特開 2024-172915 自動分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024172915

(43)【公開日】2024-12-12

(54)【発明の名称】自動分析装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/00 20060101AFI20241205BHJP

【ＦＩ】

G01N35/00 F

【審査請求】未請求

【請求項の数】12

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023090974

(22)【出願日】2023-06-01

(71)【出願人】

【識別番号】594164542

【氏名又は名称】キヤノンメディカルシステムズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110002147

【氏名又は名称】弁理士法人酒井国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】蔵野 智昭

(72)【発明者】

【氏名】金原 健

(72)【発明者】

【氏名】大森 隆弘

(72)【発明者】

【氏名】藤原 貴文

(72)【発明者】

【氏名】山形 佳史

(72)【発明者】

【氏名】小島 秀仁

【テーマコード（参考）】

2G058

【Ｆターム（参考）】

2G058CB04

2G058CD04

2G058CE08

2G058GE10

(57)【要約】

【課題】自動分析装置の不具合の解析処理の効率を向上させること。
【解決手段】本実施形態に係る自動分析装置は、分析部と、収集部と、特定部と、記憶制御部とを備える。分析部は、試料の分析を行なう。収集部は、分析部が動作している間、分析部から試料の分析に係る動作状態及び試料の分析結果を示す情報を含むデータを収集する。記憶制御部は、分析部に異常が発生したことが検知されると、収集部が収集したデータから、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを第１記憶部に記憶する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試料の分析を行なう分析部と、
前記分析部が動作している間、前記分析部から前記試料の分析に係る動作状態及び前記試料の分析結果を示す情報を含むデータを収集する収集部と、
前記分析部に異常が発生したことが検知されると、前記収集部が収集した前記データから、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを第１記憶部に記憶する記憶制御部と、
を備える自動分析装置。

【請求項2】

前記収集部は、収集した前記データを揮発性の第２記憶部に一時記憶し、
前記記憶制御部は、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを前記第２記憶部から読み出して、不揮発性の前記第１記憶部に記憶する。
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項3】

前記収集部は、収集した前記データを前記第２記憶部の所定の記憶領域に記憶し、当該記憶領域の終端まで前記データを記憶した場合、当該記憶領域の先頭に戻って前記データを既に記憶されているデータの上に上書き記憶する、
請求項２に記載の自動分析装置。

【請求項4】

前記収集部は、同一のタイミングで収集した複数の前記データを所定時間単位で前記第２記憶部に一時記憶する、
請求項２に記載の自動分析装置。

【請求項5】

前記収集部は、前記分析部に異常が発生したことが検知された後も前記データの収集を継続し、
前記記憶制御部は、前記分析部に異常が発生したことが検知されると、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータとともに、異常検知のタイミング以後に収集された所定期間分のデータを第１記憶部に記憶する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項6】

前記収集部は、前記試料と試薬とを反応させる反応管毎の前記試料の測定結果の履歴を含む前記データを収集する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項7】

前記収集部は、測定項目毎の測定結果の履歴を含む前記データを収集する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項8】

前記収集部は、試薬毎の測定結果の履歴を含む前記データを収集する、
請求項１に記載の自動分析装置。

【請求項9】

前記記憶制御部は、前記所定期間をユーザの指示に従って設定する、
請求項１乃至８の何れか１項に記載の自動分析装置。

【請求項10】

異常の要因毎に、前記第１記憶部に記憶する１又は複数の前記データを設定する設定部を更に備える、
請求項１乃至８の何れか１項に記載の自動分析装置。

【請求項11】

前記データに基づき、前記分析部の不具合の原因の候補を提示する提示部を更に備える、
請求項１乃至８の何れか１項に記載の自動分析装置。

【請求項12】

前記分析部に異常が発生したことを検知する検知部を更に備え、
前記記憶制御部は、前記検知部が前記分析部に異常が発生したことを検知した場合、前記収集部が収集した前記データから、前記検知部が前記分析部に異常が発生したことを検知した異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを第１記憶部に記憶する、
請求項１乃至８の何れか１項に記載の自動分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。

【背景技術】

【0002】

生体試料（例えば、血液や尿等）について、各種検査項目（例えば、電解質、酵素、蛋白質等）の分析を行う自動分析装置が知られている。このような自動分析装置に不具合が生じた場合、自動分析装置の動作履歴データを解析して不具合の原因を調査することが行われている。従来、不具合を解析する技術として、動作の履歴を記録した動作履歴データを、異常発生時又は定期的にサーバに送り、動作履歴データに付加した動作命令ごとのタグを頼りに不具合の調査を行う技術が提案されている。

【0003】

ところで、一般的に、不具合の解析は、様々な内部データから総合的に判断することが求められる。また、不具合の真の原因が表面的な挙動とリンクしていない場合があることが経験的に知られている。このため、従来技術では、膨大な動作履歴データを検索することになる可能性がある。つまり、不具合の解析処理の効率化については改善の余地がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０２０－６３９４８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、自動分析装置の不具合の解析処理の効率を向上させることである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決される課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本実施形態に係る自動分析装置は、分析部と、収集部と、特定部と、記憶制御部とを備える。分析部は、試料の分析を行なう。収集部は、分析部が動作している間、分析部から試料の分析に係る動作状態及び試料の分析結果を示す情報を含むデータを収集する。記憶制御部は、分析部に異常が発生したことが検知されると、収集部が収集したデータから、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを第１記憶部に記憶する。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図2】図２は、実施形態に係る自動分析装置の分析装置の構成の一例を示す斜視図である。

【図3】図３は、実施形態に係るセンシングデータの記憶処理の一例を説明する図である。

【図4】図４は、実施形態に係る測定結果データの記憶処理の一例を説明する図である。

【図5】図５は、実施形態に係る反応管の水ブランク値の推移の一例を説明する図である。

【図6】図６は、実施形態に係る反応管の水ブランク値の推移の一例を説明する図である。

【図7】図７は、実施形態に係る異常発生時に不揮発性の記憶媒体に記憶するデータの設定処理の一例を説明する図である。

【図8】図８は、実施形態に係る自動分析装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。

【図9】図９は、実施形態に係る自動分析装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。

【図10】図１０は、実施形態に係る自動分析装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。

【図11】図１１は、実施形態に係る自動分析装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。

【図12】図１２は、実施形態に係る自動分析装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、図面を参照して、自動分析装置の実施形態について詳細に説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。

【0009】

図１は、本実施形態に係る自動分析装置１００の構成の一例を示すブロック図である。図１に示す自動分析装置１００は、分析装置７０と、駆動装置８０と、処理装置９０とを備えている。

【0010】

分析装置７０は、各検査項目の標準試料や被検体から採取された被検試料（血液や尿などの生体試料）と、各検査項目の分析に用いる試薬との混合液を測定して、標準データや被検データを生成する。分析装置７０は、分析部の一例である。また、分析装置７０は、試料の分注、試薬の分注等を行う複数のユニットを備える。

【0011】

駆動装置８０は、分析装置７０の各ユニットを駆動する。

【0012】

処理装置９０は、駆動装置８０を制御して分析装置７０の各ユニットを作動させる。

【0013】

処理装置９０は、入力装置５０と、出力装置４０と、処理回路３０と、記憶回路６０とを有する。

【0014】

入力装置５０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、各検査項目の分析パラメータを設定するための入力、被検試料の被検識別情報及び検査項目を設定するための入力等を行う。

【0015】

出力装置４０は、プリンタと、ディスプレイとを備えている。プリンタは、処理回路３０で生成されたデータの印刷を行う。ディスプレイは、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）や液晶パネルなどのモニタであり、処理回路３０で生成されたデータの表示を行う。

【0016】

記憶回路６０は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ（Flash Memory）等の半導体メモリ素子、又は、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置などである。

【0017】

処理回路３０は、システム全体を制御する。例えば、処理回路３０は、図１に示すように、分析制御機能３１、データ処理機能３２、収集機能３３、検知機能３４、記憶制御機能３５、及び設定機能３６を実行する。

【0018】

ここで、分析制御機能３１及びデータ処理機能３２は、分析部の一例である。また、収集機能３３は、収集部の一例である。また、検知機能３４は、検知部の一例である。また、記憶制御機能３５は、記憶制御部の一例である。

【0019】

分析制御機能３１は、駆動装置８０を制御して分析装置７０の各ユニットを作動させる。

【0020】

データ処理機能３２は、分析装置７０で生成された標準データや被検データを処理して各検査項目の検量データや分析データを生成する。

【0021】

例えば、分析装置７０により生成される標準データは、物質の量や濃度を判定するためのデータ（検量線あるいは標準曲線）を表し、分析装置７０により生成される被検データは、被検試料を測定した結果のデータを表す。

【0022】

また、処理回路３０から出力される検量データは、被検データと標準データとから導かれる物質の量や濃度などの測定結果を表すデータを表し、処理回路３０から出力される分析データは、陽性又は陰性の判定結果を表すデータを表す。すなわち、検量データは、陽性又は陰性の判定結果を表す分析データを導くためのデータである。

【0023】

分析制御機能３１及びデータ処理機能３２は、協働して試料の分析処理を実行する。

【0024】

収集機能３３は、分析装置７０が動作している間、分析装置７０から試料の分析に係る動作状態及び試料の分析結果を示す情報を含むデータを収集する。また、収集機能３３は、分析装置７０に異常が発生したことが検知された場合でも、所定期間データの収集を継続してもよい。収集機能３３の動作については後述する。

【0025】

検知機能３４は、分析装置７０に異常が発生したことを検知する。例えば、検知機能３４は、収集機能３３が収集したデータが所定の条件を満たした場合に分析装置７０に異常が発生したことを検知する。

【0026】

一例として、検知機能３４は、収集機能３３が収集した吸光度データが所定の上限値を超える場合（又は所定の下限値を下回る場合）に分析装置７０に異常が発生したことを検知する。

【0027】

記憶制御機能３５は、分析装置７０に異常が発生したことが検知されると、収集機能３３が収集したデータから、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを記憶回路６０に含まれる不揮発性の記憶装置に記憶する。

【0028】

また、記憶制御機能３５は、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータともに、異常検知のタイミング以後に収集された所定期間分のデータを記憶回路６０に含まれる不揮発性の記憶装置に記憶してもよい。

【0029】

例えば、記憶制御機能３５は、所定期間分の後述する各種センサのセンシングデータや測定結果データ等を記憶回路６０に含まれるＨＤＤに記憶する。記憶制御機能３５の動作については後述する。

【0030】

設定機能３６は、分析装置７０に異常が発生した時に不揮発性の記憶媒体に記憶するデータ（データの種別）を、エラー事象毎に設定する。例えば、設定機能３６は、ユーザの設定指示に従い、分析装置７０の異常発生時にＨＤＤに記憶するデータの種別を、エラー事象毎に設定する。異常発生時に不揮発性の記憶媒体に記憶するデータの設定処理については後述する。

【0031】

ここで、例えば、処理回路３０の構成要素が実行する各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路６０に記録されている。処理回路３０は、各プログラムを記憶回路６０から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路３０は、図１の処理回路３０内に示された各機能を有することとなる。

【0032】

なお、図１においては、単一の処理回路３０にて、以下に説明する各処理機能が実現されるものとして説明するが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。

【0033】

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。

【0034】

プロセッサが例えばＣＰＵである場合、プロセッサは記憶回路６０に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。一方、プロセッサが例えばＡＳＩＣである場合、記憶回路６０にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込まれる。

【0035】

なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

【0036】

次いで、分析装置７０の構成について説明する。図２は、図１の自動分析装置１００の分析装置７０の構成の一例を示す斜視図である。

【0037】

分析装置７０は、複数の試料容器１１を保持するサンプルディスク５を備えている。試料容器１１は、各検査項目の標準試料や被検試料等の試料を収容する。

【0038】

分析装置７０は、更に、複数の試薬容器６と、複数の試薬容器６の各々を格納する試薬庫１と、複数の試薬容器７と、複数の試薬容器７の各々を格納する試薬庫２とを備えている。試薬容器６、７は、試料に含まれる各検査項目の成分と反応する成分を含有する試薬を収容する。

【0039】

試薬庫１は、各検査項目の試薬容器６を回転可能に保持するターンテーブルである試薬ラック１ａを備えている。試薬庫２は、各検査項目の試薬容器７を回転可能に保持するターンテーブルである試薬ラック２ａを備えている。

【0040】

分析装置７０は、更に、円周上に配置された複数の反応管３と、複数の反応管３の各々を回転可能に保持する反応ディスク４とを備えている。なお、図２に示す例では、３個の反応管３を収納する反応管ユニット３ａが周方向に複数配列されている。ここで、反応管ユニット３ａに収納される反応管３の数は、３個に限定されない。

【0041】

分析装置７０は、更に、試料分注プローブ１６と、試料分注アーム１０と、試料分注ポンプ１６ａと、試料検出器１６ｂと、洗浄槽１６ｃとを備えている。試料分注プローブ１６は、試料の分注を行う。

【0042】

具体的には、試料分注プローブ１６は、サンプルディスク５に保持された試料容器１１内の試料を検査項目毎に吸引して、当該検査項目の分析パラメータとして設定された量の試料を反応管３内へ吐出する。試料分注アーム１０は、試料分注プローブ１６を回転及び上下移動可能に支持する。

【0043】

試料分注ポンプ１６ａは、試料分注プローブ１６に試料の吸引及び吐出を行わせる。試料検出器１６ｂは、サンプルディスク５に保持された試料容器１１内の試料の液面に、当該液面の上方から下降した試料分注プローブ１６の先端部が接触したときに、試料容器１１内の試料を検出したと判定する。

【0044】

具体的には、試料検出器１６ｂは、試料分注プローブ１６と電気的に接続され、試料分注プローブ１６の先端部が試料容器１１内の試料と接触したときの静電容量の変化により、試料容器１１内の試料の液面を検出する。試料容器１１内の試料の液面が検出されると、試料分注ポンプ１６ａは、試料分注プローブ１６に試料の吸引及び吐出を行わせる。洗浄槽１６ｃは、試料分注プローブ１６を試料の分注終了毎に洗浄する。

【0045】

分析装置７０は、更に、試薬分注プローブ１４と、試薬分注アーム８と、試薬分注ポンプ１４ａと、試薬検出器１４ｂと、洗浄槽１４ｃと、撹拌子１７と、撹拌アーム１８と、洗浄槽１７ａとを備えている。試薬分注プローブ１４は、試薬容器６内の試薬の分注を行う。

【0046】

具体的には、試薬分注プローブ１４は、試薬ラック１ａに保持された各検査項目の試薬容器６内の試薬を吸引して、当該検査項目の分析パラメータとして設定された量の試薬を、試料が分注された反応管３内に吐出する。試薬分注アーム８は、試薬分注プローブ１４を回転及び上下移動可能に支持する。試薬分注ポンプ１４ａは、試薬分注プローブ１４に試薬の吸引及び吐出を行わせる。

【0047】

洗浄槽１４ｃは、試薬分注プローブ１４を試薬の分注毎に洗浄する。撹拌子１７は、反応管３内に分注された試料と試薬との混合液を撹拌する。撹拌アーム１８は、撹拌子１７を回転及び上下移動可能に支持する。洗浄槽１７ａは、撹拌子１７を混合液の撹拌毎に洗浄する。

【0048】

分析装置７０は、更に、試薬分注プローブ１５と、試薬分注アーム９と、試薬分注ポンプ１５ａと、試薬検出器１５ｂと、洗浄槽１５ｃと、撹拌子１９と、撹拌アーム２０と、洗浄槽１９ａとを備えている。試薬分注プローブ１５は、試薬容器７内の試薬の分注を行う。

【0049】

ここで、試薬分注プローブ１５、試薬分注アーム９、試薬分注ポンプ１５ａ、試薬検出器１５ｂ、洗浄槽１５ｃ、撹拌子１９、撹拌アーム２０、洗浄槽１９ａの機能は、それぞれ、試薬分注プローブ１４、試薬分注アーム８、試薬分注ポンプ１４ａ、試薬検出器１４ｂ、洗浄槽１４ｃ、撹拌子１７、撹拌アーム１８、洗浄槽１７ａの機能と同じであるため、説明を省略する。

【0050】

分析装置７０は、更に、測定部１３と、反応管洗浄ユニット１２とを備えている。測定部１３は、撹拌子１７に撹拌された混合液を収容する反応管３や、撹拌子１９に撹拌された混合液を収容する反応管３に、光を照射して混合液を測定する。

【0051】

具体的には、測定部１３は、回転している測定位置の反応管３に光を照射し、この照射により反応管３内の試料及び試薬の混合液を透過した光を検出する。そして、測定部１３は、検出した信号を処理してデジタル信号で表される標準データや被検データを生成して処理装置９０の処理回路３０に出力する。反応管洗浄ユニット１２は、測定部１３による測定が終了した反応管３内を洗浄する。

【0052】

駆動装置８０は、分析装置７０の各ユニットを駆動する。

【0053】

駆動装置８０は、分析装置７０のサンプルディスク５を駆動する機構を備え、サンプルディスク５を回転させることにより各試料容器１１を回転させる。また、駆動装置８０は、試薬庫１の試薬ラック１ａを駆動する機構を備え、試薬ラック１ａを回転させることにより各試薬容器６を回転させる。また、駆動装置８０は、試薬庫２の試薬ラック２ａを駆動する機構を備え、試薬ラック２ａを回転させることにより各試薬容器７を回転させる。また、駆動装置８０は、反応ディスク４を駆動する機構を備え、反応ディスク４を回転させることにより各反応管３を回転させる。

【0054】

また、駆動装置８０は、試料分注アーム１０を回転及び上下移動させる機構を備え、試料分注プローブ１６を試料容器１１と反応管３との間で移動させる。また、駆動装置８０は、試料分注ポンプ１６ａを駆動する機構を備え、試料分注プローブ１６に試料を分注させる。すなわち、試料分注プローブ１６に試料容器１１の試料を吸引させ、当該試料を反応管３に吐出させる。

【0055】

また、駆動装置８０は、試薬分注アーム８、９を回転及び上下移動させる機構を備え、試薬分注プローブ１４、１５をそれぞれ試薬容器６、７と反応管３との間で移動させる。また、駆動装置８０は、試薬分注ポンプ１４ａ、１５ａを駆動する機構を備え、試薬分注プローブ１４、１５に試薬を分注させる。

【0056】

すなわち、試薬分注プローブ１４、１５に試薬容器６、７の試薬を吸引させ、当該試薬を反応管３に吐出させる。また、駆動装置８０は、撹拌アーム１８、２０を駆動する機構を備え、撹拌子１７、１９を反応管３内に移動させる。そして、駆動装置８０は、撹拌子１７、１９を駆動する機構を備え、反応管３内の試料及び試薬の撹拌を行わせる。

【0057】

処理装置９０の分析制御機能３１は、駆動装置８０を制御して分析装置７０の各ユニットを作動させる。

【0058】

次に、図３乃至図７を用いて、処理回路３０の各機能の動作について説明する。まず、センシングデータの記憶処理について説明する。図３は、センシングデータの記憶処理の一例を説明する図である。

【0059】

図３の例では、ＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎについては別々の記憶装置で構成されるものとするが、１つの記憶装置で構成してもよい。この場合、例えば、記憶装置の記憶領域をＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎに分割する。また、図３のＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎ、ＨＤＤ１は、記憶回路６０に含まれるものとする。

【0060】

また、ＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎは、例えば、揮発性のリードライト可能な記憶装置である。ＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎは、第２記憶部の一例である。また、本実施形態では、ＲＡＭｎは、エラー発生時にＨＤＤ１に記憶する所定期間分の複数のセンシングデータを保持することができる記憶容量を少なくとも有している。

【0061】

また、ＨＤＤ１は、例えば、不揮発性のリードライト可能な記憶装置である。ＨＤＤ１は、第１記憶部の一例である。また、ＨＤＤ１は、ＲＡＭ１、ＲＡＭ２、ＲＡＭ３、ＲＡＭｎと比較して大きな記憶容量を有している。

【0062】

また、ライトポインタＷＰ１は、ＲＡＭ１におけるデータの記録位置を規定するものである。同様に、ライトポインタＷＰ２は、ＲＡＭ２におけるデータの記録位置を、ライトポインタＷＰ３は、ＲＡＭ３におけるデータの記録位置を、ライトポインタＷＰｎは、ＲＡＭｎにおけるデータの記録位置を規定するものである。

【0063】

図３の例では、収集機能３３は、分析装置７０が動作している間、センサ１のセンシングデータＳＤ１、センサ２のセンシングデータＳＤ２、画像データＩＤ１等のデータを収集する。センサとしては、試料の液面を検知する液面検知センサや光の散乱、吸収、偏向、蛍光等を計測する光センサ等が挙げられる。

【0064】

また、画像データとしては、試料分注プローブ１６の分注位置付近に設置され、サンプル液面状態を監視したり、分注位置を調整したりするために設置された光学カメラ等の撮像機による撮像データ等が挙げられる。なお、図３では、３つのデータを図示しているが、収集するデータの数は３つに限定されるものではない。

【0065】

また、図３の例では、収集機能３３は、センサ１のデータＳＤ１を１秒一区切りとしてＲＡＭ１のライトポインタＷＰ１が存在する記録領域に、データＳＤ１－１として一時的に記録する制御を行う。また、収集機能３３は、データＳＤ１-１の記録が終了した場合、ライトポインタＷＰ１を次の記録領域を表す位置へ移動させる処理を行う。そして、収集機能３３は、データＳＤ１の次の１秒間のデータを、データＳＤ１－２としてＲＡＭ１に記録する制御を行う。

【0066】

なお、一区切りとする期間は１秒に限定されない。例えば、０．５秒一区切りとしてセンサのデータをＲＡＭに一時的に記録してもよいし、２秒一区切りとしてセンサのデータをＲＡＭに一時的に記録してもよい。

【0067】

また、収集機能３３は、データＳＤ１をＲＡＭ１へループ記録する。具体的には、収集機能３３は、データＳＤ１の記録処理を継続した結果、ライトポインタＷＰ１がＲＡＭ１の記録領域の終端まで到達し、当該終端部分へのデータＳＤ１の記録が終了した場合、ライトポインタＷＰ１をＲＡＭ１記録領域の先頭に戻して旧データの上に、一区切りしたデータＳＤ１をデータＳＤ１－１として上書き記録する。

【0068】

上記と同様に、収集機能３３は、センサ２のデータＳＤ２を１秒一区切りとしてＲＡＭ２にループ記録し、画像データＩＤ１を１秒一区切りとしてＲＡＭ３にループ記録する。

【0069】

また、収集機能３３は、複数の１秒単位のデータ（センシングデータＳＤ１、センシングデータＳＤ２、画像データＩＤ１等）について、同時刻のもの同士を１組としてパック化する。そして、収集機能３３は、パック化したパックデータＰＤ１をＲＡＭｎに記録する。ＲＡＭｎは、パックデータを記録するためのＲＡＭである。

【0070】

収集機能３３は、ＲＡＭｎについても、上述のＲＡＭ１と同様にパックデータのループ記録を行う。これにより、ＲＡＭｎには、ループ記録可能な個数に対応する時間分のパックデータＰＤ１－１～ＰＤ１－ｎが記録される。

【0071】

ここで、図３の例では、パックデータＰＤ１－１は、ＲＡＭｎの記録領域のうちの先頭部分に記録されたパックデータを表している。また、パックデータＰＤ１－２は、ＲＡＭｎの記録領域のうちの先頭から数えて２番目の部分に記録されたパックデータを表している。また、パックデータＰＤ１－ｎは、ＲＡＭｎの記録領域のうちの終端部分に記録されたパックデータを表している。

【0072】

また、分析装置７０に異常が発生した場合、検知機能３４は、分析装置７０に異常が発生したことを検知する。検知機能３４により分析装置７０に異常が発生したことが検知されると、収集機能３３は、ＲＡＭｎへのパックデータＰＤの記録を、検知機能３４により異常が検知された異常発生時点ＡＰから１分間継続する。収集機能３３が異常発生時点ＡＰから１分間分のパックデータＰＤ１を記録すると、記憶制御機能３５は、ＲＡＭｎに一時記録された異常発生時点１分前から異常発生時点までの１間分のデータＢ１ＭＤ、及び異常発生時点から異常発生時点の一分後までの１分間のデータＡ１ＭＤを読み出し、ＨＤＤ１にファイルＦ１として記憶する。

【0073】

このように、記憶制御機能３５は、検知機能３４による分析装置７０の異常発生の検知に応じて、異常発生が検知された異常発生時点ＡＰを基点とする所定期間分の動作履歴を抽出したファイルＦ１を、不揮発性のＨＤＤ１に記憶する。なお、このとき、記憶制御機能３５は、後述する測定結果データＲＤ１も合わせてファイルＦ１として記憶してもよい。

【0074】

ところで、本実施形態では、上述したようにＲＡＭｎではループ記録が行われる。このため、異常発生時点ＡＰタイミングを基点とする所定期間分の動作履歴を表すパックデータＰＤ１が、ＲＡＭｎの先頭部分と末尾部分に分かれて記録されていることがある。この場合、記憶制御機能３５は、パックデータＰＤ１を時系列順に並び替えてＨＤＤ１にファイルＦ１として記憶する。

【0075】

また、ファイルＦ１の記憶後に、検知機能３４により分析装置７０の異常が検知された場合、記憶制御機能３５は、上記と同様の処理を行ってファイルＦ２をＨＤＤ１に記憶する。更に、ファイルＦ２の記憶後に、検知機能３４により分析装置７０の異常が検知された場合、記憶制御機能３５は、上記と同様の処理を行ってファイルＦ３をＨＤＤ１に記憶する。

【0076】

このように、記憶制御機能３５は、検知機能３４により分析装置７０の異常が検知される毎に１つの所定期間分の動作履歴を抽出したファイルをＨＤＤ１に記憶する処理を行う。

【0077】

なお、図３の例では、記憶制御機能３５は、異常発生時点の前後１分間分のデータをＨＤＤ１に記憶しているが、データを記憶する対象期間はこれに限定されない。例えば、記憶制御機能３５は、異常発生時点の１分前から異常発生時点までのデータのみをＨＤＤ１に記憶してもよい。また、記憶制御機能３５は、ユーザの入力操作に従い、データを記憶する対象期間を任意に設定できるようにしてもよい。

【0078】

次に、測定結果データの記憶処理について説明する。図４は、測定結果データの記憶処理の一例を説明する図である。

【0079】

図４のＲＡＭｍは、測定結果データを記録するための記憶装置である。なお、ＲＡＭｍは、他のデータを記憶する記憶装置とは別の記憶装置として構成してもよいし、他のデータを記憶する記憶する記憶装置と同一の記憶装置であってもよい。

【0080】

図４の例では、ＲＡＭｍは、ブロックＢ１～Ｂ５の５ブロック分のデータの記憶容量を有している。収集機能３３は、１ブロックに全ての反応管３の測定結果データＲＤ１の履歴を記録する。例えば、分析装置７０が５００個の反応管３を備える場合、収集機能３３は、Ｎｏ.１～５００までの反応管３の測定結果データＲＤ１を１ブロックに記録する。

【0081】

なお、図４では、測定結果データＲＤ１には、例えば、直前に測定された項目名、測定値、水ブランク測定結果、キャリオーバ回避洗浄の有無が含まれる。なお、測定結果データＲＤ１には、これら以外のデータが含まれてもよいし、これらのデータのうちの一部が含まれていなくてもよい。

【0082】

図４の例では、ブロックＢ１～Ｂ５の各ブロックには夫々、反応管３毎の測定結果データを記録するためのデータ領域が予め設けられている。また、収集機能３３は、測定結果データの記録位置を指示するライトポインタＷＰｍが存在するデータ領域に測定結果データを一時的に記録する。また、収集機能３３は、ライトポインタＷＰｍが存在するデータ領域に測定結果データを記録した場合、ライトポインタＷＰｍを次のデータ領域へ進める処理を行う。つまり、図４の例では、収集機能３３は、反応管３単位でライトポインタＷＰｍが存在するデータ領域に順次測定結果データの記録を行う。

【0083】

例えば、ブロックＢ３の反応管Ｎｏ.２の水ブランク測定が終了した場合、収集機能３３は、ライトポインタＷＰｍが存在する反応管Ｎｏ.２の位置に測定結果データを記録する。記録終了後、収集機能３３は、反応管Ｎｏ.３の位置へライトポインタＷＰｍを進める。

【0084】

なお、収集機能３３は、反応管３の水ブランク測定が終了したタイミングで当該反応管３の測定結果データをＲＡＭｍに記録するため、反応管３の水ブランク測定を実行する目的で行われる反応ディスク４（図２参照）の回転動作と連動してライトポインタＷＰｍを、水ブランク測定の対象となる反応管３に対応するデータ領域へ移動させてもよい。

【0085】

そして、ブロックＢ３のライトポインタＷＰｍが最終反応管であるＮｏ.５００まで到達した場合、収集機能３３は、ライトポインタＷＰｍをブロックＢ４の反応管Ｎｏ.１の位置に進める。

【0086】

また、ライトポインタＷＰｍがブロックＢ５の反応管Ｎｏ.５００の位置に到達した場合、収集機能３３は、ライトポインタＷＰｍをブロックＢ１の反応管Ｎｏ.１の位置に戻し、ループ記録を継続する。

【0087】

また、検知機能３４により分析装置７０の異常の発生が検知されると、記憶制御機能３５は、ブロックＢ１～Ｂ５に記録された全ての測定結果データＲＤ１を、不揮発性のＨＤＤ１のファイルＦ１内に記憶する。具体的には、記憶制御機能３５は、異常発生時点ＡＰの時点でブロックＢ１～Ｂ５に記録されている全ての測定結果データを測定結果データＲＤ１としてＨＤＤ１のファイルＦ１内に記憶する。

【0088】

なお、記憶制御機能３５は、ブロックＢ１～Ｂ５に記録された全ての測定結果データを時系列順に並び替えて測定データＲＤ１としてＨＤＤ１のファイルＦ１内に記憶してもよい。また、図４の例では、記憶制御機能３５は、測定結果データＲＤ１をＨＤＤ１のファイルＦ１内に記憶するが、測定結果データＲＤ１の記録先はファイルＦ１に限定されない。例えば、記憶制御機能３５は、センシングデータを記憶するファイルとは別のファイル内に測定データＲＤ１を記憶してもよい。

【0089】

ところで、上記では実際の異常が発生した後の測定結果データの保存方法について説明したが、ＲＡＭｍに記憶される測定結果データは、異常発生の予測に使用することも可能である。ここで、図４のＲＡＭｍでは、ブロックＢ１～Ｂ５の同一反応管のデータ、または同一項目のデータを時系列的にさかのぼって確認することが可能である。

【0090】

したがって、ブロックＢ１～Ｂ５の同一反応管のデータ、または同一項目のデータをトレースすることで、例えば、同一反応管で水ブランク値の低下が複数回発生時（反応管３の不良）、同一反応管の水ブランク値が連続して低下する（ランプ出力低下のエラーの事前告知）、同一試薬で測定結果異常が連続して発生（試薬の劣化）、同一項目測定後の反応管水ブランク値が低下や測定結果異常（反応管洗浄機能の異常、アルカリ洗剤の希釈が不十分等）、キャリオーバ回避洗浄後の測定結果が異常（キャリオーバ回避洗剤の劣化、配置間違い）等の分析装置７０の異常の種別を検出することができる。

【0091】

また、分析制御機能３１は、検出された分析装置７０の異常の種別をエラーの要因の候補としてユーザに報知したり、故障事前予測として報知したりすることもできる。この場合の分析制御機能３１は、提示部の一例である。

【0092】

ここで、図５は、反応管の水ブランク値の推移の一例を説明する図である。図５は、図４の反応管Ｎｏ．１の水ブランク値の推移を表している。また、図５の縦軸は、水ブランク値、横軸は、反応管Ｎｏ．１の水ブランク値が記録されたブロックを表している。水ブランク値は、例えば、反応管３に水のみを入れた状態で測定部１３により測定された吸光度である。

【0093】

なお、横軸のブロックは、数字が若い順に並べたとしても時系列順にならない場合があるので、時系列順に並び替えられるものとする。つまり、図５の例では、ブロック１～５の順に時間が推移することを表している。

【0094】

例えば、図５のグラフで、ブロック単位で水ブランク値の推移をトレースすると、ブロック３で水ブランク値が平均値から±１０００を外れ、ブロック４で平均値から±１０００内に戻り、ブロック５で再び平均値から±１０００を外れていることがわかる。このように、水ブランク値の平均値から±１０００を外れるものがある場合、分析制御機能３１は、故障原因の候補として、反応管３の異常が疑われることをユーザに通知する。

【0095】

また、図６は、反応管の水ブランク値の推移の一例を説明する図である。図６は、図４の反応管Ｎｏ．２の水ブランク値の推移を表している。図６も図５と同様に、縦軸は、水ブランク値、横軸は、反応管Ｎｏ．２の水ブランク値が記録されたブロックを表している。

【0096】

例えば、図６のグラフで、ブロック単位で水ブランク値の推移をトレースすると、水ブランク値がブロック１～ブロック５にかけて連続的に低下していることがわかる。このように、水ブランク値の推移が連続して低下する場合、分析制御機能３１は、故障原因の候補としてランプ出力の低下が疑われることをユーザに通知する。

【0097】

なお、図４では、記憶制御機能３５は、異常発生時点ＡＰにおいてブロックＢ１～Ｂ５に記録された全ての測定結果データを測定結果データＲＤ１としてファイルＦ１内に記憶しているが、測定結果データＲＤ１としてファイルＦ１内に記録する対象はこれに限定されない。例えば、記憶制御機能３５は、図３と同様に、異常発生時点ＡＰの前後１分間分の測定結果データを測定結果データＲＤ１としてファイルＦ１内に記憶してもよい。

【0098】

また、図４では反応管３毎に測定結果データの履歴を記録する場合について記載したが、収集機能３３は、試薬毎のデータや、項目毎のデータについて同様の方法で測定結果データの履歴を記録してもよい。

【0099】

次に、異常発生時に不揮発性記憶委媒体に記憶するデータの設定処理について説明する。図７は、異常発生時に不揮発性記憶媒体に記憶するデータ種別の設定方法の一例を説明する図である。図７は、分析装置７０の異常発生時にＨＤＤ１に記憶するデータのデータ種別をエラー事象毎にユーザが設定するための設定画面の一例である。

【0100】

例えば、ユーザは、図７の設定画面の「エラー事象」に対応付けられた「記憶するデータの種別」について、削除、追加、変更等の入力を行うことで分析装置７０の異常発生時にＨＤＤ１に記憶するデータのデータ種別をエラー事象毎に任意に設定することが可能である。

【0101】

図７の例では、設定機能３６は、ユーザの設定指示に従い、ハードウェアエラー（ＨＷＥｒｒ）の場合、サンプル液面画像、プロセシングモジュール（ＰＭ）センサデータ、液面検知データ、水ブランク値、光路付近画像、前回交換日時・・・等のデータをＨＤＤ１に記憶する旨を設定している。

【0102】

また、設定機能３６は、同様に、サンプル吸引エラーの場合、サンプル液面画像、ＰＭセンサデータ、液面検知データを記録する旨を設定している。また、設定機能３６は、同様に、吸光度エラーの場合、水ブランク値、光路付近画像、前回交換日時を記録する旨を設定している。また、設定機能３６は、同様に、ランプエラーの場合、光路付近画像、前回交換日時をＨＤＤ１に記憶する旨を設定している。

【0103】

また、図７の例では、ハードウェアエラーが最上位の階層に位置し、サンプル吸引エラー及び吸光度エラーはハードウェアエラーと関連する３番目の階層に位置し、ランプエラーはハードウェアエラー及び吸光度エラーと関連する４番目の階層に位置することを表している。

【0104】

例えば、ユーザは、図７の設定画面上で各「エラー事象」同士の配置を変更したり、「エラー事象」同士を関連付けたりする入力を行うことで、「エラー事象」同士の関連付けを設定する。これにより、設定機能３６は、ユーザの設定指示に従い、エラー事象同士を階層的に関連付けることができる。

【0105】

また、設定機能３６によりＨＤＤ１に記憶するエラー種別が設定されている場合、記憶制御機能３５は、分析装置７０の異常発生時は、ＲＡＭｎ一時的に記録された、異常発生時点に対応する所定期間のパックデータＰＤ１の中から、設定機能３６が設定したエラー種別に対応するデータ種別を抽出してＨＤＤ１に記憶する。

【0106】

一例として、検知機能３４により、分析装置７０に「サンプル吸引エラー」が発生したと検知された場合について説明する。この場合、例えば、記憶制御機能３５は、ＲＡＭｎ記録された、異常発生時点の前後１分間のパックデータＰＤ１から、図７の設定画面上で「サンプル吸引エラー」に対応付けられた「サンプル液面画像」、「ＰＭセンサデータ」、「液面検知データ」を抽出し、抽出したデータをＨＤＤ１のファイルＦ１内に記憶する。

【0107】

なお、設定機能３６は、ユーザが特定のデータについて必要／不要になったと判断した場合、ユーザの指示に従い、後から記憶するデータの追加／削除を行うことが可能である。これにより、記憶制御機能３５は、ユーザが経験的に得た知見を反映したデータの記憶を行うことができる。

【0108】

次に、自動分析装置１００が実行する処理について説明する。まず、センシングデータの一時的な記録処理について説明する。図８は、自動分析装置１００が実行する処理の一例を示すフローチャートである。前提として分析装置７０は動作中であり、収集機能３３は、各種データを収集し続けているものとする。

【0109】

まず、収集機能３３は、分析装置７０が備える各種センサの１秒間のセンシングデータを夫々対応するＲＡＭのライトポインタＷＰが存在する記録領域に記録する（ステップＳ１０１）。なお、図８では、各種センサのセンシングデータを記録する例について記載しているが、収集機能３３は、測定結果データを除くセンシングデータ以外のデータについても同様の処理を実行するものとする。

【0110】

次いで、収集機能３３は、各ＲＡＭに対応するライトポインタＷＰを１つ進める処理を実行する（ステップＳ１０２）。例えば、ＲＡＭ１のライトポインタＷＰ１がＲＡＭ１のポイント１に位置している場合、収集機能３３は、ライトポインタＷＰ１をＲＡＭ１のポイント２に進める処理を実行する。

【0111】

次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰがＲＡＭの終端位置にあるか否かを判定する（ステップＳ１０３）。ライトポインタＷＰが終端位置にない場合（ステップＳ１０３：Ｎｏ）、ステップＳ１０１の処理に戻る。

【0112】

一方、ライトポインタＷＰが終端位置にある場合（ステップＳ１０３：Ｙｅｓ）、収集機能３３は、ライトポインタＷＰの位置を０に戻す処理を実行し（ステップＳ１０４）、ステップＳ１０１の処理に戻る。

【0113】

次に、パックデータの一時的な記録処理について説明する。図９は、自動分析装置１００が実行する処理の一例を示すフローチャートである。前提として、図９に示すパックデータの記録処理は、図８に示したセンシングデータの記録処理のバックグラウンドで実行される処理であるものとする。

【0114】

まず、収集機能３３は、複数のデータを一組としてパックデータを生成する（ステップＳ１０５）。例えば、収集機能３３は、図８のステップＳ１０１で記憶されたセンシングデータを一組とすることで１秒間分のパックデータを生成する。

【0115】

次いで、収集機能３３は、生成したパックデータを対応するＲＡＭのライトポインタＷＰが存在する記録領域に記録する（ステップＳ１０６）。次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰを１つ進める処理を実行する（ステップＳ１０７）。例えば、生成したパックデータを対応するＲＡＭがＲＡＭｎである場合、収集機能３３は、ＲＡＭｎに対応するライトポインタＷＰｎを１つ進める処理を実行する。

【0116】

次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰがＲＡＭの終端位置にあるか否かを判定する（ステップＳ１０８）。ライトポインタＷＰが終端位置にない場合（ステップＳ１０８：Ｎｏ）、ステップＳ１０５の処理に戻る。

【0117】

一方、ライトポインタＷＰが終端位置にある場合（ステップＳ１０８：Ｙｅｓ）、収集機能３３は、ライトポインタＷＰの位置を０に戻す処理を実行し（ステップＳ１０９）、ステップＳ１０５の処理に戻る。

【0118】

次に、パックデータをＨＤＤに記憶する処理について説明する。図１０は、自動分析装置１００が実行する処理の一例を示すフローチャートである。前提として、図１０に示すパックデータをＨＤＤに記憶する処理は、図８に示したセンシングデータの一時的な記録処理、及び図９に示したパックデータの一時的な記録処理のバックグラウンドで実行される処理であるものとする。

【0119】

まず、検知機能３４は、分析装置７０の異常を検知したか否かを判定する（ステップＳ１１０）。異常を検知していない場合（ステップＳ１１０：Ｎｏ）、ステップＳ１１０の処理に戻る。

【0120】

一方、異常を検知していた場合（ステップＳ１１０：Ｙｅｓ）、記憶制御機能３５は、ＲＡＭに記憶されたパックデータからＨＤＤに記憶するデータを抽出する（ステップＳ１１１）。

【0121】

例えば、記憶制御機能３５は、パックデータを記録するＲＡＭｎのリードポインタを異常発生時点の１分前にセットする。そして、記憶制御機能３５は、ＲＡＭｎから異常発生時点の１分前から異常発生時点の１分間後までのパックデータを読み出す。

【0122】

なお、設定機能３６により分析装置７０の異常発生時にＨＤＤ１に記憶するデータ種別が設定されている場合、記憶制御機能３５は、検知機能３４で検知された分析装置７０のエラー事象に対応するデータ種別のみを抽出してもよい。また、検知機能３４が分析装置７０の異常を検知した場合でも、収集機能３３は、異常発生時点から１分後まではデータの収集を継続するものとする。

【0123】

次いで、記憶制御機能３５は、ステップＳ１１１で抽出したデータをＨＤＤに記憶し（ステップＳ１１２）、本処理を終了する。例えば、記憶制御機能３５は、読み出した異常発生時点の１分前から異常発生時点の１分間後までのパックデータをＨＤＤ１のファイル内に記憶する。

【0124】

これにより、異常発生時点を基点とする過去所定期間分の動作履歴を含むパックデータが、不揮発性のＨＤＤ１に記憶される。

【0125】

次に、測定結果データの一時的な記録処理について説明する。図１１は、自動分析装置１００が実行する処理の一例を示すフローチャートである。前提として分析装置７０は動作中であり、収集機能３３は、測定結果データを収集し続けているものとする。

【0126】

まず、分析制御機能３１は、分析装置７０を制御して、試料の測定に使用する反応管３の水ブランクの測定処理を実行する（ステップＳ２０１）。

【0127】

次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰが存在するステップＳ２０１で水ブランクを測定した反応管の測定結果データを対応するＲＡＭに記録する（ステップＳ２０２）。例えば、収集機能３３は、直前に測定された項目名、測定値、水ブランク測定結果、キャリオーバ回避洗浄の有無等を対応するＲＡＭに測定結果データとして記録する。

【0128】

次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰを１つ進める処理を実行する（ステップＳ２０３）。例えば、測定結果データを記録するＲＡＭがＲＡＭｍであり、ＲＡＭｍに対応するライトポインタＷＰｍがＲＡＭｍのブロックＢ１の反応管Ｎｏ．１に位置している場合、収集機能３３は、ライトポインタＷＰｍをＲＡＭｍのブロックＢ１の反応管Ｎｏ．２に進める処理を実行する。

【0129】

次いで、収集機能３３は、ライトポインタＷＰがＲＡＭのブロックの終端位置にあるか否かを判定する（ステップＳ２０４）。ライトポインタＷＰがブロックの終端位置にない場合（ステップＳ２０４：Ｎｏ）、ステップＳ２０１の処理に戻る。

【0130】

一方、ライトポインタＷＰが終端位置にある場合（ステップＳ２０４：Ｙｅｓ）、収集機能３３は、現在の書き込みブロックがブロックＢ５であるか否かを判定する（ステップＳ２０５）。

【0131】

書き込みブロックがブロックＢ５である場合（ステップＳ２０５：Ｙｅｓ）、収集機能３３は、書き込みブロックをブロックＢ１に設定する処理を実行する（ステップＳ２０６）。

【0132】

一方、書き込みブロックがブロックＢ５でない場合（ステップＳ２０５：Ｎｏ）、収集機能３３は、書き込みブロックを１進める処理を実行する（ステップＳ２０７）。例えば、書き込みブロックがブロックＢ１である場合、収集機能３３は、書き込みブロックをブロックＢ２に設定する処理を実行する。

【0133】

次に、測定結果データをＨＤＤへ記憶する処理について説明する。図１２は、自動分析装置１００が実行する処理の一例を示すフローチャートである。前提として、図１２に示す測定結果データをＨＤＤへ記憶する処理は、図１１に示した測定結果データの一時的な記録処理のバックグラウンドで実行される処理であるものとする。

【0134】

まず、検知機能３４は、分析装置７０の異常を検知したか否かを判定する（ステップＳ２０８）。異常を検知していない場合（ステップＳ２０８：Ｎｏ）、再びステップＳ２０８の処理に戻る。

【0135】

一方、異常を検知していた場合（ステップＳ２０８：Ｙｅｓ）、記憶制御機能３５は、ＲＡＭに記憶された測定結果データからＨＤＤに記憶するデータを抽出する（ステップＳ２０９）。例えば、記憶制御機能３５は、検知機能３４により分析装置７０の異常が検知された場合、測定結果データのＲＡＭｍのリードポインタをブロックＢ１の先頭位置にセットする。そして、記憶制御機能３５は、ブロックＢ１の先頭位置からブロックＢ５の終端位置までの測定結果データを読み出す。

【0136】

次いで、記憶制御機能３５は、ステップＳ２０９で抽出したデータをＨＤＤに記憶し（ステップＳ２１０）、本処理を終了する。例えば、記憶制御機能３５は、ＲＡＭｍから読み出したブロックＢ１の先頭位置からブロックＢ５の終端位置までの測定結果データをＨＤＤ１のファイル内に記憶する。

【0137】

これにより、異常発生時点を基点とする過去所定期間分の測定結果データが、不揮発性のＨＤＤ１に記憶される。

【0138】

以上に述べた実施形態に係る自動分析装置１００は、分析装置７０が動作している間、試料の分析に係る動作状態及び試料の分析結果を示す情報を含むデータを収集し、分析装置７０に異常が発生したことが検知されると、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータを記憶回路６０のＨＤＤに記憶する。

【0139】

これにより、異常検知のタイミング以前に収集された所定期間分のデータが記憶されるため、例えば、自動分析装置１００の不具合の解析を行う場合、ユーザは蓄積された膨大なデータの中から不具合に関係のありそうなデータを探索することなく、容易に不具合の原因の調査を行うことができる。つまり、本実施形態に係る自動分析装置１００によれば、自動分析装置の不具合の解析処理の効率を向上させることができる。

【0140】

また、本実施形態に係る自動分析装置１００は、複数のデータを夫々に対応する専用のＲＡＭに記憶する。

【0141】

これにより、例えば、ユーザは分析装置７０が備える複数のセンサのうち、特定のセンサのセンシングデータのみを確認するような場合に、容易にデータの確認を行うことができる。

【0142】

また、本実施形態に係る自動分析装置１００は、収集したデータを記憶回路６０のＲＡＭの所定の記録領域に記憶し、当該記録領域の終端までデータを記憶した場合、当該記録領域の先頭に戻ってデータを既に記憶されているデータの上に上書き記録する。

【0143】

これにより、所定の記憶容量を超えるデータが蓄積されることがなくなるため、データの記憶に用いられる記憶回路６０のＲＡＭの記憶容量を節約することができる。

【0144】

また、本実施形態に係る自動分析装置１００は、分析装置７０に異常が発生した場合にＨＤＤへ記憶するデータの対象期間をユーザの指示に従って設定する。

【0145】

これにより、例えば、ユーザが必要と判断した期間分のデータを確認しやすい状態でＨＤＤに残しておくことができる。したがって、ユーザは効率的に分析装置７０の不具合の原因探索を行うことができる。

【0146】

また、本実施形態に係る自動分析装置１００は、異常の要因毎に、ＨＤＤに記憶するデータを設定する。

【0147】

これにより、例えば、ユーザは経験的に必要だと判断したデータのみを確認しやすい状態でＨＤＤに残しておくことができる。したがって、ユーザは効率的に分析装置７０の不具合の原因探索を行うことができる。

【0148】

また、本実施形態に係る自動分析装置１００は、記憶したデータに基づき、分析装置７０の不具合の原因の候補を提示する。

【0149】

これにより、例えば、ユーザはデータの確認を行う前に、分析装置７０の不具合の原因の候補を知ることができる。したがって、ユーザは確認すべきデータを把握しやすくなり、効率的に分析装置７０の不具合の原因探索を行うことができる。

【0150】

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、自動分析装置の不具合の解析処理の効率を向上させることができる。

【0151】

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

【符号の説明】

【0152】

１００ 自動分析装置
３０ 処理回路
３１ 分析制御機能
３２ データ処理機能
３３ 収集機能
３４ 検知機能
３５ 記憶制御機能
３６ 設定機能
４０ 出力装置
５０ 入力装置
６０ 記憶回路
７０ 分析装置
８０ 駆動装置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】