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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024156239
(43)【公開日】2024-11-06
(54)【発明の名称】被試験装置の試験システム
(51)【国際特許分類】
G01R 31/00 20060101AFI20241029BHJP
【ＦＩ】
G01R31/00
【審査請求】未請求
【請求項の数】8
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023070532
(22)【出願日】2023-04-24
(71)【出願人】
【識別番号】591036457
【氏名又は名称】三菱電機エンジニアリング株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110002941
【氏名又は名称】弁理士法人ぱるも特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】石倉 修司
【テーマコード（参考）】
2G036
【Ｆターム（参考）】
2G036AA28
2G036BA37
2G036BA39
2G036BA46
(57)【要約】
【課題】被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制する被試験装置の試験システムを提供する。
【解決手段】試験装置１００Ａは、被試験装置２００Ａに向けて直流電力を供給する電源設備１１０Ａと、電源線３００に設置された第３開閉部１３０Ａと、バイパス線４００に設置された第４開閉部１４０Ａと、を制御する第１制御部１２０Ａを備え、第１制御部１２０Ａから第２制御部２７０Ａに対して起動指令を出力する前に、第１制御部１２０Ａは、第３開閉部１３０ＡにＯＦＦ指令および第４開閉部１４０ＡにＯＮ指令を出力し、電源設備１１０Ａからの直流電力により、バイパス線４００および充電抵抗器２４０を通してコンデンサ２５０を充電する。
【選択図】図４
【解決手段】試験装置１００Ａは、被試験装置２００Ａに向けて直流電力を供給する電源設備１１０Ａと、電源線３００に設置された第３開閉部１３０Ａと、バイパス線４００に設置された第４開閉部１４０Ａと、を制御する第１制御部１２０Ａを備え、第１制御部１２０Ａから第２制御部２７０Ａに対して起動指令を出力する前に、第１制御部１２０Ａは、第３開閉部１３０ＡにＯＦＦ指令および第４開閉部１４０ＡにＯＮ指令を出力し、電源設備１１０Ａからの直流電力により、バイパス線４００および充電抵抗器２４０を通してコンデンサ２５０を充電する。
【選択図】図４
【特許請求の範囲】
【請求項1】
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する被試験装置の試験システム。
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する被試験装置の試験システム。
【請求項2】
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する請求項１に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項3】
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する請求項１に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項4】
前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電した後に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項5】
前記第１制御部が前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力した後に、前記第１制御部は、前記第２制御部に対して起動指令を出力する請求項４に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項6】
前記第１制御部が前記第２制御部に対して起動指令を出力した後に、前記第２制御部が前記電源設備からの入力電圧を測定する入力電圧測定部の測定電圧と、前記コンデンサの充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部の測定電圧とが同じと判断すれば、前記第２開閉部にＯＮ指令を出力する請求項５に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項7】
前記第２制御部は前記第２開閉部にＯＮ指令を出力した後に、前記被試験装置の被試験回路を駆動するとともに、前記第１制御部は駆動された前記被試験回路の試験出力を測定する請求項６に記載の被試験装置の試験システム。
【請求項8】
前記第２制御部は、前記コンデンサの充電電圧が予め設定した時間内に予め設定した電圧にならない場合は、前記コンデンサの充電不良保護のために前記被試験装置を停止する機能を有する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本願は、被試験装置の試験システムに関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来、例えば、インバータ装置の試験装置として、交流電源から受け取った交流電力を直流電力に変換する交直変換回路と前記交直変換回路を制御する制御部とを含む電源機と、試験されるべき試験機インバータ装置と前記電源機との間に介在し、リアクトルおよびキャパシタで構成され、前記電源機が出力した前記直流電力を前記試験機インバータ装置に供給するためのフィルタ回路と、を備え、前記制御部は、前記試験機インバータ装置および前記電源機の運転中に前記交流電源の電源電圧の大きさを増加または減少のいずれか一方の所定方向へ変化させる試験である瞬時電圧異常試験を開始するための試験開始信号が発せられたときに、前記交直変換回路の出力調整を実施するように構築されたものがあった（例えば、下記の特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】国際公開番号ＷＯ２０２１／０４４４８５
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
前記従来の試験装置において、試験装置の起動時には、直流キャパシタに電力が蓄えられていない。そこで、まず電源機が交流電源からの交流電力を電力変換することで直流電力を生成し、この直流電力で直流キャパシタを充電する。その後、電源機と試験機とがそれぞれ電力変換を行うことで、電源機の出力直流電力が直流キャパシタを経由して試験機に伝達され、試験機の出力交流電力が第一変圧器および第二変圧器を経由して電源機へと入力される。
しかしながら、前記特許文献１には、直流電力で直流キャパシタを充電する動作の詳細についての開示はない。
しかしながら、前記特許文献１には、直流電力で直流キャパシタを充電する動作の詳細についての開示はない。
【0005】
本願は、上記のような課題を解決するための技術を開示するものであり、被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制する被試験装置の試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本願に開示される被試験装置の試験システムは、
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するものである。
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するものである。
【発明の効果】
【0007】
本願に開示される被試験装置の試験システムによれば、被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】本願の比較例としての被試験装置の試験システムを示す構成図である。
【図2】本願の比較例としての被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図3】本願の比較例としての被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図4】本願の実施の形態１に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
【図5】本願の実施の形態１に係る被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図6】本願の実施の形態１に係る被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図7】本願の実施の形態２に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
【図8】本願の実施の形態２に係る被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図9】本願の実施の形態２に係る被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
【図10】本願の実施の形態に係る第１制御部および第２制御部のハードウエアの一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
［比較例としての被試験装置の試験システムの説明］
まず、本願の実施の形態の説明に入る前に、比較例としての被試験装置の試験システムについて説明する。
被試験装置として例えば列車の推進制御装置または電源装置等において、定期検査の出力電圧、周波数を確認する試験では、被試験装置の入力部にＤＣ１５００Ｖ、７５０Ｖ等の高電圧を印加する必要がある。また、被試験装置の入力部には大容量のフィルタコンデンサが実装されているため、このフィルタコンデンサを充電するための電流容量が必要となる。しかしながら、安価で小容量の電源設備では、フィルタコンデンサの充電電流により電源設備の出力が低下し、被試験装置内の被試験回路である電力変換器の低電圧保護が働き、電力変換器の入力側にある開閉部が開閉を繰り返す課題がある。
また、前述の電流容量を満足する電源設備を設ける場合、電源設備の大型化、コストアップが課題となる。
まず、本願の実施の形態の説明に入る前に、比較例としての被試験装置の試験システムについて説明する。
被試験装置として例えば列車の推進制御装置または電源装置等において、定期検査の出力電圧、周波数を確認する試験では、被試験装置の入力部にＤＣ１５００Ｖ、７５０Ｖ等の高電圧を印加する必要がある。また、被試験装置の入力部には大容量のフィルタコンデンサが実装されているため、このフィルタコンデンサを充電するための電流容量が必要となる。しかしながら、安価で小容量の電源設備では、フィルタコンデンサの充電電流により電源設備の出力が低下し、被試験装置内の被試験回路である電力変換器の低電圧保護が働き、電力変換器の入力側にある開閉部が開閉を繰り返す課題がある。
また、前述の電流容量を満足する電源設備を設ける場合、電源設備の大型化、コストアップが課題となる。
【0010】
前述の課題について、図１に示す比較例としての被試験装置の試験システムに基づいて具体的に説明する。
図１は、本願の比較例としての被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図１において、被試験装置の試験システム１０００は、試験装置１００と、被試験装置２００を備える。
試験装置１００は、電源設備１１０と、試験装置１００を制御する第１制御部１２０を備える。
試験装置１００の電源設備１１０からは、被試験装置２００に向けて直流電力が、電源線３００を介して供給される。
被試験装置２００は、電源設備１１０からの入力電圧を測定する入力電圧測定部２１０（ＤＣＰＴ１）と、電源設備１１０から被試験装置２００に向かう直流電流を開閉する接触器または遮断器等から成る第１開閉部２２０（ＳＷ１）と、電源線３００に直列に接続されるフィルタリアクトル等のリアクトル２３０（ＦＬ）と、電源線３００に直列に接続される充電抵抗器２４０（Ｒ）と、充電抵抗器２４０に並列に接続された充電抵抗器２４０の短絡用の接触器等から成る第２開閉部２４５（ＳＷ２）と、電源線３００に並列に接続されているフィルタコンデンサ等のコンデンサ２５０（ＦＣ）と、コンデンサ２５０の充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部２５５（ＤＣＰＴ２）と、電源線３００に接続され、出力電圧、周波数等を確認する試験が実施されるインバータ等の被試験回路２６０と、被試験装置２００を制御する第２制御部２７０を備えている。
図１は、本願の比較例としての被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図１において、被試験装置の試験システム１０００は、試験装置１００と、被試験装置２００を備える。
試験装置１００は、電源設備１１０と、試験装置１００を制御する第１制御部１２０を備える。
試験装置１００の電源設備１１０からは、被試験装置２００に向けて直流電力が、電源線３００を介して供給される。
被試験装置２００は、電源設備１１０からの入力電圧を測定する入力電圧測定部２１０（ＤＣＰＴ１）と、電源設備１１０から被試験装置２００に向かう直流電流を開閉する接触器または遮断器等から成る第１開閉部２２０（ＳＷ１）と、電源線３００に直列に接続されるフィルタリアクトル等のリアクトル２３０（ＦＬ）と、電源線３００に直列に接続される充電抵抗器２４０（Ｒ）と、充電抵抗器２４０に並列に接続された充電抵抗器２４０の短絡用の接触器等から成る第２開閉部２４５（ＳＷ２）と、電源線３００に並列に接続されているフィルタコンデンサ等のコンデンサ２５０（ＦＣ）と、コンデンサ２５０の充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部２５５（ＤＣＰＴ２）と、電源線３００に接続され、出力電圧、周波数等を確認する試験が実施されるインバータ等の被試験回路２６０と、被試験装置２００を制御する第２制御部２７０を備えている。
【0011】
次に、図１の被試験装置の試験システムの動作について説明する。
図２および図３は、図１の本願の比較例としての被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
試験装置１００による被試験装置２００の試験開始時、まず、ステップＳ１０において、試験装置１００の第１制御部１２０は、電源設備１１０に対して出力ＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ２０において、試験装置１００の第１制御部１２０は、被試験装置２００の第２制御部２７０に対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ３０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０により正常電圧が印加されていることを確認して、第１開閉部２２０に対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ４０において、充電抵抗器２４０を介してコンデンサ２５０を充電する。この場合、コンデンサ２５０を充電する充電電流による過負荷で電源設備１１０からの入力電圧は低下する。
次に、ステップＳ５０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、コンデンサ電圧測定部２５５により低電圧保護を検知して第１開閉部２２０にＯＦＦ指令を出力する。
次に、ステップＳ６０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０により正常電圧を検知して第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ７０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ７０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでない場合は、ステップＳ４０～ステップＳ６０を繰り返しながら、コンデンサ２５０を徐々に充電する。
ステップＳ７０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じになった場合は、ステップＳ８０に進み、被試験装置２００の第２制御部２７０は、第２開閉部２４５にＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ９０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は被試験回路２６０を駆動するとともに、試験装置１００の第１制御部１２０は、被試験回路２６０の出力電圧、周波数等を測定して試験を実施し、試験を終了する。
図２および図３は、図１の本願の比較例としての被試験装置の試験システムの動作を示すフローチャートである。
試験装置１００による被試験装置２００の試験開始時、まず、ステップＳ１０において、試験装置１００の第１制御部１２０は、電源設備１１０に対して出力ＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ２０において、試験装置１００の第１制御部１２０は、被試験装置２００の第２制御部２７０に対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ３０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０により正常電圧が印加されていることを確認して、第１開閉部２２０に対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ４０において、充電抵抗器２４０を介してコンデンサ２５０を充電する。この場合、コンデンサ２５０を充電する充電電流による過負荷で電源設備１１０からの入力電圧は低下する。
次に、ステップＳ５０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、コンデンサ電圧測定部２５５により低電圧保護を検知して第１開閉部２２０にＯＦＦ指令を出力する。
次に、ステップＳ６０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０により正常電圧を検知して第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ７０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ７０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでない場合は、ステップＳ４０～ステップＳ６０を繰り返しながら、コンデンサ２５０を徐々に充電する。
ステップＳ７０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じになった場合は、ステップＳ８０に進み、被試験装置２００の第２制御部２７０は、第２開閉部２４５にＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ９０において、被試験装置２００の第２制御部２７０は被試験回路２６０を駆動するとともに、試験装置１００の第１制御部１２０は、被試験回路２６０の出力電圧、周波数等を測定して試験を実施し、試験を終了する。
【0012】
以上のように、比較例としての被試験装置の試験システムにおいて、被試験装置の入力部に大容量のフィルタコンデンサを実装されている場合、フィルタコンデンサを充電するための電流容量が必要となる。しかしながら、安価で小容量の電源設備では、フィルタコンデンサの充電電流により電源設備の出力が低下し、被試験装置内の被試験回路である電力変換器の低電圧保護が働き、電力変換器の入力側にある開閉部が開閉を繰り返す課題がある。
また、前述の電流容量を満足する電源設備を設ける場合、電源設備の大型化、コストアップが課題となる。
以下、前述の課題を解決するための実施の形態について説明する。
また、前述の電流容量を満足する電源設備を設ける場合、電源設備の大型化、コストアップが課題となる。
以下、前述の課題を解決するための実施の形態について説明する。
【0013】
［実施の形態１の被試験装置の試験システムの説明］
図４は、本願の実施の形態１に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図４に基づいて、実施の形態１に係る被試験装置の試験システムの構成について説明する。
図４は、本願の実施の形態１に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図４に基づいて、実施の形態１に係る被試験装置の試験システムの構成について説明する。
【0014】
図４において、被試験装置の試験システム１０００Ａは、試験装置１００Ａと、被試験装置２００Ａを備える。
試験装置１００Ａは、電源設備１１０Ａと、試験装置１００Ａを制御する第１制御部１２０Ａと、接触器等の第３開閉部１３０Ａ（ＳＷ－Ａ）と、接触器等の第４開閉部１４０Ａ（ＳＷ－Ｂ）を備える。
試験装置１００Ａの電源設備１１０Ａからは、後述するように、被試験装置２００Ａに向けて直流電力が、電源線３００および第３開閉部１３０Ａ、または、バイパス線４００および第４開閉部１４０Ａのいずれか一方を通して供給される。
試験装置１００Ａは、電源設備１１０Ａと、試験装置１００Ａを制御する第１制御部１２０Ａと、接触器等の第３開閉部１３０Ａ（ＳＷ－Ａ）と、接触器等の第４開閉部１４０Ａ（ＳＷ－Ｂ）を備える。
試験装置１００Ａの電源設備１１０Ａからは、後述するように、被試験装置２００Ａに向けて直流電力が、電源線３００および第３開閉部１３０Ａ、または、バイパス線４００および第４開閉部１４０Ａのいずれか一方を通して供給される。
【0015】
被試験装置２００Ａは、電源設備１１０Ａからの入力電圧を測定する入力電圧測定部２１０（ＤＣＰＴ１）と、電源設備１１０から被試験装置２００Ａに向かう直流電流を開閉する接触器または遮断器等から成る第１開閉部２２０（ＳＷ１）と、電源線３００に直列に接続されるフィルタリアクトル等のリアクトル２３０（ＦＬ）と、電源線３００に直列に接続される充電抵抗器２４０（Ｒ）と、充電抵抗器２４０に並列に接続された充電抵抗器２４０の短絡用の接触器等から成る第２開閉部２４５（ＳＷ２）と、電源線３００に並列に接続されているフィルタコンデンサ等のコンデンサ２５０（ＦＣ）と、コンデンサ２５０の充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部２５５（ＤＣＰＴ２）と、電源線３００に接続され、出力電圧、周波数等を確認する試験が実施されるインバータ等の被試験回路２６０と、被試験装置２００Ａを制御する第２制御部２７０Ａを備えている。
【0016】
本実施の形態では、試験装置１００Ａの電源設備１１０Ａからの直流電力が、被試験装置２００Ａのコンデンサ２５０に向けて、第３開閉部１３０Ａ、電源線３００、第１開閉部２２０を介して供給されるルートと、第４開閉部１４０Ａ、バイパス線４００を介して供給されるルートの２つのルートが存在する。
【0017】
【0018】
まず、試験装置１００Ａによる被試験装置２００Ａの試験開始時において、試験装置１００Ａの第３開閉部１３０Ａおよび第４開閉部１４０ＡはＯＦＦ状態となっており、被試験装置２００Ａの第１開閉部２２０および第２開閉部２４５はＯＦＦ状態となっている。
【0019】
ステップＳ１１０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、電源設備１１０Ａに対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ１２０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、第３開閉部１３０Ａに対してＯＦＦ指令を出力し、第４開閉部１４０Ａに対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ１２０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、第３開閉部１３０Ａに対してＯＦＦ指令を出力し、第４開閉部１４０Ａに対してＯＮ指令を出力する。
【0020】
次に、ステップＳ１３０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、電源設備１１０Ａに対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力する。
ステップＳ１３０において、電源設備１１０Ａに対して電力供給のためのＯＮ／ＯＦＦ指令を繰り返すと、ステップＳ１４０において、電源設備１１０Ａからの供給電力は、第４開閉部１４０Ａ、バイパス線４００、および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を徐々に充電して行く。
ステップＳ１３０において、電源設備１１０Ａに対して電力供給のためのＯＮ／ＯＦＦ指令を繰り返すと、ステップＳ１４０において、電源設備１１０Ａからの供給電力は、第４開閉部１４０Ａ、バイパス線４００、および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を徐々に充電して行く。
【0021】
次に、ステップＳ１５０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、電源設備１１０Ａの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５により測定されたコンデンサ電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ１５０において、電源設備１１０Ａの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ１３０～ステップＳ１４０を繰り返して、コンデンサ２５０を充電する。
ステップＳ１５０において、電源設備１１０Ａの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ１３０～ステップＳ１４０を繰り返して、コンデンサ２５０を充電する。
【0022】
ステップＳ１５０において、電源設備１１０Ａの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じと判断された場合は、ステップＳ１６０に進み、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、第３開閉部１３０ＡにＯＮ指令を出力し、第４開閉部１４０ＡにＯＦＦ指令を出力する。
次に、ステップＳ１７０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａに対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ１８０において、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａは、第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力し、第２開閉部２４５にＯＦＦ指令を出力する。その結果、電源設備１１０Ａからの供給電力は、第１開閉部２２０および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を充電する。
次に、ステップＳ１７０において、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａに対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ１８０において、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａは、第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力し、第２開閉部２４５にＯＦＦ指令を出力する。その結果、電源設備１１０Ａからの供給電力は、第１開閉部２２０および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を充電する。
【0023】
次に、ステップＳ１９０において、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａは、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ１９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ１８０に戻って、コンデンサ２５０を充電する。
ステップＳ１９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ１８０に戻って、コンデンサ２５０を充電する。
【0024】
ステップＳ１９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じと判断された場合は、ステップＳ２００に進み、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａは、第２開閉部２４５にＯＮ指令を出力する。
【0025】
次に、ステップＳ２１０において、被試験回路２６０の試験を実施する。ここでは、被試験装置２００Ａの第２制御部２７０Ａが被試験回路２６０を駆動制御するとともに、試験装置１００Ａの第１制御部１２０Ａは、被試験回路２６０の出力電圧、周波数等を測定して、試験を終了する。
【0026】
以上のように、実施の形態１によれば、
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【0027】
また、前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【0028】
また、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電した後に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【0029】
また、前記第１制御部が前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力した後に、前記第１制御部は、前記第２制御部に対して起動指令を出力するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【0030】
また、前記第１制御部が前記第２制御部に対して起動指令を出力した後に、前記第２制御部が前記電源設備からの入力電圧を測定する入力電圧測定部の測定電圧と、前記コンデンサの充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部の測定電圧とが同じと判断すれば、前記第２開閉部にＯＮ指令を出力するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。
【0031】
また、前記第２制御部は前記第２開閉部にＯＮ指令を出力した後に、前記被試験装置の被試験回路を駆動するとともに、前記第１制御部は駆動された前記被試験回路の試験出力を測定するようにしたので、
被試験装置内のコンデンサを適切に充電した状態で、前記被試験回路の試験を行うことができる。
被試験装置内のコンデンサを適切に充電した状態で、前記被試験回路の試験を行うことができる。
【0032】
また、前記第２制御部は、前記コンデンサの充電電圧が予め設定した時間内に予め設定した電圧にならない場合は、前記コンデンサの充電不良保護のために前記被試験装置を停止する機能を有する場合にも、前記被試験回路の試験を適切に行うことができる。
【0033】
［実施の形態２の被試験装置の試験システムの説明］
図７は、本願の実施の形態２に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図７に基づいて、実施の形態２に係る被試験装置の試験システムの構成について説明する。
図７は、本願の実施の形態２に係る被試験装置の試験システムを示す構成図である。
図７に基づいて、実施の形態２に係る被試験装置の試験システムの構成について説明する。
【0034】
図７において、被試験装置の試験システム１０００Ｂは、試験装置１００Ｂと、被試験装置２００Ｂを備える。
試験装置１００Ｂは、電源設備１１０Ｂと、電源設備１１０Ｂを制御する第１制御部１２０Ｂと、接触器等の第３開閉部１３０Ｂ（ＳＷ－Ａ）と、接触器等の第４開閉部１４０Ｂ（ＳＷ－Ｂ）を備える。
試験装置１００Ｂの電源設備１１０Ｂは、被試験装置２００Ｂに向けて、定電圧モードによる電力供給と、定電流モードによる電力供給のいずれかの電力供給を行うことができる。そして、電源設備１１０Ｂからの電力供給は、電源線３００および第３開閉部１３０Ｂ、または、バイパス線４００および第４開閉部１４０Ｂのいずれか一方を通して実施される。
試験装置１００Ｂは、電源設備１１０Ｂと、電源設備１１０Ｂを制御する第１制御部１２０Ｂと、接触器等の第３開閉部１３０Ｂ（ＳＷ－Ａ）と、接触器等の第４開閉部１４０Ｂ（ＳＷ－Ｂ）を備える。
試験装置１００Ｂの電源設備１１０Ｂは、被試験装置２００Ｂに向けて、定電圧モードによる電力供給と、定電流モードによる電力供給のいずれかの電力供給を行うことができる。そして、電源設備１１０Ｂからの電力供給は、電源線３００および第３開閉部１３０Ｂ、または、バイパス線４００および第４開閉部１４０Ｂのいずれか一方を通して実施される。
【0035】
被試験装置２００Ｂは、電源設備１１０Ｂからの入力電圧を測定する入力電圧測定部２１０（ＤＣＰＴ１）と、電源設備１１０Ｂから被試験装置２００Ｂに向かう直流電流を開閉する接触器または遮断器等から成る第１開閉部２２０（ＳＷ１）と、電源線３００に直列に接続されるフィルタリアクトル等のリアクトル２３０（ＦＬ）と、電源線３００に直列に接続される充電抵抗器２４０（Ｒ）と、充電抵抗器２４０に並列に接続された充電抵抗器２４０の短絡用の接触器等から成る第２開閉部２４５（ＳＷ２）と、電源線３００に並列に接続されているフィルタコンデンサ等のコンデンサ２５０（ＦＣ）と、コンデンサ２５０の充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部２５５（ＤＣＰＴ２）と、電源線３００に接続され、出力電圧、周波数等を確認する試験が実施されるインバータ等の被試験回路２６０と、被試験装置２００Ｂを制御する第２制御部２７０Ｂを備えている。
【0036】
本実施の形態では、試験装置１００Ｂの電源設備１１０Ｂからの直流電力が、被試験装置２００Ｂのコンデンサ２５０に向けて、第３開閉部１３０Ｂ、電源線３００、第１開閉部２２０を介して供給されるルートと、第４開閉部１４０Ｂ、バイパス線４００を介して供給されるルートの２つのルートが存在する。
【0037】
【0038】
まず、試験装置１００Ｂによる被試験装置２００Ｂの試験開始時において、試験装置１００Ｂの第３開閉部１３０Ｂおよび第４開閉部１４０ＢはＯＦＦ状態となっており、被試験装置２００Ｂの第１開閉部２２０および第２開閉部２４５はＯＦＦ状態となっている。
【0039】
試験開始時に、ステップＳ３１０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、電源設備１１０Ｂに対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ３２０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、第３開閉部１３０Ｂに対してＯＦＦ指令を出力し、第４開閉部１４０Ｂに対してＯＮ指令を出力する。
次に、ステップＳ３２０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、第３開閉部１３０Ｂに対してＯＦＦ指令を出力し、第４開閉部１４０Ｂに対してＯＮ指令を出力する。
【0040】
次に、ステップＳ３３０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、電源設備１１０Ｂに対して定電流モードによる電力供給を指令する。
ステップＳ３３０において、電源設備１１０Ｂに対して定電流モードによる電力供給を指令すると、ステップＳ３４０において、電源設備１１０Ｂからの供給電力は、第４開閉部１４０Ｂ、バイパス線４００、および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を徐々に充電して行く。
ステップＳ３３０において、電源設備１１０Ｂに対して定電流モードによる電力供給を指令すると、ステップＳ３４０において、電源設備１１０Ｂからの供給電力は、第４開閉部１４０Ｂ、バイパス線４００、および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を徐々に充電して行く。
【0041】
次に、ステップＳ３５０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、電源設備１１０Ｂの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５により検出された測定電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ３５０において、電源設備１１０Ｂの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ３３０～ステップＳ３４０を繰り返して、コンデンサ２５０を充電する。
ステップＳ３５０において、電源設備１１０Ｂの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ３３０～ステップＳ３４０を繰り返して、コンデンサ２５０を充電する。
【0042】
ステップＳ３５０において、電源設備１１０Ｂの設定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じと判断された場合は、ステップＳ３６０に進み、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、第３開閉部１３０ＢにＯＮ指令を出力し、第４開閉部１４０ＢにＯＦＦ指令を出力する。
次に、ステップＳ３７０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂに対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ３８０において、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂは、第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力し、第２開閉部２４５にＯＦＦ指令を出力する。その結果、電源設備１１０Ｂからの供給電力は、第１開閉部２２０および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を充電する。なお、この場合、電源設備１１０Ｂは、被試験装置２００Ｂに向けて、定電圧モードによる電力供給を行う。
次に、ステップＳ３７０において、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂに対して起動指令を出力する。
次に、ステップＳ３８０において、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂは、第１開閉部２２０にＯＮ指令を出力し、第２開閉部２４５にＯＦＦ指令を出力する。その結果、電源設備１１０Ｂからの供給電力は、第１開閉部２２０および充電抵抗器２４０を通して、コンデンサ２５０を充電する。なお、この場合、電源設備１１０Ｂは、被試験装置２００Ｂに向けて、定電圧モードによる電力供給を行う。
【0043】
次に、ステップＳ３９０において、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂは、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じであるかを判断する。
ステップＳ３９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ３８０に戻って、コンデンサ２５０を充電する。
ステップＳ３９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じでないと判断された場合は、ステップＳ３８０に戻って、コンデンサ２５０を充電する。
【0044】
ステップＳ３９０において、入力電圧測定部２１０の測定電圧とコンデンサ電圧測定部２５５の測定電圧が同じと判断された場合は、ステップＳ４００に進み、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂは、第２開閉部２４５にＯＮ指令を出力する。
【0045】
次に、ステップＳ４１０において、被試験回路２６０の試験を実施する。ここでは、被試験装置２００Ｂの第２制御部２７０Ｂが被試験回路２６０を駆動制御するとともに、試験装置１００Ｂの第１制御部１２０Ｂは、被試験回路２６０の出力電圧、周波数等を測定して、試験を終了する。
【0046】
以上のように、実施の形態２によれば、前述の実施の形態１と同様の効果を奏するとともに、
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。また、例えば、コンデンサの容量に対して小容量の電源設備を使用しても、電源設備の出力の低下を防止することができる。
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電するようにしたので、
被試験装置の起動前に被試験装置内のコンデンサを適切に充電し、被試験装置の起動後のコンデンサの充電電流を抑制することができる。また、例えば、コンデンサの容量に対して小容量の電源設備を使用しても、電源設備の出力の低下を防止することができる。
【0047】
［その他の実施の形態の説明］
実施の形態１では、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにした。
また、実施の形態２では、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにした。
しかしながら、実施の形態１および２の例に限らず、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して予め設定した電圧による電力供給を指令し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにしてもよい。
実施の形態１では、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにした。
また、実施の形態２では、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにした。
しかしながら、実施の形態１および２の例に限らず、被試験装置を起動する前に、第１制御部は、電源設備に対して予め設定した電圧による電力供給を指令し、バイパス線および充電抵抗器を通してコンデンサを充電するようにしてもよい。
【0048】
また、前述の実施の形態において、第１制御部１２０Ａおよび１２０Ｂ、並びに第２制御部２７０Ａおよび第２制御部２７０Ｂは、ハードウエアの一例を図１０に示すように、プロセッサ２１００と記憶装置２２００から構成される。記憶装置２２００は、図示していない、ランダムアクセスメモリ等の揮発性記憶装置と、フラッシュメモリ等の不揮発性の補助記憶装置とを備える。
また、フラッシュメモリの代わりにハードディスクの補助記憶装置を備えてもよい。プロセッサ２１００は、記憶装置２２００から入力されたプログラムを実行する。この場合、補助記憶装置から揮発性記憶装置を介してプロセッサ２１００にプログラムが入力される。また、プロセッサ２１００は、演算結果等のデータを記憶装置２２００の揮発性記憶装置に出力してもよいし、揮発性記憶装置を介して補助記憶装置にデータを保存してもよい。
また、フラッシュメモリの代わりにハードディスクの補助記憶装置を備えてもよい。プロセッサ２１００は、記憶装置２２００から入力されたプログラムを実行する。この場合、補助記憶装置から揮発性記憶装置を介してプロセッサ２１００にプログラムが入力される。また、プロセッサ２１００は、演算結果等のデータを記憶装置２２００の揮発性記憶装置に出力してもよいし、揮発性記憶装置を介して補助記憶装置にデータを保存してもよい。
【0049】
本願は、様々な例示的な実施の形態及び実施例が記載されているが、１つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、及び機能は特定の実施の形態の適用に限られるのではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。
従って、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも１つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも１つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
従って、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも１つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも１つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
【0050】
以下、本開示の諸態様を付記としてまとめて記載する。
【0051】
［付記１］
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する被試験装置の試験システム。
［付記２］
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する付記１に記載の被試験装置の試験システム。
［付記３］
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する付記１に記載の被試験装置の試験システム。
［付記４］
前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電した後に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力する付記１から付記３のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
［付記５］
前記第１制御部が前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力した後に、前記第１制御部は、前記第２制御部に対して起動指令を出力する付記４に記載の被試験装置の試験システム。
［付記６］
前記第１制御部が前記第２制御部に対して起動指令を出力した後に、前記第２制御部が前記電源設備からの入力電圧を測定する入力電圧測定部の測定電圧と、前記コンデンサの充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部の測定電圧とが同じと判断すれば、前記第２開閉部にＯＮ指令を出力する付記５に記載の被試験装置の試験システム。
［付記７］
前記第２制御部は前記第２開閉部にＯＮ指令を出力した後に、前記被試験装置の被試験回路を駆動するとともに、前記第１制御部は駆動された前記被試験回路の試験出力を測定する付記６に記載の被試験装置の試験システム。
［付記８］
前記第２制御部は、前記コンデンサの充電電圧が予め設定した時間内に予め設定した電圧にならない場合は、前記コンデンサの充電不良保護のために前記被試験装置を停止する機能を有する付記１から付記７のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
試験装置から被試験装置に向けて直流電力を供給し、被試験装置の試験を行う被試験装置の試験システムであって、
前記試験装置は、前記被試験装置に向けて直流電力を供給する電源設備と、前記電源設備から前記被試験装置に向かう電源線に設置された第３開閉部と、前記電源設備から前記被試験装置に向かうバイパス線に設置された第４開閉部と、前記試験装置を制御する第１制御部と、を備え、
前記被試験装置は、前記電源線に直列に接続される第１開閉部と、前記電源線に直列に接続され前記第１開閉部に接続される充電抵抗器と、前記充電抵抗器に並列に接続される第２開閉部と、前記電源線に並列に接続され前記充電抵抗器に接続されるコンデンサと、前記電源線に直列に接続され前記コンデンサに接続される被試験回路と、前記被試験装置を制御する第２制御部を、備え、
前記バイパス線は、前記電源設備から前記第４開閉部を経て、前記電源線の前記第１開閉部と前記充電抵抗器の間に接続され、
前記第１制御部から前記第２制御部に対して起動指令を出力する前に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＦＦ指令および前記第４開閉部にＯＮ指令を出力し、前記電源設備からの直流電力により、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する被試験装置の試験システム。
［付記２］
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して電力供給のためのＯＮ指令およびＯＦＦ指令を交互に出力し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する付記１に記載の被試験装置の試験システム。
［付記３］
前記被試験装置を起動する前に、前記第１制御部は、前記電源設備に対して定電流モードによる電力供給を指令し、前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電する付記１に記載の被試験装置の試験システム。
［付記４］
前記バイパス線および前記充電抵抗器を通して前記コンデンサを充電した後に、前記第１制御部は、前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力する付記１から付記３のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
［付記５］
前記第１制御部が前記第３開閉部にＯＮ指令を出力し、前記第４開閉部にＯＦＦ指令を出力した後に、前記第１制御部は、前記第２制御部に対して起動指令を出力する付記４に記載の被試験装置の試験システム。
［付記６］
前記第１制御部が前記第２制御部に対して起動指令を出力した後に、前記第２制御部が前記電源設備からの入力電圧を測定する入力電圧測定部の測定電圧と、前記コンデンサの充電電圧を測定するコンデンサ電圧測定部の測定電圧とが同じと判断すれば、前記第２開閉部にＯＮ指令を出力する付記５に記載の被試験装置の試験システム。
［付記７］
前記第２制御部は前記第２開閉部にＯＮ指令を出力した後に、前記被試験装置の被試験回路を駆動するとともに、前記第１制御部は駆動された前記被試験回路の試験出力を測定する付記６に記載の被試験装置の試験システム。
［付記８］
前記第２制御部は、前記コンデンサの充電電圧が予め設定した時間内に予め設定した電圧にならない場合は、前記コンデンサの充電不良保護のために前記被試験装置を停止する機能を有する付記１から付記７のいずれか１項に記載の被試験装置の試験システム。
【符号の説明】
【0052】
１００Ａ，１００Ｂ 試験装置、１１０Ａ，１１０Ｂ 電源設備、
１２０Ａ，１２０Ｂ 第１制御部、１３０Ａ，１３０Ｂ 第３開閉部、
１４０Ａ，１４０Ｂ 第４開閉部、２００Ａ，２００Ｂ 被試験装置、
２１０ 入力電圧測定部、２２０ 第１開閉部、２３０ リアクトル、
２４０ 充電抵抗器、２４５ 第２開閉部、２５０ コンデンサ、２６０ 被試験回路、２７０Ａ，２７０Ｂ 第２制御部、３００ 電源線、４００ バイパス線、
１０００Ａ，１０００Ｂ 被試験装置の試験システム。
１２０Ａ，１２０Ｂ 第１制御部、１３０Ａ，１３０Ｂ 第３開閉部、
１４０Ａ，１４０Ｂ 第４開閉部、２００Ａ，２００Ｂ 被試験装置、
２１０ 入力電圧測定部、２２０ 第１開閉部、２３０ リアクトル、
２４０ 充電抵抗器、２４５ 第２開閉部、２５０ コンデンサ、２６０ 被試験回路、２７０Ａ，２７０Ｂ 第２制御部、３００ 電源線、４００ バイパス線、
１０００Ａ，１０００Ｂ 被試験装置の試験システム。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
