示す前記補正値検出用情報を生成する手順、
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、昇圧装置、補正値検出用情報生成装置、温度推定装置、内部抵抗推定装置、昇圧方法、補正値検出用情報生成方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
図１５は、いわゆる昇圧チョッパと呼ばれる昇圧装置２００の一例を示すブロック図である。昇圧装置２００は、例えば、入力端子２０１－１，２０１－２に、蓄電器が接続され、蓄電器から供給される電圧値Ｖ１を昇圧した電圧値Ｖ２を出力端子２１０－１，２１０－２から出力する。昇圧装置２００による昇圧の仕組みは、以下の通りである。
【0003】
スイッチ素子２０３をＯＮにすると、入力端子２０１－１，２０１－２に供給された電圧値Ｖ１によって、入力端子２０１－１、インダクタ２０２、スイッチ素子２０３を経て、入力端子２０１－２に至る経路に電流が流れる。当該経路に流れる電流が増加するにつれて、インダクタ２０２にエネルギーが蓄積されていく。インダクタ２０２にエネルギーが蓄積された後、スイッチ素子２０３をＯＦＦにすると、電流の経路が、入力端子２０１－１、インダクタ２０２、ダイオード２０４、出力端子２１０－１，２１０－２の間に接続される負荷を経て、入力端子２０１－２に至る経路に切り替わる。この場合に、インダクタ２０２は、エネルギーを放出し、それにより、出力端子２１０－１，２１０－２の間に、入力端子２０１－１，２０１－２の間の電圧値Ｖ１よりも高い電圧値Ｖ２が生じることになる。
【0004】
このような昇圧装置２００では、例えば、出力端子２１０－１，２１０－２の間の電圧値Ｖ２が、目標電圧値になるように、スイッチ素子２０３のＯＮとＯＦＦのタイミングを定めるフィードバック制御が行われる。このフィードバック制御の応答性を高めるために、例えば、インダクタ２０２を流れる電流の電流値をセンサ回路２０６によって検出することが行われる。センサ回路２０６が検出した電流値のアナログデータは、昇圧装置２００の回路に存在するノイズを除去するために、フィルタ回路２０７によってローパスフィルタリングされた後、制御部２２０のＡＤ(Analog-to-Digital)変換部２２１に供給される。
【0005】
ＡＤ変換部２２１は、フィルタリング後の電流値のアナログデータを、一定のサンプリング間隔でサンプリングすることにより、デジタルデータに変換して制御信号生成部２２２に出力する。制御信号生成部２２２は、デジタルの電流値のデータと、目標電圧値とに基づいて、電圧値Ｖ２を目標電圧値に近づけるようなスイッチ素子２０３のＯＮとＯＦＦのタイミングを算出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】再公表ＷＯ２０１８／０７００１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
図１６は、インダクタ２０２において観測される各種の電流値の変化を示すグラフである。図１６において、縦軸は、単位［Ａ］で表された電流値の軸であり、横軸は、単位「μｓ（マイクロ秒）」で表された経過時間の軸であり、Ｔｓは、スイッチング周期である。縦軸は、上方向に向かって電流値が大きくなり、横軸は、右方向に向かって経過時間が大きくなる。
【0008】
グラフ２３１は、直接測定することができない実際にインダクタ２０２を流れる電流値の変化を示すグラフである。グラフ２３２は、センサ回路２０６が検出する電流値の変化を示すグラフである。グラフ２３３は、フィルタ回路２０７によるフィルタリング処理後の電流値の変化を示すグラフである。グラフ２３４は、ＡＤ変換部２２１によって、グラフ２３３がサンプリングされた後の電流値の変化を示すグラフである。なお、図１６に示すように、ＡＤ変換部２２１によるサンプリングタイミングは、「サンプリングｔ１」、「サンプリングｔ２」、「サンプリングｔ３」、「サンプリングｔ４」の時刻であり、当該時刻の位置と、グラフ２３３との交点の位置の電流値が、グラフ２３４の電流値になる。「サンプリングｔ１」、「サンプリングｔ２」、「サンプリングｔ３」、「サンプリングｔ４」の時刻において、隣接する時刻の間の時間は、一定であり、この間隔が、ＡＤ変換部２２１のサンプリング間隔になる。
【0009】
図１５に示す昇圧装置２００のように、インダクタ２０２と、スイッチ素子２０３とか１組しか存在しない１相の昇圧チョッパの場合、実際にインダクタ２０２を流れる電流値の変化を示すグラフ２３１の平均値（以下、実電流平均値という）と、ＡＤ変換部２２１が出力する電流値の変化を示すグラフ２３４の平均値（以下、サンプル電流平均値という）は、共に、符号２３５で示される値になる。
【0010】
これに対して、例えば、特許文献１に開示されるようなインダクタと、スイッチ素子との組み合わせが複数存在する複数の相を有する昇圧チョッパが知られている。このような多相化された昇圧チョッパの場合、各相のインダクタを流れる電流の波形の形状は、複雑な形状になり、特別な場合を除いて、実電流平均値と、サンプル電流平均値とが一致しなくなる。そのため、インダクタを流れる電流値が高い精度で得られないことから、フィードバック制御の応答性や収束性などの制御性において、良好な性能が得らえないという課題がある。
【0011】
実電流平均値と、サンプル電流平均値との相違は、いわゆる運転動作点、より具体的には、インダクタを流れる電流の波形に応じて変化する。そのため、一定値を加算して補正するオフセット補正のような簡易な手法によって、この相違を補償することは、困難である。例えば、上記の課題を解決する手法として、各相に備えられる制御用の高速なセンサ回路２０６、フィルタ回路２０７に替えて、時定数が大きく、応答が遅い電流測定回路を利用して、電流値を検出するという手法がある。この手法を利用すれば、フィルタ回路２０７によるフィルタリング処理後の電流値の変化を示すグラフ２３３の変化が緩やかになり、実電流平均値と、サンプル電流平均値との差を小さくすることができる。ただし、時定数が大きく、応答が遅い電流測定回路では、フィードバック制御において要求される速度に追従することができないという別の課題が生じることになる。
【0012】
本開示は、上記事情に鑑みてなされたものであり、多相化された昇圧チョッパ回路において、フィードバック制御において要求される速度に追従可能な電流測定回路を用いつつ、制御性の良いフィードバック制御を行うことができる昇圧装置、補正値検出用情報生成装置、温度推定装置、内部抵抗推定装置、昇圧方法、補正値検出用情報生成方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0013】
上記課題を解決するために、本開示の一態様は、各々がインダクタと、スイッチ素子とを有する複数の昇圧回路と、平滑コンデンサとによって形成される多相化された昇圧チョッパ回路と、前記インダクタの各々を流れる電流を測定して測定インダクタ電流値を取得する複数の電流測定回路と、前記測定インダクタ電流値を一定のサンプリング間隔でサンプリングしたサンプル電流値に対して、前記昇圧回路の数に応じて生じる相違であって前記サンプル電流値の平均値と前記インダクタを流れる電流の真値である実インダクタ電流値の平均値との相違を補正する電流補正値を適用して得られる補正インダクタ電流値と、前記昇圧チョッパ回路の入力端子間及び出力端子間の電圧値とに基づくフィードバック制御を行うことにより、予め定められる制御目標値に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期で駆動する前記昇圧回路の各々の駆動位相の位相差を３６０°を前記昇圧回路の数で割り算して得られる位相量に一致させるように前記スイッチ素子を駆動する制御部と、を備える昇圧装置である。
【発明の効果】
【0014】
本開示の各態様によれば、多相化された昇圧チョッパ回路において、フィードバック制御において要求される速度に追従可能な電流測定回路を用いつつ、制御性の良いフィードバック制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本実施形態に係る昇圧装置の回路図及び機能部の概略ブロック図を示す図である。
【図2】本実施形態に係る昇圧装置のリアクトルにおいて観測される各種の電流値の変化を示すグラフを示す図である。
【図3】本実施形態に係る昇圧装置の記憶部に記憶される補正テーブル群データの一例を示す図である。
【図4】本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図5】本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置による処理の流れを示すフローチャートである。
【図6】本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置が備える実電流推定部において定められる昇圧チョッパ回路モデル式の一例を示す図（その１）である。
【図7】本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置が備える実電流推定部において定められる昇圧チョッパ回路モデル式の一例を示す図（その２）である。
【図8】本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置が備える実電流推定部による推定実リアクトル電流値を算出する過程を示す図である。
【図9】本実施形態に係る昇圧装置が備える電流測定回路の一例を示す回路図である。
【図10】本実施形態に係る昇圧装置が備える制御信号生成部の概略ブロック図と、制御信号生成部が行うフィードバック制御を示すブロック線図とを示す図である。
【図11】本実施形態に係る昇圧装置が備える制御信号生成部による電流補正値を用いた補正の一例を示す図である。
【図12】本実施形態の他の構成例に係る補正値検出用情報生成装置が備える実電流推定部において定められる昇圧チョッパ回路モデル式の一例を示す図である。
【図13】本実施形態に係る昇圧装置に接続して用いられる温度推定装置の利用形態の一例を示す図である。
【図14】本実施形態に係る昇圧装置に接続して用いられる内部抵抗推定装置の利用形態の一例を示す図である。
【図15】一般的な昇圧チョッパと呼ばれる昇圧装置の全体構成を示す図である。
【図16】一般的な昇圧チョッパと呼ばれる昇圧装置のインダクタにおいて観測される各種の電流値の変化を示すグラフを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、図面を参照して本開示の実施形態について説明する。なお、各図において同一または対応する構成には同一の符号を用いて説明を適宜省略する。
【0017】
図１は、本実施形態に係る昇圧装置１の回路図及び機能部の概略ブロック図を示す図である。図２は、本実施形態に係る昇圧装置１のリアクトル１２Ａにおいて観測される各種の電流値の変化を示すグラフ２４～２７を示す図である。図３は、本実施形態に係る昇圧装置１の記憶部６に記憶される補正テーブル群データ７Ａの一例を示す図である。図４は、本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置４０の構成を示す概略ブロック図である。図５は、本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置４０による処理の流れを示すフローチャートである。図６、図７は、本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置４０が備える実電流推定部４１において定められる昇圧チョッパ回路モデル式の一例を示す図である。図８は、本実施形態に係る補正値検出用情報生成装置４０が備える実電流推定部４１による推定実リアクトル電流値を算出する過程を示す図である。図９は、本実施形態に係る昇圧装置１が備える電流測定回路１６Ａ，１６Ｂの一例を示す回路図である。図１０は、本実施形態に係る昇圧装置１が備える制御信号生成部５の概略ブロック図と、制御信号生成部５が行うフィードバック制御を示すブロック線図とを示す図である。図１１は、本実施形態に係る昇圧装置１が備える制御信号生成部５による電流補正値を用いた補正の一例を示す図である。図１２は、本実施形態の他の構成例に係る補正値検出用情報生成装置４０が備える実電流推定部４１において定められる昇圧チョッパ回路モデル式の一例を示す図である。図１３は、本実施形態に係る昇圧装置１に接続して用いられる温度推定装置１１０の利用形態の一例を示す図である。図１４は、本実施形態に係る昇圧装置１に接続して用いられる内部抵抗推定装置１２０の利用形態の一例を示す図である。
【0018】
（昇圧装置の全体構成）
図１に示すように、昇圧装置１は、回路の部分と、当該回路を制御する機能部の部分とを備える。昇圧装置１において、当該回路の部分は、入力端子１０、コンデンサ１１、昇圧回路１３Ａ，１３Ｂ、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂ、平滑コンデンサ１９、及び出力端子２０を備える。また、昇圧装置１において、当該回路を制御する機能部の部分は、制御部３と、記憶部６とを備える。なお、図１において、昇圧装置１の回路の部分内と、機能部の部分内の配線は、実線で示し、回路の部分と、機能部との間の配線は、点線で示している。
図１に示すように、昇圧装置１は、回路の部分と、当該回路を制御する機能部の部分とを備える。昇圧装置１において、当該回路の部分は、入力端子１０、コンデンサ１１、昇圧回路１３Ａ，１３Ｂ、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂ、平滑コンデンサ１９、及び出力端子２０を備える。また、昇圧装置１において、当該回路を制御する機能部の部分は、制御部３と、記憶部６とを備える。なお、図１において、昇圧装置１の回路の部分内と、機能部の部分内の配線は、実線で示し、回路の部分と、機能部との間の配線は、点線で示している。
【0019】
入力端子１０は、一対の入力端子１０－１，１０－２を備える。入力端子１０には、例えば、蓄電器が接続される。以下、入力端子１０の間の電圧値を、電圧値Ｖ１という。出力端子２０は、一対の出力端子２０－１，２０－２を備える。出力端子２０には、例えば、負荷が接続される。以下、出力端子２０の間の電圧値を、電圧値Ｖ２という。
【0020】
昇圧回路１３Ａは、リアクトル１２Ａ、スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ、及び還流ダイオード１５Ａ－Ｕ、１５Ａ－Ｌを備える。昇圧回路１３Ｂは、リアクトル１２Ｂ、スイッチ素子１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌ、及び還流ダイオード１５Ｂ－Ｕ、１５Ｂ－Ｌを備える。
【0021】
リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂは、インダクタンスの性質を実現する素子であり、インダクタの一種である。リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとは、磁気結合されており、昇圧回路１３Ａと、昇圧回路１３Ｂとにまたがって存在する磁気結合リアクトル１２を形成する。リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとを磁気結合させることにより、相互誘導の効果が得られるため、リアクトル１２Ａ，１２Ｂのサイズを小さくすることができる。リアクトル１２Ａは、一端において、入力端子１０－１に接続し、他端において、スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌに接続する。リアクトル１２Ｂは、一端において、入力端子１０－１に接続し、他端において、スイッチ素子１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌに接続する。
【0022】
スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ、１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌは、例えば、ＩＧＢＴ（Insulated Gate Bipolar Transistor）である。上アームとなるスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕは、コレクタ端子が出力端子２０－１に接続する。下アームとなるスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌは、エミッタ端子が入力端子１０－２と、出力端子２０－２とに接続する。上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕの各々のエミッタ端子は、各々に対応する下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌのコレクタ端子に接続すると共に、各々に対応するリアクトル１２Ａ，１２Ｂの他端に接続する。
【0023】
下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌは、入力端子１０－１に接続する一端から他端の方向に向かってリアクトル１２Ａ、１２Ｂに電流が流れて、入力端子１０に接続する蓄電器が供給する電力が出力端子２０に接続する負荷によって消費される力行の状態において、入力端子１０の間の電圧値Ｖ１を電圧値Ｖ２に昇圧する作用をもたらすのに、主として用いられる。これに対して、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕは、リアクトル１２Ａ，１２Ｂを流れる電流の向きが力行の場合と逆向きになり、出力端子２０に接続する負荷から戻されてくる電力が入力端子１０に接続する蓄電器に充電される回生の状態において、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２を電圧値Ｖ１に降圧する作用をもたらすのに、主として用いられる。
【0024】
還流ダイオード１５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌの各々は、コレクタ端子にカソード端子が接続し、エミッタ端子にアノード端子が接続するように、各々に対応するスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌに接続する。
【0025】
電流測定回路１６Ａは、センサ回路１７Ａと、フィルタ回路１８Ａとを備え、電流値を測定する。センサ回路１７Ａは、スイッチ素子１４Ａ－Ｕのエミッタ端子とスイッチ素子１４Ａ－Ｌのコレクタ端子が接続する接続点と、リアクトル１２Ａの他端との間を接続する配線上に挿入され、当該配線を流れる電流の電流値を検出する。電流測定回路１６Ｂは、センサ回路１７Ｂと、フィルタ回路１８Ｂとを備え、電流値を測定する。センサ回路１７Ｂは、スイッチ素子１４Ｂ－Ｕのエミッタ端子とスイッチ素子１４Ｂ－Ｌのコレクタ端子が接続する接続点と、リアクトル１２Ｂの他端との間を接続する配線上に挿入され、当該配線を流れる電流の電流値を検出する。
【0026】
センサ回路１７Ａ，１７Ｂの各々が検出する電流値は、連続値のアナログデータであり、ノイズが重畳している。フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの各々は、例えば、ローパスフィルタであり、各々に対応するセンサ回路１７Ａ，１７Ｂに接続する。フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの各々は、各々に接続するセンサ回路１７Ａ，１７Ｂが出力する電流値のアナログデータをフィルタリングしてアナログデータに重畳しているノイズを除去する。
【0027】
以下、センサ回路１７Ａ，１７Ｂが検出して出力する電流値を、センサリアクトル電流値といい、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂがフィルタリング後に出力する電流値を、測定リアクトル電流値という。これに対して、直接測定することができない実際にリアクトル１２Ａ，１２Ｂに流れる電流の電流値、すなわちリアクトル１２Ａ，１２Ｂを流れる電流の真値を実リアクトル電流値という。
【0028】
昇圧装置１において、昇圧回路１３Ａと、昇圧回路１３Ｂとは、出力端子２０に対して、並列に接続されている状態であり、入力端子１０と、コンデンサ１１と、昇圧回路１３Ａ，１３Ｂと、平滑コンデンサ１９と、出力端子２０とによって、いわゆる２相の昇圧チョッパ回路２が形成される。以下、昇圧回路１３Ａの方をＡ相、昇圧回路１３Ｂの方をＢ相ともいう。制御部３は、昇圧回路１３Ａの駆動位相と、昇圧回路１３Ｂの駆動位相との位相差が、３６０°／相数になるように、インタリーブ制御を行う。昇圧装置１の場合、２相であるため、３６０°／２＝１８０°の位相差になるようにインタリーブ制御が行われる。多相化することにより、負荷分散が行われ、インタリーブ制御することにより、平滑コンデンサ１９を小型化することが可能になる。
【0029】
制御部３は、Ａ相用のＡＤ変換部４Ａと、Ｂ相用のＡＤ変換部４Ｂと、制御信号生成部５とを備える。ＡＤ変換部４Ａは、フィルタ回路１８Ａに接続する。ＡＤ変換部４Ｂは、フィルタ回路１８Ｂに接続する。ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂの各々は、各々に接続するフィルタ回路１８Ａ，１８Ｂが出力する測定リアクトル電流値のアナログデータを、予め定められる一定のサンプリング間隔でサンプリングしてデジタルデータに変換する。以下、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂによってデジタルデータに変換された測定リアクトル電流値をサンプル電流値という。
【0030】
ここで、上記した複数の相を有する昇圧チョッパ回路において生じる課題を、昇圧装置１を例として具体的に説明する。図２は、昇圧装置１におけるＡ相のリアクトル１２Ａを流れる電流の電流値である実リアクトル電流値、センサ回路１７Ａが出力するセンサリアクトル電流値、フィルタ回路１８Ａが出力する測定リアクトル電流値、及びＡＤ変換部４Ａが出力するサンプル電流値の変化を示すグラフである。図２において、縦軸は、単位［Ａ］で表された電流値の軸であり、横軸は、単位「μｓ」で表された経過時間の軸である。
【0031】
グラフ２４は、実リアクトル電流値の変化を示すグラフである。グラフ２５は、センサリアクトル電流値の変化を示すグラフである。グラフ２６は、測定リアクトル電流値の変化を示すグラフである。グラフ２７は、サンプル電流値の変化を示すグラフである。図２において、Ｔｓは、スイッチング周期であり、図２では、０～Ｔｓ［μｓ］の間が１つのスイッチング周期であり、Ｔｓ～２Ｔｓ［μｓ］の間が、次のスイッチング周期になっている。ＡＤ変換部４Ａのサンプリング間隔は、スイッチング周期Ｔｓの半分、すなわち、Ｔｓ／２であり、スイッチング周期Ｔｓの開始時刻、中央時刻、終了時刻の各々からＴｓａｍｐｌｅ［μｓ］ずれた時刻を、サンプリングタイミングとしている。ここで、中央時刻とは、開始時刻に、スイッチング周期Ｔｓの半分の時間を加えた時刻ある。より具体的には、図２に示す、符号３１で示す０．５Ｔｓ－Ｔｓａｍｐｌｅ［μｓ］、符号３２で示すＴｓ－Ｔｓａｍｐｌｅ［μｓ］、符号３３で示す１．５Ｔｓ－Ｔｓａｍｐｌｅ［μｓ］、符号３４で示す２Ｔｓ－Ｔｓａｍｐｌｅ［μｓ］の４つの時刻が、サンプリングタイミングになっている。
【0032】
昇圧回路１３Ａの駆動位相と、昇圧回路１３Ｂの駆動位相との位相差が１８０°であることから、Ａ相と、Ｂ相とではスイッチング周期Ｔｓが、半周期ずれる。そのため、リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとが同一であり、電流測定回路１６Ａと、電流測定回路１６Ｂとが同一であり、ＡＤ変換部４Ａと、ＡＤ変換部４Ｂとが同一である場合、Ｂ相の実リアクトル電流値、センサリアクトル電流値、測定リアクトル電流値、及びサンプル電流値の変化は、図２に示すＡ相の０．５Ｔ［μｓ］の時刻以降の変化が、０［μｓ］の時刻以降の変化として表される変化になる。
【0033】
図２に示すように、１つのスイッチング周期Ｔｓにおいて、実リアクトル電流値の変化を示すグラフ２４は、前半の半周期と、後半の半周期とで、点対称になっている。そのため、グラフ２４の平均値は、０Ａになる。これに対して、サンプル電流値の変化を示すグラフ２７の場合、電圧値Ｖ２が、電圧値Ｖ１の２倍の値になるケースを除いて、平均値は、符号２９で示す値ように、０Ａ以外の値になり、実リアクトル電流値の平均値と、サンプル電流値の平均値とに相違が生じることになる。
【0034】
この相違を補償するために、昇圧装置１の記憶部６は、図１に示すように、Ａ相用の補正テーブル群データ７Ａと、Ｂ相用の補正テーブル群データ７Ｂとを予め記憶する。補正テーブル群データ７Ａは、図３に示す複数の補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…を含むデータである。補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…の各々は、同一の形式のテーブルであり、補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…は、異なる電圧値Ｖ２ごとに生成される。ここでは、一例として、補正テーブル７Ａ－１のテーブルの形式について説明する。
【0035】
図３に示すように、補正テーブル７Ａ－１は、例えば、電圧値Ｖ２＝６００Ｖ用のテーブルであり、左上の項目に、電圧値Ｖ２に基づいて検索が可能になるようにインデックスとして電圧値Ｖ２＝６００Ｖが書き込まれる。補正テーブル７Ａ－１は、横方向に電力値Ｐの項目を有し、縦方向に電圧値Ｖ１の項目を有する行列形式のテーブルである。横方向の電力値Ｐの項目は、単位［ｋＷ］で表された複数の電力値のサブ項目を有し、縦方向の電圧値Ｖ１の項目は、単位［Ｖ］で表された複数の電圧値のサブ項目を有する。電力値のサブ項目と、電圧値のサブ項目とによって特定される行列の要素には、電流補正値が書き込まれる。例えば、横方向の電力値Ｐのサブ項目の電力値「３０ｋＷ」と、縦方向の電圧値Ｖ１のサブ項目の電圧値「３８５Ｖ」とによって特定される行列の要素には、電力値Ｐ＝３０ｋＷ、電圧値Ｖ１＝３８５Ｖ、電圧値Ｖ２＝６００Ｖの場合における電流補正値「１．２」が書き込まれる。
【0036】
Ａ相用の補正テーブル群データ７ＡとＢ相用の補正テーブル群データ７Ｂの各々において、各々に含まれる補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…のテーブル形式と、補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…のテーブル形式は、同一の形式である。
【0037】
図１に戻り、昇圧装置１は、図示しない入力端子１０の間の電圧値Ｖ１を測定する第１の電圧測定回路と、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２を測定する第２の電圧測定回路とを備える。第１の電圧測定回路と、第２の電圧測定回路とは制御信号生成部５に接続する。制御信号生成部５は、第１の電圧測定回路が測定する電圧値Ｖ１と、第２の電圧測定回路が測定する電圧値Ｖ２と、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂが出力するＡ相とＢ相のサンプル電流値とを取得する。
【0038】
制御信号生成部５は、更に、外部から与えられる、電圧値Ｖ２の目標値である目標電圧値ｔｒ－Ｖ２と、入力端子１０に接続する蓄電器が供給する電力値Ｐと、スイッチング周期Ｔｓとを取り込む。ここで、「外部から与えられる」とは、例えば、ユーザの入力操作によってデータや情報などが供給されることであってもよいし、外部の記憶装置に記憶されているデータや情報を読み出すことであってもよい。
【0039】
目標電圧値ｔｒ－Ｖ２と、スイッチング周期Ｔｓとは予め定められる一定値である。電力値Ｐは、入力端子１０に接続する蓄電器の性能を示す情報として得られる既知の一定値である。制御信号生成部５は、取り込んだ電圧値Ｖ１，Ｖ２と、取り込んだ電力値Ｐとに基づいて、記憶部６に記憶されている補正テーブル群データ７Ａと、補正テーブル群データ７Ｂとから、Ａ相用の電流補正値と、Ｂ相用の電流補正値とを検出する。
【0040】
制御信号生成部５は、取り込んだＡ相のサンプル電流値に、検出したＡ相の電流補正値を加算して得られる加算値をＡ相の補正リアクトル電流値とする。制御信号生成部５は、取り込んだＢ相のサンプル電流値に、検出したＢ相の電流補正値を加算して得られる加算値をＢ相の補正リアクトル電流値とする。
【0041】
制御信号生成部５は、取り込んだ電圧値Ｖ１，Ｖ２と、Ａ相とＢ相の補正リアクトル電流値と、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２と、スイッチング周期Ｔｓとに基づいて、スイッチング周期Ｔｓで駆動しつつ、電圧値Ｖ２が、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２に近づくように、スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌの各々のＯＮ、ＯＦＦのタイミングを算出する。制御信号生成部５は、算出したスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌの各々のＯＮ、ＯＦＦのタイミングを示す制御信号の各々を、各々に対応するスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌのゲート端子に出力する。
【0042】
（補正値検出用情報生成装置の全体構成）
図４は、昇圧装置１の記憶部６に記憶される補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂ、すなわち電流補正値の検出用の情報である補正値検出用情報を生成する補正値検出用情報生成装置４０の構成を示すブロック図である。補正値検出用情報生成装置４０は、実電流推定部４１、測定電流推定部４２、サンプル電流推定部４３、及び情報生成部４４を備える。
図４は、昇圧装置１の記憶部６に記憶される補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂ、すなわち電流補正値の検出用の情報である補正値検出用情報を生成する補正値検出用情報生成装置４０の構成を示すブロック図である。補正値検出用情報生成装置４０は、実電流推定部４１、測定電流推定部４２、サンプル電流推定部４３、及び情報生成部４４を備える。
【0043】
実電流推定部４１は、例えば、外部から与えられる昇圧装置１のリアクトル１２Ａ、１２Ｂのリアクトル特性値を取り込む。ここで、リアクトル特性値とは、例えば、単位μＨで表されたリアクトル１２Ａ，１２Ｂのインダクタンス値Ｌ、及び結合係数ｋという２種類の数値によって表される値である。リアクトル１２Ａ，１２Ｂのインダクタンス値は、電力値Ｐに応じて変化する。ただし、ここでは、リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとは、同一のリアクトルであるものとする。そのため、リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとにおける電力値Ｐに応じたインダクタンス値の変化も同一になる。したがって、実電流推定部４１は、例えば、複数の電力値Ｐと、電力値Ｐの各々に対応する複数のインダクタンス値Ｌであってリアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂに共通のインダクタンス値とが関係付けられた形式のリアクトル特性値を取り込む。
【0044】
実電流推定部４１は、外部から与えられる昇圧装置１のスイッチング周期Ｔｓを取り込む。スイッチング周期Ｔｓは、単位［μｓ］で表される数値である。実電流推定部４１は、外部から与えられる複数のパラメータを取り込む。パラメータは、各々が任意の数値範囲から任意の数値間隔で定められる、複数の電圧値Ｖ１、複数の電圧値Ｖ２、及び複数の電力値Ｐの中から、Ｖ１，Ｖ２，Ｐの各々に対して１つずつ選択する３つの値が組み合わされて生成される。複数のパラメータは、全てのパラメータにおいてＶ１，Ｖ２，Ｐの組み合わせが重複しないように生成されているものとする。パラメータに含まれる電圧値Ｖ１，Ｖ２の数値は、単位［Ｖ］で表された数値であり、電力値Ｐは、単位［ｋＷ］で表された数値である。なお、実電流推定部４１が、当該パラメータを自ら生成するようにしてもよい。
【0045】
実電流推定部４１は、取り込んだリアクトル特性値と、スイッチング周期Ｔｓと、複数のパラメータと、予め定められる昇圧チョッパ回路２をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、リアクトル１２Ａ，１２Ｂの各々の実リアクトル電流値の推定値である推定実リアクトル電流値をパラメータごとに算出する。
【0046】
測定電流推定部４２は、外部から与えられる電流測定回路時定数を取り込む。ここで、電流測定回路時定数とは、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂが備えるセンサ回路１７Ａ，１７Ｂの各々の時定数と、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの各々の時定数である。時定数は、単位［ｓ（秒）］で表される数値である。
【0047】
測定電流推定部４２は、取り込んだ電流測定回路時定数と、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂをモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、実電流推定部４１が算出したＡ相及びＢ相の推定実リアクトル電流値から、Ａ相の推定測定リアクトル電流値と、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値とをパラメータごとに算出する。
【0048】
サンプル電流推定部４３は、外部から与えられる検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとを取り込む。ここで、検出タイミングとは、例えば、単位「μｓ」で示される数値であり、絶対値の最大値が、スイッチング周期Ｔｓの半分の値未満となる、正の値、または、負の値であり、０であってもよい。検出タイミングが示す数値は、サンプル電流推定部４３が行うサンプリングの処理のサンプリングタイミングが、昇圧装置１のＡＤ変換部４Ａ，４Ｂの各々のサンプリングタイミングに一致するように予め定められる。ここでは、昇圧装置１のＡＤ変換部４Ａ，４Ｂのサンプリングタイミングは、同一であるとする。そのため、サンプル電流推定部４３は、外部から与えられるＡ相とＢ相に共通の１つの検出タイミングを取り込む。
【0049】
サンプル電流推定部４３は、取り込んだ検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとに基づいて、スイッチング周期Ｔｓごとの開始時刻、中央時刻、終了時刻の各々に検出タイミングを加算して算出した時刻の各々をサンプリングタイミングとする。サンプル電流推定部４３は、算出したサンプリングタイミングにしたがって、測定電流推定部４２が算出したＡ相とＢ相の推定測定リアクトル電流値の各々をサンプリングして、リアクトル１２Ａに対応するサンプル電流値の推定値であるＡ相の推定サンプル電流値と、リアクトル１２Ｂに対応するサンプル電流値の推定値であるＢ相の推定サンプル電流値とをパラメータごとに抽出する。
【0050】
情報生成部４４は、実電流推定部４１が算出したＡ相のパラメータごとの推定実リアクトル電流値と、サンプル電流推定部４３が抽出したＡ相のパラメータごとの推定サンプル電流値とに基づいて、Ａ相の電流補正値をパラメータごとに算出する。情報生成部４４は、実電流推定部４１が算出したＢ相のパラメータごとの推定実リアクトル電流値と、サンプル電流推定部４３が抽出したＢ相のパラメータごとの推定サンプル電流値とに基づいて、Ｂ相の電流補正値をパラメータごとに算出する。情報生成部４４は、算出したＡ相のパラメータごとの電流補正値から補正テーブル群データ７Ａを生成し、算出したＢ相のパラメータごとの電流補正値から補正テーブル群データ７Ｂを生成する。
【0051】
（補正値検出用情報生成装置による処理）
図５は、補正値検出用情報生成装置４０による処理の流れを示すフローチャートである。実電流推定部４１は、外部から与えられるリアクトル特性値と、スイッチング周期Ｔｓと、複数のパラメータとを取り込む。測定電流推定部４２は、外部から与えられる電流測定回路時定数、すなわち、センサ回路１７Ａ，１７Ｂの時定数と、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの時定数とを取り込む。サンプル電流推定部４３は、外部から与えられる検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとを取り込む。サンプル電流推定部４３は、取り込んだ検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとに基づいてＡ相とＢ相に共通のサンプリングタイミングを算出する。（Ｓ１）。
図５は、補正値検出用情報生成装置４０による処理の流れを示すフローチャートである。実電流推定部４１は、外部から与えられるリアクトル特性値と、スイッチング周期Ｔｓと、複数のパラメータとを取り込む。測定電流推定部４２は、外部から与えられる電流測定回路時定数、すなわち、センサ回路１７Ａ，１７Ｂの時定数と、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの時定数とを取り込む。サンプル電流推定部４３は、外部から与えられる検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとを取り込む。サンプル電流推定部４３は、取り込んだ検出タイミングと、スイッチング周期Ｔｓとに基づいてＡ相とＢ相に共通のサンプリングタイミングを算出する。（Ｓ１）。
【0052】
（昇圧チョッパ回路モデル式）
実電流推定部４１において、予め定められる昇圧チョッパ回路２をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式について説明する。昇圧チョッパ回路モデル式とは、具体的には、次式（１）と、図６に示す式（２）～式（５）と、図７のプログラム言語の形式で示される式と、以下に示す式（６）～式（１０）である。
実電流推定部４１において、予め定められる昇圧チョッパ回路２をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式について説明する。昇圧チョッパ回路モデル式とは、具体的には、次式（１）と、図６に示す式（２）～式（５）と、図７のプログラム言語の形式で示される式と、以下に示す式（６）～式（１０）である。
【0053】
【数1】
【0054】
式（１）は、下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌのオンデューティ比である「ｄｕｔｙ」を算出する式である。式（１）において、Ｖ１とＶ２は、実電流推定部４１が取り込むパラメータに含まれる電圧値Ｖ１と電圧値Ｖ２である。
【0055】
図６は、下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－ＬのＯＮとＯＦＦの状態の組み合わせごとのＡ相のリアクトル１２Ａを流れる電流の電流値ＩＬＡの微分ｄＩＬＡ／ｄｔを算出する式（２）～式（５）を示す図である。なお、式（２）～式（５）は、リアクトル１２Ａ，１２Ｂの各々のインダクタンス値が同一の「Ｌ」である場合の式である。式（２）～式（５）において、Ｍは、相互インダクタンス値であり、リアクトル特性値に含まれるインダクタンス値Ｌと、結合係数ｋとを用いて、Ｍ＝ｋ×Ｌとして算出される値である。
【0056】
図６に示すように、以下、下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－ＬのＯＮとＯＦＦの組み合わせた状態の各々をモードともいう。「Ｍｏｄｅ１」は、スイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＮになり、スイッチ素子１４Ｂ－ＬがＯＦＦになるモードである。「Ｍｏｄｅ２」は、スイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＦＦになり、スイッチ素子１４Ｂ－ＬがＯＮになるモードである。「Ｍｏｄｅ３」は、スイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌの両方がＯＦＦになるモードである。「Ｍｏｄｅ４」は、スイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌの両方がＯＮになるモードである。
【0057】
上記した電流値ＩＬＡの微分であるｄＩＬＡ／ｄｔは、電流値ＩＬＡの増加率を示すことになる。したがって、図６に示す式（２）～式（５）は、Ｍｏｄｅ１～Ｍｏｄｅ４の各々の場面における電流値ＩＬＡの増加率を示す式ということになる。図６には、Ｂ相のリアクトル１２Ｂを流れる電流の電流値ＩＬＢの微分ｄＩＬＢ／ｄｔを示していないが、ｄＩＬＢ／ｄｔは、Ｍｏｄｅ１とＭｏｄｅ２の状態の式が、Ａ相と逆になる。すなわち、Ｍｏｄｅ１の場合、ｄＩＬＢ／ｄｔは、式（３）の右辺で表され、Ｍｏｄｅ２の場合、ｄＩＬＢ／ｄｔは、式（２）の右辺で表される。Ｍｏｄｅ３とＭｏｄｅ４については、Ａ相と同様であり、ｄＩＬＡ／ｄｔ＝ｄＩＬＢ／ｄｔになる。
【0058】
１つのスイッチング周期Ｔｓは、４つの区間に分割される。４つの区間の各々の境界の時刻が、下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－ＬのＯＮとＯＦＦの状態が切り替わるスイッチタイミングになる。図７には、式（１）で算出した「ｄｕｔｙ」、すなわち下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌのオンデューティ比に基づいて、分割された４つの区間の各々の時間長を算出する手順と、４つの区間の各々に対してＭｏｄｅ１～Ｍｏｄｅ４のいずれのモードを割り当てるのかを示す手順とが示されている。
【0059】
以下、スイッチング周期Ｔｓを４つの区間に分割した際の各々の区間を、時系列順にＡｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）という。また、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々の時間長を、変数Ｔ（１），Ｔ（２），Ｔ（３），Ｔ（４）で表す。また、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々に割り当てられるモードを、変数Ｍｏｄｅ（１），Ｍｏｄｅ（２），Ｍｏｄｅ（３），Ｍｏｄｅ（４）で表す。
【0060】
符号５１で示されるように「ｄｕｔｙ＞０．５」の場合、符号５２で示す４つの式によって、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々に対応する変数Ｔ（１），Ｔ（２），Ｔ（３），Ｔ（４）に代入される時間長が算出される。符号５３で示される４つの式によって、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々に対応する変数Ｍｏｄｅ（１），Ｍｏｄｅ（２），Ｍｏｄｅ（３），Ｍｏｄｅ（４）に、それぞれ１，４，２，４、すなわちＭｏｄｅ１，Ｍｏｄｅ４，Ｍｏｄｅ２，Ｍｏｄｅ４が割り当てられる
【0061】
一方、符号５４で示されるように「ｄｕｔｙ＜０．５」の場合、符号５５で示す４つの式によって、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々に対応する変数Ｔ（１），Ｔ（２），Ｔ（３），Ｔ（４）に代入される時間長が算出される。符号５６で示される４つの式によって、Ａｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の各々に対応する変数Ｍｏｄｅ（１），Ｍｏｄｅ（２），Ｍｏｄｅ（３），Ｍｏｄｅ（４）に、それぞれ１，３，２，３、すなわちＭｏｄｅ１，Ｍｏｄｅ３，Ｍｏｄｅ２，Ｍｏｄｅ３が割り当てられる。
【0062】
なお、図７には示していないが、「ｄｕｔｙ＝０．５」の場合、スイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＮの場合、スイッチ素子１４Ｂ－ＬはＯＦＦになり、スイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＦＦの場合、スイッチ素子１４Ｂ－ＬはＯＮになり、スイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌが共にＯＮになったり、ＯＦＦになったりすることはない。したがって、図７の「ｄｕｔｙ＞０．５」の手順を採用してもよいし、「ｄｕｔｙ＜０．５」の手順を採用してもよい。いずれの手順を採用してもＴ（２），Ｔ（４）は、「０」になり、その結果、スイッチ素子１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｌは、Ｍｏｄｅ１かＭｏｄｅ２の何れかの動作をすることになる。
【0063】
次式（６）は、リアクトル１２Ａ，１２Ｂの各々を流れる電流の平均値である電流平均値Ｉａｖｅを算出する式である。式（６）において、ＰとＶ１は、それぞれ実電流推定部４１が取り込むパラメータに含まれる電力値Ｐと、電圧値Ｖ１である。式（６）の右辺のＰ／Ｖ１は、昇圧装置１の入力端子１０－１から供給される電流の電流値を算出する式である。Ｐ／Ｖ１に対して０．５倍しているのは、理想的な状態では、入力端子１０－１から供給される電流は、リアクトル１２Ａ．１２Ｂの２つに均等に分配されるためである。式（６）において最後に１０００倍しているのは、電力値Ｐが、「ｋＷ」の単位で表されていることから、算出する電流平均値Ｉａｖｅを単位［Ａ］で表される値にするためである。
【0064】
【数2】
【0065】
以下に示す式（７）～式（１０）は、それぞれＡｒｅａ（１），Ａｒｅａ（２），Ａｒｅａ（３），Ａｒｅａ（４）の終了時刻におけるリアクトル１２Ａ，１２Ｂの各々を流れる電流値Ｉｅｎｄ（１），Ｉｅｎｄ（２），Ｉｅｎｄ（３），Ｉｅｎｄ（４）を算出する式である。
【0066】
【数3】
【0067】
【数4】
【0068】
【数5】
【0069】
【数6】
【0070】
式（７）～式（１０）に示されるＩｍ（Ｍｏｄｅ（Ｘ））という演算子（ただし、Ｘ＝１，２，３，４の何れかである）は、それぞれＭｏｄｅ（Ｘ）が示すモードにおけるリアクトル１２Ａ，１２Ｂを流れる電流の電流増加率を適用することを意味する演算子である。例えば、Ａ相について、式（７）～式（１０）の演算を行う場合に、Ｉｍ（Ｍｏｄｅ（３））であって、Ｍｏｄｅ（３）＝２である場合、このＩｍ（Ｍｏｄｅ（３））は、Ａ相のＭｏｄｅ２の電流増加率、すなわち図６の式（３）を示すことになる。
【0071】
次に、図８を参照しつつ、上記した昇圧チョッパ回路モデル式を用いて、実電流推定部４１が行う処理について説明する。図８に示すグラフ６０は、実電流推定部４１が、式（１）によって算出した「ｄｕｔｙ」が、０．５よりも大きい値である場合に算出する推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータによって示されるグラフであるとする。なお、図８において、横軸は、単位［μｓ］で表された経過時間であり、縦軸は、単位［Ａ］で表された電流値である。縦軸は、上方向に向かって電流値が大きくなり、横軸は、右方向に向かって経過時間が大きくなる。
【0072】
実電流推定部４１は、Ｓ１の処理において取り込んだ複数のパラメータの中から何れか１つのパラメータを選択する。実電流推定部４１は、選択したパラメータに含まれる電圧値Ｖ１，Ｖ２に基づいて、式（１）により「ｄｕｔｙ」を算出する。ここでは、実電流推定部４１は、０．５よりも大きい値のｄｕｔｙを算出したとする（Ｓ２）。実電流推定部４１は、取り込んだリアクトル特性値から、選択したパラメータに含まれる電力値Ｐに対応するインダクタンス値Ｌを選択する。実電流推定部４１は、取り込んだリアクトル特性値から結合係数ｋを読み出す。実電流推定部４１は、選択したインダクタンス値Ｌと、結合係数ｋとを乗算して、相互インダクタンス値Ｍを算出する（Ｓ３）。実電流推定部４１は、選択したパラメータに含まれる電圧値Ｖ１と、電力値Ｐとに基づいて、式（６）より電流平均値Ｉａｖｅを算出する（Ｓ４）。なお、Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４の処理は、任意の順で行ってもよい。
【0073】
ここでは、上記したように、実電流推定部４１が算出した「ｄｕｔｙ」が０．５よりも大きい値になっている。そのため、実電流推定部４１は、図７の符号５２で示す４つの式によってＡｒｅａ（１）～Ａｒｅａ（４）の各々の時間長を算出して、変数Ｔ（１）～Ｔ（４）に代入する。これにより、図８に示すように、１つのスイッチング周期Ｔｓを４つの区間に分割した各々の区間であるＡｒｅａ（１）～Ａｒｅａ（４）の横軸方向の幅が決まることになる。実電流推定部４１は、図７の符号５３で示す４つの式によってＡｒｅａ（１）～Ａｒｅａ（４）に、それぞれＭｏｄｅ１，Ｍｏｄｅ４，Ｍｏｄｅ２，Ｍｏｄｅ４を割り当てる（Ｓ５）。
【0074】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（１）の開始時刻に、Ｍｏｄｅ１、すなわちスイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＮになり、スイッチ素子１４Ｂ－ＬがＯＦＦになったとして、Ｍｏｄｅ１に対応する図６の式（２）に、選択したインダクタンス値Ｌと、算出した相互インダクタンス値Ｍと、電圧値Ｖ１，Ｖ２とを代入して電流増加率を算出する。実電流推定部４１は、式（７）に、算出した電流平均値Ｉａｖｅと、算出した電流増加率と、変数Ｔ（１）が示す時間長とを代入して、Ａｒｅａ（１）の終了時刻におけるリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（１）を算出する。
【0075】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（２）の開始時刻に、Ｍｏｄｅ４、すなわちスイッチ素子１４Ａ－Ｌとスイッチ素子１４Ｂ－Ｌの両方がＯＮになったとして、Ｍｏｄｅ４に対応する図６の式（５）に、選択したインダクタンス値Ｌと、算出した相互インダクタンス値Ｍと、電圧値Ｖ１とを代入して電流増加率を算出する。実電流推定部４１は、式（８）に、算出したリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（１）と、算出した電流増加率と、変数Ｔ（２）が示す時間長とを代入して、Ａｒｅａ（２）の終了時刻におけるリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（２）を算出する。
【0076】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（３）の開始時刻に、Ｍｏｄｅ２、すなわちスイッチ素子１４Ａ－ＬがＯＦＦになり、スイッチ素子１４Ｂ－ＬがＯＮになったとして、Ｍｏｄｅ２に対応する図６の式（３）に、選択したインダクタンス値Ｌと、算出した相互インダクタンス値Ｍと、電圧値Ｖ１，Ｖ２とを代入して電流増加率を算出する。実電流推定部４１は、式（９）に、算出したリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（２）と、算出した電流増加率と、変数Ｔ（３）が示す時間長とを代入して、Ａｒｅａ（３）の終了時刻におけるリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（３）を算出する。
【0077】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（４）の開始時刻に、再びＭｏｄｅ４になったとして、Ｍｏｄｅ４に対応する図６の式（５）に、選択したインダクタンス値Ｌと、算出した相互インダクタンス値Ｍと、電圧値Ｖ１とを代入して電流増加率を算出する。実電流推定部４１は、式（１０）に、算出したリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（３）と、算出した電流増加率と、Ｔ（４）に代入されている時間長とを代入して、Ａｒｅａ（４）の終了時刻におけるリアクトル１２Ａの電流値Ｉｅｎｄ（４）を算出する（Ｓ６）。
【0078】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（１）の開始時刻におけるリアクトル１２Ａの電流値を、電流値Ｉｅｎｄ（４）とする。実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（１）の区間の最初の値を電流値Ｉｅｎｄ（４）とし、最後の値を電流値Ｉｅｎｄ（１）として、図８の符号６１で示すように、２つの値の間を直線で補間する（以下、符号６１で示される線分を、線分６１という）。
【0079】
実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（２）の区間の最初の値を電流値Ｉｅｎｄ（１）とし、最後の値を電流値Ｉｅｎｄ（２）として、符号６２で示すように、２つの値の間を直線で補間する（以下、符号６２で示される線分を、線分６２という）。実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（３）の区間の最初の値を電流値Ｉｅｎｄ（２）とし、最後の値を電流値Ｉｅｎｄ（３）として、符号６３で示すように、２つの値の間を直線で補間する（以下、符号６３で示される線分を、線分６３という）。実電流推定部４１は、Ａｒｅａ（４）の区間の最初の値を電流値Ｉｅｎｄ（３）とし、最後の値を電流値Ｉｅｎｄ（４）として、符号６４で示すように、２つの値の間を直線で補間する（以下、符号６４で示される線分を、線分６４という）。
【0080】
これにより、線分６１，６２，６３，６４によって示される変化が、１つのスイッチング周期Ｔｓにおけるリアクトル１２Ａを流れる電流値の変化を示すことになり、この変化が、スイッチング周期Ｔｓごとに繰り返されることになる。実電流推定部４１は、線分６１，６２，６３，６４によって表される変化を再現することができる程度の時間間隔で、複数のスイッチング周期Ｔｓにおいて繰り返される線分６１，６２，６３，６４から電流値を選択し、選択した電流値の各々を、Ａ相のリアクトル１２Ａに対応する推定実リアクトル電流値とする。なお、実電流推定部４１における線分６１，６２，６３，６４によって表される変化を再現することができる程度の時間間隔は、サンプル電流推定部４３が行うサンプリングにおけるサンプリング間隔よりも十分に短い時間間隔であるものとする。
【0081】
実電流推定部４１は、上記したＡ相のリアクトル１２Ａに対して推定実リアクトル電流値を算出したのと同様の手順によって、Ｂ相のリアクトル１２Ｂに対する推定実リアクトル電流値を算出する。
【0082】
ただし、ここでは、リアクトル１２Ａとリアクトル１２Ｂの両方のインダクタンス値Ｌが同一であることから、Ｂ相のリアクトル１２Ｂに対応する推定実リアクトル電流値の変化は、Ａ相のリアクトル１２Ｂに対応する推定実リアクトル電流値の変化を示すグラフ６０を、スイッチング周期Ｔｓ／２の分だけ、すらした変化になる。そのため、Ｂ相のリアクトル１２Ｂに対応する推定実リアクトル電流値の変化は、Ａｒｅａ（１）において線分６３の変化を示し、Ａｒｅａ（２）において線分６４の変化を示し、Ａｒｅａ（３）において線分６１の変化を示し、Ａｒｅａ（４）において線分６２の変化を示す変化になる。
したがって、実電流推定部４１は、式（７）～式（１０）の演算を行うことなく、Ａ相のリアクトル１２Ａの場合に算出したＩｅｎｄ（３）をＩｅｎｄ（１）とし、Ｉｅｎｄ（４）をＩｅｎｄ（２）とし、Ｉｅｎｄ（１）をＩｅｎｄ（３）とし、Ｉｅｎｄ（２）をＩｅｎｄ（４）として、Ｂ相のリアクトル１２Ｂに対する推定実リアクトル電流値を算出することができる。
したがって、実電流推定部４１は、式（７）～式（１０）の演算を行うことなく、Ａ相のリアクトル１２Ａの場合に算出したＩｅｎｄ（３）をＩｅｎｄ（１）とし、Ｉｅｎｄ（４）をＩｅｎｄ（２）とし、Ｉｅｎｄ（１）をＩｅｎｄ（３）とし、Ｉｅｎｄ（２）をＩｅｎｄ（４）として、Ｂ相のリアクトル１２Ｂに対する推定実リアクトル電流値を算出することができる。
【0083】
実電流推定部４１は、所定の時間長のＡ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータと、所定の時間長のＢ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータとを、測定電流推定部４２に出力する。実電流推定部４１は、所定の時間長のＡ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータと、所定の時間長のＢ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータと、選択したパラメータとを関連付けて、情報生成部４４に出力する。ここで、所定の時間長とは、例えば、スイッチング周期Ｔｓのｍ倍した時間長であり、ｍは自然数であり、少なくともｍは、ｍ≧１の値であるとする（Ｓ７）。
【0084】
（電流測定回路モデル式）
測定電流推定部４２において、予め定められる電流測定回路モデル式について説明する。電流測定回路１６Ａ，１６Ｂが備えるセンサ回路１７Ａ，１７Ｂの内部回路、及びフィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの内部回路は、それぞれ図９に示す抵抗７１と、コンデンサ７２とを備えるＲＣ(Resistor-Capacitor)回路７０として近似することができる。図９に示すＲＣ回路７０は、一次遅れ系であり、次式（１１）に示す伝達関数で、入力電圧Ｖｉｎ（ｓ）と、出力電圧Ｖｏｕｔ（ｓ）との関係が示される。
測定電流推定部４２において、予め定められる電流測定回路モデル式について説明する。電流測定回路１６Ａ，１６Ｂが備えるセンサ回路１７Ａ，１７Ｂの内部回路、及びフィルタ回路１８Ａ，１８Ｂの内部回路は、それぞれ図９に示す抵抗７１と、コンデンサ７２とを備えるＲＣ(Resistor-Capacitor)回路７０として近似することができる。図９に示すＲＣ回路７０は、一次遅れ系であり、次式（１１）に示す伝達関数で、入力電圧Ｖｉｎ（ｓ）と、出力電圧Ｖｏｕｔ（ｓ）との関係が示される。
【0085】
【数7】
【0086】
式（１１）において、Ｒは、抵抗７１の抵抗値であり、抵抗素子Ｃは、コンデンサ７２の静電容量であり、ＣＲが、ＲＣ回路７０の時定数になる。式（１１）の伝達関数を解いて、電流値ｉに関する離散時刻である時刻ｎの式にすると、次式（１２）となる。
【0087】
【数8】
【0088】
式（８）において、ｉｉｎ［ｎ］は、時刻ｎにおける入力電流値である。ｉｏｕｔ［ｎ］，ｉｏｕｔ［ｎ－１］は、それぞれ時刻ｎと、時刻ｎ－１における出力電流値である。τは、時定数、すなわちＣＲである。Δｔは、離散時刻の時間間隔を示す時間長である。
【0089】
測定電流推定部４２は、実電流推定部４１が出力するＡ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータと、Ｂ相の推定実リアクトル電流値を時系列に並べたデータとを取り込む。測定電流推定部４２は、センサ回路１７Ａの時定数を適用した式（１２）に、Ａ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータを代入して、センサ回路１７Ａが出力するセンサリアクトル電流値の推定値であるＡ相の推定センサリアクトル電流値が時系列に並んだデータを取得する（Ｓ８）。測定電流推定部４２は、フィルタ回路１８Ａの時定数を適用した式（１２）に、Ａ相の推定センサリアクトル電流値が時系列に並んだデータを代入して、フィルタ回路１８Ａが出力する測定リアクトル電流値の推定値であるＡ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータを取得する（Ｓ９）。
【0090】
測定電流推定部４２は、取り込んだＢ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータに対しても、センサ回路１７Ｂの時定数を適用するＳ８の処理と、フィルタ回路１８Ｂの時定数を適用するＳ９の処理とを行い、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータを取得する。測定電流推定部４２は、Ａ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータとをサンプル電流推定部４３に出力する。
【0091】
サンプル電流推定部４３は、測定電流推定部４２が出力するＡ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータとを取り込む。サンプル電流推定部４３は、取り込んだＡ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータとを、Ｓ１の処理で算出したサンプリングタイミングにしたがってサンプリングする。サンプル電流推定部４３は、当該サンプリングにより、Ａ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータからＡ相の推定サンプル電流値を時系列順に抽出し、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータからＢ相の推定サンプル電流値を時系列順に抽出する。サンプル電流推定部４３は、抽出したＡ相の推定サンプル電流値を時系列に並べたデータと、Ｂ相の推定サンプル電流値を時系列に並べたデータとを情報生成部４４に出力する（Ｓ１０）。
【0092】
情報生成部４４は、実電流推定部４１が出力するＡ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、パラメータとが関連付けられたデータを取り込む。情報生成部４４は、サンプル電流推定部４３が出力するＡ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータとを取り込む。
【0093】
情報生成部４４は、Ａ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータからＡ相の推定実リアクトル電流値の平均値を算出する。情報生成部４４は、Ａ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータからＡ相の推定サンプル電流値の平均値を算出する。情報生成部４４は、Ａ相の推定実リアクトル電流値の平均値から、Ａ相の推定サンプル電流値の平均値を減算して、減算値を、取り込んだパラメータに対応するＡ相の電流補正値とする。情報生成部４４は、Ａ相に対して行った処理と同様の処理を、Ｂ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータと、Ｂ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータとに対して行い、取り込んだパラメータに対応するＢ相の電流補正値を算出する。
【0094】
なお、ここでは、Ａ相とＢ相のインダクタンス値Ｌが同一であるとしていることから、Ａ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータを、スイッチング周期Ｔｓの半周期分ずらしたデータが、Ｂ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータになるという関係になっている。そのため、平均値を算出する区間の時間長が、スイッチング周期Ｔｓの自然数倍であれば、Ａ相の推定実リアクトル電流値の平均値と、Ｂ相の推定実リアクトル電流値の平均値とは同一になる。この場合、情報生成部４４は、Ｂ相の推定実リアクトル電流値の平均値を算出するのではなく、算出済みのＡ相の推定実リアクトル電流値の平均値を、Ｂ相の推定実リアクトル電流値の平均値とするようにしてもよい。
【0095】
情報生成部４４は、パラメータに対応するＡ相の電流補正値と、Ｂ相の電流補正値とを関連付けて内部の領域に記録する。情報生成部４４は、処理継続指示信号を実電流推定部４１に出力する（Ｓ１１）。
【0096】
実電流推定部４１は、情報生成部４４から処理継続指示信号を受けると、未選択のパラメータの何れか１つを選択して、再びＳ２以降の処理を開始する（ループＬ１ｓ～Ｌ１ｅ）。実電流推定部４１は、情報生成部４４から処理継続指示信号を受けた際に、全てのパラメータに対して、Ｓ２の処理を行っていた場合、処理終了通知信号を、情報生成部４４に出力する。これにより、ループＬ１ｓ～Ｌ１ｅの繰り返し処理が終了する。
【0097】
情報生成部４４は、実電流推定部４１から処理終了通知信号を受けると、内部の記憶領域に記憶されている複数のパラメータと、パラメータの各々に対応するＡ相の電流補正値とから、パラメータごとの補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…を生成し、生成した補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…をまとめた補正テーブル群データ７Ａを生成する。同様に、情報生成部４４は、内部の記憶領域に記憶されている複数のパラメータと、パラメータの各々に対応するＢ相の電流補正値とから補正テーブル群データ７Ｂを生成する（Ｓ１２）。これにより、補正値検出用情報生成装置４０による処理が終了する。
【0098】
（Ａ相とＢ相の電流測定回路時定数が同一である場合）
上記した図５の処理では、Ａ相とＢ相のインダクタンス値Ｌが同一であるとしている。そのため、Ａ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータを、スイッチング周期Ｔｓの半周期分ずらしたデータが、Ｂ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータになるという関係がある。Ａ相とＢ相のインダクタンス値Ｌが同一であるという条件に加えて、センサ回路１７Ａとセンサ回路１７Ｂの時定数が同一であり、フィルタ回路１８Ａとフィルタ回路１８Ｂの時定数が同一であるとする。上記した例では、Ａ相とＢ相においてサンプリングタイミングが同一である。そのため、センサ回路１７Ａとセンサ回路１７Ｂの時定数を同一とし、フィルタ回路１８Ａとフィルタ回路１８Ｂの時定数を同一にすると、Ａ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータも、スイッチング周期Ｔｓの半周期分ずらすことによって、Ｂ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータになる。
上記した図５の処理では、Ａ相とＢ相のインダクタンス値Ｌが同一であるとしている。そのため、Ａ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータを、スイッチング周期Ｔｓの半周期分ずらしたデータが、Ｂ相の推定実リアクトル電流値が時系列に並んだデータになるという関係がある。Ａ相とＢ相のインダクタンス値Ｌが同一であるという条件に加えて、センサ回路１７Ａとセンサ回路１７Ｂの時定数が同一であり、フィルタ回路１８Ａとフィルタ回路１８Ｂの時定数が同一であるとする。上記した例では、Ａ相とＢ相においてサンプリングタイミングが同一である。そのため、センサ回路１７Ａとセンサ回路１７Ｂの時定数を同一とし、フィルタ回路１８Ａとフィルタ回路１８Ｂの時定数を同一にすると、Ａ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータも、スイッチング周期Ｔｓの半周期分ずらすことによって、Ｂ相の推定サンプル電流値が時系列に並んだデータになる。
【0099】
この場合、Ａ相の推定実リアクトル電流値の平均値と、Ｂ相の推定実リアクトル電流値の平均値とが、同一になり、Ａ相の推定サンプル電流値の平均値と、Ｂ相の推定サンプル電流値の平均値とが、同一になる。したがって、パラメータごとのＡ相の電流補正値と、Ｂ相の電流補正値とが同一になり、補正テーブル群データ７Ａと、補正テーブル群データ７Ｂとが同一のデータになる。そのため、情報生成部４４は、補正テーブル群データ７Ａを生成し、生成した補正テーブル群データ７Ａを複製したデータを、補正テーブル群データ７Ｂとして生成するようにしてもよい。また、このように補正テーブル群データ７Ａと、補正テーブル群データ７Ｂとが同一のデータになる場合、昇圧装置１の記憶部６に情報生成部４４が生成する補正テーブル群データ７Ａのみを記憶させておき、制御信号生成部５が、Ａ相の処理を行う場合も、Ｂ相の処理を行う場合も記憶部６に記憶されている補正テーブル群データ７Ａを参照するようにしてもよい。
【0100】
（制御信号生成部について）
図１０は、昇圧装置１の制御部３が備える制御信号生成部５の内部構成を示しつつ、制御信号生成部５が行う処理の流れをブロック線図として示す図である。記憶部６に、補正値検出用情報生成装置４０が生成した補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂが記憶されていることを前提として、図１０を参照しつつ、制御信号生成部５の内部構成と処理について説明する。
図１０は、昇圧装置１の制御部３が備える制御信号生成部５の内部構成を示しつつ、制御信号生成部５が行う処理の流れをブロック線図として示す図である。記憶部６に、補正値検出用情報生成装置４０が生成した補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂが記憶されていることを前提として、図１０を参照しつつ、制御信号生成部５の内部構成と処理について説明する。
【0101】
（制御信号生成部の内部構成）
制御信号生成部５は、電圧制御部８１、電流制御部８２、デューティ演算部８３、及びパルス生成部８４を備える。電圧制御部８１は、例えば、ＡＶＲ(Automatic Voltage Regulator)であり、加え合わせ点９１、電圧ＰＩ(Proportional-Integral)ブロック９２、及び乗算ブロック９３を備える。電圧制御部８１は、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２の目標値である目標電圧値ｔｒ－Ｖ２から磁気結合リアクトル１２を流れる電流値Ｉ１の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ１を算出する。
制御信号生成部５は、電圧制御部８１、電流制御部８２、デューティ演算部８３、及びパルス生成部８４を備える。電圧制御部８１は、例えば、ＡＶＲ(Automatic Voltage Regulator)であり、加え合わせ点９１、電圧ＰＩ(Proportional-Integral)ブロック９２、及び乗算ブロック９３を備える。電圧制御部８１は、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２の目標値である目標電圧値ｔｒ－Ｖ２から磁気結合リアクトル１２を流れる電流値Ｉ１の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ１を算出する。
【0102】
電流制御部８２は、例えば、ＡＣＲ（Automatic Current Regulator）であり、０．５倍ブロック９４、電流値補正ブロック９５Ａ，９５Ｂ、加え合わせ点９６Ａ，９６Ｂ、及び電流ＰＩブロック９７Ａ，９７Ｂを備える。電流制御部８２は、目標電流値ｔｒ－Ｉ１から、リアクトル１２Ａの両端子間の電圧ＶＬＡの目標値である目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡと、リアクトル１２Ｂの両端子間の電圧ＶＬＢの目標値である目標電圧値ｔｒ－ＶＬＢとを算出する。
【0103】
デューティ演算部８３は、除算ブロック９８Ａ，９８Ｂ、及び加え合わせ点９９Ａ，９９Ｂを備える。デューティ演算部８３は、目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡ，ｔｒ－ＶＬＢから、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕのオンデューティ比を算出する。パルス生成部８４は、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕのオンデューティ比からスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌの各々のゲート端子に出力する制御信号を生成する。
【0104】
制御信号生成部５には、上記したように、図示しない入力端子１０の間の電圧値Ｖ１を測定する第１の電圧測定回路と、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２を測定する第２の電圧測定回路とからフィードバック情報として電圧値Ｖ１と、電圧値Ｖ２とが供給される。以下、フィードバック情報としての電圧値Ｖ１と、電圧値Ｖ２とを、それぞれ電圧値ｆｂ－Ｖ１、電圧値ｆｂ－Ｖ２という。制御信号生成部５には、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂの各々からフィードバック情報としてＡ相とＢ相のサンプル電流値が供給される。以下、フィードバック情報としてのＡ相とＢ相のサンプル電流値を、それぞれサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ、サンプル電流値ｆｂ－ＩＬＢという。
【0105】
制御信号生成部５は、更に、図示しない昇圧比を算出する機能部（以下、昇圧比算出部という）と、逆昇圧比を算出する機能部（以下、逆昇圧比算出部という）とを備える。昇圧比算出部は、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ２と、電圧値ｆｂ－Ｖ１とを取り込み、取り込んだ電圧値ｆｂ－Ｖ２と電圧値ｆｂ－Ｖ１の比、すなわち昇圧比ｆｂ－Ｖ２／ｆｂ－Ｖ１を算出する。逆昇圧比算出部は、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ１と、電圧値ｆｂ－Ｖ２とを取り込み、取り込んだ電圧値ｆｂ－Ｖ１と電圧値ｆｂ－Ｖ２の比、すなわち逆昇圧比ｆｂ－Ｖ１／ｆｂ－Ｖ２を算出する。
【0106】
（制御信号生成部の電圧制御部による処理）
電圧制御部８１において、加え合わせ点９１は、外部から与えられる目標電圧値ｔｒ－Ｖ２と、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。加え合わせ点９１は、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２から電圧値ｆｂ－Ｖ２を減算して得られる減算値を出力する。電圧ＰＩブロック９２は、加え合わせ点９１が出力する減算値を取り込み、取り込んだ減算値に対して、予めＰＩ制御用のパラメータが定められている電圧に関するＰＩ制御を行って、出力端子２０の間の電流値Ｉ２の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ２を算出して出力する。乗算ブロック９３は、電圧ＰＩブロック９２が出力する目標電流値ｔｒ－Ｉ２と、昇圧算出部が出力する昇圧比ｆｂ－Ｖ２／ｆｂ－Ｖ１とを乗算して、磁気結合リアクトル１２を流れる電流値Ｉ１の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ１を算出して出力する。
電圧制御部８１において、加え合わせ点９１は、外部から与えられる目標電圧値ｔｒ－Ｖ２と、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。加え合わせ点９１は、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２から電圧値ｆｂ－Ｖ２を減算して得られる減算値を出力する。電圧ＰＩブロック９２は、加え合わせ点９１が出力する減算値を取り込み、取り込んだ減算値に対して、予めＰＩ制御用のパラメータが定められている電圧に関するＰＩ制御を行って、出力端子２０の間の電流値Ｉ２の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ２を算出して出力する。乗算ブロック９３は、電圧ＰＩブロック９２が出力する目標電流値ｔｒ－Ｉ２と、昇圧算出部が出力する昇圧比ｆｂ－Ｖ２／ｆｂ－Ｖ１とを乗算して、磁気結合リアクトル１２を流れる電流値Ｉ１の目標値である目標電流値ｔｒ－Ｉ１を算出して出力する。
【0107】
（制御信号生成部の電流制御部による処理）
電流制御部８２において、０．５倍ブロック９４は、Ａ相のリアクトル１２Ａに供給される電流、及びＢ相のリアクトル１２Ｂに供給される電流の各々の目標電流値を算出する。すなわち、０．５倍ブロック９４は、乗算ブロック９３が出力する目標電流値ｔｒ－Ｉ１を取り込み、取り込んだ目標電流値ｔｒ－Ｉ１を０．５倍してＡ相とＢ相の各々の目標電流値（ｔｒ－Ｉ１）／２を算出して出力する。
電流制御部８２において、０．５倍ブロック９４は、Ａ相のリアクトル１２Ａに供給される電流、及びＢ相のリアクトル１２Ｂに供給される電流の各々の目標電流値を算出する。すなわち、０．５倍ブロック９４は、乗算ブロック９３が出力する目標電流値ｔｒ－Ｉ１を取り込み、取り込んだ目標電流値ｔｒ－Ｉ１を０．５倍してＡ相とＢ相の各々の目標電流値（ｔｒ－Ｉ１）／２を算出して出力する。
【0108】
電流制御部８２において、Ａ相に対して行われる処理を以下に説明する。電流値補正ブロック９５Ａは、フィードバック情報として供給されるサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡと、電圧値ｆｂ－Ｖ１と、電圧値ｆｂ－Ｖ２と、外部から与えられる電力値Ｐとを取り込む。電流値補正ブロック９５Ａは、記憶部６に記憶されている補正テーブル群データ７Ａに含まれている補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…の中から電圧値ｆｂ－Ｖ２に対応する補正テーブルを選択する。電流値補正ブロック９５Ａは、選択した電圧値ｆｂ－Ｖ２に対応する補正テーブルにおいて、横方向の電力値が、取り込んだ電力値Ｐに一致し、かつ縦方向の電圧値が、電圧値ｆｂ－Ｖ１に一致する要素の値を、電流補正値として検出する。電流値補正ブロック９５Ａは、サンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに、検出した電流補正値を加算して、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡを算出し、算出した補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡを出力する。
【0109】
加え合わせ点９６Ａは、０．５倍ブロック９４が出力する目標電流値（ｔｒ－Ｉ１）／２と、電流値補正ブロック９５Ａが出力する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡとを取り込む。加え合わせ点９６Ａは、目標電流値（ｔｒ－Ｉ１）／２から補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡを減算して得られる減算値を出力する。電流ＰＩブロック９７Ａは、加え合わせ点９６Ａが出力する減算値を取り込み、取り込んだ減算値に対して、予めＰＩ制御用のパラメータが定められている電流に関するＰＩ制御を行って、リアクトル１２Ａの両端子間の電圧ＶＬＡの目標値である目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡを算出して出力する。
【0110】
電流制御部８２において、Ａ相に対して行われる処理と同一の処理であって、電流値補正ブロック９５Ａを、電流値補正ブロック９５Ｂに読み替え、サンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡをサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＢに読み替え、補正テーブル群データ７Ａを、補正テーブル群データ７Ｂに読み替え、補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…を補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…に読み替え、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡを補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢに読み替え、加え合わせ点９６Ａを加え合わせ点９６Ｂに読み替え、電流ＰＩブロック９７Ａを電流ＰＩブロック９７Ｂに読み替えた処理が、Ｂ相に対する処理として行われる。これにより、Ｂ相の電流ＰＩブロック９７Ｂは、リアクトル１２Ｂの両端子間の電圧ＶＬＢの目標値である目標電圧値ｔｒ－ＶＬＢを算出して出力する。
【0111】
ここで、図１１を参照して電流補正値を適用した場合の変化の一例について説明する。図１１は、図２に対して電流補正値の適用によって生じる変化を加えた図である。サンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡが時系列順に、符号３１，３２，３３，３４の位置の値として電流値補正ブロック９５Ａに供給されたとする。この場合、電流値補正ブロック９５Ａが、符号３１，３２，３３，３４の各々のサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに対して検出した電流補正値が、全て正の値であったとする。この場合、電流値補正ブロック９５Ａによる電流補正値の適用により、符号３１のサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに対応する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡは、符号３５の位置になる。符号３２のサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに対応する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡは、符号３６の位置になる。符号３３のサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに対応する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡは、符号３７の位置になる。符号３４のサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡに対応する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡは、符号３８の位置になる。これにより、符号２９で示される時系列に並ぶサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡの平均値が増加して、符号２８で示される実リアクトル電流値ＩＬＡの平均値に近づくことになる。
【0112】
（制御信号生成部のデューティ演算部による処理）
デューティ演算部８３において、Ａ相に対して行われる処理を以下に説明する。除算ブロック９８Ａは、電流ＰＩブロック９７Ａが出力する目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡと、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。除算ブロック９８Ａは、目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡを電圧値ｆｂ－Ｖ２で除算してｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２を算出して出力する。加え合わせ点９９Ａは、除算ブロック９８Ａが出力するｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２と、逆昇圧比算出部が出力する逆昇圧比ｆｂ－Ｖ１／ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。加え合わせ点９９Ａは、ｆｂ－Ｖ１／ｆｂ－Ｖ２からｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２を減算して、｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＡ）｝／ｆｂ－Ｖ２を算出する。この｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＡ）｝／ｆｂ－Ｖ２が、Ａ相の上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）になる。加え合わせ点９９Ａは、算出したＡ相の上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）を出力する。
デューティ演算部８３において、Ａ相に対して行われる処理を以下に説明する。除算ブロック９８Ａは、電流ＰＩブロック９７Ａが出力する目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡと、フィードバック情報として供給される電圧値ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。除算ブロック９８Ａは、目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡを電圧値ｆｂ－Ｖ２で除算してｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２を算出して出力する。加え合わせ点９９Ａは、除算ブロック９８Ａが出力するｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２と、逆昇圧比算出部が出力する逆昇圧比ｆｂ－Ｖ１／ｆｂ－Ｖ２とを取り込む。加え合わせ点９９Ａは、ｆｂ－Ｖ１／ｆｂ－Ｖ２からｔｒ－ＶＬＡ／ｆｂ－Ｖ２を減算して、｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＡ）｝／ｆｂ－Ｖ２を算出する。この｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＡ）｝／ｆｂ－Ｖ２が、Ａ相の上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）になる。加え合わせ点９９Ａは、算出したＡ相の上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）を出力する。
【0113】
デューティ演算部８３において、Ａ相に対して行われる処理と同一の処理であって、除算ブロック９８Ａを除算ブロック９８Ｂに読み替え、電流ＰＩブロック９７Ａを電流ＰＩブロック９７Ｂに読み替え、目標電圧値ｔｒ－ＶＬＡを目標電圧値ｔｒ－ＶＬＢに読み替え、加え合わせ点９９Ａを加え合わせ点９９Ｂに読み替えた処理が、Ｂ相に対する処理として行われる。これにより、加え合わせ点９９Ｂは、｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＢ）｝／ｆｂ－Ｖ２を算出する。この｛（ｆｂ－Ｖ１）－（ｔｒ－ＶＬＢ）｝／ｆｂ－Ｖ２が、Ｂ相の上アームのスイッチ素子１４Ｂ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＢ）になる。加え合わせ点９９Ｂは、算出したＢ相の上アームのスイッチ素子１４Ｂ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＢ）を出力する。
【0114】
（制御信号生成部のパルス生成部による処理）
パルス生成部８４は、内部にＰＷＭ(Pulse Width Modulation)回路を備えている。パルス生成部８４は、外部から与えられるスイッチング周期Ｔｓを取り込む。パルス生成部８４において、Ａ相に対して行われる処理を以下に説明する。パルス生成部８４は、加え合わせ点９９Ａが出力する上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）を取り込む。パルス生成部８４は、取り込んだＤｕｔｙＡに基づいて、ＰＷＭ回路によって、取り込んだスイッチング周期Ｔｓの１周期における上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ、及び下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌの各々のＯＮとＯＦＦと切り替えるタイミングを示すパルス信号を生成する。パルス生成部８４は、スイッチング周期Ｔｓごとに繰り返し、上アーム用のパルス信号を制御信号としてスイッチ素子１４Ａ－Ｕのゲート端子に出力すると共に、下アーム用のパルス信号を制御信号としてスイッチ素子１４Ａ－Ｌのゲート端子に出力する。
パルス生成部８４は、内部にＰＷＭ(Pulse Width Modulation)回路を備えている。パルス生成部８４は、外部から与えられるスイッチング周期Ｔｓを取り込む。パルス生成部８４において、Ａ相に対して行われる処理を以下に説明する。パルス生成部８４は、加え合わせ点９９Ａが出力する上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕのオンデューティ比（ＤｕｔｙＡ）を取り込む。パルス生成部８４は、取り込んだＤｕｔｙＡに基づいて、ＰＷＭ回路によって、取り込んだスイッチング周期Ｔｓの１周期における上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ、及び下アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｌの各々のＯＮとＯＦＦと切り替えるタイミングを示すパルス信号を生成する。パルス生成部８４は、スイッチング周期Ｔｓごとに繰り返し、上アーム用のパルス信号を制御信号としてスイッチ素子１４Ａ－Ｕのゲート端子に出力すると共に、下アーム用のパルス信号を制御信号としてスイッチ素子１４Ａ－Ｌのゲート端子に出力する。
【0115】
パルス生成部８４において、Ａ相に対して行われる処理と同一の処理であって、加え合わせ点９９Ａを加え合わせ点９９Ｂに読み替え、スイッチ素子１４Ａ－Ｕをスイッチ素子１４Ｂ－Ｕに読み替え、スイッチ素子１４Ａ－Ｌをスイッチ素子１４Ｂ－Ｌに読み替え、ＤｕｔｙＡをＤｕｔｙＢに読み替えた処理が行われる。
【0116】
（本実施形態の作用・効果）
上記した実施形態による昇圧装置１では、記憶部６に電流補正値を検出する用途で用いられる補正値検出用情報である補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂを予め記憶させている。補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂには、入力端子１０の間の電圧値Ｖ１と、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２と、入力端子１０に接続する蓄電器が供給する電力の電力値Ｐという昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報と、電流補正値との関係を示す補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…、及び補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…が含まれている。
上記した実施形態による昇圧装置１では、記憶部６に電流補正値を検出する用途で用いられる補正値検出用情報である補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂを予め記憶させている。補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂには、入力端子１０の間の電圧値Ｖ１と、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２と、入力端子１０に接続する蓄電器が供給する電力の電力値Ｐという昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報と、電流補正値との関係を示す補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…、及び補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…が含まれている。
【0117】
補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂは、補正値検出用情報生成装置４０によって生成されるデータである。補正値検出用情報生成装置４０において、実電流推定部４１は、リアクトル１２Ａ，１２Ｂのリアクトル特性値と、昇圧チョッパ回路２のスイッチング周期Ｔｓと、昇圧チョッパ回路２をモデル化した昇圧チョッパ回路モデル式とに基づいて、昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータの各々に対応する推定実インダクタ電流値を算出する。
【0118】
測定電流推定部４２は、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂの時定数である電流測定回路時定数と、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂをモデル化した電流測定回路モデル式とに基づいて、パラメータごとの推定実インダクタ電流値から、パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を算出する。サンプル電流推定部４３は、パラメータごとの推定測定インダクタ電流値を、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂのサンプリングタイミングと同一のサンプリングタイミングでサンプリングして、パラメータごとの推定サンプル電流値を抽出する。情報生成部４４は、実電流推定部４１が算出する推定実インダクタ電流値と、サンプル電流推定部４３が抽出する推定サンプル電流値とから、パラメータごとの電流補正値を算出し、パラメータと、電流補正値との関係を示す補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂを生成する。
【0119】
昇圧装置１の制御部３が備える制御信号生成部５は、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂからサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢを取得すると、取得した際の昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報、すなわちフィードバック情報に含まれる電圧値ｆｂ－Ｖ１，ｆｂ－Ｖ２と、外部から与えられる電力値Ｐとに基づいて、補正テーブル群データ７Ａ，７ＢからＡ相とＢ相の各々の電流補正値を検出する。制御信号生成部５は、サンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢの各々に、各々に対応する電流補正値を適用して補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ，Ｃ－ＩＬＢを算出する。
【0120】
制御信号生成部５は、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ，Ｃ－ＩＬＢを算出した際の昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報、すなわちフィードバック情報に含まれる電圧値ｆｂ－Ｖ１，ｆｂ－Ｖ２と、算出した補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ，Ｃ－ＩＬＢとに基づいて、制御目標値を目標電圧値ｔｒ－Ｖ２とするフィードバック制御を行う。制御信号生成部５は、当該フィードバック制御によって、出力端子２０の間の電圧値Ｖ２が、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２に近づくようにしつつ、各々が同一のスイッチング周期Ｔｓで駆動する昇圧回路１３Ａ，１３Ｂの駆動位相の位相差を１８０°に一致させるようにするスイッチング周期Ｔｓの１周期分のスイッチタイミングを示す制御信号を生成する。制御信号生成部５は、スイッチング周期Ｔｓごとに繰り返し、生成した制御信号をスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌのゲート端子に出力する。
【0121】
昇圧装置１が備える電流測定回路１６Ａ，１６Ｂのように、フィードバック制御に用いられる電流測定回路は、フィードバック制御に追随するために高い応答性が要求される。その一方で、このような高い応答性を有する電流測定回路１６Ａ，１６Ｂを用いた場合、実リアクトル電流値ＩＬＡ，ＩＬＢの各々の平均値と、各々に対応するサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢの平均値とにおいて、相違が生じることになる。そのため、制御信号生成部５が、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂから供給されるサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢを、そのまま用いてフィードバック制御を行っても、良好な制御性が得られない。
【0122】
これに対して本実施形態では、補正値検出用情報生成装置４０が、当該相違を補償する電流補正値を、昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報を組み合わせて生成される複数のパラメータごとに算出して補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂを生成する。制御信号生成部５は、フィードバック情報が供給されるごとに、補正値検出用情報生成装置４０が生成した補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂからフィードバック情報が供給された際の昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報に対応する電流補正値を検出する。制御信号生成部５は、検出した電流補正値に基づいて、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂから供給されるサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢを補正して補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ，Ｃ－ＩＬＢを得る。
【0123】
すなわち、本実施形態の昇圧装置１と、補正値検出用情報生成装置４０とを用いることで、多相化された昇圧チョッパ回路２において、フィードバック制御において要求される速度に追従可能な電流測定回路１６Ａ，１６Ｂを用いつつ、実リアクトル電流値ＩＬＡ，ＩＬＢの各々の平均値と、各々に対応するサンプル電流値ｆｂ－ＩＬＡ，ｆｂ－ＩＬＢの平均値との相違を補正することができる。補正によって得られた補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡの平均値は、実際にリアクトル１２Ａを流れる電流の電流値である実リアクトル電流値ＩＬＡの平均値に近づき、また、補正によって得られた補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢの平均値は、実際にリアクトル１２Ｂを流れる電流の電流値である実リアクトル電流値ＩＬＢの平均値に近づくことになる。したがって、制御信号生成部５が行うフィードバック制御において、良好な制御性が得られることになる。
【0124】
（本実施形態の他の構成例）
上記した実施形態では、補正値検出用情報生成装置４０に与えるパラメータとして、複数の電圧値Ｖ１、複数の電圧値Ｖ２、及び複数の電力値Ｐの中から、Ｖ１，Ｖ２，Ｐの各々に対して１つずつ選択して組み合わせたものとしている。これに対して、電流値Ｖ２を、例えば、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２に固定したパラメータとしてもよい。言い換えると、複数の電圧値Ｖ１と複数の電力値Ｐの中から、Ｖ１，Ｐの各々に対して１つずつ選択して組み合わせた組み合わせに、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２を加えたものをパラメータとしてもよい。この場合、補正値検出用情報生成装置４０が生成する補正テーブル群データ７Ａは、「電圧値Ｖ２＝目標電圧値ｔｒ－Ｖ２」をインデックスとする１つの補正テーブル７Ａ－１のみを含み、補正テーブル群データ７Ｂも、「電圧値Ｖ２＝目標電圧値ｔｒ－Ｖ２」をインデックスとする１つの補正テーブル７Ｂ－１のみを含むことになる。そのため、制御信号生成部５の電流値補正ブロック９５Ａ，９５Ｂの各々は、補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂから補正テーブルを検索する必要がないため、電圧値ｆｂ－Ｖ２を取り込む必要がなく、電圧値ｆｂ－Ｖ１と、電力値Ｐとに基づいて、各々に対応する補正テーブル７Ａ－１，７Ｂ－１から、それぞれＡ相とＢ相の電流補正値を検出することになる。なお、電圧値Ｖ２を、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２以外の一定値に固定して、パラメータを生成するようにしてもよい。
上記した実施形態では、補正値検出用情報生成装置４０に与えるパラメータとして、複数の電圧値Ｖ１、複数の電圧値Ｖ２、及び複数の電力値Ｐの中から、Ｖ１，Ｖ２，Ｐの各々に対して１つずつ選択して組み合わせたものとしている。これに対して、電流値Ｖ２を、例えば、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２に固定したパラメータとしてもよい。言い換えると、複数の電圧値Ｖ１と複数の電力値Ｐの中から、Ｖ１，Ｐの各々に対して１つずつ選択して組み合わせた組み合わせに、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２を加えたものをパラメータとしてもよい。この場合、補正値検出用情報生成装置４０が生成する補正テーブル群データ７Ａは、「電圧値Ｖ２＝目標電圧値ｔｒ－Ｖ２」をインデックスとする１つの補正テーブル７Ａ－１のみを含み、補正テーブル群データ７Ｂも、「電圧値Ｖ２＝目標電圧値ｔｒ－Ｖ２」をインデックスとする１つの補正テーブル７Ｂ－１のみを含むことになる。そのため、制御信号生成部５の電流値補正ブロック９５Ａ，９５Ｂの各々は、補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂから補正テーブルを検索する必要がないため、電圧値ｆｂ－Ｖ２を取り込む必要がなく、電圧値ｆｂ－Ｖ１と、電力値Ｐとに基づいて、各々に対応する補正テーブル７Ａ－１，７Ｂ－１から、それぞれＡ相とＢ相の電流補正値を検出することになる。なお、電圧値Ｖ２を、目標電圧値ｔｒ－Ｖ２以外の一定値に固定して、パラメータを生成するようにしてもよい。
【0125】
上記した実施形態において、リアクトル１２Ａのインダクタンス値と、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値とは、電力値Ｐによって同一の変化を示す値であって、同一の電力値Ｐに対しては、同一の値になるインダクタンス値であるとしている。これに対して、リアクトル１２Ａのインダクタンス値と、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値とが、電力値Ｐによって変化しない同一のインダクタンス値であるか、または、電力値Ｐによるインダクタンス値の変化が小さく、リアクトル１２Ａ，１２Ｂに共通の１つのインダクタンス値を代表値として定めても支障がないとする。この場合、実電流推定部４１に与えるリアクトル特性値には、リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとに共通の１つのインダクタンス値Ｌが含まれることになる。そのため、実電流推定部４１は、図５のＳ３の処理において、リアクトル特性値の中から電力値Ｐに対応するインダクタンス値Ｌを選択するのではなく、リアクトル特性値に含まれている１つのインダクタンス値Ｌを読み出して、それ以降の処理に、読み出したインダクタンス値Ｌを適用すればよいことになる。
【0126】
このように、リアクトル１２Ａ，１２Ｂのインダクタンス値Ｌを、電力値Ｐによって変化しない一定値であり、かつ同一値であるとした場合、式（７）～式（１０）における電流増加率が、電力値Ｐによって変わらなくなる。そのため、図８に示す推定実リアクトル電流値の変化を示すグラフ６０は、電力値Ｐが変化したとしても、横軸のＩｅｎｄ（１）～Ｉｅｎｄ（４）の値が、基準となる電流平均値Ｉａｖｅの値にしたがって、縦方向の電流値の軸に対して、上下に平行に移動するだけである。言い換えると、電力値Ｐが変化したとしても、グラフ６０の形状は変化しないことになる。そのため、電力値Ｐを何れの値にしたとしても、電圧値Ｖ１と電圧値Ｖ２の組み合わせが同一であれば、同一の電流補正値が得られることになる。
【0127】
したがって、リアクトル１２Ａ，１２Ｂのインダクタンス値が、電力値Ｐによって変化しない一定値であり、かつ同一値である場合、電力値Ｐを用いなくても、正しい電流補正値を算出できることから、補正値検出用情報生成装置４０に与えるパラメータに含まれる電力値Ｐを一定値、例えば、「０」に固定するようにしてもよい。言い換えると、複数の電圧値Ｖ１と複数の電圧値Ｖ２の中から、Ｖ１，Ｖ２の各々に対して１つずつ選択して組み合わせた組み合わせに、電力値Ｐとして予め定めた一定値を加えたものをパラメータとしてもよい。また、パラメータに電力値Ｐを含めないようにしてもよく、この場合、実電流推定部４１は、式（６）の演算を行う際に、電力値Ｐとして予め定められる一定値を式（６）の「Ｐ」に適用することになる。
【0128】
電力値Ｐを一定値に固定して補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂを生成すると、補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂに含まれる補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…及び、補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…の各々は、横方向の電力値Ｐのサブ項目が、当該一定値に対応する１つの数値のみとなり、１列だけのテーブルになる。この場合、制御信号生成部５に電力値Ｐを与える必要がなくなる。制御信号生成部５の電流値補正ブロック９５Ａ，９５Ｂの各々は、電圧値ｆｂ－Ｖ１，ｆｂ－Ｖ２という２つの数値に基づいて、各々に対応する補正テーブル７Ａ－１，７Ａ－２，７Ａ－３，…及び、補正テーブル７Ｂ－１，７Ｂ－２，７Ｂ－３，…から、それぞれＡ相とＢ相の電流補正値を検出すればよいことになる。
【0129】
電力値Ｐを一定値に固定する場合に、更に、上記した電圧値Ｖ２を目標電圧値ｔｒ－Ｖ２などの一定値に固定するようにしてもよい。そのようにした場合、補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂは、それぞれ１つの補正テーブル７Ａ－１，７Ｂ－１を含むことになる。補正テーブル７Ａ－１，７Ｂ－１の各々は、「電圧値Ｖ２＝固定した一定値の電圧値Ｖ２」をインデックスとして有し、横方向の電力値Ｐのサブ項目において、固定した一定値の電力値Ｐに対応する１つの数値のみが示される１列だけのテーブルになる。この場合、制御信号生成部５の電流値補正ブロック９５Ａ，９５Ｂの各々は、電圧値ｆｂ－Ｖ２を取り込むことなく、電圧値ｆｂ－Ｖ１のみに基づいて、各々に対応する補正テーブル７Ａ－１，７Ｂ－１から、それぞれＡ相とＢ相の電流補正値を検出すればよいことになる。
【0130】
上記した実施形態では、補正値検出用情報生成装置４０が生成する補正値検出用情報は、例えば、図３に示す補正テーブル７Ａ－１のようなデータ形式であるとしている。これに対して、補正値検出用情報生成装置４０は、補正値検出用情報として、昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関わる情報と、電流補正値との関係を示す関数を生成するようにしてもよい。例えば、このような関数として、電圧値Ｖ２と電力値Ｐと組み合わせごとの複数の関数であって、電圧値Ｖ１と電流補正値との関係を示す関数を、補正値検出用情報生成装置４０の情報生成部４４が生成するようにしてもよい。電圧値Ｖ１と電流補正値との関係を示す関数は、例えば、電圧値Ｖ１を２００Ｖ～２４０Ｖ、２４５Ｖ～３００Ｖ、３０５Ｖ～４００Ｖといったように区間ごとに区切って、電圧値Ｖ１の区間ごとの電圧値Ｖ１と電流補正値との関係を近似する関数を複数含む形式の関数であってもよい。
【0131】
上記した実施形態では、リアクトル１２Ａのインダクタンス値と、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値とが同一であるとしているが、リアクトル１２Ａのインダクタンス値と、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値とが異なっていてもよい。この場合、Ａ相については、図６に示す式（２），式（３），式（４），式（５）に替えて、図１２に示す式（２），式（３），式（４），式（５）が適用され、Ｂ相については、図１２に示す式（２Ｂ），（３Ｂ），（４Ｂ），（５Ｂ）が適用される。なお、図１２において、Ｌ１は、リアクトル１２Ａのインダクタンス値であり、Ｌ２は、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値である。また、リアクトル１２Ａのインダクタンス値と、リアクトル１２Ｂのインダクタンス値とが、電力値Ｐによって変化する場合に、リアクトル１２Ａ，１２Ｂとにおいて、異なる変化を示すインダクタンス値になっていてもよい。
【0132】
上記した実施形態において示すように、昇圧チョッパ回路２は、２相になっているが、３相以上の昇圧チョッパ回路であってもよい。昇圧チョッパ回路２は、入力端子１０と、コンデンサ１１と、昇圧回路１３Ａ，１３Ｂと、平滑コンデンサ１９と、出力端子２０とを含むとしているが、図１５に示す昇圧装置２００のように、入力側のコンデンサ１１を含まない昇圧チョッパ回路であってもよい。昇圧チョッパ回路２の昇圧回路１３Ａ，１３Ｂは、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕを備えているが、図１５に示す昇圧装置２００のように、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕを備えない昇圧チョッパ回路であってもよい。昇圧チョッパ回路２の昇圧回路１３Ａ，１３Ｂは、還流ダイオード１５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌを備えているが、還流ダイオード１５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌを備えない昇圧チョッパ回路であってもよい。ただし、昇圧チョッパ回路２を、上アームのスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ｂ－Ｕを備えない昇圧チョッパ回路とする場合、上アームには、図１５の昇圧装置２００のようにダイオードが必要になる。
【0133】
上記した実施形態では、リアクトル１２Ａと、リアクトル１２Ｂとが、磁気結合されているが、磁気結合されていなくてもよい。この場合、実電流推定部４１に与えられるリアクトル特性値には、結合係数ｋが含まれないことになる。３相以上の昇圧チョッパ回路の場合、当該昇圧チョッパ回路を形成する複数の昇圧回路の各々に含まれるリアクトルは、全てが磁気結合されていなくてもよいし、一部が磁気結合されていてもよいし、全てが磁気結合されていてもよい。
【0134】
上記した実施形態では、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂのサンプリングタイミングが同一であるとし、補正値検出用情報生成装置４０のサンプル電流推定部４３には、ＡＤ変換部４Ａ，４Ｂに共通するサンプリングタイミングに対応する１つの検出タイミングを与えるようにしている。これに対して、ＡＤ変換部４Ａのサンプリングタイミングと、ＡＤ変換部４Ｂのサンプリングタイミングとが異なる場合、サンプル電流推定部４３には、ＡＤ変換部４Ａのサンプリングタイミングに対応するＡ相用の検出タイミングと、ＡＤ変換部４Ｂのサンプリングタイミングに対応するＢ相用の検出タイミングという２つの検出タイミングが与えられることになる。この場合、サンプル電流推定部４３は、図５のＳ１の処理において、Ａ相用の検出タイミングからＡ相用のサンプリングタイミングを算出し、Ｂ相用の検出タイミングからＢ相用のサンプリングタイミングを算出する。サンプル電流推定部４３は、図５のＳ１０の処理において、Ａ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータを、Ａ相用のサンプリングタイミングでサンプリングして、Ａ相の推定サンプル電流値を時系列に並べたデータを抽出し、Ｂ相の推定測定リアクトル電流値が時系列に並んだデータを、Ｂ相用のサンプリングタイミングでサンプリングして、Ｂ相の推定サンプル電流値を時系列に並べたデータを抽出することになる。
【0135】
上記した実施形態では、スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌが、例えば、ＩＧＢＴであるとしている。これに対して、スイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌとして、バイポーラトランジスタやＭＯＳＦＥＴ(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)を適用してもよい。ＭＯＳＦＥＴを適用する場合、例えば、還流ダイオード１５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌを備えず、ＭＯＳＦＥＴであるスイッチ素子１４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌの寄生ダイオードを、還流ダイオード１５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌの代わりに利用するようにしてもよい。
【0136】
上記した実施形態では、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂは、それぞれセンサ回路１７Ａ，１７Ｂと、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂとを備えるようにしている。これに対して、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂは、センサ回路１７Ａ，１７Ｂのみを備える回路であってもよいし、センサ回路１７Ａ，１７Ｂと、フィルタ回路１８Ａ，１８Ｂとによって構成される以外の電流を測定する回路であってもよい。
【0137】
上記した実施形態では、制御信号生成部５の制御目標を、電圧値Ｖ２の目標電圧値ｔｒ－Ｖ２としている。これに対して、例えば、制御信号生成部５の制御目標を、リアクトル１２Ａ，１２Ｂの各々を流れる電流の電流値としてもよいし、出力端子２０に接続する負荷に供給する電流の電流値としてもよいし、それ以外の昇圧チョッパ回路２の電気入出力に関係する値を制御目標としてもよい。
【0138】
（電流補正値の他の利用形態）
昇圧装置１の制御信号生成部５が、記憶部６の補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂから検出した電流補正値によって補正することにより得らえるリアクトル１２Ａの補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ、及びリアクトル１２Ｂの補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢの何れか一方、または、両方を用いることにより、以下に示すような温度推定や抵抗値推定が可能になる。
昇圧装置１の制御信号生成部５が、記憶部６の補正テーブル群データ７Ａ，７Ｂから検出した電流補正値によって補正することにより得らえるリアクトル１２Ａの補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ、及びリアクトル１２Ｂの補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢの何れか一方、または、両方を用いることにより、以下に示すような温度推定や抵抗値推定が可能になる。
【0139】
（温度推定の利用形態）
図１３に示す蓄電器１００は、例えば、昇圧装置１の入力端子１０－１，１０－２に接続される蓄電器であるとする。蓄電器１００は、電極板の温度が所定の温度未満で使用しないと、寿命が短くなったりする。ただし、電解液内に存在する電極板は、直接、温度を測定することができない。このような場合に、蓄電器１００において、電解液内に存在する電極板の箇所を測定対象箇所１０１として、当該測定対象箇所１０１の温度Ｔａを監視する場面を想定する。
図１３に示す蓄電器１００は、例えば、昇圧装置１の入力端子１０－１，１０－２に接続される蓄電器であるとする。蓄電器１００は、電極板の温度が所定の温度未満で使用しないと、寿命が短くなったりする。ただし、電解液内に存在する電極板は、直接、温度を測定することができない。このような場合に、蓄電器１００において、電解液内に存在する電極板の箇所を測定対象箇所１０１として、当該測定対象箇所１０１の温度Ｔａを監視する場面を想定する。
【0140】
図１３に示す温度推定装置１１０を、昇圧装置１の制御信号生成部５に接続する。温度推定装置１１０は、制御信号生成部５から補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを取得する。温度推定装置１１０は、温度センサを備えており、温度センサによって、蓄電器の外部から測定可能な箇所１０２（以下、測定可能箇所１０２という）の温度Ｔｂを測定する。
【0141】
蓄電器１００における熱抵抗１０３の熱抵抗値を、熱抵抗値Ｒｔｈとすると、測定対象箇所１０１の温度Ｔａを次式（１３）によって算出することができる。
【0142】
【数9】
【0143】
熱抵抗値Ｒｔｈは、熱の伝わり難さを示す値であり、単位は、例えば、［℃／Ｗ］である。式（１３）に示す「損失」とは、測定可能箇所１０２における熱量を示しており、「損失」は、例えば、蓄電器１００に流れる電流の電流値Ｉから算出することが可能である。したがって、温度推定装置１１０は、制御信号生成部５から取得する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを加算して蓄電器１００を流れる電流の電流値Ｉを算出し、算出した電流値Ｉから式（１３）の「損失」を算出する。温度推定装置１１０は、温度センサによって測定した測定可能箇所１０２の温度Ｔｂと、算出した「損失」とを、式（１３）に代入して、測定対象箇所１０１の温度Ｔａを算出する。温度推定装置１１０が算出する温度Ｔａの値は、リアクトル１２Ａ，１２Ｂに実際に流れる電流の電流値を、高い精度で近似する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとから算出した温度の値であるため、精度の高い温度の値になる。
【0144】
上記では、蓄電器１００を対象として、蓄電器１００の電極板の箇所を測定対象箇所１０１とする例について説明した。これに対して、例えば、蓄電器１００に替えて、昇圧装置１に存在する半導体などの素子を対象としてもよい。このような素子も、特定の箇所の温度が、所定の温度を超えると、破壊されてしまうといった事情がある。この場合において、当該特定の箇所が、例えば、直接、温度を測定できない箇所や、温度センサによって測定ができない程の高温になる箇所である場合、当該特定の箇所を、測定対象箇所１０１とし、当該素子における測定可能な箇所を、測定可能箇所１０２として、上記と同様の手順で、温度推定装置１１０によって、測定対象箇所１０１の温度の値を推定することができる。
【0145】
（抵抗値推定の利用形態）
例えば、入力端子１０－１，１０－２に接続する蓄電器１００において、内部抵抗１０５の抵抗値を計測したい場面を想定する。図１４に示す内部抵抗推定装置１２０を、昇圧装置１の制御信号生成部５に接続する。内部抵抗推定装置１２０は、制御信号生成部５から補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを取得する。内部抵抗推定装置１２０は、昇圧装置１の入力端子１０－１，１０－２に接続し、入力端子１０－１，１０－２の間の電圧値Ｖ１を計測する。
例えば、入力端子１０－１，１０－２に接続する蓄電器１００において、内部抵抗１０５の抵抗値を計測したい場面を想定する。図１４に示す内部抵抗推定装置１２０を、昇圧装置１の制御信号生成部５に接続する。内部抵抗推定装置１２０は、制御信号生成部５から補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを取得する。内部抵抗推定装置１２０は、昇圧装置１の入力端子１０－１，１０－２に接続し、入力端子１０－１，１０－２の間の電圧値Ｖ１を計測する。
【0146】
内部抵抗推定装置１２０は、制御信号生成部５から取得する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを加算して、蓄電器１００に流れる電流の電流値Ｉを算出する。内部抵抗推定装置１２０は、計測した入力端子１０－１，１０－２の間の電圧値Ｖ１を、算出した電流値Ｉで除算して、内部抵抗１０５の抵抗値を算出する。内部抵抗推定装置１２０が算出する内部抵抗１０５の抵抗値は、リアクトル１２Ａ，１２Ｂに実際に流れる電流の電流値を、高い精度で近似する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを用いて算出した抵抗値であるため、精度の高い抵抗値になる。
【0147】
なお、温度推定装置１１０、及び内部抵抗推定装置１２０は、リアクトル１２Ａとリアクトル１２Ｂのインダクタンス値が同一である場合、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡと補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢとを加算するのではなく、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ、及び補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢの何れか一方を２倍した値を電流値Ｉとしてもよい。この場合、温度推定装置１１０、及び内部抵抗推定装置１２０は、補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ、及び補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＢの何れか一方を制御信号生成部５から取得すればよいことになる。
【0148】
上記した温度推定装置１１０や内部抵抗推定装置１２０の利用形態では、フィードバック制御において必要となる制御性が要求されないことから、例えば、時定数が大きく、応答が遅い電流測定回路を用いて、平均値に関して、実リアクトル電流値との相違が少ないサンプル電流値を取得して利用することができる。ただし、この場合、昇圧装置１に、時定数が大きく、応答が遅い電流測定回路を、電流測定回路１６Ａ，１６Ｂとは別に備える必要がある。これに対して、図１３，図１４に示すように、制御信号生成部５が出力する補正リアクトル電流値Ｃ－ＩＬＡ，Ｃ－ＩＬＢを利用するようにすれば、昇圧装置１の部品点数を増やさずに、温度の値を推定したり、抵抗値を推定したりすることが可能になる。
【0149】
上記した実施形態に係る制御信号生成部５、及び補正値検出用情報生成装置４０は、マイクロコンピュータ、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のコンピュータと、コンピュータの周辺回路や周辺装置等のハードウェアを用いて構成することができる。そして、制御信号生成部５は、ハードウェアと、コンピュータが実行するプログラム等のソフトウェアとの組み合わせから構成される機能的構成として、電圧制御部８１、電流制御部８２、デューティ演算部８３、及びパルス生成部８４を備え、補正値検出用情報生成装置４０は、ハードウェアと、コンピュータが実行するプログラム等のソフトウェアとの組み合わせから構成される機能的構成として、実電流推定部４１、測定電流推定部４２、サンプル電流推定部４３、及び情報生成部４４を備える。
【0150】
なお、制御信号生成部５、及び補正値検出用情報生成装置４０は、ＰＬＤ（Programmable Logic Device）などのカスタムＬＳＩ（Large Scale Integrated Circuit）を用いて構成されていてもよい。ＰＬＤの例としては、ＰＡＬ(Programmable Array Logic)、ＧＡＬ(Generic Array Logic)、ＣＰＬＤ(Complex Programmable Logic Device)、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）が挙げられる。この場合、プロセッサによって実現される機能の一部または全部が当該集積回路によって実現されてよい。
【0151】
上記した実施形態でコンピュータが実行するプログラムの一部または全部は、コンピュータ読取可能な記録媒体や通信回線を介して頒布することができる。
【0152】
上記した実施形態において、リアクトル１２Ａ，１２Ｂは、インダクタンスの性質を実現する素子であり、インダクタの一種であるとしている。すなわち、インダクタには、リアクトルという名称で呼ばれるもの以外に、様々なインダクタンスの性質を実現する素子が存在する。このような、リアクトルという名称で呼ばれるもの以外の様々なインダクタンスの性質を実現する素子を、リアクトル１２Ａ，１２Ｂに替えて昇圧装置１に適用するようにしてもよい。このような適用を考慮する場合、リアクトル１２Ａ，１２Ｂを包含する名称として、インダクタ１２Ａ，１２Ｂとするのが好ましく、インダクタ１２Ａ，１２Ｂという名称にする場合には、上記の実施形態における「リアクトル」という記載は、全て「インダクタ」という記載に読み替えられることになる。
【0153】
以上、この発明の実施形態について図面を参照して説明してきたが、具体的な構成は上記実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【符号の説明】
【0154】
１…昇圧装置 ２…昇圧チョッパ回路 ３…制御部 ４Ａ，４Ｂ…ＡＤ変換部 ５…制御信号生成部 ６…記憶部 ７Ａ，７Ｂ…補正テーブル群データ １０，１０－１，１０－２…入力端子 １１…コンデンサ １２…磁気結合リアクトル １２Ａ，１２Ｂ…リアクトル １３Ａ，１３Ｂ…昇圧回路 １４Ａ－Ｕ，１４Ａ－Ｌ，１４Ｂ－Ｕ，１４Ｂ－Ｌ…スイッチ素子 １５Ａ－Ｕ，１５Ａ－Ｌ，１５Ｂ－Ｕ，１５Ｂ－Ｌ…還流ダイオード １６Ａ，１６Ｂ…電流測定回路 １７Ａ，１７Ｂ…センサ回路 １８Ａ，１８Ｂ…フィルタ回路 １９…平滑コンデンサ ２０，２０－１，２０－２…出力端子 ４０…補正値検出用情報生成装置 ４１…実電流推定部 ４２…測定電流推定部 ４３…サンプル電流推定部 ４４…情報生成部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】