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特開2024-173507測定システム、受信装置、測定方法、及び受信方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024173507
(43)【公開日】2024-12-12
(54)【発明の名称】測定システム、受信装置、測定方法、及び受信方法
(51)【国際特許分類】
   G01R 29/08 20060101AFI20241205BHJP
   H04B 17/309 20150101ALI20241205BHJP
【FI】
G01R29/08 B
H04B17/309
【審査請求】有
【請求項の数】8
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2023091974
(22)【出願日】2023-06-02
(71)【出願人】
【識別番号】501440684
【氏名又は名称】ソフトバンク株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110000877
【氏名又は名称】弁理士法人RYUKA国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】保前 俊稀
(72)【発明者】
【氏名】豊見本 和馬
(72)【発明者】
【氏名】山口 良
(57)【要約】
【解決手段】偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する出力部と、前記第1電波及び前記第2電波の合成電波を反射する反射部と、前記反射部が反射した前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離するOMT(Ortho Mode Transducer)として機能する分離部と、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と、前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて、前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定部とを備える、測定システムを提供する。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する出力部と、
前記第1電波及び前記第2電波の合成電波を反射する反射部と、
前記反射部が反射した前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離するOMT(Ortho Mode Transducer)として機能する分離部と、
前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と、前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて、前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定部と
を備える、測定システム。
【請求項2】
前記出力部は、偏波方向が垂直方向である前記第1偏波方向の前記第1電波、及び、偏波方向が水平方向である前記第2偏波方向の前記第2電波を出力する、請求項1に記載の測定システム。
【請求項3】
前記出力部は、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる前記第1周波数の前記第1電波、及び、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる前記第2周波数の前記第2電波を出力する、請求項1又は2に記載の測定システム。
【請求項4】
前記反射部は、予め定められた回転速度で回転移動しながら、前記合成電波を反射する、請求項1又は2に記載の測定システム。
【請求項5】
偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波の合成電波を反射する反射部と、
前記反射部が反射した前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離し、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定装置に、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分を出力するOMTと
を備える、受信装置。
【請求項6】
前記反射部は、予め定められた回転速度で回転移動しながら、前記合成電波を反射する、請求項請求項5に記載の受信装置。
【請求項7】
出力部と、反射部と、OMTとして機能する分離部と、測定部とを備える測定システムによって実行される測定方法であって、
前記出力部が、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する出力段階と、
前記反射部が、前記第1電波及び前記第2電波の合成電波を反射する反射段階と、
前記分離部が、前記反射段階で反射された前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する分離段階と、
前記測定部が、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と、前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて、前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定段階と
を備える、測定方法。
【請求項8】
反射部と、OMTとを備える受信装置によって実行される受信方法であって、
前記反射部が、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波の合成電波を反射する反射段階と、
前記OMTが、前記反射段階で反射された前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する分離段階と、
前記OMTが、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と前記反射部が前記反射段階で前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定装置に、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分を出力する出力段階と
を備える、受信方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、測定システム、受信装置、測定方法、及び受信方法に関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、簡易な構成で電波の伝搬特性を測定できる測定システムについて記載されている。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開2013-070222号公報
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【0003】
本発明の一実施態様によれば、測定システムが提供される。前記測定システムは、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する出力部を備えてよい。前記測定システムは、前記第1電波及び前記第2電波の合成電波を反射する反射部を備えてよい。前記測定システムは、前記反射部が反射した前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離するOMT(Ortho Mode Transducer)として機能する分離部を備えてよい。前記測定システムは、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と、前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて、前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定部を備えてよい。
【0004】
前記測定システムにおいて、前記出力部は、偏波方向が垂直方向である前記第1偏波方向の前記第1電波、及び、偏波方向が水平方向である前記第2偏波方向の前記第2電波を出力してよい。
【0005】
前記いずれかの測定システムにおいて、前記出力部は、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる前記第1周波数の前記第1電波、及び、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる前記第2周波数の前記第2電波を出力してよい。
【0006】
前記いずれかの測定システムにおいて、前記反射部は、予め定められた回転速度で回転移動しながら、前記合成電波を反射してよい。
【0007】
本発明の一実施態様によれば、受信装置が提供される。前記受信装置は、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波の合成電波を反射する反射部を備えてよい。前記受信装置は、前記反射部が反射した前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離し、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定装置に、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分を出力するOMTを備えてよい。
【0008】
前記受信装置において、前記反射部は、予め定められた回転速度で回転移動しながら、前記合成電波を反射してよい。
【0009】
本発明の一実施態様によれば、出力部と、反射部と、OMTとして機能する分離部と、測定部とを備える測定システムによって実行される測定方法が提供される。前記測定方法は、前記出力部が、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する出力段階を備えてよい。前記測定方法は、前記反射部が、前記第1電波及び前記第2電波の合成電波を反射する反射段階を備えてよい。前記測定方法は、前記分離部が、前記反射段階で反射された前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する分離段階を備えてよい。前記測定方法は、前記測定部が、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と、前記反射部が前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて、前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定段階を備えてよい。
【0010】
本発明の一実施態様によれば、反射部と、OMTとを備える受信装置によって実行される受信方法が提供される。前記受信方法は、前記反射部が、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が前記第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が前記第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波の合成電波を反射する反射段階を備えてよい。前記受信方法は、前記OMTが、前記反射段階で反射された前記合成電波を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する分離段階を備えてよい。前記受信方法は、前記OMTが、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分と前記反射部が前記反射段階で前記合成電波を反射したときの反射角とに基づいて前記第1電波の伝搬特性及び前記第2電波の伝搬特性を測定する測定装置に、前記第1偏波成分及び前記第2偏波成分を出力する出力段階を備えてよい。
【0011】
尚、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【0012】
図1】システム10の一例を概略的に示す。
図2】OMT150が電波を2つの偏波成分に分離する一例を概略的に示す。
図3】受信装置100の機能構成の一例を概略的に示す。
図4】電波の伝搬特性を測定する実証実験の一例ついて説明するための説明図である。
図5】電波の伝搬特性の測定結果を例示する。
図6】システム10による処理の流れの一例を概略的に示す。
【発明を実施するための形態】
【0013】
周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波では、垂直偏波(V偏波と称する場合がある)の反射及び散乱特性が、水平偏波(H偏波と称する場合がある)の反射及び散乱特性と異なることが報告されている。そのため、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性を取得する際には、V偏波の電波及びH偏波の電波のそれぞれで伝搬特性を測定する必要がある。本実施形態に係るシステム10では、回転反射鏡アンテナの一次放射器にOMTを装着してマルチポート化を行い、OMTから出力される直交する2偏波信号に対して回転反射鏡の向きに対応する回転行列を掛け合わせることによって、到来波のV偏波成分及びH偏波成分を分離して取得する仕組みを採用する。
【0014】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【0015】
図1は、システム10の一例を概略的に示す。システム10は、受信装置100を備えてよい。システム10は、VNA(Vector Network Analyzer)20を備えてよい。システム10は、出力装置40を備えてよい。図1では、システム10が1つの出力装置40を備えている一例を図示している。システム10は、複数の出力装置40を備えてもよい。
【0016】
VNA20は、電波の伝搬特性を測定するための信号を生成する。VNA20は、生成した信号を搬送する電波を出力装置40に出力させる。
【0017】
出力装置40は、電波を出力する。出力装置40は、例えば、VNA20によって生成された信号を搬送する電波を出力する。出力装置40は、出力部の一例であってよい。
【0018】
出力装置40は、例えば、偏波方向が第1偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数である第1電波、及び、偏波方向が第1偏波方向に対して垂直な方向である第2偏波方向であり、且つ、周波数が第1周波数に対して差分周波数だけ異なる第2周波数である第2電波を出力する。出力装置40は、例えば、第1電波及び第2電波を同時に出力する。出力装置40は、例えば、第1電波及び第2電波の合成電波を出力する。
【0019】
出力装置40は、例えば、偏波面が電波の伝搬方向に対して垂直な一平面内に存在する直線偏波の電波を出力する。出力装置40は、例えば、偏波方向が垂直方向(V方向と称する場合がある)である第1偏波方向の第1電波、及び、偏波方向が水平方向(H方向と称する場合がある)である第2偏波方向の第2電波を出力する。ここでは、V方向が大地に対して垂直な方向であり、H方向が大地に対して平行な方向であるものとする。出力装置40は、偏波面が電波の伝搬方向を中心軸として回転する円偏波の電波を出力してもよい。出力装置40は、例えば、右旋円偏波である第1電波、及び、左旋円偏波である第2電波を出力する。
【0020】
出力装置40は、例えば、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる第1周波数の第1電波、及び、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる第2周波数の第2電波を出力する。出力装置40は、例えば、周波数がミリ波帯に含まれる第1周波数の第1電波、及び、周波数がミリ波帯に含まれる第2周波数の第2電波を出力する。出力装置40は、例えば、テラヘルツ波帯に含まれる第1周波数の第1電波、及び、テラヘルツ波帯に含まれる第2周波数の第2電波を出力する。
【0021】
図1では、出力装置40が、偏波方向がV方向であり、且つ、周波数がfである直線偏波の第1電波52、及び、偏波方向がH方向であり、且つ、周波数がfである直線偏波の第2電波54の合成電波50を出力する場合の一例を図示している。この場合、差分周波数がΔfであるとすると、f=f+Δfが成立する。差分周波数Δfは、VNA20が第1電波52及び第2電波54を識別する分解能に基づいて設定されてよい。尚、差分周波数Δfの値は正であってもよく、負であってもよい。
【0022】
出力装置40は、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる電波を出力することが可能であればどのような装置であってよい。出力装置40は、例えば、偏波共用アンテナである。出力装置40は、例えば、ホーンアンテナである。
【0023】
図1に例示される受信装置100は、筐体102、受信部104、導波管106、台座110、支持部112、反射部114、モータ116、センサ118、及びOMT150を備える。受信装置100は、図1において不図示の制御部をさらに備えてよい。
【0024】
反射部114は、例えば、出力装置40によって出力された電波を反射する。反射部114は、例えば、合成電波50を反射する。
【0025】
反射部114は、出力装置40によって出力された電波を反射することが可能な物体であれば、どのような物体であってもよい。反射部114は、例えば、反射鏡であってよい。反射部114は、例えば、反射板であってよい。
【0026】
反射部114の形状は、出力装置40によって出力された電波を反射することができればどのような形状であってもよい。反射部114は、例えば、パラボラ形状である。反射部114は、板状であってもよい。
【0027】
反射部114は、例えば、予め定められた回転速度で回転移動しながら、合成電波50を反射する。反射部114は、静止状態で合成電波50を反射してもよい。
【0028】
制御部は、各種制御を実行する。制御部は、例えば、反射部114の角度を制御する。制御部は、例えば、モータ116によって台座110を回転させることにより、台座110に固定された支持部112に支持されている反射部114を回転移動させることによって、反射部114の角度を制御する。回転反射鏡アンテナは、受信装置100の一例であってよい。
【0029】
制御部は、モータ116の制御量によって、反射部114の角度を把握してよい。制御部は、センサ118を用いて、反射部114の角度を把握してもよい。
【0030】
受信部104は、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる電波を受信する。受信部104は、例えば、反射部114によって反射された電波を受信する。受信部104によって受信された電波は、導波管106を介して、OMT150に入力される。
【0031】
受信部104は、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる電波を受信することが可能であればどのような部材であってよい。受信部104は、例えば、ホーンアンテナである。
【0032】
OMT150は、電波を直交する2つの直線偏波の偏波成分に分離する機能を有する。OMT150は、例えば、合成電波50を第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する。OMT150は、分離部の一例であってよい。
【0033】
OMT150は、I/Q(In-Phase/Quadrature-Phase)信号として、分離した電波の2つの偏波成分をそれぞれ出力してよい。ここでは、OMT150がXポート152に出力する電波の偏波成分が第1偏波成分であり、OMT150がYポート154に出力する電波の偏波成分が第2偏波成分であるものとする。この場合、第1偏波成分がXポート152に対応しており、第2偏波成分がYポート154に対応している。VNA20は、OMT150によってそれぞれ出力された2つの偏波成分を受信してよい。
【0034】
VNA20は、電波の伝搬特性を測定する。VNA20は、例えば、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を測定する。VNA20は、例えば、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を同時に測定する。VNA20は、例えば、OMT150によって分離された合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分と、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角とに基づいて、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を測定する。VNA20は、測定部の一例であってよい。VNA20は、測定装置の一例であってよい。
【0035】
電波の伝搬特性は、例えば、電波の電界強度を含む。電波の伝搬特性は、例えば、電波が反射部114に到来する到来方向を含む。電波の伝搬特性は、電波が反射部114に到来するまでの間に減衰した減衰量を含んでもよい。
【0036】
図1に示されるシステム10の一例において、電波の送受信で同期してI/Q信号を取得可能なSG(Signal Generator)及びSA(Spectrum Analyzer)用いて電波の伝搬特性を測定してもよい。
【0037】
図2は、OMT150が電波を2つの偏波成分に分離する一例を概略的に示す。図2では、OMT150が図1に示される合成電波50を第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する一例を図示している。ここでは、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角がφであるものとする。
【0038】
図2の(A)は、φ=0°である場合において、OMT150が合成電波50を第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する一例を概略的に示す。図2の(A)に示されるように、OMT150は、第1電波52をXポート152に出力しており、第2電波54をYポート154に出力している。したがって、図2の(A)に示される一例の場合、OMT150によって分離された合成電波50の第1偏波成分が第1電波52であり、OMT150によって分離された合成電波50の第2偏波成分が第2電波54である。
【0039】
図2の(B)は、φ=90°である場合において、OMT150が合成電波50を第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する一例を概略的に示す。図2の(B)に示されるように、OMT150は、第2電波54をXポート152に出力しており、第1電波52をYポート154に出力している。したがって、図2の(B)に示される一例の場合、OMT150によって分離された合成電波50の第1偏波成分が第2電波54であり、OMT150によって分離された合成電波50の第2偏波成分が第1電波52である。
【0040】
図2の(A)及び図2の(B)に示されるように、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角に応じて、OMT150によってXポート152及びYポート154のそれぞれに出力される合成電波50の偏波成分が異なる。そのため、VNA20は、合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分から第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を測定するためには、合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分と、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角とから、第1電波52及び第2電波54をそれぞれ導出する必要がある。したがって、合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分がそれぞれE(φ)及びE(φ)であり、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角がφであるとすると、VNA20は、下記の数式に従ってE(φ)及びE(φ)に対してφの回転行列の逆行列を掛け合わせることによって、第1電波52の電界強度E(φ)及び第2電波54の電界強度E(φ)を導出する。
【0041】
【数1】
【0042】
例えば、図2の(A)に示されるようにφ=0°である場合、VNA20は、上記の数式に従って、E(0°)=cos0°×E(0°)+sin0°×E(0°)=E(0°)、及び、E(0°)=-sin0°×E(0°)+cos0°×E(0°)=E(0°)をそれぞれ導出する。また、図2の(B)に示されるようにφ=90°である場合、VNA20は、上記の数式に従って、E(90°)=cos90°×E(90°)+sin90°×E(90°)=E(90°)、及び、E(90°)=-sin90°×E(90°)+cos90°×E(90°)=-E(90°)をそれぞれ導出する。
【0043】
周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波が、Beyond 5G(5th Generation)通信や、6G(6th Generation)通信以降の移動体通信に用いられることが検討されている。そこで、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性を測定することが重要となってきている。周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性を測定する場合、ケーブルを使用することができず、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波用の平面アンテナが開発されていないので、現在、開口面アンテナを回転させて電波の到来方向を測定する手法が主流である。しかしながら、開口面アンテナを高速回転させることができないので、当該手法は、測定時間が長い点が課題である。特に、当該手法でV偏波の電波及びH偏波の電波の2偏波の電波の到来方向を測定する場合、偏波方向を変えて2回測定しなければならないので、当該手法は、より一層の測定時間を要する。
【0044】
これに対して、本実施形態に係るシステム10によれば、VNA20が、周波数が異なり、且つ、偏向方向が直交する2つの第1電波52及び第2電波54の合成電波50を出力装置40に出力させる。そして、受信装置100が、OMT150を用いて、予め定められた回転速度している反射部114によって反射された合成電波50を2つの偏波成分に分離してVNA20に出力する。その後、VNA20は、OMT150によって分離された合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分と、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角とに基づいて、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性をそれぞれ測定する。本実施形態に係るシステム10は、開口面アンテナより高速回転可能な反射部114を回転させながら周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性を測定するので、従来の手法と比較して、ミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性の測定時間をより短くできる。さらに、本実施形態に係るシステム10は、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角に関係なく、OMT150によって分離された2つの電波の偏波成分から、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を同時に測定できるので、2偏波の電波の伝搬特性を測定するために電波の偏波方向を変えて2回測定しなければならない従来の手法と比較して、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯の電波の伝搬特性の測定時間をより一層短くできる。加えて、本実施形態に係るシステム10は、2偏波を同時に測定する場合、一方の偏波(例えば、V偏波)の交差偏波が他方の偏波(例えば、H偏波)に対して影響を与えないように、第2電波54の周波数が第1電波52の周波数に対して差分周波数だけ変えた上で、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を同時に測定する。これにより、本実施形態に係るシステム10は、電波の伝搬特性の測定精度の低下の一要因である交差偏波の影響を受けることなく第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を同時に測定できるので、高い測定精度で第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を同時に測定できる。
【0045】
図3は、受信装置100の機能構成の一例を概略的に示す。受信装置100は、台座110、反射部114、モータ116、制御部117、センサ118、送信部119、測定部120、及びOMT150を備えてよい。尚、受信装置100がこれらの全ての構成を含むことは必須とは限らない。
【0046】
制御部117は、各種制御を実行する。制御部117は、例えば、反射部114の角度を制御する。制御部117は、例えば、モータ116によって台座110を回転させることにより反射部114を回転移動させることによって、反射部114の角度を制御する。
【0047】
制御部117は、例えば、反射部114を、連続的に回転移動させる。制御部117は、例えば、反射部114を、一定の回転速度で連続的に回転移動させる。制御部117は、反射部114を、一定の回転速度ではなく連続的に回転移動させてもよい。制御部117は、反射部114を、非連続的に回転移動させてもよい。制御部117は、VNA20等の外部装置から受け付けた指示に応じて、反射部114を回転移動させてもよい。
【0048】
制御部117は、例えば、モータ116の制御量によって、反射部114の角度を把握する。制御部117は、センサ118を用いて、反射部114の角度を把握してもよい。
【0049】
センサ118は、反射部114の角度を特定可能であれば、どのようなものであってもよい。例えば、センサ118は、台座110の回転量を計測可能なセンサであってよい。また、例えば、センサ118は、台座110を撮像したり、反射部114を撮像したりすることによって、反射部114の角度を特定可能なセンサであってもよい。
【0050】
制御部117が反射部114を一定の回転速度で回転移動させる場合、センサ118は、台座110を挟んで対向する位置に配置されたレーザ出力部及びレーザ検知部であってよい。例えば、レーザ出力部が、筐体102と台座110との間にレーザを出力し、レーザ検知部がそれを検知するように配置され、台座110の一部に配置されたタブによって、台座110が一回転する毎に一度レーザが遮られるように構成する。制御部117は、センサ118によって、回転の周期を把握できることから、反射部114の角度を把握できる。
【0051】
送信部119は、各種情報を送信する。送信部119は、例えば、VNA20に各種情報を送信する。送信部119は、その他の外部装置に各種情報を送信してもよい。
【0052】
送信部119は、例えば、反射部114が出力装置40によって出力された合成電波50を反射したときの反射角を示す反射角情報を送信する。送信部119は、例えば、センサ118によって検出されたセンサ情報を送信してもよい。
【0053】
OMT150は、例えば、反射部114によって反射された電波を2つの直線偏波の偏波成分に分離する。OMT150は、例えば、合成電波50を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する。OMT150は、VNA20に、分離した第1偏波成分及び第2偏波成分を出力してよい。
【0054】
測定部120は、電波の伝搬特性を測定する。測定部120は、例えば、周波数がミリ波帯又はテラヘルツ波帯に含まれる電波の伝搬特性を測定する。
【0055】
測定部120は、例えば、偏波方向がV方向の電波の伝搬特性、及び、偏波方向がH方向の電波の伝搬特性を測定する。測定部120は、例えば、偏波方向がV方向の電波の伝搬特性、及び、偏波方向がH方向の電波の伝搬特性を同時に測定する。
【0056】
測定部120は、例えば、OMT150によって分離された合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分と、反射部114が合成電波50を反射したときの反射角とに基づいて、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を測定する。送信部119は、外部装置に、測定部120による電波の伝搬特性の測定結果を送信してよい。
【0057】
尚、受信装置100は、測定部120を備えていなくてもよい。この場合、VNA20等の外部装置が、電波の伝搬特性を測定してよい。
【0058】
図4は、電波の伝搬特性を測定する実証実験の一例ついて説明するための説明図である。ここでは、出力装置40と同様の機能を有する2つの出力装置42及び出力装置44を用いて、電波の伝搬特性を測定するものとする。
【0059】
図4に示される実証実験の一例では、反射部114は、10rpm(rotations per minute)の回転速度で回転移動しているものとする。したがって、図4に示される実証実験の一例において、受信装置100の周囲の電波の伝搬特性を1回測定する測定時間は、約6秒である。
【0060】
図4に示される実証実験の一例では、出力装置42及び出力装置44、並びに、受信装置100が、電波吸収体80で囲まれた空間に配置されている。また、図4に示されるように、出力装置42が出力する電波が-45°の方向で受信装置100に到来するように出力装置42が配置され、出力装置44が出力する電波が15°の方向で受信装置100に到来するように出力装置44が配置されているものとする。
【0061】
図4に示される実証実験の一例において、VNA20は、周波数が30.0GHzのV偏波の電波を出力装置42及び出力装置44のそれぞれに出力させ、周波数が30.1GHzのH偏波の電波を出力装置42及び出力装置44のそれぞれに出力させてよい。この場合、差分周波数Δf=0.1GHzである。
【0062】
出力装置42及び出力装置44のそれぞれによって出力される電波の電界強度は、異なっていてよい。図4に示される実証実験の一例において、出力装置42が出力するH偏波の電波の電界強度は、3dBのATT(Attenuator)によって出力装置42が出力するV偏波の電波の電界強度に対して3dB減衰されており、出力装置44が出力するV偏波の電波の電界強度は、6dBのATTによって出力装置42が出力するV偏波の電波の電界強度に対して6dBだけ減衰されており、出力装置44が出力するH偏波の電波の電界強度は、10dBのATTによって出力装置42が出力するV偏波の電波の電界強度に対して10dBだけ減衰されている。
【0063】
図5は、電波の伝搬特性の測定結果を例示する。図5では、図4に示される実証実験の一例で、出力装置42及び出力装置44のそれぞれによって出力されたV偏波の電波の伝搬特性、並びに、出力装置42及び出力装置44のそれぞれによって出力されたH偏波の電波の伝搬特性を測定した測定結果を例示する。
【0064】
図5に示されるグラフの横軸は、反射部114が電波を反射したときの反射角φ[°]であり、図5に示されるグラフの縦軸は、VNA20が測定した電波の電界強度[dB]である。
【0065】
図5の(A)は、周波数が30.0GHzの電波の伝搬特性の測定結果を例示する。図5の(A)のグラフにおける「●」は、図4に示される実証実験の実験環境下で30.0GHzのV偏波の電波の伝搬特性をシミュレーションしたシミュレーション結果である。シミュレーション結果は、φ=-45°ときに出力装置42によって出力された0dBのV偏波の電波が受信装置100に到来し、φ=15°ときに出力装置44によって出力された-6dBのV偏波の電波が受信装置100に到来することを示す。
【0066】
図5の(A)グラフにおける実線は、周波数が30.0GHzのV偏波の電波の伝搬特性の測定結果を示す。図5の(A)グラフにおける点線は、周波数が30.0GHzのV偏波の電波の交差偏波である、周波数が30.0GHzのH偏波の電波の伝搬特性の測定結果を示す。
【0067】
図5の(A)のグラフに示されるように、V偏波の電波の伝搬特性の測定結果は、シミュレーション結果と高精度に一致していることを示す。また、図5の(A)のグラフに示されるH偏波の電波は、V偏波で送信された電波の交差偏波の伝搬特性である。すなわち、V偏波で送信された電波の偏波回転量等を測定することも可能である。本測定結果において、V偏波の電波の電界強度に対してH偏波の電波の電界強度が十分小さいため、受信装置100に到来した電波の偏波の直交性が保たれていることが示されている。尚、出力装置44によって出力されたV偏波の電波の交差偏波であるH偏波の電波の電界強度は、出力装置42によって出力されたV偏波の電波の電界強度と比較して20dBより小さいので、図5の(A)のグラフにおいて示されていない。
【0068】
図5の(B)は、周波数が30.1GHzの電波の伝搬特性の測定結果を例示する。図5の(B)のグラフにおける「■」は、図4に示される実証実験の実験環境下で30.1GHzのH偏波の電波の伝搬特性をシミュレーションしたシミュレーション結果である。シミュレーション結果は、φ=-45°ときに出力装置42によって出力された-3dBのH偏波の電波が受信装置100に到来し、φ=15°ときに出力装置44によって出力された-10dBのH偏波の電波が受信装置100に到来することを示す。
【0069】
図5の(B)グラフにおける点線は、周波数が30.1GHzのH偏波の電波の伝搬特性の測定結果を示す。図5の(B)グラフにおける実線は、周波数が30.1GHzのH偏波の電波の交差偏波である、周波数が30.1GHzのV偏波の電波の伝搬特性の測定結果を示す。
【0070】
図5の(B)のグラフに示されるように、H偏波の電波の伝搬特性の測定結果は、シミュレーション結果と高精度に一致していることを示す。また、図5の(B)のグラフに示されるV偏波の電波は、H偏波で送信された電波の交差偏波の伝搬特性である。すなわち、H偏波で送信された電波の偏波回転量等を測定することも可能である。本測定結果において、H偏波の電波の電界強度に対してV偏波の電波の電界強度が十分小さいため、受信装置100に到来した電波の偏波の直交性が保たれていることが示されている。尚、出力装置44によって出力されたH偏波の電波の交差偏波であるV偏波の電波の電界強度は、出力装置42によって出力されたV偏波の電波の電界強度と比較して20dBより小さいので、図5の(B)のグラフにおいて示されていない。
【0071】
図5に例示される電波の伝搬特性の測定結果から、図4に示される実証実験の一例において、出力装置42及び出力装置44のそれぞれによって出力されたV偏波の電波の伝搬特性、並びに、出力装置42及び出力装置44のそれぞれによって出力されたH偏波の電波の伝搬特性を、約6秒の短時間の測定時間で高精度に測定できたといえる。
【0072】
図6は、システム10による処理の流れの一例を概略的に示す。ここでは、反射部114が一定の速度で連続的に回転移動している場合を例に挙げ、出力装置40が合成電波50出力していない状態を開始状態として説明する。
【0073】
ステップ(ステップをSと省略して記載する場合がある。)102において、出力装置40は、第1電波52及び第2電波54の合成電波50を出力する。S104において、受信装置100は、反射部114によって反射された合成電波50を受信部104で受信する。受信部104で受信された合成電波50が、導波管106を介してOMT150に入力される。OMT150は、入力された合成電波50を、第1偏波成分及び第2偏波成分に分離する。
【0074】
S106において、OMT150は、S104で分離した合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分を、VNA20に出力する。また、送信部119は、反射角情報をVNA20に送信する。
【0075】
S108において、VNA20は、S106でOMT150によって出力された合成電波50の第1偏波成分及び第2偏波成分と、S106で送信部119によって送信された反射角情報によって示される反射部114が合成電波50を反射したときの反射角とに基づいて、第1電波52の伝搬特性及び第2電波54の伝搬特性を測定する。
【0076】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0077】
特許請求の範囲、明細書、及び図面中において示した装置、システム、プログラム、及び方法における動作、手順、ステップ、及び段階などの各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」などと明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、及び図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」などを用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【0078】
10 システム、20 VNA、40 出力装置、42 出力装置、44 出力装置、50 合成電波、52 第1電波、54 第2電波、80 電波吸収体、100 受信装置、102 筐体、104 受信部、106 導波管、110 台座、112 支持部、114 反射部、116 モータ、117 制御部、118 センサ、119 送信部、120 測定部、150 OMT、152 Xポート、154 Yポート
図1
図2
図3
図4
図5
図6