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特開2024-170198抽出装置、画像解析装置、作成装置、評価システム、相関距離抽出方法及びプログラム
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024170198
(43)【公開日】2024-12-06
(54)【発明の名称】抽出装置、画像解析装置、作成装置、評価システム、相関距離抽出方法及びプログラム
(51)【国際特許分類】
G01B 11/02 20060101AFI20241129BHJP
G06T 7/60 20170101ALI20241129BHJP
H01J 37/22 20060101ALI20241129BHJP
B82Y 35/00 20110101ALI20241129BHJP
B82Y 30/00 20110101ALI20241129BHJP
G01B 11/26 20060101ALI20241129BHJP
【ＦＩ】
G01B11/02 H
G06T7/60 150Z
H01J37/22 502H
B82Y35/00 ZNM
B82Y30/00
H01J37/22 501Z
G01B11/26 H
【審査請求】未請求
【請求項の数】9
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023087224
(22)【出願日】2023-05-26
【新規性喪失の例外の表示】特許法第３０条第２項適用申請有り （１） 発行日 令和５年１月２５日／令和５年２月２７日 刊行物 ２０２３年 第７０回 応用物理学会 春季学術講演会 講演概要／予稿ＰＤＦ ＊ウェブプログラム及び参加者専用パスワードにより公開 公益社団法人 応用物理学会 発行 論文 １５ａ－ＰＡ０１－６，「ＣＮＴネットワークの配向性制御」 ＜資 料＞ 第７０回応用物理学会春季学術講演会 公式ガイドブック表紙 ＜資 料＞ 第７０回応用物理学会春季学術講演会 講演概要／予稿発行日 告知 ＜資 料＞ 第７０回応用物理学会春季学術講演会 予稿ＰＤＦ掲載論文 （２） 開催日 令和５年３月１５日 集会名、開催場所 ２０２３年 第７０回 応用物理学会 春季学術講演会 上智大学四谷キャンパス（東京都千代田区紀尾井町７－１） ＰＡ会場（Ｒｏｏｍ ＰＡ） 公益財団法人 応用物理学会 主催 ＜資 料＞ 第７０回応用物理学会春季学術講演会 講演プログラム ＜資 料＞ 第７０回応用物理学会春季学術講演会 ポスター講演資料
【国等の委託研究の成果に係る記載事項】（出願人による申告）令和３年度、防衛装備庁 安全保障技術研究推進制度、産業技術力強化法第１７条の適用を受ける特許出願
(71)【出願人】
【識別番号】000004237
【氏名又は名称】日本電気株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100149548
【弁理士】
【氏名又は名称】松沼 泰史
(74)【代理人】
【識別番号】100181135
【弁理士】
【氏名又は名称】橋本 隆史
(72)【発明者】
【氏名】澁谷 泰蔵
(72)【発明者】
【氏名】田中 朋
(72)【発明者】
【氏名】殿内 規之
【テーマコード（参考）】
2F065
5C101
5L096
【Ｆターム（参考）】
2F065AA07
2F065AA22
2F065AA32
2F065FF04
2F065QQ21
2F065QQ31
5C101AA03
5C101AA04
5C101HH15
5C101HH22
5C101HH24
5C101HH36
5L096BA18
5L096FA66
5L096FA67
(57)【要約】
【課題】ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい抽出装置、画像解析装置、作成装置、ネットワーク構造、評価システム、相関距離抽出方法及びプログラムを提供する。
【解決手段】抽出装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、を備える。
【選択図】図１６
【解決手段】抽出装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、を備える。
【選択図】図１６
【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備える
抽出装置。
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備える
抽出装置。
【請求項2】
前記決定部は、代表角度として、各ナノロッド間距離について前記角度の代表値を集計し、前記ナノロッド間距離と前記代表角度との関係に基づき、前記代表角度が所定値である場合の前記ナノロッド間距離を、前記相関距離として決定する
請求項１に記載の抽出装置。
請求項１に記載の抽出装置。
【請求項3】
各構成要素は、ナノカーボンである
請求項１または２に記載の抽出装置。
請求項１または２に記載の抽出装置。
【請求項4】
各構成要素は、カーボンナノチューブである
請求項１または２に記載の抽出装置。
請求項１または２に記載の抽出装置。
【請求項5】
請求項１または２に記載の抽出装置と、
前記画像を撮像する撮像装置と、
を備える
画像解析装置。
前記画像を撮像する撮像装置と、
を備える
画像解析装置。
【請求項6】
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
作成装置。
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
作成装置。
【請求項7】
撮像装置と、抽出装置と、作成装置と、を備え、
前記撮像装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像を撮像し、
前記抽出装置は、
前記画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備え、
前記作成装置は、
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
評価システム。
前記撮像装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像を撮像し、
前記抽出装置は、
前記画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備え、
前記作成装置は、
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
評価システム。
【請求項8】
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
を含む
相関距離抽出方法。
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
を含む
相関距離抽出方法。
【請求項9】
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度を取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度を取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、抽出装置、画像解析装置、作成装置、評価システム、相関距離抽出方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
様々な素子に、カーボンナノチューブを用いることが知られている。
【0003】
例えば、特許文献１には、ランダムに絡み合い、ネットワーク化したカーボンナノチューブを用いることが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２０１０－５２９７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献１の開示では、カーボンナノチューブネットワークがＧａ蒸気で処理されることで、カーボンナノチューブ表面にグラファイト膜が形成されている。このグラファイト膜を介してカーボンナノチューブ同士が連結することでグラファイト膜の電気抵抗が低くなる。しかしながら、カーボンナノチューブ表面にグラファイト膜が形成されたとしても、カーボンナノチューブの配向によっては、ネットワーク構造の電気抵抗が低くなりにくいことがある。
【0006】
本開示の目的は、上述した課題を解決する抽出装置、画像解析装置、作成装置、評価システム、相関距離抽出方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本開示の一態様に係る抽出装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、を備える。
【0008】
本開示の一態様に係る作成装置は、複数の中心を決定する振分部と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、を備える。
【0009】
本開示の一態様に係る評価システムは、撮像装置と、抽出装置と、作成装置と、を備え、前記撮像装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像を撮像し、前記抽出装置は、前記画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、を備え、前記作成装置は、複数の中心を決定する振分部と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、を備える。
【0010】
本開示の一態様に係る相関距離抽出方法は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、前記複数のナノロッドの各ペアの、中心間距離と角度とを取得するステップと、前記中心間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、を含む。
【0011】
本開示の一態様に係るプログラムは、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度を取得するステップと、前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、をコンピュータに実行させる。
【発明の効果】
【0012】
上記一態様によれば、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】第一実施形態における評価システムの構成図である。
【図2】第一実施形態における作成装置のブロック図である。
【図3】第一実施形態における抽出装置のブロック図である。
【図4】第一実施形態におけるデータ作成方法のフロー図である。
【図5】第一実施形態におけるデータ作成方法の振分部の処理説明図である。
【図8】第一実施形態における相関距離抽出方法のフロー図である。
【図9】第一実施形態における相関距離抽出方法の算出部の処理説明図である。
【図13】実施例におけるネットワーク構造での相関距離と抵抗値との関係を示す図である。
【図14】実施例におけるネットワーク構造での中心間距離と平均角度との関係を示す図である。
【図15】第二実施形態における作成装置の最小構成図である。
【図16】第三実施形態における抽出装置の最小構成図である。
【図17】第四実施形態における評価システムの最小構成図である。
【図18】第五実施形態におけるデータ作成方法の最小構成のフロー図である。
【図19】第六実施形態における相関距離抽出方法の最小構成のフロー図である。
【図23】変形例における抽出装置の相関距離の決定の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本開示に係る各実施形態について、図面を用いて説明する。なお、各実施の形態において用いられた図面および具体的な構成を、開示の解釈に用いてはならない。すべての図面において同一または相当する構成には同一の符号を付し、共通する説明は省略する。
【0015】
【0016】
（評価システムの構成）
図１に示すように、評価システム１は、作成装置２と、画像解析装置６と、を備える。
作成装置２は、後述するデータ素子Ｄが有するネットワーク構造Ｄ１に関する情報を作成する。
画像解析装置６は、抽出装置３と、撮像装置４と、を備える。
抽出装置３は、素子５が有するネットワーク構造５１に関する情報を抽出する。
撮像装置４は、素子５を撮像するための装置である。例えば、撮像装置４は、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ：Ａｔｏｍｉｃ Ｆｏｒｃｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ：Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）等を備え、素子５のネットワーク構造５１に含まれる複数の構成要素５１ａの顕微鏡画像を撮像できるものであればよい。
撮像装置４は、撮像した画像を、抽出装置３へ送信する。
例えば、素子５は、ネットワーク構造５１と、２つの電極５２と、を備える。
ネットワーク構造５１は複数の構成要素５１ａを含む。構成要素５１ａは、ナノカーボンである。ナノカーボンとは、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブ、カーボンナノロッド、カーボンナノホーン、カーボンナノブラシ、カーボンナノツイス卜、グラフェン、フラーレン等のように、炭素を主成分とするナノサイズの炭素材料を意味する。
例えば、構成要素５１ａは、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブ、カーボンナノロッド、といった棒状のものでもよい。また、構成要素５１ａは、ナノカーボンが複数連なり、棒状になったものでもよい。
電極５２は、その一対の電極が、ネットワーク構造５１を、抱きこむように形成されていてもよい。
評価システム１は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する情報と、抽出装置３にて抽出した素子５のネットワーク構造５１に関する情報と、を表示できる。これにより、作業者は、作成装置２及び抽出装置３で得られた各相関距離Ｒと、作成装置２及び抽出装置３で得られた配向度合いがわかる各画像と、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する表と、抽出装置３が作成した素子５のネットワーク構造５１に関するグラフと、を評価し、ネットワーク構造５１の低抵抗化のための事前検討ができる。
例えば、作成装置２が抵抗値の算出を行う際、データ素子Ｄは、２つの電極Ｄ２と、ネットワーク構造Ｄ１と、を備えてもよい。その際、２つの電極Ｄ２は、ネットワーク構造Ｄ１の左右両端にある端面を覆うように電気的に接続される。
例えば、抽出装置３は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いてもよい。これにより、作業者は、評価システム１内で、抽出装置３が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較し、ナノロッドの近似を確認することができる。本実施形態では、抽出装置３の処理で得られたデータと相関距離Ｒとの関係性を示すため、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いる。
例えば、評価システム１は、作成装置２と、抽出装置３と、の間でデータの送受信を行ってもよい。
図１に示すように、評価システム１は、作成装置２と、画像解析装置６と、を備える。
作成装置２は、後述するデータ素子Ｄが有するネットワーク構造Ｄ１に関する情報を作成する。
画像解析装置６は、抽出装置３と、撮像装置４と、を備える。
抽出装置３は、素子５が有するネットワーク構造５１に関する情報を抽出する。
撮像装置４は、素子５を撮像するための装置である。例えば、撮像装置４は、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ：Ａｔｏｍｉｃ Ｆｏｒｃｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ：Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）等を備え、素子５のネットワーク構造５１に含まれる複数の構成要素５１ａの顕微鏡画像を撮像できるものであればよい。
撮像装置４は、撮像した画像を、抽出装置３へ送信する。
例えば、素子５は、ネットワーク構造５１と、２つの電極５２と、を備える。
ネットワーク構造５１は複数の構成要素５１ａを含む。構成要素５１ａは、ナノカーボンである。ナノカーボンとは、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブ、カーボンナノロッド、カーボンナノホーン、カーボンナノブラシ、カーボンナノツイス卜、グラフェン、フラーレン等のように、炭素を主成分とするナノサイズの炭素材料を意味する。
例えば、構成要素５１ａは、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブ、カーボンナノロッド、といった棒状のものでもよい。また、構成要素５１ａは、ナノカーボンが複数連なり、棒状になったものでもよい。
電極５２は、その一対の電極が、ネットワーク構造５１を、抱きこむように形成されていてもよい。
評価システム１は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する情報と、抽出装置３にて抽出した素子５のネットワーク構造５１に関する情報と、を表示できる。これにより、作業者は、作成装置２及び抽出装置３で得られた各相関距離Ｒと、作成装置２及び抽出装置３で得られた配向度合いがわかる各画像と、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する表と、抽出装置３が作成した素子５のネットワーク構造５１に関するグラフと、を評価し、ネットワーク構造５１の低抵抗化のための事前検討ができる。
例えば、作成装置２が抵抗値の算出を行う際、データ素子Ｄは、２つの電極Ｄ２と、ネットワーク構造Ｄ１と、を備えてもよい。その際、２つの電極Ｄ２は、ネットワーク構造Ｄ１の左右両端にある端面を覆うように電気的に接続される。
例えば、抽出装置３は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いてもよい。これにより、作業者は、評価システム１内で、抽出装置３が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較し、ナノロッドの近似を確認することができる。本実施形態では、抽出装置３の処理で得られたデータと相関距離Ｒとの関係性を示すため、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いる。
例えば、評価システム１は、作成装置２と、抽出装置３と、の間でデータの送受信を行ってもよい。
【0017】
（作成装置の機能構成）
図２は、本開示の第１の実施形態に係る作成装置２の機能構成を示すブロック図である。
図２に示すように、作成装置２は、プロセッサ２１と、メモリ２２と、ストレージ２３と、通信インタフェース２４と、表示装置２５と、入力装置２６とを備えている。
図２は、本開示の第１の実施形態に係る作成装置２の機能構成を示すブロック図である。
図２に示すように、作成装置２は、プロセッサ２１と、メモリ２２と、ストレージ２３と、通信インタフェース２４と、表示装置２５と、入力装置２６とを備えている。
【0018】
プロセッサ２１は、所定のプログラムに従って動作することにより、振分部２１１、第一設定部２１２、第二設定部２１３、算出部２１４、生成部２１５、取得部２１６、および記憶部２１７としての機能を発揮する。
【0019】
振分部２１１は、図５に示すように、複数の中心を決定する。その際、複数の中心には各ＩＤが振り分けられる。
振分部２１１は、複数の中心をランダムに決定してもよい。
振分部２１１は、複数の中心をランダムに決定してもよい。
【0020】
第一設定部２１２は、各中心について、後述する相関距離Ｒを設定する。
第一設定部２１２は、後述する記憶部２１７に保存されたデータに基づき、相関距離Ｒを設定してもよい。
第一設定部２１２は、後述する記憶部２１７に保存されたデータに基づき、相関距離Ｒを設定してもよい。
【0021】
第二設定部２１３は、相関距離Ｒと、各中心と他の中心との距離である中心間距離ＣＤと、に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、振分部２１１が設定した複数の中心を、ナノロッドの中心位置として、ナノロッドの長さと、その配向を設定する。例えば、第二設定部２１３には、ナノロッドの長さがあらかじめ設定されていてもよい。
第二設定部２１３は、ナノロッドを設定する際に、複数の中心に振り分けられた各ＩＤの順に従って処理を行う。
第二設定部２１３は、各ＩＤの順に従い、各中心に関し、ランダムな配向にて、ナノロッドを設定する。ただし、以下の場合は、第二設定部２１３は、各中心に関し、所定の配向にて、ナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、図６に示すように、ナノロッドを設定する際に、各中心から、第一設定部２１２にて設定した相関距離Ｒを半径とした円を描く。その後、その円上あるいは円内に、各中心のＩＤよりも前のＩＤを持つ他の中心が含まれる場合が想定される。すなわち、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に存在する場合が想定される。その場合に、第二設定部２１３は、各中心で設定されるナノロッドと、他の中心で設定されたナノロッドとのなす角度θ（０≦θ≦９０°）が指定した角度になるように各中心に設定されるナノロッドを配向させる。第二設定部２１３に指定した角度は、例えば、０°である。
よって、各中心のＩＤよりも前のＩＤが、設定した相関距離Ｒ内に存在する場合、各中心のＩＤに設定されるナノロッドの配向は、前のＩＤの配向の影響を受けることになる。
もし、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に複数存在する場合、第二設定部２１３は、相関距離Ｒ内の複数の他の中心に設定されたナノロッドに関する直線の重み付き平均から各中心に設定されるナノロッドの角度を決定してもよい。
以上のように、複数の中心に亘り、ナノロッドが設定されることにより、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１が作成される。
また、このネットワーク構造Ｄ１は、画像として、後述する記憶部２１７に保存されてもよい。
第二設定部２１３は、振分部２１１が設定した複数の中心を、ナノロッドの中心位置として、ナノロッドの長さと、その配向を設定する。例えば、第二設定部２１３には、ナノロッドの長さがあらかじめ設定されていてもよい。
第二設定部２１３は、ナノロッドを設定する際に、複数の中心に振り分けられた各ＩＤの順に従って処理を行う。
第二設定部２１３は、各ＩＤの順に従い、各中心に関し、ランダムな配向にて、ナノロッドを設定する。ただし、以下の場合は、第二設定部２１３は、各中心に関し、所定の配向にて、ナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、図６に示すように、ナノロッドを設定する際に、各中心から、第一設定部２１２にて設定した相関距離Ｒを半径とした円を描く。その後、その円上あるいは円内に、各中心のＩＤよりも前のＩＤを持つ他の中心が含まれる場合が想定される。すなわち、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に存在する場合が想定される。その場合に、第二設定部２１３は、各中心で設定されるナノロッドと、他の中心で設定されたナノロッドとのなす角度θ（０≦θ≦９０°）が指定した角度になるように各中心に設定されるナノロッドを配向させる。第二設定部２１３に指定した角度は、例えば、０°である。
よって、各中心のＩＤよりも前のＩＤが、設定した相関距離Ｒ内に存在する場合、各中心のＩＤに設定されるナノロッドの配向は、前のＩＤの配向の影響を受けることになる。
もし、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に複数存在する場合、第二設定部２１３は、相関距離Ｒ内の複数の他の中心に設定されたナノロッドに関する直線の重み付き平均から各中心に設定されるナノロッドの角度を決定してもよい。
以上のように、複数の中心に亘り、ナノロッドが設定されることにより、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１が作成される。
また、このネットワーク構造Ｄ１は、画像として、後述する記憶部２１７に保存されてもよい。
【0022】
算出部２１４は、第二設定部２１３が作成するデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値を算出する。その際、データ素子Ｄの２つの電極Ｄ２は、図１に示すように、ネットワーク構造Ｄ１の左右両端にある端面を覆うように電気的に接続された状態を想定している。
算出部２１４は、例えば、ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値の算出を、キルヒホッフの法則を利用し、ネットワーク構造Ｄ１を等価回路に置き換えて行う。
算出部２１４は、例えば、ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値の算出を、キルヒホッフの法則を利用し、ネットワーク構造Ｄ１を等価回路に置き換えて行う。
【0023】
生成部２１５は、第一設定部２１２にて設定された相関距離Ｒと、算出部２１４にて算出された抵抗値と、の関係を示す表を作成する。その際、ＳＴ２２において第一設定部２１２に設定される相関距離Ｒを変化させることにより、生成部２１５は、異なる相関距離Ｒの各々に対する抵抗値を算出し、図１３に示すような表を作成してもよい。
例えば、生成部２１５は、図１３に示すように、相関距離Ｒと、合成抵抗値との関係に加え、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１を構成する複数の構成要素同士の交点数ｎを記載してもよい。交点数ｎの記載を加えることにより、作業者は、相関距離Ｒの設定によって、交点数ｎが変化し、交点数ｎが増えることで複数の構成要素同士の接触面積が増え、ネットワーク構造Ｄ１に流れる電流量が増え、抵抗値が減少することがわかる。
例えば、生成部２１５は、図１３に示すように、相関距離Ｒと、合成抵抗値との関係に加え、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１を構成する複数の構成要素同士の交点数ｎを記載してもよい。交点数ｎの記載を加えることにより、作業者は、相関距離Ｒの設定によって、交点数ｎが変化し、交点数ｎが増えることで複数の構成要素同士の接触面積が増え、ネットワーク構造Ｄ１に流れる電流量が増え、抵抗値が減少することがわかる。
【0024】
取得部２１６は、記憶部２１７からデータを取得する。
【0025】
記憶部２１７は、作成装置２の第一設定部２１２にて設定された相関距離Ｒと、ネットワーク構造Ｄ１の画像を保存する。例えば、記憶部２１７は、抽出装置３で過去に取得された様々なデータを記憶していてもよい。
記憶部２１７は、算出部２１４にて算出された合成抵抗値と、生成部２１５で作成された表と、を保存する。
記憶部２１７は、算出部２１４にて算出された合成抵抗値と、生成部２１５で作成された表と、を保存する。
【0026】
なお、プロセッサ２１が実行する所定のプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶される。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしてもよい。さらに、このプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。更に、上述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【0027】
メモリ２２は、プロセッサ２１の動作に必要なメモリ領域を有する。
【0028】
ストレージ２３は、いわゆる補助記憶装置であって、例えば、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等である。
【0029】
通信インタフェース２４は、外部機器（抽出装置３等）との間で各種信号の送受信を行うためのインタフェースである。
【0030】
表示装置２５は、計算結果等を表示する表示デバイスであって、例えば、液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどである。
【0031】
入力装置２６は、作成装置２のユーザの操作を受け付ける入力デバイスであって、例えば、一般的なマウス、キーボード、タッチセンサなどである。
【0032】
（抽出装置の機能構成）
図３は、本開示の第１の実施形態に係る抽出装置３の機能構成を示すブロック図である。
図３に示すように、抽出装置３は、プロセッサ３１と、メモリ３２と、ストレージ３３と、通信インタフェース３４と、表示装置３５と、入力装置３６とを備えている。
図３は、本開示の第１の実施形態に係る抽出装置３の機能構成を示すブロック図である。
図３に示すように、抽出装置３は、プロセッサ３１と、メモリ３２と、ストレージ３３と、通信インタフェース３４と、表示装置３５と、入力装置３６とを備えている。
【0033】
プロセッサ３１は、所定のプログラムに従って動作することにより、変換部３１１、抽出部３１２、算出部３１３、決定部３１４、取得部３１５、および記憶部３１６としての機能を発揮する。
【0034】
変換部３１１は、撮像装置４にて撮像した画像に存在する各構成要素５１ａを、ナノロッドに近似する。
例えば、変換部３１１は、ネットワーク構造５１の上面から撮像した画像から、各構成要素５１ａの曲がり具合を考慮し、線分であるナノロッドを複数割り当て、各構成要素５１ａが複数の線分にて構成されるように近似する。
例えば、変換部３１１は、各構成要素５１ａをナノロッドに近似する際に、特定の太さのナノロッドにて近似してもよい。
その際、ナノロッドの近似を確認するために、作業者は、抽出装置３の変換部３１１が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較してもよい。
例えば、変換部３１１は、ネットワーク構造５１の上面から撮像した画像から、各構成要素５１ａの曲がり具合を考慮し、線分であるナノロッドを複数割り当て、各構成要素５１ａが複数の線分にて構成されるように近似する。
例えば、変換部３１１は、各構成要素５１ａをナノロッドに近似する際に、特定の太さのナノロッドにて近似してもよい。
その際、ナノロッドの近似を確認するために、作業者は、抽出装置３の変換部３１１が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較してもよい。
【0035】
抽出部３１２は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素５１ａを備えるネットワーク構造５１の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する。
例えば、抽出部３１２は、撮像した画像に対し変換部３１１にて近似された複数のナノロッドを抽出する。
例えば、抽出部３１２は、撮像した画像に対し変換部３１１にて近似された複数のナノロッドを抽出する。
【0036】
算出部３１３は、抽出部３１２にて抽出されたナノロッドから複数のペアを作成し、後述する各ペアのナノロッド間距離と各ペアのなす角度θとを算出し、データを取得する。本実施形態に係る一例では、算出部３１３は、ナノロッド間距離として、中心間距離ＣＤを算出し、データを取得する。
算出部３１３は、代表角度として、取得した中心間距離ＣＤが分布している全範囲を複数の特定範囲に分割し、各特定範囲の中心間距離ＣＤを有する複数のペアについて取得した各ペアのなす角度θの代表値である平均値を集計する。
算出部３１３は、抽出された全ナノロッドの長さを集計し、平均長さを算出する。例えば、算出された平均長さの単位は、ピクセルなどの無次元量であってもよい。
算出部３１３は、代表角度として、取得した中心間距離ＣＤが分布している全範囲を複数の特定範囲に分割し、各特定範囲の中心間距離ＣＤを有する複数のペアについて取得した各ペアのなす角度θの代表値である平均値を集計する。
算出部３１３は、抽出された全ナノロッドの長さを集計し、平均長さを算出する。例えば、算出された平均長さの単位は、ピクセルなどの無次元量であってもよい。
【0037】
決定部３１４は、各ペアの中心間距離ＣＤと各ペアのなす角度θとの関係に基づいて、相関距離Ｒを決定する。
例えば、決定部３１４は、図１４に示すように、平均角度として、各中心間距離ＣＤについて角度θの平均値を集計した情報を含んだ、中心間距離と平均角度との関係を示すグラフを作成する。決定部３１４は、このグラフから、所定の平均角度を設定し、この値と交差した中心間距離ＣＤを、相関距離Ｒとして決定する。
例えば、決定部３１４は、図１４に示すように、平均角度として、各中心間距離ＣＤについて角度θの平均値を集計した情報を含んだ、中心間距離と平均角度との関係を示すグラフを作成する。決定部３１４は、このグラフから、所定の平均角度を設定し、この値と交差した中心間距離ＣＤを、相関距離Ｒとして決定する。
【0038】
取得部３１５は、記憶部３１６からデータを取得する。
【0039】
記憶部３１６は、算出部３１３にて取得した各ペアの中心間距離ＣＤと、各ペアのなす角度θと、抽出された全ナノロッドの平均長さと、を保存する。また、記憶部３１６は、中心間距離ＣＤと平均角度との関係を示すグラフを保存する。
記憶部３１６は、決定部３１４が決定した相関距離Ｒを保存する。
記憶部３１６は、決定部３１４が決定した相関距離Ｒを保存する。
【0040】
なお、プロセッサ３１が実行する所定のプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶される。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしてもよい。さらに、このプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。更に、上述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【0041】
メモリ３２は、プロセッサ３１の動作に必要なメモリ領域を有する。
【0042】
ストレージ３３は、いわゆる補助記憶装置であって、例えば、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等である。
【0043】
通信インタフェース３４は、外部機器（作成装置２、撮像装置４等）との間で各種信号の送受信を行うためのインタフェースである。
【0044】
表示装置３５は、ネットワーク構造５１をナノロッドに近似した解析画像や、決定した相関距離等を表示する表示デバイスであって、例えば、液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどである。
【0045】
入力装置３６は、抽出装置３のユーザの操作を受け付ける入力デバイスであって、例えば、一般的なマウス、キーボード、タッチセンサなどである。
【0046】
【0047】
まず、作成装置２の振分部２１１は、図５に示すように、複数の中心を決定する。その際、複数の中心には各ＩＤ（ｐ１～ｐ６）が振り分けられる。
振分部２１１は、複数の中心をランダムに決定してもよい（ＳＴ２１）。
振分部２１１は、複数の中心をランダムに決定してもよい（ＳＴ２１）。
【0048】
次に、作成装置２の第一設定部２１２は、各中心について、相関距離Ｒを設定する。
相関距離Ｒとは、作業者あるいは、作成装置２の第一設定部２１２にて適宜設定できるものであり、ＳＴ２３によって、ネットワーク構造Ｄ１の配向度合いを決定づけるものである。
第一設定部２１２は、記憶部２１７に保存されたデータに基づき、相関距離Ｒを設定してもよい。（ＳＴ２２）。
相関距離Ｒとは、作業者あるいは、作成装置２の第一設定部２１２にて適宜設定できるものであり、ＳＴ２３によって、ネットワーク構造Ｄ１の配向度合いを決定づけるものである。
第一設定部２１２は、記憶部２１７に保存されたデータに基づき、相関距離Ｒを設定してもよい。（ＳＴ２２）。
【0049】
次に、作成装置２の第二設定部２１３は、相関距離Ｒと、各中心と他の中心との距離である中心間距離ＣＤに基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、振分部２１１が設定した複数の中心をナノロッドの中心位置として、ナノロッドの長さと、その配向を設定する。例えば、第二設定部２１３には、ナノロッドの長さがあらかじめ設定されていてもよい。
第二設定部２１３は、ナノロッドを設定する際に、複数の中心に振り分けられた各ＩＤ（ｐ１～ｐ６）の順に従い、昇順で処理を行う。
第二設定部２１３は、各ＩＤ（ｐ１～ｐ６）の順に従い、各中心に関し、ランダムな配向にて、ナノロッドを設定する。ただし、以下の場合は、第二設定部２１３は、各中心に関し、所定の配向にて、ナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、図６に示すように、ナノロッドを設定する際に、各中心から、第一設定部２１２にて設定した相関距離Ｒを半径とした円を描く。その後、その円上あるいは円内に各中心のＩＤよりも前のＩＤを持つ他の中心が含まれる場合が想定される。すなわち、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に存在する場合が想定される。その場合に、第二設定部２１３は、各中心で設定されるナノロッドと、他の中心で設定されたナノロッドとのなす角度θ（０≦θ≦９０°）が指定した角度になるように各中心に設定されるナノロッドを配向させる（ＳＴ２３）。第二設定部２１３に指定した角度は、例えば、０°である。
よって、各中心のＩＤよりも前のＩＤが、設定した相関距離Ｒ内に存在する場合、各中心のＩＤに設定されるナノロッドの配向は、前のＩＤの配向の影響を受けることになる。
例えば、各中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ２、ｐ３）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ２、ｐ３）ではランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３）を設定する。
各中心（ＩＤ：ｐ４）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ１）が存在する。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ４）で設定されるナノロッド（Ｉ４）が、他の中心（ＩＤ：ｐ１）で設定されたナノロッド（Ｉ１）とのなす角度θ（０≦θ≦９０°）を指定した角度になるようにナノロッドを配向する。図７では、第二設定部２１３に指定した角度は、０°であるため、Ｉ４はＩ１に沿ってナノロッドが設定される。
各中心（ＩＤ：ｐ５）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。各中心（ＩＤ：ｐ５）より前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ３、ｐ４）は、各中心（ＩＤ：ｐ５）に近い距離に存在しているが、各中心（ＩＤ：ｐ５）の相関距離Ｒ内に存在していない。このため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ５）をランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ５）を設定する。
各中心（ＩＤ：ｐ６）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ２）が存在する。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ６）で設定されるナノロッド（Ｉ６）が、他の中心（ＩＤ：ｐ２）で設定されたナノロッド（Ｉ２）とのなす角度θ（０≦θ≦９０°）を指定した角度になるようにナノロッドを配向する。Ｉ２とＩ６とのなす角度θは、第二設定部２１３に指定した角度が０°であるため、Ｉ６はＩ２に沿ってナノロッドが設定される。
各中心（ＩＤ：ｐ７）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。そのため、第二設定部２１３は、他の中心（ＩＤ：ｐ５）と同様にランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ７）を設定する。
もし、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に複数存在する場合、第二設定部２１３は、相関距離Ｒ内の複数の他の中心に設定されたナノロッドに関する直線の重み付き平均から各中心に設定されるナノロッドの角度を決定してもよい。
以上のように、複数の中心に亘り、ナノロッドが設定されることにより、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１が作成される。
また、このネットワーク構造Ｄ１は、画像として、記憶部２１７に保存されてもよい。
第二設定部２１３は、振分部２１１が設定した複数の中心をナノロッドの中心位置として、ナノロッドの長さと、その配向を設定する。例えば、第二設定部２１３には、ナノロッドの長さがあらかじめ設定されていてもよい。
第二設定部２１３は、ナノロッドを設定する際に、複数の中心に振り分けられた各ＩＤ（ｐ１～ｐ６）の順に従い、昇順で処理を行う。
第二設定部２１３は、各ＩＤ（ｐ１～ｐ６）の順に従い、各中心に関し、ランダムな配向にて、ナノロッドを設定する。ただし、以下の場合は、第二設定部２１３は、各中心に関し、所定の配向にて、ナノロッドを設定する。
第二設定部２１３は、図６に示すように、ナノロッドを設定する際に、各中心から、第一設定部２１２にて設定した相関距離Ｒを半径とした円を描く。その後、その円上あるいは円内に各中心のＩＤよりも前のＩＤを持つ他の中心が含まれる場合が想定される。すなわち、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に存在する場合が想定される。その場合に、第二設定部２１３は、各中心で設定されるナノロッドと、他の中心で設定されたナノロッドとのなす角度θ（０≦θ≦９０°）が指定した角度になるように各中心に設定されるナノロッドを配向させる（ＳＴ２３）。第二設定部２１３に指定した角度は、例えば、０°である。
よって、各中心のＩＤよりも前のＩＤが、設定した相関距離Ｒ内に存在する場合、各中心のＩＤに設定されるナノロッドの配向は、前のＩＤの配向の影響を受けることになる。
例えば、各中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ２、ｐ３）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ２、ｐ３）ではランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３）を設定する。
各中心（ＩＤ：ｐ４）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ１）が存在する。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ４）で設定されるナノロッド（Ｉ４）が、他の中心（ＩＤ：ｐ１）で設定されたナノロッド（Ｉ１）とのなす角度θ（０≦θ≦９０°）を指定した角度になるようにナノロッドを配向する。図７では、第二設定部２１３に指定した角度は、０°であるため、Ｉ４はＩ１に沿ってナノロッドが設定される。
各中心（ＩＤ：ｐ５）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。各中心（ＩＤ：ｐ５）より前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ１、ｐ３、ｐ４）は、各中心（ＩＤ：ｐ５）に近い距離に存在しているが、各中心（ＩＤ：ｐ５）の相関距離Ｒ内に存在していない。このため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ５）をランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ５）を設定する。
各中心（ＩＤ：ｐ６）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心（ＩＤ：ｐ２）が存在する。そのため、第二設定部２１３は、各中心（ＩＤ：ｐ６）で設定されるナノロッド（Ｉ６）が、他の中心（ＩＤ：ｐ２）で設定されたナノロッド（Ｉ２）とのなす角度θ（０≦θ≦９０°）を指定した角度になるようにナノロッドを配向する。Ｉ２とＩ６とのなす角度θは、第二設定部２１３に指定した角度が０°であるため、Ｉ６はＩ２に沿ってナノロッドが設定される。
各中心（ＩＤ：ｐ７）では、相関距離Ｒ内に各中心よりも前のＩＤを有する他の中心は存在しない。そのため、第二設定部２１３は、他の中心（ＩＤ：ｐ５）と同様にランダムな配向にて、ナノロッド（Ｉ７）を設定する。
もし、前のＩＤを持つ他の中心が、各中心の相関距離Ｒ内に複数存在する場合、第二設定部２１３は、相関距離Ｒ内の複数の他の中心に設定されたナノロッドに関する直線の重み付き平均から各中心に設定されるナノロッドの角度を決定してもよい。
以上のように、複数の中心に亘り、ナノロッドが設定されることにより、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１が作成される。
また、このネットワーク構造Ｄ１は、画像として、記憶部２１７に保存されてもよい。
【0050】
次に、作成装置２の算出部２１４は、作成装置２が作成するデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値を算出する（ＳＴ２４）。
ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値を算出する際、データ素子Ｄの２つの電極Ｄ２は、ネットワーク構造Ｄ１の左右両端にある端面を覆うように電気的に接続された状態を想定している。
算出部２１４は、例えば、ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値の算出を、キルヒホッフの法則を利用し、ネットワーク構造Ｄ１を等価回路に置き換えて行う。
ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値を算出する際、データ素子Ｄの２つの電極Ｄ２は、ネットワーク構造Ｄ１の左右両端にある端面を覆うように電気的に接続された状態を想定している。
算出部２１４は、例えば、ネットワーク構造Ｄ１の合成抵抗値の算出を、キルヒホッフの法則を利用し、ネットワーク構造Ｄ１を等価回路に置き換えて行う。
【0051】
次に、作成装置２の生成部２１５は、第一設定部２１２にて設定された相関距離Ｒと、算出部２１４にて算出された抵抗値と、の関係を示す表を作成する。その際、ＳＴ２２において第一設定部２１２に設定される相関距離Ｒを変化させることにより、生成部２１５は、異なる相関距離Ｒの各々に対する抵抗値を算出し、図１３に示すような表を作成してもよい（ＳＴ２５）。
ここで、作成装置２のデータ作成が完結される。（完了）
表示装置２５は、生成部２１５にて作成された相関距離Ｒと、抵抗値と、の関係を示す表を表示する。
例えば、生成部２１５は、図１３に示すように、相関距離Ｒと、合成抵抗値との関係に加え、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１を構成する複数の構成要素同士の交点数ｎを記載してもよい。交点数ｎの記載を加えることにより、作業者は、相関距離Ｒの設定によって、交点数ｎが変化し、交点数ｎが増えることで複数の構成要素同士の接触面積が増え、ネットワーク構造Ｄ１に流れる電流量が増え、抵抗値が減少することがわかる。
作成装置２の記憶部２１７は、第一設定部２１２にて設定された相関距離Ｒと、算出部２１４にて算出された合成抵抗値と、生成部２１５で作成された表と、を保存する。例えば、記憶部２１７は、抽出装置３で過去に取得された様々なデータを記憶していてもよい。これにより、取得部２１６は、任意のタイミングで過去の相関距離等のデータを記憶部２１７から呼び出すことができる。
ここで、作成装置２のデータ作成が完結される。（完了）
表示装置２５は、生成部２１５にて作成された相関距離Ｒと、抵抗値と、の関係を示す表を表示する。
例えば、生成部２１５は、図１３に示すように、相関距離Ｒと、合成抵抗値との関係に加え、データ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１を構成する複数の構成要素同士の交点数ｎを記載してもよい。交点数ｎの記載を加えることにより、作業者は、相関距離Ｒの設定によって、交点数ｎが変化し、交点数ｎが増えることで複数の構成要素同士の接触面積が増え、ネットワーク構造Ｄ１に流れる電流量が増え、抵抗値が減少することがわかる。
作成装置２の記憶部２１７は、第一設定部２１２にて設定された相関距離Ｒと、算出部２１４にて算出された合成抵抗値と、生成部２１５で作成された表と、を保存する。例えば、記憶部２１７は、抽出装置３で過去に取得された様々なデータを記憶していてもよい。これにより、取得部２１６は、任意のタイミングで過去の相関距離等のデータを記憶部２１７から呼び出すことができる。
【0052】
【0053】
まず、抽出装置３の変換部３１１は、撮像装置４にて撮像した画像に存在する各構成要素５１ａを、ナノロッドに近似する。
例えば、変換部３１１は、ネットワーク構造５１の上面から撮像した画像から、各構成要素５１ａの曲がり具合を考慮し、線分であるナノロッドを複数割り当て、各構成要素５１ａが複数の線分にて構成されるように近似する（ＳＴ３１）。
例えば、変換部３１１は、各構成要素５１ａをナノロッドに近似する際に、特定の太さのナノロッドにて近似してもよい。各構成要素５１ａは、太さが異なり得ることがある。そのため、特定の太さのナノロッドに近似することで、ナノロッド間距離の取得を簡易化することができる。
その際、ナノロッドの近似を確認するために、作業者は、抽出装置３の変換部３１１が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較してもよい。
本実施形態では、抽出装置３の処理で得られたデータと相関距離Ｒとの関係性を示すため、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いる。
例えば、変換部３１１は、ネットワーク構造５１の上面から撮像した画像から、各構成要素５１ａの曲がり具合を考慮し、線分であるナノロッドを複数割り当て、各構成要素５１ａが複数の線分にて構成されるように近似する（ＳＴ３１）。
例えば、変換部３１１は、各構成要素５１ａをナノロッドに近似する際に、特定の太さのナノロッドにて近似してもよい。各構成要素５１ａは、太さが異なり得ることがある。そのため、特定の太さのナノロッドに近似することで、ナノロッド間距離の取得を簡易化することができる。
その際、ナノロッドの近似を確認するために、作業者は、抽出装置３の変換部３１１が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較してもよい。
本実施形態では、抽出装置３の処理で得られたデータと相関距離Ｒとの関係性を示すため、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いる。
【0054】
次に、抽出装置３の抽出部３１２は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素５１ａを備えるネットワーク構造５１の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する。
例えば、抽出部３１２は、撮像した画像に対し変換部３１１にて近似された複数のナノロッドを抽出する（ＳＴ３２）。
例えば、抽出部３１２は、撮像した画像に対し変換部３１１にて近似された複数のナノロッドを抽出する（ＳＴ３２）。
【0055】
次に、抽出装置３の算出部３１３は、抽出部３１２にて抽出されたナノロッドから複数のペアを作成し、各ペアのナノロッド間距離と各ペアのなす角度θとを算出し、データを取得する（ＳＴ３３）。本実施形態に係る一例では、算出部３１３は、ナノロッド間距離として、中心間距離ＣＤを算出し、データを取得する。
図９に示すように、中心間距離ＣＤは、変換部３１１にて近似したナノロッド（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）の中点（Ｃ１、Ｃ２）間の距離を意味する。算出部３１３は、中心間距離ＣＤと、近似したナノロッドのペア（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）のなす角度θ（０≦θ≦９０°）と、を算出し、データを取得する。
ナノロッドの本数ｒ（ｒ≧２）に対するペアの数Ｐｒは、次式（１）に示すように、表される。算出部３１３は、各ナノロッドに複数のペアを設定し、それぞれのペア同士の中心間距離ＣＤと、ナノロッド各ペアのなす角度θ（０≦θ≦９０°）と、を算出する。
図９に示すように、中心間距離ＣＤは、変換部３１１にて近似したナノロッド（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）の中点（Ｃ１、Ｃ２）間の距離を意味する。算出部３１３は、中心間距離ＣＤと、近似したナノロッドのペア（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）のなす角度θ（０≦θ≦９０°）と、を算出し、データを取得する。
ナノロッドの本数ｒ（ｒ≧２）に対するペアの数Ｐｒは、次式（１）に示すように、表される。算出部３１３は、各ナノロッドに複数のペアを設定し、それぞれのペア同士の中心間距離ＣＤと、ナノロッド各ペアのなす角度θ（０≦θ≦９０°）と、を算出する。
【0056】
【数1】
【0057】
次に、抽出装置３の算出部３１３は、代表角度として、取得した中心間距離ＣＤが分布している全範囲を複数の特定範囲に分割し、各特定範囲の中心間距離ＣＤを有する複数のペアについて取得した各ペアのなす角度θ（０≦θ≦９０°）の代表値である平均値を集計する（ＳＴ３４）。
算出部３１３は、抽出された全ナノロッドの長さを集計し、平均長さを算出する。例えば、算出された平均長さの単位は、ピクセルなどの無次元量であってもよい。
算出部３１３は、抽出された全ナノロッドの長さを集計し、平均長さを算出する。例えば、算出された平均長さの単位は、ピクセルなどの無次元量であってもよい。
【0058】
次に、抽出装置３の決定部３１４は、図１４に示すように、平均角度として、各中心間距離ＣＤについて角度の平均値を集計した情報を含んだ、中心間距離と平均角度との関係を示すグラフを作成する（ＳＴ３５）。
【0059】
次に、抽出装置３の決定部３１４は、このグラフから、所定の平均角度を設定（ＳＴ３６）し、この値と交差した中心間距離ＣＤを、相関距離Ｒとして決定する（ＳＴ３７）。
例えば、ネットワーク構造５１の相関距離Ｒは、各中心間距離について集計された複数のナノロッドの各ペアの角度の平均値である平均角度が、所定の平均角度２２．５°となるときの中心間距離であってもよい。
これにより、抽出装置３の決定部３１４は、中心間距離ＣＤと角度θとの関係に基づいて、相関距離Ｒを決定する。（完了）
表示装置３５は、決定部３１４にて作成された中心間距離ＣＤと平均角度との関係を示すグラフと、決定部３１４にて決定された相関距離Ｒと、を表示する。
抽出装置３の記憶部３１６は、決定部３１４が作成した先のグラフと、算出部３１３にて取得した各ペアの中心間距離ＣＤと各ペアのなす角度θと、抽出された全ナノロッドの平均長さと、を保存する。加えて、記憶部３１６は、決定部３１４が決定した相関距離Ｒを保存する。これにより、取得部３１５は、任意のタイミングで過去のグラフ等のデータを記憶部３１６から呼び出すことができる。
例えば、ネットワーク構造５１の相関距離Ｒは、各中心間距離について集計された複数のナノロッドの各ペアの角度の平均値である平均角度が、所定の平均角度２２．５°となるときの中心間距離であってもよい。
これにより、抽出装置３の決定部３１４は、中心間距離ＣＤと角度θとの関係に基づいて、相関距離Ｒを決定する。（完了）
表示装置３５は、決定部３１４にて作成された中心間距離ＣＤと平均角度との関係を示すグラフと、決定部３１４にて決定された相関距離Ｒと、を表示する。
抽出装置３の記憶部３１６は、決定部３１４が作成した先のグラフと、算出部３１３にて取得した各ペアの中心間距離ＣＤと各ペアのなす角度θと、抽出された全ナノロッドの平均長さと、を保存する。加えて、記憶部３１６は、決定部３１４が決定した相関距離Ｒを保存する。これにより、取得部３１５は、任意のタイミングで過去のグラフ等のデータを記憶部３１６から呼び出すことができる。
【0060】
（評価システム）
評価システム１は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する情報と、抽出装置３にて抽出した素子５のネットワーク構造５１に関する情報と、を表示できる。これにより、作業者は、作成装置２及び抽出装置３で得られた各相関距離Ｒと、作成装置２及び抽出装置３で得られた配向度合いがわかる各画像と、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する表と、抽出装置３が作成した素子５のネットワーク構造５１に関するグラフと、を評価し、ネットワーク構造５１の低抵抗化のための事前検討ができる。また、評価システム１は、作成装置２の記憶部２１７又は抽出装置３の記憶部３１６の保存されているデータを表示してもよい。
評価システム１は、表示装置２５に、生成部２１５にて作成された相関距離Ｒと、ネットワーク構造Ｄ１の全体抵抗値と、の関係を示す表と、ネットワーク構造Ｄ１の画像と、を表示する。
評価システム１は、表示装置３５に、決定部３１４にて作成された中心間距離と平均角度との関係を示すグラフと、決定部３１４にて決定された相関距離Ｒと、撮像したネットワーク構造５１の画像と、を表示する。
作業者は、表示装置２５及び表示装置３５に表示されたデータに基づき、ネットワーク構造５１の低抵抗化に最適な、ネットワーク構造５１の配向を検討することができる。
例えば、評価システム１は、作成装置２と、抽出装置３と、の間で撮像画像のデータの送受信を行ってもよい。
評価システム１は、作業者が抽出装置３のナノロッドの近似状態を確認する用途でも用いられる。例えば、抽出装置３は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いてもよい。これにより、作業者は、評価システム１内で、抽出装置３が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較し、ナノロッドの近似を確認することができる。
評価システム１は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する情報と、抽出装置３にて抽出した素子５のネットワーク構造５１に関する情報と、を表示できる。これにより、作業者は、作成装置２及び抽出装置３で得られた各相関距離Ｒと、作成装置２及び抽出装置３で得られた配向度合いがわかる各画像と、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１に関する表と、抽出装置３が作成した素子５のネットワーク構造５１に関するグラフと、を評価し、ネットワーク構造５１の低抵抗化のための事前検討ができる。また、評価システム１は、作成装置２の記憶部２１７又は抽出装置３の記憶部３１６の保存されているデータを表示してもよい。
評価システム１は、表示装置２５に、生成部２１５にて作成された相関距離Ｒと、ネットワーク構造Ｄ１の全体抵抗値と、の関係を示す表と、ネットワーク構造Ｄ１の画像と、を表示する。
評価システム１は、表示装置３５に、決定部３１４にて作成された中心間距離と平均角度との関係を示すグラフと、決定部３１４にて決定された相関距離Ｒと、撮像したネットワーク構造５１の画像と、を表示する。
作業者は、表示装置２５及び表示装置３５に表示されたデータに基づき、ネットワーク構造５１の低抵抗化に最適な、ネットワーク構造５１の配向を検討することができる。
例えば、評価システム１は、作成装置２と、抽出装置３と、の間で撮像画像のデータの送受信を行ってもよい。
評価システム１は、作業者が抽出装置３のナノロッドの近似状態を確認する用途でも用いられる。例えば、抽出装置３は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を撮像画像として用いてもよい。これにより、作業者は、評価システム１内で、抽出装置３が処理する撮像した画像と、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像とを比較し、ナノロッドの近似を確認することができる。
【0061】
（作用及び効果）
本実施形態の抽出装置３によれば、５のネットワーク構造５１を撮像した画像を用いて、ネットワーク構造５１にある複数の構成要素５１ａを複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、中心間距離と角度とを取得することができる。取得した中心間距離ＣＤと角度θとの関係に基づいて、相関距離Ｒを決定することで、ネットワーク構造５１の配向を知ることができる。ネットワーク構造５１の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置３にてネットワーク構造５１の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造５１の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造５１の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、本開示に係る抽出装置は、ネットワーク構造５１の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態の抽出装置３によれば、５のネットワーク構造５１を撮像した画像を用いて、ネットワーク構造５１にある複数の構成要素５１ａを複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、中心間距離と角度とを取得することができる。取得した中心間距離ＣＤと角度θとの関係に基づいて、相関距離Ｒを決定することで、ネットワーク構造５１の配向を知ることができる。ネットワーク構造５１の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置３にてネットワーク構造５１の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造５１の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造５１の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、本開示に係る抽出装置は、ネットワーク構造５１の電気抵抗を低くしやすい。
【0062】
本実施形態に係る一例によれば、素子５に適用するには未だ高い電気抵抗を有するカーボンナノチューブを含むネットワーク構造５１の電気抵抗を、相関距離Ｒをもって、カーボンナノチューブの配向度の観点から評価することができる。
【0063】
本実施形態の一例では、抽出装置３は、ネットワーク構造５１の画像を用いて、ネットワーク構造５１にある複数の構成要素５１ａを複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、中心間距離ＣＤと角度θとを取得する。取得した中心間距離と角度との関係に基づいて、相関距離Ｒを決定することで、ネットワーク構造５１の配向の評価を行うことができる。
したがって、ネットワーク構造５１の電気抵抗を低くしやすい。
したがって、ネットワーク構造５１の電気抵抗を低くしやすい。
【0064】
＜変形例＞
また、構成要素５１ａは、ナノカーボンに限らず、ネットワーク構造を有し、構成要素５１ａ自身が棒状であるものであってもよい。
また、構成要素５１ａは、ナノカーボンに限らず、ネットワーク構造を有し、構成要素５１ａ自身が棒状であるものであってもよい。
【0065】
また、ナノロッド間距離は、中心間距離ＣＤに代えて最近接距離Ｌｍでもよい。
最近接距離Ｌｍについて、図２０～図２２に示す。
図２０に示すように、最近接距離Ｌｍは、変換部３１１が近似したナノロッドのペア（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）におけるナノロッドの最近接距離である。抽出装置３の抽出部３１２は、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）の端部ｅ1と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）の端部ｅ２との間の距離を最近接距離Ｌｍとしてもよい。
図２１に示すように、抽出部３１２は、最近接距離Ｌｍは、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）上にあるとある点Ｃｐ１と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）の端部ｅ２との間の距離を最近接距離Ｌｍとしてもよい。
図２２に示すように、最近接距離Ｌｍは、ナノロッドのペア間の最短距離であるため、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）が接触した場合は、抽出装置３の抽出部３１２は最近接距離Ｌｍを０としてもよい。
最近接距離Ｌｍについて、図２０～図２２に示す。
図２０に示すように、最近接距離Ｌｍは、変換部３１１が近似したナノロッドのペア（ＣＮＴ１、ＣＮＴ２）におけるナノロッドの最近接距離である。抽出装置３の抽出部３１２は、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）の端部ｅ1と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）の端部ｅ２との間の距離を最近接距離Ｌｍとしてもよい。
図２１に示すように、抽出部３１２は、最近接距離Ｌｍは、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）上にあるとある点Ｃｐ１と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）の端部ｅ２との間の距離を最近接距離Ｌｍとしてもよい。
図２２に示すように、最近接距離Ｌｍは、ナノロッドのペア間の最短距離であるため、一方のナノロッド（ＣＮＴ１）と、他方のナノロッド（ＣＮＴ２）が接触した場合は、抽出装置３の抽出部３１２は最近接距離Ｌｍを０としてもよい。
【0066】
上記実施形態では、決定部３１４は、代表角度を、各中心間距離ＣＤにおける平均角度としているが、平均角度に限らず、各中心間距離ＣＤにおける角度θの代表値であれば、どのような角度を代表角度としてもよい。
例えば、決定部３１４は、図２３の各分布に示すような、平均角度とは異なる他の角度を代表角度としてもよい。
図２３に示すような各分布では、中心間距離ＣＤが増えるにしたがって、中心が０°にある（切断）正規分布が標準偏差を大きくしながら一様分布に近づいている。このような場合、特に中心間距離ＣＤが短い場合において、「平均角度」ではこのような分布の特徴を反映しにくい。
これに対し、図２３に示すような代表角度であれば、このような分布の特徴を反映しやすい。例えば、算出部３１３は、特定の範囲のナノロッド間距離についてナノロッドの各ペアのなす角度θを集計してもよい。決定部３１４は、算出部３１３が集計した角度をもって、（切断）正規分布を推定してもよい。決定部３１４は、（０°を切断端とする切断）正規分布を推定後、０°に対する標準偏差を計算し、０°に標準偏差を加算した値を代表角度としてもよい。
例えば、決定部３１４は、算出部３１３が集計した角度θの中央値を代表角度としてもよい。
例えば、決定部３１４は、図２３の各分布に示すような、平均角度とは異なる他の角度を代表角度としてもよい。
図２３に示すような各分布では、中心間距離ＣＤが増えるにしたがって、中心が０°にある（切断）正規分布が標準偏差を大きくしながら一様分布に近づいている。このような場合、特に中心間距離ＣＤが短い場合において、「平均角度」ではこのような分布の特徴を反映しにくい。
これに対し、図２３に示すような代表角度であれば、このような分布の特徴を反映しやすい。例えば、算出部３１３は、特定の範囲のナノロッド間距離についてナノロッドの各ペアのなす角度θを集計してもよい。決定部３１４は、算出部３１３が集計した角度をもって、（切断）正規分布を推定してもよい。決定部３１４は、（０°を切断端とする切断）正規分布を推定後、０°に対する標準偏差を計算し、０°に標準偏差を加算した値を代表角度としてもよい。
例えば、決定部３１４は、算出部３１３が集計した角度θの中央値を代表角度としてもよい。
【0067】
また、相関距離Ｒは、所定の平均角度２２．５°になるときに限定されない。
例えば、図２３のグラフに、平均角度を定める場合、その平均角度は４１°から４２°付近の平均角度を用いることができる。
例えば、図２３のグラフに、平均角度を定める場合、その平均角度は４１°から４２°付近の平均角度を用いることができる。
【0068】
＜第二実施形態＞
以下、第二実施形態として本開示に係る作成装置の最小構成の実施形態について、図１５を用いて説明する。
以下、第二実施形態として本開示に係る作成装置の最小構成の実施形態について、図１５を用いて説明する。
【0069】
（構成）
作成装置７０は、複数の中心を決定する振分部７０１と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部７０２と、相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部７０３と、を備える。
作成装置７０は、複数の中心を決定する振分部７０１と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部７０２と、相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部７０３と、を備える。
【0070】
（作用及び効果）
本実施形態によれば、振分部７０１が決定した複数の中心から、第一設定部７０２によって相関距離が設定され、第二設定部７０３は、相関距離と複数の中心の間の中心間距離と、に基づいてナノロッドを設定する。相関距離と中心間距離に基づいて、ネットワーク構造の配向が決定づけられる。相関距離によってネットワーク構造の配向が変化するため、ネットワーク構造の抵抗値を算出することで、低抵抗値を実現するネットワーク構造の配向を相関距離によって推定できる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態によれば、振分部７０１が決定した複数の中心から、第一設定部７０２によって相関距離が設定され、第二設定部７０３は、相関距離と複数の中心の間の中心間距離と、に基づいてナノロッドを設定する。相関距離と中心間距離に基づいて、ネットワーク構造の配向が決定づけられる。相関距離によってネットワーク構造の配向が変化するため、ネットワーク構造の抵抗値を算出することで、低抵抗値を実現するネットワーク構造の配向を相関距離によって推定できる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【0071】
＜第三実施形態＞
以下、第三実施形態として本開示に係る抽出装置の最小構成の実施形態について、図１６を用いて説明する。
以下、第三実施形態として本開示に係る抽出装置の最小構成の実施形態について、図１６を用いて説明する。
【0072】
（構成）
抽出装置８０は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部８０１と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部８０２と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部８０３と、を備える。
抽出装置８０は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部８０１と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部８０２と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部８０３と、を備える。
【0073】
（作用及び効果）
本実施形態によれば、画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置８０にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態によれば、画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置８０にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【0074】
＜第四実施形態＞
以下、第四実施形態として本開示に係る評価システムの最小構成の実施形態について、図１７を用いて説明する。
以下、第四実施形態として本開示に係る評価システムの最小構成の実施形態について、図１７を用いて説明する。
【0075】
（構成）
評価システム１０１は、撮像装置６００と、抽出装置８００と、作成装置７００と、を備え、撮像装置６００は、複数の構成要素を備えるネットワーク構造を撮像し、抽出装置８００は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部８１０と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部８２０と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部８３０と、を備え、作成装置７００は、複数の中心を決定する振分部７１０と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部７２０と、相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部７３０と、を備える。
評価システム１０１は、撮像装置６００と、抽出装置８００と、作成装置７００と、を備え、撮像装置６００は、複数の構成要素を備えるネットワーク構造を撮像し、抽出装置８００は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出する抽出部８１０と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部８２０と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部８３０と、を備え、作成装置７００は、複数の中心を決定する振分部７１０と、各中心について、相関距離を設定する第一設定部７２０と、相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部７３０と、を備える。
【0076】
（作用及び効果）
本実施形態によれば、撮像装置６００が撮像した画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置８００にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。また、作成装置７００にて作成したネットワーク構造と比較することによって、作業者は、実際のネットワーク構造との差異を把握し、低抵抗化に最適なネットワーク構造を検討することができる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態によれば、撮像装置６００が撮像した画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出装置８００にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。また、作成装置７００にて作成したネットワーク構造と比較することによって、作業者は、実際のネットワーク構造との差異を把握し、低抵抗化に最適なネットワーク構造を検討することができる。
したがって、ネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【0077】
【0078】
データ作成方法は、複数の中心を決定するステップ（ＳＴ２０１）と、各中心について、相関距離を設定するステップ（ＳＴ２０２）と、相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、他の中心に対しナノロッドを設定するステップ（ＳＴ２０３）と、を含む。
【0079】
（作用及び効果）
本実施形態のデータ作成方法によれば、決定した複数の中心から、相関距離が設定され、相関距離と複数の中心の間の中心間距離とに基づいてナノロッドを設定する。相関距離と中心間距離に基づいて、ネットワーク構造の配向が決定づけられる。相関距離によってネットワーク構造の配向が変化するため、ネットワーク構造の抵抗値を算出することで、低抵抗値を実現するネットワーク構造の配向を相関距離によって推定できる。
したがって、本開示に係るデータ作成方法によればネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態のデータ作成方法によれば、決定した複数の中心から、相関距離が設定され、相関距離と複数の中心の間の中心間距離とに基づいてナノロッドを設定する。相関距離と中心間距離に基づいて、ネットワーク構造の配向が決定づけられる。相関距離によってネットワーク構造の配向が変化するため、ネットワーク構造の抵抗値を算出することで、低抵抗値を実現するネットワーク構造の配向を相関距離によって推定できる。
したがって、本開示に係るデータ作成方法によればネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【0080】
＜第六実施形態＞
以下、第六実施形態として本開示に係る相関距離抽出方法の最小構成の実施形態について、図１９を用いて説明する。
本実施形態における相関距離抽出方法は、図１９に示すフローに従って実施される。
以下、第六実施形態として本開示に係る相関距離抽出方法の最小構成の実施形態について、図１９を用いて説明する。
本実施形態における相関距離抽出方法は、図１９に示すフローに従って実施される。
【0081】
相関距離抽出方法は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、複数のナノロッドを抽出するステップ（ＳＴ３０１）と、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得するステップ（ＳＴ３０２）と、ナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップ（ＳＴ３０３）と、を含む。
【0082】
（作用及び効果）
本実施形態の相関距離抽出方法によれば、画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造５１の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出方法にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、本開示に係る相関距離抽出方法によればネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
本実施形態の相関距離抽出方法によれば、画像を用いて、ネットワーク構造にある複数の構成要素を複数のナノロッドに近似し、抽出し、複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する。取得したナノロッド間距離と角度との関係に基づいて、相関距離を決定することで、ネットワーク構造の配向を知ることができる。ネットワーク構造５１の配向は、電気抵抗に影響するため、抽出方法にてネットワーク構造の配向を定量的に把握することで、ネットワーク構造の配向と電気抵抗を関連付けることができ、ネットワーク構造の全体抵抗値の評価を行うことができる。
したがって、本開示に係る相関距離抽出方法によればネットワーク構造の電気抵抗を低くしやすい。
【実施例0083】
以下、実施例により本開示の効果をさらに具体的に説明する。実施例での条件は、本開示の実施可能性および効果を確認するために採用した一条件例であり、本開示はこの一条件例に限定されるものではない。本開示は、本開示の要旨を逸脱せず、本開示の目的を達成する限りにおいて、種々の条件を採用し得るものである。
【0084】
図１０－図１２のナノロッドは、作成装置２によって、長さ３００ピクセル、７００本をとある領域内に配向されたものである。図１０は相関距離０、図１１は相関距離２０、図１２は相関距離１６０である。図１０－図１２のナノロッドは、相関距離によってナノロッド自身の配向が変化していることが確認できた。
【0085】
図１３は、ネットワーク構造Ｄ１の相関距離と抵抗値との関係を示す図である。同図によると、相関距離Ｒの値が増加するほど、交点数ｎが減少し、抵抗値が増加するわけではなく、ある相関距離Ｒ（図１１の相関距離２０）では、相関距離０に対し、交点数ｎが増加し、抵抗値が減少することを確認した。
また、図１３の相関距離Ｒによって、ネットワーク構造Ｄ１の配向度合いに差があることが、図１０－図１２より確認された。
また、図１３の相関距離Ｒによって、ネットワーク構造Ｄ１の配向度合いに差があることが、図１０－図１２より確認された。
【0086】
図１４は、抽出装置３によって、作成されたグラフである。
図１４では、ｃｕｔｏｆｆ０は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄの相関距離Ｒが０であることを示し、他のグラフ（Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）も同様である。
抽出装置３の算出部３１３が、とある中心間距離ＣＤでの各ナノロッドに複数のペアを設定し、それぞれのペア同士の中心間距離ＣＤと、ナノロッドがなす角θを算出し、得たデータをまとめると、図１４のグラフが描けた。
図１４では、平均角度Ａ２は４５°である。これは、ｃｕｔｏｆｆ０では、ペアとなる各ナノロッド間の中心間距離ＣＤ（ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ）が上昇すれば、各ナノロッドがなす角θ（０≦θ≦９０°）は平均角度４５°をとり得ることが読み取れる。他のグラフ（Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）も同様である。すなわち、平均角度Ａ２は、ナノロッドに近似される複数の構成要素５１ａを持つ素子５のネットワーク構造５１がランダムに配向されていることを意味する。
図１４は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を使用している。この場合、ペアとなる各ナノロッド間の中心間距離ＣＤ（ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ）が上昇すれば、ナノロッドに近似される複数の構成要素を持つデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１がランダムに配向されていることを意味する。
この中心間距離ＣＤと平均角度との関係に、所定の平均角度を設定する。例えば、本実施形態では、所定の平均角度Ａ１（２２．５°）を設定した。平均角度Ａ１と、各グラフ（Ｃｕｔｏｆｆ０、Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）と、が交わる点（ｗ、ｘ、ｙ、ｚ）でのＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅは、Ｃ２０、Ｃ５０、Ｃ１００、Ｃ１６０である。
Ｃ２０、Ｃ５０、Ｃ１００、Ｃ１６０は、Ｃ２０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ２０、Ｃ５０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ５０、Ｃ１００≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ１００、Ｃ１６０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ１６０、であった。したがって、これらの値が、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１で設定した相関距離Ｒと相関があり得ることが確認できた。
以上から、素子のネットワーク構造は、中心間距離ＣＤと平均角度との関係に基づき、平均角度をある所定値にした際に決定づけられるＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅの値を、相関距離Ｒとして有し得ることが確認できた。
図１４では、ｃｕｔｏｆｆ０は、作成装置２で作成したデータ素子Ｄの相関距離Ｒが０であることを示し、他のグラフ（Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）も同様である。
抽出装置３の算出部３１３が、とある中心間距離ＣＤでの各ナノロッドに複数のペアを設定し、それぞれのペア同士の中心間距離ＣＤと、ナノロッドがなす角θを算出し、得たデータをまとめると、図１４のグラフが描けた。
図１４では、平均角度Ａ２は４５°である。これは、ｃｕｔｏｆｆ０では、ペアとなる各ナノロッド間の中心間距離ＣＤ（ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ）が上昇すれば、各ナノロッドがなす角θ（０≦θ≦９０°）は平均角度４５°をとり得ることが読み取れる。他のグラフ（Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）も同様である。すなわち、平均角度Ａ２は、ナノロッドに近似される複数の構成要素５１ａを持つ素子５のネットワーク構造５１がランダムに配向されていることを意味する。
図１４は、作成装置２にて作成したデータ素子Ｄをキャプチャした画像を使用している。この場合、ペアとなる各ナノロッド間の中心間距離ＣＤ（ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ）が上昇すれば、ナノロッドに近似される複数の構成要素を持つデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１がランダムに配向されていることを意味する。
この中心間距離ＣＤと平均角度との関係に、所定の平均角度を設定する。例えば、本実施形態では、所定の平均角度Ａ１（２２．５°）を設定した。平均角度Ａ１と、各グラフ（Ｃｕｔｏｆｆ０、Ｃｕｔｏｆｆ２０、Ｃｕｔｏｆｆ５０、Ｃｕｔｏｆｆ１００、Ｃｕｔｏｆｆ１６０）と、が交わる点（ｗ、ｘ、ｙ、ｚ）でのＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅは、Ｃ２０、Ｃ５０、Ｃ１００、Ｃ１６０である。
Ｃ２０、Ｃ５０、Ｃ１００、Ｃ１６０は、Ｃ２０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ２０、Ｃ５０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ５０、Ｃ１００≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ１００、Ｃ１６０≒ＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅ１６０、であった。したがって、これらの値が、作成装置２で作成したデータ素子Ｄのネットワーク構造Ｄ１で設定した相関距離Ｒと相関があり得ることが確認できた。
以上から、素子のネットワーク構造は、中心間距離ＣＤと平均角度との関係に基づき、平均角度をある所定値にした際に決定づけられるＣＮＴ－ＣＮＴ ｄｉｓｔａｎｃｅの値を、相関距離Ｒとして有し得ることが確認できた。
【0087】
【0088】
以上、本開示の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として示したものであり、開示の範囲を限定することは意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本開示の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、本開示の範囲や要旨に含まれると同様に、本開示とその均等の範囲に含まれるものとする。
【0089】
上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
【0090】
（付記１）
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備える
抽出装置。
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備える
抽出装置。
【0091】
（付記２）
前記決定部は、代表角度として、各ナノロッド間距離について前記角度の代表値を集計し、前記ナノロッド間距離と前記代表角度との関係に基づき、前記代表角度が所定値である場合の前記ナノロッド間距離を、前記相関距離として決定する
付記１に記載の抽出装置。
前記決定部は、代表角度として、各ナノロッド間距離について前記角度の代表値を集計し、前記ナノロッド間距離と前記代表角度との関係に基づき、前記代表角度が所定値である場合の前記ナノロッド間距離を、前記相関距離として決定する
付記１に記載の抽出装置。
【0092】
（付記３）
各構成要素は、ナノカーボンである
付記１または２に記載の抽出装置。
各構成要素は、ナノカーボンである
付記１または２に記載の抽出装置。
【0093】
（付記４）
各構成要素は、カーボンナノチューブである
付記１から３のいずれか１項に記載の抽出装置。
各構成要素は、カーボンナノチューブである
付記１から３のいずれか１項に記載の抽出装置。
【0094】
（付記５）
付記１から４のいずれか１項に記載の抽出装置と、
前記画像を撮像する撮像装置と、
を備える
画像解析装置。
付記１から４のいずれか１項に記載の抽出装置と、
前記画像を撮像する撮像装置と、
を備える
画像解析装置。
【0095】
（付記６）
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
作成装置。
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
作成装置。
【0096】
（付記７）
前記相関距離は、前記ナノロッドの配向を変化させる。
付記６に記載の作成装置。
前記相関距離は、前記ナノロッドの配向を変化させる。
付記６に記載の作成装置。
【0097】
（付記８）
前記第二設定部は、所定の各中心の中心間距離内に、他の中心が存在する際に、他の中心に設定された前記ナノロッドの配向に沿って、所定の各中心に前記ナノロッドを設定する
付記６または７に記載の作成装置。
前記第二設定部は、所定の各中心の中心間距離内に、他の中心が存在する際に、他の中心に設定された前記ナノロッドの配向に沿って、所定の各中心に前記ナノロッドを設定する
付記６または７に記載の作成装置。
【0098】
（付記９）
撮像装置と、抽出装置と、作成装置と、を備え、
前記撮像装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像を撮像し、
前記抽出装置は、
前記画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備え、
前記作成装置は、
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
評価システム。
撮像装置と、抽出装置と、作成装置と、を備え、
前記撮像装置は、複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像を撮像し、
前記抽出装置は、
前記画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出する抽出部と、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得する算出部と、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定する決定部と、
を備え、
前記作成装置は、
複数の中心を決定する振分部と、
各中心について、相関距離を設定する第一設定部と、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定する第二設定部と、
を備える
評価システム。
【0099】
（付記１０）
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
を含む
相関距離抽出方法。
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度とを取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
を含む
相関距離抽出方法。
【0100】
（付記１１）
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度を取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
複数のナノロッドに近似される複数の構成要素を備えるネットワーク構造の画像に基づいて、前記複数のナノロッドを抽出するステップと、
前記複数のナノロッドの各ペアの、ナノロッド間距離と角度を取得するステップと、
前記ナノロッド間距離と前記角度との関係に基づいて、相関距離を決定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
【0101】
（付記１２）
複数の中心を決定するステップと、
各中心について、相関距離を設定するステップと、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定するステップと、
を含む
データ作成方法。
複数の中心を決定するステップと、
各中心について、相関距離を設定するステップと、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定するステップと、
を含む
データ作成方法。
【0102】
（付記１３）
複数の中心を決定するステップと、
各中心について、相関距離を設定するステップと、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
複数の中心を決定するステップと、
各中心について、相関距離を設定するステップと、
前記相関距離と、各中心と他の中心との距離である中心間距離に基づいて、前記他の中心に対しナノロッドを設定するステップと、
をコンピュータに実行させる
プログラム。
【符号の説明】
【0103】
１ 評価システム
２ 作成装置
２１１ 振分部
２１２ 第一設定部
２１３ 第二設定部
２１４ 算出部
２１５ 生成部
２１６ 取得部
２１７ 記憶部
３ 抽出装置
３１１ 変換部
３１２ 抽出部
３１３ 算出部
３１４ 決定部
３１５ 取得部
３１６ 記憶部
４ 撮像装置
５ 素子
５１ ネットワーク構造
５１ａ 構成要素
６ 画像解析装置
７０ 作成装置
７０１ 振分部
７０２ 第一設定部
７０３ 第二設定部
８０ 抽出装置
８０１ 抽出部
８０２ 算出部
８０３ 決定部
１０１ 評価システム
６００ 撮像装置
７００ 作成装置
７１０ 振分部
７２０ 第一設定部
７３０ 第二設定部
８００ 抽出装置
８１０ 抽出部
８２０ 算出部
８３０ 決定部
２ 作成装置
２１１ 振分部
２１２ 第一設定部
２１３ 第二設定部
２１４ 算出部
２１５ 生成部
２１６ 取得部
２１７ 記憶部
３ 抽出装置
３１１ 変換部
３１２ 抽出部
３１３ 算出部
３１４ 決定部
３１５ 取得部
３１６ 記憶部
４ 撮像装置
５ 素子
５１ ネットワーク構造
５１ａ 構成要素
６ 画像解析装置
７０ 作成装置
７０１ 振分部
７０２ 第一設定部
７０３ 第二設定部
８０ 抽出装置
８０１ 抽出部
８０２ 算出部
８０３ 決定部
１０１ 評価システム
６００ 撮像装置
７００ 作成装置
７１０ 振分部
７２０ 第一設定部
７３０ 第二設定部
８００ 抽出装置
８１０ 抽出部
８２０ 算出部
８３０ 決定部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
