知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
特開2024-165608テストシナリオ生成装置、検証仕様書生成装置、プログラム、および、検証装置
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024165608
(43)【公開日】2024-11-28
(54)【発明の名称】テストシナリオ生成装置、検証仕様書生成装置、プログラム、および、検証装置
(51)【国際特許分類】
G06F 30/3308 20200101AFI20241121BHJP
G01R 31/3183 20060101ALI20241121BHJP
G01R 31/28 20060101ALI20241121BHJP
【ＦＩ】
G06F30/3308
G01R31/3183
G01R31/28 Q
【審査請求】未請求
【請求項の数】9
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023081940
(22)【出願日】2023-05-18
(71)【出願人】
【識別番号】591036457
【氏名又は名称】三菱電機エンジニアリング株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110003166
【氏名又は名称】弁理士法人山王内外特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】小笠原 和弥
(72)【発明者】
【氏名】原武 浩二
(72)【発明者】
【氏名】森下 有規
(72)【発明者】
【氏名】井戸 大介
(72)【発明者】
【氏名】森 裕美
【テーマコード（参考）】
2G132
5B146
【Ｆターム（参考）】
2G132AA01
2G132AB02
2G132AG15
2G132AL07
5B146AA22
5B146DL08
5B146GJ05
5B146GN04
(57)【要約】 （修正有）
【課題】論理設計検証の効率を向上させるテストシナリオ生成装置等を提供する。
【解決手段】テストシナリオ生成装置は、識別用記号で区切られた検証仕様文字列を含む、半導体集積回路の論理設計検証における処理毎の検証仕様文が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様取得部と、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報及び検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報を含む条件情報を取得する条件取得部と、検証仕様書データ及び条件情報を用いて、処理毎に検証仕様文字列、使用条件及び処理の種類を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、該情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているＤＢを参照し、使用条件及び処理の種類に応じて生成された、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むシナリオを出力するテストシナリオ出力部と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】テストシナリオ生成装置は、識別用記号で区切られた検証仕様文字列を含む、半導体集積回路の論理設計検証における処理毎の検証仕様文が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様取得部と、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報及び検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報を含む条件情報を取得する条件取得部と、検証仕様書データ及び条件情報を用いて、処理毎に検証仕様文字列、使用条件及び処理の種類を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、該情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているＤＢを参照し、使用条件及び処理の種類に応じて生成された、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むシナリオを出力するテストシナリオ出力部と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置。
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置。
【請求項2】
前記テストシナリオ出力部は、
前記検証仕様情報を用いて、前記処理の種類を判定する処理判定部と、
前記処理判定部による判定結果である前記処理の種類に応じて、前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶している前記データベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を出力する、検索部と、
前記検証仕様情報および前記テストシナリオ用文字列を用いて、前記使用条件および前記処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って前記処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含む前記テストシナリオを出力する、処理記述生成部と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載のテストシナリオ生成装置。
前記検証仕様情報を用いて、前記処理の種類を判定する処理判定部と、
前記処理判定部による判定結果である前記処理の種類に応じて、前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶している前記データベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を出力する、検索部と、
前記検証仕様情報および前記テストシナリオ用文字列を用いて、前記使用条件および前記処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って前記処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含む前記テストシナリオを出力する、処理記述生成部と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載のテストシナリオ生成装置。
【請求項3】
前記検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、前記条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する受付用画像提示部をさらに備え、
前記検証仕様受付部は、前記検証仕様書受付用画像を介して前記検証仕様書データを取得し、
前記条件取得部は、前記条件受付用画像を介して取得した前記条件仕様書データを用いて前記条件情報を取得する、
ことを特徴とする請求項１に記載のテストシナリオ生成装置。
前記検証仕様受付部は、前記検証仕様書受付用画像を介して前記検証仕様書データを取得し、
前記条件取得部は、前記条件受付用画像を介して取得した前記条件仕様書データを用いて前記条件情報を取得する、
ことを特徴とする請求項１に記載のテストシナリオ生成装置。
【請求項4】
前記検証仕様書データは、前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、手順の処理に係る検証仕様文字列、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列、を保持可能なデータ構造を有するデータであり、
前記テストシナリオ出力部は、
前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、前記テストシナリオを出力する、
ことを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載のテストシナリオ生成装置。
前記テストシナリオ出力部は、
前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、前記テストシナリオを出力する、
ことを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載のテストシナリオ生成装置。
【請求項5】
前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項４に記載のテストシナリオ生成装置。
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項４に記載のテストシナリオ生成装置。
【請求項6】
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
ことを特徴とする検証仕様書生成装置。
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
ことを特徴とする検証仕様書生成装置。
【請求項7】
コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。
【請求項8】
コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記コメント識別記号と検証仕様書データにおける記述するべき位置とを対応付ける情報、および、前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
を備えた検証仕様書生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記コメント識別記号と検証仕様書データにおける記述するべき位置とを対応付ける情報、および、前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
を備えた検証仕様書生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。
【請求項9】
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
前記テストシナリオ出力部により出力された前記テストシナリオを用いて前記半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する検証部と、
を備えたことを特徴とする検証装置。
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
前記テストシナリオ出力部により出力された前記テストシナリオを用いて前記半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する検証部と、
を備えたことを特徴とする検証装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示技術は、半導体集積回路を検証するためのテストシナリオを生成するテストシナリオ生成技術に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体集積回路の開発段階においては、半導体集積回路（ＬＳＩ）の論理設計データを検証する論理設計検証が行われる。論理設計データは、ハードウェア記述言語（ＨＤＬ：Ｈａｒｄｗａｒｅ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ）で記述されたＨＤＬソースコードで表現され、論理設計検証は、ＨＤＬで記述されたテストシナリオを用いて実行される。
従来技術では、論理設計検証において、テスト実施者が受け取った検証仕様書における検証仕様に係る情報に基づいて、テスト実施者がＨＤＬを用いてテストシナリオを記述して変換している。
従来技術では、論理設計検証において、テスト実施者が受け取った検証仕様書における検証仕様に係る情報に基づいて、テスト実施者がＨＤＬを用いてテストシナリオを記述して変換している。
【0003】
ところで、特許文献１には、電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった条件を用いた「半導体集積回路のテスト方法」が開示されている。
具体的には、特許文献１の「半導体集積回路のテスト方法」は、「動作形態毎にそのテスト手順が設定された複数のデータライブラリ」をデータベース化した「標準テストライブラリデータベース」（１）、「テスト対象とされる半導体集積回路の動作電圧や動作周波数などの動作仕様」を格納した「製品動作仕様データベース」（３）、および、「テスタ固有のプログラム言語を用いて記述され」た「プログラムモジュール」を格納した「テストシーケンスデータベース」（４）、といった構成を採用している。
テスト技術者は、半導体集積回路の設計者から指示されたテストライブラリおよびテストの個別条件（電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった条件）を用いて、標準テストライブラリデータベース（１）からテストライブラリを選択し、製品動作仕様データベース（３）からテストの個別条件に対応する電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった値を選択し、選択した情報に基づいてテストシーケンスデータベース（４）からプログラムモジュールを選択して用いることでテストプログラムに変換することができる。
特許文献１の「半導体集積回路のテスト方法」によれば、「半導体集積回路の設計者は、テスト仕様をテストライブラリとテストの個別条件の組合せによりテスト技術者に指示すればよい。テスト技術者はそのテスト仕様をテストプログラムに変換して、所要のテストプログラムを入手することができる。」
具体的には、特許文献１の「半導体集積回路のテスト方法」は、「動作形態毎にそのテスト手順が設定された複数のデータライブラリ」をデータベース化した「標準テストライブラリデータベース」（１）、「テスト対象とされる半導体集積回路の動作電圧や動作周波数などの動作仕様」を格納した「製品動作仕様データベース」（３）、および、「テスタ固有のプログラム言語を用いて記述され」た「プログラムモジュール」を格納した「テストシーケンスデータベース」（４）、といった構成を採用している。
テスト技術者は、半導体集積回路の設計者から指示されたテストライブラリおよびテストの個別条件（電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった条件）を用いて、標準テストライブラリデータベース（１）からテストライブラリを選択し、製品動作仕様データベース（３）からテストの個別条件に対応する電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった値を選択し、選択した情報に基づいてテストシーケンスデータベース（４）からプログラムモジュールを選択して用いることでテストプログラムに変換することができる。
特許文献１の「半導体集積回路のテスト方法」によれば、「半導体集積回路の設計者は、テスト仕様をテストライブラリとテストの個別条件の組合せによりテスト技術者に指示すればよい。テスト技術者はそのテスト仕様をテストプログラムに変換して、所要のテストプログラムを入手することができる。」
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】国際特許公報２００４／０２３５５４号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
従来技術では、論理設計検証において、検証仕様書からテストシナリオに変換する処理がテスト実施者といった人手により実行されているため、長時間を要する傾向があり効率がよくない、といった課題があった。
特許文献１に記載の半導体集積回路のテスト方法は、そもそも、電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった条件を用いたテスト方法であり、かつ、テスト技術者がテスト仕様に従ってデータベースから選択してテストプログラムに変換するものであって、上記論理設計検証に係る課題を解決できない。
特許文献１に記載の半導体集積回路のテスト方法は、そもそも、電圧、電流、インピーダンス、出力負荷といった条件を用いたテスト方法であり、かつ、テスト技術者がテスト仕様に従ってデータベースから選択してテストプログラムに変換するものであって、上記論理設計検証に係る課題を解決できない。
【0006】
本開示は、上記課題を解決するもので、論理設計検証の効率を向上させることを可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本開示のテストシナリオ生成装置は、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様取得部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えた。
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様取得部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えた。
【発明の効果】
【0008】
本開示によれば、論理設計検証の効率を向上させることができる、といった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本開示をより詳細に説明するために、本開示の実施の形態について、添付の図面に従って説明する。
【0011】
実施の形態１．
実施の形態１においては、検証仕様書からテストシナリオを生成する機能を実現するための構成例を説明する。
なお、記載が複雑化するのを避けるため、説明においては、電子データまたは電子情報について「データ」および「情報」との記載を適宜省略する場合がある。
実施の形態１においては、検証仕様書からテストシナリオを生成する機能を実現するための構成例を説明する。
なお、記載が複雑化するのを避けるため、説明においては、電子データまたは電子情報について「データ」および「情報」との記載を適宜省略する場合がある。
【0012】
実施の形態１に係る構成の一例を説明する。
図１は、本開示を実現するための実施の形態１に係る構成の一例を示す図である。
テストシナリオ生成装置１００Ａは、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成して出力する。
検証仕様書データは、検証仕様書の電子データであり、本開示の実施の形態においては、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検索仕様文を含むデータである。
検索仕様文は、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む。識別用記号は、例えば、“、”、（、）、「、」、『、』、といった記号を用いることができる。
検証仕様文字列は、論理設計検証に係る処理を識別可能な文字列を含む。また、検証仕様文字列は、処理に用いられる値をさらに含んでいてもよい。
テストシナリオデータは、半導体集積回路の論理設計を検証するためのテストシナリオが記述された電子データである。テストシナリオは、論理設計検証に係る処理ごとにハードウェア記述言語（ＨＤＬ）を用いて記述されたテストシナリオ記述を含む。
図１に示すテストシナリオ生成装置１００Ａは、検証仕様受付部１１０Ａ、条件取得部１２０Ａ、構成要素抽出部１３０Ａ、および、テストシナリオ出力部１４０Ａ、を含み構成されている。
図１は、本開示を実現するための実施の形態１に係る構成の一例を示す図である。
テストシナリオ生成装置１００Ａは、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成して出力する。
検証仕様書データは、検証仕様書の電子データであり、本開示の実施の形態においては、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検索仕様文を含むデータである。
検索仕様文は、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む。識別用記号は、例えば、“、”、（、）、「、」、『、』、といった記号を用いることができる。
検証仕様文字列は、論理設計検証に係る処理を識別可能な文字列を含む。また、検証仕様文字列は、処理に用いられる値をさらに含んでいてもよい。
テストシナリオデータは、半導体集積回路の論理設計を検証するためのテストシナリオが記述された電子データである。テストシナリオは、論理設計検証に係る処理ごとにハードウェア記述言語（ＨＤＬ）を用いて記述されたテストシナリオ記述を含む。
図１に示すテストシナリオ生成装置１００Ａは、検証仕様受付部１１０Ａ、条件取得部１２０Ａ、構成要素抽出部１３０Ａ、および、テストシナリオ出力部１４０Ａ、を含み構成されている。
【0013】
検証仕様受付部１１０Ａは、検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ａは、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ａは、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する。
【0014】
条件取得部１２０Ａは、条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ａは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ａは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
【0015】
条件情報は、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、を含む。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号“ ”により区切られている検証仕様文字列が、信号名として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号「 」により区切られている検証仕様文字列が、タスクの名称として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において検証仕様文のうち識別用記号（ ）により区切られている検証仕様文字列が、値として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号『 』により区切られている検証仕様文字列が、並列処理、繰り返し処理、または、仮定条件処理における処理の範囲として用いられるといった使用条件であることを示す。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号“ ”により区切られている検証仕様文字列が、信号名として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号「 」により区切られている検証仕様文字列が、タスクの名称として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において検証仕様文のうち識別用記号（ ）により区切られている検証仕様文字列が、値として用いられるといった使用条件であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号『 』により区切られている検証仕様文字列が、並列処理、繰り返し処理、または、仮定条件処理における処理の範囲として用いられるといった使用条件であることを示す。
【0016】
また、条件情報は、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における外部入力の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における内部信号の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における経過時間の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理におけるタスク（ユーザタスク）の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。ユーザタスクは、ユーザが設定したタスクを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における外部出力信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における内部信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理におけるユーザタスクの使用による処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における外部入力の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における内部信号の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における経過時間の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理におけるタスク（ユーザタスク）の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。ユーザタスクは、ユーザが設定したタスクを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における外部出力信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における内部信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理におけるユーザタスクの使用による処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
【0017】
構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様書データと条件情報とを用いて検証仕様情報を出力する。
検証仕様情報は、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む。
すなわち、構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
検証仕様情報は、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む。
すなわち、構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
【0018】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いてテストシナリオを生成して出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
データベースは、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを相互に変換可能に対応付けたデータ構造を有する検証用データベースである。
テストシナリオ用文字列は、例えば、検証に係る処理をハードウェア記述言語（ＨＤＬ）により表現した文字列である。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
データベースは、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを相互に変換可能に対応付けたデータ構造を有する検証用データベースである。
テストシナリオ用文字列は、例えば、検証に係る処理をハードウェア記述言語（ＨＤＬ）により表現した文字列である。
【0019】
図１に示すテストシナリオ出力部１４０Ａは、処理判定部１４１Ａ、検索部１４２Ａ、および、処理記述生成部１４３Ａ、を含み構成されている。
【0020】
処理判定部１４１Ａは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。
具体的には、処理判定部１４１Ａは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
具体的には、処理判定部１４１Ａは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
【0021】
検索部１４２Ａは、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ａは、処理判定部１４１Ａによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ａは、処理判定部１４１Ａによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
【0022】
処理記述生成部１４３Ａは、処理ごとのテストシナリオ記述を生成してテストシナリオを出力する。
処理記述生成部１４３Ａは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ用規則は、テストシナリオ生成装置１００Ａに予め記憶されている情報であってもよいし、テストシナリオ生成装置１００Ａの外部から取得する情報であってもよい。
処理記述生成部１４３Ａは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ用規則は、テストシナリオ生成装置１００Ａに予め記憶されている情報であってもよいし、テストシナリオ生成装置１００Ａの外部から取得する情報であってもよい。
【0023】
テストシナリオ生成装置１００Ａは、上記構成以外に、図示しない制御部、図示しない記憶部、および、図示しない通信部、を含み構成されていてもよい。
図示しない制御部は、テストシナリオ生成装置１００Ａ全体および各構成部に対する制御を行う。図示しない制御部は、例えば外部からの指令に従ってテストシナリオ生成装置１００Ａを起動させる。また、図示しない制御部は、テストシナリオ生成装置１００Ａの状態（動作状態＝起動、シャットダウン、スリープなどの状態）を制御する。
図示しない記憶部は、テストシナリオ生成装置１００Ａに用いられる各データを記憶する。図示しない記憶部は、例えば、テストシナリオ生成装置１００Ａにおける各構成部による出力（出力されたデータ）を記憶し、構成部ごとに要求されたデータを要求元の構成部へ宛てて出力する。
図示しない通信部は、外部の装置との間で通信を行う。例えばテストシナリオ生成装置１００Ａが表示部を備えていない場合、テストシナリオ生成装置１００Ａと例えば表示装置といった外部の装置との間で通信を行う。
図示しない制御部は、テストシナリオ生成装置１００Ａ全体および各構成部に対する制御を行う。図示しない制御部は、例えば外部からの指令に従ってテストシナリオ生成装置１００Ａを起動させる。また、図示しない制御部は、テストシナリオ生成装置１００Ａの状態（動作状態＝起動、シャットダウン、スリープなどの状態）を制御する。
図示しない記憶部は、テストシナリオ生成装置１００Ａに用いられる各データを記憶する。図示しない記憶部は、例えば、テストシナリオ生成装置１００Ａにおける各構成部による出力（出力されたデータ）を記憶し、構成部ごとに要求されたデータを要求元の構成部へ宛てて出力する。
図示しない通信部は、外部の装置との間で通信を行う。例えばテストシナリオ生成装置１００Ａが表示部を備えていない場合、テストシナリオ生成装置１００Ａと例えば表示装置といった外部の装置との間で通信を行う。
【0024】
本開示の実施の形態１に係る構成による処理を説明する。
図２は、本開示の実施の形態１に係る構成によるテストシナリオ生成処理の一例を示すフローチャートである。
図２は、本開示の実施の形態１に係る構成によるテストシナリオ生成処理の一例を示すフローチャートである。
【0025】
テストシナリオ生成装置１００Ａは、テストシナリオ生成処理を開始すると、まず、検証仕様受付処理（ステップＳＴ１１００）を実行する。
検証仕様受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの検証仕様受付部１１０Ａは、検証仕様書データを取得する。検証仕様受付部１１０Ａは、検証仕様書データを構成要素抽出部１３０Ａへ出力する。
検証仕様受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの検証仕様受付部１１０Ａは、検証仕様書データを取得する。検証仕様受付部１１０Ａは、検証仕様書データを構成要素抽出部１３０Ａへ出力する。
【0026】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ａは、条件取得処理（ステップＳＴ１２００）を実行する。
条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの条件取得部１２０Ａは、条件情報を取得する。条件取得部１２０Ａは、条件情報を構成要素抽出部１３０Ａへ出力する。
条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの条件取得部１２０Ａは、条件情報を取得する。条件取得部１２０Ａは、条件情報を構成要素抽出部１３０Ａへ出力する。
【0027】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ａは、構成要素抽出処理（ステップＳＴ１３００）を実行する。
構成要素抽出処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様受付部１１０Ａから検証仕様書データを取得する。構成要素抽出部１３０Ａは、条件取得部１２０Ａから条件情報を取得する。構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様情報をテストシナリオ出力部１４０へ出力する。
構成要素抽出処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａの構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様受付部１１０Ａから検証仕様書データを取得する。構成要素抽出部１３０Ａは、条件取得部１２０Ａから条件情報を取得する。構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。構成要素抽出部１３０Ａは、検証仕様情報をテストシナリオ出力部１４０へ出力する。
【0028】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ａは、テストシナリオ出力処理（ステップＳＴ１４００）を実行する。
テストシナリオ出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａのテストシナリオ出力部１４０Ａは、構成要素抽出部１３０Ａから検証仕様情報を取得する。テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いてテストシナリオを生成して出力する。具体的には、テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
テストシナリオ出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ａのテストシナリオ出力部１４０Ａは、構成要素抽出部１３０Ａから検証仕様情報を取得する。テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いてテストシナリオを生成して出力する。具体的には、テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
【0029】
テストシナリオ生成装置１００Ａは、テストシナリオ出力処理が終了すると、テストシナリオ生成処理を終了する。
【0030】
ここで、テストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を説明する。
図３は、本開示の実施の形態１に係るテストシナリオ生成処理におけるテストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
図３は、本開示の実施の形態１に係るテストシナリオ生成処理におけるテストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
【0031】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、テストシナリオ出力処理を開始すると、ループ処理を開始する（ステップＳＴ１４１０）。
ループ処理におけるループ回数は、検証仕様書データに記述された処理数と同じ数である（ループ回数＝処理数）。
ループ処理におけるループ回数は、検証仕様書データに記述された処理数と同じ数である（ループ回数＝処理数）。
【0032】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、構成要素取得処理（ステップＳＴ１４２０）を実行する。
構成要素取得処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａは、構成要素抽出部１３０Ａから検証仕様情報を取得する。
構成要素取得処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａは、構成要素抽出部１３０Ａから検証仕様情報を取得する。
【0033】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、処理種類判定処理（ステップＳＴ１４３０）を実行する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
【0034】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、処理文字列検索処理（ステップＳＴ１４４０）を実行する。
処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの検索部１４２Ａは、処理判定部１４１Ａによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの検索部１４２Ａは、処理判定部１４１Ａによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
【0035】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、テストシナリオ記述出力処理（ステップＳＴ１４５０）を実行する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
【0036】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、検証仕様書データに含まれる処理数と同じ回数処理を繰り返すと、ループ処理を終了する（ステップＳＴ１４６０）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、テストシナリオ生成処理を終了する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、テストシナリオ生成処理を終了する。
【0037】
さらに詳細な具体例を用いて処理を説明する。
図４は、図３に示す処理のさらに詳細な具体例を示すフローチャートである。
図４は、図３に示すループ処理の内部処理（ステップＳＴ１４２０からステップＳＴ１４５０）に相当する処理を示している。
図４は、図３に示す処理のさらに詳細な具体例を示すフローチャートである。
図４は、図３に示すループ処理の内部処理（ステップＳＴ１４２０からステップＳＴ１４５０）に相当する処理を示している。
【0038】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、テストシナリオ出力処理を開始すると、既に説明した構成要素取得処理（ステップＳＴ１４２０）と同様に、構成要素取得処理（ステップＳＴ１５０１）を実行する。
【0039】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、処理種類判定処理（ステップＳＴ１５０２）を実行する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、手順に係る処理であるか、期待値に係る処理であるか、いずれにも該当しない（非該当）か、を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、まず、手順に係る処理であるかを判定し、次いで期待値に係る処理であるかを判定する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、手順に係る処理であるか、期待値に係る処理であるか、いずれにも該当しない（非該当）か、を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、まず、手順に係る処理であるかを判定し、次いで期待値に係る処理であるかを判定する。
【0040】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、処理判定部１４１Ａが手順に係る処理であると判定した場合、まず、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ１５１０）。コメント文は、検証仕様文にコメント識別記号//を付加した形態である。
【0041】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、処理が外部入力の操作であるかを判定する（ステップＳＴ１５１１）。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａが外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１１“ＮＯ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、後述するステップＳＴ１５１４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａが外部入力の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１１“ＹＥＳ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ１５１２）。テストシナリオ出力部１４０Ａの検索部１４２は、外部信号名を示す検証仕様文字列を用いて、データベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を取得する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“外部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ１５１３）。テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、外部信号テストシナリオ用文字列および検証仕様文字列に含まれる値を用いて、“外部信号＝値；” を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａが外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１１“ＮＯ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、後述するステップＳＴ１５１４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａが外部入力の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１１“ＹＥＳ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ１５１２）。テストシナリオ出力部１４０Ａの検索部１４２は、外部信号名を示す検証仕様文字列を用いて、データベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を取得する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“外部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ１５１３）。テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、外部信号テストシナリオ用文字列および検証仕様文字列に含まれる値を用いて、“外部信号＝値；” を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0042】
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１１“ＮＯ”）、次いで、内部信号の操作であるかを判定する（ステップＳＴ１５１４）。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１４“ＮＯ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、後述するステップＳＴ１５１７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、内部信号の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１４“ＹＥＳ”）、次いで、検索部１４２Ａが内部信号を検索する（ステップＳＴ１５１５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“force 内部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ１５１６）。具体的には、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、テストシナリオ用文字列および検証仕様文字列に含まれる値を用いて、“force 内部信号＝値；” を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１４“ＮＯ”）、テストシナリオ出力部１４０Ａは、後述するステップＳＴ１５１７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、内部信号の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１４“ＹＥＳ”）、次いで、検索部１４２Ａが内部信号を検索する（ステップＳＴ１５１５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“force 内部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ１５１６）。具体的には、テストシナリオ出力部１４０Ａの処理記述生成部１４３Ａは、テストシナリオ用文字列および検証仕様文字列に含まれる値を用いて、“force 内部信号＝値；” を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0043】
テストシナリオ出力部１４０Ａの処理判定部１４１Ａは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５１４“ＮＯ”）、次いで、経過時間の操作であるかを判定する（ステップＳＴ１５１７）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、経過時間の操作でないと判定した場合（ステップＳＴ１５１７“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５２０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、経過時間の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１７“ＹＥＳ”）、次いで、クロックを検索する（ステップＳＴ１５１８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“repeat (値) @ (posedge クロック) ;” を出力する（ステップＳＴ１５１９）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、経過時間の操作でないと判定した場合（ステップＳＴ１５１７“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５２０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、経過時間の操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５１７“ＹＥＳ”）、次いで、クロックを検索する（ステップＳＴ１５１８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“repeat (値) @ (posedge クロック) ;” を出力する（ステップＳＴ１５１９）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５１９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0044】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、経過時間の操作でないと判定した場合（ステップＳＴ１５１７“ＮＯ”）、次いで、タスクの操作であるかを判定する（ステップＳＴ１５２０）
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５２０“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５２０“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ１５２１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ１５２２）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５２２の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５２０“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５２０“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ１５２１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ１５２２）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５２２の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0045】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５０２の処理において、期待値に係る処理であると判定すると、まず、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ１５３０）。
【0046】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値であるかを判定する（ステップＳＴ１５３１）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５３４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ１５３１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ１５３２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“外部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ１５３３）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５３４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ１５３１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ１５３２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“外部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ１５３３）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0047】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３１“ＮＯ”）、次いで、内部信号の期待値であるかを判定する（ステップＳＴ１５３４）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、内部信号の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３４“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５３７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、内部信号の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ１５３４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ１５３５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“内部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ１５３６）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、内部信号の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３４“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５３７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、内部信号の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ１５３４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ１５３５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“内部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ１５３６）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0048】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、内部信号の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３４“ＮＯ”）、次いで、タスクの操作であるかを判定する（ステップＳＴ１５３７）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３７“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５４０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５３７“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ１５３８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ１５３９）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ１５３７“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ１５４０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ１５３７“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ１５３８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ１５３９）。
テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５３９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0049】
テストシナリオ出力部１４０Ａは、手順に係る処理でもなく、期待値に係る処理でもない（非該当）と判定すると、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ１５４０）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５４０の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ１５４０の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0050】
本開示のテストシナリオ生成装置は、以下のように構成した。
テストシナリオ生成装置
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができるテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。
テストシナリオ生成装置
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができるテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。
【0051】
本開示のプログラムは、以下のように構成した。
「コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、プログラムを提供することができる、という効果を奏する。
「コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
を備えたテストシナリオ生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、プログラムを提供することができる、という効果を奏する。
【0052】
本開示のテストシナリオ生成装置は、さらに、以下のように構成した。
「前記テストシナリオ出力部は、
前記検証仕様情報を用いて、前記処理の種類を判定する処理判定部と、
前記処理判定部による判定結果である前記処理の種類に応じて、前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶している前記データベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を出力する、検索部と、
前記検証仕様情報および前記テストシナリオ用文字列を用いて、前記使用条件および前記処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って前記処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含む前記テストシナリオを出力する、処理記述生成部と、
を備えることを特徴とする請求項に記載のテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、多種類の処理に対応した検証を実行できるテストシナリオを出力するテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは後述する検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
「前記テストシナリオ出力部は、
前記検証仕様情報を用いて、前記処理の種類を判定する処理判定部と、
前記処理判定部による判定結果である前記処理の種類に応じて、前記検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶している前記データベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を出力する、検索部と、
前記検証仕様情報および前記テストシナリオ用文字列を用いて、前記使用条件および前記処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って前記処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含む前記テストシナリオを出力する、処理記述生成部と、
を備えることを特徴とする請求項に記載のテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、多種類の処理に対応した検証を実行できるテストシナリオを出力するテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは後述する検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
【0053】
実施の形態２．
実施の形態２は、特に以下について、実施の形態１の構成に加えた形態について説明する。
・検証仕様書データのデータ構造
・検証仕様書の検証仕様文を用いたコメント文を含むテストシナリオデータ
・受付用画像を提示させる構成
・条件情報を含む条件仕様書データを取得する構成
・検証を実行する構成
実施の形態２の説明においては、実施の形態１の説明と同様の説明について、当該説明を適宜省略する。
実施の形態２は、特に以下について、実施の形態１の構成に加えた形態について説明する。
・検証仕様書データのデータ構造
・検証仕様書の検証仕様文を用いたコメント文を含むテストシナリオデータ
・受付用画像を提示させる構成
・条件情報を含む条件仕様書データを取得する構成
・検証を実行する構成
実施の形態２の説明においては、実施の形態１の説明と同様の説明について、当該説明を適宜省略する。
【0054】
実施の形態２に係る構成の一例を説明する。
図５は、本開示を実現するための実施の形態２に係る構成の一例を示す図である。
図６は、本開示のテストシナリオ生成のイメージ図である。
図７は、本開示の検証仕様書の記述例およびテストシナリオの例である。
図８は、本開示における信号名対比表の例である。
図９は、本開示におけるタスク検索条件の例である。
検証装置１０Ｂは、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成し、生成したテストシナリオデータを用いて検証を実行して検証結果を出力する。
図５に示す検証装置１０Ｂは、検証部１５、および、テストシナリオ生成装置１００Ｂ、を含み構成されている。
検証部１５は、テストシナリオを用いて検証を実行する。
検証部１５は、テストシナリオ生成装置１００Ｂのテストシナリオ出力部１４０Ｂにより出力されたテストシナリオを用いて半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する。
図５は、本開示を実現するための実施の形態２に係る構成の一例を示す図である。
図６は、本開示のテストシナリオ生成のイメージ図である。
図７は、本開示の検証仕様書の記述例およびテストシナリオの例である。
図８は、本開示における信号名対比表の例である。
図９は、本開示におけるタスク検索条件の例である。
検証装置１０Ｂは、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成し、生成したテストシナリオデータを用いて検証を実行して検証結果を出力する。
図５に示す検証装置１０Ｂは、検証部１５、および、テストシナリオ生成装置１００Ｂ、を含み構成されている。
検証部１５は、テストシナリオを用いて検証を実行する。
検証部１５は、テストシナリオ生成装置１００Ｂのテストシナリオ出力部１４０Ｂにより出力されたテストシナリオを用いて半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する。
【0055】
テストシナリオ生成装置１００Ｂは、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成して出力する。
【0056】
検証仕様書データは、検証仕様書の電子データであり、本開示の実施の形態においては、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検索仕様文を含むデータである。
検索仕様文は、自然言語を用いて記述された文であり、文中には識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む。識別用記号は、例えば、図６（開発毎の条件・制約＜制約＞）に示すように、“、”、（、）、「、」、『、』、といった記号を用いることができる。識別用記号は、開発毎の条件・制約として設定することができ、テストシナリオ生成装置１００Ｂが例えば条件仕様書データに含まれる条件情報として取得することができる。
検証仕様文字列は、論理設計検証に係る処理を識別可能な文字列を含む。また、検証仕様文字列は、処理に用いられる値をさらに含んでいてもよい。
検証仕様書データは、論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、手順の処理に係る検証仕様文字列、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列、を保持可能なデータ構造を有するデータである。検証仕様書データは、例えば図７に示すような処理順を示す番号１０１０といった値、手順の処理に係る検証仕様文字列１０２０、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列１０３０、をそれぞれ保持可能なデータ構造を有する。具体的には、処理ごとの「番号、手順側の検証仕様構成要素、期待値側の検証仕様構成要素」として、図７においては、検証仕様書の記載１０００において、「処理番号１、“パワーオンリセット”を解除(1’b1)、－」、「処理番号２、－、”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1)」、「処理番号３、“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10)、－」、「処理番号４、－、送信ステータス送信完了になっていることを確認 「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」を示している。
検索仕様文は、自然言語を用いて記述された文であり、文中には識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む。識別用記号は、例えば、図６（開発毎の条件・制約＜制約＞）に示すように、“、”、（、）、「、」、『、』、といった記号を用いることができる。識別用記号は、開発毎の条件・制約として設定することができ、テストシナリオ生成装置１００Ｂが例えば条件仕様書データに含まれる条件情報として取得することができる。
検証仕様文字列は、論理設計検証に係る処理を識別可能な文字列を含む。また、検証仕様文字列は、処理に用いられる値をさらに含んでいてもよい。
検証仕様書データは、論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、手順の処理に係る検証仕様文字列、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列、を保持可能なデータ構造を有するデータである。検証仕様書データは、例えば図７に示すような処理順を示す番号１０１０といった値、手順の処理に係る検証仕様文字列１０２０、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列１０３０、をそれぞれ保持可能なデータ構造を有する。具体的には、処理ごとの「番号、手順側の検証仕様構成要素、期待値側の検証仕様構成要素」として、図７においては、検証仕様書の記載１０００において、「処理番号１、“パワーオンリセット”を解除(1’b1)、－」、「処理番号２、－、”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1)」、「処理番号３、“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10)、－」、「処理番号４、－、送信ステータス送信完了になっていることを確認 「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」を示している。
【0057】
テストシナリオデータは、半導体集積回路の論理設計を検証するためのテストシナリオが記述された電子データである。テストシナリオは、論理設計検証に係る処理ごとにハードウェア記述言語（ＨＤＬ）を用いて記述されたテストシナリオ記述を含む。
図５に示すテストシナリオ生成装置１００Ｂは、検証仕様受付部１１０Ｂ、条件取得部１２０Ｂ、構成要素抽出部１３０Ｂ、テストシナリオ出力部１４０Ｂ、入力用ＵＩ指令部１５０、出力用ＵＩ指令部１６０、および、検証用データベース１７０、を含み構成されている。
図５に示すテストシナリオ生成装置１００Ｂは、検証仕様受付部１１０Ｂ、条件取得部１２０Ｂ、構成要素抽出部１３０Ｂ、テストシナリオ出力部１４０Ｂ、入力用ＵＩ指令部１５０、出力用ＵＩ指令部１６０、および、検証用データベース１７０、を含み構成されている。
【0058】
入力用ＵＩ指令部１５０は、図示しない表示部または表示装置に対して受付用画像を提示するよう指令を行う。入力用ＵＩ指令部１５０は、本開示における受付用画像提示部である。
受付用画像提示部としての入力用ＵＩ指令部１５０は、検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する。
受付用画像提示部としての入力用ＵＩ指令部１５０は、検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する。
【0059】
検証仕様受付部１１０Ｂは、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書受付用画像を介して検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書受付用画像を介して検証仕様書データを取得する。
【0060】
条件取得部１２０Ｂは、条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件受付用画像を介して取得した条件仕様書データを用いて条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件受付用画像を介して取得した条件仕様書データを用いて条件情報を取得する。
【0061】
条件情報は、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、を含む。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号“ ”により区切られている検証仕様文字列が、信号名として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号「 」により区切られている検証仕様文字列が、タスクの名称として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において検証仕様文のうち識別用記号（ ）により区切られている検証仕様文字列が、値として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号『 』により区切られている検証仕様文字列が、並列処理、繰り返し処理、または、仮定条件処理における処理の範囲として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号“ ”により区切られている検証仕様文字列が、信号名として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号「 」により区切られている検証仕様文字列が、タスクの名称として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において検証仕様文のうち識別用記号（ ）により区切られている検証仕様文字列が、値として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
また、当該情報は、例えば、検証仕様文において識別用記号『 』により区切られている検証仕様文字列が、並列処理、繰り返し処理、または、仮定条件処理における処理の範囲として用いられるといった使用条件であることを示す。（図６に示す開発毎の条件・制約における＜制約＞参照）
【0062】
また、条件情報は、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における外部入力の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における内部信号の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における経過時間の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理におけるタスク（ユーザタスク）の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。ユーザタスクは、ユーザが設定したタスクを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における外部出力信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における内部信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理におけるユーザタスクの使用による処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
このような情報を用いることで、検証仕様書データに含まれる検証仕様構成要素（手順構成要素、期待値構成要素）に示される処理の種類を抽出することができる。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、並列処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、繰り返し処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、仮定条件処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における外部入力の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における内部信号の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理における経過時間の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、手順に係る処理におけるタスク（ユーザタスク）の操作といった処理の種類に係る文字列であることを示す。ユーザタスクは、ユーザが設定したタスクを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における外部出力信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理における内部信号の期待値を得るための処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、期待値に係る処理におけるユーザタスクの使用による処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
このような情報を用いることで、検証仕様書データに含まれる検証仕様構成要素（手順構成要素、期待値構成要素）に示される処理の種類を抽出することができる。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、並列処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、繰り返し処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
また、当該情報は、例えば、検証仕様文字列が、仮定条件処理といった処理の種類に係る文字列であることを示す。
【0063】
また、条件情報は、検証仕様文字列と検索用文字列とを対応付ける情報を含んでもよい。検索用文字列は、検証用データベース１７０を参照してテストシナリオ用文字列を検索して取得可能な文字列である。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、信号名対比表である。
また、当該情報は、例えば、タスク検索条件である。
例えば図８に示すように、信号名対比表１１００は、検証仕様文字列である信号名１１１０と検索用文字列である信号名１１２０とを対応付けている。具体的には、信号名対比表１１００は、「パワーオンリセット」と「PREL」とを対応付けており、「出力リセット」と「RELO」とを対応付けており、「エラーＬＥＤ」と「ERRLED」とを対応付けており、「ＷＤＴエラー」と「WDTERR」とを対応付けており、「レディ信号」と「AAA.ready」とを対応付けており、「初期化完了フラグ」と「BBB.initend_flag」とを対応付けており、「１２５ＭＨｚクロック」と「clk125m」とを対応付けている。
また、例えば図９に示すように、タスク検索条件１２００は、検証仕様文字列としてのタスク名１２１０と検索用文字列としてのタスク名１２２０とを対応付けている。具体的には、タスク検索条件１２００は、「リセット解除」と「reset_release;」とを対応付けており、「初期設定」と「initial_set;」とを対応付けており、「ＡＸＩライト３２」と「axi_write32(port,id,addr,data);」とを対応付けており、「ＡＸＩリード３２」と「axi_read32(port,id,addr,data);」とを対応付けており、「ＭＰＵライト」と「MPU_Write(addr,data);」とを対応付けており、「ＭＰＵリード」と「MPU_Read(addr,data);」とを対応付けている。
なお、本実施の形態において、条件情報は、検証仕様文字列と検索用文字列とを対応付ける情報を含んでいるが、検証仕様文字列がデータベースを参照して検索可能な文字列である場合、検証仕様文字列と検索用文字列とを対応付ける情報を含むものに限定されない。よって、本開示において、検証仕様文字列は、検索用文字列を含む。
条件情報に含まれる当該情報は、例えば、信号名対比表である。
また、当該情報は、例えば、タスク検索条件である。
例えば図８に示すように、信号名対比表１１００は、検証仕様文字列である信号名１１１０と検索用文字列である信号名１１２０とを対応付けている。具体的には、信号名対比表１１００は、「パワーオンリセット」と「PREL」とを対応付けており、「出力リセット」と「RELO」とを対応付けており、「エラーＬＥＤ」と「ERRLED」とを対応付けており、「ＷＤＴエラー」と「WDTERR」とを対応付けており、「レディ信号」と「AAA.ready」とを対応付けており、「初期化完了フラグ」と「BBB.initend_flag」とを対応付けており、「１２５ＭＨｚクロック」と「clk125m」とを対応付けている。
また、例えば図９に示すように、タスク検索条件１２００は、検証仕様文字列としてのタスク名１２１０と検索用文字列としてのタスク名１２２０とを対応付けている。具体的には、タスク検索条件１２００は、「リセット解除」と「reset_release;」とを対応付けており、「初期設定」と「initial_set;」とを対応付けており、「ＡＸＩライト３２」と「axi_write32(port,id,addr,data);」とを対応付けており、「ＡＸＩリード３２」と「axi_read32(port,id,addr,data);」とを対応付けており、「ＭＰＵライト」と「MPU_Write(addr,data);」とを対応付けており、「ＭＰＵリード」と「MPU_Read(addr,data);」とを対応付けている。
なお、本実施の形態において、条件情報は、検証仕様文字列と検索用文字列とを対応付ける情報を含んでいるが、検証仕様文字列がデータベースを参照して検索可能な文字列である場合、検証仕様文字列と検索用文字列とを対応付ける情報を含むものに限定されない。よって、本開示において、検証仕様文字列は、検索用文字列を含む。
【0064】
構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様書データと条件情報とを用いて検証仕様情報を出力する。
検証仕様情報は、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む。
すなわち、構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
検証仕様情報は、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む。
すなわち、構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
【0065】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証仕様情報を用いてテストシナリオを生成して出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂにより参照されるデータベースは、検証用データベース１７０である。
検証用データベース１７０は、検証仕様文字列（検索用文字列）とテストシナリオ用文字列とを対応付けて予め記憶している。
テストシナリオ用文字列は、例えば、検証に係る処理をハードウェア記述言語（ＨＤＬ）により表現した文字列である。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂにより参照されるデータベースは、検証用データベース１７０である。
検証用データベース１７０は、検証仕様文字列（検索用文字列）とテストシナリオ用文字列とを対応付けて予め記憶している。
テストシナリオ用文字列は、例えば、検証に係る処理をハードウェア記述言語（ＨＤＬ）により表現した文字列である。
【0066】
また、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、テストシナリオを出力する。
【0067】
また、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証に係る処理に多い特定処理を判定して特定処理を示すテストシナリオ記述を含めることができる。
特定処理は、例えば、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理である。
仮定条件処理は、ある条件を満たす場合に処理を実行する処理である。
特定処理は、例えば、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理である。
仮定条件処理は、ある条件を満たす場合に処理を実行する処理である。
【0068】
図５に示すテストシナリオ出力部１４０Ｂは、処理判定部１４１Ｂ、検索部１４２Ｂ、処理記述生成部１４３Ｂ、特定処理判定部１４４、および、特定処理記述生成部１４５、を含み構成されている。
【0069】
処理判定部１４１Ｂは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。
具体的には、処理判定部１４１Ｂは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
処理判定部１４１Ｂは、特定処理判定部１４４を含み構成されている。
特定処理判定部１４４は、検証仕様情報を用いて、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理といった特定処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
具体的には、処理判定部１４１Ｂは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
処理判定部１４１Ｂは、特定処理判定部１４４を含み構成されている。
特定処理判定部１４４は、検証仕様情報を用いて、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理といった特定処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
【0070】
検索部１４２Ｂは、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ｂは、処理判定部１４１Ｂによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ｂは、処理判定部１４１Ｂによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
【0071】
処理記述生成部Ｂは、処理ごとのテストシナリオ記述を生成してテストシナリオを出力する。
処理記述生成部Ｂは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ用規則は、テストシナリオ生成装置１００Ｂに予め記憶されている情報であってもよいし、テストシナリオ生成装置１００Ｂの外部から取得する情報であってもよい。
処理記述生成部Ｂは、特定処理記述生成部１４５を含み構成されている。
特定処理記述生成部１４５は、特定処理判定部１４４により判定された特定処理の種類に応じて、特定処理に係るテストシナリオ記述を生成する。
処理記述生成部Ｂは、特定処理に係るテストシナリオ記述を含めてテストシナリオを出力する。
処理記述生成部Ｂは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ用規則は、テストシナリオ生成装置１００Ｂに予め記憶されている情報であってもよいし、テストシナリオ生成装置１００Ｂの外部から取得する情報であってもよい。
処理記述生成部Ｂは、特定処理記述生成部１４５を含み構成されている。
特定処理記述生成部１４５は、特定処理判定部１４４により判定された特定処理の種類に応じて、特定処理に係るテストシナリオ記述を生成する。
処理記述生成部Ｂは、特定処理に係るテストシナリオ記述を含めてテストシナリオを出力する。
【0072】
出力用ＵＩ指令部１６０は、テストシナリオ出力部１４０Ｂから出力されたテストシナリオを提示するための提示用画像を表示させるよう指令を行う。
図１０は、本開示の本開示の実施の形態２に係る構成によるテストシナリオ生成処理の一例を示すフローチャートである。
テストシナリオ生成装置１００Ｂは、テストシナリオ生成処理を開始すると、まず、受付画像提示処理（ステップＳＴ２１００）を実行する。
受付画像提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの入力用ＵＩ指令部１５０は、検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する。
図１０は、本開示の本開示の実施の形態２に係る構成によるテストシナリオ生成処理の一例を示すフローチャートである。
テストシナリオ生成装置１００Ｂは、テストシナリオ生成処理を開始すると、まず、受付画像提示処理（ステップＳＴ２１００）を実行する。
受付画像提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの入力用ＵＩ指令部１５０は、検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する。
【0073】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｂは、検証仕様受付処理（ステップＳＴ２２００）を実行する。
検証仕様受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書受付用画像を介して検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書データを構成要素抽出部１３０Ｂへ出力する。
検証仕様受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書受付用画像を介して検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する。
検証仕様受付部１１０Ｂは、検証仕様書データを構成要素抽出部１３０Ｂへ出力する。
【0074】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｂは、条件取得処理（ステップＳＴ２３００）を実行する。
条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの条件取得部１２０Ｂは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件受付用画像を介して取得した条件仕様書データを用いて条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件情報を構成要素抽出部１３０Ｂへ出力する。
条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの条件取得部１２０Ｂは、識別用記号と検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、検証仕様文字列と論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件受付用画像を介して取得した条件仕様書データを用いて条件情報を取得する。
条件取得部１２０Ｂは、条件情報を構成要素抽出部１３０Ｂへ出力する。
【0075】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｂは、構成要素抽出処理（ステップＳＴ２４００）を実行する。
構成要素抽出処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様受付部１１０Ｂから検証仕様書データを取得する。構成要素抽出部１３０Ｂは、条件取得部１２０Ｂから条件情報を取得する。構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
構成要素抽出処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様受付部１１０Ｂから検証仕様書データを取得する。構成要素抽出部１３０Ｂは、条件取得部１２０Ｂから条件情報を取得する。構成要素抽出部１３０Ｂは、検証仕様書データおよび条件情報を用いて、処理ごとに、検証仕様文字列、使用条件、および、処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する。
【0076】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｂは、テストシナリオ出力処理（ステップＳＴ２５００）を実行する。
テストシナリオ出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂのテストシナリオ出力部１４０Ｂは、構成要素抽出部１３０Ｂから検証仕様情報を取得する。テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。このとき、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、テストシナリオを出力する。テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオを出力用ＵＩ指令部１６０へ出力する。
テストシナリオ出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂのテストシナリオ出力部１４０Ｂは、構成要素抽出部１３０Ｂから検証仕様情報を取得する。テストシナリオ出力部１４０Ｂは、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、使用条件および処理の種類に応じて生成されたテストシナリオ、を出力する。このとき、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、テストシナリオを出力する。テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオを出力用ＵＩ指令部１６０へ出力する。
【0077】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｂは、テストシナリオ提示処理（ステップＳＴ２６００）を実行する。
テストシナリオ提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの出力用ＵＩ指令部１６０は、テストシナリオ出力部１４０Ｂから出力されたテストシナリオを提示するための提示用画像を表示させるよう指令を行う。
テストシナリオ提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｂの出力用ＵＩ指令部１６０は、テストシナリオ出力部１４０Ｂから出力されたテストシナリオを提示するための提示用画像を表示させるよう指令を行う。
【0078】
テストシナリオ生成装置１００Ｂは、テストシナリオ出力処理が終了すると、テストシナリオ生成処理を終了する。
【0079】
ここで、テストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を説明する。
図１１は、本開示の実施の形態２に係るテストシナリオ生成処理におけるテストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ出力処理を開始すると、ループ処理を開始する（ステップＳＴ２５１０）。
ループ処理におけるループ回数は、テストシナリオに記述された処理の数と同じ回数である（ループ回数＝処理数）。
図１１は、本開示の実施の形態２に係るテストシナリオ生成処理におけるテストシナリオ出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ出力処理を開始すると、ループ処理を開始する（ステップＳＴ２５１０）。
ループ処理におけるループ回数は、テストシナリオに記述された処理の数と同じ回数である（ループ回数＝処理数）。
【0080】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、構成要素取得処理（ステップＳＴ２５２０）を実行する。
構成要素取得処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、構成要素抽出部１３０Ｂから検証仕様情報を取得する。
構成要素取得処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、構成要素抽出部１３０Ｂから検証仕様情報を取得する。
【0081】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理種類判定処理（ステップＳＴ２５３０）を実行する。
特定処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂにおける特定処理判定部１４４は、検証仕様情報を用いて、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理といった特定処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
特定処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂにおける特定処理判定部１４４は、検証仕様情報を用いて、並列処理、繰り返し処理、および、仮定条件処理といった特定処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
【0082】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理文字列検索処理（ステップＳＴ２５４０）を実行する。
特定処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの検索部１４２Ｂは、特定処理の種類に応じて、検証用データベース１７０を参照して、特定処理のテストシナリオ用文字列を取得する。
特定処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの検索部１４２Ｂは、特定処理の種類に応じて、検証用データベース１７０を参照して、特定処理のテストシナリオ用文字列を取得する。
【0083】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ記述出力処理（ステップＳＴ２５５０）を実行する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理記述生成部１４３Ｂにおける特定処理記述生成部１４５は、特定処理判定部１４４により判定された特定処理の種類に応じて、特定処理に係るテストシナリオ記述を生成する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理記述生成部１４３Ｂにおける特定処理記述生成部１４５は、特定処理判定部１４４により判定された特定処理の種類に応じて、特定処理に係るテストシナリオ記述を生成する。
【0084】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、処理種類判定処理（ステップＳＴ２５６０）を実行する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。
具体的には、処理判定部１４１Ｂは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂは、検証仕様情報を用いて、処理の種類を判定する。
具体的には、処理判定部１４１Ｂは、処理単位の検証仕様情報ごとに、論理設計検証における各処理の種類を判定し、判定結果である処理の種類を出力する。
【0085】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、処理文字列検索処理（ステップＳＴ２５７０）を実行する。
処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの検索部１４２Ｂは、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ｂは、処理判定部１４１Ｂによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
処理文字列検索処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの検索部１４２Ｂは、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
検索部１４２Ｂは、処理判定部１４１Ｂによる判定結果である処理の種類に応じて、検証仕様情報を用いて、検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、検証仕様文字列に対応するテストシナリオ用文字列を出力する。
【0086】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ記述出力処理（ステップＳＴ２５８０）を実行する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理記述生成部１４３Ｂは、処理ごとのテストシナリオ記述を生成してテストシナリオを出力する。
処理記述生成部１４３Ｂは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
テストシナリオ記述出力処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理記述生成部１４３Ｂは、処理ごとのテストシナリオ記述を生成してテストシナリオを出力する。
処理記述生成部１４３Ｂは、検証仕様情報およびテストシナリオ用文字列を用いて、使用条件および処理の種類に応じたテストシナリオ用規則に従って処理ごとにテストシナリオ記述を生成し、当該テストシナリオ記述を含むテストシナリオを出力する。
【0087】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオに記述された処理ごとに全ての処理についてテストシナリオ記述を出力すると、ループ処理を終了する（ステップＳＴ２５９０）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ生成処理を終了する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ生成処理を終了する。
【0088】
さらに詳細な具体例を用いて処理を説明する。
図１２（図１２Ａおよび図１２Ｂ）は、図１１に示す処理のさらに詳細な具体例を示すフローチャートである。
図１２Ａおよび図１２Ｂは、図１１に示すループ処理の内部処理（ステップＳＴ２５２０からステップＳＴ２５８０）に相当する処理を示している。
図１２（図１２Ａおよび図１２Ｂ）は、図１１に示す処理のさらに詳細な具体例を示すフローチャートである。
図１２Ａおよび図１２Ｂは、図１１に示すループ処理の内部処理（ステップＳＴ２５２０からステップＳＴ２５８０）に相当する処理を示している。
【0089】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、テストシナリオ出力処理を開始すると、既に説明した構成要素取得処理（ステップＳＴ２５２０）と同様に、構成要素取得処理（ステップＳＴ２８０１）を実行する。
【0090】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理であるかを判定する（図１２Ａに示すステップＳＴ２８０２）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８０２“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８４０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８０２“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８４０の処理へ移行する。
【0091】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、特定処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８０２“ＹＥＳ”）、次いで、並列処理であるかを判定する（ステップＳＴ２８１０）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８１０“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８２０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８１０“ＹＥＳ”）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８１１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、先頭にfork、末尾にjoinを出力する（ステップＳＴ２８１２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８１３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８１０“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８２０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８１０“ＹＥＳ”）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８１１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、先頭にfork、末尾にjoinを出力する（ステップＳＴ２８１２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、並列処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８１３）。
【0092】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８１３の処理を終了した場合、または、並列処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８１０“ＮＯ”）、次いで、繰り返し処理であるかを判定する（ステップＳＴ２８２０）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、繰り返し処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８２０“ＮＯ”）、次いで、後述するステップＳＴ２８３０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、繰り返し処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８２０“ＹＥＳ”）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８２１）
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、for(loop=0 ; loop<値 ; loop=loop+1) を出力する（ステップＳＴ２８２２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ループ処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８２３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、繰り返し処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８２０“ＮＯ”）、次いで、後述するステップＳＴ２８３０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、繰り返し処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８２０“ＹＥＳ”）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８２１）
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、for(loop=0 ; loop<値 ; loop=loop+1) を出力する（ステップＳＴ２８２２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ループ処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８２３）。
【0093】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８２３の処理を終了した場合、または、繰り返し処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８２０“ＮＯ”）、次いで、仮定条件処理であるかを判定する（ステップＳＴ２８３０）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８３０“ＮＯ”）、次いで、後述するステップＳＴ２８４０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８３０）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８３１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、if(条件)を出力する（ステップＳＴ２８３２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８３３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８３０“ＮＯ”）、次いで、後述するステップＳＴ２８４０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理であると判定した場合（ステップＳＴ２８３０）、次いで、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８３１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、if(条件)を出力する（ステップＳＴ２８３２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、仮定条件処理対象の先頭にbegin、末尾にendを出力する（ステップＳＴ２８３３）。
【0094】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８３３の処理を終了した場合、または、仮定条件処理ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８３０“ＮＯ”）、
処理種類判定処理（図１２Ｂに示すステップＳＴ２８４０）を実行する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂは、手順に係る処理であるか、期待値に係る処理であるか、いずれにも該当しない（非該当）か、を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、まず、手順に係る処理であるかを判定し、次いで期待値に係る処理であるかを判定する。
処理種類判定処理（図１２Ｂに示すステップＳＴ２８４０）を実行する。
処理種類判定処理において、テストシナリオ出力部１４０Ｂの処理判定部１４１Ｂは、手順に係る処理であるか、期待値に係る処理であるか、いずれにも該当しない（非該当）か、を判定する。具体的には、処理判定部１４１Ａは、まず、手順に係る処理であるかを判定し、次いで期待値に係る処理であるかを判定する。
【0095】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８４０の処理において、手順に係る処理であると判定した場合、まず、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８５０）。
【0096】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作であるかを判定する（ステップＳＴ２８５１）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８５４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ２８５２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“外部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ２８５３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８５４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ２８５２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“外部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ２８５３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0097】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部入力の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５１“ＮＯ”）、次いで、内部信号の操作であるかを判定する（ステップＳＴ２８５４）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５４“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８５７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ２８５５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“force 内部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ２８５６）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５６の処理を終了すると、次いで、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５４“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８５７の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ２８５５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“force 内部信号＝値；” を出力する（ステップＳＴ２８５６）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５６の処理を終了すると、次いで、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0098】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８５４“ＮＯ”）、次いで、経過時間の操作であるかを判定する（ステップＳＴ２８５７）。テストシナリオ出力部１４０Ｂは、経過時間の操作でないと判定した場合（ステップＳＴ２８５７“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８６０の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、経過時間の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５７“ＹＥＳ”）、次いで、クロックを検索する（ステップＳＴ２８５８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“repeat (値) @ (posedge クロック) ;” を出力する（ステップＳＴ２８５９）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、経過時間の操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８５７“ＹＥＳ”）、次いで、クロックを検索する（ステップＳＴ２８５８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“repeat (値) @ (posedge クロック) ;” を出力する（ステップＳＴ２８５９）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８５９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0099】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、経過時間の操作でないと判定した場合（ステップＳＴ２８５７“ＮＯ”）、次いで、タスクの操作であるかを判定する（ステップＳＴ２８６０）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８６０“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８６０“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ２８６１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ２８６２）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８６２の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８６０“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８６０“ＹＥＳ”）、次いで、タスクを検索する（ステップＳＴ２８６１）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ２８６２）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８６２の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0100】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８４０の処理において、期待値に係る処理であると判定した場合、まず、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８７０）
【0101】
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値であるかを判定する（ステップＳＴ２８７１）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８７４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ２８７１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ２８７２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“外部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ２８７３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７１“ＮＯ”）、後述するステップＳＴ２８７４の処理へ移行する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ２８７１“ＹＥＳ”）、次いで、外部信号を検索する（ステップＳＴ２８７２）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“外部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ２８７３）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７３の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0102】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、外部出力の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７１“ＮＯ”）、次いで、内部信号の期待値であるかを判定する（ステップＳＴ２８７４）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ２８７４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ２８７５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“内部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ２８７６）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の期待値であると判定した場合（ステップＳＴ２８７４“ＹＥＳ”）、次いで、内部信号を検索する（ステップＳＴ２８７５）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“内部信号_exp = (値)” を出力する（ステップＳＴ２８７６）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７６の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0103】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、内部信号の期待値ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７４“ＮＯ”）、次いで、タスクの操作であるかを判定する（ステップＳＴ２８７７）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７７“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８７７“ＹＥＳ”）、タスクを検索する（ステップＳＴ２８７８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ２８７９）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作ではないと判定した場合（ステップＳＴ２８７７“ＮＯ”）、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、タスクの操作であると判定した場合（ステップＳＴ２８７７“ＹＥＳ”）、タスクを検索する（ステップＳＴ２８７８）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ｂは、“タスク（値）；” を出力する（ステップＳＴ２８７９）。
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、ステップＳＴ２８７９の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0104】
テストシナリオ出力部１４０Ｂは、手順に係る処理でもなく、期待値に係る処理でもない（非該当）と判定すると、“// コメント文” を出力する（ステップＳＴ２８８０）。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ２８８０の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
次いで、テストシナリオ出力部１４０Ａは、ステップＳＴ２８８０の処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0105】
上述した開示により、テストシナリオ生成装置１００は、例えば、図７の検証仕様書の記載１０００を用いてテストシナリオ２０００を出力することができる。
具体的には、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号１、“パワーオンリセット”を解除(1’b1)、－」から、種類＝手順，外部入力信号名＝パワーオンリセット＝PREL、(値)＝(1’b1)、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理１のテストシナリオ記述「//“パワーオンリセット”を解除(1’b1):設定」「PREL = (1’b1);」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号２、－、”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1)」から、種類＝期待値，内部信号名＝出力リセット、(値)＝ (1’b1)、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理２のテストシナリオ記述「//”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1):確認」「RELO_exp = 1’b1」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号３、“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10)、－」から、種類＝手順、経過時間信号名＝125MHzクロック、(値)＝ (10) 、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理３のテストシナリオ記述「//“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10) :設定」「clk125m→repeat (値) @ (posedge clk125m) ;」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号４、－、送信ステータス送信完了になっていることを確認 「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」から、種類＝期待値、タスク＝AXIリード、(値)＝ (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001) といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理４のテストシナリオ記述「//送信ステータス送信完了になっていることを確認「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001):確認」「axi_read32(1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」を生成することができる。
具体的には、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号１、“パワーオンリセット”を解除(1’b1)、－」から、種類＝手順，外部入力信号名＝パワーオンリセット＝PREL、(値)＝(1’b1)、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理１のテストシナリオ記述「//“パワーオンリセット”を解除(1’b1):設定」「PREL = (1’b1);」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号２、－、”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1)」から、種類＝期待値，内部信号名＝出力リセット、(値)＝ (1’b1)、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理２のテストシナリオ記述「//”出力リセット”が解除されたことを確認(1’b1):確認」「RELO_exp = 1’b1」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号３、“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10)、－」から、種類＝手順、経過時間信号名＝125MHzクロック、(値)＝ (10) 、といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理３のテストシナリオ記述「//“125MHzクロック”の10サイクル経過後 (10) :設定」「clk125m→repeat (値) @ (posedge clk125m) ;」を生成することができる。
また、検証仕様書データにおける検証仕様文データ「処理番号４、－、送信ステータス送信完了になっていることを確認 「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」から、種類＝期待値、タスク＝AXIリード、(値)＝ (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001) といった検証仕様情報を抽出し、当該検証仕様情報を用いて、処理４のテストシナリオ記述「//送信ステータス送信完了になっていることを確認「AXIリード」 (1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001):確認」「axi_read32(1’b1, 4’h0,R_TX_STAT,32’h0000_0001)」を生成することができる。
【0106】
本開示の検証装置は、さらに、以下のように構成した。
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
前記テストシナリオ出力部により出力された前記テストシナリオを用いて前記半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する検証部と、
を備えたことを特徴とする検証装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、検証装置を提供することができる、という効果を奏する。
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとの検証仕様文であって、識別用記号により区切られた検証仕様文字列を含む前記検証仕様文、が記述された検証仕様書データを取得する検証仕様受付部と、
前記識別用記号と前記検証仕様文字列の使用に係る使用条件とを対応付ける情報、および、前記検証仕様文字列と前記論理設計検証における処理の種類とを対応付ける情報、を含む条件情報を取得する条件取得部と、
前記検証仕様書データおよび前記条件情報を用いて、前記処理ごとに、前記検証仕様文字列、前記使用条件、および、前記処理の種類、を含む検証仕様情報を出力する構成要素抽出部と、
前記検証仕様情報を用いて、前記検証仕様文字列とテストシナリオ用文字列とを予め記憶しているデータベースを参照し、前記検証仕様文字列に対応する前記テストシナリオ用文字列を含むテストシナリオであって、前記使用条件および前記処理の種類に応じて生成された前記テストシナリオ、を出力するテストシナリオ出力部と、
前記テストシナリオ出力部により出力された前記テストシナリオを用いて前記半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する検証部と、
を備えたことを特徴とする検証装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、検証装置を提供することができる、という効果を奏する。
【0107】
本開示のテストシナリオ生成装置は、以下のように構成した。
「前記検証仕様書データは、前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、手順の処理に係る検証仕様文字列、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列、を保持可能なデータ構造を有するデータであり、
前記テストシナリオ出力部は、
前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、前記テストシナリオを出力する、
ことを特徴とするテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、ユーザによりテストシナリオの内容の確認が容易にできるようなテストシナリオを出力するテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは後述する検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
「前記検証仕様書データは、前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、手順の処理に係る検証仕様文字列、および、期待値の処理に係る検証仕様文字列、を保持可能なデータ構造を有するデータであり、
前記テストシナリオ出力部は、
前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含めて、前記テストシナリオを出力する、
ことを特徴とするテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、ユーザによりテストシナリオの内容の確認が容易にできるようなテストシナリオを出力するテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは後述する検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
【0108】
本開示のテストシナリオ生成装置は、さらに、以下のように構成した。
「前記検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、前記条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する受付用画像提示部をさらに備え、
前記検証仕様受付部は、前記検証仕様書受付用画像を介して前記検証仕様書データを取得し、
前記条件取得部は、前記条件受付用画像を介して取得した前記条件仕様書データを用いて前記条件情報を取得する、
ことを特徴とするテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、テストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
「前記検証仕様書データを受け付けるための画像である検証仕様書受付用画像、および、前記条件情報を含む条件仕様書データを受け付けるための画像である条件受付用画像、を含む受付用画像を出力する受付用画像提示部をさらに備え、
前記検証仕様受付部は、前記検証仕様書受付用画像を介して前記検証仕様書データを取得し、
前記条件取得部は、前記条件受付用画像を介して取得した前記条件仕様書データを用いて前記条件情報を取得する、
ことを特徴とするテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、テストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
【0109】
実施の形態３．
テスト実施者がテストシナリオを用いて検証した結果、検証仕様に誤りがあった場合、テストシナリオを修正して検証を再度実施する。このとき、例えばテスト実施者が検証仕様の修正すべき内容を検証仕様書にフィードバックすることがある。
実施の形態３においては、テストシナリオから検証仕様書を生成する機能を実現する形態を説明する。
テスト実施者がテストシナリオを用いて検証した結果、検証仕様に誤りがあった場合、テストシナリオを修正して検証を再度実施する。このとき、例えばテスト実施者が検証仕様の修正すべき内容を検証仕様書にフィードバックすることがある。
実施の形態３においては、テストシナリオから検証仕様書を生成する機能を実現する形態を説明する。
【0110】
実施の形態３に係る構成の一例を説明する。
図１３は、本開示を実現するための実施の形態３に係る構成の一例を示す図である。
図１４は、本開示における検証仕様文出力部１８２の内部構成の一例を示す図である。
図１５は、本開示の検証仕様書生成のイメージ図である。
図１３は、本開示を実現するための実施の形態３に係る構成の一例を示す図である。
図１４は、本開示における検証仕様文出力部１８２の内部構成の一例を示す図である。
図１５は、本開示の検証仕様書生成のイメージ図である。
【0111】
検証装置１０Ｃは、既に説明した検証装置１０Ｂと同様に、検証仕様書データを取得し、取得した検証仕様書データを用いてテストシナリオデータを生成し、生成したテストシナリオデータを用いて検証を実行して検証結果を出力する。
図１３に示す検証装置１０Ｃは、検証部１５Ｃ、および、テストシナリオ生成装置１００Ｃ、を含み構成されている。
図１３に示す検証装置１０Ｃは、検証部１５Ｃ、および、テストシナリオ生成装置１００Ｃ、を含み構成されている。
【0112】
検証部１５Ｃは、既に説明した検証部１５と同様に、テストシナリオ生成装置１００Ｃのテストシナリオ出力部１４０Ｃにより出力されたテストシナリオを用いて半導体集積回路の論理設計検証を実行して検証結果を出力する。
【0113】
テストシナリオ生成装置１００Ｃは、既に説明したテストシナリオ生成装置１００Ｂの機能に加え、テストシナリオから検証仕様書を生成するように構成されている。
図１３に示すテストシナリオ生成装置１００Ｃは、検証仕様受付部１１０Ｃ、条件取得部１２０Ｃ、構成要素抽出部１３０Ｃ、テストシナリオ出力部１４０Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０Ｃ、検証用データベース１７０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文抽出部、および、検証仕様書出力部１８３、を含み構成されている。
図１３に示すテストシナリオ生成装置１００Ｃは、検証仕様受付部１１０Ｃ、条件取得部１２０Ｃ、構成要素抽出部１３０Ｃ、テストシナリオ出力部１４０Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０Ｃ、検証用データベース１７０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文抽出部、および、検証仕様書出力部１８３、を含み構成されている。
【0114】
検証仕様受付部１１０Ｃ、条件取得部Ｃ、構成要素抽出部１３０Ｃ、テストシナリオ出力部１４０Ｃ、および、検証用データベース１７０Ｃ、それぞれの構成は、既に説明した、検証仕様受付部１１０Ａ，１１０Ｂ、条件取得部Ａ，１２０Ｂ、構成要素抽出部１３０Ａ，１３０Ｂ、テストシナリオ出力部１４０Ａ，１４０Ｂ、および、検証用データベース１７０、と同様であるため、ここでの詳細な説明は省略する。
【0115】
図１３に示すテストシナリオ生成装置１００Ｃは、検証仕様書を用いてテストシナリオを生成する機能を実現するための構成に加えて、テストシナリオから検証仕様書を生成する機能を実現するための構成を備えたものであるが、検証仕様書を用いてテストシナリオを生成する機能を有さないように構成してもよい。このように構成した場合、テストシナリオ生成装置１００Ｃは、検証仕様書生成装置である。
【0116】
入力用ＵＩ指令部１５０Ｃは、既に説明した入力用ＵＩ指令部１５０と同様の機能を有する。
また、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃは、テストシナリオデータを受け付ける受付用画像を提示し、受付画像を介してテストシナリオデータを受け付けると、シナリオデータをテストシナリオ受付部１８０へ出力する。
また、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃは、テストシナリオデータを受け付ける受付用画像を提示し、受付画像を介してテストシナリオデータを受け付けると、シナリオデータをテストシナリオ受付部１８０へ出力する。
【0117】
テストシナリオ受付部１８０は、外部からテストシナリオを取得する。
テストシナリオ受付部１８０は、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する。
テストシナリオ受付部１８０は、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する。
【0118】
第２条件取得部（条件取得部）１８１は、検証仕様書において検証仕様文を記述するべき領域を示す条件情報（第２条件情報）を取得する。
第２条件取得部は、論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する。第２条件情報は、例えば図１５に示すように、手順に係る処理、期待値に係る処理といった処理の種類と、図７に示す検証仕様書の記載１０００における手順の処理に係る検証仕様文記載領域１０２０、および、期待値の処理に係る検証仕様文記載領域１０３０の領域とを対応付ける。
第２条件取得部は、論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する。第２条件情報は、例えば図１５に示すように、手順に係る処理、期待値に係る処理といった処理の種類と、図７に示す検証仕様書の記載１０００における手順の処理に係る検証仕様文記載領域１０２０、および、期待値の処理に係る検証仕様文記載領域１０３０の領域とを対応付ける。
【0119】
検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオに含まれるコメント文を用いて処理ごとの検証仕様文を出力する。
検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオ受付部１８０により取得されたテストシナリオから、コメント識別記号に識別されるコメント文を、論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する。
検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオ受付部１８０により取得されたテストシナリオから、コメント識別記号に識別されるコメント文を、論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する。
【0120】
検証仕様書出力部１８３は、検証仕様文出力部１８２により出力された検証仕様文を、第２条件取得部により取得された第２条件情報に示される領域に記述した検証仕様書データを出力する。
【0121】
図１４に示す検証仕様文出力部１８２は、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、を含み構成されている。
【0122】
構成要素抽出部１３０は、テストシナリオデータからコメント文を抽出する。
具体的には、構成要素抽出部１３０は、テストシナリオデータに含まれるコメント識別記号に基づいてコメント文を識別し、コメント文を抽出する。
具体的には、構成要素抽出部１３０は、テストシナリオデータに含まれるコメント識別記号に基づいてコメント文を識別し、コメント文を抽出する。
【0123】
検証仕様文生成部１８７は、コメント文および処理の種類を用いて処理ごとの検証仕様文を生成して出力する。
【0124】
処理判定部１８８は、コメント文を用いて処理の種類を判定する。処理判定部１８８は、判定結果である処理の種類を示す情報を出力する。
【0125】
検証仕様文書き込み部１８９は、第２条件情報および検証仕様文を用いて、第２条件情報に含まれる検証仕様書における領域に検証仕様文を書き込む。
【0126】
出力用ＵＩ指令部１６０Ｃは、既に説明した出力用ＵＩ指令部１６０と同様の機能を有する。
また、出力用ＵＩ指令部１６０Ｃは、検証仕様書出力部１８３から出力された検証仕様書データを提示するための提示用画像を表示させるよう指令を行う。
また、出力用ＵＩ指令部１６０Ｃは、検証仕様書出力部１８３から出力された検証仕様書データを提示するための提示用画像を表示させるよう指令を行う。
【0127】
本開示の検証仕様書生成処理の一例を説明する。
検証仕様書を用いてテストシナリオを生成する機能を実現するための構成による処理は、既に説明した処理と同様であるため、ここでの処理の説明は省略する。
ここでは、テストシナリオから検証仕様書を生成する機能を実現する構成による検証仕様書生成処理の一例を説明する。
検証仕様書を用いてテストシナリオを生成する機能を実現するための構成による処理は、既に説明した処理と同様であるため、ここでの処理の説明は省略する。
ここでは、テストシナリオから検証仕様書を生成する機能を実現する構成による検証仕様書生成処理の一例を説明する。
【0128】
図１６は、本開示の検証仕様書生成処理の一例を示すフローチャートである。
テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様書生成処理を開始すると、まず、受付画像提示処理（ステップＳＴ３１００）を実行する。
受付画像提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の入力用ＵＩ指令部１５０Ｃは、テストシナリオデータを受け付ける受付画像を提示する。
テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様書生成処理を開始すると、まず、受付画像提示処理（ステップＳＴ３１００）を実行する。
受付画像提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の入力用ＵＩ指令部１５０Ｃは、テストシナリオデータを受け付ける受付画像を提示する。
【0129】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、テストシナリオ受付処理（ステップＳＴ３２００）を実行する。
テストシナリオ受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）のテストシナリオ受付部１８０は、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃを介してテストシナリオデータを取得する。
テストシナリオ受付処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）のテストシナリオ受付部１８０は、入力用ＵＩ指令部１５０Ｃを介してテストシナリオデータを取得する。
【0130】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、第２条件取得処理（ステップＳＴ３３００）を実行する。
第２条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の第２条件取得部（条件取得部）１８１は、検証仕様書において検証仕様文を記述するべき領域を示す条件情報（第２条件情報）を取得する。
第２条件取得処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の第２条件取得部（条件取得部）１８１は、検証仕様書において検証仕様文を記述するべき領域を示す条件情報（第２条件情報）を取得する。
【0131】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、ループ処理を開始する（ステップＳＴ３４００）。
【0132】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様文出力処理（ステップＳＴ３５００）を実行する。
検証仕様文出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオに含まれるコメント文を用いて処理ごとの検証仕様文を出力する。
検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオ受付部１８０により取得されたテストシナリオから、コメント識別記号に識別されるコメント文を、論理設計検証における処理ごと の検証仕様文として出力する。
検証仕様文出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオに含まれるコメント文を用いて処理ごとの検証仕様文を出力する。
検証仕様文出力部１８２は、テストシナリオ受付部１８０により取得されたテストシナリオから、コメント識別記号に識別されるコメント文を、論理設計検証における処理ごと の検証仕様文として出力する。
【0133】
ここで、検証仕様文出力部１８２による詳細な処理の例について説明する。
図１７は、本開示の検証仕様書生成処理における検証仕様文出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
図１７は、本開示の検証仕様書生成処理における検証仕様文出力処理の具体的な処理の一例を示すフローチャートである。
【0134】
検証仕様文出力部１８２は、検証仕様文出力処理を開始すると、まず、コメント文抽出処理（ステップＳＴ３５１０）を実行する。
コメント文抽出処理において、検証仕様文出力部１８２の構成要素抽出部１３０は、コメント識別記号に基づいてコメント文を識別し、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文を抽出する。構成要素抽出部１３０は、コメント文を検証仕様文出力部１８２へ出力する。
コメント文抽出処理において、検証仕様文出力部１８２の構成要素抽出部１３０は、コメント識別記号に基づいてコメント文を識別し、半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文を抽出する。構成要素抽出部１３０は、コメント文を検証仕様文出力部１８２へ出力する。
【0135】
次いで、検証仕様文出力部１８２は、処理種類判定処理（ステップＳＴ３５２０）を実行する。
処理種類判定処理において、処理判定部１８８は、構成要素抽出部１３０からコメント文を取得する。処理判定部１８８は、コメント文を用いて処理の種類を判定する。処理判定部１８８は、判定結果である処理の種類を示す情報を出力する。
処理種類判定処理において、処理判定部１８８は、構成要素抽出部１３０からコメント文を取得する。処理判定部１８８は、コメント文を用いて処理の種類を判定する。処理判定部１８８は、判定結果である処理の種類を示す情報を出力する。
【0136】
次いで、検証仕様文出力部１８２は、検証仕様文生成処理（ステップＳＴ３５３０）を実行する。
検証仕様文生成処理において、検証仕様文生成部１８７は、構成要素抽出部１３０からコメント文を取得する。また、検証仕様文生成部１８７は、処理判定部１８８から処理の種類を示す情報を取得する。検証仕様文生成部１８７は、コメント文および処理の種類を用いて処理ごとの検証仕様文を生成して出力する。
検証仕様文生成処理において、検証仕様文生成部１８７は、構成要素抽出部１３０からコメント文を取得する。また、検証仕様文生成部１８７は、処理判定部１８８から処理の種類を示す情報を取得する。検証仕様文生成部１８７は、コメント文および処理の種類を用いて処理ごとの検証仕様文を生成して出力する。
【0137】
次いで、検証仕様文出力部１８２は、検証仕様文書き込み処理（ステップＳＴ３５４０）を実行する。
検証仕様文書き込み処理において、検証仕様文書き込み部は、第２条件取得部から第２条件情報を取得する。また、検証仕様文書き込み部は、検証仕様文生成部１８７から検証仕様文を取得する。検証仕様文書き込み部は、第２条件情報および検証仕様文を用いて、第２条件情報に示される検証仕様書の領域に検証仕様文を書き込む。
検証仕様文書き込み処理において、検証仕様文書き込み部は、第２条件取得部から第２条件情報を取得する。また、検証仕様文書き込み部は、検証仕様文生成部１８７から検証仕様文を取得する。検証仕様文書き込み部は、第２条件情報および検証仕様文を用いて、第２条件情報に示される検証仕様書の領域に検証仕様文を書き込む。
【0138】
検証仕様文出力部１８２は、検証仕様文書き込み処理を終了すると、ループ処理の内部処理である一連の処理を終了する。
【0139】
図１６の説明に戻る。
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、テストシナリオデータに含まれる処理の数のループ処理を繰り返すと、ループ処理を終了する（ステップＳＴ３６００）。
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、テストシナリオデータに含まれる処理の数のループ処理を繰り返すと、ループ処理を終了する（ステップＳＴ３６００）。
【0140】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様書出力処理（ステップＳＴ３７００）を実行する。
検証仕様書出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の検証仕様書出力部１８３は、検証仕様書データを出力する。
検証仕様書出力処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の検証仕様書出力部１８３は、検証仕様書データを出力する。
【0141】
次いで、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様書提示処理（ステップＳＴ３８００）を実行する。
検証仕様書提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の出力用ＵＩ指令部１６０Ｃは、検証仕様書データを取得すると、ユーザへ検証仕様書データを提示する画像を出力する。
検証仕様書提示処理において、テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）の出力用ＵＩ指令部１６０Ｃは、検証仕様書データを取得すると、ユーザへ検証仕様書データを提示する画像を出力する。
【0142】
テストシナリオ生成装置１００Ｃ（検証仕様書生成装置）は、検証仕様書提示処理を終了すると、検証仕様書生成処理を終了する。
【0143】
本開示のテストシナリオ生成装置は、以下のように構成した。
「前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項４に記載のテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、テストシナリオから検証仕様書を生成できるので、設計部門へのフィードバックが容易になるテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
「前記論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、前記識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項４に記載のテストシナリオ生成装置。」
これにより、本開示は、テストシナリオから検証仕様書を生成できるので、設計部門へのフィードバックが容易になるテストシナリオ生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
【0144】
本開示の検索仕様書生成装置は、以下のように構成した。
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
ことを特徴とする検証仕様書生成装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、検証仕様書生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
「半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された前記第２条件情報に示される前記領域に記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
ことを特徴とする検証仕様書生成装置。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、検証仕様書生成装置を提供することができる、という効果を奏する。さらに、本開示は、上記構成を上記プログラムまたは上記検証装置に適用することにより、上記効果と同様の効果を奏する。
【0145】
本開示のプログラムは、以下のように構成した。
「コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された第２条件情報に含まれる情報に従って記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
を備えた検証仕様書生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、
プログラムを提供することができる、という効果を奏する。
「コンピュータを、
半導体集積回路の論理設計検証における処理ごとに、処理順を示す値、識別用記号により区切られた検証仕様文字列、および、前記論理設計検証における処理の種類、を含むコメント文と、前記コメント文に付加されたコメント識別記号とを含むテストシナリオを取得する、テストシナリオ受付部と、
前記論理設計検証における処理の種類と検証仕様書データにおいて検証仕様文を記述するべき領域とを対応付ける情報、を含む第２条件情報を取得する、第２条件取得部と、
前記テストシナリオ受付部により取得された前記テストシナリオから、前記コメント識別記号に識別されるコメント文を、前記論理設計検証における処理ごとの検証仕様文として出力する検証仕様文出力部と、
前記検証仕様文出力部により出力された検証仕様文を、前記第２条件取得部により取得された第２条件情報に含まれる情報に従って記述した検証仕様書データを出力する、検証仕様書出力部と、
を備えた検証仕様書生成装置として動作させることを特徴とするプログラム。」
これにより、本開示は、論理設計検証の効率を向上させることができる、
プログラムを提供することができる、という効果を奏する。
【0146】
ここで、本開示の機能を実現するハードウェア構成を説明する。
図１８は、本開示の機能を実現するためのハードウェア構成の第１の例を示す図である。
図１９は、本開示の機能を実現するためのハードウェア構成の第２の例を示す図である。
本開示の検証装置１０（１０Ｂ，１０Ｃ）、テストシナリオ生成装置１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ）、検証仕様書生成装置、はそれぞれ、図１８または図１９に示されるようなハードウェアにより実現される。
図１８は、本開示の機能を実現するためのハードウェア構成の第１の例を示す図である。
図１９は、本開示の機能を実現するためのハードウェア構成の第２の例を示す図である。
本開示の検証装置１０（１０Ｂ，１０Ｃ）、テストシナリオ生成装置１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ）、検証仕様書生成装置、はそれぞれ、図１８または図１９に示されるようなハードウェアにより実現される。
【0147】
検証装置１０（１０Ｂ，１０Ｃ）、テストシナリオ生成装置１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ）、または、検証仕様書生成装置、は、図１８に示すように、例えばプロセッサ１０００１、メモリ１０００２、および、通信回路１０００４により構成される。
プロセッサ１０００１、メモリ１０００２は、例えば、コンピュータに搭載されているものである。
メモリ１０００２には、当該コンピュータを、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部として機能させるためのプログラムが記憶されている。メモリ１０００２に記憶されたプログラムをプロセッサ１０００１が読み出して実行することにより、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部の機能が実現される。
また、メモリ１０００２または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。また、検証装置１０（１０Ｂ，１０Ｃ）、テストシナリオ生成装置１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ）、または、検証仕様書生成装置、が、検証用データベース１７０，１７０Ｂ，１７０Ｃ、を備えている場合、検証用データベース１７０，１７０Ｂ，１７０Ｃは、メモリ１０００２または図示しない他のメモリにより実現される。
また、通信回路１０００４により、図示しない通信部が実現される。
プロセッサ１０００１は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ又はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）などを用いたものである。
メモリ１０００２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
プロセッサ１０００１とメモリ１０００２または通信回路１０００４は、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、プロセッサ１０００１とメモリ１０００２と通信回路１０００４とは、入出力インタフェース１０００３を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
プロセッサ１０００１、メモリ１０００２は、例えば、コンピュータに搭載されているものである。
メモリ１０００２には、当該コンピュータを、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部として機能させるためのプログラムが記憶されている。メモリ１０００２に記憶されたプログラムをプロセッサ１０００１が読み出して実行することにより、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部の機能が実現される。
また、メモリ１０００２または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。また、検証装置１０（１０Ｂ，１０Ｃ）、テストシナリオ生成装置１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ）、または、検証仕様書生成装置、が、検証用データベース１７０，１７０Ｂ，１７０Ｃ、を備えている場合、検証用データベース１７０，１７０Ｂ，１７０Ｃは、メモリ１０００２または図示しない他のメモリにより実現される。
また、通信回路１０００４により、図示しない通信部が実現される。
プロセッサ１０００１は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ又はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）などを用いたものである。
メモリ１０００２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
プロセッサ１０００１とメモリ１０００２または通信回路１０００４は、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、プロセッサ１０００１とメモリ１０００２と通信回路１０００４とは、入出力インタフェース１０００３を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
【0148】
または、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部の機能は、図１９に示すように、専用の処理回路２０００１により実現されるものであっても良い。
また、通信回路１０００４により、図示しない通信部が実現される。
処理回路２０００１は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）またはシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ－Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）等を用いたものである。
また、メモリ２０００２または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。
メモリ２０００２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
また、通信回路２０００４により、図示しない通信部が実現される。
処理回路２０００１とメモリ２０００２または通信回路２０００４とは、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、処理回路２０００１とメモリ２０００２と通信回路２０００４とは、入出力インタフェース２０００３を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
なお、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部の機能をそれぞれ別の処理回路で実現しても良いし，まとめて処理回路で実現しても良い。
また、通信回路１０００４により、図示しない通信部が実現される。
処理回路２０００１は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）またはシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ－Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）等を用いたものである。
また、メモリ２０００２または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。
メモリ２０００２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
また、通信回路２０００４により、図示しない通信部が実現される。
処理回路２０００１とメモリ２０００２または通信回路２０００４とは、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、処理回路２０００１とメモリ２０００２と通信回路２０００４とは、入出力インタフェース２０００３を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
なお、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、および、図示しない制御部の機能をそれぞれ別の処理回路で実現しても良いし，まとめて処理回路で実現しても良い。
【0149】
または、検証部１５，１５Ｃ、検証仕様受付部１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ）、条件取得部１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ）、構成要素抽出部１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ）、テストシナリオ出力部１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ）、処理判定部１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ）、検索部１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ）、処理記述生成部１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ）、特定処理判定部１４４，１４４Ｃ、特定処理記述生成部１４５，１４５Ｃ、入力用ＵＩ指令部１５０，１５０Ｃ、出力用ＵＩ指令部１６０，１６０Ｃ、テストシナリオ受付部１８０、第２条件取得部（条件取得部）１８１、検証仕様文出力部１８２、検証仕様書出力部１８３、構成要素抽出部１８６、検証仕様文生成部１８７、処理判定部１８８、検証仕様文書き込み部１８９、
および、図示しない制御部のうちの一部の機能がプロセッサ１０００１およびメモリ１０００２により実現され、かつ、残りの機能が処理回路２０００１により実現されるものであっても良い。
および、図示しない制御部のうちの一部の機能がプロセッサ１０００１およびメモリ１０００２により実現され、かつ、残りの機能が処理回路２０００１により実現されるものであっても良い。
【0150】
なお、本開示は、各実施の形態の自由な組み合わせ、各実施の形態の任意の構成要素の変形、または各実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
【0151】
本開示の技術は、半導体集積回路の論理設計検証の効率を向上させることができるので、半導体集積回路の論理設計検証に係る技術に用いるのに適している。
【符号の説明】
【0152】
１０（１０Ｂ，１０Ｃ） 検証装置、１５，１５Ｃ 検証部、１００（１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ） テストシナリオ生成装置、１１０（１１０Ａ，１１０Ｂ，１１０Ｃ） 検証仕様受付部、１２０（１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃ） 条件取得部、１３０（１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ） 構成要素抽出部、１４０（１４０Ａ，１４０Ｂ，１４０Ｃ） テストシナリオ出力部、１４１（１４１Ａ，１４１Ｂ，１４１Ｃ） 処理判定部、１４２（１４２Ａ，１４２Ｂ，１４２Ｃ） 検索部、１４３（１４３Ａ，１４３Ｂ，１４３Ｃ） 処理記述生成部、１４４，１４４Ｃ 特定処理判定部、１４５，１４５Ｃ 特定処理記述生成部、１５０，１５０Ｃ 入力用ＵＩ指令部、１６０，１６０Ｃ 出力用ＵＩ指令部、１７０，１７０Ｃ 検証用データベース、１８０ テストシナリオ受付部、１８１ 第２条件取得部（条件取得部）、１８２ 検証仕様文出力部、１８３ 検証仕様書出力部、１８６ 構成要素抽出部、１８７ 検証仕様文生成部、１８８ 処理判定部、１８９ 検証仕様文書き込み部、１０００ 検証仕様書記載例、１０１０ 番号（処理順を示す値）、１０２０ 手順に係る検証仕様文記載領域、１０３０ 期待値に係る検証仕様文記載領域、１１００ 信号名対比表、１１１０ 信号名文字列、１１２０ テストシナリオ用文字列、１２００ タスク検索条件、１２１０ タスク名文字列、１２２０ テストシナリオ用文字列。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12A】
【図12B】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】