(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024161639
(43)【公開日】2024-11-20
(54)【発明の名称】アーク溶接制御方法
(51)【国際特許分類】
B23K 9/073 20060101AFI20241113BHJP
B23K 9/10 20060101ALI20241113BHJP
【ＦＩ】
B23K9/073 545
B23K9/10 Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】4
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023076432
(22)【出願日】2023-05-08
(71)【出願人】
【識別番号】000000262
【氏名又は名称】株式会社ダイヘン
(72)【発明者】
【氏名】馬塲 勇人
(72)【発明者】
【氏名】中俣 利昭
【テーマコード（参考）】
4E082
【Ｆターム（参考）】
4E082AB01
4E082EA11
4E082EB14
4E082EC03
4E082EC13
4E082EF07
(57)【要約】
【課題】消耗電極アーク溶接において、種々の溶接条件に応じて、くびれ検出基準値を最適値に設定すること。
【解決手段】溶接ワイヤを送給し、アーク期間と短絡期間とを繰り返し、短絡期間中に溶接ワイヤと母材との間の電圧値Ｖｗ又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流Ｉｗを減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、くびれの検出時点ｔ２からアークの再発生時点ｔ３までの時間をくびれ検出時間Ｔｎとし、所定個数のくびれ検出時間Ｔｎを記憶し、くびれ検出時間Ｔｎが予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。
【選択図】 図２
【解決手段】溶接ワイヤを送給し、アーク期間と短絡期間とを繰り返し、短絡期間中に溶接ワイヤと母材との間の電圧値Ｖｗ又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流Ｉｗを減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、くびれの検出時点ｔ２からアークの再発生時点ｔ３までの時間をくびれ検出時間Ｔｎとし、所定個数のくびれ検出時間Ｔｎを記憶し、くびれ検出時間Ｔｎが予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。
【選択図】 図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
溶接ワイヤを送給し、アーク期間と短絡期間とを繰り返し、
前記短絡期間中に前記溶接ワイヤと母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流を減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、
前記くびれの検出時点から前記アークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数の前記くびれ検出時間を記憶し、前記くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、
前記くびれ検出基準値を複数個変化させて前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とするアーク溶接制御方法。
前記短絡期間中に前記溶接ワイヤと母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流を減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、
前記くびれの検出時点から前記アークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数の前記くびれ検出時間を記憶し、前記くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、
前記くびれ検出基準値を複数個変化させて前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とするアーク溶接制御方法。
【請求項2】
前記複数個の前記くびれ検出基準値は、第１くびれ検出基準値、前記第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び前記第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値である、
ことを特徴とする請求項１に記載のアーク溶接制御方法。
ことを特徴とする請求項１に記載のアーク溶接制御方法。
【請求項3】
前記第２くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法。
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法。
【請求項4】
前記第３くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法。
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、短絡期間中にアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれを検出して溶接電流を減少させるアーク溶接制御方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
溶接ワイヤと母材との間で短絡期間とアーク期間とを繰り返し、短絡期間中に溶接ワイヤと母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流を減少させてアークを再発生させる消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法が提案されている。このくびれ検出制御方法によって、アーク再発生時の溶接電流の値が小さくなるために、スパッタ発生量が非常に少なくなり、溶融池の振動が小さくなりビード外観が良好になる。
【0003】
くびれの検出は、短絡期間中の溶接電圧の微小な変化に基づいて行われる。この微小な溶接電圧の変化を検出するために、アーク発生部の近傍に検出線が配線される。溶接ワイヤの送給速度、溶接電源とアーク発生部とを接続する溶接ケーブルの長さ、アーク発生部近傍の溶接電圧の検出位置等の溶接条件によって、くびれ検出基準値の適正値は大きく影響される。
【0004】
特許文献１の発明では、短絡ごとにくびれ検出時点からアーク再発生時点までのくびれ検出時間を検出し、現時点から過去所定個数分のくびれ検出時間を記憶し、記憶された各くびれ検出時間が予め定めた下限時間以下である個数が予め定めた下限個数以上であるときはくびれ検出基準値を予め定めた減少値だけ減少させ、記憶された各くびれ検出時間が予め定めた上限時間以上である個数が予め定めた上限個数以上であるときはくびれ検出基準値を予め定めた増加値だけ増加させることによってくびれ検出基準値を適正化している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特許第４９０７８９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
従来技術によって種々の溶接条件に応じてくびれ検出基準値を適正化しても、その値が最適値に調整されているとは限らないという問題がある。
【0007】
そこで、本発明では、種々の溶接条件に応じて、くびれ検出基準値を最適値に設定することができるアーク溶接制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上述した課題を解決するために、請求項１の発明は、
溶接ワイヤを送給し、アーク期間と短絡期間とを繰り返し、
前記短絡期間中に前記溶接ワイヤと母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流を減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、
前記くびれの検出時点から前記アークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数の前記くびれ検出時間を記憶し、前記くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、
前記くびれ検出基準値を複数個変化させて前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とするアーク溶接制御方法である。
溶接ワイヤを送給し、アーク期間と短絡期間とを繰り返し、
前記短絡期間中に前記溶接ワイヤと母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって溶滴のくびれを検出すると溶接電流を減少させてアークを再発生させるアーク溶接制御方法において、
前記くびれの検出時点から前記アークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数の前記くびれ検出時間を記憶し、前記くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、
前記くびれ検出基準値を複数個変化させて前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とするアーク溶接制御方法である。
【0009】
請求項２の発明は、
前記複数個の前記くびれ検出基準値は、第１くびれ検出基準値、前記第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び前記第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値である、
ことを特徴とする請求項１に記載のアーク溶接制御方法である。
前記複数個の前記くびれ検出基準値は、第１くびれ検出基準値、前記第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び前記第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値である、
ことを特徴とする請求項１に記載のアーク溶接制御方法である。
【0010】
請求項３の発明は、
前記第２くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法である。
前記第２くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法である。
【0011】
請求項４の発明は、
前記第３くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法である。
前記第３くびれ検出基準値において前記くびれ検出成功率が最も高かったときは、前記第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくして前記くびれ検出成功率を算出し、前記くびれ検出基準値を前記くびれ検出成功率が最も高かった値に設定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のアーク溶接制御方法である。
【発明の効果】
【0012】
本発明に係るアーク溶接制御方法によれば、種々の溶接条件に応じて、くびれ検出基準値を最適値に設定することができるので、常に高品質の溶接が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】本発明の実施の形態に係るアーク溶接制御方法を実施するための溶接装置のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
【0015】
図１は、本発明の実施の形態に係るアーク溶接制御方法を実施するための溶接装置のブロック図である。以下、同図を参照して各ブロックについて説明する。
【0016】
電源主回路ＰＭは、３相２００Ｖ等の商用電源（図示は省略）を入力として、後述する誤差増幅信号Ｅａに従ってインバータ制御等の出力制御を行い、溶接電圧Ｖｗ及び溶接電流Ｉｗを出力する。この電源主回路ＰＭは、図示は省略するが、商用電源を整流する１次整流器、整流された直流を平滑する平滑コンデンサ、平滑された直流を高周波交流に変換するインバータ回路、高周波交流を溶接に適した電圧値に降圧する高周波変圧器、降圧された高周波交流を直流に整流する２次整流器、整流された直流を平滑するリアクトル、誤差増幅信号Ｅａを入力としてパルス幅変調制御を行う変調回路、パルス幅変調制御信を入力としてインバータ回路のスイッチング素子を駆動するインバータ駆動回路を備えている。
【0017】
上記の電源主回路ＰＭの出力端子６ａと溶接トーチ４とは溶接ケーブル７ａで接続されており、もう一方の出力端子６ｂと母材２とは溶接ケーブル７ｂで接続されている。
【0018】
減流抵抗器Ｒは、上記の電源主回路ＰＭと出力端子６ａとの間に挿入される。この減流抵抗器Ｒの値は、短絡負荷（０．０１～０．０３Ω程度）の５０倍以上大きな値（０．５～３Ω程度）に設定される。このために、くびれ検出制御によって減流抵抗器Ｒが通電路に挿入されると、溶接電源内の直流リアクトル及び外部ケーブルのリアクトルに蓄積されたエネルギーが急放電される。トランジスタＴＲは、減流抵抗器Ｒと並列に接続されて、後述する駆動信号Ｄｒに従ってオン又はオフ制御される。
【0019】
溶接ワイヤ１は、送給機ＦＤによって溶接トーチ４内を送給されて、母材２との間にアーク３が発生する。溶接トーチ４内の給電チップ（図示は省略）と母材２との間には溶接電圧Ｖｗが印加し、溶接電流Ｉｗが通電する。
【0020】
溶接電圧検出回路ＶＤは、アーク発生部の溶接電圧Ｖｗを検出線５によって入力し、予め定めたカットオフ周波数のローパスフィルタを通して溶接電圧検出信号Ｖｄを出力する。溶接電圧Ｖｗは、給電チップ・母材間電圧である。給電チップの代わりに送給機ＦＤ又は溶接トーチ４の導電部から電圧を検出する場合もある。溶接電圧Ｖｗは、くびれ検出の精度を高めるために、できる限りアーク発生部に近い位置での電圧であることが望ましい。検出線５は、溶接電圧Ｖｗを検出するために、配線される。電源主回路ＰＭのインバータ回路による高周波ノイズを除去するための上記のカットオフ周波数は、例えば１０ｋＨｚに設定される。
【0021】
溶接電流検出回路ＩＤは、上記の溶接電流Ｉｗを検出して、溶接電流検出信号Ｉｄを出力する。
【0022】
短絡判別回路ＳＤは、上記の溶接電圧検出信号Ｖｄを入力として、この値が予め定めた短絡／アーク判別値Ｖta（１０Ｖ程度）未満であるときは短絡期間にあると判別してＨｉｇｈレベルとなり、以上のときはアーク期間にあると判別してＬｏｗレベルになる短絡判別信号Ｓｄを出力する。
【0023】
くびれ検出基準値設定回路ＶＴＮは、後述するくびれ検出成功率信号Ｒｓを入力として、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値を複数個変化させて出力し、各くびれ検出基準値信号Ｖtnの値に対応したくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、その後に、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値のくびれ検出基準値信号Ｖtnを出力する。具体的には以下のように行う。
１）複数個のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値を第１くびれ検出基準値、第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値としてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出する。その後、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値をくびれ検出基準値信号Ｖtnとして出力する。
２）上記の１）において第２くびれ検出基準値がくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
３）上記の１）において第３くびれ検出基準値がくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
１）複数個のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値を第１くびれ検出基準値、第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値としてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出する。その後、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値をくびれ検出基準値信号Ｖtnとして出力する。
２）上記の１）において第２くびれ検出基準値がくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
３）上記の１）において第３くびれ検出基準値がくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
【0024】
くびれ検出回路ＮＤは、上記の短絡判別信号Ｓｄ、上記のくびれ検出基準値信号Ｖtn、上記の溶接電圧検出信号Ｖｄ及び上記の溶接電流検出信号Ｉｄを入力として、短絡判別信号ＳｄがＨｉｇｈレベルとなる短絡期間中の溶接電圧検出信号Ｖｄの電圧上昇値がくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達した時点でＨｉｇｈレベルとなり、短絡判別信号ＳｄがＬｏｗレベル（アーク期間）になるとＬｏｗレベルになるくびれ検出信号Ｎｄを出力する。くびれの検出時点からアークの再発生時点までの時間がくびれ検出時間Ｔｎであり、くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルの期間である。溶接電圧検出信号Ｖｄの微分値がこれに対応して設定されたくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達した時点でくびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化するようにしても良い。さらに、溶接電圧検出信号Ｖｄの値を溶接電流検出信号Ｉｄの値で除算して溶滴の抵抗値を算出し、この抵抗値の微分値がこれに対応して設定されたくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達した時点でくびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化するようにしても良い。
【0025】
くびれ検出成功率算出回路ＲＳは、上記のくびれ検出信号Ｎｄを入力として、くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルとなるくびれ検出時間Ｔｎを所定個数記憶し、記憶した各くびれ検出時間Ｔｎが予め定めた適正時間範囲内に属している個数の百分率を算出し、くびれ検出成功率信号Ｒｓ［％］を出力する。例えば、所定個数は１０～１００程度に設定され、適正時間範囲は下限値が０．１msであり上限値が１msである。
【0026】
低レベル電流設定回路ＩＬＲは、予め定めた低レベル電流設定信号Ｉlrを出力する。
【0027】
電流比較回路ＣＭは、上記の低レベル電流設定信号Ｉlr及び上記の溶接電流検出信号Ｉｄを入力として、Ｉｄ＜ＩlrのときはＨｉｇｈレベルになり、Ｉｄ≧ＩlrのときはＬｏｗレベルになる電流比較信号Ｃｍを出力する。
【0028】
駆動回路ＤＲは、上記の電流比較信号Ｃｍ及び上記のくびれ検出信号Ｎｄを入力として、くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化するとＬｏｗレベルに変化し、その後に電流比較信号ＣｍがＨｉｇｈレベルに変化するとＨｉｇｈレベルに変化する駆動信号Ｄｒを上記のトランジスタＴＲのベース端子に出力する。したがって、この駆動信号Ｄｒはくびれが検出されるとＬｏｗレベルになり、トランジスタＴＲがオフ状態になり通電路に減流抵抗器Ｒが挿入されるので、短絡負荷を通電する溶接電流Ｉｗは急減する。そして、急減した溶接電流Ｉｗの値が低レベル電流設定信号Ｉlrの値まで減少すると、駆動信号ＤｒはＨｉｇｈレベルになり、トランジスタＴＲがオン状態になるので、減流抵抗器Ｒは短絡されて通常の状態に戻る。この結果、溶接電流Ｉｗは、低レベル電流設定信号Ｉlrの値を維持する。
【0029】
電流制御設定回路ＩＣＲは、上記の短絡判別信号Ｓｄ、上記の低レベル電流設定信号Ｉlr及び上記のくびれ検出信号Ｎｄを入力として、以下の処理を行い、電流制御設定信号Ｉcrを出力する。
１）短絡判別信号ＳｄがＨｉｇｈレベル（短絡）に変化した時点から予め定めた初期期間中は、予め定めた初期電流設定値を電流制御設定信号Ｉcrとして出力する。
２）その後は、初期電流設定値から上昇する電流制御設定信号Ｉcrを出力する。
３）上昇中に、くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベル（くびれ検出）に変化すると、電流制御設定信号Ｉcrの値を低レベル電流設定信号Ｉlrの値に切り換えて維持する。
４）短絡判別信号ＳｄがＬｏｗレベル（アーク期間）に変化し、予め定めた遅延期間Ｔｄが経過すると、電流制御設定信号Ｉcrを、予め定めたアーク時傾斜で予め定めた高レベル電流設定値まで上昇させ、その値を維持する。
１）短絡判別信号ＳｄがＨｉｇｈレベル（短絡）に変化した時点から予め定めた初期期間中は、予め定めた初期電流設定値を電流制御設定信号Ｉcrとして出力する。
２）その後は、初期電流設定値から上昇する電流制御設定信号Ｉcrを出力する。
３）上昇中に、くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベル（くびれ検出）に変化すると、電流制御設定信号Ｉcrの値を低レベル電流設定信号Ｉlrの値に切り換えて維持する。
４）短絡判別信号ＳｄがＬｏｗレベル（アーク期間）に変化し、予め定めた遅延期間Ｔｄが経過すると、電流制御設定信号Ｉcrを、予め定めたアーク時傾斜で予め定めた高レベル電流設定値まで上昇させ、その値を維持する。
【0030】
電流誤差増幅回路ＥＩは、上記の電流制御設定信号Ｉcr及び上記の溶接電流検出信号Ｉｄを入力として、両値の誤差を増幅して、電流誤差増幅信号Ｅｉを出力する。
【0031】
電圧設定回路ＶＲは、アーク期間中の溶接電圧を設定するための予め定めた電圧設定信号Ｖｒを出力する。電圧誤差増幅回路ＥＶは、この電圧設定信号Ｖｒ及び上記の溶接電圧検出信号Ｖｄを入力として、両値の誤差を増幅して電圧誤差増幅信号Ｅｖを出力する。
【0032】
制御切換回路ＳＷは、上記の電流誤差増幅信号Ｅｉ、上記の電圧誤差増幅信号Ｅｖ及び上記の短絡判別信号Ｓｄを入力として、短絡判別信号ＳｄがＨｉｇｈレベル（短絡）に変化した時点から、短絡判別信号ＳｄがＬｏｗレベル（アーク期間）に変化して上記の遅延期間及び上記の高電流期間が経過した時点までの期間中は電流誤差増幅信号Ｅｉを誤差増幅信号Ｅａとして出力し、それ以外の期間中は電圧誤差増幅信号Ｅｖを誤差増幅信号Ｅａとして出力する。この回路により、短絡期間＋遅延期間Ｔｄ＋高電流期間中は定電流制御となり、それ以外のアーク期間中は定電圧制御となる。
【0033】
送給速度設定回路ＦＲは、予め定めた送給速度設定信号Ｆｒを出力する。送給制御回路ＦＣは、この送給速度設定信号Ｆｒを入力として、この設定値に相当する送給速度で溶接ワイヤ１を送給するための送給制御信号Ｆｃを上記の送給機ＦＤに出力する。
【0034】
図２は、本発明の実施の形態に係るアーク溶接制御方法を示す図１の溶接装置における各信号のタイミングチャートである。同図（Ａ）は溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、同図（Ｂ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化を示し、同図（Ｃ）はくびれ検出信号Ｎｄの時間変化を示し、同図（Ｄ）は駆動信号Ｄｒの時間変化を示し、同図（Ｅ）は短絡判別信号Ｓｄの時間変化を示す。以下、同図を参照して各信号の動作について説明する。
【0035】
（１）時刻ｔ１の短絡発生から時刻ｔ２のくびれ検出時点までの動作
時刻ｔ１において溶接ワイヤ１が母材２と接触すると短絡期間になり、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは数Ｖ程度の短絡電圧値に急減する。そして、図１の溶接電圧検出信号Ｖｄの値が短絡／アーク判別値Ｖta未満になったことを判別して、同図（Ｅ）に示すように、短絡判別信号ＳｄはＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに変化する。これに応動して、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、時刻ｔ１においてアーク期間の溶接電流値から減少し、時刻ｔ１～ｔ１１の初期期間中は予め定めた初期電流値となり、時刻ｔ１１～ｔ２の期間中は次第に上昇する。同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号Ｎｄは、後述する時刻ｔ２～ｔ３のくびれ時間Ｔｎ中はＨｉｇｈレベルとなり、それ以外の期間はＬｏｗレベルとなる。同図（Ｄ）に示すように、駆動信号Ｄｒは、後述する時刻ｔ２～ｔ２１の期間はＬｏｗレベルとなり、それ以外の期間はＨｉｇｈレベルとなる。したがって、同図において時刻ｔ２以前の期間中は、駆動信号ＤｒはＨｉｇｈレベルとなり、図１のトランジスタＴＲがオン状態となるので、減流抵抗器Ｒは短絡されて通常のアーク溶接装置と同一の状態となる。例えば、上記の初期期間は０．５ms程度であり、初期電流値は５０Ａ程度であり、上記の溶接電流Ｉｗの上昇速度は１００Ａ／ms程度であり３００Ａ程度まで上昇する。
時刻ｔ１において溶接ワイヤ１が母材２と接触すると短絡期間になり、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは数Ｖ程度の短絡電圧値に急減する。そして、図１の溶接電圧検出信号Ｖｄの値が短絡／アーク判別値Ｖta未満になったことを判別して、同図（Ｅ）に示すように、短絡判別信号ＳｄはＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに変化する。これに応動して、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、時刻ｔ１においてアーク期間の溶接電流値から減少し、時刻ｔ１～ｔ１１の初期期間中は予め定めた初期電流値となり、時刻ｔ１１～ｔ２の期間中は次第に上昇する。同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号Ｎｄは、後述する時刻ｔ２～ｔ３のくびれ時間Ｔｎ中はＨｉｇｈレベルとなり、それ以外の期間はＬｏｗレベルとなる。同図（Ｄ）に示すように、駆動信号Ｄｒは、後述する時刻ｔ２～ｔ２１の期間はＬｏｗレベルとなり、それ以外の期間はＨｉｇｈレベルとなる。したがって、同図において時刻ｔ２以前の期間中は、駆動信号ＤｒはＨｉｇｈレベルとなり、図１のトランジスタＴＲがオン状態となるので、減流抵抗器Ｒは短絡されて通常のアーク溶接装置と同一の状態となる。例えば、上記の初期期間は０．５ms程度であり、初期電流値は５０Ａ程度であり、上記の溶接電流Ｉｗの上昇速度は１００Ａ／ms程度であり３００Ａ程度まで上昇する。
【0036】
同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは、溶接電流Ｉｗが上昇を継続している期間中に次第に上昇する。これは、溶滴にくびれが次第に形成されるためである。この溶接電圧Ｖｗの変化を図１の溶接電圧検出信号Ｖｄによって検出する。
【0037】
（２）時刻ｔ２のくびれ検出時点から時刻ｔ３のアーク再発生時点までの動作
時刻ｔ２において、くびれの形成状態が基準状態に達したことを溶接電圧Ｖｗの電圧上昇値が図１のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達したことによって検出すると、同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号ＮｄはＨｉｇｈレベルに変化する。また、溶接電圧Ｖｗを溶接電流Ｉｗで除算して溶滴の抵抗値を算出し、この抵抗値の微分値がこれに対応して設定されたくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達した時点でくびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化するようにしても良い。くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化したことに応動して、同図（Ｄ）に示すように、駆動信号ＤｒはＬｏｗレベルになるので、図１のトランジスタＴＲはオフ状態となり減流抵抗器Ｒが通電路に挿入される。このために、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは急減する。そして、時刻ｔ２１において、溶接電流Ｉｗが低レベル電流値Ｉｌまで減少すると、同図（Ｄ）に示すように、駆動信号ＤｒはＨｉｇｈレベルに戻るので、図１のトランジスタＴＲはオン状態となり減流抵抗器Ｒは短絡される。この結果、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、時刻ｔ２１からアークが再発生する時刻ｔ３まで低レベル電流値Ｉｌを維持する。したがって、トランジスタＴＲは、時刻ｔ２にくびれが検出されてから時刻ｔ２１に溶接電流Ｉｗが低レベル電流値Ｉｌに減少するまでの期間のみオフ状態となる。同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは、溶接電流Ｉｗが小さくなるので時刻ｔ２から一旦減少した後に急上昇する。例えば、上記の低レベル電流値Ｉｌは４０Ａ程度に設定される。
時刻ｔ２において、くびれの形成状態が基準状態に達したことを溶接電圧Ｖｗの電圧上昇値が図１のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達したことによって検出すると、同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号ＮｄはＨｉｇｈレベルに変化する。また、溶接電圧Ｖｗを溶接電流Ｉｗで除算して溶滴の抵抗値を算出し、この抵抗値の微分値がこれに対応して設定されたくびれ検出基準値信号Ｖtnの値に達した時点でくびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化するようにしても良い。くびれ検出信号ＮｄがＨｉｇｈレベルに変化したことに応動して、同図（Ｄ）に示すように、駆動信号ＤｒはＬｏｗレベルになるので、図１のトランジスタＴＲはオフ状態となり減流抵抗器Ｒが通電路に挿入される。このために、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは急減する。そして、時刻ｔ２１において、溶接電流Ｉｗが低レベル電流値Ｉｌまで減少すると、同図（Ｄ）に示すように、駆動信号ＤｒはＨｉｇｈレベルに戻るので、図１のトランジスタＴＲはオン状態となり減流抵抗器Ｒは短絡される。この結果、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、時刻ｔ２１からアークが再発生する時刻ｔ３まで低レベル電流値Ｉｌを維持する。したがって、トランジスタＴＲは、時刻ｔ２にくびれが検出されてから時刻ｔ２１に溶接電流Ｉｗが低レベル電流値Ｉｌに減少するまでの期間のみオフ状態となる。同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは、溶接電流Ｉｗが小さくなるので時刻ｔ２から一旦減少した後に急上昇する。例えば、上記の低レベル電流値Ｉｌは４０Ａ程度に設定される。
【0038】
（３）時刻ｔ３のアーク再発生から遅延期間Ｔｄが経過して時刻ｔ４の高電流期間が終了するまでの動作
時刻ｔ３においてアーク３が再発生すると、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは急増し、図１の溶接電圧検出信号Ｖｄの値は短絡／アーク判別値Ｖta以上となるので、同図（Ｅ）に示すように、短絡判別信号ＳｄはＬｏｗレベルに変化する。これに応動して、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは定電流制御によって、時刻ｔ３～ｔ３１の遅延期間Ｔｄ中は低レベル電流値Ｉｌを維持し、時刻ｔ３１～ｔ４の高電流期間中は上昇して高レベル電流値に達するとその値を維持する。同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは、時刻ｔ３～ｔ３１の遅延期間Ｔｄ中はアーク電圧値となり、時刻ｔ３１～ｔ４の高電流期間中はそれよりも大の高レベル電圧値となる。同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号Ｎｄは、時刻ｔ３にアークが再発生するので、Ｌｏｗレベルに変化する。例えば、上記の遅延期間Ｔｄは０．１ms程度に設定され、上記の高電流期間は１ms程度に設定され、上記の高電流値は４００Ａ程度に設定される。
時刻ｔ３においてアーク３が再発生すると、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは急増し、図１の溶接電圧検出信号Ｖｄの値は短絡／アーク判別値Ｖta以上となるので、同図（Ｅ）に示すように、短絡判別信号ＳｄはＬｏｗレベルに変化する。これに応動して、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは定電流制御によって、時刻ｔ３～ｔ３１の遅延期間Ｔｄ中は低レベル電流値Ｉｌを維持し、時刻ｔ３１～ｔ４の高電流期間中は上昇して高レベル電流値に達するとその値を維持する。同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは、時刻ｔ３～ｔ３１の遅延期間Ｔｄ中はアーク電圧値となり、時刻ｔ３１～ｔ４の高電流期間中はそれよりも大の高レベル電圧値となる。同図（Ｃ）に示すように、くびれ検出信号Ｎｄは、時刻ｔ３にアークが再発生するので、Ｌｏｗレベルに変化する。例えば、上記の遅延期間Ｔｄは０．１ms程度に設定され、上記の高電流期間は１ms程度に設定され、上記の高電流値は４００Ａ程度に設定される。
【0039】
（４）時刻ｔ４の高電流期間終了時点から時刻ｔ５の次の短絡発生までのアーク期間の動作
時刻ｔ４において高電流期間が終了すると、溶接電源は定電流制御から定電圧制御へと切り換えられる。このために、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、アーク負荷に応じて高レベル電流値から次第に減少する。同様に、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは高レベル電圧値から次第に減少する。
時刻ｔ４において高電流期間が終了すると、溶接電源は定電流制御から定電圧制御へと切り換えられる。このために、同図（Ａ）に示すように、溶接電流Ｉｗは、アーク負荷に応じて高レベル電流値から次第に減少する。同様に、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは高レベル電圧値から次第に減少する。
【0040】
以下、くびれ検出基準値の最適化手法について説明する。
図１のくびれ検出成功率算出回路ＲＳにおいて、各短絡ごとに時刻ｔ２～ｔ３のくびれ検出時間Ｔｎを所定個数記憶し、記憶した各くびれ検出時間Ｔｎが予め定めた適正時間範囲内に属している個数の百分率を算出し、くびれ検出成功率信号Ｒｓ［％］を出力する。例えば、所定個数は１０～１００程度に設定され、適正時間範囲は下限値が０．１msであり上限値が１msである。所定個数が１００である場合において、１００回の短絡期間におけるくびれ検出時間Ｔｎを記憶する。そして、それらの１００個の内で０．１～１msの適正時間範囲に属している個数が９１であった場合には、くびれ検出成功率は９１％として算出される。くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲の下限値よりも短い場合には、アーク再発生時点において溶接電流が十分に低い値まで減少していないことになり、スパッタの低減効果が小さくなる。くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲の上限値よりも長い場合には、溶接電流が低い状態が長く継続しているために、入熱が過少となり、溶接状態が不安定になる。したがって、くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲内にある場合に、スパッタの低減効果が大きくなり、溶接状態も安定になる。
図１のくびれ検出成功率算出回路ＲＳにおいて、各短絡ごとに時刻ｔ２～ｔ３のくびれ検出時間Ｔｎを所定個数記憶し、記憶した各くびれ検出時間Ｔｎが予め定めた適正時間範囲内に属している個数の百分率を算出し、くびれ検出成功率信号Ｒｓ［％］を出力する。例えば、所定個数は１０～１００程度に設定され、適正時間範囲は下限値が０．１msであり上限値が１msである。所定個数が１００である場合において、１００回の短絡期間におけるくびれ検出時間Ｔｎを記憶する。そして、それらの１００個の内で０．１～１msの適正時間範囲に属している個数が９１であった場合には、くびれ検出成功率は９１％として算出される。くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲の下限値よりも短い場合には、アーク再発生時点において溶接電流が十分に低い値まで減少していないことになり、スパッタの低減効果が小さくなる。くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲の上限値よりも長い場合には、溶接電流が低い状態が長く継続しているために、入熱が過少となり、溶接状態が不安定になる。したがって、くびれ検出時間Ｔｎが適正時間範囲内にある場合に、スパッタの低減効果が大きくなり、溶接状態も安定になる。
【0041】
図１のくびれ検出基準値設定回路ＶＴＮにおいて、くびれ検出成功率信号Ｒｓを入力として、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値を複数個変化させて出力し、各くびれ検出基準値信号Ｖtnの値に対応したくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、その後に、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値のくびれ検出基準値信号Ｖtnを出力する。具体的には以下のように行う。
１）複数個のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値を第１くびれ検出基準値Ｖ１、第１くびれ検出基準値Ｖ１よりも小さな値の第２くびれ検出基準値Ｖ２及び第１くびれ検出基準値Ｖ１よりも大きな値の第３くびれ検出基準値Ｖ３としてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出する。その後、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値をくびれ検出基準値信号Ｖtnとして出力する。
２）上記の１）において第２くびれ検出基準値Ｖ２においてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
３）上記の１）において第３くびれ検出基準値Ｖ３においてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
１）複数個のくびれ検出基準値信号Ｖtnの値を第１くびれ検出基準値Ｖ１、第１くびれ検出基準値Ｖ１よりも小さな値の第２くびれ検出基準値Ｖ２及び第１くびれ検出基準値Ｖ１よりも大きな値の第３くびれ検出基準値Ｖ３としてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出する。その後、くびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値をくびれ検出基準値信号Ｖtnとして出力する。
２）上記の１）において第２くびれ検出基準値Ｖ２においてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
３）上記の１）において第３くびれ検出基準値Ｖ３においてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かったときは、第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくしてくびれ検出成功率信号Ｒｓの値を算出し、くびれ検出基準値信号Ｖtnの値をくびれ検出成功率信号Ｒｓの値が最も高かった値に設定する。
【0042】
数値例を挙げて、上記のくびれ検出基準値設定回路ＶＴＮの動作について説明する。
（１）Ｖ１→Ｒｓ＝９７％、Ｖ２→Ｒｓ＝９５％、Ｖ３→Ｒｓ＝９２％の場合は、Ｖ１を最適なくびれ検出基準値として選択する。
（２）Ｖ１→Ｒｓ＝９３％、Ｖ２→Ｒｓ＝９５％、Ｖ３→Ｒｓ＝９０％の場合は、以下の処理を続ける。Ｖ２より所定値だけ小さな値のＶ21→Ｒｓ＝９７％、Ｖ21より所定値だけ小さな値のＶ22→Ｒｓ＝９６％の場合は、Ｖ21を最適なくびれ検出基準値として選択する。
（３）Ｖ１→Ｒｓ＝９３％、Ｖ２→Ｒｓ＝９０％、Ｖ３→Ｒｓ＝９５％の場合は、以下の処理を続ける。Ｖ３より所定値だけ大きな値のＶ31→Ｒｓ＝９７％、Ｖ31より所定値だけ小さな値のＶ32→Ｒｓ＝９６％の場合は、Ｖ31を最適なくびれ検出基準値として選択する。
（１）Ｖ１→Ｒｓ＝９７％、Ｖ２→Ｒｓ＝９５％、Ｖ３→Ｒｓ＝９２％の場合は、Ｖ１を最適なくびれ検出基準値として選択する。
（２）Ｖ１→Ｒｓ＝９３％、Ｖ２→Ｒｓ＝９５％、Ｖ３→Ｒｓ＝９０％の場合は、以下の処理を続ける。Ｖ２より所定値だけ小さな値のＶ21→Ｒｓ＝９７％、Ｖ21より所定値だけ小さな値のＶ22→Ｒｓ＝９６％の場合は、Ｖ21を最適なくびれ検出基準値として選択する。
（３）Ｖ１→Ｒｓ＝９３％、Ｖ２→Ｒｓ＝９０％、Ｖ３→Ｒｓ＝９５％の場合は、以下の処理を続ける。Ｖ３より所定値だけ大きな値のＶ31→Ｒｓ＝９７％、Ｖ31より所定値だけ小さな値のＶ32→Ｒｓ＝９６％の場合は、Ｖ31を最適なくびれ検出基準値として選択する。
【0043】
以下、本実施の形態の作用効果について説明する。
本実施の形態によれば、くびれの検出時点からアークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数のくびれ検出時間を記憶し、くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。これにより、本実施の形態では、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率が最高となる値に設定することができるので、種々の溶接条件に応じて、くびれ検出基準値を最適値に設定することができる。
本実施の形態によれば、くびれの検出時点からアークの再発生時点までの時間をくびれ検出時間とし、所定個数のくびれ検出時間を記憶し、くびれ検出時間が予め定めた適正時間範囲内に属している百分率をくびれ検出成功率として定義し、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。これにより、本実施の形態では、くびれ検出基準値を複数個変化させてくびれ検出成功率が最高となる値に設定することができるので、種々の溶接条件に応じて、くびれ検出基準値を最適値に設定することができる。
【0044】
さらに好ましくは、本実施の形態によれば、複数個のくびれ検出基準値は、第１くびれ検出基準値、第１くびれ検出基準値よりも小さな値の第２くびれ検出基準値及び第１くびれ検出基準値よりも大きな値の第３くびれ検出基準値である。これにより、本実施の形態では、くびれ検出基準値を第１くびれ検出基準値、第２くびれ検出基準値及び第３くびれ検出基準値に変化させてくびれ検出成功率が最も高かった値に設定することができる。
【0045】
さらに好ましくは、本実施の形態によれば、第２くびれ検出基準値においてくびれ検出成功率が最も高かったときは、第２くびれ検出基準値から順次所定値だけ小さくしてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。これにより、本実施の形態では、くびれ検出成功率が最高となるくびれ検出基準値に設定することができる。
【0046】
さらに好ましくは、本実施の形態によれば、第３くびれ検出基準値においてくびれ検出成功率が最も高かったときは、第３くびれ検出基準値から順次所定値だけ大きくしてくびれ検出成功率を算出し、くびれ検出基準値をくびれ検出成功率が最も高かった値に設定する。これにより、本実施の形態では、くびれ検出成功率が最高となるくびれ検出基準値に設定することができる。
【符号の説明】
【0047】
1 溶接ワイヤ
2 母材
3 アーク
4 溶接トーチ
５ 検出線
６ａ、６ｂ 出力端子
７ａ、７ｂ 溶接ケーブル
ＣＭ 電流比較回路
Ｃｍ 電流比較信号
ＤＲ 駆動回路
Ｄｒ 駆動信号
Ｅａ 誤差増幅信号
ＥＩ 電流誤差増幅回路
Ｅｉ 電流誤差増幅信号
ＥＶ 電圧誤差増幅回路
Ｅｖ 電圧誤差増幅信号
ＦＣ 送給制御回路
Ｆｃ 送給制御信号
ＦＤ 送給機
ＦＲ 送給速度設定回路
Ｆｒ 送給速度設定信号
ＩＣＲ 電流制御設定回路
Ｉcr 電流制御設定信号
ＩＤ 溶接電流検出回路
Ｉｄ 溶接電流検出信号
Ｉｌ 低レベル電流値
ＩＬＲ 低レベル電流設定回路
Ｉlr 低レベル電流設定信号
Ｉｗ 溶接電流
ＮＤ くびれ検出回路
Ｎｄ くびれ検出信号
ＰＭ 電源主回路
Ｒ 減流抵抗器
ＲＳ くびれ検出成功率算出回路
Ｒｓ くびれ検出成功率信号
ＳＤ 短絡判別回路
Ｓｄ 短絡判別信号
ＳＷ 制御切換回路
Ｔｄ 遅延期間
ＴＲ トランジスタ
ＶＤ 溶接電圧検出回路
Ｖｄ 溶接電圧検出信号
ＶＲ 電圧設定回路
Ｖｒ 電圧設定信号
ＶＴＮ くびれ検出基準値設定回路
Ｖtn くびれ検出基準値信号
Ｖｗ 溶接電圧
2 母材
3 アーク
4 溶接トーチ
５ 検出線
６ａ、６ｂ 出力端子
７ａ、７ｂ 溶接ケーブル
ＣＭ 電流比較回路
Ｃｍ 電流比較信号
ＤＲ 駆動回路
Ｄｒ 駆動信号
Ｅａ 誤差増幅信号
ＥＩ 電流誤差増幅回路
Ｅｉ 電流誤差増幅信号
ＥＶ 電圧誤差増幅回路
Ｅｖ 電圧誤差増幅信号
ＦＣ 送給制御回路
Ｆｃ 送給制御信号
ＦＤ 送給機
ＦＲ 送給速度設定回路
Ｆｒ 送給速度設定信号
ＩＣＲ 電流制御設定回路
Ｉcr 電流制御設定信号
ＩＤ 溶接電流検出回路
Ｉｄ 溶接電流検出信号
Ｉｌ 低レベル電流値
ＩＬＲ 低レベル電流設定回路
Ｉlr 低レベル電流設定信号
Ｉｗ 溶接電流
ＮＤ くびれ検出回路
Ｎｄ くびれ検出信号
ＰＭ 電源主回路
Ｒ 減流抵抗器
ＲＳ くびれ検出成功率算出回路
Ｒｓ くびれ検出成功率信号
ＳＤ 短絡判別回路
Ｓｄ 短絡判別信号
ＳＷ 制御切換回路
Ｔｄ 遅延期間
ＴＲ トランジスタ
ＶＤ 溶接電圧検出回路
Ｖｄ 溶接電圧検出信号
ＶＲ 電圧設定回路
Ｖｒ 電圧設定信号
ＶＴＮ くびれ検出基準値設定回路
Ｖtn くびれ検出基準値信号
Ｖｗ 溶接電圧
【図1】
【図2】