特開 2024-173440 監視装置および監視方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024173440

(43)【公開日】2024-12-12

(54)【発明の名称】監視装置および監視方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/12 20200101AFI20241205BHJP

   G01R 31/14 20060101ALI20241205BHJP

   H02H 7/00 20060101ALI20241205BHJP

【ＦＩ】

G01R31/12 A

G01R31/14

H02H7/00

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023091861

(22)【出願日】2023-06-02

(71)【出願人】

【識別番号】000003078

【氏名又は名称】株式会社東芝

(71)【出願人】

【識別番号】598076591

【氏名又は名称】東芝インフラシステムズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001634

【氏名又は名称】弁理士法人志賀国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】藤井 祐樹

(72)【発明者】

【氏名】中村 勇介

(72)【発明者】

【氏名】長 広明

(72)【発明者】

【氏名】水出 隆

(72)【発明者】

【氏名】高橋 栄也

(72)【発明者】

【氏名】近藤 淳一

【テーマコード（参考）】

2G015

5G053

【Ｆターム（参考）】

2G015AA08

2G015AA10

2G015AA13

2G015AA14

2G015AA16

2G015AA18

2G015BA05

2G015CA01

2G015CA20

5G053AA09

5G053BA04

5G053CA05

5G053EC02

(57)【要約】

【課題】サージ電圧によるセンサの故障を防ぎながら、サージ電圧に係るエネルギーを計測することができる監視装置および監視方法を提供することである。
【解決手段】電極は、対象電力機器から電気信号を引き込む。電圧センサは、電気信号の電圧を計測する。過電圧保護回路は、電極と電圧センサとの間に接続され、電気信号の電圧が閾値を超えるときに電気信号を吸収する。検出部は、電圧センサが計測した電圧の値に基づいて、対象電力機器へのサージ電圧を検出する。エネルギー特定部は、検出されたサージ電圧に係る電圧の値に基づいて、サージ電圧のエネルギーに関する値を特定する。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

対象電力機器から電気信号を引き込む電極と、
電気信号の電圧を計測する電圧センサと、
前記電極と前記電圧センサとの間に接続され、前記電気信号の電圧が閾値を超えるときに前記電気信号を吸収する過電圧保護回路と、
前記電圧センサが計測した電圧の値に基づいて、前記対象電力機器へのサージ電圧の発生を検出する検出部と、
検出された前記サージ電圧に係る電圧の値に基づいて、前記サージ電圧のエネルギーに関する値を特定するエネルギー特定部と、
を備える監視装置。

【請求項2】

前記電圧センサが計測した電圧の波形からパルス信号を含む部分波形を抽出する抽出部を備え、
前記検出部は、抽出された前記部分波形の波高値が所定レベルを超える場合に、前記部分波形がサージ電圧に起因する部分波形であると判定し、
前記エネルギー特定部は、前記サージ電圧に起因する部分波形に基づいて、前記サージ電圧のエネルギーに関する値を特定する、
請求項１に記載の監視装置。

【請求項3】

前記検出部は、
抽出された前記部分波形の波高値が前記所定レベルを超えない場合に、前記部分波形が部分放電に起因する部分波形であると判定し、
前記エネルギー特定部は、前記部分放電に起因する部分波形に基づいて、前記部分放電のエネルギーに関する値を特定する、
請求項２に記載の監視装置。

【請求項4】

前記エネルギーに関する値に基づいて前記対象電力機器の劣化状態を推定する劣化推定部、
を備える請求項１から請求項３の何れか１項に記載の監視装置。

【請求項5】

前記劣化推定部は、前記サージ電圧に起因する部分波形から推定されるサージ電圧の値とパルス幅の積に基づいて、前記対象電力機器の劣化状態を推定する
請求項４に記載の監視装置。

【請求項6】

前記過電圧保護回路は、高速ダイオードである
請求項１から請求項３の何れか１項に記載の監視装置。

【請求項7】

対象電力機器から電気信号を引き込む電極と、電気信号の電圧を計測する電圧センサと、前記電極と前記電圧センサとの間に接続され、前記電気信号の電圧が閾値を超えるときに前記電気信号を吸収する過電圧保護回路とを有する監視装置を用いた監視方法であって、
前記監視装置が、前記電圧センサが計測した電圧の値に基づいて、前記対象電力機器へのサージ電圧の発生を検出するステップと、
前記監視装置が、検出された前記サージ電圧に係る電圧の値に基づいて、前記サージ電圧のエネルギーに関する値を特定するステップと、
を有する監視方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明の実施形態は監視装置および監視方法に関する。

【背景技術】

【0002】

電力機器の経年劣化によって、電力機器の表面や内部の絶縁体の絶縁性能が低下する。絶縁性能の低下が生じた箇所からは、部分放電が発生する。絶縁性能の低下が進行すると、電力機器に絶縁破壊が起こる可能性がある。また、電力機器に突発的に侵入するサージ電圧によっても、絶縁性能の低下が生じることがある。

【0003】

部分放電を計測するために、電力機器に電極を取り付け、監視装置が電極を介して流れる電気信号をセンサで検出する方法がある。このとき、過大なサージ電圧によってセンサが壊れないよう、電極とセンサの間に保護回路が設けられる。この場合、部分放電信号は波形を保って計測されるが、サージ電圧信号は保護回路によって吸収され、抑制された波形が計測されることとなる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特許第４３４２９９３号公報

【特許文献2】特開２００３－２１７９５５号公報

【特許文献3】特許第５４９３９０９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本発明が解決しようとする課題は、サージ電圧によるセンサの故障を防ぎながら、サージ電圧に係るエネルギーを計測することができる監視装置および監視方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

実施形態の監視装置は、電極と、電圧センサと、過電圧保護回路と、検出部と、エネルギー特定部とを持つ。電極は、対象電力機器から電気信号を引き込む。電圧センサは、電気信号の電圧を計測する。過電圧保護回路は、電極と電圧センサとの間に接続され、電気信号の電圧が閾値を超えるときに電気信号を吸収する。検出部は、電圧センサが計測した電圧の値に基づいて、対象電力機器へのサージ電圧を検出する。エネルギー特定部は、検出されたサージ電圧に係る電圧の値に基づいて、サージ電圧のエネルギーに関する値を特定する。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】第１の実施形態に係る監視システムの構成を示す図。

【図2】第１の実施形態に係る監視装置の構成を示す概略図。

【図3】第１の実施形態に係るサージ電圧の波形と抑制サージ波形の例を示す図。

【図4】第１の実施形態に係る試験における入力電圧と抑制電圧の関係を示す図。

【図5】第１の実施形態に係る放電エネルギーの計算例を示す図。

【図6】第１の実施形態に係る演算装置の動作を示すフローチャート。

【図7】少なくとも１つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、実施形態の監視装置および監視方法を、図面を参照して説明する。
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る監視システム１０の構成を示す図である。
監視システム１０は、監視装置１００と１または複数の対象電力機器２００とを備える。第１の実施形態の監視装置１００は、単一の装置で構成される。

【0009】

対象電力機器２００は、箱体２１０と機器本体２２０とを備える。機器本体２２０は、接地された箱体２１０に収容されている。機器本体２２０は、電力用変圧器、ガス絶縁開閉器、発電機、電動機又はリアクトル等のように、部分放電を発生する可能性がある機器である。機器本体２２０は、遮断機、断路器、変流器又は変圧器等の機器によって構成される。機器本体２２０は、外部から電源ケーブルを介して、高電圧及び大電流を通電する。機器本体２２０は、異常時には通電を遮断する機能を有する。

【0010】

図２は、第１の実施形態に係る監視装置１００の構成を示す概略図である。監視装置１００は、対象電力機器２００の部分放電およびサージ電圧の発生を検出し、対象電力機器２００の劣化状態を推定する。

【0011】

監視装置１００は、計測器１１０と演算装置１２０とを備える。計測器１１０は、対象電力機器２００の箱体２１０に取り付けられた電極１１１の電圧を計測することで、箱体２１０に収容されている機器本体２２０との間の浮遊容量を介して箱体２１０の表面に形成される電位を計測する。つまり、第１の実施形態に係る電極１１１は、ＴＥＶ（Transient Earth Voltage）センサである。他方、他の実施形態に係る電極１１１は、ＣＴ（Current Transformer）センサ、ＡＥ（Acoustic Emission）センサ、アンテナ等の電気機器の運転に由来する電気信号を計測する他の電極１１１であってよい。また、監視装置１００は、電気信号に変えて電気機器の運転に由来する音波や振動を電気信号に変換して検出するセンサを備えてもよい。センサ部と監視装置１００とは信号線を介して接続される。この信号線がアンテナとして機能し、サージ電圧発生に伴う電気ノイズが信号線を伝って監視装置１００に入力される。演算装置１２０は、計測器１１０の計測値に基づいて、部分放電およびサージ電圧の検出、記録を行う。

【0012】

計測器１１０は、１または複数の電極１１１、過電圧保護回路１１２、電圧センサ１１３を備える。計測器１１０の本体と電極１１１とは測定ケーブル１１４によって接続される。電極１１１の一次側は、対応する対象電力機器２００の箱体２１０に接続される。これにより、電極１１１は、箱体２１０の表面に形成される電気信号を計測器１１０に引き込む。電極１１１の二次側には、過電圧保護回路１１２の一次側が接続される。過電圧保護回路１１２の二次側には、電圧センサ１１３の一次側が接続される。

【0013】

過電圧保護回路１１２は、一次側に入力される電気信号の電圧が、閾値を超えるときに電気信号を吸収する（グラウンドに流す）ように設計される。過電圧保護回路１１２としては、閾値が電圧センサ１１３の定格電圧より低く、かつ部分放電に起因する電気信号のピーク値より高いものが選定される。第１の実施形態に係る過電圧保護回路１１２は、電圧センサ１１３と並列に設けられ、グラウンドに接続された高速ダイオード（ファストリカバリダイオード）を有する回路である。なお、他の実施形態に係る過電圧保護回路１１２は、例えばサージアレスタ、サージバリスタ、絶縁トランス、ツェナーダイオード、ショットキーバリアダイオードなどであってもよい。計測器１１０が高速ダイオードを設けることで、バーストイミュニティなどの高周波帯（数GHz程度）のサージ電圧から監視装置１００を保護することができる。

【0014】

部分放電に係る電気信号の大きさは過電圧保護回路１１２の閾値より小さい。そのため、部分放電が対象電力機器２００に発生した場合、電圧センサ１１３は、部分放電に係る電気信号の波形をほぼ劣化無しに得ることができる。
他方、サージ電圧の大きさは過電圧保護回路１１２の閾値より大きい。そのため、サージ電圧が対象電力機器２００に発生した場合、電圧センサ１１３は、サージ電圧に係る電気信号が抑制された波形（以下、抑制サージ波形と呼ぶ）を得ることとなる。

【0015】

これについて、発明者は、電圧センサ１１３によって計測された抑制サージ波形の大きさは、もとのサージ電圧の波形と相関を有することを発見した。図３は、第１の実施形態に係るサージ電圧の波形と抑制サージ波形の例を示す図である。図３に示す例では、過電圧保護回路１１２として閾値が０．５Ｖの高速ダイオードを用いた。この場合に、対象電力機器本体２２０の箱体２１０にバーストイミュニティ試験として、サージ電圧を想定したピーク電圧１０００Ｖの電気信号を発生させたところ、電圧センサ１１３に入力される電気信号のピーク電圧は５Ｖ程度まで抑制された。ここで、電圧センサ１１３に入力される電気信号の電圧は、過電圧保護回路１１２の閾値によって一律にカットされるのではなく、サージ電圧に係るピークの大きさに応じて変化することが分かった。
発明者は、想定される過電圧信号として、方形波インパルス、減衰振動波、バースト、雷インパルスを想定し、過電圧保護回路１１２によってこれらの過電圧信号を抑制できるか確認するため、方形波インパルスイミュニティ試験、バーストイミュニティ試験、減衰振動波イミュニティ試験、サージイミュニティ試験のそれぞれを行った。図４は、第１の実施形態に係る試験における入力電圧と抑制電圧の関係を示す図である。各試験において、それぞれ５００Ｖ、１０００Ｖ、２０００Ｖの電圧を過電圧保護回路１１２に入力し、過電圧保護回路１１２からの出力電圧（抑制電圧）を確認した。その結果、図４に示すように、いずれの試験においても、抑制電圧の大きさは高速ダイオードの閾値を超え、また抑制電圧の大きさが入力電圧に対して単調増加することがわかった。また、図３に示すように、測定ケーブル１１４の長さによってサージ電圧のピークと電気信号のピークの関係は変化する。

【0016】

図２に示すように、演算装置１２０は、入力部１２１、バッファ部１２２、抽出部１２３、検出部１２４、エネルギー特定部１２５、記録部１２６、記憶部１２７、劣化推定部１２８を備える。

【0017】

入力部１２１は、電圧センサ１１３の計測値の入力を受け付ける。計測値は、電圧センサ１１３のサンプリングレートに従って入力される。したがって、入力部１２１に入力される計測値は電圧波形を表す時系列を構成する。

【0018】

バッファ部１２２は、電圧センサ１１３の計測値からなる電圧波形を一時的に記憶する。例えば、バッファ部１２２は、対象電力機器２００が扱う電気信号の最新の１０サイクル分の電圧波形を記憶する。

【0019】

抽出部１２３は、バッファ部１２２に記録された電圧波形から、部分放電またはサージ電圧に起因するパルス信号を含む部分波形を抽出する。具体的には、抽出部は以下の手順で部分波形を抽出する。抽出部１２３は、バッファ部１２２に記録された電圧波形のうち、第１レベルを超えるピークを特定する。第１レベルは、部分放電に係るピークを検出可能なレベルである。例えば、第１レベルは、予め実験等によって特定された部分放電に係るピークの集合のμ－２σ（μは平均値、σは標準偏差）に係るレベルであってよい。抽出部１２３は、特定したピークの立ち上がり（ゼロクロスポイント）から、５マイクロ秒の範囲の部分波形を抽出する。

【0020】

検出部１２４は、部分波形のパラメータとして、ピークの大きさ（波高値）、パルス幅、周波数スペクトルを特定する。パルス幅は、例えばピークの直前のゼロクロスポイントから、１周期後のゼロクロスポイント（ピークの２つ後のゼロクロスポイント）までの幅であってよい。
検出部１２４は、抽出された部分波形が、サージ電圧に起因する部分波形であるか、部分放電に起因する部分波形であるかを判定する。つまり、検出部１２４は、サージ電圧の発生および部分放電の発生を検出する。具体的には、検出部１２４は、部分波形のピークの大きさ（波高値）が第２レベル以上である場合に、当該部分波形がサージ電圧に起因すると判定する。また検出部１２４は、波高値が第２レベル未満であり、かつ１－２０ＭＨｚ帯と１００ＭＨｚ帯の両方にピークが存在する場合に当該部分波形が部分放電に起因すると判定する。なお、検出部１２４は、波高値が第２レベル未満であり、かつ１－２０ＭＨｚ帯と１００ＭＨｚ帯の一方にピークが存在しない場合に、当該部分波形がサージ電圧および部分放電の何れにも起因しないと判定する。
第２レベルは、抑制サージ波形に係るピークより小さく、部分放電に係るピークより大きいレベルである。例えば、第２レベルは、予め実験等によって特定された部分放電に係るピークの集合（部分放電集合）の平均値と抑制サージ波形に係るピークの集合（サージ集合）の平均値の間のレベルであって、部分放電集合とサージ集合の確率密度の和が最小となるレベルであってよい。抽出部１２３例えば、第２レベルは１Ｖであってよい。

【0021】

エネルギー特定部１２５は、部分波形ごとに、対象電力機器２００に掛かる放電エネルギーを特定する。
具体的には、エネルギー特定部１２５は、サージ電圧に係る部分波形について、部分波形の波高値からサージ電圧の波高値を推定する。エネルギー特定部１２５は、予め実験によって特定された部分波形の波高値からサージ電圧の波高値への変換テーブルを用いて、サージ電圧の波高値を推定する。エネルギー特定部１２５は、サージ電圧の波高値にパルス幅に応じた係数を乗算することで、サージ電圧に係る放電エネルギーを特定する。
エネルギー特定部１２５は、部分放電に係る部分波形について、ΦＱＮパターン（Φは位相、Ｑは電荷量、Ｎは頻度）を計算する。エネルギー特定部１２５は、ΦＱＮパターンに基づいて、Σ（Ｑ×Ｎ）を計算することで、部分放電に係る放電エネルギーを特定する。

【0022】

記録部１２６は、サージ電圧に起因する部分波形および部分放電に起因する部分波形のログデータを記憶部１２７に記録する。部分波形のログデータとしては、発生時刻、波形、発生原因（部分放電またはサージ電圧）、検出部１２４が検出したパラメータ、およびエネルギー特定部１２５が特定した放電エネルギーを、関連付けて記録する。

【0023】

劣化推定部１２８は、記憶部１２７に記録された部分波形のログデータに基づいて、対象電力機器２００に発生した放電エネルギーを積算することで、対象電力機器２００の劣化状態を推定する。具体的には、劣化推定部１２８は、放電エネルギーの積算値を記憶部１２７に記録しておき、当該積算値に最後に計算された放電エネルギーを加算することで積算値を更新する。放電エネルギーの積算値は劣化状態の一例である。図５は、第１の実施形態に係る放電エネルギーの計算例を示す図である。劣化推定部１２８は、放電エネルギーの積算値が予め定めた警告水準を超える場合に、対象電力機器２００の停止を推奨する通知を発する。警告水準は、対象電力機器２００が故障する可能性が高い故障水準より低い値である。通知は、対象電力機器２００の図示しないディスプレイに表示されてもよいし、管理者のＰＣなどに電文として送信されてもよいし、音声として出力されてもよい。

【0024】

図６は、第１の実施形態に係る演算装置１２０の動作を示すフローチャートである。
入力部１２１は、電圧センサ１１３の計測値の入力を受け付ける（ステップＳ１）。入力された計測値は、バッファ部１２２に記録される。バッファ部１２２には、電力信号の１０サイクル分の時間における計測値によって構成される波形が記憶される。

【0025】

抽出部１２３は、バッファ部１２２に記録された電圧波形に第１レベルを超えるピークが含まれるか否かを特定する（ステップＳ２）。第１レベルを超えるピークが含まれない場合（ステップＳ２：ＮＯ）、処理を終了する。

【0026】

第１レベルを超えるピークが含まれる場合（ステップＳ２：ＹＥＳ）、抽出部１２３は、当該ピークの立ち上がりから、所定期間の長さの部分波形を抽出する（ステップＳ３）。検出部１２４は、当該部分波形の波高値、パルス幅、周波数スペクトルを特定する（ステップＳ４）。検出部１２４は、抽出された部分波形の波高値が第２レベルを超えるか否かを判定する（ステップＳ５）。

【0027】

部分波形の波高値が第２レベルを超える場合（ステップＳ５：ＹＥＳ）、検出部１２４は当該部分波形がサージ電圧に起因すると判定する（ステップＳ６）。エネルギー特定部１２５は、変換テーブルを用いて、部分波形の波高値からサージ電圧の波高値を推定する（ステップＳ７）。エネルギー特定部１２５は、サージ電圧の波高値にパルス幅に応じた係数を乗算することで、サージ電圧に係る放電エネルギーを特定する（ステップＳ８）。

【0028】

部分波形の波高値が第２レベルを超えない場合（ステップＳ５：ＹＥＳ）、検出部１２４は部分波形の１－２０ＭＨｚ帯と１００ＭＨｚ帯の両方にピークが存在するか否かを判定する（ステップＳ９）。１－２０ＭＨｚ帯と１００ＭＨｚ帯の両方にピークが存在する場合（ステップＳ９：ＹＥＳ）、検出部１２４は当該部分波形が部分放電に起因すると判定する（ステップＳ１０）。エネルギー特定部１２５は、部分波形についてΦＱＮパターンを計算する（ステップＳ１１）。エネルギー特定部１２５は、ΦＱＮパターンに基づいて部分放電に係る放電エネルギーを特定する（ステップＳ１２）。

【0029】

他方、１－２０ＭＨｚ帯と１００ＭＨｚ帯の両方にピークが存在しない場合（ステップＳ９：ＮＯ）、検出部１２４は当該部分波形がサージ電圧にも部分放電にも起因しないものであると判定し、処理を終了する。

【0030】

記録部１２６は、ステップＳ６でサージ電圧に起因すると判定された部分波形、およびステップＳ１０で部分放電に起因すると判定された部分波形のログデータを記憶部１２７に記録する（ステップＳ１３）。

【0031】

劣化推定部１２８は、記憶部１２７に記録された放電エネルギーの積算値に、ステップＳ８またはステップＳ１２で特定された放電エネルギーを加算し、記憶部１２７に記録された積算値を更新する（ステップＳ１４）。劣化推定部１２８は、更新された積算値が警告水準を超えるか否かを判定する（ステップＳ１５）。放電エネルギーの積算値が警告水準を超える場合（ステップＳ１５：ＹＥＳ）、劣化推定部１２８は対象電力機器２００の停止を推奨する通知を発する（ステップＳ１６）。

【0032】

以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、監視装置１００は、電極１１１と、電圧センサ１１３と、過電圧保護回路１１２と、検出部１２４と、エネルギー特定部１２５とを持つ。電極１１１は、対象電力機器２００から電気信号を引き込む。電圧センサ１１３は、電気信号の電圧を計測する。過電圧保護回路１１２は、電極１１１と電圧センサ１１３との間に接続され、電気信号の電圧が閾値を超えるときに電気信号を吸収する。検出部１２４は、電圧センサが計測した電圧の値に基づいて、対象電力機器２００へのサージ電圧を検出する。エネルギー特定部１２５は、検出されたサージ電圧に係る電圧の値に基づいて、サージ電圧のエネルギーに関する値を特定することができる。このことは、サージ電圧のピークと抑制サージ波形のピークとが相関を有するという発明者の知見から明らかである。これにより、監視装置１００は、サージ電圧によるセンサの故障を防ぎながらサージ電圧を監視することができる。なお、上述の実施形態によれば、過電圧保護回路１１２は高速ダイオードを有する回路である。過電圧保護回路１１２が高速ダイオードを有することで、バーストイミュニティなどの高周波帯のサージ電圧から監視装置１００を保護することができる。また、発明者による実験により、高速ダイオードを有する過電圧保護回路１１２の波形の再現性が良好であることがわかった。

【0033】

また、監視装置１００の検出部１２４は、電圧センサ１１３が検出した電圧に基づいて部分放電を検出する。つまり、監視装置１００は、同一の電圧センサ１１３を用いて、部分放電とサージ電圧とを検出し、そのエネルギーを特定することができる。

【0034】

なお、第１の実施形態に係る監視装置１００は、放電エネルギーから対象電力機器２００の劣化状態を推定するが、これに限られない。例えば他の実施形態に係る監視装置１００は、管理者に記憶部１２７に記録された部分放電およびサージ電圧のログデータや放電エネルギーを提示するものであってもよい。管理者は、ログデータに基づいて対象電力機器２００の劣化状態を推定することができる。

【0035】

図７は、少なくとも１つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。
コンピュータ５００は、プロセッサ５１０、メインメモリ５３０、ストレージ５５０、インタフェース５７０を備える。
上述の演算装置１２０は、コンピュータ５００に実装される。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でストレージ５５０に記憶されている。プロセッサ５１０は、プログラムをストレージ５５０から読み出してメインメモリ５３０に展開し、当該プログラムに従って上記処理を実行する。また、プロセッサ５１０は、プログラムに従って、上述した各記憶部に対応する記憶領域をメインメモリ５３０に確保する。プロセッサ５１０の例としては、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphic Processing Unit）、マイクロプロセッサなどが挙げられる。

【0036】

プログラムは、コンピュータ５００に発揮させる機能の一部を実現するためのものであってもよい。例えば、プログラムは、ストレージに既に記憶されている他のプログラムとの組み合わせ、または他の装置に実装された他のプログラムとの組み合わせによって機能を発揮させるものであってもよい。なお、他の実施形態においては、コンピュータ５００は、上記構成に加えて、または上記構成に代えてＰＬＤ（Programmable Logic Device）などのカスタムＬＳＩ（Large Scale Integrated Circuit）を備えてもよい。ＰＬＤの例としては、ＰＡＬ(Programmable Array Logic)、ＧＡＬ(Generic Array Logic)、ＣＰＬＤ(Complex Programmable Logic Device)、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）が挙げられる。この場合、プロセッサ５１０によって実現される機能の一部または全部が当該集積回路によって実現されてよい。このような集積回路も、プロセッサの一例に含まれる。

【0037】

ストレージ５５０の例としては、磁気ディスク、光磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ等が挙げられる。ストレージ５５０は、コンピュータ５００のバスに直接接続された内部メディアであってもよいし、インタフェース５７０または通信回線を介してコンピュータ５００に接続される外部メディアであってもよい。また、このプログラムが通信回線によってコンピュータ５００に配信される場合、配信を受けたコンピュータ５００が当該プログラムをメインメモリ５３０に展開し、上記処理を実行してもよい。少なくとも１つの実施形態において、ストレージ５５０は、一時的でない有形の記憶媒体である。

【0038】

また、当該プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、当該プログラムは、前述した機能をストレージ５５０に既に記憶されている他のプログラムとの組み合わせで実現するもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。

【0039】

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

【符号の説明】

【0040】

１０…監視システム １００…監視装置 １０２…信号線 １１０…計測器 １１１…電極 １１２…過電圧保護回路 １１３…電圧センサ １１４…測定ケーブル １２０…演算装置 １２１…入力部 １２２…バッファ部 １２３…抽出部 １２４…検出部 １２５…エネルギー特定部 １２６…記録部 １２７…記憶部 １２８…劣化推定部 ２００…対象電力機器 ２１０…箱体 ２２０…機器本体 ５００…コンピュータ ５１０…プロセッサ ５３０…メインメモリ ５５０…ストレージ ５７０…インタフェース

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】