特開 2024-161791 Ｘ線画像診断装置、Ｘ線画像の撮像制御方法、及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024161791

(43)【公開日】2024-11-20

(54)【発明の名称】Ｘ線画像診断装置、Ｘ線画像の撮像制御方法、及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   A61B 6/03 20060101AFI20241113BHJP

   A61B 6/00 20240101ALI20241113BHJP

   A61B 6/50 20240101ALI20241113BHJP

【ＦＩ】

A61B6/03 330A

A61B6/00 320R

A61B6/00 331E

【審査請求】未請求

【請求項の数】11

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023076820

(22)【出願日】2023-05-08

(71)【出願人】

【識別番号】594164542

【氏名又は名称】キヤノンメディカルシステムズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001634

【氏名又は名称】弁理士法人志賀国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】中野 信一

(72)【発明者】

【氏名】飯島 吉昭

(72)【発明者】

【氏名】神長 洋平

【テーマコード（参考）】

4C093

【Ｆターム（参考）】

4C093AA08

4C093AA22

4C093CA16

4C093CA34

4C093DA02

4C093EA02

4C093EC16

4C093EC28

4C093FA06

4C093FA13

4C093FA15

4C093FA36

4C093FA43

4C093FA45

4C093FA52

4C093FA53

4C093FA54

4C093FA59

4C093FC12

4C093FC16

4C093FF24

4C093FF28

4C093FH03

(57)【要約】

【課題】時間の短縮を図るとともに被ばく量を抑制すること。
【解決手段】実施形態のＸ線画像診断装置は、第１Ｘ線撮像装置と、第２Ｘ線撮像装置と、制御装置と、を持つ。第１Ｘ線撮像装置は、被検体の第１Ｘ線画像を撮像する。第２Ｘ線撮像装置は、前記被検体の第２Ｘ線画像を撮像する。制御装置は、前記第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の前記被検体を撮像する際の前記第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定する決定部を含む。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

被検体の第１Ｘ線画像を撮像する第１Ｘ線撮像装置と、
前記被検体の第２Ｘ線画像を撮像する第２Ｘ線撮像装置と、
前記第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の前記被検体を撮像する際の前記第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定する決定部を含む制御装置と、を備える、
Ｘ線画像診断装置。

【請求項2】

前記第１Ｘ線撮像装置は、画像下治療装置であり、
前記第２Ｘ線撮像装置は、Ｘ線ＣＴ装置である、
請求項１に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項3】

前記第１Ｘ線画像に関する情報は、前記第１Ｘ線画像を撮像する際の管電圧、管電流、またはパルス幅のうち少なくとも１つを含む、
請求項１に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項4】

前記決定部は、前記第１Ｘ線画像に関する情報と、予め定められた前記第１Ｘ線画像に関する情報を変換するパラメータと、に基づいて、前記Ｘ線照射条件を算出する、
請求項３に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項5】

前記パラメータは、前記第１Ｘ線画像に対する目標画素値と前記第２Ｘ線画像に対する目標画素値との差が規定範囲内となる際の前記第１Ｘ線撮像装置のＸ線照射条件と、前記第２Ｘ線撮像装置のＸ線照射条件に基づいて算出される、
請求項４に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項6】

前記第１Ｘ線画像に関する情報は、前記第１Ｘ線画像を撮像する際の前記第１Ｘ線撮像装置に対する前記被検体の位置関係を含む、
請求項１に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項7】

前記決定部は、前記第２Ｘ線撮像装置により前記被検体を複数の方向から撮像する際のそれぞれのＸ線照射条件を決定する、
請求項１に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項8】

前記第１Ｘ線画像に関する情報は、前記第１Ｘ線撮像装置におけるラストイメージホールドされる前記第１Ｘ線画像を撮像する際の情報を含む、
請求項１に記載のＸ線画像診断装置。

【請求項9】

被検体のＸ線画像を撮像するＸ線撮像装置であって、
前記被検体の他のＸ線画像を撮像する他のＸ線撮像装置により撮像された前記他のＸ線画像に関する情報に基づいて、前記他のＸ線撮像装置により前記他のＸ線画像を撮像した後に決定されたＸ線照射条件により、前記被検体のＸ線画像を撮像する、
Ｘ線画像診断装置。

【請求項10】

第１Ｘ線撮像装置が、被検体の第１Ｘ線画像を撮像し、
コンピュータが、前記第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の前記被検体の第２Ｘ線画像を撮像する際の第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定し、
前記第２Ｘ線撮像装置が、前記コンピュータにより決定された前記Ｘ線照射条件で前記被検体の前記第２Ｘ線画像を撮像する、
Ｘ線画像の撮像制御方法。

【請求項11】

コンピュータに、第１Ｘ線撮像装置により撮像された第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の被検体の第２Ｘ線画像を撮像する際の第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定させる、
プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線画像診断装置、Ｘ線画像の撮像制御方法、及びプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

肝細胞癌の治療の１つとして、従来、肝動脈化学塞栓療法（ＴＡＣＥ：Transcatheter Arterial Chemo-Embolization)が知られている。ＴＡＣＥは、アンギオ（Angio）装置とＣＴ（Computed Tomography）装置を組み合わせたＩＶＲ（Interventional Radiology）－ＣＴを利用した治療法（以下、ＩＶＲ－ＣＴ治療）の１つである。ＴＡＣＥでは、アンギオ装置により患部を撮像し、腫瘍を栄養している血管を特定し、特定した血管に塞栓を埋め込むという治療を行う。続いて、Ｘ線ＣＴ装置により同じ患部を撮像し、治療結果の血行動態を確認するという治療確認を行う。

【0003】

肝細胞癌のＴＡＣＥでは、アンギオ装置とＸ線ＣＴ装置を繰り返し切り替えて患部を撮像するシーンがある。従来、アンギオ装置からＸ線ＣＴ装置に切り替えて患部を撮像する際に場合には、Ｘ線ＣＴ装置による本撮像（ダイナミック撮像）を開始する前に、撮像範囲を確定させるためのスキャノ撮像が行われ、続いて、本撮像が行われる。

【0004】

Ｘ線ＣＴ装置におけるスキャノ撮像における撮像時間は、例えば５秒程度、特に、デュアルスキャノ撮像では３０秒から４０秒程度かかり、スキャノ撮像を実行するためには、さらに待ち時間等が加わり、５分から８分程度を要する。ＴＡＣＥでは、Ｘ線ＣＴ装置による撮像を行うたびにスキャノ撮像を行うので、時間的なロスが大きくなるとともに、被検体の被ばく量が多くなることもある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２０１４－１５１０６８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題は、時間の短縮を図るとともに被ばく量を抑制することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

【課題を解決するための手段】

【0007】

実施形態のＸ線画像診断装置は、第１Ｘ線撮像装置と、第２Ｘ線撮像装置と、制御装置と、を持つ。第１Ｘ線撮像装置は、被検体の第１Ｘ線画像を撮像する。第２Ｘ線撮像装置は、前記被検体の第２Ｘ線画像を撮像する。制御装置は、前記第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の前記被検体を撮像する際の前記第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定する決定部を含む。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】第１の実施形態のＸ線画像診断装置１の構成の一例を示す図。

【図2】Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図。

【図3】テーブル位置の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図。

【図4】第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いてパラメータ係数を算出する処理の一例を示すフローチャート。

【図5】第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いて行われるＩＶＲ－ＣＴ治療の手順の一例を示すフローチャート。

【図6】第２の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いて行われるＩＶＲ－ＣＴ治療の手順の一例の一部を示すフローチャート。

【図7】Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、図面を参照しながら、実施形態のＸ線画像診断装置、Ｘ線画像の撮像制御方法、及びプログラムについて説明する。

【0010】

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１の構成の一例を示す図である。Ｘ線画像診断装置１は、例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療に利用される。第１の実施形態のＸ線画像診断装置１は、例えば、アンギオ装置１０と、Ｘ線ＣＴ装置２０と、寝台装置３０と、コンソール装置４０と、を備える。

【0011】

アンギオ装置１０は、例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療における治療の際に利用される。アンギオ装置１０は、Ｘ線画像が見ながら治療を行う医師が見る際のＸ線画像を生成する。アンギオ装置１０は、画像下治療装置の一例である。アンギオ装置１０は、例えば、Ｘ線発生部１１と、Ｘ線検出部１２と、支持機構１３と、支持機構駆動部１４と、投影画像生成部１５とを備える。アンギオ装置１０は、第１Ｘ線画像を撮像する第１Ｘ線撮像装置、他のＸ線画像を撮像する他のＸ線撮像装置の一例である。

【0012】

Ｘ線発生部１１は、例えば、Ｘ線管と高電圧発生部とを有する。高電圧発生部は、コンソール装置４０により出力されるＸ線照射条件に基づいて、Ｘ線撮像およびＸ線透視にそれぞれ適した管電圧の管電流をＸ線管に供給する。Ｘ線管は、高電圧発生部から供給された管電流と、高電圧発生部により印加された管電圧とに基づいて、Ｘ線の焦点からＸ線を照射する。

【0013】

Ｘ線検出部１２は、Ｘ線発生部１１により照射され、被検体Ｐを透過したＸ線を検出する。例えば、Ｘ線検出部１２は、フラットパネルディテクタ（Flat Panel Detector、以下、ＦＰＤ）を有する。ＦＰＤは、複数の半導体検出素子を有する。半導体検出素子には、直接変換形と間接変換形とがある。

【0014】

直接変換形とは、入射Ｘ線を直接的に電気信号に変換する形式である。間接変換形とは、入射Ｘ線を蛍光体で光に変換しその光を電気信号に変換する形式である。Ｘ線の入射に伴って複数の半導体検出素子で発生された電気信号は、図示していないアナログデジタル変換器（Analog to Digital converter：以下、Ａ／Ｄ変換器）に出力される。Ａ／Ｄ変換器は、電気信号をデジタルデータに変換する。Ａ／Ｄ変換器は、デジタルデータを、図示していない前処理部に出力する。なお、Ｘ線検出部１２として、イメージインテンシファイア（Image Intensifier）が用いられてもよい。

【0015】

支持機構１３は、Ｘ線発生部１１とＸ線検出部１２とを移動可能に支持する。具体的には、支持機構１３は、例えば、Ｃアーム１３ＡとＣアーム支持部１３Ｂとを有する。Ｃアーム１３Ａは、Ｘ線発生部１１とＸ線検出部１２とを、互いに向き合うように搭載する。なお、Ｃアーム１３Ａの代わりにΩアームが用いられてもよい。

【0016】

Ｃアーム支持部１３Ｂは、そのＣ形状に沿う方向に、Ｃアーム１３Ａをスライド可能に支持する。Ｃアーム支持部１３Ｂは、Ｃアーム１３Ａとの接続部を中心として、Ｃ形状に沿う方向に直交する方向に回転可能にＣアームを支持する。Ｃアーム支持部１３Ｂは、後述する寝台装置３０における天板３３の短軸方向（Ｘ方向）と長軸方向（Ｚ方向）とに平行移動可能にＣアーム１３Ａを支持することも可能である。Ｃアーム１３Ａは、Ｘ線発生部１１とＸ線検出部１２との距離（線源受像面間距離（ＳＩＤ：Source Image Distance）を変更可能に、Ｘ線発生部１１とＸ線検出部１２とを支持する。

【0017】

支持機構駆動部１４は、コンソール装置４０の制御のもとで、Ｃアーム１３Ａを駆動する。具体的には、支持機構駆動部１４は、コンソール装置４０からの制御信号に応じた駆動信号をＣアーム支持部１３Ｂに供給して、Ｃアーム１３ＡをＣ形状に沿う方向にスライドさせ、またはＣ形状に沿う方向に直交する方向（尾頭方向（ＣＲＡ）もしくは頭尾方向（ＣＡＵ））に回転させる。Ｘ線透視時およびＸ線撮像時においては、Ｘ線発生部１１とＸ線検出部１２との間に、寝台装置３０における天板に載置された被検体Ｐが配置される。

【0018】

支持機構駆動部１４は、さらに、支持機構１３をＸ方向及びＺ方向に移動させる。支持機構駆動部１４が支持機構１３を移動させることにより、支持機構１３は、支持機構駆動部１４により、被検体Ｐを撮像可能な位置（以下、第１撮像位置）と、第１撮像位置からＸ方向またはＺ方向に移動して退避した位置（以下、第１退避位置）との間で移動可能とされている。

【0019】

投影画像生成部１５は、撮像位置においてＸ線撮像された後に前処理されたデジタルデータに基づいて、撮像画像を生成する。投影画像生成部１５は、透視位置でＸ線透視された後に前処理されたデジタルデータに基づいて、透視画像を生成する。以下、撮像画像と透視画像とをまとめて投影画像という。投影画像生成部１５は、生成した投影画像を、コンソール装置４０に出力する。

【0020】

Ｘ線ＣＴ装置２０は、アンギオ装置１０により撮像したＸ線画像を見ながら医師が実行した治療の効果を確認するためのＸ線画像を撮像する。Ｘ線ＣＴ装置２０は、例えば、Ｘ線管２１と、ウェッジ２２と、コリメータ２３と、Ｘ線高電圧装置２４と、Ｘ線検出器２５と、データ収集システム（以下、ＤＡＳ：Data Acquisition System）２６と、回転フレーム２７とを備える。Ｘ線管２１、ウェッジ２２、コリメータ２３、Ｘ線高電圧装置２４、Ｘ線検出器２５、ＤＡＳ２６、及び回転フレーム２７は、例えば架台（ガントリ）に収容されている。Ｘ線ＣＴ装置２０は、第２Ｘ線撮像を撮像する第２Ｘ線撮像装置、被検体のＸ線画像を撮像するＸ線撮像装置の一例である。

【0021】

Ｘ線管２１は、Ｘ線高電圧装置２４からの高電圧の印加により、陰極（フィラメント）から陽極（ターゲット）に向けて熱電子を照射することでＸ線を発生させる。Ｘ線管２１は、真空管を含む。例えば、Ｘ線管２１は、回転する陽極に熱電子を照射することでＸ線を発生させる回転陽極型のＸ線管である。

【0022】

ウェッジ２２は、Ｘ線管２１から画像診断の対象となる被検体Ｐに照射されるＸ線量を調節するためのフィルタである。ウェッジ２２は、Ｘ線管２１から被検体Ｐに照射されるＸ線量の分布が予め定められた分布になるように、自身を透過するＸ線を減衰させる。ウェッジ２２は、ウェッジフィルタ（wedge filter）、ボウタイフィルタ（bow-tie filter）とも呼ばれる。ウェッジ２２は、例えば、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したものである。

【0023】

コリメータ２３は、ウェッジ２２を透過したＸ線の照射範囲を絞り込むための機構である。コリメータ２３は、例えば、複数の鉛板の組み合わせによってスリットを形成することで、Ｘ線の照射範囲を絞り込む。コリメータ２３は、Ｘ線絞りと呼ばれる場合もある。コリメータ２３の絞り込み範囲は、機械的に駆動可能であってよい。

【0024】

Ｘ線高電圧装置２４は、例えば、高電圧発生装置と、Ｘ線制御装置とを有する。高電圧発生装置は、変圧器（トランス）および整流器などを含む電気回路を有し、Ｘ線管２１に印加する高電圧を発生させる。Ｘ線制御装置は、Ｘ線管２１に発生させるべきＸ線量に応じて高電圧発生装置の出力電圧を制御する。高電圧発生装置は、上述した変圧器によって昇圧を行うものであってもよいし、インバータによって昇圧を行うものであってもよい。Ｘ線高電圧装置２４は、回転フレーム２７に設けられてもよいし、架台の固定フレーム（不図示）の側に設けられてもよい。

【0025】

Ｘ線検出器２５は、Ｘ線管２１が発生させ、被検体Ｐを通過して入射したＸ線の強度を検出する。Ｘ線検出器２５は、検出したＸ線の強度に応じた電気信号（光信号などでもよい）をＤＡＳ２６に出力する。Ｘ線検出器２５は、例えば、複数のＸ線検出素子列を有する。複数のＸ線検出素子列のそれぞれは、Ｘ線管２１の焦点を中心とした円弧に沿ってチャネル方向に複数のＸ線検出素子が配列されたものである。複数のＸ線検出素子列は、スライス方向（列方向、ｒｏｗ方向）に配列される。

【0026】

Ｘ線検出器２５は、例えば、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。それぞれのシンチレータは、シンチレータ結晶を有する。シンチレータ結晶は、入射するＸ線の強度に応じた光量の光を発する。グリッドは、シンチレータアレイのＸ線が入射する面に配置され、散乱Ｘ線を吸収する機能を有するＸ線遮蔽板を有する。なお、グリッドは、コリメータ（一次元コリメータまたは二次元コリメータ）と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、例えば、光電子増倍管（フォトマルチプライヤー：ＰＭＴ）等の光センサを有する。光センサアレイは、シンチレータにより発せられる光の光量に応じた電気信号を出力する。Ｘ線検出器２５は、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であってもよい。

【0027】

ＤＡＳ２６は、例えば、増幅器と、積分器と、Ａ／Ｄ変換器とを有する。増幅器は、Ｘ線検出器２５の各Ｘ線検出素子により出力される電気信号に対して増幅処理を行う。積分器は、増幅処理が行われた電気信号をビュー期間に亘って積分する。Ａ／Ｄ変換器は、積分結果を示す電気信号をデジタル信号に変換する。ＤＡＳ２６は、デジタル信号に基づく検出データをコンソール装置４０に出力する。

【0028】

回転フレーム２７は、Ｘ線管２１、ウェッジ２２、およびコリメータ２３と、Ｘ線検出器２５とを対向支持する円環状の部材である。回転フレーム２７は、中央に円形の開口が形成された円形の両側面と、両側面の内側円同士を繋ぐ内側面と、両側面の外側円同士を繋ぐ外側面と、を備える円環状の部材である。回転フレーム２７の両側面は平面であり、内側面及び外側面は曲面である。

【0029】

回転フレーム２７は、不図示の固定フレームによって、内部に導入された被検体Ｐを中心として回転自在に支持される。回転フレーム２７は、更にＤＡＳ２６を支持する。ＤＡＳ２６が出力する検出データは、回転フレーム２７に設けられた発光ダイオード（ＬＥＤ）を有する送信機から、光通信によって、架台に収容された非回転部分（例えば固定フレーム）に設けられたフォトダイオードを有する受信機に送信され、受信機によってコンソール装置４０に転送される。なお、回転フレーム２７から非回転部分への検出データの送信方法として、前述の光通信を用いた方法に限らず、非接触型の任意の送信方法を採用してよい。回転フレーム２７は、Ｘ線管２１などを支持して回転させることができるものであれば、円環状の部材に限らず、アームのような部材であってもよい。

【0030】

架台駆動機構２８は、例えば、台車部と軌道部とを備える。台車部には、架台が搭載され、軌道部上を台車部が走行する。軌道部は、検査室内において、天板３３の長手方向（Ｚ方向）に沿って敷設されている。架台駆動機構２８により架台を移動させることにより、被検体Ｐに形成されたボアの内側に導入される。

【0031】

架台におけるボアの内側は、被検体Ｐを撮像可能な位置（以下、第２撮像位置）であり、架台におけるボアの外側は、撮像位置から退避した位置（以下、第２退避位置）である。架台駆動機構２８が架台を駆動することにより、架台は、第２撮像位置と第２退避位置の間を移動可能とされている。

【0032】

Ｘ線ＣＴ装置２０は、例えば、Ｘ線管２１とＸ線検出器２５の双方が回転フレーム２７によって支持されて被検体Ｐの周囲を回転するＲｏｔａｔｅ／Ｒｏｔａｔｅ－ＴｙｐｅのＸ線ＣＴ装置（第３世代ＣＴ）であるが、これに限らず、円環状に配列された複数のＸ線検出素子が固定フレームに固定され、Ｘ線管２１が被検体Ｐの周囲を回転するＳｔａｔｉｏｎａｒｙ／Ｒｏｔａｔｅ－ＴｙｐeのＸ線ＣＴ装置（第４世代ＣＴ）であってもよい。

【0033】

寝台装置３０は、スキャン対象となる被検体Ｐを載置して移動させる装置である。寝台装置３０は、例えば、基台３１と、寝台駆動装置３２と、天板３３と、を備える。基台３１は、天板３３鉛直方向（Ｙ軸方向）に移動可能に支持する筐体を含む。

【0034】

寝台駆動装置３２は、モータやアクチュエータを含む。寝台駆動装置３２は、コンソール装置４０により出力されるテーブル位置の情報に基づいて、被検体Ｐが載置された天板３３を、（Ｙ方向）、天板３３の長手方向（Ｚ軸方向）及び幅方向（Ｘ方向）に移動させる。天板３３は、被検体Ｐが載置される板状の部材である。

【0035】

コンソール装置４０は、アンギオ装置１０、Ｘ線ＣＴ装置２０、及び寝台装置３０を含むＸ線画像診断装置１の全体を制御する。コンソール装置４０は、例えば、メモリ４１と、ディスプレイ４２と、入力インターフェース４３と、処理回路５０とを有する。コンソール装置４０は、投影画像に関する情報に基づいて、アンギオ装置１０による撮像後の被検体Ｐを撮像する際のＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線照射条件を決定する。コンソール装置４０は、制御装置の一例である。コンソール装置４０が備える各機能は、コンソール装置４０から独立した他の装置、例えば、アンギオ装置１０、Ｘ線ＣＴ装置２０、または寝台装置３０に対して設けられる各機器を制御する制御装置などが備えていてもよい。

【0036】

メモリ４１は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。メモリ４１は、例えば、投影画像、検出データ、投影データ、再構成画像データ、ＣＴ画像データ等を記憶する。これらのデータは、メモリ４１ではなく（或いはメモリ４１に加えて）、Ｘ線画像診断装置１が通信可能な外部メモリに記憶されてもよい。外部メモリは、例えば、外部メモリを管理するクラウドサーバが読み書きの要求を受け付けることで、クラウドサーバによって制御されるものである。

【0037】

メモリ４１は、例えば、被検体Ｐのボリュームデータ、処理回路５０により生成された投影画像、ＣＴ画像などを記憶する。メモリ４１は、ＩＶＲ－ＣＴ治療中にアンギオ装置１０による投影画像の撮像が行われた際のＸ線発生部１１のＸ線照射条件及び天板３３のテーブル位置を記憶する。テーブル位置は、投影画像を撮像する際のアンギオ装置１０に対する被検体Ｐの位置関係の一例である。

【0038】

メモリ４１に記憶されるＸ線照射条件及びテーブル位置は、例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療中にディスプレイ４２ラストイメージホールド（Last Image Hold、以下、ＬＩＨ）として表示される投影画像（以下、ＬＩＨ投影画像）となる断面画像を撮像した際のＸ線発生部１１におけるＸ線照射条件である。Ｘ線照射条件及びテーブル位置は、他のタイミングで断面撮像を撮像する際のＸ線照射条件及びテーブル位置でもよい。ＬＩＨ投影画像は、例えばピクセルデータを含む。ＬＩＨ投影画像には、例えば、Ｘ線照射条件及びテーブル位置などが付帯情報として付加される。

【0039】

メモリ４１は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれにおけるＸ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数を記憶する。図２は、Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図である。Ｘ線照射条件の特性係数は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれに設定され、Ｘ線照射条件のパラメータ係数は、アンギオ装置１０におけるＸ線照射条件とＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線照射条件を同定するためにＸ線ＣＴ装置２０に対して設定される。

【0040】

Ｘ線照射条件の特性係数は、例えば、アンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管またはＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１に供給される電流の管電圧、管電流、パルス幅に各項目を含む。図２に示す特定係数及びパラメータ係数は、Ｃアーム１３Ａの回転角度が０度であるときの係数である。

【0041】

Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数は、例えば、工場出荷時に設定され、定期メンテナンス時に更新される。Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数は、その他のタイミングで更新されるものでもよいし、更新されないものでもよい。Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数を設定する手順については、後に説明する。

【0042】

メモリ４１は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれにおけるテーブル位置の特性係数及びパラメータ係数を記憶する。図３は、テーブル位置の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図である。ここでのテーブル位置の特性係数は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれに設定され、テーブル位置のパラメータ係数は、アンギオ装置１０で被検体Ｐを撮像する際のテーブル位置とＸ線ＣＴ装置２０で被検体Ｐを撮像する際のテーブル位置を同定するためにＸ線ＣＴ装置２０に対して設定される。

【0043】

テーブル位置の特性係数は、例えば、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれにおいて断面画像及びＸ線ＣＴ画像が撮像される際の天板３３の高さ位置（Ｙ方向位置）、縦方向位置（Ｚ方向位置）、及び横方向位置（Ｘ方向位置）の各項目を含む。図３に示す特定係数及びパラメータ係数は、Ｃアーム１３Ａの回転角度が０度であるときの係数である。

【0044】

テーブル位置のパラメータ係数は、アンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管に対する相対位置と、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１に対する相対位置との関係に基づいて算出される。通常、アンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管は、被検体Ｐの下側からＸ線を照射することが多く、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１は、被検体Ｐの上側からＸ線を照射することが多い。このため、テーブル位置のパラメータ係数は、Ｘ線を照射する際のアンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管及びＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１の位置を考慮して設定されている。

【0045】

テーブル位置の特性係数及びパラメータ係数は、例えば、工場出荷時に設定され、定期メンテナンス時に更新される。テーブル位置の特性係数及びパラメータ係数は、その他のタイミングで更新されるものでもよいし、更新されないものでもよい。テーブル位置の特性係数及びパラメータ係数を算出する手順については、後に説明する。

【0046】

ディスプレイ４２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ４２は、１５により送信された投影画像、処理回路５０によって生成された医用画像（ＣＴ画像）、医師や技師などの操作者による各種操作を受け付けるＧＵＩ（Graphical User Interface）画像等を表示する。

【0047】

ディスプレイ４２は、例えば、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）、有機ＥＬ（Electroluminescence）ディスプレイ等である。ディスプレイ４２は、架台に設けられてもよい。ディスプレイ４２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置４０の本体部と無線通信可能な表示装置（例えばタブレット端末）でもよい。

【0048】

入力インターフェース４３は、操作者による各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作の内容を示す電気信号を処理回路５０に出力する。例えば、入力インターフェース４３は、検出データまたは投影データを収集する際の収集条件、ＣＴ画像を再構成する際の再構成条件、ＣＴ画像から後処理画像を生成する際の画像処理条件などの入力操作を受け付ける。

【0049】

入力インターフェース４３は、例えば、マウスやキーボード、タッチパネル、トラッグボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、ダイヤル、カメラ、赤外線センサ、マイク等により実現される。入力インターフェース４３は、コンソール装置４０の本体部と無線通信可能な表示装置（例えばタブレット端末）により実現されてもよい。

【0050】

なお、本明細書において入力インターフェースはマウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェースの例に含まれる。

【0051】

処理回路５０は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０を含むＸ線画像診断装置１の全体の動作を制御する。処理回路５０は、例えば、システム制御機能５１と、取得機能５２と、画像生成処理機能５３と、決定機能５４と、設定機能５５とを備える。処理回路５０は、例えば、ハードウェアプロセッサが記憶装置（記憶回路）に記憶されたプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものである。

【0052】

ハードウェアプロセッサとは、例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ、特定用途向け集積回路、プログラマブル論理デバイスまたは複合プログラマブル論理デバイス、フィールドプログラマブルゲートアレイなどの回路を意味する。記憶装置にプログラムを記憶させる代わりに、ハードウェアプロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。ハードウェアプロセッサは、単一の回路として構成されるものに限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのハードウェアプロセッサとして構成され、各機能を実現するようにしてもよい。記憶装置は、非一時的（ハードウェアの）記憶媒体でもよい。また、複数の構成要素を１つのハードウェアプロセッサに統合して各機能を実現するようにしてもよい。

【0053】

コンソール装置４０または処理回路５０が有する各構成要素は、分散化されて複数のハードウェアにより実現されてもよい。処理回路５０は、コンソール装置４０が有する構成ではなく、コンソール装置４０と通信可能な処理装置によって実現されてもよい。処理装置は、例えば、一つのＸ線ＣＴ装置と接続されたワークステーション、或いは、複数のＸ線ＣＴ装置に接続され、以下に説明する処理回路５０と同等の処理を一括して実行する装置（例えばクラウドサーバ）である。処理回路５０に含まれる各機能は、複数の回路に分散されていてもよいし、メモリ４１に記憶されたアプリケーションソフトを起動させることで利用可能となるようにしてもよい。

【0054】

システム制御機能５１は、入力インターフェース４３が受け付けた入力操作等に基づいて、処理回路５０の各種機能を制御することにより、アンギオ装置１０、Ｘ線ＣＴ装置２０、及び寝台装置３０を含むＸ線画像診断装置１の全体を制御する。システム制御機能５１は、例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療を実行する際のアンギオ装置１０やＸ線ＣＴ装置２０の移動や撮像、寝台装置３０の移動などを制御する。

【0055】

システム制御機能５１は、例えば、ワークフローに設定された撮像条件、あるいは決定機能５４により決定された撮像条件に基づいて、アンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管やＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１により照射させるＸ線を制御する。撮像条件は、例えば、Ｘ線照射条件及び投影画像やＣＴ画像を撮像する際のテーブル位置を含む。

【0056】

ＩＶＲ－ＣＴ治療を実行する際、システム制御機能５１は、例えば、アンギオ装置１０におけるＸ線発生部１１のＸ線管及びＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１のＸ線管のＸ線照射条件を制御する。さらに、システム制御機能５１は、例えば、寝台装置３０における天板３３のテーブル位置を制御する。

【0057】

システム制御機能５１は、Ｘ線照射条件及びテーブル位置をメモリ４１に記憶させ、例えば、システム制御機能５１は、ＬＩＨ投影画像を撮像する際のＸ線発生部１１のＸ線管のＸ線照射条件及び天板３３のテーブル位置をメモリ４１に記憶させる。システム制御機能５１は、アンギオ装置１０における投影画像の撮像条件のリソースをＸ線ＣＴ装置２０と共有させる。

【0058】

リソースの共有は、例えば、メモリ空間上で実現してよく、ＬＩＨ投影画像のピクセルデータは、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０の双方のビデオメモリ空間にマップで見るようにしてよい。それ以外のデータは、例えば、ＤＩＣＯＭ形式でメモリ空間上に配置してよい。

【0059】

リソースの共有は、排他的なものとしてよい。この場合、アンギオ装置１０における撮像が完了した後にリソースの占有権をアンギオ装置１０からＸ線ＣＴ装置２０に移行させ、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＣＴ画像の撮像画像の完了した後にリソースの占有権をＸ線ＣＴ装置２０からアンギオ装置１０に移行させてよい。

【0060】

取得機能５２は、ＩＶＲ－ＣＴ治療中にアンギオ装置１０の投影画像生成部１５により生成された投影画像を取得する。取得機能５２は、取得した投影画像をメモリ４１に記憶させる。取得機能５２は、Ｘ線ＣＴ装置２０のＤＡＳ２６により出力された検出データを取得する。取得機能５２は、取得した検出データをメモリ４１に記憶させる。

【0061】

取得機能５２は、ＩＶＲ－ＣＴ治療中に被検体Ｐを撮像する装置をアンギオ装置１０からＸ線ＣＴ装置２０に移行させる際に、メモリ４１に記憶されたＸ線発生部１１のＸ線管のＸ線照射条件及び天板３３のテーブル位置を読み出して取得する。取得機能５２は、例えば、ＬＩＨ投影画像を撮像する際のＸ線照射条件及びテーブル位置を読み出して取得する。取得機能５２は、取得部の一例である。

【0062】

画像生成処理機能５３は、投影画像生成部１５により生成された投影画像やメモリ４１に記憶された被検体Ｐのボリュームデータ等に基づいて、投影画像上の指定位置を含む断面画像を生成する。画像生成処理機能５３は、ＤＡＳ２６により出力された検出データに対して対数変換処理やオフセット補正処理、チャネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正等の前処理を行って、投影データを生成する。画像生成処理機能５３は、生成した投影データをメモリ４１に記憶させる。

【0063】

画像生成処理機能５３は、前処理して生成した投影データに対して、フィルタ補正逆投影法や逐次近似再構成法等による再構成処理を行って、変換前ＣＴ画像を生成する。画像生成処理機能５３は、生成した変換前ＣＴ画像をメモリ４１に記憶させる。画像生成処理機能５３は、入力インターフェース４３が受け付けた入力操作に基づいて、変換前ＣＴ画像を公知の方法により、三次元画像や任意断面の断面像データであるＣＴ画像に変換する。三次元画像への変換は、前処理の段階で行われてもよい。

【0064】

決定機能５４は、アンギオ装置１０により撮像されメモリ４１に記憶された投影画像に関する情報に基づいて、アンギオ装置１０による撮像後の被検体Ｐを撮像する際のＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１のＸ線照射条件を決定する。決定機能５４は、例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療において、被検体Ｐを撮像する装置をアンギオ装置１０からＸ線ＣＴ装置２０に移行させる際にＸ線管２１のＸ線照射条件を決定する。投影画像に関する情報は、例えば、Ｘ線照射条件及びテーブル位置の情報を含む。決定機能５４は、決定部の一例である。

【0065】

決定機能５４は、さらに、メモリ４１に記憶されたパラメータ係数に基づいて、アンギオ装置１０により投影画像を撮像した際の撮像条件（以下、投影画像撮像条件）を、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＣＴ画像を撮像する際の撮像条件（以下、ＣＴ画像撮像条件）に変換する。ＣＴ画像撮像条件は、従来のＸ線ＣＴ装置では、スキャノ画像により得られた条件である。

【0066】

設定機能５５は、ＩＶＲ－ＣＴ治療に利用されるＸ線照射条件及びテーブル位置のパラメータ係数を算出する。設定機能５５は、算出したパラメータ係数をメモリ４１に記憶させる。設定機能５５は、オペレータの操作に応じて、パラメータ係数を工場出荷時に設定し、メンテナンス時に更新する。

【0067】

続いて、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１におけるＸ線照射係数及びテーブル位置のパラメータ係数を算出する処理について説明する。Ｘ線照射係数及びテーブル位置のパラメータ係数は、例えば、人体ファントム（以下、ファントム）にＸ線を照射した投影画像やＸ線ＣＴ画像を利用することにより算出される。図４は、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いてパラメータ係数を算出する処理の一例を示すフローチャートである。パラメータ係数を算出する処理は、例えば、オペレータがＸ線画像診断装置１を操作することにより実行される。

【0068】

パラメータ係数を算出するにあたり、アンギオ装置１０における支持機構１３は第１退避位置に位置し、Ｘ線ＣＴ装置２０における架台は第２退避位置に位置している。オペレータは、まず、寝台装置３０の天板３３にファントムを載置する（ステップＳ１０１）。続いて、オペレータは、入力インターフェース４３を操作してアンギオ装置１０における支持機構駆動部１４に支持機構１３を第１撮像位置に移動させることにより、アンギオ装置１０をセットする（ステップＳ１０３）。

【0069】

アンギオ装置１０がセットされると、設定機能５５は、アンギオ装置１０におけるＸ線照射条件及びテーブル位置を調整して（ステップＳ１０５）設定する。アンギオ装置１０では、Ｘ線発生部１１によりＸ線が照射される前に、初期設定またはオペレータの入力操作に応じて調整されたたテーブル位置に基づいて、寝台装置３０における天板３３の高さ位置、縦方向位置、及び横方向位置が調整される。

【0070】

続いて、オペレータは、初期設定またはオペレータ自らの入力操作に応じて調整されたＸ線照射条件によるＸ線を、ファントムに向けてＸ線発生部１１に照射させる。Ｘ線発生部１１により照射されたＸ線は、Ｘ線検出部１２により検出される。Ｘ線検出部１２は、検出したＸ線に基づく電気信号を投影画像生成部１５に出力する。投影画像生成部１５は、出力された電気信号に基づいて投影画像を生成し（ステップＳ１０７）、コンソール装置４０に出力する。

【0071】

一方、オペレータは、投影画像における観察領域や対象領域（Region Of Interest：以下、ＲＯＩ）を予め指定して定めておく。設定機能５５は、指定された観察領域およびＲＯＩの画素値（画素レベル）を測定する（ステップＳ１０９）。続いて、設定機能５５は、測定した画素値が投影画像に対する目標画素値に到達しているか否かを判定する（ステップＳ１１１）。

【0072】

設定機能５５は、測定された画素値が目標画素値に到達していないと判定された場合、処理をステップＳ１０５に戻す。アンギオ装置１０では、測定された画素値が目標画素値に到達したと判定するまでステップＳ１０５からステップＳ１１１の処理が繰り返され、Ｘ線照射条件を連続的に調整しながら投影画像の画質を調整する。

【0073】

測定された画素値が目標画素値に到達したと設定機能５５が判定した場合、システム制御機能５１は、Ｘ線発生部１１によるＸ線の照射を終了する。このとき、ディスプレイ４２には、ＬＩＨ投影画像が表示されている。設定機能５５は、ＬＩＨ投影画像を撮像する際の投影条件及びテーブル位置に基づいて、アンギオ装置１０の特性係数を算出して決定し（ステップＳ１１３）、決定した特性係数を設定する。

【0074】

アンギオ装置１０の特性係数が設定されたら、システム制御機能５１は、オペレータの入力操作に応じて、アンギオ装置１０を第１撮像位置から第１退避位置に退避させる（ステップＳ１１５）。さらに、システム制御機能５１は、Ｘ線ＣＴ装置２０における架台駆動機構２８に架台を第２退避位置から第２撮像位置に移動させることにより、Ｘ線ＣＴ装置２０をセットする（ステップＳ１１７）。

【0075】

Ｘ線ＣＴ装置２０がセットされると、設定機能５５は、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線照射条件及びテーブル位置を調整する（ステップＳ１１９）。Ｘ線ＣＴ装置２０では、Ｘ線管２１によりＸ線が照射される前に、テーブル位置の調整に基づいて、寝台装置３０における天板３３の高さ位置、縦方向位置、及び横方向位置が調整される。

【0076】

続いて、オペレータは、調整されたＸ線照射条件によるＸ線を、ファントムに向けてＸ線管２１に照射させる。Ｘ線管２１により照射されたＸ線は、Ｘ線検出器２５により検出される。Ｘ線検出器２５は、検出したＸ線に基づく電気信号を画像生成処理機能５３に出力する。画像生成処理機能５３は、出力された電気信号に基づいてＣＴ画像を生成し（ステップＳ１２１）、メモリ４１に記憶させる。

【0077】

続いて、設定機能５５は、投影画像の場合と同様にして、ＣＴ画像における予め定められた観察領域およびＲＯＩの画素値を測定する（ステップＳ１２３）。続いて、設定機能５５は、測定した画素値がＣＴ画像に対する目標画素値に到達しているか否かを判定する（ステップＳ１２５）。ＣＴ画像に対する目標画素値は、投影画像に対する目標画素値との差が規定範囲内となる値である。規定範囲は、どのような値でもよく、０でもよいし、０を超える値でもよい。規定範囲が０の場合には、投影画像に対する目標画素値とＣＴ画像に対する目標画素値が一致する。

【0078】

設定機能５５は、測定された画素値が目標画素値に到達していないと判定した場合、処理をステップＳ１１９に戻す。Ｘ線ＣＴ装置２０では、測定された画素値が目標画素値に到達したと判定するまでステップＳ１１９からステップＳ１２５の処理が繰り返され、Ｘ線照射条件を連続的に調整しながら投影画像の画質を調整する。

【0079】

測定された画素値が目標画素値に到達したと判定した場合、設定機能５５は、生成したＣＴ画像を撮像した際の投影条件及びテーブル位置に基づいて、Ｘ線ＣＴ装置２０の特性係数を算出して決定し（ステップＳ１２７）、決定した特性係数を設定する。続いて、設定機能５５は、設定したアンギオ装置１０の特定係数及びＸ線ＣＴ装置２０の特定係数に基づいて、パラメータ係数を算出し（ステップＳ１２９）、算出したパラメータ係数を設定する。

【0080】

従来のＩＶＲ－ＣＴ治療では、アンギオ装置及びＸ線ＣＴ装置において、投影画像撮像条件及びＣＴ画像撮像条件をそれぞれ調整しながら、目標画素値に到達するまで投影画像及びＣＴ画像の画素値を調整する。例えば、ＩＶＲ－ＣＴ治療を行う従来のアンギオ装置では、観察領域やＲＯＩ（以下、対象部位）の画素値が目標画素値に到達するまで、管電圧、管電流、パルス幅を連続的に調整しながら投影画像の画質を調整する。

【0081】

従来のアンギオ装置では、支持機構におけるＣアーム１３Ａが回転を伴う場合においても、その調整が働いている。さらに、従来のアンギオ装置における投影画像の画素値が目標画素値となったときには、例えば、管電圧、管電流、パルス幅、アーム角度（Ｃアーム１３Ａの回転角度）、照射方向を含む投影画像撮像条件の情報が保持される。

【0082】

一方、従来のＩＶＲ－ＣＴにおけるＸ線ＣＴ装置においては、本撮像（ダイナミック撮像）が実行される前にスキャノ撮像を実行し、被検体Ｐの体厚、対象部位、撮像領域等を確定しながら、本撮像時の撮像条件を決定する。従来のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管による本撮像時の撮像条件は、ＩＶＲ－ＣＴによるＴＡＣＥの手技の場合では、同一の被検体における同一の部位において、患者となる被検体Ｐは、アンギオ装置１０による治療とＸ線ＣＴ装置２０による治療確認とを行う間、天板３３の上でほぼ動くことがない。

【0083】

このため、アンギオ装置におけるＸ線管と、Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線管の特性を差し引くことにより、アンギオ装置における直前の撮像の際に設定された投影画像撮像条件をＸ線ＣＴ装置による撮像の際に設定するＣＴ画像撮像条件に変換できると考えられる。

【0084】

そこで、実施形態のＸ線画像診断装置１において、ファントムをアンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０でそれぞれ撮像し、目標画素値となった際のＸ線照射条件について特性係数を比較することにより、パラメータ係数を算出できる。特性係数及びパラメータ係数は、例えば、Ｃアーム１３Ａの回転角度ごとに設定してよい。

【0085】

具体的に、例えば、Ｘ線照射条件に関する特定係数として、図２に示すように、アンギオ装置１０について、管電圧特定係数Ａｎ＿ｋＶ、管電流特定係数Ａｎ＿ｍＡ、パルス幅特定係数Ａｎ＿ｍＳｅｃとする。また、Ｘ線ＣＴ装置２０について、管電圧特定係数ＣＴ＿ｋＶ、管電流特定係数ＣＴ＿ｍＡ、パルス幅特定係数ＣＴ＿ｍＳｅｃとする。

【0086】

これらの特定係数を用いて算出されるＸ線照射条件のパラメータ係数ｆ（ｐｋＶ，ｐｍＡ，ｐｍＳｅｃ）の各要素は、例えば、下記（１）式～（３）式により示すことができる。
ｐｋＶ＝ＣＴ＿ｋＶ／Ａｎ＿ｋＶ ・・・（１）
ｐｍＡ＝ＣＴ＿ｍＡ／Ａｎ＿ｍＡ ・・・（２）
ｐｍＳｅｃ＝ＣＴ＿ｍＳｅｃ／Ａｎ＿ｍＳｅｃ ・・・（３）

【0087】

例えば、ファントムを撮像した投影画像及びＣＴ画像における対象領域の画素値がいずれも目標画素値（＝１２８）となるときのアンギオ装置１０における管電圧特定係数Ａｎ＿ｋＶ（＝７０）、Ｘ線ＣＴ装置２０における管電圧特定係数ＣＴ＿ｋＶ（＝６０）であるとする。この場合の管電圧パラメータ係数ｐｋＶは、下記（４）式により示すことができる。
ｐｋＶ＝ＣＴ＿ｋＶ（６０）／Ａｎ＿ｋＶ（７０）＝６０／７０ ・・・（４）

【0088】

同様にして、管電流パラメータ係数ｐｍＡ、パルス幅パラメータ係数ｐｍＳｅｃを算出することができる。さらに、テーブル位置に関する特定係数として、図３に示すように、アンギオ装置１０について、高さ位置特定係数Ａｎ＿ｔｂｌＰｏｓ、縦方向位置特定係数Ａｎ＿Ｖ、横方向位置特定係数Ａｎ＿Ｈとする。また、Ｘ線ＣＴ装置２０の特性係数として、高さ位置特定係数ＣＴ＿ｔｂｌＰｏｓ、縦方向位置特定係数ＣＴ＿Ｖ、横方向位置特定係数ＣＴ＿Ｈとする。

【0089】

これらの特定係数を用いて算出されるテーブル位置のパラメータ係数ｆ（ｐｔｂｌＰｏｓＶ，ｐＶ，ｐＨ）の各要素は、例えば、下記（５）式～（７）式により示すことができる。
ｐＡｎ＿ｔｂｌＰｏｓ＝ＣＴ＿ｔｂｌＰｏｓ／Ａｎ＿ｔｂｌＰｏｓ ・・・（５）
ｐＶ＝ＣＴ＿Ｖ／Ａｎ＿Ｖ ・・・（６）
ｐＨ＝ＣＴ＿Ｈ／Ａｎ＿Ｈ ・・・（７）

【0090】

こうして、パラメータ係数が算出されることにより、図４に示す処理が終了する。

【0091】

続いて、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いて行われるＩＶＲ－ＣＴ治療の手順について説明する。ＩＶＲ－ＣＴ治療は、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を操作する技師などのアシスタント及び医師等により実行される。ＩＶＲ－ＣＴ治療は、ワークフローに沿って実行され、ワークフローには、複数の治療が設定されている。

【0092】

ワークフローでは、例えば、アンギオ装置１０による治療を行った後、Ｘ線ＣＴ装置２０による治療の効果の確認が計画される。アンギオ装置１０が実行した透視や撮像データには、例えば、ＬＩＨ投影画像のピクセルデータ及びそのピクセルデータに関する被検体Ｐの患者情報、検査に関する検査情報のほか、撮像部位、Ｘ線管の管電流、管電圧、寝台装置３０における天板３３の位置、Ｃアーム１３Ａの回転角度等の情報が含まれる。

【0093】

これらの情報は、常時リソース共有については、メモリ４１におけるメモリ空間上に存在させ、アンギオ装置１０側の都合、例えばアンギオ装置１０により投影画像が生成されたときや一定周期などで常時上書き更新される。続いて、アンギオ装置１０の退避開始のタイミングでメモリ空間上の占有権をアンギオ装置１０からＸ線ＣＴ装置２０に移行させる。

【0094】

Ｘ線ＣＴ装置２０は、例えば、コンソール装置４０のビデオメモリに共有されたメモリ空間上のＬＩＨ投影画像のピクセルデータをディスプレイ４２に表示させる。コンソール装置４０は、ＬＩＨ投影画像の付帯情報をＸ線ＣＴ装置２０に利用し、Ｘ線ＣＴ装置２０に対する寝台装置３０の天板３３の相対的な位置を特定する。

【0095】

アンギオ装置１０とＸ線ＣＴ装置２０では、寝台座標系が共通であるため、Ｘ線ＣＴ装置２０では、画像の拡大率、寝台の縦方向位置、横方向位置、高さから肝臓の上端と下端はカバー可能な範囲を特定できる。このため、Ｘ線ＣＴ装置２０における独立したスキャノ撮像を省略できるので、スキャノ撮像し試し取り等の時間がかかる準備作業を削減することができる。

【0096】

一方、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＣＴ画像撮像条件は、メモリ４１における共有メモリ空間上から読み出されたアンギオ装置１０の投影画像撮像条件に基づいて設定する。Ｘ線ＣＴ装置２０における撮像にあたり、Ｘ線ＣＴ装置２０における直前の撮像時の札上場権を利用できる場合には、その条件を再利用してもよい。

【0097】

ワークフローでは、１の治療に対する治療目標が達成されると次の治療が開始され、全ての治療に対する治療目標が達成されることで、ＩＶＲ－ＣＴ治療が完了する。図５は、第１の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いて行われるＩＶＲ－ＣＴ治療の手順の一例を示すフローチャートである。

【0098】

ＩＶＲ－ＣＴ治療を行うにあたり、アンギオ装置１０における支持機構１３は第１退避位置に位置し、Ｘ線ＣＴ装置２０における架台は第２退避位置に位置している。まず、アシスタントは、寝台装置３０の天板３３に患者となる被検体Ｐを載置する（ステップＳ２０１）。続いて、アシスタントは、入力インターフェース４３を操作してアンギオ装置１０における支持機構駆動部１４に支持機構１３を第１撮像位置に移動させることにより、アンギオ装置１０をセットする（ステップＳ２０３）。

【0099】

アンギオ装置１０がセットされると、設定機能５５は、アンギオ装置１０におけるＸ線照射条件及びテーブル位置を調整する（ステップＳ２０５）。アンギオ装置１０では、Ｘ線発生部１１によりＸ線が照射される前に、初期設定またはアシスタントの入力操作に応じて調整されたテーブル位置に基づいて、寝台装置３０における天板３３の高さ位置、縦方向位置、及び横方向位置が調整される。

【0100】

続いて、アシスタントは、初期設定または自らの入力操作に応じて調整されたＸ線照射条件によるＸ線を、被検体Ｐに向けてＸ線発生部１１に照射させる。Ｘ線発生部１１により照射されたＸ線は、Ｘ線検出部１２により検出される。Ｘ線検出部１２は、検出したＸ線に基づく電気信号を投影画像生成部１５に出力する。投影画像生成部１５は、出力された電気信号に基づいて投影画像を生成して、コンソール装置４０に出力する。コンソール装置４０は、出力された投影画像を取得機能５２により取得する。取得機能５２は、取得した投影画像をメモリ４１に記憶させる。

【0101】

この間、アシスタントは、投影画像における観察領域やＲＯＩを設定しておく。コンソール装置４０は、決定機能５４において、観察領域およびＲＯＩの画素値（画素レベル）を測定し、測定した画素値が目標画素値に到達しているか否かを判定する（ステップＳ２０７）。

【0102】

決定機能５４は、測定された画素値が目標画素値に到達していないと判定された場合、処理をステップＳ２０５に戻す。アンギオ装置１０では、測定された画素値が目標画素値に到達したと判定するまでステップＳ２０５からステップＳ２０７の処理が繰り返され、Ｘ線照射条件を連続的に調整しながら投影画像の画質を調整する。

【0103】

測定された画素値が目標画素値に到達したと決定機能５４が判定した場合、システム制御機能５１は、Ｘ線発生部１１によるＸ線の照射を終了する。このとき、ディスプレイ４２には、ＬＩＨ投影画像が表示されている。医師は、ディスプレイ４２に表示された投影画像を見ながら、被検体Ｐに対する治療を実行する（ステップＳ２０９）。

【0104】

続いて、医師は、ワークフローに従い、治療目標を達成したか否かを判定する（ステップＳ２１１）。医師は、治療目標が達成されていないと判定した場合には、処理をステップＳ２０９に戻す。医師は、治療目標を達成するまでステップＳ２０９及びステップＳ２１１の処理を繰り返す。

【0105】

治療目標を達成したと医師が判定した場合、決定機能５４は、ＬＩＨ投影画像を撮像する際のＸ線照射条件及びテーブル位置（以下、ＬＩＨ撮像条件）をメモリ４１に記憶させることにより保持する（ステップＳ２１３）。続いて、システム制御機能５１は、ワークフローに従い、アンギオ装置１０を第１撮像位置から第１退避位置に退避させる（ステップＳ２１５）。続いて、システム制御機能５１は、Ｘ線ＣＴ装置２０における架台駆動機構２８に架台を第２退避位置から第２撮像位置に移動させることにより、Ｘ線ＣＴ装置２０をセットする（ステップＳ２１７）。

【0106】

続いて、取得機能５２は、メモリ４１に記憶されたＬＩＨ撮像条件及びパラメータ係数を読み出す。決定機能５４は、取得機能５２により読み出されたパラメータ係数及びＬＩＨ撮像条件を用いて、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際のＸ線照射条件として推奨される推奨Ｘ線照射条件を算出する。決定機能５４は、Ｘ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際のＸ線照射条件を推奨Ｘ線照射条件に設定する（ステップＳ２１９）。

【0107】

決定機能５４は、例えば、次の手順で推奨Ｘ線照射条件及び推奨テーブル位置を算出する。例えば、メモリ４１に記憶されたＬＩＨ撮像条件は、ＬＩＨ投影画像を撮像する際の管電圧Ａｎ＿ｋＶ（ＬＩＨ）、管電流Ａｎ＿ｍＡ（ＬＩＨ）、パルス幅Ａｎ＿ｍＳｅｃ（ＬＩＨ）、天板３３の高さ位置Ａｎ＿ｔｂｌＰｏｓ（ＬＩＨ）、縦方向位置Ａｎ＿Ｖ（ＬＩＨ）、横方向位置Ａｎ＿Ｈ（ＬＩＨ）を含む。

【0108】

決定機能５４は、例えば、推奨Ｘ線照射条件として、推奨管電流ＣＴ＿ｍＡ（ｒｅ）、推奨管電圧ＣＴ＿ｋＶ（ｒｅ）、及び推奨パルス幅ＣＴ＿ｍＳｅｃ（ｒｅ）を下記（８）式から（１０）式により算出する。
ＣＴ＿ｋＶ（ｒｅ）＝ｐｋＶ・Ａｎ＿ｋＶ（ＬＩＨ） ・・・（８）
ＣＴ＿ｍＡ（ｒｅ）＝ｐｍＡ・Ａｎ＿ｍＡ（ＬＩＨ） ・・・（９）
ＣＴ＿ｍＳｅｃ（ｒｅ）＝ｐｍＳｅｃ・Ａｎ＿ｍＳｅｃ（ＬＩＨ） ・・・（１０）

【0109】

上記（８）式から（１０）式に代えて、Ｘ線照射条件のパラメータ係数を利用して、例えば下記（１１）式によりＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１の推奨管電圧ＣＴ＿ｋＶ（ｒｅ）、推奨管電流ＣＴ＿ｍＡ（ｒｅ）、推奨パルス幅ＣＴ＿ｍＳｅｃ（ｒｅ）を求めてもよい。
ＣＴ＿ｋＶ（ｒｅ），ＣＴ＿ｍＡ（ｒｅ）,ＣＴ＿ｍＳｅｃ（ｒｅ）
＝ｆ（ｐｋＶ，ｐｍＡ,ｐｍＳｅｃ）
・（Ａｎ＿ｋＶ，Ａｎ＿ｍＡ，Ａｎ＿ｍＳｅｃ） ・・・（１１）

【0110】

決定機能５４は、テーブル位置のパラメータ係数を利用して、アンギオ装置１０により投影画像が撮像される対象領域と、Ｘ線ＣＴ装置２０によりＣ画像が撮像される領域が一致するように、天板３３のテーブル位置を決定する（ステップＳ２２１）。システム制御機能５１は、決定機能５４により決定された位置に天板３３を移動させる。

【0111】

続いて、システム制御機能５１は、決定機能５４により設定された推奨Ｘ線照射条件で照射されるＸ線を、被検体Ｐに向けてＸ線管２１に照射させる。Ｘ線管２１により照射されたＸ線は、Ｘ線検出器２５により検出される。Ｘ線検出器２５は、検出したＸ線に基づく電気信号をコンソール装置４０に出力する。コンソール装置４０は、画像生成処理機能５３において、出力された電気信号に基づいてＣＴ画像を生成する。画像生成処理機能５３は、生成したＣＴ画像をディスプレイ４２に表示させる。

【0112】

医師は、ディスプレイ４２に表示されたＣＴ画像を見ながら治療の状況を判定し、治療効果が確認されたか否かを判定する（ステップＳ２２３）。治療効果が確認されないと判定した場合、医師は、処理をステップＳ２０３に戻し、Ｘ線ＣＴ装置２０を退避させ、アンギオ装置１０をセットして、アンギオ装置１０による治療を再開する。

【0113】

治療効果が確認されたと医師が判定した場合、アシスタントは、ワークフローを参照し、ワークフローに設定されたすべての検査が完了したか否かを判定する（ステップＳ２２５）。ワークフローに設定されたすべての検査が完了していないと判定した場合、アシスタントは、処理をステップＳ２０３に戻し、ワークフローに従い、次の検査を開始する。ワークフローに設定されたすべての検査が完了していないと判定した場合、アシスタントは、図５に示す処理を終了する。

【0114】

第１の実施形態のＸ線画像診断装置１は、ＩＶＲ－ＣＴ治療において、投影画像撮像条件に含まれるアンギオ装置１０により投影画像を撮像した際のＸ線照射条件に基づいて、ＣＴ画像撮像条件に含まれるＸ線ＣＴ装置２０におけるＸ線照射条件を決定する。このため、アンギオ装置１０により実行された治療の効果をＸ線ＣＴ装置２０により確認する際に、スキャノ画像の生成を省略することができる。したがって、Ｘ線画像診断装置１によりＩＶＲ－ＣＴ治療を行う際の時間の短縮を図るとともに被ばく量を抑制することができる。

【0115】

（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。第２の実施形態のＸ線画像診断装置では、Ｘ線ＣＴ装置２０において、１つのＸ線照射条件を生成したが、第２の実施形態では、複数、例えば２つのＸ線照射条件を決定する。Ｘ線ＣＴ装置２０は、複数のＸ線照射条件を利用して、ＣＴ画像を撮像する。

【0116】

第２の実施形態のＸ線画像診断装置１において決定されるＸ線照射条件は、被検体を第１方向からＸ線を照射してＣＴ画像を撮像する際の第１Ｘ線照射条件と、被検体を第２方向からＸ線を照射してＣＴ画像を撮像する際の第２Ｘ線照射条件とを含む。その他の点は、上記第１の実施形態と共通である。

【0117】

第１方向及び第２方向は、例えば、従来のＸ線ＣＴ装置において、いわゆるデュアルスキャノ撮像により撮像される２つのスキャノ画像を生成する際に、それぞれ被検体ＰにＸ線を照射する方向である。第２の実施形態において、決定機能５４は、Ｘ線ＣＴ装置２０により被検体Ｐを第１方向及び第２方向の複数の方向から撮像する際のそれぞれの第１Ｘ線照射条件及び第２Ｘ線照射条件を決定する。Ｘ線を照射する方向は、Ｘ線画像を撮像する方向に相当する。

【0118】

図６は、第２の実施形態のＸ線画像診断装置１を用いて行われるＩＶＲ－ＣＴ治療の手順の一例の一部を示すフローチャートである。Ｘ線画像診断装置１において、ＩＶＲ－ＣＴ治療を行う際には、まず、第１の実施形態と同様、図５に示すステップＳ２０１からステップＳ２１７までの処理を実行する。

【0119】

続いて、取得機能５２は、メモリ４１に記憶されたＬＩＨ撮像条件及びパラメータ係数を読み出す。決定機能５４は、取得機能５２により読み出されたパラメータ係数及びＬＩＨ撮像条件を用いて、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１により第１方向からＸ線を被検体Ｐに照射する際の第１Ｘ線照射条件として推奨される第１推奨Ｘ線照射条件を算出する。第１推奨Ｘ線照射条件は、例えば、第１の実施形態における推奨Ｘ線照射条件と共通する。決定機能５４は、Ｘ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際の第１Ｘ線照射条件を第１推奨Ｘ線照射条件に設定する（ステップＳ３０１）。

【0120】

第２の実施形態におけるメモリ４１は、アンギオ装置１０及びＸ線ＣＴ装置２０のそれぞれにおけるＸ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数を記憶する。図７は、Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数の一例を示す図である。Ｘ線照射条件の特性係数は、アンギオ装置１０に１つ、Ｘ線ＣＴ装置２０に２つ（第１特性係数及び第２特定係数）設定される。Ｘ線照射条件のパラメータ係数として、Ｘ線ＣＴ装置２０における第１特性係数及び第２特定係数に対応する第１パラメータ係数及び第２パラメータ係数が設定される。

【0121】

図７に示す特定係数及びパラメータ係数は、第１の実施形態と同様、Ｃアーム１３Ａの回転角度が０度であるときの係数である。Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数は、例えば、工場出荷時に設定され、定期メンテナンス時に更新される。Ｘ線照射条件の特性係数及びパラメータ係数は、その他のタイミングで更新されるものでもよいし、更新されないものでもよい。

【0122】

ステップＳ２１７において、Ｘ線ＣＴ装置をセットした後、Ｘ線画像診断装置１は、決定機能５４において、取得機能５２により読み出されたパラメータ係数及びＬＩＨ撮像条件を用いて、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１により第２方向からＸ線を被検体Ｐに照射する際の第１Ｘ線照射条件として推奨される第１推奨Ｘ線照射条件を算出する。決定機能５４は、Ｘ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際の第１Ｘ線照射条件を第１推奨Ｘ線照射条件に設定する（ステップＳ３０１）。

【0123】

続いて、決定機能５４は、取得機能５２により読み出されたパラメータ係数及びＬＩＨ撮像条件を用いて、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるＸ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際の第２Ｘ線照射条件として推奨される第２推奨Ｘ線照射条件を算出する。決定機能５４は、Ｘ線管２１によりＸ線を被検体Ｐに照射する際の第２Ｘ線照射条件を第２推奨Ｘ線照射条件に設定する（ステップＳ３０３）。

【0124】

続いて、決定機能５４は、テーブル位置のパラメータ係数を利用して、アンギオ装置１０により投影画像が撮像される対象領域と、Ｘ線ＣＴ装置２０によりＣ画像が撮像される領域が一致するように、天板３３のテーブル位置を決定する（ステップＳ２２１）。以後、第１の実施形態と同様の処理を実行し、Ｘ線画像診断装置１は、図６に示す処理を終了する。

【0125】

第２の実施形態のＸ線画像診断装置１は、第１の実施形態と同様の作用効果を奏する。また、第２の実施形態のＸ線画像診断装置１は、Ｘ線ＣＴ装置２０により被検体Ｐを第１方向及び第２方向の複数の方向から撮像する際のそれぞれの第１Ｘ線照射条件及び第２Ｘ線照射条件を決定する。このため、従来デュアルスキャノ撮像によりスキャノ画像を撮像していたＸ線ＣＴ装置に対して、スキャノ撮像を省くことができる。したがって、デュアルスキャノ撮像に要する時間やデュアルスキャノ撮像による被ばく量を低減することができる。

【0126】

従来のアンギオ装置及びＸ線ＣＴ装置を備えるＸ線画像診断装置において、ＩＶＲ－ＣＴ治療を行うにあたり、アンギオ装置による治療が終了した後、Ｘ線ＣＴ装置により治療の効果を確認するために、スキャノ撮像を行う。スキャノ撮像は、例えば、治療効果の確認を行うたびに実行されるので、例えば、５回の治療及び治療効果の確認を実行するワークフローでは、５回分のスキャノ撮像が実行され、その分の被ばく量及び撮像時間を要してしまう。さらに、例えば、通常のスキャノ撮像では、１回の撮像に５秒程度の時間を要するが、デュアルスキャノ撮像では、約３０秒から４０秒の時間を要し、さらに６０秒程度の回転待ち時間が生じる。

【0127】

この点、第２の実施形態のＸ線画像診断装置１では、Ｘ線ＣＴ装置２０による撮像前のデュアルスキャノ撮像を省略できるので、従来のＸ線画像診断装置と比較して、５００秒（＝８分２０秒）程度のＣＴ画像（デュアルスキャノ画像）の撮像を省略できるので、被検体の被ばく量を大幅に少なくし、治療時間を大幅に短縮することができる。

【0128】

上記各実施の形態では、Ｘ線照射条件として、管電流、管電圧、及びパルス幅を対象とするが、Ｘ線照射条件は、これらの中の一部を対象としてもよいし、他の条件を対象としてもよい。例えば、Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線を連続的に照射するので、パルス幅に関しては管電流で調整し、パルス幅を対象から除いてもよい。あるいは、Ｘ線照射条件にアンギオ装置１０におけるＣアーム１３Ａのアーム角度やＸ線管によるＸ線の照射方向を加えてもよい。

【0129】

このため、例えば、パルス幅特定係数ＣＴ＿ｍＳｅｃに代えて、天板３３の移動速度に対する特定係数及びパラメータ係数を設定してもよい。この場合、アンギオ装置１０では、線量の大きさを管電流及びパルス幅で調整し、Ｘ線ＣＴ装置２０では、線量の大きさを管電流及び天板３３の移動速度で調整することとなる。

【0130】

また、アンギオ装置１０とＸ線ＣＴ装置２０ではＸ線検出器（Ｘ線検出部１２、Ｘ線検出器２５）が異なるので、Ｘ線ＣＴ装置２０におけるパラメータ係数に対して、ゲインを設定してもよい。ゲインとは、例えば、Ｘ線検出器により出力される電気信号にかける係数である。ただし、ゲインを設定した場合には、ノイズ成分及び信号成分のそれぞれをゲインで強調することとなるので、ゲインは上げすぎないようにしてよい。

【0131】

また、アンギオ装置１０では、被検体Ｐの下側からＸ線を照射する（アンダーチューブ）ことが多く、Ｘ線ＣＴ装置２０では、被検体Ｐの上側からＸ線を照射する（オーバーチューブ）ことが多い。このため、アンギオ装置１０とＸ線ＣＴ装置２０では、Ｘ線管から被検体Ｐにおける対象領域までの距離（被検体Ｐの体厚）が異なること多いので、例えば、被検体Ｐを通過することによるＸ線の減衰を考慮して特定係数及びパラメータ係数を設定してよい。

【0132】

また、上記各実施の形態では、ＬＩＨ投影画像を利用してパラメータ係数を決定したり推奨Ｘ線照射条件等を算出したりするが、ＬＩＨ投影画像以外の画像を利用してもよい。例えば、アンギオ装置１０における過去の回転ＤＡ（digital angiography）や回転ＤＳＡ（Digital Subtraction Angiography）撮像時の投影画像を利用してもよい。

【0133】

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、被検体の第１Ｘ線画像を撮像する第１Ｘ線撮像装置と、前記被検体の第２Ｘ線画像を撮像する第２Ｘ線撮像装置と、前記第１Ｘ線画像に関する情報に基づいて、前記第１Ｘ線撮像装置による撮像後の前記被検体を撮像する際の前記第２Ｘ線撮像装置におけるＸ線照射条件を決定する決定部を含む制御装置と、を持つことにより、時間の短縮を図るとともに被ばく量を抑制することができる。

【0134】

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

【符号の説明】

【0135】

１…Ｘ線画像診断装置
１０…アンギオ装置
１１…Ｘ線発生部
１２…Ｘ線検出部
１３…支持機構
１３Ａ…Ｃアーム
１３Ｂ…Ｃアーム支持部
１４…支持機構駆動部
１５…投影画像生成部
２０…Ｘ線ＣＴ装置
２１…Ｘ線管
２２…ウェッジ
２３…コリメータ
２４…Ｘ線高電圧装置
２５…Ｘ線検出器
２６…ＤＡＳ
２７…回転フレーム
２８…架台駆動機構
３０…寝台装置
３１…基台
３２…寝台駆動装置
３３…天板
４０…コンソール装置
４１…メモリ
４２…ディスプレイ
４３…入力インターフェース
５０…処理回路
５１…システム制御機能
５２…取得機能
５３…画像生成処理機能
５４…決定機能
５５…設定機能
Ｐ…被検体

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】