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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024167007
(43)【公開日】2024-11-29
(54)【発明の名称】ＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法
(51)【国際特許分類】
G01N 27/62 20210101AFI20241122BHJP
H01J 49/16 20060101ALI20241122BHJP
H01J 49/00 20060101ALI20241122BHJP
H01J 49/04 20060101ALI20241122BHJP
【ＦＩ】
G01N27/62 F
G01N27/62 G
H01J49/16 400
H01J49/00 310
H01J49/00 360
H01J49/04 180
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023083513
(22)【出願日】2023-05-19
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】100108523
【弁理士】
【氏名又は名称】中川 雅博
(74)【代理人】
【識別番号】100125704
【弁理士】
【氏名又は名称】坂根 剛
(74)【代理人】
【識別番号】100187931
【弁理士】
【氏名又は名称】澤村 英幸
(72)【発明者】
【氏名】花井 俊哉
【テーマコード（参考）】
2G041
【Ｆターム（参考）】
2G041CA01
2G041DA04
2G041GA08
(57)【要約】
【課題】試料の位置を正確に特定することが可能なＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法を提供する。
【解決手段】ＭＡＬＤＩ質量分析装置３００は、サンプルプレート、画像取得部４、エッジ処理部７および合成部８を含み、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行う。サンプルプレートは、試料を保持する。画像取得部４は、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する。エッジ処理部７は、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を画像取得部４により取得された各画像データに実行する。合成部８は、エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する。
【選択図】図４
【解決手段】ＭＡＬＤＩ質量分析装置３００は、サンプルプレート、画像取得部４、エッジ処理部７および合成部８を含み、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行う。サンプルプレートは、試料を保持する。画像取得部４は、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する。エッジ処理部７は、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を画像取得部４により取得された各画像データに実行する。合成部８は、エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する。
【選択図】図４
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析装置であって、
試料を保持するサンプルプレートと、
複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備える、ＭＡＬＤＩ質量分析装置。
試料を保持するサンプルプレートと、
複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備える、ＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項2】
隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行する平滑処理部をさらに備え、
前記エッジ処理部は、前記平滑処理が実行された各画像データに前記エッジ処理を実行する、請求項１記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
前記エッジ処理部は、前記平滑処理が実行された各画像データに前記エッジ処理を実行する、請求項１記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項3】
前記サンプルプレートには、試料の保持領域を区画するウェルが形成され、
前記ＭＡＬＤＩ質量分析装置は、画像の前記ウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理を、前記エッジ処理が実行される前の各画像データまたは前記エッジ処理が実行された後の各画像データに実行するマスク処理部をさらに備え、
前記合成部は、前記エッジ処理および前記マスク処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成する、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
前記ＭＡＬＤＩ質量分析装置は、画像の前記ウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理を、前記エッジ処理が実行される前の各画像データまたは前記エッジ処理が実行された後の各画像データに実行するマスク処理部をさらに備え、
前記合成部は、前記エッジ処理および前記マスク処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成する、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項4】
前記合成部により生成された合成画像データに基づいて試料のイオン化用光の照射位置を決定する照射位置決定部をさらに備える、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項5】
前記照射位置決定部は、前記合成部により生成された合成画像データにより示されるエッジ部分の画像の内側に対応する前記サンプルプレートの領域を前記照射位置として決定する、請求項４記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項6】
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記カメラによる撮影時に前記照明部と前記サンプルプレートとの相対位置が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記カメラによる撮影時に前記照明部と前記サンプルプレートとの相対位置が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項7】
前記サンプルプレートが載置され、移動可能に構成された可動ステージと、
前記カメラによる撮影時の前記サンプルプレートの位置を記憶する位置記憶部とをさらに備え、
前記合成部は、前記位置記憶部により記憶された前記サンプルプレートの位置にさらに基づいて合成画像データを生成する、請求項６記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
前記カメラによる撮影時の前記サンプルプレートの位置を記憶する位置記憶部とをさらに備え、
前記合成部は、前記位置記憶部により記憶された前記サンプルプレートの位置にさらに基づいて合成画像データを生成する、請求項６記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項8】
互いに異なる複数の位置から選択的に前記サンプルプレートに照明光をそれぞれ照射する複数の照明部と、
前記複数の照明部のいずれかにより照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
前記複数の照明部のいずれかにより照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項9】
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照射される照明光の光量が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照射される照明光の光量が異なることを含む、請求項１または２記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置。
【請求項10】
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析方法であって、
複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、
コンピュータにより実行される、ＭＡＬＤＩ質量分析方法。
複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、
コンピュータにより実行される、ＭＡＬＤＩ質量分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法に関する。
【背景技術】
【0002】
ＭＡＬＤＩ（マトリックス支援レーザ脱離イオン化）質量分析装置においては、サンプルプレート上の試料にマトリックスが混合される。マトリックスと混合された試料にレーザ光が照射されることによりイオンが生成され、イオン検出器によりイオンが検出される。イオン検出器による検出信号に基づいてマススペクトルが生成される。
【0003】
レーザ光をサンプルプレート上の試料に正確に位置合わせする技術が提案されている。例えば、特許文献１に記載されたＭＡＬＤＩ質量分析装置においては、カメラにより撮影されたサンプルプレートの画像が解析されることにより試料に対応する座標が特定される。特定された座標に基づいて、サンプルプレートの位置決め機構が制御されることにより、試料がレーザ光の照射領域に移動される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】米国特許出願公開第２００４／０２６２５１４号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
サンプルプレートの画像において、光の反射量が大きい部分には白飛びが発生することがある。この場合、特定されるサンプルプレートと試料との境界が不正確になるため、試料にレーザ光を正確に照射することができない。
【0006】
本発明の目的は、試料の位置を正確に特定することが可能なＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一態様は、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析装置であって、試料を保持するサンプルプレートと、複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備える、ＭＡＬＤＩ質量分析装置に関する。
【0008】
本発明の他の態様は、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析方法であって、複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、コンピュータにより実行される、ＭＡＬＤＩ質量分析方法に関する。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、試料の位置を正確に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本発明の第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置の構成を示す図である。
【図2】分析部において使用されるサンプルプレートの模式的斜視図である。
【図6】本発明の第２の実施の形態における分析部の構成を示す図である。
【図7】本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。
【図8】本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。
【図9】マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
【図10】マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
【図11】マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
【図12】マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
１．第１の実施の形態
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
以下、ＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置の構成を示す図である。図１に示すように、ＭＡＬＤＩ質量分析装置３００は、処理装置１００および分析部２００を含み、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行う。図１においては、主として処理装置１００のハードウエア構成が示される。
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
以下、ＭＡＬＤＩ質量分析装置およびＭＡＬＤＩ質量分析方法について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置の構成を示す図である。図１に示すように、ＭＡＬＤＩ質量分析装置３００は、処理装置１００および分析部２００を含み、ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行う。図１においては、主として処理装置１００のハードウエア構成が示される。
【0012】
処理装置１００は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１１０、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１２０、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）１３０、記憶部１４０、操作部１５０、表示部１６０および入出力Ｉ／Ｆ（インターフェイス）１７０により構成される。処理装置１００は、コンピュータにより実現されてもよい。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、記憶部１４０、操作部１５０、表示部１６０および入出力Ｉ／Ｆ１７０はバス１８０に接続される。
【0013】
ＲＡＭ１２０は、例えば揮発性メモリからなり、ＣＰＵ１１０の作業領域として用いられるとともに、各種データを一時的に記憶する。ＲＯＭ１３０は、例えば不揮発性メモリからなり、システムプログラムを記憶する。記憶部１４０は、ハードディスクまたは半導体メモリ等の記憶媒体を含み、質量分析プログラム等を記憶する。ＣＰＵ１１０が記憶部１４０に記憶された質量分析プログラムをＲＡＭ１２０上で実行することにより、後述する質量分析処理が行われる。
【0014】
質量分析プログラムは、ＲＯＭ１３０に記憶されてもよい。あるいは、質量分析プログラムは、コンピュータが読み取り可能な記録媒体（ＣＤ－ＲＯＭ等の外部記憶装置を含む。）に格納された形態で提供され、ＲＯＭ１３０または記憶部１４０にインストールされてもよい。また、入出力Ｉ／Ｆ１７０が通信網に接続されている場合、通信網に接続されたサーバから配信された質量分析プログラムがＲＯＭ１３０または記憶部１４０にインストールされてもよい。
【0015】
操作部１５０は、キーボード、マウスまたはタッチパネル等の入力デバイスである。使用者は、操作部１５０を用いて処理装置１００に各種指示を行うことができる。表示部１６０は、液晶表示装置等の表示デバイスであり、後述するカメラにより撮影された試料の画像または試料の質量分析により得られたマススペクトル等を表示可能である。入出力Ｉ／Ｆ１７０は、分析部２００に接続される。
【0016】
図２は、分析部２００において使用されるサンプルプレート３１０の模式的斜視図である。図２に示すように、サンプルプレート３１０は、複数のウェル３１１が形成されたウェルプレートである。図２の例では、１２個のウェル３１１が２行６列に配列される。各ウェル３１１は、リング形状を有する。各ウェル３１１により取り囲まれる円形の領域には、分析対象の試料３１２が保持される。また、試料３１２には、ＣＨＣＡ（α－シアノ－４－ヒドロキシケイ皮酸）またはＤＨＢ（２,５－ジヒドロキシ安息香酸）等のマトリックスが混合される。
【0017】
図３は、図１の分析部２００の構成を示す図である。図３に示すように、分析部２００は、イオン化部２１０、イオントラップ２２０、質量分析器２３０および検出器２４０を含む。イオン化部２１０は、可動ステージ２１１、照明部２１２、カメラ２１３、投光部２１４および引出電極２１５を含む。可動ステージ２１１は、アクチュエータを含み、互いに直交する三方向に移動可能である。可動ステージ２１１上にサンプルプレート３１０が載置される。
【0018】
照明部２１２は、例えばＬＥＤ（発光ダイオード）を含み、サンプルプレート３１０に照明用の可視光（以下、照明光と呼ぶ。）を照射する。カメラ２１３は、照明部２１２により照明光が照射されたサンプルプレート３１０を撮影する。投光部２１４は、例えばレーザ光源を含み、サンプルプレート３１０上の試料３１２に紫外領域のパルス状の光（以下、イオン化光と呼ぶ。）を照射することにより、試料３１２に含まれる各種成分をイオン化する。引出電極２１５は、所定の電場を形成することにより、生成されたイオンをイオントラップ２２０に向けて引き出す。
【0019】
イオントラップ２２０は、四重極電場を形成することによりイオン化部２１０から引き出されたイオンを捕捉するとともに、捕捉されたイオンに冷却ガスを出射することによりイオンを冷却する。冷却ガスは、例えばヘリウムガスまたはアルゴンガスである。また、イオントラップ２２０は、冷却後のイオンに所定の電場を加えることによりイオンを放出する。イオントラップ２２０から放出されたイオンは、質量分析器２３０に導入される。
【0020】
質量分析器２３０は、例えば飛行時間型の質量分析器である。質量分析器２３０に導入されたイオンは、質量電荷比に応じた飛行速度で質量分析器２３０内の飛行空間を飛行し、質量電荷比が小さいイオンから順に検出器２４０に到達する。検出器２４０は、例えば二次電子増倍管であり、質量分析器２３０を飛行したイオンを検出する。また、検出器２４０は、検出量に対応する信号（以下、検出信号と呼ぶ。）を生成し、生成された検出信号を図１の処理装置１００に与える。これにより、処理装置１００においてマススペクトルが生成される。
【0021】
（２）処理装置
図４は、図１の処理装置１００の機能部を説明するためのＭＡＬＤＩ質量分析装置３００を示す図である。図４に示すように、処理装置１００は、機能部としてステージ制御部１、位置記憶部２、撮影制御部３、画像取得部４、マスク処理部５、平滑処理部６、エッジ処理部７、合成部８、照射位置決定部９および分析制御部１０を含む。図１のＣＰＵ１１０が質量分析プログラムを実行することにより、処理装置１００の機能部が実現される。処理装置１００の機能部の一部または全部が電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。
図４は、図１の処理装置１００の機能部を説明するためのＭＡＬＤＩ質量分析装置３００を示す図である。図４に示すように、処理装置１００は、機能部としてステージ制御部１、位置記憶部２、撮影制御部３、画像取得部４、マスク処理部５、平滑処理部６、エッジ処理部７、合成部８、照射位置決定部９および分析制御部１０を含む。図１のＣＰＵ１１０が質量分析プログラムを実行することにより、処理装置１００の機能部が実現される。処理装置１００の機能部の一部または全部が電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。
【0022】
ステージ制御部１は、可動ステージ２１１の動作を制御することにより、可動ステージ２１１に載置されたサンプルプレート３１０（図３）を複数の位置に移動させる。位置記憶部２は、可動ステージ２１１の位置を記憶する。可動ステージ２１１の位置は、ＭＡＬＤＩ質量分析装置３００に予め定義された座標系における、可動ステージ２１１の代表点の座標値であってもよい。
【0023】
撮影制御部３は、照明部２１２およびカメラ２１３の動作を制御することにより、複数の位置にあるサンプルプレート３１０を順次撮影する。画像取得部４は、カメラ２１３により撮影された画像を示す画像データをカメラ２１３から順次取得する。
【0024】
マスク処理部５は、画像取得部４により取得された画像データにおいて、各円形部分を検出し、検出された各円形部分の内側を抽出するマスク処理を画像データに実行する。検出される各円形部分は、サンプルプレート３１０のウェル３１１の縁に対応する。そのため、マスク処理が実行された画像データにおいては、ウェル３１１の画像が示されず、ウェル３１１内の試料の画像が示される。
【0025】
平滑処理部６は、マスク処理部５によりマスク処理が実行された画像データにおいて、隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理を実行する。エッジ処理部７は、平滑処理部６により平滑処理が実行された画像データにおいて、画素値が不連続に変化する部分を撮影対象物のエッジ部分として抽出するエッジ処理を実行する。
【0026】
合成部８は、エッジ処理部７によりエッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成する。合成画像データの生成においては、上記の画像処理が行われた複数の画像データと、複数の画像データがそれぞれ生成されたときのサンプルプレート３１０の位置とに基づいて、各画素の代表画素値が決定される。決定された各画素の代表画素値が合成されることにより合成画像データが生成される。
【0027】
各画素の代表画素値は、複数の画像データにおける当該画素の画素値の平均値であってもよいし、最大値であってもよい。あるいは、各画像データが二値化処理されている場合には、各画素の代表画素値は、複数の画像データにおける当該画素の画素値の論理和であってもよい。このようにして生成された合成画像データは、試料における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す。
【0028】
照射位置決定部９は、合成部８により生成された合成画像データに基づいて、イオン化光の照射位置を決定する。サンプルプレート３１０に複数のウェル３１１が形成されている場合、イオン化光の照射位置は、複数のウェル３１１にそれぞれ対応して複数決定される。
【0029】
光の照射位置は、合成画像データが示すエッジ部分の内側に対応するサンプルプレート３１０の領域に決定されてもよい。この場合、試料にイオン化光を容易に照射することができる。特に、試料に混合されるマトリックスがＣＨＣＡである場合、試料は略円形状に広がって乾燥する。そのため、合成画像データが示すエッジ部分の内部においてイオン化光をラスタスキャンすることにより、試料にイオン化光を適切に照射することができる。
【0030】
分析制御部１０は、照射位置決定部９により決定された照射位置にイオン化光が照射されるように投光部２１４の動作を制御する。また、分析制御部１０は、引出電極２１５、イオントラップ２２０、質量分析器２３０および検出器２４０の動作を適宜制御することにより、試料の質量分析を実行する。さらに、分析制御部１０は、検出器２４０により与えられる検出信号に基づいて、試料の質量電荷比と検出強度との関係を示すマススペクトルを生成する。
【0031】
（３）質量分析処理
図５は、図４の処理装置１００により実行される質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。以下、図４の処理装置１００を用いて、図５の質量分析処理を説明する。まず、撮影制御部３は、照明部２１２およびカメラ２１３の動作を制御することにより、サンプルプレート３１０を撮影する（ステップＳ１）。また、位置記憶部２は、このときのサンプルプレート３１０の位置を記憶する（ステップＳ２）。
図５は、図４の処理装置１００により実行される質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。以下、図４の処理装置１００を用いて、図５の質量分析処理を説明する。まず、撮影制御部３は、照明部２１２およびカメラ２１３の動作を制御することにより、サンプルプレート３１０を撮影する（ステップＳ１）。また、位置記憶部２は、このときのサンプルプレート３１０の位置を記憶する（ステップＳ２）。
【0032】
次に、画像取得部４は、ステップＳ１の撮影により生成された画像データを取得する（ステップＳ３）。マスク処理部５は、ステップＳ３で取得された画像データにマスク処理を実行する（ステップＳ４）。平滑処理部６は、ステップＳ４でマスク処理が実行された画像データに平滑処理を実行する（ステップＳ５）。エッジ処理部７は、ステップＳ５で平滑処理が実行された画像データにエッジ処理を実行する（ステップＳ６）。
【0033】
続いて、撮影制御部３は、撮影を終了するか否かを判定する（ステップＳ７）。所定回数撮影が実行されていない場合、撮影を終了しないと判定される。所定回数は、２以上の任意の整数であり、本例では２である。撮影を終了しない場合、ステージ制御部１は、可動ステージ２１１の動作を制御することにより、他の位置にサンプルプレート３１０を移動させる（ステップＳ８）。その後、処理はステップＳ１に戻る。
【0034】
撮影を終了すると判定されるまでステップＳ１～Ｓ７が繰り返される。所定回数撮影が実行された場合、撮影を終了すると判定され、処理はステップＳ９に進む。したがって、ステップＳ４～Ｓ６において、２以上の画像データの各々に各種処理が実行される。なお、サンプルプレート３１０が移動される前のステップＳ２～Ｓ６の処理と、サンプルプレート３１０が移動された後のステップＳ１～Ｓ６の処理とは、並列的に実行されてもよい。
【0035】
ステップＳ９において、合成部８は、ステップＳ２で取得されたサンプルプレート３１０の位置に基づいて、ステップＳ６でエッジ処理が実行された２以上の画像データを合成することにより合成画像データを生成する（ステップＳ９）。照射位置決定部９は、ステップＳ９で生成された合成画像データに基づいて、投光部２１４によるイオン化用光の照射位置を決定する（ステップＳ１０）。
【0036】
その後、分析制御部１０による分析制御が実行される（ステップＳ１１）。分析制御は、投光部２１４の動作を制御することにより、ステップＳ１０で決定された照射位置にイオン化用光を照射することを含む。また、分析制御は、引出電極２１５、イオントラップ２２０、質量分析器２３０および検出器２４０の動作を適宜制御すること、および検出器２４０により生成される検出信号に基づいてマススペクトルを生成することを含む。分析制御部１０は、マススペクトルを生成した後、質量分析処理を終了する。
【0037】
（４）効果
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては複数の異なる撮影条件下で生成された画像データに基づいて合成画像データが生成される。各画像データには、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理が実行される。そのため、サンプルプレート３１０からの光の反射等により、いずれかの画像に白飛びが発生し、試料３１２のエッジ部分が不鮮明になっている場合でも、合成画像データは試料３１２における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す。これにより、合成画像データが示すエッジ部分の画像に基づいて、試料３１２の位置を正確に特定することができる。
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては複数の異なる撮影条件下で生成された画像データに基づいて合成画像データが生成される。各画像データには、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理が実行される。そのため、サンプルプレート３１０からの光の反射等により、いずれかの画像に白飛びが発生し、試料３１２のエッジ部分が不鮮明になっている場合でも、合成画像データは試料３１２における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す。これにより、合成画像データが示すエッジ部分の画像に基づいて、試料３１２の位置を正確に特定することができる。
【0038】
各画像データには、隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理が平滑処理部６により実行され、平滑処理が実行された各画像データには、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理がエッジ処理部７により実行される。この場合、エッジ処理により画像のエッジ部分をより適切に抽出することができる。
【0039】
また、各画像データには、画像のウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理がマスク処理部５により実行される。さらに、エッジ処理およびマスク処理が実行された複数の画像データが合成されることにより合成画像データが生成される。この構成によれば、サンプルプレート３１０に試料３１２の保持領域を区画するウェル３１１が形成されている場合でも、ウェル３１１の画像が示されず、ウェル３１１内の試料３１２の画像を示す画像データを取得することができる。
【0040】
また、本実施の形態では、サンプルプレート３１０が可動ステージ２１１上に載置される。可動ステージ２１１によりサンプルプレート３１０の位置が移動されることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレート３１０の画像を示す複数の画像データが取得される。ここで、撮影時のサンプルプレート３１０の位置が位置記憶部２により記憶されるので、サンプルプレート３１０が移動する場合でも、複数の画像データを適切に合成することができる。
【0041】
２．第２の実施の形態
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
第２の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００について、第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００と異なる点を説明する。図６は、本発明の第２の実施の形態における分析部２００の構成を示す図である。図６に示すように、本実施の形態においては、イオン化部２１０は照明部２１６をさらに含む。
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
第２の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００について、第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００と異なる点を説明する。図６は、本発明の第２の実施の形態における分析部２００の構成を示す図である。図６に示すように、本実施の形態においては、イオン化部２１０は照明部２１６をさらに含む。
【0042】
照明部２１６は、照明部２１２とは異なる位置からサンプルプレート３１０に照明光を照射する。照明部２１６は、照明部２１２と同一の構成を有してもよい。この場合、照明部２１６は、照明部２１２と同一波長の可視光を照明光としてサンプルプレート３１０に照射する。
【0043】
また、本実施の形態では、可動ステージ２１１に代えて固定ステージが設けられ、固定ステージにサンプルプレート３１０が載置されてもよい。この場合、処理装置１００は、図４のステージ制御部１および位置記憶部２を含まなくてもよい。
【0044】
（２）質量分析処理
図７は、本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。図７に示すように、本実施の形態における質量分析処理は、ステップＳ２を含まず、ステップＳ８に代えてステップＳ８ａを含む。そのため、第１の実施の形態における質量分析処理と同様のステップＳ１，Ｓ３～Ｓ７が順次実行される。
図７は、本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。図７に示すように、本実施の形態における質量分析処理は、ステップＳ２を含まず、ステップＳ８に代えてステップＳ８ａを含む。そのため、第１の実施の形態における質量分析処理と同様のステップＳ１，Ｓ３～Ｓ７が順次実行される。
【0045】
ステップＳ７において、撮影を終了しない場合、撮影制御部３は、サンプルプレート３１０の撮影に用いる照明部を照明部２１２から照明部２１６に切り替える（ステップＳ８ａ）。この場合、次のステップＳ１においては、撮影制御部３は、照明部２１６およびカメラ２１３の動作を制御することにより、サンプルプレート３１０を撮影する。したがって、ステップＳ３において、異なる位置からサンプルプレート３１０に照明光が照射されたときの２つの画像データが取得される。
【0046】
ステップＳ４～Ｓ６において、これらの２つの画像データの各々に各種処理が実行される。また、ステップＳ９において各種処理が実行された２つの画像データに基づいて合成画像データが生成され、ステップＳ１０において合成画像データに基づいてイオン化用光の照射位置が決定される。ステップＳ１０において、決定された照射位置に基づいて、分析制御が行われる。
【0047】
（３）効果
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては、照明部２１２，２１６により互いに異なる位置から選択的にサンプルプレート３１０に照明光が照射される。照明部２１２，２１６のいずれかにより照明光が照射されたサンプルプレート３１０がカメラ２１３により撮影される。撮影により生成された画像データは、画像取得部４に与えられる。
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては、照明部２１２，２１６により互いに異なる位置から選択的にサンプルプレート３１０に照明光が照射される。照明部２１２，２１６のいずれかにより照明光が照射されたサンプルプレート３１０がカメラ２１３により撮影される。撮影により生成された画像データは、画像取得部４に与えられる。
【0048】
この場合、サンプルプレート３１０に照明光を照射する照明部２１２，２１６を切り替えることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレート３１０の画像を示す複数の画像データを容易に取得することができる。また、サンプルプレート３１０の位置を変化させる必要がないので、複数の画像データを容易に合成することができる。
【0049】
３．第３の実施の形態
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
第３の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００について、第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００と異なる点を説明する。本実施の形態における分析部２００の構成は第１の実施の形態における分析部２００の構成と同様であるが、本実施の形態では、可動ステージ２１１に代えて固定ステージが設けられ、固定ステージにサンプルプレート３１０が載置されてもよい。この場合、第２の実施の形態と同様に、処理装置１００は、図４のステージ制御部１および位置記憶部２を含まなくてもよい。
（１）ＭＡＬＤＩ質量分析装置
第３の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００について、第１の実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００と異なる点を説明する。本実施の形態における分析部２００の構成は第１の実施の形態における分析部２００の構成と同様であるが、本実施の形態では、可動ステージ２１１に代えて固定ステージが設けられ、固定ステージにサンプルプレート３１０が載置されてもよい。この場合、第２の実施の形態と同様に、処理装置１００は、図４のステージ制御部１および位置記憶部２を含まなくてもよい。
【0050】
（２）質量分析処理
図８は、本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。図８に示すように、本実施の形態における質量分析処理は、ステップＳ２を含まず、ステップＳ８に代えてステップＳ８ｂを含む。そのため、第１の実施の形態における質量分析処理と同様のステップＳ１，Ｓ３～Ｓ７が順次実行される。
図８は、本発明の第２の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。図８に示すように、本実施の形態における質量分析処理は、ステップＳ２を含まず、ステップＳ８に代えてステップＳ８ｂを含む。そのため、第１の実施の形態における質量分析処理と同様のステップＳ１，Ｓ３～Ｓ７が順次実行される。
【0051】
ステップＳ７において、撮影を終了しない場合、撮影制御部３は、照明部２１２から出射される照明光の光量（強度）を変更する（ステップＳ８ｂ）。照明光の光量は、実行済みのステップＳ１における光量よりも大きくされてもよいし、小さくされてもよい。この場合、次のステップＳ１においては、撮影制御部３は、光量が変更された照明光を用いてサンプルプレート３１０を撮影する。したがって、ステップＳ３において、サンプルプレート３１０に異なる光量の照明光が照射されたときの２つの画像データが取得される。
【0052】
ステップＳ４～Ｓ６において、これらの２つの画像データの各々に各種処理が実行される。また、ステップＳ９において各種処理が実行された２つの画像データに基づいて合成画像データが生成され、ステップＳ１０において合成画像データに基づいてイオン化用光の照射位置が決定される。ステップＳ１０において、決定された照射位置に基づいて、分析制御が行われる。
【0053】
（３）効果
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては、光量が変化されつつ照明部２１２によりサンプルプレート３１０に照明光が照射される。照明光が照射されたサンプルプレート３１０がカメラ２１３により撮影される。撮影により生成された画像データは、画像取得部４に与えられる。
本実施の形態に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置３００においては、光量が変化されつつ照明部２１２によりサンプルプレート３１０に照明光が照射される。照明光が照射されたサンプルプレート３１０がカメラ２１３により撮影される。撮影により生成された画像データは、画像取得部４に与えられる。
【0054】
この場合、サンプルプレート３１０に照射される照明光の光量を変化させることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレート３１０の画像を示す複数の画像データを容易に取得することができる。また、サンプルプレート３１０の位置を変化させる必要がないので、複数の画像データを容易に合成することができる。
【0055】
さらに、適切に光量を調整することにより、各画像データにおいて白飛びおよび黒潰れが発生する部分を異ならせることが可能である。これにより、試料３１２における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す合成画像データをより確実に生成することができる。
【0056】
４．他の実施の形態
（１）第１の実施の形態において、移動可能な可動ステージ２１１上にサンプルプレート３１０が載置され、異なる位置にあるときのサンプルプレート３１０の画像データが合成されるが、実施の形態はこれに限定されない。照明部２１２が移動可能に構成され、照明部２１２により異なる位置から照明光が照射されたときのサンプルプレート３１０の画像データが合成されてもよい。
（１）第１の実施の形態において、移動可能な可動ステージ２１１上にサンプルプレート３１０が載置され、異なる位置にあるときのサンプルプレート３１０の画像データが合成されるが、実施の形態はこれに限定されない。照明部２１２が移動可能に構成され、照明部２１２により異なる位置から照明光が照射されたときのサンプルプレート３１０の画像データが合成されてもよい。
【0057】
この構成においては、可動ステージ２１１に代えて固定ステージが設けられ、固定ステージにサンプルプレート３１０が載置されてもよい。この場合、処理装置１００は、図４のステージ制御部１および位置記憶部２を含まなくてもよい。図５の質量分析処理においては、ステップＳ８で、サンプルプレート３１０に代えて照明部２１２が移動される。また、サンプルプレート３１０の位置を記憶する必要がないので、ステップＳ２が実行されない。
【0058】
（２）上記実施の形態において、異なる撮影条件下で生成された２つの画像データが合成されることにより合成画像データが生成されるが、実施の形態はこれに限定されない。異なる撮影条件下で生成された３つ以上の画像データが合成されることにより合成画像データが生成されてもよい。
【0059】
（３）上記実施の形態において、各画像データにマスク処理が平滑処理およびエッジ処理の前に実行されるが、実施の形態はこれに限定されない。マスク処理は、平滑処理とエッジ処理との間に実行されてもよいし、エッジ処理の後に実行されてもよい。また、撮影対象物のエッジ部分を適切に抽出可能である場合には、各画像データにマスク処理および平滑処理の一方または両方が実行されなくてもよい。
【0060】
図９～図１２は、マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。図９～図１１においては、サンプルプレート３１０の位置が変更される前のウェル３１１近傍の画像データに基づく画像が左に示される。また、サンプルプレート３１０の位置が変更された後のウェル３１１近傍の画像データに基づく画像が右に示される。
【0061】
図９に示すように、画像処理が行われる前の画像データには、部分的に白飛びが発生する。白飛びが発生する部分は、サンプルプレート３１０の位置が変更される前と変更された後とでわずかに異なる。図９の各画像データに平滑化処理およびエッジ検出処理が順次実行されることにより、図１０の各画像が得られる。図１０に示すように、各画像データにおいて撮影対象物のエッジ部分が抽出されることにより、画像中の撮影対象物のエッジ部分が強調される。
【0062】
図１０の各画像データにマスク処理が実行されることにより、図１１の各画像が得られる。図１１に示すように、各画像データにおいて各円形部分の内側が抽出されることにより、画像中の試料のエッジ部分が強調される。図１１の２つの画像データが合成されることにより、合成画像データが生成される。合成画像データにより、試料におけるエッジ部分の欠損がほとんどない図１２の画像を示すことができる。
【0063】
（４）上記実施の形態において、処理装置１００は照射位置決定部９を含むが、実施の形態はこれに限定されない。合成画像が示す画像に基づいて使用者がイオン化用光の照射位置を調整する場合には、処理装置１００は照射位置決定部９を含まなくてもよい。
【0064】
５．態様
上記の複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上記の複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0065】
（第１項）一態様に係るＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析装置であって、
試料を保持するサンプルプレートと、
複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備えてもよい。
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析装置であって、
試料を保持するサンプルプレートと、
複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備えてもよい。
【0066】
このＭＡＬＤＩ質量分析装置においては、複数の異なる撮影条件下で生成された画像データに基づいて合成画像データが生成される。各画像データには、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理が実行される。そのため、サンプルプレートからの光の反射等により、いずれかの画像に白飛びが発生し、試料のエッジ部分が不鮮明になっている場合でも、合成画像データは試料における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す。これにより、合成画像データが示すエッジ部分の画像に基づいて、試料の位置を正確に特定することができる。
【0067】
（第２項）第１項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行する平滑処理部をさらに備え、
前記エッジ処理部は、前記平滑処理が実行された各画像データに前記エッジ処理を実行してもよい。
隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行する平滑処理部をさらに備え、
前記エッジ処理部は、前記平滑処理が実行された各画像データに前記エッジ処理を実行してもよい。
【0068】
この場合、エッジ処理により画像のエッジ部分をより適切に抽出することができる。
【0069】
（第３項）第１項または第２項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置において、
前記サンプルプレートには、試料の保持領域を区画するウェルが形成され、
前記ＭＡＬＤＩ質量分析装置は、画像の前記ウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理を、前記エッジ処理が実行される前の各画像データまたは前記エッジ処理が実行された後の各画像データに実行するマスク処理部をさらに備え、
前記合成部は、前記エッジ処理および前記マスク処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成してもよい。
前記サンプルプレートには、試料の保持領域を区画するウェルが形成され、
前記ＭＡＬＤＩ質量分析装置は、画像の前記ウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理を、前記エッジ処理が実行される前の各画像データまたは前記エッジ処理が実行された後の各画像データに実行するマスク処理部をさらに備え、
前記合成部は、前記エッジ処理および前記マスク処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成してもよい。
【0070】
この構成によれば、サンプルプレートにウェルが形成されている場合でも、ウェルの画像が示されず、ウェル内の試料の画像を示す画像データを取得することができる。これにより、試料の位置をより正確に特定することが可能になる。
【0071】
（第４項）第１項～第３項のいずれか一項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
前記合成部により生成された合成画像データに基づいて試料のイオン化用光の照射位置を決定する照射位置決定部をさらに備えてもよい。
前記合成部により生成された合成画像データに基づいて試料のイオン化用光の照射位置を決定する照射位置決定部をさらに備えてもよい。
【0072】
この場合、イオン化用光を試料に容易に照射することができる。
【0073】
（第５項）第４項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置において、
前記照射位置決定部は、前記合成部により生成された合成画像データにより示されるエッジ部分の画像の内側に対応する前記サンプルプレートの領域を前記照射位置として決定してもよい。
前記照射位置決定部は、前記合成部により生成された合成画像データにより示されるエッジ部分の画像の内側に対応する前記サンプルプレートの領域を前記照射位置として決定してもよい。
【0074】
この場合、イオン化用光を試料に適切に照射することができる。
【0075】
（第６項）第１項～第５項のいずれか一項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記カメラによる撮影時に前記照明部と前記サンプルプレートとの相対位置が異なることを含んでもよい。
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記カメラによる撮影時に前記照明部と前記サンプルプレートとの相対位置が異なることを含んでもよい。
【0076】
この場合、照明部とサンプルプレートとの相対位置を変化させることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを容易に取得することができる。
【0077】
（第７項）第６項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
前記サンプルプレートが載置され、移動可能に構成された可動ステージと、
前記カメラによる撮影時の前記サンプルプレートの位置を記憶する位置記憶部とをさらに備え、
前記合成部は、前記位置記憶部により記憶された前記サンプルプレートの位置にさらに基づいて合成画像データを生成してもよい。
前記サンプルプレートが載置され、移動可能に構成された可動ステージと、
前記カメラによる撮影時の前記サンプルプレートの位置を記憶する位置記憶部とをさらに備え、
前記合成部は、前記位置記憶部により記憶された前記サンプルプレートの位置にさらに基づいて合成画像データを生成してもよい。
【0078】
この場合、サンプルプレートの位置を変化させることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データをより容易に取得することができる。また、撮影時のサンプルプレートの位置が位置記憶部により記憶されるので、複数の画像データを適切に合成することができる。
【0079】
（第８項）第１項～第５項のいずれか一項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
互いに異なる複数の位置から選択的に前記サンプルプレートに照明光をそれぞれ照射する複数の照明部と、
前記複数の照明部のいずれかにより照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部が異なることを含んでもよい。
互いに異なる複数の位置から選択的に前記サンプルプレートに照明光をそれぞれ照射する複数の照明部と、
前記複数の照明部のいずれかにより照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部が異なることを含んでもよい。
【0080】
この場合、サンプルプレートに照明光を照射する照明部を切り替えることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを容易に取得することができる。また、サンプルプレートの位置を変化させる必要がないので、複数の画像データを容易に合成することができる。
【0081】
（第９項）第１項～第５項のいずれか一項に記載のＭＡＬＤＩ質量分析装置は、
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照射される照明光の光量が異なることを含んでもよい。
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照射される照明光の光量が異なることを含んでもよい。
【0082】
この場合、サンプルプレートに照射される照明光の光量を変化させることにより、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを容易に取得することができる。また、サンプルプレートの位置を変化させる必要がないので、複数の画像データを容易に合成することができる。さらに、適切に光量を調整することにより、各画像データにおいて白飛びおよび黒潰れが発生する部分を異ならせることが可能である。これにより、試料における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す合成画像データをより確実に生成することができる。
【0083】
（第１０項）他の態様に係るＭＡＬＤＩ質量分析方法は、
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析方法であって、
複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、
コンピュータにより実行されてもよい。
ＭＡＬＤＩ法を用いて試料の質量分析を行うＭＡＬＤＩ質量分析方法であって、
複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、
コンピュータにより実行されてもよい。
【0084】
このＭＡＬＤＩ質量分析方法によれば、試料における欠損がほとんどないエッジ部分の画像を示す合成画像データが生成される。これにより、合成画像データが示すエッジ部分の画像に基づいて、試料の位置を正確に特定することができる。
【符号の説明】
【0085】
１…ステージ制御部，２…位置記憶部，３…撮影制御部，４…画像取得部，５…マスク処理部，６…平滑処理部，７…エッジ処理部，８…合成部，９…照射位置決定部，１０…分析制御部，１００…処理装置，１１０…ＣＰＵ，１２０…ＲＡＭ，１３０…ＲＯＭ，１４０…記憶部，１５０…操作部，１６０…表示部，１７０…入出力Ｉ／Ｆ，１８０…バス，２００…分析部，２１０…イオン化部，２１１…可動ステージ，２１２，２１６…照明部，２１３…カメラ，２１４…投光部，２１５…引出電極，２２０…イオントラップ，２３０…質量分析器，２４０…検出器，３００…ＭＡＬＤＩ質量分析装置，３１０…サンプルプレート，３１１…ウェル，３１２…試料
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】