特開 2024-172403 自動分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024172403

(43)【公開日】2024-12-12

(54)【発明の名称】自動分析装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/04 20060101AFI20241205BHJP

【ＦＩ】

G01N35/04 A

【審査請求】未請求

【請求項の数】16

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023090103

(22)【出願日】2023-05-31

(71)【出願人】

【識別番号】594164542

【氏名又は名称】キヤノンメディカルシステムズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100107582

【弁理士】

【氏名又は名称】関根 毅

(74)【代理人】

【識別番号】100196047

【弁理士】

【氏名又は名称】柳本 陽征

(74)【代理人】

【識別番号】100202429

【弁理士】

【氏名又は名称】石原 信人

(74)【代理人】

【識別番号】100220630

【弁理士】

【氏名又は名称】河崎 亮

(72)【発明者】

【氏名】小森 裕也

(72)【発明者】

【氏名】小笠原 誠

(72)【発明者】

【氏名】松田 勇

(72)【発明者】

【氏名】児玉 究

(72)【発明者】

【氏名】下平 雄貴

(72)【発明者】

【氏名】瀬町 崇浩

【テーマコード（参考）】

2G058

【Ｆターム（参考）】

2G058CD04

2G058CF16

2G058CF22

2G058GA03

2G058GB08

2G058GB10

(57)【要約】

【課題】反応ディスクの回転駆動状態をモニタリングできるようにすることである。
【解決手段】実施形態に係る自動分析装置は、複数の反応容器を支持するセルホルダを保持する反応ディスクと、前記反応容器に対応して前記セルホルダに設けられる検知板の位置を検知する検知部により検知された検知データ、及び、前記反応容器を透過した光を検出する光検出部により検出された測光データの少なくともいずれか一方に基づいて、前記反応ディスクの回転速度を算出する算出部と、を備える。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

複数の反応容器を支持するセルホルダを保持する反応ディスクと、
前記反応容器に対応して前記セルホルダに設けられる検知板の位置を検知する検知部により検知された検知データ、及び、前記反応容器を透過した光を検出する光検出部により検出された測光データの少なくともいずれか一方に基づいて、前記反応ディスクの回転速度を算出する算出部と、
を備える自動分析装置。

【請求項2】

前記算出部は、前記検知データを用いて前記回転速度を算出する場合、前記検知データに加えて、前記検知板の寸法に関する検知板寸法データを用いて、前記反応ディスクの回転速度を算出する、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項3】

前記算出部は、前記検知板寸法データにおける前記検知板の寸法を前記検知データの１周期の時間で除算して、前記反応ディスクの回転速度を算出する、請求項２に記載の自動分析装置。

【請求項4】

前記算出部は、前記検知データを用いて前記回転速度を算出する場合、前記検知データに加えて、前記検知データの１周期の時間と、前記反応ディスクの回転速度とを関連付けた第１回転速度算出テーブルを用いて、前記回転速度を算出する、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項5】

前記検知板は、前記セルホルダに支持された複数の反応容器のうち、１つの前記反応容器に対して、１つ設けられる、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項6】

前記検知板は、前記セルホルダに支持された複数の反応容器のうち、２つ以上の反応容器に対して、１つ設けられる、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項7】

前記算出部は、前記測光データを用いて前記回転速度を算出する場合、前記測光データに加えて、前記セルホルダに支持された前記反応容器の寸法に関する反応容器寸法データを用いて、前記反応ディスクの回転速度を算出する、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項8】

前記算出部は、前記反応容器寸法データにおける前記反応容器の寸法を前記測光データにおける前記反応容器を透過した光の検出時間で除算することにより、前記反応ディスクの回転速度を算出する、請求項７に記載の自動分析装置。

【請求項9】

前記算出部は、前記測光データを用いて前記回転速度を算出する場合、前記測光データに加えて、前記測光データの１周期の時間と、前記反応ディスクの回転速度とを関連付けた第２回転速度算出テーブルを用いて、前記回転速度を算出する、請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項10】

算出された前記反応ディスクの回転速度に基づいて、前記反応ディスクが回転を開始してから終了するまでの１サイクル分の前記反応ディスクの回転速度に関する回転速度データを生成する生成部をさらに備える、請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の自動分析装置。

【請求項11】

前記算出部により算出された前記反応ディスクの回転速度に基づいて、前記反応ディスクに異常があるか否かを判定する異常判定部を備える、請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の自動分析装置。

【請求項12】

前記異常判定部は、前記反応ディスクの異常の判定結果と前記反応容器に収容されている反応液の測定データに関する測定データ情報とを関連付ける、請求項１１に記載の自動分析装置。

【請求項13】

前記反応ディスクの回転速度に基づいて、前記反応ディスクの異常の判定結果を通知する第１通知部をさらに備える、請求項１２に記載の自動分析装置。

【請求項14】

前記第１通知部は、前記測定データ情報とともに、前記反応ディスクの回転速度に対する前記反応ディスクの異常の判定結果を通知する、請求項１３に記載の自動分析装置。

【請求項15】

前記算出部は、前記反応ディスクの回転速度のばらつきを算出し、
前記異常判定部は、前記算出部により算出された、前記反応ディスクの回転速度のばらつきに基づいて、前記反応ディスクに異常があるか否かを判定する、請求項１１に記載の自動分析装置。

【請求項16】

前記反応ディスクの回転速度のばらつきに対する前記反応ディスクの異常の判定結果を通知する第２通知部をさらに備え、
前記第２通知部は、前記異常判定部により前記反応ディスクの回転速度のばらつきに基づく時系列データに異常があると判定された場合に、故障予測に関する故障予測情報又は前記反応ディスクのメンテナンスに関するメンテナンス情報を通知する、請求項１５に記載の自動分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。

【背景技術】

【0002】

自動分析装置は、血液などの被検体から採取された被検試料又は各検査項目の標準試料などの試料と、各検査項目に対応する試薬とを混合することで得られる反応液を、例えば、光学的に測定することで、各検査項目に対応した被検試料の成分を分析する装置である。この反応液の光学的な測定には、反応容器に収容された反応液に光を照射する光源と、その透過光や散乱光を検出する光検出器とを備える測光ユニットが用いられる。

【0003】

従来より、自動分析装置は、反応液の光学的な測定を行うために、反応容器が配置される反応ディスクを回転駆動させて、光源と光検出器との光軸上を通過した反応液に光を照射し、その透過光や散乱光の光量を検出して、所定のタイミングにおいて、検出された光量に関する測定データを取得している。このような自動分析装置において、反応容器の光学的な測定を正確且つ高精度に行うために、反応液が収容された反応容器の中央部分が光源と光検出器との光軸中心を通過するタイミングで、反応液の測定データを取得することが望ましい。

【0004】

近年、このような自動分析装置において、単位時間あたりの処理検体数を表すスループットを向上するために、反応ディスクを大型にする傾向がある。このため、反応ディスクのがたつきや、反応ディスク及び反応ディスクを回転駆動するための回転駆動系を構成する部品の寸法公差が大きくなり、反応ディスクの回転速度が一定にならないことから、反応液の測定データを取得するタイミングが不安定になり、反応液の測定データが不安定になる場合がある。また、このような自動分析装置において、反応ディスクを大型にし、かつ、高速で回転する傾向もある。このため、回転駆動系の摩耗量が増加することとなり、回転駆動系が故障する要因となる場合もある。したがって、自動分析装置において、反応ディスクの回転駆動状態をモニタリングできるようにすることが望まれている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００７－１８３１４０号公報

【特許文献2】特開２０２２－０５０９５２号公報

【特許文献3】特開２００４－３０１５０９号公報

【特許文献4】特開２０１２－１０８０６１号公報

【特許文献5】特許第４９０１７６６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、反応ディスクの回転駆動状態をモニタリングできるようにすることである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記の課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

【課題を解決するための手段】

【0007】

実施形態に係る自動分析装置は、複数の反応容器を支持するセルホルダを保持する反応ディスクと、前記反応容器に対応して前記セルホルダに設けられる検知板の位置を検知する検知部により検知された検知データ、及び、前記反応容器を透過した光を検出する光検出部により検出された測光データの少なくともいずれか一方に基づいて、前記反応ディスクの回転速度を算出する算出部と、を備える。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】第１実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。

【図2】第１実施形態に係る分析機構の構成を示す模式図。

【図3】第１実施形態に係る分析機構における反応ディスクに保持されるセルホルダの一例を示す図。

【図4】第１実施形態に係る分析機構における反応ディスクに保持されるセルホルダの他の例を示す図。

【図5】第１実施形態に係る分析機構において、検知板の検知時における、セルホルダとセンサとの断面を示す断面図。

【図6】第１実施形態に係る位置検知データと測光データの一例を示す図。

【図7】第１実施形態に係る生成機能において生成される回転速度データの一例を示す図。

【図8】第１実施形態に係る自動分析装置で実行される第１通知処理の内容を説明するフローチャート図。

【図9】第１実施形態に係る自動分析装置で実行される第１通知処理において生成された回転速度データの一例を示す図。

【図10】第１実施形態に係る自動分析装置において、反応ディスクの異常を判定する判定方法の一例を示す図。

【図11】第１実施形態に係る自動分析装置で実行される第１通知処理において生成された回転速度データの他の例を示す図。

【図12】第１実施形態に係る自動分析装置において、反応ディスクの異常の通知の一例を示す図。

【図13】第１実施形態に係る自動分析装置において、反応ディスクの異常の通知の他の例を示す図。

【図14】第１実施形態に係る自動分析装置で実行される第２通知処理の内容を説明するフローチャート図。

【図15】第１実施形態に第２通知処理において生成された回転速度データの一例を示す図。

【図16】第１実施形態に係る第２通知処理において取得された回転速度のばらつきの時系列データの一例を示す図。

【図17】変形例１に係る記憶回路に記憶される第１回転速度算出テーブルの一例を示す図。

【図18】第２実施形態に係る分析機構における反応ディスクに保持されるセルホルダの一例を示す図。

【図19】第２実施形態に係る位置検知データと測光データの一例を示す図。

【図20】第２実施形態に係る自動分析装置で実行される第１通知処理の内容を説明するフローチャート図。

【図21】第２実施形態に係る自動分析装置で実行される第２通知処理の内容を説明するフローチャート図。

【図22】変形例２に係る記憶回路に記憶される第２回転速度算出テーブルの一例を示す図。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について説明する。なお、以下の説明において実質的に同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。

【0010】

〔第１実施形態〕
図１は、第１実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図である。本実施形態に係る自動分析装置１は、例えば、測定対象の試料に試薬を添加して得られる反応液を測定することにより、試料内の成分を測定する装置である。この図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１は、例えば、分析機構２と、解析回路３と、駆動機構４と、入力インターフェース５と、出力インターフェース６と、通信インターフェース７と、記憶回路８と、制御回路９とを備えて構成されている。

【0011】

分析機構２は、標準試料又は被検試料等の試料に、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬を添加する。分析機構２は、試料に試薬を添加して得られる反応液を測定し、例えば、標準データ及び被検データを生成する。本実施形態においては、標準データは、含まれる検出対象の濃度が既知の標準試料についての吸光度の測定結果を表す。また、被検データは、被検試料についての吸光度の測定結果を表す。なお、以下において、標準試料と被検試料を区別せずに表現する場合は、単に「試料」と表記する場合がある。

【0012】

解析回路３は、分析機構２により生成される標準データ及び被検データを解析することで、検量データ及び分析データ等を生成するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路８から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って検量データ及び分析データなどを生成する。例えば、解析回路３は、標準データと、標準データに基づき、標準試料について予め設定された標準値との関係を示す検量データとを生成する。また、解析回路３は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路３は生成した検量データ及び分析データなどを制御回路９へ出力する。

【0013】

駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。例えば、駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

【0014】

入力インターフェース５は、例えば、ユーザから又は病院内ネットワークＮＷを介して、測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース５は、制御回路９に接続され、ユーザから入力される操作指示を電気信号へ変換し、この電気信号を制御回路９へ出力する。なお、本実施形態においては、入力インターフェース５は、マウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路９へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース５の例に含まれる。

【0015】

出力インターフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インターフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。

【0016】

通信インターフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷに接続されており、自動分析装置１を病院内ネットワークＮＷに接続する。通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Hospital Information System）とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システム（Laboratory Information System:ＬＩＳ）を介してＨＩＳとデータ通信を行っても構わない。

【0017】

記憶回路８は、磁気的、若しくは、光学的記録媒体、又は、半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により構成されている。なお、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現することもできる。

【0018】

また、記憶回路８は、解析回路３で実行される解析プログラム、及び、制御回路９で実行される制御プログラムを記憶している。記憶回路８は、解析回路３により生成される分析データを検査項目毎に記憶する。

【0019】

制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路９は、記憶回路８に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えていてもよい。

【0020】

図２は、第１実施形態に係る分析機構２の構成を示す模式図である。この図２に示すように、本実施形態に係る分析機構２は、例えば、反応ディスク２０１と、恒温部２０２と、サンプルディスク２０３と、第１試薬庫２０４と、第２試薬庫２０５と、サンプル分注アーム２０６と、サンプル分注プローブ２０７と、第１試薬分注アーム２０８と、第１試薬分注プローブ２０９と、第２試薬分注アーム２１０と、第２試薬分注プローブ２１１と、第１撹拌ユニット２１２と、第２撹拌ユニット２１３と、測光ユニット２１４と、洗浄ユニット２１５と、センサ２１６と、セルホルダ３０１とを備えて構成されている。

【0021】

反応ディスク２０１は、複数のセルホルダ３０１を着脱可能に、円周上に保持する。また、反応ディスク２０１は、セルホルダ３０１を介して、複数の反応容器２０１１を所定の間隔を開けて円弧状に配列させて支持する。反応ディスク２０１は、セルホルダ３０１を介して、複数の反応容器２０１１を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、試料と試薬の反応液の分析動作中、反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器２０１１は、例えば、ガラス、ポリプロピレン（ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ：ＰＰ）又はアクリルにより形成されている。

【0022】

図３は、本実施形態に係る分析機構２における反応ディスク２０１に保持されるセルホルダ３０１の一例を示す図である。図３に示すように、セルホルダ３０１は、複数の反応容器２０１１にそれぞれ対応する複数の位置に応じて、セルホルダ３０１の外縁部分３０１１から水平方向に突き出た複数の突出部分３０１２それぞれに直立されて配列された複数の検知板３０１３を有する。図３に示す例において、検知板３０１３は、セルホルダ３０１に支持された複数の反応容器２０１１のうち、２つの反応容器２０１１に対して、１つ設けられている。つまり、図３に示す例において、セルホルダ３０１は、２２個の反応容器２０１１に対して、１１個の検知板３０１３を有する。

【0023】

なお、本実施形態において、検知板３０１３は、２つの反応容器２０１１に対して、１つ設けられることとしたが、１つの検知板３０１３に対する反応容器２０１１の数は、これに限られない。すなわち、１つの検知板３０１３に対して設けられる反応容器２０１１の数は任意であり、１つの検知板３０１３に対して３つ以上の反応容器２０１１が設けられるようにしてもよい。

【0024】

また、上述した本実施形態に係る検知板３０１３は、複数の反応容器２０１１に対して、１つ設けられることとしたが、検知板３０１３は、１つの反応容器２０１１に対して、１つ設けられてもよい。図４は、本実施形態に係る分析機構２における反応ディスク２０１に保持されるセルホルダ３０１の他の例を示すブロック図であり、図３に対応する図である。図４に示すように、本実施形態に係る検知板３０１３は、セルホルダ３０１に支持された複数の反応容器２０１１のうち、１つの反応容器２０１１に対して、１つ設けられている。つまり、図４に示す例において、セルホルダ３０１は、１１個の反応容器２０１１に対して、１１個の検知板３０１３を有する。

【0025】

図３及び図４に示すように、本実施形態に係るセルホルダ３０１における検知板３０１３は、複数の反応容器２０１１に対して、１つ設けられる場合だけでなく、１つの反応容器２０１１に対して、１つ設けられる場合にも適用可能である。以下の説明では、図３に示すように、検知板３０１３が、複数の反応容器２０１１に対して、１つ設けられる場合を例として、本実施形態の詳細を説明する。

【0026】

また、本実施形態において、記憶回路８には、検知板寸法データが記憶されている。検知板寸法データとは、複数の検知板３０１３の寸法に関するデータである。具体的には、本実施形態に係る検知板寸法データは、図３に示すように、複数の検知板３０１３それぞれの回転方向に沿った幅の寸法Ａ１と、隣接する検知板３０１３同士の間隙３０１４それぞれの回転方向に沿った幅の寸法Ｂ１とを含んでいる。このような検知板寸法データは、複数の検知板３０１３のそれぞれの幅の寸法Ａ１及び間隙３０１４それぞれの幅の寸法Ｂ１をノギスなどの測定器具により測定し、記憶回路８に記憶するようにしてもよく、反応容器２０１１を低速で回転させて、測定装置（図示せず）などを用いて、検知板３０１３の寸法を正確に測定して、記憶回路８に記憶するようにしてもよい。

【0027】

なお、本実施形態に係る検知板寸法データは、複数の検知板３０１３それぞれの幅の寸法Ａ１と、複数の間隙３０１４それぞれの幅の寸法Ｂ１とを含むこととしたが、検知板寸法データは、複数の検知板３０１３それぞれの幅の寸法Ａ１及び間隙３０１４の寸法Ｂ１のいずれ一方を含むようにしてもよい。また、検知板寸法データは、複数の検知板３０１３それぞれの幅の寸法Ａ１と、複数の間隙３０１４それぞれの幅の寸法Ｂ１とを含むこととしたが、１つの検知板３０１３の幅の寸法と、１つの間隙３０１４の幅の寸法とを含むようにしてもよい。

【0028】

なお、検知板３０１３は、複数の突出部分３０１２のそれぞれに直立されて配列されることとしたが、セルホルダ３０１は複数の突出部分３０１２を有することなく、検知板３０１３は、外縁部分３０１１に直立されて配列されるように設けてもよい。

【0029】

恒温部２０２は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留する。恒温部２０２は、貯留する熱媒体に反応容器２０１１を浸漬させることで、反応容器２０１１に収容される反応液を所定の温度まで昇温し保温する。

【0030】

サンプルディスク２０３は、試料を収容する試料容器を複数保持する。サンプルディスク２０３は、駆動機構４により回動されることによって、サンプルディスク２０３に保持された各試料容器を予め設定された位置に搬送する。なお、この試料容器を搬送する機構は、サンプルディスク２０３に限られず、サンプルディスク２０３に代えて１又は複数の試料容器が収容されたラックを所定の位置に搬送するラックサンプラにより構成されてもよい。

【0031】

第１試薬庫２０４は、標準試料及び被検試料に含まれる所定の成分と反応する第１試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第１試薬は、例えば、ウシ血清アルブミン（ＢＳＡ）等を含む緩衝液である。試薬容器には、試薬ラベルが貼付されている。試薬ラベルには、試薬情報を表す光学式マークが印刷されている。光学式マークには、例えば、１次元画素コード及び２次元画素コード等、任意の画素コードが用いられる。試薬情報は、試薬容器に収容される試薬に関する情報であり、例えば、試薬名、試薬メーカコード、試薬項目コード、ボトル種類、ボトルサイズ、容量、製造ロット番号、及び、有効期間等を含んでいる。

【0032】

また、第１試薬庫２０４は、標準試料を収容する標準試料容器を複数保冷する。複数の標準試料容器のそれぞれには、濃度が異なる同一の成分の標準試料が収容されている。

【0033】

第１試薬庫２０４内には、試薬ラック２０４１が回転自在に設けられている。試薬ラック２０４１は、複数の試薬容器及び複数の標準試料容器を、円環状に配列して保持する。試薬ラック２０４１は、駆動機構４により回動される。また、第１試薬庫２０４内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ（図示せず）が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路８で記憶される。

【0034】

第１試薬庫２０４上の所定の位置には、第１試薬吸引位置が設定されている。第１試薬吸引位置は、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、試薬ラック２０４１に円環状に配列される試薬容器及び標準試料容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

【0035】

第２試薬庫２０５は、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第２試薬は、試料に含まれる所定の抗原又は抗体と、特異的抗原抗体反応により結合又は乖離する抗原又は抗体が固定化された不溶性担体、例えば、担体粒子を含む溶液である。特異的反応により結合又は乖離するものとして酵素、基質、アプタマー、受容体であっても良い。第２試薬庫２０５内には、試薬ラック２０５１が回転自在に設けられている。

【0036】

試薬ラック２０５１は、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。なお、第２試薬庫２０５において、標準試料を収容する標準試料容器が保冷されていてもよい。試薬ラック２０５１は、駆動機構４により回動される。また、第２試薬庫２０５内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ（図示せず）が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路８で記憶される。

【0037】

第２試薬庫２０５上の所定の位置には、第２試薬吸引位置が設定されている。第２試薬吸引位置は、例えば、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、試薬ラック２０５１に円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

【0038】

サンプル分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とサンプルディスク２０３との間に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、一端にサンプル分注プローブ２０７を保持する。

【0039】

サンプル分注プローブ２０７は、サンプル分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプルディスク２０３に保持された試料容器から試料を吸引するための分注位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道上には、サンプル分注プローブ２０７が吸引した試料を反応容器２０１１へ吐出するためのサンプル吐出位置が設けられている。サンプル吐出位置は、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

【0040】

サンプル分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、分注位置又はサンプル吐出位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、分注位置において、サンプルディスク２０３に保持された試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。

【0041】

第１試薬分注アーム２０８は、第１試薬庫２０４の外周近傍に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、一端に第１試薬分注プローブ２０９を保持している。

【0042】

第１試薬分注プローブ２０９は、第１試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、前述の第１試薬吸引位置が設けられている。また、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０９が吸引した第１試薬又は標準試料を反応容器２０１１へ吐出するための第１試薬吐出位置が設定されている。第１試薬吐出位置は、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

【0043】

第１試薬分注プローブ２０９は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第１試薬吸引位置又は第１試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、第１試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第１試薬又は標準試料を吸引する。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した第１試薬又は標準試料を、第１試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。

【0044】

第２試薬分注アーム２１０は、第１試薬庫２０４の外周近傍に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、一端に第２試薬分注プローブ２１１を保持している。

【0045】

第２試薬分注プローブ２１１は、第２試薬分注アーム２１０の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、前述の第２試薬吸引位置が設けられている。また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１１が吸引した第２試薬を反応容器２０１１へ吐出するための第２試薬吐出位置が設定されている。第２試薬吐出位置は、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

【0046】

第２試薬分注プローブ２１１は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第２試薬吸引位置、又は第２試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、第２試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。

【0047】

第１撹拌ユニット２１２は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌アーム２１２１を有し、また、この第１撹拌アーム２１２１の先端に設けられる第１撹拌子を有する。第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌子により、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている標準試料と第１試薬との反応液を撹拌する。また、第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌子により、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている被検試料と第１試薬との反応液を撹拌する。

【0048】

第２撹拌ユニット２１３は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌アーム２１３１を有し、また、この第２撹拌アーム２１３１の先端に設けられる第２撹拌子を有する。第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌子により、反応ディスク２０１上の第２撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている標準試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を撹拌する。また、第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌子により、第２撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている被検試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を撹拌する。

【0049】

測光ユニット２１４は、反応容器２０１１内に吐出された試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を光学的に測定する。測光ユニット２１４は、光源２１４１、及び、光検出器２１４２を有する。測光ユニット２１４は、制御回路９の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応容器２０１１の第１側壁から入射され、第１側壁と対向する第２側壁から出射される。測光ユニット２１４は、反応容器２０１１から出射された光を、光検出器２１４２により検出する。この測光ユニット２１４は、本実施形態における測光部に相当する。また、光検出器２１４２は、本実施形態における光検出部に相当する。

【0050】

具体的には、例えば、光検出器２１４２は、光源２１４１から反応容器２０１１に照射される光の光軸上の位置に配置されている。光検出器２１４２は、反応容器２０１１内の標準試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を透過した光を検出する。自動分析装置１は、この光検出器２１４２が検出した光の強度により表される測光データを取得する。そして、自動分析装置１は、この測光データから所定のタイミングで取得される測定データに基づき、吸光度により表される標準データを生成する。また、光検出器２１４２は、反応容器２０１１内の被検試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を透過した光を検出する。自動分析装置１は、この光検出器２１４２が検出した光の強度により表される測光データを取得する。そして、自動分析装置１は、この測光データから所定のタイミングで取得される測定データに基づき、吸光度により表される被検データを生成する。測光ユニット２１４は、生成した標準データ及び被検データを解析回路３へ出力する。

【0051】

洗浄ユニット２１５は、測光ユニット２１４で反応液の測定が終了した反応容器２０１１の内部を洗浄する。

【0052】

センサ２１６は、反応ディスク２０１が回転することによるセルホルダ３０１の回転に応じて、セルホルダ３０１に設けられた複数の検知板３０１３をそれぞれ検知する。図５は、本実施形態に係る分析機構２において、検知板３０１３の検知時における、セルホルダ３０１とセンサ２１６との断面を示す断面図である。

【0053】

図５に示すように、センサ２１６は、検知板３０１３の検知時において、検知板３０１３の上方の端部（以下、上端と呼ぶ）に覆い被さるように、分析機構２に設けられている。また、図５に示すように、本実施形態において、センサ２１６は、凹型形状を有する。凹型形状の凹部は、直立した検知板３０１３の上端に覆い被さるように設けられる。すなわち、センサ２１６における凹型形状の凹部は、鉛直下向きに設けられる。このセンサ２１６は、例えば、フォトインタラプタである。

【0054】

また、図５に示すように、センサ２１６は、光を照射する照射部２１６１と、照射部２１６１から照射された光を受光する受光部２１６２とを有する。この照射部２１６１と受光部２１６２とは対向して設けられる。照射部２１６１は受光部２１６２に向けて光を照射する。図５に示す点線は、照射部２１６１から受光部２１６２に向けて照射される光の照射ラインを示している。そして、センサ２１６は、照射部２１６１から照射された光が検知板３０１３により遮断されると信号を出力せず、照射部２１６１から照射された光が間隙３０１４を通り受光部２１６２にて受光されると信号を出力する。そして、測光ユニット２１４は、センサ２１６が検知板３０１３を検知した検知結果、すなわち、センサ２１６の信号の出力結果に基づいて、測光データから反応容器２０１１内の反応液の測定データを取得するタイミングを決定する。このため、センサ２１６は、図５に示すように、例えば、測光ユニット２１４の光路の上方に配置される。以下、このセンサ２１６が出力する信号のデータを位置検知データと呼ぶ。この位置検知データは、本実施形態に係る検知データに相当する。

【0055】

図６は、本実施形態に係る位置検知データと測光データの一例を示す図である。図６に示す例において、位置検知データＤ１は、所定の周期で繰り返されるパルス状の波形である。この位置検知データＤ１は、照射部２１６１から照射された光が検知板３０１３により遮断されるときＯＦＦとなり、照射部２１６１から照射された光が受光部２１６２で受光されるときＯＮとなる。そのため、検知板３０１３と間隙３０１４がセンサ２１６を通過した時間が、この位置検知データＤ１の１周期の時間Ｔ１となる。本実施形態において、図６に示すように、位置検知データＤ１の１周期の時間Ｔ１は、センサ２１６がＯＦＦになってから次にＯＦＦになるまでの時間である。つまり、自動分析装置１は、位置検知データＤ１に基づいて、検知板３０１３及び間隙３０１４がセンサ２１６を通過する時間を取得することができる。なお、１周期の時間Ｔ１の取り方は任意であり、ＯＮになってから次にＯＮになるまでの時間であってもよい。

【0056】

また、図６に示す例において、測光データＤ２は、所定の周期で繰り返される波形であり、光源２１４１から発生された光が反応容器２０１１に収容された反応液を透過した光が光検出器２１４２にて検出される場合、光検出器２１４２の検出値は高くなり、光源２１４１から発生された光が反応容器２０１１に収容された反応液以外を透過した光が光検出器２１４２にて検出される場合、光検出器２１４２の検出値は低くなる。

【0057】

これらの位置検知データＤ１及び測光データＤ２を用いて、自動分析装置１は、測光データＤ２の検出値が高いタイミング、すなわち、反応容器２０１１の中央部分が光源２１４１と光検出器２１４２との光軸中心を通過するタイミングで測定データを取得する。具体的には、自動分析装置１は、位置検知データＤ１においてＯＮ又はＯＦＦとなった時から所定の時間経過後のタイミングで測定データを取得する。本実施形態において、自動分析装置１は、１つの検知板３０１３に対して、２つの反応容器２０１１が設けられているため、位置検知データＤ１がＯＦＦとなった時から第１の時間経過後の第１のタイミングＳ１において、測光データＤ２から１つの反応容器２０１１に収容された反応液の測定データを取得し、位置検知データＤ１がＯＦＦとなった時から第１の時間より後の第２の時間経過後の第２のタイミングＳ２において、測光データＤ２からもう１つの反応容器２０１１の収容された反応液の測定データを取得する。なお、この測定データを取得する際、自動分析装置１は、測定データを取得するタイミングから所定の時間分の複数の測光データＤ２を取得し、取得した複数の測光データＤ２の平均値や積分値を測定データとして取得するようにしてもよい。このように、位置検知データＤ１に基づいて、所定のタイミングで測定データを取得しているため、反応ディスク２０１の回転が不安定になると、図６に示すタイミングＳ３などの反応容器２０１１が光源２１４１と光検出器２１４２との光軸中心を通過していないタイミングで測定データを取得することになり、正確な測定データを得ることができない。

【0058】

図１に示す制御回路９は、例えば、制御プログラムを実行することで、制御機能９１と、取得機能９２と、算出機能９３と、生成機能９４と、異常判定機能９５と、第１通知機能９６と、第２通知機能９７とを実現する。なお、本実施形態では単一のプロセッサによって制御機能９１と、取得機能９２と、算出機能９３と、生成機能９４と、異常判定機能９５と、第１通知機能９６と、第２通知機能９７とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより制御機能９１と、取得機能９２と、算出機能９３と、生成機能９４と、異常判定機能９５と、第１通知機能９６と、第２通知機能９７とを実現しても構わない。

【0059】

制御機能９１は、入力インターフェース５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。例えば、制御機能９１は、制御回路９において、駆動機構４及び分析機構２を制御すると共に、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路３を制御する。

【0060】

取得機能９２は、位置検知データや測光データを取得したり、位置検知データと測光データとに基づいて、反応液の測定データを取得したりする。

【0061】

算出機能９３は、位置検知データ及び測光データの少なくともいずれか一方に基づいて、反応ディスク２０１の回転速度を算出する。また、算出機能９３は、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきを表す指標として、反応ディスク２０１の回転速度の標準偏差やＣＶ（Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｏｆ Ｖａｒｉａｔｉｏｎ：変動係数）値、レンジ値などを算出する。

【0062】

生成機能９４は、算出機能９３により算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、反応ディスク２０１が回転を開始してから終了するまでの１サイクル毎の反応ディスク２０１の回転速度に関する回転速度データを生成する。反応ディスク２０１は１サイクルで約９０°回転する。図７は、本実施形態に係る生成機能において生成される回転速度データの一例を示す図である。この図７に示すように、回転速度データには、縦軸を回転速度、横軸を時間として、１サイクルにおいて、反応ディスク２０１が一定速度になるまで加速し、一定速度になった後、等速で回転し、所定時間だけ等速で回転した後、減速して停止することが表されている。このような回転速度データにおいて、反応ディスク２０１が正常に回転している場合にあっては、加速区間、等速区間及び減速区間の時間はモータの制御に基づいて決まる。

【0063】

異常判定機能９５は、算出機能９３により算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、反応ディスク２０１の異常を判定する。

【0064】

第１通知機能９６は、反応ディスク２０１の回転速度に対する反応ディスク２０１の異常の判定結果を通知する機能である。本実施形態において、第１通知機能９６は、反応容器２０１１に収容された反応液の測定中において、反応ディスク２０１に異常があった場合に、ユーザに通知する。

【0065】

第２通知機能９７は、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきに対する反応ディスク２０１の異常の判定結果を通知する。

【0066】

なお、図１に示した制御機能９１と、取得機能９２と、算出機能９３と、生成機能９４と、異常判定機能９５と、第１通知機能９６と、第２通知機能９７とは、それぞれ、本実施形態における制御部と、取得部と、算出部と、生成部と、異常判定部と、第１通知部と、第２通知部とを構成している。

【0067】

図８は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第１通知処理の内容を説明するフローチャート図である。この第１通知処理では、反応ディスク２０１の回転速度を算出したり、回転速度データを生成したり、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定したり、反応ディスク２０１に異常がある場合に通知したりする。例えば、この第１通知処理は、反応液の光学的測定において反応ディスク２０１が回転を開始する場合に実行される処理である。

【0068】

図８に示すように、まず、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転を開始する（ステップＳ１１）。この反応ディスク２０１の回転を開始する処理は、制御回路９における制御機能９１により実現される。具体的には、自動分析装置１は、駆動機構４を制御して、反応ディスク２０１の回転を開始する。そして、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転開始から反応ディスク２０１の回転終了までのセンサ２１６により出力される位置検知データＤ１及び光検出器２１４２により検出される測光データＤ２を記憶回路８に記憶する。

【0069】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転を終了したか否かを判定する（ステップＳ１３）。この反応ディスクの回転を終了したか否かを判定する処理は、制御回路９における制御機能９１により実現される。そして、ステップＳ１３において、反応ディスク２０１の回転が終了していない場合（ステップＳ１３：ＮＯ）、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転が終了するまで待機する。

【0070】

一方、ステップＳ１３において、反応ディスク２０１の回転が終了した場合（ステップＳ１３：ＹＥＳ）、図８に示すように、自動分析装置１は、位置検知データＤ１を取得する（ステップＳ１５）。この位置検知データＤ１を取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までの１サイクル分の位置検知データＤ１を取得する。

【0071】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、検知板寸法データを取得する（ステップＳ１７）。この検知板寸法データを取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８から、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までにセンサ２１６を通過した検知板３０１３の検知板寸法データを取得する。

【0072】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、回転速度を算出する（ステップＳ１９）。この回転速度を算出する処理は、制御回路９における算出機能９３により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ１５で取得された位置検知データＤ１とステップＳ１７で取得された検知板寸法データとに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度を算出する。より具体的には、自動分析装置１は、検知板寸法データにおける検知板３０１３の寸法である、１つの検知板３０１３の幅方向の寸法Ａ１及び１つの間隙３０１４の幅の寸法Ｂ１を、この１つの検知板３０１３と１つの間隙３０１４がセンサ２１６を通過したときの位置検知データＤ１における１周期の時間Ｔ１で除算することにより、１つの検知板３０１３がセンサ２１６を通過したときの回転速度を算出する。そして、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までにセンサ２１６により検知された複数の検知板３０１３のそれぞれの検知板寸法データにおける検知板３０１３の寸法を、複数の検知板３０１３と複数の間隙３０１４とがセンサ２１６を通過したときのそれぞれの位置検知データＤ１における１周期の時間Ｔ１で除算することにより、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までにセンサ２１６により検知された検知板３０１３のそれぞれについての回転速度を算出する。このように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度を算出する。

【0073】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、回転速度データを生成する（ステップＳ２１）。この回転速度データを生成する処理は、制御回路９における生成機能９４により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ１９で算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、回転速度データを生成する。より具体的には、自動分析装置１は、算出された複数の反応ディスク２０１の回転速度の時系列データを生成することにより、１サイクル分の反応ディスク２０１の回転速度に関する回転速度データを生成する。

【0074】

図９は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第１通知処理において生成された回転速度データの一例を示す図である。図９に示すように、自動分析装置１は、縦軸を回転速度、横軸を時間として、ステップＳ１９で算出された複数の反応ディスク２０１の回転速度を時系列的にプロットすることにより、回転速度データを生成する。また、図９に示される点線は、反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データである。この図９に示す回転速度データにおいては、点線で示される反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データと比較すると、等速区間において、駆動機構４にバックラッシュが生じ、反応ディスク２０１の回転に異常が生じることにより、回転速度に異常値が発生している。なお、この反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す点線は、図９に重畳されてなくてもよい。

【0075】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定する（ステップＳ２３）。この反応ディスク２０１の異常を判定する処理は、制御回路９における異常判定機能９５により実現される。具体的には、本実施形態において、自動分析装置１は、ステップＳ２１において反応ディスク２０１の回転速度から生成された回転速度データに基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定する。

【0076】

図１０は、本実施形態に係る自動分析装置１において、反応ディスク２０１の異常を判定する判定方法の一例を示す図である。図１０（ａ）に示す例において、自動分析装置１は、破線で囲まれた回転速度データの等速区間において、等速区間における回転速度が、等速区間の回転速度の管理幅の範囲内であるか否かを判定する。そして、図１０（ｂ）に示すように、等速区間における回転速度が、回転速度の管理幅上限を上回る場合及び／又は回転速度の管理幅下限を下回る場合、自動分析装置１は、反応ディスク２０１に異常があると判定する。一方、等速区間における回転速度が管理幅の範囲内である場合、自動分析装置１は、反応ディスク２０１に異常がないと判定する。なお、図１０（ａ）に示される点線は、反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す。この反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す点線は、図１０（ａ）に重畳されてなくてもよい。

【0077】

なお、判定方法は、等速区間における回転速度が管理幅の範囲内であるか否かを判定する場合に限られない。すなわち、判定方法は任意である。図１１は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第１通知処理において生成された回転速度データの他の例を示す図であり、図９に対応する図である。この図１１に示される破線は、反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データである。この図１１に示す回転速度データにおいては、破線で示される反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データと比較すると、反応ディスク２０１の回転に異常が生じることにより、等速区間が短く、減速区間が長くなっている。このような場合においても、反応ディスク２０１の回転に異常があると判定されるように、加速区間、等速区間及び減速区間の少なくともいずれかの時間が、反応ディスク２０１を駆動する駆動機構４の制御における駆動制御時間と一致するか否かを判定するようにしてもよく、加速区間、等速区間及び減速区間の少なくともいずれかの回転速度の微分値を算出し、回転速度の微分値の算出結果と、反応ディスク２０１が正常に回転している場合の加速区間、等速区間及び減速区間の少なくともいずれかの回転速度の微分値とを比較することにより、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定するようにしてもよい。この反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す破線は、図１１に重畳されてなくてもよい。

【0078】

そして、ステップＳ２３において、反応ディスク２０１に異常があると判定された場合（ステップＳ２３：ＹＥＳ）、自動分析装置１は、測定データ情報を取得する（ステップＳ２５）。この測定データ情報を取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、異常があると判定された回転速度を算出するために用いられた位置検知データＤ１に基づいて、その位置検知データＤ１における検知板３０１３に対応する反応容器２０１１に収容された反応液の測定データ情報を取得する。ここで、測定データ情報とは、反応液の測定データに関する情報であり、反応液の測定データや、反応液が収容された反応容器２０１１を示す情報、反応液の測光回数に関する情報等を含んでいる。

【0079】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定データ情報と反応ディスク２０１の異常の判定結果とを関連付ける（ステップＳ２７）。この測定結果と異常の判定結果とを関連付ける処理は、制御回路９における異常判定機能９５により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ２５において取得された測定データ情報と、ステップＳ２３において判定された反応ディスク２０１の異常の判定結果とを関連付ける。

【0080】

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の異常を通知する（ステップＳ２９）。この反応ディスク２０１の異常を通知する処理は、制御回路９における第１通知機能９６により実現される。具体的には、自動分析装置１は、出力インターフェース６を介して、反応ディスク２０１の異常を通知する。

【0081】

図１２は、本実施形態に係る自動分析装置１において、反応ディスク２０１の異常の通知の一例を示す図である。図１２に示すように、自動分析装置１は、出力インターフェース６を介して、回転速度データとともに、反応ディスク２０１の異常として、反応ディスク２０１の異常の判定結果と、ステップＳ２９において反応ディスク２０１の異常の判定結果に関連付けられた測定データ情報とに基づく「反応容器Ｎｏ．ＸＸのｎ回目測光で回転駆動異常」の情報をユーザに通知する。また、自動分析装置１は、例えば、図１２に示すように、回転速度データにおける異常がある部分を示して、反応ディスク２０１の異常をユーザに通知するようにしてもよい。なお、図１２に示される点線は、反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す。この反応ディスク２０１が正常に回転した場合における回転速度データを示す点線は、図１２に重畳されてなくてもよい。

【0082】

なお、本実施形態において、反応ディスク２０１の異常を通知する方法は図１２に示す方法に限られない。すなわち、反応ディスク２０１の異常を通知する方法は任意である。図１３は、本実施形態に係る自動分析装置１において、反応ディスク２０１の異常の通知の他の例を示す図である。図１３に示すように、自動分析装置１は、出力インターフェース６を介して、測定データの時系列データである測定結果とともに、反応ディスク２０１に異常があったときに取得された測定データに基づく吸光度を強調表示することにより、反応ディスク２０１の異常を通知するようにしてもよい。なお、この測定データの時系列データである測定結果は、反応タイムコースとも呼ばれる。

【0083】

一方、ステップＳ２３において、反応ディスク２０１に異常がないと判定された場合（ステップＳ２３：ＮＯ）、及び、ステップＳ２９の後、図８に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１が回転を開始したか否かを判定する（ステップＳ３１）。この反応ディスク２０１が回転を開始したか否かを判定する処理は、制御回路９における制御機能９１により実現される。そして、ステップＳ３１において、反応ディスク２０１が回転を開始していない場合（ステップＳ３１：ＮＯ）、図８に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１が回転を開始するまで待機する。

【0084】

一方、ステップＳ３１において、反応ディスク２０１が回転を開始した場合（ステップＳ３１：ＹＥＳ）、自動分析装置１は、上述したステップＳ１３に戻り、ステップＳ１３からの処理を繰り返す。

【0085】

この図８に示す本実施形態に係る第１通知処理は、自動分析装置１が反応液の測定を実行している間、繰り返し実行され、自動分析装置１が反応液の測定を終了した時は、終了する。

【0086】

図１４は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第２通知処理の内容を説明するフローチャート図である。この第２通知処理では、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきを算出したり、回転速度のばらつきの時系列データに基づいて反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定したりする。例えば、この第２通知処理は、所定のタイミングで反応ディスク２０１が回転を開始する場合に実行される処理である。なお、所定のタイミングとは、自動分析装置１の電源投入時に実行されるスタートアップ動作時や、自動分析装置１を構成する各分析ユニットを予め設定された初期位置に移動させるホーム動作時、電源投入後の初回の測光ユニット２１４による測定動作時などである。また、第２通知処理におけるステップＳ１１からステップＳ２１までの処理は、上述した第１通知処理と同様であるため、説明を省略する。

【0087】

図１５は、本実施形態に第２通知処理において生成された回転速度データの一例を示す図である。図１５に示すように、第２通知処理のステップＳ２１において、自動分析装置１は、縦軸を回転速度、横軸を時間として、ステップＳ１９で算出された反応ディスク２０１の回転速度を時系列的にプロットすることにより、回転速度データを生成する。この図１５に示す回転速度データは、破線で囲まれた等速区間において、回転速度にばらつきが生じている。

【0088】

次に、図１４に示すように、自動分析装置１は、算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、回転速度のばらつきを算出する（ステップＳ４１）。この回転速度のばらつきを算出する処理は、制御回路９における算出機能９３により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ２１において反応ディスク２０１の回転速度から生成された回転速度データに基づいて、回転速度データの等速区間における回転速度の標準偏差、ＣＶ（Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｏｆ Ｖａｒｉａｔｉｏｎ：変動係数）値、又は、レンジなどを算出することにより、回転速度のばらつきを算出する。そして、自動分析装置１は、算出した回転速度のばらつきを記憶回路８に記憶する。

【0089】

次に、図１４に示すように、自動分析装置１は、回転速度のばらつきの時系列データを取得する（ステップＳ４３）。この回転速度のばらつきの時系列データを取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８に記憶された反応ディスク２０１の回転速度のばらつきに基づく時系列データを取得する。より具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８に記憶されている回転速度のばらつきから時系列データを生成することにより、回転速度のばらつきの時系列データを取得する。

【0090】

図１６は、本実施形態に係る第２通知処理において取得された回転速度のばらつきの時系列データの一例を示す図である。図１６に示すように、縦軸を回転速度のばらつき、横軸を時間とするグラフにおいて、記憶回路８に記憶されている回転速度のばらつきをプロットすることにより、時系列データを生成する。この図１６に示す例においては、回転速度のばらつきの時系列データは、単調増加をしている。

【0091】

次に、図１４に示すように、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきに基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定する（ステップＳ４５）。この反応ディスクに異常があるか否かを判定する処理は、制御回路９における異常判定機能９５により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ４３で取得された回転速度のばらつきの時系列データに基づいて、時系列データが単調増加しているか、又は、時系列データの値が閾値を超えているか等を判定することにより、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定する。そして、ステップＳ４５において、反応ディスク２０１に異常がないと判定された場合（ステップＳ４５：ＮＯ）、図１４に示すように、自動分析装置１は、第２通知処理を終了する。

【0092】

一方、ステップＳ４５において、反応ディスク２０１に異常があると判定された場合（ステップＳ４５：ＹＥＳ）、図１４に示すように、自動分析装置１は、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知する（ステップＳ４７）。この故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知する処理は、制御回路９における第２通知機能９７により実現される。具体的には、自動分析装置１は、出力インターフェース６を介して、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知する。ここで、故障予測情報とは、反応ディスク２０１を駆動する駆動機構４の故障時期や交換部品に関する情報等を含んだ故障予測に関する情報である。また、メンテナンス情報とは、メンテナンス時期やメンテナンス対象となる部品に関する情報等を含んだ反応ディスク２０１のメンテナンスに関する情報である。

【0093】

なお、ステップＳ４７において、自動分析装置１は、出力インターフェース６を介して、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知することとしたが、自動分析装置１は、通信インターフェース７を介して、ネットワークＮＷに接続されたサービスマンなどの端末装置に故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知するようにしてもよい。

【0094】

このステップＳ４７において、自動分析装置１は、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知することにより、本実施形態に係る第２通知処理を終了する。

【0095】

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、自動分析装置１は、検知板３０１３を検知するセンサ２１６により検知された位置検知データと、記憶回路８に記憶された検知板寸法データとを取得し、位置検知データと検知板寸法データとに基づいて回転速度を算出することとした。このため、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0096】

また、自動分析装置１は、測光ユニット２１４の光検出器２１４２により検出された測光データから測定データを取得するタイミングを決定するために従来から利用されている、センサ２１６とセルホルダ３０１に設けられた検知板３０１３とから位置検知データを取得することとした。このため、自動分析装置１は、検知板寸法データを記憶しておくことにより、ハードウェア構成を追加することなく、反応ディスク２０１の回転速度を算出することができ、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0097】

また、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定し、反応ディスク２０１に異常がある場合、反応ディスク２０１の異常の判定結果と、測定データ情報とを関連付けて、反応ディスク２０１の異常を通知することとした。このため、測定結果に異常が発生した場合でも、反応ディスク２０１の異常が原因の場合、ユーザは、測定結果の異常の要因分析を容易にすることができる。

【0098】

さらに、自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきを算出し、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきの時系列データに基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定し、反応ディスク２０１に異常がある場合、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知することとした。このため、反応ディスク２０１を駆動するための駆動機構４が故障する前に、故障が予測される部品の交換やメンテナンスを行うことができるので、自動分析装置１の稼働率を向上させることができる。

【0099】

〔変形例１〕
上述した第１実施形態に係る自動分析装置１においては、位置検知データＤ１を用いて反応ディスク２０１の回転速度を算出する場合に、位置検知データＤ１に加えて、検知板寸法データを用いて、反応ディスク２０１の回転速度を算出することとしたが、自動分析装置１においては、位置検知データＤ１を用いて反応ディスク２０１の回転速度を算出する場合に、位置検知データＤ１に加えて、位置検知データＤ１の１周期の時間から反応ディスクの２０１の回転速度に換算するテーブルを用いて、反応ディスク２０１の回転速度を算出するようにしてもよい。以下、この変形例を第１実施形態に適用した場合を変形例１として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。

【0100】

図１７は、本変形例に係る記憶回路８に記憶される第１回転速度算出テーブルの一例を示す図である。図１７に示すように、第１回転速度算出テーブルＴ１には、位置検知データＤ１の１周期の時間毎に回転速度が関連付けられている。図１７に示す例においては、位置検知データＤ１の１周期の時間が３０ｍｓのとき、回転速度は１５０ｍｍ／ｓと関連付けられている。なお、図１７に示す例において、第１回転速度算出テーブルＴ１には、３つの位置検知データＤ１の１周期の時間のデータと回転速度とが関連付けられているが、第１回転速度算出テーブルＴ１に登録される１周期の時間と回転速度とのデータ数はこれに限られない。すなわち、第１回転速度算出テーブルＴ１に登録される１周期の時間と回転速度とのデータ数は任意であり、１つ又は２つの１周期の時間と回転速度とのデータが第１回転速度算出テーブルＴ１に登録されてもよく、４つ以上の１周期の時間と回転速度とのデータが第１回転速度算出テーブルＴ１に登録されてもよい。

【0101】

そして、自動分析装置１は、図８の第１通知処理及び図１４の第２通知処理におけるステップＳ１５において位置検知データＤ１を取得した場合、ステップＳ１７において検知板寸法データを取得することなく、ステップＳ１９において回転速度を算出する。具体的には、制御回路９における算出機能９３は、ステップＳ１９において、ステップＳ１５で取得した位置検知データＤ１から位置検知データＤ１の１周期毎の時間を求め、記憶回路８に記憶された第１回転速度算出テーブルを参照して、位置検知データＤ１の１周期の時間を反応ディスクの２０１の回転速度に換算することにより、位置検知データＤ１の１周期毎の反応ディスク２０１の回転速度を算出する。より具体的には、算出機能９３は、ステップＳ１５で取得した位置検知データＤ１から位置検知データＤ１の１周期の時間が３０ｍｓと求められた場合、図１７に示す第１回転速度算出テーブルＴ１を参照して、位置検知データＤ１の１周期の時間における反応ディスク２０１の回転速度を１５０ｍｍ／ｓと算出することができる。

【0102】

なお、位置検知データＤ１の１周期の時間が、第１回転速度算出テーブルＴ１にない場合、算出機能９３は、ステップＳ１５で取得した位置検知データＤ１から求められた位置検知データＤ１の１周期の時間と、第１回転速度算出テーブルＴ１に関連付けられた位置検知データＤ１の１周期の時間及び回転速度とに基づいて、位置検知データＤ１の１周期の時間における反応ディスク２０１の回転速度を算出するようにしてもよい。具体的には、算出機能９３は、ステップＳ１５で取得した位置検知データＤ１から位置検知データＤ１の１周期の時間が２５ｍｓと求められた場合、図１７に示す第１回転速度算出テーブルＴ１を参照して、第１回転速度算出テーブルＴ１に関連付けられた位置検知データＤ１の１周期の時間３０ｍｓ及び回転速度１５０ｍｍ／ｓであることに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度１８０ｍｍ／ｓを算出するようにしてもよい。

【0103】

以上のように、本変形例に係る自動分析装置１によれば、自動分析装置１は、検知板３０１３を検知するセンサ２１６により検知された位置検知データＤ１を取得し、位置検知データＤ１の１周期の時間を求め、記憶回路８に記憶された第１回転速度算出テーブルを参照することにより、反応ディスク２０１の回転速度を算出することができるので、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0104】

〔第２実施形態〕
上述した第１実施形態に係る自動分析装置１においては、位置検知データＤ１と、検知板寸法データとを取得し、位置検知データＤ１と検知板寸法データとに基づいて、回転速度や回転速度のばらつきを算出することとしたが、回転速度や回転速度のばらつきを算出する方法は、これに限られない。第２実施形態に係る自動分析装置１においては、光検出器２１４２により検出される測光データＤ２と、セルホルダ３０１に支持された反応容器２０１１の寸法に関する反応容器寸法データとに基づいて、回転速度や回転速度のばらつきを算出する場合を説明する。以下、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、第２実施形態に係る自動分析装置１及び分析機構２の構成は、図１及び図２の構成と同様であるので説明を省略する。

【0105】

図１８は、第２実施形態に係る分析機構２における反応ディスク２０１に保持されるセルホルダ３０１の一例を示す図であり、上述した図３に対応する図である。本実施形態においては、記憶回路８には、反応容器寸法データが記憶されている。具体的には、本実施形態に係る反応容器寸法データは、図１８に示すように、複数の反応容器２０１１のそれぞれの回転方向に沿った幅の寸法Ａ２を含んでいる。このような反応容器寸法データは、複数の反応容器２０１１それぞれの幅の寸法Ａ２をノギスなどの測定器具により測定し、記憶回路８に記憶するようにしてもよく、反応容器２０１１を低速で回転させて、測定装置（図示せず）などにより、反応容器２０１１の幅の寸法を正確に測定して、記憶回路８に記憶するようにしてもよい。なお、この他のセルホルダ３０１の構成は上述した第１実施形態の図３と同様であるため、説明を省略する。また、第２実施形態に係るセルホルダ３０１の別の例の構成及びセルホルダ３０１とセンサ２１６の位置関係については、図４及び図５と同様であるので説明を省略する。

【0106】

図１９は、第２実施形態に係る位置検知データＤ１と測光データＤ２の一例を示す図であり、上述した図６に対応する図である。図１９に示す例において、反応容器２０１１の中央部分が、光源２１４１と光検出器２１４２との光路上を通過する場合、反応容器２０１１の側面部分やセルホルダ３０１の壁などが光路上を通過する場合と比較して、光検出器２１４２の検出値（すなわち、測光データＤ２の値）は高くなる。そのため、光検出器２１４２の検出値が高い部分の検出時間が、光検出器２１４２が反応容器２０１１を透過した光を検出した時間Ｔ２となる。つまり、自動分析装置１は、測光データＤ２に基づいて、複数の反応容器２０１１のそれぞれが光源２１４１と光検出器２１４２との光路上を通過する時間を取得することができる。その他の位置検知データＤ１及び測光データＤ２の説明は、図６における説明と同様であるので説明を省略する。また、本実施形態に係る反応ディスク２０１の回転が正常な場合の回転速度データは、上述した図７と同様であるので説明を省略する。

【0107】

図２０は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第１通知処理の内容を説明するフローチャート図であり、上述した第１実施形態における図８に対応する図である。本実施形態に係る第１通知処理において、自動分析装置１は、反応容器寸法データと測光データＤ２を取得したり、反応容器寸法データで測光データＤ２とに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度を算出したりする。例えば、この第１通知処理は、反応液の光学的測定において反応ディスク２０１が回転を開始する場合に実行される処理である。なお、この図２０に示す本実施形態に係る第１通知処理において、ステップＳ１１及びステップＳ１３の処理は、上述した第１実施形態の第１通知処理と同様であるので説明を省略する。

【0108】

そして、ステップＳ１５において、反応ディスク２０１の回転が終了した場合（ステップＳ１３：ＹＥＳ）、図２０に示すように、自動分析装置１は、測光データＤ２を取得する（ステップＳ５１）。この測光データＤ２を取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までの１サイクル分の測光データＤ２を取得する。

【0109】

次に、図２０に示すように、自動分析装置１は、反応容器寸法データを取得する（ステップＳ５３）。この反応容器寸法データを取得する処理は、制御回路９における取得機能９２により実現される。具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８から、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までに光源２１４１と光検出器２１４２との光路上を通過した反応容器２０１１に関する反応容器寸法データを取得する。

【0110】

次に、図２０に示すように、自動分析装置１は、回転速度を算出する（ステップＳ５５）。回転速度を算出する処理は、制御回路９における算出機能９３により実現される。具体的には、自動分析装置１は、ステップＳ５１で取得した測光データと、ステップＳ５３で取得した反応容器寸法データとに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度を算出する。より具体的には、自動分析装置１は、反応容器寸法データにおける１つの反応容器２０１１の幅の寸法Ａ２を、測光データにおける１つの反応容器２０１１に対応する光検出器２１４２により検出された反応容器２０１１を透過した光の検出時間Ｔ２で除算することにより１つの反応容器の通過速度を算出する。そして、ステップＳ１１における反応ディスク２０１の回転開始からステップＳ１３における反応ディスク２０１の回転終了までに光源２１４１と光検出器２１４２との光路上を通過した反応容器２０１１それぞれの通過速度を算出することにより、反応ディスク２０１の回転速度を算出する。なお、ステップＳ５５より後のステップＳ２１からステップＳ３１までの処理は、上述した第１実施形態の第１通知処理と同様であるので説明を省略する。

【0111】

上述した第１実施形態における第１通知処理と同様に、この図２０に示す本実施形態に係る第１通知処理は、自動分析装置１が反応液の測定を実行している間、繰り返し実行され、自動分析装置１が反応液の測定を終了した時は、終了する。

【0112】

図２１は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される第２通知処理の内容を説明するフローチャート図であり、上述した第１実施形態における図１４に対応する図である。本実施形態に係る第２通知処理では、反応容器寸法データと測光データＤ２を取得したり、反応容器寸法データと測光データＤ２とに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきを算出したりする。例えば、この第２通知処理は、所定のタイミングで反応ディスク２０１が回転を開始する場合に実行される処理である。なお、所定のタイミングとは、自動分析装置１の電源投入時に実行されるスタートアップ動作時や、自動分析装置１を構成する各分析ユニットを予め設定された初期位置に移動させるホーム動作時、電源投入後の初回の測光ユニット２１４による測定動作時などである。なお、この図２０に示す本実施形態に係る第１通知処理において、ステップＳ１１及びステップＳ１３の処理は、上述した第１実施形態の第１通知処理と同様であるので説明を省略する。また、ステップＳ５１からステップＳ５５までの処理は、上述した第１通知処理と同様であるため、説明を省略する。さらにステップＳ５５より後のステップＳ２１及びステップＳ４１からステップＳ４７までの処理は上述した第１実施形態の第１通知処理と同様であるので説明を省略する。そして、このステップＳ４７において、自動分析装置１は、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知することにより、本実施形態に係る第２通知処理を終了する。

【0113】

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、自動分析装置１は、光検出器２１４２により検出される測光データＤ２と、記憶回路８に記憶された反応容器２０１１の寸法に関する反応容器寸法データとを取得し、測光データＤ２と反応容器寸法データとに基づいて回転速度を算出することとした。このため、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0114】

また、本実施形態に係る自動分析装置１は、測光ユニット２１４の光検出器２１４２により検出された測光データＤ２から反応容器２０１１の通過時間を取得することとした。このため、自動分析装置１は、反応容器寸法データを記憶しておくことにより、ハードウェア構成を追加することなく、反応ディスク２０１の回転速度を算出することができ、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0115】

また、上述した第１実施形態と同様に、本実施形態に係る自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定し、反応ディスク２０１に異常がある場合、反応ディスク２０１の異常の判定結果と、測定データ情報とを関連付けて、反応ディスク２０１の異常を通知することとした。このため、測定結果に異常が発生した場合でも、反応ディスク２０１の異常が原因の場合は、測定結果の異常の要因分析を容易にすることができる。

【0116】

さらに、上述した第１実施形態と同様に、本実施形態に係る自動分析装置１は、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきを算出し、反応ディスク２０１の回転速度のばらつきの時系列データに基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定し、反応ディスク２０１に異常がある場合、故障予測情報及び／又はメンテナンス情報を通知することとした。このため、反応ディスク２０１を駆動するための駆動機構４が故障する前に、故障が予測される部品の交換やメンテナンスを行うことができる。したがって、自動分析装置１の稼働率を向上させることができる。

【0117】

〔変形例２〕
上述した第１実施形態に係る自動分析装置１においては、測光データＤ２を用いて反応ディスク２０１の回転速度を算出する場合に、測光データＤ２に加えて、反応容器寸法データを用いて、反応ディスク２０１の回転速度を算出することとしたが、自動分析装置１においては、測光データＤ２を用いて反応ディスク２０１の回転速度を算出する場合に、測光データＤ２に加えて、測光データＤ２の１周期の時間から反応ディスク２０１の回転速度に換算するテーブルを用いて、反応ディスク２０１の回転速度を算出するようにしてもよい。以下、この変形例を第２実施形態に適用した場合を変形例２として、上述した第２実施形態と異なる部分を説明する。

【0118】

図２２は、本変形例に係る記憶回路８に記憶される第２回転速度算出テーブルの一例を示す図である。図２２に示すように、第２回転速度算出テーブルＴ２には、測光データＤ２の１周期の時間毎に回転速度が関連付けられている。図２２に示す例においては、測光データＤ２の１周期の時間が３０ｍｓのとき、回転速度は１５０ｍｍ／ｓと関連付けられている。なお、図２１に示す例において、第２回転速度算出テーブルＴ２には、３つの測光データＤ２の１周期の時間のデータと回転速度とが関連付けられているが、第２回転速度算出テーブルＴ２に登録される１周期の時間と回転速度とのデータ数はこれに限られない。すなわち、第２回転速度算出テーブルＴ２に登録される１周期の時間のデータ数は任意であり、１つ又は２つの１周期の時間と回転速度とのデータが第２回転速度算出テーブルＴ２に登録されてもよく、４つ以上の１周期の時間と回転速度とのデータが第２回転速度算出テーブルＴ２に登録されてもよい。

【0119】

そして、自動分析装置１は、図２０の第１通知処理及び図２１の第２通知処理におけるステップＳ５１において測光データＤ２を取得した場合、ステップＳ５３において反応容器寸法データを取得することなく、ステップＳ５５において回転速度を算出する。具体的には、制御回路９における算出機能９３は、ステップＳ５５において、ステップＳ５１で取得した測光データＤ２から測光データＤ２の１周期毎の時間を求める。そして、算出機能９３は、記憶回路８に記憶された第２回転速度算出テーブルを参照して、測光データＤ２の１周期の時間を反応ディスクの２０１の回転速度に換算することにより、測光データＤ２の１周期毎の反応ディスク２０１の回転速度を算出する。より具体的には、算出機能９３は、ステップＳ５１で取得した測光データＤ２から測光データＤ２の１周期の時間が３０ｍｓと求められた場合、図２２に示す第２回転速度算出テーブルＴ２を参照して、測光データＤ２の１周期の時間における反応ディスク２０１の回転速度を１５０ｍｍ／ｓと算出することができる。

【0120】

なお、測光データＤ２の１周期の時間が、第２回転速度算出テーブルＴ２にない場合、算出機能９３は、ステップＳ５１で取得した測光データＤ２から求められた測光データＤ２の１周期の時間と、第２回転速度算出テーブルＴ２に関連付けられた測光データＤ２の１周期の時間及び回転速度とに基づいて、測光データＤ２の１周期の時間における反応ディスク２０１の回転速度を算出するようにしてもよい。具体的には、算出機能９３は、ステップＳ５１で取得した測光データＤ２から測光データＤ２の１周期の時間が２５ｍｓと求められた場合、図２２に示す第２回転速度算出テーブルＴ２を参照して、第２回転速度算出テーブルＴ２に関連付けられた測光データＤ２の１周期の時間３０ｍｓ及び回転速度１５０ｍｍ／ｓであることに基づいて、反応ディスク２０１の回転速度１８０ｍｍ／ｓを算出するようにしてもよい。

【0121】

以上のように、本変形例に係る自動分析装置１によれば、自動分析装置１は、光検出器２１４２により検出される測光データＤ２を取得し、測光データＤ２の１周期の時間を求め、記憶回路８に記憶された第２回転速度算出テーブルを参照することにより、反応ディスク２０１の回転速度を算出することができるので、反応ディスク２０１の回転駆動状態をモニタリングすることができる。

【0122】

〔第１及び第２実施形態の変形例〕
なお、上述した第１及び第２実施形態の第１通知処理において、算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、回転速度データを生成することとしたが、回転速度データは生成されなくてもよい。すなわち、上述した第１及び第２実施形態の第１通知処理において、算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、算出された回転速度が管理幅の範囲内にあるか否かを判定することにより、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定するようにしてもよい。この場合、上述した第１及び第２実施形態の第１通知処理においてステップＳ２１は省略される。

【0123】

また、上述した第１及び第２実施形態の第２通知処理において、算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、回転速度データを生成することとしたが、回転速度データは生成されなくてもよい。すなわち、上述した第１及び第２実施形態の第２通知処理のステップＳ４１において、算出された反応ディスク２０１の回転速度に基づいて、回転速度のばらつきを算出するようにしてもよい。この場合、上述した第１及び第２実施形態の第２通知処理においてステップＳ２１は省略される。

【0124】

また、上述した第１及び第２実施形態の第２通知処理において、回転速度のばらつきの時系列データを取得し、取得された回転速度のばらつきの時系列データに基づいて、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定することとしたが、回転速度のバラツキの時系列データは取得されなくてもよい。すなわち、上述した第１及び第２実施形態の第２通知処理において、回転速度のばらつきを算出し、算出部により算出された回転速度のばらつきに基づいて、回転速度のばらつきが閾値を超えているか否か等を判定することにより、反応ディスク２０１に異常があるか否かを判定するようにしてもよい。

【0125】

また、上述した第１及び第２実施形態の第１通知処理及び第２通知処理においては、自動分析装置１は、位置検知データＤ１と、測光データＤ２とのいずれか一方を取得して、位置検知データＤ１と、測光データＤ２とのいずれか一方に基づいて、反応ディスク２０１の回転速度を算出することとしたが、位置検知データＤ１、測光データＤ２との両方を取得して、位置検知データＤ１と、測光データＤ２とのそれぞれに基づいて、回転速度を算出するようにしてもよい。このように、自動分析装置１は、位置検知データＤ１と、測光データＤ２とのそれぞれに基づいて、回転速度を算出することにより、位置検知データＤ１又は測光データＤ２のいずれかデータが正確に取得できていない場合に、もう一方のデータから回転速度を算出して補完してもよい。また、自動分析装置１は、位置検知データＤ１及び測光データＤ２のそれぞれに基づいて回転速度を算出して、位置検知データＤ１に基づいて算出された回転速度と、測光データＤ２に基づいて算出された回転速度との平均を算出して、反応ディスク２０１の回転速度を算出するようにしてもよい。

【0126】

さらに、上述した第１及び第２実施形態に係る自動分析装置１は、生化学検査を実施する自動分析装置への適用について説明したが、これに限られない。すなわち、血液凝固分析検査を実施する自動分析装置にも、第１及び第２実施形態は応用可能である。

【0127】

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路８に保存されたプログラムを読み出して実行することにより機能を実現する。なお、記憶回路８にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成して構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、プロセッサは、プロセッサ単一の回路として構成されている場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて、１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合して、その機能を実現するようにしてもよい。

【0128】

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置及び方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置及び方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲及びこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。

【符号の説明】

【0129】

１…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５…入力インターフェース、６…出力インターフェース、７…通信インターフェース、８…記憶回路、９…制御回路、９１…制御機能、９２…取得機能、９３…算出機能、９４…生成機能、９５…異常判定機能、９６…第１通知機能、９７…第２通知機能、２０１…反応ディスク、２０２…恒温部、２０３…サンプルディスク、２０４…第１試薬庫、２０５…第２試薬庫、２０６…サンプル分注アーム、２０７…サンプル分注プローブ、２０８…第１試薬分注アーム、２０９…第１試薬分注プローブ、２１０…第２試薬分注アーム、２１１…第２試薬分注プローブ、２１２…第１撹拌ユニット、２１３…第２撹拌ユニット、２１４…測光ユニット、２１５…洗浄ユニット、２１６…センサ、３０１…セルホルダ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【図22】