特開2024-16646IP Force 特許公報全文掲載

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この発明は、複数の検査領域のそれぞれにおいて対象物の状態を判定する一次判定によって不良と判定された対象物に対して、さらに当該対象物の状態を判定する二次判定を実行することで、対象物の状態を的確に判定する技術

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】対象物に対する二次判定を機械により実行する際の過判定の発生を抑制する。
【解決手段】複数の検査領域Ａ（Ｎ）のうち一次判定で不良と判定された不良領域Ａｎを示す一次判定結果Ｒが取得される（ステップＳ２０１）。一次判定結果Ｒが示す不良領域Ａｎにおける半田Ｓ（対象物）の半田画像Ｉｓに含まれる異常を示す異常度、すなわち不良領域画像Ｉｎの異常度が算出されて、当該異常度に基づき、半田Ｓの状態が判定される（二次判定）。
【選択図】図５

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、ユーザによって実行されていた二次判定を、機械によって実行することで、省人化を図ることが考えられる。例えば特許文献１には、対象物の画像に含まれる画素の異常に基づき対象物の状態を判定するニューラルネットワークが提案されている。しかしながら、外観検査装置による一次判定を補完する二次判定を機械により実行するにあたっては、次のような問題があった。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る二次外観検査装置は、互いに異なる複数の検査領域のそれぞれについて当該検査領域における対象物の状態を判定する一次判定において、複数の検査領域のうち不良と判定された不良領域を示す不良領域情報を取得する情報取得部と、不良領域情報が示す不良領域における対象物の画像に含まれる異常を示す不良領域異常データを算出する異常データ算出部と、不良領域異常データに基づき、対象物の状態を判定する二次判定・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

以上のように、本発明によれば、複数の検査領域のそれぞれにおいて対象物の状態を判定する一次判定によって不良と判定された対象物に対して、さらに当該対象物の状態を判定する二次判定を機械により実行するにあたり、過判定の発生を抑制することが可能となる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明に係る外観検査システムの一例を示すブロック図。
【図2】 図１の一次外観検査装置で実行される一次判定の一例を示すフローチャート。
【図3】 図２の一次判定で実行される動作を模式的に示す図。
【図4】 本発明に係る二次外観検査装置の第１例を示すブロック図。
【図5】 図４の二次外観検査装置の第１例によって実行される二次判定を示すフローチャート。
【図6】 図５の二次判定で実行される動作を模式的に示す図。
【図7】 本発明に係る二次外観検査装置の第２例を示すブロック図。
【図8】 図７の二次外観検査装置の第２例によって実行される二次判定を示すフローチャート。

選択図 図5出願人が指定した本件の代表的な図

１…外観検査システム ２…一次外観検査装置 ４…二次外観検査装置 ４１１…情報取得部 ４１２…画像取得部（異常データ算出部） ４１３…データ算出部（異常データ算出部） ４１４…自動判定実行部（二次判定実行部） Ａ（Ｎ）…検査領域 Ａｎ…不良領域 Ｉｓ…半田画像 Ｍ（Ｎ）…機外学習モデル（異常データ算出部） Ｍｃ…機外学習モデル（異常データ算出部） Ｒ…一次判定結果（不良領域情報） Ｓ…半田（対象物）

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